KR101329238B1 - 인쇄회로기판 좌표 인식 장치 및 방법 - Google Patents

인쇄회로기판 좌표 인식 장치 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101329238B1
KR101329238B1 KR1020130050858A KR20130050858A KR101329238B1 KR 101329238 B1 KR101329238 B1 KR 101329238B1 KR 1020130050858 A KR1020130050858 A KR 1020130050858A KR 20130050858 A KR20130050858 A KR 20130050858A KR 101329238 B1 KR101329238 B1 KR 101329238B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
printed circuit
circuit board
unit
units
symbol system
Prior art date
Application number
KR1020130050858A
Other languages
English (en)
Inventor
김민규
김승환
안두백
Original Assignee
에이티아이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 에이티아이 주식회사 filed Critical 에이티아이 주식회사
Priority to KR1020130050858A priority Critical patent/KR101329238B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101329238B1 publication Critical patent/KR101329238B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/302Contactless testing
    • G01R31/308Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation
    • G01R31/309Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation of printed or hybrid circuits or circuit substrates
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/081Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
    • H05K13/0812Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines the monitoring devices being integrated in the mounting machine, e.g. for monitoring components, leads, component placement
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N2021/95638Inspecting patterns on the surface of objects for PCB's

Abstract

본 발명은 인쇄회로기판 좌표 인식 장치에 있어서, 상부 면에 다수의 유닛(10a~10d)을 포함하는 인쇄회로기판(10)이 배치되며 하부 면에 상기 인쇄회로기판(10)에 대응되는 위치 기호 체계 맵(20)이 부착된 위치기호체계 표시수단(100); 상기 위치기호체계 표시수단(100) 하부를 조명하는 조명수단(200); 위치기호체계 표시수단 인쇄회로기판 및 상기 위치 기호 체계 영상을 촬영하며 촬영한 영상을 제어수단(400)으로 전송하는 광학수단(300); 및 상기 광학수단(300)으로부터 위치기호체계 표시수단 인쇄회로기판 및 상기 위치 기호 체계 영상을 수신하여 분석하고 인쇄회로기판 유닛 좌표를 인식하는 제어수단(400);을 포함하는 인쇄회로기판 좌표 인식 장치에 관한 것이다.

Description

인쇄회로기판 좌표 인식 장치 및 방법 {Apparatus for Detecting Coordinate of PCB and Method therefor}
본 발명은 인쇄회로기판 좌표 인식 장치 및 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 인쇄회로기판 목시 검사에 있어서 자체 발명한 위치 기호 체계를 사용하여 기판의 좌표를 자동으로 인식하되 카메라 센서와 렌즈를 포함하는 광학계를 통해 기판의 좌표 정보를 입력받음으로써, 기판 내 유닛의 위치를 자동으로 인식하여 작업 능률 및 작업 속도를 향상시키면서도 유닛의 크기가 작아지는 추세에 효율적으로 대응하고 위치 인식의 정확도를 획기적으로 개선할 수 있는 인쇄회로기판 좌표 인식 장치 및 방법에 관한 것이다.
일반적으로 인쇄회로기판 불량 유무를 검사하는 경우 먼저 기계로 검사하고 기계가 검사하지 못할 확률이 상당하다고 판단되는 불량 항목에 대해서는 목시 확인 공정을 수행하여 인쇄회로기판의 불량 유무를 최종 확인한다.
이러한 목시 확인을 위하여 종래 인쇄회로기판을 현미경으로 검사하는 방법이 있었는데, 이때 스트립 내의 불량 유닛 위치를 작업자가 일일이 확인하며 전산 입력하여야 하므로 불필요한 시간이 소요되며 검사 결과가 부정확한 문제점이 있었다.
아울러 이전 공정에서 기 확인된 불량 정보에 대한 마킹 정보가 제대로 전달되지 않아 기존 불량을 표시하는 기능이 없다면 목시 확인 공정에서 불량으로 재판정해야 하는데, 이러한 재판정에 불필요한 시간이 요구되고 생산성이 저하되는 문제점이 있었다.
이러한 문제점을 해결하기 위해, 대한민국 공개특허 10-2012-0089109호 '유닛 좌표 인식 장치 및 방법'은, 바코드 면이 하부면에 형성되고 기판을 상부에 배치하는 지그, 지그의 하부에 배치되는 테이블, 테이블의 하부에 배치되어 바코드 좌표를 추출하여 이를 제어부로 전달하는 바코드 리더기, 바코드 좌표를 좌표 인식 기준에 적용하여 기판의 유닛 좌표를 인식하는 제어부를 제공한다.
이러한 대한민국 공개특허 10-2012-0089109호에 따르면, 작업자가 검사하는 기판 내 유닛 위치를 자동으로 인식하는 효과는 일정 부분 구현되나, 유닛의 크기가 작아지는 추세에 효율적으로 대응할 수 없으며, 바코드 체계를 사용하는 한계로 인하여 위치 인식 정확도가 부정확한 문제점이 있음은 여전하였다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 상기 문제점을 극복하기 위한 것으로서, 인쇄회로기판 목시 검사에 있어서 자체 발명한 위치 기호 체계를 사용하여 기판의 좌표를 자동으로 인식하되 카메라 센서와 렌즈를 포함하는 광학계를 통해 기판의 좌표 정보를 입력받음으로써, 기판 내 유닛의 위치를 자동으로 인식하여 작업 능률 및 작업 속도를 향상시키면서도 유닛의 크기가 작아지는 추세에 효율적으로 대응하고 위치 인식의 정확도를 획기적으로 개선하는 것이다.
본 발명은 인쇄회로기판 좌표 인식 장치에 있어서, 상부 면에 다수의 유닛(10a~10d)을 포함하는 인쇄회로기판(10)이 배치되며 하부 면에 상기 인쇄회로기판(10)에 대응되는 위치 기호 체계 맵(20)이 부착된 위치기호체계 표시수단(100); 상기 위치기호체계 표시수단(100) 하부를 조명하는 조명수단(200); 위치기호체계 표시수단 인쇄회로기판 및 상기 위치 기호 체계 영상을 촬영하며 촬영한 영상을 제어수단(400)으로 전송하는 광학수단(300); 및 상기 광학수단(300)으로부터 위치기호체계 표시수단 인쇄회로기판 및 상기 위치 기호 체계 영상을 수신하여 분석하고 인쇄회로기판 유닛 좌표를 인식하는 제어수단(400);을 포함하는 인쇄회로기판 좌표 인식 장치에 관한 것이다.
또한, 본 발명의 상기 위치 기호 체계 맵(20)은 다수의 유닛(20a~20d)을 포함하며, 상기 각각의 유닛(20a~20d)은 위치 설정 기호(21a~21d) 및 유닛 검출 기호(22a~22d)를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 상기 위치 설정 기호(21a~21d)는 다수의 검은 점으로 이루어질 수 있다.
또한, 본 발명의 상기 다수의 검은 점은 바람직하게는 4개이다.
또한, 본 본 발명의 상기 다수의 검은 점은 바람직하게는 정사각형이다.
또한, 본 발명의 상기 유닛 검출 기호(22a~22d)는 다수의 설정상태를 나타낼 수 있는 기호이다.
또한, 본 발명의 상기 다수의 설정상태는 하나의 유닛이 2개의 상태를 나타내는 다수의 유닛으로 이루어진 기호에 의하여 이루어진다.
또한 본 발명의 상기 다수의 설정상태는 다수의 유닛을 포함하는 테이블로 이루어지고 각각의 테이블은 2개의 상태를 표시할 수 있다.
또한, 본 발명의 상기 다수의 설정 상태는 2행 5열의 테이블로 이루어지고 각각의 테이블은 2개의 상태를 표시할 수 있는 기호에 의하여 이루어진다.
또한, 본 발명은 인쇄회로기판 좌표 인식 방법에 있어서, (A) 위치기호체계 표시수단(100)의 상부 면에 인쇄회로기판(10)을 배치하며, 위치기호체계 표시수단(100)의 하부 면에 위치 기호 체계 맵(20)을 배치하는 단계; (B) 조명수단(200)이, 상기 위치기호체계 표시수단(100) 하부를 조명하는 단계; (C) 광학수단(300)이, 상기 위치기호체계 표시수단(100)의 하부 면의 상기 위치 기호 체계 맵(20) 영상을 촬영하며 촬영한 영상을 제어수단(400)으로 전송하는 단계; 및 (D) 상기 제어수단(400)이, 상기 광학수단(300)으로부터 상기 위치 기호 체계 맵(20)의 영상을 수신하여 분석하고 인쇄회로기판 유닛 좌표를 인식하는 단계;를 포함하는 인쇄회로기판 좌표 인식 방법에 관한 것이다.
또한, 본 발명은 상기 위치 기호 체계 맵(20)은 다수의 유닛(20a~20d)을 포함하며, 상기 각각의 유닛(20a~20d)은 위치 설정 기호(21a~21d) 및 유닛 검출 기호(22a~22d)를 포함하고, 상기 (D) 단계는, (D1) 상기 제어수단(400)이, 상기 위치 설정 기호(21a~21d)를 이용하여 유닛의 위치를 파악하는 단계; 및 (D2) 상기 제어수단(400)이, 유닛 검출 기호(22a~22d)를 이용하여 인식한 유닛이 어느 유닛인지 파악하는 단계;를 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 인쇄회로기판 목시 검사에 있어서 기판 내 유닛의 위치를 자동으로 인식하여 작업 능률 및 작업 속도를 향상시키면서도 유닛의 크기가 작아지는 추세에 효율적으로 대응하고 위치 인식의 정확도를 획기적으로 개선하는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 인쇄회로기판 좌표 인식 장치에 관한 전체 구성도.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 인쇄회로기판 좌표 인식 과정을 설명하기 위한 참고도.
도 3은 위치기호체계수단(100)의 단면도이다.
도 4는 본 발명의 검사대상인 인쇄회로기판이다.
도 5는 본 발명의 검사대상인 인쇄회로기판에 대응되는 위치 기호 체계 맵의 예시도이다.
도 6 내지 7은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 위치 기호 체계 맵을 설명하기 위한 참고도이다.
도 8은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 인쇄회로기판 좌표 인식 장치에 관한 하부 사시도이다.
도 9는 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 인쇄회로기판 좌표 인식 장치의 사용 상태를 설명하기 위한 참고도이다.
도 10은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 인쇄회로기판 좌표 인식 방법에 관한 전체 흐름도이다.
본 발명의 실시를 위한 구체적인 내용을 설명하기에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 발명자가 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야 할 것이다.
또한, 본 발명에 관련된 공지 기능 및 그 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는, 그 구체적인 설명을 생략하였음에 유의해야 할 것이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 인쇄회로기판 좌표 인식 장치에 관해 도 1 내지 도 10을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1 및 도 2 에 도시한 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 인쇄회로기판 좌표 인식 장치는, 위치기호체계 표시수단(100), 조명수단(200), 광학수단(300) 및 제어수단(400)을 포함한다.
도 3은 본 발명의 위치기호체계 표시수단(100)의 단면도를 도시하고 있다.
위치기호체계 표시수단(100)은 지그(30)의 상부 면에 인쇄회로기판(10)을 배치하고, 상기 지그(30)의 하부 면에는 상기 인쇄회로기판에 대응되는 위치 기호 체계 맵(20)을 부착한다.
상기 인쇄회로기판(10)과 이에 대응되는 위치 기호 체계 맵(20)의 하나의 예시를 도 4 및 도 5에 도시하고 있다.
상기 도 4에 도시된 인쇄회로기판(10)은 4개의 비지에이 (BGA, BALL GRID ARRAY) 열을 구비한 스트립이다.
상기 지그(30)는 테이블(40) 위에서 평면 (XY,방향) 움직임이 이루어지며 이러한 움직임은 테이블(40) 위의 위치정렬수단에 의해 이루어진다.
본 발명은 상기 지그(30)가 테이블(40) 위에서 이동하면, 테이블(50)의 관통 구멍(50)을 통해 보여지는 상기 지그의 하부에 부착된 인식 기호 체계 맵(20)의 이미지를 하부의 카메라 영상부(B)가 인식하여 상부의 현미경(A)에 의해 검사되는 지그(30) 상부의 인쇄회로기판(10)의 유닛 위치를 파악하는 것이다.
이와 같이 본 발명은 위치기호체계 표시수단(100)의 지그(30) 상부 면에 인쇄회로기판(10)을 배치하고 하부 면에 상기 인쇄회로기판(10)에 대응되는 위치 기호 체계 맵(20)을 부착한 후, 테이블(40)의 관통 구멍(50)에 비친 위치 기호 체계 맵(20)의 영상을 하부의 카메라 영상부(B)가 실시간으로 수신함으로써 현미경(A)에 의해 검사되는 인쇄회로기판(10) 유닛 좌표를 실시간 자동 인식이 가능하게 된다.
도 4는 인쇄회로 기판(10)의 하나의 실시 예인 4개의 BGA 유닛(10a~10d)을 포함하는 스트립이고 도 5는 이에 대응되는 위치 기호 체계 맵(20)을 도시한다.
도 3에 도시된 것과 같이 테이블(40)의 관통 구멍(50)에 의해 지그(30)의 하부에 부착된 위치 기호 체계 맵(20)의 특정 위치를 하부의 카메라 부분(B)이 촬영할 것이다.
도 5에 도시된 위치 기호 체계 맵(20)을 보면, 도 4의 BGA 스크립트에 대응되도록 4개의 인식기호 유닛(20a~20d)이 도시되어 있어서, 테이블(40)의 관통 구멍(50)을 통해 비추어지는 인식 기호 유닛(20a~20d)에 따라 상부에서 현미경(A)에 의해 검사중인 인쇄회로기판의 유닛(10a~10d)의 위치를 파악할 수 있다.
예를 들어, 테이블(40)의 관통 구멍(50)에 의해 비추어지는 지그(30) 하부의 인식 기호 체계 맵(20)이 유닛(20a)이면 현미경(A)에 의해 검사대는 인쇄회로기판(10)은 유닛(10a)을 검사하는 것으로 파악할 수 있는 것이다.
도 6은 본 발명의 위치 인식 체계 맵(20)의 유닛(20a~20d)의 하나(20a)를 도시하고 있는 것으로, 본 발명의 발명자들이 자체 개발한 특유의 위치 기호 체계 맵(20)이다.
도 6의 위치 기호 체계 맵(20)의 유닛에는 먼저 4개의 위치 설정 기호(21a ~ 21d)가 표시되어 있어, 테이블(40)의 관통 구멍(50)에 의해 비추어지는 기호 체계 맵(20) 영상의 유닛 위치를 파악한다.
상기 영상의 유닛의 위치를 파악한 후, 상기 위치 설정 기호(21a~21d)의 상부에 위치하는 유닛 검출 기호(22a~22d)의 이미지를 인식하여, 상기 유닛이 위치 인식 체계 맵(20)의 어느 유닛에 해당하는지 파악한다.
이와 같이 테이블(40)의 관통 구멍(50)에 의하여 파악된 위치 인식 체계 맵(20)의 이미지가 전체 유닛(20a~20d) 중 어느 유닛을 표시하는지 파악되면, 이에 대응되는 인쇄회로기판의 유닛(10a~10d)이 현미경(A)에 의하여 검사되고 있다는 것을 파악하는 것이다.
상기 유닛 검출 기호(22a~22d)는 바람직하게는 5열 및 2행으로 이루어진 10개 유닛의 테이블로 테이블 각각의 유닛은 속이 채워지거나 채워지지 않는 2개의 인식 상태로 이루어진다.
따라서, 상기 유닛 검출 기호 각각은 2의 10 제곱에 해당되는 경우의 수가 발생하므로, 위치 인식 체계 맵(20)은 2의 10 제곱에 해당되는 유닛을 가지는 맵을 형성할 수 있다.
도 5를 보면, 각각의 유닛(20a~20d)은 서로 다른 유닛 검출 기호(22a~22d)를 도시하고 있어, 위에서 설명한 것처럼 테이블(40)의 관통 구멍(50)에 의해 비추어지는 유닛(20a~20d)은 위치 설정 기호(21a~21d)에 의해 유닛의 위치를 정한 후, 유닛 검출 기호(22a~22d)에 의해 관통 구멍(50)의 유닛이 어느 유닛인지 파악하고 이로 인하여 상부의 인쇄회로기판(10)의 유닛(10a~10d)이 어느 유닛인지 파악하는 것이며, 본 발명의 유닛 검출 기호(22a~22d)는 2행 5열의 테이블이므로 2의 10 제곱의 경우의 수를 만들 수 있어 인쇄회로기판의 유닛이 2의 10 제곱만큼(1024) 있어도 현재 현미경(A)에 의해 검출되는 유닛을 파악할 수 있는 것이다.
도 5에 도시된 본 발명의 일 실시 예인 위치 설정 기호(21a~21d)는 바람직하게는 각각 검은색의 사각형 형상으로 구성되되, 가로×세로가 1 mm×1 mm로 구성되고 각각의 설정 기호(21a~21d) 간의 거리는 10 mm로 배치된다.
도 2 및 8에 도시된 조명수단(200)은 위치기호체계 표시수단(100) 하부에 위치하며 위치기호체계 표시수단(100) 하부를 조명함으로써 광학수단(300)이 위치기호체계 표시수단(100) 하부의 위치기호체계 맵(20) 영상을 원활하게 촬영할 수 있도록 하는 기능을 수행하며, 바람직하게는 LED이다.
다음으로, 광학수단(300)은 카메라 센서(310)와 렌즈(320)로 구성되어, 위치기호체계 표시수단(100) 하부의 위치기호체계 맵(20) 영상을 촬영하며 촬영한 영상을 실시간으로 제어수단(400)으로 전송함으로써 인쇄회로기판(10) 유닛 좌표 인식이 자동으로 가능하도록 한다.
그리고, 제어수단(400)은 광학수단(300)으로부터 위치기호체계 표시수단(100) 하부의 위치기호체계 맵(20) 영상을 수신하여 이를 분석하고 인쇄회로기판 유닛 좌표를 인식하며, 영상수신기(410), 분석기(420) 및 제어기(430)를 포함한다.
구체적으로, 영상수신기(410)는 광학수단(300)으로부터 위치기호체계 표시수단 하부의 위치기호체계 맵 영상을 수신하고 분석기(420)는 수신한 영상을 분석하여 인쇄회로기판 유닛 좌표를 인식하며 제어기(430)는 영상수신기(410), 분석기(420)의 작동을 제어하며 위치정렬수단의 동작을 제어한다.
도 2에서 반사수단(500)을 더 포함할 수 있음을 알 수 있으며, 반사수단은 상측으로부터 하측으로 진행하는 위치기호체계 맵 영상을 반사시켜 좌측으로 진행하게 함으로써, 실제 작업 현장에서 광학수단(300)과 제어수단(400)이 위치기호체계 표시수단(100)의 위치에 구애됨이 없이 현장 상황에 따라 자유롭게 배치될 수 있도록 한다.
그 다음, 도 8은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 인쇄회로기판 좌표 인식 장치에 관한 하부 사시도를 도시한 것이며, 도 8에서 상술한 바와 같은 표시수단(100), 조명수단(200)을 확인할 수 있고, 광학수단(300), 즉 카메라 센서(310)와 렌즈(320)를 확인할 수 있으며, 반사수단(500)의 일 예로서 반사 거울을 확인할 수 있다.
아울러, 도 9는 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 인쇄회로기판 좌표 인식 장치의 실제 사용 상태를 참고로 설명하기 위한 것으로, 하부에 위치하는 인쇄회로기판 좌표 인식 장치와 함께, 상부에 위치하는 현미경(A)을 확인할 수 있다.
이와 같이, 본원 발명은 인쇄회로기판 좌표 인식 장치를 이용하여 작업자가 현미경(A)에 의하여 인쇄회로기판을 검사할 때, 유닛 좌표를 실시간으로 정확하게 판별할 수 있다.
도 10은 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 인쇄회로기판 좌표 인식 방법에 관한 전체 흐름도이다.
먼저, 도 6에 도시한 바와 같이, 위치기호체계 표시수단(100)의 상부 면에 위치기호체계 표시수단 인쇄회로기판을 배치하며, 위치기호체계 표시수단(100)의 하부 면에는 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 위치 기호 체계(맵)를 배치한다(S100).
다음으로, 조명수단(200)이, 위치기호체계 표시수단(100) 하부를 조명함으로써 광학수단(300)이 위치기호체계 표시수단 인쇄회로기판 및 위치 기호 체계(맵) 영상을 원활하게 촬영할 수 있도록 하는 기능을 수행한다(S200).
다음으로, 광학수단(300)이, 위치기호체계 표시수단 인쇄회로기판 및 위치 기호 체계(맵) 영상을 촬영하며 촬영한 영상을 실시간으로 제어수단(400)으로 전송함으로써 인쇄회로기판 유닛 좌표 인식이 자동으로 가능하도록 한다(S300).
그리고, 제어수단(400)이, 광학수단(300)으로부터 위치기호체계 표시수단(100) 하부의 위치 기호 체계 맵(20)의 영상을 수신하여 이를 분석하고 인쇄회로기판 유닛 좌표를 인식한다(S400).
S500 단계는, 제어수단(400)이 상기 위치 기호 체계 맵 내의 위치 설정 기호(21a~21d)를 이용하여 유닛의 위치를 파악하고 단계, 그리고 상기 위치 기호 체계 맵(20) 내의 유닛 검출 기호((22a~22d)에 의하여 위치 설정 기호(21a~21d)에 의해 파악된 유닛이 인쇄 회로 기판의 어느 유닛인지를 파악하는 단계를 포함할 수 있다.
이상으로 본 발명의 기술적 사상을 예시하기 위한 바람직한 실시 예와 관련하여 설명하고 도시하였지만, 본 발명은 이와 같이 도시되고 설명된 그대로의 구성 및 작용에만 국한되는 것이 아니며, 기술적 사상의 범주를 일탈함이 없이 본 발명에 대해 다수의 변경 및 수정 가능함을 당업자들은 잘 이해할 수 있을 것이다. 따라서 그러한 모든 적절한 변경 및 수정과 균등물들도 본 발명의 범위에 속하는 것으로 간주하여야 할 것이다.
100 : 위치기호체계 표시수단 200 : 조명수단
300 : 광학수단 310 : 카메라 센서
320 : 렌즈 400 : 제어수단
410 : 영상수신기 420 : 분석기
430 : 제어기 500 : 반사수단

Claims (11)

  1. 인쇄회로기판 좌표 인식 장치에 있어서,
    상부 면에 다수의 유닛(10a~10d)을 포함하는 인쇄회로기판(10)이 배치되며 하부 면에 상기 인쇄회로기판(10)에 대응되는 위치 기호 체계 맵(20)이 부착된 위치기호체계 표시수단(100);
    상기 위치기호체계 표시수단(100) 하부를 조명하는 조명수단(200);
    상기 위치 기호 체계 맵(20)을 촬영하며 촬영한 영상을 제어수단(400)으로 전송하는 광학수단(300);
    상기 광학수단(300)으로부터 상기 위치 기호 체계 맵(20)의 영상을 수신하여 분석하고 인쇄회로기판 유닛 좌표를 인식하는 제어수단(400);을 포함하며,
    상기 위치 기호 체계 맵(20)은 상기 인쇄회로기판(10)의 다수의 유닛(10a~10d)에 대응되는 다수의 유닛(20a~20d)을 포함하며,
    상기 다수의 유닛(20a~20d) 각각은 위치 설정 기호(21a~21d) 및 유닛 검출 기호(22a~22d)를 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 좌표 인식 장치.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서,
    상기 위치 설정 기호(21a~21d)는 복수의 검은 점으로 이루어진 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 좌표 인식 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 복수의 검은 점은 4개인 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 좌표 인식 장치.
  5. 제3항에 있어서, 상기 복수의 검은 점은 정사각형인 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 좌표 인식 장치.
  6. 제1항 및 제3항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 유닛 검출 기호(22a~22d)는 다수의 설정상태를 나타낼 수 있는 기호인 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 좌표 인식 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 다수의 설정상태는 하나의 유닛이 2개의 상태를 나타내는 다수의 유닛으로 이루어진 기호에 의하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 좌표 인식 장치.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 다수의 설정상태는 다수의 유닛을 포함하는 테이블로 이루어지고 각각의 테이블은 2개의 상태를 표시할 수 있는 기호에 의하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 좌표 인식 장치.
  9. 제6항에 있어서,
    상기 다수의 설정 상태는 2행 5열의 테이블로 이루어지고 각각의 테이블은 2개의 상태를 표시할 수 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 좌표 인식 장치.
  10. 인쇄회로기판 좌표 인식 방법에 있어서,
    (A) 위치기호체계 표시수단(100)의 상부 면에 다수의 유닛(10a~10d)을 포함하는 인쇄회로기판(10)을 배치하며, 위치기호체계 표시수단(100)의 하부 면에 위치 기호 체계 맵(20)을 배치하는 단계;
    (B) 조명수단(200)이, 상기 위치기호체계 표시수단(100) 하부를 조명하는 단계;
    (C) 광학수단(300)이, 상기 위치기호체계 표시수단(100)의 하부 면의 상기 위치 기호 체계 맵(20) 영상을 촬영하며 촬영한 영상을 제어수단(400)으로 전송하는 단계; 및
    (D) 상기 제어수단(400)이, 상기 광학수단(300)으로부터 상기 위치 기호 체계 맵(20)의 영상을 수신하여 분석하고 인쇄회로기판 유닛 좌표를 인식하는 단계;를 포함하며,
    상기 위치 기호 체계 맵(20)은 상기 인쇄회로기판(10)의 유닛(10a~10d)에 대응되는 다수의 유닛(20a~20d)을 포함하며,
    상기 다수의 유닛(20a~20d) 각각은 위치 설정 기호(21a~21d) 및 유닛 검출 기호(22a~22d)를 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 좌표 인식 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 위치 설정 기호(21a~21d)는 복수의 검은 점으로 이루어지고,
    상기 (D) 단계는,
    (D1) 상기 제어수단(400)이, 상기 위치 설정 기호(21a~21d)를 이용하여 유닛의 위치를 파악하는 단계; 및
    (D2) 상기 제어수단(400)이, 유닛 검출 기호(22a~22d)를 이용하여 인식한 유닛이 어느 유닛인지 파악하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 좌표 인식 방법.
KR1020130050858A 2013-05-06 2013-05-06 인쇄회로기판 좌표 인식 장치 및 방법 KR101329238B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130050858A KR101329238B1 (ko) 2013-05-06 2013-05-06 인쇄회로기판 좌표 인식 장치 및 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130050858A KR101329238B1 (ko) 2013-05-06 2013-05-06 인쇄회로기판 좌표 인식 장치 및 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101329238B1 true KR101329238B1 (ko) 2013-11-13

Family

ID=49857694

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130050858A KR101329238B1 (ko) 2013-05-06 2013-05-06 인쇄회로기판 좌표 인식 장치 및 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101329238B1 (ko)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050013312A (ko) * 2003-07-28 2005-02-04 미래산업 주식회사 자동 노즐 교환 시스템
KR20120089109A (ko) * 2011-02-01 2012-08-09 삼성전기주식회사 유닛 좌표 인식 장치 및 방법

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050013312A (ko) * 2003-07-28 2005-02-04 미래산업 주식회사 자동 노즐 교환 시스템
KR20120089109A (ko) * 2011-02-01 2012-08-09 삼성전기주식회사 유닛 좌표 인식 장치 및 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI706143B (zh) 電路板點膠檢測裝置及檢測方法
KR101078781B1 (ko) 3차원 형상 검사방법
KR101305262B1 (ko) 기판 검사 장치
JP2009128345A (ja) 物体認識方法およびこの方法を用いた基板外観検査装置
JP2014038045A (ja) 検査装置、照明、検査方法、プログラム及び基板の製造方法
KR101802843B1 (ko) 자동 비전 검사 시스템
JP2017090194A (ja) 検査システムおよび検査方法
JP2011158363A (ja) Pga実装基板の半田付け検査装置
JP5417197B2 (ja) 検査装置および検査方法
JP2005128016A (ja) 検査システムおよび方法
JP2006118896A (ja) フレキシブルプリント配線板の外観検査方法
TWI244359B (en) Automatic optical detecting system for defect components on printed circuit board
KR101622628B1 (ko) 부품이 실장된 기판 검사방법 및 검사장치
CN108811483B (zh) 组装电路板检测系统及组装电路板检测方法
JP2014093870A (ja) 配電盤ケーブル結線確認装置と画像処理システム
US10140539B2 (en) Calibration device for camera-finger—offset
KR101329238B1 (ko) 인쇄회로기판 좌표 인식 장치 및 방법
KR20170085279A (ko) 전자부품이 실장된 인쇄회로기판의 코팅 검사장치 및 검사방법
CN211403010U (zh) 显示面板异物定位装置
KR20200032898A (ko) 라인스캔 카메라에 의한 도전성 필름 압흔상태 검사장치
KR20090128991A (ko) 비전검사장비의 비전검사방법
JP2012225716A (ja) 基板の外観検査装置および外観検査方法
KR101234577B1 (ko) 저항막 방식의 터치스크린 모듈의 비정형 불량을 검출하기 위한 비정형 불량 검사 장치 및 방법
KR20200103585A (ko) 딥러닝을 기반으로 한 압흔 검사시스템 및 압흔 검사시스템의 제어 방법
JP2849549B2 (ja) 金属表面の欠陥部を評定する点光源発生装置とその使用方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E902 Notification of reason for refusal
E90F Notification of reason for final refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee