KR101076820B1 - 기판 유지 장치, 기판 유지 방법 및 기판 처리 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (23)
- 기판 유지 장치에 있어서,제1밀봉부재를 제공하여, 기판의 피처리면의 주변부를 상기 제1밀봉부재와 접촉시킴으로써 상기 기판을 지지하는 기판 홀더; 및상기 기판 홀더에 의해 유지되는 상기 기판을 아래쪽으로 가압하기 위해 상기 기판 홀더에 대해 하강시킴으로써, 상기 제1밀봉부재를 상기 기판과 압착(pressure contact)시키는 기판 가압부를 포함하되,상기 기판 가압부가 상기 기판 홀더에 대해 하강할 때, 상기 기판 홀더의 링 형상의 유지부의 상부면과 압착시켜, 상기 기판 가압부의 주변 영역을 밀봉시키는 링 형상의 제2밀봉부재가 상기 기판 가압부에 제공되는 것을 특징으로 하는 기판 유지 장치.
- 제1항에 있어서,상기 제2밀봉부재는 탄성체로 이루어지는 것을 특징으로 하는 기판 유지 장치.
- 제1항에 있어서,상기 제2밀봉부재는 소정 높이의 둑부(weir portion)를 구비하는 것을 특징으로 하는 기판 유지 장치.
- 제1항에 있어서,상기 제1밀봉부재는 내부에 매입된 보강재로 보강되는 것을 특징으로 하는 기판 유지 장치.
- 제1항에 있어서,상기 기판 가압부에는 복수의 가압핀들이 제공되고, 각각의 핀은 하단부에 노출되어 있으며 탄성체에 의해 아래쪽으로 기울어져 있는 것을 특징으로 하는 기판 유지 장치.
- 제1항에 있어서,상기 기판 가압부에는 공기 구멍을 구비한 평탄한 덮개판이 제공되는 것을 특징으로 하는 기판 유지 장치.
- 기판 유지 방법에 있어서,기판 홀더에 장착된 링 형상의 제1밀봉부재를 기판 가압부에 의해 기판의 주변부와 압착시켜 상기 기판의 상기 주변부를 밀봉하는 단계; 및 이와 동시에,상기 기판 가압부에 장착된 제2밀봉부재를 상기 기판 홀더와 압착시켜, 상기 기판 가압부의 주변 영역을 밀봉함으로써, 상기 기판을 유지시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 유지 방법.
- 제7항에 있어서,상기 제2밀봉부재는 소정 높이의 둑부를 구비하는 것을 특징으로 하는 기판 유지 방법.
- 기판 처리 장치에 있어서,기판을 유지하기 위한 기판 유지 장치; 및상기 기판 유지 장치에 의해 유지되는 기판의 피처리면을, 처리 탱크에 저장된 처리액과 접촉시키는 상기 처리 탱크를 포함하되,상기 기판 유지 장치는,제1밀봉부재를 제공하여, 상기 기판의 피처리면의 주변부를 상기 제1밀봉부재와 접촉시킴으로써 상기 기판을 지지하는 기판 홀더; 및상기 기판 홀더에 의해 유지되는 상기 기판을 아래쪽으로 가압하기 위해 상기 기판 홀더에 대해 하강시켜, 상기 제1밀봉부재를 상기 기판과 압착시키는 기판 가압부를 포함하여 이루어지고,상기 기판 가압부에는, 상기 기판 가압부가 상기 기판 홀더에 대해 하강할 때, 상기 기판 홀더의 링 형상의 유지부의 상부면과 압착시켜, 상기 기판 가압부의 주변 영역을 밀봉시키는 링 형상의 제2밀봉부재가 제공되는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
- 제9항에 있어서,상기 기판의 피처리면을 상기 처리액으로 처리하는 것은 도금 전처리인 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
- 기판 유지 장치에 있어서,기판의 앞면을 아래쪽으로 향하게 하여 상기 기판을 지지하는 기판 유지부; 및상기 기판의 뒷면의 주변부를 링으로 밀봉하면서, 상기 기판 유지부에 의해 지지되는 상기 기판을 흡인 및 유지하기 위한 흡인 밀봉부(attraction seal)가 제공되는 흡인 헤드를 포함하되,상기 기판 유지부에는, 상기 기판 유지부에 의해 지지되는 상기 기판의 앞면의 주변부와 접촉하고 상기 기판을 상기 흡인 헤드에 대해 가압하기 위해, 상기 기판 유지부의 원주 방향을 따르는 위치들에 배치된, 복수의 가압 기구들이 제공되며,각각의 상기 가압 기구는, 상기 기판 유지부가 상기 흡인 헤드에 대해 상대적으로 보다 가깝게 이동함에 따라, 상기 기판의 앞면의 주변부와 접촉하고 상기 기판을 상기 흡인 헤드에 대해 가압하는, 가동 클로(movable claw)를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 유지 장치.
- 삭제
- 제11항에 있어서,상기 가동 클로는 피봇축에 의해 수직 방향으로 피봇 가능하게 지지되고, 상기 기판 유지부의 직경 방향을 따라 배치되며, 상기 피봇축의 외측면 상에서 탄성체에 의해 아래쪽으로 기울어져 있고, 상기 피봇축의 내측면 상에서 상기 기판의 앞면의 주변부와 접촉하게 하는 것을 특징으로 하는 기판 유지 장치.
- 제13항에 있어서,상기 탄성체는 대체로 원뿔대형인 고무로 이루어지는 것을 특징으로 하는 기판 유지 장치.
- 기판 유지 장치에 있어서,기판의 앞면을 아래쪽으로 향하게 하여 상기 기판을 지지하는 기판 유지부; 및상기 기판의 뒷면의 주변부를 링으로 밀봉하면서, 상기 기판 유지부에 의해 지지되는 상기 기판을 흡인 및 유지하기 위한 흡인 밀봉부가 제공되는 흡인 헤드를 포함하되,상기 기판 유지부는,베이스부; 및상기 베이스부로부터 소정 거리에 배치되어 기판 지지부의 주변부에 제공되는 결합부에 의해 상기 베이스부에 기울어질 수 있게 결합된, 상기 기판을 지지하는 상기 기판 지지부를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 유지 장치.
- 제15항에 있어서,상기 결합부는, 상기 베이스부 측 상의 부재와 상기 기판 지지부 측 상의 부재를 탄성적으로 결합시키는 탄성체를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 유지 장치.
- 제16항에 있어서,상기 탄성체는 나선형 스프링으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 기판 유지 장치.
- 기판 유지 방법에 있어서,기판 유지부에 의해 기판의 앞면을 아래쪽으로 향하게 하여 상기 기판을 지지하는 단계;상기 기판을 지지하는 상기 기판 유지부를, 링 형상의 흡인 밀봉부에 대해 상대적으로 보다 가깝게 이동하는 단계;상기 기판 유지부가 상기 흡인 밀봉부에 대해 상대적으로 보다 가깝게 이동함에 따라, 상기 기판 유지부에 의해 지지되는 상기 기판의 앞면의 주변부와 복수의 가동 클로를 접촉시키고 상기 기판을 상기 흡인 밀봉부에 대해 가압하여, 상기 기판의 뒷면의 주변부를 상기 흡인 밀봉부와 밀착(tight contact)시키는 단계; 및상기 기판을 유지하기 위해 상기 흡인 밀봉부를 진공화하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 유지 방법.
- 기판 유지 방법에 있어서,기판의 앞면을 아래쪽으로 향하게 하여 상기 기판을 지지하는 단계;상기 기판을 기울이면서 상기 기판을 링 형상의 흡인 밀봉부로 이동시켜, 상기 기판의 뒷면의 주변부를 상기 흡인 밀봉부와 밀착시키는 단계; 및상기 기판을 유지하기 위해 상기 흡인 밀봉부를 진공화하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 유지 방법.
- 기판 처리 장치에 있어서,기판을 유지하기 위한 기판 유지 장치; 및상기 기판 유지 장치에 의해 유지되는 기판의 피처리면을, 처리 탱크에 저장된 처리액과 접촉시키는 상기 처리 탱크를 포함하되,상기 기판 유지 장치는,상기 기판의 앞면을 아래쪽으로 향하게 하여 상기 기판을 지지하는 기판 유지부; 및상기 기판의 뒷면의 주변부를 링으로 밀봉하면서, 상기 기판 유지부에 의해 지지되는 상기 기판을 흡인 및 유지하기 위한 흡인 밀봉부가 제공되는 흡인 헤드를 포함하여 이루어지고,상기 기판 유지부에는, 상기 기판 유지부에 의해 지지되는 상기 기판의 앞면의 주변부와 접촉하고 상기 기판을 상기 흡인 헤드에 대해 가압하기 위해, 상기 기판 유지부의 원주 방향을 따르는 위치들에 배치된, 복수의 가압 기구들이 제공되며,각각의 상기 가압 기구는, 상기 기판 유지부가 상기 흡인 헤드에 대해 상대적으로 보다 가깝게 이동함에 따라, 상기 기판의 앞면의 주변부와 접촉하고 상기 기판을 상기 흡인 헤드에 대해 가압하는, 가동 클로(movable claw)를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
- 제20항에 있어서,상기 기판의 피처리면을 상기 처리액으로 처리하는 것은 무전해 도금인 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
- 기판 처리 장치에 있어서,기판을 유지하기 위한 기판 유지 장치; 및상기 기판 유지 장치에 의해 유지되는 기판의 피처리면을, 처리 탱크에 저장된 처리액과 접촉시키는 상기 처리 탱크를 포함하되,상기 기판 유지 장치는,상기 기판의 앞면을 아래쪽으로 향하게 하여 상기 기판을 지지하는 기판 유지부; 및상기 기판의 뒷면의 주변부를 링으로 밀봉하면서, 상기 기판 유지부에 의해 지지되는 상기 기판을 흡인 및 유지하기 위한 흡인 밀봉부가 제공되는 흡인 헤드를 포함하여 이루어지고,상기 기판 유지부는,베이스부; 및상기 베이스부로부터 소정 거리에 배치되어 기판 지지부의 주변부에 제공되는 결합부에 의해 상기 베이스부에 기울어질 수 있게 결합된, 상기 기판을 지지하는 상기 기판 지지부를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
- 제22항에 있어서,상기 기판의 피처리면을 상기 처리액으로 처리하는 것은 무전해 도금인 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2003-00431346 | 2003-12-25 | ||
JP2003431346A JP2005191304A (ja) | 2003-12-25 | 2003-12-25 | 基板保持装置及び基板保持方法、並びに基板処理装置 |
JP2003432480A JP4463543B2 (ja) | 2003-12-26 | 2003-12-26 | 基板保持装置及び基板保持方法、並びに基板処理装置 |
JPJP-P-2003-00432480 | 2003-12-26 | ||
PCT/JP2004/019681 WO2005064642A1 (en) | 2003-12-25 | 2004-12-22 | Substrate holding apparatus, substrate holding method, and substrate processing apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20060124658A KR20060124658A (ko) | 2006-12-05 |
KR101076820B1 true KR101076820B1 (ko) | 2011-10-25 |
Family
ID=34742126
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020067012728A KR101076820B1 (ko) | 2003-12-25 | 2006-06-23 | 기판 유지 장치, 기판 유지 방법 및 기판 처리 장치 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US7886685B2 (ko) |
EP (1) | EP1697967A1 (ko) |
KR (1) | KR101076820B1 (ko) |
TW (1) | TWI368671B (ko) |
WO (1) | WO2005064642A1 (ko) |
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- 2004-12-22 US US10/578,100 patent/US7886685B2/en active Active
- 2004-12-22 WO PCT/JP2004/019681 patent/WO2005064642A1/en not_active Application Discontinuation
- 2004-12-22 EP EP04808032A patent/EP1697967A1/en not_active Withdrawn
- 2004-12-23 TW TW093140194A patent/TWI368671B/zh not_active IP Right Cessation
-
2006
- 2006-06-23 KR KR1020067012728A patent/KR101076820B1/ko active IP Right Grant
-
2011
- 2011-01-03 US US12/983,474 patent/US8141513B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-02-16 US US13/398,216 patent/US8777198B2/en active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
US20110094442A1 (en) | 2011-04-28 |
US20070070575A1 (en) | 2007-03-29 |
US8777198B2 (en) | 2014-07-15 |
TWI368671B (en) | 2012-07-21 |
KR20060124658A (ko) | 2006-12-05 |
US20120141246A1 (en) | 2012-06-07 |
US8141513B2 (en) | 2012-03-27 |
US7886685B2 (en) | 2011-02-15 |
EP1697967A1 (en) | 2006-09-06 |
WO2005064642A1 (en) | 2005-07-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141001 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
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|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160921 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170919 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180918 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190917 Year of fee payment: 9 |