KR101038639B1 - 화상 대조 방법 및 화상 대조 장치 - Google Patents

화상 대조 방법 및 화상 대조 장치 Download PDF

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Abstract

화상의 대조를 고정밀도로 행할 수 있는 화상 대조 방법, 프로그램, 및 화상 대조 장치를 제공한다. 등록 화상 AIM 및 대조 화상 RIM 각각을 기초로, 기준 위치 O로부터 화상 내의 점을 통과하는 직선 L에의 최단의 점 P0까지의 거리 ρ, 및 기준 위치 O와 최단의 점 P0을 통과하는 직선 n0과 기준 위치 O를 포함하는 기준축으로서의 x축과의 각도 θ에 기초하여, 화상 내의 점을 곡선 PL의 패턴으로 변환하고, 화상 내의 직선 성분을, 복수의 중첩된 곡선 PL의 패턴으로 변환하는 화상 처리를 행하여 변환 화상 S1611, S1612를 생성하는 변환부(161)와, 변환 화상 S1611, S1612를 기초로, 상관 처리를 행하는 상관값 S163을 생성하는 상관값 생성부(163)와, 상관값 생성부(164)가 생성한 상관값을 나타내는 신호 S163에 기초하여 대조를 행하는 대조부(164)를 설치한다.
화상 대조, 기준축, 화상 처리, 변환 화상, 상관 처리, 상관값

Description

화상 대조 방법 및 화상 대조 장치{IMAGE IDENTIFICATION METHOD AND IMAGE IDENTIFICATION APPARATUS}
도 1은 본 발명에 따른 화상 대조 장치의 제1 실시예의 하드웨어적인 기능 블록도.
도 2는 도 1에 도시한 화상 대조 장치의 소프트웨어적인 기능 블록도.
도 3은 도 2에 도시한 변환부의 동작을 설명하기 위한 도면.
도 4는 도 2에 도시한 변환부의 동작을 설명하기 위한 도면으로서, (a)는 샘플 화상 va1을 도시하는 도면, (b)는 (a)에 도시한 화상 va1을 소정의 각도 θ만큼 회전시킨 화상 va2를 도시하는 도면, (c)는 (b)에 도시한 화상 va2를 평행 이동시킨 화상 va3을 도시하는 도면, (d)는 (a)에 도시한 화상 va1을 화상 변환 처리한 화상 hva1을 도시하는 도면, (e)는 (b)에 도시한 화상 va2를 화상 변환 처리한 화상 hva2를 도시하는 도면, (f)는 (c)에 도시한 화상 va3을 화상 변환 처리한 화상 hva3을 도시하는 도면.
도 5는 도 2에 도시한 변환부의 동작을 설명하기 위한 도면.
도 6은 도 2에 도시한 상관값 생성부의 일 구체예를 도시하는 기능 블록도.
도 7은 상관 강도 화상 G(p, q)의 상관값을 설명하기 위한 도면으로서, (a), (b)는, 변환 화상으로서의 신호 S1621, S1622를 도시하는 도면, (c)는, 상관 강도 화상 G(p, q)의 강도 피크를 도시하는 도면.
도 8은 상관 강도 화상 G(p, q)를 설명하기 위한 도면.
도 9는 도 1에 도시한 화상 대조 장치의 동작을 설명하기 위한 흐름도.
도 10은 본 발명에 따른 화상 대조 장치의 제2 실시예의 기능 블록도.
도 11은 도 10에 도시한 위치 보정부의 동작을 설명하기 위한 도면.
도 12는 유사도 생성부의 동작을 설명하기 위한 도면.
도 13은 도 10에 도시한 유사도 생성부의 동작을 설명하기 위한 도면.
도 14는 도 10에 도시한 제2 실시예에 따른 화상 대조 장치의 동작을 설명하기 위한 흐름도.
도 15는 본 발명의 제3 실시예에 따른 화상 대조 장치의 동작을 설명하기 위한 도면.
도 16은 본 발명의 제3 실시예에 따른 화상 대조 장치의 동작을 설명하기 위한 흐름도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
1 : 화상 대조 장치
11 : 화상 입력부
12 : 메모리
13 : 변환 처리부
14 : 추출 처리부
15 : 고속 푸리에 변환(FFT : Fast Fourier transform) 처리부
16 : CPU
17 : 동작 처리부
161 : 변환부
162 : 추출부
163 : 상관값 생성부
164, 164a : 대조부
170 : 위치 보정부
1631 : 상관부
1632 : 상관값 검출부
16311, 16312 : 푸리에 변환부
16313 : 합성부
16314 : 위상 추출부
16315 : 역 푸리에 변환부
1641 : 유사도 생성부
1642 : 판별부
1643 : 적산부
PRG : 프로그램
본 발명은, 예를 들면, 혈관 화상, 지문 화상, 정지 화상, 동화상 등의 2개의 화상에 관하여, 그 화상의 내의 직선 성분에 기초하여 대조를 행하는 화상 대조 방법, 프로그램, 및 화상 대조 장치에 관한 것이다.
종래, 화상 정보에 기초하여 대조를 행하는 장치로서, 여러가지의 화상 대조 장치가 알려져 있다. 예를 들면 등록 화상과, 비교 대상으로 되는 대조 화상을 소정의 위치 관계로 비교하여 상관값을 산출하고, 그 상관값에 기초하여 등록 화상과 대조 화상의 대조를 행하는 정보 처리 장치, 혹은 상관값을 생성할 때에는, 화소 단위의 연산에 의해 상관값을 생성하는 정보 처리 장치가 알려져 있다(예를 들면, 특허 문헌1 참조).
[특허 문헌1]
일본 특개2000-194862호 공보
그러나, 상술한 정보 처리 장치에서는, 등록 화상과 대조 화상 사이에서, 평행 이동이나 회전, 확대, 축소 등의 어긋남이 발생한 경우에는, 적절하게 상관값을 생성하는 것이 곤란하여 충분한 대조 정밀도가 얻어지지 않는 경우가 있어, 개선이 기대되고 있다.
본 발명은, 이러한 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 그 목적은, 화상의 대조를 고정밀도로 행할 수 있는 화상 대조 방법, 프로그램, 및 화상 대조 장치를 제공하는 것에 있다.
상기 목적을 달성하기 위해서, 본 발명의 제1 관점의 화상 대조 방법은, 제1 화상과 제2 화상의 대조를 행하는 화상 대조 방법으로서, 상기 제1 화상과 제2 화상 각각의 화상 내의 기준 위치로부터의 거리, 및 상기 기준 위치를 통과하는 직선과 상기 기준 위치를 포함하는 기준축과의 각도에 기초하여 화상 변환 처리를 행하여, 상기 거리 및 상기 각도로 규정되는 2차원 공간의 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상을 생성하는 제1 단계와, 상기 제1 단계에서 생성한 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상에서, 제1 방향과, 상기 제1 방향과 직교하는 제2 방향 각각의 복수의 서로 다른 상대 위치에서의 상관 처리의 결과에 기초하여 상기 제1 화상 및 제2 화상의 대조 처리를 행하는 제2 단계를 갖는다.
바람직하게는, 상기 제1 단계에서는, 기준 위치로부터 화상 내의 점을 통과하는 직선에의 최단의 점까지의 거리, 및, 상기 기준 위치와 상기 최단의 점을 통과하는 직선과 상기 기준 위치를 포함하는 기준축과의 각도에 기초하여, 상기 화상 내의 점을 곡선의 패턴으로 변환하고, 상기 화상 내의 직선 성분을, 복수의 중첩된 상기 곡선의 패턴으로 변환하는 화상 변환 처리를 행하여, 상기 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상을 생성한다.
또한, 상기 목적을 달성하기 위해서, 본 발명의 제2 관점은, 제1 화상과 제2 화상의 대조를 행하는 정보 처리 장치에 실행시키는 프로그램으로서, 상기 제1 화상과 제2 화상 각각의 화상 내의 기준 위치로부터의 거리, 및 상기 기준 위치를 통과하는 직선과 상기 기준 위치를 포함하는 기준축과의 각도에 기초하여 화상 변환 처리를 행하여, 상기 거리 및 상기 각도로 규정되는 2차원 공간의 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상을 생성하는 제1 수순과, 상기 제1 단계에서 생성한 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상에서, 제1 방향과, 상기 제1 방향과 직교하는 제2 방향 각각의 복수의 서로 다른 상대 위치에서의 상관 처리의 결과에 기초하여 상기 제1 화상 및 제2 화상의 대조 처리를 행하는 제2 수순을 실행시킨다.
바람직하게는, 제1 수순에서는, 기준 위치로부터 화상 내의 점을 통과하는 직선에의 최단의 점까지의 거리, 및, 상기 기준 위치와 상기 최단의 점을 통과하는 직선과 상기 기준 위치를 포함하는 기준축과의 각도에 기초하여, 상기 화상 내의 점을 곡선의 패턴으로 변환하고, 상기 화상 내의 직선 성분을, 복수의 중첩된 상기 곡선의 패턴으로 변환하는 화상 변환 처리를 행하여, 상기 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상을 생성한다.
또한, 상기 목적을 달성하기 위해서, 본 발명의 제3 관점은, 제1 화상과 제2 화상의 대조를 행하는 화상 대조 장치로서, 상기 제1 화상과 제2 화상 각각의 화상 내의 기준 위치로부터의 거리, 및 상기 기준 위치를 통과하는 직선과 상기 기준 위치를 포함하는 기준축과의 각도에 기초하여 화상 변환 처리를 행하여, 상기 거리 및 상기 각도로 규정되는 2차원 공간의 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상을 생성하는 변환 수단과, 상기 변환 수단에 의해 생성한 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상에서, 제1 방향과, 상기 제1 방향과 직교하는 제2 방향으로 어긋난 상관 처리의 결과에 기초하여 상기 제1 화상 및 제2 화상의 대조 처리를 행하는 대조 수단을 갖는다.
바람직하게는, 상기 변환 수단은, 기준 위치로부터 화상 내의 점을 통과하는 직선에의 최단의 점까지의 거리, 및, 상기 기준 위치와 상기 최단의 점을 통과하는 직선과 상기 기준 위치를 포함하는 기준축과의 각도에 기초하여, 상기 화상 내의 점을 곡선의 패턴으로 변환하고, 상기 화상 내의 직선 성분을, 복수의 중첩된 상기 곡선의 패턴으로 변환하는 화상 변환 처리를 행하여, 상기 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상을 생성한다.
본 발명에 따르면, 제1 단계 및 제1 수순에 있어서, 변환 수단에서는, 제1 화상과 제2 화상 각각의 화상 내의 기준 위치로부터의 거리, 및 기준 위치를 통과하는 직선과 기준 위치를 포함하는 기준축과의 각도에 기초하여 화상 변환 처리를 행하여, 거리 및 각도로 규정되는 2차원 공간의 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상을 생성한다.
제2 단계 및 제2 수순에 있어서, 대조 수단에서는, 변환 수단에 의해 생성한 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상에서, 제1 방향과, 상기 제1 방향과 직교하는 제2 방향 각각의 복수의 서로 다른 상대 위치에서의 상관 처리의 결과에 기초하여 상기 제1 화상 및 제2 화상의 대조 처리를 행한다.
<실시예>
도 1은, 본 발명에 따른 화상 대조 장치의 제1 실시예의 하드웨어적인 기능 블록도이다.
본 실시예에 따른 화상 대조 장치(정보 처리 장치; 1)는, 예를 들면 도 1에 도시한 바와 같이, 화상 입력부(11), 메모리(12), 변환 처리부(13), 추출 처리부(14), 고속 푸리에 변환(FFT : Fast Fourier transform) 처리부(15), CPU(Central processing unit : 중앙 연산 처리 장치; 16), 및 동작 처리부(17)를 갖는다.
예를 들면 화상 입력부(11)는 메모리(12)에 접속되고, 메모리(12), 변환 처리부(13), 추출 처리부(14), FFT 처리부(15), 및 CPU(16)은, 버스 BS에 의해 접속되어 있다.
화상 입력부(11)는, 외부로부터의 화상을 입력하기 위한 입력부이다. 예를 들면, 화상 입력부(11)에는, 등록 화상 AIM, 및 등록 화상 AIM의 비교 대상인 화상(대조 화상 RIM이라고도 함)이 입력된다.
메모리(12)는, 예를 들면 화상 입력부(11)로부터 입력된 화상 등이 기억된다. 또한, 예를 들면, 메모리(12)에는, 도 1에 도시한 바와 같이 등록 화상 AIM, 대조 화상 RIM, 및 프로그램 PRG 등이 기억되어 있다.
프로그램 PRG은, 예를 들면 CPU(16)에 의해 실행되어, 본 발명에 따른 변환 처리, 상관 처리, 대조 처리 등에 관한 기능을 실현시키는 수순을 포함한다.
변환 처리부(13)는, CPU(16)의 제어에 의해 후술하는 화상 변환 처리를 행하여, 처리 결과를 CPU(16)에 출력한다. 변환 처리부(13)는, 예를 들면 고속으로 화상 변환 처리를 행하기 위해서, 하드웨어로 구성된 전용 회로를 이용하는 것이 바람직하다.
추출 처리부(14)는, CPU(16)의 제어에 의해 후술하는 추출 처리(마스크 처리라고도 함)를 행하여, 처리 결과를 CPU(16)에 출력한다. 추출 처리부(14)는, 예를 들면 고속으로 추출 처리를 행하기 위해서, 하드웨어로 구성된 전용 회로를 이용하는 것이 바람직하다.
고속 푸리에 변환(FFT) 처리부(15)는, 예를 들면 CPU(16)의 제어에 의해, 메모리(12)가 기억하는 화상 등에 기초하여 2차원 푸리에 변환 처리를 행하고, 처리 결과를 CPU(16) 등에 출력한다.
동작 처리부(17)는, 후술하는 CPU(16)의 처리의 결과에 기초하여, 예를 들면 등록 화상 AIM과 대조 화상 RIM이 일치한 경우에는, 전자 키를 해제하는 등의 소정 처리를 행한다.
CPU(16)는, 예를 들면 메모리(12)에 기억되어 있는 프로그램 PRG, 등록 화상 AIM, 및 대조 화상 RIM에 기초하여, 본 발명의 실시예에 따른 대조 처리를 행한다. 또한, CPU(16)은, 화상 입력부(11), 메모리(12), 변환 처리부(13), 추출 처리부(14), FFT 처리부(15), 동작 처리부(17) 등의 제어를 행하여, 본 실시예에 따른 처리를 실현한다.
도 2는, 도 1에 도시한 화상 대조 장치의 소프트웨어적인 기능 블록도이다.
예를 들면, CPU(16)이 메모리(12) 내의 프로그램 PRG을 실행하는 것에 의해, 도 2에 도시한 바와 같이, 변환부(161), 추출부(162), 상관값 생성부(163), 및 대조부(164)의 기능을 실현한다.
변환부(161)는 본 발명에 따른 변환 수단에 상당하고, 상관값 생성부(163) 및 대조부(164)는 본 발명에 따른 대조 수단에 상당한다.
변환부(161)는, 예를 들면 하드웨어적으로 전용의 화상 변환 처리를 행하는 변환 처리부(13)에, 화상 변환 처리를 실행시킨다.
상세하게 설명하면, 예를 들면 변환부(161)는, 등록 화상 AIM에 기초하여 화 상 변환 처리를 행하여, 처리 결과를 신호 S1611로서 출력한다.
또한, 변환부(161)는, 대조 화상 RIM에 기초하여 화상 변환 처리를 행하여, 처리 결과를 신호 S1612로서 출력한다.
도 3은, 도 2에 도시한 변환부의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
변환부(161)는, 예를 들면, 제1 화상과 제2 화상 각각의 화상 내의 기준 위치로부터의 거리, 및 기준 위치를 통과하는 직선과 기준 위치를 포함하는 기준축과의 각도에 기초하여 화상 변환 처리를 행하여, 거리 및 각도로 규정되는 2차원 공간의 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상을 생성한다.
상세하게 설명하면, 변환부(161)는, 제1 화상 및 제2 화상 각각에 대하여, 기준 위치 O로부터 화상 내의 점을 통과하는 직선 L0에의 최단의 점 P0까지의 거리 ρ0, 및, 기준 위치 O와 최단의 점 P0을 통과하는 직선 n0과 기준 위치 O를 포함하는 기준축과의 각도 θ0에 기초하여, 화상 내의 점을 곡선의 패턴으로 변환하고, 화상 내의 직선 성분을, 복수의 중첩된 곡선의 패턴으로 변환하는 화상 처리를 행하여, 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상을 생성한다.
간단한 설명을 위해, 예를 들면 도 3의 (a)에 도시한 바와 같이, x-y 평면 상에, 직선 L0, 직선 L0 상의 점 P1(x1, y1), 점 P2(x2, y2), 점 P3(x3, y3)이 있는 것으로 한다.
원점(기준 위치) O를 통과하여 직선 L0에 수직인 직선을 n0으로 하면, 예를 들면 직선 n0과 기준축으로서의 x축과는 각도 θ0의 관계가 있고, 원점 O로부터 직선 L0까지 거리 |ρ0|의 관계가 있는 것으로 한다. 여기서 |ρ0|는 ρ0의 절대값 을 나타낸다. 직선 L0은, (ρ0, θ0)이라는 파라미터로 표현할 수 있다.
x-y 평면 상의 좌표(x, y)에 대한, 본 발명에 따른 화상 변환 처리는, 예를 들면 수학식 1에 의해 정의된다.
Figure 112004045275999-pat00001
예를 들면 점 P1, P2, P3각각에 대하여 수학식 1에 나타내는 변환 처리를 행하면, 도 3의 (b)에 도시한 바와 같이 ρ-θ 공간 상의 곡선으로 변환된다. 상세하게 설명하면 변환 처리는, 점 P1(x1, y1)은 곡선 PL1(x1·cosθ+ y1·sinθ)로, 점 P2(x2, y2)는 곡선 PL2(x2·cosθ+ y2·sinθ)로, 점 P3(x3, y3)는 곡선 PL3(x3·cosθ+ y3·sinθ)로 변환한다.
이 곡선 PL1, PL2, PL3의 패턴은, ρ-θ 공간 상에서 교점 CP(ρ0, θ0)에서 교차한다. ρ-θ 공간 상에서는 교점 P(ρ0, θ0)은, x-y 평면 상에서는 직선 성분 L0에 상당한다.
반대로, 도 3의 (a)에 도시한 바와 같이 x-y 평면 상의 직선 성분 L0은, ρ-θ 공간에서는 곡선 PL1, PL2, PL3의 패턴의 교점 CP에 상당한다.
상술한 바와 같이, 2치화한 화상 변환 처리를 행하여, 처리 결과의 ρ-θ 공간 상에서의 곡선의 패턴의 중첩의 정도에 따라, 변환 전의 x-y 평면 상에 있어 어떠한 직선 성분이 지배적인 가를 판별할 수 있다.
이 x-y 평면에서의 화상의 회전, 평행 이동은, 화상 변환 처리 후의 ρ-θ 공간에서, 각각 θ 방향, ρ 방향의 평행 이동에 상당한다.
도 4는, 도 2에 도시한 변환부의 동작을 설명하기 위한 도면이다. 도 4의 (a)는 샘플 화상 va1을 도시하는 도면, 도 4의 (b)는 도 4의 (a)에 도시한 화상 va1을 소정의 각도 θ만큼 회전시킨 화상 va2를 도시하는 도면, 도 4의 (c)는 도 4의 (b)에 도시한 화상 va2를 평행 이동시킨 화상 va3을 도시하는 도면이다. 예를 들면 도 4의 (a)∼도 4의 (c)에 있어서, 종축을 x축, 횡축을 y축으로 하고 있다.
도 4의 (d)는 도 4의 (a)에 도시한 화상 va1을 화상 변환 처리한 화상 hva1을 도시하는 도면이다. 도 4의 (e)는 도 4의 (b)에 도시한 화상 va2를 화상 변환 처리한 화상 hva2를 도시하는 도면이다. 도 4의 (f)는 도 4의 (c)에 도시한 화상 va3을 화상 변환 처리한 화상 hva3을 도시하는 도면이다. 예를 들면 도 4의 (d)∼도 4의 (f)에 있어서, 종축을 ρ축, 횡축을 θ축으로 하고 있다.
변환부(161)는, 예를 들면 도 4의 (a)에 도시한 바와 같이, 직선 La1, La2를 포함하는 화상 va1을 화상 변환 처리한 경우에는, 도 4의 (d)에 도시한 바와 같이, ρ-θ 공간을 나타내는 화상 내에, 곡선 패턴의 중첩에 의해 2개의 점을 포함하는 화상 hva1을 생성한다. 간단한 설명을 위해, 곡선 패턴의 중첩의 정도가 큰 점만을 도시하고 있다.
변환부(161)는, 도 4의 (b)에 도시하는, 화상 va1을 소정의 각도 θ만큼 회전시킨 화상 va2를 화상 변환 처리한 경우에는, 도 4의 (e)에 도시하는 화상 hva2를 생성한다. 이 화상 hva2는, 도 4의 (d)에 도시하는 화상 hva1과 비교하여, ρ-θ 공간을 나타내는 화상 내에서, 회전 각도 θ에 따른 량만큼 θ 방향으로 평행 이동하고 있다.
변환부(161)는, 도 4의 (c)에 도시한다, 화상 va2를 소정의 량만큼 평행 이동시킨 화상 va3을 화상 변환 처리한 경우에는, 도 4의 (f)에 도시하는 화상 hva3을 생성한다. 이 화상 hva3은, 도 4의 (e)에 도시하는 화상 hva2와 비교하여, ρ-θ 공간을 나타내는 화상 내에서, 평행 이동량에 따른 량만큼, ρ 방향으로 평행 이동하고 있다.
상술한 특성에 의해, 화상 변환 처리 후의 화상 사이의 평행 이동량을 검출하여 상관 정도를 산출하는 것에 의해, 화상 변환 처리 전의 화상의 회전 각도, 평행 이동을 고려한 대조를 행하는 것이 가능하다.
도 5는, 도 2에 도시한 변환부의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
변환부(161)는, 예를 들면 도 5의 (a)에 도시하는 등록 화상 AIM을 화상 변환 처리를 행하여, 도 5의 (c)에 도시하는 화상 S1611을 생성하고, 도 5의 (b)에 도시하는 대조 화상 RIM을 화상 변환 처리를 행하여 화상 S1612를 생성한다.
화상 S1611, S1612의 내의 각 화소에는, 곡선의 패턴의 중첩의 정도에 따른 값이 설정된다. 본 실시예에서는 소정의 계조로 나타내는 화상 중, 곡선의 패턴의 중첩의 정도가 높을 수록 희게 표시되어 있다.
후술하는 바와 같이, 대조부(164)는, 이 곡선 패턴의 중첩의 정도에 기초하여 대조 처리를 행하기 때문에, 원래의 x-y 공간 상의 직선 성분을 기초로 대조 처리를 행하게 된다.
추출부(162)는, 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상 각각에 대하여, 1개의 변환 화상 내의 곡선의 패턴의 중첩의 정도가 미리 설정된 임계값 이상인 영역을 추출한 다.
상세하게 설명하면, 예를 들면 추출부(162)는, 도 5의 (c)에 도시하는 제1 변환 화상으로서의 신호 S1611에 기초하여, 1개의 변환 화상 내의 곡선의 패턴의 중첩의 정도가 미리 설정된 임계값 이상인 영역을 추출하고, 도 5의 (e)에 도시하는 화상 신호 S1621을 생성하여, 상관값 생성부(163)에 출력한다.
또한, 예를 들면 추출부(162)는, 도 5의 (d)에 도시하는 제2 변환 화상으로서의 신호 S1612에 기초하여, 1개의 변환 화상 내의 곡선의 패턴의 중첩의 정도가 미리 설정된 임계값 이상인 영역을 추출하고, 도 5의 (f)에 도시하는 화상 S1622를 생성하여 상관값 생성부(163)에 출력한다.
이 추출 처리를 행함으로써, 예를 들면 등록 화상 AIM 및 대조 화상 RIM의 x-y 공간 상의 직선 성분과 상이한 노이즈 성분, 예를 들면 점 성분을 제거한다.
예를 들면 추출부(162)는, 상술한 추출 처리로서, 예를 들면 하드웨어적으로 전용의 추출 처리(마스크 처리라고도 함)를 행하는 추출 처리부(14)에, 추출 처리(마스크 처리)를 실행시킨다.
상관값 생성부(163)는, 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상으로서의 신호 S1621, 1622를 기초로, 제1 방향과, 제1 방향과 직교하는 제2 방향 각각의 복수의 서로 다른 상대 위치에서의 상관 처리의 결과에 기초하여 상기 제1 화상 및 제2 화상의 대조 처리를 행한다. 여기서, 제1 방향 및 제2 방향은, 변환 화상 내의 x축 방향, y축 방향(또는 θ축 방향, ρ축 방향)을 나타낸다.
상세하게 설명하면, 상관값 생성부(163)는, 제1 및 제2 변환 화상으로서의 신호 S1621, 1622를 기초로, 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상 내의 패턴의 중첩의 정도, 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상 각각의 내의 패턴의 일치 및 불일치에 기초하여, 상관값을 생성하고, 생성한 상관값을 신호 S163으로서 대조부(164)에 출력한다.
도 6은, 도 2에 도시한 상관값 생성부(163)의 일 구체예를 도시하는 기능 블록도이다.
상관값 생성부(163)는, 예를 들면 도 6에 도시한 바와 같이, 상관부(1631), 및 상관값 검출부(1632)를 갖는다.
상관부(1631)는, 신호 S1621, S1622를 기초로, 예를 들면 위상 한정 필터를 이용한 상관 처리를 행하고, 처리 결과를 신호 S1631로서 상관값 검출부(1632)에 출력한다.
상관부(1631)는, 예를 들면 도 6에 도시한 바와 같이, 푸리에 변환부(16311, 16312), 합성부(16313), 위상 추출부(16314), 및 역 푸리에 변환부(16315)를 갖는다.
푸리에 변환부(16311)는, 신호 S1621를 예를 들면 N×N 화소의 화상 pA(m, n)인 경우에, 수학식 2에 나타낸 바와 같이, 푸리에 변환을 행하여, 푸리에 화상 데이터 X(u, v)를 생성하여, 신호 S16311로서 합성부(16313)에 출력한다.
푸리에 변환부(16312)는, 신호 S1622를 예를 들면 N×N 화소의 화상 pB(m, n)인 경우에, 수학식 3에 나타낸 바와 같이, 푸리에 변환을 행하여, 푸리에 화상 데이터 Y(u, v)를 생성하여, 신호 S16312로서 합성부(16313)에 출력한다.
푸리에 화상 데이터 X(u, v)는, 수학식 2에 나타낸 바와 같이 진폭 스펙트럼 C(u, v) 및 위상 스펙트럼θ(u, v)로 구성되고, 푸리에 화상 데이터 Y(u, v)는, 수학식 3에 나타낸 바와 같이 진폭 스펙트럼 D(u, v) 및 위상 스펙트럼Φ(u, v)로 구성된다.
Figure 112004045275999-pat00002
Figure 112004045275999-pat00003
합성부(16313)는, 푸리에 변환부(16311, 16312)에 의해 생성된 데이터 X(u, v), Y(u, v)를 합성하여 상관을 취한다. 예를 들면 합성부(16313)는, X(u, v)·Y*(u, v)를 생성하여, 위상 추출부(16314)에 출력한다. 여기서, Y*(u, v)는, Y(u, v)의 복소 공액이다.
위상 추출부(16314)는, 합성부(16313)로부터 출력된 합성 신호에 기초하여 진폭 성분을 제거하여 위상 정보를 추출한다.
예를 들면 위상 추출부(16314)는, X(u, v)·Y*(u, v)에 기초하여, 그 위상 성분 Z(u, v)= exp{j(θ(u, v )-φ(u, v ))}를 추출한다.
위상 정보의 추출은, 상술한 형태에 한정되는 것이 아니다. 예를 들면, 푸리에 변환부(16311, 16312)의 출력을 기초로, 수학식 4, 수학식 5에 기초하여 위상 정보를 추출한 후, 수학식 6에 나타낸 바와 같이 위상 성분만 합성을 행하여, Z(u, v)를 생성해도 된다.
Figure 112004045275999-pat00004
Figure 112004045275999-pat00005
Figure 112004045275999-pat00006
역 푸리에 변환부(16315)는, 위상 추출부(16314)로부터 출력된, 위상 정보만의 신호 Z(u, v)에 기초하여, 역 푸리에 변환 처리를 행하여, 상관 강도 화상을 생성한다.
상세하게 설명하면, 역 푸리에 변환부(16315)는, 수학식 7에 나타낸 바와 같이, 신호 Z(u, v)에 기초하여 역 푸리에 변환 처리를 행하여, 상관 강도 화상 G(p, q)을 생성하여, 신호 S1631로서 상관값 검출부(1632)에 출력한다.
Figure 112004045275999-pat00007
상관값 검출부(1632)는, 상관부(1631)로부터 출력된 신호 S1631에 기초하여, 예를 들면 상관 강도 화상 G(p, q) 중의 피크 강도에 기초하여 상관값을 검출하고, 검출한 상관값을 신호 S163으로서 대조부(164)에 출력한다. 예를 들면 상관값 검출부(1632)는, 상관 강도 화상 G(p, q) 중, 가장 큰 피크 강도를 상관값으로 한다.
도 7은, 상관 강도 화상 G(p, q)의 상관값을 설명하기 위한 도면이다. 도 7의 (a), 도 7의 (b)는, 변환 화상으로서의 신호 S1621, S1622를 도시하는 도면, 도 7의 (c)는, 상관 강도 화상 G(p, q)의 강도 피크를 도시하는 도면이다. 도 8은, 상관 강도 화상 G(p, q)를 설명하기 위한 도면이다.
예를 들면 상관값 생성부(163)는, 예를 들면 도 7의 (a), 도 7의 (b)에 도시한 바와 같은 화상 S1621, S1622를 기초로 상관 처리를 행하고, 도 7의 (c)에 도시한 바와 같은, 상관 강도 화상 G(p, q)를 생성하여, 신호 S1631로서 출력한다. 도 7의 (c)에 있어서, z 축은 점(p, q)에 있어서의 상관 강도를 나타낸다. 상관값 검출부(1632)는, 예를 들면 도 7의 (c)에 있어서, 상관 강도가 가장 큰 피크 PP의 상관 강도를 상관값 신호 S163으로서 대조부(164)에 출력한다.
상관 강도 화상 S1631은, 예를 들면 화상 S1621, S1622 사이에 회전 어긋남이나, 평행 이동 어긋남이 없는 경우에는, 도 8에 도시한 바와 같이, 상관 강도 화상 S1631의 화상 중심 위치 O에, 상관 강도가 큰 피크 PP가 형성되도록 설정되어 있다.
화상 S1621, S1622 사이에 회전 어긋남이나 평행 이동 어긋남이 있는 경우에는, 그 화상 중심 위치 O로부터, 회전 어긋남이나 평행 이동 어긋남에 따른 량만큼 어긋나서 피크 PP가 형성되도록 설정되어 있다.
상술한 상관 처리에 의해 상관 강도 화상을 생성하면, 화상 S1621, S1622 사 이에 회전 어긋남이나 평행 이동 어긋남이 있는 경우에도, 그 상관 강도 화상을 기초로 상관 피크를 상관값으로서 구할 수 있다.
대조부(164)는, 상관값 생성부(163)로부터 출력된 상관값을 나타내는 신호 S163을 기초로, 등록 화상 AIM 및 대조 화상 RIM의 대조를 행한다.
상세하게 설명하면, 대조부(164)는, 상관값이 소정의 임계값보다도 큰 경우에는, 등록 화상 AIM 및 대조 화상 RIM이 일치하고 있다고 판별하고, 임계값 이하인 경우에는, 불일치라고 판별한다.
예를 들면, 시큐러티 분야에서의 정맥 패턴 대조 장치에, 본 실시예에 따른 화상 대조 장치를 적용한 경우에는, CPU(16)은, 대조부(164)의 대조 결과에 따라서, 동작 처리부(17)에 전자 자물쇠를 해제하는 등과 같은 소정의 처리를 행하게 한다.
도 9는, 도 1에 도시한 화상 대조 장치의 동작을 설명하기 위한 흐름도이다. 화상 대조 장치(1)의 동작을, 도 3, 도 5, 도 7∼도 9를 참조하면서, CPU(16)의 동작을 중심으로 설명한다.
예를 들면 미리 화상 입력부(11)로부터 등록 화상 AIM이 입력되어, 메모리(12)에 기억된다.
단계 ST1에 있어서, 화상 입력부(11)로부터 대조 화상 RIM이 입력되어, 메모리(12)에 기억된다.
단계 ST2에 있어서, 변환부(161)에서는, 예를 들면 도 5의 (b)에 도시하는 대조 화상 RIM에 기초하여, 도 3의 (a)에 도시한 바와 같이, 기준 위치 O로부터 화 상 내의 점을 통과하는 직선 L0에의 최단의 점 P0까지의 거리 ρ0, 및, 기준 위치 O와 최단의 점 P0을 통과하는 직선 n0과 기준 위치 O를 포함하는 기준축으로서의 x축과의 각도 θ에 기초하여, 화상 내의 점을 곡선 PL의 패턴으로 변환하고, 화상 내의 직선 성분 L을, 복수의 중첩된 곡선 PL의 패턴으로 변환하는 화상 처리를 행하고, 예를 들면 도 5의 (d)에 도시한 바와 같이, ρ-θ 공간 상에 변환 화상으로서 신호 S1612를 생성한다.
단계 ST3에 있어서, 추출부(162)에서는, 변환 화상 S1612에 기초하여, 1개의 변환 화상 내의 곡선의 패턴의 중첩의 정도가 미리 설정된 임계값 이상인 영역에 관하여 추출 처리(마스크 처리)를 행한다.
상세하게 설명하면, 상술한 바와 같이, 화상 S1612의 내의 각 화소에는, 곡선의 패턴의 중첩의 정도에 따른 값이 설정되어 있고, 소정의 계조로 나타내어지는 화상 중, 곡선의 패턴의 중첩의 정도가 높을 수록 희게 표시되어 있다.
예를 들면 추출부(162)는, 도 5의 (f)에 도시하는 변환 화상 S1612 내의 곡선의 패턴의 중첩의 정도가 미리 설정된 임계값 이상인 영역을 추출하고, 예를 들면 도 5의 (e)에 도시하는 화상 S1622를 생성하여, 상관값 생성부(163)에 출력한다.
단계 ST4에 있어서, CPU(16)에서는, 메모리(12)에 기억되어 있는 등록 화상 AIM을 판독한다.
단계 ST5에 있어서, 변환부(161)에서는, 예를 들면 도 5의 (a)에 도시하는 등록 화상 AIM에 기초하여, 도 3의 (a)에 도시한 바와 같이, 기준 위치 O로부터 화 상 내의 점을 통과하는 직선 L0에의 최단의 점 P0까지의 거리 ρ0, 및, 기준 위치 O와 최단의 점 P0을 통과하는 직선 n0과 기준 위치 O를 포함하는 기준축으로서의 x축과의 각도 θ에 기초하여, 화상 내의 점을 곡선 PL의 패턴으로 변환하고, 화상 내의 직선 성분 L을, 복수의 중첩된 곡선 PL의 패턴으로 변환하는 화상 처리를 행하고, 예를 들면 도 5의 (c)에 도시한 바와 같이, ρ-θ 공간 상에 변환 화상으로서 신호 S1611을 생성한다.
단계 ST1∼ST5는 본 발명에 따른 제1 화상과 제2 화상 각각의 화상 내의 기준 위치로부터의 거리, 및 기준 위치를 통과하는 직선과 기준 위치를 포함하는 기준축과의 각도에 기초하여 화상 변환 처리를 행하여, 거리 및 각도로 규정되는 2차원 공간의 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상을 생성하는 제1 단계에 상당한다.
단계 ST6에 있어서, 추출부(162)에서는, 변환 화상 S1611에 기초하여, 1개의 변환 화상 내의 곡선의 패턴의 중첩의 정도가 미리 설정된 임계값 이상인 영역을 추출 처리(마스크 처리)를 행한다.
예를 들면 추출부(162)는, 도 5의 (c)에 도시하는 변환 화상 S1611 내의 곡선의 패턴의 중첩의 정도가 미리 설정된 임계값 이상인 영역을 추출하고, 예를 들면 도 5의 (e)에 도시하는 화상 S1621을 생성하여, 상관값 생성부(163)에 출력한다.
상관값 생성부(163)에서는, 변환 화상 S1621 및 변환 화상 S1622 내의 패턴의 중첩의 정도, 변환 화상 S1621 및 변환 화상 S1622 각각의 내의 패턴의 일치 및 불일치에 기초하여, 등록 화상 AIM 및 대조 화상 RIM의 상관값을 생성한다.
상세하게 설명하면, 단계 ST7에 있어서, 상관부(1631)의 푸리에 변환부(16311, 16312)는, 변환 화상 S1621, 1622 각각을, 예를 들면 수학식 2, 수학식 3에 나타낸 바와 같이 푸리에 변환 처리를 행하여, 처리 결과를 신호 S16311, S16312로서 합성부(16313)에 출력한다.
단계 ST1∼ST7의 처리는, 상술한 순서가 아니어도 된다. 예를 들면 변환부(161)가 등록 화상 AIM 및 대조 화상 RIM을 변환 처리한 후, 각각의 변환 화상을 추출부(162)에 의해 추출 처리(마스크 처리)를 행하여도 된다.
단계 ST8에 있어서, 합성부(16313)에서는, 신호 S16311, S16312를 기초로, 상술한 바와 같이 합성 처리를 행하고, 처리 결과를 신호 S16313으로서 위상 추출부(16314)에 출력한다.
단계 ST9에 있어서, 위상 추출부(16314)는, 신호 S16313에 기초하여 위상 성분만을 추출하여, 신호 S16314로서 역 푸리에 변환부(16315)에 출력한다.
단계 ST10에 있어서, 역 푸리에 변환부(16315)는, 신호 S16314에 기초하여 역 푸리에 변환 처리를 행하고, 예를 들면 도 7의 (c)에 도시한 바와 같이 신호 S1631로서 상관값 검출부(1632)에 출력한다.
이 상관 강도 화상 S1631의 상관 강도 피크의 크기는, 화상 변환 후의 변환 화상 사이의 상관의 정도를 나타낸다. 예를 들면 변환 화상 사이에 평행 이동 어긋남이 있는 경우에는, 상관 강도 화상 S1631의 상관 강도 피크의 위치가, 변환 화상 사이의 평행 이동 편차량에 상당한 량만큼 중심 위치 O로부터 어긋나지만 상관 강도에는 영향을 미치지 않는다.
단계 ST11에 있어서, 상관값 검출부(1632)에서는, 상관 강도 피크 PP의 강도를 상관값으로 하여, 신호 S163을 대조부(164)에 출력한다.
단계 ST12에 있어서, 대조부(164)는, 상관값 검출부(1632)로부터의 상관값을 나타내는 신호 S163에 기초하여 대조를 행한다. 상세하게 설명하면, 대조부(164)는, 상관값이 미리 정해진 임계값보다 큰지 여부를 판별하여, 크다고 판별한 경우에는, 등록 화상 AIM과 대조 화상 RIM이 일치하고 있는 취지를 나타내는 대조 결과 신호 S164를 출력한다(ST13).
한편, 단계 ST12에 있어서, 대조부(164)는, 상관값이 미리 정해진 임계값보다 작다고 판별한 경우에는, 등록 화상 AIM과 대조 화상 RIM이 불일치인 취지를 나타내는 대조 결과 신호 S164를 출력(ST14)하고, 일련의 처리를 종료한다.
단계 ST7∼ST12는, 본 발명에 따른 제1 단계에서 생성한 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상에서, 제1 방향과, 상기 제1 방향과 직교하는 제2 방향 각각의 복수의 서로 다른 상대 위치에서의 상관 처리의 결과에 기초하여 상기 제1 화상 및 제2 화상의 대조 처리를 행하는 제2 단계에 상당한다.
이상 설명한 바와 같이, 본 실시예에서는, 제1 화상과 제2 화상 각각의 화상 내의 기준 위치로부터의 거리, 및 기준 위치를 통과하는 직선과 기준 위치를 포함하는 기준축과의 각도에 기초하여 화상 변환 처리를 행하여, 거리 및 상기 각도로 규정되는 2차원 공간의 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상을 생성하는 변환부(161), 상세하게 설명하면, 등록 화상 AIM 및 대조 화상 RIM 각각을 기초로, 기준 위치 O로부터 화상 내의 점을 통과하는 직선 L에의 최단의 점 P0까지의 거리 ρ, 및 기준 위치 O와 최단의 점 P0을 통과하는 직선 n0과 기준 위치 O를 포함하는 기준축으로서의 x축과의 각도 θ에 기초하여, 화상 내의 점을 곡선 PL의 패턴으로 변환하고, 화상 내의 직선 성분을, 복수의 중첩된 곡선 PL의 패턴으로 변환하는 화상 처리를 행하여 변환 화상 S1611, S1612를 생성하는 변환부(161)와, 변환 화상 S1611, S1612를 기초로, 상관 처리를 행하여 상관값 S163을 생성하는 상관값 생성부(163)와, 상관값 생성부(163)가 생성한 상관값을 나타내는 신호 S163에 기초하여, 등록 화상 AIM 및 대조 화상 RIM의 대조를 행하는 대조부(164)를 설치했기 때문에, 화상의 대조를 고정밀도로 행할 수 있다.
즉, 대조부(164)는, 변환부(161)가 생성한 변환 화상 S1611 및 변환 화상 S1612 내의 패턴의 내의 중첩의 정도, 및 변환 화상 S1611 및 변환 화상 S1612 각각의 내의 패턴의 일치 및 불일치에 기초하여, 대조를 행하기 때문에 고정밀도로 화상의 대조를 행할 수 있다.
또한, 등록 화상 AIM과 대조 화상 RIM 사이에 평행 이동 어긋남이나 회전 각도 어긋남이 있는 경우에도, 그 평행 이동 어긋남이나 회전 각도 어긋남은, 본 발명에 따른 화상 변환 처리 후의 변환 화상 S1611, S1612 사이에서는 평행 이동 어긋남으로서 나타나고, 본 발명에 따른 상관 처리에서는, 그 변환 화상 S1611, S1612 사이에 평행 이동 어긋남이 있는 경우에도, 상관값을 생성할 수 있어 간단한 처리로 대조를 행할 수 있다.
예를 들면, 일반적인 화상 대조 처리에서는, 대조하는 화상 사이의 평행 이동 어긋남이나 회전 각도 어긋남을 보정 처리한 후에, 예를 들면 화소 단위로 대조 처리를 행한다고 하는 부하가 큰 처리를 행할 필요가 있지만, 본 실시예에 따른 화상 대조에서는, 그와 같은 보정 처리를 행할 필요가 없기 때문에, 저 부하이고 고속으로 대조 처리를 행할 수 있다.
도 10은, 본 발명에 따른 화상 대조 장치의 제2 실시예의 기능 블록도이다.
본 실시예에 따른 화상 처리 장치(1a)는, 등록 화상 AIM과 대조 화상 RIM을 기초로 하프 변환 처리를 행하여, 변환 화상의 평행 이동 어긋남을 보정하여, 위치 보정 후의 변환 화상 사이의 상관값으로서 유사도를 생성하고, 유사도를 기초로 등록 화상 AIM과 대조 화상 RIM의 대조 처리를 행한다.
화상 처리 장치(1a)는, 예를 들면 하드웨어적으로는 도 1에 도시한 기능 블록도와 동일한 구성 요소를 갖기 때문에 설명을 생략한다.
화상 처리 장치(1a)는, 소프트웨어적으로는, 예를 들면 도 10에 도시한 바와 같이, CPU(16)가 메모리(12) 내의 프로그램 PRG을 실행하는 것에 의해, 변환부(161), 추출부(162), 상관값 생성부(163a), 위치 보정부(170), 및 대조부(164a)를 실현한다.
제1 실시예와 제2 실시예와의 상위점은, 위치 보정부(170)가 추가된 점과, 상관값 생성부(163a)가 위치 보정 처리에 이용되는 신호 S1631을 출력하는 점과, 대조부(164a)의 기능이 서로 다른 점이다. 제1 실시예와 제2 실시예에서 동일한 기능의 구성 요소에 대해서는, 동일한 부호를 붙이고 설명을 생략한다.
상관값 생성부(163a)는, 예를 들면 도 7의 (a), 도 7의 (b)에 도시한 바와 같은 화상 S1621, S1622를 기초로 상관 처리를 행하고, 도 7의 (c)에 도시한 바와 같은, 상관 강도 화상 G(p, q)를 생성하여, 신호 S1631로서 출력한다.
위치 보정부(170)는, 상관값 생성부(163a)로부터 출력된 신호 S1631, 및, 추출부(162)로부터 출력된 신호 S1621 및 S1622에 기초하여, 즉 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상 내의 패턴에 기초하여 위치 보정 처리를 행하고, 위치 보정 처리의 결과를, 신호 S1701 및 신호 S1702로서 대조부(164a)에 출력한다.
도 11은, 도 10에 도시한 위치 보정부의 동작을 설명하기 위한 도면이다. 수치는, 상관 화상 데이터의 X-Y 면 위에서의 상관 화상 데이터의 상관 피크 강도를 나타낸다.
예를 들면 2치화한 선 성분(선형상)의 패턴을 포함하는 등록 화상 AIM, 대조 화상 RIM인 경우, 상관이 큰 화상끼리에서도, 상관 피크 강도(상관 강도라고도 함)가 도 11의 (a), 도 11의 (b)에 도시한 바와 같이 값이 작다.
예를 들면, 위치 보정부(170)는, 신호 S1631에 기초하여, 예를 들면 도 11의 (a)에 도시한 바와 같이 상관 강도의 상위 N개, 본 실시예에서는 8개의 상관값 및 상관 피크 위치를, 등록 화상 AIM과 대조 화상 RIM과의 2차원 상의 위치 관계의 후보로서 특정한다.
위치 보정부(170)는, 복수의 상관값 및 그것에 대응하는 상관 피크 위치에 기초하여, 필요에 따라 복수의 위치 보정 처리, 예를 들면 등록 화상 AIM과 대조 화상 RIM과의 패턴이 대략 일치하도록 평행 이동을 행함으로써 위치 보정을 행한다.
대조부(164a)는, 2개의 변환 화상 중의 패턴에 기초하여 상관값을 생성하고, 생성한 상관값 및 미리 설정된 임계값에 기초하여 등록 화상 AIM 및 대조 화상 RIM의 대조 처리를 행한다. 또한, 대조부(164a)는, 복수의 위치 보정 처리의 결과에 기초하여, 서로 다른 위치에 대응하는 상관값의 총합값 및 미리 설정된 임계값에 기초하여 대조 처리를 행한다.
상세하게 설명하면, 대조부(164a)는, 유사도 생성부(1641), 판별부(1642), 및 적산부(1643)를 갖는다.
도 12는, 유사도 생성부(1641)의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
유사도 생성부(1641)는, 예를 들면, 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상 내의 서로 다른 복수의 위치 관계 각각에 대하여 비교 처리를 행하고, 비교 처리의 결과에 기초하여 상관값으로서의 유사도를 생성한다.
상세하게 설명하면, 유사도 생성부(1641)는, 예를 들면 도 12의 (a), 도 12의 (b)에 도시한 바와 같은 신호 S1701 및 신호 S1702에 기초하여 2개의 화상 내의 서로 다른 복수의 위치 관계 각각에 대하여 비교 처리를 행하고, 비교 처리의 결과에 기초하여 상관값으로서의 유사도를 생성한다.
예를 들면 유사도 생성부(1641)는, 2개의 화상 각각을 f1(m, n), f2(m, n)으로 하면, 예를 들면 유사도 Sim을 수학식 8에 의해 산출하여, 산출 결과를 S1641로서 출력한다.
Figure 112004045275999-pat00008
도 13은, 도 10에 도시한 유사도 생성부의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
유사도 생성부(1641)는, 예를 들면 도 13의 (a), 도 13의 (b)에 도시하는 선 성분(선형상이라고도 함)를 포함하는 2개의 화상의 유사도를 생성하는 경우에는, 도 13의 (c)에 도시한 바와 같이, 2개의 화상의 교점 CP의 수에 따른 유사도를 생성한다. 여기서는, 간단한 설명을 위해, 선 성분을 비트값’ 1’의 흑 화소로 나타내고, 그 외에는 비트값’ 0’의 백 화소로 나타내었다.
적산부(1643)는, 신호 S1641에 기초하여 유사도 Sim을 적산하고, 적산 결과를 신호 S1643으로서 판별부(1642)에 출력한다.
판별부(1642)는, 유사도 생성부(1641)가 생성한 유사도를 나타내는 신호 S1641에 기초하여, 등록 화상 AIM과 대조 화상 RIM의 대조를 행한다.
예를 들면, 판별부(1642)는, 유사도가 소정의 값보다도 큰 경우에는, 등록 화상 AIM과 대조 화상 RIM이 일치하고 있다고 판별한다.
또한, 판별부(1642)는, 적산부(1643)에 의한 유사도 Sim의 적산값인 신호 S1643이, 소정의 임계값보다도 큰 경우에, 등록 화상 AIM과 대조 화상 RIM이 일치하고 있다고 판별한다.
도 14는, 도 10에 도시한 제2 실시예에 따른 화상 대조 장치의 동작을 설명하기 위한 흐름도이다. 도 14를 참조하면서, 화상 대조 장치의 동작을 CPU의 동작을 중심으로 설명한다. 제1 실시예와 마찬가지인 동작에 대해서는, 동일한 부호를 붙이고 설명을 생략하여, 상위점만을 설명한다.
단계 ST1로부터 ST10의 처리는, 제1 실시예와 마찬가지이기 때문에 설명을 생략한다. 단계 ST2 및 단계 ST6은 본 발명에 따른 제4 단계 및 제4 수순에 상당한다.
단계 ST111에 있어서, 위치 보정부(170)는, 상관값 생성부(163a)로부터 신호 S1631로서 출력된 상관 강도 화상 G(p, q), 및, 추출부(162)로부터 출력된 신호 S1621 및 S1622에 기초하여, 즉 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상 내의 패턴에 기초하여 위치 보정 처리를 행하고, 위치 보정 처리의 결과를, 신호 S1701 및 신호 S1702로서 대조부(164a)에 출력한다.
단계 ST111은 본 발명에 따른 제3 단계 및 제3 수순에 상당한다.
예를 들면 상세하게 설명하면, 위치 보정부(170)는, 신호 S1631에 기초하여, 예를 들면 도 11의 (a)에 도시한 바와 같이, 본 실시예에서는 8개의 상관값 및 상관 피크 위치를, 등록 화상 AIM과 대조 화상 RIM과의 2차원 상의 위치 관계의 후보, 예를 들면 상위 N개의 후보 Pi(P0, P1, …, PN-1)로서 특정(선정)한다.
단계 ST112에 있어서, 적산부(1643)는, 적산을 위한 변수를 초기화한다. 예를 들면 변수 i를 0, 적산값 S를 0으로 초기화한다.
단계 ST113에 있어서, 위치 보정부(170)는, 예를 들면 각 후보(좌표) Pi 및 그것에 대응하는 상관 화상 데이터의 중심으로부터의 어긋남 량에 기초하여, 등록 화상 AIM, 대조 화상 RIM의 위치 보정 처리를 행한다.
단계 ST114에 있어서, 유사도 생성부(1641)에 의해 유사도 Sim(i)가 산출되어, 적산부(1643) 및 판별부(1642)에 출력된다.
판별부(1642)에서는, 유사도 Sim(i)와, 미리 설정한 제1 임계값 th1을 비교하여, 유사도 Sim(i)가 제1 임계값보다 작은 경우에는(ST115), 적산부(1643)에서는, 유사도 Sim(i)를 적산하고, 상세하게 설명하면 수식 S= S+Sim(i)에 의해 적산하고 판별부(1642)에 출력한다(ST116).
단계 ST117에 있어서, 대조부(1642)에서는, 적산값 S와 미리 설정한 제2 임계값 th2를 비교하여, 적산값 S가 제2 임계값 th2보다도 작은 경우에는, 변수 i와 값 N-1이 비교되고(ST118), 변수 i가 N-1과 일치하지 않은 경우에는, 변수 i에 1 가산하여(ST119), 단계 ST113의 처리로 되돌아간다.
단계 ST118에 있어서, 변수 i가 N-1과 일치한 경우에는, 화상이 불일치인 것으로 한다(ST120).
한편, 단계 ST115의 비교 처리에 있어서, 대조부(1642)에서는, 유사도 Sim(i)가 제1 임계값 이상인 경우에는, 화상이 일치하고 있다고 판별하고, 또한, 단계 ST117의 비교 처리에 있어서, 대조부(1642)에서는, 적산값 S가 제2 임계값 th2 이상인 경우에는, 화상이 일치하고 있는 것으로 하여(ST121), 예를 들면 시큐러티 분야에서의 정맥 패턴 대조 장치에, 본 실시예에 따른 화상 대조 장치를 적용한 경우에는, 전자 자물쇠를 해제하는 것과 같은 처리를 동작 처리부(17)가 행한 다.
이상, 설명한 바와 같이, 본 실시예에서는, 위치 보정부(170)에서는, 보정 위치를 나타내는 복수의 상관값을 생성하고, 생성한 복수의 상관값에 기초하여, 등록 화상 AIM 및 대조 화상 RIM의 복수의 위치 보정 처리를 행하고, 판별부(1642)에서는, 각각의 변환 화상 중의 패턴에 따른 상관값으로서의 유사도의 적산값에 기초하여 대조 처리를 행하기 때문에, 예를 들면, 비교대조를 행하는 2매의 화상 데이터 사이의 상관이 작은 경우에도, 복수의 각 후보의 위치 관계 각각에 대하여 산출되는 유사도를 적산하는 것에 의해, 유사도 단독으로 대조를 행하는 경우에 비교하고, 고정밀도로 대조를 행할 수 있다.
또한, 유사도 Sim이 제1 임계값 th1보다도 큰 경우에는 일치하고 있다고 판별하기 때문에, 고속으로 대조 처리를 행할 수 있다.
또, 본 발명은 본 실시예에 한정되는 것이 아니고, 임의의 바람직한 여러가지의 개변이 가능하다.
예를 들면, 본 실시예에서는, 유사도 생성부는, 수학식 8에 의해 유사도를 산출했지만, 이 형태에 한정되는 것이 아니다. 예를 들면 유사도 생성부는 직선 성분(선형상의 패턴)의 상관에 적합한 유사도를 산출하는 처리를 행하여도 된다.
또한, 제1 임계값 th1과, 제2 임계값 th2를 고정값으로 했지만, 이 형태에 한정되는 것이 아니다. 예를 들면 임계값 각각을, 화상 패턴에 의해 가변으로 함으로써, 보다 고정밀도의 대조를 행할 수 있다.
본 발명의 제3 실시예에 따른 화상 대조 장치(1b)는, 예를 들면 메모리(12) 에, 등록 화상 또는 대조 화상으로서 복수의 화상을 기억하여, 화상의 대조 처리를 행하는 경우에, 우선, 해상도가 낮은 (즉 화상 사이즈가 작은) 변환 화상 사이에서 상관 처리를 행하고, 그 상관 처리 결과에 기초하여, 통상의 해상도(즉 통상의 화상 사이즈)의 화상 사이에서, 제1 실시예 또는 제2 실시예에 따른 대조 처리를 행하는 것도 가능하다.
상세하게 설명하면, 본 실시예에 따른 화상 대조 장치(1b)는, 예를 들면, 제1 화상 및 제2 화상 각각을 기초로, 제1 화상과 제2 화상 각각의 화상 내의 기준 위치로부터의 거리, 및 기준 위치를 통과하는 직선과 기준 위치를 포함하는 기준축과의 각도에 기초하여 화상 변환 처리를 행하여, 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상보다도 저해상도인, 거리 및 각도로 규정되는 2차원 공간의 제3 변환 화상 및 제4 변환 화상을 생성하고, 생성한 제3 변환 화상 및 제4 변환 화상에서, 제1 방향과, 제1 방향과 직교하는 제2 방향 각각의 복수의 서로 다른 상대 위치에서의 상관 처리의 결과에 기초하여, 고해상도(통상의 해상도)의 상관 처리 및 대조 처리를 행할지 여부를 판별하여, 상관값이 소정의 임계값보다도 낮은 경우에는 대조 처리를 정지하여 다른 화상에 대하여 대조 처리를 행하고, 임계값보다도 높은 화상에 대해서만 고해상도의 대조 처리를 계속하여 행한다.
본 실시예에 따른 화상 대조 장치(1b)의 기능 블록도는, 제1 실시예에 따른 화상 대조 장치와 동일한 구성 요소이기 때문에 설명을 생략한다.
도 15는, 본 발명의 제3 실시예에 따른 화상 대조 장치의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
화상의 x-y 평면 상의 직선이 어느 정도 정밀하게 파라미터로서 구분될지는, 본 실시예에 따른 화상 변환 처리에 의해 생성되는 ρ-θ 평면(파라미터 공간이라고도 함)의 사이즈에 의해서 결정된다.
파라미터 공간의 사이즈가 커지면, 보다 정밀하게 직선을 구분할 수 있으므로, 그만큼 해상도가 높아지게 된다.
예를 들면 변환부(161)는, 도 15의 (a)에 도시하는 회전 각도 어긋남이 있는 직선을 포함하는 화상 vb1을 기초로, 고해상도(예를 들면 180×180 화소)의 파라미터 공간 사이즈로 화상 변환 처리를 행한 결과, 도 15의 (b)에 도시하는 화상 vb2를 생성한다.
또한, 변환부(161)는, 도 15의 (a)에 도시하는 회전 각도 어긋남이 있는 직선을 포함하는 화상 vb1을 기초로, 저해상도(예를 들면 30×30 화소)의 파라미터 공간 사이즈로 화상 변환 처리를 행한 결과를 나타내는 화상 vb3을 생성한다.
화상 vb2와 화상 vb3을 비교하면, 예를 들면 도 15의 (b)에 도시하는 고해상도의 화상 vb2에서는, 화상 변환 전의 각도 어긋남이 있는 직선 각각이, 별도의 θ 파라미터(θ1, θ2)로 분류되어 있는 데 대하여, 도 15의 (c)에 도시하는 저해상도의 화상 vb3에서는, 동일한 θ 파라미터(θ3)로서 분류되어 있다.
본 발명에 따른 화상 변환 처리 후의 화상 사이에서의 대조 처리의 처리 속도는, 파라미터 공간의 처리 속도에 의존한다. 상세하게 설명하면 예를 들면, 파라미터 공간의 사이즈가 클 수록, 즉 해상도가 높을 수록, 처리 시간이 길고, 처리 부하가 크다. 파라미터 공간의 사이즈가 작을 수록, 즉 해상도가 낮을 수록, 처리 시간이 짧고, 처리 부하가 작다.
본 실시예에 따른 화상 대조 장치에서는, 입력된 대조 화상 RIM과, 메모리(12)에 기억하는 복수의 등록 화상 AIM과 대조를 행하는 경우, 우선 해상도가 낮은 파라미터 공간에서 상관값을 산출한 결과에 기초하여, 그 결과의 상관값이 낮은 화상에 대해서는 일치 후보로부터 제외함으로써, 전체의 대조 처리에 걸리는 시간을 단축한다.
도 16은, 본 발명의 제3 실시예에 따른 화상 대조 장치의 동작을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 16을 참조하면서, 화상 대조 장치의 CPU의 동작을 중심으로, 제1 실시예, 및 제2 실시예와의 상위점만 설명한다.
예를 들면 미리 화상 입력부(11)로부터 복수의 등록 화상 AIM이 입력되어, 메모리(12)에 기억된다.
단계 201에 있어서, 화상 입력부(11)로부터 대조 화상 RIM이 입력되어, 메모리(12)에 기억된다.
고해상도(통상의 해상도)의 대조 처리의 전에, 제1 화상 및 제2 화상 각각을 기초로, 제1 화상과 제2 화상 각각의 화상 내의 기준 위치로부터의 거리, 및 기준 위치를 통과하는 직선과 기준 위치를 포함하는 기준축과의 각도에 기초하여 화상 변환 처리를 행하여, 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상보다도 저해상도인, 거리 및 상기 각도로 규정되는 2차원 공간의 제3 변환 화상 및 제4 변환 화상을 생성하고, 생성한 제3 변환 화상 및 제4 변환 화상에서, 제1 방향과, 제1 방향과 직교하는 제 2 방향 각각의 복수의 서로 다른 상대 위치에서의 상관 처리의 결과에 기초하여, 고해상도의 변환 처리 및 대조 처리를 행할지 여부를 판별한다.
구체적으로는, 단계 202에 있어서, 저해상도의 파라미터 공간의 설정을 행한다.
단계 203에 있어서, 변환부(161)에서는, 예를 들면 대조 화상 RIM에 기초하여, 도 3의 (a)에 도시한 바와 같이, 기준 위치 O로부터 화상 내의 점을 통과하는 직선 L0에의 최단의 점 P0까지의 거리 ρ0, 및, 기준 위치 O와 최단의 점 P0을 통과하는 직선 n0과 기준 위치 O를 포함하는 기준축으로서의 x축과의 각도 θ에 기초하여, 화상 내의 점을 곡선 PL의 패턴으로 변환하고, 화상 내의 직선 성분 L을, 복수의 중첩된 곡선 PL의 패턴으로 변환하는 화상 처리를 행하여, ρ-θ 공간 상에 변환 화상으로서 신호 S1612를 생성한다.
단계 ST204에 있어서, 추출부(162)에서는, 변환 화상 S1612에 기초하여, 1개의 변환 화상 내의 곡선의 패턴의 중첩의 정도가 미리 설정된 임계값 이상인 영역을 추출 처리(마스크 처리)를 행한다.
상세하게 설명하면, 상술한 바와 같이, 화상 S1612의 내의 각 화소에는, 곡선의 패턴의 중첩의 정도에 따른 값이 설정되어 있고, 소정의 계조로 나타내는 화상 중, 곡선의 패턴의 중첩의 정도가 높을 수록 희게 표시되어 있다.
예를 들면 추출부(162)는, 변환 화상 S1612 내의 곡선의 패턴의 중첩의 정도가 미리 설정된 임계값 이상인 영역을 추출하고, 화상 S1622를 생성하여, 상관값 생성부(163)에 출력한다.
단계 ST205에 있어서, CPU(16)에서는, 메모리(12)에 기억되어 있는 등록 화상 AIM을 판독한다.
단계 ST206에 있어서, 변환부(161)에서는, 예를 들면 등록 화상 AIM에 기초하여, 도 3의 (a)에 도시한 바와 같이, 기준 위치 O로부터 화상 내의 점을 통과하는 직선 L0에의 최단의 점 P0까지의 거리 ρ0, 및, 기준 위치 O와 최단의 점 P0을 통과하는 직선 n0과 기준 위치 O를 포함하는 기준축으로서의 x축과의 각도 θ에 기초하여, 화상 내의 점을 곡선 PL의 패턴으로 변환하고, 화상 내의 직선 성분 L을, 복수의 중첩된 곡선 PL의 패턴으로 변환하는 화상 처리를 행하여, ρ-θ 공간 상에 변환 화상으로서 신호 S1611을 생성한다.
단계 ST207에 있어서, 추출부(162)에서는, 변환 화상 S1611에 기초하여, 1개의 변환 화상 내의 곡선의 패턴의 중첩의 정도가 미리 설정된 임계값 이상인 영역을 추출 처리(마스크 처리)를 행한다.
예를 들면 추출부(162)는, 변환 화상 S1611 내의 곡선의 패턴의 중첩의 정도가 미리 설정된 임계값 이상인 영역을 추출하고, 화상 S1621을 생성하여, 상관값 생성부(163)에 출력한다.
상관값 생성부(163)에서는, 변환 화상 S1621 및 변환 화상 S1622 내의 패턴의 중첩의 정도, 변환 화상 S1621 및 변환 화상 S1622 각각의 내의 패턴의 일치 및 불일치에 기초하여, 등록 화상 AIM 및 대조 화상 RIM의 상관값을 생성한다.
상세하게 설명하면, 단계 ST208에 있어서, 상관부(1631)의 푸리에 변환부(16311, 16312)는, 변환 화상 S1621, 1622 각각을, 예를 들면 수학식 2, 수학식 3 에 나타낸 바와 같이 푸리에 변환 처리를 행하여, 처리 결과를 신호 S16311, S16312로서 합성부(16313)에 출력한다.
단계 ST201∼ST208의 처리는, 상술한 순서가 아니어도 된다. 예를 들면 변환부(161)가 등록 화상 AIM 및 대조 화상 RIM을 변환 처리한 후, 각각의 변환 화상을 추출부(162)에 의해 추출 처리(마스크 처리)를 행하여도 된다.
단계 ST209에 있어서, 합성부(16313)에서는, 신호 S16311, S61312를 기초로, 상술한 바와 같이 합성 처리를 행하여, 처리 결과를 신호 S16313으로서 위상 추출부(16314)에 출력한다.
단계 ST210에 있어서, 위상 추출부(16314)는, 신호 S16313에 기초하여 위상 성분만을 추출하여, 신호 S16314로서 역 푸리에 변환부(16315)에 출력한다.
단계 ST211에 있어서, 역 푸리에 변환부(16315)는, 신호 S16314에 기초하여 역 푸리에 변환 처리를 행하여, 예를 들면 도 7의 (c)에 도시한 바와 같이 신호 S1631로서 상관값 검출부(1632)에 출력한다.
이 상관 강도 화상 S1631의 상관 강도 피크의 크기는, 화상 변환 후의 변환 화상 사이의 상관의 정도를 나타낸다. 예를 들면 변환 화상 사이에 평행 이동 어긋남이 있는 경우에는, 상관 강도 화상 S1631의 상관 강도 피크의 위치가, 변환 화상 사이의 평행 이동 편차량에 상당한 량만큼 중심 위치 O로부터 어긋나지만 상관 강도에는 영향을 미치지 않는다.
단계 ST212에 있어서, 상관값 검출부(1632)에서는, 상관 강도 피크 PP의 강도를 상관값으로 하여, 신호 S163을 대조부(164)에 출력한다.
단계 ST213에 있어서, 대조부(164)는, 상관값 검출부(1632)로부터의 상관값을 나타내는 신호 S163에 기초하여 대조를 행한다. 상세하게 설명하면, 대조부(164)는, 상관값이 미리 정해진 임계값보다 큰지 여부를 판별하여, 작다고 판별한 경우에는, 그 등록 화상 AIM의 대조를 정지하여, 메모리(12) 내의 다른 등록 화상 AIM을 판독하고, 단계 206의 처리로 되돌아간다.
한편, 단계 ST213에 있어서, 대조부(164)는, 상관값이 미리 정해진 임계값보다 크다고 판별한 경우에는, 등록 화상 AIM과 대조 화상 RIM의 일치 후보로 하여, 고해상도의 파라미터 공간의 설정을 행한다.
이하, 마찬가지로 고해상도의 파라미터 공간의 화상에 대하여, 단계 ST203∼ 단계 ST212와 마찬가지의 처리를 행한다(ST216∼ST224).
단계 225에 있어서, 대조부(164)는, 상관값 검출부(1632)로부터의 상관값을 나타내는 신호 S163에 기초하여 대조를 행한다. 상세하게 설명하면, 대조부(164)는, 상관값이 미리 정해진 임계값보다 큰지 여부를 판별하여, 크다고 판별한 경우에는, 등록 화상 AIM과 대조 화상 RIM이 일치하고 있는 취지를 나타내는 대조 결과 신호 S164를 출력한다(ST226).
한편, 단계 ST225에 있어서, 대조부(164)는, 상관값이 미리 정해진 임계값보다 작다고 판별한 경우에는, 등록 화상 AIM과 대조 화상 RIM이 불일치인 취지를 나타내는 대조 결과 신호 S164를 출력하고(ST227), 메모리(12) 내의 다른 등록 화상 AIM을 판독하고(ST228), 저해상도의 설정을 행하고 (ST229), 단계 206의 처리로 되돌아간다.
이상 설명한 바와 같이, 본 실시예에서는, 고해상도(통상의 해상도)의 대조 처리의 전에, 제1 화상 및 제2 화상 각각을 기초로, 제1 화상과 제2 화상 각각의 화상 내의 기준 위치로부터의 거리, 및 기준 위치를 통과하는 직선과 기준 위치를 포함하는 기준축과의 각도에 기초하여 화상 변환 처리를 행하여, 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상보다도 저해상도인, 거리 및 상기 각도로 규정되는 2차원 공간의 제3 변환 화상 및 제4 변환 화상을 생성하고, 생성한 제3 변환 화상 및 제4 변환 화상에서, 제1 방향과, 제1 방향과 직교하는 제2 방향 각각의 복수의 서로 다른 상대 위치에서의 상관 처리의 결과에 기초하여, 고해상도의 변환 처리 및 대조 처리를 행할지 여부를 판별하여, 상관값이 낮은 경우에는, 그 화상의 대조를 정지하고, 다른 화상의 대조 처리를 행하기 때문에, 대조 처리 전체의 처리 시간을 단축할 수 있다.
또한, 우선 해상도가 낮은 화상의 대조 처리를 행하기 때문에 처리 부담이 경감된다.
또, 본 발명은 본 실시예에 한정되는 것이 아니고, 임의의 바람직한 개변이 가능하다.
예를 들면, 미리 등록 화상 AIM에 대하여 저해상도의 화상 변환 처리를 행하여 두고, 이들 화상과 대조 처리를 행함으로써, 보다 대조 시간을 단축할 수 있다.
<산업 상의 이용 가능성>
예를 들면, 혈관 화상, 지문 화상, 정지 화상, 동화상 등의 2개의 화상에 관하여, 그 화상의 내의 직선 성분에 기초하여 대조를 행하는 시큐러티 관련의 용도 에도 적용할 수 있다.
본 발명에 따르면, 화상의 대조를 고정밀도로 행할 수 있는 화상 대조 방법, 프로그램, 및 화상 대조 장치를 제공할 수 있다.

Claims (20)

  1. 정맥 패턴 이미지를 획득하기 위한 획득부와,
    상기 정맥 패턴 이미지를 하프 변환(Hough transform)된 제1 정보로 변환하기 위한 하프 변환부와,
    하프 변환된 등록 정맥 정보를 획득하기 위한 정맥 정보 획득부 - 상기 제1 정보는 제1 하프 변환된 정맥 패턴 이미지를 나타내고, 상기 등록 정맥 정보는 제2 하프 변환된 정맥 패턴 이미지를 나타냄 - 와,
    상기 제1 정보를 상기 등록 정맥 정보와 대조하기 위한 대조부와,
    상기 대조부의 대조 결과에 따라 상기 획득된 정맥 패턴 이미지를 인증하기 위한 인증부를 포함하는 인증 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 하프 변환된 정맥 패턴 이미지들 내의 패턴들에 기초하여, 상기 제1 및 제2 하프 변환된 정맥 패턴 이미지들의 어긋남을 보정하는 위치 보정 처리를 위한 위치 보정부를 더 포함하고,
    상기 대조부는, 상기 위치 보정부에 의해 위치 보정 처리된 상기 제1 및 제2 하프 변환된 정맥 패턴 이미지들 내의 패턴들의 중첩의 정도, 및 상기 제1 하프 변환된 정맥 패턴 이미지 내의 패턴들이 상기 제2 하프 변환된 정맥 패턴 이미지 내의 패턴들과 일치하는지 여부에 기초하여 대조를 행하는, 인증 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 위치 보정부는 상기 제1 및 제2 하프 변환된 정맥 패턴 이미지들의 화소들 중 추출된 부분 내의 패턴에 기초하여 위치 보정 처리를 행하고,
    상기 대조부는 상기 위치 보정부에 의해 보정된 제1 및 제2 하프 변환된 정맥 패턴 이미지들의 화소들 중 추출된 부분 내의 패턴의 일치 또는 불일치에 기초하여 대조를 행하는, 인증 장치.
  4. 제2항 또는 제3항에 있어서,
    상기 대조부는, 상기 제1 하프 변환된 정맥 패턴 이미지 및 상기 제2 하프 변환된 정맥 패턴 이미지 내의 복수의 상이한 위치 관계를 비교하여, 비교 결과로부터 상관값으로서의 유사도를 생성하고, 상기 생성된 유사도에 기초하여 이미지 대조를 행하는, 인증 장치.
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 삭제
  9. 삭제
  10. 삭제
  11. 삭제
  12. 삭제
  13. 삭제
  14. 삭제
  15. 정맥 패턴 이미지를 획득하는 단계와,
    상기 정맥 패턴 이미지를 하프 변환(Hough transform)된 제1 정보로 변환하는 단계와,
    하프 변환된 등록 정맥 정보를 획득하는 단계 - 상기 제1 정보는 제1 하프 변환된 정맥 패턴 이미지를 나타내고, 상기 등록 정맥 정보는 제2 하프 변환된 정맥 패턴 이미지를 나타냄 - 와,
    상기 제1 정보를 상기 등록 정맥 정보와 대조하는 대조 처리 단계와,
    상기 대조 처리의 결과에 따라 상기 획득된 정맥 패턴 이미지를 인증하는 단계를 포함하는 인증 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 하프 변환된 정맥 패턴 이미지들 내의 패턴들에 기초하여, 상기 제1 및 제2 하프 변환된 정맥 패턴 이미지들의 어긋남을 보정하는 위치 보정 처리 단계를 더 포함하고,
    상기 대조 처리는, 상기 제1 및 제2 하프 변환된 정맥 패턴 이미지들 내의 패턴들의 중첩의 정도, 및 상기 제1 하프 변환된 정맥 패턴 이미지 내의 패턴들이 상기 제2 하프 변환된 정맥 패턴 이미지 내의 패턴들과 일치하는지 여부에 기초하여 행하여지는, 인증 방법.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 위치 보정은 상기 제1 및 제2 하프 변환된 정맥 패턴 이미지들의 화소들 중 추출된 부분 내의 패턴에 기초하여 행하여지고,
    상기 대조 처리는 상기 위치 보정된 제1 및 제2 하프 변환된 정맥 패턴 이미지들의 화소들 중 추출된 부분 내의 패턴의 일치 또는 불일치에 기초하여 행하여지는, 인증 방법.
  18. 제1 화상과 제2 화상의 대조를 행하는 화상 대조 방법으로서,
    상기 제1 화상과 제2 화상 각각의 화상 내의 기준 위치로부터의 거리, 및 상기 기준 위치를 통과하는 직선과 상기 기준 위치를 포함하는 기준축과의 각도에 기초하여 화상 변환 처리를 행하여, 상기 거리 및 상기 각도로 규정되는 2차원 공간의 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상을 생성하는 제1 단계와,
    상기 제1 단계에서 생성한 상기 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상 각각의 상기 2차원 공간상의 거리축 방향 및 각도축 방향으로 푸리에 변환 처리를 행하고, 상기 푸리에 변환 처리 결과의 위상 성분에 따른 상관값에 기초하여 상기 제1 화상 및 제2 화상의 대조를 행하는 제2 단계를 포함하는 화상 대조 방법.
  19. 제1 화상과 제2 화상의 대조를 행하는 화상 대조 장치로서,
    상기 제1 화상과 제2 화상 각각의 화상 내의 기준 위치로부터의 거리, 및 상기 기준 위치를 통과하는 직선과 상기 기준 위치를 포함하는 기준축과의 각도에 기초하여 화상 변환 처리를 행하여, 상기 거리 및 상기 각도로 규정되는 2차원 공간의 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상을 생성하는 변환 수단과,
    상기 변환 수단에 의해 생성한 제1 변환 화상 및 제2 변환 화상 각각의 상기 2차원 공간상의 거리축 방향 및 각도축 방향으로 푸리에 변환 처리를 행하고, 상기 푸리에 변환 처리 결과의 위상 성분에 따른 상관값에 기초하여 상기 제1 화상 및 제2 화상의 대조를 행하는 대조 수단을 포함하는 화상 대조 장치.
  20. 컴퓨터상에서 실행될 때, 청구항 15 내지 18 중 어느 한 항의 방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램 코드를 포함하는 컴퓨터 판독가능 저장 매체.
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