JP2014056830A - Organic el device manufacturing apparatus and manufacturing method thereof - Google Patents

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大樹 亀山
Nobuhiro Nirasawa
信広 韮沢
Kenji Yumiba
賢治 弓場
Yukio Ochiai
行雄 落合
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing apparatus or manufacturing method for an organic EL device having high productivity or high operating rate by being capable of high precision vapor deposition while reducing the deflection of a substrate and mask or capable of downsizing a transport chamber and by disposing a drive unit, etc. on the atmospheric air side to reduce the occurrence of dust and gas in a vacuum.SOLUTION: In the present invention, an alignment of a substrate and a mask in a vacuum chamber is performed while being suspended as a hanging body provided with the substrate or the mask. When an evaporation material is deposited on the substrate, a contact part of the hanging body is moved to raise the handing body vertically and then the hanging body is transported into the vacuum chamber, set at a positioning position, a transport contact part between the hanging body contact part of the hanging body and the hanging body contact part of a transport means used for transportation is separated, and the alignment is performed thereafter.

Description

本発明は、有機ELデバイス製造装置及びその製造方法に係わり、特に大型の基板のアライメントに好適な有機ELデバイス製造装置及びその製造方法に関する。   The present invention relates to an organic EL device manufacturing apparatus and a manufacturing method thereof, and particularly to an organic EL device manufacturing apparatus suitable for alignment of a large substrate and a manufacturing method thereof.

有機ELデバイスを製造する有力な方法として真空蒸着法がある。真空蒸着においては基板とマスクとのアライメントが必要である。年々処理基板の大型化の波が押し寄せ、G6世代の基板サイズは1500mm×1800mmになる。基板サイズが大型化すると当然マスクも大型化し、その寸法は2000mm×2000mm程度にも及ぶ。特に鋼製のマスクを使用すると有機ELデバイスではその重量は300Kgにもなる。従来では、基板及びマスクを水平にして位置合せをしていた。そのような従来技術としては、下記の特許文献1がある。   There exists a vacuum evaporation method as an influential method of manufacturing an organic EL device. In vacuum deposition, alignment between the substrate and the mask is necessary. As the size of the processing substrate increases, the size of the G6 generation substrate becomes 1500 mm × 1800 mm. Naturally, when the substrate size is increased, the mask is also increased in size, and the size thereof reaches about 2000 mm × 2000 mm. In particular, when a steel mask is used, an organic EL device has a weight of 300 kg. Conventionally, alignment has been performed with the substrate and mask horizontal. As such a prior art, there is the following Patent Document 1.

また、真空蒸着法では、図4に示すように蒸着したい場所に開口部を有するマスクを処理対象である基板に密着させて行なう。このマスクは、蒸着材の付着により孔の形状が変わるために半日乃至1日度に交換する必要がある。従来は、図14に示すように真空蒸着を行なう処理チャンバSを有するクラスタCに交換用及び使用済みマスクMを保管する真空チャンバであるマスク保管室Hを設け、基板搬送を行なう搬送ロボットRで処理チャンバSまで搬送しセットしていた(特許文献2)。   In the vacuum vapor deposition method, as shown in FIG. 4, a mask having an opening at a place where vapor deposition is desired is brought into close contact with a substrate to be processed. This mask needs to be changed every half day to one day because the shape of the hole changes due to the adhesion of the vapor deposition material. Conventionally, as shown in FIG. 14, in a cluster C having a processing chamber S for performing vacuum deposition, a mask storage chamber H which is a vacuum chamber for storing replacement and used masks M is provided, and a transfer robot R for transferring substrates is used. It was transferred to the processing chamber S and set (Patent Document 2).

また、特許文献3には、マスク寸法を所望範囲に収めるために予めマスクを加温する加温室を処理チャンバに隣接して設け、必要なときに処理チャンバのマスクを交換することが開示されている。しかしながら、加温室には加温設備しか記載されておらず、その搬入出は特許文献3の第1の実施形態に記載されているように、特許文献2と同様に基板搬送を行なう搬送ロボット等を用いて行なっていると考えられる。   Further, Patent Document 3 discloses that a heating chamber for preheating the mask is provided adjacent to the processing chamber in order to keep the mask dimensions within a desired range, and the mask of the processing chamber is replaced when necessary. Yes. However, only a heating facility is described in the warming room, and the carrying-in / out of the heating / unloading robot, as described in the first embodiment of Patent Document 3, is similar to Patent Document 2, such as a transport robot. It is thought that it is done using.

特開2006-302896号公報JP 2006-302896 A 特開2003-027213号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2003-027213 特開2006-196360号公報JP 2006-196360 A

しかしながら、特許文献1に開示された基板とマスクを横にしてアライメントする方法は、図13に示すように、基板及びマスクはその薄さと自重により大きく撓む。その撓みが一様であるならばそれを考慮してマスクを製作すればよいが、当然中心程大きくなり基板サイズが大きくなると製作は困難となる。また、一般的にその中心点における撓み量は、基板の撓みをd1、マスクの撓みをd2とすると、d1>d2となる。基板撓みが大きいと、基板蒸着面にマスクと接触し接触傷が生じるために、密着させることができない。そのために、被写界深度以上に離間してアライメントすると精度が悪く、不良品となる課題がある。特に、表示装置用基板では高精彩な画面を得ることができない。   However, in the method of aligning the substrate and mask sideways disclosed in Patent Document 1, as shown in FIG. 13, the substrate and the mask are greatly bent due to their thinness and weight. If the deflection is uniform, it is sufficient to manufacture the mask in consideration of this, but naturally it becomes difficult to manufacture when the center becomes larger and the substrate size becomes larger. In general, the amount of deflection at the center point is d1> d2, where d1 is the substrate deflection and d2 is the mask deflection. If the substrate deflection is large, the substrate deposition surface comes into contact with the mask and contact scratches occur, so that the substrate cannot be brought into close contact. For this reason, there is a problem that if the alignment is performed with a distance greater than the depth of field, the accuracy is poor and the product becomes defective. In particular, a high-definition screen cannot be obtained with a display device substrate.

また、特許文献1に開示された方法では、基板とマスクをアライメントする機構全体が真空内の設置されているために、駆動部などの移動に伴う粉塵及び熱が発生す可能性があり、前者の真空内への漏洩は漏洩粉塵が基板やマスクに付着し蒸着不良を起こし、後者の発熱はマスクと熱膨張を助長し蒸着サイズを変化させ、共に歩留まり率、即ち生産性を低下させる問題がある。   Further, in the method disclosed in Patent Document 1, since the entire mechanism for aligning the substrate and the mask is installed in a vacuum, there is a possibility that dust and heat accompanying the movement of the drive unit and the like may be generated. Leakage into the vacuum causes leaked dust to adhere to the substrate and mask, causing vapor deposition defects.The latter heat generation promotes thermal expansion with the mask and changes the vapor deposition size, resulting in a decrease in yield rate, that is, productivity. is there.

さらに、基板とマスクをアライメントする機構全体が真空内の設置されているために、一旦駆動部等において故障が発生すると保守に時間を要し、装置の稼働率が低下するとい問題がある。   Furthermore, since the entire mechanism for aligning the substrate and the mask is installed in a vacuum, once a failure occurs in the drive unit or the like, maintenance takes time and the operating rate of the apparatus is lowered.

また、特許文献2,3に開示された方法では、マスクを可搬できる搬送ロボットが必要になるが、前記要求を満たす搬送ロボットを収める処理チャンバの大きさに対応した現実的な大きさ、例えば、5m角の搬送チャンバを製作することは困難な課題である。   Further, in the methods disclosed in Patent Documents 2 and 3, a transfer robot that can carry a mask is required, but a realistic size corresponding to the size of a processing chamber that accommodates the transfer robot that satisfies the above-described requirements, for example, Manufacturing a 5 m square transfer chamber is a difficult task.

さらに、特許文献2,3に開示された方法では、搬送ロボットはマスクを搬送するとともに基板も搬送する。従って、基板を交換中はマスクを搬送できず、マスクの交換の必要な処理チャンバは勿論のこと、その下流に存在する処理チャンバにおいても処理ができず、稼働率が低下し、生産性が低下するとういう課題がある。   Further, in the methods disclosed in Patent Documents 2 and 3, the transfer robot transfers the mask and the substrate as well. Therefore, the mask cannot be transported while the substrate is being replaced, and processing cannot be performed not only in the processing chamber that needs to be replaced, but also in the downstream processing chamber, resulting in a reduction in operating rate and productivity. There is such a problem.

従って、本発明の第一の目的は、基板やマスクの撓みを低減し、高精度に蒸着できる有機ELデバイス製造装置またはその製造方法を提供することである。
また、本発明の第二の目的は、搬送チャンバを小型化できる有機ELデバイス製造装置またはその製造方法を提供することである。
また、本発明の第三の目的は、駆動部等を大気側に配置することで真空内の粉塵やガスの発生を低減し、生産性の高い有機ELデバイス製造装置またはその製造方法を提供することである。
Accordingly, a first object of the present invention is to provide an organic EL device manufacturing apparatus or a manufacturing method thereof capable of reducing the deflection of a substrate and a mask and depositing with high accuracy.
In addition, a second object of the present invention is to provide an organic EL device manufacturing apparatus or a manufacturing method thereof that can reduce the size of a transfer chamber.
In addition, a third object of the present invention is to provide a highly productive organic EL device manufacturing apparatus or a manufacturing method thereof by reducing the generation of dust and gas in a vacuum by disposing a drive unit and the like on the atmosphere side. That is.

さらに、本発明の第四の目的は、駆動部等を大気側に配置することで保守性を高め、稼働率の高い有機ELデバイス製造装置またはその製造方法を提供することである。   Furthermore, the fourth object of the present invention is to provide an organic EL device manufacturing apparatus or a manufacturing method thereof having a high operating rate by arranging a drive unit and the like on the atmosphere side to improve maintainability.

本発明は、上記第1または第2の目的を達成するために、真空チャンバ内での基板とマスクとのアライメントを前記基板または前記マスクを具備する垂下体として垂下した状態で行い、該基板に蒸着材料を蒸着する際に、前記垂下体上の接触部を移動させて前記垂下体を垂直にし、真空チャンバ内に搬送し、前記位置合せ位置にセットし、前記垂下体の垂下体接触部と前記搬送する搬送手段の前記垂下体接触部との搬送接触部とを離反し、その後前記アライメントを行なうことを第1の特徴とする。   In order to achieve the first or second object, the present invention performs alignment between a substrate and a mask in a vacuum chamber in a state where it is suspended as a suspended body having the substrate or the mask. When depositing the vapor deposition material, the contact part on the drooping body is moved to make the drooping body vertical, transported into the vacuum chamber, set at the alignment position, and the drooping body contact part of the drooping body; A first feature is that the conveyance contact portion of the conveyance means for conveying is separated from the conveyance contact portion and then the alignment is performed.

また、本発明は、上記第1または第2の目的を達成するために、第1の特徴に加え、前記離反は前記アライメントをするアライメント部の有する前記垂下体を上下する手段で行なうことを第2の特徴とする
さらに、上記第1または第2の目的を達成するために、第1の特徴に加え、前記離反は前記搬送接触部を垂下体接触部から離反させることを第3の特徴とする。
According to the present invention, in order to achieve the first or second object, in addition to the first feature, the separation is performed by means for moving up and down the hanging body of the alignment unit for the alignment. Further, in order to achieve the first or second object, in addition to the first feature, the separation causes the conveyance contact portion to be separated from the hanging body contact portion. To do.

また、上記第1または第2の目的を達成するために、第1の特徴に加え、前記垂下体はマスクを具備する垂下体であり、前記垂下体接触部は前記マスクに沿って設けたラックであり、前記搬送接触部はピニオンであることを第4の特徴とする。   In order to achieve the first or second object, in addition to the first feature, the hanging body is a hanging body having a mask, and the hanging body contact portion is a rack provided along the mask. The fourth feature is that the conveyance contact portion is a pinion.

また、上記第3または第4の目的を達成するために、第1の特徴に加え、前記離反する離反機構の駆動手段を大気雰囲気中に設けたことを第5の特徴とする。   Further, in order to achieve the third or fourth object, in addition to the first feature, a fifth feature is that driving means for the separating mechanism that separates is provided in the air atmosphere.

本発明によれば、基板やマスクの撓みを低減し、高精度に蒸着できる有機ELデバイス製造装置を提供することができる。
また、本発明によれば、搬送チャンバを小型化できる有機ELデバイス製造装置またはその製造方法を提供することができる。
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the bending of a board | substrate and a mask can be reduced and the organic EL device manufacturing apparatus which can be vapor-deposited with high precision can be provided.
Moreover, according to this invention, the organic EL device manufacturing apparatus or its manufacturing method which can miniaturize a conveyance chamber can be provided.

さらに、本発明によれば、駆動部等を大気側に配置することで、真空内の粉塵やガスの発生を低減し、生産性の高い有機ELデバイス製造装置またはその製造方法を提供することができる。
また、本発明によれば、駆動部等を大気側に配置することで保守性を高め、稼働率の高い有機ELデバイス製造装置またはその製造方法を提供することができる。
Furthermore, according to the present invention, it is possible to provide a highly productive organic EL device manufacturing apparatus or a manufacturing method thereof by reducing the generation of dust and gas in a vacuum by arranging the driving unit and the like on the atmosphere side. it can.
Moreover, according to this invention, maintainability can be improved by arrange | positioning a drive part etc. to the air | atmosphere side, and the organic EL device manufacturing apparatus or its manufacturing method with a high operation rate can be provided.

本発明の第1の実施形態である有機ELデバイス製造装置を示す図である。1 is a diagram showing an organic EL device manufacturing apparatus according to a first embodiment of the present invention. 本発明の第1の実施形態である搬送チャンバと処理チャンバの構成の模式図と動作説明図である。FIG. 2 is a schematic diagram and an operation explanatory diagram of a configuration of a transfer chamber and a processing chamber according to the first embodiment of the present invention. 処理チャンバとマスク交換チャンバとの間をマスクを搬入出するマスク搬送機構の本発明の一実施形態を示す図である。It is a figure which shows one Embodiment of this invention of the mask conveyance mechanism which carries in / out a mask between a process chamber and a mask exchange chamber. 本発明の一実施形態であるマスクを示す図であるIt is a figure which shows the mask which is one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態であるアライメント部を示す図である。It is a figure which shows the alignment part which is one Embodiment of this invention. 図(a)は搬送時において搬送機構のラックとピニオンが噛み合っている状態を示す図である。図(b)はアライメント時において搬送機構のラックとピニオンが離反している状態を示す図である。FIG. 5A is a diagram illustrating a state where the rack and the pinion of the transport mechanism are engaged with each other during transport. FIG. 5B is a diagram illustrating a state where the rack and the pinion of the transport mechanism are separated from each other during alignment. 本発明の一実施形態であるアライメント光学系の基本構成を示す図である。It is a figure which shows the basic composition of the alignment optical system which is one Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態である搬送機構及び離反機構を示す図である。It is a figure which shows the conveyance mechanism and separation mechanism which are the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態である有機ELデバイス製造装置を示す図である。It is a figure which shows the organic EL device manufacturing apparatus which is the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の本発明の第2実施形態である有機ELデバイス製造装置であるマスク交換チャンバの構成とその動作を示す図である。It is a figure which shows the structure and operation | movement of a mask exchange chamber which are the organic EL device manufacturing apparatuses which are 2nd Embodiment of this invention of this invention. 本発明の第2実施形態である有機ELデバイス製造装置おけるマスク搬入出室の構成及び動作を示す図である。It is a figure which shows the structure and operation | movement of a mask carrying in / out chamber in the organic EL device manufacturing apparatus which is 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施形態である有機ELデバイス製造装置を示す図である。It is a figure which shows the organic EL device manufacturing apparatus which is the 3rd Embodiment of this invention. マスク・基板を水平にして蒸着する従来技術の課題を説明する図である。It is a figure explaining the subject of the prior art which vapor-deposits a mask and a board | substrate horizontally. マスク交換における従来技術を説明する図である。It is a figure explaining the prior art in mask exchange.

本発明の有機ELデバイス製造装置における第1の実施形態を図1から図7を用いて説明する。有機ELデバイス製造装置は、単に発光材料層(EL層)を形成し電極で挟むだけの構造ではなく、陽極の上に正孔注入層や輸送層、陰極の上に電子注入層や輸送層をなど様々な材料が薄膜としてなる多層構造を形成したり、基板を交換したりする。図1はその製造装置の一例を示したものである。   A first embodiment of the organic EL device manufacturing apparatus of the present invention will be described with reference to FIGS. Organic EL device manufacturing equipment is not simply a structure in which a light emitting material layer (EL layer) is formed and sandwiched between electrodes, but a hole injection layer or transport layer on the anode, and an electron injection layer or transport layer on the cathode. A multilayer structure in which various materials are formed as a thin film is formed, or a substrate is exchanged. FIG. 1 shows an example of the manufacturing apparatus.

本実施形態における有機ELデバイス製造装置100は、大別して処理対象の基板6を搬入するロードクラスタ13、基板6を処理する4つのクラスタ(A〜D)、各クラスタ間又はクラスタとロードクラスタ13あるいは次工程(封止工程)との間の設置された5つの受渡室14から構成されている。本実施形態では、基板の蒸着面を上面にして搬送し、蒸着するときに基板を立てて蒸着する。   The organic EL device manufacturing apparatus 100 according to the present embodiment is roughly divided into a load cluster 13 that carries a substrate 6 to be processed, four clusters (A to D) that process the substrate 6, between each cluster, or between the cluster and the load cluster 13, or It is comprised from the five delivery chambers 14 installed between the following processes (sealing process). In this embodiment, the substrate is transported with the deposition surface of the substrate as the upper surface, and the substrate is erected and deposited when vapor deposition is performed.

ロードクラスタ13は、前後に真空を維持するためにゲート弁10を有するロードロック室13Rとロードロック室13Rから基板を受取り、旋回して受渡室14aに基板6を搬入する搬送ロボット15Rからなる。各ロードロック室13R及び各受渡室14は前後にゲート弁10を有し、当該ゲート弁10の開閉を制御し真空を維持しながらロードクラスタ13あるいは次のクラスタ等へ基板を受渡する。   The load cluster 13 includes a load lock chamber 13R having a gate valve 10 and a substrate transfer robot 15R that receives the substrate from the load lock chamber 13R and rotates to carry the substrate 6 into the delivery chamber 14a. Each of the load lock chambers 13R and each of the delivery chambers 14 has a gate valve 10 in the front and rear, and delivers the substrate to the load cluster 13 or the next cluster while controlling the opening and closing of the gate valve 10 and maintaining a vacuum.

各クラスタ(A〜D)は、一台の搬送ロボット15を有する搬送チャンバ2と、搬送ロボット15から基板を受取り、所定の処理をする図面上で上下に配置された2つの処理チャンバ1(第1の添え字a〜dはクラスタを示し、第2の添え字u、dは上側下側を示す)を有する。搬送チャンバ2と処理チャンバ1の間にはゲート弁10を設けている。   Each cluster (A to D) includes a transfer chamber 2 having a single transfer robot 15 and two processing chambers 1 (first) arranged on the top and bottom of the drawing for receiving a substrate from the transfer robot 15 and performing a predetermined process. 1 subscripts a to d indicate clusters, and second subscripts u and d indicate upper and lower sides). A gate valve 10 is provided between the transfer chamber 2 and the processing chamber 1.

処理チャンバ1の構成は処理内容によって異なるが、蒸着材料である発光材料を真空中で蒸着しEL層を形成する真空蒸着チャンバ1buを例にとって説明する。図2は、そのとき搬送チャンバ2bと真空蒸着チャンバ1buの構成の模式図と動作説明図である。図2における搬送ロボット15は、全体を上下に移動可能(矢印159参照)で、左右に旋回可能なリンク構造のアーム157を有し、その先端には基板搬送用の櫛歯状ハンド158を有する。   Although the configuration of the processing chamber 1 varies depending on the processing content, a vacuum deposition chamber 1bu in which a light emitting material as a deposition material is deposited in vacuum to form an EL layer will be described as an example. FIG. 2 is a schematic diagram and an operation explanatory diagram of the configuration of the transfer chamber 2b and the vacuum deposition chamber 1bu at that time. The transfer robot 15 in FIG. 2 has a link-structure arm 157 that can move up and down as a whole (see arrow 159) and can turn left and right, and has a comb-like hand 158 for substrate transfer at the tip. .

本実施形態の処理の基本的な考え方は、図2に示すように、1台の真空蒸着チャンバに処理ラインを2つ設け、一方のライン(例えばRライン)で蒸着して間に、他方のLラインでは基板を搬出入し、基板6とマスク81とのアライメントをして蒸着する準備を完了させることである。この処理を交互に行なうことによって、基板に蒸着させずに無駄に蒸発(昇華)している時間を減少させることができる。
上記を実現するために、真空蒸着チャンバ1buは、基板6とマスクの位置合せを行い、基板6の必要な部分に蒸着させるアライメント部8と、搬送ロボット15と基板の受渡しを行い、蒸着部7へ基板6を移動させる処理受渡部9とを右側Rラインと左側Lラインとに2系統設け、その2系統のライン間を移動し、発光材料を蒸発(昇華)させ基板6に蒸着させる蒸着部7を有している。
As shown in FIG. 2, the basic idea of the processing of this embodiment is that two processing lines are provided in one vacuum deposition chamber, and vapor deposition is performed on one line (for example, R line), while the other is In the L line, the substrate is carried in and out, the substrate 6 and the mask 81 are aligned, and preparation for vapor deposition is completed. By alternately performing this process, it is possible to reduce the time during which the vaporization (sublimation) is wasted without being deposited on the substrate.
In order to realize the above, the vacuum deposition chamber 1bu aligns the substrate 6 and the mask, performs the deposition on the necessary portion of the substrate 6, and delivers the substrate to the transfer robot 15, and the deposition unit 7 Two processing and delivery sections 9 for moving the substrate 6 to the right R line and the left L line are provided. The deposition section moves between the two lines, evaporates (sublimates) the luminescent material, and deposits on the substrate 6. 7.

そこで、まず、処理受渡部9を説明する。処理受渡部9は、搬送ロボット15の櫛歯状ハンド158と干渉することなく基板6を受渡し可能で、基板6を固定する手段94を有する櫛歯状ハンド91と、前記櫛歯状ハンド91を旋回させて基板6を直立させアライメント部8に移動させるハンド旋回駆動手段93を有する。基板6を固定する手段(図示せず)としては、真空中であることを考慮して静電吸着や機械的クランプ等の手段を用いる。   First, the processing delivery unit 9 will be described. The processing delivery unit 9 can deliver the substrate 6 without interfering with the comb-like hand 158 of the transport robot 15, and has a comb-like hand 91 having means 94 for fixing the substrate 6, and the comb-like hand 91. A hand turning drive means 93 for turning and moving the substrate 6 upright to the alignment unit 8 is provided. As means (not shown) for fixing the substrate 6, means such as electrostatic attraction and mechanical clamping are used in consideration of being in a vacuum.

蒸着部7は、蒸発源71をレール76r上に沿って上下方向に移動させる上下駆動手段76、蒸発源71をレール75上に沿って左右のアライメント部間移動する左右駆動ベース74を有する。蒸発源71は内部に蒸着材料である発光材料を有し、前記蒸着材料を加熱制御(図示せず)することによって安定した蒸発速度が得られ、図2の引出し図に示すように、蒸発源71に並んだ複数の穴73から噴射する構造となっている。必要によっては、蒸着膜の特性を向上させるために添加剤も同時に加熱して蒸着する。この場合、蒸発源と一対若しくは複数の蒸発源と上下に平行に並べて蒸着する。   The vapor deposition unit 7 includes a vertical drive unit 76 that moves the evaporation source 71 in the vertical direction along the rail 76 r and a left and right drive base 74 that moves the evaporation source 71 along the rail 75 between the left and right alignment units. The evaporation source 71 has a light emitting material that is a vapor deposition material inside, and a stable evaporation rate can be obtained by heating control (not shown) of the vapor deposition material. As shown in the drawing of FIG. 71 has a structure of spraying from a plurality of holes 73 aligned with 71. If necessary, in order to improve the properties of the deposited film, the additive is also heated and deposited at the same time. In this case, the evaporation source and the pair or a plurality of evaporation sources are deposited in parallel vertically.

アライメント部8を説明する前に、図3を用いて本実施形態の大きな特徴であるマスク交換チャンバ5の構成とその動作を、アライメント部を示す図5を参照しながら説明する。図3は、処理チャンバ1とマスク交換チャンバ5との間を、垂下体を構成するマスク81を搬入出するマスク搬送機構の一実施形態を示す図で、図5はアライメント部の一実施形態を示す図である。   Before describing the alignment unit 8, the configuration and operation of the mask exchange chamber 5, which is a major feature of the present embodiment, will be described with reference to FIG. 5 showing the alignment unit. FIG. 3 is a view showing an embodiment of a mask transport mechanism for carrying in and out a mask 81 constituting a suspended body between the processing chamber 1 and the mask exchange chamber 5, and FIG. 5 shows an embodiment of an alignment unit. FIG.

図1の引出し図に示すように、本実施形態では蒸着処理する処理チャンバ1に隣接してゲート弁10Bを介してマスク交換チャンバ5を設けている。マスク交換チャンバ5は少なくともマスク交換時に処理チャンバ1と同じ真空度を維持できるチャンバである。以下の説明では、図1の引出し図に示す、真空蒸着チャンバ1adのLラインと真空蒸着チャンバ1bdのRラインのマスク81の交換を担当するマスク交換チャンバ5bdを例にとって説明する。
なお、真空蒸着チャンバ1adと真空蒸着チャンバ1bdのL、Rラインの呼び方は、図2に示す真空蒸着チャンバ1buのラインの呼び方とは上下反対になるので図上では逆になる。また、図1におけるマスク交換チャンバ等の添え字は、第1の添え字が左からabc順を、第2の添え字が上段u、下段dを表す。但し、説明の煩雑さを避けるために必要のない限り、添え字は省略する。
As shown in the drawing of FIG. 1, in this embodiment, a mask exchange chamber 5 is provided through a gate valve 10B adjacent to the processing chamber 1 for vapor deposition. The mask exchange chamber 5 is a chamber that can maintain the same degree of vacuum as the processing chamber 1 at least during mask exchange. In the following description, the mask exchange chamber 5bd in charge of exchanging the mask 81 between the L line of the vacuum deposition chamber 1ad and the R line of the vacuum deposition chamber 1bd shown in the drawing of FIG. 1 will be described as an example.
Note that the L and R lines of the vacuum vapor deposition chamber 1ad and the vacuum vapor deposition chamber 1bd are opposite to each other in the figure because they are opposite to those of the vacuum vapor deposition chamber 1bu shown in FIG. In the subscripts of the mask exchange chamber and the like in FIG. 1, the first subscript represents the abc order from the left, and the second subscript represents the upper stage u and the lower stage d. However, subscripts are omitted unless necessary to avoid complicated explanation.

まず、図4に示す本実施形態で用いるマスク81の一例を説明する。マスク81は大別してマスク部81Mとマスク部を支持するフレーム81Fからなる。引出し図に示すように、マスク部81Mには基板6に蒸着する部分に対応した箇所に開口部81hを有する。本例では赤(R)、緑(G)、青(B)の発光材料を蒸着するマスクのうち赤に対応する開口部を示している。マスクの寸法は基板の大型化に伴い2000mm×2000mmにもなり、その重量も300kg超にも及ぶ。その窓の大きさは色によって異なるが平均して幅30μm、高さ150μm程度である。マスク81Mの厚さは50μm程度であり、今後さらに薄くなる傾向がある。一方、マスク81Mには、精密アライメントマーク81mが4ヶ所、粗アライメントマーク81mrが2ヶ所、計6ヶ所にアライメントマーク81mが設けられている。それに対応して、基板にも精密アライメントマーク6msが4ヶ所、粗アライメントマーク6mrが2ヶ所の計6ヶ所にアライメントマーク6mが設けられている
次に、真空蒸着チャンバである処理チャンバ1とマスク交換チャンバ5との間を、マスク81を搬入出するマスク搬送機構の構成と動作を説明する。図3においては紛らわしさ避けるために搬送機構以外の部分は省略している。図3の左側に処理チャンバ1を、右側にマスク交換チャンバ5を示しており、マスク81は処理チャンバ1にセットされている状態を実線で示す。前記2つのチャンバの間にはそれらを仕切るためのゲート弁10Bがある。ゲート弁の両側には、マスク81を搬送させるための各搬送部(交換チャンバ搬送部:56、処理チャンバ搬送部:86)がある。各搬送部は基本的には、同じ構造を有しているので、構造に関してはマスク交換チャンバ5を主体に、後述するマスク搬送駆動手段に関しては後述の説明で図5を参照する関係上真空蒸着チャンバ1を主体に説明する。そのために、図3においては煩雑さを避けるために図面及び符号を一部省略している。
First, an example of the mask 81 used in this embodiment shown in FIG. 4 will be described. The mask 81 is roughly divided into a mask portion 81M and a frame 81F that supports the mask portion. As shown in the drawing, the mask portion 81M has an opening 81h at a location corresponding to a portion to be deposited on the substrate 6. In this example, an opening corresponding to red is shown in a mask for depositing red (R), green (G), and blue (B) light emitting materials. The size of the mask becomes 2000 mm × 2000 mm with the increase in size of the substrate, and its weight also exceeds 300 kg. The size of the window varies depending on the color, but on average is about 30 μm in width and about 150 μm in height. The thickness of the mask 81M is about 50 μm and tends to be thinner in the future. On the other hand, the mask 81M has four alignment marks 81m, two coarse alignment marks 81mr, and six alignment marks 81m. Correspondingly, the substrate is provided with alignment marks 6m at a total of 6 locations including 4 precision alignment marks 6ms and 2 coarse alignment marks 6mr. Next, the mask is replaced with the processing chamber 1 which is a vacuum deposition chamber. The configuration and operation of a mask transport mechanism that loads and unloads the mask 81 between the chamber 5 will be described. In FIG. 3, parts other than the transport mechanism are omitted to avoid confusion. The processing chamber 1 is shown on the left side of FIG. 3 and the mask exchange chamber 5 is shown on the right side, and the state where the mask 81 is set in the processing chamber 1 is shown by a solid line. Between the two chambers is a gate valve 10B for partitioning them. On both sides of the gate valve, there are respective transfer units (exchange chamber transfer unit: 56, processing chamber transfer unit: 86) for transferring the mask 81. Since each transfer unit basically has the same structure, the structure is mainly composed of the mask exchange chamber 5, and the mask transfer driving means to be described later is vacuum-deposited with reference to FIG. The chamber 1 will be mainly described. Therefore, in order to avoid complexity in FIG. 3, some drawings and symbols are omitted.

各搬送部(56、86)は、マスク81を保持するベース(セットベース:52、アライメントベース:82)とマスク搬送駆動手段(交換チャンバ搬送駆動部:56B、処理チャンバ搬送駆動部:86B)とからなる。ベースは、ベースにマスク81が搬入する際にマスク上部を支持するマスク上部固定部(52u、82u)とその下部にマスク81を搬送する複数のローラ状の搬送レール(56r、82r)とを有する。マスクはその下部にマスク定載置固定して一体になって移動するマスク下部固定部81kを有する。マスク下部固定部81kはその固定部の凸部底部には搬送接触部であるピニオン(小歯車:56g、86g)が噛み合う垂下体接触部であるラック81rを有する。二つのマスク搬送部の駆動歯車であるピニオンの間隔はマスク81の横長LSより短い間隔LDになるように配置されている。従って、LS>LDであるから、少なくとも一方のピニオンがラック81rと噛み合うので、前記2つのピニオンを協調して制御することでマスクを前後進させることができる。   Each transfer unit (56, 86) includes a base (set base: 52, alignment base: 82) for holding the mask 81 and mask transfer drive means (exchange chamber transfer drive unit: 56B, processing chamber transfer drive unit: 86B). Consists of. The base has a mask upper fixing part (52u, 82u) that supports the upper part of the mask when the mask 81 is carried into the base, and a plurality of roller-shaped transport rails (56r, 82r) that transport the mask 81 to the lower part. . The mask has a mask lower fixing portion 81k that moves integrally with the mask fixedly mounted on the lower portion thereof. The mask lower fixing portion 81k has a rack 81r which is a hanging body contact portion with which a pinion (small gear: 56g, 86g) which is a conveyance contact portion meshes with the bottom of the convex portion of the fixed portion. The interval between the pinions that are the drive gears of the two mask conveying portions is arranged to be an interval LD shorter than the lateral length LS of the mask 81. Therefore, since LS> LD, since at least one pinion meshes with the rack 81r, the mask can be moved forward and backward by controlling the two pinions in cooperation.

マスク81がスムーズに搬送できるようにするために、マスク上部固定部の内部には、引出し図Aに示すように複数の左右のガイドローラ56ur、56ulからなる搬送ガイド56hを設け、一方、マスク下部固定部81kは、引出し図Bに示すようにラック側とは反対側のベースにピニオンと協調してマスク81を挟みながら搬送させる複数のローラ56drが設けられている。さらに、搬送レール(56r、82r)は、ラック81rがあってもマスクをスムーズに搬送できるように、引出し図Bに示すようにH型の形状を有する。   In order to enable the mask 81 to be smoothly conveyed, a conveyance guide 56h including a plurality of left and right guide rollers 56ur and 56ul is provided inside the mask upper fixing portion as shown in FIG. As shown in the drawing B, the fixing portion 81k is provided with a plurality of rollers 56dr that are transported while sandwiching the mask 81 in cooperation with the pinion on the base opposite to the rack side. Further, the transport rails (56r, 82r) have an H-shape as shown in the drawing B so that the mask can be smoothly transported even if the rack 81r is present.

交換チャンバ搬送部56のガイドローラ56ur、56ulに対応する処理チャンバ搬送部86のガイドローラ86ur、86ul(図示せず)は、アライメント時においてマスクを把持固定する役目を果たしている。従って、アライメント時に安定してマスクを保持できるように、ガイドローラ86ur、86ul間の挟み合う度合いはガイドローラ56ur、56ul間に比べやや固めに調節している。前記搬送ローラ82r及びガイドローラは真空蒸着に悪影響を及ぼすガスを低減するために、ローグリースベアリングを使用している。なお、マスク81を前記マスク下部固定部81kに着脱可能に且つ確実に固定するために、前記マスク下部固定部81kには、マスク下部に設けた三角錐状の突起物が納まる三角錐状の凹部(図示せず)が複数設けてある。   Guide rollers 86ur, 86ul (not shown) of the processing chamber transfer unit 86 corresponding to the guide rollers 56ur, 56ul of the replacement chamber transfer unit 56 serve to hold and fix the mask during alignment. Therefore, the degree of pinching between the guide rollers 86ur and 86ul is adjusted slightly tighter than between the guide rollers 56ur and 56ul so that the mask can be stably held during alignment. The conveying roller 82r and the guide roller use low grease bearings in order to reduce gas that adversely affects vacuum deposition. In order to detachably and securely fix the mask 81 to the mask lower fixing portion 81k, the mask lower fixing portion 81k has a triangular pyramid-shaped recess in which a triangular pyramid-shaped protrusion provided at the lower portion of the mask is accommodated. A plurality of (not shown) are provided.

処理チャンバ搬送駆動部86Bは、図5に示すように、大気側であるチャンバ1の下部壁1Y下に設けた搬送駆動モータ86m、マスクのラック81rに噛み合うピニオン86g、回転軸を90度変換するための2つの傘歯車86k1,86k2、歯車支持体86h及び真空シールするシール部86sからなる。このように処理チャンバ搬送駆動部86Bもアライメント機構部83と同様にシール部を介して大気側に設けられており、真空蒸着に悪影響及ぼす粉塵等を真空内に持ち込まないようしている。   As shown in FIG. 5, the processing chamber transfer drive unit 86B converts the transfer drive motor 86m provided below the lower wall 1Y of the chamber 1 on the atmosphere side, the pinion 86g engaged with the mask rack 81r, and the rotation axis by 90 degrees. It consists of two bevel gears 86k1 and 86k2, a gear support 86h and a seal portion 86s for vacuum sealing. As described above, the processing chamber transport driving part 86B is also provided on the atmosphere side through the seal part similarly to the alignment mechanism part 83, so that dust or the like that adversely affects vacuum deposition is not brought into the vacuum.

上記実施形態では処理チャンバ搬送駆動部86Bのシール部86sを搬送駆動モータ86mと傘歯車86k1の間に設けたが、処理チャンバ1の下壁1Yから突出た筒状体に傘歯車収納部を設け、傘歯車収納部とピニオンの間に真空シール例えば磁性流体シールを設けてもよい。交換チャンバ搬送駆動部56Bも処理チャンバ搬送駆動部86Bと同様な構成を有している。   In the above embodiment, the seal portion 86s of the processing chamber transport driving portion 86B is provided between the transport driving motor 86m and the bevel gear 86k1, but the bevel gear housing portion is provided in the cylindrical body protruding from the lower wall 1Y of the processing chamber 1. A vacuum seal such as a magnetic fluid seal may be provided between the bevel gear housing and the pinion. The replacement chamber transfer driving unit 56B has the same configuration as the processing chamber transfer driving unit 86B.

また、このような搬送機構によってマスク81がアライメントベース82の所望の位置にセットされたかどうかは、本実施形態では、後述する図5に示すアライメント光学系85を利用する。図4に示すようにアライメントは基板6及びマスク81に設けたアライメントマーク6m、81mが重なるように制御する。そこで、両アライメントマーク6m、81mがアライメント光学系85のカメラに共に撮像されればセットされたと判断する。勿論、マスク上部固定部82uの端部にスイッチ等のセンサを設けてもよい。   Further, in this embodiment, an alignment optical system 85 shown in FIG. 5 described later is used to determine whether or not the mask 81 is set at a desired position on the alignment base 82 by such a transport mechanism. As shown in FIG. 4, the alignment is controlled so that the alignment marks 6m and 81m provided on the substrate 6 and the mask 81 overlap. Therefore, if both alignment marks 6m and 81m are imaged together by the camera of the alignment optical system 85, it is determined that they are set. Of course, a sensor such as a switch may be provided at the end of the mask upper fixing portion 82u.

本搬送機構の実施形態によれば、マスクの交換時において、真空蒸着チャンバなどの処理チャンバ1とマスク交換チャンバ5の間にあるゲート弁10Bの両側に、マスクに保持するマスク下部固定部に設けられたラックを駆動する駆動部を設けた簡単な機構で、確実にマスクを移動でき、搬入後、ゲート弁10Bを閉じることで真空蒸着チャンバなどの処理チャンバをマスク交換チャンバから完全に分離できる。   According to the embodiment of the present transport mechanism, at the time of exchanging the mask, it is provided on both sides of the gate valve 10B between the processing chamber 1 such as a vacuum deposition chamber and the mask exchanging chamber 5 on the mask lower fixing portion held by the mask. The mask can be surely moved by a simple mechanism provided with a drive unit for driving the rack, and the processing chamber such as the vacuum deposition chamber can be completely separated from the mask exchange chamber by closing the gate valve 10B after loading.

上記に説明した搬送機構の実施形態によれば、マスクを確実にアライメントベースにセットできるので、高精度に蒸着できる有機ELデバイス製造装置を提供できる。   According to the embodiment of the transport mechanism described above, since the mask can be reliably set on the alignment base, it is possible to provide an organic EL device manufacturing apparatus that can perform deposition with high accuracy.

次に、図5を用いて本実施形態の他の特徴であるアライメント部8を説明する。図5では処理チャンバである真空蒸着チャンバの壁やゲート弁を省略している。本実施形態では、アライメントは、真空蒸着チャンバの外部からマスクを搬入し、基板6をほぼ垂直または垂直に固定し、マスク81を垂下してマスクの姿勢を変えて行なわれる。そのために、図面上部にはアライメントを行なう機構が、下部には真空蒸着チャンバの外部から内部にマスクを搬入する為の搬送機構である搬送部86が設けられている。アライメント及びマスク搬送のための機構部は、可能な限り、真空蒸着チャンバの外側である大気側に、具体的には真空蒸着チャンバの上部壁1T上、あるいは下部壁1Y下に設けている。また、真空蒸着チャンバ内に設けなければならないものは、大気部から凸部を設けてその中に設けている。   Next, the alignment part 8 which is the other characteristic of this embodiment is demonstrated using FIG. In FIG. 5, the walls and gate valves of the vacuum deposition chamber, which is the processing chamber, are omitted. In this embodiment, alignment is performed by carrying a mask from the outside of the vacuum deposition chamber, fixing the substrate 6 substantially vertically or vertically, and dropping the mask 81 to change the posture of the mask. For this purpose, an alignment mechanism is provided in the upper part of the drawing, and a transfer part 86 which is a transfer mechanism for transferring the mask from the outside to the inside of the vacuum deposition chamber is provided in the lower part. As much as possible, the mechanism for alignment and mask conveyance is provided on the atmosphere side outside the vacuum deposition chamber, specifically, on the upper wall 1T or the lower wall 1Y of the vacuum deposition chamber. Moreover, what has to be provided in the vacuum deposition chamber is provided with a convex part from the atmosphere part.

アライメント部8は、マスク81、マスク81を固定するアライメントベース82、アライメントベース82を保持し、アライメントベース82即ちマスク81のXZ平面での姿勢を規定するアライメント駆動部83、アライメントベース82を下から支持し、アライメント駆動部83と協調してマスク81の姿勢を規定するアライメント従動部84、基板6と前記マスク81に設けられた図4に示すアライメントマークを検出するアライメント光学系85、アライメントマークの映像を処理し、アライメント量を求めアライメント駆動部83を制御する制御装置20(図1参照)からなる。   The alignment unit 8 holds the mask 81, the alignment base 82 for fixing the mask 81, the alignment base 82, and the alignment driving unit 83 that defines the orientation of the alignment base 82, that is, the mask 81 in the XZ plane, and the alignment base 82 from below. An alignment follower 84 that supports and regulates the posture of the mask 81 in cooperation with the alignment drive unit 83, an alignment optical system 85 that detects the alignment mark shown in FIG. It comprises a control device 20 (see FIG. 1) that processes an image, obtains an alignment amount, and controls the alignment driving unit 83.

以下、本実施形態におけるアライメント方法を実現する基本的な構成を説明し、その後基本的な構成に基づくアライメント方法、それを実現する駆動機構を順に説明する。   Hereinafter, a basic configuration for realizing the alignment method in the present embodiment will be described, and then an alignment method based on the basic configuration and a drive mechanism for realizing the alignment method will be described in order.

マスク81はその上部を保持部82uでアライメントベース82固定され、アライメントベース82に固定されている複数のローラ状の搬送レール82rで支持されている。そのアライメントベースを上部に設けられた2ヶ所の回転可能な支持部81a、81bで懸垂し、その81a、81bをZ方向にあるいはX方向に主動(アクティブに駆動)することによって、アライメントベース82即ちマスクのXZ平面での姿勢を規定しアライメントする。また、その姿勢規定時のアライメントベース82を下から支えるために、支持部81a、81bのそれぞれの下に設けられた回転可能な支持部81c、81dを設け、支持部81c、81dが支持部81a、81bの動きに対して従動的に動作する。なお、アライメントベース82はマスクを介して基板6に蒸着できるように回の字ように空洞になっている。   The upper portion of the mask 81 is fixed to the alignment base 82 by a holding portion 82u, and is supported by a plurality of roller-shaped transport rails 82r fixed to the alignment base 82. The alignment base 82 is suspended by two rotatable support portions 81a and 81b provided on the upper portion, and the 81a and 81b are mainly driven (actively driven) in the Z direction or the X direction, Define and align the posture of the mask in the XZ plane. Further, in order to support the alignment base 82 from the bottom when the posture is defined, rotatable support portions 81c and 81d provided under the support portions 81a and 81b are provided, and the support portions 81c and 81d are the support portions 81a. , 81b. The alignment base 82 has a hollow shape so that it can be deposited on the substrate 6 through a mask.

次に、アライメント方法を説明する。図5に示す4箇所に設けられたアライメント光学系85により基板中心における基板6とマスク81の位置ズレ(ΔX、ΔZ、θ)を検出する。この結果に基づいて、アライメントベース82上部に設けた主動支持部81bをX方向、Z方向に、同じく上部に設けた主動支持部81aをZ方向に移動させる。このとき、81a、81bのZ方向の移動差によってθ補正が、両者のZ方向の移動にθ補正の影響を加味した値でΔZ補正が、81bのX方向の移動にθ補正の影響を加味した値でΔX補正が行なわれアライメントされる。上記において、主動支持部81a、81bの両者間の距離は長いほうが、同じZ方向の動きに対してθ補正を精度良くできる利点がある。   Next, an alignment method will be described. The positional deviations (ΔX, ΔZ, θ) between the substrate 6 and the mask 81 at the center of the substrate are detected by the alignment optical systems 85 provided at four locations shown in FIG. Based on this result, the main support part 81b provided on the alignment base 82 is moved in the X and Z directions, and the main support part 81a provided on the upper part is also moved in the Z direction. At this time, θ correction is based on the movement difference of 81a and 81b in the Z direction, ΔZ correction is a value obtained by adding the effect of θ correction to the movement in both Z directions, and the effect of θ correction is added to the movement of 81b in the X direction. ΔX correction is performed with the obtained value, and alignment is performed. In the above description, the longer the distance between the main support portions 81a and 81b, the more advantageous is that θ correction can be performed with high accuracy for the same movement in the Z direction.

また、アライメントベース82の上記移動にともない、主動支持部81aはX方向に、アライメントベース82下部に設けた従動支持部81c、81dはX及びZ方向に従動的に移動する。主動支持部81bの駆動は、真空蒸着チャンバ1buの上部壁1T上に設けられた駆動モータを有するアライメント駆動部83R、主動支持部81aの駆動及び受動はアライメント駆動部83L、及び従動支持部81c、81dの従動は真空蒸着チャンバ1buの下部壁1Y下に設けられたアライメント従動部84R、84Lで行なう。   As the alignment base 82 moves, the main support part 81a moves in the X direction, and the follower support parts 81c and 81d provided at the lower part of the alignment base 82 move in the X and Z directions. The driving of the main support 81b is an alignment driving unit 83R having a driving motor provided on the upper wall 1T of the vacuum deposition chamber 1bu, the driving and passive of the main driving support 81a are the alignment driving unit 83L, and the driven support 81c. 81d is driven by alignment driven portions 84R and 84L provided under the lower wall 1Y of the vacuum deposition chamber 1bu.

このマスクのアライメントはマスクを垂下して行なわれるが、図6(a)に示すように搬送時の状態でマスクのラック81rとピニオン86gが噛み合っているとスムーズなアライメントの妨げになる。そこで、アライメント時は両者を離反機構で離反させてその後アライメントする必要がある。本実施形態での離反動作は、マスク81をアライメント位置よりやや下側で搬送し、図6(b)のようにラック81r、即ちアライメントベース82を一定距離吊り上げて行なう。吊り上げは主動支持部81a、81bをZ方向に移動させて行なう。従って、離反機構40は主動支持部81a、81bをZ方向に移動させる後述するZ駆動部83Zで構成される。上述したZ方向の吊り上げ量は、アライメントに差し支えない程度の量であるので、それほど大きくなくてもよい。吊り上げ動作に伴い、主動支持部81a、81bと従動支持部81c、81dのZ方向の可動範囲をその分だけ多少長くとる必要がある。
以上説明した方法は、本来アライメント部8が有しているZ方向の動作自由度を利用してマスクを吊り上げマスクとピニオンを離反させたが、ピニオンを降下させることで離反させてもよい。
This mask alignment is performed by dropping the mask. However, as shown in FIG. 6A, if the mask rack 81r and the pinion 86g are engaged with each other in the state of conveyance, smooth alignment is hindered. Therefore, at the time of alignment, it is necessary to separate the two by a separation mechanism and then perform alignment. The separation operation in the present embodiment is performed by transporting the mask 81 slightly below the alignment position and lifting the rack 81r, that is, the alignment base 82, by a certain distance as shown in FIG. 6B. The lifting is performed by moving the main support portions 81a and 81b in the Z direction. Accordingly, the separation mechanism 40 includes a Z drive unit 83Z (described later) that moves the main support portions 81a and 81b in the Z direction. Since the amount of lifting in the Z direction described above is an amount that does not interfere with alignment, it may not be so large. Along with the lifting operation, the movable range in the Z direction of the main support portions 81a and 81b and the follower support portions 81c and 81d needs to be somewhat longer.
In the method described above, the mask is lifted and the pinion is separated from each other by using the degree of freedom of operation in the Z direction that the alignment unit 8 originally has, but may be separated by lowering the pinion.

上記した本実施形態の離反機構によれば、処理チャンバ1にマスク81を搬送してアライメントベース82にセットし、マスクとピ二オンを離反させることで、スムーズに精度よくアライメントをすることができ、高精度に蒸着できる有機ELデバイス製造装置を提供できる。
また、離反機構として本来アライメント部が有している自由度を用いることで簡単な機構でスムーズなアライメントを実現できる。
According to the separation mechanism of the present embodiment described above, the mask 81 is transferred to the processing chamber 1 and set on the alignment base 82, and the mask and pinion are separated from each other, so that alignment can be performed smoothly and accurately. An organic EL device manufacturing apparatus that can be deposited with high accuracy can be provided.
In addition, smooth alignment can be realized with a simple mechanism by using the degree of freedom that the alignment unit originally has as the separation mechanism.

次に、マスク81の姿勢を規定するアライメント駆動部83とアライメント従動部84について図5に戻りより詳細に説明する。   Next, the alignment driving unit 83 and the alignment driven unit 84 that define the posture of the mask 81 will be described in more detail with reference to FIG.

アライメント駆動部83は、真空蒸着チャンバ1buの上部壁1T(図2も参照)上の大気中に設けられ、回転指示部81aをZ方向に移動させるZ駆動部83Zを有する左駆動部83Lと、回転支持部81bを左駆動部83L同様にZ方向に移動させるZ駆動部83Zと前記Z駆動部全体をX方向(図5の左右方向)に移動させるX駆動部83Xを有する右駆動部83Rとからなる。左右駆動部83L、83RのZ駆動部は基本的に同じで構成であるので同じ番号を付し、かつ一部番号を省略している。以下、番号の付け方、省略の仕方は他の機構部においても同様である。   The alignment drive unit 83 is provided in the atmosphere on the upper wall 1T (see also FIG. 2) of the vacuum deposition chamber 1bu, and includes a left drive unit 83L having a Z drive unit 83Z that moves the rotation instruction unit 81a in the Z direction. A right drive unit 83R having a Z drive unit 83Z that moves the rotation support unit 81b in the Z direction similarly to the left drive unit 83L, and an X drive unit 83X that moves the entire Z drive unit in the X direction (left-right direction in FIG. 5). Consists of. Since the Z drive units of the left and right drive units 83L and 83R are basically the same and configured, the same numbers are given and some numbers are omitted. Hereinafter, the numbering and omission methods are the same in the other mechanism units.

左駆動部83Lを例に採りZ駆動部83Zを説明する。Z駆動部83Zは、前述したようにレール83r上をX方向に従動するZ駆動部固定板83kに固定され、Z方向駆動モータ83zmによりボールネジ83n、テーパ83tを介して連結棒83jをZ方向に移動する。アライメント軸83aは、その上部で連結した連結棒83jによりZ方向に移動する。テーパ83tは、アライメントベース82等の重力を利用して前記Z方向のロストモーションを防ぐために設けたもので、その結果ヒステリシスがなくなり目標値に早く収束する効果がある。また、アライメント軸83aは、真空蒸着チャンバ1buの上部壁1Tに設けられたシール部(図示せず)に一端を固定されたベローズ83vを介して動作し、スプライン83sによって傾斜することなくZ方向に垂直かつ/またはX方向に平行移動する。   The Z drive unit 83Z will be described by taking the left drive unit 83L as an example. As described above, the Z drive unit 83Z is fixed to the Z drive unit fixing plate 83k that follows the rail 83r in the X direction, and the Z direction drive motor 83zm moves the connecting rod 83j in the Z direction via the ball screw 83n and the taper 83t. Moving. The alignment shaft 83a is moved in the Z direction by a connecting rod 83j connected at the top thereof. The taper 83t is provided to prevent the lost motion in the Z direction using the gravity of the alignment base 82 or the like, and as a result, there is an effect that the hysteresis is eliminated and the target value is converged quickly. The alignment shaft 83a is operated via a bellows 83v having one end fixed to a seal portion (not shown) provided on the upper wall 1T of the vacuum deposition chamber 1bu, and is not inclined by the spline 83s in the Z direction. Translate in the vertical and / or X direction.

右駆動部83Rは、さらに前記Z駆動部83Zに加え、真空蒸着チャンバ1の上部壁1Tに固定され、Z駆動部83Zを搭載しているZ駆動部固定板83kをX軸レール83r上に沿って駆動するX駆動部83Xを有する。X駆動部83Xの駆動方法はX方向駆動モータ83xmの回転力をボールネジ83n、テーパ83tを介するなど基本的にはZ軸駆動部83Zと同じであるが、その駆動力は、アライメントベース82を回転駆動及びアライメントベースを介して他の駆動部あるいは従動部を移動させるパワーが必要である。アライメント軸83aは、左駆動部83Lのアライメント軸83a同様にスプライン83sによって傾斜することなくZ方向に垂直かつ/またはX方向に平行移動する。また、アライメント軸83aはX方向にも移動するため、そのベローズ83vもX方向に対する自由度を有しており、伸縮とともに左右に柔軟に移動する。   In addition to the Z drive unit 83Z, the right drive unit 83R is fixed to the upper wall 1T of the vacuum deposition chamber 1, and a Z drive unit fixing plate 83k on which the Z drive unit 83Z is mounted extends along the X-axis rail 83r. And an X driving unit 83X for driving the motor. The driving method of the X driving unit 83X is basically the same as that of the Z axis driving unit 83Z, such as the rotational force of the X direction driving motor 83xm via the ball screw 83n and the taper 83t, but the driving force rotates the alignment base 82. Power is required to move the other drive or follower through the drive and alignment base. Like the alignment shaft 83a of the left drive unit 83L, the alignment shaft 83a moves parallel to the Z direction and / or in the X direction without being inclined by the spline 83s. Further, since the alignment shaft 83a also moves in the X direction, the bellows 83v also has a degree of freedom in the X direction, and moves flexibly to the left and right as it expands and contracts.

アライメント従動部84は、回転支持部81c、81dの前述した従動回転に対応できるように、それぞれのアライメント軸84aをZ方向、X方向に移動できる左右の従動部84L,84Rを有する。従動部は中心部に1ヶ所でもよいが、本実施形態では、安定して動作させるために2ヶ所設けている。両従動部は基本的には左右線対称に同一構造を有するので、代表して84Rを説明する。アライメント軸84aは、真空蒸着チャンバ1の下部壁1Yに設けられたシール部84cに一端を固定された真空蒸着チャンバ1の真空をシールするベローズ84v、スプライン84sを介してX軸従動板84kに固定されている。そこで、X方向の従動はアライメント従動部84を固定するアライメント支持部固定台84bに敷かれたレール84rを移動させて行なう。また、Z方向の従動は前記スプライン84sによって行なう。   The alignment follower 84 includes left and right followers 84L and 84R that can move the respective alignment shafts 84a in the Z direction and the X direction so as to correspond to the above-described driven rotation of the rotation support portions 81c and 81d. The driven portion may be provided at one location in the center, but in this embodiment, two locations are provided for stable operation. Since both driven parts basically have the same structure symmetrical with respect to the left and right lines, 84R will be described as a representative. The alignment shaft 84a is fixed to the X-axis driven plate 84k via a bellows 84v and a spline 84s for sealing the vacuum of the vacuum deposition chamber 1 whose one end is fixed to a seal portion 84c provided on the lower wall 1Y of the vacuum deposition chamber 1. Has been. Therefore, the X-direction follow is performed by moving the rail 84r laid on the alignment support portion fixing base 84b for fixing the alignment follower portion 84. The Z direction is driven by the spline 84s.

上記のアライメント部の実施形態では、4ヶ所の回転支持部81のうち真空蒸着チャンバ上部に2ヶ所設けた回転支持部をZ方向に、またそのうち1ヶ所をX方向に主動(アクティブに駆動)することによって、マスクのアライメントを実施している。そのほかに種々の駆動方法が挙げられる。
例えば、上部3ヶ所に回転支持部を設け、中央の回転支持部を回転させ、左右の回転支持部でZ方向とX方向に主動または従動させてアライメントする。そして下部に少なくとも1ヶ所の従動部を設ける。あるいは、上記実施形態同様に上部回転支持部を2ヶ所設け、その1ヶ所に回転、Z方向及びX方向の主動を集中させ、他は従動とする方法。また、上記実施形態では基本的には、上部を主動、下部を従動としたがこれを反対にしてもよい。
In the embodiment of the alignment unit described above, of the four rotation support units 81, two rotation support units provided at the upper part of the vacuum deposition chamber are driven (actively driven) in the Z direction and one of them is driven in the X direction. Thus, alignment of the mask is performed. In addition, various driving methods can be mentioned.
For example, rotation support portions are provided at three upper portions, the center rotation support portion is rotated, and alignment is performed by moving the left and right rotation support portions in the Z direction and the X direction. At least one follower is provided at the bottom. Alternatively, as in the above embodiment, two upper rotation support portions are provided, the rotation, the main movements in the Z direction and the X direction are concentrated at one place, and the others are driven. In the above embodiment, the upper part is basically driven and the lower part is driven, but this may be reversed.

上記アライメントのための機構部の実施形態によれば、シール部を介して大気側に設けられており、真空蒸着に悪影響及ぼす粉塵等を真空内に持ち込まないようしており、生産性の高い有機ELデバイス製造装置を提供できる。
また、上記アライメントのための機構部の実施形態によれば、駆動部等を大気側に配置することで保守性を高め、稼働率の高い有機ELデバイス製造装置を提供できる。
According to the embodiment of the mechanism part for alignment described above, it is provided on the atmosphere side through the seal part, so that dust and the like that adversely affect vacuum deposition are not brought into the vacuum, and the organic product has high productivity. An EL device manufacturing apparatus can be provided.
In addition, according to the embodiment of the mechanism unit for alignment described above, it is possible to provide an organic EL device manufacturing apparatus with high maintainability by arranging the drive unit and the like on the atmosphere side and having a high operation rate.

次に、アライメント光学系85について説明する。アライメント光学系は、前述したそれぞれアライメントマークを独立して撮像できるように、4つの精密アライメントマーク81msに対する4つの精密アライメント光学系85sと、2つの粗アライメントマーク81mrに対する2つの粗アライメント光学系85rとの、計6つの光学系から構成される。   Next, the alignment optical system 85 will be described. The alignment optical system includes four fine alignment optical systems 85s for the four fine alignment marks 81ms and two coarse alignment optical systems 85r for the two coarse alignment marks 81m so that the alignment marks described above can be imaged independently. These are composed of a total of six optical systems.

図7に6つのアライメント光学系の基本構成を示す。光学系の基本的構成は、マスク81を挟んでアライメントベース82側に、真空蒸着チャンバ1buの上部1Tに固定され光学窓85wを介して照射する光源85kと後述する遮断アーム85asに固定された光源側反射ミラー85kmを設け、基板6側に、撮像カメラ収納筒85tからのアーム85aに取付けた撮像カメラ側反射ミラー85cm及び撮像カメラ収納筒85tに収納された撮像手段である撮像カメラ85cを設けた、いわゆる透過型の構成を有している。なお、撮像カメラ収納筒85t、アーム85a等は、基板が垂直姿勢になるときの軌道Kの邪魔にならないように破線で示すアーム85a位置までベローズ85v等により移動できるようになっている。   FIG. 7 shows the basic configuration of the six alignment optical systems. The basic configuration of the optical system is such that a light source 85k that is fixed to the upper portion 1T of the vacuum deposition chamber 1bu and irradiated through an optical window 85w and a light blocking arm 85as described later are disposed on the alignment base 82 side with the mask 81 interposed therebetween. A side reflection mirror 85 km is provided, and an imaging camera side reflection mirror 85 cm attached to the arm 85 a from the imaging camera storage cylinder 85 t and an imaging camera 85 c which is an imaging means stored in the imaging camera storage cylinder 85 t are provided on the substrate 6 side. It has a so-called transmission type configuration. The imaging camera storage cylinder 85t, the arm 85a, and the like can be moved by the bellows 85v to the position of the arm 85a indicated by a broken line so as not to obstruct the trajectory K when the substrate is in the vertical posture.

透過型であるので、光が通過できるようにマスク81Mに4角形の貫通孔のアライメントマーク81mを設け、さらに、フレーム81Fにも円筒状の貫通孔81kを設けている。一方、基板6のアライメントマーク6mは光透過性の基板の上に金属性の四角形したマスクのアライメントマーク81mに比べて十分に小さいマークである。   Since it is a transmissive type, the mask 81M is provided with a quadrangular through hole alignment mark 81m so that light can pass, and the frame 81F is also provided with a cylindrical through hole 81k. On the other hand, the alignment mark 6m of the substrate 6 is a sufficiently small mark compared to the alignment mark 81m of a metallic square mask on a light-transmitting substrate.

貫通孔81kを設けると、蒸着時に蒸着材料が貫通孔に入りアライメントマーク上に蒸着されるため、次の工程からアライメントができない。これを防ぐために、蒸着時には蒸着材料が貫通孔81kに入らないよう遮蔽する。本実施形態では、アライメント時に光源側反射ミラーを取付けたアームが蒸着時には蒸着に有効な領域を遮断するので、そのアームを移動可能とし、かつ蒸着時には貫通孔81kを遮蔽する構造を有する遮蔽型アーム85asとした。遮蔽型アーム85asは、大気側に設けた駆動部(図示せず)に上下に駆動される連結棒85bにより伸縮し、その一端をシール部85sに固定されたベローズ85vを介して駆動させる。図7に示す破線が遮蔽状態を示す、実線がアライメント状態を示す。   If the through hole 81k is provided, the vapor deposition material enters the through hole during vapor deposition and is vapor deposited on the alignment mark. Therefore, alignment cannot be performed from the next step. In order to prevent this, the vapor deposition material is shielded from entering the through hole 81k during vapor deposition. In this embodiment, the arm to which the light source side reflecting mirror is attached during alignment blocks an effective area for vapor deposition during vapor deposition, so that the arm can be moved and has a structure that shields the through hole 81k during vapor deposition. 85 as. The shielding arm 85as is expanded and contracted by a connecting rod 85b driven up and down by a driving unit (not shown) provided on the atmosphere side, and one end thereof is driven via a bellows 85v fixed to the seal portion 85s. The broken line shown in FIG. 7 shows the shielding state, and the solid line shows the alignment state.

上記実施形態では、光源側反射ミラー85kmを遮断アーム85asに取付けたが、マスクのフレーム81Fの厚さが十分であれば、フレーム81FにL字型の貫通孔81kを設け、光源側反射ミラー85kmを内蔵することも可能である。その場合は、遮蔽型アームは不要である。
また、上記実施形態では、アライメント時に光源側反射ミラー85kmが蒸着領域を遮断するので遮蔽型アームを移動させたが、遮断しない場合は、遮蔽型アームを固定にすることができる。
In the above embodiment, the light source side reflection mirror 85km is attached to the blocking arm 85as. However, if the mask frame 81F has a sufficient thickness, an L-shaped through hole 81k is provided in the frame 81F, and the light source side reflection mirror 85km is provided. Can also be built in. In that case, a shielding arm is not necessary.
Moreover, in the said embodiment, since the light source side reflection mirror 85km interrupted | blocked a vapor deposition area | region at the time of alignment, the shielding arm was moved, but when not interrupting, a shielding arm can be fixed.

一方、カメラ収納筒85tは、図5に示すように真空蒸着チャンバ1の上部1Tから突出た構造を有し、先端に光学窓85wを設けて、撮像カメラ85cを大気側に維持するととともに、アライメントマーク6m、81mを撮像できるようにしている(符号は図7を参照)。
上記実施形態では、撮像カメラ側反射ミラーを真空中に設けたが、撮像カメラ収納筒85を長くし、前記ミラーを内蔵してもよい。
On the other hand, the camera storage cylinder 85t has a structure protruding from the upper portion 1T of the vacuum deposition chamber 1 as shown in FIG. 5, and an optical window 85w is provided at the tip to maintain the imaging camera 85c on the atmosphere side and alignment. The marks 6m and 81m can be imaged (see FIG. 7 for the symbols).
In the above embodiment, the imaging camera side reflection mirror is provided in a vacuum, but the imaging camera storage cylinder 85 may be lengthened and the mirror may be incorporated.

精密アライメント光学系85sと粗アライメント光学系85rの構成上の違いは、前者が高精度にアライメントするために、視野を小さくし高分解でアライメントを撮像するための高倍率レンズ85hを有している点である。これに伴い、図7に示す基板及びマスクのアライメントマーク6m、81mの寸法が異なっている。精密の場合、粗と比べて1桁以上小さく、最終的にはμmオーダのアライメントが可能である。
従って、精密アライメント時は、視野が外れないようにマスク81のアライメントマーク81mの移動に合せ、精密アライメント光学系85sも追随して移動する必要がある。そこで、図5に示すように、アライメントベースの上部側の精密アライメント光学系85sにおいては、撮像カメラ85cを固定する固定板85pをZ駆動部固定板83kあるいはX軸従動板84kに接続し追随させる。または、モータ付きステージを設け数値制御により追随させてもよい。また、粗アライメント光学系85rについては、初期の取付け時に位置調整ができるようにカメラ位置合せステージ85pを設けている。
The difference in configuration between the precision alignment optical system 85s and the coarse alignment optical system 85r is that the former has a high magnification lens 85h for imaging the alignment with a small field of view and high resolution in order to perform alignment with high accuracy. Is a point. Accordingly, the dimensions of the alignment marks 6m and 81m of the substrate and the mask shown in FIG. 7 are different. In the case of precision, it is one digit or more smaller than coarse, and finally alignment of the order of μm is possible.
Therefore, at the time of precision alignment, the precision alignment optical system 85s needs to be moved in accordance with the movement of the alignment mark 81m of the mask 81 so that the field of view does not deviate. Therefore, as shown in FIG. 5, in the precision alignment optical system 85s on the upper side of the alignment base, the fixing plate 85p for fixing the imaging camera 85c is connected to the Z driving unit fixing plate 83k or the X-axis driven plate 84k to be followed. . Alternatively, a stage with a motor may be provided and followed by numerical control. The coarse alignment optical system 85r is provided with a camera alignment stage 85p so that the position can be adjusted at the time of initial attachment.

上記実施形態では、6つのアライメント光学形を用いたが、アライメントの要求精度によっては、粗アライメント光学系を設ける必要がなく、さらに、精密アライメント光学系においても4つも必要がなく、粗・精密含めて最低2つあればよい。   In the above embodiment, six alignment optical types are used. However, depending on the required accuracy of alignment, there is no need to provide a coarse alignment optical system, and there are no four precision alignment optical systems. There should be at least two.

上記アライメント部8の実施形態では、アライメント駆動部83、アライメント従動部84、アライメント光学系85を真空蒸着チャンバ1buの上部あるいは下部の大気側に設けたが、真空蒸着チャンバ1buの側壁側の大気に設けてもよい。勿論、上部、下部及び側壁部に分散させてもよい
上記アライメント光学系85の実施形態によれば、カメラ及び光源等を真空側に突き出た内部が大気中である収納筒に収納しており、真空蒸着に悪影響及ぼす粉塵等を真空内に持ち込まないようしており、生産性の高い有機ELデバイス製造装置を提供できる。
In the embodiment of the alignment unit 8, the alignment driving unit 83, the alignment driven unit 84, and the alignment optical system 85 are provided on the atmosphere side above or below the vacuum deposition chamber 1 bu, but in the atmosphere on the side wall side of the vacuum deposition chamber 1 bu. It may be provided. Of course, the upper, lower and side wall portions may be dispersed. According to the embodiment of the alignment optical system 85, the camera and the light source etc. are housed in a housing cylinder in which the interior protruding to the vacuum side is in the atmosphere. Dust and the like that adversely affect vacuum deposition are not brought into the vacuum, and a highly productive organic EL device manufacturing apparatus can be provided.

次に搬送機構及び離反機構の第2の実施形態を図8を用いて説明する。図8にはマスク交換チャンバ5を示していないが基本的には同様である。図8において説明に関係ない符号は省略している。   Next, a second embodiment of the transport mechanism and the separation mechanism will be described with reference to FIG. Although the mask exchange chamber 5 is not shown in FIG. 8, it is basically the same. In FIG. 8, reference numerals not related to the description are omitted.

第2の実施形態が第1の実施形態と異なる点は次のとおりである。第1は、ラック81rをマスク81を固定するマスク下部固定部81kの側部に設けた点である。第2は、第1の変更に伴い、ピニオン86g(56g)の回転軸を90度変更する必要がないために傘歯車を用いないで搬送駆動モータ86m(56m)の回転軸をピニオン86g(56g)に直接接続している点である。第3に、第1の変更に伴い、搬送レール82r(56r)の形状はH状にする必要がなくなり平坦でもよい点である。第4に、離反機構45としてピニオン86gをマスクから離すために処理チャンバ搬送駆動部86B全体を駆動する駆動部離反手段87を設けている点である。駆動部離反手段87は、駆動部離反手段87を載置する離反板87kを駆動モ−タ87mでボールジョイント87bを旋回しレール87r上を移動させて行なう。第5に、処理チャンバ搬送駆動部86Bも離反動作に対応できるようにシール86s上にベロー86vを有する。なお、上記説明では離反機構としてピニオン86を離反させる駆動部離反手段87を設けたが、マスク側を離反させてもよい。   The second embodiment is different from the first embodiment as follows. The first point is that the rack 81r is provided on the side of the mask lower fixing portion 81k that fixes the mask 81. Secondly, since it is not necessary to change the rotation axis of the pinion 86g (56g) by 90 degrees in accordance with the first change, the rotation axis of the conveyance drive motor 86m (56m) is not used without the bevel gear. ) Directly connected. Thirdly, with the first change, the shape of the transport rail 82r (56r) need not be H-shaped and may be flat. Fourth, the separation mechanism 45 is provided with a drive unit separation means 87 for driving the entire processing chamber conveyance drive unit 86B in order to separate the pinion 86g from the mask. The drive part separation means 87 is carried out by turning a ball joint 87b on a separation plate 87k on which the drive part separation means 87 is placed by a drive motor 87m and moving it on the rail 87r. Fifth, the processing chamber transport driving portion 86B also has a bellows 86v on the seal 86s so as to cope with the separation operation. In the above description, the drive unit separation means 87 for separating the pinion 86 is provided as the separation mechanism, but the mask side may be separated.

第2の実施形態においても、第1の実施形態同様に、確実にマスクを交換でき、ピニオンとマスクとを離反させることでので、スムーズに精度よくアライメントをすることができ、高精度に蒸着できる有機ELデバイス製造装置を提供できる。   Also in the second embodiment, as in the first embodiment, the mask can be surely replaced, and the pinion and the mask are separated from each other, so that the alignment can be performed smoothly and accurately, and the deposition can be performed with high accuracy. An organic EL device manufacturing apparatus can be provided.

以上の搬送機構の第1及び第2の実施形態においては、いわゆるラック及びピニオンを用いて説明したが、マスクに設けられた平坦なレール上をローラで駆動して搬送させてもよい。その場合、十分な摩擦力が得られない場合には、レールまたはローラ表面を処理して摩擦力を大きくして使用する。   In the first and second embodiments of the transport mechanism described above, a so-called rack and pinion have been described. However, the transport may be performed by driving a flat rail provided on the mask with a roller. In that case, when a sufficient frictional force cannot be obtained, the surface of the rail or roller is treated to increase the frictional force.

次に、本発明の有機ELデバイス製造装置における第2の実施形態を図9から図11を用いて説明する。本第2の実施形態と第1の実施形態との異なる点は、マスク交換チャンバはマスク交換チャンバ5に隣接して新たなマスクと交換できるマスク搬入出室12を有する点である。隣接する位置は、前面または後方あるいは上部または下部となる。本実施形態では図3に示したマスク搬送機構を活かすこと及びスペースファクターを考慮して後方に設けることとした。そのために、マスク交換チャンバ5は、マスクを90度方向転換する方向転換機構、例えばターンテーブル機構57を有する。   Next, a second embodiment of the organic EL device manufacturing apparatus of the present invention will be described with reference to FIGS. The difference between the second embodiment and the first embodiment is that the mask exchange chamber has a mask carry-in / out chamber 12 that can be exchanged with a new mask adjacent to the mask exchange chamber 5. Adjacent positions are front or rear, or upper or lower. In this embodiment, the mask transport mechanism shown in FIG. 3 is utilized and the rear side is provided in consideration of the space factor. For this purpose, the mask exchange chamber 5 has a direction changing mechanism that changes the direction of the mask by 90 degrees, for example, a turntable mechanism 57.

以下順に、マスク交換チャンバ5とマスク搬入出室12の構成と動作を説明する。
図9におけるマスク交換チャンバ5は、図3に示した交換チャンバ搬送部56を有するタイプに、交換チャンバ搬送部を90度旋回するターンテーブル機構57とマスク搬入出室12との間にゲート弁10Aを付加した構成を有する。
Hereinafter, the configuration and operation of the mask exchange chamber 5 and the mask carry-in / out chamber 12 will be described in order.
The mask exchange chamber 5 in FIG. 9 is of the type having the exchange chamber transfer section 56 shown in FIG. 3, and a gate valve 10A between the turntable mechanism 57 that turns the exchange chamber transfer section 90 degrees and the mask loading / unloading chamber 12 is used. It has the structure which added.

図10は本発明の第2の実施形態であるマスク交換チャンバ5のより詳細な構成とその動作を示す図であり、交換チャンバ搬送部56とターンテーブル機構57を示す。交換チャンバ搬送部56の基本的な構成は既に図3で説明したとおりである。図3と異なるのは、交換チャンバ搬送駆動部56B以外の交換チャンバ搬送部56はターンテーブル56tの上に固定されている点である。左右の真空蒸着チャンバ1または後方にあるマスク搬入出室12との間でマスク81を搬入出するために、交換チャンバ搬送駆動部56Bは、図9の一点鎖線のクロス位置に配置する必要がある。例えば、交換チャンバ搬送駆動部56Bの搬送駆動モータ56mの回転中心をターンテーブル56の回転中心位置にくるように配置する。駆動モータをターンテーブル56の回転中心位置に配置することで駆動モータをターンテーブル上に設けなくてもよく、その結果、駆動モータを大気側の設けることができる。   FIG. 10 is a diagram showing a more detailed configuration and operation of the mask exchange chamber 5 according to the second embodiment of the present invention, and shows an exchange chamber transfer unit 56 and a turntable mechanism 57. The basic configuration of the exchange chamber transfer unit 56 is as already described with reference to FIG. The difference from FIG. 3 is that the replacement chamber transport unit 56 other than the replacement chamber transport drive unit 56B is fixed on the turntable 56t. In order to load and unload the mask 81 between the left and right vacuum deposition chambers 1 or the mask loading / unloading chamber 12 at the rear, the exchange chamber transfer driving unit 56B needs to be disposed at the cross position of the one-dot chain line in FIG. . For example, it arrange | positions so that the rotation center of the conveyance drive motor 56m of the exchange chamber conveyance drive part 56B may come to the rotation center position of the turntable 56. FIG. By disposing the drive motor at the rotation center position of the turntable 56, the drive motor need not be provided on the turntable, and as a result, the drive motor can be provided on the atmosphere side.

また、ターンテーブル機構57は、その周囲に歯車57rを有するターンテーブル57tとターンテーブル駆動部57Bからなる。ターンテーブル駆動部57Bは、大気側であるマスク交換チャンバ5の下部壁5Y下に設けたターンテーブル駆動モータ57m、真空シールするシール部57s、ターンテーブル57tの歯車57rと噛み合う歯車57g及びマスク交換チャンバ5の下部壁5Y上を走行する複数の走行輪57kからなる。   The turntable mechanism 57 includes a turntable 57t having a gear 57r around it and a turntable drive unit 57B. The turntable drive unit 57B includes a turntable drive motor 57m provided under the lower wall 5Y of the mask exchange chamber 5 on the atmosphere side, a seal part 57s for vacuum sealing, a gear 57g that meshes with a gear 57r of the turntable 57t, and a mask exchange chamber. 5 of a plurality of traveling wheels 57k traveling on the lower wall 5Y.

本実施形態によれば、マスク交換チャンバ5に搬入されたマスクを、左右の処理チャンバ1またはマスク搬入出室12に搬入出することができる。   According to the present embodiment, the mask carried into the mask exchange chamber 5 can be carried into and out of the left and right processing chambers 1 or the mask carry-in / out chamber 12.

次に、図9に示すマスク搬入出室12の構成及び動作を図11を用いて説明する。マスク搬入出室12はマスク保管部121(以下、簡単に保管部と略す)を有している。設けている。保管部121は、セットベース52と基本的には同様な構造を有し複数配置された保管ベース122と、保管ベースを搭載する保管台121dと及びマスクをターンテーブル57tと保管台121dの移動させる図5に示す交換チャンバ搬送駆動部56Bと同一構造を有する搬入出室搬送駆動部126Bからなる。搬入出室搬送駆動部126B(駆動モータ126m)は、処理チャンバ搬送駆動部86B(搬送駆動モータ86m)と交換チャンバ搬送駆動部56B(搬送駆動モータ56m)とを結ぶ直線と交換チャンバ搬送駆動部56B(搬送駆動モータ56m)と搬入出室搬送駆動部126B(駆動モータ126m)とを結ぶ直線が直角になるように配置されている。保管ベース122のターンテーブル57t側は、保管台121dからα=搬入出室搬送駆動部126B+β幅分だけ突出した状態で設置されている。そこで、保管台121dを矢印A方向移動すると共に、矢印B方向に移動することによって、全ての保管ベース121hが保管台搬送駆動部121Bと噛み合うようすることができる。なお、121rは保管台121dの走行レールである。   Next, the configuration and operation of the mask loading / unloading chamber 12 shown in FIG. 9 will be described with reference to FIG. The mask carry-in / out chamber 12 has a mask storage unit 121 (hereinafter simply referred to as a storage unit). Provided. The storage unit 121 basically has the same structure as the set base 52, a plurality of storage bases 122, a storage table 121d on which the storage base is mounted, and a mask are moved between the turntable 57t and the storage table 121d. It comprises a carry-in / out chamber transfer drive unit 126B having the same structure as the exchange chamber transfer drive unit 56B shown in FIG. The carry-in / out chamber transfer drive unit 126B (drive motor 126m) is connected to the straight line connecting the processing chamber transfer drive unit 86B (transfer drive motor 86m) and the replacement chamber transfer drive unit 56B (transfer drive motor 56m) and the replacement chamber transfer drive unit 56B. The straight line connecting the (conveyance drive motor 56m) and the carry-in / out chamber conveyance drive unit 126B (drive motor 126m) is arranged at a right angle. The turntable 57t side of the storage base 122 is installed in a state protruding from the storage table 121d by α = loading / unloading chamber transfer driving unit 126B + β width. Therefore, by moving the storage table 121d in the direction of arrow A and moving in the direction of arrow B, all the storage bases 121h can be brought into mesh with the storage table transport drive unit 121B. Incidentally, 121r is a traveling rail of the storage stand 121d.

図11は図9に示すマスク搬入出室12を矢印C方向から見た図で、保管ベース122を1台のみ示し搬入出室搬送部126を主体に示した図である。図11はゲート弁10Aを境にして左側がマスク交換チャンバ5であり、右側が処理チャンバ1または搬送チャンバ2である。搬入出室搬送部126は交換チャンバ搬送部56と基本的に同じであるが次の点で異なる。
第1に、搬入出室搬送駆動部126Bの配置位置は、搬送手段の立場からすれば図3の処理チャンバ搬送駆動部86Bと同じ位置にある必要がある。この位置によって、搬入出室搬送駆動部126Bは交換チャンバ搬送部56とマスクの受け渡しが可能となる。
FIG. 11 is a view of the mask loading / unloading chamber 12 shown in FIG. 9 as viewed from the direction of the arrow C, and shows only one storage base 122 and mainly shows the loading / unloading chamber transfer section 126. In FIG. 11, the left side is the mask exchange chamber 5 with the gate valve 10A as a boundary, and the right side is the processing chamber 1 or the transfer chamber 2. The carry-in / out chamber transfer unit 126 is basically the same as the exchange chamber transfer unit 56, but differs in the following points.
First, the arrangement position of the carry-in / out chamber transfer driving unit 126B needs to be at the same position as the processing chamber transfer drive unit 86B of FIG. 3 from the standpoint of transfer means. With this position, the carry-in / out chamber transfer driving unit 126B can transfer the mask to / from the replacement chamber transfer unit 56.

第2に、マスク上部固定部122uが開閉可能となっている点である。マスク搬入出室12の天井に設けた開閉可能な開口部(図示せず)からクレーン(図示せず)でマスク81を搬入し、搬送ローラ122rにセットするとき邪魔にならないようにするためである。セット後はマスク上部固定部122uに設けたセット爪122tをセット孔122hに挿入し、マスク81を保持し、安定してガイドローラ126urによって搬送できる。   Secondly, the mask upper fixing part 122u can be opened and closed. This is because the mask 81 is carried in by a crane (not shown) from an openable / closable opening (not shown) provided on the ceiling of the mask carry-in / out chamber 12 and set in the conveying roller 122r so as not to get in the way. . After the setting, the set claw 122t provided in the mask upper fixing part 122u is inserted into the set hole 122h, the mask 81 is held, and it can be stably conveyed by the guide roller 126ur.

マスク搬入出室12は大気雰囲気の室でもよいが、真空チャンバすることによってゲート弁10Aを開くときにマスク交換チャンバ5の真空度を、強いて言えば処理チャンバ1の真空度を低下させることなくマスクを交換できる。この結果、真空に引くための時間を短縮でき、稼働率の高い有機ELデバイス製造装置を提供できる。   Although the mask loading / unloading chamber 12 may be an air atmosphere chamber, the vacuum degree of the mask exchange chamber 5 is reduced when the gate valve 10A is opened by forming a vacuum chamber. Can be replaced. As a result, the time for evacuation can be shortened, and an organic EL device manufacturing apparatus with a high operating rate can be provided.

上記、実施形態においては保管部121をマスク搬入出室12に設けたが、マスク交換チャンバ5にも設けてもよい。   In the embodiment described above, the storage unit 121 is provided in the mask carry-in / out chamber 12, but it may also be provided in the mask exchange chamber 5.

上記本発明の有機ELデバイス製造装置における第2の実施形態によれば、マスクの交換時において、基板搬送系には影響を与えず処理できるので、稼働率及び生産性の高い有機ELデバイス製造装置または製造方法を提供することができる。   According to the second embodiment of the organic EL device manufacturing apparatus of the present invention, since processing can be performed without affecting the substrate transport system when the mask is replaced, the organic EL device manufacturing apparatus with high availability and high productivity. Alternatively, a manufacturing method can be provided.

また、上記本発明の有機ELデバイス製造装置における第2の実施形態によれば、マスク搬入出する場所として閉空間となるマスク搬入出室21を設けたことで、真空蒸着チャンバの真空度低下を抑えることができるので、同じ真空蒸着チャンバ内の他の処理は継続可能である。従って、稼働率の高い有機ELデバイス製造装置または製造方法を提供することができる。   Further, according to the second embodiment of the organic EL device manufacturing apparatus of the present invention, by providing the mask loading / unloading chamber 21 as a mask loading / unloading location, the vacuum degree of the vacuum deposition chamber is lowered. Other processes within the same vacuum deposition chamber can continue because they can be suppressed. Accordingly, it is possible to provide an organic EL device manufacturing apparatus or manufacturing method with a high operating rate.

さらに、少なくとも、マスクの交換時間が短縮できるので、稼働率及び生産性の高い有機ELデバイス製造装置または製造方法を提供することができる。   Furthermore, since at least the mask replacement time can be shortened, it is possible to provide an organic EL device manufacturing apparatus or manufacturing method with high availability and high productivity.

次に、本発明の第3の実施形態である有機ELデバイス製造装置を図12を用いて説明する。本実施形態の有機ELデバイス製造装置200は、図1に示す有機ELデバイス製造装置のクラスタA〜Dが六角形の搬送チャンバ2と六角形のうち対角する2辺に設けた受渡室14f、14gと残りの4辺に処理ラインとして1ラインを有する真空蒸着チャンバ等の処理チャンバ1とで構成される装置を示している。   Next, the organic EL device manufacturing apparatus which is the 3rd Embodiment of this invention is demonstrated using FIG. The organic EL device manufacturing apparatus 200 according to the present embodiment includes a delivery chamber 14f provided on two sides of the hexagonal transfer chamber 2 and the hexagonal shape in which the clusters A to D of the organic EL device manufacturing apparatus shown in FIG. The apparatus is composed of 14 g and a processing chamber 1 such as a vacuum deposition chamber having one line as a processing line on the remaining four sides.

本有機ELデバイス製造装置200においても図3に示すように基板とマスクをほぼ垂直または垂直にして蒸着する装置である。基板を水平にして搬送して垂直にするか最初から垂直の姿勢で搬送するかはどちらでもよい。図12においても図9と同様に各真空蒸着チャンバ1の横にマスク交換チャンバ5が設けられ、さらにマスク交換チャンバ5に隣接してマスク搬入出室12が設けられている。マスク交換チャンバ5は、真空蒸着チャンバ1とのマスク搬送をゲート弁10Bを介して行ない、マスク搬入出室12とのマスク搬送をゲート弁10Aを介して行なう。そして、本有機ELデバイス製造装置200に本発明の有機ELデバイス製造装置の第1または第2の実施形態で示した搬送機構、離反機構及びアライメント機構を適用する。   The organic EL device manufacturing apparatus 200 is also an apparatus for depositing with the substrate and the mask substantially vertical or vertical as shown in FIG. Either the substrate may be transported horizontally to be vertical or transported in a vertical posture from the beginning. Also in FIG. 12, as in FIG. 9, a mask exchange chamber 5 is provided beside each vacuum deposition chamber 1, and a mask carry-in / out chamber 12 is provided adjacent to the mask exchange chamber 5. The mask exchange chamber 5 performs the mask conveyance with the vacuum deposition chamber 1 via the gate valve 10B and the mask conveyance with the mask carry-in / out chamber 12 via the gate valve 10A. The transport mechanism, separation mechanism, and alignment mechanism shown in the first or second embodiment of the organic EL device manufacturing apparatus of the present invention are applied to the organic EL device manufacturing apparatus 200.

従って、第3の実施形態においても、第1または第2の実施形態で示した効果を奏することができる。   Therefore, also in 3rd Embodiment, there can exist the effect shown in 1st or 2nd embodiment.

以上の説明では、真空蒸着チャンバなどの処理チャンバに隣接してマスク交換チャンバを設ける実施形態を説明した。例えば、処理チャンバ間に図3に示す搬送機構を複数の処理チャンバ間をリレー形式のように搬送し、それぞれの処理チャンバで離反させてアライメントし、処理を行なう有機ELデバイス製造装置にも本発明を適用でき、上記の実施形態と同様な効果を奏することができる。   In the above description, an embodiment in which a mask exchange chamber is provided adjacent to a processing chamber such as a vacuum deposition chamber has been described. For example, the present invention is also applied to an organic EL device manufacturing apparatus that transfers the processing mechanism shown in FIG. 3 between processing chambers between a plurality of processing chambers like a relay, and performs alignment by separating the processing chambers from each other. And the same effects as those of the above-described embodiment can be obtained.

また、以上の説明ではマスクを搬送し、マスクを垂下してアライメントした実施形態を説明した。マスクに適用した技術を逆に基板を搬送し、基板を垂下してアライメントしてもよい。   In the above description, the embodiment has been described in which the mask is transported and the mask is suspended and aligned. The technique applied to the mask may be reversed, and the substrate may be transported and the substrate may be suspended for alignment.

さらに、以上説明では、有機ELデバイスを例に説明したが、有機ELデバイスと同じ背景にある蒸着処理をする成膜装置にも適用できる。   Furthermore, in the above description, the organic EL device has been described as an example, but the present invention can also be applied to a film forming apparatus that performs vapor deposition processing in the same background as the organic EL device.

1:処理チャンバ 1ad、1bd、1bu:真空蒸着チャンバ
2:搬送チャンバ 3:ロードクラスタ
5:マスク交換チャンバ 6:基板
6m:基板のアライメントマーク 7:蒸着部
8:アライメント部 9:処理受渡部
10、10A、10B:ゲート弁 12:マスク搬入出室
20:制御装置 40、45:離反機構
56:交換チャンバ搬送部
56B:交換チャンバ搬送駆動部(マスク搬送駆動手段)
56g、86g:ピニオン 71:蒸発源
81:マスク 81a〜d:回転支持部
81m:マスクのアライメントマーク 81r:ラック
82:アライメントベース 83:アライメント駆動部
83Z:Z軸駆動部 83X:X軸駆動部
84:アライメント従動部 85:アライメント光学系
86:処理チャンバ搬送部
86B:処理チャンバ搬送駆動部(マスク搬送駆動手段)
87:駆動部離反手段 100,200:有機ELデバイスの製造装置
A〜D:クラスタ
1: Processing chamber 1ad, 1bd, 1bu: Vacuum deposition chamber 2: Transfer chamber 3: Load cluster 5: Mask exchange chamber 6: Substrate 6m: Substrate alignment mark 7: Deposition unit 8: Alignment unit 9: Processing delivery unit 10, 10A, 10B: Gate valve 12: Mask loading / unloading chamber 20: Control device 40, 45: Separation mechanism 56: Exchange chamber transfer unit 56B: Exchange chamber transfer drive unit (mask transfer drive means)
56 g, 86 g: Pinion 71: Evaporation source 81: Mask 81a-d: Rotation support part 81m: Mask alignment mark 81r: Rack 82: Alignment base 83: Alignment drive part 83Z: Z-axis drive part 83X: X-axis drive part 84 : Alignment driven unit 85: Alignment optical system 86: Processing chamber transfer unit 86 B: Processing chamber transfer drive unit (mask transfer drive unit)
87: Driving unit separation means 100, 200: Organic EL device manufacturing apparatus AD: Cluster

Claims (11)

アライメントベースで保持されたマスクを前記アライメントベースと共に垂下した姿勢に保持するマスク垂下手段と、
前記マスクを回転可能に支持する前記アライメントベースの上部に設けた複数の回転支持部と、
前記マスクを垂下状態に保つように前記アライメントベースに設けたマスク上部固定部と、
前記マスクを垂下した姿勢の状態で、前記複数の回転支持部のうち少なくとも1ヶ所の主動回転支持部を駆動する主動駆動手段を備えるアライメント駆動手段と、
一端が前記アライメントベース又はアライメントベース支持手段固定部に固定された固定部と、他端には前記アライメントベースが前記アライメントベースの垂下平面内を移動できるようにする送り手段とを有し、前記主動回転支持部の動作によって、前記アライメントベースが前記アライメントベースの垂下された垂下平面内を移動できるようにするアライメントベース支持手段と、
前記マスクを移動させる垂下体接触部と搬送接触部と、前記マスクを下部から保持するためのマスク下部固定部と、前記垂下体接触部と前記搬送接触部を離反する離反機構を有し、ほぼ垂直姿勢で垂下体を構成する前記マスクを搬送する搬送機構と、
を有することを特徴とする有機ELデバイス製造装置。
A mask suspending means for holding the mask held by the alignment base in a posture of hanging together with the alignment base;
A plurality of rotation support portions provided on top of the alignment base for rotatably supporting the mask;
A mask upper fixing portion provided on the alignment base so as to keep the mask in a suspended state;
Alignment driving means comprising main driving means for driving at least one main driving rotation support part among the plurality of rotation support parts in a state where the mask is suspended;
One end has a fixing portion fixed to the alignment base or the alignment base support means fixing portion, and the other end has a feeding means that allows the alignment base to move in a drooping plane of the alignment base, and An alignment base support means for allowing the alignment base to move within a suspended plane of the alignment base depending on the operation of the rotation support;
A drooping body contact portion for moving the mask, a conveyance contact portion, a mask lower portion fixing portion for holding the mask from below, and a separation mechanism for separating the drooping body contact portion and the conveyance contact portion, A transport mechanism for transporting the mask constituting the hanging body in a vertical posture;
An organic EL device manufacturing apparatus comprising:
前記垂下体接触部は前記マスクに沿って設けたラックであり、前記搬送接触部はピニオンであることを特徴とする請求項1に記載の有機ELデバイス製造装置。   The organic EL device manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the pendulum contact portion is a rack provided along the mask, and the transport contact portion is a pinion. 前記垂下体接触部は垂下体自体あるいは前記マスクに沿って設けられたレールであり、前記搬送接触部は回転駆動ローラであることを特徴とする請求項1に記載の有機ELデバイス製造装置。   The organic EL device manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the hanging body contact portion is a hanging body itself or a rail provided along the mask, and the transport contact portion is a rotation driving roller. 前記垂下体接触部は前記垂下体の底部であることを特徴とする請求項2または3に記載の有機ELデバイス製造装置。   The organic EL device manufacturing apparatus according to claim 2, wherein the hanging body contact portion is a bottom portion of the hanging body. 前記アライメント部は前記垂下体を上下に移動させる上下駆動手段を具備し、前記離反機構は上下駆動手段を有することを特徴とする請求項4に記載の有機ELデバイス製造装置。   The organic EL device manufacturing apparatus according to claim 4, wherein the alignment unit includes vertical drive means for moving the hanging body up and down, and the separation mechanism includes vertical drive means. 前記垂下体接触部は前記垂下体の下部側部であることを特徴とする請求項2または3に記載の有機ELデバイス製造装置。   The organic EL device manufacturing apparatus according to claim 2, wherein the hanging body contact portion is a lower side portion of the hanging body. 前記離反機構は前記搬送接触部を垂下体接触部から離反する手段であることを特徴とする請求項4または6に記載の有機ELデバイス製造装置。   The organic EL device manufacturing apparatus according to claim 4 or 6, wherein the separation mechanism is means for separating the transport contact portion from the pendulum contact portion. マスクをほぼ垂直姿勢でアライメントベースを備えるアライメント部に搬送し、
前記アライメントベースに設けたマスク上部固定部に前記マスクを固定し、
主動回転支持部の動作とアライメントベース支持手段の一端に設けた固定部と他端に設けた送り手段により、前記アライメントベースが前記アライメントベースの垂下された垂下平面内を移動させ、
アライメント時に前記アライメントベースを移動させ前記マスクを搬送するための垂下体接触部と搬送接触部とを離反することより垂下体を構成する前記マスクを垂下状態にし、
その後、前記基板と前記マスクの位置合わせを行う、
ことを特徴とする有機ELデバイス製造方法。
Transport the mask in an almost vertical position to the alignment unit with the alignment base,
The mask is fixed to a mask upper fixing portion provided on the alignment base,
By the operation of the main rotation support portion and the fixing portion provided at one end of the alignment base support means and the feeding means provided at the other end, the alignment base is moved in the drooping plane where the alignment base is suspended,
The alignment base is moved during alignment and the mask constituting the hanging body is brought into a hanging state by separating the hanging body contact portion and the carrying contact portion for carrying the mask.
Then, the substrate and the mask are aligned.
An organic EL device manufacturing method characterized by the above.
前記離反は前記アライメントをするアライメント部の有する前記垂下体を上下する手段で行なうことを特徴とする請求項8に記載の有機ELデバイス製造方法。   The organic EL device manufacturing method according to claim 8, wherein the separation is performed by means for moving up and down the hanging body of the alignment unit that performs the alignment. 前記離反は前記搬送接触部を垂下体接触部から離反させることを特徴とする請求項8に記載の有機ELデバイス製造方法。   The organic EL device manufacturing method according to claim 8, wherein the separation causes the conveyance contact portion to be separated from the pendulum contact portion. 前記垂下体接触部は前記マスクに沿って設けたラックであり、前記搬送接触部はピニオンであることを特徴とする請求項8に記載の有機ELデバイス製造方法。   9. The organic EL device manufacturing method according to claim 8, wherein the pendulum contact portion is a rack provided along the mask, and the transport contact portion is a pinion.
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