KR101075483B1 - 기판 세정장치 및 방법 - Google Patents
기판 세정장치 및 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101075483B1 KR101075483B1 KR1020080126586A KR20080126586A KR101075483B1 KR 101075483 B1 KR101075483 B1 KR 101075483B1 KR 1020080126586 A KR1020080126586 A KR 1020080126586A KR 20080126586 A KR20080126586 A KR 20080126586A KR 101075483 B1 KR101075483 B1 KR 101075483B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- cleaning
- holding means
- unit
- liquid
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6838—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/67034—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for drying
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/6704—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
- H01L21/67046—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing using mainly scrubbing means, e.g. brushes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/6704—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
- H01L21/67051—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing using mainly spraying means, e.g. nozzles
Abstract
Description
Claims (20)
- 기판을 기립상태로 로딩하는 로딩부;상기 로딩부로부터 이송된 기판을 기립상태로 유지하면서 표면을 세정하는 세정부;상기 세정부로부터 이송된 기판을 기립상태로 유지하면서 표면을 건조하는 건조부;상기 건조부로부터 이송된 기판을 언로딩하는 언로딩부;상기 각 부에 구비되어, 기립된 상기 기판의 일측면에 기체를 분사하여 국부적으로 발생되는 음압으로 기립상태를 유지시키는 제1유지수단; 또는 상기 기판의 일측면에 액체를 분사하여 상기 액체의 부착력으로 기립상태를 유지시키는 제2유지수단; 중 적어도 어느 하나 이상을 포함하여 상기 기판을 향해 유체를 분사하여 상기 기판을 기립상태로 유지시키는 기립유지수단; 및상기 기판을 기립상태로 이송하는 이송수단;을 포함하며,상기 세정부에는 상기 제2유지수단이 구비되는 것을 특징으로 하는 기판 세정장치.
- 삭제
- 제1항에 있어서,상기 로딩부, 건조부 및 언로딩부 중 적어도 어느 하나 이상에는 상기 제1유지수단이 구비되는 것을 특징으로 하는 기판 세정장치.
- 삭제
- 제1항에 있어서,상기 액체는 세정부에서 사용되는 세정액인 것을 특징으로 하는 기판 세정장치.
- 제1항에 있어서,상기 세정부에는 상기 제1유지수단이 더 구비되는 것을 특징으로 하는 기판 세정장치.
- 제6항에 있어서,상기 제1유지수단과 제2유지수단은 상호 교번하여 배치되는 것을 특징으로 하는 기판 세정장치.
- 제1항에 있어서,상기 제1유지수단은 상기 기판에 대향하는 면을 가지며, 상기 면으로부터 방사상으로 기체를 분사하는 기체분사부가 구비되는 것을 특징으로 하는 기판 세정장치.
- 제1항에 있어서,상기 제2유지수단은 상기 액체를 분사하는 액체분사부가 형성되는 것을 특징으로 하는 기판 세정장치.
- 제9항에 있어서,상기 제2유지수단에는 디척킹용 기체를 분사하는 기체분사부가 더 구비되는 것을 특징으로 하는 기판 세정장치.
- 제10항에 있어서,상기 기체분사부는 상기 액체분사부의 하부에 형성되는 것을 특징으로 하는 기판 세정장치.
- 제11항에 있어서,상기 기체분사부는 상기 액체분사부의 폭보다 좁거나, 하방으로 갈수록 폭이 좁아지는 것을 특징으로 하는 기판 세정장치.
- 삭제
- 제1항에 있어서,상기 세정부는 브러쉬부재, 스프레이부재 및 2유체노즐 중 적어도 어느 하나 이상을 구비하는 것을 특징으로 하는 기판 세정장치.
- 제1항에 있어서,상기 건조부는 에어나이프를 구비하는 것을 특징으로 하는 기판 세정장치.
- 삭제
- 1)기판을 기립상태로 로딩하는 단계;2)상기 기판을 기립상태로 유지하면서 표면을 세정하는 단계;3)상기 기판을 기립상태로 유지하면서 표면을 건조하는 단계; 및4)상기 기판을 언로딩하는 단계;를 포함하며,상기 1), 3) 및 4)단계 중 적어도 어느 하나 이상의 단계는 상기 기판의 일측면에 기체를 분사하여 상기 기판을 기립상태로 유지시키는 것을 특징으로 하는 기판 세정방법.
- 삭제
- 제17항에 있어서,상기 2)단계는 상기 기판의 일측면에 액체를 분사하여 상기 기판을 기립상태로 유지시키는 것을 특징으로 하는 기판 세정방법.
- 제19항에 있어서,상기 액체는 세정시 사용되는 세정액인 것을 특징으로 하는 기판 세정방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080126586A KR101075483B1 (ko) | 2008-12-12 | 2008-12-12 | 기판 세정장치 및 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080126586A KR101075483B1 (ko) | 2008-12-12 | 2008-12-12 | 기판 세정장치 및 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20100067964A KR20100067964A (ko) | 2010-06-22 |
KR101075483B1 true KR101075483B1 (ko) | 2011-10-21 |
Family
ID=42366485
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080126586A KR101075483B1 (ko) | 2008-12-12 | 2008-12-12 | 기판 세정장치 및 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101075483B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101387613B1 (ko) * | 2012-05-25 | 2014-04-23 | 에프엔에스테크 주식회사 | 디스플레이 기판 세정장치 |
-
2008
- 2008-12-12 KR KR1020080126586A patent/KR101075483B1/ko active IP Right Grant
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101387613B1 (ko) * | 2012-05-25 | 2014-04-23 | 에프엔에스테크 주식회사 | 디스플레이 기판 세정장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20100067964A (ko) | 2010-06-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR20080090070A (ko) | 에어나이프 및 이를 포함하는 기판 건조 장치 | |
CN103506339B (zh) | 晶圆背面清洗装置及清洗方法 | |
CA2632897A1 (en) | Device and method for the surface treatment of substrates | |
JP2010115648A (ja) | 洗浄装置 | |
US20100108095A1 (en) | Substrate processing apparatus and substrate cleaning method | |
KR100691473B1 (ko) | 기판건조용 에어나이프 모듈 및 이를 이용한 기판건조장치 | |
KR101075483B1 (ko) | 기판 세정장치 및 방법 | |
JP2012232269A (ja) | 基板浮上型搬送機構用スリットコート式塗布装置 | |
JP3180143U (ja) | 塗布ノズル洗浄装置 | |
JPWO2003071594A1 (ja) | 搬送式基板処理装置 | |
JP2005019991A (ja) | 基板処理装置 | |
KR101051095B1 (ko) | 기판 식각장치 및 방법 | |
KR20080024793A (ko) | 평판 디스플레이용 기판의 이물질 제거장치 | |
US7926494B2 (en) | Bernoulli blade | |
JP2004154893A (ja) | 板硝子の研磨方法および研磨装置 | |
KR101147278B1 (ko) | 기판의 기립유지장치 및 방법 | |
KR101013138B1 (ko) | 기판 식각장치 | |
CN113412535A (zh) | 悬浮输送装置 | |
JP2988828B2 (ja) | 基板の液切り乾燥装置 | |
KR20120061128A (ko) | 기판 박리기 장치 및 방법 | |
JP4598911B2 (ja) | 基板から処理液を除去する方法及び装置 | |
KR200338446Y1 (ko) | 미스트의 유출을 방지할 수 있는 세정장치 및 그에적용되는 유체 분사장치 | |
JP2002043266A (ja) | 基板の処理装置及び処理方法、液切りミストナイフ | |
KR102351696B1 (ko) | 기판세정장치 | |
KR102278080B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E90F | Notification of reason for final refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141010 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150930 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161006 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171110 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180927 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20191002 Year of fee payment: 9 |