KR101178403B1 - Pcb substrate inspection apparatus - Google Patents

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KR101178403B1
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한충희
김기영
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주식회사 미르기술
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Abstract

PURPOSE: A PCB substrate inspection apparatus is provided to be used for various PCB substrates regardless of width by including a conveyor width adjusting member to control the distance between substrate transferring belts in a conveyor of an inspection unit. CONSTITUTION: An entry leads a PCB substrate to an inspection area. A first and a second inspection units(30,35) inspect the PCB substrate. A first and a second conveyor shuttle units(40,50) respectively transfer the PCB substrate to the first and the second inspection units. An outlet(60) let the PCB substrate out at the corresponding location of the entry. The entry and the outlet respectively include a conveyor belt.

Description

피시비 기판 검사장치{PCB SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS}PCB SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS {PCB SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS}

본 발명은 피시비 기판 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 효율적이면서도 신속하게 피시비 기판에 대한 검사를 수행할 수 있는 피시비 기판 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a PCB substrate inspection apparatus, and more particularly, to a PCB substrate inspection apparatus capable of performing inspection on an PCB substrate efficiently and quickly.

일반적으로, 인쇄회로기판(PCB 기판) 등에 표면실장부품을 조립하는 표면실장기술(SMT; Surface Mounting Technology)은 표면실장부품(SMD; Surface Mounting Device)을 소형화/집적화하는 기술과, 이러한 표면실장부품을 정밀하게 조립하기 위한 정밀조립장비의 개발 및 각종 조립장비를 운용하는 기술을 포함한다.In general, Surface Mounting Technology (SMT) for assembling surface-mount components in printed circuit boards (PCB substrates) is a technique for miniaturizing / integrating surface-mounting devices (SMD) and such surface-mounting components. It includes the development of precision assembly equipment for assembling precisely and operating various assembly equipment.

표면실장라인은 표면실장기와 비전검사장치와 같은 장비로 구성된다. 상기 표면실장기는 표면실장부품을 피시비 기판상에 실장하는 장비로서 Tape, Stick, Tray 형태로 공급되는 각종 표면실장부품을 부품공급기(Feeder)로부터 공급받아 피시비 기판 상의 실장위치에 올려놓는 작업을 수행한다.Surface mount lines consist of equipment such as surface mounters and vision inspection equipment. The surface mounter is a device for mounting a surface mount component on a PCB, and receives various surface mount components supplied in a tape, stick, and tray form from a feeder and places them on a mounting position on the PCB. .

그리고, 상기 비전검사장치는 표면실장부품의 납땜공정 완료전 또는 완료 후, 표면실장부품의 실장상태를 검사하며 검사결과에 따라 다음공정으로 피시비 기판(PCB)을 이송시키게 된다.The vision inspection apparatus inspects the mounting state of the surface mount component before or after the soldering process of the surface mount component is completed and transfers the PCB to the next process according to the inspection result.

통상적인 비전검사장치는 램프 등을 이용하여 광이 조사되는 조명부와, 상기 조명부의 상부에 설치되어 검사대상물에 실장된 각종 부품의 영상정보를 촬영하기 위한 카메라부를 포함하여 구성된다.A typical vision inspection apparatus includes a lighting unit to which light is irradiated using a lamp, and a camera unit which is installed on an upper portion of the lighting unit to photograph image information of various parts mounted on an inspection object.

통상적인 비전검사방법은, 컨베이어를 통해 검사대상물이 수평 이송되면 위치조절장치에서 초기 위치를 조절하고, 조절이 완료된 후에는 조명 등이 인쇄회로기판을 조사하고 카메라는 검사대상물인 각 표면실장부품과 리드부를 촬영한다.Conventional vision inspection method is to adjust the initial position in the positioning device when the inspection object is transported horizontally through the conveyor, and after the adjustment is completed, the lighting and the like irradiates the printed circuit board, and the camera and each surface-mounted component Take a picture of the lead.

이후, 상기 영상정보를 모니터로 출력하고 연산하여 검사대상물인 표면실장부품의 양/불량을 검사하거나, 표면실장부품의 실장 유/무를 검사하게 된다.Thereafter, the image information is output to the monitor and calculated to inspect the quantity / defect of the surface-mounted component which is the inspection object, or to check whether the surface-mounted component is mounted or not.

또다른 비전검사방법으로서는, 검사대상물인 피시비 기판 상에 격자를 통해 광을 조사하고, 조사된 광이 검사대상물의 표면에 비쳐 형성된 그림자 형상을 분석함으로써, 3차원적 높이를 측정하게 된다.As another vision inspection method, three-dimensional height is measured by irradiating light through a grating on a PCB substrate which is an inspection object and analyzing a shadow shape formed by the irradiated light on the surface of the inspection object.

이후 촬영 부분을 연산하고 기준값과 비교함으로써, 높이와 연관되는 부품 실장의 양호/불량을 검사하거나, 표면실장부품의 실장 유/무를 검사하게 된다. Then, by calculating the photographing part and comparing with the reference value, the inspection of the good / bad of the component mounting associated with the height, or the presence / absence of the mounting of the surface mounting component.

본 발명의 목적은 피시비 기판을 효율적이면서도 안정적으로 검사할 수 있는 피시기 기판 검사장치를 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an apparatus for inspecting a substrate substrate that can efficiently and stably inspect a PCB substrate.

본 발명의 또 다른 목적은, 피시비 기판에 대한 검사를 신속하게 수행할 수 있도록 함으로써 검사 수율을 향상시킬 수 있는 피시비 기판 검사장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a PCB substrate inspection apparatus which can improve inspection yield by enabling inspection of a PCB substrate quickly.

본 발명의 또 다른 목적은, 피시비 기판의 위치를 정밀하게 정렬할 수 있는 피시비 기판 검사장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a PCB substrate inspection apparatus capable of precisely aligning a PCB substrate.

본 발명의 또 다른 목적은, 검사 대상인 피시비 기판의 폭에 유연하게 대응할 수 있는 피시비 기판 검사장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a PCB substrate inspection apparatus that can flexibly correspond to the width of a PCB substrate to be inspected.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 피시비 기판 검사장치는 피시비 기판을 검사하기 위한 검사영역으로 피시비 기판을 인입하기 위한 인입부와, 상기 피시비 기판을 검사하기 위한 한쌍의 제 1, 제 2 검사부와, 인입된 피시비 기판을 상기 제 1, 제 2 검사부로 각각 이송시키기 위한 한쌍의 제 1, 제 2 컨베이어셔틀부와, 상기 인입부와 대향된 위치에서 검사가 완료된 피시비 기판을 배출하기 위한 배출부를 포함하며, 상기 제 1 검사부에서 검사가 수행될 경우, 상기 제 2 컨베이어셔틀부가 피시비 기판을 인입 또는 배출하며, 상기 제 2 검사부에서 검사가 수행될 경우, 상기 제 1 컨베이어 셔틀부가 피시비 기판을 인입 또는 배출하도록 구성된다.The PCB substrate inspection apparatus according to the present invention for achieving the above object includes a lead portion for introducing the PCB substrate into the inspection region for inspecting the PCB substrate, a pair of first and second inspection portions for inspecting the PCB substrate; And a pair of first and second conveyor shuttle portions for transferring the inserted PCB substrate to the first and second inspection portions, respectively, and a discharge portion for discharging the PCB substrate which has been inspected at a position opposite to the lead portion. When the inspection is performed in the first inspection unit, the second conveyor shuttle unit introduces or discharges the PCB. When the inspection is performed in the second inspection unit, the first conveyor shuttle unit introduces or discharges the PCB. It is configured to.

여기서, 상기 인입부와 배출부는 위치 고정된 상태로 배치되며, 한쌍의 컨베이어 벨트를 각각 포함하여 구성될 수 있다.Here, the inlet and the outlet are arranged in a fixed position, and may include a pair of conveyor belts, respectively.

바람직하게는, 상기 한쌍의 제 1, 2 컨베이어셔틀부는 상기 인입부의 한쌍의 컨베이어 밸트에 의한 피시비 기판의 이송 방향에 수직한 방향으로 왕복 이동되도록 구성된다.Preferably, the pair of first and second conveyor shuttles are configured to reciprocate in a direction perpendicular to the conveying direction of the PCB substrate by the pair of conveyor belts of the inlet portion.

여기서, 상기 제 1, 2 컨베이어셔틀부는 피시비 기판을 상기 배출부 방향으로 이송시키기 위한 한쌍의 검사부컨베이어를 각각 포함할 수 있다.In this case, the first and second conveyor shuttle unit may include a pair of inspection unit conveyor for transferring the PCB substrate in the discharge direction.

바람직하게는, 상기 검사부컨베이어는 각각 한쌍의 피시비 기판 이송용 롤러와 피시비 기판 이송용 벨트를 포함한다.Preferably, the inspection unit conveyor each comprises a pair of PCB substrate transfer roller and the PCB substrate transfer belt.

또한, 상기 검사부컨베이어는 피시비 기판을 탄성적으로 지지하기 위한 피시비기판지지부를 포함하여 구성될 수 있다.In addition, the inspection unit conveyor may be configured to include a PCB substrate support for elastically supporting the PCB substrate.

바람직하게는, 상기 검사부컨베이어는 상기 한쌍의 피시비 기판 이송용 롤러와 피시비 기판 이송용 벨트의 간격을 조절하기 위한 컨베이어폭조절부재를 포함한다.Preferably, the inspection unit conveyor includes a conveyor width adjusting member for adjusting the distance between the pair of PCB substrate transfer roller and the PCB substrate transfer belt.

또한, 상기 검사부컨베이어는 피시비 기판의 진행을 가로막기 위해 상하방향으로 이동되도록 구성되는 기판멈춤부재를 포함할 수 있다.In addition, the inspection unit conveyor may include a substrate stop member configured to be moved in the vertical direction to block the progress of the PCB substrate.

또한, 상기 검사부컨베이어는 피시비 기판을 상기 한쌍의 피시비 기판 이송용 벨트에 의해 이송되는 방향에 수직한 방향으로 변위시키기 위한 피시비정렬부재를 포함할 수 있다.In addition, the inspection unit conveyor may include a PCB sorting member for displacing the PCB substrate in a direction perpendicular to the direction conveyed by the pair of PCB substrate transfer belt.

바람직하게는, 상기 검사부컨베이어는 상기 컨베이어셔틀부 내에서 피시비 기판의 이송방향에 수직한 방향으로 왕복이동되도록 구성된다.Preferably, the inspection unit conveyor is configured to reciprocate in a direction perpendicular to the conveying direction of the PCB substrate in the conveyor shuttle.

추가적으로, 상기 검사컨베이어는 피시비 기판의 인입을 감지하기 위한 인입감지센서를 포함할 수 있다.Additionally, the inspection conveyor may include an inlet detection sensor for detecting an inlet of the PCB.

한편, 상기 컨베이어셔틀부는 상기 검사컨베이어의 위치를 감지하기 위한 위치감지센서를 포함할 수 있다.On the other hand, the conveyor shuttle unit may include a position detecting sensor for detecting the position of the inspection conveyor.

본 발명에 의해, 피시비 기판을 효율적이면서도 안정적으로 검사할 수 있다.According to the present invention, the PCB substrate can be inspected efficiently and stably.

또한, 피시비 기판에 대한 검사를 신속하게 수행할 수 있도록 함으로써 검사 수율을 향상시킬 수 있다.In addition, the inspection yield can be improved by allowing the inspection of the PCB substrate to be performed quickly.

또한, 피시비 기판의 위치를 정밀하게 정렬할 수 있다.In addition, the position of the PCB substrate can be precisely aligned.

또한, 검사 대상인 피시비 기판의 폭에 유연하게 대응할 수 있는 피시비 기판 검사장치를 제공하는 것이다.Moreover, it is providing the PCB substrate inspection apparatus which can respond flexibly to the width of the PCB substrate which is a test object.

도 1 은 본 발명에 따른 피시비 기판 검사장치의 사시도이다.
도 2 는 본 발명에 따른 피시비 기판 검사장치의 평면도이다.
도 3 은 컨베이어셔틀부의 평면도이다.
도 4 는 검사부컨베이어의 사시도이다.
도 5 는 검사부의 사시도이다.1 is a perspective view of a PCB substrate inspection apparatus according to the present invention.
2 is a plan view of a PCB substrate inspection apparatus according to the present invention.
3 is a plan view of the conveyor shuttle unit;
4 is a perspective view of the inspection unit conveyor.
5 is a perspective view of the inspection unit.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 구성을 상세히 설명하기로 한다. Hereinafter, the configuration of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어는 사전적인 의미로 한정 해석되어서는 아니되며, 발명자는 자신의 발명을 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절히 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여, 본 발명의 기술적 사상에 부합되는 의미와 개념으로 해석되어야 한다.Prior to this, the terms used in the specification and claims should not be construed in a dictionary sense, and the inventor may, on the principle that the concept of a term can be properly defined in order to explain its invention in the best way And should be construed in light of the meanings and concepts consistent with the technical idea of the present invention.

따라서, 본 명세서에 기재된 실시예 및 도면에 도시된 구성은 본 발명의 바람직한 실시예에 불과할 뿐이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 표현하는 것은 아니므로, 본 출원 시점에 있어 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 존재할 수 있음을 이해하여야 한다.Therefore, the embodiments shown in the present specification and the drawings are only exemplary embodiments of the present invention, and not all of the technical ideas of the present invention are presented. Therefore, various equivalents It should be understood that water and variations may exist.

도 1 은 본 발명에 따른 피시비 기판 검사장치의 사시도이며, 도 2 는 본 발명에 따른 피시비 기판 검사장치의 평면도이며, 도 3 은 컨베이어셔틀부의 평면도이며, 도 4 는 검사부컨베이어의 사시도이며, 도 5 는 검사부의 사시도이다.1 is a perspective view of a PCB substrate inspection apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a plan view of a PCB substrate inspection apparatus according to the present invention, FIG. 3 is a plan view of a conveyor shuttle unit, FIG. 4 is a perspective view of an inspection unit conveyor, and FIG. 5 Is a perspective view of an inspection part.

도 1 내지 5 를 참조하면, 본 발명에 따른 피시비 기판 검사장치는 피시비 기판을 검사하기 위한 검사영역(10)으로 피시비 기판을 인입하기 위한 인입부(20)와, 상기 피시비 기판을 검사하기 위한 한쌍의 제 1 (30), 제 2 검사부(35)와, 인입된 피시비 기판을 상기 제 1 (30), 제 2 검사부(35)로 각각 이송시키기 위한 한쌍의 제 1, 제 2 컨베이어셔틀부(40, 50)와, 상기 인입부와 대향된 위치에서 검사가 완료된 피시비 기판을 배출하기 위한 배출부(60)를 포함하며, 상기 제 1 검사부(30)에서 검사가 수행될 경우, 상기 제 2 컨베이어셔틀부(50)가 피시비 기판을 인입 또는 배출하며, 상기 제 2 검사부(35)에서 검사가 수행될 경우, 상기 제 1 컨베이어셔틀부(40)가 피시비 기판을 인입 또는 배출하도록 구성된다.1 to 5, a PCB substrate inspection apparatus according to the present invention includes an inlet 20 for inserting a PCB into an inspection region 10 for inspecting a PCB and a pair for inspecting the PCB. A pair of first and second conveyor shuttles 40 for transferring the first 30 and second inspection units 35 and the incoming PCB to the first 30 and second inspection units 35, respectively. 50) and a discharge part 60 for discharging the PCB substrate which has been inspected at a position opposite to the inlet part, and when the inspection is performed at the first inspection part 30, the second conveyor shuttle The unit 50 draws in or ejects the PCB, and when the inspection is performed in the second inspection unit 35, the first conveyor shuttle 40 is configured to draw or eject the PCB.

상기 인입부(20)는 이전 공정으로부터 피시비 기판을 전달받기 위한 구성으로서, 간격이 조절가능하도록 구성되는 한쌍의 컨베이어벨트(22, 24)를 포함하여 상기 검사영역의 전방에 위치 고정된 상태로 배치된다.The inlet 20 is configured to receive a PCB substrate from a previous process, and includes a pair of conveyor belts 22 and 24 configured to be adjustable in a distance, and arranged in a fixed position in front of the inspection area. do.

상기 한쌍의 검사부(30, 35)는 피시비 기판에 대한 비전 검사를 수행할 수 있도록 카메라와 렌즈 및 각종의 조명수단을 포함하여 구성되며, X, Y 방향으로 이동될 수 있도록 한쌍의 횡방향이동가이드부재(32, 33) 상에서 이동가능하게 배치된 종방향이동가이드부재(34, 36) 상에 이동 가능하게 배치된다. The pair of inspection units 30 and 35 include a camera, a lens, and various lighting means to perform vision inspection on the PCB substrate, and a pair of lateral movement guides to move in the X and Y directions. It is arranged to be movable on the longitudinal movement guide members 34 and 36 movably disposed on the members 32 and 33.

상기 한쌍의 컨베이어셔틀부(40, 50)는 상기 검사영역(10) 내에서 상기 인입부(20)로부터 피시비 기판을 전달받아 상기 검사부(30, 35) 아래로 피시비 기판을 배치하기 위한 구성이다.The pair of conveyor shuttle units 40 and 50 receive the PCB substrate from the inlet unit 20 in the inspection region 10 and arrange the PCB substrate under the inspection units 30 and 35.

따라서, 상기 한쌍의 제 1, 2 컨베이어셔틀부(40, 50)는 상기 인입부(20)의 한쌍의 컨베이어 밸트(22, 24)에 의한 피시비 기판의 이송 방향에 수직한 방향으로 왕복 이동되도록 구성된다.Accordingly, the pair of first and second conveyor shuttles 40 and 50 are configured to reciprocate in a direction perpendicular to the conveying direction of the PCB substrate by the pair of conveyor belts 22 and 24 of the inlet 20. do.

상기 배출부(60)는 상기 인입부(20)와 같이 간격이 조절가능하게 구성되는 한쌍의 컨베이어 벨트(62, 64)를 포함하여 상기 검사영역(10)의 후방에 위치 고정된 상태로 배치된다.The discharge part 60 includes a pair of conveyor belts 62 and 64 that are configured to be adjustable in intervals, such as the inlet part 20, and is disposed in a fixed position behind the inspection area 10. .

상기 제 1, 2 컨베이어셔틀부(40, 50)는 피시비 기판을 상기 배출부(60) 방향으로 이송시키기 위한 도 4 에 도시된 검사부컨베이어(41)를 각각 포함한다.The first and second conveyor shuttle parts 40 and 50 each include an inspection part conveyor 41 shown in FIG. 4 for transferring the PCB substrate in the discharge part 60 direction.

상기 검사부컨베이어(41)는 각각 한쌍의 피시비 기판 이송용 롤러(43)와 피시비 기판 이송용 벨트(45)를 포함한다.The inspection unit conveyor 41 includes a pair of PCB substrate transfer rollers 43 and a PCB substrate transfer belt 45, respectively.

그리하여, 피시비 기판 이송용 벨트 구동모터(48)를 구동함으로써, 피시비 기판을 상기 인입부(20)로부터 전달받고 상기 배출부(60)로 전달할 수 있다.Thus, by driving the belt driving motor 48 for transferring the PCB substrate, the PCB substrate can be received from the inlet 20 and transferred to the discharge unit 60.

상기 검사부컨베이어(41)는 피시비 기판을 탄성적으로 지지하기 위한 지지핀(47)이 설치된 피시비기판지지부(46)를 포함한다.The inspection unit conveyor 41 includes a PCB support 46 provided with a support pin 47 for elastically supporting the PCB.

그리하여, 상기 검사부컨베이어(41)에 피시비 기판이 장착되었을 경우 피시비 기판을 탄성적으로 지지함으로써, 피시기 기판의 휨을 방지한다.Thus, when the PCB substrate is mounted on the inspection unit conveyor 41, the PCB substrate is elastically supported to prevent bending of the substrate substrate.

또한, 상기 검사부컨베이어(41)는 한쌍의 피시비 기판 이송용 벨트 사이의 간격을 조절하기 위한 컨베이어폭조절부재(47)를 포함한다.In addition, the inspection unit conveyor 41 includes a conveyor width adjusting member 47 for adjusting the interval between a pair of belt for conveying the PCB substrate.

그리하여, 검사의 대상이 되는 피시비 기판의 종류에 따른 폭 크기에 따라 유연하게 대처가능하도록 구성된다.Therefore, it is comprised so that it may be flexibly coped with according to the width | variety size according to the kind of PCB substrate to be tested.

상기와 같은 컨베이어 폭 조절을 위해 상기 검사부컨베이어(41)에는 하나 이상의 컨베이어폭감지센서(56)가 설치된다.In order to adjust the conveyor width as described above, the inspection unit conveyor 41 is provided with one or more conveyor width detection sensors 56.

한편, 상기 검사부컨베이어(41)에는 피시비 기판이 상기 피시비 기판 이송용 벨트(45)에 의해 적절한 위치에 정지하도록 하는 기판멈춤부재(49)를 포함한다.On the other hand, the inspection unit conveyor 41 includes a substrate stopping member 49 for stopping the PCB substrate in a proper position by the PCB substrate transfer belt 45.

상기 기판멈춤부재(49)는 예를 들어, 에어 실린더와 같은 구성에 의해 상하 방향으로 이동될 수 있도록 구성되어, 피시비 기판을 정해진 위치에 정지시켜야 할 경우에는 하강하여 피시비 기판을 가로막도록 구성되고, 검사가 완료된 피시비 기판을 상기 배출부(60) 방향으로 이송시켜야 할 경우에는 상승되어 피시비 기판의 이송을 방해하지 않도록 구성된다.The substrate stop member 49 is configured to be movable in the vertical direction by, for example, a configuration such as an air cylinder, and when configured to stop the PCB substrate at a predetermined position, it is configured to descend to block the PCB substrate, When it is necessary to transfer the inspection PCB substrate in the direction of the discharge unit 60 is configured to be raised so as not to disturb the transfer of the PCB substrate.

따라서, 상기 검사부컨베이어(41)의 일측에는 피시비 기판을 감지할 수 있는 피시비감지센서(53)가 하나 이상 설치된다.Therefore, at least one PCB detection sensor 53 may be installed at one side of the inspection unit conveyor 41 to detect the PCB.

상기 기판멈춤부재(49)에 의해 정해진 위치에 피시비 기판이 배치되면 상기 피시비기판지지부(46)가 상승되면서 상기 지지핀(47)이 피시비 기판을 탄성적으로 지지하게 된다.When the PCB substrate is disposed at the position defined by the substrate stop member 49, the PCB substrate support part 46 is lifted, and the support pin 47 elastically supports the PCB substrate.

이때 피시비지지플레이트(52)도 함께 상승되어 피시비 기판의 가장자리부분을 연속적으로 지지함으로써, 피시비 기판이 전체적으로 평탄한 상태가 되도록 지지하게 된다. At this time, the PCB support plate 52 is also raised to continuously support the edge portion of the PCB substrate, thereby supporting the PCB substrate as a whole.

또한, 상기 검사부컨베이어(41)는 피시비 기판을 상기 한쌍의 피시비 기판 이송용 벨트(45)에 의해 이송되는 방향에 수직한 방향으로 밀어붙이기 위한 피시비정렬부재(51)를 포함한다.In addition, the inspection unit conveyor 41 includes a PCB alignment member 51 for pushing the PCB substrate in a direction perpendicular to the direction transferred by the pair of PCB substrate transfer belts 45.

그리하여, 상기 피시비정렬부재(51)가 설치된 프레임의 맞은편 프레임(42) 방향으로 피시비 기판을 밀어붙여 피시비 기판의 위치를 정렬하게 된다.Thus, the PCB substrate is pushed in the direction of the frame 42 opposite to the frame on which the PCB alignment member 51 is installed to align the position of the PCB substrate.

상기 검사부컨베이어(41)는 상기 컨베이어셔틀부(40) 내에서 피시비 기판의 이송방향에 수직한 방향으로 왕복이동되도록 구성된다.The inspection unit conveyor 41 is configured to reciprocate in the direction perpendicular to the conveyance direction of the PCB substrate in the conveyor shuttle unit 40.

상기와 같은 검사부컨베이어(41)의 왕복 이동을 위해, 상기 검사부컨베이어(41)는 상기 컨베이어셔틀부(40) 내에서 컨베이어이송용볼스크류축(58) 및 컨베이어이송가이드(59) 상에 설치되어, 컨베이어이송용모터(57)의 구동에 의해 왕복이동된다.In order to reciprocate the inspection unit conveyor 41 as described above, the inspection unit conveyor 41 is installed on the conveyor screw ball shaft 58 and the conveyor transfer guide 59 in the conveyor shuttle unit 40, It is reciprocated by the drive of the conveyor motor 57.

여기서, 상기 검사부컨베이어(41)의 상기 컨베이어셔틀부(40) 내에서의 위치를 감지하기 위해 상기 컨베이어셔틀부(40)에는 하나 이상의 셔틀위치감지센서(55)가 설치된다.Here, one or more shuttle position detecting sensors 55 are installed in the conveyor shuttle unit 40 to detect the position in the conveyor shuttle unit 40 of the inspection unit conveyor 41.

그리하여, 상기 제 1 검사부(30)에서 검사가 수행될 경우, 상기 제 2 컨베이어셔틀부(50)가 피시비 기판을 상기 인입부(20)로부터 인입하거나 상기 배출부(60)로 배출하도록 구성되며, 상기 제 2 검사부(35)에서 검사가 수행될 경우, 상기 제 1 컨베이어셔틀부(40)가 피시비 기판을 상기 인입부(20)로부터 인입하거나 상기 배출부(60)로 배출하도록 구성된다.Thus, when the inspection is performed in the first inspection unit 30, the second conveyor shuttle unit 50 is configured to draw the PCB substrate from the inlet 20 or to discharge to the discharge unit 60, When the inspection is performed in the second inspection unit 35, the first conveyor shuttle unit 40 is configured to draw the PCB substrate from the inlet unit 20 or to discharge the inlet unit 60.

또한, 상기와 같이 위치 고정된 인입부(20)의 컨베이어벨트(22, 24) 이송 방향에 대해 수직한 방향으로 이동되는 두개의 검사부컨베이어(41)의 단순한 운동에 의해, 피시비 기판을 안정적으로 검사부(30, 35) 아래에 배치시킬 수 있을 뿐만 아니라, 검사부컨베이어(41) 내에 포함되는 컨베이어폭조절부재(47)에 의해 피시비 기판의 종류에 따라 공정에 유연하게 적용될 수 있다. In addition, the PCB substrate is stably inspected by the simple movement of the two inspection unit conveyors 41 which are moved in a direction perpendicular to the conveying direction of the conveyor belts 22 and 24 of the inlet 20 fixed in position as described above. Not only can be disposed below (30, 35), it can be flexibly applied to the process according to the type of PCB substrate by the conveyor width adjusting member 47 included in the inspection unit conveyor 41.

따라서, 검사대상이 되는 다양한 피시비 기판의 종류 및 폭에 유연하게 대응하면서도 피시비 기판 검사의 효율을 향상시킬 수 있다.Therefore, the efficiency of the PCB substrate inspection can be improved while flexibly responding to the types and widths of the various PCB substrates to be inspected.

이상, 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명의 기술적 사상은 이러한 것에 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해, 본 발명의 기술적 사상과 하기 될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형 실시가 가능할 것이다.As mentioned above, although the present invention has been described by way of limited embodiments and drawings, the technical idea of the present invention is not limited thereto, and it should be understood by those skilled in the art to which the present invention pertains. Various modifications and variations may be made without departing from the scope of the appended claims.

10: 검사영역 20: 인입부
30, 35: 검사부 40, 50: 컨베이어셔틀부
60: 배출부 10: inspection area 20: inlet
30, 35: inspection unit 40, 50: conveyor shuttle unit
60: discharge part

Claims (12)

피시비 기판을 검사하기 위한 검사영역으로 피시비 기판을 인입하기 위한 인입부와;
상기 피시비 기판을 검사하기 위한 한쌍의 제 1, 제 2 검사부와;
인입된 피시비 기판을 상기 제 1, 제 2 검사부로 각각 이송시키기 위한 한쌍의 제 1, 제 2 컨베이어셔틀부와;
상기 인입부와 대향된 위치에서 검사가 완료된 피시비 기판을 배출하기 위한 배출부를 포함하며,
상기 제 1 검사부에서 검사가 수행될 경우, 상기 제 2 컨베이어셔틀부가 피시비 기판을 인입 또는 배출하며,
상기 제 2 검사부에서 검사가 수행될 경우, 상기 제 1 컨베이어 셔틀부가 피시비 기판을 인입 또는 배출하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 피시비 기판 검사장치.An introduction part for introducing the PCB to the inspection area for inspecting the PCB;
A pair of first and second inspection units for inspecting the PCB substrate;
A pair of first and second conveyor shuttle portions for transferring the drawn PCB substrate to the first and second inspection portions, respectively;
A discharge part for discharging the PCB substrate which has been inspected at a position opposite to the inlet part,
When the inspection is performed in the first inspection unit, the second conveyor shuttle unit introduces or discharges the PCB substrate,
When the inspection is performed in the second inspection unit, the PCB substrate inspection apparatus, characterized in that configured to draw or discharge the PCB substrate. 제 1 항에 있어서,
상기 인입부와 배출부는 위치 고정된 상태로 배치되며, 한쌍의 컨베이어 벨트를 각각 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 피시비 기판 검사장치.The method of claim 1,
The inlet and the outlet are disposed in a fixed position, the PCB substrate inspection apparatus, characterized in that it comprises a pair of conveyor belt, respectively. 제 2 항에 있어서,
상기 한쌍의 제 1, 2 컨베이어셔틀부는 상기 인입부의 한쌍의 컨베이어 밸트에 의한 피시비 기판의 이송 방향에 수직한 방향으로 왕복 이동되도록 구성되는 것을 특징으로 하는 피시비 기판 검사장치.The method of claim 2,
And the pair of first and second conveyor shuttle portions are configured to reciprocate in a direction perpendicular to a conveying direction of the PCB substrate by the pair of conveyor belts of the inlet portion. 제 3 항에 있어서,
상기 제 1, 2 컨베이어셔틀부는 피시비 기판을 상기 배출부 방향으로 이송시키기 위한 한쌍의 검사부컨베이어를 각각 포함하는 것을 특징으로 하는 피시비 기판 검사장치.The method of claim 3, wherein
And the first and second conveyor shuttles each include a pair of inspection unit conveyors for transferring the PCB to the discharge direction. 제 4 항에 있어서,
상기 검사부컨베이어는 각각 한쌍의 피시비 기판 이송용 롤러와 피시비 기판 이송용 벨트를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 피시비 기판 검사장치.The method of claim 4, wherein
The inspection unit conveyor is a PCB substrate inspection apparatus, characterized in that each comprises a pair of PCB substrate transfer roller and the PCB transfer belt. 제 5 항에 있어서,
상기 검사부컨베이어는 피시비 기판을 탄성적으로 지지하기 위한 피시비기판지지부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 피시비 기판 검사장치.The method of claim 5, wherein
The inspection unit conveyor comprises a PCB substrate support for elastically supporting the PCB substrate. 제 6 항에 있어서,
상기 검사부컨베이어는 상기 한쌍의 피시비 기판 이송용 롤러와 피시비 기판 이송용 벨트의 간격을 조절하기 위한 컨베이어폭조절부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 피시비 기판 검사장치.The method according to claim 6,
The inspection unit conveyor is a PCB substrate inspection apparatus, characterized in that it comprises a conveyor width adjusting member for adjusting the distance between the pair of PCB substrate transfer roller and the PCB substrate transfer belt. 제 7 항에 있어서,
상기 검사부컨베이어는 피시비 기판의 진행을 가로막기 위해 상하방향으로 이동되도록 구성되는 기판멈춤부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 피시비 기판 검사장치.The method of claim 7, wherein
The inspection unit conveyor is a PCB substrate inspection apparatus, characterized in that it comprises a substrate stop member configured to move in the vertical direction to block the progress of the PCB substrate. 제 8 항에 있어서,
상기 검사부컨베이어는 피시비 기판을 상기 한쌍의 피시비 기판 이송용 벨트에 의해 이송되는 방향에 수직한 방향으로 변위시키기 위한 피시비정렬부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 피시비 기판 검사장치.The method of claim 8,
The inspection unit conveyor comprises a PCB alignment member for displacing the PCB substrate in a direction perpendicular to the direction conveyed by the pair of PCB substrate transport belt. 제 9 항에 있어서,
상기 검사부컨베이어는 상기 컨베이어셔틀부 내에서 피시비 기판의 이송방향에 수직한 방향으로 왕복이동되도록 구성되는 것을 특징으로 하는 피시비 기판 검사장치. The method of claim 9,
The inspection unit conveyor is configured to reciprocate in a direction perpendicular to the conveying direction of the PCB substrate in the conveyor shuttle unit. 제 10 항에 있어서,
상기 검사부컨베이어는 피시비 기판을 감지하기 위한 피시비감지센서를 포함하는 것을 특징으로 하는 피시비 기판 검사장치.11. The method of claim 10,
The inspection unit conveyor comprises a PCB substrate sensor for detecting the PCB substrate. 제 11 항에 있어서,
상기 컨베이어셔틀부는 상기 검사부컨베이어의 위치를 감지하기 위한 위치감지센서를 포함하는 것을 특징으로 하는 피시비 기판 검사장치.
The method of claim 11,
The conveyor shuttle unit PCB substrate inspection apparatus comprising a position detection sensor for detecting the position of the inspection unit conveyor.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180049448A (en) * 2016-11-01 2018-05-11 신흥에스이씨주식회사 Device of manufacturing simultaneously cap-assemblies and the method thereof
KR20180049449A (en) * 2016-11-01 2018-05-11 신흥에스이씨주식회사 Device of manufacturing cap-plate with safety-vent and membrane
KR20180049450A (en) * 2016-11-01 2018-05-11 신흥에스이씨주식회사 Device of manufacturing simultaneously cap-assemblies
CN116500050A (en) * 2023-06-28 2023-07-28 四川托璞勒科技有限公司 PCB visual inspection system

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102017102700A1 (en) 2017-02-10 2018-09-13 Atg Luther & Maelzer Gmbh Test apparatus and method for testing printed circuit boards
CN117665543B (en) * 2024-01-31 2024-06-18 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） Flying probe testing device

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000012999A (en) 1998-06-18 2000-01-14 Nagoya Denki Kogyo Kk Substrate inspection method and apparatus thereof

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR0139169Y1 (en) * 1996-09-24 1999-05-15 삼성전자주식회사 Apparatus for moving and fixing pcb for checking pcb
KR100270519B1 (en) * 1997-08-21 2001-01-15 구자홍 Apparatus for testing printed circuit board
JP4803195B2 (en) * 2008-03-14 2011-10-26 パナソニック株式会社 Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000012999A (en) 1998-06-18 2000-01-14 Nagoya Denki Kogyo Kk Substrate inspection method and apparatus thereof

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180049448A (en) * 2016-11-01 2018-05-11 신흥에스이씨주식회사 Device of manufacturing simultaneously cap-assemblies and the method thereof
WO2018084450A1 (en) * 2016-11-01 2018-05-11 신흥에스이씨 주식회사 Apparatus for manufacturing various cap assemblies, and method for same
KR20180049449A (en) * 2016-11-01 2018-05-11 신흥에스이씨주식회사 Device of manufacturing cap-plate with safety-vent and membrane
KR20180049450A (en) * 2016-11-01 2018-05-11 신흥에스이씨주식회사 Device of manufacturing simultaneously cap-assemblies
WO2018084452A1 (en) * 2016-11-01 2018-05-11 신흥에스이씨 주식회사 Apparatus for manufacturing various cap assemblies
WO2018084451A1 (en) * 2016-11-01 2018-05-11 신흥에스이씨 주식회사 Apparatus for manufacturing semi-finished cap plate products
KR101891891B1 (en) * 2016-11-01 2018-08-27 신흥에스이씨주식회사 Device of manufacturing simultaneously cap-assemblies and the method thereof
KR101891892B1 (en) * 2016-11-01 2018-08-27 신흥에스이씨주식회사 Device of manufacturing cap-plate with safety-vent and membrane
KR101891893B1 (en) 2016-11-01 2018-08-27 신흥에스이씨주식회사 Device of manufacturing simultaneously cap-assemblies
CN109937492A (en) * 2016-11-01 2019-06-25 新乡能源电子有限公司 The manufacturing device and its method of multi items lid assembly
CN109964335A (en) * 2016-11-01 2019-07-02 新乡能源电子有限公司 The manufacturing device of cover board semi-finished product
CN109997243A (en) * 2016-11-01 2019-07-09 新乡能源电子有限公司 The manufacturing device of multi items lid assembly
CN109937492B (en) * 2016-11-01 2022-02-11 新乡能源电子有限公司 Apparatus and method for manufacturing multi-variety cover assembly
CN109964335B (en) * 2016-11-01 2022-05-27 新乡能源电子有限公司 Manufacturing device for cover plate semi-finished product
CN109997243B (en) * 2016-11-01 2022-07-15 新乡能源电子有限公司 Device for manufacturing multi-variety cover assembly
CN116500050A (en) * 2023-06-28 2023-07-28 四川托璞勒科技有限公司 PCB visual inspection system
CN116500050B (en) * 2023-06-28 2024-01-12 四川托璞勒科技有限公司 PCB visual inspection system

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