KR101105587B1 - 무선 통신 시스템 및 방법, 무선 통신 장치 및 방법 - Google Patents

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Abstract

메모리 제어 유닛은, 메모리에 기억된 고유 데이터중의, 안테나에서 다음에 수신되는 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터를 판독하고, 그 내용에 의거하여, 스위치를 조작한다. 반사 전극은, 스위치에 의해 양단이 개방된 경우, 빗형 전극에 의해 여진된 탄성 표면파를 반사시키고, 스위치에 의해 양단이 단락된 경우, 탄성 표면파를 통과시킨다. 본 발명은 SAW를 이용한 RFID 시스템에 적용 가능하다.
무선 통신 시스템

Description

무선 통신 시스템 및 방법, 무선 통신 장치 및 방법{RADIO COMMUNICATION SYSTEM AND METHOD, AND RADIO COMMUNICATION APPARATUS AND METHOD}
도 1은 종래의 SAW 태그의 구성예를 도시한 블록도.
도 2는 도 1의 종래의 SAW 태그를 이용하는 RFID 시스템의 동작을 설명하는 도면.
도 3은 도 1의 종래의 SAW 태그를 이용하는 RFID 시스템의 동작을 설명하는 다른 도면.
도 4는 종래의 SAW 태그의 다른 구성예를 도시한 블록도.
도 5는 본 실시의 형태가 적용되는 무선 통신 시스템으로서의, RFID 시스템의 구성예를 도시한 블록도.
도 6은 도 5의 RFID 시스템의 태그 리더의 상세한 구성예를 도시한 블록도.
도 7은 도 5의 RFID 시스템의 SAW 태그의 상세한 구성예를 도시한 블록도.
도 8은 도 5의 RFID 시스템의 태그 리더의 태그 데이터 검출 처리의 예를 설명하는 순서도.
도 9는 도 5의 RFID 시스템의 SAW 태그의 피 태그 데이터 검출 처리의 예를 설명하는 순서도.
도 10은 도 5의 RFID 시스템의 태그 리더와 SAW 태그와의 처리의 관계의 예를 도시한 화살표도.
도 11은 도 5의 RFID 시스템의 동작을 설명하는 도면.
도 12는 도 5의 RFID 시스템의 동작을 설명하는 다른 도면.
도 13은 도 5의 RFID 시스템의 태그 리더 또는 SAW 태그의 다른 구성예를 도시한 블록도.
♠도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명♠
201 : SAW 태그 202 : 태그 리더
211, 212 : 안테나 213 : 태그 유닛
214 : 태그 제어 유닛 215 : 인버터
216 : 스위치 221 : 빗형 전극
222 : 반사 전극 223 : 정류 유닛
224 : 제어 유닛 225 : 메모리
226 : 메모리 제어 유닛 241, 242 : 안테나
243 : 송수신 유닛 244 : 통신 제어 유닛
245 : 승산 유닛 246 : 발진 유닛
247 : 송신 유닛 252 : 스위치
253 : 송신 유닛 254 : 승산 유닛
255 : 발진 유닛 256 : 수신 유닛
257 : 검파 유닛 281 : 커맨드
282 : 전력 공급 신호 291 내지 294 : 검사 펄스
301 내지 304 : 반사 펄스 Ta : 검사 펄스의 송신 주기
기술분야
본 발명은, 무선 통신 시스템 및 방법, 무선 통신 장치 및 방법, 및 프로그램에 관한 것으로, 특히, SAW(Surface Acoustic Wave : 탄성 표면파)를 이용하는 RFID(Radio Frequency Identification) 시스템에 있어서, SAW 태그를 소형화함과 함께, 태그 리더가, 그 SAW 태그를 확실하게 검출할 수 있도록 한 무선 통신 시스템 및 방법, 무선 통신 장치 및 방법, 및 프로그램에 관한 것이다.
종래의 기술
근래, RFID(Radio Frequency Identification) 시스템이 보급되어 왔다. RFID 시스템은, 태그와 리더로 구성되는 시스템으로서, 리더가, 태그에 격납된 정보를 비접촉으로 판독하는 시스템이다. RFID 시스템은 또한, ID(Identification) 시스템, 또는, 데이터 캐리어 시스템 등으로도 칭하여지는 일이 있다. 단, 이 시스템은, 세계 각국 공통으로, RFID 시스템이라고 칭하여지는(또는, 생략하여 RFID라고 칭하여지는) 일이 많다. 따라서, 본 명세서에서도, RFID 시스템이라고 칭하기로 한다. 또한, RFID 시스템은 "고주파(무선)를 사용하는 인식 시스템"이다.
RFID 시스템으로서, 예를 들면, SAW(Surface Acoustic Wave : 탄성 표면파)를 이용하는 시스템이 알려져 있다.
이와 같은 SAW를 이용하는 RFID 시스템에 있어서의 태그를, 이하, SAW 태그라고 칭한다. SAW 태그는, 완전하게 패시브 동작(태그 리더에 의한 수동적인 동작)을 행하기 때문에, 그 동작 거리를 크게 할 수 있다는 특징을 갖고 있다.
도 1은, 이와 같은 SAW 태그의 구성예를 도시하고 있다.
도 1에 도시된 바와 같이, SAW 태그(1)에는, 안테나(11), 빗형 전극(12), 및 반사 전극(13 내지 15)이 마련되어 있다.
안테나(11)는, 예를 들면, 반파장의 다이폴 안테나 등에 의해 구성되고, 운용 주파수(통신 반송 주파수)(fo)의 전파를 송수신한다. 통신 반송 주파수(fo)로는, 일반적으로 VHF(Very HIigh Frequency)대, UHF(Ultra High Frequency)대가 할당된다.
빗형 전극(12)은, 탄성 표면파의 파장(λ0)의 1/2의 전극 간격(d1(=λ0/2))를 가지며, 안테나(11)에 수신된 전파(고주파 전계)에 의해, 압전 효과를 통하여 탄성 표면파를 여진한다. 즉, 빗형 전극(12)은, 안테나(11)에 수신된 전파를 탄성 표면파로서, 반사 전극(13 내지 15)에 공급한다.
반사 전극(13 내지 15)은, 빗형 전극(12)으로부터 공급되는 탄성 표면파를 반사시킨다. 즉, 반사 전극(13 내지 15)은, 탄성 표면파에 대한 반사파를 방사한다고도 말할 수 있다. 반사 전극(13 내지 15)의 어느 하나로부터 방사된 반사파는, 빗형 전극(12)을 경유하여, 안테나(11)로부터 전파로서 송신된다.
SAW 태그(1)는, 자기자신을 식별시키기 위한 고유 데이터를 갖고 있고, 반사 전극(도 1의 예에서는, 반사 전극(13 내지 15))은, 그 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터 중의 소정의 비트 데이터가 "1"인 것을 나타내고 있다. 즉, 종래의 SAW 태그(1)에서는, 고유 데이터의 각 비트의 각각을 나타내는 위치가 미리 결정되어 있고, 소정의 비트에 대응하는 위치에, 반사 전극이 배치되어 있으면, 그 비트에서의 비트 데이터는 "1"로 되고, 아무것도 배치되어 있지 않으면, 그 비트에서의 비트 데이터는 "0"으로 되는 것으로 된다.
따라서 도 1에서는, 고유 데이터는 4비트로 이루어지고, 그 최상위 비트(1번째의 비트)를 나타내는 위치에 반사 전극(13)이, 다음의 비트(2번째의 비트)를 나타내는 위치에 반사 전극(14)이, 최하위 비트(도 1의 예에서는, 4번째의 비트)를 나타내는 위치에 반사 전극(15)이 각각 배치되고, 또한, 3번째의 비트를 나타내는 위치에 아무것도 배치되어 있지 않기 때문에, 고유 데이터는, "1101"의 4비트의 데이터로 된다. 환언하면, 도 1은, 고유 데이터로서, "1101"의 4비트의 데이터가 할당되어 있는 경우의, SAW 태그(1)의 구성예를 도시하고 있다. 즉, SAW 태그(1)는, 기종마다 고유 데이터가 다르기 때문에, 기종마다, 반사 전극의 수와 배치 위치가 다른 것으로 된다.
다음에, 도 2와 도 3을 참조하여, 도시하지 않은 태그 리더가, SAW 태그(1)를 식별하는 동작에 관해 설명한다.
도 2는, 태그 리더에 있어서의, 검사 펄스의 송신 타이밍과, 그 검사 펄스에 대한 반사 펄스의 수신 타이밍을 도시한 타이밍 차트이다.
또한, 여기서는, SAW 태그(지금의 경우, 도 1의 SAW 태그(1))의 고유 데이터를 검사하기(검출하기) 위해, 태그 리더로부터 송신되는 송신 펄스를, 검사 펄스라고 칭하고 있다. 또한, 검사 펄스에 대응하는 탄성 표면파가 반사 전극(도 1의 예에서는, 반사 전극(13 내지 15))으로부터 반사된 경우, 그 반사파에 대응하는 펄스를, 반사 펄스라고 칭하고 있다.
도 3은, 검사 펄스에 대응하는 탄성 표면파와, 그 탄성 표면파에 대한 반사파(반사 펄스에 대응하는 반사파)의 관계를 도시한 도면이다.
예를 들면, 지금, 도 2에 도시된 바와 같이, 태그 리더가, 시각(t0)에서 검사 펄스(21)를 송신한다고 가정하자.
태그 리더로부터 송신된 검사 펄스(21)는, 도 1의 안테나(11) 및 빗형 전극(12)을 통과하면, 도 3에 도시된 바와 같이, 탄성 표면파(41)로서, 반사 전극(13 내지 15)의 각각에 도달한다. 도달한 탄성 표면파(41)는, 반사 전극(13 내지 15)의 각각에서 반사하고, 각각 반사파(51 내지 53)로서, 빗형 전극(12)의 쪽으로 되돌아온다. 즉, 반사 전극(13 내지 15)의 각각은, 반사파(51 내지 53)의 각각을 방사한다.
반사파(51 내지 53)의 각각은, 빗형 전극(12)과 안테나(11)를 경유하여 전파로서 송신되고, 태그 리더는, 그들 전파를 수신하고, 도 2에 도시된 반사 펄스(31), 반사 펄스(32) 및 반사 펄스(34)로서 각각 검출한다.
단, 도 3(도 1)에 도시된 바와 같이, 반사 전극(13 내지 15) 각각의 배치 위치가 다르기 때문에, 반사파(51 내지 53)의 각각이 태그 리더에 도달하는 타이밍 은, 각각 다른 것으로 된다.
구체적으로는, 도 2에 도시된 바와 같이, 태그 리더는, 검사 펄스(21)를 송신한 시각(t0)부터 시간(T1)만큼 경과한 시각(t1)에서, 반사 전극(13)에서 방사된 반사파(51)에 대응하는 반사 펄스(31)를 검출하고, 이로써, 검사 펄스(21)의 송신처인 SAW 태그(1)의 고유 데이터중의, 1번째의 비트(최상위 비트)의 비트 데이터는 "1"이라고 판정한다.
마찬가지로, 태그 리더는, 검사 펄스(21)를 송신한 시각(t0)부터 시간(T2)만큼 경과한 시각(t2)에서, 반사 전극(14)에서 방사된 반사파(52)에 대응하는 반사 펄스(32)를 검출하고, 이로써, 검사 펄스(21)의 송신처인 SAW 태그(1)의 고유 데이터중의, 2번째의 비트의 비트 데이터는 "1"이라고 판정한다.
한편, 태그 리더는, 반사 펄스(32)의 다음의 반사 펄스(33)가 도달하는 예정 시각인 시각(t3)이 되어도, 반사 펄스(33)가 도달하지 않기 때문에(도 1의 SAW 태그(1)에는, 반사 펄스(33)에 대응하는 반사파를 방사하는 반사 전극이, 배치되어 있지 않기 때문에), 이로써, 검사 펄스(21)의 송신처인 SAW 태그(1)의 고유 데이터중의, 3번째의 비트의 비트 데이터는 "O"이라고 판정한다.
그리고, 태그 리더는, 검사 펄스(21)를 송신한 시각(t0)부터 시간(T3)만큼 경과한 시각(t4)에서, 반사 전극(15)에서 방사된 반사파(53)에 대응하는 반사 펄스(34)를 검출하고, 이로써, 검사 펄스(21)의 송신처인 SAW 태그(1)의 고유 데이터중의, 4번째의 비트(최하위 비트)의 비트 데이터는 "1"이라고 판정한다.
이상의 것으로 부터, 태그 리더는, 검사 펄스(21)의 송신처인 SAW 태그(1)의 고유 데이터가 "1101"이라고 검출하고, SAW 태그(1)를 인식할 수 있다.
또한, 예를 들면, 비특허 문헌(1993 ULRASONIC SYMPOSIUM P125-P130; Programmable Reflectors for SAW-ID-Tags L.Reindl, W.Ruile Siemens AG, Corporate Research and Development, Munich, Germany 1993년)에는, 도 4에 도시된 바와 같은, SAW 태그(61)가 개시되어 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, SAW 태그(61)에는, 도 1의 SAW 태그(1)와 기본적으로 같은 구성과 기능을 갖는 안테나(11), 및, 빗형 전극(12)이 마련되어 있다. 단, 도 4의 SAW 태그(61)에서는, 도 1의 SAW 태그(1)의 반사 전극(13 내지 15) 대신에, 탄성 표면파의 파장(λ0)의 1/4의 전극 간격(d2(=λ0/4))을 갖는 빗형 전극인 반사 전극(71 내지 74)이 마련되어 있다.
반사 전극(71 내지 74)의 각각은, 양단이 개방(이하, 오픈이라고도 칭한다)됨에 의해, 반사판으로서 기능하여 탄성 표면파를 반사시키고, 한편, 양단이 단락(이하, 쇼트라고도 칭한다)됨에 의해, 반사판으로서는 기능하지 않고, 탄성 표면파를 통과시킨다. 즉, 반사 전극(71 내지 74)의 각각의 양단의 접속 상태를 변화시킴으로써, 탄성 표면파의 반사 및 통과를 제어할 수 있다.
도 4에서는, 도 1과 대응시키기 위해, 반사 전극(71), 반사 전극(72) 및 반사 전극(74)의 각각은, 양단이 오픈으로 되어 있고, 반사판으로서 기능한다. 즉, 반사 전극(71), 반사 전극(72) 및 반사 전극(74)의 각각은, 도 1의 반사 전극(13 내지 15)의 각각과 마찬가지로, 빗형 전극(12)으로부터 공급되는 탄성 표면파를 반사시킨다. 즉, 반사 전극(71), 반사 전극(72) 및 반사 전극(74)의 각각은, 탄성 표 면파에 대한 반사파를 방사하여 빗형 전극(12)에 공급한다.
또한, 반사 전극(73)은, 양단이 쇼트되어 있기 때문에, 빗형 전극(12)으로부터 공급되는 탄성 표면파를 통과시킨다. 즉, 반사 전극(73)은, 탄성 표면파에 대한 반사파를 방사하지 않는다(빗형 전극(12)에 공급하지 않는다).
따라서 도 4의 구성의 SAW 태그(61)도, 도 1의 구성의 SAW 태그(1)와 완전히 같게 동작하는 것으로 되고, 태그 리더는, 상술한 일련의 처리와 기본적으로 같은 처리를 실행함으로써, 도 4의 구성의 SAW 태그(61)의 고유 데이터도 "1101"이라고 검출하고, SAW 태그(61)를 인식할 수 있다.
그러나, 도 1이나 도 4의 구성을 갖는, 종래의 SAW 태그에서는, 반사 전극은, 고유 비트를 구성하는 각 비트 데이터 중의 소정의 하나를 나타내는 역할을 하고 있고, 이 때문에, 고유 데이터의 비트 수가 많아지면 많아질수록, 그 만큼, 반사 전극도 같은 수만큼 늘릴 필요가 있다는 과제가 있다.
그 결과, 고유 데이터의 비트 수가 많아지면 많아질수록, SAW 태그의 물리적인 크기도, 커져 버린다는 문제가 생긴다.
또한, 도 2의 예에서는, 설명의 간략을 위해, 반사 펄스의 진폭은, 검사 펄스(태그 리더로부터의 송신 펄스)의 진폭과 같게 되었지만, 실제로는, 반사 펄스의 진폭은, 빗형 전극(도 1과 도 4의 빗형 전극(12))으로부터 반사 전극의 위치가 떨어지면 떨어질수록 감쇠하는 것으로 된다. 즉, 고유 비트의 하위 비트에 대응하는 위치에 배치된 반사 전극(예를 들면, 도 1의 예에서는, 반사 전극(15)이고, 도 4의 예에서는, 반사 전극(74)이다)에서 반사된 탄성 표면파(즉, 방사된 반사파)에 대응 하는 반사 펄스의 진폭의 감쇠는 큰 것으로 된다. 그 결과, 태그 리더는, SAW 태그의 고유 데이터의 비트 수가 많아지면 많아질수록(즉, 빗형 전극으로부터, 반사 전극이 멀어지면 멀어질수록), SAW 태그를 인식하는 것(그 고유 데이터중의 하위 비트의 비트 데이터를 검출하는 것)이 곤란하게 되어 버린다는 문제도 생긴다.
본 발명은, 이와 같은 상황을 감안하여 이루어진 것으로, SAW를 이용한 RFID 시스템에 있어서, SAW 태그를 소형화함과 함께, 태그 리더가, 그 SAW 태그를 확실하게 검출할 수 있도록 하는 것이다.
본 발명의 제 1의 양상에 따르면, 제 1의 무선 통신 장치와, 자기자신을 식별시키는 고유 데이터를 갖는 제 2의 무선 통신 장치에 의해 무선 통신을 행하는 무선 통신 시스템이 제공되는데,
상기 제 1의 무선 통신 장치는:
소정의 시간 주기로, 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는, 복수의 검사 펄스의 각각을, 제 2의 무선 통신 장치에 순차로 송신하는 송신 수단과,
송신 수단으로부터 송신된 복수의 검사 펄스의 각각에 대한, 제 2의 무선 통신 장치로부터의 응답의 유무에 의거하여, 대응하는 비트 데이터의 각각을 판정함으로써, 고유 데이터를 검출하는 검출 수단을 구비하고,
상기 제 2의 무선 통신 장치는:
제 1의 무선 통신 장치로부터 송신된 검사 펄스로부터 탄성 표면파를 여진하 는 여진 수단과,
고유 데이터중의, 제 1의 무선 통신 장치로부터 다음에 송신되는 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터의 내용에 의거하여, 그 검사 펄스에 대해 응답을 행하는지의 여부를 설정하는 설정 수단과,
설정 수단에 의해 응답을 행한다고 설정된 제 1의 검사 펄스로부터의 탄성 표면파가 여진 수단에 의해 여진된 경우, 그 탄성 표면파를 반사시킴으로써, 제 1의 검사 펄스에 대한 응답을 행하고, 설정 수단에 의해 응답을 금지한다고 설정된 제 2의 검사 펄스로부터의 탄성 표면파가 여진 수단에 의해 여진된 경우, 그 탄성 표면파를 통과시킴으로써, 제 2의 검사 펄스에 대한 응답을 금지하는 응답 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 무선 통신 시스템의 무선 통신 방법은, 제 1의 무선 통신 장치와, 자기자신을 식별시키는 고유 데이터를 갖는 제 2의 무선 통신 장치가 무선 통신을 행하는 무선 통신 시스템의 무선 통신 방법에 있어서, 제 1의 무선 통신 장치는, 소정의 시간 주기로, 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는, 복수의 검사 펄스의 각각을, 제 2의 무선 통신 장치에 순차로 송신하고, 제 2의 무선 통신 장치는, 고유 데이터중의, 제 1의 무선 통신 장치로부터 다음에 송신되는 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터의 내용에 의거하여, 그 검사 펄스에 대해 응답을 행하는지의 여부를 설정하고, 제 2의 무선 통신 장치는, 제 1의 무선 통신 장치로부터, 응답을 행한다고 설정한 제 1의 검사 펄스가 송신된 경우, 제 1의 검사 펄스로부터 탄성 표면파를 여진시키고, 그 탄성 표면파를 반사시킴으 로써, 제 1의 검사 펄스에 대한 응답을 행하고, 제 1의 무선 통신 장치로부터, 응답을 금지한다고 설정한 제 2의 검사 펄스가 송신된 경우, 제 2의 검사 펄스로부터 탄성 표면파를 여진시키고, 그 탄성 표면파를 통과시킴으로써, 제 2의 검사 펄스에 대한 응답을 금지하고, 제 1의 무선 통신 장치는, 송신한 복수의 검사 펄스의 각각에 대한, 제 2의 무선 통신 장치로부터의 응답의 유무에 의거하여, 대응하는 비트 데이터의 각각을 판정함으로써, 고유 데이터를 검출하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 무선 통신 시스템 및 방법에 있어서는, 제 1의 무선 통신 장치로부터 제 2의 무선 통신 장치에 대해, 소정의 시간 주기로, 제 2의 무선 통신 장치가 보유하는 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는, 복수의 검사 펄스의 각각이 순차로 송신된다. 제 2의 무선 통신 장치에 의해, 고유 데이터중의, 제 1의 무선 통신 장치로부터 다음에 송신되는 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터의 내용에 의거하여, 그 검사 펄스에 대해 응답을 행하는지의 여부가 설정된다. 응답을 행한다고 설정된 제 1의 검사 펄스가 제 1의 무선 통신 장치로부터 송신된 경우, 제 2의 무선 통신 장치에 의해, 제 1의 검사 펄스로부터 탄성 표면파가 여진되고, 그 탄성 표면파가 반사되고, 이로써, 제 1의 검사 펄스에 대한 응답이 행하여진다. 이에 대해, 응답을 금지한다고 설정된 제 2의 검사 펄스가 제 1의 무선 통신 장치로부터 송신된 경우, 제 2의 무선 통신 장치에 의해, 제 2의 검사 펄스로부터 탄성 표면파가 여진되고, 그 탄성 표면파가 통과되고, 이로써, 제 2의 검사 펄스에 대한 응답이 금지된다. 그러면, 제 1의 무선 통신 장치에 의해, 앞서 송신된 복수의 검사 펄스의 각각에 대한, 제 2의 무선 통신 장치로 부터의 응답의 유무에 의거하여, 대응하는 비트 데이터의 각각이 판정되고, 고유 데이터가 검출된다.
본 발명의 무선 통신 시스템을 구성하는 무선 통신 장치는, 예를 들면, 다른 통신 장치에 대해서는, 무선 통신을 행할 수 있음은 물론, 유선 통신, 또는, 무선 통신 장치와 유선 통신이 혼재한 통신을 행할 수 있다, 즉, 다른 통신 장치에 대해, 유선 통신과 무선 통신의 양쪽이 행하여질 수 있는 것, 또는, 다른 제 1의 통신 장치에의 통신은 유선 통신으로 행하고, 다른 제 1의 통신 장치와는 다른 딴 제 2의 통신 장치에의 통신은 무선 통신 장치로 행할 수 있는 것이라도 좋다. 환언하면, 본 발명의 무선 통신 시스템은, 어느 구간에서는 무선 통신을 행하고, 다른 구간에서는 유선 통신을 행하는 것이라도 좋다.
본 발명의 제 1의 무선 통신 장치는, 자기자신을 식별시키는 고유 데이터를 갖는 다른 무선 통신 장치와, 무선 통신을 행하는 무선 통신 장치로서, 소정의 시간 주기로, 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는, 복수의 검사 펄스의 각각을, 다른 무선 통신 장치에 순차로 송신하는 송신 수단과, 송신 수단으로부터 송신된 검사 펄스로부터 탄성 표면파를 여진하고, 고유 데이터중의, 그 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터의 내용에 의거하여, 탄성 표면파에 대한 반사파를 방사시키는지의 여부를 제어하는 다른 무선 통신 장치로부터 방사된 반사파를 수신하는 수신 수단과, 송신 수단으로부터 송신된 복수의 검사 펄스의 각각에 대해, 수신 수단에 반사파가 수신되었는지의 여부에 의거하여, 대응하는 비트 데이터의 각각을 판정함으로써, 고유 데이터를 검출하는 검출 수단을 구비 하는 것을 특징으로 한다.
다른 무선 통신 장치가, 반사파의 방사의 제어를 실행하는 경우에 이용하는 전력을 공급하는 전력 공급 수단을 또한 마련하도록 할 수 있다.
송신 수단은, 검사 펄스를, 제 1의 주파수의 전파로서 송신하고, 전력 공급 수단은, 전력을, 제 1의 주파수와는 다른 제 2의 주파수의, 그 전력에 대응하는 에너지를 갖는 전파로서 공급하도록 할 수 있다.
전력 공급 수단은, 전력을, 그 전력에 대응하는 에너지를 갖는 광으로서 공급하도록 할 수 있다.
본 발명의 제 1의 무선 통신 방법은, 자기자신을 식별시키는 고유 데이터를 갖는 무선 통신 장치와, 무선 통신을 행하는 무선 통신 방법으로서, 소정의 시간 주기로, 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는, 복수의 검사 펄스의 각각을, 무선 통신 장치에 순차로 송신하는 송신 단계와, 송신 단계의 처리에서 송신된 검사 펄스로부터 탄성 표면파를 여진하고, 고유 데이터중의, 그 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터의 내용에 의거하여, 탄성 표면파에 대한 반사파를 방사시키는지의 여부를 제어하는 무선 통신 장치로부터 방사된 반사파를 수신하는 수신 단계와, 송신 단계의 처리에서 송신된 복수의 검사 펄스의 각각에 대해, 수신 단계의 처리에서 반사파가 수신되었는지의 여부에 의거하여, 대응하는 비트 데이터의 각각을 판정함으로써, 고유 데이터를 검출하는 검출 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제 1의 프로그램은, 자기자신을 식별시키는 고유 데이터를 갖는 무선 통신 장치와, 무선 통신을 행하는 무선 통신 처리를 컴퓨터에 행하게 하는 프로그램으로서, 소정의 시간 주기로, 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는, 복수의 검사 펄스의 각각을, 무선 통신 장치에 순차로 송신시키도록, 상기 검사 펄스를 생성하는 생성 단계와, 생성 단계의 처리에 의해 생성되고, 송신된 검사 펄스로부터 탄성 표면파를 여진하고, 고유 데이터중의, 그 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터의 내용에 의거하여, 탄성 표면파에 대한 반사파를 방사시키는지의 여부를 제어하는 다른 무선 통신 장치로부터 방사된 반사파가 수신되었는지의 여부에 의거하여, 대응하는 비트 데이터의 각각을 판정함으로써, 고유 데이터를 검출하는 검출 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제 1의 무선 통신 장치 및 방법, 및 제 1의 프로그램에 있어서는, 소정의 시간 주기로, 다른 무선 통신 장치의 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는, 복수의 검사 펄스의 각각이, 다른 무선 통신 장치에 순차로 송신되고, 다른 무선 통신 장치에 의해, 송신된 검사 펄스로부터 탄성 표면파가 여진되고, 고유 데이터중의, 그 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터의 내용에 의거하여, 탄성 표면파에 대한 반사파를 방사시키는지의 여부가 제어되어 있는 경우, 송신된 복수의 검사 펄스의 각각에 대해, 다른 무선 통신 장치로부터 방사된 반사파가 수신되었는지의 여부에 의거하여, 대응하는 비트 데이터의 각각이 판정되고, 그 결과, 고유 데이터가 검출된다.
본 발명의 제 1의 무선 통신 장치는, 예를 들면, 다른 통신 장치에 대해서는, 무선 통신을 행할 수 있음은 물론, 유선 통신, 또는, 무선 통신 장치와 유선 통신이 혼재한 통신을 행할 수 있다, 즉, 다른 통신 장치에 대해, 유선 통신과 무선 통신의 양쪽이 행하여질 수 있는 것, 또는, 다른 제 1의 통신 장치에의 통신은 유선 통신으로 행하고, 다른 제 1의 통신 장치와는 다른 딴 제 2의 통신 장치에의 통신은 무선 통신 장치로 행할 수 있는 것이라도 좋다. 환언하면, 본 발명의 제 1의 무선 통신 장치는, 어느 구간에서는 무선 통신을 행하고, 다른 구간에서는 유선 통신을 행하는 것이라도 좋다.
본 발명의 제 2의 무선 통신 장치는, 다른 무선 통신 장치와 무선 통신을 행하는 무선 통신 장치로서, 다른 무선 통신 장치로부터, 소정의 시간 주기로, 무선 통신 장치 자신을 식별시키는 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는, 복수의 검사 펄스의 각각이 송신되어 온 경우, 검사 펄스로부터 탄성 표면파를 여진하는 여진 수단과, 고유 데이터중의, 다른 무선 통신 장치로부터 다음에 송신되는 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터의 내용에 의거하여, 그 검사 펄스에 대해 응답을 행하는지의 여부를 설정하는 설정 수단과, 설정 수단에 의해 응답을 행한다고 설정된 제 1의 검사 펄스로부터의 탄성 표면파가 여진 수단에 의해 여진된 경우, 그 탄성 표면파를 반사시킴으로써, 제 1의 검사 펄스에 대한 응답을 행하고, 설정 수단에 의해 응답을 금지한다고 설정된 제 2의 검사 펄스로부터의 탄성 표면파가 여진 수단에 의해 여진된 경우, 그 탄성 표면파를 통과시킴으로써, 제 2의 검사 펄스에 대한 응답을 금지하는 응답 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
응답 수단은, 그 양단이 개방된 경우, 여진 수단에 의해 여진된 탄성 표면파 를 반사시키고, 양단이 단락된 경우, 탄성 표면파를 통과시키는, 하나의 반사 전극과, 반사 전극의 양단에 접속되는 스위치를 가지며, 설정 수단은, 검사 펄스에 대한 응답을 행하는 설정을 하는 경우, 반사 전극의 양단을 개방시키도록 스위치를 조작하고, 검사 펄스에 대한 응답을 금지하는 설정을 하는 경우, 반사 전극의 양단을 단락시키도록 스위치를 조작하도록 할 수 있다.
고유 데이터를 미리 기억하는 기억 수단과, 설정 수단이, 기억 수단에 기억된 고유 데이터 중에서, 다음의 검사 펄스의 검사 대상이 되는 비트 데이터를 판독하고, 판독 비트 데이터에 의거하여, 그 검사 펄스에 대한 응답을 행하는지의 여부를 설정하는 처리에 수반하는 전력으로서, 다른 무선 통신 장치로부터 공급되는 전력을 제공하는 전력 제공 수단을 또한 마련하도록 할 수 있다.
다른 무선 통신 장치는, 검사 펄스를, 제 1의 주파수의 전파로서 송신하고, 전력 공급 수단에 공급하는 전력을, 제 1의 주파수와는 다른 제 2의 주파수의, 그 전력에 대응하는 에너지를 갖는 전파로서 송신하도록 할 수 있다.
다른 무선 통신 장치는, 전력 공급 수단에 공급하는 전력을, 그 전력에 대응하는 에너지를 갖는 광으로서 송신하도록 할 수 있다.
본 발명의 제 2의 무선 통신 방법은, 무선 통신 장치와 무선 통신을 행하고, 그 무선 통신 장치에 소정의 고유 정보를 검출시키는 무선 통신 방법으로서, 무선 통신 장치로부터, 소정의 시간 주기로, 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는, 복수의 검사 펄스의 각각이 송신되어 온 경우, 검사 펄스로부터 탄성 표면파를 여진하는 여진 단계와, 고유 데이터중의, 다른 무선 통신 장치로부 터 다음에 송신되는 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터의 내용에 의거하여, 그 검사 펄스에 대해 응답을 행하는지의 여부를 설정하는 설정 단계와, 여진 단계의 처리에 의해, 설정 단계의 처리에 의해 응답을 행한다고 설정된 제 1의 검사 펄스로부터 탄성 표면파가 여진된 경우, 그 탄성 표면파를 반사시킴으로써, 제 1의 검사 펄스에 대한 응답을 행하고, 여진 단계의 처리에 의해, 설정 단계의 처리에 의해 응답을 금지한다고 설정된 제 2의 검사 펄스로부터 탄성 표면파가 여진된 경우, 그 탄성 표면파를 통과시킴으로써, 제 2의 검사 펄스에 대한 응답을 금지하는 응답 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제 2의 프로그램은, 제 1의 무선 통신 장치와, 제 2의 무선 통신 장치와의 사이의 무선 통신 처리를 컴퓨터에 행하게 하는 프로그램으로서, 제 2 무선 통신 장치가, 제 1의 무선 통신 장치로부터, 소정의 시간 주기로, 제 2의 무선 통신 장치를 식별시키는 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는, 복수의 검사 펄스의 각각이 송신되어 온 경우, 검사 펄스로부터 탄성 표면파를 여진하는 전극과, 그 양단이 개방된 경우, 전극에 의해 여진된 탄성 표면파를 반사시키고, 양단이 단락된 경우, 탄성 표면파를 통과시키는, 하나의 반사 전극과, 반사 전극의 상기 양단에 접속되는 스위치를 구비하는 경우의 프로그램이다. 즉, 본 발명의 제 2의 프로그램은, 고유 데이터중의, 다른 무선 통신 장치로부터 다음에 송신되는 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터의 내용에 의거하여, 그 검사 펄스에 대해 응답을 행하는지의 여부를 판정하고, 검사 펄스에 대한 응답을 행한다고 판정한 경우, 반사 전극의 양단을 개방시키도록 스위치를 전환하는 설 정을 하고, 검사 펄스에 대한 응답을 금지한다고 판정한 경우, 반사 전극의 양단을 단락시키도록 스위치를 전환하는 설정을 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제 2의 무선 통신 장치 및 방법에 있어서는, 다른 무선 통신 장치로부터, 소정의 시간 주기로, 무선 통신 장치 자신을 식별시키는 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는, 복수의 검사 펄스의 각각이 송신되어 온 경우, 고유 데이터중의, 다른 무선 통신 장치로부터 다음에 송신되는 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터의 내용에 의거하여, 그 검사 펄스에 대해 응답을 행하는지의 여부가 설정되고, 응답을 행한다고 설정된 제 1의 검사 펄스로부터 탄성 표면파가 여진된 경우, 그 탄성 표면파가 반사되고, 이로써, 제 1의 검사 펄스에 대한 응답이 행하여진다. 이에 대해, 응답을 금지한다고 설정된 제 2의 검사 펄스로부터 탄성 표면파가 여진된 경우, 그 탄성 표면파가 통과되고, 이로써, 제 2의 검사 펄스에 대한 응답이 금지된다.
본 발명의 제 2의 프로그램에 있어서는, 제 1의 무선 통신 장치와, 제 1의 무선 통신 장치로부터, 소정의 시간 주기로, 제 2의 무선 통신 장치를 식별시키는 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는, 복수의 검사 펄스의 각각이 송신되어 온 경우, 검사 펄스로부터 탄성 표면파를 여진하는 전극과, 그 양단이 개방된 경우, 전극에 의해 여진된 탄성 표면파를 반사시키고, 양단이 단락된 경우, 탄성 표면파를 통과시키는, 하나의 반사 전극과, 반사 전극의 양단에 접속되는 스위치를 구비하는 제 2의 무선 통신 장치와의 사이의 무선 통신 처리가 행하여 지고, 상세하게는, 고유 데이터중의, 제 1의 무선 통신 장치로부터 다음에 송신되는 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터의 내용에 의거하여, 그 검사 펄스에 대해 응답을 행하는지의 여부가 판정되고, 검사 펄스에 대한 응답을 행한다고 판정된 경우, 반사 전극의 양단을 개방시키도록 스위치를 전환하는 설정이 이루어지고, 검사 펄스에 대한 응답을 금지한다고 판정한 경우, 반사 전극의 양단을 단락시키도록 스위치를 전환하는 설정이 이루어진다.
본 발명의 제 2의 무선 통신 장치는, 예를 들면, 다른 통신 장치에 대해서는, 무선 통신을 행할 수 있음은 물론, 유선 통신, 또는, 무선 통신 장치와 유선 통신이 혼재한 통신을 행할 수 있다, 즉, 다른 통신 장치에 대해, 유선 통신과 무선 통신의 양쪽이 행하여질 수 있는 것, 또는, 다른 제 1의 통신 장치에의 통신은 유선 통신으로 행하고, 다른 제 1의 통신 장치와는 다른 딴 제 2의 통신 장치에의 통신은 무선 통신 장치로 행할 수 있는 것이라도 좋다. 환언하면, 본 발명의 제 2의 무선 통신 장치는, 어느 구간에서는 무선 통신을 행하고, 다른 구간에서는 유선 통신을 행하는 것이라도 좋다.
이하에 본 발명의 실시의 형태를 설명하는데, 청구항에 기재된 구성 요건과, 발명의 실시의 형태에 있어서의 구체적인 예와의 대응 관계를 예시하면, 다음과 같이 된다. 이 기재는, 청구항에 기재되어 있는 발명을 지지하는 구체적인 예가, 발명의 실시의 형태에 기재되어 있다는 것을 확인하기 위한 것이다. 따라서, 발명의 실시의 형태 중에는 기재되어 있지만, 구성 요건에 대응하는 것으로서, 여기에는 기재되어 있지 않은 구체적인 예가 있었다고 하더라도, 그 것은, 그 구체적인 예가, 그 구성 요건에 대응하는 것이 아니다는 것을 의미하는 것이 아니다. 역으로, 구체적인 예가 구성 요건에 대응하는 것으로서 여기에 기재되어 있다고 하여도, 그것은, 그 구체적인 예가, 그 구성 요건 이외의 구성 요건에는 대응하지 않는다는 것을 의미하는 것도 아니다.
또한, 이 기재는, 발명의 실시의 형태에 기재되어 있는 구체적인 예에 대응하는 발명이, 청구항에 전부 기재되어 있는 것을 의미하는 것이 아니다. 환언하면, 이 기재는, 발명의 실시의 형태에 기재되어 있는 구체적인 예에 대응하는 발명이고, 이 출원의 청구항에는 기재되어 있지 않는 발명의 존재, 즉, 장래, 분할 출원되거나, 보정에 의해 추가되는 발명의 존재를 부정하는 것이 아니다.
청구항 1에 기재된 무선 통신 시스템(예를 들면, 도 5의 시스템)은, 제 1의 무선 통신 장치(예를 들면, 도 5의 태그 리더(202))와, 자기자신을 식별시키는 고유 데이터를 갖는 제 2의 무선 통신 장치(예를 들면, 도 5의 SAW 태그(201))가 무선 통신을 행하는 무선 통신 시스템으로서, 제 1의 무선 통신 장치(예를 들면, 도 7의 구성의 태그 리더(202))는: 소정의 시간 주기(예를 들면, 도 12의 시간(Ta))로, 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는 복수의 검사 펄스(예를 들면, 도 12의 검사 펄스(291 내지 294))의 각각을 제 2의 무선 통신 장치에 순차로 송신하는 송신 수단(예를 들면, 도 7의 송수신 유닛(243)의 송신 부분(송신 유닛(253) 등)과 안테나(241))과; 송신 수단으로부터 송신된 복수의 검사 펄스의 각각에 대해, 제 2의 무선 통신 장치로부터의 응답(예를 들면, 도 12의 반사 펄스(301 내지 304)(그것들에 대응하는 반사파))의 유무에 의거하여, 대응하는 비트 데이터의 각각을 판정함으로써, 고유 데이터를 검출하는 검출 수단(예를 들면, 도 7의 통신 제어 유닛(244))을 구비하고, 제 2의 무선 통신 장치(예를 들면, 도 6의 구성의 SAW 태그(201))는, 제 1의 무선 통신 장치로부터 송신된 검사 펄스로부터 탄성 표면파를 여진하는 여진 수단(예를 들면, 도 6의 빗형 전극(221))과; 고유 데이터 중 제 1의 무선 통신 장치로부터 다음에 송신되는 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터의 내용에 의거하여, 그 검사 펄스에 대해 응답을 행하는지의 여부를 설정하는 설정 수단(예를 들면, 도 6의 태그 제어 유닛(214)과 인버터(215)이고, 특히, 메모리 제어 유닛(226))과; 설정 수단에 의해 응답을 행한다고 설정된 제 1의 검사 펄스(예를 들면, 도 12의 검사 펄스(291))로부터의 탄성 표면파가 여진 수단에 의해 여진된 경우, 그 탄성 표면파를 반사시킴(도 12의 반사 펄스(301)에 대응하는 반사파를 방사함)으로써, 제 1의 검사 펄스에 대한 응답을 행하고, 설정 수단에 의해 응답을 금지한다고 설정된 제 2의 검사 펄스(예를 들면, 도 12의 검사 펄스(293))로부터의 탄성 표면파가 여진 수단에 의해 여진된 경우, 그 탄성 표면파를 통과시킴(도 12의 반사 펄스(303)에 대응하는 반사파를 방사하지 않음)으로써, 제 2의 검사 펄스에 대한 응답을 금지하는 응답 수단(예를 들면, 도 6의 반사 전극(222)과, 그 양단에 접속되는 스위치(216))을 구비하는 것을 특징으로 한다.
청구항 3에 기재된 무선 통신 장치(예를 들면, 도 7의 태그 리더(202))는, 자기자신을 식별시키는 고유 데이터를 갖는 다른 무선 통신 장치(예를 들면, 도 5 와 도 6의 SAW 태그(201))와 무선 통신을 행하는 무선 통신 장치로서: 소정의 시간 주기(예를 들면, 도 12의 시간(Ta)의 간격)로, 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는 복수의 검사 펄스(예를 들면, 도 12의 검사 펄스(291) 내지 검사 펄스(294))의 각각을, 다른 무선 통신 장치에 순차로 송신하는 송신 수단(예를 들면, 도 7의 송수신 유닛(243)의 송신 부분(송신 유닛(253) 등)과 안테나(241))과; 송신 수단으로부터 송신된 검사 펄스로부터 탄성 표면파를 여진하고, 고유 데이터 중 그 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터의 내용에 의거하여, 탄성 표면파에 대한 반사파를 방사시키는지의 여부를 제어하는 다른 무선 통신 장치(예를 들면, 도 6의 구성을 갖는 SAW 태그(201))로부터 방사된 반사파를 수신하는 수신 수단(예를 들면, 도 7의 안테나(241)와 송수신 유닛(243)중의 수신 부분(수신 유닛(256) 등))과; 송신 수단으로부터 송신된 복수의 검사 펄스의 각각에 대해, 수신 수단에서 반사파가 수신되었는지의 여부에 의거하여, 대응하는 비트 데이터의 각각을 판정함으로써, 고유 데이터를 검출하는 검출 수단(예를 들면, 도 12의 반사 펄스(301) 내지 반사 펄스(304)를 검출하는 도 7의 통신 제어 유닛(244))을 구비하는 것을 특징으로 한다.
청구항 4에 기재된 무선 통신 장치는, 다른 무선 통신 장치가, 반사파의 방사의 제어를 실행하는 경우에 이용하는 전력을 공급하는 전력 공급 수단(예를 들면, 도 11의 전력 공급 신호(282)로서 전력을 공급하는, 예를 들면, 도 7의 승산 유닛(245), 발진 유닛(246), 송신 유닛(247) 및 안테나(242))을 더 구비하는 것을 특징으로 한다.
청구항 9에 기재된 무선 통신 장치(예를 들면, 도 6의 SAW 태그(201))는, 다른 무선 통신 장치(예를 들면, 도 5와 도 7의 태그 리더(202))와 무선 통신을 행하는 무선 통신 장치로서: 다른 무선 통신 장치로부터, 소정의 시간 주기(예를 들면, 도 12의 시간(Ta)의 간격)로, 무선 통신 장치 자신을 식별시키는 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는 복수의 검사 펄스(예를 들면, 도 12의 검사 펄스(291 내지 294))의 각각이 송신되어 온 경우, 검사 펄스로부터 탄성 표면파를 여진하는 여진 수단(예를 들면, 도 6의 빗형 전극(221))과; 고유 데이터 중 다른 무선 통신 장치로부터 다음에 송신되는 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터의 내용에 의거하여, 그 검사 펄스에 대해 응답을 행하는지의 여부를 설정하는 설정 수단(예를 들면, 도 6의 메모리 제어 유닛(226)과 인버터(215))과; 설정 수단에 의해 응답을 행한다고 설정된 제 1의 검사 펄스(예를 들면, 도 12의 검사 펄스(291))로부터 탄성 표면파가 여진 수단에 의해 여진된 경우, 그 탄성 표면파를 반사시킴(예를 들면, 도 12의 반사 펄스(301)를 방사시킴)으로써, 제 1의 검사 펄스에 대한 응답을 행하고, 설정 수단에 의해 응답을 금지한다고 설정된 제 2의 검사 펄스(예를 들면, 도 12의 검사 펄스(293))로부터의 탄성 표면파가 여진 수단에 의해 여진된 경우, 그 탄성 표면파를 통과시킴(예를 들면, 도 12의 반사 펄스(303)를 방사시키지 않음)으로써, 제 2의 검사 펄스에 대한 응답을 금지하는 응답 수단(예를 들면, 도 6의 반사 전극(222)과, 그 양단에 접속된 스위치(216))을 구비하는 것을 특징으로 한다.
청구항 10에 기재된 무선 통신 장치에 있어서, 응답 수단은: 그 양단이 개방 된 경우, 여진 수단에 의해 여진된 탄성 표면파를 반사시키고, 양단이 단락된 경우, 탄성 표면파를 통과시키는 하나의 반사 전극(예를 들면, 도 6의 반사 전극(222))과; 반사 전극의 양단에 접속되는 스위치(예를 들면, 도 6의 스위치(216))를 가지며; 설정 수단은, 검사 펄스에 대한 응답을 행하는 설정을 하는 경우, 반사 전극의 양단을 개방시키도록 스위치를 조작하고(예를 들면, 도 6의 스위치(216)의 상태를 오프 상태로 하고), 검사 펄스에 대한 응답을 금지하는 설정을 하는 경우, 반사 전극의 양단을 단락시키도록 스위치를 조작하는(예를 들면, 도 6의 스위치(216)의 상태를 온 상태로 하는) 것을 특징으로 한다.
청구항 11에 기재된 무선 통신 장치는: 고유 데이터를 미리 기억하는 기억 수단(예를 들면, 도 6의 메모리(225))과; 설정 수단이, 기억 수단에 기억된 고유 데이터 중에서, 다음의 검사 펄스의 검사 대상이 되는 비트 데이터를 판독하고, 판독 비트 데이터에 의거하여, 그 검사 펄스에 대한 응답을 행하는지의 여부를 설정하는 처리에 수반하는 전력으로서, 다른 무선 통신 장치로부터 공급되는 전력(예를 들면, 도 11의 전력 공급 신호(282)로서 공급되는 전력)을 제공하는 전력 제공 수단(예를 들면, 도 6의 정류 유닛(223))을 더 구비하는 것을 특징으로 한다.
도 5는, 본 실시의 형태가 적용되는 무선 통신 시스템으로서의, RFID 시스템의 구성예를 도시하고 있다.
도 5에 도시된 바와 같이, 본 실시의 형태가 적용되는 RFID 시스템은, SAW 태그(201)와 태그 리더(202)로 구성된다.
또한, 도 5의 RFID 시스템에서는, 설명의 간략을 위해, 1대의 SAW 태그(201) 와, 1대의 태그 리더(202)만이 도시되어 있지만, 당연히, 본 실시의 형태가 적용되는 RFID 시스템은, 도시는 하지 않지만, SAW 태그(201)를 포함하는 복수의 SAW 태그와, 태그 리더(202)를 포함하는 복수의 태그 리더로 구성하는 것도 가능하다.
SAW 태그(201)에는, 상술한 운용 주파수(fo)로 태그 리더(202)와 무선 통신을 행하기 위한 안테나(211) 외에, 또한, 소정의 주파수(f1)로 태그 리더(202)와 무선 통신을 행하기 위한 안테나(212)가 마련되어 있다.
따라서 태그 리더(202)에도, 운용 주파수(fo)로 SAW 태그(201)와 무선 통신을 행하기 위한 안테나(241) 외에, 또한, 소정의 주파수(f1)로 SAW 태그(201)와 무선 통신을 행하기 위한 안테나(242)가 마련되어 있다.
또한, 운용 주파수(fo)로 행하여지는 무선 통신과, 소정의 주파수(f1)로 행하여지는 무선 통신의 차이에 대해서는 후술한다.
도 6은, SAW 태그(201)의 상세한 구성예를 도시한 블록도이다.
도 6에 도시된 바와 같이, SAW 태그(201)에는, 상술한 안테나(211) 및 안테나(212)와, 태그 유닛(213), 태그 제어 유닛(214), 인버터(215), 및 스위치(216)가 마련되어 있다.
안테나(211)와 안테나(212)의 각각은, 대응하는 주파수(안테나(211)의 경우, 운용 주파수(fo)이고, 안테나(212)의 경우, 주파수(f1)이다)로 이용 가능한 것이라면, 그 형태는 특히 한정되지 않고, 예를 들면, 대응하는 주파수의 반파장의 다이폴 안테나 등을 적용할 수 있다.
태그 유닛(213)에는, 탄성 표면파의 파장(λ0)의 1/2의 전극 간격(d1)을 갖 는 빗형 전극(221), 및, 탄성 표면파의 파장(λ0)의 1/4의 전극 간격(d2)를 갖는 빗형 전극인 반사 전극(222)이 마련되어 있다.
빗형 전극(221)은, 안테나(211)에 수신된 전파(고주파 전계)에 의해, 압전 효과를 통하여 탄성 표면파(SAW)를 여진한다. 즉, 빗형 전극(221)은, 안테나(211)에 수신된 전파를 탄성 표면파로서, 반사 전극(222)에 공급한다. 따라서, 빗형 전극(221)으로서, 예를 들면, 상술한 종래의 빗형 전극(도 1이나 도 4의 빗형 전극(12))을 적용할 수 있다.
반사 전극(222)은, 양단이 오픈으로 됨에 의해, 반사판으로서 기능하여, 빗형 전극(221)으로부터 공급되는 탄성 표면파를 반사시키고(반사파를 방사하고), 한편, 양단이 쇼트 됨에 의해, 반사판으로서는 기능하지 않고, 탄성 표면파를 통과시킨다. 따라서, 반사 전극(222)으로서, 상술한 도 4의 반사 전극(71 내지 74) 중의 어느 하나를 적용할 수 있다.
이 반사 전극(222)의 양단에는 아날로그의 스위치(216)가 접속된다. 아날로그의 스위치(216)의 상태(온 상태 또는 오프 상태)는, 태그 제어 유닛(214)에 의해 제어된다.
환언하면, 태그 제어 유닛(214)은, 아날로그의 스위치(216)의 상태를 변화시킴으로써, 즉, 반사 전극(222)의 양단의 접속 상태(오픈 또는 쇼트)를 변화시킴으로써, 반사 전극(222)에서의 탄성 표면파의 반사 및 통과를 제어한다.
태그 제어 유닛(214)에는, 외부로부터의 전파, 즉, 안테나(212)가 수신한 전파를 정류하는 정류 유닛(223); 외부 커맨드를 판정하고, 태그 제어 유닛(214)의 전체의 동작을 제어하는 제어 유닛(224); SAW 태그(201)의 고유 데이터 등을 기억하는 메모리(225); 및 메모리(225)에 기억된 정보(예를 들면, SAW 태그(201)의 고유 데이터)를 판독하는 제어를 실행하는 메모리 제어 유닛(226)이 마련되어 있다.
후술하는 바와 같이, 태그 리더(202)로부터, 태그 리드의 커맨드(예를 들면, 후술하는 도 11의 커맨드(281))가, 주파수(f1)의 전파로서 송신되고, 안테나(212)에 수신되면, 정류 유닛(223)은, 그 전파를 정류하여 내부 에너지를 발생시키고, 축적한다.
제어 유닛(224)은, 이 에너지를 이용하여, 태그 리드의 커맨드를 인식하고, 메모리 제어 유닛(226)에 대해, 태그 리드(즉, SAW 태그(201)의 고유 데이터의 판독)를 지시한다.
메모리 제어 유닛(226)은, 이 지시를 받아서, 메모리(225)로부터 SAW 태그(201)의 고유 데이터를 시리얼로 판독하고, 즉, 예를 들면, 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을, 상위 비트로부터 차례로 하나씩 판독하고, 인버터(215)에 순차로 공급한다. 구체적으로는, 예를 들면, 메모리 제어 유닛(226)은, 판독한 비트 데이터가 "1"인 경우, 하이 레벨의 신호를, 판독한 비트 데이터가 "O"인 경우, 로우 레벨의 신호를, 각각 인버터(215)에 공급한다.
또한, 후술하는 바와 같이, 이 메모리 판독의 처리(메모리(225)로부터, SAW 태그(201)의 고유 데이터를 판독하는 처리)를 위해 필요한 에너지는, 태그 리더(202)로부터, 안테나(212) 및 정류 유닛(223)을 통하여 공급된다.
인버터(215)는, 공급된 신호(SAW 태그(201)의 고유 데이터를 구성하는 각 비 트 데이터의 각각에 대응하는 신호)를 반전시키고, 아날로그의 스위치(216)의 상태(온 상태 또는 오프 상태)를 전환하는 제어 신호로서, 스위치(216)에 공급한다.
스위치(216)는, 예를 들면, 인버터(215)로부터 "1"에 대응하는 하이 레벨의 신호가 공급된 경우(즉, 메모리(225)로부터 판독된 비트 데이터가 "0"일 경우), 그 상태를 온 상태로 한다. 이로써, 반사 전극(222)의 양단은 쇼트되고, 빗형 전극(221)으로부터 공급되는 탄성 표면파를 통과시킨다. 즉, 반사 전극(222)은, 반사파를 방사하지 않는다.
이에 대해, 스위치(216)는, 예를 들면, 인버터(215)로부터 "0"에 대응하는 로우 레벨의 신호가 공급된 경우(즉, 메모리(225)로부터 판독된 비트 데이터가 "1"인 경우), 그 상태를 오프 상태로 한다. 이로써, 반사 전극(222)의 양단은 오픈으로 되고, 빗형 전극(221)으로부터 공급되는 탄성 표면파를 반사시킨다. 즉, 반사 전극(222)으로부터, 반사파가 방사된다. 그 반사파는, 빗형 전극(221)을 경유하여 안테나(211)로부터 운용 주파수(fo)의 전파로서 송신된다.
또한, 스위치(216)의 전환의 제어는, 태그 리더(202)로부터 송신되어 오는 검사 펄스의 송신 주기에 동기하여(예를 들면, 후술하는 도 12의 시간(Ta)의 간격으로) 실행된다.
환언하면, 본 실시의 형태의 SAW 태그(201)에서는, 후술하는 바와 같이, 태그 리더(202)(도 5)로부터, 소정의 시간 주기(예를 들면, 후술하는 도 12의 시간(Ta)의 간격)로, 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는, 복수의 검사 펄스(예를 들면, 후술하는 도 12의 검사 펄스(291) 내지 검사 펄스(294))의 각각이 송신되어 온 경우, 빗형 전극(221)은, 검사 펄스로부터 탄성 표면파를 여진하고, 반사 전극(222)에 공급한다.
이 때, 메모리 제어 유닛(226) 및 인버터(215)는, 고유 데이터중의, 태그 리더(202)로부터 다음에 송신되는 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터를 메모리(225)로부터 판독하고, 그 비트 데이터의 내용에 의거하여, 그 검사 펄스에 대해 응답을 행하는지의 여부를 설정한다. 즉, 메모리 제어 유닛(226) 및 인버터(215)는, 그 검사 펄스에 대해 응답을 행하는 설정을 하는 경우, 스위치(216)를 오프 상태로 하는(반사 전극(222)의 양단을 오픈으로 하는) 제어 신호를 스위치(216)에 공급하고, 그 검사 펄스에 대해 응답을 금지하는 설정을 하는 경우, 스위치(216)를 온 상태로 하는(반사 전극(222)의 양단을 쇼트시키는) 제어 신호를 스위치(216)에 공급한다.
반사 전극(222)과, 그 양단에 접속된 스위치(216)는, 빗형 전극(221)에 의해, 응답을 행한다고 설정된 제 1의 검사 펄스(예를 들면, 후술하는 도 12의 검사 펄스(291))로부터 탄성 표면파가 여진된 경우, 그 탄성 표면파를 반사시킴(예를 들면, 후술하는 도 12의 반사 펄스(301)에 대응하는 반사파를 방사시킴)으로써, 제 1의 검사 펄스에 대한 응답을 행한다. 이에 대해, 반사 전극(222)과 스위치(216)는, 빗형 전극(221)에 의해, 응답을 금지한다고 설정된 제 2의 검사 펄스(예를 들면, 후술하는 도 12의 검사 펄스(293))로부터 탄성 표면파가 여진된 경우, 그 탄성 표면파를 통과시킴(즉, 예를 들면, 후술하는 도 12의 반사 펄스(303)에 대응하는 반 사파를 방사시키지 않음)으로써, 제 2의 검사 펄스에 대한 응답을 금지한다.
따라서 SAW 태그(201)에 있어서는, 고유 데이터를 나타내는 반사 전극은, 반사 전극(222)의 하나로 끝나는 것으로 되고, SAW 태그(201)의 소형화가 가능해짐과 함께, 반사 전극(222)을 빗형 전극(221)에 가능한 한 접근하여 배치시킬 수 있기 때문에, 태그 리더(202)로부터 송신된 검사 펄스의 진폭에 대해, 감쇠하지 않는 반사 펄스의 방사가 가능하다. 따라서, 본 실시의 형태가 적용되는 SAW 태그(201)는, 상술한 종래의 과제를 해결할 수 있다.
도 7은, 태그 리더(202)의 상세한 구성예를 도시한 블록도이다.
태그 리더(202)에는, 상술한 안테나(241), 및 운용 주파수(fo)로 안테나(241)를 통하여 정보를 송수신하는(무선 통신을 행하는) 송수신 유닛(243)이 마련되어 있다.
송수신 유닛(243)에서는, 스위치(252), 송신 유닛(253), 승산 유닛(254), 발진 유닛(255), 수신 유닛(256) 및 검파 유닛(257)이 마련되어 있다.
송수신 유닛(243)은, 예를 들면, 송신 처리를 행하는 경우에는, 안테나(241)와 송신 유닛(253)이 접속되도록, 스위치(252)의 접점을 전환한다.
승산 유닛(254)은, 예를 들면, 통신 제어 유닛(244)으로부터 공급된 베이스밴드 신호(지금의 경우, 검사 펄스에 대응하는 신호)를, 발진 유닛(255)에서 발진되는 주파수(fo)(즉, 운용 주파수(fo))의 신호를 이용하여, 고주파 대역의 변조 신호로 변조하고, 송신 유닛(253)에 공급한다.
송신 유닛(253)은, 예를 들면, 공급된 변조 신호에 대해, 소정의 처리(예를 들면, 송신 전력 제어, 또는, 증폭 등의 처리)를 시행한 후, 송신 신호로서 스위치(252)를 통하여 안테나(241)에 공급한다. 이 송신 신호는, 안테나(241)로부터 전파로서 외부(지금의 경우, 도 6의 SAW 태그(201))로 송신된다.
또한, 송수신 유닛(243)은, 예를 들면, 수신 처리를 행하는 경우에는, 안테나(241)와 수신 유닛(256)이 접속되도록, 스위치(252)의 접점을 전환한다. 수신 유닛(256)은, 외부(지금의 경우, 도 6의 SAW 태그(201))로부터 송신되어 온 운용 주파수(fo)의 신호(지금의 경우, 반사 펄스에 대응하는 신호)를, 예를 들면, 안테나(241) 및 스위치(252)를 통하여 수신하고, 소정의 처리(예를 들면, 증폭 등의 처리)를 시행한 후, 수신 신호로서 검파 유닛(257)에 공급한다.
검파 유닛(257)은, 공급된 고주파 대역의 수신 신호를, 발진 유닛(255)에서 발진된 주파수(fo)(즉, 운용 주파수(fo))의 신호를 이용하여 복조 검파하고, 베이스밴드 신호로 변환시키고, 통신 제어 유닛(244)에 공급한다.
통신 제어 유닛(244)은, 검사 펄스(송신 펄스)를 생성하고, 베이스밴드 신호로 변환시킨 후, 승산 유닛(254)에 공급한다. 또한, 통신 제어 유닛(244)은, 검파 유닛(257)으로부터 공급된 베이스밴드 신호로부터 데이터(반사 펄스)를 복조하고, 복조한 데이터에 의거하여, SAW 태그(201)의 고유 데이터의 판정을 행한다(고유 데이터의 대응하는 비트 데이터를 검출한다).
즉, 송수신 유닛(243)으로서, 종래의 태그 리더와 기본적으로 같은 구성과 기능을 갖는 송수신 유닛을 적용하는 것이 가능하다.
환언하면, 본 실시의 형태가 적용되는 태그 리더(202)는, 주파수(fo)로 무선 통신하는 부분과, 주파수(f1)로 무선 송신하는 부분으로 구분되어 있다.
주파수(fo)로 무선 통신하는 부분은, 안테나(241), 송수신 유닛(243) 및 통신 제어 유닛(244)의 대응하는 기능을 실행하는 부분으로 구성되어 있다. 이 주파수(fo)로 무선 통신하는 부분으로서, 종래의 태그 리더를 적용하는 것이 가능하다.
이에 대해, 주파수(f1)로 무선 송신하는 부분은, 종래의 태그 리더에는 존재하지 않았던 부분으로서, 후술하는 태그 리드의 커맨드나, SAW 태그(201)가 고유 데이터를 판독할 때에 필요한 전력을 공급하기 위한 신호 등을, 주파수(f1)로 무선 송신하기 위해 새롭게 마련된 부분이다. 환언하면, 종래의 태그 리더에 대해, 주파수(f1)로 무선 송신하는 부분을 추가하였다고도 말할 수 도 있다. 주파수(f1)로 무선 송신하는 부분은, 상술한 안테나(242) 외에, 승산 유닛(245), 발진 유닛(246), 및 송신 유닛(247), 및 통신 제어 유닛(244)의 주파수(f1)로 무선 송신하는 정보(후술하는 바와 같이, SAW 태그(201)에 대한 커맨드, 및, 전력 공급을 행하는 정보)를 생성하고, 승산 유닛(245)에 베이스밴드 신호로서 공급하는 새로운 기능을 실행하는 부분으로 구성되어 있다.
또한, 본 실시의 형태의 통신 제어 유닛(244)에서는, 이 새로운 기능의 실행과, 상술한 검사 펄스를 생성하고, 승산 유닛(254)에 베이스밴드 신호로서 공급하고, 또한, 검파 유닛(257)으로부터 공급된 베이스밴드 신호로부터 반사 펄스를 검출하고, 그 반사 펄스에 의거하여, SAW 태그(201)의 고유 데이터의 판정을 행하는 기능이, 동기하여 실행된다.
따라서 승산 유닛(245)과 송신 유닛(247)의 각각은, 예를 들면, 승산 유닛(254)과 송신 유닛(253)의 각각과, 기본적으로 같은 구성과 기능을 갖는 것을 적용할 수 있다. 단, 발진 유닛(246)은 주파수(f1)의 신호를 발진하는 것으로 된다.
이와 같이, 태그 리더(202)는, 고유 데이터를 갖는 SAW 태그(201)(도 5와 도 6)와, 무선 통신을 행하는 무선 통신 장치로서, 태그 리더(202)에는, 소정의 시간 주기(예를 들면, 후술하는 도 12의 시간(Ta)의 간격)로, 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는, 복수의 검사 펄스(예를 들면, 후술하는 도 12의 검사 펄스(291) 내지 검사 펄스(294))의 각각을, SAW 태그(201)에 순차로 송신하는 송수신 유닛(243)과 안테나(241)가 마련되어 있다.
SAW 태그(201)는, 상술한 바와 같이, 안테나(241)로부터 송신된 검사 펄스로부터 탄성 표면파를 여진하고, 고유 데이터중의, 그 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터의 내용에 의거하여, 탄성 표면파에 대한 반사파를 방사시키는지의 여부를 제어하고 있다. 따라서, 이 안테나(241)와 송수신 유닛(243)은, SAW 태그(201)로부터 방사된 반사파도 수신한다.
태그 리더(202)에는 또한, 앞서 송신한 복수의 검사 펄스의 각각에 대해, 반사파가 수신되었는지의 여부에 의거하여, 대응하는 비트 데이터의 각각을 판정함으로써, 고유 데이터를 검출하는 통신 제어 유닛(244)이 마련되어 있다.
따라서 태그 리더(202)는, 도 6에 도시된 바와 같은 구성을 갖는 SAW 태그(201)의 고유 정보를 확실하게 검출하는 것이 가능해진다.
또한, 종래에는, 검사 펄스는 1회만 송신되었다. 이에 대해, 본 실시의 형태 에 있어서는, 적어도 고유 정보의 비트 수와 동일한 수의 검사 펄스가 송신된다. 환언하면, 본 실시의 형태에서는, SAW 태그(201)의 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하기(검출하기) 위해, 태그 리더로부터 송신되는 송신 펄스가, 검사 펄스로 된다.
다음에, 도 8 및 도 9의 순서도, 및 도 10의 화살표도(arrow chart)를 참조하여, 본 실시의 형태가 적용되는 도 5의 RFID 시스템에 있어서의, 태그 리더(202)가, SAW 태그(201)를 인식하는 처리에 관해 설명한다. 도 8의 순서도는, 태그 리더(202)측의 처리(이하, 태그 데이터 검출 처리라고 칭한다)의 예를 도시하고 있다. 도 9는, SAW 태그(201)측의 처리(이하, 태그 데이터 피검출 처리라고 칭한다)의 예를 도시하고 있다. 도 10은, 태그 리더(202)와 SAW 태그(201)의 처리의 관계를 도시하고 있다.
이하, 도 8과 도 9의 각각을 참조하여, 태그 리더(202)의 태그 데이터 검출 처리와, SAW 태그(201)의 태그 데이터 피검출 처리의 각각에 관해, 그 순번대로 개별적으로 설명하지만, 이들 장치 상호의 처리의 관계는, 도 10의 대응하는 단계를 참조함으로써, 용이하게 이해하는 것이 가능하다.
처음에 도 8을 참조하여, 태그 리더(202)의 태그 데이터 검출 처리에 관해 설명한다.
단계 S1에서, 도 5의 태그 리더(202)는, 태그 리드(SAW 태그(201)의 고유 데이터(태그 데이터)의 판독)의 커맨드를, 안테나(242)를 통하여 SAW 태그(201)에 송신한다.
상세하게는, 상술한 바와 같이, 도 7의 통신 제어 유닛(244)에 의해 생성되고, 베이스밴드 신호로 변환된 태그 리드의 커맨드는, 승산 유닛(245)에 의해, 발진 유닛(246)으로부터 공급되는 주파수(f1)의 신호를 이용하여 변조되고, 송신 유닛(247) 및 안테나(242)를 통하여 전파로서 송신된다.
커맨드의 송신 종료 후, 단계 S2에서, 태그 리더(202)는, 안테나(242)를 통하여 SAW 태그(201)에 대해 전력을 공급한다.
상세하게는, 통신 제어 유닛(244)은, 태그 리드의 커맨드를 생성한 후, 이어서, SAW 태그(201)가 고유 데이터를 판독하는데 필요한 전력을 공급하기 위한 신호(이하, 전력 공급 신호라고 칭한다)를 생성하고, 베이스밴드 신호로 변환한다. 이 베이스밴드 신호(전력 공급 신호)는, 승산 유닛(245)에 의해, 발진 유닛(246)으로부터 공급된 주파수(f1)의 신호를 이용하여 변조되고, 송신 유닛(247)에 공급된다. 그리고, 송신 유닛(247)에 공급된 신호는 증폭되고, 전력 공급에 필요한 에너지를 갖는 송신 신호로 되고, 안테나(242)를 통하여 전파로서 송신된다.
구체적으로는, 예를 들면, 지금, 도 11에 도시된 바와 같이, 태그 리더(202)는, 시각(ta)부터 개략 시각(tb)의 사이에, 태그 리드의 커맨드(281)를 송신하고, 그에 이어서, 개략 시각(tb)부터, 전력 공급 신호(282)를 송신한다고 한다.
즉, 도 11은, 태그 리더(202)가, 안테나(242)를 통하여 주파수(f1)로 무선 송신하는 신호의 예를 도시하고 있고, 도면중 수평 방향의 축은, 시간축을 나타내고 있다.
후술하는 바와 같이, SAW 태그(201)는, 이 태그 리드의 커맨드(281)를 수신 하고, 인식하면, 커맨드(281)에 이어서 송신되어 오는 전력 공급 신호(282)를 이용하여, 전원을 온 상태로 한다(도 9와 도 10의 단계 S21과 S22).
또한, 여기서는, 전원 스위치를 투입하는 등의 특별한 처리를, "전원을 온 상태로 한다"라고 칭하고 있는 것이 아니라, 예를 들면, 도 6의 정류 유닛(223)이, 안테나(212)에 수신된 전력 공급 신호(282)의 전파를 정류하여 내부 에너지를 발생시키고, 축적하고, 이 에너지를 메모리(225)와 메모리 제어 유닛(226)에 공급하는 처리를, "전원을 온 상태로 한다"라고 칭하고 있다.
이 때, 도 7의 태그 리더(202)의 통신 제어 유닛(244)은, 태그 리드의 커맨드(281)나 전력 공급 신호(282)를 생성하는 것과 동기하여, 검사 펄스(송신 펄스)도 생성하고 있다.
즉, 태그 리더(202)는, 커맨드를 송신한 후, 전원을 SAW 태그(201)에 공급하는 것과 동기하여, 도 8의 단계 S3에서, 소정의 주기로 검사 펄스를, 안테나(241)를 통하여 SAW 태그(201)에 송신한다.
상세하게는, 상술한 바와 같이, 도 7의 통신 제어 유닛(244)이 검사 펄스를 생성하고, 베이스밴드 신호로 변환시키고, 송수신 유닛(243)이, 그 베이스밴드 신호(검사 펄스)를 운용 주파수(fo)의 송신 신호로 변환하고, 안테나(241)가, 그 송신 신호를 전파로서 송신한다.
구체적으로는, 예를 들면, 지금, 도 12에 도시된 바와 같이, 태그 리더(202)는, 태그 리드의 커맨드(281)의 송신(안테나(242)를 통한 송신)을 종료하고, 전원 공급 신호(282)의 송신(안테나(242)를 통한 송신)을 시작한 개략 시각(tb)에서, 최초의 검사 펄스(291)를 안테나(241)를 통하여 송신하고, 그 후, 소정의 시간(Ta)의 간격으로 검사 펄스를 안테나(241)를 통하여 순차로 송신하는 것으로 한다. 즉, 개략 시각(tb)부터 시간(Ta)만큼 경과한 개략 시각(td)에서, 다음의 검사 펄스(292)가 안테나(241)로부터 송신되고, 개략 시각(td)부터 시간(Ta)만큼 경과한 개략 시각(tf)에서, 또 다음의 검사 펄스(293)가 안테나(241)로부터 송신되고, 개략 시각(tf)부터 시간(Ta)만큼 경과한 개략 시각(th)에서, 최후의 검사 펄스(294)가 안테나(241)로부터 송신된다.
또한, 도 12의 예에서는, 종래의 예와 비교하기 위해, 고유 데이터가 4비트로 이루어지고, 그 결과, 검사 펄스(294)가 최후의 검사 펄스로 되어 있지만, 고유 데이터의 비트 수가 불명인 경우, 또는, 4비트보다 많은 경우, 더욱, 시간(Ta)을 주기로 하여 검사 펄스가 순차로 송신되어 간다.
또한, 검사 펄스의 송신 주기인 시간(Ta)은, 특히 한정되지 않지만, SAW 태그(201)상의 탄성 표면파의 속도에 의해 결정되면 좋다.
상술한 바와 같이(도 6에 도시된 바와 같이), SAW 태그(201)는, 검사 펄스의 송신 주기에 동기하여(지금의 경우, 시간(Ta)의 간격마다), 고유 데이터중의, 다음의 검사 펄스가 검사 대상으로 하는 비트 데이터를 판독하고, 그 비트 데이터의 내용에 의거하여, 스위치(216)의 상태를 제어함으로써, 순차로 도달하는 검사 펄스의 각각에 대응하는 탄성 표면파의, 반사 전극(222)에 있어서의 반사와 통과를 제어한다.
예를 들면, 지금, SAW 태그(201)의 고유 데이터가, 상술한 종래의 예와 마찬 가지로, 4비트의 데이터 "1101"이라고 한다.
이 경우, 후술하는 바와 같이, 최초의 검사 펄스(291)(도 12)가 안테나(211)에 수신되는 타이밍에서, SAW 태그(201)의 메모리 제어 유닛(226)은, 메모리(225)로부터 고유 데이터 "1101"중의 1비트째의 비트 데이터 "1"을 판독하고, 스위치(216)를, "1"에 대응하는 상태, 즉, 오프 상태로 전환한다. 그러면, 반사 전극(222)은, 그 양단이 오픈으로 되고(개방되고), 반사판으로서 기능하게 되고, 빗형 전극(221)으로부터 공급되는, 최초의 검사 펄스(291)에 대응하는 탄성 표면파를 반사한다. 즉, 반사 전극(222)은, 최초의 검사 펄스(291)에 대한 반사파를 방사함으로써, 검사 펄스(291)에 응답한다(도 9와 도 10의 단계 S24, S25 (NO), 및 S26).
다음의 검사 펄스(292)(도 12)가 안테나(211)에 수신되는 타이밍에서, 메모리 제어 유닛(226)은, 메모리(225)로부터 고유 데이터 "1101"중의 2비트째의 비트 데이터 "1"을 판독하고, 스위치(216)를, "1"에 대응하는 상태, 즉, 오프 상태로 전환한다(상태를 전환하지 않는다). 그러면, 반사 전극(222)은, 그 양단이 오픈으로 되고(개방되고), 반사판으로서 기능하게 되고, 빗형 전극(221)으로부터 공급되는, 검사 펄스(292)에 대응하는 탄성 표면파를 반사한다. 즉, 반사 전극(222)은, 검사 펄스(292)에 대한 반사파를 방사함으로써, 검사 펄스(292)에 응답한다(도 9와 도 10의 단계 S24, S25 (NO), 및 S26).
또 다음의 검사 펄스(293)가 안테나(211)에 수신되는 타이밍에서, 메모리 제어 유닛(226)은, 메모리(225)로부터 고유 데이터 "1101"중의 3비트째의 비트 데이터 "0"을 판독하고, 스위치(216)를, "0"에 대응하는 상태, 즉, 온 상태로 전환한 다. 그러면, 반사 전극(222)은, 그 양단이 쇼트되고(단락되고), 빗형 전극(221)으로부터 공급되는, 검사 펄스(293)에 대응하는 탄성 표면파를 통과시킨다. 즉, 반사 전극(222)은, 검사 펄스(293)에 대한 반사파를 방사하지 않는다(도 9와 도 10의 단계 S24, S25 (YES), 및 S27). 환언하면, 반사 전극(222)은, 검사 펄스(293)에 대한 응답을 금지하였다고도 말할 수 있다.
최후의 검사 펄스(294)(도 12)가 안테나(211)에 수신되는 타이밍에서, 메모리 제어 유닛(226)은, 메모리(225)로부터 고유 데이터 "1101"중의 4비트째의 비트 데이터 "1"을 판독하고, 스위치(216)를, "1"에 대응하는 상태, 즉, 오프 상태로 전환한다. 그러면, 반사 전극(222)은, 그 양단이 오픈으로 되고(개방되고), 반사판으로서 기능하게 되고, 빗형 전극(221)으로부터 공급되는, 검사 펄스(294)에 대응하는 탄성 표면파를 반사한다. 즉, 반사 전극(222)은, 검사 펄스(294)에 대한 반사파를 방사함으로써, 검사 펄스(294)에 응답한다(도 9와 도 10의 단계 S24, S25 (NO), 및 S26).
이와 같이, 메모리 제어 유닛(226)은, 검사 펄스의 도달 타이밍에 동기하여, 고유 데이터중의, 그 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터를 판독하고, 그 비트 데이터의 값에 대응하여 스위치(216)의 상태(온 상태 또는 오프 상태)를 변화시킴으로써, 반사 전극(222)의 탄성 표면파의 반사와 통과를 제어하고, 각 검사 펄스의 각각에 대해 응답을 행하거나(반사파를 방사하거나), 응답을 금지하는(탄성 표면파를 통과시켜서, 반사파를 방사하지 않는) 설정을 행할 수가 있다.
즉, 메모리 제어 유닛(226)은, 고유 데이터중의, 다음의 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터가 "1"인 경우, 그 검사 펄스에 대응하는 탄성 표면파를, 반사 전극(222)에서 반사시키도록 제어한다. 따라서, SAW 태그(201)는, 그 검사 펄스에 대한 응답으로서, 그 검사 펄스(탄성 표면파)에 대한 반사파(반사 펄스)를 안테나(211)를 통하여 송신하는 것으로 된다.
이에 대해, 메모리 제어 유닛(226)은, 고유 데이터중의, 다음의 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터가 "0"인 경우, 그 검사 펄스에 대응하는 탄성 표면파를, 반사 전극(222)에서 통과시키도록 제어한다. 따라서, SAW 태그(201)는, 그 검사 펄스에 대한 응답을 돌려 주지 않는(그 검사 펄스(탄성 표면파)에 대한 반사파를 송신하지 않는) 것으로 된다.
이로써, 태그 리더(202)는, 소정의 검사 펄스에 대해, SAW 태그 유닛(201)으로부터 반사파가 송신된 경우, 그 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터는 "1"이라고 판정하고, SAW 태그 유닛(201)으로부터 반사파가 송신되지 않은 경우, 그 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터는 "O"이라고 판정할 수 있다.
그래서, 도 8의 단계 S4에서, 태그 리더(202)는, SAW 태그 유닛(201)으로부터 송신된 반사파의 수신 유무에 의거하여, SAW 태그(201)의 고유 데이터를 검출하는 것이다.
구체적으로는, 예를 들면, 지금의 경우, 상술한 바와 같이, 최초의 검사 펄스(291)(즉, SAW 태그(201)의 고유 데이터중의, 1비트째의 비트 데이터를 검사하는 검사 펄스(291))에 대해, 반사파가 SAW 태그(201)로부터 송신되어 오기 때문에, 도 7의 태그 리더(202)의 송수신 유닛(243)은, 안테나(241)를 통하여 그 반사파를 수신하고, 베이스밴드 신호로 변환시키고, 통신 제어 유닛(244)에 공급한다. 도 12에 도시된 바와 같이, 통신 제어 유닛(244)은, 개략 시각(tc)에서, 이 베이스밴드 신호를 복조함으로써 반사 펄스(301)를 검출한다. 이와 같은 경우(반사 펄스를 검출한 경우), 통신 제어 유닛(244)은, 개략 시각(tb)에서 생성한(송신한) 검사 펄스(291)로 검사하려고 한 데이터, 즉, SAW 태그(201)의 고유 데이터중의, 1비트째의 비트 데이터는, "1"이라고 판정한다.
다음의 검사 펄스(292)(즉, SAW 태그(201)의 고유 데이터중의, 2비트째의 비트 데이터를 검사하는 검사 펄스(292))에 대해서도, 반사파가 SAW 태그(201)로부터 송신되어 오기 때문에, 송수신 유닛(243)은, 안테나(241)를 통하여 반사파를 수신하고, 베이스밴드 신호로 변환시키고, 통신 제어 유닛(244)에 공급한다. 통신 제어 유닛(244)은, 개략 시각(te)에서, 이 베이스밴드 신호를 복조함으로써 반사 펄스(302)를 검출하고, 개략 시각(td)에서 생성한(송신된) 검사 펄스(292)로 검사하려고 한 데이터, 즉, SAW 태그(201)의 고유 데이터 중의, 2비트째의 비트 데이터는, "1"이라고 판정한다.
다음에, 개략 시각(tf)에서 송신된 검사 펄스(293)(즉, SAW 태그(201)의 고유 데이터 중의, 3비트째의 비트 데이터를 검사하는 검사 펄스(293))에 대해서는, 반사파가 SAW 태그(201)로부터 송신되지 않기 때문에, 통신 제어 유닛(244)은, 개략 시각(tg)이 되어도, 검사 펄스(293)에 대한 반사 펄스(303)를 검출할 수 없다. 그러면, 이와 같은 경우(검사 펄스를 송신하고 나서 소정의 시간이 지나도, 반사파가 수신되지 않는 경우), 통신 제어 유닛(244)은, 개략 시각(tf)에서 생성한(송신된) 검사 펄스(293)로 검사하려고 한 데이터, 즉, SAW 태그(201)의 고유 데이터중의, 3비트째의 비트 데이터는, "O"이라고 판정한다.
최후(개략 시각(th))로 송신된 검사 펄스(294)(즉, SAW 태그(201)의 고유 데이터중의, 4비트째의 비트 데이터를 검사하는 검사 펄스(294))에 대해서는, 반사파가 SAW 태그(201)로부터 송신되어 오기 때문에, 송수신 유닛(243)은, 안테나(241)를 통하여 반사파를 수신하고, 베이스밴드 신호로 변환시키고, 통신 제어 유닛(244)에 공급한다. 통신 제어 유닛(244)은, 개략 시각(ti)에서, 이 베이스밴드 신호를 복조함으로써 반사 펄스(304)를 검출하고, 개략 시각(th)에서 생성한(송신된) 검사 펄스(294)로 검사하려고 한 데이터, 즉, SAW 태그(201)의 고유 데이터중의, 4비트째의 비트 데이터는, "1"이라고 판정한다.
이와 같이 하여, 통신 제어 유닛(244)은, SAW 태그(201)의 고유 데이터가 "1101"인 것을 검출하면, 즉, 단계 S4의 처리를 완료하면, 태그 데이터 검출 처리를 종료 시킨다.
다음에, 도 9를 참조하여, 상술한 태그 리더(202)의 태그 데이터 검출 처리에 대한, SAW 태그(201)의 태그 데이터 피검출 처리에 관해 설명한다.
상술한 바와 같이, 단계 S1(도 8과 도 10)의 처리에서, 도 5의 태그 리더(202)는, 도 11의 태그 리드의 커맨드(281)를, 안테나(242)를 통하여 SAW 태그(201)로 송신한다.
그러면, 단계 S21에서, 도 5의 SAW 태그(201)는, 태그 리드의 커맨드(281)를 안테나(212)를 통하여 수신하고, 인식한다.
상세하게는, 상술한 도 6에 도시된 바와 같이, 안테나(212)가, 태그 리더(202)로부터 송신된, 주파수(f1)의 전파인 태그 리드의 커맨드(281)를 수신하면, 정류 유닛(223)은, 그 전파를 정류하여 내부 에너지를 발생시키고, 축적한다. 제어 유닛(224)은, 이 에너지를 이용하여, 태그 리드의 커맨드(281)를 인식하고, 메모리 제어 유닛(226)에 대해, 태그 리드(즉, SAW 태그(201)의 고유 데이터의 판독)를 지시한다.
상술한 바와 같이, 단계 S2(도 8과 도 10)의 처리에서, 태그 리드의 커맨드(281)의 송신 종료 후, 태그 리더(202)는, 이어서, 도 11의 전력 공급 신호(282)를, 안테나(242)를 통하여 SAW 태그(201)에 대해 송신한다.
그러면, 단계 S22에서, SAW 태그(201)는, 이 전력 공급 신호(282)를 이용하여, 전원을 온 상태로 한다.
즉, 상술한 바와 같이, 안테나(212)가, 태그 리더(202)로부터 송신된, 주파수(f1)의 전파인 전력 공급 신호(282)를 수신하면, 정류 유닛(223)이, 안테나(212)에 수신된 전력 공급 신호(282)의 전파를 정류하여 내부 에너지를 발생시키고, 축적하고, 이 에너지를 메모리(225)와 메모리 제어 유닛(226)에 전력으로서 공급한다.
이 때, 상술한 바와 같이, 단계 S3(도 8과 도 10)의 처리에서, 태그 리더(202)는, 소정의 주기로(지금의 경우, 도 12의 시간(Ta)의 간격으로), 검사 펄 스를 순차로 송신한다.
즉, 태그 리더(202)는, 커맨드를 송신한 후, 전원을 SAW 태그(201)에 공급하는 것과 동기하여, 단계 S3에서, 소정의 주기로 검사 펄스를, 안테나(241)를 통하여 SAW 태그(201)에 송신한다.
그러면, 단계 S23에서, SAW 태그(201)는, 검사 펄스의 송신 주기에 동기하여, SAW 태그(201)의 고유 데이터 중의, 대상이 되는 비트 데이터를 판독하고, 단계 S24에서, 내부의 스위치(216)의 상태(온 상태 또는 오프 상태)를, 판독한 고유 데이터(비트 데이터)에 대응하는 상태로 전환한다.
즉, 지금의 경우, 고유 데이터는, "1101"로 되어 있기 때문에, 최초의 검사 펄스(291)(도 12)의 송신의 타이밍에 맞추어, 메모리 제어 유닛(226)은, 최초의 검사 펄스(291)가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터, 즉, 고유 데이터중의 1비트째의 비트 데이터인 "1"을 판독하고, 그것에 대응하는 하이 레벨 신호를 인버터(215)에 공급한다. 인버터(215)는, 하이 레벨 신호를 로우 레벨 신호로 반전시키고, 스위치(216)에 공급한다. 그러면, 스위치(216)의 상태는, 오프 상태로 전환된다.
이 때, 반사 전극(222)은, 단계 S25에서, 스위치가 온 상태인지의 여부를 판정한다. 또한, 반사 전극(222)은, 액티브하게 판정 처리를 행하는 것이 아니라, 실제로는, 패시브하게 그 양단의 접속 상태(오픈 상태 또는 쇼트 상태)가 전환될 뿐이지만, 여기서는, 반사 전극(222)이, 그 양단이 오픈으로 된 경우, 단계 S25에서, 스위치가 온 상태라고 판정하였다고 간주하고, 또한, 그 양단이 쇼트된 경우, 단계 S25에서, 스위치가 온 상태가 아니다(오프 상태이다)라고 판정하였다고 간주한다.
따라서 지금의 경우, 단계 S25에서, 스위치가 온 상태가 아니다(오프 상태이다)라고 판정하고, 반사 전극(222)은, 단계 S26에서, 빗형 전극(221)으로부터 공급되는, 검사 펄스(291)에 대응하는 탄성 표면파에 대해, 반사파를 방사한다.
상술한 바와 같이, 이 반사파는, 빗형 전극(221)과 안테나(211)를 통하여 운용 주파수(fo)의 전파로서 송신되고, 태그 리더(202)에 수신된다. 태그 리더(202)는, 이 반사파를, 검사 펄스(291)에 대한 반사 펄스(301)로서 검출하고, 검사 펄스(291)로 검사하려고 한 데이터, 즉, SAW 태그(201)의 고유 데이터중의, 1비트째의 비트 데이터는, "1"이라고 판정한다.
단계 S28에서, 메모리 제어 유닛(226)은, 모든 검사 펄스가 도달하였는지의 여부를 판정한다.
즉, 여기서는, 고유 데이터가 4비트의 데이터로 되어 있기 때문에, 메모리 제어 유닛(226)은, 단계 S28에서, 검사 펄스가 4개 도달하였는지의 여부를 판정함으로써(다시 말하면, 고유 데이터중의, 4비트째(최후)의 비트 데이터를 판독하였는지의 여부)에 의거하여, 모든 검사 펄스가 도달하였는지의 여부를 판정한다.
지금의 경우, 1번째의 검사 펄스(291)밖에 도달하고 있지 않기 때문에, 단계 S28에서, 모든 검사 펄스가 아직 도달하지 않았다고 판정되고, 처리는 단계 S23으로 되돌아와서, 그 이후의 처리가 반복된다.
즉, 단계 S23과 S24의 처리에서, 2번째의 검사 펄스(292)의 송신 타이밍에 동기하여, 고유 데이터 "1101"중의, 2비트째의 비트 데이터 "1"이 판독되고, 스위 치(216)가, "1"에 대응하는 상태, 즉, 오프 상태로 전환된다. 그러면, 반사 전극(222)은, 그 양단이 오픈으로 되고(단계 S25에서, 스위치가 온 상태가 아니다(오프 상태이다)라고 판정하고), 단계 S26에서, 빗형 전극(221)으로부터 공급되는, 검사 펄스(292)에 대응하는 탄성 표면파에 대해, 반사파를 방사한다.
지금의 시점에서는, 2번째의 검사 펄스(292)밖에 도달하고 있지 않기 때문에, 단계 S28에서, 모든 검사 펄스가 아직 도달하고 있지 않다고 판정되고, 처리는 단계 S23으로 되돌아와서, 그 이후의 처리가 반복된다.
즉, 단계 S23과 S24의 처리에서, 3번째의 검사 펄스(293)의 송신 타이밍에 동기하여, 고유 데이터 "1101" 중의, 3비트째의 비트 데이터 "O"이 판독되고, 스위치(216)가, "0"에 대응하는 상태, 즉, 온 상태로 전환된다. 그러면, 이번에는, 반사 전극(222)은, 그 양단이 쇼트되고(단계 S25에서, 스위치가 온 상태라고 판정하고), 단계 S27에서, 빗형 전극(221)으로부터 공급되는, 검사 펄스(293)에 대응하는 탄성 표면파를 통과시킨다. 즉, 반사 전극(222)은, 반사파를 방사하지 않는다.
지금의 시점에서는, 3번째의 검사 펄스(293)밖에 도달하고 있지 않기 때문에, 단계 S28에서, 모든 검사 펄스가 아직 도달하고 있지 않다고 판정되고, 처리는 단계 S23으로 되돌아와서, 그 이후의 처리가 반복된다.
즉, 단계 S23과 S24의 처리에서, 4번째(즉, 최후)의 검사 펄스(294)의 송신 타이밍에 동기하여, 고유 데이터 "1101" 중의, 4비토로의 비트 데이터 "1"이 판독되고, 스위치(216)가, "1"에 대응하는 상태, 즉, 오프 상태로 전환된다. 그러면, 이번에는, 반사 전극(222)은, 그 양단이 오픈으로 되고(단계 S25에서, 스위치가 온 상태가 아니다(오프 상태이다)라고 판정하고), 단계 S27에서, 빗형 전극(221)으로부터 공급되는, 검사 펄스(294)에 대응하는 탄성 표면파에 대해, 반사파를 방사한다.
지금의 시점에서는, 최후(4번째)의 검사 펄스(294)가 도달하고, 그에 대응하는 처리는 완료하였기 때문에, 단계 S28에서, 모든 검사 펄스가 도달하였다고 판정되고, 태그 데이터 피검출 처리는 종료된다.
이와 같이, 본 실시의 형태가 적용되는 무선 통신 시스템으로서의, RFID 시스템에 있어서는, 도 5에 도시된 바와 같이, 태그 리더(202)와, 자기자신을 식별시키는 고유 데이터를 갖는 SAW 태그(201)가 무선 통신을 행함으로써, 태그 리더(202)가, SAW 태그(201)의 고유 데이터를 검출하고, SAW 태그(201)를 인식한다.
구체적으로는, 태그 리더(202)는, 소정의 시간 주기로, 고유 데이터를 구성하는 각 비트 데이터의 각각을 검사하는, 복수의 검사 펄스의 각각을, SAW 태그(201)에 순차로 송신한다.
SAW 태그(201)는, 고유 데이터중의, 태그 리더(202)로부터 다음에 송신되는 검사 펄스가 검사 대상으로 하고 있는 비트 데이터의 내용에 의거하여, 그 검사 펄스에 대해 응답을 행하는지의 여부를 설정한다.
SAW 태그(201)는, 태그 리더(202)로부터, 응답을 행한다고 설정한 제 1의 검사 펄스가 송신된 경우, 제 1의 검사 펄스로부터 탄성 표면파를 여진시키고, 그 탄성 표면파를 반사시킴으로써, 제 1의 검사 펄스에 대한 응답을 행하고, 태그 리더(202)로부터, 응답을 금지한다고 설정한 제 2의 검사 펄스가 송신된 경우, 제 2의 검사 펄스로부터 탄성 표면파를 여진시키고, 그 탄성 표면파를 통과시킴으로써, 제 2의 검사 펄스에 대한 응답을 금지한다.
태그 리더(202)는, 송신한 복수의 검사 펄스의 각각에 대한, SAW 태그(201)로부터의 응답의 유무에 의거하여, 대응하는 비트 데이터의 각각을 판정함으로써, 고유 데이터를 검출한다.
따라서 SAW 태그(201)에서는, 고유 데이터를 나타내는 반사 전극은, 반사 전극(222)의 하나로 끝나는 것으로 되고, 종래의 SAW 태그의 특징을 살린 소형이며 고용량의 데이터 태그인 SAW 태그(201)의 실현이 용이하게 가능하다. 또한, 이와 같은 SAW 태그(201)는, 태그 리더(202)로부터 송신된 검사 펄스의 진폭에 대해, 감쇠하지 않는 반사 펄스의 방사를 할 수 있기 때문에, 태그 리더(202)는, 확실하게 SAW 태그(201)를 인식하는 것이 가능해진다. 따라서, 본 실시의 형태가 적용된 RFID 시스템은, 상술한 종래의 과제를 해결할 수 있다.
또한, 도 1이나 도 4와 같이 구성되는 종래의 SAW 태그로부터는, 그 구성상, 소정의 하나의 고유 데이터(도 1과 도 4의 예에서는, "1101"의 하나)만밖에 판독할 수 없다. 또는, 복수의 데이터의 판독을 가능하게 하기 위해서는, SAW 태그상에, 그 만큼의 반사 전극을 더욱 배치하지 않으면 안되고, SAW 태그의 물리적인 크기가 큰 것으로 되어 버린다. 이에 대해, 본 실시의 형태에서는, SAW 태그의 메모리에 복수의 데이터(특히, 고유 데이터로 한정되지 않고, 임의의 비트 데이터)를 기억시키고, 태그 리더가, 그들중의 어느 하나를 판독하는 커맨드를 SAW 태그에 주고, SAW 태그가 그 커맨드를 인식하도록 하면, 하나의 SAW 태그로부터 복수의 데이터의 판독을 할 수 있다는 효과도 이루는 것이 가능해진다.
또한, 본 실시의 형태에서는, 메모리 판독을 위한 전력은, SAW 태그(201)의 고유 데이터의 송신 주파수(즉, 운용 주파수(fo))와는 다른 주파수(f1)의 전파에 의해 공급되었지만, 전파 대신에 광에 의해 공급되어도 좋다. 즉, 상술한 바와 같이, SAW 태그(201)에 대한 전원 공급은, 태그 리더(202)로부터 행하여지지만, 그 공급의 형태는 특히 한정되지 않고, 다양한 주파수(파장)의 전파 또는 광을 이용하는 것이 가능하다.
또한, 상술한 예에서는, 태그 리더(202)는, SAW 태그(201)의 고유 데이터의 판독을 행하는 예를 설명하였지만, 물론, SAW 태그(201)의 메모리에 데이터를 기록하는 것도 용이하게 실현 가능하다. 즉, 리드 라이트 가능한 SAW 태그(201)도 용이하게 실현 가능하다.
상술한 일련의 처리는, 하드웨어에 의해 실행시킬 수도 있지만, 소프트웨어에 의해 실행시킬 수 있다.
이 경우, 상술한 도 6의 SAW 태그(201)중의 태그 제어 유닛(214)이나, 도 7의 태그 리더(202)중의 통신 제어 유닛(244)은, 예를 들면, 도 13에 도시된 바와 같이 구성할 수도 있다.
도 13에서, CPU(Central Processing Unit)(401)는, ROM(Read Only Memory)(402)에 기록되어 있는 프로그램, 또는 기억 유닛(408)으로부터 RAM(Random Access Memory)(403)에 로드된 프로그램에 따라 각종의 처리를 실행한다. RAM(403) 에는 또한, CPU(401)가 각종의 처리를 실행하는데 있어서 필요한 데이터 등도 적절히 기억된다.
CPU(401), ROM(402) 및 RAM(403)은, 버스(404)를 통하여 서로 접속되어 있다. 이 버스(404)에는 또한, 입출력 인터페이스(405)도 접속되어 있다.
입출력 인터페이스(405)에는, 필요에 응하여, 키보드, 마우스 등으로 이루어지는 입력 유닛(406), 디스플레이 등으로 이루어지는 출력 유닛(407), 하드 디스크 등으로 구성되는 기억 유닛(408)이 접속된다.
입출력 인터페이스(405)에는 또한, 통신 접속 유닛(409)이 접속된다. 즉, 도 6의 태그 제어 유닛(214)에 있어서의 통신 접속 유닛(409)의 경우, 거기에는, 예를 들면, 안테나(212)와 인버터(215)가 접속된다. 또한, 도 7의 통신 제어 유닛(244)에 있어서의 통신 접속 유닛(409)의 경우, 거기에는, 예를 들면, 송수신 유닛(243)과 승산 유닛(245)이 접속된다.
입출력 인터페이스(405)에는 또한, 필요에 응하여 드라이브(410)가 접속되고, 자기 디스크, 광디스크, 광자기 디스크, 또는 반도체 메모리 등으로 이루어지는 리무버블 기록 매체(411)가 적절히 장착되고, 그들로부터 판독된 컴퓨터 프로그램이, 필요에 응하여 기억 유닛(408)에 인스톨된다.
일련의 처리를 소프트웨어에 의해 실행시키는 경우에는, 그 소프트웨어를 구성하는 프로그램이, 전용의 하드웨어에 설치되어 있는 컴퓨터, 또는, 각종의 프로그램을 인스톨함으로써, 각종의 기능을 실행하는 것이 가능한, 예를 들면 범용의 퍼스널 컴퓨터 등에, 네트워크나 기록 매체로부터 인스톨된다.
이 기록 매체는, 도 13에 도시된 바와 같이, 장치 본체와는 별도로, 유저에게 프로그램을 제공하기 위해 배포되는, 프로그램이 기록되어 있는 자기 디스크(플로피 디스크를 포함한다), 광디스크(CD-ROM(Compact Disk-Read Only Memory), DVD(Digital Versatile Disk)를 포함한다), 광자기 디스크(MD(Mini-Disk)를 포함한다), 또는 반도체 메모리 등으로 이루어지는 리무버블 기록 매체(패키지 미디어)(411)에 의해 구성될 뿐만 아니라, 장치 본체에 미리 설치된 상태에서 유저에게 제공되는, 프로그램이 기록되어 있는 ROM(402)이나, 기억 유닛(408)에 포함되는 하드디스크 등으로 구성된다.
또한, 본 명세서에서, 기록 매체에 기록된 프로그램을 기술하는 단계는, 그 순서에 따라 시계열적으로 행하여지는 처리는 물론, 반드시 시계열적으로 처리되지 않더라도, 병렬적 또는 개별적으로 실행되는 처리도 포함하는 것이다.
또한, 본 명세서에서, 시스템이란, 복수의 장치나 처리부에 의해 구성되는 장치 전체를 나타내는 것이다.
이상과 같이, 본 발명에 의하면, SAW를 이용한 RFID 시스템을 이용할 수 있다. 특히, SAW 태그를 소형화함과 함께, 태그 리더가 그 SAW 태그를 확실하게 검출할 수 있다.
본 발명이 구체적인 용어를 사용하여 상술되었지만, 이러한 설명은 단지 설명을 위한 것으로, 하기의 특허청구범위의 취지 또는 범위를 벗어나지 않으면서 변경예와 수정예가 이루어질 수 있음을 주지해야 한다.

Claims (15)

  1. 제 1의 통신 장치; 및
    일련의 비트로 형성된 고유 데이터 값과 관련이 지워진 제 2의 통신 장치를 포함하며,
    상기 제 1의 통신 장치는:
    제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여, 커맨드인 제 1의 신호를 상기 제 1의 통신 장치로부터 상기 제 2의 통신 장치에 송신하고, 상기 제 1의 신호의 송신 이후 상기 제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여 상기 제 1의 통신 장치로부터 상기 제 2의 통신 장치에 다른 신호를 송신하며, 일련의 검사 펄스의 소정의 한 검사 펄스가, 상기 소정의 한 검사 펄스 바로 직전의 검사 펄스의 송신 이후 미리 정해진 시간 간격에서 송신되도록, 제 2의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여, 상기 다른 신호의 송신과 동시에 상기 제 2의 통신 장치에 상기 일련의 검사 펄스를 송신하는 송신 수단을 포함하고,
    상기 제 2의 통신 장치는:
    상기 제 1의 신호 수신에 응답하여 내부 전력을 생성하기 위해 수신된 상기 다른 신호를 이용하는 이용 수단과;
    상기 일련의 검사 펄스의 하나가 수신될 때마다 관련 탄성 표면파를 생성하는 생성 수단과;
    상기 일련의 비트 중 소정의 한 비트의 값에 기초하여, 상기 일련의 검사 펄스의 특정한 한 검사 펄스에 응답할지의 여부에 대한 판정을, 상기 일련의 비트 각각에 대해 수행하는 판정 수단; 및
    상기 제 2의 통신 장치가 상기 관련 검사 펄스에 응답할 것이라고 상기 판정 수단이 판정하면, 상기 탄성 표면파를 반사하고, 상기 제 2의 통신 장치가 상기 관련 검사 펄스에 응답하지 않을 것이라고 상기 판정 수단이 판정하면 상기 탄성 표면파가 통과하도록 하는 응답 수단을 포함하고,
    상기 제 1의 통신 장치는:
    상기 일련의 송신된 검사 펄스의 각각에 대해, 상기 제 2의 통신 장치로부터의 응답이 존재하는지의 여부를 검출하는 것에 의해, 상기 일련의 비트의 각각의 값을 판정하는 판정 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 통신 시스템.
  2. 제 1의 통신 장치와, 일련의 비트로 형성된 고유 데이터와 관련이 지워진 제 2의 통신 장치 사이의 통신 방법에 있어서,
    제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여, 커맨드인 제 1의 신호를 상기 제 1의 통신 장치로부터 상기 제 2의 통신 장치에 송신하는 단계와;
    상기 제 1의 신호의 송신 이후, 상기 제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여, 상기 제 1의 신호의 수신에 응답하여 내부 전력을 생성하기 위해 상기 제 2의 통신 장치에 의해 이용되는 다른 신호를 상기 제 1의 통신 장치로부터 상기 제 2의 통신 장치에 송신하는 단계와;
    일련의 검사 펄스의 소정의 한 검사 펄스가, 상기 소정의 한 검사 펄스 바로 직전의 검사 펄스의 송신 이후 미리 정해진 시간 간격에서 송신되도록, 상기 다른 신호의 송신과 동시에, 제 2의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여, 상기 제 1의 통신 장치로부터 상기 제 2의 통신 장치에 상기 일련의 검사 펄스를 송신하는 단계와;
    상기 제 2의 통신 장치에서, 상기 일련의 비트의 소정의 한 비트의 값에 기초하여 상기 일련의 검사 펄스의 특정한 한 검사 펄스에 응답할지의 여부에 대한 판정을, 상기 일련의 비트 각각에 대해 수행하는 판정 단계와;
    상기 일련의 검사 펄스의 하나가 수신될 때마다 상기 제 2의 통신 장치에서 관련 탄성 표면파를 생성하는 단계와;
    상기 제 2의 통신 장치가 상기 관련 검사 펄스에 응답할 것이라고 상기 판정 단계가 판정하면, 상기 탄성 표면파를 반사하고, 상기 제 2의 통신 장치가 상기 관련 검사 펄스에 응답하지 않을 것이라고 상기 판정 단계가 판정하면 여진된 탄성 표면파가 통과하도록 하는 단계; 및
    상기 제 1의 통신 장치에서, 상기 일련의 송신된 검사 펄스의 각각에 대해, 상기 제 2의 통신 장치로부터의 응답이 존재하는지의 여부를 검출하는 것에 의해, 상기 일련의 비트의 하나의 값을 판정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 통신 방법.
  3. 일련의 비트로 형성된 고유 데이터 값과 관련이 지워진 제 2의 통신 장치와 통신하는 제 1의 통신 장치에 있어서,
    제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여, 커맨드인 제 1의 신호를 상기 제 1의 통신 장치로부터 상기 제 2의 통신 장치에 송신하고, 상기 제 1의 신호의 송신 이후, 상기 제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여, 상기 제 1의 신호의 수신에 응답하여 내부 전력을 생성하기 위해 상기 제 2의 통신 장치에 의해 이용되는 다른 신호를 상기 제 1의 통신 장치로부터 상기 제 2의 통신 장치에 송신하고, 일련의 검사 펄스의 소정의 한 검사 펄스가, 상기 소정의 한 검사 펄스 바로 직전의 검사 펄스의 송신 이후 미리 정해진 시간 간격에서 송신되도록, 제 2의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여 상기 다른 신호의 송신과 동시에 상기 제 2의 통신 장치에 상기 일련의 검사 펄스를 송신하는 송신 수단과;
    상기 일련의 검사 펄스 중 특정한 검사 펄스에 응답하여 상기 제 2의 통신 장치로부터 방사되는 관련 탄성 표면파를 수신하는 수신 수단; 및
    상기 일련의 송신된 검사 펄스의 각각에 대해, 상기 일련의 검사 펄스 중 특정한 검사 펄스에 응답하여 상기 수신 수단이 상기 관련 탄성 표면파를 수신하였는지의 여부를 검출하는 것에 의해 상기 일련의 비트 각각에 대한 값을 판정하는 판정 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 제 1의 통신 장치.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 제 2의 동작 주파수의 상기 전자기파는 상기 내부 전력에 대응하는 에너지를 갖는 광파(light wave)인 것을 특징으로 하는 제 1의 통신 장치.
  5. 일련의 비트로 형성된 고유 데이터 값과 관련이 지워진 통신 장치와의 통신 방법에 있어서,
    제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여, 커맨드인 제 1의 신호를 상기 통신 장치에 송신하는 단계와;
    상기 제 1의 신호의 수신에 응답하여 내부 전력을 생성하기 위해 상기 통신 장치에 의해 이용되는 다른 신호를, 상기 제 1의 신호의 송신 이후 상기 제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여 상기 통신 장치에 송신하는 단계와;
    일련의 검사 펄스의 소정의 한 검사 펄스가, 상기 소정의 한 검사 펄스 바로 직전의 검사 펄스의 송신 이후 미리 정해진 시간 간격에서 송신되도록, 상기 다른 신호의 송신과 동시에, 제 2의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여 상기 통신 장치에 상기 일련의 검사 펄스를 송신하는 단계와;
    상기 일련의 검사 펄스 중 특정한 검사 펄스에 응답하여 상기 통신 장치로부터 관련 탄성 표면파를 수신하는 단계와;
    상기 일련의 송신된 검사 펄스의 각각에 대해, 상기 일련의 검사 펄스 중 특정한 검사 펄스에 응답하여 상기 관련 탄성 표면파가 수신되었는지의 여부를 검출하는 것에 의해, 상기 일련의 비트 각각에 대한 값을 판정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 통신 방법.
  6. 일련의 비트로 형성된 고유 데이터 값과 관련이 지워진 제 2의 통신 장치와 통신하는 제 1의 통신 장치에 있어서,
    제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여 상기 제 2의 통신 장치로부터 커맨드인 제 1의 신호를 수신하고, 상기 제 1의 신호의 수신 이후, 상기 제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여 상기 제 2의 통신 장치로부터 다른 신호를 수신하는 수신 수단과;
    상기 제 1의 신호의 수신에 응답하여 내부 전력을 생성하기 위해 상기 다른 신호를 이용하는 이용 수단과;
    일련의 검사 펄스의 소정의 한 검사 펄스가, 상기 소정의 한 검사 펄스 바로 직전의 검사 펄스의 수신 이후 소정의 시간 간격에서 수신되도록, 상기 다른 신호의 수신과 동시에, 제 2의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여 상기 제 2의 통신 장치로부터 상기 일련의 검사 펄스를 수신하는 상기 수신 수단과;
    상기 일련의 검사 펄스의 하나가 수신될 때마다 관련 탄성 표면파를 생성하는 생성 수단과;
    상기 일련의 비트의 소정의 비트의 값에 기초하여 상기 일련의 검사 펄스 중 특정한 한 검사 펄스에 응답할지의 여부에 대한 판정을, 상기 일련의 비트 각각에 대해 수행하는 판정 수단; 및
    상기 제 1의 통신 장치가 관련 검사 펄스에 응답할 것이라고 상기 판정 수단이 판정하면 상기 탄성 표면파를 반사하고, 상기 제 1의 통신 장치가 관련 응답 펄스에 응답하지 않을 것이라고 상기 판정 수단이 판정하면 상기 탄성 표면파를 통과시키는 응답 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 제 1의 통신 장치.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 응답 수단은:
    한 쌍의 단자를 갖는 반사 전극; 및
    상기 한 쌍의 단자에 연결된 스위치를 포함하고,
    상기 반사 전극은 상기 한 쌍의 단자가 개방 상태일 때 상기 관련 탄성 표면파를 반사하고 상기 한 쌍의 단자가 단락된 상태일 때 상기 관련 탄성 표면파를 통과시키고,
    상기 판정 수단은, 상기 제 1의 통신 장치가 상기 관련 검사 펄스에 응답할 것이라고 상기 판정 수단이 판정하면 상기 스위치가 상기 한 쌍의 단자를 개방하도록 동작하고, 상기 제 1의 통신 장치가 상기 관련 검사 펄스에 응답하지 않을 것이라고 상기 판정 수단이 판정하면 상기 스위치가 상기 한 쌍의 단자를 단락시키도록 동작하는 것을 특징으로 하는 제 1의 통신 장치.
  8. 삭제
  9. 제 6항에 있어서,
    상기 고유 데이터 값을 기억하는 기억 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 제 1의 통신 장치.
  10. 제 6항에 있어서,
    상기 제 2의 동작 주파수의 상기 전자기파는 상기 이용 수단에 의해 생성되는 내부 전력에 대응하는 에너지를 갖는 광파인 것을 특징으로 하는 제 1의 통신 장치.
  11. 일련의 비트로 형성된 고유 데이터 값을 통신 장치에 제공하기 위해 상기 통신 장치와 통신하는 방법에 있어서,
    제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여 상기 통신 장치로부터 커맨드인 제 1의 신호를 수신하는 단계와;
    상기 제 1의 신호의 수신 이후, 상기 제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여 상기 통신 장치로부터 다른 신호를 수신하는 단계와;
    상기 제 1의 신호의 수신에 응답하여 내부 전력을 생성하기 위해 상기 다른 신호를 이용하는 단계와;
    일련의 검사 펄스의 소정의 한 검사 펄스가, 상기 소정의 한 검사 펄스 바로 직전의 검사 펄스의 수신 이후에 소정의 시간 간격에서 수신되도록, 상기 다른 신호의 수신과 동시에, 제 2의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여 상기 통신 장치로부터 상기 일련의 검사 펄스를 수신하는 단계와;
    상기 일련의 검사 펄스의 하나가 수신될 때마다 관련 탄성 표면파를 생성하는 단계와;
    상기 일련의 비트의 소정의 비트의 값에 기초하여 상기 일련의 검사 펄스의 특정한 검사 펄스에 응답할지의 여부에 대한 판정을, 상기 일련의 비트 각각에 대해 수행하는 판정 단계; 및
    상기 관련 검사 펄스가 응답을 가질 것이라고 상기 판정 단계가 판정하면 상기 탄성 표면파를 반사시키고 상기 관련 검사 펄스가 응답을 갖지 않을 것이라고 상기 판정 단계가 판정하면 상기 탄성 표면파를 통과시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 통신 방법.
  12. 제 1의 통신 장치와, 일련의 비트로 형성된 고유 데이터와 관련이 지워진 제 2의 통신 장치 사이의 통신 방법을 실행하기 위한 명령이 기록된 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체로서,
    상기 통신 방법은:
    제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여, 커맨드인 제 1의 신호를 상기 제 1의 통신 장치로부터 상기 제 2의 통신 장치에 송신하는 단계와;
    상기 제 1의 신호의 송신 이후, 상기 제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여, 상기 제 1의 신호의 수신에 응답하여 내부 전력을 생성하기 위해 상기 제 2의 통신 장치에 의해 이용되는 다른 신호를 상기 제 1의 통신 장치로부터 상기 제 2의 통신 장치에 송신하는 단계와;
    일련의 검사 펄스의 소정의 한 검사 펄스가, 상기 소정의 한 검사 펄스 바로 직전의 검사 펄스의 송신 이후 미리 정해진 시간 간격에서 송신되도록, 상기 다른 신호의 송신과 동시에, 제 2의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여, 상기 제 1의 통신 장치로부터 상기 제 2의 통신 장치에 상기 일련의 검사 펄스를 송신하는 단계와;
    상기 제 2의 통신 장치에서, 상기 일련의 비트의 소정의 한 비트의 값에 기초하여 상기 일련의 검사 펄스의 특정한 한 검사 펄스에 응답할지의 여부에 대한 판정을, 상기 일련의 비트 각각에 대해 수행하는 판정 단계와;
    상기 일련의 검사 펄스의 하나가 수신될 때마다 상기 제 2의 통신 장치에서 관련 탄성 표면파를 생성하는 단계와;
    상기 제 2의 통신 장치가 상기 관련 검사 펄스에 응답할 것이라고 상기 판정 단계가 판정하면, 상기 탄성 표면파를 반사하고, 상기 제 2의 통신 장치가 상기 관련 검사 펄스에 응답하지 않을 것이라고 상기 판정 단계가 판정하면 여진된 탄성 표면파가 통과하도록 하는 단계; 및
    상기 제 1의 통신 장치에서, 상기 일련의 송신된 검사 펄스의 각각에 대해, 상기 제 2의 통신 장치로부터의 응답이 존재하는지의 여부를 검출하는 것에 의해, 상기 일련의 비트의 하나의 값을 판정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기록 매체.
  13. 일련의 비트로 형성된 고유 데이터 값과 관련이 지워진 통신 장치와의 통신 방법을 실행하기 위한 명령이 기록된 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체로서,
    상기 통신 방법은:
    제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여, 커맨드인 제 1의 신호를 상기 통신 장치에 송신하는 단계와;
    상기 제 1의 신호의 수신에 응답하여 내부 전력을 생성하기 위해 상기 통신 장치에 의해 이용되는 다른 신호를, 상기 제 1의 신호의 송신 이후 상기 제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여 상기 통신 장치에 송신하는 단계와;
    일련의 검사 펄스의 소정의 한 검사 펄스가, 상기 소정의 한 검사 펄스 바로 직전의 검사 펄스의 송신 이후 미리 정해진 시간 간격에서 송신되도록, 상기 다른 신호의 송신과 동시에, 제 2의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여 상기 통신 장치에 상기 일련의 검사 펄스를 송신하는 단계와;
    상기 일련의 검사 펄스 중 특정한 검사 펄스에 응답하여 상기 통신 장치로부터 관련 탄성 표면파를 수신하는 단계와;
    상기 일련의 송신된 검사 펄스의 각각에 대해, 상기 일련의 검사 펄스 중 특정한 검사 펄스에 응답하여 상기 관련 탄성 표면파가 수신되었는지의 여부를 검출하는 것에 의해, 상기 일련의 비트 각각에 대한 값을 판정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기록 매체.
  14. 일련의 비트로 형성된 고유 데이터 값을 통신 장치에 제공하기 위해 상기 통신 장치와 통신하는 방법을 실행하기 위한 명령이 기록된 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체로서,
    상기 통신 방법은:
    제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여 상기 통신 장치로부터 커맨드인 제 1의 신호를 수신하는 단계와;
    상기 제 1의 신호의 수신 이후, 상기 제 1의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여 상기 통신 장치로부터 다른 신호를 수신하는 단계와;
    상기 제 1의 신호의 수신에 응답하여 내부 전력을 생성하기 위해 상기 다른 신호를 이용하는 단계와;
    일련의 검사 펄스의 소정의 한 검사 펄스가, 상기 소정의 한 검사 펄스 바로 직전의 검사 펄스의 수신 이후에 소정의 시간 간격에서 수신되도록, 상기 다른 신호의 수신과 동시에, 제 2의 동작 주파수의 전자기파를 이용하여 상기 통신 장치로부터 상기 일련의 검사 펄스를 수신하는 단계와;
    상기 일련의 검사 펄스의 하나가 수신될 때마다 관련 탄성 표면파를 생성하는 단계와;
    상기 일련의 비트의 소정의 비트의 값에 기초하여 상기 일련의 검사 펄스의 특정한 검사 펄스에 응답할지의 여부에 대한 판정을, 상기 일련의 비트 각각에 대해 수행하는 판정 단계; 및
    상기 관련 검사 펄스가 응답을 가질 것이라고 상기 판정 단계가 판정하면 상기 탄성 표면파를 반사시키고 상기 관련 검사 펄스가 응답을 갖지 않을 것이라고 상기 판정 단계가 판정하면 상기 탄성 표면파를 통과시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기록 매체.
  15. 삭제
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