KR101398016B1 - 리드 프레임 패키지 및 그 제조 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은, 자동차용의 반도체 디바이스가 장착되는 데 적합한 리드 프레임 패키지 및 그 제조 방법에 관한 것으로, 이를 위하여 본 발명은, 덮개의 상부에 홀을 형성하지 않는 전술한 종래 방식과는 달리, 다이 패들을 둘러싸는 각 측면에 다수의 리드가 형성되는 리드 프레임과 다이 패들 상에 형성된 반도체 칩과 리드 프레임 상에 접착되어 다수의 리드와 반도체 칩을 밀봉하는 윈도우를 포함하는 패키지 구조에서 다수의 리드 중 n개의 특정 리드 혹은 다이 패들의 소정 위치에 n개의 배출 홀을 형성함으로써, 윈도우를 리드 프레임에 부착할 때 공기 압력에 의한 회전 등으로 인해 윈도우가 틸트되는 문제를 효과적으로 방지할 수 있으며, 이를 통해 차량용 반도체 패키지의 신뢰도를 더욱 증진시킬 수 있는 것이다.
Description
본 발명은 리드 프레임 패키지에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 자동차용의 반도체 디바이스가 장착되는 데 적합한 리드 프레임 패키지 및 그 제조 방법에 관한 것이다.
잘 알려진 바와 같이, 자동차에는 전자적 제어를 위해 수많은 센서들, 예컨대 가속도 센서, 휠 속도 센서, 기울기 센서, 노크 센서, 차속 센서, 온도 센서, 공기압 센서 등과 같은 센서들이 탑재되는데, 이러한 각 센서들은 통상 패키지로서 조립되어 자동차에 장착되는 것이 일반적이다.
이러한 차량용의 반도체 패키지는, 예컨대 다이 패들을 둘러싸는 각 측면에 다수의 리드가 형성된 리드 프레임의 다이 패들 상에 센서용의 반도체 칩을 부착하고, 각 리드와 대응하는 반도체 칩의 칩 패드 간을 와이어로 접속하며, 각 리드와 반도체 칩을 덮개(뚜껑)로 밀봉하는 일련의 공정들을 통해 제작하게 된다.
여기에서, 대부분의 차량용 반도체 패키지는 차량의 주행 환경 등을 고려한 내구성을 위해 덮개의 상부에 홀을 형성하지 않는 것이 일반적이다.
그러나, 덮개의 상부에 홀을 형성하지 않는 전술한 종래의 반도체 패키지는 반도체 칩의 밀봉을 위해 덮개를 부착할 때 공기 압력에 기인하는 회전 등의 문제로 인해 덮개가 틸트(Tilt)되거나 혹은 튀어나가게(Pop out) 되는 문제가 야기될 수 있으며, 이러한 문제는 결국 차량용 반도체 패키지의 신뢰도를 저하시키는 요인으로 작용하고 있는 실정이다.
본 발명은, 일 관점에 따라, 다이 패들을 둘러싸는 각 측면에 다수의 리드가 형성되며, 상기 다수의 리드 중 n개의 특정 리드에 배출 홀이 각각 형성되는 리드 프레임과, 상기 다이 패들 상에 형성된 반도체 칩과, 접착제를 통해 상기 리드 프레임 상에 접착되어 상기 다수의 리드와 반도체 칩을 밀봉하는 윈도우를 포함하는 리드 프레임 패키지를 제공한다.
본 발명은, 다른 관점에 따라, 다이 패들을 둘러싸는 각 측면에 다수의 리드가 형성된 리드 프레임을 준비하는 과정과, 상기 다수의 리드 중 n개의 특정 리드에 배출 홀을 형성하는 과정과, 상기 다이 패들 상에 반도체 칩을 부착하는 과정과, 상기 다수의 리드와 반도체 칩을 밀봉하는 윈도우를 접착제를 통해 상기 리드 프레임 상에 접착시키는 과정을 포함하는 리드 프레임 패키지 제조 방법을 제공한다.
본 발명은, 또 다른 관점에 따라, 다이 패들을 둘러싸는 각 측면에 다수의 리드가 형성되며, 상기 다이 패들의 소정 위치에 n개의 배출 홀이 각각 형성되는 리드 프레임과, 상기 다이 패들 상에 형성된 반도체 칩과, 접착제를 통해 상기 리드 프레임 상에 접착되어 상기 다수의 리드와 반도체 칩을 밀봉하는 윈도우를 포함하는 리드 프레임 패키지를 제공한다.
본 발명은, 또 다른 관점에 따라, 다이 패들을 둘러싸는 각 측면에 다수의 리드가 형성된 리드 프레임을 준비하는 과정과, 상기 다이 패들의 소정 위치에 n개의 배출 홀을 형성하는 과정과, 상기 다이 패들 상에 반도체 칩을 부착하는 과정과, 상기 다수의 리드와 반도체 칩을 밀봉하는 윈도우를 접착제를 통해 상기 리드 프레임 상에 접착시키는 과정을 포함하는 리드 프레임 패키지 제조 방법을 제공한다.
본 발명은, 다이 패들을 둘러싸는 각 측면에 다수의 리드가 형성되는 리드 프레임과 다이 패들 상에 형성된 반도체 칩과 리드 프레임 상에 접착되어 다수의 리드와 반도체 칩을 밀봉하는 윈도우를 포함하는 패키지 구조에서 다수의 리드 중 n개의 특정 리드 혹은 다이 패들의 소정 위치에 n개의 배출 홀을 형성함으로써, 윈도우를 리드 프레임에 부착할 때 공기 압력에 의한 회전 등으로 인해 윈도우가 틸트되거나 혹은 튀어나가게(Pop out) 되는 문제를 효과적으로 방지할 수 있으며, 이를 통해 차량용 반도체 패키지의 신뢰도를 더욱 증진시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 리드 프레임 패키지의 평면도,
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 리드 프레임 패키지의 측면도,
도 3a 및 3b는 본 발명에 적용되는 배출 홀의 단면 구조도,
도 4는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 리드 프레임 패키지의 평면도,
도 5는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 리드 프레임 패키지의 측면도.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 리드 프레임 패키지의 측면도,
도 3a 및 3b는 본 발명에 적용되는 배출 홀의 단면 구조도,
도 4는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 리드 프레임 패키지의 평면도,
도 5는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 리드 프레임 패키지의 측면도.
본 발명의 기술요지는, 덮개의 상부에 홀을 형성하지 않는 전술한 종래 방식과는 달리, 다이 패들을 둘러싸는 각 측면에 다수의 리드가 형성되는 리드 프레임과 다이 패들 상에 형성된 반도체 칩과 리드 프레임 상에 접착되어 다수의 리드와 반도체 칩을 밀봉하는 윈도우를 포함하는 패키지 구조에서 다수의 리드 중 n개의 특정 리드 혹은 다이 패들의 소정 위치에 n개의 배출 홀을 형성한다는 것으로, 본 발명은 이러한 기술적 수단을 통해 종래 방식에서의 문제점을 효과적으로 개선할 수 있다. 여기에서, 윈도우는 덮개 또는 뚜껑으로 명명될 수 있다.
그리고, 본 발명의 장점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어지는 실시 예들을 참조하면 명확해질 것이다. 여기에서, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시 예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시 예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 발명의 범주를 명확하게 이해할 수 있도록 하기 위해 예시적으로 제공되는 것이므로, 본 발명의 기술적 범위는 청구항들에 의해 정의되어야 할 것이다.
아울러, 아래의 본 발명을 설명함에 있어서 공지 기능 또는 구성 등에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 그리고, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들인 것으로, 이는 사용자, 운용자 등의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있음은 물론이다. 그러므로, 그 정의는 본 명세서의 전반에 걸쳐 기술되는 기술사상을 토대로 이루어져야 할 것이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 상세하게 설명한다.
[실시 예1]
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 리드 프레임 패키지의 평면도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 리드 프레임 패키지의 측면도이다.
도 1을 참조하면, 리드 프레임(100)에는 대략 중심 부분에 형성된 다이 패들(102)을 둘러싸는 각 측면(예컨대, 4각의 측면)에 다수의 리드(104)들이 형성되어 있다. 여기에서, 각 리드는 다이 패들(102)에 형성(부착)되는 반도체 칩(110)에 형성된 각 칩 패드(도시 생략)와 전기적으로 접속, 예컨대 금속 와이어(도시 생략) 등을 통해 전기적으로 접속될 수 있다.
그리고, 다이 패들(102)을 둘러싸는 형태로 각 측면에 형성된 다수의 리드(104)들 중 n개의 특정 리드(106a 내지 106d)(예컨대, 리드 프레임(100) 내 4방향 모서리 부근의 4개의 리드)에는 배출 홀(108a 내지 108d)들이 각각 형성되는데, 이러한 배출 홀(108a 내지 108d)들은 후속하는 공정에서 반도체 칩(110)의 밀봉을 위해 리드 프레임(100)의 소정 위치에 윈도우(114)를 부착할 때 캐비티(반도체 칩이 실장되는 캐비티) 내의 공기 압력을 외부로 배출해 주는 역할을 하게 된다.
여기에서, 배출 홀이 각각 형성되는 n개의 특정 리드는, 4개의 리드를 구성하는 상기와는 달리, 리드 프레임(100) 내 대각 방향으로 대향하는 사각 모서리 부근의 2개의 리드로 구성할 수도 있음은 물론이다.
도 2를 참조하면, 반도체 칩(110)과 다수의 리드(104) 등이 형성된 캐비티 영역을 밀봉하기 위한 윈도우(114)가 접착제(112)를 통해 리드 프레임(100)의 소정 위치에 접착되는데, 이러한 윈도우(114)는, 예컨대 구리 등과 같은 스테인리스 재질이거나 혹은 고강성을 갖는 플라스틱 재질일 수 있다. 그리고, 윈도우(114)를 리드 프레임(100)의 목표 위치에 접착시키기 위한 접착제로서는, 예컨대 솔더 페이스트, 에폭시 페이스트 등을 사용할 수 있다.
즉, 본 실시 예의 리드 프레임 패키지는 n개의 특정 리드에 배출 홀을 형성해 주기 때문에 윈도우를 리드 프레임에 부착할 때 공기 압력(캐비티에서의 공기 압력)에 기인하여 윈도우가 틸트되는 바람직하지 못한 현상을 효과적으로 방지할 수 있다.
도 3a 및 3b는 본 발명에 적용되는 배출 홀의 단면 구조도로서, 도 3a를 참조하면 특정 리드에 형성되는 배출 홀은 반도체 칩(110) 측의 제 1 홀 직경(302a)은 그 대향하는 측의 제 2 홀 직경(302b)보다 상대적으로 작게 형성하는 것이 바람직한데, 이것은 리드 프레임 패키지를 보드 상에 장착(접착)할 때 사용되는 접착제가 배출 홀을 통해 유입되어 캐비티 영역으로 확산되는 것을 어느 정도 차단해 주는 효과를 얻기 위해서이다.
다시 도 3b를 참조하면, 본 실시 예의 리드 프레임 패키지에 적용되는 배출 홀(특정 리드 부분에 형성된 배출 홀)의 주변, 예컨대 캐비티 영역 측의 배출 홀 주변에는 리드 프레임 패키지를 보드에 장착할 때 접착제가 캐비티 영역으로 유입 확산, 즉 접착제가 배출 홀을 통해 유입되어 주변 너머(캐비티 영역 내)로 확산되는 것을 방지하기 위한 걸림 부재(304)를 더 형성할 수 있는데, 이러한 걸림 부재(304)는 제 1 홀 직경(302a)의 주변을 둘러싸는 오목 홈 형상으로 형성할 수 있다.
따라서, 상술한 바와 같은 구조를 갖는 본 실시 예의 리드 프레임 패키지는 다음과 같은 일련의 공정들을 진행함으로써 제작될 수 있다.
먼저, 다이 패들(102)을 둘러싸는 각 측면에 다수의 리드(104)가 형성된 리드 프레임(100)을 준비하고, 에칭 공정 등을 실시하여 다수의 리드(104) 중 n개의 특정 리드(106a 내지 106d)에 배출 홀(108a 내지 108d)을 형성한다.
여기에서, 배출 홀은, 1차 에칭 공정을 실시하여 제 1 홀 직경(302a)을 갖는 1차 홀을 형성하고, 2차 에칭 공정을 실시하여 반도체 칩(110)의 대향하는 측의 1차 홀에 제 2 홀 직경(302b)을 갖는 2차 홀을 형성하는 방식을 통해 반도체 칩(110) 측의 제 1 홀 직경(302a)을 그 대향하는 측의 제 2 홀 직경(302b)보다 상대적으로 작게 형성할 수 있다.
다시, 리드 프레임 패키지를 보드에 장착할 때 접착제가 캐비티 영역으로 유입되어 배출 홀의 주변 너머로 확산되는 것을 방지(억제)할 수 있도록 제 1 홀 직경(302a)의 주변을 둘러싸는 오목 홈 형상으로 걸림 부재(304)를 형성한다.
이후, 접착제 등을 이용하는 접착 공정을 실시하여 다이 패들(102) 상의 목표 위치에 반도체 칩(110)을 부착하고, 다수의 리드(104)와 반도체 칩(110)을 밀봉하는 윈도우(114)를 접착제(112)를 통해 리드 프레임(100) 상의 목표 위치에 접착시킴으로써, 본 실시 예의 차량용 반도체 패키지, 즉 리드 프레임 패키지의 제작을 완료할 수 있다.
[실시 예2]
도 4는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 리드 프레임 패키지의 평면도이고, 도 5는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 리드 프레임 패키지의 측면도이다.
도 4를 참조하면, 리드 프레임(400)에는 대략 중심 부분에 형성된 다이 패들(402)을 둘러싸는 각 측면(예컨대, 4각의 측면)에 다수의 리드(404)들이 형성되어 있다. 여기에서, 각 리드는 다이 패들(402)에 형성(부착)되는 반도체 칩(410)에 형성된 각 칩 패드(도시 생략)와 전기적으로 접속, 예컨대 금속 와이어(도시 생략) 등을 통해 전기적으로 접속될 수 있다.
그리고, 반도체 칩(410)이 실장(부착)되는 다이 패들(402)의 n개의 소정 위치(예컨대, 다이 패들의 대략 4방향 모서리, 다이 패들 내 대각 방향으로 대향하는 사각 모서리 부근 2군데 등)에는 배출 홀(406a 내지 406d)들이 각각 형성되는데, 이러한 배출 홀(406a 내지 406d)들은 후속하는 공정에서 반도체 칩(410)의 밀봉을 위해 리드 프레임(400)의 소정 위치에 윈도우(414)를 부착할 때 캐비티(반도체 칩이 실장되는 캐비티) 내의 공기 압력을 외부로 배출해 주는 역할을 하게 된다.
도 5를 참조하면, 반도체 칩(410)과 다수의 리드(404) 등이 형성된 캐비티 영역을 밀봉하기 위한 윈도우(414)가 접착제(412)를 통해 리드 프레임(400)의 소정 위치에 접착되는데, 이러한 윈도우(414)는, 예컨대 구리 등과 같은 스테인리스 재질이거나 혹은 고강성을 갖는 플라스틱 재질일 수 있다. 그리고, 윈도우(414)를 리드 프레임(400)의 목표 위치에 접착시키기 위한 접착제로서는, 예컨대 솔더 페이스트, 에폭시 페이스트 등을 사용할 수 있다.
즉, 본 실시 예의 리드 프레임 패키지는 다이 패들의 n개의 위치에 배출 홀들을 형성해 주기 때문에 윈도우를 리드 프레임에 부착할 때 공기 압력(캐비티에서의 공기 압력)에 기인하여 윈도우가 틸트되는 바람직하지 못한 현상을 효과적으로 방지할 수 있다.
또한, 본 실시 예에 적용되는 배출 홀은, 전술한 실시 예1에서와 동일하게, 반도체 칩(410) 측의 제 1 홀 직경은 그 대향하는 측의 제 2 홀 직경보다 상대적으로 작게 형성하는 것이 바람직한데, 이것은 리드 프레임 패키지를 보드 상에 장착(접착)할 때 사용되는 접착제가 캐비티 영역으로 유입되는 것을 어느 정도 차단해 주는 효과를 얻기 위해서이다.
그리고, 본 실시 예의 리드 프레임 패키지에 적용되는 배출 홀(특정 리드 부분에 형성된 배출 홀)의 주변, 예컨대 캐비티 영역 측의 배출 홀 주변에는, 전술한 실시 예1에서와 동일하게, 리드 프레임 패키지를 보드에 장착할 때 접착제가 캐비티 영역으로 유입, 즉 접착제가 배출 홀의 주변 너머로 확산되는 것을 방지하기 위한 걸림 부재를 더 형성할 수 있는데, 이러한 걸림 부재는, 전술한 실시 예1에서와 마찬가지로, 제 1 홀 직경의 주변을 둘러싸는 오목 홈 형상으로 형성할 수 있다.
따라서, 상술한 바와 같은 구조를 갖는 본 실시 예의 리드 프레임 패키지는 다음과 같은 일련의 공정들을 진행함으로써 제작될 수 있다.
먼저, 다이 패들(402)을 둘러싸는 각 측면에 다수의 리드(404)가 형성된 리드 프레임(400)을 준비하고, 에칭 공정 등을 실시하여 다이 패들(402)의 n개의 위치에 배출 홀(406a 내지 406d)을 형성한다.
여기에서, 배출 홀은, 전술한 실시 예1에서와 동일하게, 1차 에칭 공정을 실시하여 제 1 홀 직경을 갖는 1차 홀을 형성하고, 2차 에칭 공정을 실시하여 반도체 칩(410)의 대향하는 측의 1차 홀에 제 2 홀 직경을 갖는 2차 홀을 형성하는 방식을 통해 반도체 칩(410) 측의 제 1 홀 직경을 그 대향하는 측의 제 2 홀 직경보다 상대적으로 작게 형성할 수 있다.
다시, 리드 프레임 패키지를 보드에 장착할 때 접착제가 캐비티 영역으로 유입되어 배출 홀의 주변 너머로 확산되는 것을 방지(억제)할 수 있도록 제 1 홀 직경의 주변을 둘러싸는 오목 홈 형상으로 걸림 부재를 형성한다.
이후, 접착제 등을 이용하는 접착 공정을 실시하여 다이 패들(402) 상의 목표 위치에 반도체 칩(410)을 부착하고, 다수의 리드(404)와 반도체 칩(410)을 밀봉하는 윈도우(414)를 접착제(412)를 통해 리드 프레임(400) 상의 목표 위치에 접착시킴으로써, 본 실시 예의 차량용 반도체 패키지, 즉 리드 프레임 패키지의 제작을 완료할 수 있다.
이상의 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시 예를 제시하여 설명하였으나 본 발명이 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능함을 쉽게 알 수 있을 것이다.
100, 400 : 리드 프레임 102, 402 : 다이 패들
104, 404 : 리드 106a 내지 106d : 특정 리드
108a 내지 108d : 배출 홀 110, 410 : 반도체 칩
112, 412 : 접착제 114, 414 : 윈도우
302a : 제 1 홀 직 302b : 제 2 홀 직경
304 : 걸림 부재
104, 404 : 리드 106a 내지 106d : 특정 리드
108a 내지 108d : 배출 홀 110, 410 : 반도체 칩
112, 412 : 접착제 114, 414 : 윈도우
302a : 제 1 홀 직 302b : 제 2 홀 직경
304 : 걸림 부재
Claims (24)
- 다이 패들을 둘러싸는 각 측면에 다수의 리드가 형성되며, 상기 다수의 리드 중 n개의 특정 리드에 배출 홀이 각각 형성되는 리드 프레임과,
상기 다이 패들 상에 형성된 반도체 칩과,
접착제를 통해 상기 리드 프레임 상에 접착되어 상기 다수의 리드와 반도체 칩을 밀봉하는 윈도우
를 포함하는 리드 프레임 패키지.
- 제 1 항에 있어서,
상기 n개의 특정 리드는,
상기 리드 프레임 내 대각 방향으로 대향하는 사각 모서리 부근의 2개의 리드인
리드 프레임 패키지.
- 제 1 항에 있어서,
상기 n개의 특정 리드는,
상기 리드 프레임 내 4방향 모서리 부근의 4개의 리드인
리드 프레임 패키지.
- 제 1 항에 있어서,
상기 배출 홀은,
상기 반도체 칩 측의 제 1 홀 직경이 그 대향하는 측의 제 2 홀 직경보다 상대적으로 작게 형성되는
리드 프레임 패키지.
- 제 4 항에 있어서,
상기 패키지는,
패키지를 보드에 장착할 때 상기 배출 홀을 통해 유입되는 상기 접착제가 캐비티 영역으로 확산되는 것을 방지하기 위한 걸림 부재
를 더 포함하는 리드 프레임 패키지.
- 제 5 항에 있어서,
상기 걸림 부재는,
상기 제 1 홀 직경의 주변을 둘러싸는 형태로 형성된 오목 홈인
리드 프레임 패키지.
- 제 1 항에 있어서,
상기 접착제는,
솔더 페이스트 또는 에폭시 페이스트인
리드 프레임 패키지.
- 다이 패들을 둘러싸는 각 측면에 다수의 리드가 형성된 리드 프레임을 준비하는 과정과,
상기 다수의 리드 중 n개의 특정 리드에 배출 홀을 형성하는 과정과,
상기 다이 패들 상에 반도체 칩을 부착하는 과정과,
상기 다수의 리드와 반도체 칩을 밀봉하는 윈도우를 접착제를 통해 상기 리드 프레임 상에 접착시키는 과정
을 포함하는 리드 프레임 패키지 제조 방법.
- 제 8 항에 있어서,
상기 배출 홀은,
상기 반도체 칩 측의 제 1 홀 직경이 그 대향하는 측의 제 2 홀 직경보다 상대적으로 작게 형성되는
리드 프레임 패키지 제조 방법.
- 제 9 항에 있어서,
상기 배출 홀을 형성하는 과정은,
1차 에칭 공정을 실시하여 상기 제 1 홀 직경을 갖는 1차 홀을 형성하는 과정과,
2차 에칭 공정을 실시하여 상기 반도체 칩의 대향하는 측의 1차 홀에 상기 제 2 홀 직경을 갖는 2차 홀을 형성하는 과정
을 포함하는 리드 프레임 패키지 제조 방법.
- 제 8 항에 있어서,
상기 방법은,
상기 배출 홀을 형성한 후, 상기 반도체 칩을 부착하기 전에, 패키지를 보드에 장착할 때 상기 배출 홀을 통해 유입되는 상기 접착제가 캐비티 영역으로 확산되는 것을 방지하기 위한 걸림 부재를 형성하는 과정
을 더 포함하는 리드 프레임 패키지 제조 방법.
- 제 11 항에 있어서,
상기 걸림 부재는,
상기 제 1 홀 직경의 주변을 둘러싸는 오목 홈 형상으로 형성되는
리드 프레임 패키지 제조 방법.
- 다이 패들을 둘러싸는 각 측면에 다수의 리드가 형성되며, 상기 다이 패들의 소정 위치에 n개의 배출 홀이 각각 형성되는 리드 프레임과,
상기 다이 패들 상에 형성된 반도체 칩과,
접착제를 통해 상기 리드 프레임 상에 접착되어 상기 다수의 리드와 반도체 칩을 밀봉하는 윈도우
를 포함하는 리드 프레임 패키지.
- 제 13 항에 있어서,
상기 n개의 배출 홀은,
상기 다이 패들 내 대각 방향으로 대향하는 사각 모서리 부근에 형성된 2개의 홀인
리드 프레임 패키지.
- 제 13 항에 있어서,
상기 n개의 배출 홀은,
상기 다이 패들 내 내 4방향 모서리 부근에 형성된 4개의 홀인
리드 프레임 패키지.
- 제 13 항에 있어서,
상기 배출 홀은,
상기 반도체 칩 측의 제 1 홀 직경이 그 대향하는 측의 제 2 홀 직경보다 상대적으로 작게 형성되는
리드 프레임 패키지.
- 제 16 항에 있어서,
상기 패키지는,
패키지를 보드에 장착할 때 상기 배출 홀을 통해 유입되는 상기 접착제가 캐비티 영역으로 확산되는 것을 방지하기 위한 걸림 부재
를 더 포함하는 리드 프레임 패키지.
- 제 17 항에 있어서,
상기 걸림 부재는,
상기 제 1 홀 직경의 주변을 둘러싸는 형태로 형성된 오목 홈인
리드 프레임 패키지.
- 제 13 항에 있어서,
상기 접착제는,
솔더 페이스트 또는 에폭시 페이스트인
리드 프레임 패키지.
- 다이 패들을 둘러싸는 각 측면에 다수의 리드가 형성된 리드 프레임을 준비하는 과정과,
상기 다이 패들의 소정 위치에 n개의 배출 홀을 형성하는 과정과,
상기 다이 패들 상에 반도체 칩을 부착하는 과정과,
상기 다수의 리드와 반도체 칩을 밀봉하는 윈도우를 접착제를 통해 상기 리드 프레임 상에 접착시키는 과정
을 포함하는 리드 프레임 패키지 제조 방법.
- 제 20 항에 있어서,
상기 배출 홀은,
상기 반도체 칩 측의 제 1 홀 직경이 그 대향하는 측의 제 2 홀 직경보다 상대적으로 작게 형성되는
리드 프레임 패키지 제조 방법.
- 제 21 항에 있어서,
상기 배출 홀을 형성하는 과정은,
1차 에칭 공정을 실시하여 상기 제 1 홀 직경을 갖는 1차 홀을 형성하는 과정과,
2차 에칭 공정을 실시하여 상기 반도체 칩의 대향하는 측의 1차 홀에 상기 제 2 홀 직경을 갖는 2차 홀을 형성하는 과정
을 포함하는 리드 프레임 패키지 제조 방법.
- 제 20 항에 있어서,
상기 방법은,
상기 배출 홀을 형성한 후, 상기 반도체 칩을 부착하기 전에, 패키지를 보드에 장착할 때 상기 배출 홀을 통해 유입되는 상기 접착제가 캐비티 영역으로 확산되는 것을 방지하기 위한 걸림 부재를 형성하는 과정
을 더 포함하는 리드 프레임 패키지 제조 방법.
- 제 23 항에 있어서,
상기 걸림 부재는,
상기 제 1 홀 직경의 주변을 둘러싸는 오목 홈 형상으로 형성되는
리드 프레임 패키지 제조 방법.
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---|---|---|---|---|
KR101398016B1 (ko) * | 2012-08-08 | 2014-05-30 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 리드 프레임 패키지 및 그 제조 방법 |
DE102013217303A1 (de) * | 2013-08-30 | 2015-03-05 | Robert Bosch Gmbh | Stanzgitter für ein Premold-Sensorgehäuse |
US9728510B2 (en) | 2015-04-10 | 2017-08-08 | Analog Devices, Inc. | Cavity package with composite substrate |
CN106935518B (zh) * | 2015-12-31 | 2019-04-12 | 无锡华润安盛科技有限公司 | 芯片封装方法 |
US10724907B2 (en) | 2017-07-12 | 2020-07-28 | Sensata Technologies, Inc. | Pressure sensor element with glass barrier material configured for increased capacitive response |
CN110945649B (zh) | 2018-05-29 | 2023-06-16 | 新电元工业株式会社 | 半导体模块 |
US20190391046A1 (en) * | 2018-06-22 | 2019-12-26 | Sensata Technologies, Inc. | First level package for pressure sensor module |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07169870A (ja) * | 1993-12-13 | 1995-07-04 | Fujitsu Ten Ltd | 集積回路の製造方法 |
KR20050030865A (ko) * | 2003-09-26 | 2005-03-31 | 가부시끼가이샤 르네사스 테크놀로지 | 반도체장치의 제조방법 |
KR20050063700A (ko) * | 2003-12-22 | 2005-06-28 | 가부시끼가이샤 르네사스 테크놀로지 | 반도체장치의 제조방법 및 반도체장치 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6089920A (en) * | 1998-05-04 | 2000-07-18 | Micron Technology, Inc. | Modular die sockets with flexible interconnects for packaging bare semiconductor die |
US6373127B1 (en) * | 1998-09-29 | 2002-04-16 | Texas Instruments Incorporated | Integrated capacitor on the back of a chip |
KR100369393B1 (ko) * | 2001-03-27 | 2003-02-05 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 리드프레임 및 이를 이용한 반도체패키지와 그 제조 방법 |
US6818973B1 (en) * | 2002-09-09 | 2004-11-16 | Amkor Technology, Inc. | Exposed lead QFP package fabricated through the use of a partial saw process |
US8129222B2 (en) * | 2002-11-27 | 2012-03-06 | United Test And Assembly Test Center Ltd. | High density chip scale leadframe package and method of manufacturing the package |
US7557491B2 (en) * | 2006-02-09 | 2009-07-07 | Citizen Holdings Co., Ltd. | Electronic component package |
TWI368956B (en) * | 2007-08-10 | 2012-07-21 | Siliconware Precision Industries Co Ltd | Multichip stack structure and method for fabricating the same |
US7838980B1 (en) * | 2007-09-27 | 2010-11-23 | National Semiconductor Corporation | TO263 device package having low moisture sensitivity |
US8097934B1 (en) * | 2007-09-27 | 2012-01-17 | National Semiconductor Corporation | Delamination resistant device package having low moisture sensitivity |
JP2009164475A (ja) * | 2008-01-09 | 2009-07-23 | Yamaha Corp | マイクロフォンパッケージ、リードフレーム、モールド基板及びマイクロフォンパッケージの実装構造 |
EP2252077B1 (en) * | 2009-05-11 | 2012-07-11 | STMicroelectronics Srl | Assembly of a capacitive acoustic transducer of the microelectromechanical type and package thereof |
JP4979788B2 (ja) * | 2010-03-30 | 2012-07-18 | 株式会社菊池製作所 | 流量センサーおよび流量検出装置 |
TWI419290B (zh) * | 2010-10-29 | 2013-12-11 | Advanced Semiconductor Eng | 四方扁平無引腳封裝及其製作方法 |
KR101693642B1 (ko) | 2010-12-21 | 2017-01-17 | 삼성전자 주식회사 | 발광소자 패키지 제조방법 |
DE102011075260B4 (de) * | 2011-05-04 | 2012-12-06 | Robert Bosch Gmbh | MEMS-Mikrofon |
WO2013052676A1 (en) * | 2011-10-07 | 2013-04-11 | Analog Devices, Inc. | Systems and methods for air release in cavity packages |
JP5855917B2 (ja) * | 2011-11-17 | 2016-02-09 | セイコーインスツル株式会社 | 光センサ装置 |
KR101398016B1 (ko) * | 2012-08-08 | 2014-05-30 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 리드 프레임 패키지 및 그 제조 방법 |
US8941223B2 (en) * | 2012-09-10 | 2015-01-27 | Invensense, Inc. | MEMS device package with conductive shell |
JP6136349B2 (ja) * | 2013-02-22 | 2017-05-31 | セイコーエプソン株式会社 | 電子デバイス、電子機器及び移動体 |
-
2012
- 2012-08-08 KR KR1020120086819A patent/KR101398016B1/ko active IP Right Grant
-
2013
- 2013-07-23 US US13/949,186 patent/US9054089B2/en active Active
-
2015
- 2015-05-26 US US14/722,110 patent/US9633932B2/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07169870A (ja) * | 1993-12-13 | 1995-07-04 | Fujitsu Ten Ltd | 集積回路の製造方法 |
KR20050030865A (ko) * | 2003-09-26 | 2005-03-31 | 가부시끼가이샤 르네사스 테크놀로지 | 반도체장치의 제조방법 |
KR20050063700A (ko) * | 2003-12-22 | 2005-06-28 | 가부시끼가이샤 르네사스 테크놀로지 | 반도체장치의 제조방법 및 반도체장치 |
Also Published As
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---|---|
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