KR101311415B1 - 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치 - Google Patents

전자 및 기계 부품 성능 검사 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은, 외부 장치가 위치하는 진동판을 포함하는 제 1 체임버; 상기 진동판을 진동시키는 구동부가 설치되어 있는 제 2 체임버; 상기 제 1 체임버의 일측에 연결되어, 상기 제 1 체임버에 수증기를 공급하거나 상기 제 1 체임버내의 존재하는 수증기를 제거하여 제 1체임버에 습도를 조절하는 습도 조절부; 상기 제 1 체임버내의 액화가스를 공급하여 상기 제 1 체임버의 온도를 낮추어 상기 외부장치에 열충격을 가하는 액화가스 공급부; 및 상기 제 1 체임버내의 온도를 높이기 위해 설치되는 히터부를 포함하는, 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치에 관한 것이다.

Description

전자 및 기계 부품 성능 검사 장치{APPARATUS FOR INSPECT PERFORMANMCE OF ELECTRONIC AND MECHANICAL PART}
본 발명은, 전자 제품, 전자 부품, 또는 기계품의 내구성 검사를 위한, 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치에 관한 것이다.
최근 전자 산업, 기계 산업 및 자동차 산업 등의 2차 산업계에서는 세계 각국의 경쟁이 치열하게 전개되면서 고객 만족을 위한 최상의 서비스를 제공하고 위해 노력하는 상황이다. 그러한 노력의 일환으로 PC, 스마트 폰, TV, 자동차등의 AS기간을 점차 연장하는 추세이다. 그러나, 이러한 경우에 각 부품의 내구성이 떨어지고 결점이 많게 되면 향후의 비용문제를 감당하기 어려워 기업측에 치명적인 문제로 작용할 수 있다. 따라서, 많은 시험을 통해 차량 부품의 결점을 파악하고 데이터를 추출하여 설계품질을 향상시키려는 방안이 필요하다.
본 발명은, 내구성 검사의 대상이 되는 외부 장치에 대하여 다양한 습도 조건하에서 열충격 및 진동을 부여함으로써, 외부 장치의 진동, 온도 및 습도에 대한 내구성을 검사할 수 있는 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치를 제공하기 위한 것이다.
상술한 목적에 따른 본 발명의 일실시예인 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치는, 외부 장치가 위치하는 진동판을 포함하는 제 1 체임버; 상기 진동판을 진동시키는 구동부가 설치되어 있는 제 2 체임버; 상기 제 1 체임버의 일측에 연결되어, 상기 제 1 체임버에 수증기를 공급하거나 상기 제 1 체임버내의 존재하는 수증기를 제거하여 제 1체임버에 습도를 조절하는 습도 조절부; 상기 제 1 체임버내의 액화가스를 공급하여 상기 제 1 체임버의 온도를 낮추어 상기 외부장치에 열충격을 가하는 액화가스 공급부; 및 상기 제 1 체임버내의 온도를 높이기 위해 설치되는 히터부를 포함할 수 있다.
본 발명의 일실시예의 일태양에 의하면, 상기 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치는, 상기 제 1 체임버를 밀폐시키기 위해 구성되는 제 1 도어 및 상기 제 1 체임버와 상기 제 2 체임버를 밀폐하기 위하여 구성되는 제 2 도어를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일실시예의 일태양에 의하면, 상기 제 1 체임버와, 상기 제 2 체임버는, 상호 차단되어 있을 수 있다.
본 발명의 일실시예의 일태양에 의하면, 상기 구동부는, 상기 진동판을 수직으로 이동시키기 위하여, 상기 진동판의 하부에 설치되는 바이브레이터를 포함할 수 있다.
본 발명의 일실시예의 일태양에 의하면, 상기 액화가스는, 액화질소 가스를포함할 수 있다.
본 발명의 일실시예의 일태양에 의하면, 상기 액화가스 공급부는, 상기 제 1 체임버의 상면에 설치되고, 상기 습도 조절부는, 상기 제 1 체임버의 측면에 설치될 수 있다.
본 발명의 일실시예의 일태양에 의하면, 상기 액화가스 공급부는, 상기 제 1 체임버의 상면에 설치되고, 상기 습도 조절부는, 상기 제 1 체임버의 측면에 설치될 수 있다.
본 발명의 일실시예의 일태양에 의하면, 상기 외부 장치는, 전자 부품, 핸드폰, 티브이, 자동차, 기계 부품 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
본 발명의 일실시예의 일태양에 의하면, 상기 제 1 체임버의 제 1 목표 온도, 제 1 목표 습도 및 상기 진동판의 제 1 목표 진동을 입력하기 위한 입력부; 및 상기 입력부를 통해 입력되는 제 1 목표 온도, 제 1 목표 습도 및 제 1목표 진동이 이루어지도록 상기 진동판, 상기 습도 조절부, 상기 액화가스 공급부, 상기 히터부를 제어하기 위한 제어부를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일실시예의 일태양에 의하면, 상기 제어부는, 상기 입력부를 통해 제 2 목표 온도 및 제 2 목표 습도가 재설정되고, 제 2 목표온도가 제 1 목표온도보다 낮은 경우, 결빙현상을 방지하기 위하여, 상기 습도 조절부를 제어하여 제 1 체임버내의 습도를 미리 낮추고 난 후, 상기 히터부를 제어하여 상기 제 2 체임버내의 온도가 상기 제 2 목표온도에 도달하도록 제어할 수 있다.
본 발명의 일실시예의 일태양에 의하면, 상기 습도 조절부는, 가습부와 제습부를 포함할 수 있다.
본 발명의 일실시예의 일태양에 의하면, 상기 열충격은, 60℃/min 이상의 온도 상승 또는 온도 하강일 수 있다.
상술한 구성을 가진 본 발명에 따르면, 체임버 내의 습도를 조절하면서 열충격과 함께 기계적인 진동을 대상물인 기계 및 전자 부품에 부여함으로써, 보다 다양한 조건하에서의 성능검사가 이루어질 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따르면, 체임버 내의 온도를 낮출 경우, 미리 습도를 조절하여, 대상물인 기계 및 전자 부품의 결빙현상을 방지함으로써, 순수하게 열충격에 따른 성능검사를 진행할 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따르면, 제 1 체임버와 제 2 체임버를 차단시킴으로써, 제 2 체임버내의 구동부를 열충격으로부터 보호하기 때문에, 검사 장치의 내구성을 담보할 수 있다.
도 1은, 본 발명에 따른 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치의 사시도.
도 2는, 본 발명에 따른 전자 및 기계 부품 성능 감사 장치의 다른 실시예의 사시도.
도 3은, 본 발명에 따른 전자 및 기계 부품 성능 감사 장치의 다른 실시예의 투과 사시도.
도 4는, 본 발명에 따른 전자 및 기계 부품 성능 감사 장치의 전자적인 구성을 설명하기 위한 블록 구성도.
도 5는, 본 발명에 따른 전자 및 기계 부품 성능 감사 장치의 제어 방법을 설명하기 위한 흐름도.
이하, 본 발명과 관련된 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치에 대하여 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명한다. 이하의 설명에서 사용되는 구성요소에 대한 접미사 "모듈" 및 "부"는 명세서 작성의 용이함만이 고려되어 부여되거나 혼용되는 것으로서, 그 자체로 서로 구별되는 의미 또는 역할을 갖는 것은 아니다.
본 상세한 설명에서는 핸드폰의 성능검사를 위한 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치의 예를 설명하도록 한다. 본 발명은, 핸드폰뿐 아니라, 자동차, 자동차 부품, 기계 부품, 및 전자 부품의 성능 검사에도 이용될 수 있음은 자명하다.
이하에서는 본 발명에 따른 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치에 대하여 도 1 내지 도 5를 참조하여 상세하게 설명하도록 한다.
도 1 은 본 발명에 따른 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치의 사시도이다. 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예인 전자 및 기계 부품 성능 장치(100)는 크게, 액화 가스 공급부(10), 습도 조절부(20), 콘트롤박스(30) 및 본체(40)를 포함하여 구성될 수 있다.
액화 가스 공급부(10)는, 도시된 바와 같이, 본체(40)의 일측에 부착되어서(도 1에서는 본체의 상부에 설치됨), 상기 본체(40) 내의 제 1 체임버(A)내로 액화가스를 공급하여, 제 1 체임버(A)내의 온도를 급격히 강하시켜, 제 1 체임버(A)내에 위치하는 외부 장치(a)(대상물, 예를 들면, 핸드폰등)에 열충격을 가하는 역할을 한다. 여기서 열충격이란, 1분당 60℃ 이상의 온도가 변하여, 외부 장치(a)에 대하여 급열 또는 급랭에 의한 열적 충격을 가하게 하는 것을 의미한다.
습도 조절부(20)는, 도시된 바와 같이, 본체(40)의 일측에 연결 부착되어서, 상기 제 1 체임버(A)내의 습도를 조절하는 기능을 한다. 습도 조절부(20)는, 수증기를 상기 제 1 체임버(A)로 공급하는 가습부와, 제 1 체임버(A) 내의 수증기를 제거하기 위한 제습부를 포함할 수 있다.
콘트롤 박스(30)는 본 발명의 일실시예인 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치의 동작을 제어하는 구성요소로서, 도시된 바와 같이, 본체(40)의 일측에 부착되거나, 또는 본체(40)와 일체화되어 구성될 수 있다.
콘트롤 박스(30)에는 제어 명령을 입력하기 위한 입력부(31)와 입력되는 제어 명령어의 입력 상태및 실행 상태를 표시하기 위한 디스플레이부(33)가 포함될 수 있다.
본체(40)는, 본 발명의 일실시예인 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치(100)에 의해 검사되는 대상물인 외부 장치(a)를 수용하는 제 1 체임버(A)와 제 1 체임버(A)내에 설치되는 진동판(43)의 구동부가 설치되는 제 2 체임버(B)가 형성될 수 있다. 이 본체(40)에 대한 설명은 도 3에서 보다 상세하게 설명하도록 한다.
도 1에 도시된 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치는 하나의 도어(41)를 가지며, 그 도어(41)에는 내부를 관찰할 수 있도록 투명한 소재로 이루어지는 외창(41-1)이 포함될 수 있다. 이 외창(41-1)을 통해, 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치에서 실시되는 검사 과정을 육안으로 관찰할 수 있게 된다.
이하에서는 본 발명에 따른 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치의 다른 실시예에 대하여 도 2를 참조하여 상세하게 설명하도록 한다.
도 2는, 본 발명에 따른 전자 및 기계 부품 성능 감사 장치의 다른 실시예의 사시도이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 다른 실시예는 양문형 도어를 가지고 있다. 다른 실시예의 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치의 도어는 두 개의 도어(제 1 도어(41a) 및 제 2 도어(41b)를 가지며, 각 도어에는 외창(41-1)이 형성될 수 있다.
상기 다른 실시예에 따르면, 사용자는 도어의 개폐를 보다 편리하게 할 수 있고, 다소 큰 사이즈의 외부 장치(a)도 편리하게 체임버 내에 위치시킬 수 있다.
이하에서는 도 3을 참조하여 본체(40)내의 구조에 대하여 보다 상세하게 설명하도록 한다.
도 3은 본 발명에 따른 전자 및 기계 부품 성능 감사 장치의 투과 사시도이다. 도시된 바와 같이, 본체(40)는 제 1 체임버(A)와 제 2 체임버(B)를 포함할 수 있다. 제 1 체임버(A)를 개폐하기 위한 제 1 도어(41a)와 제 2 체임버(B)를 개폐하기 위한 제 2 도어(41b)가 형성되어서, 제 1 및 제 2 체임버(A,B)를 상호 차단시킴과 더불어, 체임버들과 외부를 완전 차단하게 구성된다. 이와 같이 제 1 체임버(A)는 제 1 도어 및 제 2 도어에 의해 외부와 차단되므로, 외부로부터의 영향을 전혀 받지 않아, 높은 신뢰성을 가지고 외부 장치(a)의 신뢰성 및 내구성에 대한 검사를 진행할 수 있게 된다.
또한, 제 2 체임버(B)와 제 1 체임버(A)가 서로 차단되므로, 제 2 체임버(B)내에 설치되는 각종 부품들(특히, 구동부)은 제 1 체임버(A)의 열충격을 받지 않게 된다. 이에 따라, 본 발명에 따른 전자 및 기계 부품 성능검사 장치의 내구성을 보장할 수 있게 된다.
제 1체임버(A)의 저면에는 진동판(43)이 설치된다. 이 진동판(43)은 제 2 체임버(B)에 설치되어 있는 구동부에 의하여 구동되는 것으로서, 이 진동판(43) 위에 외부 장치(a)가 놓이게 된다. 상기 구동부는, 상기 진동판(43)을 수직으로 이동시키기 위하여, 상기 진동판(43)의 하부에 설치되는 바이브레이터(44)를 포함할 수 있다. 이러한 구동부에 따라, 외부장치는 상기 진동판(43)에 의해 생성되는 기계적인 진동 또는 충격을 계속적으로 받게 된다. 여기서 바이브레이터는, 진동판(43)을 수평이동 또는 수직이동시키는데, 수직이동시키는 경우, 외부 장치(a)에 보다 정확한 충격을 줄 수 있게 된다. 이와 같은 본 발명에 따른 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치는, 기계적 진동 또는 충격에 대한 외부 장치(a)의 내구성 및 신뢰성을 확인할 수 있게 된다.
도 1 및 2에서 설명된 바와 같이, 본체(40)의 상면에는 상기 제 1 체임버(A)내로 액화가스를 공급하여 상기 제 1 체임버(A)의 온도를 낮추어 상기 외부 장치(a)에 열충격을 가하는 액화가스 공급부(10)가 설치된다. 즉, 액화 가스 공급부(10)로부터 공급되는 액화 가스가 액화가스 공급관(47)을 통해 제 1 체임버(A)에서 기화되면서, 제 1 체임버(A)의 온도를 급격히 낮추게 된다. 이에 따라, 제 1 체임버(A) 내의 진동판(43) 위에 위치된 외부 장치(a)에 대하여 열충격을 가하게 된다. 이러한 열충격을 지속적으로 가하면서, 외부 장치(a)의 열충격에 대한 내구성 검사가 진행되게 된다.
이 액화 가스로는 질소 가스가 이용될 수 있다. 질소 가스는 금속등의 재료와의 반응성이 낮고, 가격이 저렴하며, 기화 온도가 낮기 때문에 외부 장치(a)에 대하여 열충격을 가하기에 최적의 가스라 할 수 있다.
습도 조절부(20)는, 도시된 바와 같이, 상기 제 1 체임버(A)의 일측에 연결되어, 상기 제 1체임버에 습도 조절관(49)를 통해 수증기를 공급하거나 상기 제 1 체임버(A)내의 존재하는 수증기를 제거하여 제 1 체임버(A)에 습도를 조절하는 기능을 한다. 외부 장치(a)의 내구성을 검사하는 데 있어서, 습도는 다양한 형태로 외부 장치(a)의 내구성에 영향을 준다. 따라서, 다양한 습도 상태에서의 진동 검사 및 열충격 검사를 하는 것이, 외부 장치(a)의 신뢰성 및 내구성 검사에 매우 효율적이라 할 것이다.
한편, 제 1 체임버(A)의 일면에는, 제 1 체임버(A)내의 온도를 급상승시키기 위해 히터부(45)가 형성될 수 있다. 즉, 입력부(31)를 통해 목표 온도가 입력되면, 입력된 온도가 현재 온도 보다 높은 경우, 제 1 체임버(A) 내에 설치된 히터부(45)가 동작된다. 이 경우, 히터부(45)는 외부 장치(a)에 열충격을 주기 위하여, 분당 60℃이상 제 1 체임버(A)의 온도가 오르도록 동작된다. 이에 따라, 본 발명의 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치는 온도 하강뿐 아니라 온도 상승에 따른 열충격에 대한 외부 장치(a)의 내구성 및 신뢰성에 대한 검사를 진행할 수 있게 된다.
상술한 구성을 가진 본 발명의 일실시예인 전자 및 기계 부품의 전자적인 구성에 대하여 도 4를 통해 보다 상세하게 설명하도록 한다.
도 4는, 본 발명에 따른 전자 및 기계 부품 성능 감사 장치의 전자적인 구성을 설명하기 위한 블록 구성도이다.
도시된 바와 같이, 상기 성능 검사 장치는, 습도 조절부(20), 바이브레이터(44), 액화가스 공급부(10), 히터부(45), 입력부(31) 및 디스플레이부(33), 공냉부(15) 및 제어부(50)를 포함하여 구성될 수 있다.
액화가스 공급부(10), 바이브레이터(44), 습도 조절부(20)에 대한 설명은 도 1 내지 3에서 상세하게 설명하였으므로, 입력부(31) 및 디스플레이부(33) 및 제어부(50)를 중심으로 설명하도록 한다.
공냉부(15)는 상기 액화 가스 공급부(10)와 마찬가지로, 체임버내의 온도를 낮추기 위해 구성되는 것이다. 공냉부는, 압축된 냉매가 증발하여 주위에서 열을 빼앗는 방식을 이용하는 것으로, 효율적 열교환을 위하여 송풍 유닛이 포함될 수 있다. 본 발명의 일실시예에 따르면, 상기 공냉부와 상기 액화 가스 공급부(10)가 함께 체임버내의 온도를 낮추는 역할을 하기 때문에, 열효율을 높일 수 있을 뿐 아니라, 상기 유닛 중 하나가 고장나더라도 동작이 가능하게 된다.
입력부(31)는, 목표 온도, 목표 습도, 목표 진동 등을 입력하기 위한 구성요소이다. 이러한 입력부(31)로는 키버튼, 키패드, 휠타입 입력장치 뿐 아니라 디스플레이부기능을 포함하는 터치스크린이 이용될 수 있다.
디스플레이부(33)는, 입력부(31)로부터 입력되는 제어 명령 및 본 발명에 따른 성능 검사 장치의 작동 상태를 표시하기 위한 구성요소로서, LCD, LED, OLED 등의 다양한 디스플레이 제품이 이용될 수 있다.
제어부(50)는, 상기 입력부(31)로부터 입력되는 제어 명령에 기초하여, 상기 액화가스 공급부(10),습도 조절부(20), 디스플레이부(33),바이브레이터(44)등을 제어하는 기능을 한다.
이 제어부의 기능에 대하여 도 5를 참조하여 보다 상세하게 설명하도록 한다.
도 5는, 본 발명에 따른 전자 및 기계 부품 성능 감사 장치의 제어 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 도시된 바와 같이, 우선 입력부(31)를 통해 제 1 목표 온도와 제 1 목표 습도, 그리고 제 1 목표 진동을 입력한다. 그러면, 제어부(50)는, 상기 제어 명령에 기초하여, 액화가스 공급부(10), 습도 조절부(20), 바이브레이터(44)를 제어하여, 제 1 체임버(A) 내의 진동판(43)이 제 1 목표 진동을 가지고 진동을 하고, 제 1 체임버(A)에 특정 습도하에서 급격한 온도 변화를 주어, 상기 제 1 체임버(A)의 진동판(43) 위에 위치한 외부 장치(a)에 열충격을 가한다. 즉, 제 1 목표 온도가 제 1체임버내의 온도보다 높은 경우 상기 히터부(45)를 동작시키고, 제 1 목표 온도가 제 1 체임버(A)내의 온도보다 낮은 경우, 상기 액화가스 공급부(10)를 동작시켜 액화가스의 기화 현상을 이용하여 제 1 체임버(A) 내의 온도를 낮추어 외부 장치(a)에 열충격을 준다.
그 다음, 사용자가 상기 입력부(31)를 통해 제 2 목표 온도 및 제 2 목표 습도를 재설정하게 되면, 제어부는 일단 제 2 목표 온도가 현재 온도보다 높은지 낮은지를 확인한다. 현재 온도보다 낮은 경우, 현재 제 1 체임버(A)내의 습도를 고려하여 제 2 목표온도시에 습도가 100%가 넘어 응결현상이 발생할지를 판단하고, 응결현상이 예상되면, 미리 습도 조절부(20)의 제습부를 동작시켜 제습 기능을 통해 제 2 목표 온도에서의 제 2 목표 습도가 되도록 제 1 체임버(A) 내의 수증기를 조절한 후에 제 2 체임버(B)내의 온도를 조절한다.
이와 같이 동작함으로써, 응결 현상없이 다양한 습도하에서 열충격 및 진동을 부여하고, 이에 따른 외부장치의 내구성 및 신뢰성 검사를 진행함으로써, 외부 장치의 내구성 및 신뢰성 검사의 정확성을 높일 수 있게 된다.
즉, 상술한 구성을 가진 본 발명에 따르면, 체임버 내의 습도를 조절하면서 열충격과 함께 기계적인 진동을 대상물인 기계 및 전자 부품에 부여함으로써, 보다 다양한 조건하에서의 성능검사가 이루어질 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따르면, 체임버 내의 온도를 낮출 경우, 미리 습도를 조절하여, 대상물인 기계 및 전자 부품의 결빙현상을 방지함으로써, 순수한 열충격에 따른 성능검사를 진행할 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따르면, 제 1 체임버(A)와 제 2 체임버(B)를 차단시킴으로써, 제 2 체임버(B)내의 구동부인 바이브레이터를 열충격으로부터 보호하기 때문에, 검사 장치의 내구성을 담보할 수 있다.
상기와 같이 설명된 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치는 상기 설명된 실시예들의 구성과 방법이 한정되게 적용될 수 있는 것이 아니라, 상기 실시예들은 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수도 있다.
100 : 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치
10 : 액화가스 공급부
20 : 습도 조절부
30 : 컨트롤 박스
31 : 입력부
33 : 디스플레이부
40 : 본체
41 : 도어
41-1 : 외창
43 : 진동판
45 : 히터부
47 : 액화가스 공급관
49 : 습도 조절관
a : 외부 장치(기계 부품 또는 전자 부품)
A : 제 1 체임버
B : 제 2 체임버

Claims (12)

  1. 외부장치가 위치하는 진동판을 포함하는 제 1 체임버;
    상기 진동판을 진동시키는 구동부가 설치되어 있는 제 2 체임버;
    상기 제 1 체임버의 일측에 연결되어, 상기 제 1 체임버에 수증기를 공급하거나 상기 제 1 체임버내에 존재하는 수증기를 제거하여 상기 제 1 체임버의 습도를 조절하는 습도 조절부;
    상기 제 1 체임버내의 액화가스를 공급하여 상기 제 1 체임버의 온도를 낮추어 상기 외부장치에 열충격을 가하는 액화가스 공급부;
    상기 제 1 체임버내의 온도를 높이기 위해 설치되는 히터부;
    상기 제 1 체임버를 밀폐시키기 위해 구성되는 제 1 도어;
    상기 제 1 체임버와 상기 제 2 체임버를 밀폐하기 위하여 구성되는 제 2 도어;
    상기 제 1 체임버의 제 1 목표 온도, 제 1 목표 습도 및 상기 진동판의 제 1 목표 진동을 입력하기 위한 입력부; 및
    상기 입력부를 통해 입력되는 제 1 목표 온도, 제 1 목표 습도 및 제 1목표 진동이 이루어지도록 상기 진동판, 상기 습도 조절부, 상기 액화가스 공급부, 및 상기 히터부를 제어하기 위한 제어부를 포함하는, 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치.
  2. 삭제
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 체임버와 상기 제 2 체임버는, 상호 차단되어 있는, 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 구동부는, 상기 진동판을 수직으로 이동시키기 위하여, 상기 진동판의 하부에 설치되는 바이브레이터를 포함하는, 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 액화가스는, 액화질소 가스인,전자 및 기계 부품 성능 검사 장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 액화가스 공급부는, 상기 제 1 체임버의 상면에 설치되고, 상기 습도 조절부는, 상기 제 1 체임버의 측면에 설치되는, 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 외부 장치는, 전자 부품, 핸드폰, 티브이, 자동차, 기계 부품 중 적어도 하나를 포함하는, 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치.
  8. 삭제
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 입력부를 통해 제 2 목표 온도 및 제 2 목표 습도가 재설정되고, 제 2 목표온도가 제 1 목표온도보다 낮은 경우, 상기 습도 조절부를 제어하여 제 1 체임버내의 습도를 미리 낮추고 난 후, 상기 히터부를 제어하여 상기 제 1 체임버내의 온도가 상기 제 2 목표온도에 도달하도록 제어하는, 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 습도 조절부는, 가습부와 제습부를 포함하는, 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 열충격은, 60℃/min 이상의 온도 상승 또는 온도 하강인, 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치.
  12. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 체임버내의 온도를 낮추기 위해 구성되는 공냉부를 더 포함하는, 전자 및 기계 부품 성능 검사 장치.
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19980033606A (ko) * 1998-04-30 1998-07-25 박주천 반도체 소자 검사 장치의 냉각 및 가열 장치
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19980033606A (ko) * 1998-04-30 1998-07-25 박주천 반도체 소자 검사 장치의 냉각 및 가열 장치
KR20030081386A (ko) * 2001-01-17 2003-10-17 벤쳐다인 리미티드 환경적으로 제어된 진동기 격실을 구비한 테스트 장치
KR20030013949A (ko) * 2001-08-10 2003-02-15 주식회사 에이알 열교환시스템을 이용한 항온항습장치 및 방법

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