KR101346048B1 - Substrate inspection apparatus - Google Patents

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KR101346048B1
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마사루 마쓰모토
노부오 후지사키
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올림푸스 가부시키가이샤
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Abstract

본 발명의 기판 검사 장치는, 기판(1)을 부상(浮上)시켜 수평 지지하는 부상 스테이지부(6)와, 기판(1)의 단부(段部)를 지지하고 부상 스테이지부(6) 상에 부상시킨 상태로 반송(搬送)하는 제1 기판 반송 수단(9)과, 제1 기판 반송 수단(9)에 의해 반송된 기판(1)을 검사하는 검사부와, 부상 스테이지부(6)의 반송면으로부터 출몰(出沒) 가능하게 설치되고, 기판(1)의 배면을 지지하여 부상 스테이지부(6) 내에 반입(搬入)하는 회전 구동 가능한 회전체(8b)를 부상 스테이지부(6)의 단부에 복수개 배치한 제2 기판 반송 수단(8)을 구비한다.The board | substrate test | inspection apparatus of this invention supports the floating stage part 6 which raises and horizontally supports the board | substrate 1, and supports the edge part of the board | substrate 1 on the floating stage part 6; The inspection part which examines the 1st board | substrate conveying means 9 conveyed in the state which floated, the board | substrate 1 conveyed by the 1st board | substrate conveying means 9, and the conveyance surface of the floating stage part 6 A plurality of rotationally rotatable bodies 8b which are provided so as to be projected from the surface and which support the rear surface of the substrate 1 and are carried into the floating stage part 6 are provided at the ends of the floating stage part 6. The 2nd board | substrate conveying means 8 arrange | positioned is provided.

기판 검사 장치, 스테이지부, 기판 반송 수단, 검사부 Board inspection apparatus, stage part, board | substrate conveying means, inspection part

Description

기판 검사 장치 {SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS}Board Inspection Device {SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS}

도 1은 본 발명의 일실시예에 관한 기판 검사 장치를 나타낸 측면도이다. 1 is a side view showing a substrate inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 2는 도 1에 나타낸 기판 검사 장치의 기판 반송부를 나타낸 평면도이다.It is a top view which shows the board | substrate conveyance part of the board | substrate inspection apparatus shown in FIG.

도 3은 도 2에 나타낸 기판 반송부의 정면도이다.3 is a front view of the substrate carrier shown in FIG. 2.

도 4는 도 2에 나타낸 기판 반송부의 좌측면도이다.It is a left side view of the board | substrate conveyance part shown in FIG.

도 5는 본 발명의 일실시예에 관한 기판 검사 장치의 제2 기판 반송부를 나타낸 사시도이다.5 is a perspective view illustrating a second substrate transfer unit of the substrate inspection apparatus according to the exemplary embodiment of the present invention.

도 6은 본 발명의 일실시예에 관한 기판 검사 장치의 제2 기판 반송부의 회전축에 회전 구동력을 부여하는 예를 나타낸 측면도이다.6 is a side view showing an example of applying a rotation driving force to the rotation shaft of the second substrate transfer unit of the substrate inspection apparatus according to the embodiment of the present invention.

[부호의 설명][Description of Symbols]

(1) 기판 (1b) 기판의 하면(1) Substrate (1b) Lower surface of substrate

(3) 검사 스테이지 (6) 에어 부상 스테이지부 (3) Inspection stage (6) Air floating stage

(6b) 정밀 부상 블록 (6c) 스테이지부의 한쪽의 단부 6b) Precision floating block 6c One end of the stage portion

(6d) 스테이지부의 다른 쪽의 단부 (6e) 에어 부상 블록 (6d) End portion 6e of the stage portion Air floating block

(6h) 구멍 (8) 제2 기판 반송 수단 (6h) hole (8) 2nd board | substrate conveying means

(8a) 회전축 (8b) 회전체 (8a) rotating shaft (8b) rotating body

(8c) 회전 구동 수단 (9) 제1 기판 반송 수단(8c) Rotation drive means (9) First substrate transfer means

A 기판 검사 장치 (01) 축선 A Substrate Inspection Device (01) Axis

[특허 문헌 1] 일본국 특개 2003-263627호 공보[Patent Document 1] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-263627

[특허 문헌 2] 일본국 특개 2000-9661호 공보[Patent Document 2] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-9661

본 발명은, 예를 들면, 웨이퍼나 액정 유리 기판 등의 검사에 사용되는 기판 검사 장치에 관한 것이다.This invention relates to the board | substrate inspection apparatus used for inspection of a wafer, a liquid crystal glass substrate, etc., for example.

종래, 웨이퍼나 액정 유리 기판 등의 매크로(macro) 검사에서는, 기판 표면에 조명광을 조사(照射)하고, 그 반사광 또는 투과광의 광학적 변화에 따른 표면의 화상을 받아들이고, 이것을 화상 처리함으로써, 표면에 도포된 레지스트의 막 불균일, 핀홀 등의 결함이나, 먼지 부착의 유무 등을 확인하고 있다. 또, 기판 표면에 결함이나 먼지 부착 등(결함)이 인정되는 경우에는, 그 결함을 현미경 등의 마이크로 검사 장치로 확대하여 상세한 관찰이 행해지고 있다.Background Art Conventionally, in a macro inspection of a wafer or a liquid crystal glass substrate, the surface of the substrate is irradiated with illumination light, the image of the surface corresponding to the optical change of the reflected or transmitted light is received, and the image is applied to the surface by image processing. The film nonuniformity of the resist, the defect of a pinhole, etc., the presence or absence of dust adhesion, etc. are confirmed. Moreover, when a defect, adhesion | attachment, etc. (defect) are recognized on the surface of a board | substrate, the defect is expanded by micro inspection apparatuses, such as a microscope, and the detailed observation is performed.

이 종류의 기판 검사 장치에는, 기판에 라인형의 조명광을 조사하고, 기판을 1축 방향으로 정속(定速) 이동함으로써 기판 전체면의 화상을 라인 센서 카메라에 의해 취득을 행하는 것이 있다. 이 기판의 반송 수단으로서는, 예를 들면, 이동 방향과 직교하도록 소정 간격으로 배열된 복수개의 회전축에 복수개의 볼을 고정하여 설치하고, 회전축을 회전시키는 회전 구동 수단을 구비한 롤러 컨베이어가 있 다. 이 기판 반송 수단에 의해서는, 회전 구동 수단의 구동에 의해 회전축을 회전시키고, 볼 상에 탑재된 기판을 1축 방향으로 이동시키는 것이 가능하다.In this kind of substrate inspection apparatus, a line-type illumination light is irradiated to a board | substrate, and a board | substrate image is acquired by a line sensor camera by moving a board | substrate at fixed speed in a uniaxial direction. As a conveying means of this board | substrate, there exists a roller conveyor provided with the rotation drive means which fixedly installs the several ball to the several rotation shaft arrange | positioned at the predetermined space so that it may orthogonally cross a movement direction, and rotates a rotation shaft, for example. By this board | substrate conveying means, it is possible to rotate a rotating shaft by the drive of a rotation drive means, and to move the board | substrate mounted on the ball to one axial direction.

이 롤러 컨베이어를 구비한 검사 스테이지부는, 일반적으로 롤러 컨베이어 스테이지라 하고 있고, 각각의 회전축에 고정된 각 볼의 높이가, 동일 수평면 상으로 되도록 배치되고, 기판을 반송할 때 기판의 평탄도를 높게 유지하는 것으로 되어 있다(예를 들면, 특허 문헌 1 참조).The inspection stage part provided with this roller conveyor is generally called the roller conveyor stage, and is arrange | positioned so that the height of each ball fixed to each rotating shaft may be on the same horizontal plane, and raises the flatness of a board | substrate at the time of conveying a board | substrate. It is supposed to hold (for example, refer patent document 1).

한편, 기판 검사 장치에는, 기판의 반입 측과 반출 측에 샤프트에 볼를 회전 가능하게 설치한 롤러 컨베이어 스테이지를 배치하고, 이들 롤러 컨베이어 스테이지 간의 검사 영역에 기판을 부상시키는 에어 부상 스테이지를 배치하고, 부상한 기판의 단부를 파지하면서 1축 방향으로 이동시키면서 기판의 결함을 검출하는 결함 검출부와, 결함을 상세하게 관찰하는 결함 리뷰부를 구비하는 것도 있다(예를 들면, 특허 문헌 2 참조). 이 종류의 기판 검사 장치에서는, 기판의 단부가 파지 기구에 지지되고, 이 파지 기구가 1축 방향으로 이동 가능하게 되어 있는 것에 의해, 기판을 스테이지부 상에서 부상시킨 상태로 정속 이동을 가능하게 하고 있다. 이 에어 부상 스테이지는, 검사 시에 기판을 비접촉으로 지지함으로써 기판의 불균일을 해소하고, 불균일의 영향에 의한 결함의 오인을 방지할 수 있다.On the other hand, in the board | substrate test | inspection apparatus, the roller conveyor stage which arrange | positioned the ball | bowl rotatably on the shaft was arrange | positioned at the carrying-in side and the carrying-out side of a board | substrate, and the air floating stage which raises a board | substrate to the inspection area | region between these roller conveyor stages is floated, Some are provided with the defect-detection part which detects the defect of a board | substrate, and the defect review part which observes a defect in detail, holding the edge part of one board | substrate, and moving to one axis direction (for example, refer patent document 2). In this type of substrate inspection apparatus, an end portion of the substrate is supported by the gripping mechanism, and the gripping mechanism is movable in one axis direction, thereby enabling constant speed movement in a state in which the substrate is floated on the stage portion. . The air floating stage can support the substrate in a non-contact manner at the time of inspection to eliminate the nonuniformity of the substrate and prevent misunderstanding of a defect due to the influence of the nonuniformity.

그러나, 특허 문헌 1에 나타낸 롤러 컨베이어 스테이지를 구비하는 기판 검사 장치에서는, 기판의 이동이 기판의 반송 방향과 직교하는 1축 방향만 가능하게 된다. 그러므로, 롤러 컨베이어 스테이지에 반입된 기판을 1축 방향에 직교하는 방향으로 이동시킬 수 없으므로, 기판의 사이즈가 커지면 각 롤러와의 마찰 저항에 의해 기판의 위치 결정이 곤란해진다. 이와 같이, 기판을 기준 위치에 정확하게 위치 결정할 수 없는 경우, 검출된 결함의 좌표가, 기준 위치에 대하여 기판이 어긋난 분 만큼의 오차를 포함하게 되므로, 결함 위치를 정확하게 특정할 수 없는 문제가 있었다.However, in the board | substrate test | inspection apparatus provided with the roller conveyor stage shown by patent document 1, the movement of a board | substrate becomes possible only in the uniaxial direction orthogonal to the conveyance direction of a board | substrate. Therefore, since the board | substrate carried in the roller conveyor stage cannot be moved in the direction orthogonal to a 1-axis direction, when board | substrate becomes large, positioning of a board | substrate will become difficult by frictional resistance with each roller. As described above, when the substrate cannot be accurately positioned at the reference position, the detected defect coordinates include an error corresponding to the deviation of the substrate relative to the reference position, so that the defect position cannot be accurately specified.

또, 기판을 롤러 컨베이어 스테이지(검사 스테이지부)에서 지지하여 검사할 때, 모터 등의 구동부로부터의 진동이나 롤러 사이에서의 기판의 굴곡에 의해, 기판에 대한 검사 정밀도가 저하되는 문제가 있다.Moreover, when a board | substrate is supported and inspected by a roller conveyor stage (inspection stage part), there exists a problem that the inspection precision with respect to a board | substrate falls by the vibration from the drive part, such as a motor, and the bending of the board | substrate between rollers.

한편, 특허 문헌 2에 나타낸 기판 검사 장치에서는, 검사 영역에 기판을 비접촉으로 지지하는 에어 부상 스테이지를 배치함으로써, 기판의 굴곡이나 진동의 영향을 받지 않도록 되어 있다. 그러나, 에어 부상 스테이지 상에 기판을 반입하기 위해, 에어 부상 스테이지의 양측에 롤러 반송부를 설치하면, 검사 장치가 대형화되어, 점유 스페이스가 커지는 문제가 있었다.On the other hand, in the board | substrate test | inspection apparatus shown by patent document 2, by arrange | positioning the air floating stage which supports a board | substrate non-contactedly in a test | inspection area, it is prevented from the influence of the bending and vibration of a board | substrate. However, in order to carry in a board | substrate on an air floating stage, when a roller conveyance part is provided in both sides of an air floating stage, the inspection apparatus became large and there existed a problem that the occupied space became large.

또한, 검사 장치의 소형화를 도모하기 위해, 에어 부상 스테이지의 양쪽으로부터 롤러 반송부를 생략하고, 제조 라인의 반송용 롤러 컨베이어로부터 기판을 직접적으로 에어 부상 스테이지에 반입하는 것이 고려되지만, 에어 부상 스테이지 상에서는 기판과의 접촉 저항이 작아지므로, 기판이 에어 부상 스테이지로 이행한 순간에 폭주한다는 문제가 생긴다.In addition, in order to reduce the size of the inspection apparatus, it is considered to omit the roller conveying portions from both sides of the air floating stage, and to directly bring the substrate into the air floating stage from the conveying roller conveyor of the production line, but on the air floating stage Since the contact resistance with is small, there arises a problem that the substrate is runaway at the moment when the substrate moves to the air floating stage.

또, 종래에는, 반송 로봇에 의해 제조 라인 밖에 설치된 검사 장치에 기판을 이동시켜 검사를 행하므로, 기판을 제조한 후 검사 결과를 얻을 수 있기까지 시간 이 걸린다는 문제가 있었다. 최근, 제조 라인 내에 기판 검사 장치를 설치하고, 제조된 기판의 검사 결과를 가능한 한 빨리 제조 공정으로 피드백하여, 제조 공정의 제어를 행하는 것이 요구되고 있다.Moreover, conventionally, since a board | substrate is examined by moving a board | substrate to the test | inspection apparatus provided outside a manufacturing line by a transfer robot, there existed a problem that it took time to obtain a test result after manufacturing a board | substrate. In recent years, it is required to provide a board | substrate test | inspection apparatus in a manufacturing line, to feed back the test result of the manufactured board | substrate to a manufacturing process as soon as possible, and to control a manufacturing process.

본 발명은, 상기 사정을 감안하여, 기판을 압력 기체에 의해 부상시키는 부상 스테이지부를 갖추면서 소형화를 도모하는 동시에, 제조 라인 내에 설치 가능한 기판 검사 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.In view of the above circumstances, an object of the present invention is to provide a substrate inspection apparatus that can be miniaturized while being provided with a floating stage portion that floats a substrate by a pressure gas and can be installed in a production line.

상기의 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 이하의 수단을 제공하고 있다.In order to achieve the above object, the present invention provides the following means.

본 발명의 기판 검사 장치는, 기판을 부상시켜 수평 지지하는 부상 스테이지부와, 상기 기판의 단부를 지지하고 상기 부상 스테이지부 상에 부상시킨 상태로 반송하는 제1 기판 반송 수단과, 상기 제1 기판 반송 수단에 의해 반송된 상기 기판을 검사하는 검사 헤드와, 상기 부상 스테이지부의 반송면으로부터 출몰 가능하게 설치되고, 상기 기판의 배면을 지지하여 상기 부상 스테이지부 내에 반입하는 회전 구동 가능한 회전체를 상기 부상 스테이지부의 단부에 복수개 배치한 제2 기판 반송 수단을 구비한 것을 특징으로 한다.The board | substrate test | inspection apparatus of this invention is a floating stage part which floats a board | substrate and horizontally supports it, the 1st board | substrate conveying means which conveys in the state which supported the edge part of the said board | substrate, and floated on the said floating stage part, and the said 1st board | substrate. The inspection head for inspecting the substrate conveyed by the conveying means, and a rotatable rotating body which is provided so as to be sunk from the conveying surface of the floating stage portion and supports the rear surface of the substrate and is carried in the floating stage portion, the floating It is equipped with the 2nd board | substrate conveyance means arrange | positioned at the edge part of a stage part, It is characterized by the above-mentioned.

즉, 본 발명의 검사 장치에 있어서는, 기판을 부상시키는 부상 스테이지부와, 이 기판을 부상시킨 상태로 강제 반송하는 제1 기판 반송 수단에 더하여, 부상 스테이지부의 단부에 출몰 가능하게 회전 구동하는 회전체를 설치함으로써, 기판 검사 장치 스스로 기판을 부상 스테이지부 내에 반입 또는 부상 스테이지부 내로부터 반출시킬 수 있다.That is, in the inspection apparatus of the present invention, in addition to the floating stage portion for floating the substrate and the first substrate transfer means forcibly conveying the substrate in a floating state, the rotating body rotatably driven to the end of the floating stage is floatable. The substrate inspection apparatus can carry the board | substrate in the floating stage part by itself, or can carry out from the inside of the floating stage part.

본 발명에 의하면, 기판 검사 장치에 기판을 반입, 반출하는 반송 로봇 등의 다른 기판 반송 수단을 필요로 하지 않고, 기판 검사 장치를 소형화할 수 있는 동시에, 기판 검사에 필요한 스페이스를 공간 절약화할 수 있다.Industrial Applicability According to the present invention, the substrate inspection apparatus can be miniaturized and the space required for the substrate inspection can be reduced, without the need for other substrate transfer means such as a transfer robot that carries the substrate in and out of the substrate inspection apparatus. .

[발명을 실시하기 위한 바람직한 실시예]BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION [

이하, 도 1 내지 도 5를 참조하여, 본 발명의 일실시예에 관한 기판 검사 장치에 대하여 설명한다.Hereinafter, a board inspection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 5.

본 발명의 일실시예의 기판 검사 장치 A는, 도 1에 나타낸 바와 같은 예를 들면, 액정 유리 기판 등의 검사에 사용된다. 이 기판 검사 장치 A는, 기판(1)의 관찰을 행하는 검사부(2)와, 관찰을 행하기 위해 기판(1)을 지지하여 이동시키는 검사 스테이지(3)로 나누어진다. 도 1에 나타낸 검사부(2)는, 기판(1)의 표면(1a)에 조명광을 조사(照射)하고, 그 반사광의 광학적 변화에 따른 표면(1a)의 화상을 받아들이고, 이것을 화상 처리함으로써, 표면(1a)에 도포된 레지스트의 막 불균일, 핀홀 등의 결함이나, 먼지 부착의 유무 등을 확인하는 매크로 검사부(4)와, 매크로 검사부(4)에 의해 검출된 결함을 현미경부(5a)에 의해 상세 관찰하는 마이크로 검사부(5)를 구비하고 있다.The board | substrate test | inspection apparatus A of one Embodiment of this invention is used for test | inspection, such as a liquid crystal glass substrate, as shown in FIG. This board | substrate test | inspection apparatus A is divided into the test | inspection part 2 which observes the board | substrate 1, and the test | inspection stage 3 which supports and moves the board | substrate 1 in order to observe. The inspection part 2 shown in FIG. 1 irradiates illumination surface to the surface 1a of the board | substrate 1, receives the image of the surface 1a according to the optical change of the reflected light, and image-processes this, The microscopic section 5a detects defects such as film unevenness of the resist applied to (1a), defects such as pinholes, presence of dust, and the like, and defects detected by the macro inspection section 4 by the microscope section 5a. The micro inspection part 5 which observes in detail is provided.

매크로 검사부(4)는, 갠트리(gantry)라는 문형(門型) 프레임의 지주(支柱)(4a)에 장착된 조명부(4b)와, 한쪽의 지지암(4c)에 장착된 미러(4d)와, 다른 쪽의 지지암(4e)에 장착된 촬상부(4f)로 구성되어 있다. 여기서, 한쌍의 지주(4a)는, 그 하단이 후술하는 검사 스테이지(3)의 베이스부(7)에 고정되어 있고, 후술하 는 에어 부상 스테이지부(부상 스테이지부)(6)를 사이로 하여 대향하여 설치된 2개의 지주(4a)의 양 상단에 기판(1)의 이동 방향에 대하여 직교하는 수평 암이 연결되어 걸쳐져 있다. 조명부(4b)는, 예를 들면, 봉형의 로드 렌즈(rod lens)의 단면에 광원을 배치한 라인 조명 유닛이다. 이 조명부(4b)는, 검사 스테이지(3)의 에어 부상 스테이지부(6) 상을 1축 방향으로 이동하는 기판(1)의 이동 방향(X 방향)에 대하여 직교 방향(Y 방향)으로, 기판(1)의 폭보다 약간 긴 범위에서 기판(1)의 표면(1a)을 선형(線形)으로 조명하는 것을 가능하게 하고 있다. 미러(4d)는, 조명부(4b)로부터 조사된 선형의 조명광의 기판(1) 표면(1a)으로부터의 반사광을 촬상부(4f)를 향해 편향시키기 위한 것이다. 촬상부(4f)는, 미러(4d)에 의해 수평 방향으로 편향된 광을 수광하고, 이것을 집광시키는 도시하지 않은 결상 렌즈와, 결상 렌즈에 의해 집광된 광을 결상하고, 기판(1)의 표면(1a)의 화상 취득을 행하는 도시하지 않은 라인 센서 카메라(촬상 소자)를 주된 구성 요소로 하고 있다.The macro inspection unit 4 includes an illumination unit 4b attached to a post 4a of a door frame called a gantry, a mirror 4d attached to one support arm 4c, And an imaging unit 4f attached to the other support arm 4e. Here, the pair of struts 4a are fixed to the base portion 7 of the inspection stage 3 to which the lower end thereof is described later, and the air floatation stage portion (injury stage portion) 6, which will be described later, is interposed therebetween. Horizontal arms orthogonal to the moving direction of the substrate 1 are connected to both upper ends of the two support posts 4a which are provided to face each other. The illumination part 4b is a line illumination unit which arrange | positioned the light source in the cross section of rod-shaped rod lens, for example. This illumination part 4b is a board | substrate in the orthogonal direction (Y direction) with respect to the moving direction (X direction) of the board | substrate 1 which moves on the air floating stage part 6 of the test | inspection stage 3 to 1 axis direction. It is possible to illuminate the surface 1a of the board | substrate 1 linearly in the range slightly longer than the width of (1). The mirror 4d is for deflecting the reflected light from the substrate 1 surface 1a of the linear illumination light irradiated from the illumination unit 4b toward the imaging unit 4f. The imaging unit 4f collects light deflected in the horizontal direction by the mirror 4d, and forms an imaging lens (not shown) for condensing the light and the light collected by the imaging lens to form a surface ( The line sensor camera (imaging element) which is not shown in figure 1a) is taken as a main component.

마이크로 검사부(5)는, 매크로 검사부(4)에 대하여, 기판(1)의 반송 방향의 하류 측에 간섭하지 않는 정도로 근접하여 설치되어 있다. 이 마이크로 검사부(5)와 매크로 검사부(4)를 기판(1)의 길이보다 짧은 간격으로 되도록 근접하여 설치함으로써, 검사 스테이지(3)를 짧게 할 수 있어, 기판 검사 장치 A의 소형화를 도모하는 것이 가능해진다. 이 마이크로 검사부(5)는, 갠트리라는 문형 프레임의 지주(5b) 사이에 연장되어 걸쳐진 수평 암에 따라 이동 가능하게 설치된 검사 헤드용 스테이지(5d)와, 이 검사 헤드용 스테이지(5d)에 설치된 현미경부(5a)와, 에어 부상 스테이지부(6)에 기판(1)의 이동 방향에 직교하도록 설치된 선형의 간극부(6a) 를 통하여, 기판(1)의 하면(1b) 방향으로부터 조명광을 조사 가능하게 하는 투과 조명부(5c)로 구성된다.The micro inspection unit 5 is provided close to the macro inspection unit 4 to such an extent that it does not interfere with the downstream side in the conveying direction of the substrate 1. By arranging the micro inspection unit 5 and the macro inspection unit 4 in close proximity to each other so as to have an interval shorter than the length of the substrate 1, the inspection stage 3 can be shortened, so that the substrate inspection apparatus A can be miniaturized. It becomes possible. This micro-inspection part 5 is the inspection head stage 5d provided so that the movement was possible according to the horizontal arm extended between the props 5b of the door-shaped frame called a gantry , and the microscope attached to this inspection head stage 5d. Illumination light can be irradiated from the direction of the lower surface 1b of the substrate 1 through the portion 5a and the linear gap portion 6a provided to the air floating stage portion 6 so as to be orthogonal to the moving direction of the substrate 1. It consists of a transmission illumination part 5c.

그 다음에, 검사 스테이지(3)에 대하여 도 2 내지 도 5를 참조하여 설명한다. 검사 스테이지(3)는, 베이스부(7)와 직사각형 판형으로 형성된 복수개의 에어 부상 블록(6e)과 정밀 에어 부상 블록(6b)을 병렬시킨 에어 부상 스테이지부(6)와, 에어 부상 스테이지부(6)의 X 방향의 한쪽의 단부(6c) 측과 다른 쪽의 단부(6d) 측에 설치되어 롤러 구동에 의해 기판(1)을 반송하는 제2 기판 반송 수단(롤러 컨베이어)(8)과, 기판(1) 중 적어도 반송 방향에 따른 한 변을 흡착 지지하여 기판(1)을 강제 반송하는 제1 기판 반송 수단(9)과, 기판(1)의 단부(1c,1d,1e)에 맞닿아 기판(1)을 기준 위치로 위치결정하는 위치 결정 기구(10)로 구성되어 있다.Next, the inspection stage 3 will be described with reference to FIGS. 2 to 5. The inspection stage 3 includes an air floating stage 6 in which the base 7 and a plurality of air floating blocks 6e formed in a rectangular plate shape and a precision air floating block 6b are paralleled, and an air floating stage unit ( 2nd board | substrate conveyance means (roller conveyor) 8 which is provided in the one end part 6c side of the X direction of 6), and the other end part 6d side, and conveys the board | substrate 1 by roller drive, 1st board | substrate conveyance means 9 which adsorbs and supports at least one side along the conveyance direction of the board | substrate 1, and forcibly conveys the board | substrate 1, and contacts the edge part 1c, 1d, 1e of the board | substrate 1, It is comprised by the positioning mechanism 10 which positions the board | substrate 1 to a reference position.

에어 부상 스테이지부(6)는, 직사각형상의 에어 부상 블록(6e)과 정밀 에어 부상 블록(6b)이 복수개 배치되어 형성된 것이다. 각 에어 부상 블록(6e)과 정밀 에어 부상 블록(6b)은, 각 상면이 수평면을 형성하도록 베이스부(7)의 지지 프레임(7a)에 지지되어 있다. 정밀 에어 부상 블록(6b)은, 마이크로 검사부(5)의 검사 영역(대물 렌즈의 주사 라인)으로 되는 간극부(6a)에 따라 양측에 각각 복수개 연결하여 배치되어 있다. 에어 부상 블록(6e)은, 정밀 에어 부상 블록(6b)의 양측에 기판(1)의 반송 방향(X 방향)에 따라 소정 간격을 두고 복수개 배치되어 있다. 각 에어 부상 블록(6e)을 등간격으로 설치함으로써 형성되는 인접하는 부상 블록(6e)과의 사이에는, 에어를 배출하기 위한 개구부(6f)가 형성되어 있다. 이 에어 부상 스테이지부(6)를 형성하는 정밀 에어 부상 블록(6b)과 에어 부상 블록(6e)에는, 그 상면에 기체를 토출하는 구멍(6h)이 분산 배치되어 있다. 정밀 에어 부상 블록(6b)과 에어 부상 블록(6e)은, 도시하지 않은 예를 들면, 감압 밸브나 유량계 등의 제어 수단과 배관을 통하여, 압축기 등의 압력 기체 토출 수단에 접속되고, 각 구멍(6h)에 의해 정압(定壓)의 압력 기체를 토출 가능하게 되어 있다. 정밀 에어 부상 블록(6b)은, 에어 부상 블록(6e)에 비해 구멍(6h)이 조밀하게 배치된 것이나, 토출용의 구멍(6h) 외에 에어를 흡입하기 위한 배출용의 구멍을 형성하여, 에어 토출력(정압)과 에어 흡인력(부압(負壓))에 의해 기판(1)의 부상 높이를 고정밀도로 제어할 수 있는 것이면 된다.The air floating stage 6 is formed by arranging a plurality of rectangular air floating blocks 6e and precision air floating blocks 6b. Each air floating block 6e and the precision air floating block 6b are supported by the support frame 7a of the base part 7 so that each upper surface may form a horizontal surface. A plurality of precision air floating blocks 6b are connected to each other on both sides along the gap portion 6a serving as the inspection region (scan line of the objective lens) of the micro inspection unit 5. A plurality of air floating blocks 6e are disposed on both sides of the precision air floating block 6b at predetermined intervals along the conveyance direction (X direction) of the substrate 1. An opening 6f for discharging air is formed between the adjacent floating blocks 6e formed by providing the respective air floating blocks 6e at equal intervals. In the precision air floating block 6b and the air floating block 6e which form this air floating stage part 6, the hole 6h which discharges gas on the upper surface is distributedly arrange | positioned. The precision air flotation block 6b and the air flotation block 6e are connected to pressure gas discharge means such as a compressor through piping and control means such as a pressure reducing valve or a flow meter, which are not shown, and each hole ( By 6h), it is possible to discharge the pressure gas at a constant pressure. The precision air floating block 6b has a hole 6h disposed more densely than the air floating block 6e, but forms a hole for discharging air to suck air other than the discharge hole 6h. What is necessary is just to be able to control the floating height of the board | substrate 1 with high precision by a toe output (static pressure) and an air suction force (negative pressure).

제2 기판 반송 수단(8)은, 검사 스테이지(3)의 외부로부터 반입된 기판(1)의 배면을 지지하여 에어 부상 스테이지부(6)에 반입하는 회전 구동 가능한 회전체(8b)를 구비하고, 에어 부상 스테이지부(6)의 기판(1)의 반입 측으로 되는 한쪽의 단부(6c) 측과, 기판(1)의 반출 측으로 되는 다른 쪽의 단부(6d) 측에 배치된다. 각각의 제2 기판 반송 수단(8)은, 축선 O1이 기판(1)의 이동 방향(X 방향)에 직교하면서 X 방향으로 병렬 배치된 회전축(8a)과, 각 회전축(8a)에 환형으로 장착되는 복수개의 원판이나 볼 등의 회전체(8b)와, 회전축(8a)을 회전 구동시키는 예를 들면, 모터 등의 회전 구동 수단(8c)과, 각 회전축(8a)을 축지지하는 동시에, 회전체(3b)를 에어 부상 스테이지부(6)의 상면(반송면)에 대하여 출몰시키도록 상하 이동 가능하게 지지하는 축지지 부재(8d)와, 축지지 부재(8d)를 상하 이동시키는 상하 이동 구동 수단(8e)으로 구성되어 있다. 여기서, 회전 구동 수단(8c)과 상하 이동 구동 수단(8e)은, 구동부(8f)를 구성한다. 제2 기판 반송 수단(8)은, 에어 부상 스테이지부(6)의 기판 반입 측과 기판 반출 측의 단부에 3세트씩 배치하고 있지만, 기판(1)을 충분히 반송하는 구동력이 있으면 적어도 1세트면 된다. 또, 회전 구동 수단(8c)은, 후술하는 제1 기판 반송 수단(9)에 의해, 하류 측의 제조 라인에 배치된 반송용 롤러 컨베이어에 기판(1)의 일부를 송출할 수 있으면, 에어 부상 스테이지부(6)의 한쪽 단부에 배치해도 된다.The 2nd board | substrate conveying means 8 is equipped with the rotating body 8b which can drive the back of the board | substrate 1 carried in from the exterior of the test | inspection stage 3, and can carry it to the air floating stage part 6, and to carry it in. It is arrange | positioned at the one end part 6c side used as the carrying-in side of the board | substrate 1 of the air floating stage part 6, and the other end part 6d side used as the carrying-out side of the board | substrate 1. As shown in FIG. Each 2nd board | substrate conveying means 8 is annularly attached to the rotating shaft 8a arrange | positioned in parallel in the X direction, and the axis O1 is orthogonal to the moving direction (X direction) of the board | substrate 1, and is annularly attached to each rotating shaft 8a. For example, the rotary bodies 8b such as a plurality of discs and balls, and the rotary shaft 8a are driven to rotate, and for example, the rotary drive means 8c such as a motor and the respective rotary shafts 8a are axially supported. 8b of shaft support members which support the up-and-down movement so that the whole 3b may be raised with respect to the upper surface (conveying surface) of the air floating stage part 6, and the vertical movement drive which moves the shaft support member 8d up and down. It consists of the means 8e. Here, the rotation drive means 8c and the vertical movement drive means 8e constitute the drive part 8f. Although the 2nd board | substrate conveying means 8 is arrange | positioned three sets at the edge part of the board | substrate carrying-in side of the air floating stage part 6, and a board | substrate carrying out side, if there is a driving force to fully convey the board | substrate 1, at least 1 set surface do. Moreover, if the rotation drive means 8c can send a part of board | substrate 1 to the conveyance roller conveyor arrange | positioned by the 1st board | substrate conveyance means 9 mentioned later to the downstream manufacturing line, air floatation will occur. You may arrange | position to one edge part of the stage part 6.

회전축(8a)은, 에어 부상 스테이지부(6)의 양 외측편을 잇도록 연장되어 있고, 한쪽의 단부가 회전 구동 수단(8c)에 연결되어 있다. 이 회전축(8a)은, 한쪽의 단부로부터 다른 쪽의 단부까지의 사이에서 복수개의 베어링부(8j)에 의해 회전 가능하게 지지되어 있다.The rotating shaft 8a is extended so that the outer side of the air floating stage part 6 may be connected, and one end part is connected to the rotation drive means 8c. This rotating shaft 8a is rotatably supported by the several bearing part 8j between one edge part and the other edge part.

회전체(8b)는, 예를 들면, 폴리에테르 에테르 케톤(Poly Ether Ether Ketone, PEEK), 폴리이미드(Polyimide, PI) 수지 등의 내마모성 수지에 의해 링형으로 형성되어 있고, 이 외주면(8g)에는, 적당한 탄성과, 기판(1)에 대하여 적당한 서로 대향하도록 마찰 계수를 가지는 예를 들면, 실리콘 고무(Si) 등이 피복되어 있다.The rotating body 8b is formed in a ring shape by wear resistance resins, such as polyether ether ketone (PEEK) and polyimide (PI) resin, for example, and is formed in the outer peripheral surface 8g. For example, silicone rubber (Si) or the like having a moderate elasticity and a coefficient of friction so as to face each other with respect to the substrate 1 is coated.

1개의 회전축(8a)에는, 5개의 회전체(8b)가 나사 등에 의해 고정되고, 이들 회전체(8b)는, 에어 부상 스테이지부(6)의 개구부(6f)에 위치한다. 이 때, 3개의 회전축(8a)이 X 방향으로 병렬 배치되어 있으므로, 에어 부상 스테이지부(6)의 각 개구부(6f)와 에어 부상 스테이지부의 양쪽에는 X 방향으로 3개의 회전체가 병렬 배치되어 있다.Five rotary bodies 8b are fixed to one rotary shaft 8a by screws or the like, and these rotary bodies 8b are located in the opening 6f of the air floating stage 6. At this time, since the three rotation shafts 8a are arranged in parallel in the X direction, three rotation bodies are arranged in parallel in each of the openings 6f of the air floating stage 6 and the air floating stage. .

축지지 부재(8d)는, 평판형의 지지 프레임(8h)과, 지지 프레임부(8h)의 상 면(8i)으로부터 수직으로 돌출된 베어링부(8j)로 구성된다. 지지 프레임부(8h)의 단부는 회전 구동 수단(8c)과 함께 구동부(8f)에 저장된 상하 이동 구동 수단(8e)에 지지되어 있다. 베어링부(8j)는, 지지 프레임부(8h)의 상면(8i)에 회전축(8a)의 축선 O1과 직교하는 방향으로 돌출되어 있고, 회전축(8a)의 축선 O1에 따라 회 전축(8a)을 바람직하게 지지할 수 있는 적당한 간격을 가지면서 복수개 배치되어 있다. 베어링부(8j)의 회전축(8a)이 맞닿는 부분에는, 회전축(8a)의 원기둥 형상으로 걸어맞추어지는 반원 형상의 요부(8k)가 형성되어 있고, 이 반원 형상의 요부(8k)에 있어서 회전축(8a)이 회전 가능하게 지지되어 있다. 또, 베어링부(8j)의 선단에 회전축(8a)을 회전 가능하게 지지하는 베어링 부재로서 베어링을 설치하면, 회전축(8a)의 흔들림을 방지할 수 있어 바람직하다.The shaft support member 8d is comprised from the flat support frame 8h and the bearing part 8j which protruded perpendicularly from the upper surface 8i of the support frame part 8h. The end of the supporting frame portion 8h is supported by the vertical movement driving means 8e stored in the driving portion 8f together with the rotation driving means 8c. The bearing part 8j protrudes in the direction orthogonal to the axis line O1 of the rotating shaft 8a on the upper surface 8i of the support frame part 8h, and rotates the rotating shaft 8a along the axis line O1 of the rotating shaft 8a. It is preferably arranged in plural with appropriate intervals that can be supported. The semicircular recessed part 8k which engages in the cylinder shape of the rotating shaft 8a in the part which the rotating shaft 8a of the bearing part 8j abuts is formed, and in this semi-circular recessed part 8k, the rotating shaft ( 8a) is rotatably supported. Moreover, when a bearing is provided as a bearing member which rotatably supports the rotating shaft 8a at the front-end | tip of the bearing part 8j, the shake of the rotating shaft 8a can be prevented and it is preferable.

구동부(8f)는, 회전 구동 수단(8c)과 상하 이동 구동 수단(8e)이, 회전축(8a)의 회전 및 지지 프레임부(8h)의 상하 이동을 가능하게 하면서 1개의 상자체(81)에 저장되고, 에어 부상 스테이지부(6)의 외측편의 베이스부(7)에 설치되어 있다. 상하 구동 수단(8c)은, 지지 프레임부(8h)의 양단에 설치해도 된다.The drive part 8f is provided to one box 81 while the rotation drive means 8c and the vertical movement drive means 8e enable the rotation of the rotation shaft 8a and the vertical movement of the support frame part 8h. It is stored and provided in the base part 7 of the outer side of the air floating stage part 6. The vertical drive means 8c may be provided at both ends of the support frame portion 8h.

제1 기판 반송 수단(9)은, 도 2 내지 도 4에 나타낸 바와 같이, 베이스부(7)에 설치된 2조의 궤도부(9a)와, 직사각형 판형의 지지판부(9b)와, 지지판부(9b)와 궤도부(9a)를 접속하고, 궤도부(9a)에 따라 자주(自走) 가능한 리니어 모터 등의 슬라이드부(9c)와, 지지판부(9b)의 상면(9d)에 대하여 수직으로 돌출되고, 궤도 방향으로 선형 배열된 3개의 직사각형 판형의 지지부(9e)와, 각각의 지지부(9e)의 측면에 상하 이동 가능하게 지지된 직사각형 상자형의 지지부(9h)와, 지지부(9h)의 상면(9f)에 길이 방향으로 선형 배열된 복수개의 흡착부(9k)로 구성되어 있다. 원통 부재(9g)와 흡착 패드(9j)는 흡착부(9k)를 구성한다. 또한, 지지부(9h)에는, 진공 흡인 및 부압(負壓) 개방 가능한 적합한 수단이 구비되어, 진공 흡인을 행함으로써 기판(1)의 배면에 흡착부(9)의 흡착 패드(9j)가 흡착되어, 기판(1)을 기준의 부상 높이로 되도록 하강시킨다.As shown in FIGS. 2-4, the 1st board | substrate conveying means 9 is a pair of track | orbit part 9a provided in the base part 7, the rectangular plate-shaped support plate part 9b, and the support plate part 9b. ) And the track portion 9a are connected, and protrude perpendicularly to the slide portion 9c such as a linear motor, which is self-supporting along the track portion 9a, and the upper surface 9d of the support plate portion 9b. And three rectangular plate-like supports 9e linearly arranged in the orbital direction, rectangular box-shaped supports 9h supported on the side surfaces of the respective supports 9e so as to be movable upward and downward, and upper surfaces of the supports 9h. It consists of several adsorption part 9k linearly arranged in the longitudinal direction at 9f. The cylindrical member 9g and the suction pad 9j constitute the suction part 9k. Moreover, the support part 9h is equipped with the suitable means which can open | release vacuum suction and a negative pressure, and the suction pad 9j of the suction part 9 is adsorb | sucked to the back surface of the board | substrate 1 by performing vacuum suction. , The substrate 1 is lowered to a reference floating height.

이 구성에 있어서는, 흡착 패드(9j)의 위쪽에 배치된 기판(1)에, 흡착 패드(9j)를 접촉시키고, 흡착부(9k)에 의해 진공 흡인함으로써, 흡착 패드(9j)가 부압 상태로 되어 기판(1)의 하면(1b)에 흡착되어, 기판(1)이 제대로 유지된다. 상기 제1 기판 반송 수단(9)은, 궤도부(9a) 상을 적합한 수단에 의해 이동시킴으로써 기판(1)을 1축 방향(X 방향)으로 정속으로 이동시키는 것이 가능하다. 지지부(9h)는, 상하 이동 가능하게 지지되어 있으므로, 기판(1)이 반입되었을 때, 지지부(9h)를 상승시켜 기판(1)을 흡착 패드(9j) 상에 지지시킨다.In this configuration, the adsorption pad 9j is brought to a negative pressure state by bringing the adsorption pad 9j into contact with the substrate 1 disposed above the adsorption pad 9j and vacuum suction by the adsorption portion 9k. As a result, the substrate 1 is attracted to the lower surface 1b of the substrate 1 and the substrate 1 is properly held. The said 1st board | substrate conveyance means 9 can move the board | substrate 1 in a uniaxial direction (X direction) by moving a top of the track | orbit part 9a by a suitable means. Since the support part 9h is supported so that it can move up and down, when the board | substrate 1 is carried in, the support part 9h is raised and the board | substrate 1 is supported on the suction pad 9j.

이로써, 에어 부상한 기판(1)은, 흡착 패드(9j)와의 작은 마찰력에 의해 기판(1)이 에어 부상 스테이지부(6) 상에 정지하고, 위치 결정 기구(10)에 의해 안전하게 위치 결정할 수 있다. 또, 기판(1)을 반입 또는 반출할 때, 지지부(9h)로부터 하강시켜 기판(1)으로부터 흡착 패드(9j)를 이격시킴으로써, 기판(1)과 흡착 패드(9j) 사이의 마찰력이 작아지므로, 기판(1)을 제1 기판 반송 수단(9)에 의해 반송 방향을 향해 곧게 반입·반출할 수 있다.Thereby, the board | substrate 1 which floated air, the board | substrate 1 stops on the air floatation stage part 6 by a small friction force with the suction pad 9j, and can position it safely by the positioning mechanism 10. have. Moreover, when carrying in or carrying out the board | substrate 1, by lowering from the support part 9h and separating the adsorption pad 9j from the board | substrate 1, the frictional force between the board | substrate 1 and the adsorption pad 9j becomes small. The board | substrate 1 can be carried in and carried out straight to a conveyance direction by the 1st board | substrate conveyance means 9 ,.

위치 결정 기구(10)는, 도 2에 나타낸 바와 같이, 외주면(10a)이 유리보다 부드러운 내마모성 수지로 피복된 기준핀(10b)과, 내마모성 수지로 피복된 원기둥 형의 접촉부(10c)를 기판(1) 측으로 이동 가능하게 하는 예를 들면, 에어 실린더 등의 도시하지 않은 이동 수단을 가지는 가압핀(10e)으로 구성되어 있다. 기판(1)의 단부(1e)에 접촉 가능한 위치에 배치된 한쌍의 기준핀(10b)은, 상하 방향으로 출몰 가능하게 설치되고, 기판(1)이 반입될 때 에어 부상 스테이지(6)부의 상면보다 높게 상승하고, 위치 결정 후에 에어 부상 스테이지부(6)의 상면보다 아래쪽으로 하강하도록 되어 있다. 다른 한쌍의 기준핀(10b)은, 기판(1)의 단부(1d)를 접촉할 수 있는 위치에 설치되고, 한쌍의 가압핀(10e)은, 기판(1)의 단부(1c)에 따르는 지지부(9e) 사이에 설치되어 있다.As shown in FIG. 2, the positioning mechanism 10 includes a reference pin 10b coated with a wear resistant resin whose outer circumferential surface 10a is softer than glass, and a cylindrical contact portion 10c coated with a wear resistant resin. For example, it is comprised by the pressing pin 10e which has a movement means which is not shown in figure, such as an air cylinder. The pair of reference pins 10b disposed at positions in contact with the end portion 1e of the substrate 1 are provided so as to be sunk in the vertical direction, and the upper surface of the air floating stage 6 when the substrate 1 is carried in. It rises higher and lowers below the upper surface of the air floating stage part 6 after positioning. The other pair of reference pins 10b are provided at positions where the end portions 1d of the substrate 1 can be contacted, and the pair of pressing pins 10e support portions along the end portions 1c of the substrate 1. It is provided between 9e.

그 다음에, 상기의 구성으로 이루어지는 기판 검사 장치 A를 이용하여 기판(1)의 검사를 행하는 스텝에 대하여, 도 1 내지 도 5를 참조하여 설명한다.Next, the step of inspecting the board | substrate 1 using the board | substrate test | inspection apparatus A which consists of said structure is demonstrated with reference to FIGS.

처음에, 반입 측에 배치된 제2 기판 반송 수단(8)의 지지 프레임부(8h)를 상하 이동 구동 수단(8e)에 의해 상승시켜, 회전축(8a)에 고정된 회전체(8b)의 일부가, 에어 부상 스테이지부(6)의 상면보다 위쪽으로 돌출하도록 조정한다.Initially, the support frame part 8h of the 2nd board | substrate conveying means 8 arrange | positioned at the carrying-in side is raised by the vertical movement drive means 8e, and a part of the rotating body 8b fixed to the rotating shaft 8a is carried out. Adjust so as to protrude upward from the upper surface of the air floating stage 6.

그 다음에, 에어 부상 스테이지부(6)의 구멍(6h)으로부터 압력 기체를 토출시킨 상태로, 기판 검사 장치 A 외의 상류에 배치된 반송용 롤러 컨베이어에 의해 기판(1)을 반입한다. 이 기판(1)의 반입시에, 구동부(8f)의 상하 이동 구동 수단(8e)를 구동시켜 제2 기판 반송 수단(8)을 상승시켜, 에어 부상 스테이지부(6)의 한쪽의 단부(6c) 측에 위치하는 제2 기판 반송 수단(8)의 회전체(8b)를 에어 부상 스테이지부(6)의 상면보다 위쪽으로 돌출시킨다. 이 상태에서, 상류 측에 배치된 롤러 컨베이어에 동기시켜 회전축(8a)을 회전 구동 수단(8c)에 의해 회전시킴으로 써, 상류 측에 배치된 롤러 컨베이어에 의해 보내져 온 기판(1)의 일부가 에어 부상 스테이지부(6)의 내측으로 반송된다. 이 때, 상류의 롤러 컨베이어의 회전에 동기시켜 회전축(8a)을 회전 구동 수단(8c)에 의해 회전시킴으로써, 롤러 컨베이어와 제2 기판 반송 수단(8)에 의해 기판(1)이 에어 부상 스테이지부(6) 내에 반입된다. 기판(1)이 에어 부상 스테이지부(6) 상에 모두 반입되는 동시에, 제2 기판 반송 수단(8)의 회전 구동 수단(8c)을 정지한다. 이 때, 기판(1)의 후단부는, 제2 기판 반송 수단(8)의 각 회전체(8b)와의 마찰력에 의해 에어 부상 스테이지부(8) 상에 구속된 상태로 된다. 이 구속 상태로, 제1 기판 반송 수단(9)의 지지부(9h)를 상승시켜, 흡착부(9k)의 흡착 패드(9j)를 기판(1)의 배면(1b)에 접촉시킴으로써, 에어 부상 스테이지부(6) 상에 부상한 기판(1)은, 흡착 패드(9j)에 의해 구속 되게 된다. 이 때, 기판(1)은, 에어 부상 스테이지부(6) 상에 부상하지만, 제1 기판 반송 수단(9)의 흡착 패드(9j)와의 마찰력에 의해 기판(1)이 구속되므로 에어 부상 스테이지부(6) 상을 이동하지 않고 정지한다. 이 후, 상하 이동 구동 수단(8e)에 의해 회전체(8b)를 에어 부상 스테이지부(6)의 상면보다 하방의 위치까지 하강시켜 대기시킨다. 여기서, 예를 들면 도 1에 나타낸 기판 검사 장치 A를 기판(1)의 제조 라인 내에 설치하는 경우에는, 기판 검사 장치 A에 연결되는 반송용 롤러 컨베이어와 제2 반송 수단(8)의 회전축(8a)의 회전 속도를 동기시킨다. 이로써, 반송용 롤러 비교에 의해 반송되어 온 기판(1)의 선단부(1e)가 그대로 회전체(8b)에 바꿔타므로, 회전체(8b)의 회전에 의해 에어 부상 스테이지부(6) 내에 기판(1)을 반입할 수 있다.Next, the board | substrate 1 is carried in by the conveyance roller conveyor arrange | positioned upstream of the board | substrate inspection apparatus A in the state which discharged the pressure gas from the hole 6h of the air floating stage part 6. At the time of carrying in this board | substrate 1, the vertical movement drive means 8e of the drive part 8f is driven, the 2nd board | substrate conveyance means 8 is raised, and one edge part 6c of the air floating stage part 6 is carried out. The rotating body 8b of the 2nd board | substrate conveying means 8 located in the side of side) is projected upward rather than the upper surface of the air floating stage part 6. In this state, by rotating the rotating shaft 8a by the rotation drive means 8c in synchronization with the roller conveyor disposed on the upstream side, a part of the substrate 1 sent by the roller conveyor disposed on the upstream side is air It is conveyed inside the floating stage part 6. At this time, by rotating the rotary shaft 8a by the rotation drive means 8c in synchronization with the rotation of the upstream roller conveyor, the substrate 1 is moved by the roller conveyor and the second substrate transfer means 8 to raise the air floating stage. It is carried in in (6). The board | substrate 1 is carried in all on the air floating stage part 6, and the rotation drive means 8c of the 2nd board | substrate conveyance means 8 is stopped. At this time, the rear end part of the board | substrate 1 will be in the state restrained on the air floating stage part 8 by the frictional force with each rotating body 8b of the 2nd board | substrate conveying means 8. In this confined state, the support portion 9h of the first substrate transfer means 9 is raised to bring the suction pad 9j of the suction portion 9k into contact with the rear surface 1b of the substrate 1, thereby causing the air floating stage. The board | substrate 1 which floated on the part 6 is restrained by the adsorption pad 9j. At this time, the substrate 1 floats on the air floating stage part 6, but the air floating stage part is restrained because the substrate 1 is constrained by the frictional force with the suction pad 9j of the first substrate transfer means 9. (6) Stop without moving the phase. Thereafter, the rotating body 8b is lowered to a position below the upper surface of the air floating stage 6 by the vertical movement driving means 8e, and allowed to stand by. Here, for example, when installing the board | substrate test | inspection apparatus A shown in FIG. 1 in the manufacturing line of the board | substrate 1, the rotating shaft 8a of the conveyance roller conveyor and the 2nd conveying means 8 connected to the board | substrate inspection apparatus A will be described. Synchronize the rotation speed of). Thereby, since the front-end | tip part 1e of the board | substrate 1 conveyed by the conveyance roller comparison is replaced with the rotating body 8b as it is, the board | substrate in the air floating stage part 6 by rotation of the rotating body 8b. We can bring in (1).

그 다음에, 도 2에 나타낸 위치 결정 기구(10)의 기준핀(10b)이 기판(1)의 수평 위치에 배치되도록, 위치 결정 기구(10)를 상승시키는 동시에, 가압핀(10e)을 수평 이동시키고, 기판(1)의 원점 좌표 취득이 가능한 기준 위치에 기판(1)을 위치결정한다.Next, while raising the positioning mechanism 10 so that the reference pin 10b of the positioning mechanism 10 shown in FIG. 2 is arrange | positioned in the horizontal position of the board | substrate 1, the pressing pin 10e is leveled out. It moves and positions the board | substrate 1 in the reference position which can acquire the origin coordinate of the board | substrate 1. As shown in FIG.

이 위치 결정 후, 진공 흡인을 개시하고, 제1 기판 반송부(9)의 흡착 패드(9j)로부터 기판(1)을 흡착 지지시킨다. 기판(1)이 제대로 흡착 지지된 단계에서, 위치 결정 기구(10)의 기준핀(10b)과 가압핀(10e)이 원래의 위치로 되돌려져 기판(1)을 해리(解離)시킨다. 이로써, 압력 기체의 토출에 의해 부상한 기판(1)은, 흡착 패드(9j)에 단부가 지지되고 수평 지지된 상태로 된다. 여기서, 위치 결정 기구(10)는, 기판(1) 검사의 지장이 되지 않는 소정의 위치로 이동되어, 이 단계에서, 기판(1)의 원점 좌표 취득이 행해진다.After this positioning, vacuum suction is started, and the substrate 1 is suction-supported from the suction pad 9j of the first substrate transfer unit 9. In the stage where the substrate 1 is properly adsorbed and supported, the reference pin 10b and the pressing pin 10e of the positioning mechanism 10 are returned to their original positions to dissociate the substrate 1. Thereby, the edge part of the board | substrate 1 which floated by discharge of pressure gas is supported by the suction pad 9j, and is horizontally supported. Here, the positioning mechanism 10 moves to the predetermined position which does not interfere with the inspection of the board | substrate 1, and the origin coordinate acquisition of the board | substrate 1 is performed in this step.

그 다음에, 도 1에 나타낸 매크로 검사부(4)의 조명부(4b)에 의해 기판(1)의 표면(1a)에 입사각 θ1로 선형의 광속(조명광)을 조사하면서, 기판(1)을 지지한 제1 기판 반송 수단(9)을 궤도부(9a) 상에서, 일정 속도로 이동한다. 제1 기판 반송 수단(9)에 종동(從動)되는 기판(1)의 표면(1a)에 조명광이 조사되고, 표면(1a)으로부터 반사각 θ2로 반사되는 반사광을, 미러(4d)에 의해 수평 방향으로 편향되면서 촬상부(4f)에 입력한다. 제1 기판 반송부(9)에 의해 기판(1)이 X 방향으로 일정 속도로 이동되고 있으므로, 촬상부(4f)에 의해 차례로 기판(1)의 표면(1a)의 화상을 받아들일 수 있고, 받아들여진 화상을 처리함으로써 기판(1) 전체 표면(1a)의 결함의 유무가 검사된다. 또, 기판(1)의 원점 좌표를 기초로, 결함의 위치 좌표가 취득된다.Subsequently, the substrate 1 was supported while irradiating a linear luminous flux (illuminated light) at the incident angle θ1 on the surface 1a of the substrate 1 by the illumination unit 4b of the macro inspection unit 4 shown in FIG. 1. The 1st board | substrate conveying means 9 moves on the track | orbit part 9a at a constant speed. Illumination light is irradiated to the surface 1a of the board | substrate 1 driven by the 1st board | substrate conveying means 9, and the reflected light reflected by the reflection angle (theta) 2 from the surface 1a is horizontally mirrored. Direction is input to the imaging section 4f. Since the board | substrate 1 is moving by the 1st board | substrate conveyance part 9 at a constant speed in the X direction, the image part 4f can receive the image of the surface 1a of the board | substrate 1 in order, By processing the received image, the presence or absence of a defect of the entire surface 1a of the substrate 1 is inspected. Moreover, the position coordinate of a defect is acquired based on the origin coordinate of the board | substrate 1.

제1 반송부(9)는, 매크로 검사부(4)에서 검출된 기판(1)의 표면(1a)의 결함이, 에어 부상 스테이지부(6)의 간극부(6a)와 중첩되도록 결함의 위치 좌표에 따라 기판(1)을 이동시킨다.The 1st conveyance part 9 is a position coordinate of a defect so that the defect of the surface 1a of the board | substrate 1 detected by the macro inspection part 4 may overlap with the clearance part 6a of the air floating stage part 6. The substrate 1 is moved accordingly.

다음에, 마이크로 검사부(5)는, 현미경부(5a)를 결함을 관찰할 수 있는 위치로 이동시키고, 투과 조명부(5c)에 의해 간극부(6a)에 위치하는 기판(1)의 배면 측으로부터 조명광을 조사한다. 그리고, 현미경부(5a)에 의해 결함의 확대 화상에 의한 상세 관찰을 한다.Next, the micro-inspection part 5 moves the microscope part 5a to the position which can observe a defect, and from the back side of the board | substrate 1 located in the clearance part 6a by the transmission illumination part 5c. Irradiate the illumination light. And the detailed observation by the enlarged image of a defect is performed by the microscope part 5a.

상세 관찰을 끝낸 단계에서, 에어 부상 스테이지부(6)의 다른 쪽의 단부(6d)에 설치된 제2 기판 반송 수단(8)의 상하 이동 구동 수단(8e)을 상승시켜, 회전체(8b)의 일부를 에어 부상 스테이지부(6)의 상면보다 위쪽으로 돌출시키고. 그 다음에, 제1 기판 반송 수단(9)에 의해 지지된 기판(1)의 선단부(1e)가 회전체(8b) 상에 맞닿는 위치까지 반송되고, 흡착 패드(9j)의 부압 개방을 행하고, 흡착 패드(9j)로부터 기판(1)을 해리시킨다.In the step of completing the detailed observation, the vertical movement driving means 8e of the second substrate transfer means 8 provided at the other end 6d of the air floating stage part 6 is raised to raise the rotating body 8b. A part is projected upward from the upper surface of the air floating stage part (6). Next, the tip 1e of the substrate 1 supported by the first substrate transfer means 9 is conveyed to a position where the front end portion 1e abuts on the rotating body 8b, and the negative pressure release of the suction pad 9j is performed. The substrate 1 is dissociated from the suction pad 9j.

최후에, 제2 기판 반송 수단(8)의 회전축(8a)을 회전 구동 수단(8c)에 의해 회전시키고, 기판(1)을 기판 검사 장치 A 밖으로 반출한다. 이 일련의, 기판(1)의 반입으로부터 검사, 반출까지의 조작이 기판 검사 장치 A에서 자동으로 행해진다.Finally, the rotating shaft 8a of the 2nd board | substrate conveying means 8 is rotated by the rotation drive means 8c, and the board | substrate 1 is carried out out of the board | substrate inspection apparatus A. As shown in FIG. This series of operations from carrying in of the board | substrate 1 to inspection and carrying out are automatically performed by the board | substrate test | inspection apparatus A. FIG.

따라서, 상기의 구성으로 이루어지는 기판 검사 장치 A에 있어서는, 에어 부상 스테이지부(6)의 한쪽의 단부(6c) 측에 설치된 제2 기판 반송 수단(8)에 의해, 기판(1)을 에어 부상 스테이지부(6) 내에 반입할 수 있다. 이 때, 제2 기판 반송 수단(8)의 회전체(8b)의 일부가 에어 부상 스테이지부(6)의 상면이 형성하는 수평면보다 위쪽으로 돌출되도록 상하 이동 구동 수단(8e)에 의해 조정할 수 있으므로, 에어 부상 스테이지부(6)에 의해 부상한 기판(1)을 제2 기판 반송 수단(8)의 회전체(8b)의 마찰력에 의해 구속한 상태로 확실하게 기판(1)을 에어 부상 스테이지부(6) 내에 반입할 수 있다. 또, 에어 부상 스테이지부(6) 상에 반송된 기판(1)은, 구멍(6h)으로부터 토출되는 압력 기체에 의해 부상되는 동시에, 기판(1)의 한 변(1c)이 제1 기판 반송 수단(9)의 흡착 패드(9j)의 마찰력에 의해 구속된 상태로 위치 결정 기구(10)에 의해 기준 위치에 확실하게 위치결정할 수 있다. 또한, 검사를 끝낸 기판(1)은, 제1 기판 반송 수단(9)에 의해, 에어 부상 스테이지부(6)의 다른 쪽의 단부(6d) 측에 설치된 제2 기판 반송 수단(8)의 회전체(8b)에 맞닿는 위치까지 반송할 수 있고, 이 제2 기판 반송 수단(8)에 의해, 기판(1)을 기판 검사 장치 A 밖으로 반출할 수 있다. 이 때, 상하 이동 구동 수단(8e)에 의해 회전체(8b)의 위치를 조정할 수 있으므로, 부상한 상태의 기판(1)을 확실하게 기판 검사 장치 A 밖으로 반출할 수 있다.Therefore, in the board | substrate test | inspection apparatus A which consists of said structure, the board | substrate 1 is air-lifted stage by the 2nd board | substrate conveyance means 8 provided in the one edge part 6c side of the air floatation stage part 6. It can carry in in the part 6. At this time, since a part of the rotating body 8b of the 2nd board | substrate conveying means 8 can be adjusted by the up-down movement drive means 8e so that it may protrude upward rather than the horizontal surface which the upper surface of the air floating stage part 6 forms. The airborne stage portion is reliably secured in a state in which the substrate 1 floated by the air floating stage portion 6 is restrained by the frictional force of the rotating body 8b of the second substrate transfer means 8. It can carry in in (6). Moreover, the board | substrate 1 conveyed on the air floating stage part 6 is floated by the pressure gas discharged | emitted from the hole 6h, and one side 1c of the board | substrate 1 is a 1st board | substrate conveying means. The positioning mechanism 10 can reliably position the reference position in a state constrained by the frictional force of the suction pad 9j of (9). In addition, the board | substrate 1 which finished the inspection of the board | substrate 1 of the 2nd board | substrate conveying means 8 provided in the other end 6d side of the air floating stage part 6 by the 1st board | substrate conveying means 9 is carried out. It can convey to the position which contacts the whole 8b, and can carry out the board | substrate 1 out of the board | substrate inspection apparatus A by this 2nd board | substrate conveying means 8. At this time, since the position of the rotating body 8b can be adjusted by the up-and-down movement drive means 8e, the board | substrate 1 of a floating state can be taken out outside the board | substrate inspection apparatus A reliably.

이로써, 상기의 구성으로 이루어지는 기판 검사 장치 A에 있어서는, 에어 부상 스테이지부(6)의 한쪽의 단부(6c)로부터 다른 쪽의 단부(6d)까지의 범위 내에서, 기판 검사 장치 A 스스로 기판(1)을 에어 부상 스테이지부(6) 내에 반입 및 에어 부상 스테이지부(6) 내로부터 반출시킬 수 있다.Thereby, in the board | substrate test | inspection apparatus A which consists of said structure, the board | substrate test apparatus A itself board | substrate 1 within the range from one edge part 6c of the air floating stage part 6 to the other edge part 6d. ) Can be carried in and out of the air floating stage 6.

따라서, 상기의 구성으로 이루어지는 기판 검사 장치 A에 의하면, 검사 스테이지(3)의 기어 부상 스테이지부(6)에 제2 기판 반송 수단(8)을 일체로 내장하고, 제2 기판 반송 수단(8)의 회전체(8b)를 에어 부상 스테이지(6)의 반송면에 대하여 출몰 가능하게 설치함으로써, 기판 검사 장치 A로서 기판(1)을 부상시켜 수평 지지하는 에어 부상 스테이지부(6)의 양측에, 별도 롤러 컨베이어 스테이지를 설치할 필요가 없어, 기판 검사 장치 A의 소형화를 도모할 수 있다. 또, 기판 검사 장치 A를 제조 라인의 롤러 컨베이어의 반송로의 도중에 배치하는 것이 가능해지므로, 종래와 같이 기판 검사 장치 A로부터 기판(1)을 반출하는 경우에 사용되는 반송 로봇을 필요로 하지 않아, 검사에 필요한 스페이스의 공간 절약화를 도모할 수 있다. 또한, 기판 검사 장치 A가 소형화되어 스스로 기판(1)의 반입, 반출이 가능하게 됨으로써, 제조 라인의 기존의 반송 장치 등의 사이에 기판 검사 장치 A를 그대로 직렬 배치하여 사용하는 것이 가능해져, 기존의 반송 장치가 점유하는 스페이스에서 검사를 행할 수 있다.Therefore, according to the board | substrate test | inspection apparatus A which consists of said structure, the 2nd board | substrate conveying means 8 is integrally integrated in the gear floating stage part 6 of the test | inspection stage 3, and the 2nd board | substrate conveying means 8 is carried out. The rotatable body 8b of the air floating stage 6 is mounted on the conveying surface of the air floating stage 6 so that the rotating body 8b is floated on both sides of the air floating stage 6 to lift and horizontally support the substrate 1 as the substrate inspection apparatus A. There is no need to provide a roller conveyor stage separately, and the board | substrate inspection apparatus A can be miniaturized. Moreover, since it becomes possible to arrange | position the board | substrate inspection apparatus A in the middle of the conveyance path of the roller conveyor of a manufacturing line, it does not require the conveyance robot used when carrying out the board | substrate 1 from the board | substrate inspection apparatus A like conventionally, The space required for inspection can be saved. Moreover, since the board | substrate test | inspection apparatus A becomes small and it is possible to carry in and carry out the board | substrate 1 by itself, it becomes possible to arrange | position and use the board | substrate test apparatus A as it is in series between existing conveying apparatuses, etc. of a manufacturing line, and The inspection can be performed in the space occupied by the conveying device.

그리고, 본 발명은 상기한 일실시예에 한정되지 않고, 그 취지를 벗어나지 않는 범위에서 적당히 변경 가능하다.Incidentally, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and may be appropriately changed within a range without departing from the spirit thereof.

예를 들면, 제2 기판 반송 수단(8)은, 에어 부상 스테이지부(6)의 한쪽의 단부(6c) 측과 다른 쪽의 단부(6d) 측에 설치되는 것으로 하였으나, 이에 한정되지 않고, 어느 한쪽에 설치되어도 되고, 그 설치 위치나 설치수가 한정되는 것은 아니다.For example, although the 2nd board | substrate conveying means 8 is supposed to be provided in one end 6c side and the other end 6d side of the air floating stage part 6, it is not limited to this, either It may be provided in one side, and the installation position and the installation number are not limited.

또, 회전축(8a)은 3개 설치되는 것으로 하였으나, 적어도 1개의 회전축(8a)이 설치되어 있으면 되는 것이다.In addition, although three rotation shafts 8a are provided, at least one rotation shaft 8a should just be provided.

또한, 회전축(8a)에 환형 장착되는 회전체(8b)는, 플라스틱제의 링형으로 형 성되고, 그 외주면(8g)에 적당한 탄성과 적당한 서로 대향하도록 마찰 계수를 가지는 실리콘 고무 등이 피복되는 것으로 하였으나, 기판에 맞닿고, 기판(1)을 반송 가능하도록, 예를 들면, 외주면(8g)에 요철(凹凸) 형상이 형성되어 있어도 되는 것이며, 특히 재질이나 외주면의 형상이 한정되는 것은 아니다.In addition, the rotating body 8b annularly mounted to the rotating shaft 8a is formed in a ring shape made of plastic, and the outer circumferential surface 8g is coated with silicone rubber having a coefficient of friction and the like so as to oppose each other with appropriate elasticity. However, for example, an uneven shape may be formed on the outer circumferential surface 8g so that the substrate 1 can be brought into contact with the substrate, and the shape of the material or the outer circumferential surface is not particularly limited.

또, 제2 기판 반송 수단(8)은, 회전 구동 수단(8c)과 상하 이동 구동 수단(8e)을 1개의 케이싱(81)에 저장하여 구동부(8f)로 하고, 또한 회전축(8a)이나 지지 프레임부(8h)를 이 구동부(8f)에 의해 지지하는 것으로 하였으나, 이에 한정되지 않고, 회전체(8b)가 회전되고, 이 회전체(8b)와 맞닿는 기판(1)이 반송 가능하게 되면 되는 것이므로, 회전축(8a)의 지지 방법이나 회전 구동 수단(8c)의 설치 위치가 한정되는 것은 아니다.Moreover, the 2nd board | substrate conveying means 8 stores the rotation drive means 8c and the vertical movement drive means 8e in one casing 81, and makes it the drive part 8f, and also the rotation shaft 8a and the support Although the frame part 8h is supported by this drive part 8f, it is not limited to this, The rotating body 8b rotates and the board | substrate 1 which contacts this rotating body 8b should be able to be conveyed. Therefore, the supporting method of the rotation shaft 8a and the installation position of the rotation drive means 8c are not limited.

또한, 1개의 제2 기판 반송 수단(8)이 구비하는 3개의 회전축(8a)에는, 각각 회전 구동 수단(8c)이 접속되어 있는 것으로 하였으나, 예를 들면, 도 6에 나타낸 바와 같이 1개의 회전축(8a)에 회전 구동 수단을 접속하고, 그 외의 회전축(8a)은 예를 들면, 회전축(8a)에 벨트(8m) 등을 감아 돌려, 1개의 회전축(8a)의 회전력을 다른 회전축(8a)에 전달시켜 모든 회전축(8a)을 회전시켜도 된다.In addition, although the rotation drive means 8c was respectively connected to the three rotation shafts 8a with which the one 2nd board | substrate conveyance means 8 is equipped, for example, one rotation shaft as shown in FIG. The rotation drive means is connected to 8a, and the other rotation shaft 8a winds the belt 8m etc. to the rotation shaft 8a, for example, and rotates the rotational force of one rotation shaft 8a by another rotation shaft 8a. All the rotating shafts 8a may be rotated.

또, 상기 에어 부상 스테이지부(6)는, 직사각형으로 형성된 에어 부상 블록(6e)에 한정되는 것이 아니고, 기판(1)을 반송하는 반송면 전체에 기판(1)을 부상시키는 기체를 토출하는 구멍(6h)를 분산 배치하고, 이 반송면에 회전체(8b)를 출몰시키는 개구를 복수개 형성하고, 이 개구를 통해 회전체(8b)를 상기 반송면으로부터 돌출하도록 해도 된다.In addition, the air floating stage 6 is not limited to the air floating block 6e formed in a rectangular shape, but is a hole for discharging the gas that floats the substrate 1 to the entire transport surface for carrying the substrate 1. 6h may be arrange | positioned by dispersion | distribution, and you may provide a some opening which makes the rotating body 8b project on this conveyance surface, and may make the rotating body 8b protrude from the said conveyance surface through this opening.

또, 제2 기판 반송 수단(8)의 회전체(8b)는, 그 일부를 에어 부상 스테이지부(6)의 기판(1) 측의 상면보다 위쪽에 위치시킬 때, 상하 이동 구동 수단(8e)에 의해 회전체(8b)를 상하 이동시키는 것으로 하였으나, 이에 한정되지 않고, 에어 부상 스테이지부(6)의 상면에 대하여 상대적으로 상하 이동되어 회전체(8b)의 일부가 상면보다 위쪽으로 돌출되면 되므로, 회전체(8b)를 고정하고, 에어 부상 스테이지부(6)를 상하 이동시켜도 된다.Moreover, when the rotating body 8b of the 2nd board | substrate conveying means 8 places a part of it above the upper surface of the board | substrate 1 side of the air floating stage part 6, the vertical movement drive means 8e. By moving the rotary body 8b up and down by means of, but is not limited to this, it is moved up and down relative to the upper surface of the air floating stage 6, so that a part of the rotary body 8b protrudes above the upper surface The rotating body 8b may be fixed and the air floating stage 6 may be moved up and down.

또한, 본 발명은, 압력 기체에 의해 기판(1)의 하면(1b)을 가압하여 기판(1)을 부상시키는 구성으로 하였으나, 기판(1)을 부상시킬 수 있는 정전(靜電) 부상이나 초음파 부상 등 비접촉에 의한 부상 수단이라도 되고, 이 비접촉으로 부상한 기판(1)을 반송하는 제1 기판 반송 수단(9)도 이것에 한정되는 것은 아니다.In addition, although the present invention is configured to press the lower surface 1b of the substrate 1 by pressure gas to float the substrate 1, an electrostatic injury or an ultrasonic injury that can injure the substrate 1 may occur. The non-contact floating means may also be used, and the first substrate transfer means 9 for conveying the non-contact floating substrate 1 is not limited thereto.

또한, 상기의 일실시예에 나타낸 기판 검사 장치 A는, 매크로 검사부(4)와 마이크로 검사부(5)를 구비하는 구성으로 하였으나, 이에 한정되지 않고, 에어 부상 스테이지부(6) 내에 제2 기판 반송 수단(8)에 의해 기판(1)을 반송 가능하게 되면 되는 것이므로, 예를 들면, 매크로 검사부(4)와 마이크로 검사부(5) 중 어느 한쪽을 구비하는 기판 검사 장치에 적용되어도 되는 것인 동시에, 일실시예에 나타낸 매크로 검사부(4)와 마이크로 검사부(5)의 구성과는 상이한 구성의 검사부나 레이저 리페어(laser repair) 등을 구비하는 기판 검사 장치에 적용되어도 되는 것이다.In addition, although the board | substrate test | inspection apparatus A shown in the said Example was comprised with the macro inspection part 4 and the micro inspection part 5, it is not limited to this, The 2nd board | substrate conveyance in the air floating stage part 6 is carried out. Since the board | substrate 1 should just be able to convey by the means 8, it may be applied to the board | substrate inspection apparatus provided with either the macro inspection part 4 and the micro inspection part 5, for example, You may be applied to the board | substrate inspection apparatus provided with the inspection part, laser repair, etc. which differ from the structure of the macro inspection part 4 and the micro inspection part 5 shown in one Example.

전술한 바와 같이, 본 발명에 의하면, 기판 검사 장치에 기판을 반입, 반출 하는 반송 로봇 등의 다른 기판 반송 수단을 필요로 하지 않고, 기판 검사 장치를 소형화할 수 있는 동시에, 기판 검사에 필요한 스페이스를 공간 절약화할 수 있다.As described above, according to the present invention, the substrate inspection apparatus can be miniaturized without requiring other substrate transfer means such as a transfer robot for carrying in and taking out the substrate into the substrate inspection apparatus, and the space required for the substrate inspection can be reduced. You can save space.

Claims (9)

반송면 상에 분산 배치된 각각의 구멍으로부터 기체를 토출시켜, 기판을 상기 반송면 상에 부상(浮上)시켜 수평 지지하는 부상 스테이지부와,A floating stage portion which discharges gas from each of the holes dispersedly disposed on the conveying surface, floats the substrate on the conveying surface, and horizontally supports the substrate; 궤도부를 따라 자주(自走)하는 슬라이드부에 상하 이동 가능하게 지지된 지지부를 가지고, 상기 지지부를 상승시켜 상기 기판의 적어도 반송 방향을 따르는 한쪽 변을 지지하여 상기 부상 스테이지부 상에 부상시킨 상태로 반송(搬送)하는 제1 기판 반송 수단과,In a state in which the support portion is supported so as to be movable up and down along the track portion so as to be movable up and down, the support portion is raised to support at least one side along at least the conveying direction of the substrate to float on the floating stage portion. 1st board | substrate conveying means to convey, and 상기 제1 기판 반송 수단에 의해 반송된 상기 기판을 검사하는 검사부와,An inspection unit for inspecting the substrate conveyed by the first substrate conveying means; 상기 부상 스테이지부의 상기 반송면에 대해 출몰(出沒) 가능하게 설치된 회전 구동 가능한 회전체를 가지고, 상기 회전체를 상승시켜 상기 기판의 배면을 지지하여 상기 기판을 상기 반송 방향으로 반송하는 제2 기판 반송 수단2nd board | substrate conveyance which has a rotationally-driven rotary body which was rotatably installed with respect to the said conveyance surface of the said floating stage part, lifts up the said rotating body, supports the back surface of the said board | substrate, and conveys the said board | substrate to the said conveyance direction Way 을 구비하고, And, 상기 제1 기판 반송 수단의 지지부를 하강시켜 상기 기판에서 분리한 상태로, 상기 회전체를 상기 반송면보다 위쪽으로 돌출시켜 상기 제2 기판 반송 수단에 의해 상기 기판을 상기 반송 방향으로 반송하는 한편, 상기 제2 기판 반송 수단의 회전을 정지시켜 상기 기판을 상기 회전체와의 마찰력으로 구속한 상태로, 상기 제1 기판 반송 수단의 지지부를 상승시켜 상기 기판에 접촉시킨 후, 상기 제2 기판 반송 수단의 회전체를 상기 반송면보다 아래쪽으로 하강시킨 상태로 상기 기판을 상기 제1 기판 반송 수단에 의해 반송하면서 상기 검사부에 의해 검사하는,In the state which lowered the support part of the said 1st board | substrate conveyance means, and separated from the said board | substrate, the said rotating body protrudes above the said conveyance surface, and conveys the said board | substrate to the said conveyance direction by the said 2nd board | substrate conveyance means, After the rotation of the second substrate conveying means is stopped and the substrate is restrained by the frictional force with the rotating body, the supporting portion of the first substrate conveying means is raised and brought into contact with the substrate. Inspected by the said inspection part, conveying the said board | substrate by a said 1st board | substrate conveyance means in the state which lowered the rotating body below the said conveyance surface, 기판 검사 장치.Substrate inspection device. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 부상 스테이지부는, 상기 검사부의 검사영역을 따라 양측에 각각 복수개 연결하여 상기 기판의 부상 높이를 고정밀도로 제어 가능한 정밀 에어 부상 블록을 가지고, 상기 정밀 에어 부상 블록의 상기 기판의 반입 측과 반출 측에 상기 반송 방향으로 소정 간격을 두고 복수개 배치된 직사각형상의 부상 블록을 가지며, 상기 제2 기판 반송 수단의 회전체는 인접하는 각 부상 블록의 사이에 출몰 가능하게 설치되는, 기판 검사 장치.The floating stage unit has a precision air floating block which can be connected to both sides along the inspection area of the inspection unit, respectively, to control the floating height of the substrate with high precision, and to the loading side and the carrying out side of the substrate of the precision air floating block. The board | substrate inspection apparatus which has a rectangular floating block arrange | positioned at the several space | interval at the said conveyance direction, and the rotating body of a said 2nd board | substrate conveying means is installed so that it can be sunk between each adjacent floating block. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 반송면에 상기 제2 기판 반송 수단의 회전체를 출몰시키는 개구가 복수개 형성되고, 상기 개구를 통해 상기 제2 기판 반송 수단의 회전체가 상기 반송면으로부터 돌출하는, 기판 검사 장치.The board | substrate test | inspection apparatus in which the opening part which makes the rotating body of a said 2nd board | substrate conveying means ooze out is formed in the said conveyance surface, and the rotating body of the said 2nd board | substrate conveying means protrudes from the said conveyance surface through the said opening. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 부상 스테이지부는, 상기 제2 기판 반송 수단에 의해 반입된 상기 기판을 기준 위치로 위치 결정하는 위치 결정 기구를 가지고, The floating stage has a positioning mechanism for positioning the substrate carried in by the second substrate transfer means to a reference position, 상기 기판의 반입 후에 상기 제2 기판 반송 수단의 회전을 정지시키는 한편, 상기 제1 기판 반송 수단의 지지부를 상승시킨 후에 상기 제2 기판 반송 수단의 회전체를 하강시켜 상기 제1 기판 반송 수단의 지지부에 의한 마찰력으로 상기 기판을 구속한 상태에서, 상기 위치 결정 기구에 의해 상기 기판이 상기 기준 위치로 위치 결정되는, 기판 검사 장치.After the substrate is loaded, the rotation of the second substrate conveying means is stopped, and after raising the supporting portion of the first substrate conveying means, the rotating body of the second substrate conveying means is lowered to support the first substrate conveying means. And the substrate is positioned to the reference position by the positioning mechanism in a state in which the substrate is constrained by the frictional force. 제4항에 있어서,5. The method of claim 4, 상기 위치 결정 기구는, 상기 부상 스테이지부의 반송면에 대해 출몰 가능하게 설치된 기준핀과, 평행 이동시켜 상기 기판을 위치 결정하는 가압핀을 가지고,The positioning mechanism has a reference pin provided so that it can be projected with respect to the conveying surface of the floating stage, and a pressing pin for positioning the substrate by moving in parallel, 상기 기준핀은, 상기 기판이 반입되는 경우에 상기 반송면보다 위쪽으로 상승하고, 상기 기판의 위치 결정 후에 상기 반송면보다 아래쪽으로 하강하는, 기판 검사 장치.The said reference pin rises above the said conveyance surface when the said board | substrate is carried in, and falls down below the said conveyance surface after positioning of the said board | substrate. 제4항에 있어서,5. The method of claim 4, 상기 제1 기판 반송 수단은, 상기 기판이 상기 위치 결정 기구에 의해 위치 결정된 상기 기판을 지지하여 상기 반송 방향으로 반송하는, 기판 검사 장치.The said 1st board | substrate conveyance means is a board | substrate inspection apparatus which supports the said board | substrate positioned by the said positioning mechanism, and conveys it to the said conveyance direction. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,4. The method according to any one of claims 1 to 3, 상기 제2 기판 반송 수단은, 상기 반송 스테이지부의 기판 반입 측 또는 기판 반출 측 중 어느 한쪽에 설치되어 있는, 기판 검사 장치.The said 2nd board | substrate conveyance means is a board | substrate inspection apparatus provided in either the board | substrate carrying in side or the board | substrate carrying out side of the said transfer stage part. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,4. The method according to any one of claims 1 to 3, 상기 제2 기판 반송 수단은, 상기 기판의 반송 방향과 직교하는 회전축을 가지고, 상기 회전축에 상기 회전체가 소정 간격으로 복수개 배치되어 있고, 상기 회전축을 축선 주위에 회전시키는 회전 구동 수단이 설치되어 있는, 기판 검사 장치.The said 2nd board | substrate conveying means has the rotating shaft orthogonal to the conveyance direction of the said board | substrate, The said rotating body is arrange | positioned in multiple numbers at predetermined intervals on the said rotating shaft, and the rotation drive means which rotates the said rotating shaft around an axis line is provided. Board inspection device. 제8항에 있어서,9. The method of claim 8, 상기 회전축은, 상하 이동하는 축지지부에 의해 회전 가능하게 지지되고, 상기 축지지부를 상하 이동시키는 상하 구동 수단이 설치되는, 기판 검사 장치.The said rotation shaft is rotatably supported by the axial support part which moves up-and-down, The board | substrate inspection apparatus provided with the vertical drive means which moves the axial support part up and down.
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009085865A (en) * 2007-10-02 2009-04-23 Olympus Corp Substrate inspection device
TWI464390B (en) * 2008-02-06 2014-12-11 尼康股份有限公司 Surface inspection device and surface inspection method
TWI381257B (en) * 2008-07-07 2013-01-01 Race Ahead Technology Co Ltd Substrate-check equipment and checking method
CN101936916A (en) * 2009-07-02 2011-01-05 法国圣-戈班玻璃公司 Equipment for detecting defects of separated low-rigidity transparent or translucent body and method thereof
KR101570169B1 (en) 2014-05-09 2015-11-20 세메스 주식회사 apparatus for forming photo alignment film
TWI585395B (en) * 2015-01-27 2017-06-01 政美應用股份有限公司 Panel inspection apparatus and method
CN109860080A (en) * 2018-12-28 2019-06-07 浙江中晶新能源有限公司 A kind of positioning transporting device of silicon wafer
CN111377143A (en) * 2020-03-24 2020-07-07 杭州酿蜜科技有限公司 Packaging equipment for transporting ultra-thin glass
CN112595722B (en) * 2021-03-02 2021-06-08 苏州天准科技股份有限公司 Sectional type air flotation platform, platform module and detection equipment

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004345744A (en) 2003-05-20 2004-12-09 Hitachi Zosen Corp Pneumatic floating device and pneumatic floating type carrier
JP2005528586A (en) * 2001-12-27 2005-09-22 オーボテック リミテッド Floating article transfer system and transfer method
KR20090015792A (en) * 2007-08-09 2009-02-12 후지쯔 가부시끼가이샤 Polishing apparatus, substrate manufacturing method, and electronic apparatus manufacturing method

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE756333A (en) * 1969-09-19 1971-03-18 Pilkington Brothers Ltd IMPROVEMENTS RELATED TO THE TRANSPORT OF SHEETS OF GLASS
KR100582344B1 (en) * 2003-12-09 2006-05-22 삼성코닝정밀유리 주식회사 Apparatus for inspecting a glass substrate

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005528586A (en) * 2001-12-27 2005-09-22 オーボテック リミテッド Floating article transfer system and transfer method
JP2004345744A (en) 2003-05-20 2004-12-09 Hitachi Zosen Corp Pneumatic floating device and pneumatic floating type carrier
KR20090015792A (en) * 2007-08-09 2009-02-12 후지쯔 가부시끼가이샤 Polishing apparatus, substrate manufacturing method, and electronic apparatus manufacturing method

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