KR101618134B1 - Auto probe test method - Google Patents
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Abstract
본 발명은 오토 프로브 검사방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 오토 프로브 검사 공정 시, 액정패널 자체의 순수한 소비전력을 측정하고자 하는 것이다. The present invention relates to an auto-probe inspection method, and more particularly, to measure pure power consumption of a liquid crystal panel itself during an auto-probe inspection process.
본 발명의 특징은 액정패널에 구동회로가 부착되기 전의 오토 프로브 검사공정시, 오토 프로브 장치를 통해 액정패널의 소비전력을 측정하는 것이다. The feature of the present invention is that the power consumption of the liquid crystal panel is measured through the auto-probe device during the auto-probe inspection process before the drive circuit is attached to the liquid crystal panel.
이를 통해, 소비전력에 따른 액정패널 자체의 불량여부를 확인할 수 있어, 기존에 액정패널의 소비전력을 구동회로가 부착된 상태에서 측정하여, 액정패널의 불량이 발생할 경우, 액정패널에 부착된 구동회로가 정상동작함에도 함께 폐기되었던 문제점을 방지할 수 있다. In this way, it is possible to confirm whether or not the liquid crystal panel itself is defective according to the power consumption, so that the power consumption of the liquid crystal panel has been measured in the state that the driving circuit is attached, and when a defective liquid crystal panel occurs, It is possible to prevent the problem that the power source is discarded together with the normal operation.
이를 통해, 공정비용을 절감할 수 있으며, 공정의 효율성 또한 향상시키게 된다. This reduces process costs and improves process efficiency.
오토 프로브, 구동회로, 액정패널, 소비전력, 액정표시장치 Auto-probe, drive circuit, liquid crystal panel, power consumption, liquid crystal display
Description
본 발명은 오토 프로브 검사방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 오토 프로브 검사 공정 시, 액정패널 자체의 순수한 소비전력을 측정하고자 하는 것이다. The present invention relates to an auto-probe inspection method, and more particularly, to measure pure power consumption of a liquid crystal panel itself during an auto-probe inspection process.
근래에 들어 사회가 본격적인 정보화 시대로 접어듦에 따라 대량의 정보를 처리 및 표시하는 디스플레이(display) 분야가 급속도로 발전해 왔고, 이에 부응하여 여러 가지 다양한 평판표시장치가 개발되어 각광받고 있다.In recent years, as the society has become a full-fledged information age, a display field for processing and displaying a large amount of information has rapidly developed, and various flat panel display devices have been developed in response to this.
이 같은 평판표시장치의 구체적인 예로는 액정표시장치(Liquid Crystal Display device : LCD), 플라즈마표시장치(Plasma Display Panel device : PDP), 전계방출표시장치(Field Emission Display device : FED), 전기발광표시장치(Electroluminescence Display device : ELD) 등을 들 수 있는데, 이들 평판표시장치는 박형화, 경량화, 저소비전력화의 우수한 성능을 보여 기존의 브라운관(Cathode Ray Tube : CRT)을 빠르게 대체하고 있다.Specific examples of such flat panel display devices include a liquid crystal display device (LCD), a plasma display panel (PDP), a field emission display (FED) And electroluminescence display device (ELD). These flat panel display devices are excellent in performance of thinning, light weight, and low power consumption, and are rapidly replacing existing cathode ray tubes (CRTs).
이중 특히 액정표시장치는 콘트라스트 비(contrast ratio)가 크고 동화상 표 시에 적합하며 소비전력이 적다는 특징을 보여 노트북, 모니터, TV 등의 다양한 분야에서 활용되고 있는데, 이의 화상구현원리는 액정의 광학적 이방성과 분극성질을 이용하는 것으로, 주지된 바와 같이 액정은 분자구조가 가늘고 길며 배열에 방향성을 갖는 광학적 이방성과, 전기장 내에 놓일 경우 그 크기에 따라 분자배열 방향이 변화되는 분극성질을 띤다.In particular, a liquid crystal display device is characterized in that it has a large contrast ratio, is suitable for displaying moving pictures, and has low power consumption, and is used in various fields such as a notebook computer, a monitor, and a TV. As is well known, liquid crystals have optical anisotropy, which is elongated in molecular structure and has directionality in alignment, and polarization property in which molecular alignment direction is changed according to its size when placed in an electric field.
즉, 일반적인 액정표시장치는 액정구동을 위한 어레이층(array layer)과 컬러구현을 위한 컬러필터층(color-filter layer)이 갖추어진 제 1 및 제 2 기판 사이로 액정층을 개재해서 합착시킨 액정패널을 필수구성요소로 하며, 이는 내부의 전기장으로 액정분자의 배열방향을 변화시켜 투과율 차이를 발생시키게 된다. That is, a typical liquid crystal display device includes a liquid crystal panel in which a liquid crystal layer is interposed between first and second substrates having an array layer for liquid crystal driving and a color-filter layer for color implementation This is an essential component, which changes the alignment direction of the liquid crystal molecules with an internal electric field, thereby causing a difference in transmittance.
이러한 액정패널의 투과율 차이는 그 배면에 놓인 백라이트(back light)의 빛을 통해 컬러필터의 색 조합이 반영되어 컬러화상의 형태로 디스플레이 된다.The transmittance difference of the liquid crystal panel is displayed in the form of a color image by reflecting the color combination of the color filter through light of a back light placed on the back surface thereof.
일반적인 액정표시장치 제조공정은 액정패널을 완성하는 셀(cell)공정과, 액정패널 그리고 액정패널과 백라이트를 일체화시키는 모듈(module)공정으로 구분될 수 있다.A typical process for manufacturing a liquid crystal display device can be classified into a cell process for completing a liquid crystal panel, and a module process for integrating a liquid crystal panel, a liquid crystal panel, and a backlight.
이중 셀 공정은 박막증착(thin film deposition), 포토리소그라피(photo-lithography), 식각(etching) 등의 과정을 수 차례 반복해서 각 기판에 어레이층과 컬러필터층을 구현하고, 셀공정에서는 제 1 또는 제 2 기판 중 어느 하나에 합착을 위한 씰패턴(seal pattern)을 형성한 후 액정층을 사이에 두고 양 기판을 대면 합착시켜 액정패널을 완성하며, 이렇게 완성된 액정패널은 모듈공정에서 편광판과 구동회로 등이 부착된 후 백라이트와 일체화되어 액정표시장치를 이룬다.In the dual cell process, an array layer and a color filter layer are formed on each substrate by repeating processes such as thin film deposition, photo-lithography, and etching several times. In the cell process, A seal pattern is formed on one of the first and second substrates to form a seal pattern thereon, and the both substrates are bonded to each other with the liquid crystal layer interposed therebetween to complete the liquid crystal panel. And then integrated with the backlight to form a liquid crystal display device.
한편, 이러한 액정표시장치는 액정패널과 백라이트가 모듈화되기 전, 구동회로가 장착된 상태의 액정패널에 전기신호를 인가하여 테스트화상을 구현토록 하여, 액정패널에 대해 최종적으로 테스트를 진행하게 된다. In the liquid crystal display device, before the liquid crystal panel and the backlight are modularized, a test image is implemented by applying an electric signal to the liquid crystal panel in a state in which the driving circuit is mounted, and the liquid crystal panel is ultimately tested.
이때, 액정패널의 소비전력 또한 측정하게 되는데, 측정된 소비전력을 기 설정되어 있는 검사기준과 비교하여, 측정된 소비전력이 검사기준을 벗어나는 경우 액정패널은 불량으로 판정된다. At this time, the power consumption of the liquid crystal panel is also measured. When the measured power consumption exceeds the inspection standard, the liquid crystal panel is judged to be defective.
그러나, 이렇게 소비전력을 통해 불량으로 판별된 액정패널은 액정패널 자체에서 불량이 발생한 것인지 액정패널에 장착된 구동회로에서 불량이 발생한 것인지 확인할 수 없는데, 즉, 액정패널 자체에서 불량이 발생하고 구동회로는 정상동작을 함에도 이의 불량을 판별할 수 없어, 이 둘을 함께 폐기(廢棄)하게 된다. However, it is impossible to confirm whether a defect has occurred in the liquid crystal panel itself or a defect in the drive circuit mounted on the liquid crystal panel, that is, a defect occurs in the liquid crystal panel itself, (Normal operation), it is impossible to determine the failure thereof, and both of them are discarded (discarded).
이로 인하여, 공정비용을 향상시키게 되는 문제점을 야기하게 된다.This leads to a problem of increasing the process cost.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 액정패널 자체의 소비전력을 측정하고자 하는 것을 제 1 목적으로 한다. SUMMARY OF THE INVENTION It is a first object of the present invention to measure power consumption of a liquid crystal panel itself.
이를 통해, 공정비용 절감 및 공정의 효율성을 향상시키고자 하는 것을 제 2 목적으로 한다. The second objective is to reduce the process cost and improve the efficiency of the process.
전술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해, 본 발명은 액정패널 상에 노출된 테스트패드와 테스트 전압 제공부로부터 스위치가 형성된 신호배선을 통해 테스트신호를 인가받는 니들을 접속시키는 단계와; 상기 니들에 테스트신호를 공급하여 상기 액정패널에 테스트화상을 표시하는 단계와; 상기 테스트화상이 표시되는 과정에서, 상기 신호배선 일부를 단선시켜, 상기 신호배선에 흐르는 테스트신호의 전류를 측정하는 단계와; 상기 측정된 전류를 통해 상기 액정패널의 소비전력을 측정하는 단계를 포함하는 오토 프로브 검사 방법을 제공한다. According to an aspect of the present invention, there is provided a method of testing a liquid crystal display device, comprising the steps of: connecting a test pad exposed on a liquid crystal panel; Supplying a test signal to the needle to display a test image on the liquid crystal panel; Measuring a current of a test signal flowing through the signal line by disconnecting a part of the signal line in the process of displaying the test image; And measuring power consumption of the liquid crystal panel through the measured current.
상기 신호배선은 상기 스위치를 오프(off)시켜 단선되며, 상기 단선된 신호배선의 전류는 멀티미터를 포함하는 전류측정기를 통해 측정한다. The signal wiring is disconnected by turning off the switch, and the current of the disconnected signal wiring is measured through a current meter including a multimeter.
이때, 상기 테스트패드는 게이트 및 데이터 테스트패드와 공통전압 테스트패드이며, 상기 액정패널에 테스트화상을 통해, 상기 액정패널의 이상유무를 확인한다. At this time, the test pad is a common voltage test pad with a gate and a data test pad, and confirms whether the liquid crystal panel is abnormal through a test image on the liquid crystal panel.
위에 상술한 바와 같이, 본 발명에 따라 액정패널에 구동회로가 부착되기 전의 오토 프로브 검사공정시, 오토 프로브 장치를 통해 액정패널의 소비전력을 측정함으로써, 소비전력에 따른 액정패널 자체의 불량여부를 확인할 수 있어, 기존에 액정패널의 소비전력을 구동회로가 부착된 상태에서 측정하여, 액정패널의 불량이 발생할 경우, 액정패널에 부착된 구동회로가 정상동작함에도 함께 폐기되었던 문제점을 방지할 수 있는 효과가 있다. As described above, in the auto-probe inspection step before the driving circuit is attached to the liquid crystal panel according to the present invention, the power consumption of the liquid crystal panel is measured through the auto-probe device to determine whether the liquid crystal panel itself is defective It is possible to measure the power consumption of the liquid crystal panel in the state where the driving circuit is attached and to prevent the problem that the driving circuit attached to the liquid crystal panel is normally operated when the liquid crystal panel is defective It is effective.
이를 통해, 공정비용을 절감할 수 있으며, 공정의 효율성 또한 향상시키는 효과가 있다. As a result, the process cost can be reduced and the efficiency of the process can be improved.
이하, 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 제조공정을 단계적으로 도시한 흐름도이다. FIG. 1 is a flow chart showing a step of manufacturing a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.
액정표시장치는 먼저, TFT-LCD 셀(cell) 공정(st10)을 진행하는데, 이러한 셀 공정(st10)을 통해 액정패널을 형성한다. The liquid crystal display device firstly carries out a TFT-LCD cell process (st10), and forms a liquid crystal panel through the cell process st10.
이에 대해 좀더 자세히 살펴보면, TFT-LCD 셀 공정(st10)은 크게 컬러필터기판과 어레이기판 형성(st11), 배향막 형성(st12), 실패턴 및 스페이서 형성(st13), 액정적하(st14), 합착(st15), 절단(st17) 그리고, 검사공정(st16, st18)으로 이루어진다. More specifically, the TFT-LCD cell process (st10) mainly includes a color filter substrate and an array substrate formation (st11), an orientation film formation (st12), an actual pattern and a spacer formation (st13), a liquid crystal drop (st14) st15, cut (st17), and inspection process (st16, st18).
이에, TFT-LCD 셀 공정(st10)의 제 1 단계(St11)는, 컬러필터기판인 상부기판과 어레이기판인 하부기판을 각각 형성한 후, 배향막을 도포하기 전에 기판 상에 존재할 수 있는 이물질을 제거하기 위한 과정으로 초기세정하는 단계이다.Thus, in the first step St11 of the TFT-LCD cell process (st10), after the upper substrate, which is a color filter substrate, and the lower substrate, which is an array substrate, are formed, a foreign substance which may exist on the substrate before the alignment film is applied As shown in FIG.
이때, 어레이기판 내면에는 다수의 게이트라인과 데이터라인이 교차하여 화소(pixel)가 정의되고, 각각의 교차점마다 박막트랜지스터(Thin Film Transistor : TFT)가 구비되어 각 화소에 형성된 투명 화소전극과 일대일 대응 연결된다. At this time, a plurality of gate lines and data lines cross each other on the inner surface of the array substrate, pixels are defined, and a thin film transistor (TFT) is provided at each of the intersections to form a one-to-one correspondence with the transparent pixel electrodes .
그리고 컬러필터기판 내면으로는 각 화소에 대응되는 일례로 적(R), 녹(G), 청(B) 컬러의 컬러필터(color filter) 및 이들 각각을 두르며 게이트라인과 데이터라인 그리고 박막트랜지스터 등의 비표시요소를 가리는 블랙매트릭스(black matrix)가 구비되고, 이들을 덮는 투명 공통전극이 구비된다. On the inner surface of the color filter substrate, a color filter of red (R), green (G), and blue (B) colors corresponding to each pixel and a color filter And a transparent common electrode covering the non-display elements are provided on a black matrix.
제 2 단계(St12)는, 컬러필터기판과 어레이기판 상에 배향막을 형성하는 단계이며, 제 3 단계(St13)는, 컬러필터기판과 어레이기판 사이에 개재될 액정이 새지 않도록 실패턴을 인쇄하고, 컬러필터기판과 어레이기판 사이의 갭을 정밀하고 균일하게 유지하기 위해 일정한 크기의 스페이서를 산포하는 공정이다. The second step St12 is a step of forming an alignment film on the color filter substrate and the array substrate. In a third step St13, a seal pattern is printed so that the liquid crystal interposed between the color filter substrate and the array substrate does not leak , And spattering a spacer of a certain size to precisely and uniformly maintain a gap between the color filter substrate and the array substrate.
제 4 단계(St14)는, 양 기판 중 선택된 한 기판 상에 액정을 적하하는 단계이며, 제 5 단계(St15)는, 컬러필터기판과 어레이기판의 합착공정 단계이며 이후, 합착된 기판 상태로 보조 검사 공정을 실시하는 제 6 단계(St16)를 진행한다.The fourth step (St14) is a step of dropping liquid crystal onto a selected one of the substrates. The fifth step (St15) is a step of laminating the color filter substrate and the array substrate, And the sixth step (St16) for carrying out the inspection process is performed.
보조 검사 공정은 액정패널에 구성된 게이트 및 데이터라인의 외곽부에 형성된 검사패드를 통해 전압을 인가하면서 육안관측 또는 현미경 관측을 통해 진행된다. The auxiliary inspection process proceeds through a visual observation or a microscopic observation while applying a voltage through a test pad formed on the outer portion of the gate and data lines formed in the liquid crystal panel.
여기서, 보조 검사 공정은 화면상에 나타나는 얼룩 등을 관찰하는 목시검사로 대형이물질이나, 러빙불량에 의한 화면상에 발생될 수 있는 얼룩을 검사할 수 있다. Here, the auxiliary inspection process is a visual inspection for observing dirt or the like appearing on the screen, and it is possible to inspect a large foreign object or a dirt which may be generated on the screen due to rubbing failure.
그러나, 보조 검사 공정을 통해 검출될 수 있는 불량요인은 한계가 있다. 예를 들면 단락 및 단선과 같은 선결함(Line defect) 및 점결함(Point defect) 등은 검출이 불가능하다. However, there is a limit to the defect factors that can be detected through the auxiliary inspection process. For example, line defects and point defects such as shorting and disconnection can not be detected.
제 7 단계(St17)는, 기판을 셀 단위로 절단하는 단계이며, 마지막으로 제 8 단계(st18)는 액정패널의 주 검사 공정으로, 제 6 단계(St16)에서의 보조 검사 공정보다 좀더 정밀한 검사 공정으로 전기신호를 인가하는 방식의 오토 프로브(auto probe)검사가 이루어진다. The seventh step St17 is a step of cutting the substrate in units of cells. Finally, the eighth step st18 is a main inspection step of the liquid crystal panel, and the more detailed inspection An auto probe inspection method of applying an electric signal to the process is performed.
오토 프로브 검사는 보조 검사 공정에서 검출되지 못한 선결함(Line defect) 및 점결함(Point defect)등을 검출하기 위한 공정으로 외부로 노출된 패드에 프로브 콘택(probe contact)에 의한 전기신호를 인가하여 실질적으로 액정패널을 모의로 구동시킴으로써 각각의 불량을 검출하게 된다. Auto-probe inspection is a process for detecting line defects and point defects which are not detected in the auxiliary inspection process. It is a method of applying an electric signal by probe contact to the pad exposed to the outside, The liquid crystal panel is driven simulatively to detect the respective defects.
오토 프로브 검사 공정을 거쳐 양질의 액정패널을 선별하게 된다. The quality of the liquid crystal panel is selected through the auto-probe inspection process.
특히, 본 발명은 오토 프로브 검사 시, 액정패널의 소비전력을 측정할 수 있다. 이를 통해, 소비전력에 따른 액정패널의 불량여부를 확인할 수 있어, 공정비용을 향상시키게 되는 문제점을 방지할 수 있다. 이에 대해 차후 좀더 자세히 살펴보도록 하겠다. Particularly, the present invention can measure the power consumption of the liquid crystal panel when the auto-probe is inspected. Accordingly, it is possible to confirm whether or not the liquid crystal panel is defective according to the power consumption, thereby preventing the problem of improving the process cost. Let me take a closer look at this later.
이로써, TFT-LCD 셀(cell) 공정(st10)이 완료되며, 액정패널을 완성하게 된다.Thus, the TFT-LCD cell process (st10) is completed and the liquid crystal panel is completed.
다음으로, 완성된 액정패널의 어레이기판 및 컬러필터기판의 각 외측으로 편광판을 부착하는 편광판 부착공정(st20)을 진행하는데, 편광판은 액정패널을 중심으로 양면에서 광원을 직선광으로 바꿔주는 역할을 한다. Next, a polarization plate attaching step (st20) for attaching the polarizing plate to each outer side of the array substrate of the completed liquid crystal panel and the color filter substrate is performed. The polarizing plate plays a role of converting the light source into linear light from both surfaces around the liquid crystal panel do.
그리고, 다음으로 구동회로 부착공정(st30)을 진행하는데, 구동회로는 액정패널의 어레이기판과 전기적 신호를 연결하는 구동회로를 OLB(out lead bonding), 탭솔더링(tap soldering)을 통해 부착하게 된다. Next, the driving circuit attaching step (st30) is performed. The driving circuit is attached to the driving circuit connecting the array substrate of the liquid crystal panel with the electric signal through OLB (out lead bonding) and tap soldering .
이 같은 구동회로는 각각 게이트라인으로 박막트랜지스터의 온/오프 신호를 스캔 전달하는 게이트구동회로 그리고 데이터라인으로 프레임별 화상신호를 전달하는 데이터구동회로로 구분되어 액정패널의 서로 인접한 두 가장자리로 위치될 수 있다.Such a driving circuit is divided into a gate driving circuit for transferring the on / off signals of the thin film transistors to the gate lines and a data driving circuit for transferring the image signals for each frame to the data lines. .
이에 상술한 구조의 액정패널은 스캔 전달되는 게이트구동회로의 온/오프 신호에 의해 각 게이트라인 별로 선택된 박막트랜지스터가 온(on) 되면 데이터구동회로의 신호전압이 데이터라인을 통해서 해당 화소전극으로 전달되고, 이에 따른 화소전극과 공통전극 사이의 전기장에 의해 액정분자의 배열방향이 변화되어 투과율 차이를 나타낸다.When the thin film transistor selected for each gate line is turned on by the on / off signal of the gate driving circuit to be scanned, the liquid crystal panel of the structure described above transmits the signal voltage of the data driving circuit to the corresponding pixel electrode through the data line And the alignment direction of the liquid crystal molecules is changed by the electric field between the pixel electrode and the common electrode, thereby exhibiting a difference in transmittance.
다음은 백라이트 유닛 조립 및 케이스 조립공정(st40)으로, 백라이트 유닛 조립공정은 액정패널 하면에 광원과, 광원을 가이드 하는 광원가이드와, 광원으로부터 입사된 빛을 액정패널 방향으로 진행하게 하는 도광판 및 다수의 광학시트를 포함한다.The backlight unit assembling process includes a light source on a bottom surface of the liquid crystal panel, a light source guide for guiding the light source, a light guide plate for advancing the light incident from the light source toward the liquid crystal panel, Of the optical sheet.
또는, 이상의 설명에 있어서 도광판을 사용하는 에지(edge)형 방식에 대해 설명하였지만, 도광판을 생략한 상태로 다수개의 광원을 액정패널 하부에 나란하게 배열하는 직하(direct)형도 가능하다. Alternatively, an edge type using a light guide plate has been described in the above description. However, a direct type in which a plurality of light sources are arranged in parallel under the liquid crystal panel in a state in which the light guide plate is omitted may be used.
이때, 광원으로는 음극전극형광램프(cold cathode fluorescent lamp)나 외부전극형광램프(external electrode fluorescent lamp)와 같은 형광램프가 이용될 수 있다. 또는, 이러한 형광램프 이외에 발광다이오드 램프(light emitting diode lamp)를 광원으로 이용할 수도 있다.In this case, a fluorescent lamp such as a cathode cathode fluorescent lamp or an external electrode fluorescent lamp may be used as a light source. Alternatively, a light emitting diode lamp may be used as a light source in addition to such a fluorescent lamp.
백라이트 유닛 조립공정 후 케이스 조립을 한다. 케이스 조립은 탑커버과 서포트메인 그리고 커버버툼을 통해 모듈화 되는데, 탑커버는 액정패널의 상면 및 측면 가장자리를 덮도록 단면이"ㄱ"형태로 절곡된 사각테 형상으로, 탑커버의 전면을 개구하여 액정패널에서 구현되는 화상을 표시하도록 구성한다. The case is assembled after the backlight unit assembling process. The case assembly is modularized through a top cover, a support main, and a cover bottom. The top cover is a rectangular frame having a "B" cross section so as to cover the top and side edges of the liquid crystal panel. And displays an image implemented in the panel.
또한, 액정패널 및 백라이트 유닛이 안착하여 액정표시장치모듈 전체 기구물 조립에 기초가 되는 커버버툼은 사각모양의 하나의 판 형상으로 이의 네 가장자리를 소정높이 수직 절곡하여 구성한다. In addition, the cover bottom on which the liquid crystal panel and the backlight unit are mounted and which is the basis for assembling the entire structure of the liquid crystal display device module is formed into a rectangular plate shape and its four edges are vertically bent at a predetermined height.
또한, 이러한 커버버툼 상에 안착되며 액정패널 및 백라이트 유닛의 가장자리를 두르는 서포트메인이 상기 탑커버와 커버버툼과 조립 체결되어 액정표시장치모듈을 완성한다.Further, a support main body which is seated on the cover bottom and covers the edges of the liquid crystal panel and the backlight unit is assembled with the top cover and the cover bottom to complete a liquid crystal display module.
전술한 바와 같이, 본 발명의 액정표시장치는 구동회로가 부착되기 전에 액정패널의 소비전력을 측정할 수 있어, 소비전력에 따른 액정패널 자체의 불량여부를 확인할 수 있다. As described above, the liquid crystal display device of the present invention can measure the power consumption of the liquid crystal panel before the driving circuit is attached, and it is possible to confirm whether or not the liquid crystal panel itself is defective according to the power consumption.
즉, 기존에는 액정패널의 소비전력을 구동회로가 부착된 액정패널에 테스트화상을 구현하는 과정에서 측정하였는데, 이렇게 측정된 소비전력이 기 설정되어 있는 검사기준과 비교하여 액정패널의 불량 여부를 판별하였다. That is, the power consumption of the liquid crystal panel has been measured in the process of realizing a test image on a liquid crystal panel with a driving circuit, and it is determined whether or not the liquid crystal panel is defective by comparing the measured power consumption Respectively.
그러나, 이러한 액정패널의 불량여부는 액정패널 자체에서의 불량에 의한 것인지 액정패널에 부착되어 있는 구동회로에 의한 것인지 확인할 수가 없으므로, 이 둘을 함께 폐기 하였다.However, it is impossible to confirm whether or not the liquid crystal panel is defective due to defects in the liquid crystal panel itself or by a driving circuit attached to the liquid crystal panel, and both of them are discarded.
그러나, 본 발명의 실시예와 같이, 액정패널의 소비전력을 구동회로를 부착 하기 전의 셀공정(st10)의 오토 프로브 검사 공정(st18)시 측정함으로써, 액정패널 자체의 정확한 소비전력을 측정할 수 있다. However, as in the embodiment of the present invention, by measuring the power consumption of the liquid crystal panel during the auto-probe inspection step (st18) of the cell process (st10) before attaching the drive circuit, accurate power consumption of the liquid crystal panel itself can be measured have.
이를 통해, 액정패널의 소비전력에 따른 불량이 발생할 경우, 불량이 발생한 액정패널 만을 폐기하면 된다. Accordingly, when a defect occurs according to the power consumption of the liquid crystal panel, only the defective liquid crystal panel may be discarded.
이를 통해, 액정패널의 불량으로 인해 정상동작 함에도 함께 폐기되는 구동회로를 통해 공정비용이 향상되었던 문제점을 방지할 수 있다. Accordingly, it is possible to prevent a problem that the process cost is increased through the driving circuit which is normally discarded due to the defective liquid crystal panel and is discarded together.
또한, 공정의 효율성도 향상된다. Also, the efficiency of the process is improved.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 오토 프로브 검사를 개략적으로 도시한 사시도이다. 2 is a perspective view schematically showing an auto-probe inspection according to an embodiment of the present invention.
도시한 바와 같이, 액정패널(110)은 게이트 및 데이터라인(미도시)을 통해 복수의 화소가 매트릭스 형태로 배열되어 박막트랜지스터(미도시)가 구성되는 하부의 어레이기판(112)과 상부의 컬러필터기판(114)이 액정층(미도시)을 사이에 두고 서로 대면 합착되어 있으며, 이때, 어레이기판(112)은 컬러필터기판(114) 보다 면적이 커서 합착 시, 어레이기판(112)의 일측 가장자리가 외부로 노출된다. As shown, the liquid crystal panel 110 includes a lower array substrate 112 on which a plurality of pixels are arranged in a matrix form through gate and data lines (not shown) to form thin film transistors (not shown) The array substrate 112 is larger in area than the color filter substrate 114 so that the color filter substrate 114 is arranged on one side of the array substrate 112 The edges are exposed to the outside.
이렇듯, 외부로 노출된 어레이기판(112)의 일측 가장자리에는 게이트 및 데이터라인(미도시)과 접속되는 복수개의 게이트 및 데이터패드(116a, 116b)와 공통전극패드(116c) 그리고, 게이트 및 데이터패드(116a, 116b)와 공통전극패드(116c)에 각각 연결된 게이트 및 데이터 테스트패드(118a, 118b)와 공통전극 테스트패드(118c)가 존재한다.As described above, a plurality of gates and
이때, 자세히 도시하지는 않았지만 박막트랜지스터(미도시)는 게이트전극, 소스 및 드레인전극, 액티브층, 오믹콘택층 등으로 구성된다. Though not shown in detail, the thin film transistor (not shown) includes a gate electrode, a source and drain electrode, an active layer, an ohmic contact layer, and the like.
박막트랜지스터(미도시)는 게이트배선(미도시)을 통해 게이트전극에 게이트 신호가 인가되면 데이터배선(미도시)에 인가된 데이터신호가 액티브층을 통해 소스전극에서 드레인전극으로 전달되도록 동작한다. A thin film transistor (not shown) operates so that when a gate signal is applied to a gate electrode through a gate wiring (not shown), a data signal applied to a data line (not shown) is transferred from the source electrode to the drain electrode through the active layer.
이를 통해서 액정(미도시)의 분자배열을 변화시키게 되고, 각 화소별로 인가된 신호에 따라 액정패널(110)의 화상을 컨트롤함으로써 화상을 구현하게 된다. Thereby changing the molecular arrangement of the liquid crystal (not shown). By controlling the image of the liquid crystal panel 110 according to the signal applied to each pixel, an image is realized.
이러한 액정패널(110)은 각 게이트 및 데이터배선(미도시)과 박막트랜지스터(미도시)가 제대로 동작하는지 여부를 판단할 수 있도록 다양한 테스트 공정을 수행하게 되는데, 이중 게이트 및 데이터패드(116a, 116b)와 공통전극패드(116c)에 연결된 테스트패드(118a, 118b, 118c)에 오토 프로브 장치(200)의 니들(210)을 접촉시켜 각각의 게이트 및 데이터배선(미도시)에 테스트신호를 인가하여 각 화소의 점등상태를 파악하여 액정패널(110)의 불량여부를 검사하게 된다.The liquid crystal panel 110 performs various test processes to determine whether each gate and data line (not shown) and a thin film transistor (not shown) are operating properly. The double gate and
이에, 액정패널(110)의 상부에는 오토 프로브 장치(200)가 위치하며, 오토 프로브 장치(200)는 액정패널(110)의 게이트 및 데이터 테스트패드(118a, 118b)와 공통전극 테스트패드(118c)에 직접 접촉하는 다수의 니들(210)과, 다수의 니들(210)에 소정의 테스트전압을 인가하는 테스트 전압 제공부(220)로 이루어진다.The auto-
이때, 니들(210)은 일방향으로 열을 지어 배치되거나, 열이 다수개로 이루어질 수 있다. 열이 다수개로 이루어질 경우, 각 열의 니들(210)은 행 방향으로 서로 열을 지을 수 있으며, 또는 지그재그 형태로 배치될 수 있다. At this time, the
여기서, 니들(210)은 신축이 자유로운 포고핀(pogo pin)을 사용하는 것이 바 람직한데, 포고핀은 스프링과 같은 탄성부재의 양단에 결합된 한쌍의 탐침으로 구성된다. Here, it is preferable that the
이러한, 다수의 니들(210)은 각각 신호배선(230)을 통해 테스트 전압 제공부(220)로부터 테스트전압을 인가받는데, 특히, 본 발명의 오토 프로브 장치(200)의 각 신호배선(230)은 일부 단선되어 이의 단선 위치에 스위치(240)를 각각 형성하는 것을 특징으로 한다. Each of the plurality of
여기서, 신호배선(230)에 형성된 스위치(240)는 선택에 따라 온(on)/오프(off) 상태가 되는데, 오토 프로브 검사 시에는 신호배선(230)에 형성된 스위치(240)가 모두 온(on) 상태이며, 액정패널(110)의 소비전력을 측정할 시에는 선택된 신호배선(230)에 형성된 스위치(240)는 오프(off) 상태이다. Here, the
이를 통해, 본 발명의 액정패널(100)은 오토 프로브 검사를 진행하는 동시에 액정패널(110)의 정확한 소비전력 또한 측정할 수 있다. Accordingly, the liquid crystal panel 100 of the present invention can measure the accurate power consumption of the liquid crystal panel 110 while performing the auto-probe inspection.
이에 대해 좀더 자세히 살펴보면, 액정패널(110)의 오토 프로브 검사는 액정패널(110)의 게이트 및 데이터패드(116a, 116b) 그리고 공통배선(116c)에 연결된 테스트패드(118a, 118b, 118c)로 테스트신호를 인가함으로써 이루어지는데, 테스트패드(118a, 118b, 118c)에 오토 프로브 장치(200)의 니들(210)을 접촉시켜 각각의 게이트 및 데이터배선(미도시)에 테스트신호를 인가하는 것이다. More specifically, the auto-probe inspection of the liquid crystal panel 110 is performed using
이때, 오토 프로브 장치(200)의 신호배선(230)에 형성된 스위치(240)는 테스트 전압 제공부(220)의 테스트전압이 모두 니들(210)을 통해 테스트패드(118a, 118b, 118c)로 인가되도록 하기 위하여, 모두 온(on) 상태이다. At this time, the
이를 통해, 액정패널(110)은 테스트화상을 구현하게 되고, 이를 통해 각 화소의 점등상태를 파악하여 액정패널(110)의 선결함(Line defect) 및 점결함(Point defect)등을 검출하여 액정패널(110)의 불량여부를 확인하는 것이다. Accordingly, the liquid crystal panel 110 realizes a test image, thereby detecting a line defect, a point defect, etc. of the liquid crystal panel 110 by grasping the lighting state of each pixel, It is determined whether or not the battery 110 is defective.
또한, 이렇게, 오토 프로브 검사를 진행함으로써 액정패널(110)이 테스트화상을 구현하는 과정에서, 선택된 신호배선(230)의 스위치(240)를 오프(off)시켜 신호배선(230)을 단선시킨 후, 이의 단선된 신호배선(230)의 양단에 각각 멀티미터(multi-meter)등의 전류측정기(300)의 단자를 접촉시켜, 신호배선(230)에 흐르는 전류값을 측정한다. In the process of the test of the liquid crystal panel 110 by performing the auto-probe inspection in this way, the
전류측정기(300)는 테스트 전압 제공부(220)에서 생성되는 신호별 전류값을 통해 액정패널(110)의 소비전류를 측정하게 된다. The
이때, 측정된 액정패널(110)의 소비전력을 기 설정되어 있는 검사기준과 비교하여, 측정된 소비전력이 검사기준을 벗어나는 경우 액정패널(110)은 불량으로 판정된다. At this time, the measured power consumption of the liquid crystal panel 110 is compared with a predetermined inspection standard, and the liquid crystal panel 110 is determined to be defective when the measured power consumption deviates from the inspection standard.
즉, 본 발명의 액정표시장치는 액정패널(110)에 구동회로가 부착되기 전, 액정패널(110)의 소비전력을 측정할 수 있어, 소비전력에 따른 액정패널(110) 자체의 불량여부를 확인할 수 있다. That is, the liquid crystal display of the present invention can measure the power consumption of the liquid crystal panel 110 before the driving circuit is attached to the liquid crystal panel 110, thereby determining whether or not the liquid crystal panel 110 itself is defective according to the power consumption Can be confirmed.
이를 통해, 기존에 액정패널(110)의 소비전력을 구동회로가 부착된 상태에서 측정하여, 액정패널(110)의 불량이 발생할 경우, 액정패널(110)에 부착된 구동회로가 정상동작함에도 함께 폐기되었던 문제점을 방지할 수 있다. Accordingly, when the power consumption of the liquid crystal panel 110 is measured in the state where the driving circuit is attached and the liquid crystal panel 110 is defective, the driving circuit attached to the liquid crystal panel 110 normally operates It is possible to prevent a problem that has been discarded.
이를 통해, 공정비용을 절감할 수 있으며, 공정의 효율성 또한 향상시키게 된다. This reduces process costs and improves process efficiency.
특히, 본 발명의 액정패널(110)의 소비전력 측정은 게이트부(GP)와 데이터부(DP) 그리고 공통전압부(VP) 별로 각각 검사할 수 있다.Particularly, the power consumption measurement of the liquid crystal panel 110 of the present invention can be performed for each of the gate unit GP, the data unit DP, and the common voltage unit VP.
즉, 게이트부(GP)의 소비전력을 검사하고자 할 때에는 니들(210)을 통해 게이트 테스트패드(118a)로 테스트신호를 인가하는 신호배선(230)의 스위치(240)를 오프(off)시켜 신호배선(230)을 단선시킨 후, 단선된 신호배선(230)에 흐르는 전류값을 측정함으로써, 게이트부(GP)의 소비전력을 측정하는 것이다. That is, when the power consumption of the gate unit GP is to be checked, the
데이터부(DP) 그리고 공통전압부(VP) 모두 전술한 방법을 통해 소비전력을 측정할 수 있다. Both the data part DP and the common voltage part VP can measure the power consumption through the above-described method.
본 발명은 상기 실시예로 한정되지 않고, 본 발명의 취지를 벗어나지 않는 한도내에서 다양하게 변경하여 실시할 수 있다. The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications may be made without departing from the spirit of the present invention.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 제조공정을 단계적으로 도시한 흐름도.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a flow chart showing a step of manufacturing a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention; FIG.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 오토 프로브 검사를 개략적으로 도시한 사시도. 2 is a perspective view schematically showing an auto-probe inspection according to an embodiment of the present invention.
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Patent Citations (3)
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