KR101220943B1 - Ｅｓｐ의 수집 전극판들에서 랩핑의 순서를 제어하는 방법 - Google Patents

Abstract

제 1 및 제 2 버스-섹션(16, 20)을 구비하는 전기 집진기(1)로부터 분진 입자 방출을 제어하는 방법으로서: 상기 제 1 버스-섹션(16)의 랩핑 이벤트(rapping event)가 막 개시되려고 하는지를 관측하는 단계; 상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트가 개시되도록 허용하기 전에, 상기 전기 집진기(1)에서 연도 가스의 흐름 방향에 대해 상기 제 1 버스-섹션(16)의 다운스트림에 위치되는 상기 제 2 버스-섹션(20)이 상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하는 단계; 및 상기 검증 후에 상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트를 개시하는 단계를 포함하는, 상기 분진 입자 방출 제어 방법이 개시되어 있다.

랩핑 이벤트, 버스-섹션, 전기 집진기, 분진 입자, 수집 전극판, 스파크 레이트

Description

ＥＳＰ의 수집 전극판들에서 랩핑의 순서를 제어하는 방법{A METHOD OF CONTR0LLING THE ORDER OF RAPPING THE COLLECTING ELECTR0DE PLATES OF AN ESP}

본 발명은 전기 집진기(electrostatic precipitator)로부터 분진 입자 방출을 제어하는 방법에 관한 것이다.

본 발명은 또한 전기 집진기의 동작을 제어하는 제어 시스템에 관한 것이다.

석탄, 기름, 산업 폐기물, 생활 폐기물, 토탄(peat), 바이오매스(biomass) 등의 연소는, 흔히 플라이 애쉬(fly ash)라고도 칭해지는 분진 입자들을 함유한 연도 가스들(flue gases)을 생성한다. 분진 입자들의 대기로의 방출은 낮은 레벨로 유지되어야 하고, 따라서, 연도 가스가 대기로 방출되기 전에 연도 가스로부터 분진 입자들을 수집하기 위해서는 전기 집진기(ESP)형 필터가 종종 이용된다. 문헌들 중에서도 특히 제 US 4,502,872호로부터 알려져 있는 ESP들에는 방전 전극들 및 수집 전극판들이 구비되어 있다. 방전 전극들은 분진 입자들을 채우며, 분진 입자들은 그 후에 수집 전극판들에서 수집된다. 수집 전극판들은, 수집된 분진을 전극판들로부터 해방시키고 분진이 쓰레기 매립지, 처리 등으로 운송될 수 있는 호퍼(hopper)로 떨어뜨리기 위하여, 때때로 랩핑된다. 정화된 가스는 스택을 통해 대기로 방출된다.

ESP는 방전 전극들 및 수집 전극들을 둘러싸는 케이스를 구비하고, 연도 가스가 연도 가스 흡입구로부터 방전 및 수집 전극들을 통과하여 연도 가스 방출구로 흐르는 연도 가스 덕(flue gas duct)으로 기능한다. ESP는 직렬로 결합된 여러 독립된 유닛들(또한 필드들이라고도 칭해짐)을 케이스 내부에 포함할 수 있다. 이 예는, 직렬로 결합된 3개의 독립된 필드들을 기술하는 제WO 91/08837호에서 찾아볼 수 있다. 또한, 이러한 필드들 각각은 여러 개의 병렬 유닛들로 나누어질 수 있으며, 이들 병렬 유닛들은 셀들 또는 버스-섹션들이라고도 흔히 칭해진다. 각각의 이러한 버스-섹션은 랩핑, 전력 등에 관하여, 다른 버스-섹션들과 무관하게 제어될 수 있다.

ESP들로부터의 매우 낮은 분진 입자 방출들을 위한 더욱 엄격한 요구들로 인해, ESP의 분진 입자들의 매우 효율적인 제거를 달성하기 위하여 ESP의 케이스 내부에 직렬로 된 다수의 필드들을 이용할 필요가 있게 되었다. 증가된 수의 필드들은 방출을 감소시키는데 효과적이지만, ESP의 투자 및 운용 비용을 또한 증가시킨다.

본 발명의 목적은 제거 능력을 증대시키는 방식으로 전기 집진기(ESP)를 제어하는 것을 가능하게 하는 방법을 제공하는 것이다. 이러한 증대된 제거 능력의 이점들은, 기존의 ESP의 분진 제거 효율성을 개선시키기 위해, 그리고 수집 전극들의 수, 수집 전극 규모 등에 관하여, 낮은 분진 입자 방출들을 위한 더욱 엄격한 요구들이 ESP의 최소 규모, 즉 직렬로 된 최소 수의 필드들 및/또는 ESP의 최소 거주 시간, 및/또는 최소 수집 전극 면적, 및/또는 더 작은 필드들로 만족될 수 있는 방식으로 이용될 수 있다.

이 목적은 전기 집진기로부터 분진 입자 방출을 제어하는 방법을 제공함으로써 달성되며, 상기 방법은

상기 전기 집진기에서 적어도 제 1 버스-섹션 및 적어도 제 2 버스-섹션을 이용하는 단계로서, 이들 각각은 적어도 하나의 수집 전극판, 적어도 하나의 방전 전극 및 전원을 포함하는, 상기 이용 단계,

제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트(rapping event)가 막 개시되려고 하는지를 관측하는 단계로서, 상기 랩핑 이벤트는 그에 축적된 분진 입자들을 제거할 목적으로 제 1 버스-섹션의 적어도 하나의 수집 전극판을 랩핑하는 것을 포함하는, 상기 관측 단계,

상기 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트가 개시되도록 허용하기 전에, 상기 전기 집진기에서 연도 가스의 흐름 방향에 대해 상기 제 1 버스-섹션의 다운스트림에 위치되는 제 2 버스-섹션이 상기 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하는 단계, 및

상기 제 2 버스-섹션이 상기 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되었다고 검증된 후에, 상기 제 1 버스-섹션의 상기 랩핑 이벤트를 개시하는 단계를 포함하고,
상기 제 1 버스-섹션(16)의 다운스트림에 위치되는 상기 제 2 버스-섹션(20)이 상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 상기 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하는 상기 단계는:
상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트를 개시하는 상기 단계에 앞서, 상기 제 2 버스-섹션(20)의 적어도 하나의 수집 전극판(30)이 랩핑되도록, 상기 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑 이벤트를 개시하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 한다.

이 방법의 이점은, 제 1 버스-섹션의 다운스트림에 위치되는 제 2 버스-섹션이 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트 동안에 해방될 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지가 검증될 때까지, 제 1 버스-섹션의 랩핑이 개시되지 않는다는 점이다. 이 방식으로, 제 2 버스-섹션은 분진 입자들로 오버로드되는 것이 방지될 수 있으며, 오버로드는 증가된 분진 입자들의 방출을 유발할 수 있다. 본 발명에 따라 ESP를 동작시킴으로써, 제 1 버스-섹션의 랩핑에 의해 유발된 방출들은 매우 낮게 유지될 수 있다. 따라서, 이 방법은 ESP로부터 분진 입자들의 방출을 감소시키기 위해 제공한다.

한 실시예에 따라, 상기 제 2 버스-섹션은 상기 제 1 버스-섹션의 다운스트림에 가깝게 위치된다. 버스-섹션의 수집 전극판들의 랩핑은 일반적으로 그 다운스트림에 가깝게 위치된 버스-섹션에 대한 강력한 영향력을 가질 것이다. 이러한 이유로, 제 1 버스-섹션의 수집 전극판들을 랩핑하기 전에, 제 1 버스-섹션의 다운스트림에 위치되는 제 2 버스-섹션이 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하는 것이 흔히 바람직하다.

한 실시예에 따라, 상기 제 1 버스-섹션은 ESP의 연도 가스 흡입구에 위치된다. 일반적으로, ESP에 들어가는 분진 입자들의 대부분은 연도 가스 흡입구에 위치되는 버스-섹션에서 이미 제거될 것이다. 결과적으로, ESP의 흡입구에 위치된 제 1 버스-섹션의 랩핑은 빈번히 일어날 것이고, 대량의 분진 입자들은 랩핑 이벤트가 개시될 때마다 그러한 제 1 버스-섹션의 수집 전극판들로부터 해방될 것이다. 따라서, ESP의 연도 가스 흡입구에 위치된 제 1 버스-섹션의 다운스트림에 위치되는 제 2 버스-섹션이 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트 동안 그로부터 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하는 것은 ESP로부터 분진 입자 방출을 감소시키는 노력에 대한 매우 긍정적인 효과를 갖는다.

한 실시예에 따라, 상기 ESP는 임의 수의 버스-섹션들을 포함하고, 상기 임의 수의 버스-섹션들 중 적어도 3개는 버스-섹션들의 그룹을 형성하고, 그러한 그룹은 적어도 제 1 버스-섹션, 상기 ESP에서 연도 가스의 흐름 방향에 대해 상기 제 1 버스-섹션의 다운스트림에 위치되는 제 2 버스-섹션, 및 상기 ESP에서 연도 가스의 흐름 방향에 대해 상기 제 2 버스-섹션의 다운스트림에 위치되는 제 3 버스-섹션을 포함하며, 상기 버스-섹션들의 그룹의 상기 버스-섹션들 각각의 랩핑은,

상기 그룹의 버스-섹션들 중 하나의 랩핑 이벤트가 막 개시되려고 하는지를 관측하고,

버스-섹션들 중 상기 하나의 랩핑 이벤트가 개시되도록 허용하기 전에, 상기 그룹에 포함되고 버스-섹션들 중 상기 하나의 다운스트림에 가깝게 위치된 버스-섹션이 버스-섹션들 중 상기 하나의 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하고,

상기 그룹에 포함되고 버스-섹션들 중 상기 하나의 다운스트림에 가깝게 위치된 상기 버스-섹션이 버스-섹션들 중 상기 하나의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되었다고 검증된 후에, 버스-섹션들 중 상기 하나의 상기 랩핑 이벤트를 개시함으로써 제어된다. 이 실시예에 따라, ESP를 통과하는 연도 가스의 흐름 방향을 따라 위치되는 적어도 3개의 버스-섹션들의 그룹이 제어되어, 그러한 버스-섹션들 각각에 대해, 다운스트림 버스-섹션이 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있도록 제어된다. 그러므로, 제 1 버스-섹션을 랩핑하기 전에, 제 2 버스-섹션이 준비되어 있는지가 검증된다. 제 2 버스-섹션의 랩핑이 필요한 것으로 발견되면, 제 2 버스-섹션의 그러한 랩핑을 실행하기 전에, 제 3 버스-섹션이 준비되도록 먼저 제어된다. 따라서, 이 실시예에 따라, 상기 제어 방법은 랩핑 이벤트가 개시되기 전에, 직렬 방식이라 불릴 수 있는 다운스트림 버스-섹션을 조사하는 단계를 포함한다.

다른 실시예에 따라, 상기 ESP는 임의 수의 버스-섹션들을 포함하고, 상기 임의 수의 버스-섹션들의 짝수는 버스-섹션들의 쌍들로 나누어지고, 각각의 그러한 쌍은 제 1 버스-섹션과, 상기 ESP에서 연도 가스의 흐름 방향에 대해 상기 제 1 버스-섹션의 다운스트림에 위치되는 제 2 버스-섹션을 포함하고, 상기 쌍들의 각각의 쌍의 상기 제 1 및 제 2 버스-섹션들의 랩핑은, 상기 제 1 버스-섹션의 상기 랩핑 이벤트를 개시하기 전에, 상기 제 2 버스-섹션이 상기 제 1 버스-섹션의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증함으로써 제어된다. 7개의 연속하는 버스-섹션들을 가진 ESP는 하나, 둘 또는 세 개의 그러한 쌍들을 가질 수 있고, 각각의 그러한 쌍은 제 1 버스-섹션 및 제 2 버스-섹션을 가지며, 7개의 버스-섹션들 중 최종 다섯, 셋 또는 최종 하나는 다른 원리들에 따라 제어될 수 있다. 이 실시예의 이점은, 각 쌍이 "수집기-세이프가드-조합(collector- safeguard-combination)"으로서 동작할 것이며, 여기서 쌍의 제 1 버스-섹션은 분진 입자들의 주 수집기로서 기능할 것이고, 쌍의 제 2 버스-섹션은 쌍으로부터 분진 입자들의 방출을 감소시킬 목적으로 세이프가드로서 동작할 것이다. 따라서, 제 1 버스-섹션 및 제 2 버스-섹션을 포함하는 각각의 그러한 쌍은 분진 입자들의 효율적 제거 및 낮은 방출들을 달성하도록 동작할 것이다.

한 실시예에 따라, ESP는 제 1 및 제 2 버스-섹션들의 적어도 2개의 쌍들을 가질 수 있고; 제 1 쌍은 ESP를 통과하는 연도 가스의 흐름 방향에서 보아, ESP의 제 1의 2개의 버스-섹션들을 포함할 수 있고; 제 2 쌍은 ESP의 제 3 및 제 4 버스-섹션들을 포함할 수 있다. 각 쌍은, 이 실시예에서, 랩핑에 대해 다른 쌍으로부터 독립적으로 제어될 수 있는 것이 바람직하다.

제 2 버스-섹션이, 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하는 단계가 다양한 방식들로 실행될 수 있다. 한 실시예에 따라, 상기 제 2 버스-섹션이 최종 랩핑된 이후에 경과된 시간이 결정된다. 상기 제 2 버스-섹션이 최종 랩핑된 이후에 경과된 상기 시간이 선택된 시간을 초과하면, 상기 제 2 버스-섹션의 랩핑 이벤트가 개시되어, 상기 제 2 버스-섹션의 적어도 하나의 수집 전극판이 랩핑된다. 제 2 버스-섹션이 최종 랩핑된 이후에 경과된 시간을 체크하는 것은, 제 2 버스-섹션의 수집 전극판들이 상기 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 만큼 충분히 정화되어 있다고 예상될 수 있는지의 여부를 추정하는 간단한 방식을 구성한다. 다른 실시예에 따라, 제 2 버스-섹션이 상기 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지의 여부를 추정하기 위하여, 제 2 버스-섹션의 스파크 레이트(sparking rate)가 측정된다. 따라서, 제 2 버스-섹션의 스파크 레이트는 제 2 버스-섹션의 수집 전극판들이 얼마나 깨끗한지의 표시로서 취해진다. 또 다른 실시예에 따라, 상기 제 2 버스-섹션의 상기 적어도 하나의 수집 전극판을 랩핑하기 위한 필요성이 예측된다. 그러한 예측은 연도 가스 흐름, 보일러 로드, 약해진 연료의 형태, 제 2 버스-섹션의 이전 랩핑 이벤트 이후에 경과된 시간 등, 단독으로 또는 조합하여 기초할 수 있다. 예를 들면, 제 2 버스-섹션을 랩핑하기 위한 필요성을 예측하기 위해서는 예측 모델, 예를 들면 기계적 모델을 이용하는 것이 가능하다. 이러한 예측 모델은, 이전에 언급된 파라미터들과 같이, 제 2 버스-섹션의 수집 전극판들 상의 분진의 양에 영향을 미치는 동작 파라미터들의 입력을 이용할 수 있다. 또 다른 실시예에 따라, 상기 제 2 버스-섹션의 랩핑 이벤트가 제 1 버스-섹션을 랩핑하기 전에 개시되어, 상기 제 2 버스-섹션의 적어도 하나의 수집 전극판은 상기 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트를 개시하는 단계에 앞서 랩핑된다. 이러한 방식으로, 제 2 버스-섹션의 적어도 하나의 수집 전극판들은 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트를 개시하기 직전에 랩핑될 것이고, 그에 의해 제 2 버스-섹션이 상기 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 적어도 부분적으로 수용할 준비가 되어 있게 한다. 본 발명의 단계들의 시퀀스에 많은 연속 시간들이 흐른다면, 제 2 버스-섹션이, 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하는 여러 단계들을 유발하고, 그 후에 상기 제 2 버스-섹션의 랩핑 이벤트가 그러한 검증 단계가 실행되는 두 번 째마다, 또는 세 번째 등 마다의 시간에만 실행되는 것이라고 결정될 수 있다.

본 발명의 다른 목적은, 분진 입자들의 방출이 감소될 수 있도록 전기 집진기(ESP)의 동작을 제어하도록 적응된 제어 시스템을 제공하는 것이다.

이 목적은 ESP의 동작을 제어하는 제어 시스템에 의해 달성되며, 상기 제어 시스템은, 상기 ESP의 제 1 버스-섹션의 상기 랩핑 이벤트가 막 개시되도록 하는 입력을 수신하도록 적응되는 제어 디바이스를 포함하고, 상기 랩핑 이벤트는 그에 축적된 분진 입자들을 제거할 목적으로 상기 제 1 버스-섹션의 적어도 하나의 수집 전극판을 랩핑하는 것을 포함하고, 상기 제어 디바이스는 상기 전기 집진기의 제 1 버스-섹션의 상기 랩핑 이벤트가 막 개시되도록 하는 상기 입력에 응답하여, 상기 ESP에서 연도 가스의 흐름 방향에 대해 상기 제 1 버스-섹션의 다운스트림에 위치되는 제 2 버스-섹션으로, 상기 제 2 버스-섹션이 상기 제 1 버스-섹션의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지에 대한 질의(inquiry)를 전송하도록 적응되고, 상기 제어 디바이스는 상기 제 2 버스-섹션이 상기 제 1 버스-섹션의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 상기 분진 입자들을 수용할 준비가 되었다고 검증된 후에, 상기 제 1 버스-섹션의 상기 랩핑 이벤트를 개시하도록 적응되고, 상기 제어 디바이스(80)는 상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트를 개시하기에 앞서, 상기 제 2 버스-섹션(20)의 적어도 하나의 수집 전극판(30)이 랩핑되도록, 상기 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑 이벤트를 개시하도록 적응되는 것을 특징으로 한다.

이 제어 시스템의 이점은 제 1 버스-섹션의 다운스트림에 위치되는 제 2 버스-섹션이 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트를 개시하기 전에, 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트 동안에 해방될 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하도록 적응되는 것이다. 따라서, 제어 시스템은 제 2 버스-섹션이 분진 입자들로 오버로드되는 것을 회피하도록 동작된다.

다른 제어 시스템은 상기 제어 시스템은 상기 ESP의 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트가 막 개시되도록 하는 입력을 수신하도록 적응되는 제어 디바이스를 포함하고, 상기 랩핑 이벤트는 그에 축적된 분진 입자들을 제거할 목적으로 상기 제 1 버스-섹션의 적어도 하나의 수집 전극판을 랩핑하는 것을 포함하고, 상기 제어 디바이스는 상기 ESP의 제 1 버스-섹션의 상기 랩핑 이벤트가 막 개시되도록 하는 상기 입력에 응답하여, 상기 ESP에서 연도 가스의 흐름 방향에 대해 상기 제 1 버스-섹션의 다운스트림에 위치되는 제 2 버스-섹션에서 랩핑 이벤트를 적어도 이따금씩 개시하도록 적응되고, 상기 제어 디바이스는 가능하다면 상기 제 2 버스-섹션의 상기 랩핑 이벤트를 개시한 후에 상기 제 1 버스-섹션의 상기 랩핑 이벤트를 개시하도록 적응되는 것을 특징으로 한다.

이 다른 제어 시스템의 이점은 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트를 개시하기에 앞서 제 2 버스-섹션의 적어도 하나의 수집 전극 상에 존재하는 분진 입자의 양을 간단한 방식으로 감소시키도록 동작된다는 점이다. 그에 의해, 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트에 의해 유발된 분진 입자들의 방출이 감소된다. 제어 시스템은, 제어 시스템이 ESP의 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트가 막 개시되도록 하는 입력을 수신했을 때 제 2 버스-섹션의 랩핑을 항상 개시하도록 설계될 수 있다. 다른 가능성은 랩핑 이벤트가 제 1 버스-섹션에서 막 개시되려고 하는 두 번째마다, 세 번째 등 마다의 시간에 제 2 버스-섹션의 랩핑을 개시하는 것이다. 제 1 버스-섹션의 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들의 양이 다소 낮다면, 랩핑 이벤트가 제 1 버스-섹션에서 개시되는 두 번째마다, 세 번째 등 마다의 시간에만 제 2 버스-섹션에서 랩핑 이벤트를 개시하는 것이 매우 충분할 수 있다.

본 발명의 다른 목적들 및 특징들은 다음의 기술 및 특허청구범위들로부터 명백할 것이다.

본 발명은 지금부터 첨부된 도면들을 참조하여 더욱 상세히 기술될 것이다.

도 1은 측면에서 본 전기 집진기를 도시한 단면도.

도 2는 위에서 본 전기 집진기를 도시한 상면도.

도 3은 전기 집진기의 제어 시스템을 도시한 상면도.

도 4는 스파크 레이트 및 분진 입자들의 방출을 도시한 도표.

도 5는 제 1 실시예에 따른 스파크 레이트에 의해 제어되는 랩핑을 도시한 도표.

도 6은 제 2 실시예에 따른 스파크 레이트에 의해 제어되는 랩핑을 도시한 도표.

도 7은 2개의 후속 버스-섹션들의 랩핑의 제어를 도시한 흐름도.

도 8a는 종래 기술의 랩핑 제어에 따른 분진 입자들의 방출을 도시한 도표.

도 8b는 도 7의 흐름도에 따라 랩핑을 제어할 때 분진 입자들의 방출을 도시하는 도면.

도 9는 다른 후속 버스-섹션에서의 랩핑의 제어를 도시한 흐름도.

도 10은 대안적 실시예에 따른 2개의 버스-섹션들의 랩핑의 제어를 도시한 흐름도.

도 11은 측면에서 본 전기 집진기를 도시한 단면도.

도 1은 측면에서 단면적으로 본 전기 집진기(ESP)(1)를 개략적으로 도시한다. 도 2는 위에서 본 동일한 집진기(1)를 도시한다. 집진기(1)는 분진 입자들을 포함한 연도 가스(4)용 흡입구(2) 및 분진 입자들의 대부분이 제거된 연도 가스(8)용 방출구(6)를 구비한다. 연도 가스(4)는, 예를 들면, 석탄이 약해진(combusted) 보일러로부터 나올 수 있다. 집진기(1)는 제 1 필드(10), 제 2 필드(12) 및 제 3의 최종 필드(14)가 제공되는 케이스(9)를 구비한다. 각 필드(10, 12, 14)에는 예를 들면 US 특허 제4,502,872호로부터 본 기술분야에 알려져 있는 방전 전극들 및 수집 전극판들이 구비되어 있으며, US 특허 제4,502,872호는 본 명세서에 참조로서 포함되어 있다.

도 2에 가장 잘 도시된 바와 같이, 각 필드(10, 12, 14)는 2개의 병렬 독립된 유닛들, 소위 버스-섹션들로 나누어진다. 버스-섹션은 적어도 하나의 수집 전극판, 적어도 하나의 방전 전극, 및 수집 전극판/전극판들과 방전 전극/전극들 사이에 전압을 인가하기 위한 적어도 하나의 전원을 갖는 유닛으로 규정된다. 따라서, 필드(10)는 버스-섹션(16) 및 병렬 버스-섹션(18)을 가지고, 필드(12)는 버스-섹션(20) 및 병렬 버스-섹션(22)을 가지고, 필드(14)는 버스-섹션(24) 및 병렬 버스-섹션(26)을 가진다.

각각의 버스-섹션들(16, 18, 20, 22, 24, 26)에는 도 1에 도시된 방전 전극들(28)과, 도 1에 도시되고 도 2에 환영으로 표시된 수집 전극판들(30)이 구비되어 있다. 버스-섹션들(16 내지 26)의 각각에는, 그 특정 버스-섹션(16 내지 26)의 방전 전극들(28)과 수집 전극판들(30) 사이에 전류 및 전압을 인가하는 정류기(32, 34, 36, 38, 40, 42) 형태의 독립 전원이 각각 구비되어 있다. 연도 가스(4)가 방전 전극들(28)을 통과할 때, 분진 입자들은 채워져서, 분진 입자들이 수집되는 수집 전극판들(30)을 향해 이동할 것이다. 각각의 버스-섹션(16 내지 26)에는 개별적 랩핑 디바이스(44, 46, 48, 50, 52, 54)가 각각 구비되어 있으며, 이들 각각은 각각의 버스-섹션(16 내지 26)의 수집 전극판들(30)로부터 수집된 분진들을 제거하도록 동작한다. 소위 텀블링 해머들(tumbling hammers)을 가진 이러한 랩핑 디바이스의 비제한적 예는 US 4,526,591호에서 찾을 수 있다. 랩핑 디바이스들(44 내지 54)의 각각은 제 1 세트의 해머들을 포함하며, 이중 단 하나의 해머(56)만이 각각의 랩핑 디바이스에 대해 도 1에 도시되어 있으며, 이와 연관된 수집 전극판들(30) 중 각각의 전극판의 업스트림 단부를 랩핑하도록 적응된다. 랩핑 디바이스들(44 내지 54)의 각각은 또한 제 2 세트의 해머들을 포함하며, 이중 단 하나의 해머(58)만이 각각의 랩핑 디바이스에 대해 도 1에 도시되어 있으며, 이와 연관된 수집 전극판들(30) 중 각각의 전극판의 다운스트림의 단부를 랩핑하도록 적응된다. 랩핑 디바이스들(44 내지 54)의 각각은, 도 2에 도시되고 제 1 세트의 해머들, 즉 해머들(56)을 동작시키도록 적응된 제 1 모터(60)와, 도 2에 도시되고 제 2 세트의 해머들, 즉 해머들(58)을 동작시키도록 적응되는 제 2 모터(62)를 포함한다. 랩핑이 수행되면, 수집 전극판들(30)은, 분진이 덩어리로 수집 전극판들(30)에서 떨어지도록, 해머들(56, 58)로 맞아 가속화된다. 수집 전극판들(30)의 랩핑은 따라서, 수집 전극판들(30) 상에 수집된 분진 입자들이 해방되어 도 1에 도시된 호퍼들(64)에서 수집되고, 그로부터 수집된 분진 입자들은 멀리 운송되는 결과를 유발한다. 그러 나, 버스-섹션(16 내지 26)의 수집 전극판들(30)의 랩핑 동안, 랩핑되는 버스-섹션의 수집 전극판들(30) 상에서 이전에 수집된 일부 분진은 연도 가스(4)로 재혼입되고(re-entrained) 연도 가스(8)로 해당 버스-섹션을 떠난다. 따라서, 모든 랩핑은 분진 방출 피크를 유발하고, 이것은 버스-섹션들(16 내지 26) 중 어떤 하나가 랩핑되는지, 버스-섹션들(16 내지 26) 중 그 하나가 어떻게 그리고 언제 랩핑되는지, 그리고, ESP의 다른 버스-섹션들에서 어떤 상태인지에 의존하여 대략 큰 크기에서 거의 검출 불가능한 크기까지의 범위를 가질 수 있다. 버스-섹션(16 내지 26)의 수집 전극판들(30)의 정화는 상이한 방식들로 행해질 수 있다. 버스-섹션(16 내지 26)의 수집 전극판들(30)의 각각의 랩핑은 통상적으로 약 10초 내지 4분 동안, 일반적으로 10 내지 60초 동안 지속하는 "랩핑 이벤트(rapping event)"라고 칭해질 수 있다. 랩핑 이벤트들은 상이한 방식들로 상이한 시간 간격들에서 수행될 수 있다. 이와 관련하여, 가변될 수 있는 하나의 파라미터는 전류 상태이며, 즉 특정 버스-섹션(16 내지 26)의 정류기(32 내지 42)가 랩핑 이벤트 동안 전극들(28, 30)에 전류를 인가하는지 하지 또는 않는지의 여부이다. 랩핑 동안 수집 전극판들(30)에 달라붙기 위한 입자들의 능력은 수집 전극판들(30)의 랩핑 동안 전류가 인가되는 경우가 랩핑 동안 전류가 인가되지 않는 경우보다 높을 것이다. 전류가 수집 전극판(30)이 랩핑될 때 인가된다면, 일부 분진 케이크는 수집 전극판에 붙어서, 분진 입자들의 재혼입이 거의 없을 때 수집 전극판(30)은, 전류가 인가되지 않거나 예를 들면 정상 전류의 5%와 같이 낮은 전류가 인가되는 수집 전극판(30)을 랩핑할 때와 비교하여 랩핑 이벤트의 끝에서 "정화(clean)"되지 않는다. 랩핑 동안에 전압 상황 이 가변될 수 있는 방법 중 한 예는 WO 97/41958호에 기술되어 있다. 가변될 수 있는 다른 파라미터는 동일한 경우에 제 1 세트의 해머들, 즉 해머들(56)과 제 2 세트의 해머들, 즉 해머들(58) 둘다로 랩핑이 이루어지는지 또는 해머들(56, 58) 의 세트들 중 단 하나만으로 랩핑이 이루어지는지의 여부이다. 해머들(56, 58)이 수집 전극판들(30)을 랩핑하도록 이루어진 횟수는 랩핑 이벤트 동안 수집 전극판들(30) 상의 얼마나 많은 분진 입자들이 제거되었는지에 영향을 미칠 것이다. 따라서, 수집 전극판들(30)의 많은 방식의 랩핑이 있고, 각 방식의 랩핑은 수집 전극판들(30)로부터 제거되는 분진 입자들의 양에 관해, 또한, 하기에 도시되는 바와 같이, 연도 가스에서 분산되고 정화된 연도 가스(8)로 버스-섹션 또는 심지어 집진기(1)를 떠나는 분진 입자들의 양에 관해 약간 상이한 행동패턴을 가질 것이다.

도 3은 전기 집진기(1)의 동작을 제어하는 제어 시스템(66)을 도시한다. 제어 시스템(66)은 6개의 제어 유닛들(68, 70, 72, 74, 76, 78) 및 중앙 처리 컴퓨터(80)의 형태의 제어 디바이스를 포함한다. 각 버스-섹션(16 내지 26)에는 개별 제어 유닛(68, 70, 72, 74, 76, 78)이 각각 구비되어 있다. 제어 유닛(68 내지 78)은 해당 버스-섹션(16 내지 26)의 대응하는 정류기(32 내지 42)의 동작을 제어한다. 이러한 제어는 공급된 전압/전류의 제어와 스파크-오버들의 수를 카운팅하는 것을 포함한다. "스파크-오버(spark-over)"는 방전 전극과 수집 전극판 사이의 전압이 이러한 전극들 사이의 갭의 절연 내력(dielectric strength)을 초과한다는 사실로 인해 방전 전극과 수집 전극판 사이에서 스파크가 발생하는 상황으로 규정된다. 스파크-오버의 예에서, 전극들이 접지되어, 시스템에서 이용 가능한 모든 전력 이 소모된다. 따라서, 전극들 사이의 전압은 영볼트로 일시적으로 강하되어 수집 전극판의 수집 능력을 저하시킨다. 스파크-오버 후에, 제어 유닛(68 내지 78)은 전압을 감소시키고, 그 후에 이를 다시 증가시키기 시작한다. 각각의 버스-섹션(16 내지 26)의 제어 유닛(68 내지 78)은 또한, 각각의 버스-섹션(16 내지 26)의 대응하는 랩핑 디바이스(44 내지 54)의 동작을 제어한다. 상술된 바와 같이, 이러한 제어는 수집 전극판들(30)이 랩핑될 때와 방식을 포함한다. 중앙 처리 컴퓨터(80)는 제어 유닛(68 내지 78)을 제어하고, 그에 의해 전체 전기 집진기(1)의 동작을 제어한다.

종래 기술에 따라, 수집 전극판들(30)의 랩핑은 미리 설정된 시간 간격들에서 발생하도록 제어된다. 미리 설정된 시간 간격들은 제 3의, 최종 필드(14)의 버스-섹션들(24 및 26)에서보다 제 1 필드(10)의 버스-섹션들(16 및 18)에서 더 많은 양의 분진 입자들이 수집되는 것으로 인해 상이한 버스-섹션들(16 내지 26)에 대해 상이하다. 따라서, 랩핑은 종래 기술에 따라, 예를 들면 제 1 필드(10)에 대해 5분마다, 제 2 필드(12)에 대해 30분마다, 그리고 최종 필드(14)에 대해 12시간 마다 수행될 수 있다. 이러한 형태의 제어는 최적이 아니며 증가된 분진 방출 및 증가된 전력 소비를 제공한다고 밝혀졌다.

본 발명은 전기 집진기의 랩핑을 제어하는 신규하고 독창적인 방법을 제공한다.

본 발명의 제 1 양태에 따라, 버스-섹션(16 내지 26)의 수집 전극판들(30)이, 해당 버스-섹션(16 내지 26)의 분진 입자 제거 능력을 저하시키기 않기 위하여 랩핑 이벤트가 요구되는 양의 분진 입자들을 수집했을 때를 검출하는 것이 가능하다는 것이 밝혀졌다. 따라서, 버스-섹션(16 내지 26)의 수집 전극판들(30)이 채워지고 랩핑을 요구할 때를 검출하는 것이 밝혀졌다.

도 4는 분진 입자들의 방출 EM을 도시한 개략도이며, 버스-섹션(16)의 수집 전극판들(30)이 랩핑된 이후 경과된 시간 TR에 상관됨에 따른 분진 입자 방출이 버스-섹션(16)으로부터 곡선 EC에 의해 도시된다. 도 4와 관련하여 알 수 있는 바와 같이, 도 4의 오른쪽 y축 상에 도시된 분진 입자들의 방출 EM은 수집 전극판들(30)이 랩핑된 때(TR=0) 매우 낮은 레벨에서 시작하고, 그 후에 수집 전극판들(30)이 분진 입자들로 더 많이 채워짐에 따라 점차적으로 증가한다. 따라서, 곡선 EC은 버스-섹션(16)의 수집 전극판들(30) 상에 수집된 분진 입자들의 양의 간접 측정을 표현하며, 즉 곡선 EC는 수집 전극판들(30)의 랩핑 이후의 시간에 대한 버스-섹션(16)의 수집 전극판들(30) 상의 분진 입자들의 현재 로드를 간접적으로 표현한다. 도 4에서, 분진 입자들의 특정한 현재 방출 EC에 대응하는 분진 입자들의 현재 로드가 3개의 간접 레벨들; "거의 비어 있음", "절반 채워짐" 및 "거의 채워짐"의 "로드"로 표시된 하부 x축에 주어진다. 분명하게, 그것은 분진 입자들의 방출이 급속하게 증가될 때의 랩핑 이벤트, 즉 TR1 후의 어떤 시간을 개시하는데 관심이 있다. 그러나, 각각의 개별 버스-섹션(16 내지 26) 직후의 분진 입자 방출을 측정하는 것은 값비싸고 따라서, 버스-섹션(16)후에 측정된 분진 입자 방출에 기초하여 랩핑을 제어하는 것은 흥미있는 제어 원리가 아니다. 버스-섹션(16)의 수집 전극판들(30) 상에 예를 들면 로드 셀들에 의해 킬로그램 단위의 실제 분진 로드를 측정 하는 것 역시 값이 비싸고 어렵다.

본 발명의 제 1 양태의 한 실시예에 따라, 한 버스-섹션, 즉 버스-섹션(16)에서 시간 단위 당 스파크-오버들의 수와 같은 스파크 레이트가 하나의 버스-섹션, 예를 들면 버스-섹션(16)의 랩핑을 제어하기 위해 이용될 수 있음이 밝혀졌다. 더욱이, 상기 하나의 버스-섹션, 예를 들면 버스-섹션(16)의 스파크 레이트는 곡선 EC, 즉 하나의 버스-섹션으로부터의 분진 입자 방출에 상관하는 것이 밝혀졌다. 따라서, 이후 기술될 바와 같이, 측정된 현재 스파크 레이트는 버스-섹션(16)으로부터 현재 분진 방출 EC의 간접 측정으로서 이용될 수 있다. 측정된 스파크 레이트는 또한, 분진 입자 방출 EC가 수집 전극판들(30) 상의 분진 입자들의 로드를 간접적으로 표현한다는 사실로 인해, 수집 전극판들(30) 상의 분진 입자들의 로드의 간접 측정으로서 이용될 수 있다. 시간 단위 당 스파크-오버들의 수, 즉 스파크 레이트는 버스-섹션(16)을 제어하는 제어 유닛(68)에 의해 측정된다. 따라서, 제어 유닛(68)은 버스-섹션(16)의 스파크 레이트를 측정하는 측정 디바이스로서 기능할 것이다. 버스-섹션(16)은 스파크-오버들을 감지하는 감지기로서 자체 기능할 것이다. 이전에 기술된 바와 같이, 스파크-오버는 전극들이 접지되는 것을 의미한다. 스파크-오버가 발생될 때, 인가된 전류는 감소된 후에 다시 램프 업 되어야 하며, 그 시간 동안 수집 효율성은 감소된다. 따라서, 다수의 스파크-오버들은 버스-섹션(16)이 최대 전류에서 동작하는 동안 감소된 시간을 유발할 것이고, 따라서 감소된 수집 효율성을 유발할 것이다. 종래 기술에 따라, 측정된 수의 스파크-오버들은 정류기(32)에 의해 버스-섹션(16)에 공급되는 전압 또는 전류를 제어하는데 이용된 다. 시간 TR의 함수로서 도 4의 왼쪽 y축 상에 주어진 스파크 레이트 NR이 도 4에서 곡선 SC에서 도시된 바와 같이 특성 양태를 가지는 것으로 밝혀졌다. 그로부터 알 수 있는 바와 같이, 곡선 SC은 수집 전극판들(30)이 랩핑된 때(TR=0)의 초기 스파크 레이트 NR1에서 시작한다. 예를 들면, 제 1 필드(10)의 버스-섹션(16)의 NR1는 분당 약 10-40 스파크-오버들이 될 수 있다. 버스-섹션(16)의 수집 전극판들(30)이 수집된 분진 입자들로 더 많이 채워질 때, 스파크 레이트는 천천히 증가한다. 시간 TR1 후에, 스파크 레이트 NR은 급속히 증가한다. 버스-섹션(16)에 대해, 시간 TR1는 예를 들면 4 내지 30분이 될 수 있다. 이제, 스파크 레이트 NR의 급속 증가는 분진 입자들의 방출 EM의 급속 증가와 일치하다는 것이 밝혀졌다. 따라서, 스파크 레이트를 나타내는 곡선 SC와 분진 입자들의 방출을 나타내는 곡선 EC 둘다는 시간 TR1 후에 급격한 증가를 보여준다. 따라서, 수집 전극판들(30)이 "채워지고(full)" 분진 입자들의 방출을 감소시키기 위해 랩핑되어야 할 때의 측정으로서 스파크 레이트 NR을 이용하는 것이 가능하다. 더욱이, 수집 전극판들(30) 상의 분진 입자들의 로드는 측정된 스파크 레이트로부터 추정될 수 있다. 이와 관련하여 상관 디바이스의 기능을 갖는 처리 컴퓨터(80)는 도 4에 도시된 곡선 EC로 제공될 수 있다. 대안적으로 제어 유닛(68)은 상관 디바이스로서 기능할 수 있다. 측정된 현재 스파크 레이트와 도 4의 곡선 EC 사이의 상관에 기초하여, 처리 컴퓨터(80)는 수집 전극판들(30) 상의 분진 입자들의 현재 로드를 추정할 수 있다. 스파크 레이트 곡선 SC와 분진 입자 방출 곡선 EC가 흔히, 도 4에 도시된 바와 같이, 유사한 주요 양상(appearance)을 가지기 때문에, 스파크 레이트는 많은 경우들에 있어서 곡선 EC의 이용을 필요로 하지 않고 분진 입자들의 로드에 직접 상관될 수 있다. 이러한 추정은 도 4에 도시된 바와 같이, "거의 비어 있음", "절반 채워짐" 및 "거의 채워짐"과 같은 이러한 로드에 대해 다소 대략적인 출력을 제공할 수 있기 때문에, 개별 버스-섹션, 예를 들면 버스-섹션(16)의 수집 전극판들(30) 상의 분진 입자들의 로드에 관한 그러한 정보는 전기 집진기(1)의 제어에 있어서 매우 유용한 정보가 된다. 이후 제어가 기술될 버스-섹션(16)에서 랩핑 이벤트를 수행하기 위한 타이밍의 제어 외에도, 그러한 정보는 또한, 예를 들면, 랩핑 디바이스들, 수집 전극판들 등에서 기계적 및 전기적 문제들을 검출하는데 이용될 수 있다.

도 5는, 제어 유닛(68)이 랩핑 디바이스(44)로 하여금 버스-섹션(16)의 수집 전극판들(30)을 랩핑하도록 하기 위한 시간일 때 제어하기 위한 제어 방법에서 도 4의 결과들이 구현되는 방식의 제 1 실시예를 도시한다. 제 1 실시예에 따라, 버스-섹션(16) 자체는 수집 전극판들(30)이 최대의 수집 능력에 도달할 때, 즉 수집 전극판들(30) 상의 분진 입자들의 로드가 실질적으로 최대에 도달하고 따라서 수집 전극판들(30)이 랩핑되어야 할 때를 측정하기 위하여 동작하는 온라인 측정 디바이스로서 이용된다. 온라인 측정 디바이스의 일부로서 버스-섹션(16) 자체를 이용하는 특정 이점은, 예를 들면 연도 가스(4)의 양, 연료 품질, 연도 가스(4)의 습도 및 온도, 수집 전극판들(30)의 물리적 및 화학적 상태, 분진 입자들의 물리적 및 화학적 속성들 등을 포함하는 수집 전극판들(30)의 수집 능력에 영향을 미치는 모든 파라미터들이, 수집 전극판들(30)이 이후 기술될 감소된 수집 효율성을 유발하는 스파크 없이 더 많은 분진 입자들을 수집할 수 없을 때 이러한 제어 방법이 반 응하기 때문에, 자동적으로 그리고 암시적으로 설명된다는 것이다. 따라서, 버스-섹션(16)은 수집 전극판들(30) 상에 수집된 분진 입자들의 로드를 측정하는 측정 디바이스의 일부를 형성할 것이다. 수집 전극판들(30) 상의 분진 입자들의 로드가 현재 상태들에서, 연도 가스 습도, 온도 등에 관하여 수집 전극판들(30)의 수집 효율성이 떨어지기 시작하는 양에 도달했을 때, 랩핑 이벤트가 자동으로 개시되어, 수집 전극판들(30)의 수집 효율성이 복구된다. 버스-섹션(16)이 종래 기술의 버스-섹션들에 비해 기계적 구조의 어떠한 재설계도 요구하지 않고 온라인 측정 디바이스의 일부로서 동작하고 있음을 알게 될 것이다. 따라서, 기존의 ESP들에도 제 1 실시예를 적용하는 것은 쉽다. 이러한 제 1 실시예에 따라, 제어 스파크 레이트 NR2가 도 5에 도시된 바와 같이 선택된다. 제 1 필드(10)의 버스-섹션(16)에 대해, 값 NR2가 예를 들면 분당 15개의 스파크-오버들이 될 수 있다. 제어 유닛(68)은 스파크 레이트를 계속 모니터링한다. 랩핑이 수행된 후에, 스파크 레이트는 화살표 SR1로 표시된 바와 같이, 곡선 SC를 따를 것이다. 제어 유닛(68)이, 스파크 레이트 NR이 미리 설정된 값 NR2에 도달했다고 검출하면, 제어 유닛(68)은 랩핑 디바이스(44)로 하여금 버스-섹션(16)의 수집 전극판들(30)을 랩핑하도록 한다. 그 후에, 스파크 레이트 NR은 그러한 랩핑의 결과로서 점선 화살표 SR2에 의해 표시된 바와 같이 감소된다. 따라서, 스파크 레이트가 미리 설정된 값 NR2에 도달하는 즉시 랩핑이 제어되고 발생하게 된다. 수집 전극판들(30) 상에서 수집된 분진 입자들의 양이 보일러 로드 등에 따라 가변할 수 있으므로, NR2에 대응하는 시간 TR2는 일정하지 않을 것이다. 종래 기술의 제어 방식과 반대로, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 제어 방법은 시간에 의존하는 것이 아니라, 필요할 때, 즉 스파크 레이트가 값 NR2에 도달할 때 랩핑을 개시하며, 값은 도 4에 도시된 바와 같이 분진 입자들의 급속히 증가하는 방출에 대응한다. 따라서, 제 1 실시예에 따라, 변화하는 로드들, 연료 품질, 연도 가스 속성들 등은 수집 전극판들(30)이 수집된 분진 입자들로 "채워지는" 즉시 랩핑이 수행되기 때문에, 그 상태로 되기 위해 1분 또는 2시간이 걸리든지에 상관없이, 자동으로 설명된다. 버스-섹션(16) 및 제어 유닛(68)에 의해 온라인으로 측정되는 스파크 레이트는 수집 전극판들(30)을 랩핑할 시간일 때의 측정으로서 이용되고, 상기 스파크 레이트는 모든 관련 파라미터들을 고려한다. 랩핑이 수행되어야 할 때의 이러한 제어는 수집 전극판들(30)의 수집 효율성이 막 떨어지려고 할 때 랩핑을 자동으로 개시하고, 버스-섹션(16)의 증가된 평균 수집 효율성을 유발한다.

NR2의 정확한 값은 상이한 방식으로 계산될 수 있다. 한 가지 방식은 조정 측정(calibration measurement)을 수행하는 것이다. 이 측정에서, 버스-섹션(16) 직후의 분진 입자들의 방출 EM은 연속적으로 측정되고 랩핑으로부터 시작하여 이후 계속된다. 연도 가스 속성들, 연료 품질 및 연료 로드, 정류기(32)의 설정들 등과 같은 모든 동작 데이터는 가능한 일정하게 유지되어야 한다. 버스-섹션(16) 직후의 분진 입자들의 방출은 상이한 방식으로 측정될 수 있다. 한 방식은 버스-섹션(16)의 다운스트림에 가깝게 위치된 버스-섹션(20)의 정류기(36)의 전압 및/또는 전류를 분석함으로써 간접 측정을 수행하는 것이다. 버스-섹션(16)으로부터의 분진 입자들의 방출은 버스-섹션(20)의 정류기(36)의 전압 및/또는 전류의 행동 패 턴(behaviour)에서 "핑거프린트(fingerprint)"를 생성할 것이다. 예를 들면, 버스-섹션(16)으로부터의 분진 입자들의 증가된 방출은 버스-섹션(20)의 정류기(36)의 전압의 증가로서 관측될 수 있다. 따라서, 버스-섹션(20)의 정류기(36)의 전압을 연구함으로써 버스-섹션(16)으로부터의 분진 입자들의 방출이 최대 수용 가능한 값에 도달할 때를 간접적으로 결정하는 것이 가능하다. 제 1 버스-섹션(16) 직후의 분진 입자들의 방출을 측정하는 다른 방식은 버스-섹션(16) 직후의 분진 입자들의 방출을 측정하기 위하여, 버스-섹션(16)과 버스-섹션(20) 사이에 도입되는 불투명도 분석기와 같은 분진 입자 분석기를 이용하는 것이다. 방출 EM이 버스-섹션(16)에 대해 미리 설정된 최대 허용 가능한 값에 도달하면, 대응하는 제어 스파크 레이트 NR2는 제어 유닛(68)으로부터 판독된다. NR2의 값은 그 후에 랩핑을 제어하는데 이용되고, 분진 입자들의 방출의 다른 측정들은 필요하지 않는다. 버스-섹션에 대해 NR2에 대한 적당한 값을 찾기 위한 대안적인 방식들로 테스트들이 수행될 수 있음을 알 것이다. NR2에 대한 적당한 값을 찾을 때의 다른 기준을 이용하는 것이 또한 가능하다. NR2를 선택하기 위한 하나의 이러한 대안적인 기준은 다운스트림 버스-섹션(20)에서 최소 수의 스파크-오버들과 동시에, 버스-섹션(16)에서 최소 수의 랩핑 이벤트들 쪽으로 되도록 노력하는 것이다. NR2에 대한 최적의 값은 한 필드(10)의 병렬 버스-섹션들(16, 18) 사이에도 또한 그 조건들의 일부 변동들이 항상 있기 때문에, 전기 집진기(1)의 각각의 버스-섹션에 대해 특정할 것이다. 더욱이, 동일한 설계를 갖지만 상이한 전력 스테이션들에서 설치되는 전기 집진기들 사이에도 차이들이 있을 것이다.

NR2의 적당한 값들은 데이터베이스에서 수집될 수 있다. 이러한 데이터베이스에서, 상이한 연료들, 수집 전극판들의 상이한 기계적 설계들, 방전 전극들 및 랩핑 디바이스들 등에 대한 양호한 NR2의 값들이 수집될 수 있다. 그 후에, 새로운 전기 집진기(1)가 이용될 때, 그 새로운 전기 집진기(1)의 데이터에 기초하여 NR2에 대한 적당한 값을 상술된 데이터베이스에서 찾을 수 있다. 이러한 방식으로, 전기 집진기(1)의 각각의 특정 인스톨에 대해 조정 측정들이 행해질 필요가 없다.

NR2의 적당한 값을 결정하기 위한 다른 대안은 제어 유닛(68)을 이용하는 단계를 포함한다. 제어 유닛(68)은 스파크 레이트가 급속하게 증가하기 시작할 때 시간 TR1를 검색하도록 행해질 수 있다. 제어 유닛(68)은 곡선 SC의 파생물을 계산할 수 있다. 시간 TR1는 곡선 SC의 파생물이 갑자기 증가할 때의 시간 지점을 찾을 수 있다. 조심스러운 접근방식에 따라, NR2의 값은 시간 TR1에 대응하는 스파크 레이트의 값 NR으로 선택될 수 있다. 이러한 조심스러운 접근방식은, 랩핑 이벤트들의 개시를 과도하게 높은 빈도로 유발할 수 있기 때문에 항상 바람직한 것은 아니다. 수집된 분진 입자들이 수집 전극판들(30) 상에 소위 분진 "케이크들(cakes)"을 형성한다는 것을 배경으로 한다. 각 랩핑 이벤트 사이에 긴 시간이 있을 때, 이들 케이크들은 조밀해지며 더 큰 기계적 강도 및 무결(integrity)을 가진다. 수집 전극판들(30)이 랩핑될 때, 높은 강도의 분진 케이크는 호퍼(64)로 떨어지려 할 것이며 매우 작은 분진이 연도 가스(8)와 재혼합된다. 랩핑 이벤트를 개시하기 전에 가능한 한 조밀한 분진 케이크들을 가지려는 요망으로 인해, NR2의 값은 시간 TR1에서 발생하는 값보다 높은 값이 되도록 선택될 수 있다. 예를 들면, NR2는 TR = TR1 + TR1*0.3에서 스파크 레이트 NR의 값이 되도록 선택될 수 있다. 따라서, 예를 들면, 이것이 시간 TR1가 3분인 곡선 SC의 상기 언급된 도함수에 의해 찾게 되면, NR2는 조정 측정을 수행할 때 TR = 3분 +54초에 대응하는 NR의 값이 되도록 선택될 수 있다.

종래 기술에 관련되는 한에 있어서는, 얼마나 많은 분진 입자들이 수집 전극판들(30) 상에 존재하는지에 대해 본 명세서에 개시되지 않았다. 따라서, 일반적으로, 각각의 랩핑 사이에 경과되어야 하는 고정된 시간 TR0을 설정할 필요가 있다. 시간 TR0는 흔히, 다른 지식의 부족으로 인해, 예를 들면 도 5에 나타낸 바와 같이 매우 짧도록 설정되었다. TR0에서 랩핑함으로써, 이것은 랩핑이 매우 빈번히 이루어질 것을 의미하며, 랩핑과 연관된 분진 입자 방출 피크들이 더욱 빈번히 발생할 것을 의미하고, 따라서 분진 입자 방출의 총량의 증가를 유발한다. 또한, 종래 기술의 제어 방법의 이용과 흔히 연관되는 짧은 시간 TR0로 인해, 수집 전극판들(30) 상에서 형성된 분진 케이크는 매우 낮은 기계적 강도 및 무결성을 가질 수 있어서, 본 발명으로 얻어지는 것에 비해, 랩핑시 연도 가스와 혼합되는 더 많은 수집된 분진 입자들을 유발한다.

도 6은, 제어 유닛(68)이 랩핑 디바이스(44)로 하여금 버스-섹션(16)의 수집 전극판들(30)을 랩핑하도록 하기 위한 시간일 때 제어하기 위한 제어 방법에서 도 4의 결과들이 구현되는 방식의 제 2 실시예를 도시한다. 도 6과 관련하여 최상의 이해로서, 도 6에 도시된 시간 TR과 스파크 레이트 NR의 관계를 도시한 곡선 SC는 도 4 및 도 5에 도시된 곡선 SC와 동일하다. 이러한 제 2 실시예에 따라, 랩핑 디 바이스(44)는 특정 랩핑 레이트, 즉 시간 단위 당 특정 수의 랩핑 이벤트들로 랩핑을 수행한다. 랩핑 레이트는 스파크 레이트에 의해 제어되고, 스파크 레이트가 원하는 값에 도달할 때 랩핑 이벤트를 시작하는 랩핑 레이트를 찾기 위해 연속적으로 기초하여 변경된다. 이러한 제 2 실시예의 원리를 도시하는 예로서, 랩핑 레이트는 초기에 시간 당 15개의 랩핑 이벤트들로 설정될 수 있다. 이것은 각각의 랩핑 이벤트의 시작 사이에 경과될 시간이 4분임을 의미한다. 도 6을 참조하여, 랩핑 이벤트는 직전의 랩핑 이벤트의 시작 이후 4분의 시간 T1이 경과된 후에 시작된다. 직전의 랩핑 이벤트의 시작으로부터 T1이 계산되고, 따라서 T1의 시작은 후자가 직전의 랩핑 이벤트의 종료를 나타내기 때문에, TR = 0이 되기 전에 위치되어야 함을 유념해야 한다. 랩핑이 개시된 시간에서 스파크 레이트 N1은 예를 들면 10스파크-오버들/분(spark-overs/minute)이다. N1이 15스파크-오버들/분의 원하는 제어 스파크 레이트 NR2보다 낮기 때문에, 제어 유닛(68)은 랩핑 레이트를 감소시키도록 랩핑 디바이스(44)를 설정한다. 예를 들면, 제어 유닛(68)은 10 랩핑 이벤트들/시간의 랩핑 레이트로 랩핑 디바이스(44)를 설정함으로써 랩핑 레이트를 감소시킬 수 있으며, 즉, 6분의 시간 T2가 각각의 랩핑 이벤트의 시작 사이에서 경과할 것이다. 랩핑이 6분의 시간 T2 후에 수행될 때, 스파크 레이트 N2는 17스파크-오버들/분에 대응할 수 있다. 이것은 15스파크-오버들/분의 원하는 값 NR2보다 높기 때문에, 제어 유닛(68)은 그 후에, 12.5랩핑 이벤트들/시간의 랩핑 레이트로 랩핑 디바이스(44)를 설정함으로써 랩핑 레이트를 증가시킬 수 있다. 이러한 방식으로, 제어 유닛(68)은 랩핑 레이트를 얻기 위하여 랩핑 디바이스(44)의 랩핑 레이트를 점차적으 로 조율시키며, 여기서 랩핑은 스파크 레이트가 원하는 제어 스파크 레이트 NR2에 근접할 때 항상 수행된다. 보일러 상의 로드가 변경되고, 그에 의해 연도 가스(4)에서 분진 입자 농도 및/또는 연도 가스 흐름을 변경할 때, 랩핑 레이트가 조정될 것이며, 즉, 랩핑이 수행되는 시간에서 스파크 레이트가 원하는 제어 스파크 레이트 NR2에 근접하는 랩핑 레이트를 얻도록 랩핑 레이트가 제어 유닛(68)에 의해 증가되거나 감소될 것이다.

도 6이 스파크 레이트가 가능한 NR2에 근접할 때 랩핑이 발생하게 하는 랩핑 레이트를 찾는 간단한 방식을 도시하고 있지만, 대안적인 해법은 예를 들면, 스파크 레이트가 가능한 한 NR2에 근접할 때 랩핑이 발생하게 하는 방식으로 랩핑 레이트를 제어하는 PID-제어기를 이용하는 것이며, 즉, PID-제어기는 현재 상태들에서, 스파크 레이트가 NR2에 근접할 때 랩핑을 개시하는 랩핑 레이트를 찾도록 노력한다. 따라서, PID-제어기는 선택된 제어 스파크 레이트 NR2와 랩핑이 발생하는 현재 스파크 레이트 사이의 차이를 최소화하도록 노력한다. 더욱이, 스파크-오버들의 수가 미리 결정된 값을 초과하지 않도록 보장하기 위하여 스파크 레이트에 대한 안전한 상한을 이용하는 것이 가능하다. 현재 스파크 레이트가 스파크 레이트에 대한 안전한 상한에 도달하면, 랩핑 이벤트는 즉시 개시된다. 예를 들면, 스파크 레이트에 대한 이러한 안전한 상한은 도 6을 참조하여 이후 기술되는 실시예에서 18스파크-오버들/분이 될 수 있다. 따라서, 측정된 현재 스파크 레이트가 18 스파크-오버들/분에 도달하면, 제어 유닛(68)에 의해 랩핑이 즉시 지시된다. 랩핑이 초기에 발생하지 않도록 보장하기 위하여 스파크 레이트에 대한 안전한 하한을 이용하는 것 도 또한 가능하다. 이러한 스파크 레이트에 대한 안전한 하한은 8 스파크-오버들/분이 될 수 있다. 측정된 현재 스파크 레이트가 8 스파크-오버들/분에 도달하지 않으면, 랩핑 이벤트는 실행되도록 허용되지 않는다. 안전한 상한 및 하한은 랩핑 레이트의 제어가 이전에 기술된 PID-제어기에 의해 정상적으로 제어되는 값으로 설정된다. PID-제어기는 또한, 랩핑 이벤트가 특정한 범위 내에서만, 예를 들면 버스-섹션(16)에 대한 5 내지 20 랩핑 이벤트들/시간의 범위 내에서만 제어될 수 있도록 제한될 수 있다. 따라서, 측정된 현재 스파크 레이트에 기초하여 랩핑 이벤트를 제어하는 PID-제어기는 ESP에 대한 기계적 또는 전기적 손상의 위험이 없는 특정 안전한 "윈도우(window)" 내에서만 랩핑 이벤트를 제어하도록 허용된다. 랩핑 레이트를 제어하기 위한 PID-제어기 형태의 대안으로서, 다른 형태의 제어기들 및/또는 제어 기술을 이용하는 것이 또한 가능함을 알 것이다.

더욱 안정한 랩핑 레이트를 얻고, 이따금씩의 교란들을 필터링해내기 위해, 제어 유닛(68)은 여러 개의 이전 랩핑 이벤트들에 기초하여 랩핑 디바이스(44)의 랩핑 레이트의 설정을 변경할 때에 대한 판단을 구현할 수 있다. 예를 들면, 제어 유닛(68)은 10개의 이전 랩핑 이벤트들로부터 평균 스파크 레이트를 계산할 수 있다. 이로부터 얻어진 랩핑의 시작시 스파크 레이트의 평균에 기초하여, 제어 유닛(68)은 그 후에, NR2에 매우 근접한 랩핑의 시작시 스파크 레이트의 평균에 최종적으로 도달하기 위해 스파크 디바이스(44)의 랩핑 레이트의 변경에 영향을 미칠 수 있다.

도 4, 도 5 및 도 6을 참조하여, 이후, 버스-섹션(16)의 랩핑 레이트가 제어 되는 방법이 기술되었다. 따라서, 랩핑 디바이스(46)에 의해 수행된 랩핑의 제어를 실시하기 위하여 버스-섹션(16)에 대해 이전에 기술된 것과 동일한 방식으로, 즉 제어 유닛(70)을 채용함으로써, 제 1 필드(10)의 버스-섹션(18)의 랩핑을 제어하는 것이 또한 가능하다는 것을 알 것이다. 또한, 제 2 필드(12)의 버스-섹션(20)과 버스-섹션(22) 둘 다에 동일한 제어 방법을 채용하는 것이 또한 가능하다. 실제로, 도 4, 도 5 및 도 6을 참조하여 이전에 기술된 방법들에 따라 임의의 버스-섹션의 랩핑을 제어하는 것이 가능하다. 그러나, 동일한 경우들에 있어서, 분진 입자들의 두꺼운 케이크가 수집 전극판들(30)을 랩핑할 때 이따금씩 기둥처럼 보이는 큰 분진 입자 방출 피크를 유발하기 때문에, 스파크-오버들이 발생하는 최종 필드(14)의 버스-섹션들(24, 26)의 수집 전극판들(30) 상에 그러한 분진 입자들의 두꺼운 케이크를 형성하도록 허용하는 것은 유리하지 않다. 제 1 필드들, 즉 필드들(10 및 12)의 주 목적이 분진 입자들의 최대 제거를 달성하는 것이지만, 최종 필드인 필드(14)의 주 목적은 종종 분진 입자들의 마지막 몇 퍼센트들을 제거하는 것과, 임의의 가시적인 기둥들을 회피하는 것이다.

일련의 N개의 필드들을 갖는 전기 집진기(1)에서, N은 종종 2 내지 6이고, 도 4 내지 도 6을 참조하여 기술된 방법은 M = 1 내지 N - X개의(X는 일반적으로 1 내지 2) 필드들에 대해 이용되는 것이 바람직하다. 예를 들면, 도 1에 도시되고 일련의 3개의 필드들을 가진 전기 집진기(1)에서, 도 4 내지 도 6을 참조하여 기술된 방법은 제 1 및 제 2 필드들(10 및 12) 각각에 대해, 즉 N = 3 및 X = 1에 대해 이용되는 것이 바람직하다. 5개의 필드들을 가진 전기 집진기(1)에 대해, 도 4 내지 도 6을 참조하여 기술된 방법은 제 1의 3개 또는 4개의 필드들에 대해, 즉 N = 5 및 X = 1 또는 2에 대해 이용되는 것이 바람직하다.

전기 집진기(1)가 버스-섹션들의 2개의 병렬 로우들을 가지는 것으로 도 3에 도시되었고, 여기서 버스-섹션들(16, 20 및 24)이 제 1 로우(82)를 형성하고 버스-섹션들(18, 22 및 26)이 제 2 로우(84)를 형성하지만, 도 4 내지 도 6의 독창적 방법은 버스-섹션들의 임의 수의 병렬 로우들, 예를 들면 1 내지 4개의 병렬 로우들을 갖는 전기 집진기(1)와 함께 이용될 수 있다.

도 4 내지 도 6과 관련하여 이전에 기술된 방법은 종래 기술과 비교될 때 다수의 이점들을 제공한다. 이전에 기술된 바와 같이, 방법은 수집 전극판들(30) 상의 분진 입자들의 현재 로드를 온라인으로 측정하는 것을 가능하게 하는 방법이 기술되었다. 측정된 로드는 킬로그램 단위의 정확한 로드가 아니라, 현재 상태들에서 수집 전극판들(30)의 로드 용량에 관련되는 간접 로드이다. 수집 전극판들(30) 상의 로드를 측정하는 이 방법은 연도 가스(4)의 속성들, 분진 입자들의 속성들, 수집 전극판들(30)의 속성들 등과 같은 모든 관련 파라미터들을 고려하고, 따라서, 질량 기반 로드 측정보다는 더욱 의미심장하다. 양호한 실시예에 따라, 로드 측정은 수집 전극판들이 랩핑될 때를 제어하기 위해 이용된다. 특히, 그러한 제어는 랩핑이 수행되는 동안 제어를 제공하여, 필요할 때에만, 즉 분진 입자들의 방출이 더욱 고속으로 증가하기 시작했을 때에만 랩핑이 수행된다. 이전에 기술된 방법에 따라, 도 4 내지 도 6을 참조하여, 특정 시간 순간의 개별 버스-섹션(16 내지 26)의 스파크 레이트는 그 버스-섹션(16 내지 26)의 수집 전극판들(30) 상에서 그 특정 시간 순간의 분진 입자들의 로드의 간접 측정으로 이용된다. 수집 전극판들(30) 상의 분진 입자들의 추정된 현재 로드에 기초하여, 분진 입자 방출 EC이 높은 레벨들로 증가하기 전에 발생하도록 랩핑이 제어될 수 있다. 더욱이, 랩핑과 관련하여 분진의 재혼입으로 인해 발생하는 분진 입자 방출이 의미심장해질 만큼 흔하게 발생하지 않도록 하기 위하여 랩핑이 제어된다. 또한, 랩핑을 그다지 자주 하지 않음으로써, 랩핑 디바이스들(44 내지 54)의 해머들(56, 58)의 내구성 및 그와 관련된 전력 소비는 낮은 레벨로 유지된다.

본 발명의 제 2 양태에 따라, 제어 방법이 이용되어, 개별 버스-섹션(16 내지 26)의 랩핑이 전체 전기 집진기(1)로부터의 분진 입자들의 방출을 최소화하기 위하여 조정된다. 랩핑이 수행될 때, 수집 전극판들(30) 상의 이전에 수집된 분진 입자들의 일부는 연도 가스(8)와 다시 혼합되어, 상술된 바와 같이 연도 가스(8)에서 분진 입자 방출 피크로서 전기 집진기(1)를 떠난다. 종래 기술에 따라, 버스-섹션(16 내지 26) 중 2개에서 동시에 랩핑 이벤트가 시작될 수 없도록 랩핑이 조정된다. 따라서, 종래 기술에 이용된 기술에 따라, 버스-섹션(16)은 랩핑 동안 버스-섹션(16) 및 버스-섹션(18)으로부터 동시에 해방되는 분진 입자들이 연도 가스(8)로 전기 집진기(1)를 떠날 때, 2배 크기의 피크를 유발할 수 있기 때문에, 버스-섹션(18)과 동시에 랩핑되도록 허용되지 않는다.

도 7은 본 발명의 제 2 양태의 제 1 실시예에 따른 방법의 단계들의 시퀀스를 도시한다. 도 7에 도시된 예에서, 도 2 및 도 3에 도시된 버스-섹션들(16 및 20)을 예시하기 위해 참조되었다. 방법은, 버스-섹션들 중 하나가 다른 하나의 다 운스트림에 위치되는 한, ESP의 임의의 2개 이상의 버스-섹션들에 적용될 수 있다. 본 발명의 제 2 양태의 제 1 실시예에 따라, 버스-섹션이 랩핑되기 전에, 랩핑될 버스-섹션의 다운스트림에 위치된 버스-섹션이, 업스트림 버스-섹션의 랩핑 동안 재혼입되는 분진 입자들을 제거할 수 있음을 확실하게 된다. 도 7은 이 효과를 달성하는 제 1 실시예를 도시한다. 제 1 단계(90)에서, 처리 컴퓨터(80)에는, 제어 유닛(68)이 가까운 미래, 예를 들면 3분 내에 랩핑 이벤트가 개시되도록 하는, 제 1 버스-섹션, 예를 들면 버스-섹션(16)의 제어 유닛, 예를 들면 제어 유닛(68)으로부터의 입력이 제공된다. 제 2 단계(92)에서, 처리 컴퓨터(80)는, 제 1 버스-섹션(16)의 다운스트림에 가깝게 위치된 제 2 버스-섹션, 예를 들면 버스-섹션(20)의 제어 유닛, 예를 들면 제어 유닛(72)에게 제 2 버스-섹션(20)의 수집 전극판들(30)의 랩핑 상태에 대해 질의하며, 즉, 처리 컴퓨터(80)는 버스-섹션(20)의 수집 전극판들(30)이 언제 어떻게 최종 랩핑되었는지를 알고 싶어 한다. 제 3 단계(94)에서, 처리 컴퓨터(80)는 제 2 버스-섹션(20)이 제 1 버스-섹션(16)의 랩핑 동안 발생할 분진 입자들의 증가된 방출을 수용할 수 있는지의 여부를 결정한다. 이에 대한 기준은, 제 2 버스-섹션(20)의 최후의 랩핑 이후에 경과된 시간이 될 수 있다. 제 2 버스-섹션(20)의 수집 전극판들(30)이 얼마 동안 랩핑되지 않았다면, 예를 들면, 이들이 이전에 10분 내에 랩핑되지 않았다면, 처리 컴퓨터(80)는 제 2 버스-섹션(20)이 제 1 버스-섹션(16)의 랩핑으로부터 발생하는 분진 입자들의 증가된 방출을 수용할 준비가 되어 있지 않다고 결정할 수 있으며, 즉, 제 3 단계(94)에서 질문에 대한 대답은 도 7에 도시된 바와 같이 "NO"이고, 그에 의해 처리 컴퓨터(80) 는 제 4 단계(96)로 진행한다. 제 4 단계(96)에서, 처리 컴퓨터(80)는 제 1 버스-섹션(16)의 제어 유닛(68)에 랩핑 이벤트를 시작하기 전에 대기하도록 명령하고, 동시에, 제 2 버스-섹션(20)의 제어 유닛(72)에 랩핑 이벤트를 즉시 시작하도록 명령한다. 그 후에 제 2 버스-섹션(20)의 제어 유닛(72)은 그 랩핑 디바이스, 즉 랩핑 디바이스(48)에, 제 2 버스-섹션(20)의 수집 전극판들(30)의 랩핑을 수행하도록 명령한다. 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑이 완료되면, 제 2 버스-섹션(20)의 수집 전극판들(30)은 정화되고 다시 한번 완전한 분진 수집 능력을 가진다. 랩핑이 "완료됨(completed)"은 랩핑 디바이스(48)가 그 동작을 중단한 것을 의미한다. 선택적으로, 랩핑 디바이스(48)가 그 동작을 중단한 후에 랩핑이 "완료됨"으로 간주될 때까지 약 0.5 내지 3분의 완화 시간이 허용된다. 완화 시간 동안, 제 2 버스-섹션(20)의 수집 전극판들(30)로부터 해방된 임의의 분진은 호퍼(64)로 떨어지거나, 제 2 버스-섹션(20)을 떠나기 위한 시간을 가지고, 다운스트림 버스-섹션에 진입한다. 제 5 단계(98)에서, 처리 컴퓨터(80)는 제 1 버스-섹션(16)의 제어 유닛(68)이 랩핑 디바이스(44)를 활성화함으로써 랩핑 이벤트를 시작하도록 허용한다. 제 3 단계(94)에서 응답이 "YES"이면, 이것은 제 2 버스-섹션(20)이 먼저 랩핑되지 않고 제 2 버스-섹션(20)이 제 1 버스-섹션(16)의 랩핑으로부터의 분진 입자들을 수용할 수 있음을 의미하며, 그러면 처리 컴퓨터(80)는 도 7에 도시된 바와 같이, 제 3 단계(94)에서 제 5 단계(98)로 즉시 진행하고, 따라서 제 1 버스-섹션(16)은 랩핑을 시작하도록 허용된다.

도 8a는 종래 기술에 따른 동작의 예를 도시하고, 거기에서 곡선 AFF에 의해 제 1 필드(10)의 버스-섹션(16) 후에 측정된 분진 입자들의 방출 EM을 도시하고, 곡선 ASF에 의해 제 2 필드(12)의 버스-섹션(20) 후에 측정된 분진 입자들의 방출 EM을 도시한다. 도 8a에서 TR16에 의해 표시된 시간에서, 랩핑이 버스-섹션(16)에서 수행된다. 도 8a를 참조하여 알 수 있는 바와 같이, 버스-섹션(16)의 랩핑은 버스-섹션(16) 후에 측정된 분진 입자 방출 피크 PFF를 유발한다. 도 8a에 도시된 상태들에 따라, 버스-섹션(20)의 수집 전극판들(30)은 상당한 시간 동안 랩핑되지 않았다. 따라서, 버스-섹션(20)의 수집 전극판들(30)은 분진 입자들로 상당히 "채워졌다". 버스-섹션(16)후의 분진 입자 방출 피크 PFF는, 버스-섹션(20)의 수집 전극판들(30)이 대량의 분진 입자들을 이미 전달하고, 버스-섹션(20)의 증가된 스파크 및 결과로서 생긴 전압의 감소로 인해, 시간 TR16에서 발생하는 버스-섹션(16)의 랩핑에 의해 해방되는 분진 입자의 증가된 양의 상당량을 제거할 수 없기 때문에, 버스-섹션(20) 후에 PSF1에 의해 도 8a에 표시된 큰 분진 입자 방출 피크를 유발한다. 요약하면, 버스-섹션(16)의 랩핑 동안 그로부터 해방되는 대량의 분진 입자들은 이미 상당히 "채워진" 버스-섹션(20)이, 감소된 전압 및 감소된 분진 제거 능력을 유발하는 높은 스파크 레이트의 상태에 도달하게 한다. 버스-섹션(20)의 제어 유닛(72)이 종래 기술의 방법에 따라, 동시에, 즉 버스-섹션(16)이 랩핑 이벤트에 있는 동안에 랩핑 이벤트를 시작하도록 허용되지 않기 때문에, 버스-섹션(20)은 랩핑 이벤트가 시작될 수 있을 때까지의 어떤 시간 기간을 대기해야 한다. 랩핑 이벤트가 버스-섹션(20)에서 시간 TR20에서 마침내 시작되면, 버스-섹션(20)의 넘치게 채워진 수집 전극판들(30)의 랩핑은 버스-섹션(20) 후에 측정된 PSF2에서 도 8a에 표시된 다른 분진 입자 방출 피크를 유발할 것이다. 따라서, 도 8a에 도시된 종래 기술의 방법에 따라, 각각 PSF1 및 PSF2에서 표시된 2개의 큰 분진 입자 방출 피크들이 발생했다. 도 8a에서 PSF1 및 PSF2에 표시된 이들 피크들은 버스-섹션(20)의 다운스트림에 위치된 임의의 다른 버스-섹션들 후에, 예를 들면 버스-섹션(24) 후에도 또한 측정된 분진 입자들의 증가된 방출을 유발할 것이고, 전기 집진기(1)를 떠나는 연도 가스(8)에서 측정되는 것 같은 분진 입자들의 증가된 방출을 유발할 것이다. 따라서, 도 8a에 도시된 종래 기술의 방법에 따른 제어 방식은 분진 입자들의 높은 정도의 방출을 유발한다.

도 8b는 도 7을 참조하여 상술된 본 발명의 제 2 양태에 따라 동작할 때의 분진 입자들의 방출을 도시한다. 제 1 필드(10)의 버스-섹션(16) 후에 측정된 분진 입자들의 방출 EM은 도 8b에서 곡선 AFF에 의해 도시되고, 제 2 필드(12)의 버스-섹션(20) 후에 측정된 분진 입자들의 방출 EM은 도 8b에서 곡선 ASF에 의해 도시된다. 본 발명의 제 2 양태에 따른 이러한 방법의 도 8b의 도시에 따라, 버스-섹션(16)의 제어 유닛(68)은 제 1 단계(90)에서 제어 유닛(68)이 곧, 예를 들면 다음 3분 내에 랩핑 이벤트를 시작하려는 것을 처리 컴퓨터(80)에게 통지한다. 처리 컴퓨터(80)는 그 후에, 버스-섹션(16)의 제어 유닛(68)으로부터 이러한 정보를 수신하는 것에 응답하여 도 7에 도시된 제 2 단계(92)에 따라, 버스-섹션(20)의 랩핑 상태를 체크하며, 버스-섹션(20)은 버스-섹션(16)의 다운스트림에 위치된다. 도 7에 도시된 제 3 단계(94)에서, 처리 컴퓨터(80)는 랩핑 이벤트가 버스-섹션(20)에서 적어도 10분 내에 시작되어야 하거나, 버스-섹션(20)의 스파크 레이트가 선택된 임계값보다 낮아야 하는 것과 같은 적당한 기준에 기초하여, 버스-섹션(20)이 버스-섹션(16)에서 랩핑 이벤트로부터 발생하는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있지 않다고 결정하며, 즉, 도 7에서 단계(94)에 도시된 질문에 대한 대답은 "NO"이다. 이러한 체크의 결과는 처리 컴퓨터(80)가 도 7에 도시된 제 4 단계(96)에 따라 버스-섹션(20)의 제어 유닛(72)에게 랩핑 디바이스(48)를 실질적으로 즉시 활성화함으로써 랩핑 이벤트를 시작하도록 명령한다. 버스-섹션(16)은 버스-섹션(20)의 랩핑 이벤트가 완료될 때까지 랩핑 이벤트를 시작하도록 허용되지 않는다. 버스-섹션(20)의 랩핑은 도 8b에 도시된 시간 TR20에서 수행된다. 시간 TR20에서 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑은 도 8b에 도시된 분진 입자 방출 피크 PSF1을 유발한다. 수집 전극판들(30)이 채워지기 전에 버스-섹션(20)의 랩핑 이벤트가 시작되기 때문에, 버스-섹션(20)에서 랩핑 이벤트로부터 유발된 피크 PSF1은 도 8b에서 보이는 바와 같이 매우 작다. 처리 컴퓨터(80)가 버스-섹션(20)의 랩핑 이벤트가 완료되었다고 결정하면, 즉 랩핑 디바이스(48)가 그 동작을 중단했고 그 후 예를 들면 2분의 완화 기간이 경과되었다고 결정하면, 처리 컴퓨터(80)는 도 7에 도시된 제 5 단계(98)에 따라 버스-섹션(16)의 제어 유닛(68)이 랩핑 이벤트를 시작하도록 허용한다. 버스-섹션(16)의 랩핑 이벤트는 도 8b에 도시된 시간 TR16에서 랩핑 디바이스(44)에 의해 실행된다. 도 8b에는 곡선 AFF가 버스-섹션(16) 후의 분진 입자들의 방출을 도시하고, 도 8b에 도시된 곡선 AFF은 버스-섹션(16)의 랩핑이 영향을 받지 않기 때문에 도 8a의 것과 유사하다고 볼 수 있다. 따라서, 버스-섹션(16)의 랩핑은 또한, 이 경우에 있어서 도 8b에 도시된 분진 입자 방출 피크 PFF를 유발한다. 도 8a에 도시된 종래 기술과 대조적으로, 제 2 버스-섹션(20)은 시간 TR16에서 깨끗한 수집 전극판들(30)을 가진다. 이러한 사실로 인해, 버스-섹션(20)은 버스-섹션(16)의 랩핑 이벤트로부터 유발된 분진 입자 방출 피크 PFF를 흡수할 준비가 잘 되어 있다. 도 8b를 참조하여 쉽게 명백해지는 바와 같이, 시간 TR16에서 버스-섹션(16)의 랩핑은 버스-섹션(20) 후의 작은 분진 입자 방출 피크 PSF2를 유발한다.

도 8a에 도시된 종래 기술과 도 8b에 도시된 본 발명의 제 2 양태의 방법을 비교하면, 그러한 비교로부터, 도 8b에 도시된 2개의 분진 입자 방출 피크들 PSF1 및 PSF2가 도 8a에 도시된 종래 기술 방법이 이용될 때 얻어지는 도 8a에 도시된 2개의 분진 입자 방출 피크들 PSF1 및 PSF2보다 훨씬 더 작다는 것을 알 수 있다. 따라서, 도 7에 도시된 방법은 동일한 기계적 구성요소들을 이용하지만 본 발명의 제 2 양태의 제 1 실시예에 따라 신규하고 독창적인 방식으로 이들을 제어함으로써 전기 집진기(1) 후의 분진 입자 방출을 실질적으로 감소시키는 것을 가능하게 한다. 따라서, 본 발명에 따른 제어 방법을 이용함으로써, 분진 입자 방출 요건, 예를 들면 6분 회전 평균으로서 연도 가스(8)에서 10mg/Nm³의 건조 가스를 종래 기술 방법들보다 소수의 필드들로 충족시키는 것이 가능할 수 있다. 도 7 및 도 8b를 참조하여 이전에 기술된 제어 방법은 전기 집진기(1)의 제거 효율성을 최대화할 것이다. 일부 경우들에 있어서, 이것은 종래 기술의 방법에 따라 ESP를 제어할 때 가능한 것에 비해, 더 소수의 필드들을 가지고 또는 더 작거나 더 소수의 수집 전극판들을 가지고 방출 요구들을 관리하는 것을 가능하게 할 것이다. 도 9는 본 발명의 제 2 양태의 제 2 실시예를 도시한다. 이 실시예에 따라, 처리 컴퓨터(80)는 처리 컴퓨터(80)가 제 1 버스-섹션(16)에서 랩핑 이벤트를 시작하도록 허용하기 전에 추가의 단계를 이용한다. 이 때문에, 도 9에 도시된 단계들은 도 7에 도시된 단계들(94 및 96) 사이에 삽입되고, 단계(94)에서 질문에 대한 대답이 "NO"인 경우에만 정상적으로 이용된다. 도 9를 참조하여 최상으로 이해되는 바와 같이, 단계(100)에서, 처리 컴퓨터(80)는 제 2 버스-섹션, 예를 들면 버스-섹션(20)의 다운스트림에 가깝게 위치된 제 3 버스-섹션, 예를 들면 버스-섹션(24)에서의 랩핑 상태를 체크한다. 도 9를 계속 참조하면, 단계(102)에서, 처리 컴퓨터(80)는 제 3 버스-섹션(24)이 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑 이벤트 동안 발생하는 분진 입자들의 증가된 방출을 수용할 수 있는지의 여부를 결정한다. 이러한 기준은 선택된 시간에 대한 제 3 버스-섹션(24)의 최후의 랩핑 이벤트, 또는 선택된 임계 스파크 레이트에 대한 제 3 버스-섹션(24)의 스파크 레이트 이후에 경과된 시간이 될 수 있다. 상기 선택된 시간 또는 상기 선택된 임계 스파크 레이트는, 실제 시간 또는 실제 스파크 레이트가 상기 선택된 시간 또는 선택된 임계 스파크 레이트보다 각각 아래에 있는 경우 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑 이벤트 동안 발생하는 분진 입자들의 증가된 방출을 제 3 버스-섹션(24)이 캡처할 수 있도록 선택된다. 제 3 버스-섹션(24)의 수집 전극판들(30)이 얼마 동안 랩핑되지 않았다면, 예를 들면, 최근 10시간 내에 랩핑되지 않았다면, 또는 스파크 레이트가 예컨대 분당 12 스파크-오버들보다 높다면, 처리 컴퓨터(80)는 제 3 버스-섹션(24)이, 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑으로부터 유발된 분진 입자들의 증가된 방출을 수용할 준비가 되어 있지 않다고 결정할 수 있 으며, 즉, 도 9에 도시된 단계(102)에서 질문에 대한 대답은 "NO"이고, 이와 같이 처리 컴퓨터(80)는 도 9에 도시된 단계(104)로 진행한다. 단계(104)에서, 처리 컴퓨터(80)는 제 1 버스-섹션(16)의 제어 유닛(68)과 제 2 버스-섹션(20)의 제어 유닛(72)에게 랩핑 이벤트를 시작하게 전에 대기하도록 명령한다. 처리 컴퓨터(80)는 또한, 제 3 버스-섹션(24)의 제어 유닛(76)에게, 제 3 버스-섹션(24)의 랩핑 디바이스, 예를 들면 랩핑 디바이스(52)를 활성화함으로써 랩핑 이벤트를 실질적으로 즉시 시작하도록 명령한다. 제 3 버스-섹션(24)의 랩핑 이벤트가 완료되었으면, 제 3 버스-섹션(24)의 수집 전극판들(30)은 완전한 분진 수집 능력을 가질 것이다. 최종적으로, 도 9에 도시된 단계(106)에 따라, 처리 컴퓨터(80)는 제 2 버스-섹션(20)의 제어 유닛(72)이 랩핑 디바이스(48)의 활성화의 결과로서 랩핑 이벤트를 시작하도록 허용한다. 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑은 그 후에 도 7에 도시된 단계(96)에 따라 수행된다. 단계(102)에서 대답이 "YES"이면, 즉 제 3 버스-섹션(24)이 최근에 랩핑되었으면, 처리 컴퓨터(80)는 도 9를 참조하여, 단계(102)에서 단계(106)로 즉시 진행하고, 따라서 제 2 버스-섹션(20)은 도 7에 도시된 단계(96)에 따라 랩핑 이벤트를 시작하도록 즉시 허용된다.

랩핑이 다운스트림 버스-섹션에서 수행된 이후의 시간이 업스트림 버스-섹션의 랩핑에 앞서 버스-섹션이 랩핑되어야 하는지의 여부의 측정으로서 취해진다고 이전에 기술되었지만, 대안적인 실시예들이 또한 가능함을 알 것이다. 예를 들면, 본 발명의 제 1 양태와 관련하여 이전에 상술된 바와 같이, 다운스트림 버스-섹션에서 현재 스파크 레이트를 측정하는 것과, 다운스트림 버스-섹션의 수집 전극판 들(30) 상의 현재 로드의 표시로서 측정된 현재 스파크 레이트를 이용하는 것이 가능하다. 따라서, 제어 유닛(68)은 다운스트림 버스-섹션에서의 측정된 현재 스파크 레이트에 기초하여, 업스트림 버스-섹션을 랩핑하기에 앞서 다운스트림 버스-섹션이 랩핑되어야 하는지를 결정할 수 있다.

도 10은 본 발명의 제 2 양태의 제 3 실시예를 도시한다. 제 3 실시예에서, 업스트림의 제 1 버스-섹션의 랩핑의 제어는 업스트림 제 1 버스-섹션의 랩핑보다 다운스트림 제 2 버스-섹션의 랩핑이 선행되게 하는 방식으로 수행된다. 제 1 단계(190)에서, 처리 컴퓨터(80)에는 제어 유닛(68)이 가까운 미래, 예를 들면 3분 이내에 랩핑 이벤트가 개시되도록 하는, 제 1 버스-섹션, 예를 들면 버스-섹션(16)의 제어 유닛, 예를 들면 제어 유닛(68)으로부터의 입력이 제공된다. 제 2 단계(192)에서, 처리 컴퓨터(80)는 제 1 버스-섹션(16)의 다운스트림에 위치된 제 2 버스-섹션, 즉 버스-섹션(20)의 제어 유닛, 즉 제어 유닛(72)에게 랩핑 이벤트를 즉시 시작하도록 명령한다. 제 2 버스-섹션(20)의 제어 유닛(72)은 그 후에, 랩핑 디바이스, 즉 랩핑 디바이스(48)에게, 제 2 버스-섹션(20)의 수집 전극판들(30)의 랩핑을 수행하도록 명령한다. 제 3 단계(194)에서, 처리 컴퓨터(80)는, 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑이 완료되어 제 2 버스-섹션(20)의 수집 전극판들(30)이 정화되었고 완전한 분진 수집 능력을 가졌는지를 체크한다. 제 3 단계(194)에서의 체크가 출력 "NO"를 제공하면, 제 3 단계(194)의 체크는 어떤 시간 후, 예를 들면 30분 후에, 출력이 "YES"가 될 때까지 반복되며, "YES"는 제 2 버스-섹션(20)의 수집 전극판들(30)이 정화되었고 제 1 버스-섹션(16)의 수집 전극판들(30)의 랩핑에 의해 유 발되는 분진 입자 방출을 수집할 준비가 되어 있음을 의미한다. 제 4 단계(196)에서, 처리 컴퓨터(80)는 제 1 버스-섹션(16)의 제어 유닛(68)이 도 10에 도시된 바와 같이 랩핑 이벤트를 시작하도록 허용한다. 도 10을 참조하여 기술된 바와 같이, 본 발명의 제 2 양태의 제 3 실시예는 업스트림 제 1 버스-섹션이 랩핑되기 전에 다운스트림 제 2 버스-섹션이 자동으로 랩핑되는 방법을 제공하는 것을 알 것이다. 이러한 방식으로, 다운스트림 제 2 버스-섹션이 업스트림 제 1 버스-섹션의 랩핑으로부터 유발된 분진 입자 방출을 수집할 준비가 되어 있는 것이 항상 보장될 것이다. 업스트림 제 1 버스-섹션은 주 분진 입자 수집기의 역할을 할 것이고, 다운스트림 제 2 버스-섹션은 업스트림 제 1 버스-섹션에서 수집되지 않은 임의의 남아있는 분진 입자들을 제거하는 보호 버스-섹션의 역할을 할 것이다.

도 10을 참조하여 다운스트림 제 2 버스-섹션(20)이 업스트림 제 1 버스-섹션(16)의 각각의 랩핑에 앞서 랩핑되는 것이 이전에 기술되었지만, 다운스트림 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑을 대안적인 방식들로 제어하는 것이 또한 가능하다. 하나의 대안적인 방법에 따라, 다운스트림 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑 이벤트는 업스트림 제 1 버스-섹션(16)에서 랩핑 이벤트를 개시하는 두 번째 경우마다에만 앞서 개시되므로, 업스트림 제 1 버스-섹션(16)의 2개의 연속하는 랩핑 이벤트들은 다운스트림 제 2 버스-섹션(20)의 하나의 랩핑 이벤트에 대응할 것이다. 명백하게, 일부 경우들에 있어서, 도 10에 도시된 본 발명의 제 2 양태의 이러한 제 3 실시예에 따라 동작할 때, 업스트림 제 1 버스-섹션(16)에서 랩핑 이벤트를 개시하는 세 번째마다, 또는 네 번째 이상마다의 경우에만 앞서, 다운스트림 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑 이벤트를 개시하기에도 충분할 수 있다.

더욱이, 업스트림 버스-섹션이 랩핑 이벤트를 개시하도록 허용할 때까지, 처리 컴퓨터(80)가 다운스트림 버스-섹션의 랩핑 이벤트가 종료되었는지를 체크한다고 이전에 기술되었다. 다른 가능성은 다운스트림 버스-섹션의 랩핑 이벤트의 종료가 업스트림 버스-섹션의 랩핑 이벤트의 개시를 자동으로 트리거하도록 제어 방법을 설계하는 것이다. 이러한 제어는 일부 경우들에서 랩핑의 보다 신속한 제어를 유발할 수 있다.

도 11은 본 발명의 제 2 양태의 제 4 실시예를 도시한다. 도 11은, 4개의 버스-섹션들(116, 118, 120 및 122)을 연속으로 배치시킨 전기 집진기, ESP(101)를 개략적으로 도시한다. 연도 가스(104)는 제 1 버스-섹션(116)에 진입한 후, 제 2 버스-섹션(118)에, 제 3 버스-섹션(120)에, 최종적으로 제 4 버스-섹션(122)에 계속 진입한다. 정화된 연도 가스(108)는 제 4 버스-섹션(122)을 떠난다. 제 1 버스-섹션(116) 및 제 2 버스-섹션(118)은 버스-섹션들의 제 1 쌍(124)을 형성하고, 여기서 제 1 버스-섹션(116)이 주 수집 유닛으로서 동작할 것이고, 제 2 버스-섹션(118)이 제 1 버스-섹션(116)에 의해 제거되지 않은 분진 입자들을 수집하는 보호 버스-섹션으로서 동작할 것이다. 따라서, 버스-섹션들의 제 1 쌍(124)의 제 1 버스-섹션(116) 및 제 2 버스-섹션(118)은 도 10을 참조하여 이전에 기술된 방식으로 동작될 수 있으며, 즉, 도시되지 않은 처리 컴퓨터가 제 1 버스-섹션(116)이 랩핑 이벤트를 수행하도록 허용하기 전에, 제 2 버스-섹션(118)의 랩핑 이벤트를 지시할 것이다. 제 3 버스-섹션(120) 및 제 4 버스-섹션(122)은 버스-섹션들의 제 2 쌍(126)을 형성하고, 여기서 제 3 버스-섹션(120)이 주 수집 유닛으로서 동작할 것이고, 제 4 버스-섹션(122)이 제 3 버스-섹션(120)에 의해 제거되지 않은 분진 입자들을 수집하는 보호 버스-섹션으로서 동작할 것이다. 버스-섹션들(120, 122)의 제 2 쌍(126)을 형성하는 제 3 버스-섹션(120) 및 제 4 버스-섹션(122)은 도 10을 참조하여 이전에 기술된 방식으로 동작될 수 있으며, 즉, 도시되지 않은 처리 컴퓨터가 제 3 버스-섹션(120)이 랩핑 이벤트를 수행하도록 허용하기 전에, 제 4 버스-섹션(122)의 랩핑 이벤트를 지시할 것이다. 따라서, 도 11의 실시예는, 각각의 버스-섹션(116, 118, 120, 122)이 하나의 특정 작업을 위해 최적화된 방식으로 제어되는 ESP(101)를 도시한다. 제 1 및 제 3 버스-섹션들(116, 120)은 최대 제거 효율성을 위해 제어된다. 이들 2개의 버스-섹션들(116, 120) 중 어느 하나에서 랩핑 이벤트를 수행할 필요성은 도 4 내지 도 6을 참조하여 이전에 기술된 방식, 즉 스파크 레이트가 이들 버스-섹션들(116, 120)의 수집 전극판들(30) 상의 분진 입자들의 현재 로드의 측정치로서 이용되는 방식으로 분석되는 것이 바람직하다. 더 바람직하게는, 각각의 버스-섹션들(116, 120)의 수집 전극판들(30) 상의 분진 입자들의 측정된 로드는 각각의 버스-섹션들(116, 120)의 도 11에 도시되지 않은 제어 유닛이, 랩핑 이벤트가 특정 버스-섹션(116, 120)에 대해 수행될 필요가 있다는 요청을 처리 컴퓨터에 전송해야할 때를 제어하기 위해 이용된다. 이러한 방식으로, 제 1 및 제 3 버스-섹션들(116, 120)은 그들 각각의 수집 전극판들(30)이 분진 입자들로 채워질 때에만 랩핑된다. 제 2 및 제 4 버스-섹션들(118, 122)은 업스트림 버스-섹션(116, 120) 각각에서 수집되지 않은 분진 입자들을 제거하기 위한 최대 능력을 가지고, 특히 각각의 업스트림 버스-섹션(116, 120)의 랩핑 동안 발생된 분진 입자 방출 피크들을 제거하기 위한 최대 능력을 가지도록 제어된다. 이러한 방식으로, 버스-섹션들(118 및 120)은 단독으로 절대 "채워지지" 않게 될 수 있고, 버스-섹션들(116, 120)은 분진의 대부분을 제거할 것이고, 버스-섹션들(118 및 122)은 버스-섹션들의 쌍(124, 126)을 빠져나가기 위해 버스-섹션들(116, 120) 각각으로부터 대부분 재혼입되는 분진을 방지하기 위한 보호 버스-섹션들로 기능할 것이다. ESP를 도 11을 참조하여 기술된 바와 같은 버스-섹션들의 쌍들로 분할하는 방식은 짝수의 버스-섹션들을 가지는 임의의 ESP에 이용될 수 있다. 짝수가 아닌 버스-섹션들을 가진 ESP에 대해, 최종 버스-섹션은 최종 쌍의 버스-섹션들의 보호 버스-섹션의 랩핑 동안 발생하는 분진 입자 방출 피크들의 최대 제거를 위해 제어되는 여분의 보호 버스-섹션으로서 이용될 수 있다. 도 1 내지 도 3의 ESP(1)과 유사하고, 3개의 버스-섹션들을 연속으로 가지는 ESP에서, 버스-섹션들(24, 26)은 여분의 보호 버스-섹션이 되는 기능을 가질 수 있다. 버스-섹션들의 각 쌍(124, 126)의 2개의 버스-섹션들이 상이한 주요 목적들을 가질 것이라는 사실로 인해, 이들은 또한, 그 주요 목적을 위해 각각의 버스-섹션(116, 118, 120, 122)을 더욱 최적화하도록 기계적 설계에 대해, 예를 들면 수집 전극판들(30)의 크기 및 수에 대해 상이한 방식들로 설계될 수 있다.

본 발명의 제 2 양태의 다양한 실시예들에 따라, 도 7, 도 8b, 도 9, 도 10 및 도 11을 참조하여 최상으로 이해되는 바와 같이, 랩핑은 전기 집진기(1)로부터의 분진 입자들의 방출이 종래 기술의 방법들에 비해 감소되는 방식으로 조정된다. 따라서, 본 발명의 제 2 양태의 다양한 실시예들은, 케이스(9) 및 그 내용물의 기계적 설계를 변경할 필요 없이 전기 집진기(1)로부터의 분진 입자들의 방출을 감소시키는 것을 가능하게 한다.

본 발명의 본질을 벗어나지 않고 본 발명의 제 1 및 제 2 양태들의 다양한 실시예들의 여러 변동들이 가능하다.

예를 들면, 처리 컴퓨터(80)는 버스-섹션들의 제 1 로우(82) 및 버스-섹션들의 제 2 로우(84)가 로우들(82 및 84) 둘다에서 랩핑이 동시에 수행되지 않게 동작하도록 기능을 설계할 수 있다. 특히, 제 1 필드(10)의 버스-섹션들(16, 18)이 동시에 랩핑되는 것을 회피하도록 시도하는 것이 바람직할 것으로 생각된다. 이 때문에, 처리 컴퓨터(80)는 버스-섹션들(16 및 18)의 랩핑이 스태거 방식(staggered manner)으로 수행되도록 랩핑의 제어를 실시함으로써 이를 처리하도록 설계될 수 있다. 스태거 방식은 버스-섹션(18)이 랩핑되기 전에 버스-섹션(16)의 랩핑이 예를 들면 3분의 대기 시간이 뒤따른 후, 버스-섹션(16)이 다시 랩핑된 후에 예를 들면 3분의 다른 대기 시간이 있는 것을 의미한다. 그러나, 기본 제어 방법은, 도 7, 도 8b 및 도 9에 도시된 것, 즉 주어진 버스-섹션의 랩핑이, 주어진 버스-섹션의 버스-섹션 다운스트림이 주어진 버스-섹션의 랩핑으로부터 유발된 분진 입자들의 증가된 방출을 처리할 수 있다고 확인된 경우에만 허용되는 것이다.

도 9를 참조하여 이전에 기술된 본 발명의 제 2 양태의 제 2 실시예는 다음의 일련의 절차상의 체크들을 보여준다: 제 1 버스-섹션에서 랩핑을 허용하기 위하여, 도 7의 단계(92)에 따라 제 2 버스-섹션에서 랩핑이 필요하다고 결정하기 위한 체크가 먼저 이루어진다. 제 2 버스-섹션에서 랩핑이 요구되면, 도 9의 단계(100)에 따라, 제 3 버스-섹션에서 랩핑이 요구되는지의 여부를 결정하기 위한 체크가 이루어진다. 따라서, 모든 3개의 버스-섹션들은, 제 2 버스-섹션에 대해 제 1 버스-섹션의 관점으로부터 제 1 체크가 이루어지고, 제 3 버스-섹션에 대해 제 2 버스-섹션의 관점으로부터 제 2 체크가 이루어지도록 함께 링크된다. 3개의 연속하는 버스-섹션들을 함께 링크하는 이러한 방식의 대안은, 제 2 버스-섹션 또는 제 3 버스-섹션이 제 1 버스-섹션에서 랩핑이 수행될 수 있기 전에 랩핑될 필요가 있는지를 알기 위하여, 제 2 및 제 3 버스-섹션들 둘다에 대해 동시에 제 1 버스-섹션의 관점으로부터 하나의 조합된 체크가 이루어지게 하는 것이다.

일부 예들에서, 제 2 버스-섹션, 예를 들면 버스-섹션(20)의 랩핑이 버스-섹션(16)이 랩핑 이벤트의 시작을 요하는 사실 이외의 다른 이유들로 개시될 수 있음을 알 것이다. 예를 들면, 제 2 버스-섹션(20)의 스파크 레이트가 본 발명의 제 1 양태에 의해 결정되는 값 NR2에 도달하면 발생될 수 있으며, 이것은 도 4 내지 도 6을 참조하여 이전에 본 명세서에 기술되었다. 이러한 예에서, 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑 이벤트의 시작은 제 2 버스-섹션(20) 자체에 의해 트리거링되지만, 업스트림 버스-섹션에 어떤 특정한 상태들이 존재한다는 사실에 의해 트리거링되지 않는다. 그러한 경우에는, 또한, 랩핑 이벤트가 버스-섹션(20)에서 시작되도록 허용되기 전에, 후자가 랩핑되도록 요구되는지의 여부를 결정하기 위해 다운스트림 버스-섹션, 예를 들면, 버스-섹션(24)의 랩핑 상태를 체크하는 것이 바람직하다. 그러한 경우, 동작은 도 7을 참조하여 이전에 기술된 동작과 유사하며, 버스-섹션(20)은 도 7에 표시된 단계들이 관련되는 한 제 1 버스-섹션의 기능을 수행하고, 버스-섹션(24)은 제 2 버스-섹션의 기능을 수행한다.

또한, 도 7, 도 8B, 도 9 및 도 10을 참조하여 이전에 기술된 본 발명의 제 2 양태의 제 1, 제 2 및 제 3 실시예들은 3개의 연속하는 버스-섹션들(16, 20, 24)에 대해 도시되었음을 알 것이다. 더욱이, 도 11을 참조하여 이전에 기술된 본 발명의 제 2 양태의 제 4 실시예는 4개의 연속하는 버스-섹션들(116, 118, 120, 122)에 대해 도시되었다. 그러나, 본 발명의 제 2 양태는 그 본질을 벗어나지 않고, 2개 이상으로부터 임의 수의 연속하는 버스-섹션들에 유용함을 이해해야 한다. 흔히, 본 발명의 재 2 양태는, 2 내지 5개의 연속하는 버스-섹션들, 즉 2 내지 5개의 필드들을 가진 전기 집진기(1)가 이용된다. 전기 집진기의 제 1의, 2개, 3개 또는 4개의 버스-섹션들이 제어되는 것이 이전에 기술되었다. 본 발명의 제 2 양태의 본질을 벗어나지 않고, 전기 집진기의 흡입구에 가깝게 위치된 버스-섹션/들을 제어하는 것을 회피하는 것이 또한 가능함을 알 것이다. 1 내지 6의 번호가 매겨진 6개의 연속하는 버스-섹션들을 가진 전기 집진기에서, 따라서 본 발명의 제 2 양태에 따라 3 내지 5의 번호가 매겨진 버스-섹션만을 제어하는 것이 가능하며, 그 경우, 버스-섹션 번호 3은 "제 1 버스-섹션"으로 간주되고, 버스-섹션 번호 4는 "제 2 버스-섹션" 등으로 간주된다. 따라서, 본 발명의 제 2 양태는, 전기 집진기 어디에든 위치된 임의의 둘 이상의 연속하는 버스-섹션들에 적용될 수 있고, "제 1 버스-섹션"은 그 버스-섹션이 전기 집진기의 흡입구에 반드시 가장 가깝게 위치될 필요가 없음이 명백하다. 더욱이, "제 2 버스-섹션"은 "제 1 버스-섹션"의 다운스트림에 가깝게 위치될 필요가 없고, "제 1 버스-섹션"의 다운스트림에 멀리 위치될 수도 있다. 그러나, "제 2 버스-섹션"은 "제 1 버스-섹션"의 다운스트림에 가깝게 위치되는 것이 종종 바람직하다.

도 4 내지 도 6을 참조하여 이전에 기술된 본 발명의 제 1 양태는 하나 이상의 버스-섹션들을 가진 전기 집진기의 각 버스-섹션들에 대해 이용될 수 있다.

상술된 실시예들의 다양한 변형들은 첨부된 특허청구범위 내에서 가능하다는 것을 알 것이다.

본 명세서에 도시되고 기술된 바와 같이, 처리 컴퓨터(80)는 모든 제어 유닛들(68 내지 78)을 제어하도록 기능한다. 그러나, 또한 본 발명의 본질을 벗어나지 않고, 제어 유닛들 중 하나, 바람직하게 최종 필드(14)에 위치된 제어 유닛(76) 또는 제어 유닛(78)을, 제어 유닛들 중 상기 하나가 다른 제어 유닛들에 걸쳐 제어를 가지고 다른 제어 유닛들에 명령들을 전송하도록 동작하는 마스터 제어기로서 기능하도록 정렬하는 것이 가능하다.

이전에, 해머들이 랩핑을 위해 이용되었다고 기술되었다. 그러나, 본 발명의 본질을 벗어나지 않고, 다른 형태의 랩퍼들, 예를 들면, MIGI-랩퍼들이라고도 알려진 소위 자기 임펄스 중력 충격 랩퍼들(magnetic impulse gravity impact rapper)로 랩핑을 실행하는 것이 또한 가능하다.

도 1에 도시된 것에 따라, 각 랩핑 디바이스(44, 48, 52)에는 각각의 수집 전극판(30)의 업스트림 단부를 랩핑하도록 적응된 제 1 세트의 해머들(56)과, 각각의 수집 전극판(30)의 다운스트림 단부를 랩핑하도록 적응된 제 2 세트의 해머 들(58)이 구비되어 있다. 대안적으로, 각 랩핑 디바이스에는 제 1 세트의 해머들(56) 및 제 2 세트의 해머들(58) 중 하나만이 구비되어, 각각의 수집 전극판(30)이 그 업스트림 단부 또는 다운스트림 단부에서 랩핑되는 것임을 알 것이다.

Claims (17)

1. 전기 집진기(1; 101)로부터의 분진 입자 방출을 제어하는 방법에 있어서:

   상기 전기 집진기(1; 101)에서 적어도 제 1 버스-섹션(16; 116) 및 적어도 제 2 버스-섹션(20; 118)을 이용하는 단계로서, 이들 각각은 적어도 하나의 수집 전극판(30), 적어도 하나의 방전 전극(28) 및 전원(32, 36)을 포함하는, 상기 이용 단계;

   상기 제 1 버스-섹션(16; 116)의 랩핑 이벤트(rapping event)가 막 개시되려고 하는지를 관측하는 단계로서, 상기 랩핑 이벤트는 그에 축적된 분진 입자들을 제거할 목적으로 상기 제 1 버스-섹션(16; 116)의 적어도 하나의 수집 전극판(30)을 랩핑하는 것을 포함하는, 상기 관측 단계;

   상기 제 1 버스-섹션(16; 116)의 상기 랩핑 이벤트가 개시되도록 허용하기 전에, 상기 전기 집진기(1; 101)에서 연도 가스(flue gas; 4; 104)의 흐름 방향에 대해 상기 제 1 버스-섹션(16; 116)의 다운스트림에 위치되는 상기 제 2 버스-섹션(20; 118)이 상기 제 1 버스-섹션(16; 116)의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방(release)되는 상기 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하는 단계; 및

   상기 제 2 버스-섹션(20; 118)이 상기 제 1 버스-섹션(16; 116)의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 상기 분진 입자들을 수용할 준비가 되었다고 검증된 후에, 상기 제 1 버스-섹션(16; 116)의 상기 랩핑 이벤트를 개시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 분진 입자 방출 제어 방법이고,

   상기 제 1 버스-섹션(16)의 다운스트림에 위치되는 상기 제 2 버스-섹션(20)이 상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 상기 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하는 상기 단계는:

   상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트를 개시하는 상기 단계에 앞서, 상기 제 2 버스-섹션(20)의 적어도 하나의 수집 전극판(30)이 랩핑되도록, 상기 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑 이벤트를 개시하는 단계를 추가로 포함하는, 분진 입자 방출 제어 방법.
2. 제 1 항에 있어서,

   상기 제 2 버스-섹션(20; 118)은 상기 제 1 버스-섹션(16; 116)의 다운스트림에 가깝게 위치되는, 분진 입자 방출 제어 방법.
3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,

   상기 제 1 버스-섹션(16; 116)은 상기 전기 집진기(1)의 연도 가스 흡입구(2)에 위치되는, 분진 입자 방출 제어 방법.
4. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,

   상기 전기 집진기(1)는 임의 수의 버스-섹션들을 포함하고, 상기 임의 수의 버스-섹션들 중 적어도 3개는 버스-섹션들(16, 20, 24)의 그룹을 형성하고, 그러한 그룹은 적어도 제 1 버스-섹션(16), 상기 전기 집진기(1)에서 상기 연도 가스(4)의 흐름 방향에 대해 상기 제 1 버스-섹션(16)의 다운스트림에 위치되는 제 2 버스-섹션(20), 및 상기 전기 집진기(1)에서 상기 연도 가스(4)의 흐름 방향에 대해 상기 제 2 버스-섹션(20)의 다운스트림에 위치되는 제 3 버스-섹션(24)을 포함하며, 상기 버스-섹션들의 그룹의 상기 버스-섹션들(16, 20, 24) 각각의 랩핑은:

   상기 그룹의 버스-섹션들 중 하나의 랩핑 이벤트가 막 개시되려고 하는지를 관측하고,

   상기 버스-섹션들 중 상기 하나의 상기 랩핑 이벤트가 개시되도록 허용하기 전에, 상기 그룹에 포함되고 상기 버스-섹션들 중 상기 하나의 다운스트림에 가깝게 위치된 버스-섹션이 상기 버스-섹션들 중 상기 하나의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하고,

   상기 그룹에 포함되고 상기 버스-섹션들 중 상기 하나의 다운스트림에 가깝게 위치된 상기 버스-섹션이 상기 버스-섹션들 중 상기 하나의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 상기 분진 입자들을 수용할 준비가 되었다고 검증된 후에, 상기 버스-섹션들 중 상기 하나의 상기 랩핑 이벤트를 개시함으로써 제어되는, 분진 입자 방출 제어 방법.
5. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,

   상기 전기 집진기는 적어도 3개의 연속하는 버스-섹션들(16, 20, 24)을 포함하고, 상기 제 2 버스-섹션(20)이 상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 상기 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하는 상기 단계는:

   상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트를 개시하기 전과, 상기 제 2 버스-섹션(20)의 그러한 랩핑 이벤트가 개시되도록 허용하기 전에, 상기 제 2 버스-섹션(20)에서 랩핑 이벤트가 실행되어야 한다고 확립된 경우에, 상기 전기 집진기(1)에서 상기 연도 가스(4)의 흐름 방향에 대해 상기 제 2 버스-섹션(20)의 다운스트림에 위치되는 제 3 버스-섹션(24)이 상기 제 2 버스-섹션(20)의 상기 랩핑 이 벤트 동안에 해방되는 상기 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하는 단계를 추가로 포함하는, 분진 입자 방출 제어 방법.
6. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,

   상기 전기 집진기는 임의 수의 버스-섹션들(116, 118, 120, 122)을 포함하고, 상기 임의 수의 버스-섹션들의 짝수는 버스-섹션들의 쌍들(124, 126)로 나누어지고, 각각의 그러한 쌍은 제 1 버스-섹션(116, 120)과, 상기 전기 집진기(101)에서 상기 연도 가스(104)의 흐름 방향에 대해 상기 제 1 버스-섹션(116, 120)의 다운스트림에 위치되는 제 2 버스-섹션(118, 122)을 포함하고, 상기 쌍들의 각각의 쌍(124, 126)의 상기 제 1 및 제 2 버스-섹션들의 랩핑은:

   상기 쌍의 상기 제 1 버스-섹션(116, 120)의 랩핑 이벤트가 막 개시되려고 하는지를 관측하고,

   상기 제 1 버스-섹션(116, 120)의 상기 랩핑 이벤트가 개시되도록 허용하기 전에, 상기 쌍의 상기 제 2 버스-섹션(118, 122)이 상기 제 1 버스-섹션(116, 120)의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하고,

   상기 제 2 버스-섹션(118, 122)이 상기 제 1 버스-섹션(116, 120)의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 상기 분진 입자들을 수용할 준비가 되었다고 검증된 후에, 상기 쌍(124, 126)의 상기 제 1 버스-섹션(116, 120)의 상기 랩핑 이벤트를 개시함으로써 제어되는, 분진 입자 방출 제어 방법.
7. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,

   상기 전기 집진기(101)는 적어도 4개의 연속 버스-섹션들(116, 118, 120, 122)을 포함하고, 상기 방법은:

   상기 전기 집진기의 제 3 버스-섹션(120)의 랩핑 이벤트가 막 개시되려고 하는지를 관측하는 단계로서, 상기 제 3 버스-섹션(120)은 상기 전기 집진기(1; 101)에서 상기 연도 가스(104)의 흐름 방향에 대해 상기 제 2 버스-섹션(118)의 다운스트림에 위치되고, 상기 랩핑 이벤트는, 그에 축적된 분진 입자들을 제거할 목적으로 상기 제 3 버스-섹션(120)의 적어도 하나의 수집 전극판(30)을 랩핑하는 것을 포함하는, 상기 관측 단계;

   상기 제 3 버스-섹션(120)의 상기 랩핑 이벤트가 개시되도록 허용하기 전에, 상기 연도 가스(104)의 흐름 방향에 대해 상기 제 3 버스-섹션(120)의 다운스트림에 위치되는 제 4 버스-섹션(122)이 상기 제 3 버스-섹션(120)의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하는 단계; 및

   상기 제 4 버스-섹션(122)이 상기 제 3 버스-섹션(120)의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 상기 분진 입자들을 수용할 준비가 되었다고 검증된 후에, 상기 제 3 버스-섹션(120)의 상기 랩핑 이벤트를 개시하는 단계를 추가로 포함하는, 분진 입자 방출 제어 방법.
8. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,

   상기 제 1 버스-섹션(16)의 다운스트림에 위치되는 상기 제 2 버스-섹션(20)이 상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 상기 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하는 상기 단계는:

   상기 제 2 버스-섹션(20)의 상기 적어도 하나의 방전 전극(28)과 상기 적어도 하나의 수집 전극판(30) 사이의 현재 스파크 레이트(the present sparking rate)를 측정하는 단계; 및

   상기 제 2 버스-섹션(20)의 상기 측정된 현재 스파크 레이트가 선택된 스파크 레이트를 초과하는 경우에, 상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트를 개시하는 상기 단계에 앞서, 상기 제 2 버스-섹션(20)의 적어도 하나의 수집 전극판(30)이 랩핑되도록, 상기 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑 이벤트를 개시하는 단계를 추가로 포함하는, 분진 입자 방출 제어 방법.
9. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,

   상기 제 2 버스-섹션(20)이 상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 상기 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하는 상기 단계는:

   상기 제 2 버스-섹션(20)이 최종 랩핑된 이후 경과된 시간을 결정하는 단계와, 상기 제 2 버스-섹션(20)이 최종 랩핑된 이후 경과된 상기 시간이 선택된 시간을 초과하는 경우, 상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트를 개시하는 상기 단계에 앞서, 상기 제 2 버스-섹션(20)의 적어도 하나의 수집 전극판(30)이 랩핑되도록, 상기 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑 이벤트를 개시하는 단계를 추가로 포함하는, 분진 입자 방출 제어 방법.
10. 삭제
11. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,

    상기 제 1 버스-섹션(16)의 다운스트림에 위치되는 상기 제 2 버스-섹션(20)이 상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 상기 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하는 상기 단계는:

    상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트를 개시하는 상기 단계에 앞서, 상기 제 2 버스-섹션(20)의 적어도 하나의 수집 전극판(30)을 랩핑할 필요성을 예측하는 단계; 및

    상기 예측에 의해 필요성이 발견되면, 상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트를 개시하는 상기 단계에 앞서, 상기 제 2 버스-섹션(20)의 적어도 하나의 수집 전극판(30)이 랩핑되도록, 상기 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑 이벤트를 개시하는 단계를 추가로 포함하는, 분진 입자 방출 제어 방법.
12. 전기 집진기(1; 101)의 동작을 제어하는 제어 시스템에 있어서:

    상기 제어 시스템(66)은 상기 전기 집진기(1; 101)의 제 1 버스-섹션(16; 116)의 랩핑 이벤트가 막 개시되도록 하는 입력을 수신하도록 적응되는 제어 디바이스(80)를 포함하고, 상기 랩핑 이벤트는 그에 축적된 분진 입자들을 제거할 목적으로 상기 제 1 버스-섹션(16)의 적어도 하나의 수집 전극판(30)을 랩핑하는 것을 포함하고, 상기 제어 디바이스(80)는 상기 전기 집진기(1; 101)의 제 1 버스-섹션(16; 116)의 랩핑 이벤트가 막 개시되도록 하는 상기 입력에 응답하여, 상기 전기 집진기(1; 101)에서 연도 가스(4; 104)의 흐름 방향에 대해 상기 제 1 버스-섹션(16; 116)의 다운스트림에 위치되는 제 2 버스-섹션(20; 118)으로, 상기 제 2 버스-섹션(20; 118)이 상기 제 1 버스-섹션(16; 116)의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지에 대한 질의(inquiry)를 전송하도록 적응되고, 상기 제어 디바이스(80)는 상기 제 2 버스-섹션(20; 118)이 상기 제 1 버스-섹션(16; 116)의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 상기 분진 입자들을 수용할 준비가 되었다고 검증된 후에, 상기 제 1 버스-섹션(16; 116)의 상기 랩핑 이벤트를 개시하도록 적응되는 것을 특징으로 하는, 전기 집진기(1; 101) 동작 제어 시스템이고,

    상기 제어 디바이스(80)는 상기 제 1 버스-섹션(16)의 상기 랩핑 이벤트를 개시하기에 앞서, 상기 제 2 버스-섹션(20)의 적어도 하나의 수집 전극판(30)이 랩핑되도록, 상기 제 2 버스-섹션(20)의 랩핑 이벤트를 개시하도록 적응되는, 전기 집진기(1; 101) 동작 제어 시스템.
13. 제 12 항에 있어서,

    상기 제 2 버스-섹션(20; 118)은 상기 제 1 버스-섹션(16; 116)의 다운스트림에 가깝게 위치되는, 전기 집진기(1; 101) 동작 제어 시스템.
14. 제 12 항 또는 제 13 항에 있어서,

    상기 제 1 버스-섹션(16)은 상기 전기 집진기(1)의 연도 가스 흡입구(2)에 위치되는, 전기 집진기(1; 101) 동작 제어 시스템.
15. 제 12 항 또는 제 13 항에 있어서,

    상기 제어 시스템은 임의 수의 버스-섹션들을 포함하는 전기 집진기(101)를 제어하도록 적응되고, 상기 임의 수의 버스-섹션들(116, 118, 120, 122)의 짝수는 버스-섹션들의 쌍들(124, 126)로 나누어지고, 각각의 그러한 쌍은 제 1 버스-섹션(116, 120)과, 상기 전기 집진기(101)에서 상기 연도 가스(104)의 흐름 방향에 대해 상기 제 1 버스-섹션(116, 120)의 다운스트림에 위치되는 제 2 버스-섹션(118, 122)을 포함하고, 상기 제어 시스템은:

    상기 쌍의 상기 제 1 버스-섹션(116, 120)의 랩핑 이벤트가 막 개시되려고 하는지를 관측하고,

    상기 제 1 버스-섹션(116, 120)의 상기 랩핑 이벤트가 개시되도록 허용하기 전에, 상기 쌍의 상기 제 2 버스-섹션(118, 122)이 상기 제 1 버스-섹션(116, 120)의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하고,

    상기 제 2 버스-섹션(118, 122)이 상기 제 1 버스-섹션의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 상기 분진 입자들을 수용할 준비가 되었다고 검증된 후에, 상기 쌍(124, 126)의 상기 제 1 버스-섹션(116, 120)의 상기 랩핑 이벤트를 개시함으로써, 상기 쌍들의 각각의 쌍의 상기 제 1 및 제 2 버스-섹션들의 상기 랩핑을 제어하도록 적응되는, 전기 집진기(1; 101) 동작 제어 시스템.
16. 제 12 항 또는 제 13 항에 있어서,

    상기 제어 시스템은 임의 수의 버스-섹션들을 포함하는 전기 집진기(1)를 제어하도록 적응되고, 상기 임의 수의 버스-섹션들 중 적어도 3개(16, 20, 24)는 버스-섹션들의 그룹을 형성하고, 그러한 그룹은 적어도 제 1 버스-섹션(16), 상기 전기 집진기(1)에서 상기 연도 가스(4)의 흐름 방향에 대해 상기 제 1 버스-섹션(16)의 다운스트림에 위치되는 제 2 버스-섹션(20), 및 상기 전기 집진기(1)에서 상기 연도 가스(4)의 흐름 방향에 대해 상기 제 2 버스-섹션(20)의 다운스트림에 위치되는 제 3 버스-섹션(24)을 포함하며, 상기 버스-섹션들의 그룹의 상기 버스-섹션들 각각의 랩핑은:

    상기 그룹의 버스-섹션들 중 하나의 랩핑 이벤트가 막 개시되려고 하는지를 관측하고,

    상기 버스-섹션들 중 상기 하나의 상기 랩핑 이벤트가 개시되도록 허용하기 전에, 상기 그룹에 포함되고 상기 버스-섹션들 중 상기 하나의 다운스트림에 가깝게 위치된 버스-섹션이 상기 버스-섹션들 중 상기 하나의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 분진 입자들을 수용할 준비가 되어 있는지를 검증하고,

    상기 그룹에 포함되고 상기 버스-섹션들 중 상기 하나의 다운스트림에 가깝게 위치된 상기 버스-섹션이 상기 버스-섹션들 중 상기 하나의 상기 랩핑 이벤트 동안에 해방되는 상기 분진 입자들을 수용할 준비가 되었다고 검증된 후에, 상기 버스-섹션들의 그룹 중 상기 버스-섹션들 중 상기 하나의 상기 랩핑 이벤트를 개시함으로써 제어되는, 전기 집진기(1; 101) 동작 제어 시스템.
17. 전기 집진기(1; 101)의 동작을 제어하는 제어 시스템에 있어서:

    상기 제어 시스템(66)은 상기 전기 집진기(1; 101)의 제 1 버스-섹션(16; 116)의 랩핑 이벤트가 막 개시되도록 하는 입력을 수신하도록 적응되는 제어 디바이스(80)를 포함하고, 상기 랩핑 이벤트는 그에 축적된 분진 입자들을 제거할 목적으로 상기 제 1 버스-섹션(16)의 적어도 하나의 수집 전극판(30)을 랩핑하는 것을 포함하고, 상기 제어 디바이스(80)는 상기 전기 집진기(1; 101)의 제 1 버스-섹션(16; 116)의 랩핑 이벤트가 막 개시되도록 하는 상기 입력에 응답하여, 상기 전기 집진기(1; 101)에서 연도 가스(4; 104)의 흐름 방향에 대해 상기 제 1 버스-섹션(16; 116)의 다운스트림에 위치되는 제 2 버스-섹션(20; 118)에서 랩핑 이벤트를 개시할 수 있도록 적응되고, 상기 제어 디바이스(80)는 상기 입력에 응답하여 상기 제 1 버스-섹션(16; 116)의 상기 랩핑 이벤트를 개시하도록 적응되고, 상기 제어 디바이스(80)는 상기 제 1 버스-섹션(16; 116)의 상기 랩핑 이벤트를 개시하기 전이라도 상기 제 2 버스-섹션(20; 118)의 상기 랩핑 이벤트를 개시할 수 있도록 적응되는 것을 특징으로 하는, 전기 집진기(1; 101) 동작 제어 시스템.

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