KR101628305B1 - 전자부품 테스트용 자동 소켓 - Google Patents
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Abstract
전자부품 테스트용 자동소켓이 제공된다. 제공된 전자부품 테스트용 자동소켓은 베이스플레이트로 구성된 받침유닛; 상기 베이스플레이트에 설치되며, 수평방향 구동력을 발생하는 수평구동유닛; 상기 수평구동유닛의 상부에 설치되며, 내측에 전자부품이 놓이는 안착홈이 마련된 안착플레이트; 상기 베이스플레이트에 승강이동 가능하게 설치되며, 수직방향 구동력을 발생하는 수직구동유닛; 상기 수평구동유닛과 수직구동유닛 사이에 설치되어 상기 수직구동유닛과 함께 승강이동하며, 상기 수평구동유닛의 수평방향 구동력을 힌지회전 구동력으로 변환하는 링크유닛 및 상기 링크유닛에 연결되며, 일면에 도전성핀부재가 구비되어 상기 링크유닛의 힌지회전 구동력을 전달받아 힌지회전하며, 이와 연계하여 상기 수직구동유닛과 함께 승강 이동하여 상기 안착플레이트에 놓인 전자부품과 접속하는 플로팅유닛을 포함하여 구성되어, 제품의 유지보수작업을 용이하게 수행함은 물론, 제품의 부피를 컴팩트화하여 공간활용성을 향상시킬 수 있도록 한다.
Description
본 발명은 전자부품 테스트용 자동 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 전자부품 테스트용 자동소켓의 구조개선을 통해 도전성핀부재의 유지보수작업을 용이하게 수행할 수 있도록 함은 물론, 전체적으로 제품의 부피를 컴팩트화 함으로써, 공간활용성을 향상시킬 수 있도록 한 전자부품 테스트용 자동 소켓에 관한 것이다.
사회가 발전함에 따라 태블릿 컴퓨터, 카메라 폰, PDA 및 스마트폰 등의 다양한 소형 멀티미디어 기기들이 개발되고 있으며, 이러한 소형 멀티미디어기기에 적용되는 화상입력기기용 소형 카메라 모듈의 수요 또한 증가하고 있는 추세이다.
특히, 다양한 소형 멀티미디어 기기들 중 스마트폰은 다양한 기술이 하나로 집약된 대표적인 멀티미디어 기기로써, 소형화된 디자인을 선호하는 소비자의 수요 심리에 맞게 이에 적용되는 부품 모듈들 또한 컴팩트화 되도록 개발하는 추세에 있다.
이러한 부품들 중 카메라 모듈은 CCD나 CMOS의 이미지 센서 칩을 이용하여 제조하며, 그 동작관계를 살펴보면 이미지 센서 칩에 렌즈를 통하여 사물을 집광한 후, 광신호를 전기 신호로 변환하여 LCD 디스플레이 장치 등의 디스플레이 매체에 사물이 표시될 수 있도록 영상을 전달한다.
또한, 카메라 모듈은 각 부품의 조립이 완료된 후 OS(Open-Short)테스트, 칼라테스트 및 픽셀테스트 등 모듈의 이상 유무에 대한 검사과정을 거치게 되는데, 모듈의 성능평가시에는 이미지 센서로부터의 신호를 받아 그 특성을 평가하기 때문에 실제로 카메라 모듈이 장착된 전자부품과 동일한 작동신호 및 전원을 공급하여 카메라 모듈의 이상 유, 무를 체크한다.
이와 같은 검사는 카메라 모듈이 안착될 수 있는 소켓을 마련하고, 이 소켓 내부에 카메라 모듈을 안착시킨 후, 카메라 모듈의 전원 및 제어신호를 전달받기 위한 프로브핀들을 통전 가능한 상기 소켓의 단자들과 연결하여 테스트를 진행한다.
도 1은 대한민국특허출원 제10-2014-0021913호 "카메라 모듈 테스트 소켓"을 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 대한민국특허출원 제10-2014-0021913호는 카메라 모듈(1)이 안착되는 안착부가 마련되며, 제1 소켓이 결합되는 제1 보드(10); 상기 제2 소켓이 결합되는 제2 보드(20); 상기 제1 및 제2 소켓을 회동 가능하게 연결하는 회동 힌지(30) 및 상기 제2 소켓에 설치되어, 상기 제1 및 제2 소켓의 클로즈 상태에서 상기 안착부에 안착되는 카메라 모듈(1)과 통전 가능하게 연결되는 연결부재(40)를 포함하며, 상기 제1 보드(10)는 회로패턴이 없는 더미 보드인 카메라 모듈 테스트 소켓에 관한 기술입니다.
이에, 대한민국특허출원 제10-2014-0021913호 "카메라 모듈 테스트 소켓"은 핀 연결유닛이 제거되어 부품 수 절감에 따른 카메라 모듈 테스트 소켓의 생산비용을 절감할 수 있도록 한 것입니다.
그러나 종래 테스트 소켓은 모든 동작과정이 수작업으로 이루어지기 때문에 사용 과정에서 테스트 작동을 위한 별도의 인력이 필요하며, 이로 인해 전체적으로 비용이 높아지는 문제점이 있었다.
도 2는 종래 전자부품 테스트용 자동소켓을 나타낸 사시도이다.
도 2를 참조하면, 종래 전자부품 테스트용 자동소켓(70)은 하부에 전자부품과 접속하는 핀블럭(71)이 구비되며, 수평방향 직선이동과 승강이동을 통해 전자부품과 전기적으로 연결되는 접속동작을 하는 플로팅블럭(73)과 상기 전자부품이 안착되는 본체블럭()을 포함하여 구성된다.
그러나 종래 자동소켓은 전자부품과 접속 동작을 취하는 도전성핀부재가 자동소켓의 좁은 내부공간에 구비되어 고장으로 인한 부품 교체시 자동소켓 전체를 해체해야 했기 때문에 유지보수에 어려움이 있었다.
본 발명은 상술한 종래 문제점을 감안하여 안출한 것으로, 그 목적은 전자부품 테스트용 자동소켓의 구조개선을 통해 전자부품의 테스트 과정에서 도전성핀부재가 외부로 노출되는 구조적 특징을 갖도록 함으로써, 도전성핀부재의 점검 및 고장 발생시 유지보수작업을 용이하게 수행할 수 있도록 한 전자부품 테스트용 자동 소켓을 제공한다.
본 발명의 다른 목적은 직선운동을 회전운동으로 변환하는 링크유닛을 적용하여 전자부품과 도전성핀부재의 접속 동작이 최단거리 내에서 구현되도록 함으로써, 전체적으로 제품의 부피를 최소화하여 제품이 설치되는 장소의 공간활용성을 향상시킬 수 있도록 한 전자부품 테스트용 자동 소켓을 제공한다.
본 발명의 또 다른 목적은 전자부품과 도전성핀부재의 접속과정에서 별도의 고정유닛을 이용하여 전자부품을 안착홈에 견고하게 가압, 고정할 수 있도록 함으로써, 테스트 과정에서 전자부품의 이동을 방지하여 정밀한 접속동작이 이루어질 수 있도록 한 전자부품 테스트용 자동 소켓을 제공한다.
본 발명의 또 다른 목적은 전자부품과 도전성핀부재의 접속과정에서 별도의 보조탄성유닛을 이용하여 플로팅유닛의 도전성핀부재를 전자부품 측으로 밀착시킴으로써, 도전성핀부재와 전자부품 간의 정확한 접속이 이루어질 수 있도록 한 전자부품 테스트용 자동 소켓을 제공한다.
상기한 과제해결을 위한 본 발명은 베이스플레이트로 구성된 받침유닛; 상기 베이스플레이트에 설치되며, 수평방향 구동력을 발생하는 수평구동유닛; 상기 수평구동유닛의 상부에 설치되며, 내측에 전자부품이 놓이는 안착홈이 마련된 안착플레이트; 상기 베이스플레이트에 승강이동 가능하게 설치되며, 수직방향 구동력을 발생하는 수직구동유닛; 상기 수평구동유닛과 수직구동유닛 사이에 설치되어 상기 수직구동유닛과 함께 승강이동하며, 상기 수평구동유닛의 수평방향 구동력을 힌지회전 구동력으로 변환하는 링크유닛 및 상기 링크유닛에 연결되며, 일면에 도전성핀부재가 구비되어 상기 링크유닛의 힌지회전 구동력을 전달받아 힌지회전하며, 이와 연계하여 상기 수직구동유닛과 함께 승강 이동하여 상기 안착플레이트에 놓인 전자부품과 접속하는 플로팅유닛을 포함하여 구성된다.
본 발명에 있어서, 상기 수평구동유닛은, 상기 베이스플레이트에 설치되며, 수평방향 길이변위가 발생하는 수평실린더로드를 갖는 수평실린더 및 상기 수평실린더로드에 연결되며, 단부에 가이드장홀이 마련된 연결구를 포함하여 구성될 수 있다.
본 발명에 있어서, 상기 수직구동유닛은, 상기 수평구동유닛의 인접한 후방에 설치되며, 수직방향 길이변위가 발생하는 수직실린더로드가 구비되고, 상기 수직실린더로드의 단부가 상기 베이스플레이트에 고정된 한 쌍의 수직실린더 및 상기 한 쌍의 수직실린더를 연결할 수 있도록 그 사이에 설치되며, 하부 양측에 상기 각 수직실린더가 안착되는 안착편이 마련되고, 상기 안착편의 일측에 격벽이 형성된 결속브라켓을 포함하여 구성될 수 있다.
본 발명에 있어서, 상기 링크유닛은, 상기 결속브라켓의 각 격벽에 힌지회전가능하게 연결된 한 쌍의 전방링크; 상기 각 전방링크의 인접한 일측 격벽에 힌지회전가능하게 연결된 한 쌍의 후방링크; 상기 한 쌍의 전방링크 사이에 양단이 연결되며, 그 중간부가 상기 수평구동유닛의 가이드장홀에 걸림연결된 연결핀; 상기 한 쌍의 후방링크 사이에 양단이 연결된 고정핀 및 상기 연결핀과 고정핀을 연결하는 한 쌍의 연결링크를 포함하여 구성될 수 있다.
본 발명에 있어서, 상기 플로팅유닛은 상기 링크유닛의 후방링크에 체결된 보조덮개 및 상기 보조덮개의 후면에 체결되며, 단부에 전자부품과 전기적으로 연결되는 도전성핀부재가 구비된 메인덮개를 포함하여 구성될 수 있다.
본 발명에 있어서, 상기 플로팅유닛에는 도전성핀부재와 접속단자가 접속하는 과정에서 전자부품을 안착홈에 가압, 고정하기 위한 고정유닛이 더 구비되며, 상기 고정유닛은 상기 보조덮개에 소정간격 이동가능하게 연결되어 전자부품을 가압, 고정하는 밀착편 및 상기 보조덮개와 밀착편 사이에 개재되어 상기 밀착편에 탄성력을 제공하기 위한 탄성체를 포함하여 구성될 수 있다.
본 발명에 있어서, 상기 베이스플레이트에는 플로팅유닛의 도전성핀부재가 전자부품과 접속하는 과정에서 상기 도전성핀부재를 전자부품 측으로 밀착시키기 위한 보조탄성유닛이 더 구비되며, 상기 보조탄성유닛은 상기 베이스플레이트에 체결되며, 상부에 가이드홈이 마련된 몸체; 상기 가이드홈 내에서 승강이동 가능하게 걸림, 연결되며, 상기 플로팅유닛의 단부를 가압하는 가압핀 및 상기 가이드홈과 가압핀 사이에 개재되며, 상기 가압핀에 탄성력을 제공하는 탄성부재를 포함하여 구성될 수 있다.
본 발명에 의하면, 전자부품과 접속하는 도전성핀부재의 유지보수작업을 용이하게 수행할 수 있는 효과가 있다.
또한, 전체적으로 제품의 부피를 컴팩트화하여 제품의 공간활용성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
또한, 전자부품의 테스트 과정에서 전자부품의 이동을 방지함은 물론, 도전성핀부재와 전자부품 간의 정확한 접속동작이 이루어질 수 있도록 하여 도전성핀부재와 전자부품 간에 정밀한 접속동작이 이루어지도록 하는 효과가 있다.
도 1은 대한민국특허출원 제10-2014-0021913호 "카메라 모듈 테스트 소켓"을 나타낸 도면이다.
도 2는 종래 전자부품 테스트용 자동소켓을 나타낸 사시도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동 소켓을 나타낸 사시도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동 소켓을 나타낸 분해사시도이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동 소켓을 나타낸 요부측단면도이다.
도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동 소켓의 동작과정을 나타낸 측면도이다.
도 7은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동 소켓의 동작과정 중 링크유닛과 플로팅유닛 간의 동작관계를 나타낸 요부 측단면도이다.
도 2는 종래 전자부품 테스트용 자동소켓을 나타낸 사시도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동 소켓을 나타낸 사시도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동 소켓을 나타낸 분해사시도이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동 소켓을 나타낸 요부측단면도이다.
도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동 소켓의 동작과정을 나타낸 측면도이다.
도 7은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동 소켓의 동작과정 중 링크유닛과 플로팅유닛 간의 동작관계를 나타낸 요부 측단면도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동 소켓을 상세히 설명하기로 한다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동 소켓을 나타낸 사시도이고, 도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동 소켓을 나타낸 분해사시도이다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명의 전자부품 테스트용 자동 소켓(100)은 받침유닛(110)과, 상기 받침유닛(110)을 구성하는 베이스플레이트(111)에 설치된 수평구동유닛(120)과, 상기 수평구동유닛(120)에 설치된 안착플레이트(130)와, 상기 베이스플레이트(111)에 설치된 수직구동유닛(140)과 상기 수평구동유닛(120)과 수직구동유닛(140) 사이에 설치된 링크유닛(150) 및 상기 링크유닛(150)에 연결된 플로팅유닛(160)을 포함하여 구성된다.
상기 받침유닛(110)은 본 발명의 전자부품 케스트용 자동 소켓(100)을 구성하는 구성요소들의 기본 베이스 역할을 수행하는 구성수단이다.
상기 받침유닛(110)은 판상체의 베이스플레이트(111)로 구성된다.
한편, 상기 수평구동유닛(120)은 상기 베이스플레이트(111)에 설치되어 수평방향 구동력을 발생하는 구성수단이다.
상기 수평구동유닛(120)은 상기 베이스플레이트(111)의 상부에 수평실린더(123)가 설치되고, 상기 수평실린더(123)에는 수평방향 길이변위가 발생하는 수평실린더로드(121)가 구비된다. 상기 수평실린더로드(121)의 단부에는 연결구(127)가 연결되고, 상기 연결구(127)의 단부에 가이드장홀(125)이 마련된다.
상기 안착플레이트(130)는 전자부품(E) 장착을 위한 공간을 제공하는 구성수단이다.
상기 안착플레이트(130)는 상기 수평구동유닛(120)의 상부에 설치되며, 내측에 전자부품(E)이 놓이는 안착홈(131)이 마련된다.
한편, 상기 수직구동유닛(140)은 상기 베이스플레이트(111)에 승강이동 가능하게 설치되어 수직방향 구동력을 발생하는 구성수단이다.
상기 수직구동유닛(140)은 상기 베이스플레이트(111)에 설치된 한 쌍의 수직실린더(143)와, 상기 한 쌍의 수직실린더(143) 사이에 설치된 결속브라켓(149)을 포함한다.
상기 수직실린더(143)에는 수직방향 길이변위가 발생하는 수직실린더로드(141)가 구비되며, 상기 수직실린더로드(141)는 그 단부가 상기 베이스플레이트(111)에 고정된다.
이에, 상기 수직실린더(143)는 수직실린더로드의 수직방향 길이변위에 따라 승강이동한다.
상기 결속브라켓(149)은 하부 양측에 상기 각 수직실린더(143)가 안착되는 안착편(145)이 마련되고, 상기 안착편(145)의 일측에 격벽(147)이 형성된다.
상기 한 쌍의 수직실린더(143)는 상기 결속브라켓(149)을 통해 일체가 된다.
한편, 상기 링크유닛(150)은 상기 수평구동유닛(120)과 수직구동유닛(140) 사이에 설치되어 상기 수직구동유닛(140)과 함께 승강이동하며, 상기 수평구동유닛(120)의 수평방향 구동력을 힌지회전 구동력으로 변환하는 구성수단이다.
상기 링크유닛(150)은 상기 결속브라켓(149)의 각 격벽(147)에 힌지회전가능하게 연결된 한 쌍의 전방링크(151)와, 상기 각 전방링크(151)의 인접한 일측 격벽(147)에 힌지회전가능하게 연결된 한 쌍의 후방링크(153)와 상기 한 쌍의 전방링크(151) 사이에 양단이 연결되며, 그 중간부가 상기 수평구동유닛(120)의 가이드장홀(125)에 걸림연결된 연결핀(155)과 상기 한 쌍의 후방링크(153) 사이에 양단이 연결된 고정핀(157) 및 상기 연결핀(155)과 고정핀(157)을 연결하는 한 쌍의 연결링크(159)를 포함한다.
한편, 상기 플로팅유닛(160)은 안착플레이트(130)에 놓인 전자부품(E)에 전기신호를 인가하기 위한 구성수단이다.
상기 플로팅유닛(160)은 상기 링크유닛(150)에 연결되며, 일면에 도전성핀부재(165)가 구비된다. 이에, 상기 플로팅유닛(160)은 상기 링크유닛(150)의 힌지회전 구동력을 전달받아 힌지회전하며, 이와 연계하여 링크유닛(150)과 함께 승강 이동하여 상기 도전성핀부재(165)가 전자부품(E)과 접속한다.
상기 플로팅유닛(160)은 상기 링크유닛(150)의 후방링크(153)에 보조덮개(161)가 체결되고, 상기 보조덮개(161)의 후면에 메인덮개(163)가 체결되며, 상기 메인덮개(163)의 단부에 상기 전자부품(E)과 전기적으로 연결되는 도전성핀부재(165)가 구비된다.
또한, 상기 플로팅유닛(160)에는 도전성핀부재(165)와 전자부품(E)이 전기적으로 접속하는 과정에서 전자부품(E)을 안착홈(131)에 가압, 고정하기 위한 고정유닛(170)이 더 구비된다.
상기 고정유닛(170)은 상기 보조덮개(161)에 밀착편(171)이 소정간격 이동가능하게 연결되고, 상기 보조덮개(161)와 밀착편(171) 사이에 탄성체(173)가 개재된다.
이때, 상기 탄성체(173)는 탄성복원력을 갖는 부품이면 어떠한 것이든 적용 가능하며, 본 발명에서는 탄성스프링으로 구성되는 것이 바람직하다.
또한, 상기 베이스플레이트(111)에는 플로팅유닛(160)의 도전성핀부재(165)가 전자부품(E)과 전기적으로 연결되는 과정에서 상기 도전성핀부재(165)를 전자부품(E) 측으로 밀착시키기 위한 보조탄성유닛(180)이 더 구비된다.
상기 보조탄성유닛(180)은 상기 베이스플레이트(111)에 가이드홈(181)을 갖는 몸체(183)가 체결되고, 상기 가이드홈(181) 내에는 가압핀(185)이 승강이동 가능하게 걸림, 연결되며, 상기 가이드홈(181)과 가압핀(185) 사이에는 탄성부재(187)가 개재된다.
이에, 상기 가압핀(185)은 탄성부재(187)의 탄성력에 의해 승강이동하여 플로팅유닛(160)의 단부를 가압한다.
상기 탄성부재(187)는 탄성복원력을 갖는 부품이면 어떠한 것이든 적용 가능하며, 본 발명에서는 탄성스프링으로 구성되는 것이 바람직하다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동소켓은 전자부품과 전기적으로 연결되는 접속동작이 이루어지는 도전성핀부재가 동작 과정에서 외부로 노출되도록 함으로써, 상기 도전성핀부재의 고장으로 인한 교체 및 유지보수작업을 용이하게 수행할 수 있도록 함은 물론, 전체적으로 제품의 부피를 컴팩트화 함은 물론, 공간활용성을 향상시킬 수 있도록 한 것으로, 이에 따른 동작관계 및 작용효과를 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동 소켓을 나타낸 요부측단면도이고, 도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동 소켓의 동작과정을 나타낸 측면도이며, 도 7은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동 소켓의 동작과정 중 링크유닛과 플로팅유닛 간의 동작관계를 나타낸 요부 측단면도이다.
도 5 내지 도 7을 참조하면, 전자부품(E)을 테스트하기 위해서는 안착플레이트(130)의 안착홈(131)에 전자부품(E)을 올려놓는다.
본 발명에서는 이에 대한 구체적인 방법은 기술하고 있지 않지만, 그 실시예에 따라 전자부품(E)을 안착홈(131)에 올려놓는 동작도 자동화를 구현할 수 있다.
이후, 상기 수평실린더(123)를 동작하여 수평실린더로드(121)가 상기 연결구(127)를 수평실린더(123) 측으로 이동하도록 한다.
상기 연결구(127)가 수평실린더(123) 측으로 이동하면, 상기 링크유닛(150)은 상기 수평실린더(123)의 수평방향 구동력을 힌지회전 구동력으로 변환한다. 그 구분동작을 도 7을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 7을 참조하면, 상기 연결구(127)가 수평실린더(123) 측으로 이동하면 상기 연결구(127)가 연결핀(155)을 당겨 상기 전방링크(151)가 반시계방향으로 힌지회전하도록 하며, 이와 동시에 상기 연결핀(155)은 연결구(127)의 가이드장홀(125)을 따라 소정간격 하방으로 이동한다.
이러한 연결핀(155)의 당기는 힘은 연결링크(159)를 통해 고정핀(157)으로 전달되며, 상기 고정핀(157)은 후방링크(153)를 힌지회전시켜 상기 후방링크(153)가 상기 베이스플레이트(111)와 수평을 이루도록 한다.
이에, 상기 후방링크(153)가 힌지회전하여 상기 베이스플레이트(111)와 수평을 이루면, 상기 후방링크(153)에 연결된 플로팅유닛(160)의 보조덮개(161)와 메인덮개(163)는 힌지회전하여 상기 베이스플레이트(111)와 수평상태가 된다.
이후, 상기 수직실린더(143)를 동작하면, 상기 수직실린더로드(141) 수직방향 길이변위가 발생하여 수직구동유닛(140)의 수직실린더(143) 및 결속브라켓(149)이 상기 베이스플레이트(111) 측으로 이동하며, 이와 동시에 상기 플로팅유닛(160)의 보조덮개(161) 및 메인덮개(163)가 함께 이동하여 상기 플로팅유닛(160)의 도전성핀부재(165)가 안착플레이트(130)에 놓인 전자부품(E)과 접속하여 전자부품(E)을 테스트한다.
한편, 상기 도전성핀부재(165)와 전자부품(E)이 접속하는 과정에서 상기 고정유닛(170)의 밀착편(171)은 탄성체(173)의 탄성력을 이용하여 전자부품(E)을 안착홈(131)에 가압, 고정한다.
이에, 상기 고정유닛(170)은 전자부품(E)의 테스트 과정에서 전자부품(E)이 정 위치에서 이탈하는 방지하여 도전성핀부재(165)와 전자부품(E) 간에 정밀한 접속동작이 이루어질 수 있도록 한다.
또한, 도전성핀부재(165)가 전자부품(E)과 접속하는 과정에서 상기 보조탄성유닛(180)의 가압핀(185)은 탄성부재(187)의 탄성력에 의해 상기 플로팅유닛(160)의 후방 단부를 가압하여 상기 도전성핀부재(165)를 전자부품(E) 측으로 더욱 긴밀하게 밀착시킴으로써, 상기 도전성핀부재(165)와 전자부품(E) 간에 정확한 접속 동작이 이루어질 수 있도록 한다.
이후, 상기 전자부품(E)의 테스트가 종료되면, 상기 플로팅유닛(160)은 초기상태로 복귀한다.
이를 구분동작으로 살펴보면. 상기 수직실린더(143)를 동작하여 상기 플로팅유닛(160)을 상기 베이스플레이트(111)의 반대방향으로 이동하도록 하면, 상기 플로팅유닛(160)의 도전성핀부재(165)는 전자부품(E)과 떨어지게 된다.
이후, 상기 수평실린더(123)를 동작하여 수평실린더로드(121)가 상기 연결구(127)를 수평실린더(123)의 반대방향으로 이동하도록 한다.
상기 연결구(127)가 수평실린더(123)의 반대방향으로 이동하면, 상기 링크유닛(150)은 상기 수평실린더(123)의 수평방향 구동력을 힌지회전 구동력으로 변환한다. 그 구분동작을 도 5를 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 5를 참조하면, 상기 연결구(127)가 수평실린더(123)의 반대방향으로 이동하면 상기 연결구(127)가 연결핀(155)을 밀어 상기 전방링크(151)가 시계방향으로 힌지회전하도록 하며, 이와 동시에 상기 연결핀(155)은 연결구(127)의 가이드장홀(125)을 따라 소정간격 상방으로 이동한다.
이러한 연결핀(155)의 미는 힘은 연결링크(159)를 통해 고정핀(157)으로 전달되며, 상기 고정핀(157)은 후방링크(153)를 힌지회전시켜 상기 후방링크(153)가 상기 베이스플레이트(111)와 경사각을 이루도록 한다.
이에, 상기 후방링크(153)가 힌지회전하여 상기 베이스플레이트(111)와 소정각도 경사각을 이루면, 상기 후방링크(153)에 연결된 플로팅유닛(160)의 보조덮개(161)와 메인덮개(163)는 힌지회전하여 상기 베이스플레이트(111)와 소정각도 경사각을 이루게 된다.
그 과정에서 상기 플로팅유닛(160)의 도전성핀부재(165)는 외부로 노출되어 점검 또는 교체 등과 같은 유지보수작업을 용이하게 수행할 수 있도록 한다.
이에, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 자동소켓은 전자부품과 접속동작이 이루어지는 도전성핀부재가 동작 과정에서 외부로 노출되도록 함으로써, 점검 및 고장으로 인한 교체 등과 같은 유지보수작업을 용이하게 수행할 수 있도록 함은 물론, 직선운동을 회전운동으로 변환하는 링크유닛을 적용하여 전자부품과 도전성핀부재의 접속 동작이 최단거리의 수평방향 이송동작을 통해 구현되도록 함으로써, 전체적으로 제품의 부피를 컴팩트화하여 공간활용성을 향상시킬 수 있도록 한다.
110 : 받침유닛 120 : 수평구동유닛
121 : 수평실린더로드 123 : 수평유압실린더
130 : 안착플레이트 131 : 안착홈
140 : 수직구동유닛 141 : 수직실린더로드
150 : 링크유닛 151 : 전방링크
153 : 후방링크 160 : 플로팅유닛
170 : 고정유닛 180 : 보조탄성유닛
121 : 수평실린더로드 123 : 수평유압실린더
130 : 안착플레이트 131 : 안착홈
140 : 수직구동유닛 141 : 수직실린더로드
150 : 링크유닛 151 : 전방링크
153 : 후방링크 160 : 플로팅유닛
170 : 고정유닛 180 : 보조탄성유닛
Claims (7)
- 베이스플레이트로 구성된 받침유닛;
상기 베이스플레이트에 설치되며, 수평방향 구동력을 발생하는 수평구동유닛;
상기 수평구동유닛의 상부에 설치되며, 내측에 전자부품이 놓이는 안착홈이 마련된 안착플레이트;
상기 베이스플레이트에 승강이동 가능하게 설치되며, 수직방향 구동력을 발생하는 수직구동유닛;
상기 수평구동유닛과 수직구동유닛 사이에 설치되어 상기 수직구동유닛과 함께 승강이동하며, 상기 수평구동유닛의 수평방향 구동력을 힌지회전 구동력으로 변환하는 링크유닛 및
상기 링크유닛에 연결되며, 일면에 도전성핀부재가 구비되어 상기 링크유닛의 힌지회전 구동력을 전달받아 힌지회전하며, 이와 연계하여 상기 수직구동유닛과 함께 승강 이동하여 상기 안착플레이트에 놓인 전자부품과 접속하는 플로팅유닛을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 자동소켓. - 제1항에 있어서,
상기 수평구동유닛은,
상기 베이스플레이트에 설치되며, 수평방향 길이변위가 발생하는 수평실린더로드를 갖는 수평실린더 및
상기 수평실린더로드에 연결되며, 단부에 가이드장홀이 마련된 연결구를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 자동소켓. - 제1항에 있어서,
상기 수직구동유닛은,
상기 수평구동유닛의 인접한 후방에 설치되며, 수직방향 길이변위가 발생하는 수직실린더로드가 구비되고, 상기 수직실린더로드의 단부가 상기 베이스플레이트에 고정된 한 쌍의 수직실린더 및
상기 한 쌍의 수직실린더를 연결할 수 있도록 그 사이에 설치되며, 하부 양측에 상기 각 수직실린더가 안착되는 안착편이 마련되고, 상기 안착편의 일측에 격벽이 형성된 결속브라켓을 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 자동소켓. - 제3항에 있어서,
상기 링크유닛은,
상기 결속브라켓의 각 격벽에 힌지회전가능하게 연결된 한 쌍의 전방링크;
상기 각 전방링크의 인접한 일측 격벽에 힌지회전가능하게 연결된 한 쌍의 후방링크;
상기 한 쌍의 전방링크 사이에 양단이 연결되며, 그 중간부가 상기 수평구동유닛의 가이드장홀에 걸림연결된 연결핀;
상기 한 쌍의 후방링크 사이에 양단이 연결된 고정핀 및
상기 연결핀과 고정핀을 연결하는 한 쌍의 연결링크를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 자동소켓. - 제4항에 있어서,
상기 플로팅유닛은,
상기 링크유닛의 후방링크에 체결된 보조덮개 및
상기 보조덮개의 후면에 체결되며, 단부에 전자부품과 전기적으로 연결되는 도전성핀부재가 구비된 메인덮개를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 자동소켓. - 제5항에 있어서,
상기 플로팅유닛에는 도전성핀부재와 접속단자가 접속하는 과정에서 전자부품을 안착홈에 가압, 고정하기 위한 고정유닛이 더 구비되며,
상기 고정유닛은,
상기 보조덮개에 소정간격 이동가능하게 연결되어 전자부품을 가압, 고정하는 밀착편 및
상기 보조덮개와 밀착편 사이에 개재되어 상기 밀착편에 탄성력을 제공하기 위한 탄성체를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 자동소켓. - 제1항에 있어서,
상기 베이스플레이트에는 플로팅유닛의 도전성핀부재가 전자부품과 접속하는 과정에서 상기 도전성핀부재를 전자부품 측으로 밀착시키기 위한 보조탄성유닛이 더 구비되며,
상기 보조탄성유닛은,
상기 베이스플레이트에 체결되며, 상부에 가이드홈이 마련된 몸체;
상기 가이드홈 내에서 승강이동 가능하게 걸림, 연결되며, 상기 플로팅유닛의 단부를 가압하는 가압핀 및
상기 가이드홈과 가압핀 사이에 개재되며, 상기 가압핀에 탄성력을 제공하는 탄성부재를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 자동소켓.
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Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101722972B1 (ko) * | 2016-11-08 | 2017-04-05 | 위드시스템 주식회사 | 하프컨택을 통해 커넥터를 직접 연결하는 검사용 가압장치 |
KR101776810B1 (ko) | 2017-06-29 | 2017-09-11 | 신승무 | 전자부품용 테스트 소켓 |
KR101811627B1 (ko) | 2016-09-27 | 2017-12-27 | (주) 네스텍코리아 | 비자성 특성을 띄는 카메라 모듈용 테스트 소켓 |
CN108254674A (zh) * | 2018-02-23 | 2018-07-06 | 江苏凯尔生物识别科技有限公司 | 用于智能手机芯片的一体化测试系统 |
CN109856554A (zh) * | 2019-04-22 | 2019-06-07 | 星云智能装备(昆山)有限公司 | 一种自动对插机构及电池包测试装置 |
KR102164974B1 (ko) * | 2019-12-05 | 2020-10-13 | 주식회사 세인블루텍 | 다중 이미지센서모듈 검사소켓 |
KR20210154511A (ko) * | 2020-06-12 | 2021-12-21 | 주식회사 윌테크 | 리모컨 자동검사설비의 전원공급장치 |
US11244586B2 (en) | 2019-10-14 | 2022-02-08 | Samsung Display Co., Ltd. | Display device and display module testing method |
KR102497496B1 (ko) * | 2022-11-14 | 2023-02-08 | 투스템 주식회사 | 사이드 블록과 플로팅이 일체로 구성되는 모듈 테스트용 소켓 |
KR102508229B1 (ko) * | 2022-06-29 | 2023-03-09 | 주식회사 프로이천 | 상하전후구동블록조립체 및 프로브장치 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000010458U (ko) * | 1998-11-21 | 2000-06-15 | 오창기 | 하네스 검사장치 |
KR101357020B1 (ko) * | 2013-11-27 | 2014-02-05 | 주식회사 티씨에스 | 전자부품 테스트용 소켓 |
KR20140021913A (ko) | 2012-08-13 | 2014-02-21 | 엘지이노텍 주식회사 | 카메라 모듈 테스트 소켓 |
KR101444774B1 (ko) * | 2014-03-11 | 2014-09-26 | 주식회사 티씨에스 | 전자부품 테스트용 소켓 |
KR20150124092A (ko) * | 2014-04-28 | 2015-11-05 | 황동원 | 반도체 소자 테스트용 소켓장치 |
-
2015
- 2015-12-30 KR KR1020150189608A patent/KR101628305B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000010458U (ko) * | 1998-11-21 | 2000-06-15 | 오창기 | 하네스 검사장치 |
KR20140021913A (ko) | 2012-08-13 | 2014-02-21 | 엘지이노텍 주식회사 | 카메라 모듈 테스트 소켓 |
KR101357020B1 (ko) * | 2013-11-27 | 2014-02-05 | 주식회사 티씨에스 | 전자부품 테스트용 소켓 |
KR101444774B1 (ko) * | 2014-03-11 | 2014-09-26 | 주식회사 티씨에스 | 전자부품 테스트용 소켓 |
KR20150124092A (ko) * | 2014-04-28 | 2015-11-05 | 황동원 | 반도체 소자 테스트용 소켓장치 |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101811627B1 (ko) | 2016-09-27 | 2017-12-27 | (주) 네스텍코리아 | 비자성 특성을 띄는 카메라 모듈용 테스트 소켓 |
KR101722972B1 (ko) * | 2016-11-08 | 2017-04-05 | 위드시스템 주식회사 | 하프컨택을 통해 커넥터를 직접 연결하는 검사용 가압장치 |
KR101776810B1 (ko) | 2017-06-29 | 2017-09-11 | 신승무 | 전자부품용 테스트 소켓 |
CN108254674A (zh) * | 2018-02-23 | 2018-07-06 | 江苏凯尔生物识别科技有限公司 | 用于智能手机芯片的一体化测试系统 |
CN108254674B (zh) * | 2018-02-23 | 2024-03-29 | 江苏凯尔生物识别科技有限公司 | 用于智能手机芯片的一体化测试系统 |
CN109856554A (zh) * | 2019-04-22 | 2019-06-07 | 星云智能装备(昆山)有限公司 | 一种自动对插机构及电池包测试装置 |
US11244586B2 (en) | 2019-10-14 | 2022-02-08 | Samsung Display Co., Ltd. | Display device and display module testing method |
KR102164974B1 (ko) * | 2019-12-05 | 2020-10-13 | 주식회사 세인블루텍 | 다중 이미지센서모듈 검사소켓 |
KR20210154511A (ko) * | 2020-06-12 | 2021-12-21 | 주식회사 윌테크 | 리모컨 자동검사설비의 전원공급장치 |
KR102386802B1 (ko) * | 2020-06-12 | 2022-04-15 | 주식회사 윌테크 | 리모컨 자동검사설비의 전원공급장치 |
KR102508229B1 (ko) * | 2022-06-29 | 2023-03-09 | 주식회사 프로이천 | 상하전후구동블록조립체 및 프로브장치 |
KR102497496B1 (ko) * | 2022-11-14 | 2023-02-08 | 투스템 주식회사 | 사이드 블록과 플로팅이 일체로 구성되는 모듈 테스트용 소켓 |
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