KR101322530B1 - Organic el device manufacturing device and method of manufacturing the same, film forming device and film forming method - Google Patents

Organic el device manufacturing device and method of manufacturing the same, film forming device and film forming method Download PDF

Info

Publication number
KR101322530B1
KR101322530B1 KR1020100099220A KR20100099220A KR101322530B1 KR 101322530 B1 KR101322530 B1 KR 101322530B1 KR 1020100099220 A KR1020100099220 A KR 1020100099220A KR 20100099220 A KR20100099220 A KR 20100099220A KR 101322530 B1 KR101322530 B1 KR 101322530B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
mask
chamber
alignment
suspension
conveyance
Prior art date
Application number
KR1020100099220A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20110046272A (en
Inventor
히로끼 가메야마
노부히로 니라사와
겐지 유미바
유끼오 오찌아이
Original Assignee
가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈 filed Critical 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈
Publication of KR20110046272A publication Critical patent/KR20110046272A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101322530B1 publication Critical patent/KR101322530B1/en

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/04Coating on selected surface areas, e.g. using masks
    • C23C14/042Coating on selected surface areas, e.g. using masks using masks

Abstract

본 발명은, 기판이나 마스크의 휨을 저감하여 고정밀도로 증착할 수 있고, 또는 반송 챔버를 소형화할 수 있거나, 혹은 구동부 등을 대기측에 배치함으로써 진공 내의 먼지나 가스의 발생을 저감하여, 생산성이 높은 또는 가동율이 높은 유기 EL 디바이스 제조 장치 또는 그 제조 방법 혹은 성막 장치 또는 성막 방법을 제공하는 것이다. 본 발명은, 진공 챔버 내에서의 기판과 마스크와의 얼라인먼트를 상기 기판 또는 상기 마스크를 구비하는 현수체로서 현수한 상태에서 행하고, 그 기판에 증착 재료를 증착할 때에, 상기 현수체 위의 접촉부를 이동시켜 상기 현수체를 수직으로 하여 진공 챔버 내에 반송하여, 상기 위치 정합 위치에 세트하고, 상기 현수체의 현수체 접촉부와 상기 반송하는 반송 수단의 상기 현수체 접촉부와의 반송 접촉부를 이격하고, 그 후 상기 얼라인먼트를 행하는 것을 특징으로 한다.Industrial Applicability The present invention can reduce the warpage of a substrate or a mask and deposit it with high accuracy, or the transport chamber can be miniaturized, or by arranging a drive unit or the like on the air side, the generation of dust and gas in the vacuum can be reduced, and the productivity is high. Another object is to provide an organic EL device manufacturing apparatus having high operation rate, a manufacturing method thereof, or a film forming apparatus or a film forming method. The present invention performs alignment of a substrate and a mask in a vacuum chamber in a suspended state as the substrate or a suspension provided with the mask, and when the vapor deposition material is deposited on the substrate, the contact portion on the suspension is It moves and makes the said suspension body vertical, conveys it in a vacuum chamber, sets it to the said position registration position, separates the conveyance contact part of the suspension body contact part of the said suspension body, and the said suspension body contact part of the said conveyance means, and After that, the alignment is performed.

Description

유기 EL 디바이스 제조 장치 및 그 제조 방법과 성막 장치 및 성막 방법{ORGANIC EL DEVICE MANUFACTURING DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, FILM FORMING DEVICE AND FILM FORMING METHOD}ORGANIC EL DEVICE MANUFACTURING DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, FILM FORMING DEVICE AND FILM FORMING METHOD}

본 발명은, 유기 EL 디바이스 제조 장치 및 그 제조 방법과 성막 장치 및 성막 방법에 관한 것으로, 특히 대형 기판의 얼라인먼트에 적합한 유기 EL 디바이스 제조 장치 및 그 제조 방법과 성막 장치 및 성막 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to an organic EL device manufacturing apparatus, a manufacturing method thereof, a film forming apparatus and a film forming method, and more particularly, to an organic EL device manufacturing apparatus suitable for alignment of a large substrate, a manufacturing method thereof, a film forming apparatus and a film forming method.

유기 EL 디바이스를 제조하는 유력한 방법으로서 진공 증착법이 있다. 진공 증착에서는 기판과 마스크와의 얼라인먼트가 필요하다. 해마다 처리 기판의 대형화의 흐름이 쇄도하여, G6세대의 기판 사이즈는 1500㎜×1800㎜로 된다. 기판 사이즈가 대형화되면 당연히 마스크도 대형화되고, 그 치수는 2000㎜×2000㎜ 정도나 이른다. 특히 강으로 만든 제품의 마스크를 사용하면 그 중량은 300㎏이나 된다. 종래에서는, 기판 및 마스크를 수평으로 하여 위치 정렬을 하고 있었다. 그와 같은 종래 기술로서는, 하기의 특허 문헌 1이 있다.A viable method for producing an organic EL device is the vacuum deposition method. Vacuum deposition requires alignment of the substrate with the mask. Each year, the flow of process substrates increases in size, and the substrate size of the G6 generation is 1500 mm x 1800 mm. If the substrate size is enlarged, the mask is also enlarged naturally, and the dimensions thereof are about 2000 mm x 2000 mm. In particular, using a mask made of steel, the weight is 300 kg. In the prior art, the substrate and the mask were horizontally aligned. As such a prior art, the following patent document 1 is mentioned.

또한, 진공 증착법에서는, 도 4에 도시한 바와 같이 증착하고자 하는 장소에 개구부를 갖는 마스크를 처리 대상인 기판에 밀착시켜 행한다. 이 마스크는, 증착재의 부착에 의해 구멍의 형상이 변하기 때문에 반일 내지 1일마다 교환할 필요가 있다. 종래는, 도 14에 도시한 바와 같이 진공 증착을 행하는 처리 챔버 S를 갖는 클러스터 C에 교환용 및 사용된 마스크 M을 보관하는 진공 챔버인 마스크 보관실 H를 설치하고, 기판 반송을 행하는 반송 로봇 R에 의해 처리 챔버 S까지 반송하여 세트하고 있었다(특허 문헌 2).In addition, in the vacuum vapor deposition method, as shown in FIG. 4, the mask which has an opening part in the place to vapor-deposit is made to adhere to the board | substrate to be processed. This mask needs to be replaced every half day to one day because the shape of the hole changes due to the deposition of the vapor deposition material. Conventionally, as shown in FIG. 14, the mask storage chamber H which is a vacuum chamber which stores the mask M used for exchange | exchange and used is installed in the cluster C which has the process chamber S which performs vacuum vapor deposition, and the conveyance robot R which carries out a board | substrate conveyance is carried out. It conveyed and set to the process chamber S by this (patent document 2).

또한, 특허 문헌 3에는, 마스크 치수를 소망 범위로 하기 위해 미리 마스크를 가온하는 가온실을 처리 챔버에 인접하여 설치하고, 필요할 때에 처리 챔버의 마스크를 교환하는 것이 개시되어 있다. 그러나, 가온실에는 가온 설비밖에 기재되어 있지 않고, 그 반입출은 특허 문헌 3의 제1 실시 형태에 기재되어 있는 바와 같이, 특허 문헌 2와 마찬가지로 기판 반송을 행하는 반송 로봇 등을 이용하여 행하고 있다고 생각된다.In addition, Patent Document 3 discloses that a heating chamber that warms the mask in advance adjacent to the processing chamber in order to make the mask dimension a desired range is replaced with a mask of the processing chamber when necessary. However, only the heating facilities are described in the heating chamber, and the carry-in / out is considered to be carried out using a transfer robot or the like that transfers the substrate as in Patent Document 2, as described in the first embodiment of Patent Document 3. do.

[특허 문헌 1] 일본 특허 공개 제2006-302896호 공보[Patent Document 1] Japanese Patent Laid-Open No. 2006-302896 [특허 문헌 2] 일본 특허 공개 제2003-027213호 공보[Patent Document 2] Japanese Unexamined Patent Publication No. 2003-027213 [특허 문헌 3] 일본 특허 공개 제2006-196360호 공보[Patent Document 3] Japanese Unexamined Patent Publication No. 2006-196360

그러나, 특허 문헌 1에 개시된 기판과 마스크를 가로로 하여 얼라인먼트하는 방법은, 도 13에 도시한 바와 같이, 기판 및 마스크는 그 얇기와 자체 중량에 의해 크게 휜다. 그 휨이 일정하면 그것을 고려하여 마스크를 제작하면 되지만, 당연히 중심일수록 커져 기판 사이즈가 커지면 제작은 곤란하게 된다. 또한, 일반적으로 그 중심점에서의 휨량은, 기판의 휨을 d1, 마스크의 휨을 d2로 하면, d1>d2로 된다. 기판 휨이 크면, 기판 증착면에 마스크와 접촉하여 접촉 손상이 생기므로, 밀착시킬 수 없다. 그로 인해, 피사계 심도 이상으로 이격하여 얼라인먼트하면 정밀도가 나빠, 불량품으로 될 과제가 있다. 특히, 표시 장치용 기판에서는 고정세의 화면을 얻을 수 없다.However, in the method of horizontally aligning the substrate and the mask disclosed in Patent Document 1, as shown in Fig. 13, the substrate and the mask were largely thinned by their thinness and their own weight. If the warpage is constant, a mask may be produced in consideration of the warpage. However, if the center is larger, the larger the substrate size, the more difficult the production. In general, the amount of warpage at the center point is d1> d2 when the warpage of the substrate is d1 and the warpage of the mask is d2. If the substrate warpage is large, contact damage occurs due to contact with the mask on the substrate deposition surface, and thus it cannot be brought into close contact. Therefore, when spaced apart more than the depth of field and aligning, there exists a subject that a precision will worsen and become a defective product. In particular, a high definition screen cannot be obtained from a substrate for a display device.

또한, 특허 문헌 1에 개시된 방법에서는, 기판과 마스크를 얼라인먼트하는 기구 전체가 진공 내에 설치되어 있기 때문에, 구동부 등의 이동에 수반하는 먼지 및 열이 발생할 가능성이 있고, 전자(前者)의 진공 내에의 누설은 누설 먼지가 기판이나 마스크에 부착되어 증착 불량을 일으키고, 후자의 발열은 마스크와 열 팽창을 조장하여 증착 사이즈를 변화시켜, 모두 수율율, 즉 생산성을 저하시키는 문제가 있다.In addition, in the method disclosed in Patent Document 1, since the entire mechanism for aligning the substrate and the mask is provided in a vacuum, there is a possibility that dust and heat accompanying movement of the driving unit or the like may be generated, Leakage causes leakage dust to adhere to the substrate or the mask, resulting in poor deposition, and the latter heat generation encourages the mask and thermal expansion to change the deposition size, thereby all lowering the yield, that is, the productivity.

또한, 기판과 마스크를 얼라인먼트하는 기구 전체가 진공 내에 설치되어 있기 때문에, 일단 구동부 등에서 고장이 발생하면 보수에 시간을 요하여, 장치의 가동율이 저하된다고 하는 문제가 있다.Moreover, since the whole mechanism which aligns a board | substrate and a mask is provided in a vacuum, when a failure occurs in a drive part etc. once, it requires time to repair and the operation rate of an apparatus falls.

또한, 특허 문헌 2, 3에 개시된 방법에서는, 마스크를 가반할 수 있는 반송 로봇이 필요하게 되지만, 상기 요구를 충족시키는 반송 로봇을 수용할 수 있는 처리 챔버의 크기에 대응한 현실적인 크기, 예를 들면, 5m×5m의 반송 챔버를 제작하는 것은 곤란한 과제이다.In addition, in the methods disclosed in Patent Documents 2 and 3, a transfer robot capable of carrying a mask is required, but a realistic size corresponding to the size of a processing chamber capable of accommodating a transfer robot that satisfies the above requirements, for example, It is a difficult subject to produce a 5m x 5m conveyance chamber.

또한, 특허 문헌 2, 3에 개시된 방법에서는, 반송 로봇은 마스크를 반송함과 함께 기판도 반송한다. 따라서, 기판의 교환 중에는 마스크를 반송할 수 없어, 마스크의 교환에 필요한 처리 챔버는 물론, 그 하류에 존재하는 처리 챔버에서도 처리를 할 수 없어, 가동율이 저하되고, 생산성이 저하된다고 하는 과제가 있다.In addition, in the method disclosed by patent documents 2 and 3, a conveyance robot conveys a mask and conveys a board | substrate. Therefore, there is a problem that the mask cannot be transported during the exchange of the substrate, and not only the processing chamber required for the replacement of the mask can be processed, but also the processing chamber located downstream thereof, whereby the operation rate is lowered and the productivity is lowered. .

따라서, 본 발명의 제1 목적은, 기판이나 마스크의 휨을 저감하고, 고정밀도로 증착할 수 있는 유기 EL 디바이스 제조 장치 또는 그 제조 방법 혹은 및 성막 장치 또는 및 성막 방법을 제공하는 것이다.Therefore, the 1st object of this invention is to provide the organic electroluminescent device manufacturing apparatus which can reduce the curvature of a board | substrate and a mask, and can deposit with high precision, and its manufacturing method, and film-forming apparatus, and film-forming method.

또한, 본 발명의 제2 목적은, 반송 챔버를 소형화할 수 있는 유기 EL 디바이스 제조 장치 또는 그 제조 방법 혹은 성막 장치 또는 성막 방법을 제공하는 것이다.Moreover, the 2nd objective of this invention is providing the organic electroluminescent device manufacturing apparatus which can miniaturize a conveyance chamber, its manufacturing method, or the film-forming apparatus, or the film-forming method.

또한, 본 발명의 제3 목적은, 구동부 등을 대기측에 배치함으로써 진공 내의 먼지나 가스의 발생을 저감하여, 생산성이 높은 유기 EL 디바이스 제조 장치 또는 그 제조 방법 혹은 성막 장치 또는 성막 방법을 제공하는 것이다.Further, a third object of the present invention is to provide a high-productivity organic EL device manufacturing apparatus or a manufacturing method or a film forming apparatus or a film forming method by reducing the generation of dust and gas in a vacuum by arranging a driving section or the like on the atmospheric side. will be.

또한, 본 발명의 제4 목적은, 구동부 등을 대기측에 배치함으로써 보수성을 높여, 가동율이 높은 유기 EL 디바이스 제조 장치 또는 그 제조 방법 혹은 성막 장치 또는 성막 방법을 제공하는 것이다.Moreover, the 4th objective of this invention is providing an organic electroluminescent device manufacturing apparatus, its manufacturing method, or the film-forming apparatus or the film-forming method which improves water retention by arrange | positioning a drive part etc. to an atmospheric side.

본 발명은, 상기 제1 또는 제2 목적을 달성하기 위해, 진공 챔버 내에서의 기판과 마스크와의 얼라인먼트를 상기 기판 또는 상기 마스크를 구비하는 현수체로서 현수한 상태에서 행하고, 그 기판에 증착 재료를 증착할 때에, 상기 현수체 위의 접촉부를 이동시켜 상기 현수체를 수직으로 하여, 진공 챔버 내에 반송하여, 상기 위치 정렬 위치에 세트하고, 상기 현수체의 현수체 접촉부와 상기 반송하는 반송 수단의 상기 현수체 접촉부와의 반송 접촉부를 이격하고, 그 후 상기 얼라인먼트를 행하는 것을 제1 특징으로 한다.In order to achieve the said 1st or 2nd objective, this invention performs alignment of a board | substrate and a mask in a vacuum chamber in the state suspended as a suspension provided with the said board | substrate or the said mask, and a vapor deposition material on the board | substrate. When depositing, the contact portion on the suspension body is moved, the suspension body is placed vertically, conveyed in a vacuum chamber, set in the position alignment position, and the suspension contact portion of the suspension body and the conveying means of conveying means. The 1st characteristic is that the conveyance contact part with the said suspension body contact part is spaced, and the said alignment is performed after that.

또한, 본 발명은, 상기 제1 또는 제2 목적을 달성하기 위해, 제1 특징 외에, 상기 이격은 상기 얼라인먼트를 하는 얼라인먼트부가 갖는 상기 현수체를 상하하는 수단으로 행하는 것을 제2 특징으로 한다.Moreover, in order to achieve the said 1st or 2nd objective, this invention is a 2nd characteristic that the said space | interval is performed by the means which raises and lowers the said suspension body which the alignment part which performs the said alignment has in addition to a 1st characteristic.

또한, 상기 제1 또는 제2 목적을 달성하기 위해, 제1 특징 외에, 상기 이격은 상기 반송 접촉부를 현수체 접촉부로부터 이격시키는 것을 제3 특징으로 한다.Further, in order to achieve the first or second object, in addition to the first feature, the separation is characterized by the third feature of separating the conveying contact portion from the suspension contact portion.

또한, 상기 제1 또는 제2 목적을 달성하기 위해, 제1 특징 외에, 상기 현수체는 마스크를 구비하는 현수체이며, 상기 현수체 접촉부는 상기 마스크를 따라서 설치한 래크이며, 상기 반송 접촉부는 피니온인 것을 제4 특징으로 한다.Moreover, in order to achieve the said 1st or 2nd objective, in addition to a 1st characteristic, the said suspension body is a suspension body provided with a mask, the said suspension body contact part is a rack provided along the said mask, and the said conveyance contact part is a finisher It is the fourth feature that it is on.

또한, 상기 제3 또는 제4 목적을 달성하기 위해, 제1 특징 외에, 상기 이격하는 이격 기구의 구동 수단을 대기 분위기 속에 설치한 것을 제5 특징으로 한다.Moreover, in order to achieve the said 3rd or 4th objective, in addition to a 1st characteristic, it is a 5th feature that the drive means of the spaced apart space | interval mechanism was provided in air atmosphere.

본 발명에 따르면, 기판이나 마스크의 휨을 저감하여, 고정밀도로 증착할 수 있는 유기 EL 디바이스 제조 장치 또는 성막 장치를 제공할 수 있다. According to the present invention, it is possible to provide an organic EL device manufacturing apparatus or a film forming apparatus which can reduce the warpage of a substrate and a mask and can be deposited with high accuracy.

또한, 본 발명에 따르면, 반송 챔버를 소형화할 수 있는 유기 EL 디바이스 제조 장치 또는 그 제조 방법 혹은 성막 장치 또는 성막 방법을 제공할 수 있다.Moreover, according to this invention, the organic electroluminescent device manufacturing apparatus which can miniaturize a conveyance chamber, its manufacturing method, or the film-forming apparatus or the film-forming method can be provided.

또한, 본 발명에 따르면, 구동부 등을 대기측에 배치함으로써, 진공 내의 먼지나 가스의 발생을 저감하여, 생산성이 높은 유기 EL 디바이스 제조 장치 또는 그 제조 방법 혹은 성막 장치 또는 성막 방법을 제공할 수 있다.Further, according to the present invention, by arranging the driving unit or the like on the air side, generation of dust and gas in the vacuum can be reduced, and an organic EL device manufacturing apparatus, a manufacturing method thereof, or a film forming apparatus or a film forming method having high productivity can be provided. .

또한, 본 발명에 따르면, 구동부 등을 대기측에 배치함으로써 보수성을 높여, 가동율이 높은 유기 EL 디바이스 제조 장치 또는 그 제조 방법 혹은 성막 장치 또는 성막 방법을 제공할 수 있다.Moreover, according to this invention, by providing a drive part etc. to an atmospheric side, water retention can be improved and the organic EL device manufacturing apparatus, its manufacturing method, or the film-forming apparatus or the film-forming method with high operation rate can be provided.

도 1은 본 발명의 제1 실시 형태인 유기 EL 디바이스 제조 장치를 도시하는 도면.
도 2는 본 발명의 제1 실시 형태인 반송 챔버와 처리 챔버의 구성의 모식도와 동작 설명도.
도 3은 처리 챔버와 마스크 교환 챔버와의 사이를 마스크를 반입출하는 마스크 반송 기구의 본 발명의 일 실시 형태를 도시하는 도면.
도 4는 본 발명의 일 실시 형태인 마스크를 도시하는 도면.
도 5는 본 발명의 일 실시 형태인 얼라인먼트부를 도시하는 도면.
도 6의 (a)는 반송 시에서 반송 기구의 래크와 피니온이 맞물려 있는 상태를 도시하는 도면이고, (b)는 얼라인먼트 시에서 반송 기구의 래크와 피니온이 이격되어 있는 상태를 도시하는 도면.
도 7은 본 발명의 일 실시 형태인 얼라인먼트 광학계의 기본 구성을 도시하는 도면.
도 8은 본 발명의 제2 실시 형태인 반송 기구 및 이격 기구를 도시하는 도면.
도 9는 본 발명의 제2 실시 형태인 유기 EL 디바이스 제조 장치를 도시하는 도면.
도 10은 본 발명의 제2 실시 형태인 유기 EL 디바이스 제조 장치인 마스크 교환 챔버의 구성과 그 동작을 도시하는 도면.
도 11은 본 발명의 제2 실시 형태인 유기 EL 디바이스 제조 장치에서의 마스크 반입출실의 구성 및 동작을 도시하는 도면.
도 12는 본 발명의 제3 실시 형태인 유기 EL 디바이스 제조 장치를 도시하는 도면.
도 13은 마스크ㆍ기판을 수평으로 하여 증착하는 종래 기술의 과제를 설명하는 도면.
도 14는 마스크 교환에서의 종래 기술을 설명하는 도면.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The figure which shows the organic electroluminescent device manufacturing apparatus which is 1st Embodiment of this invention.
It is a schematic diagram and operation explanatory drawing of the structure of a conveyance chamber and a processing chamber which are 1st Embodiment of this invention.
FIG. 3 is a diagram showing one embodiment of the present invention of a mask conveyance mechanism for carrying in and carrying out a mask between a processing chamber and a mask replacement chamber. FIG.
4 is a diagram illustrating a mask that is one embodiment of the present invention.
Fig. 5 is a diagram showing an alignment portion which is one embodiment of the present invention.
(A) is a figure which shows the state in which the rack and pinion of a conveyance mechanism are engaged at the time of conveyance, (b) is the figure which shows the state where the rack and pinion of a conveyance mechanism are spaced apart at the time of alignment. .
7 is a diagram illustrating a basic configuration of an alignment optical system according to one embodiment of the present invention.
The figure which shows the conveyance mechanism and the space | interval mechanism which are 2nd Embodiment of this invention.
9 is a diagram showing an organic EL device manufacturing apparatus according to a second embodiment of the present invention.
It is a figure which shows the structure of the mask exchange chamber which is an organic electroluminescent device manufacturing apparatus which is 2nd Embodiment of this invention, and its operation | movement.
The figure which shows the structure and operation | movement of the mask carrying-in chamber in the organic electroluminescent device manufacturing apparatus which is 2nd Embodiment of this invention.
It is a figure which shows the organic electroluminescent device manufacturing apparatus which is 3rd Embodiment of this invention.
Fig. 13 is a view for explaining the problems of the prior art in which the mask and the substrate are horizontally deposited.
Fig. 14 is a diagram for explaining the prior art in mask exchange.

본 발명의 유기 EL 디바이스 제조 장치에서의 제1 실시 형태를 도 1 내지 도 7을 이용하여 설명한다. 유기 EL 디바이스 제조 장치는, 단순히 발광 재료층(EL층)을 형성하여 전극 사이에 끼우는 것만의 구조가 아니라, 양극 상에 정공 주입층이나 수송층, 음극 상에 전자 주입층이나 수송층 등 다양한 재료가 박막으로 이루어지는 다층 구조를 형성하거나, 기판을 교환하거나 한다. 도 1은 그 제조 장치의 일례를 나타낸 것이다.A first embodiment in the organic EL device manufacturing apparatus of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 7. The organic EL device manufacturing apparatus is not merely a structure in which a light emitting material layer (EL layer) is formed and sandwiched between electrodes, but various materials such as a hole injection layer or a transport layer on the anode and an electron injection layer or a transport layer on the cathode are thin films. The multilayer structure which consists of these is formed, or a board | substrate is exchanged. 1 shows an example of the manufacturing apparatus.

본 실시 형태에서의 유기 EL 디바이스 제조 장치(100)는, 대별하여 처리 대상의 기판(6)을 반입하는 로드 클러스터(13), 기판(6)을 처리하는 4개의 클러스터(A∼D), 각 클러스터간 또는 클러스터와 로드 클러스터(13) 혹은 다음 공정(밀봉 공정)과의 사이에 설치된 5개의 교환실(14)로 구성되어 있다. 본 실시 형태에서는, 기판의 증착면을 상면으로 하여 반송하고, 증착할 때에 기판을 세워 증착한다.In the organic EL device manufacturing apparatus 100 according to the present embodiment, each of the load clusters 13 carrying the substrate 6 to be processed, the four clusters A to D processing the substrate 6, and each It consists of five exchange chambers 14 provided between clusters or between the cluster and the load cluster 13, or the next process (sealing process). In this embodiment, the vapor deposition surface of the substrate is transported as an upper surface, and the vapor deposition is carried out while the substrate is raised.

로드 클러스터(13)는, 전후에 진공을 유지하기 위해 게이트 밸브(10)를 갖는 로드 로크실(13R)과 로드 로크실(13R)로부터 기판을 수취하고, 선회하여 교환실(14a)에 기판(6)을 반입하는 반송 로봇(15R)으로 이루어진다. 각 로드 로크실(13R) 및 각 교환실(14)은 전후에 게이트 밸브(10)를 갖고, 그 게이트 밸브(10)의 개폐를 제어하여 진공을 유지하면서 로드 클러스터(13) 혹은 다음 클러스터 등에 기판을 전달한다.The rod cluster 13 receives the substrate from the load lock chamber 13R having the gate valve 10 and the load lock chamber 13R in order to maintain the vacuum before and after, and turns the substrate 6 to the exchange chamber 14a. ) Is made up of a transfer robot 15R. Each of the load lock chambers 13R and the exchange chambers 14 has a gate valve 10 before and after, and controls the opening and closing of the gate valve 10 to maintain the vacuum to provide a substrate to the load cluster 13 or the next cluster or the like. To pass.

각 클러스터(A∼D)는, 1대의 반송 로봇(15)을 갖는 반송 챔버(2)와, 반송 로봇(15)으로부터 기판을 수취하고, 소정의 처리를 하는 도면 상에서 상하에 배치된 2개의 처리 챔버(1)(제1 첨자 a∼d는 클러스터를 나타내고, 제2 첨자 u, d는 상하측을 나타냄)를 갖는다. 반송 챔버(2)와 처리 챔버(1)의 사이에는 게이트 밸브(10)를 설치하고 있다.Each cluster A-D receives the board | substrate from the conveyance chamber 2 which has one conveyance robot 15, and the conveyance robot 15, and is two processes arrange | positioned up and down on the figure which performs predetermined | prescribed process. It has a chamber 1 (first subscripts a to d represent clusters, and second subscripts u and d represent upper and lower sides). A gate valve 10 is provided between the transfer chamber 2 and the processing chamber 1.

처리 챔버(1)의 구성은 처리 내용에 의해 다르지만, 증착 재료인 발광 재료를 진공 중에서 증착하여 EL층을 형성하는 진공 증착 챔버(1bu)를 예로 들어 설명한다. 도 2는, 그 때 반송 챔버(2b)와 진공 증착 챔버(1bu)의 구성의 모식도와 동작 설명도이다. 도 2에서의 반송 로봇(15)은, 전체를 상하로 이동 가능(화살표 159 참조)하고, 좌우로 선회 가능한 링크 구조의 아암(157)을 갖고, 그 선단에는 기판 반송용의 빗살 형상 핸드(158)를 갖는다.Although the configuration of the processing chamber 1 varies depending on the processing contents, a description will be given by taking an example of a vacuum deposition chamber 1bu which forms an EL layer by depositing a light emitting material as a deposition material in a vacuum. FIG. 2: is a schematic diagram and operation | movement explanatory drawing of the structure of the conveyance chamber 2b and the vacuum vapor deposition chamber 1bu at that time. The conveyance robot 15 in FIG. 2 can move the whole up and down (refer arrow 159), and has the arm 157 of the link structure which can be rotated left and right, and the comb-shaped hand 158 for board | substrate conveyance is at the front-end | tip. Has

본 실시 형태의 처리의 기본적인 사고 방식은, 도 2에 도시한 바와 같이, 1대의 진공 증착 챔버에 처리 라인을 2개 설치하고, 한쪽의 라인(예를 들면 R 라인)에서 증착하고 있는 동안에, 다른 쪽의 L 라인에서는 기판을 반출입하고, 기판(6)과 마스크(81)와의 얼라인먼트를 하여 증착하는 준비를 완료시키는 것이다. 이 처리를 교대로 행함으로써, 기판에 증착시키지 않고 쓸데없이 증발(승화)하고 있는 시간을 감소시킬 수 있다. 상기를 실현하기 위해, 진공 증착 챔버(1bu)는, 기판(6)과 마스크의 위치 정렬을 행하고, 기판(6)의 필요한 부분에 증착시키는 얼라인먼트부(8)와, 반송 로봇(15)과 기판의 수수를 행하고, 증착부(7)에 기판(6)을 이동시키는 처리 교환부(9)를 우측 R 라인과 좌측 L 라인으로 2계통 형성하고, 그 2계통의 라인간을 이동하고, 발광 재료를 증발(승화)시켜 기판(6)에 증착시키는 증착부(7)를 갖고 있다.The basic idea of the process of this embodiment is that, as shown in Fig. 2, two processing lines are provided in one vacuum deposition chamber and the other lines are deposited in one line (for example, R line). In the L line on the side, the substrate is carried in and out, and the substrate 6 and the mask 81 are aligned with each other to prepare for deposition. By alternately performing these processes, it is possible to reduce the time of evaporation (sublimation) unnecessarily without deposition on the substrate. In order to realize the above, the vacuum deposition chamber 1bu is aligned with the substrate 6 and the mask, and an alignment portion 8 for depositing on a necessary portion of the substrate 6, the transfer robot 15, and the substrate. Two lines of the right R line and the left L line are formed to transfer the substrate 6 to the vapor deposition unit 7, and the light emitting material is moved between the two lines. It has a vapor deposition part 7 which vaporizes (sublimates) and deposits on the board | substrate 6. As shown in FIG.

따라서, 우선, 처리 교환부(9)를 설명한다. 처리 교환부(9)는, 반송 로봇(15)의 빗살 형상 핸드(158)와 간섭하지 않고 기판(6)을 수수 가능하며, 기판(6)을 고정하는 수단(94)을 갖는 빗살 형상 핸드(91)와, 상기 빗살 형상 핸드(91)를 선회시켜 기판(6)을 직립시켜 얼라인먼트부(8)로 이동시키는 핸드 선회 구동 수단(93)을 갖는다. 기판(6)을 고정하는 수단(94)으로서는, 진공 중인 것을 고려하여 정전 흡착이나 기계적 클램프 등의 수단을 이용한다.Therefore, first, the process exchange part 9 is demonstrated. The process exchange part 9 can receive the board | substrate 6 without interfering with the comb-shaped hand 158 of the conveyance robot 15, and has the comb-shaped hand which has a means 94 which fixes the board | substrate 6 ( 91 and the hand turning drive means 93 which rotates the comb-shaped hand 91 so that the board | substrate 6 can stand up and moves to the alignment part 8. As shown in FIG. As the means 94 for fixing the substrate 6, a means such as electrostatic adsorption or a mechanical clamp is used in consideration of being in a vacuum.

증착부(7)는, 증발원(71)을 레일(76r) 상을 따라서 상하 방향으로 이동시키는 상하 구동 수단(76), 증발원(71)을 레일(75) 상을 따라서 좌우의 얼라인먼트부간을 이동하는 좌우 구동 베이스(74)를 갖는다. 증발원(71)은 내부에 증착 재료인 발광 재료를 갖고, 상기 증착 재료를 가열 제어(도시 생략)함으로써 안정된 증발 속도가 얻어지고, 도 2의 인출도에 도시한 바와 같이, 증발원(71)에 형성된 복수의 구멍(73)으로부터 분사하는 구조로 되어 있다. 필요에 따라서는, 증착막의 특성을 향상시키기 위해 첨가제도 동시에 가열하여 증착한다. 이 경우, 증발원과 한 쌍 혹은 복수의 증발원과 상하로 평행하게 형성되어 증착한다.The vapor deposition unit 7 moves up and down drive means 76 for moving the evaporation source 71 in the up and down direction along the rail 76r and moves the left and right alignment portions along the rail 75 over the evaporation source 71. It has a left and right drive base 74. The evaporation source 71 has a light emitting material which is a vapor deposition material therein, and a stable evaporation rate is obtained by heating control (not shown) of the vapor deposition material, and is formed in the evaporation source 71 as shown in the drawing figure of FIG. It has a structure which injects from the some hole 73. FIG. As needed, in order to improve the characteristic of a vapor-deposited film, an additive is also heated and vapor-deposited simultaneously. In this case, the vapor deposition source is formed in parallel with the evaporation source and a pair or a plurality of evaporation sources.

얼라인먼트부(8)를 설명하기 전에, 도 3을 이용하여 본 실시 형태의 큰 특징인 마스크 교환 챔버(5)의 구성과 그 동작을, 얼라인먼트부를 도시하는 도 5를 참조하면서 설명한다. 도 3은, 처리 챔버(1)와 마스크 교환 챔버(5)와의 사이를 현수체를 구성하는 마스크(81)를 반입출하는 마스크 반송 기구의 일 실시 형태를 도시하는 도면이고, 도 5는 얼라인먼트부의 일 실시 형태를 도시하는 도면이다.Before explaining the alignment part 8, the structure and operation | movement of the mask exchange chamber 5 which are the big feature of this embodiment are demonstrated using FIG. 3, referring FIG. 5 which shows an alignment part. FIG. 3: is a figure which shows one Embodiment of the mask conveyance mechanism which carries in and out the mask 81 which comprises a suspension body between the process chamber 1 and the mask exchange chamber 5, FIG. 5 is an alignment part It is a figure which shows one Embodiment.

도 1의 인출도에 도시한 바와 같이, 본 실시 형태에서는 증착 처리하는 처리 챔버(1)에 인접하여 게이트 밸브(10B)를 통하여 마스크 교환 챔버(5)를 설치하고 있다. 마스크 교환 챔버(5)는 적어도 마스크 교환 시에 처리 챔버(1)와 동일한 진공도를 유지할 수 있는 챔버이다. 이하의 설명에서는, 도 1의 인출도에 도시한 진공 증착 챔버(1ad)의 L 라인과 진공 증착 챔버(1bd)의 R 라인의 마스크(81)의 교환을 담당하는 마스크 교환 챔버(5bd)를 예로 들어 설명한다.As shown in the drawing figure of FIG. 1, in this embodiment, the mask exchange chamber 5 is provided through the gate valve 10B adjacent to the processing chamber 1 to vapor-deposit. The mask changing chamber 5 is a chamber capable of maintaining at least the same degree of vacuum as the processing chamber 1 at the time of mask changing. In the following description, the mask exchange chamber 5bd in charge of the exchange of the mask 81 of the L line of the vacuum deposition chamber 1ad and the R line of the vacuum deposition chamber 1bd shown in the drawing view of FIG. 1 is taken as an example. Listen and explain.

또한, 진공 증착 챔버(1ad)와 진공 증착 챔버(1bd)의 L, R 라인의 호칭 방법은, 도 2에 도시한 진공 증착 챔버(1bu)의 라인의 호칭 방법과는 상하 반대로 되므로 도면 상에서는 반대로 된다. 또한, 도 1에서의 마스크 교환 챔버 등의 첨자는, 제1 첨자가 좌측으로부터 abc순을, 제2 첨자가 상단 u, 하단 d를 나타낸다. 단, 설명의 번잡함을 피하기 위해 필요없는 한, 첨자는 생략한다.Note that the L and R lines of the vacuum deposition chamber 1ad and the vacuum deposition chamber 1bd are referred to in the drawing because they are upside down from those of the lines of the vacuum deposition chamber 1bu shown in FIG. 2. . In addition, the subscripts, such as a mask exchange chamber in FIG. 1, have a 1st subscript in order from abc to left, and a 2nd subscript in the upper part u and the lower end d. However, subscripts are omitted unless necessary to avoid confusion in the description.

우선, 도 4에 도시한 본 실시 형태에서 이용하는 마스크(81)의 일례를 설명한다. 마스크(81)는 대별하여 마스크부(81M)와 마스크부를 지지하는 프레임(81F)으로 이루어진다. 인출도에 도시한 바와 같이, 마스크부(81M)에는 기판(6)에 증착하는 부분에 대응한 개소에 개구부(81h)를 갖는다. 본 예에서는 적(R), 녹(G), 청(B)의 발광 재료를 증착하는 마스크 중 적색에 대응하는 개구부를 나타내고 있다. 마스크의 치수는 기판의 대형화에 수반하여 2000㎜×2000㎜나 되고, 그 중량도 300㎏ 초과한다. 그 창의 크기는 색에 의해 서로 다르지만 평균적으로 폭 30㎛, 높이 150㎛ 정도이다. 마스크(81M)의 두께는 50㎛ 정도이며, 금후 더욱 얇아지는 경향이 있다. 한편, 마스크(81M)에는, 정밀 얼라인먼트 마크(81ms)가 4군데, 거친 얼라인먼트 마크(81mr)가 2군데, 합계 6군데에 얼라인먼트 마크(81m)가 설치되어 있다. 그에 대응하여, 기판에도 정밀 얼라인먼트 마크(6ms)가 4군데, 거친 얼라인먼트 마크(6mr)가 2군데의 합계 6군데에 얼라인먼트 마크(6m)가 설치되어 있다.First, an example of the mask 81 used by this embodiment shown in FIG. 4 is demonstrated. The mask 81 is roughly composed of a mask portion 81M and a frame 81F supporting the mask portion. As shown in the drawing view, the mask portion 81M has an opening 81h at a portion corresponding to the portion to be deposited on the substrate 6. In this example, an opening corresponding to red is shown among masks for depositing red (R), green (G), and blue (B) light emitting materials. The size of a mask is 2000 mm x 2000 mm, and the weight exceeds 300 kg with the enlargement of a board | substrate. The size of the window varies depending on the color, but on average it is about 30 µm wide and 150 µm high. The thickness of the mask 81M is about 50 micrometers, and it tends to become thinner in the future. On the other hand, the mask 81M has four precision alignment marks 81ms, two rough alignment marks 81mr, and an alignment mark 81m is provided in six locations in total. Correspondingly, the alignment mark 6m is provided in the board | substrate in four precision alignment marks 6ms, and the rough alignment mark 6mr is six places in total of two.

다음으로, 진공 증착 챔버인 처리 챔버(1)와 마스크 교환 챔버(5)와의 사이를 마스크(81)를 반입출하는 마스크 반송 기구의 구성과 동작을 설명한다. 도 3에서는 번잡성을 피하기 위해 반송 기구 이외의 부분은 생략하고 있다. 도 3의 좌측에 처리 챔버(1)를, 우측에 마스크 교환 챔버(5)를 도시하고 있고, 마스크(81)는 처리 챔버(1)에 세트되어 있는 상태를 실선으로 나타낸다. 상기 2개의 챔버의 사이에는 그들을 구획하기 위한 게이트 밸브(10B)가 있다. 게이트 밸브의 양측에는, 마스크(81)를 반송시키기 위한 각 반송부(교환 챔버 반송부: 56, 처리 챔버 반송부: 86)가 있다. 각 반송부는 기본적으로는, 동일한 구조를 갖고 있으므로, 구조에 관해서는 마스크 교환 챔버(5)를 주체로, 후술하는 마스크 반송 구동 수단에 관해서는 후술하는 설명에서 도 5를 참조하는 관계상 진공 증착 챔버(1)를 주체로 설명한다. 그 때문에, 도 3에서는 번잡함을 피하기 위해 도면 및 부호를 일부 생략하고 있다.Next, the structure and operation | movement of the mask conveyance mechanism which carries in / out the mask 81 between the processing chamber 1 which is a vacuum deposition chamber, and the mask exchange chamber 5 are demonstrated. In FIG. 3, parts other than a conveyance mechanism are abbreviate | omitted in order to avoid complexity. The process chamber 1 is shown on the left side of FIG. 3, and the mask exchange chamber 5 is shown on the right side, and the mask 81 shows the state set in the process chamber 1 by a solid line. Between the two chambers is a gate valve 10B for partitioning them. There are each conveyance part (exchange chamber conveyance part 56, processing chamber conveyance part 86) for conveying the mask 81 on both sides of a gate valve. Since each conveyance part basically has the same structure, the vacuum chamber chamber is mainly related to the mask exchange chamber 5 regarding the structure, and the mask conveyance drive means described later with reference to FIG. 5 in the following description. (1) is mainly explained. Therefore, in FIG. 3, some drawing and code are abbreviate | omitted in order to avoid the trouble.

각 반송부(56, 86)는, 마스크(81)를 유지하는 베이스(세트 베이스: 52, 얼라인먼트 베이스: 82)와 마스크 반송 구동 수단(교환 챔버 반송 구동부: 56B, 처리 챔버 반송 구동부: 86B)으로 이루어진다. 베이스는, 베이스에 마스크(81)가 반입할 때에 마스크 상부를 지지하는 마스크 상부 고정부(52u, 82u)와 그 하부에 마스크(81)를 반송하는 복수의 롤러 형상의 반송 레일(56r, 82r)을 갖는다. 마스크는 그 하부에 마스크를 재치 고정하여 일체로 되어 이동하는 마스크 하부 고정부(81k)를 갖는다. 마스크 하부 고정부(81k)는 그 고정부의 볼록부 저부에는 반송 접촉부인 피니온(소기어: 56g, 86g)이 맞물리는 현수체 접촉부인 래크(81r)를 갖는다. 2개의 마스크 반송부의 구동 기어인 피니온의 간격은 마스크(81)의 가로 길이 LS보다 짧은 간격 LD로 되도록 배치되어 있다. 따라서, LS>LD이므로, 적어도 한쪽의 피니온이 래크(81r)와 맞물리므로, 상기 2개의 피니온을 협조하여 제어함으로써 마스크를 전후진시킬 수 있다.Each conveyance part 56 and 86 is a base (set base: 52, alignment base: 82) which hold | maintains the mask 81, and mask conveyance drive means (exchange chamber conveyance drive part 56B, processing chamber conveyance drive part 86B). Is done. The base is a mask upper fixing part 52u, 82u which supports a mask upper part when the mask 81 carries in to a base, and the some roller-shaped conveyance rail 56r, 82r which conveys the mask 81 to the lower part. Has The mask has a mask lower fixing portion 81k which is integrally moved by mounting the mask on the lower portion thereof. The mask lower fixing portion 81k has a rack 81r which is a suspension contact portion in which the pinion (small gears 56g, 86g) serving as the conveying contact portion is engaged at the bottom of the convex portion of the fixing portion. The spacing of the pinion which is the drive gear of the two mask conveyance parts is arrange | positioned so that it may become space | interval LD shorter than the horizontal length LS of the mask 81. As shown in FIG. Therefore, since LS> LD, at least one pinion meshes with the rack 81r, the mask can be advanced back and forth by cooperatively controlling the two pinions.

마스크(81)가 스무스하게 반송할 수 있도록 하기 위해, 마스크 상부 고정부의 내부에는, 인출도 A에 도시한 바와 같이 복수의 좌우의 가이드 롤러(56ur, 56ul)로 이루어지는 반송 가이드(56h)를 설치하고, 한편, 마스크 하부 고정부(81k)는, 인출도 B에 도시한 바와 같이 래크측과는 반대측의 베이스에 피니온과 협조하여 마스크(81)를 사이에 끼우면서 반송시키는 복수의 롤러(56dr)가 설치되어 있다. 또한, 반송 레일(56r, 82r)은, 래크(81r)가 있어도 마스크를 스무스하게 반송할 수 있도록, 인출도 B에 도시한 바와 같이 H형의 형상을 갖는다.In order to be able to convey the mask 81 smoothly, the conveyance guide 56h which consists of several left and right guide rollers 56ur and 56ul is provided in the upper part of a mask upper fixing part as shown to the drawing degree A. FIG. On the other hand, as shown in the drawing degree B, the mask lower fixing part 81k cooperates with the pinion on the base on the side opposite to the rack side, and conveys the plurality of rollers 56dr while sandwiching the mask 81 therebetween. ) Is installed. In addition, the conveyance rails 56r and 82r have an H-shaped shape as shown in the drawing degree B so that a mask may be conveyed smoothly even if there is a rack 81r.

교환 챔버 반송부(56)의 가이드 롤러(56ur, 56ul)에 대응하는 처리 챔버 반송부(86)의 가이드 롤러(86ur, 86ul)(도시 생략)는, 얼라인먼트 시에서 마스크를 파지 고정하는 역할을 하고 있다. 따라서, 얼라인먼트 시에 안정적으로 마스크를 유지할 수 있도록, 가이드 롤러(86ur, 86ul) 사이의 서로 끼워지는 정도는 가이드 롤러(56ur, 56ul) 사이에 비해 약간 단단하게 조절하고 있다. 상기 반송 롤러(82r) 및 가이드 롤러는 진공 증착에 악영향을 미치는 가스를 저감하기 위해, 로우그리스 베어링을 사용하고 있다. 또한, 마스크(81)를 상기 마스크 하부 고정부(81k)에 착탈 가능하게 또한 확실하게 고정하기 위해, 상기 마스크 하부 고정부(81k)에는, 마스크 하부에 설치한 삼각뿔 형상의 돌기물이 수납되는 삼각뿔 형상의 오목부(도시 생략)가 복수 형성되어 있다.The guide rollers 86ur and 86ul (not shown) of the processing chamber conveyance unit 86 corresponding to the guide rollers 56ur and 56ul of the exchange chamber conveyance unit 56 serve to grip and fix the mask during alignment. have. Therefore, the degree of fitting between the guide rollers 86ur and 86ul is slightly tighter than that between the guide rollers 56ur and 56ul so that the mask can be stably maintained at the time of alignment. The conveying roller 82r and the guide roller use a low grease bearing in order to reduce the gas which adversely affects vacuum deposition. In addition, in order to detachably and reliably fix the mask 81 to the said mask lower part fixing part 81k, the triangular pyramid in which the triangular pyramidal-shaped protrusion provided in the mask lower part is accommodated in the said mask lower part fixing part 81k. Plural recesses (not shown) are formed in plural.

처리 챔버 반송 구동부(86B)는, 도 5에 도시한 바와 같이, 대기측인 챔버(1)의 하부벽(1Y) 하에 설치한 반송 구동 모터(86m), 마스크의 래크(81r)에 맞물리는 피니온(86g), 회전축을 90도 변환하기 위한 2개의 베벨 기어(86k1, 86k2), 기어 지지체(86h) 및 진공 시일하는 시일부(86s)로 이루어진다. 이와 같이 처리 챔버 반송 구동부(86B)도 얼라인먼트 기구부(83)와 마찬가지로 시일부를 통하여 대기측에 설치되어 있고, 진공 증착에 악영향을 미치는 먼지 등을 진공 내에 반입하지 않도록 하고 있다.As shown in FIG. 5, the process chamber conveyance drive part 86B is a pinion which engages with the conveyance drive motor 86m provided under the lower wall 1Y of the chamber 1 on the atmospheric side, and the rack 81r of the mask. It consists of two bevel gears 86k1 and 86k2 for turning on 86g, a 90 degree rotational axis, a gear support 86h and a seal portion 86s for vacuum sealing. Thus, the process chamber conveyance drive part 86B is provided in the air | atmosphere side similarly to the alignment mechanism part 83, and does not carry in the dust etc. which adversely affect vacuum deposition in vacuum.

상기 실시 형태에서는 처리 챔버 반송 구동부(86B)의 시일부(86s)를 반송 구동 모터(86m)와 베벨 기어(86k1)의 사이에 설치하였지만, 처리 챔버(1)의 하부벽(1Y)으로부터 돌출된 통 형상체에 베벨 기어 수납부를 설치하고, 베벨 기어 수납부와 피니온의 사이에 진공 시일 예를 들면 자성 유체 시일을 설치하여도 된다. 교환 챔버 반송 구동부(56B)도 처리 챔버 반송 구동부(86B)와 마찬가지의 구성을 갖고 있다.Although the seal part 86s of the process chamber conveyance drive part 86B was provided between the conveyance drive motor 86m and the bevel gear 86k1 in the said embodiment, it protruded from the lower wall 1Y of the process chamber 1. A bevel gear housing may be provided in the cylindrical body, and a vacuum seal, for example, a magnetic fluid seal may be provided between the bevel gear housing and the pinion. The exchange chamber conveyance drive part 56B also has the structure similar to the process chamber conveyance drive part 86B.

또한, 이와 같은 반송 기구에 의해 마스크(81)가 얼라인먼트 베이스(82)의 원하는 위치에 세트된 것인지의 여부는, 본 실시 형태에서는, 후술하는 도 5에 도시한 얼라인먼트 광학계(85)를 이용한다. 도 4에 도시한 바와 같이 얼라인먼트는 기판(6) 및 마스크(81)에 설치한 얼라인먼트 마크(6m, 81m)가 겹치도록 제어한다. 따라서, 양 얼라인먼트 마크(6m, 81m)가 얼라인먼트 광학계(85)의 카메라에 모두 촬상되면 세트되었다고 판단한다. 물론, 마스크 상부 고정부(82u)의 단부에 스위치 등의 센서를 설치하여도 된다.In addition, in this embodiment, the alignment optical system 85 shown in FIG. 5 mentioned later uses the mask 81 whether it is set to the desired position of the alignment base 82 by such a conveyance mechanism. As shown in FIG. 4, alignment controls so that the alignment marks 6m and 81m provided in the board | substrate 6 and the mask 81 may overlap. Therefore, when both alignment marks 6m and 81m are imaged by the camera of the alignment optical system 85, it determines with being set. Of course, you may provide a sensor, such as a switch, in the edge part of the mask upper part 82u.

본 반송 기구의 실시 형태에 따르면, 마스크의 교환 시에서, 진공 증착 챔버 등의 처리 챔버(1)와 마스크 교환 챔버(5)의 사이에 있는 게이트 밸브(10B)의 양측에, 마스크에 유지하는 마스크 하부 고정부에 설치된 래크를 구동하는 구동부를 설치한 간단한 기구이며, 확실하게 마스크를 이동할 수 있어, 반입 후, 게이트 밸브(10B)를 닫음으로써 진공 증착 챔버 등의 처리 챔버를 마스크 교환 챔버로부터 완전하게 분리할 수 있다.According to the embodiment of the present conveyance mechanism, at the time of exchanging the mask, the mask held in the mask on both sides of the gate valve 10B between the processing chamber 1 such as the vacuum deposition chamber and the mask exchanging chamber 5. It is a simple mechanism provided with the drive part which drives the rack provided in the lower fixed part, and can move a mask reliably, and after processing, the process chambers, such as a vacuum deposition chamber, are completely closed from a mask exchange chamber by closing the gate valve 10B. Can be separated.

상기에 설명한 반송 기구의 실시 형태에 따르면, 마스크를 확실하게 얼라인먼트 베이스에 세트할 수 있으므로, 고정밀도로 증착할 수 있는 유기 EL 디바이스 제조 장치를 제공할 수 있다.According to embodiment of the conveyance mechanism demonstrated above, since a mask can be set to an alignment base reliably, the organic electroluminescent device manufacturing apparatus which can deposit with high precision can be provided.

다음으로, 도 5를 이용하여 본 실시 형태의 다른 특징인 얼라인먼트부(8)를 설명한다. 도 5에서는 처리 챔버인 진공 증착 챔버의 벽이나 게이트 밸브를 생략하고 있다. 본 실시 형태에서는, 얼라인먼트는, 진공 증착 챔버의 외부로부터 마스크를 반입하고, 기판(6)을 거의 수직 또는 수직으로 고정하고, 마스크(81)를 현수시켜 마스크의 자세를 바꾸어 행해진다. 그를 위해, 도면 상부에는 얼라인먼트를 행하는 기구가, 하부에는 진공 증착 챔버의 외부로부터 내부에 마스크를 반입하기 위한 반송 기구인 반송부(86)가 설치되어 있다. 얼라인먼트 및 마스크 반송을 위한 기구부는, 가능한 한, 진공 증착 챔버의 외측인 대기측에, 구체적으로는 진공 증착 챔버의 상부벽(1T) 위, 혹은 하부벽(1Y) 아래에 설치하고 있다. 또한, 진공 증착 챔버 내에 설치해야만 하는 것은, 대기부로부터 볼록부를 형성하여 그 안에 설치하고 있다.Next, the alignment part 8 which is another characteristic of this embodiment is demonstrated using FIG. In FIG. 5, the wall and gate valve of the vacuum deposition chamber which is a processing chamber are abbreviate | omitted. In this embodiment, alignment is performed by carrying in a mask from the exterior of a vacuum vapor deposition chamber, fixing the board | substrate 6 substantially vertically or vertically, suspending the mask 81, and changing the attitude | position of a mask. For that purpose, a mechanism for performing alignment is provided in the upper part of the figure, and a carrier 86 is provided in the lower part, which is a transport mechanism for carrying in a mask from the outside of the vacuum deposition chamber. The mechanism part for alignment and mask conveyance is provided in the atmospheric side which is outside of a vacuum deposition chamber as possible, specifically, on the upper wall 1T or below the lower wall 1Y of a vacuum deposition chamber. In addition, the thing which should be provided in the vacuum deposition chamber forms the convex part from the atmospheric part, and installs in it.

얼라인먼트부(8)는, 마스크(81), 마스크(81)를 고정하는 얼라인먼트 베이스(82), 얼라인먼트 베이스(82)를 유지하고, 얼라인먼트 베이스(82) 즉 마스크(81)의 XZ 평면에서의 자세를 규정하는 얼라인먼트 구동부(83), 얼라인먼트 베이스(82)를 아래로부터 지지하고, 얼라인먼트 구동부(83)와 협조하여 마스크(81)의 자세를 규정하는 얼라인먼트 종동부(84), 기판(6)과 상기 마스크(81)에 설치된 도 4에 도시한 얼라인먼트 마크를 검출하는 얼라인먼트 광학계(85), 얼라인먼트 마크의 영상을 처리하고, 얼라인먼트량을 구하여 얼라인먼트 구동부(83)를 제어하는 제어 장치(20)(도 1 참조)로 이루어진다.The alignment unit 8 holds the mask 81, the alignment base 82 for fixing the mask 81, and the alignment base 82, and the posture in the XZ plane of the alignment base 82, that is, the mask 81. The alignment driving unit 83 and the alignment base 82 which support the alignment driving unit 83 and the alignment base 82 are supported from below, and cooperate with the alignment driving unit 83 to define the attitude of the mask 81. The control apparatus 20 (FIG. 1) which processes the alignment optical system 85 which detects the alignment mark shown in FIG. 4 provided in the mask 81, and the image of an alignment mark, calculates the amount of alignment, and controls the alignment drive part 83 (FIG. 1). Reference).

이하, 본 실시 형태에서의 얼라인먼트 방법을 실현하는 기본적인 구성을 설명하고, 그 후 기본적인 구성에 기초하는 얼라인먼트 방법, 그것을 실현하는 구동 기구를 순서대로 설명한다.Hereinafter, the basic structure which implements the alignment method in this embodiment is demonstrated, Then, the alignment method based on a basic structure, and the drive mechanism which implements it are demonstrated in order.

마스크(81)는 그 상부가 유지부(82u)에 의해 얼라인먼트 베이스(82)에 고정되고, 얼라인먼트 베이스(82)로 고정되어 있는 복수의 롤러 형상의 반송 레일(82r)로 지지되어 있다. 그 얼라인먼트 베이스를 상부에 설치된 2군데의 회전 가능한 지지부(81a, 81b)로 현수하고, 그 지지부(81a, 81b)를 Z 방향으로 혹은 X 방향으로 주동(主動)(액티브로 구동)함으로써, 얼라인먼트 베이스(82) 즉 마스크의 XZ 평면에서의 자세를 규정하여 얼라인먼트한다. 또한, 그 자세 규정 시의 얼라인먼트 베이스(82)를 아래로부터 지지하기 위해, 지지부(81a, 81b)의 각각의 아래에 설치된 회전 가능한 지지부(81c, 81d)를 설치하고, 지지부(81c, 81d)가 지지부(81a, 81b)의 움직임에 대해 종동적으로 동작한다. 또한, 얼라인먼트 베이스(82)는 마스크를 통하여 기판(6)에 증착할 수 있도록 회(回)자와 같이 공동으로 되어 있다.The upper part of the mask 81 is fixed to the alignment base 82 by the holding | maintenance part 82u, and is supported by the some roller-shaped conveyance rail 82r fixed by the alignment base 82. As shown in FIG. The alignment base is suspended by two rotatable support portions 81a and 81b provided on the upper portion, and the support portions 81a and 81b are pivoted (actively driven) in the Z direction or the X direction. (82) That is, the attitude | position in the XZ plane of a mask is prescribed | regulated and aligned. Moreover, in order to support the alignment base 82 at the time of defining the posture from below, the rotatable support parts 81c and 81d provided below each of the support parts 81a and 81b are provided, and the support parts 81c and 81d are provided. It is driven operatively with respect to the movement of the support parts 81a and 81b. In addition, the alignment base 82 is hollow like a rotator so that it can deposit on the board | substrate 6 through a mask.

다음으로, 얼라인먼트 방법을 설명한다. 도 5에 도시한 4군데에 설치된 얼라인먼트 광학계(85)에 의해 기판 중심에서의 기판(6)과 마스크(81)의 위치 어긋남(ΔX, ΔZ, θ)을 검출한다. 이 결과에 기초하여, 얼라인먼트 베이스(82) 상부에 설치한 주동 지지부(81b)를 X 방향, Z 방향으로, 동일하게 상부에 설치한 주동 지지부(81a)를 Z 방향으로 이동시킨다. 이 때, 지지부(81a, 81b)의 Z 방향의 이동차에 의해 θ 보정이, 양자의 Z 방향의 이동에 θ 보정의 영향을 가미한 값으로 ΔZ 보정이, 참조 부호 81b의 X 방향의 이동에 θ 보정의 영향을 가미한 값으로 ΔX 보정이 행해져 얼라인먼트된다. 상기에서, 주동 지지부(81a, 81b)의 양자간의 거리는 긴 쪽이, 동일한 Z 방향의 움직임에 대해 θ 보정을 정밀도 좋게 할 수 있는 이점이 있다.Next, the alignment method is demonstrated. Position misalignment (ΔX, ΔZ, θ) of the substrate 6 and the mask 81 at the center of the substrate is detected by the alignment optical system 85 provided in four places shown in FIG. 5. Based on this result, the coarse support part 81b provided in the upper part of the alignment base 82 is moved to X direction, Z direction, and the coarse support part 81a installed at the upper part similarly is moved to Z direction. At this time, θ correction is a value in which the θ correction is caused by the movement difference in the Z direction of the support portions 81a and 81b to reflect the influence of θ correction on the movement in both Z directions. [Delta] X correction is performed to the value which takes into account the influence of the correction, and is aligned. In the above, the longer distance between both the main support parts 81a and 81b has the advantage that the θ correction can be made precise with respect to the movement in the same Z direction.

또한, 얼라인먼트 베이스(82)의 상기 이동에 수반하여, 주동 지지부(81a)는 X 방향으로, 얼라인먼트 베이스(82) 하부에 설치한 종동 지지부(81c, 81d)는 X 및 Z 방향으로 종동적으로 이동한다. 주동 지지부(81b)의 구동은, 진공 증착 챔버(1bu)의 상부벽(1T) 상에 설치된 구동 모터를 갖는 얼라인먼트 구동부(83R), 주동 지지부(81a)의 구동 및 수동은 얼라인먼트 구동부(83L), 및 종동 지지부(81c, 81d)의 종동은 진공 증착 챔버(1bu)의 하부벽(1Y) 아래에 설치된 얼라인먼트 종동부(84R, 84L)에서 행한다.Moreover, with the said movement of the alignment base 82, the driven support part 81a moves to X direction, and the driven support parts 81c and 81d provided in the lower part of the alignment base 82 move to X and Z direction follow-up. do. The driving of the main driving support 81b includes an alignment driving unit 83R having a driving motor provided on the upper wall 1T of the vacuum deposition chamber 1bu, the driving and manual driving of the main driving support 81a, and an alignment driving unit 83L. And follower support portions 81c and 81d are performed at alignment follower portions 84R and 84L provided under lower wall 1Y of vacuum deposition chamber 1bu.

이 마스크의 얼라인먼트는 마스크를 현수하여 행해지지만, 도 6의 (a)에 도시한 바와 같이 반송 시의 상태에서 마스크의 래크(81r)와 피니온(86g)이 맞물려 있으면 스무스한 얼라인먼트의 방해가 된다. 따라서, 얼라인먼트 시에는 양자를 이격 기구로 이격시켜 그 후 얼라인먼트할 필요가 있다. 본 실시 형태에서의 이격 동작은, 마스크(81)를 얼라인먼트 위치보다 약간 하측으로 반송하고, 도 6의 (b)와 같이 래크(81r), 즉 얼라인먼트 베이스(82)를 일정 거리 끌어올려 행한다. 끌어올림은 주동 지지부(81a, 81b)를 Z 방향으로 이동시켜 행한다. 따라서, 이격 기구(40)는 주동 지지부(81a, 81b)를 Z 방향으로 이동시키는 후술하는 Z 구동부(83Z)로 구성된다. 상술한 Z 방향의 끌어올림량은, 얼라인먼트에 전혀 지장이 없을 정도의 양이므로, 그다지 크지 않아도 된다. 끌어올림 동작에 수반하여, 주동 지지부(81a, 81b)와 종동 지지부(81c, 81d)의 Z 방향의 가동 범위를 그 만큼만 다소 길게 취할 필요가 있다.Although the alignment of this mask is performed by suspending the mask, as shown in Fig. 6A, when the rack 81r and the pinion 86g of the mask are engaged with each other in the state of conveyance, the smooth alignment is hindered. . Therefore, at the time of alignment, it is necessary to separate both by the space | interval mechanism and to align after that. In the separation operation in the present embodiment, the mask 81 is slightly lower than the alignment position, and the rack 81r, that is, the alignment base 82 is pulled up by a predetermined distance as shown in FIG. 6B. Pulling is performed by moving coarse support parts 81a and 81b to Z direction. Therefore, the space | gap mechanism 40 is comprised by the Z drive part 83Z mentioned later which moves coarse support parts 81a and 81b to Z direction. The amount of pulling up in the Z direction described above does not have to be too large because the amount of the alignment does not interfere at all. Along with the pulling operation, it is necessary to take the moving range of the main support members 81a and 81b and the driven support members 81c and 81d in the Z-direction somewhat longer.

이상 설명한 방법은, 원래 얼라인먼트부(8)가 갖고 있는 Z 방향의 동작 자유도를 이용하여 마스크를 끌어올려 마스크와 피니온을 이격시켰지만, 피니온을 강하시킴으로써 이격시켜도 된다.In the method described above, the mask is used to separate the mask and the pinion by using the degree of freedom of movement in the Z direction of the alignment section 8, but the mask and the pinion may be separated by lowering the pinion.

상기한 본 실시 형태의 이격 기구에 따르면, 처리 챔버(1)에 마스크(81)를 반송하여 얼라인먼트 베이스(82)에 세트하고, 마스크와 피니온을 이격시킴으로써, 스무스하게 정밀도 좋게 얼라인먼트를 할 수 있어, 고정밀도로 증착시킬 수 있는 유기 EL 디바이스 제조 장치를 제공할 수 있다.According to the separation mechanism of the present embodiment described above, the mask 81 is conveyed to the processing chamber 1 and set in the alignment base 82, and the mask and the pinion are separated from each other, so that the alignment can be performed smoothly and accurately. The organic electroluminescent device manufacturing apparatus which can be deposited with high precision can be provided.

또한, 이격 기구로서 원래 얼라인먼트부가 갖고 있는 자유도를 이용함으로써 간단한 기구로 스무스한 얼라인먼트를 실현할 수 있다.In addition, a smooth alignment can be realized by a simple mechanism by using the degrees of freedom originally included in the alignment portion as the separation mechanism.

다음으로, 마스크(81)의 자세를 규정하는 얼라인먼트 구동부(83)와 얼라인먼트 종동부(84)에 대해서 도 5로 되돌아가서 보다 상세하게 설명한다.Next, the alignment drive part 83 and the alignment follower 84 which define the attitude | position of the mask 81 are returned to FIG. 5, and it demonstrates in more detail.

얼라인먼트 구동부(83)는, 진공 증착 챔버(1bu)의 상부벽(1T)(도 2도 참조) 상의 대기 중에 설치되고, 회전 지지부(81a)를 Z 방향으로 이동시키는 Z 구동부(83Z)를 갖는 좌측 구동부(83L)와, 회전 지지부(81b)를 좌측 구동부(83L)와 마찬가지로 Z 방향으로 이동시키는 Z 구동부(83Z)와 상기 Z 구동부 전체를 X 방향(도 5의 좌우 방향)으로 이동시키는 X 구동부(83X)를 갖는 우측 구동부(83R)로 이루어진다. 좌우 구동부(83L, 83R)의 Z 구동부는 기본적으로 동일한 구성이므로 동일한 번호를 붙이고, 또한 일부 번호를 생략하고 있다. 이하, 번호 붙이는 방법, 생략 방법은 다른 기구부에서도 마찬가지이다.The alignment driver 83 is provided in the atmosphere on the upper wall 1T (see FIG. 2) of the vacuum deposition chamber 1bu and has a left side having a Z driver 83Z for moving the rotation support 81a in the Z direction. The Z drive part 83Z which moves the drive part 83L, the rotation support part 81b to Z direction similarly to the left drive part 83L, and the X drive part which moves the said Z drive part whole to the X direction (left-right direction of FIG. 5) ( Right side drive portion 83R having 83X). Since the Z drive parts of the left and right drive parts 83L and 83R are basically the same configuration, the same numbers are given, and some numbers are omitted. Hereinafter, the method of numbering and the method of omission are also the same in other mechanism parts.

좌측 구동부(83L)를 예로 들어 Z 구동부(83Z)를 설명한다. Z 구동부(83Z)는, 상술한 바와 같이 레일(83r) 위를 X 방향으로 종동하는 Z 구동부 고정판(83k)에 고정되고, Z 방향 구동 모터(83zm)에 의해 볼 나사(83n), 테이퍼(83t)를 통하여 연결 막대(83j)를 Z 방향으로 이동한다. 얼라인먼트축(83a)은, 그 상부에서 연결한 연결 막대(83j)에 의해 Z 방향으로 이동한다. 테이퍼(83t)는, 얼라인먼트 베이스(82) 등의 중력을 이용하여 상기 Z 방향의 로스트모션을 방지하기 위해 설치함으로써, 그 결과 히스테리시스가 없어져 목표값에 빨리 수속하는 효과가 있다. 또한, 얼라인먼트축(83a)은, 진공 증착 챔버(1bu)의 상부벽(1T)에 설치된 시일부(도시 생략)에 일단이 고정된 벨로우즈(83v)를 통하여 동작하고, 스플라인(83s)에 의해 경사지지 않고 Z 방향으로 수직 또한/또는 X 방향으로 평행 이동한다.The Z driver 83Z will be described taking the left driver 83L as an example. As described above, the Z drive unit 83Z is fixed to the Z drive unit fixing plate 83k that follows the rail 83r in the X direction, and the ball screw 83n and the taper 83t by the Z direction drive motor 83zm. ) Moves the connecting rod 83j in the Z direction. The alignment shaft 83a moves in the Z direction by the connecting rod 83j connected at the upper portion thereof. The taper 83t is provided in order to prevent the loss motion in the Z direction by using gravity such as the alignment base 82, so that hysteresis is eliminated as a result, and the convergence to the target value can be effected quickly. In addition, the alignment shaft 83a operates through the bellows 83v whose one end is fixed to the seal part (not shown) provided in the upper wall 1T of the vacuum deposition chamber 1bu, and is inclined by the spline 83s. Vertically in the Z direction and / or parallel to the X direction without holding.

우측 구동부(83R)는, 또한 상기 Z 구동부(83Z) 외에, 진공 증착 챔버(1)의 상부벽(1T)에 고정되고, Z 구동부(83Z)를 탑재하고 있는 Z 구동부 고정판(83k)을 X축 레일(83r) 상을 따라서 구동하는 X 구동부(83X)를 갖는다. X 구동부(83X)의 구동 방법은 X 방향 구동 모터(83xm)의 회전력을 볼 나사(83n), 테이퍼(83t)를 통하는 등 기본적으로는 Z축 구동부(83Z)와 동일하지만, 그 구동력은, 얼라인먼트 베이스(82)를 회전 구동 및 얼라인먼트 베이스를 통하여 다른 구동부 혹은 종동부를 이동시키는 파워가 필요하다. 얼라인먼트축(83a)은, 좌측 구동부(83L)의 얼라인먼트축(83a)과 마찬가지로 스플라인(83s)에 의해 경사지지 않고 Z 방향으로 수직 또한/또는 X 방향으로 평행 이동한다. 또한, 얼라인먼트축(83a)은 X 방향으로도 이동하므로, 그 벨로우즈(83v)도 X 방향에 대한 자유도를 갖고 있고, 신축과 함께 좌우로 유연하게 이동한다.The right drive unit 83R is further fixed to the upper wall 1T of the vacuum deposition chamber 1 in addition to the Z drive unit 83Z, and the X drive unit fixing plate 83k on which the Z drive unit 83Z is mounted is formed on the X axis. It has the X drive part 83X which drives along the rail 83r. The driving method of the X driving unit 83X is basically the same as that of the Z axis driving unit 83Z such as the rotational force of the X direction driving motor 83xm through the ball screw 83n and the taper 83t, but the driving force is alignment. Power is required to move the base 82 to another drive or follower through rotational and alignment bases. The alignment shaft 83a is vertically moved in the Z direction and / or parallel to the X direction without being inclined by the spline 83s similarly to the alignment axis 83a of the left driver 83L. In addition, since the alignment shaft 83a also moves in the X direction, the bellows 83v also has a degree of freedom in the X direction, and flexibly moves from side to side with expansion and contraction.

얼라인먼트 종동부(84)는, 회전 지지부(81c, 81d)의 전술한 종동 회전에 대응할 수 있도록, 각각의 얼라인먼트축(84a)을 Z 방향, X 방향으로 이동할 수 있는 좌우의 종동부(84L, 84R)를 갖는다. 종동부는 중심부에 1군데이어도 되지만, 본 실시 형태에서는, 안정적으로 동작시키기 위해 2군데 설치하고 있다. 양 종동부는 기본적으로는 좌우 선대칭으로 동일 구조를 가지므로, 대표적으로 참조 부호 84R을 설명한다. 얼라인먼트축(84a)은, 진공 증착 챔버(1)의 하부벽(1Y)에 설치된 시일부(84c)에 일단이 고정된 진공 증착 챔버(1)의 진공을 시일하는 벨로우즈(84v), 스플라인(84s)을 통하여 X축 종동판(84k)에 고정되어 있다. 따라서, X 방향의 종동은 얼라인먼트 종동부(84)를 고정하는 얼라인먼트 지지부 고정대(84b)에 깔려진 레일(84r)을 이동시켜 행한다. 또한, Z 방향의 종동은 상기 스플라인(84s)에 의해 행한다.The alignment follower 84 is a left and right follower 84L and 84R capable of moving the alignment shaft 84a in the Z and X directions so as to correspond to the above-described driven rotation of the rotation support portions 81c and 81d. Has Although one driven part may be provided in a center part, in this embodiment, it installs two places in order to operate stably. Since both driven parts basically have the same structure in left and right linear symmetry, the reference numeral 84R is representatively described. The alignment shaft 84a is a bellows 84v and a spline 84s for sealing the vacuum of the vacuum deposition chamber 1 having one end fixed to the seal portion 84c provided on the lower wall 1Y of the vacuum deposition chamber 1. Is fixed to the X-axis driven plate 84k through Accordingly, the follower in the X direction is performed by moving the rail 84r laid on the alignment support part fixing stand 84b for fixing the alignment follower 84. In addition, the follower of a Z direction is performed by the said spline 84s.

상기의 얼라인먼트부의 실시 형태에서는, 4군데의 회전 지지부(81) 중 진공 증착 챔버 상부에 2군데 설치한 회전 지지부를 Z 방향으로, 또한 그 중 1군데를 X 방향으로 주동(액티브로 구동)함으로써, 마스크의 얼라인먼트를 실시하고 있다. 그 외에 다양한 구동 방법을 들 수 있다.In the above-described embodiment of the alignment portion, by rotating (actively driving) the rotational support portion provided in two positions in the upper portion of the vacuum deposition chamber among the four rotational support portions 81 in the Z direction and one of them in the X direction, The mask is aligned. In addition, various driving methods can be mentioned.

예를 들면, 상부 3군데에 회전 지지부를 설치하고, 중앙의 회전 지지부를 회전시켜, 좌우의 회전 지지부에서 Z 방향과 X 방향으로 주동 또는 종동시켜 얼라인먼트한다. 그리고 하부에 적어도 1군데의 종동부를 설치한다. 혹은, 상기 실시 형태와 마찬가지로 상부 회전 지지부를 2군데 설치하고, 그 1군데에 회전, Z 방향 및 X 방향의 주동을 집중시키고, 다른 것은 종동으로 하는 방법이다. 또한, 상기 실시 형태에서는 기본적으로는, 상부를 주동, 하부를 종동으로 하였지만 이것을 반대로 하여도 된다.For example, the rotation support part is provided in three upper parts, the center rotation support part is rotated, and it drives or aligns in the Z direction and X direction by left and right rotation support parts, and is aligned. And at least one follower is provided in the lower part. Alternatively, as in the above embodiment, two upper rotary support parts are provided, the rotation, the Z direction and the main direction in the X direction are concentrated in one place, and the other is the method of following. In addition, in the said embodiment, although the upper part was driven mainly and the lower part was driven, you may reverse this.

상기 얼라인먼트를 위한 기구부의 실시 형태에 따르면, 시일부를 통하여 대기측에 설치되어 있고, 진공 증착에 악영향을 미치는 먼지 등을 진공 내에 반입하지 않도록 하고 있어, 생산성이 높은 유기 EL 디바이스 제조 장치를 제공할 수 있다.According to the embodiment of the mechanism part for alignment, it is provided in the air | atmosphere side through a seal part, and it is made to prevent the dust etc. which adversely affect vacuum deposition into a vacuum, and can provide a high productivity organic EL device manufacturing apparatus. have.

또한, 상기 얼라인먼트를 위한 기구부의 실시 형태에 따르면, 구동부 등을 대기측에 배치함으로써 보수성을 높여, 가동율이 높은 유기 EL 디바이스 제조 장치를 제공할 수 있다.Moreover, according to embodiment of the said mechanism part for alignment, arranging a drive part etc. to an atmospheric side can improve water retention and can provide the organic electroluminescent device manufacturing apparatus with high operation rate.

다음으로, 얼라인먼트 광학계(85)에 대해서 설명한다. 얼라인먼트 광학계는, 상술한 각각 얼라인먼트 마크를 독립적으로 촬상할 수 있도록, 4개의 정밀 얼라인먼트 마크(81ms)에 대한 4개의 정밀 얼라인먼트 광학계(85s)와, 2개의 거친 얼라인먼트 마크(81mr)에 대한 2개의 거친 얼라인먼트 광학계(85r)와의, 합계 6개의 광학계로 구성된다.Next, the alignment optical system 85 is demonstrated. The alignment optical system includes four precision alignment optical systems 85s for four precision alignment marks 81ms and two rough alignments for two rough alignment marks 81mr, so that each of the aforementioned alignment marks can be independently captured. It consists of six optical systems in total with the alignment optical system 85r.

도 7에 6개의 얼라인먼트 광학계의 기본 구성을 도시한다. 광학계의 기본적 구성은, 마스크(81)를 사이에 두고 얼라인먼트 베이스(82)측에, 진공 증착 챔버(1bu)의 상부(1T)에 고정되어 광학창(85w)을 통하여 조사하는 광원(85k)과 후술하는 차단 아암(85as)에 고정된 광원측 반사 미러(85km)를 설치하고, 기판(6)측에, 촬상 카메라 수납통(85t)으로부터의 아암(85a)에 부착한 촬상 카메라측 반사 미러(85cm) 및 촬상 카메라 수납통(85t)에 수납된 촬상 수단인 촬상 카메라(85c)를 설치한, 소위 투과형의 구성을 갖고 있다. 또한, 촬상 카메라 수납통(85t), 아암(85a) 등은, 기판이 수직 자세로 될 때의 궤도 K의 방해되지 않도록 파선으로 나타낸 아암(85a) 위치까지 벨로우즈(85v) 등에 의해 이동할 수 있게 되어 있다.The basic structure of six alignment optical systems is shown in FIG. The basic configuration of the optical system includes a light source 85k fixed to the upper portion 1T of the vacuum deposition chamber 1bu on the alignment base 82 side with the mask 81 therebetween and irradiated through the optical window 85w. An imaging camera side reflection mirror provided with a light source side reflection mirror (85 km) fixed to a blocking arm 85as to be described later and attached to the arm 85a from the imaging camera storage chamber 85t on the substrate 6 side ( 85 cm) and an imaging camera 85c which is an imaging means housed in the imaging camera storage cylinder 85t. In addition, the imaging camera storage chamber 85t, the arm 85a, and the like can be moved by the bellows 85v or the like to the arm 85a position indicated by the broken line so as not to obstruct the trajectory K when the substrate is in the vertical position. have.

투과형이므로, 광이 통과할 수 있도록 마스크(81M)에 사각형의 관통 구멍의 얼라인먼트 마크(81m)를 설치하고, 또한, 프레임(81F)에도 원통형의 관통 구멍(81k)을 형성하고 있다. 한편, 기판(6)의 얼라인먼트 마크(6m)는 광 투과성의 기판 상에 금속성의 사각형 마스크의 얼라인먼트 마크(81m)에 비해 충분히 작은 마크이다.Since it is a transmission type, the alignment mark 81m of the rectangular through hole is provided in the mask 81M so that light may pass, and the cylindrical through hole 81k is formed also in the frame 81F. On the other hand, the alignment mark 6m of the board | substrate 6 is a mark small enough compared with the alignment mark 81m of a metallic rectangular mask on a light transmissive board | substrate.

관통 구멍(81k)을 형성하면, 증착 시에 증착 재료가 관통 구멍에 들어가 얼라인먼트 마크 상에 증착되므로, 다음 공정으로부터 얼라인먼트를 할 수 없다. 이를 방지하기 위해, 증착 시에는 증착 재료가 관통 구멍(81k)에 들어가지 않도록 차폐한다. 본 실시 형태에서는, 얼라인먼트 시에 광원측 반사 미러를 부착한 아암이 증착 시에는 증착에 유효한 영역을 차단하므로, 그 아암을 이동 가능하게 하고, 또한 증착 시에는 관통 구멍(81k)을 차폐하는 구조를 갖는 차폐형 아암(85as)으로 하였다. 차폐형 아암(85as)은, 대기측에 설치한 구동부(도시 생략)에 상하로 구동되는 연결 막대(85b)에 의해 신축하고, 그 일단을 시일부(85s)에 고정된 벨로우즈(85v)를 통하여 구동시킨다. 도 7에 도시한 파선이 차폐 상태를 나타내고, 실선이 얼라인먼트 상태를 나타낸다.When the through holes 81k are formed, the deposition material enters the through holes at the time of vapor deposition and is deposited on the alignment mark, so that alignment cannot be performed from the next step. To prevent this, during deposition, the deposition material is shielded from entering the through hole 81k. In this embodiment, since the arm attached with the light source side reflection mirror at the time of alignment blocks the effective area for vapor deposition at the time of vapor deposition, the structure which makes the arm moveable and shields the through-hole 81k at the time of vapor deposition is provided. It was set as the shielding arm 85as which has. The shielding arm 85as is stretched and contracted by a connecting rod 85b driven up and down by a drive unit (not shown) provided on the atmosphere side, and one end thereof is connected through a bellows 85v fixed to the seal portion 85s. Drive it. The broken line shown in FIG. 7 shows a shielding state, and a solid line shows the alignment state.

상기 실시 형태에서는, 광원측 반사 미러(85km)를 차단 아암(85as)에 부착하였지만, 마스크의 프레임(81F)의 두께가 충분하면, 프레임(81F)에 L자형의 관통 구멍(81k)을 형성하고, 광원측 반사 미러(85km)를 내장하는 것도 가능하다. 그 경우는, 차폐형 아암은 불필요하다.In the above embodiment, the light source side reflection mirror 85km is attached to the blocking arm 85as. However, if the thickness of the mask 81F of the mask is sufficient, an L-shaped through hole 81k is formed in the frame 81F. It is also possible to incorporate a light source side reflection mirror (85 km). In that case, the shielding arm is unnecessary.

또한, 상기 실시 형태에서는, 얼라인먼트 시에 광원측 반사 미러(85km)가 증착 영역을 차단하므로 차폐형 아암을 이동시켰지만, 차단하지 않은 경우는, 차폐형 아암을 고정으로 할 수 있다.In addition, in the said embodiment, since the shielding arm was moved because the light source side reflection mirror (85 km) blocks the deposition area at the time of alignment, when not shielding, a shielding arm can be fixed.

한편, 카메라 수납통(85t)은, 도 5에 도시한 바와 같이 진공 증착 챔버(1)의 상부(1T)로부터 돌출된 구조를 갖고, 선단에 광학창(85w)을 형성하여, 촬상 카메라(85c)를 대기측으로 유지함과 함께, 얼라인먼트 마크(6m, 81m)를 촬상할 수 있도록 하고 있다(부호는 도 7을 참조).On the other hand, the camera accommodating chamber 85t has a structure which protrudes from the upper part 1T of the vacuum deposition chamber 1, as shown in FIG. 5, forms the optical window 85w in the front end, and the imaging camera 85c ) Is held at the atmospheric side, and alignment marks 6m and 81m can be captured (see FIG. 7 for reference).

상기 실시 형태에서는, 촬상 카메라측 반사 미러를 진공 내에 설치하였지만, 촬상 카메라 수납통(85)을 길게 하고, 상기 미러를 내장하여도 된다.In the said embodiment, although the imaging camera side reflection mirror was provided in the vacuum, you may lengthen the imaging camera storage cylinder 85, and may incorporate the said mirror.

정밀 얼라인먼트 광학계(85s)와 거친 얼라인먼트 광학계(85r)의 구성상의 차이는, 전자가 고정밀도로 얼라인먼트하기 위해, 시야를 작게 하여 고분해로 얼라인먼트를 촬상하기 위한 고배율 렌즈(85h)를 갖고 있는 점이다. 이에 수반하여, 도 7에 도시한 기판 및 마스크의 얼라인먼트 마크(6m, 81m)의 치수가 다르다. 정밀의 경우, 거친 것과 비교하여 1자리 이상 작고, 최종적으로는 ㎛오더의 얼라인먼트가 가능하다.The difference in the configuration between the precision alignment optical system 85s and the coarse alignment optical system 85r is that the electrons have a high magnification lens 85h for imaging the alignment at high resolution with a small field of view in order to align the electrons with high accuracy. In connection with this, the dimension of the alignment marks 6m and 81m of the board | substrate and mask which are shown in FIG. 7 differs. In the case of precision, it is smaller by one or more digits compared with the rough one, and finally, the order of the micrometer order is possible.

따라서, 정밀 얼라인먼트 시는, 시야가 벗어나지 않도록 마스크(81)의 얼라인먼트 마크(81m)의 이동에 맞춰, 정밀 얼라인먼트 광학계(85s)도 추종하여 이동할 필요가 있다. 따라서, 도 5에 도시한 바와 같이, 얼라인먼트 베이스의 상부측의 정밀 얼라인먼트 광학계(85s)에서는, 촬상 카메라(85c)를 고정하는 고정판(85p)을 Z 구동부 고정판(83k) 혹은 X축 종동판(84k)에 접속하여 추종시킨다. 또는, 모터가 달린 스테이지를 설치하여 수치 제어에 의해 추종시켜도 된다. 또한, 거친 얼라인먼트 광학계(85r)에 대해서는, 초기의 부착 시에 위치 조정을 할 수 있도록 카메라 위치 정렬 스테이지(85d)를 설치하고 있다.Therefore, at the time of fine alignment, it is necessary to follow the fine alignment optical system 85s also and to move according to the movement of the alignment mark 81m of the mask 81 so that a visual field may not depart. Therefore, as shown in FIG. 5, in the precision alignment optical system 85s of the upper side of the alignment base, the fixed board 85p which fixes the imaging camera 85c is Z drive part fixed board 83k or X-axis driven board 84k. Follow and follow). Or you may provide the stage with a motor, and follow it by numerical control. Moreover, about the rough alignment optical system 85r, the camera position alignment stage 85d is provided so that position adjustment at the time of initial attachment may be performed.

상기 실시 형태에서는, 6개의 얼라인먼트 광학형을 이용하였지만, 얼라인먼트의 요구 정밀도에 따라서는, 거친 얼라인먼트 광학계를 설치할 필요가 없고, 또한, 정밀 얼라인먼트 광학계에서도 4개도 필요가 없으며, 거친ㆍ정밀 포함하여 최저 2개 있으면 된다.In the above embodiment, six alignment optics are used, but depending on the required accuracy of alignment, it is not necessary to provide a coarse alignment optical system, and even four precision alignment optical systems are not required. You just need

상기 얼라인먼트부(8)의 실시 형태에서는, 얼라인먼트 구동부(83), 얼라인먼트 종동부(84), 얼라인먼트 광학계(85)를 진공 증착 챔버(1bu)의 상부 혹은 하부의 대기측에 설치하였지만, 진공 증착 챔버(1bu)의 측벽측의 대기에 설치하여도 된다. 물론, 상부, 하부 및 측벽부에 분산시켜도 된다.In the embodiment of the alignment unit 8, the alignment driving unit 83, the alignment follower 84, and the alignment optical system 85 are provided on the atmospheric side of the upper or lower portion of the vacuum deposition chamber 1bu. You may provide in the air of the side wall side of 1bu. Of course, you may disperse | distribute to upper part, lower part, and side wall part.

상기 얼라인먼트 광학계(85)의 실시 형태에 따르면, 카메라 및 광원 등을 진공측으로 돌출된 내부가 대기 속인 수납통에 수납되어 있고, 진공 증착에 악영향을 미치는 먼지 등을 진공 내에 반입하지 않도록 하고 있어, 생산성이 높은 유기 EL 디바이스 제조 장치를 제공할 수 있다.According to the embodiment of the alignment optical system 85, the camera and the light source are housed in a storage container in the atmosphere where the inside protruding to the vacuum side prevents dust or the like, which adversely affects vacuum deposition, from being carried into the vacuum, thereby improving productivity. This high organic EL device manufacturing apparatus can be provided.

다음으로 반송 기구 및 이격 기구의 제2 실시 형태를 도 8을 이용하여 설명한다. 도 8에는 마스크 교환 챔버(5)를 나타내고 있지 않지만 기본적으로는 마찬가지이다. 도 8에서 설명에 관계 없는 부호는 생략하고 있다.Next, 2nd Embodiment of a conveyance mechanism and a space | interval mechanism is demonstrated using FIG. Although the mask exchange chamber 5 is not shown in FIG. 8, it is basically the same. In FIG. 8, reference numerals not related to the description are omitted.

제2 실시 형태가 제1 실시 형태와 다른 점은 다음과 같다. 첫째는, 래크(81r)를 마스크(81)를 고정하는 마스크 하부 고정부(81k)의 측부에 설치한 점이다. 둘째는, 제1 변경에 수반하여, 피니온(86g(56g))의 회전축을 90도 변경할 필요가 없기 때문에 베벨 기어를 이용하지 않고 반송 구동 모터(86m(56m))의 회전축을 피니온(86g(56g))에 직접 접속하고 있는 점이다. 셋째로, 제1 변경에 수반하여, 반송 레일(82r(56r))의 형상은 H 형상으로 할 필요가 없어져 평탄이어도 되는 점이다. 넷째로, 이격 기구(45)로서 피니온(86g)을 마스크로부터 분리하기 위해 처리 챔버 반송 구동부(86B) 전체를 구동하는 구동부 이격 수단(87)을 설치하고 있는 점이다. 구동부 이격 수단(87)은, 구동부 이격 수단(87)을 재치하는 이격판(87k)을 구동 모터(87m)에 의해 볼 조인트(87b)를 선회하여 레일(87r) 상을 이동시켜 행한다. 다섯째로, 처리 챔버 반송 구동부(86B)도 이격 동작에 대응할 수 있도록 시일(86s) 상에 벨로우즈(86v)를 갖는다. 또한, 상기 설명에서는 이격 기구로서 피니온(86)을 이격시키는 구동부 이격 수단(87)을 설치하였지만, 마스크측을 이격시켜도 된다.The second embodiment is different from the first embodiment as follows. First, the rack 81r is provided on the side of the mask lower fixing part 81k for fixing the mask 81. Second, with the first change, since the rotational axis of the pinion 86g (56g) does not need to be changed 90 degrees, the rotational axis of the conveyance drive motor 86m (56m) is not used without the bevel gear. (56g)). Third, with the first change, the shape of the conveyance rails 82r (56r) does not need to be H-shaped and may be flat. Fourthly, as the separation mechanism 45, in order to separate the pinion 86g from the mask, a driving portion separation means 87 for driving the entire processing chamber conveyance driving portion 86B is provided. The drive part separation means 87 moves the spacer plate 87k on which the drive part separation means 87 is placed by turning the ball joint 87b by the drive motor 87m to move on the rail 87r. Fifth, the process chamber conveyance drive part 86B also has the bellows 86v on the seal 86s so that it may respond to a spaced operation. In addition, in the above description, the drive unit separation means 87 for separating the pinion 86 is provided as the separation mechanism, but the mask side may be spaced apart.

제2 실시 형태에서도, 제1 실시 형태와 마찬가지로, 확실하게 마스크를 교환할 수 있어, 피니온과 마스크를 이격시킴으로써, 스무스하게 정밀도 좋게 얼라인먼트를 할 수 있어, 고정밀도로 증착할 수 있는 유기 EL 디바이스 제조 장치를 제공할 수 있다.Also in the second embodiment, as in the first embodiment, the mask can be reliably exchanged, and by separating the pinion and the mask, the organic EL device can be aligned with high precision and can be deposited with high precision. A device can be provided.

이상의 반송 기구의 제1 및 제2 실시 형태에서는, 소위 래크 및 피니온을 이용하여 설명하였지만, 마스크에 설치된 평탄한 레일 위를 롤러로 구동하여 반송시켜도 된다. 그 경우, 충분한 마찰력이 얻어지지 않는 경우에는, 레일 또는 롤러 표면을 처리하여 마찰력을 크게 하여 사용한다.Although 1st and 2nd embodiment of the above conveying mechanism was demonstrated using what is called a rack and a pinion, you may convey by driving with a roller on the flat rail provided in the mask. In that case, when sufficient friction force is not obtained, a rail or roller surface is processed and a friction force is enlarged and used.

다음으로, 본 발명의 유기 EL 디바이스 제조 장치에서의 제2 실시 형태를 도 9 내지 도 11을 이용하여 설명한다. 본 제2 실시 형태와 제1 실시 형태와의 다른 점은, 마스크 교환 챔버는 마스크 교환 챔버(5)에 인접하여 새로운 마스크와 교환할 수 있는 마스크 반입출실(12)을 갖는 점이다. 인접하는 위치는, 전면 또는 후방 혹은 상부 또는 하부로 된다. 본 실시 형태에서는 도 3에 도시한 마스크 반송 기구를 살리는 것 및 스페이스 팩터를 고려하여 후방에 설치하는 것으로 하였다. 그로 인해, 마스크 교환 챔버(5)는, 마스크를 90도 방향 전환하는 방향 전환 기구, 예를 들면 턴테이블 기구(57)를 갖는다.Next, 2nd Embodiment in the organic electroluminescent device manufacturing apparatus of this invention is demonstrated using FIGS. The difference between the second embodiment and the first embodiment is that the mask replacement chamber has a mask loading / unloading chamber 12 that can be replaced with a new mask adjacent to the mask replacement chamber 5. Adjacent positions are front or rear or top or bottom. In this embodiment, it is assumed that the mask conveyance mechanism shown in FIG. 3 is provided in the rear in consideration of the space factor. Therefore, the mask exchange chamber 5 has the direction switching mechanism, for example, the turntable mechanism 57 which changes a mask by 90 degrees.

이하 순서대로, 마스크 교환 챔버(5)와 마스크 반입출실(12)의 구성과 동작을 설명한다.In the following order, the configuration and operation of the mask exchange chamber 5 and the mask loading / unloading chamber 12 will be described.

도 9에서의 마스크 교환 챔버(5)는, 도 3에 도시한 교환 챔버 반송부(56)를 갖는 타입에, 교환 챔버 반송부를 90도 선회하는 턴테이블 기구(57)와 마스크 반입출실(12)과의 사이에 게이트 밸브(10A)를 부가한 구성을 갖는다.The mask exchange chamber 5 in FIG. 9 is a type having the exchange chamber conveyance part 56 shown in FIG. 3, and has a turntable mechanism 57 and a mask loading / unloading chamber 12 that rotate the exchange chamber conveyance part 90 degrees. It has the structure which added the gate valve 10A in between.

도 10은 본 발명의 제2 실시 형태인 마스크 교환 챔버(5)의 보다 상세한 구성과 그 동작을 도시하는 도면이며, 교환 챔버 반송부(56)와 턴테이블 기구(57)를 도시한다. 교환 챔버 반송부(56)의 기본적인 구성은 이미 도 3에서 설명한 바와 같다. 도 3과 다른 것은, 교환 챔버 반송 구동부(56B)의 일부 반송 구동 모터(56m) 등 이외의 교환 챔버 반송부(56)는 턴테이블(57t) 상에 고정되어 있는 점이다. 좌우의 진공 증착 챔버(1) 또는 후방에 있는 마스크 반입출실(12)과의 사이에서 마스크(81)를 반입출하기 위해, 교환 챔버 반송 구동부(56B)는, 도 9의 일점 쇄선의 크로스 위치에 배치할 필요가 있다. 예를 들면, 교환 챔버 반송 구동부(56B)의 반송 구동 모터(56m)의 회전 중심을 턴테이블(57t)의 회전 중심 위치에 오도록 배치한다. 구동 모터를 턴테이블(57t)의 회전 중심 위치에 배치함으로써 구동 모터를 턴테이블 상에 설치하지 않아도 되고, 그 결과, 구동 모터를 대기측의 설치할 수 있다.FIG. 10: is a figure which shows the more detailed structure and operation | movement of the mask exchange chamber 5 which is 2nd Embodiment of this invention, and shows the exchange chamber conveyance part 56 and the turntable mechanism 57. As shown in FIG. The basic configuration of the exchange chamber conveyance unit 56 has already been described with reference to FIG. 3. The point different from FIG. 3 is that the exchange chamber conveyance part 56 other than the partial conveyance drive motor 56m of the exchange chamber conveyance drive part 56B is being fixed on the turntable 57t. The exchange chamber conveyance drive part 56B is arrange | positioned at the cross position of the dashed-dotted line of FIG. 9, in order to carry in and out the mask 81 between the left and right vacuum deposition chamber 1 or the mask loading / unloading chamber 12 in the back. Needs to be. For example, the rotation center of the conveyance drive motor 56m of the exchange chamber conveyance drive part 56B is arrange | positioned so that it may be located in the rotation center position of the turntable 57t. By arranging the drive motor at the rotation center position of the turntable 57t, the drive motor does not have to be provided on the turntable. As a result, the drive motor can be provided on the atmospheric side.

또한, 턴테이블 기구(57)는, 그 주위에 기어(57r)를 갖는 턴테이블(57t)과 턴테이블 구동부(57B)로 이루어진다. 턴테이블 구동부(57B)는, 대기측인 마스크 교환 챔버(5)의 하부벽(5Y) 아래에 설치한 턴테이블 구동 모터(57m), 진공 시일하는 시일부(57s), 턴테이블(57t)의 기어(57r)와 맞물리는 기어(57g) 및 마스크 교환 챔버(5)의 하부벽(5Y) 위를 주행하는 복수의 주행륜(57k)으로 이루어진다.The turntable mechanism 57 also includes a turntable 57t having a gear 57r around it and a turntable driver 57B. The turntable drive unit 57B is a turntable drive motor 57m provided below the lower wall 5Y of the mask exchange chamber 5 on the atmospheric side, a seal portion 57s for vacuum sealing, and a gear 57r of the turntable 57t. ) And a plurality of traveling wheels 57k running on the lower wall 5Y of the mask replacement chamber 5.

본 실시 형태에 따르면, 마스크 교환 챔버(5)에 반입된 마스크를, 좌우의 처리 챔버(1) 또는 마스크 반입출실(12)에 반입출할 수 있다.According to the present embodiment, the mask carried in to the mask exchange chamber 5 can be carried in and out of the left and right processing chamber 1 or the mask loading / unloading chamber 12.

다음으로, 도 9에 도시한 마스크 반입출실(12)의 구성 및 동작을 도 11을 이용하여 설명한다. 마스크 반입출실(12)은 마스크 보관부(121)(이하, 간단히 보관부라고 약칭함)를 갖고 있다. 보관부(121)는, 세트 베이스(52)와 기본적으로는 마찬가지의 구조를 갖고 복수 배치된 보관 베이스(122)와, 보관 베이스를 탑재하는 보관대(121d) 및 마스크를 턴테이블(57t)과 보관대(121d)를 이동시키는 도 5에 도시한 교환 챔버 반송 구동부(56B)와 동일 구조를 갖는 반입출실 반송 구동부(126B)로 이루어진다. 반입출실 반송 구동부(126B)(구동 모터(126m))는, 처리 챔버 반송 구동부(86B)(반송 구동 모터(86m))와 교환 챔버 반송 구동부(56B)(반송 구동 모터(56m))를 연결하는 직선과 교환 챔버 반송 구동부(56B)(반송 구동 모터(56m))와 반입출실 반송 구동부(126B)(구동 모터(126m))를 연결하는 직선이 직각으로 되도록 배치되어 있다. 보관 베이스(122)의 턴테이블(57t)측은, 보관대(121d)로부터 α=반입출실 반송 구동부(126B)+β폭분만큼 돌출된 상태로 설치되어 있다. 따라서, 보관대(121d)를 화살표 A 방향으로 이동함과 함께, 화살표 B 방향으로 이동함으로써, 모든 보관 베이스(122)가 반입출실 반송 구동부(126B)와 맞물리도록 할 수 있다. 또한, 참조 부호 121r은 보관대(121d)의 주행 레일이다.Next, the structure and operation | movement of the mask carrying-in chamber 12 shown in FIG. 9 are demonstrated using FIG. The mask carry-in / out chamber 12 has the mask storage part 121 (it abbreviates as a storage part hereafter). The storage part 121 has the structure similar to the set base 52 fundamentally, and has the storage base 122 arrange | positioned in multiple numbers, the storage stand 121d and mask which mount a storage base, and the turntable 57t and the storage stand ( It consists of the carrying-in / out room conveyance drive part 126B which has the same structure as the exchange chamber conveyance drive part 56B shown in FIG. 5 which moves 121d). Carry-in / out room conveyance drive part 126B (drive motor 126m) connects process chamber conveyance drive part 86B (conveyance drive motor 86m) and exchange chamber conveyance drive part 56B (conveyance drive motor 56m). The straight line and the straight line connecting the exchange chamber conveyance drive part 56B (conveyance drive motor 56m) and the carry-in / out room conveyance drive part 126B (drive motor 126m) are arrange | positioned so that it may become perpendicular. The turntable 57t side of the storage base 122 is provided in the state which protruded from the storage stand 121d by (alpha) = carrying-in / out room conveyance drive part 126B + (beta) width. Therefore, by moving the storage stand 121d in the arrow A direction and moving in the arrow B direction, all the storage base 122 can be made to mesh with the carry-in / out room conveyance drive part 126B. Reference numeral 121r denotes a travel rail of the storage table 121d.

도 11은 도 9에 도시한 마스크 반입출실(12)을 화살표 C 방향에서 본 도면이며, 보관 베이스(122)를 1대만 나타내고 반입출실 반송부(126)를 주체로 나타낸 도면이다. 도 11은 게이트 밸브(10A)를 경계로 하여 좌측이 마스크 교환 챔버(5)이며, 우측이 처리 챔버(1) 또는 반송 챔버(2)이다. 반입출실 반송부(126)는 교환 챔버 반송부(56)와 기본적으로 동일하지만 다음의 점에서 다르다.FIG. 11: is the figure which looked at the mask carrying-in chamber 12 shown in FIG. 9 from the arrow C direction, and shows only one storage base 122, and shows the carry-in / out room conveyance part 126 mainly. 11 shows the mask exchange chamber 5 on the left side with the gate valve 10A as the boundary, and the processing chamber 1 or the transfer chamber 2 on the right side. The carry-in / out room conveyance part 126 is basically the same as the exchange chamber conveyance part 56, but differs in the following point.

첫째로, 반입출실 반송 구동부(126B)의 배치 위치는, 반송 수단의 입장에서 보면 도 3의 처리 챔버 반송 구동부(86B)와 동일한 위치에 있을 필요가 있다. 이 위치에 의해, 반입출실 반송 구동부(126B)는 교환 챔버 반송부(56)와 마스크의 수수가 가능하게 된다.First, the arrangement position of the carry-in / out room conveyance drive part 126B needs to be in the same position as the process chamber conveyance drive part 86B of FIG. 3 from the viewpoint of a conveyance means. By this position, the carry-in / out chamber conveyance drive part 126B can receive the exchange chamber conveyance part 56 and a mask.

둘째로, 마스크 상부 고정부(122u)가 개폐 가능하게 되어 있는 점이다. 마스크 반입출실(12)의 천장에 설치한 개폐 가능한 개구부(도시 생략)로부터 크레인(도시 생략)으로 마스크(81)를 반입하여, 반송 롤러(122r)로 세트할 때 방해되지 않도록 하기 위해서이다. 세트 후에는 마스크 상부 고정부(122u)에 설치한 세트 갈고리(122t)를 세트 구멍(122h)에 삽입하여, 마스크(81)를 유지하고, 안정적으로 가이드 롤러(126ur)에 의해 반송할 수 있다.Secondly, the mask upper fixing part 122u can be opened and closed. This is for carrying out the mask 81 from a opening / closing opening part (not shown) provided in the ceiling of the mask carrying-in chamber 12 with a crane (not shown), and being prevented when it sets in the conveyance roller 122r. After the set, the set hook 122t provided in the mask upper fixing part 122u is inserted into the set hole 122h to hold the mask 81 and can be stably conveyed by the guide roller 126ur.

마스크 반입출실(12)은 대기 분위기의 실이어도 되지만, 진공 챔버함으로써 게이트 밸브(10A)를 열 때에 마스크 교환 챔버(5)의 진공도를, 구태여 말하면 처리 챔버(1)의 진공도를 저하시키지 않고 마스크를 교환할 수 있다. 이 결과, 진공으로 끌어당기기 위한 시간을 단축할 수 있어, 가동율이 높은 유기 EL 디바이스 제조 장치를 제공할 수 있다.The mask carry-in / out chamber 12 may be an atmosphere atmosphere, but the vacuum of the mask exchange chamber 5 is increased when the gate valve 10A is opened by the vacuum chamber, that is, the mask is not lowered without lowering the vacuum degree of the processing chamber 1. I can exchange it. As a result, the time for pulling into a vacuum can be shortened and the organic EL device manufacturing apparatus with high operation rate can be provided.

상기, 실시 형태에서는 보관부(121)를 마스크 반입출실(12)에 설치하였지만, 마스크 교환 챔버(5)에도 설치하여도 된다.Although the storage part 121 was provided in the mask carrying-in chamber 12 in the said embodiment, you may provide it in the mask exchange chamber 5.

상기 본 발명의 유기 EL 디바이스 제조 장치에서의 제2 실시 형태에 따르면, 마스크의 교환 시에서, 기판 반송계에는 영향을 주지 않고 처리할 수 있으므로, 가동율 및 생산성이 높은 유기 EL 디바이스 제조 장치 또는 제조 방법을 제공할 수 있다.According to the second embodiment of the organic EL device manufacturing apparatus of the present invention, an organic EL device manufacturing apparatus or a manufacturing method having high operation rate and high productivity can be processed at the time of mask replacement without affecting the substrate transfer system. Can be provided.

또한, 상기 본 발명의 유기 EL 디바이스 제조 장치에서의 제2 실시 형태에 따르면, 마스크 반입출하는 장소로서 폐공간으로 되는 마스크 반입출실(12)을 설치함으로써, 진공 증착 챔버의 진공도 저하를 억제할 수 있으므로, 동일한 진공 증착 챔버 내의 다른 처리는 계속 가능하다. 따라서, 가동율이 높은 유기 EL 디바이스 제조 장치 또는 제조 방법을 제공할 수 있다.Moreover, according to the 2nd Embodiment in the organic electroluminescent device manufacturing apparatus of the said invention, the fall of the vacuum degree of a vacuum deposition chamber can be suppressed by providing the mask carry-in / out chamber 12 which becomes a closed space as a place to carry in / out of a mask. As such, other processing within the same vacuum deposition chamber is still possible. Therefore, the organic EL device manufacturing apparatus or manufacturing method with high operation rate can be provided.

또한, 적어도, 마스크의 교환 시간을 단축할 수 있으므로, 가동율 및 생산성이 높은 유기 EL 디바이스 제조 장치 또는 제조 방법을 제공할 수 있다.In addition, since at least the replacement time of the mask can be shortened, an organic EL device manufacturing apparatus or a manufacturing method having high operation rate and high productivity can be provided.

다음으로, 본 발명의 제3 실시 형태인 유기 EL 디바이스 제조 장치를 도 12를 이용하여 설명한다. 본 실시 형태의 유기 EL 디바이스 제조 장치(200)는, 도 1에 도시한 유기 EL 디바이스 제조 장치의 클러스터 A∼D가 육각형의 반송 챔버(2)와 육각형 중 대각하는 2변에 설치한 교환실(14f, 14g)과 남은 4변에 처리 라인으로서 1라인을 갖는 진공 증착 챔버 등의 처리 챔버(1)로 구성되는 장치를 나타내고 있다.Next, the organic electroluminescent device manufacturing apparatus which is 3rd Embodiment of this invention is demonstrated using FIG. In the organic EL device manufacturing apparatus 200 of the present embodiment, an exchange chamber 14f in which clusters A to D of the organic EL device manufacturing apparatus illustrated in FIG. 1 are provided on two sides of the hexagonal transfer chamber 2 and the hexagon diagonally. And 14g) and a processing chamber 1 such as a vacuum deposition chamber having one line as a processing line on the remaining four sides.

본 유기 EL 디바이스 제조 장치(200)에서도 도 3에 도시한 바와 같이 기판과 마스크를 거의 수직 또는 수직으로 하여 증착하는 장치이다. 기판을 수평으로 하여 반송하여 수직으로 할지 처음부터 수직의 자세로 반송할지는 어느 쪽이어도 된다. 도 12에서도 도 9와 마찬가지로 각 진공 증착 챔버(1)의 가로에 마스크 교환 챔버(5)가 설치되고, 또한 마스크 교환 챔버(5)에 인접하여 마스크 반입출실(12)이 설치되어 있다. 마스크 교환 챔버(5)는, 진공 증착 챔버(1)와의 마스크 반송을 게이트 밸브(10B)를 통하여 행하고, 마스크 반입출실(12)과의 마스크 반송을 게이트 밸브(10A)를 통하여 행한다. 그리고, 본 유기 EL 디바이스 제조 장치(200)에 본 발명의 유기 EL 디바이스 제조 장치의 제1 또는 제2 실시 형태로 나타낸 반송 기구, 이격 기구 및 얼라인먼트 기구를 적용한다.Also in this organic EL device manufacturing apparatus 200, as shown in FIG. 3, it is an apparatus which deposits a board | substrate and a mask substantially vertically or vertically. Either may be carried out by carrying out horizontally and board | substrate to the board | substrate, or it may convey in a vertical posture from the beginning. In FIG. 12, as in FIG. 9, a mask exchange chamber 5 is provided in the horizontal direction of each vacuum deposition chamber 1, and a mask carry-in / out chamber 12 is provided adjacent to the mask exchange chamber 5. The mask exchange chamber 5 performs mask conveyance with the vacuum deposition chamber 1 through the gate valve 10B, and mask conveyance with the mask carry-in / out chamber 12 through the gate valve 10A. And the conveyance mechanism, the space | interval mechanism, and the alignment mechanism which were shown by the 1st or 2nd embodiment of the organic electroluminescent device manufacturing apparatus of this invention to this organic electroluminescent device manufacturing apparatus 200 are applied.

따라서, 제3 실시 형태에서도, 제1 또는 제2 실시 형태로 나타낸 효과를 발휘할 수 있다.Therefore, also in 3rd Embodiment, the effect shown by 1st or 2nd Embodiment can be exhibited.

이상의 설명에서는, 진공 증착 챔버 등의 처리 챔버에 인접하여 마스크 교환 챔버를 설치하는 실시 형태를 설명하였다. 예를 들면, 처리 챔버간에 도 3에 도시한 반송 기구를 복수의 처리 챔버간을 릴레이 형식과 같이 반송하고, 각각의 처리 챔버로 이격시켜 얼라인먼트하고, 처리를 행하는 유기 EL 디바이스 제조 장치에도 본 발명을 적용할 수 있고, 상기의 실시 형태와 마찬가지의 효과를 발휘할 수 있다.In the above description, the embodiment which provides the mask exchange chamber adjacent to processing chambers, such as a vacuum deposition chamber, was described. For example, the organic electroluminescent device manufacturing apparatus which conveys the conveyance mechanism shown in FIG. 3 between process chambers between a plurality of process chambers like a relay type, separates and arrange | positions to each process chamber, and performs a process is provided. It can apply and can exhibit the same effect as the above embodiment.

또한, 이상의 설명에서는 마스크를 반송하고, 마스크를 현수하여 얼라인먼트한 실시 형태를 설명하였다. 마스크에 적용한 기술을 반대로 기판을 반송하고, 기판을 현수하여 얼라인먼트하여도 된다.In addition, in the above description, embodiment which conveyed the mask and suspended and aligned the mask was described. The substrate applied to the mask may be reversed, and the substrate may be suspended and aligned.

또한, 이상 설명에서는, 유기 EL 디바이스를 예로 설명하였지만, 유기 EL 디바이스와 동일한 배경에 있는 증착 처리를 하는 성막 장치에도 적용할 수 있다.In addition, although the organic EL device has been described as an example in the above description, the present invention can also be applied to a film forming apparatus for performing vapor deposition on the same background as the organic EL device.

1 : 처리 챔버
1ad, 1bd, 1bu : 진공 증착 챔버
2 : 반송 챔버
3 : 로드 클러스터
5 : 마스크 교환 챔버
6 : 기판
6m : 기판의 얼라인먼트 마크
7 : 증착부
8 : 얼라인먼트부
9 : 처리 교환부
10, 10A, 10B : 게이트 밸브
12 : 마스크 반입출실
20 : 제어 장치
40, 45 : 이격 기구
56 : 교환 챔버 반송부
56B : 교환 챔버 반송 구동부(마스크 반송 구동 수단)
56g, 86g : 피니온
71 : 증발원
81 : 마스크
81a∼d : 회전 지지부
81m : 마스크의 얼라인먼트 마크
81r : 래크
82 : 얼라인먼트 베이스
83 : 얼라인먼트 구동부
83Z : Z축 구동부
83X : X축 구동부
84 : 얼라인먼트 종동부
85 : 얼라인먼트 광학계
86 : 처리 챔버 반송부
86B : 처리 챔버 반송 구동부(마스크 반송 구동 수단)
87 : 구동부 이격 수단
100, 200 : 유기 EL 디바이스의 제조 장치
A∼D : 클러스터
1: processing chamber
1ad, 1bd, 1bu: vacuum deposition chamber
2: conveying chamber
3: load cluster
5: mask exchange chamber
6: substrate
6m: substrate alignment mark
7: deposition unit
8: alignment part
9: processing exchange unit
10, 10A, 10B: Gate Valve
12: Mask import and export room
20: Control device
40, 45: spacer
56: exchange chamber conveying unit
56B: exchange chamber conveyance drive part (mask conveyance drive means)
56g, 86g: pinion
71: evaporation source
81: mask
81a-d: rotation support part
81m: Alignment mark of the mask
81r: rack
82: alignment base
83: alignment drive unit
83Z: Z axis drive part
83X: X axis drive part
84: alignment follower
85: alignment optical system
86: process chamber conveyance
86B: Process chamber conveyance drive part (mask conveyance drive means)
87: drive unit separation means
100, 200: manufacturing apparatus of organic EL device
A to D: cluster

Claims (20)

기판과 마스크와의 위치 정렬을 상기 기판 또는 상기 마스크를 구비하는 현수체로서 현수한 상태에서 행하는 얼라인먼트부를 구비하는 진공 챔버와, 그 기판에 증착 재료를 증착하는 증착부를 구비하는 진공 증착 챔버를 갖는 유기 EL 디바이스 제조 장치로서,
상기 현수체와 접촉 가능한 반송 접촉부를 포함하고, 상기 현수체의 접촉부인 현수체 접촉부와 상기 반송 접촉부가 접촉한 상태로, 상기 진공 챔버에 인접한 인접 챔버로부터 상기 진공 챔버에 상기 현수체를 수직 자세로 반송하는 반송 기구를 상기 진공 챔버 내와 인접 챔버 내에 설치하고, 상기 현수체를 상기 얼라인먼트부에 현수한 후, 상기 기판과 마스크와의 위치 정렬을 행하기 전에, 상기 현수체 접촉부와 상기 반송 접촉부를 이격하는 이격 기구를 상기 진공 챔버 내에 설치하고,
상기 현수체 접촉부는 상기 현수체의 저면 또는 측면의 하부에 설치된 래크이고, 상기 반송 접촉부는 피니온인 것을 특징으로 하는 유기 EL 디바이스 제조 장치.
An organic chamber having a vacuum chamber including an alignment portion for performing alignment of the substrate with the mask as a suspension having the substrate or the mask; and a vacuum deposition chamber including a vapor deposition portion for depositing a vapor deposition material on the substrate. As an EL device manufacturing apparatus,
A suspension contact portion in contact with the suspension body, the suspension contact portion being a contact portion of the suspension body and the transfer contact portion in contact with the suspension body, and the suspension body in a vertical position from the adjacent chamber adjacent to the vacuum chamber to the vacuum chamber. After the conveyance mechanism to convey is provided in the said vacuum chamber and the adjacent chamber, and the said suspension body is suspended in the said alignment part, before the position alignment of the said board | substrate and a mask is performed, the said suspension body contact part and the said conveyance contact part are carried out. A spaced apart space mechanism is installed in the vacuum chamber,
The said suspension contact part is a rack provided in the lower part of the bottom face or side surface of the said suspension body, and the said conveyance contact part is a pinion, The organic electroluminescent device manufacturing apparatus characterized by the above-mentioned.
제1항에 있어서,
상기 현수체에 상기 마스크를 반송하는 반송 레일을 설치한 것을 특징으로 하는 유기 EL 디바이스 제조 장치.
The method of claim 1,
The conveyance rail which conveys the said mask is provided in the said suspension body, The organic electroluminescent device manufacturing apparatus characterized by the above-mentioned.
제1항에 있어서,
상기 이격 기구의 구동 수단을 대기 분위기 속에 설치한 것을 특징으로 하는 유기 EL 디바이스 제조 장치.
The method of claim 1,
A drive means for the separation mechanism is provided in an air atmosphere, characterized in that the organic EL device manufacturing apparatus.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 얼라인먼트부는 상기 현수체를 상하로 이동시키는 상하 구동 수단을 구비하고, 상기 이격 기구는 상기 상하 구동 수단인 것을 특징으로 하는 유기 EL 디바이스 제조 장치.
The method of claim 1,
The alignment portion includes vertical driving means for moving the suspension body up and down, and the separation mechanism is the vertical driving means.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 이격 기구는 상기 반송 접촉부를 현수체 접촉부로부터 이격하는 수단인 것을 특징으로 하는 유기 EL 디바이스 제조 장치.
The method of claim 1,
The separation mechanism is a means for separating the conveyance contact portion from a suspension contact portion.
삭제delete 제1항 내지 제3항, 제5항 및 제7항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 진공 챔버와 상기 진공 증착 챔버는 동일 챔버인 것을 특징으로 하는 유기 EL 디바이스 제조 장치.
The method according to any one of claims 1 to 3, 5, and 7,
And the vacuum chamber and the vacuum deposition chamber are the same chamber.
제1항에 있어서,
상기 인접 챔버는 상기 마스크를 교환하기 위한 마스크 교환 챔버인 것을 특징으로 하는 유기 EL 디바이스 제조 장치.
The method of claim 1,
And the adjacent chamber is a mask exchange chamber for exchanging the mask.
제10항에 있어서,
상기 마스크 교환 챔버는 상기 교환 시에 소정의 진공도를 유지하는 것을 특징으로 하는 유기 EL 디바이스 제조 장치.
The method of claim 10,
And the mask replacement chamber maintains a predetermined degree of vacuum during the replacement.
제11항에 있어서,
상기 마스크 교환 챔버에 인접하여 상기 마스크를 반입출하기 위한 대기 분위기 속의 마스크 반입출실을 갖는 것을 특징으로 하는 유기 EL 디바이스 제조 장치.
12. The method of claim 11,
And a mask loading / unloading chamber in an atmospheric atmosphere for carrying in and out of the mask adjacent to the mask exchange chamber.
제1항에 있어서,
상기 인접 챔버는 다른 진공 증착 챔버인 것을 특징으로 하는 유기 EL 디바이스 제조 장치.
The method of claim 1,
And the adjacent chamber is another vacuum deposition chamber.
제1항, 제10항 또는 제13항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 진공 챔버와 인접 챔버의 사이에 진공 차단부를 설치한 것을 특징으로 하는 유기 EL 디바이스 제조 장치.
14. The method according to any one of claims 1, 10 or 13,
An organic EL device manufacturing apparatus, wherein a vacuum interrupter is provided between the vacuum chamber and the adjacent chamber.
진공 챔버 내에서의 기판과 마스크와의 얼라인먼트를 상기 기판 또는 상기 마스크를 구비하는 현수체로서 현수한 상태에서 행하고, 그 기판에 증착 재료를 증착하는 유기 EL 디바이스 제조 방법으로서,
상기 현수체와 접촉 가능한 반송 접촉부를 갖는 반송 수단을 이용하여, 상기 현수체의 접촉부인 현수체 접촉부와 상기 반송 접촉부가 접촉한 상태로, 상기 현수체를 수직으로 하여 진공 챔버 내에 반송하여, 상기 현수체를 상기 얼라인먼트의 위치에 세트하는 단계, 상기 현수체의 현수체 접촉부와 상기 반송 수단의 상기 반송 접촉부를 이격하는 단계, 상기 이격하는 단계 이후에 상기 얼라인먼트를 행하는 단계를 포함하고,
상기 현수체 접촉부는 상기 현수체의 저면 또는 측면의 하부에 설치된 래크이고, 상기 반송 접촉부는 피니온인 것을 특징으로 하는 유기 EL 디바이스 제조 방법.
A method of manufacturing an organic EL device in which an alignment between a substrate and a mask in a vacuum chamber is suspended as the substrate or a suspension provided with the mask, and a vapor deposition material is deposited on the substrate.
By using the conveying means which has the conveyance contact part which can contact the said suspension body, the suspension body is conveyed in a vacuum chamber vertically, and the said suspension body is made in the state which contacted the suspension body contact part which is a contact part of the said suspension body, and the said conveyance contact part. Setting the sieve at the position of the alignment, separating the suspension contact portion of the suspension body from the conveying contact portion of the conveying means, and performing the alignment after the separating step,
The said suspension contact part is a rack provided in the lower part of the bottom face or side surface of the said suspension body, and the said conveyance contact part is a pinion, The organic electroluminescent device manufacturing method characterized by the above-mentioned.
제15항에 있어서,
상기 이격은 상기 현수체를 상하(上下)로 이동시키는 수단으로 행하는 것을 특징으로 하는 유기 EL 디바이스 제조 방법.
16. The method of claim 15,
The said separation is performed by the means which moves the said suspension body up and down, The organic electroluminescent device manufacturing method characterized by the above-mentioned.
제15항에 있어서,
상기 이격은 상기 반송 접촉부를 현수체 접촉부로부터 이격시키는 것을 특징으로 하는 유기 EL 디바이스 제조 방법.
16. The method of claim 15,
The said separation spaces the said conveyance contact part from the suspension contact part, The organic electroluminescent device manufacturing method characterized by the above-mentioned.
삭제delete 기판과 마스크와의 위치 정렬을 상기 기판 또는 상기 마스크를 구비하는 현수체로서 현수한 상태에서 행하는 얼라인먼트부를 구비하는 진공 챔버와, 그 기판에 증착 재료를 증착하는 증착부를 구비하는 진공 증착 챔버를 갖는 성막 장치로서,
상기 현수체와 접촉 가능한 반송 접촉부를 포함하고, 상기 현수체의 접촉부인 현수체 접촉부와 상기 반송 접촉부가 접촉한 상태로, 상기 진공 챔버에 인접한 인접 챔버로부터 상기 진공 챔버에 상기 현수체를 수직 자세로 반송하는 반송 기구를 상기 진공 챔버 내와 인접 챔버 내에 설치하고, 상기 현수체를 상기 얼라인먼트부에 현수한 후, 상기 기판과 마스크와의 위치 정렬을 행하기 전에, 상기 현수체 접촉부와 상기 반송 접촉부를 이격하는 이격 기구를 상기 진공 챔버 내에 설치하고,
상기 현수체 접촉부는 상기 현수체의 저면 또는 측면의 하부에 설치된 래크이고, 상기 반송 접촉부는 피니온인 것을 특징으로 하는 성막 장치.
A film formation having a vacuum chamber including an alignment portion for performing alignment of a substrate and a mask with the substrate or a suspension provided with the mask and a vapor deposition portion for depositing a deposition material on the substrate. As a device,
A suspension contact portion in contact with the suspension body, the suspension contact portion being a contact portion of the suspension body and the transfer contact portion in contact with the suspension body, and the suspension body in a vertical position from the adjacent chamber adjacent to the vacuum chamber to the vacuum chamber. After the conveyance mechanism to convey is provided in the said vacuum chamber and the adjacent chamber, and the said suspension body is suspended in the said alignment part, before the position alignment of the said board | substrate and a mask is performed, the said suspension body contact part and the said conveyance contact part are carried out. A spaced apart space mechanism is installed in the vacuum chamber,
And the suspension contact portion is a rack provided below the bottom or side surface of the suspension body, and the conveyance contact portion is a pinion.
진공 챔버 내에서의 기판과 마스크와의 얼라인먼트를 상기 기판 또는 상기 마스크를 구비하는 현수체로서 현수한 상태에서 행하고, 그 기판에 증착 재료를 증착하는 성막 방법으로서,
상기 현수체와 접촉 가능한 반송 접촉부를 갖는 반송 수단을 이용하여, 상기 현수체의 접촉부인 현수체 접촉부와 상기 반송 접촉부가 접촉한 상태로, 상기 현수체를 수직으로 하여 진공 챔버 내에 반송하여, 상기 현수체를 상기 얼라인먼트의 위치에 세트하는 단계, 상기 현수체의 현수체 접촉부와 상기 반송 수단의 반송 접촉부를 이격하는 단계, 상기 이격하는 단계 이후에 상기 얼라인먼트를 행하는 단계를 포함하고,
상기 현수체 접촉부는 상기 현수체의 저면 또는 측면의 하부에 설치된 래크이고, 상기 반송 접촉부는 피니온인 것을 특징으로 하는 성막 방법.
A film forming method in which an alignment between a substrate and a mask in a vacuum chamber is suspended as the substrate or a suspension provided with the mask, and a vapor deposition material is deposited on the substrate.
By using the conveying means which has the conveyance contact part which can contact the said suspension body, the suspension body is conveyed in a vacuum chamber vertically, and the said suspension body is made in the state which the suspension contact part which is a contact part of the said suspension body and the said conveyance contact part contacted. Setting a sieve at the position of the alignment, separating the suspension contact portion of the suspension body from the conveying contact portion of the conveying means, and performing the alignment after the separating step,
The said film contact part is a rack provided in the lower part of the bottom face or side surface of the said suspension body, and the said conveyance contact part is a pinion, The film-forming method characterized by the above-mentioned.
KR1020100099220A 2009-10-27 2010-10-12 Organic el device manufacturing device and method of manufacturing the same, film forming device and film forming method KR101322530B1 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2009-246616 2009-10-27
JP2009246616A JP2011096393A (en) 2009-10-27 2009-10-27 Organic el device manufacturing apparatus, method of manufacturing the same, film forming device, and film forming method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20110046272A KR20110046272A (en) 2011-05-04
KR101322530B1 true KR101322530B1 (en) 2013-10-25

Family

ID=43960126

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100099220A KR101322530B1 (en) 2009-10-27 2010-10-12 Organic el device manufacturing device and method of manufacturing the same, film forming device and film forming method

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP2011096393A (en)
KR (1) KR101322530B1 (en)
CN (1) CN102056360A (en)
TW (1) TW201119114A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10916464B1 (en) 2019-07-26 2021-02-09 Applied Materials, Inc. Method of pre aligning carrier, wafer and carrier-wafer combination for throughput efficiency
US11189516B2 (en) 2019-05-24 2021-11-30 Applied Materials, Inc. Method for mask and substrate alignment
US11414740B2 (en) 2019-06-10 2022-08-16 Applied Materials, Inc. Processing system for forming layers
US11538706B2 (en) 2019-05-24 2022-12-27 Applied Materials, Inc. System and method for aligning a mask with a substrate
US11631813B2 (en) 2019-03-15 2023-04-18 Applied Materials, Inc. Deposition mask and methods of manufacturing and using a deposition mask
US11718904B2 (en) 2014-12-10 2023-08-08 Applied Materials, Inc. Mask arrangement for masking a substrate in a processing chamber, apparatus for depositing a layer on a substrate, and method for aligning a mask arrangement for masking a substrate in a processing chamber

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5639431B2 (en) * 2010-09-30 2014-12-10 キヤノントッキ株式会社 Deposition equipment
JP2013209700A (en) * 2012-03-30 2013-10-10 Hitachi High-Technologies Corp Vacuum vapor deposition apparatus and vacuum vapor deposition method
KR102231603B1 (en) * 2013-12-26 2021-03-26 삼성디스플레이 주식회사 Apparatus for depositing thin film
CN105543784B (en) * 2016-01-04 2017-12-05 京东方科技集团股份有限公司 A kind of deposition system
CN106746720B (en) * 2016-12-02 2019-01-22 徐州市凯诺机械有限公司 A kind of glass substrate film-coating mechanism
US20200087780A1 (en) * 2017-06-07 2020-03-19 Sharp Kabushiki Kaisha Clamping device, manufacturing apparatus for el device, controller, and manufacturing method for el device
CN107254673B (en) * 2017-06-12 2019-07-19 京东方科技集团股份有限公司 The evaporation coating method of deposition system and deposition system
CN109563610A (en) * 2017-07-24 2019-04-02 应用材料公司 For the equipment and system of processing substrate in vacuum chamber and for making substrate carrier relative to the method for mask carrier alignment
CN108411249B (en) * 2018-03-28 2024-02-09 江苏集萃有机光电技术研究所有限公司 Substrate sample holder, mask plate, substrate replacement method and evaporation equipment
CN109825801A (en) * 2019-03-29 2019-05-31 唐军 Mask plate turnover device
JP7162631B2 (en) * 2020-03-13 2022-10-28 キヤノントッキ株式会社 Substrate carrier, deposition apparatus, substrate carrier transport method, and deposition method
JP2023002322A (en) * 2021-06-22 2023-01-10 キヤノントッキ株式会社 Measurement device, control device, measurement method and control method
CN114875374B (en) * 2022-05-27 2023-05-09 安徽越好电子装备有限公司 Transfer chamber, magnetron sputtering coating system and method

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004095419A (en) * 2002-08-30 2004-03-25 Kiko Kenji Kagi Kofun Yugenkoshi Vacuum film-forming device equipped with alignment mechanism
KR20050049844A (en) * 2003-11-24 2005-05-27 삼성에스디아이 주식회사 Vertical deposition method of organic electro luminescence element and apparatus thereof
WO2006043343A1 (en) * 2004-10-22 2006-04-27 Showa Shinku Co., Ltd. Thin film forming apparatus and method thereof
JP2006169625A (en) * 2004-12-16 2006-06-29 Samsung Sdi Co Ltd Alignment system, vertical tray transfer apparatus, and vapor deposition system including the same

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050002963A (en) * 2003-06-27 2005-01-10 삼성전자주식회사 Driving device for brushless motor and control method thereof
JP4447256B2 (en) * 2003-06-27 2010-04-07 株式会社半導体エネルギー研究所 Method for manufacturing light emitting device
US7618687B2 (en) * 2007-10-17 2009-11-17 Ppg Industries Ohio, Inc. Method for coating substrates

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004095419A (en) * 2002-08-30 2004-03-25 Kiko Kenji Kagi Kofun Yugenkoshi Vacuum film-forming device equipped with alignment mechanism
KR20050049844A (en) * 2003-11-24 2005-05-27 삼성에스디아이 주식회사 Vertical deposition method of organic electro luminescence element and apparatus thereof
WO2006043343A1 (en) * 2004-10-22 2006-04-27 Showa Shinku Co., Ltd. Thin film forming apparatus and method thereof
JP2006169625A (en) * 2004-12-16 2006-06-29 Samsung Sdi Co Ltd Alignment system, vertical tray transfer apparatus, and vapor deposition system including the same

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11718904B2 (en) 2014-12-10 2023-08-08 Applied Materials, Inc. Mask arrangement for masking a substrate in a processing chamber, apparatus for depositing a layer on a substrate, and method for aligning a mask arrangement for masking a substrate in a processing chamber
US11631813B2 (en) 2019-03-15 2023-04-18 Applied Materials, Inc. Deposition mask and methods of manufacturing and using a deposition mask
US11189516B2 (en) 2019-05-24 2021-11-30 Applied Materials, Inc. Method for mask and substrate alignment
US11538706B2 (en) 2019-05-24 2022-12-27 Applied Materials, Inc. System and method for aligning a mask with a substrate
US11414740B2 (en) 2019-06-10 2022-08-16 Applied Materials, Inc. Processing system for forming layers
US10916464B1 (en) 2019-07-26 2021-02-09 Applied Materials, Inc. Method of pre aligning carrier, wafer and carrier-wafer combination for throughput efficiency
US11183411B2 (en) 2019-07-26 2021-11-23 Applied Materials, Inc. Method of pre aligning carrier, wafer and carrier-wafer combination for throughput efficiency

Also Published As

Publication number Publication date
CN102056360A (en) 2011-05-11
TW201119114A (en) 2011-06-01
JP2011096393A (en) 2011-05-12
KR20110046272A (en) 2011-05-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101322530B1 (en) Organic el device manufacturing device and method of manufacturing the same, film forming device and film forming method
JP5074368B2 (en) Deposition equipment
US10431779B2 (en) Organic layer deposition apparatus, method of manufacturing organic light-emitting display apparatus using the same, and organic light-emitting display apparatus manufactured using the method
KR101920333B1 (en) Evaporation source for organic material, deposition apparatus for depositing organic material in a vacuum chamber, and method for evaporating an organic material
KR101174877B1 (en) Apparatus for thin layer deposition and method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same
US9461277B2 (en) Organic light emitting display apparatus
JP5167103B2 (en) Deposition equipment
KR101296416B1 (en) Organic el device manufacture apparatus, deposition apparatus and deposition method thereof, liquid crystal display manufacture apparatus, alignment apparatus and alignment method
KR101174883B1 (en) Apparatus for thin layer deposition and method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same
US9466647B2 (en) Flat panel display device and method of manufacturing the same
KR20110035867A (en) Apparatus and method for manufacturing organic el device, and apparatus and method for forming film
KR20140125180A (en) Patterning slit sheet, deposition apparatus comprising the same, method for manufacturing organic light emitting display apparatus using the same, organic light emitting display apparatus manufacture by the method
KR102550586B1 (en) Adsorption and alignment method, adsorption system, film forming method, film forming apparatus, and manufacturing method of electronic device
KR20140146448A (en) Apparatus for organic layer deposition, and method for manufacturing of organic light emitting display apparatus using the same
CN104347667A (en) Deposition apparatus, method of manufacturing organic light emitting display apparatus, and organic light emitting display apparatus manufactured by using the method
KR102501617B1 (en) Film forming apparatus, film forming method, and manufacturing method of electronic device
JP2014056830A (en) Organic el device manufacturing apparatus and manufacturing method thereof
KR102520050B1 (en) Suction apparatus, film formation apparatus, suction method, film formation method, and manufacturing method of electronic device
JP5232112B2 (en) Deposition equipment
CN101242688B (en) A making system for straight-lined organic luminescent display
KR102481907B1 (en) Film forming apparatus, film forming method and manufacturinh method of electronic device
JP7078696B2 (en) Film forming equipment, film forming method, and manufacturing method of electronic devices
KR102501609B1 (en) Film forming apparatus, film forming method and manufacturing method of electronic device
KR102501615B1 (en) Film forming apparatus, film forming method, and manufacturing method of electronic device
KR20220163265A (en) Transfer Apparatus and Film-Forming Apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant