KR101571631B1 - 터치 패널의 센서 전극 검사 방법 - Google Patents

터치 패널의 센서 전극 검사 방법 Download PDF

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Abstract

터치 패널의 센서 전극 검사 방법이 제공된다. 터치 패널의 센서 전극 검사 방법은 터치 패널의 상부 센서 전극 및 하부 센서 전극에 매칭되도록 상부 검사 장치 및 하부 검사 장치를 정렬시키는 단계, 상부 센서 전극과 상부 검사 장치의 상부 검사 전극을 전기적으로 접촉시키고, 하부 센서 전극과 하부 검사 장치의 하부 검사 전극을 전기적으로 접촉시키는 단계 및 상부 센서 전극과 상부 검사 전극 간에 그리고 하부 센서 전극과 하부 검사 전극 간에 전기적 신호를 인가하여 터치 패널을 검사하는 단계를 포함하고, 상부 검사 장치는 상부 검사 전극 상에 형성된 복수의 전도성 핀을 포함하고, 하부 검사 장치는 하부 검사 전극 상에 형성된 복수의 전도성 핀을 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명의 다양한 실시예들에서는 검사 전극 상에 복수의 전도성 핀이 형성된 검사장치를 이용하여 센서 전극의 검사를 수행함으로써, 센서 전극과 검사 전극 간의 접촉 불량을 최소화 하여 검사의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Description

터치 패널의 센서 전극 검사 방법{METHOD FOR INSPECTING SENSOR ELECTRODE OF TOUCH PANNEL}
본 발명은 터치 패널의 센서 전극 검사 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 복수의 전도성 핀이 형성된 검사 전극을 이용하여 센서 전극의 검사를 수행함으로써 검사의 신뢰성을 향상시키는 센서 전극 검사 방법에 관한 것이다.
터치 스크린 디스플레이란 키보드 등의 별도의 입력장치를 사용하지 않고 디스플레이의 특정 위치에 사람의 손 또는 물체가 닿으면, 그 위치를 파악하여 저장된 소프트웨어에 의해 특정 처리를 할 수 있도록, 화면에서 직접 입력을 인가받을 수 있는 화면을 말한다. 터치 스크린 디스플레이는 일반적으로 디스플레이 패널과 화면에 대한 터치를 인식하는 터치 패널로 구성된다. 터치 패널은 그 동작 방식에 따라 저항막 방식, 정전 용량 방식, 초음파 방식 및 적외선 방식 등으로 분류된다.
한편, 정전 용량 방식 터치 패널을 제조하는 경우, 터치 패널의 센서 전극의 단선 및 단락 여부를 확인하는 검사가 수행된다. 터치 패널의 센서 전극의 단선 및 단락 여부의 검사는 터치 패널의 센서 전극과 동일한 패턴을 갖는 검사 전극을 센서 전극에 전기적으로 접촉시킴으로써 수행된다.
도 1은 종래 기술에 따른 터치 패널의 센서 전극 검사 방법을 설명하기 위한 공정 단면도이다. 도 1을 참조하면, 종래에는 터치 패널의 기판 (110) 에 형성된 센서 전극의 단선 및 단락 검사를 위해 상부 검사 장치 (120) 와 하부 검사 장치 (130) 를 동시에 압착시키는 경우, 일반적으로 가요성 재료로 구성되는 터치 패널의 기판 (110) 이 상부 검사 장치 (120) 와 하부 검사 장치 (130) 에 의해 휘어지게 된다. 따라서, 센서 전극들 (113a, 113b) 이 각각 대응되는 검사 전극들 (123, 133) 과 전기적으로 접촉하지 못하는 문제점이 발생하였다. 또한 센서 전극들 (113a, 113b) 이 각각 검사 전극들 (123, 133) 과 전기적으로 접촉하더라도, 기판 (110) 이 휘어짐에 따라 접촉 면적이 줄어들어, 각각의 센서 전극 (113a, 113b) 과 검사 전극 (123, 133) 간의 접촉 저항이 증가하게 되는 문제점이 있었다.
따라서, 터치 패널의 기판의 휘어지는 정도를 줄이고, 각각의 센서 전극과 검사 전극의 접촉을 안정하게 하여, 검사의 신뢰성을 높일 수 있는 센서 전극의 검사 방법에 대한 개발이 요구되었다.
이에, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 검사 전극 상에 복수의 전도성 핀이 형성된 검사 장치를 이용하여 센서 전극의 검사를 수행함으로써, 센서 전극과 검사 전극 간의 접촉 저항을 감소시켜 안정된 센서 전극의 검사가 가능한 터치 패널의 센서 전극 검사 방법을 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 다른 과제는 검사 전극 상에 가요성 재료로 이루어진 복수의 전도성 핀이 형성된 검사 장치를 이용하여 센서 전극의 검사를 수행함으로써, 센서 전극과 검사 전극 간의 접촉 불량을 최소화하여 신뢰성 높은 검사가 가능한 터치 패널의 센서 전극 검사 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 과제는 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
전술한 바와 같은 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 센서 전극 검사 방법은 터치 패널의 상부 센서 전극 및 하부 센서 전극에 매칭되도록 상부 검사 장치 및 하부 검사 장치를 정렬시키는 단계, 상부 센서 전극과 상부 검사 장치의 상부 검사 전극을 전기적으로 접촉시키고, 하부 센서 전극과 하부 검사 장치의 하부 검사 전극을 전기적으로 접촉시키는 단계 및 상부 센서 전극과 상부 검사 전극 간에 그리고 하부 센서 전극과 하부 검사 전극 간에 전기적 신호를 인가하여 터치 패널을 검사하는 단계를 포함하고, 상부 검사 장치는 상부 검사 전극 상에 형성된 복수의 전도성 핀을 포함하고, 하부 검사 장치는 하부 검사 전극 상에 형성된 복수의 전도성 핀을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 복수의 전도성 핀은 상부 검사 전극 또는 하부 검사 전극과 전기적으로 연결되도록 형성되고, 복수의 전도성 핀 각각은 서로 전기적으로 절연되도록 형성되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 복수의 전도성 핀은 가요성 재료로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
기타 실시예의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명은 검사 전극 상에 복수의 전도성 핀이 형성된 검사 장치를 이용하여 센서 전극의 검사를 수행함으로써, 센서 전극의 검사 시 센서 전극과 검사 전극 간의 접촉 저항을 감소시킬 수 있는 효과가 있다.
본 발명은 검사 전극 상에 가요성 재료로 이루어진 복수의 전도성 핀이 형성된 검사장치를 이용하여 센서 전극의 검사를 수행함으로써, 센서 전극과 검사 전극 간의 접촉 불량을 최소화 하여 검사의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
본 발명에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.
도 1은 종래 기술에 따른 터치 패널의 센서 전극 검사 방법을 설명하기 위한 공정 단면도이다.
도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 센서 전극 검사 방법에서 채용되는 검사 장치의 평면도이다.
도 2b는 도 2a의 Ⅱb-Ⅱb'에 따른 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 센서 전극 검사 방법에서 채용되는 검사 장치의 단면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 센서 전극 검사 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 센서 전극 검사 방법을 설명하기 위한 공정별 단면도들이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
소자 (elements) 또는 층이 다른 소자 또는 층 "위 (on)"로 지칭되는 것은 다른 소자 바로 위에 또는 중간에 다른 층 또는 다른 소자를 개재한 경우를 모두 포함한다.
명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 도시된 것이며, 본 발명이 도시된 구성의 크기 및 두께에 반드시 한정되는 것은 아니다.
본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하며, 당업자가 충분히 이해할 수 있듯이 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시 가능할 수도 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 다양한 실시예들을 상세히 설명한다.
도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 센서 전극 검사 방법에서 채용되는 검사 장치의 평면도이다. 도 2b는 도 2a의 Ⅱb-Ⅱb'에 따른 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 센서 전극 검사 방법에서 채용되는 검사 장치의 단면도이다. 도 2a 및 2b를 참조하면, 검사 장치 (220) 는 지지 부재 (221), 검사 전극 기판 (222), 검사 전극 (223), 복수의 전도성 핀 (224) 및 접착 부재 (225) 를 포함한다.
지지 부재 (221) 는 다른 구성요소들을 지지하기 위한 부재로서, 판상으로 형성된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치 (220) 가 상하 방향으로 이동 가능하도록, 지지 부재 (221) 는 검사 장치 (220) 를 이동시키기 위한 수단과 결합될 수 있다.
검사 전극 기판 (222) 은 지지 부재 (221) 상에 형성되고, 판상으로 형성된다. 검사 전극 기판 (222) 은 인쇄 회로 기판일 수 있고, 검사 전극 (223) 은 검사 전극 기판 (222) 상에 형성된 박막일 수 있다. 검사 전극 기판 (222) 은 절연체로 이루어질 수 있다.
검사 전극 (223) 은 검사 전극 기판 (222) 상에 형성되는 도전체이다. 검사 전극 (223) 은 센서 전극을 검사하기 위해 센서 전극과 동일한 패턴으로 형성될 수 있다. 검사 전극 (223) 는 구리 등의 저저항의 도전체로 이루어진 박막으로 형성될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 센서 전극 검사 방법을 수행하는 경우, 검사 전극 (223) 을 통해 터치 패널의 센서 전극에 전달할 펄스가 인가될 수 있다.
복수의 전도성 핀 (224) 은 검사 전극 (223) 상에 형성되고 작은 단면적을 갖는 미세한 핀이다. 복수의 전도성 핀 (224) 은 검사 전극 (223) 상에서 일정한 패턴으로 배열될 수 있다. 도 2a 및 2b에는 복수의 전도성 핀 (224) 이 검사 전극 (223) 이 형성되지 않은 영역에도 배열된 것으로 도시되었으나, 복수의 전도성 핀 (224) 은 검사 전극 (223) 이 형성된 영역에만 배열될 수도 있다. 복수의 전도성 핀 (224) 은 검사 전극 (223) 과 전기적으로 접촉되도록 형성되고, 복수의 전도성 핀 (224) 각각은 서로 전기적으로 절연되도록 형성될 수 있다. 복수의 전도성 핀 (224) 이 가요성 재료로 이루어 지는 경우, 검사를 수행하는 동안 터치 패널의 기판이 휘어지고 검사 전극 (223) 과 센서 전극의 접촉이 불안정하다는 문제를 최소화할 수 있다는 본 발명의 유리한 효과가 더욱 향상될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 센서 전극 검사 방법을 수행하는 경우, 검사 전극 (223) 을 통해 인가된 펄스는 복수의 전도성 핀 (224) 를 통해 센서 전극으로 전달될 수 있고, 터치 패널에서 발생하는 감지 신호가 복수의 전도성 핀 (224) 을 통해 검사 전극 (223) 으로 전달될 수 있다.
접착 부재 (225) 는 복수의 전도성 핀 (224) 을 검사 전극 (223) 에 부착시키기 위한 부재이다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 접착 부재 (225) 는 실리콘으로 이루어질 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 센서 전극 검사 방법을 설명하기 위한 순서도이다. 도 4a 및 도 4b는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 센서 전극 검사 방법을 설명하기 위한 공정별 단면도들이다. 도 4a 및 4b 의 검사 장치 (420, 430), 지지 부재 (421, 431), 검사 전극 기판 (422, 432), 검사 전극 (423, 433), 전도성 핀 (424, 434) 및 접착 부재 (425, 435) 는 각각 도 2의 검사 장치 (220), 지지 부재 (221), 검사 전극 기판 (222), 검사 전극 (223), 전도성 핀 (224) 및 접착 부재 (225) 와 동일한 구성에 해당한다.
먼저, 터치 패널의 상부 센서 전극 및 하부 센서 전극에 매칭되도록 상부 검사 장치 및 하부 검사 장치를 정렬시킨다 (S110). 도 4a를 참조하면, 터치 패널의 센서 전극 (413a, 413b) 의 단락 및 단선 여부를 검사하기 위해, 상부 검사 장치 (420) 에 포함된 상부 검사 전극 (423) 은 상부 센서 전극 (413a) 과, 하부 검사 장치 (430) 에 포함된 하부 검사 전극 (433) 은 하부 센서 전극 (413b) 과 동일한 패턴으로 형성된다. 각각의 검사 장치 (420, 430) 가 수직 방향으로 이동하여 각각의 검사 장치 (420, 430) 의 검사 전극 (423, 433) 이 동일한 패턴을 갖는 센서 전극 (413a, 413b) 과 접촉할 수 있도록, 상부 검사 장치 (420) 는 상부 검사 전극 (423) 이 상부 센서 전극 (413a) 의 상방에 매칭되도록 정렬되고, 하부 검사 장치 (430) 는 하부 검사 전극 (433) 이 하부 센서 전극 (413b) 의 하방에 매칭되도록 정렬된다.
이어서, 상부 검사 장치 및 하부 검사 장치가 정렬되면, 상부 센서 전극과 상부 검사 장치의 상부 검사 전극을 전기적으로 접촉시키고, 하부 센서 전극과 하부 검사 장치의 하부 검사 전극을 전기적으로 접촉시킨다 (S120). 도 4b를 참조하면, 상부 검사 장치 (420) 및 하부 검사 장치 (430) 가 정렬되면, 상부 센서 전극 (413a) 과 상부 검사 전극 (423) 이 전기적으로 접촉되고 하부 센서 전극 (413b) 과 하부 검사 전극 (433) 이 전기적으로 접촉되도록 각각의 지지부재 (420, 430) 와 결합된 이동 수단에 의해 상부 검사 장치 (420) 및 하부 검사 장치 (430) 가 수직 방향으로 이동될 수 있다. 즉, 상부 검사 장치 (420) 는 상부 검사 전극 (423) 이 상부 센서 전극 (413a) 과 접촉하는 지점까지 수직 하방으로 이동되고, 하부 검사 장치 (430) 는 하부 검사 전극 (433) 이 하부 센서 전극 (413b) 과 접촉하는 지점까지 수직 상방으로 이동된다. 각각의 검사 장치 (420, 430) 는 각각의 검사 전극 (423, 433) 이 센서 전극 (413a, 413b) 과 물리적으로 접촉하는 지점까지 이동되지 않고, 각각의 복수의 전도성 핀 (424, 434) 과 센서 전극 (413a, 413b) 이 전기적으로 접촉될 수 있는 지점까지 이동될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 터치 패널의 센서 전극 (413a, 413b) 검사에 채용되는 상부 검사 장치 (420) 는 상부 검사 전극 (423) 상에 형성된 복수의 전도성 핀 (424) 을 포함하고, 하부 검사 장치 (430) 는 하부 검사 전극 (433) 상에 형성된 복수의 전도성 핀 (434) 을 포함할 수 있다. 구체적으로, 상부 검사 장치 (420) 는 상부 검사 전극 (423) 과 상부 센서 전극 (413a) 을 전기적으로 연결시킬 수 있는 상부 검사 전극 (423) 상에 형성된 복수의 전도성 핀 (424) 을 갖고, 하부 검사 장치 (430) 는 하부 검사 전극 (433) 과 하부 센서 전극 (413b) 을 전기적으로 연결시킬 수 있는 하부 검사 전극 (433) 상에 형성된 복수의 전도성 핀 (434) 을 가질 수 있다. 즉, 각각의 검사 전극 (423, 433) 과 센서 전극 (413a, 413b) 이 전기적으로 접촉하는 경우, 센서 전극 (413a, 413b) 은 검사 전극 (423, 433) 이 아닌 복수의 전도성 핀 (424, 434) 과 직접적으로 접촉하고, 검사 전극 (423, 433) 은 복수의 전도성 핀 (424, 434) 을 통해 센서 전극 (413a, 413b) 과 전기적으로 접촉할 수 있다. 따라서, 센서 전극 (413a, 413b) 과 검사 전극 (423, 433) 이 물리적으로 접촉하는 경우보다 기판 (410) 의 휘어지는 정도를 감소시킬 수 있고 센서 전극 (413a, 413b) 과 복수의 전도성 핀 (424, 434) 이 일 대 다수로 접촉하므로 접촉 불량이 최소화될 수 있어, 검사의 신뢰성 및 안정성을 향상시킬 수 있다는 본 발명의 유리한 효과가 획득될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 복수의 전도성 핀 (424, 434) 은 상부 검사 전극 (423) 또는 하부 검사 전극 (433) 과 전기적으로 연결되도록 형성되고, 복수의 전도성 핀 (424, 434) 각각은 서로 전기적으로 절연되도록 형성될 수 있다. 구체적으로, 복수의 전도성 핀 (424, 434) 은 각각의 검사 전극 (423, 433) 과 전기적으로 연결되도록 형성되어, 복수의 전도성 핀 (424, 434) 이 각각의 센서 전극 (413a, 413b) 과 전기적으로 접촉하는 경우 센서 전극 (413a, 413b) 과 검사 전극 (423, 433) 이 서로 전기적 신호를 교환할 수 있도록 구성된다. 또한, 복수의 전도성 핀 (424, 434) 이 센서 전극 (413a, 413b) 과 전기적으로 접촉하는 경우, 각각의 복수의 전도성 핀 (424, 434) 과 전기적으로 연결된 검사 전극 (423, 433) 만이 그 복수의 전도성 핀 (424, 434) 과 접촉된 센서 전극 (413a, 413b) 과 전기적으로 연결되도록 복수의 전도성 핀 (424, 434) 각각은 서로 전기적으로 절연되도록 형성될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 복수의 전도성 핀 (424, 434) 은 가요성 재료로 이루어 질 수 있다. 복수의 전도성 핀 (424, 434) 이 가요성 재료로 이루어지는 경우, 기판 (410) 의 휘어짐을 감소시키고 접촉 불량을 최소화할 수 있다는 본 발명의 유리한 효과가 더 향상될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 복수의 전도성 핀 (424, 434) 은 상부 검사 전극 (423) 및 하부 검사 전극 (433) 에 실리콘으로 부착될 수 있다. 복수의 전도성 핀 (424, 434) 은 접착 부재 (425, 435) 로서 실리콘을 이용함으로써 상부 검사 전극 (423) 및 하부 검사 전극 (433) 에 용이하게 부착될 수 있다.
이어서, 각각의 센서 전극과 검사 장치가 전기적으로 접촉되면, 상부 센서 전극과 상부 검사 전극 간에 그리고 하부 센서 전극과 하부 검사 전극 간에 전기적 신호를 인가하여 터치 패널을 검사한다 (S130). 도 4b를 참조하면, 복수의 전도성 핀 (424, 434) 을 통해 각각의 검사 전극 (423, 433) 이 각각의 센서 전극 (413a, 413b) 과 전기적으로 연결되면, 각각의 검사 전극 (423, 433) 을 통해 펄스가 인가되는 경우, 각각의 검사 전극 (423, 433) 과 전기적으로 연결된 전도성 핀 (424, 434) 을 거쳐 그 전도성 핀 (424, 434) 과 전기적으로 접촉된 센서 전극 (413a, 413b) 으로 인가된 펄스가 전달된다. 센서 전극 (413a, 413b) 에 펄스가 전달된 경우, 터치 패널에서 발생하는 감지 신호를 분석함으로써 터치 패널의 단선 및 단락 검사가 수행될 수 있다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 더욱 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 반드시 이러한 실시예로 국한되는 것은 아니고, 본 발명의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형실시될 수 있다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
110 : 기판
112a : 상부 센서 전극
112b : 하부 센서 전극
120 : 상부 검사 장치
121 : 지지 부재
122 : 검사 전극 기판
123 : 상부 검사 전극
130 : 하부 검사 장치
131 : 지지 부재
132 : 검사 전극 기판
133 : 하부 검사 전극
220 : 검사 장치
221 : 지지 부재
222 : 검사 전극 기판
223 : 검사 전극
224 : 전도성 핀
225 : 접착 부재
410 : 기판
413a : 상부 센서 전극
413b : 하부 센서 전극
420 : 상부 검사 장치
421 : 지지 부재
422 : 검사 전극 기판
423 : 상부 검사 전극
424 : 전도성 핀
425 : 접착 부재
430 : 하부 검사 장치
431 : 지지 부재
432 : 검사 전극 기판
433 : 하부 검사 전극
434 : 전도성 핀
435 : 접착 부재

Claims (3)

  1. 터치 패널의 상부 센서 전극 및 하부 센서 전극에 매칭되도록 상부 검사 장치 및 하부 검사 장치를 정렬시키는 단계;
    상기 상부 센서 전극과 상기 상부 검사 장치의 상부 검사 전극을 전기적으로 접촉시키고, 상기 하부 센서 전극과 상기 하부 검사 장치의 하부 검사 전극을 전기적으로 접촉시키는 단계; 및
    상기 상부 센서 전극과 상기 상부 검사 전극 간에 그리고 상기 하부 센서 전극과 상기 하부 검사 전극 간에 전기적 신호를 인가하여 상기 터치 패널을 검사하는 단계를 포함하고,
    상기 상부 검사 장치는 상기 상부 검사 전극 상에 형성되고, 상기 상부 센서 전극과 일 대 다수의 접촉을 형성하는 복수의 전도성 핀을 포함하고, 상기 하부 검사 장치는 상기 하부 검사 전극 상에 형성되고, 상기 하부 센서 전극과 일 대 다수의 접촉을 형성하는 복수의 전도성 핀을 포함하는 것을 특징으로 하는, 터치 패널의 센서 전극 검사 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 복수의 전도성 핀은 상기 상부 검사 전극 또는 상기 하부 검사 전극과 전기적으로 연결되도록 형성되고,
    상기 복수의 전도성 핀 각각은 서로 전기적으로 절연되도록 형성되는 것을 특징으로 하는, 터치 패널의 센서 전극 검사 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 복수의 전도성 핀은 가요성 재료로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 터치 패널의 센서 전극 검사 방법.
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