KR101020703B1

KR101020703B1 - Luminous element Test Handler and Classify Method for Luminous element

Info

Publication number: KR101020703B1
Application number: KR1020080127739A
Authority: KR
Inventors: 김용선; 범희락
Original assignee: 미래산업 주식회사
Priority date: 2008-12-16
Filing date: 2008-12-16
Publication date: 2011-03-09
Also published as: KR20100069136A

Abstract

본 발명은 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부; 발광소자를 수납하는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재를 포함하고, 테스트위치에 위치하는 소켓에 수납되어 있는 발광소자를 테스트하는 테스트유닛이 설치되는 테스트부; 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 수납위치에 위치하는 소켓으로 이송하는 픽커부; 테스트된 발광소자를 등급별로 수납하는 복수개의 수납부재를 포함하는 수납유닛, 테스트된 발광소자가 그 등급에 해당하는 수납부재에 수납되도록 테스트된 발광소자를 상기 수납유닛으로 전달하는 분류유닛, 및 제1등급범위에 속하는 테스트된 발광소자를 상기 분류유닛으로 이송하는 제1이송유닛 및 제2등급범위에 속하는 테스트된 발광소자를 상기 분류유닛으로 이송하는 제2이송유닛을 가지는 이송부를 포함하는 소팅부; 및 상기 지지부재와 결합되고, 상기 지지부재를 회전시키는 제1구동유닛을 포함하는 발광소자 테스트 핸들러에 관한 것으로, The invention supply unit for supplying a light emitting device to be tested; A test unit including a support member having a plurality of sockets for storing the light emitting elements, and a test unit for testing the light emitting elements stored in the socket located at the test position; A picker unit for transferring the light emitting element to be tested from the supply unit to a socket located at a storage position; A storage unit including a plurality of storage members for storing the tested light emitting devices by grade, a sorting unit for transferring the tested light emitting devices to the storage unit so that the tested light emitting devices are stored in the storage members corresponding to the grade, and A sorting unit including a transfer unit having a first transfer unit for transferring the tested light emitting elements belonging to the first class range to the sorting unit and a second transfer unit for transferring the tested light emitting elements belonging to the second class range to the sorting unit ; And a first driving unit coupled to the support member and rotating the support member.

본 발명에 따르면, 발광소자가 갖춘 성능에 대한 신뢰도를 향상시킬 수 있고, 발광소자들을 복수개의 등급범위로 구분하여 분류함으로써 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 등급별로 분류할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.According to the present invention, the reliability of the performance of the light emitting device can be improved, and the light emitting devices can be classified into a plurality of grade ranges, thereby obtaining more effects of classifying more light emitting devices by class in a shorter time. .

발광소자, 테스트 핸들러, 테스터 Light Emitting Device, Test Handler, Tester

Description

Luminous element Test Handler and Classify Method for Luminous element}

본 발명은 발광소자를 테스트하고, 테스트 결과에 따라 등급별로 발광소자를 분류하는 발광소자 테스트 핸들러 및 발광소자 분류방법에 관한 것이다.The present invention relates to a light emitting device test handler and a light emitting device classification method for testing a light emitting device and classifying the light emitting device according to a grade according to the test result.

발광 다이오드(LED, Light-emitting Diode), 반도체 레이저(semiconductor laser) 등 전기를 빛으로 변환하는 반도체를 이용한 소자(이하, '발광 소자'라 함)들은, 전자제품의 부하·운전 등의 상황을 나타내는 표시등, 숫자·문자표시기, 카메라의 자동초점용 광원, 광통신용 등 각종 분야에서 널리 사용되고 있다.Devices using semiconductors, such as light emitting diodes (LEDs) and semiconductor lasers (semiconductor lasers), that convert electricity into light (hereinafter referred to as "light emitting devices") are used to control the load and operation of electronic products. It is widely used in various fields such as indicating indicators, numeric / character display, camera auto focus light source, and optical communication.

이러한 발광소자는 여러 가지 테스트 과정을 거쳐 제조되는데, 상기 테스트 과정 중에서 사용되는 장비 중 하나가 발광소자 테스트 핸들러이다.The light emitting device is manufactured through various test procedures, and one of the equipments used in the test process is the light emitting device test handler.

도 1은 일반적인 발광소자 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 블럭도이다.1 is a block diagram showing a configuration of a general light emitting device test handler.

도 1을 참조하면, 발광소자 테스트 핸들러(10)는 공급부(11), 픽커부(12), 테스트부(13), 및 소팅부(14)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the light emitting device test handler 10 includes a supply unit 11, a picker unit 12, a test unit 13, and a sorting unit 14.

상기 공급부(11)는 상기 픽커부(12)가 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있는 위치로 테스트될 발광소자들을 공급한다. 상기 공급부(11)에는 테스트될 발광소자 들이 복수개 저장되어 있다.The supply unit 11 supplies the light emitting elements to be tested to a position where the picker unit 12 can pick up the light emitting elements to be tested. The supply unit 11 stores a plurality of light emitting devices to be tested.

상기 픽커부(12)는 테스트될 발광소자들을 상기 공급부(11)에서 상기 테스트부(13)로 이송한다.The picker unit 12 transfers the light emitting elements to be tested from the supply unit 11 to the test unit 13.

상기 테스트부(13)는 테스트될 발광소자를 수납하는 복수개의 소켓(131)과 상기 소켓(131)에 수납된 발광소자를 테스트하는 테스트유닛(132)을 포함한다.The test unit 13 includes a plurality of sockets 131 accommodating the light emitting elements to be tested and a test unit 132 for testing the light emitting elements accommodated in the sockets 131.

상기 테스트유닛(132)은 발광소자에 접속되어 발광소자를 발광시킴으로써 발광소자를 테스트한다. 상기 테스트유닛(132)은 별도의 분석장비에 연결되어, 발광소자에 대한 테스트 결과 정보를 상기 분석장비에 송신한다. 상기 분석장비는 상기 테스트 결과 정보를 분석하여 발광소자가 갖춘 성능에 따라 등급을 부여한 후에, 이 등급 정보를 상기 소팅부(14)로 송신한다.The test unit 132 is connected to the light emitting device to test the light emitting device by emitting light. The test unit 132 is connected to a separate analysis equipment, and transmits the test result information for the light emitting device to the analysis equipment. The analysis equipment analyzes the test result information and assigns a grade according to the performance of the light emitting device, and then transmits the grade information to the sorting unit 14.

상기 소팅부(14)는 상기 분석장비로부터 등급 정보를 수신하고, 상기 등급 정보에 따라 발광소자를 등급별로 분류한다.The sorting unit 14 receives grade information from the analysis equipment, and classifies light emitting devices according to grades.

상술한 바와 같은 발광소자 테스트 핸들러를 이용함으로써, 정상적으로 작동되지 않는 발광소자를 제외시키는 한편, 정상적으로 작동되는 발광소자를 그 성능에 따라 등급별로 분류하여 출하하게 된다.By using the light emitting device test handler as described above, a light emitting device that is not normally operated is excluded, and a light emitting device that is normally operated is classified and classified according to its performance and shipped.

상기 발광소자 테스트 핸들러를 이용한 분류 과정에서 발광소자에 대한 테스트 결과에 따른 분류가 제대로 이루어지지 않는다면, 정상적으로 작동되는 발광소자임에도 폐기되거나 발광소자가 갖춘 성능과 다른 등급으로 분류될 수 있다.If the classification according to the test result for the light emitting device is not properly performed in the classification process using the light emitting device test handler, the light emitting device may be discarded or classified into a different grade from the performance of the light emitting device.

이에 따라 발생되는 손실 등이 발광소자에 대한 제조단가를 높일 수 있고, 발광소자가 갖춘 성능에 대한 신뢰도를 저하시킴으로써, 제품의 경쟁력을 약화시키 는 결과를 초래할 수 있다.As a result, the loss generated may increase the manufacturing cost of the light emitting device, and may lower the reliability of the performance of the light emitting device, thereby weakening the competitiveness of the product.

따라서, 발광소자가 갖춘 성능에 대해 향상된 신뢰도를 구현할 수 있으면서도, 발광소자에 대한 제조단가를 더 낮출 수 있도록 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 등급별로 분류할 수 있는 발광소자 테스트 핸들러의 개발이 필요하다.Therefore, it is necessary to develop a light emitting device test handler capable of classifying more light emitting devices by class in a short time in order to lower the manufacturing cost for the light emitting devices while achieving improved reliability of the light emitting devices. .

본 발명은 상술한 바와 같은 필요를 해소하고자 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 발광소자가 갖춘 성능에 대한 신뢰도를 향상시킬 수 있고, 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 등급별로 분류할 수 있는 발광소자 테스트 핸들러 및 발광소자 분류방법을 제공하는 것이다.The present invention has been made to solve the need as described above, an object of the present invention is to improve the reliability of the performance of the light emitting device, it is possible to classify more light emitting devices in a short time by class It is to provide a test handler and a light emitting device classification method.

상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 하기와 같은 구성을 포함한다.In order to achieve the object as described above, the present invention includes the following configuration.

본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러는 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부; 발광소자를 수납하는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재를 포함하고, 테스트위치에 위치하는 소켓에 수납되어 있는 발광소자를 테스트하는 테스트유닛이 설치되는 테스트부; 상기 공급부 및 상기 테스트부 사이에 설치되고, 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 수납위치에 위치하는 소켓으로 이송하는 픽커부; 테스트된 발광소자를 등급별로 수납하는 복수개의 수납부재를 포함하는 수납유닛, 테스트된 발광소자가 그 등급에 해당하는 수납부재에 수납되도록 테스트된 발광소자를 상기 수납유닛으로 전달하는 분류유닛, 및 제1등급범위에 속하는 테스트된 발광소자를 상기 분류유닛으로 이송하는 제1이송유닛 및 제2등급범위에 속하는 테스트된 발광소자를 상기 분류유닛으로 이송하는 제2이송유닛을 포함하고 상기 수납위치와 상기 테스트위치 사이에 위치하는 분류위치에서 상기 테스트부에 설치되는 이송부를 포 함하는 소팅부; 및 상기 지지부재와 결합되고, 상기 지지부재를 회전시키는 제1구동유닛을 포함할 수 있다.The light emitting device test handler according to the present invention includes a supply unit for supplying a light emitting device to be tested; A test unit including a support member having a plurality of sockets for storing the light emitting elements, and a test unit for testing the light emitting elements stored in the socket located at the test position; A picker unit installed between the supply unit and the test unit and transferring the light emitting element to be tested from the supply unit to a socket located at a storage position; A storage unit including a plurality of storage members for storing the tested light emitting devices by grade, a sorting unit for transferring the tested light emitting devices to the storage unit so that the tested light emitting devices are stored in the storage members corresponding to the grade, and And a first transfer unit for transferring the tested light emitting elements belonging to the first class range to the sorting unit, and a second transfer unit for transferring the tested light emitting elements belonging to the second class range to the sorting unit. A sorting unit including a transfer unit installed in the test unit at a sorting position located between test positions; And a first driving unit coupled to the support member and rotating the support member.

본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러는 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부; 발광소자를 수납하는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재를 포함하고, 테스트위치에 위치하는 소켓에 수납되어 있는 발광소자를 테스트하는 테스트유닛이 설치되어 있는 테스트부; 상기 공급부 및 상기 테스트부 사이에 설치되고, 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 수납위치에 위치하는 소켓으로 이송하는 픽커부; 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 수납하는 복수개의 수납부재를 포함하는 수납유닛, 테스트된 발광소자가 그 등급에 해당하는 수납부재에 수납되도록 테스트된 발광소자를 상기 수납유닛으로 전달하는 분류유닛, 및 전체 등급을 복수개의 등급범위로 나누어 해당 등급범위에 속하는 테스트된 발광소자를 상기 분류유닛으로 이송하는 복수개의 이송유닛을 포함하고 상기 수납위치와 상기 테스트위치 사이에 위치하는 분류위치에서 상기 테스트부에 설치되는 이송부를 포함하는 소팅부; 및 상기 지지부재와 결합되고, 상기 지지부재를 회전시키는 제1구동유닛을 포함할 수 있다.The light emitting device test handler according to the present invention includes a supply unit for supplying a light emitting device to be tested; A test unit including a support member provided with a plurality of sockets for storing the light emitting elements, and a test unit for testing the light emitting elements stored in the socket located at the test position; A picker unit installed between the supply unit and the test unit and transferring the light emitting element to be tested from the supply unit to a socket located at a storage position; A storage unit including a plurality of storage members for storing the tested light emitting device for each grade according to the test result, the classification for delivering the tested light emitting device to the storage unit so that the tested light emitting device is stored in the storage member corresponding to the class A unit and a plurality of transfer units for dividing the entire grade into a plurality of grade ranges and transferring the tested light emitting devices belonging to the corresponding grade ranges to the sorting unit, wherein the sorting position is located between the storage position and the test position. A sorting unit including a transfer unit installed in the test unit; And a first driving unit coupled to the support member and rotating the support member.

본 발명에 따른 발광소자 분류방법은 테스트될 발광소자를 공급하는 단계; 상기 공급된 테스트될 발광소자를 지지부재에 설치되는 소켓들 중에서 수납위치에 위치하는 적어도 하나의 소켓으로 이송하는 단계; 상기 지지부재에 설치되는 소켓들 중에서 테스트위치에 위치하는 적어도 하나의 소켓에 수납되어 있는 발광소자를 테스트하는 단계; 상기 지지부재에 설치되는 소켓들 중에서 분류위치에 위치하는 적어도 두 개의 소켓에 수납되어 있는 테스트된 발광소자들의 테스트 결과에 따른 등급을 확인하는 단계; 전체 등급을 복수개의 등급범위로 나누어 해당 등급범위에 속하는 테스트된 발광소자를 분류유닛으로 이송하는 복수개의 이송유닛에서, 상기 이송유닛들 각각에 위치한 테스트된 발광소자들의 등급이 해당 등급범위에 속하는지를 판단하는 단계; 테스트된 발광소자의 등급이 해당 등급범위에 속하면, 해당 등급범위에 속하는 테스트된 발광소자를 상기 분류유닛으로 이송하고 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 단계; 및 테스트된 발광소자의 등급이 다른 등급범위에 속하면, 다른 등급범위에 속하는 테스트된 발광소자가 다른 이송유닛에 위치되도록 상기 지지부재를 회전시킨 후에 상기 판단 단계를 수행하는 단계를 포함할 수 있다.The light emitting device classification method according to the present invention includes the steps of supplying a light emitting device to be tested; Transferring the supplied light emitting device to be tested to at least one socket located at an accommodation position among sockets installed in a support member; Testing a light emitting device accommodated in at least one socket positioned at a test position among sockets installed in the support member; Checking a rating according to a test result of the tested light emitting devices accommodated in at least two sockets positioned at a sorting position among the sockets installed in the support member; In the plurality of transfer units for dividing the entire grade into a plurality of grade ranges and transferring the tested light emitting elements belonging to the corresponding grade ranges to the classification unit, whether the grades of the tested light emitting elements located in each of the transfer units belong to the corresponding grade ranges. Determining; If the grade of the tested light emitting device belongs to the corresponding grade range, transferring the tested light emitting element belonging to the corresponding grade range to the classification unit and classifying the grade according to the test result; And when the grades of the tested light emitting devices belong to different grade ranges, performing the determination step after rotating the support member so that the tested light emitting elements belonging to different grade ranges are positioned in different transfer units. .

본 발명에 따르면, 다음과 같은 효과를 이룰 수 있다.According to the present invention, the following effects can be achieved.

본 발명은 발광소자가 갖춘 성능에 대한 신뢰도를 향상시킬 수 있고, 발광소자들을 복수개의 등급범위로 구분하여 분류함으로써 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 등급별로 분류할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.The present invention can improve the reliability of the performance of the light emitting device, and by dividing the light emitting devices into a plurality of class ranges can be obtained the effect of classifying more light emitting devices in a short time.

이하에서는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a preferred embodiment of a light emitting device test handler according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러를 개략적으로 나타낸 사시도, 도 3은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 공급부, 픽커부, 및 테스 트부를 나타낸 사시도, 도 4는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 픽업위치, 수납위치, 테스트위치, 및 분류위치를 개념적으로 나타낸 평면도, 도 5는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 테스트부를 나타낸 사시도, 도 6은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 접속유닛을 나타낸 사시도, 도 7은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 분류유닛 및 수납유닛을 나타낸 사시도, 도 8은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 분류유닛을 나타낸 사시도, 도 9는 본 발명에 따른 보정부를 나타낸 사시도, 도 10은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 픽업위치, 수납위치, 테스트위치, 분류위치, 및 보정위치를 개념적으로 나타낸 평면도이다.2 is a perspective view schematically showing a light emitting device test handler according to the present invention, FIG. 3 is a perspective view showing a supply unit, a picker unit, and a test unit in the light emitting device test handler according to the present invention, and FIG. 4 is a light emitting device according to the present invention. A plan view conceptually illustrating a pickup position, a storage position, a test position, and a classification position in a test handler, FIG. 5 is a perspective view of a test unit in a light emitting device test handler according to the present invention, and FIG. 6 is a light emitting device test handler according to the present invention. 7 is a perspective view illustrating a classification unit and a storage unit in a light emitting device test handler according to the present invention, FIG. 8 is a perspective view showing a classification unit in a light emitting device test handler according to the present invention, and FIG. 10 is a perspective view illustrating a correction unit according to an embodiment of the present invention. It is a plan view showing a position, the test position, the classification position, and the correction position conceptually.

도 2 및 도 3을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 공급부(2), 픽커부(3), 테스트부(4), 소팅부(5), 제1구동유닛(6), 및 제2구동유닛(7)을 포함한다.2 and 3, the light emitting device test handler 1 according to the present invention includes a supply part 2, a picker part 3, a test part 4, a sorting part 5, and a first driving unit 6. ), And a second drive unit (7).

상기 공급부(2)는 상기 픽커부(3)가 테스트될 발광소자(미도시)를 픽업할 수 있는 위치로 테스트될 발광소자를 공급한다. 상기 공급부(2)는 저장부(21), 운반부(22), 및 안착부(23)를 포함한다.The supply unit 2 supplies a light emitting element to be tested to a position where the picker unit 3 can pick up a light emitting element (not shown) to be tested. The supply part 2 includes a storage part 21, a carrying part 22, and a seating part 23.

상기 저장부(21)에는 테스트될 발광소자가 복수개 저장될 수 있다. 상기 저장부(21)는 진동을 이용하여 이에 저장되어 있는 테스트될 발광소자들을 상기 운반부(22)로 순차적으로 공급할 수 있다. 상기 저장부(21)는 테스트될 발광소자들이 상기 운반부(22)로 이송되도록 안내하는 나선형 홈(미도시)을 포함할 수 있다.The storage unit 21 may store a plurality of light emitting devices to be tested. The storage unit 21 may sequentially supply the light emitting elements to be tested to the transport unit 22 by using the vibration. The storage unit 21 may include a spiral groove (not shown) for guiding the light emitting devices to be tested to be transferred to the carrying unit 22.

상기 운반부(22)는 상기 저장부(21)로부터 공급되는 테스트될 발광소자들을 상기 안착부(23)로 이송한다. 상기 운반부(22)는 진동을 이용하여 테스트될 발광소자들을 이송할 수 있다.The carrying part 22 transfers the light emitting elements to be tested supplied from the storage part 21 to the seating part 23. The carrying unit 22 may transfer light emitting devices to be tested using vibration.

도시되지는 않았지만, 상기 운반부(22)는 테스트될 발광소자들을 이송하는 벨트, 벨트의 양단에 연결된 구동풀리와 종동풀리, 및 상기 구동풀리를 회전시키는 모터를 포함할 수 있다. 상기 모터가 구동풀리를 회전시킴에 따라 상기 벨트가 이동됨으로써 상기 벨트에 안착되어 있는 테스트될 발광소자들이 이송될 수 있다.Although not shown, the carrying unit 22 may include a belt for transferring the light emitting devices to be tested, a driving pulley and a driven pulley connected to both ends of the belt, and a motor for rotating the driving pulley. As the motor rotates the driving pulley, the belt is moved, so that the light emitting devices to be tested mounted on the belt can be transferred.

상기 안착부(23)에는 상기 운반부(22)로부터 이송되는 테스트될 발광소자가 안착된다. 상기 안착부(23)는 테스트될 발광소자가 안착되는 홈을 포함할 수 있다. 상기 안착부(23)는 상기 픽커부(3)가 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있는 위치에 설치될 수 있다.The seating part 23 is mounted with a light emitting device to be tested transferred from the carrying part 22. The seating part 23 may include a groove in which the light emitting device to be tested is seated. The seating part 23 may be installed at a position where the picker part 3 can pick up a light emitting device to be tested.

도시되지는 않았지만, 상기 공급부(2)는 감지부를 더 포함할 수 있다. 상기 감지부는 안착부(23)에 설치되고, 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 위치하는지 여부를 감지한다. 상기 감지부로 광센서가 이용될 수 있다.Although not shown, the supply unit 2 may further include a sensing unit. The detector is installed in the seating part 23 and detects whether the light emitting device to be tested is located in the seating part 23. An optical sensor may be used as the sensing unit.

상기 감지부가 획득한 정보로부터 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 없는 것이 확인되면, 상기 운반부(22)는 상기 안착부(23)로 테스트될 발광소자를 이송할 수 있다. 따라서, 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 위치함에도 상기 운반부(23)가 다른 테스트될 발광소자를 이송함으로써 발광소자들이 충돌에 의해 손상되거나 상기 픽커부(3)가 발광소자를 픽업하지 못하는 등으로 인해 발생되는 에러를 방지할 수 있다.When it is confirmed that there is no light emitting device to be tested in the seating part 23 from the information obtained by the sensing unit, the carrying part 22 may transfer the light emitting device to be tested to the seating part 23. Accordingly, even when the light emitting device to be tested is located in the seating part 23, the transporter 23 transfers another light emitting device to be tested so that the light emitting devices are damaged by collision or the picker part 3 picks up the light emitting devices. It is possible to prevent errors caused by failure to do so.

상기 감지부가 획득한 정보로부터 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 있는 것이 확인되면, 상기 픽커부(3)는 안착부(23)에서 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있다. 따라서, 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 위치하지 않음에도 상기 픽커부(3)가 작동됨으로써 발광소자를 픽업하지 못하는 등으로 인해 발생되는 에러를 방지할 수 있다.When it is confirmed that there is a light emitting device to be tested in the seating unit 23 from the information obtained by the sensing unit, the picker unit 3 may pick up the light emitting device to be tested in the seating unit 23. Therefore, even if the light emitting device to be tested is not located on the seating part 23, the picker part 3 is operated to prevent an error caused by failing to pick up the light emitting device.

상기 공급부(2)는 복수개의 테스트될 발광소자를 공급할 수 있다. 상기 공급부(2)는 상기 픽커부(3)가 한번에 픽업할 수 있는 발광소자의 개수와 동일한 개수의 발광소자를 공급할 수 있다.The supply unit 2 may supply a plurality of light emitting devices to be tested. The supply unit 2 may supply the same number of light emitting devices as the number of light emitting devices that the picker unit 3 can pick up at one time.

도 2 내지 도 4를 참고하면, 상기 픽커부(3)는 상기 안착부(23)에 위치된 테스트될 발광소자를 픽업하여 상기 테스트부(4)로 이송한다. 상기 픽커부(3)는 상기 공급부(2) 및 상기 테스트부(4) 사이에 설치될 수 있다.2 to 4, the picker unit 3 picks up a light emitting device to be tested located in the seating unit 23 and transfers the light emitting element to the test unit 4. The picker unit 3 may be installed between the supply unit 2 and the test unit 4.

상기 픽커부(3)는 픽커(31), 본체(32), 및 탄성부재(33)를 포함할 수 있다.The picker unit 3 may include a picker 31, a main body 32, and an elastic member 33.

상기 픽커(31)는 발광소자에 직접 접촉되어 발광소자를 흡착할 수 있다. 상기 픽커(31)는 상기 안착부(23)에서 테스트될 발광소자를 픽업하고, 픽업한 테스트될 발광소자를 상기 테스트부(4)에 수납시킨다. 상기 안착부(23)에서 테스트될 발광소자를 픽업할 때 상기 픽커(31)는 픽업위치(2a)에 위치되고, 테스트될 발광소자를 상기 테스트부(4)에 수납시킬 때 상기 픽커(31)는 수납위치(3a)에 위치된다. 상기 픽커(31)가 픽업위치(2a)에 위치될 때, 상기 픽커(31)는 공급부(2) 위에 위치될 수 있다.The picker 31 may be in direct contact with the light emitting device to absorb the light emitting device. The picker 31 picks up the light emitting device to be tested in the seating part 23 and stores the picked up light emitting device in the test part 4. The picker 31 is located at the pick-up position 2a when picking up the light emitting element to be tested in the seating part 23 and the picker 31 when storing the light emitting element to be tested in the test section 4. Is located at the storage position 3a. When the picker 31 is located at the pick-up position 2a, the picker 31 may be located above the supply portion 2.

상기 픽커(31)는 픽업위치(2a) 및 수납위치(3a)에 동시에 위치될 수 있도록 상기 본체(32)에 복수개가 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 픽업위치(2a)에 위치 된 픽커(31)는 상기 안착부(23)에서 발광소자를 픽업할 수 있고, 상기 수납위치(3a)에 위치된 픽커(31)는 상기 테스트부(4)에 발광소자를 수납시킬 수 있다.A plurality of pickers 31 may be installed in the main body 32 so that the pickers 31 may be simultaneously positioned at the pick-up position 2a and the storage position 3a. Accordingly, the picker 31 positioned at the pick-up position 2a may pick up the light emitting device from the seating portion 23, and the picker 31 positioned at the storage position 3a may include the test unit ( The light emitting element can be accommodated in 4).

상기 픽커는, 상기 픽업위치(2a)에 적어도 하나의 픽커(31)가 위치되고, 상기 수납위치(3a)에 적어도 하나의 픽커(31)가 위치되도록 상기 본체(32)에 복수개가 설치될 수 있다.A plurality of pickers may be installed in the main body 32 such that at least one picker 31 is positioned at the pick-up position 2a and at least one picker 31 is positioned at the storage position 3a. have.

여기서, 상기 픽커(31)가 상기 픽업위치(2a)에서 발광소자를 픽업하는데 걸리는 시간보다 상기 테스트부(4)가 발광소자를 테스트하는데 더 오랜 시간이 걸릴 수 있다. 이 경우, 상기 픽커(31)가 상기 픽업위치(2a)에서 픽업하는 발광소자의 개수와 상기 수납위치(3a)에서 상기 테스트부(4)에 수납시키는 발광소자의 개수가 동일하면, 다음과 같은 문제가 발생할 수 있다.Here, the test unit 4 may take a longer time to test the light emitting device than the time taken for the picker 31 to pick up the light emitting device at the pick-up position 2a. In this case, if the number of light emitting elements picked up by the picker 31 at the pickup position 2a and the number of light emitting elements accommodated in the test unit 4 at the storage position 3a are the same, Problems may arise.

상기 테스트부(4)에서 발광소자에 대한 테스트가 완료될 때까지 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)는 상기 테스트부(4)에 새로운 발광소자를 수납시킬 수 없다. 상기 테스트부(4)는 발광소자가 수납되는 소켓(41)을 복수개 포함하는데, 발광소자에 대한 테스트가 완료될 때까지 새로운 소켓(41)이 상기 수납위치(3a)에 위치될 수 없기 때문이다.The picker 31 positioned at the storage position 3a until the test of the light emitting device is completed in the test unit 4 may not accommodate the new light emitting device in the test unit 4. The test unit 4 includes a plurality of sockets 41 for storing the light emitting devices, since the new sockets 41 cannot be positioned at the storage position 3a until the test for the light emitting devices is completed. .

상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)가 상기 테스트부(4)에 새로운 발광소자를 수납시킬 수 없으므로, 상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31) 또한 상기 안착부(23)에서 새로운 발광소자를 픽업할 수 없다. 이에 따라, 상기 공급부(2) 또한 새로운 테스트될 발광소자를 공급할 수 없다.Since the picker 31 positioned at the storage position 3a cannot accommodate the new light emitting element in the test unit 4, the picker 31 positioned at the pickup position 2a may also have the seating portion 23. Could not pick up a new light-emitting device. Accordingly, the supply part 2 also cannot supply a new light emitting element to be tested.

따라서, 상기 테스트부(4)에서 발광소자에 대한 테스트가 완료될 때까지 상 기 공급부(2) 및 픽커부(3)가 대기해야 하며, 이로 인한 시간 손실이 전체 작업시간을 증대시키는 문제가 발생될 수 있다.Therefore, the test unit 4 and the picker unit 3 should wait until the test of the light emitting device is completed in the test unit 4, and a problem caused by this time loss increases the overall working time. Can be.

상술한 바와 같은 문제가 발생되지 않도록, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)에서 상기 픽커(31)는 상기 픽업위치(2a)에서 보다 상기 수납위치(3a)에 서 더 많은 개수의 픽커(31)가 위치되도록 상기 본체(32)에 설치될 수 있다. In order to prevent the problem as described above, in the light emitting device test handler 1 according to the present invention, the picker 31 has a larger number of pickers at the storage position 3a than at the pickup position 2a. 31 may be installed in the main body 32 to be positioned.

이에 따라, 상기 수납위치(3a)에 새로운 소켓(41)들이 위치될 때까지, 상기 픽커(31)들은 상기 픽업위치(2a)에 순차적으로 위치되면서 상기 안착부(23)에서 발광소자를 픽업한 후에 상기 수납위치(3a)로 순차적으로 이동될 수 있다. 상기 수납위치(3a)에 새로운 소켓(41)들이 위치되면, 그 동안 발광소자를 픽업하여 상기 수납위치(3a)로 이동된 픽커(31)들이 상기 소켓(41)들에 발광소자들을 한꺼번에 수납시킬 수 있다.Accordingly, the pickers 31 are sequentially positioned at the pick-up position 2a until the new sockets 41 are positioned at the storage position 3a, and pick up the light emitting device from the seating portion 23. After that, it can be sequentially moved to the storage position (3a). When the new sockets 41 are positioned at the storage position 3a, the pickers 31 picked up the light emitting elements during this time and the pickers 31 moved to the storage position 3a receive the light emitting elements at the same time. Can be.

따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트부(4)에서 발광소자가 테스트되는 동안에도 상기 공급부(2) 및 상기 픽커부(3)가 계속하여 작업할 수 있으므로, 시간 손실을 없앨 수 있고 전체 작업시간을 줄일 수 있다.Therefore, the light emitting device test handler 1 according to the present invention can lose time because the supply part 2 and the picker part 3 can continue to work while the light emitting device is tested in the test part 4. Can eliminate the total work time.

본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)에서 상기 픽커(31)는 다음과 같이 크게 세가지 실시예로 상기 본체(32)에 설치될 수 있다.In the light emitting device test handler 1 according to the present invention, the picker 31 may be installed in the main body 32 in three embodiments as follows.

제1실시예로, 상기 픽커(31)는 어느 하나가 상기 픽업위치(2a)에 위치되고, 적어도 두 개의 픽커(31)가 상기 수납위치(3a) 위에 위치되도록 상기 본체(32)에 복수개가 설치될 수 있다. 상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31)는 상기 안착부(23)에서 발광소자를 하나씩 픽업할 수 있고, 상기 수납위치(3a)에 위치되는 적 어도 두 개의 픽커(31)는 적어도 두 개의 발광소자를 상기 테스트부(4)에 수납시킬 수 있다.In the first embodiment, a plurality of pickers 31 are provided in the main body 32 such that any one is located at the pick-up position 2a and at least two pickers 31 are positioned above the storage position 3a. Can be installed. The picker 31 positioned at the pick-up position 2a may pick up the light emitting elements one by one from the seating portion 23, and at least two pickers 31 positioned at the receiving position 3a may be at least two. Light emitting devices can be stored in the test unit 4.

제2실시예로, 상기 픽커(31)는 N(N은 1보다 큰 정수)개의 픽커(31)가 상기 픽업위치(2a)에 위치되고, 2N개의 픽커가 상기 수납위치(3a)에 위치되도록 상기 본체(32)에 복수개가 설치될 수 있다. 상기 픽업위치(2a)에 위치된 N개의 픽커(31)는 상기 안착부(23)에서 N개의 발광소자를 픽업할 수 있고, 상기 수납위치(3a)에 위치되는 2N개의 픽커(31)는 2N개의 발광소자를 상기 테스트부(4)에 수납시킬 수 있다.In the second embodiment, the picker 31 is arranged such that N (N is an integer greater than 1) pickers 31 are located at the pick-up position 2a, and 2N pickers are positioned at the storage position 3a. A plurality of bodies may be installed in the main body 32. N pickers 31 positioned at the pick-up position 2a can pick up N light emitting elements from the seating portion 23, and 2N pickers 31 positioned at the storage position 3a have 2N. Light emitting devices can be stored in the test unit 4.

제3실시예로, 상기 픽커(31)는 N개의 픽커가 상기 픽업위치(2a)에 위치되고, M(M은 N보다 큰 정수)개의 픽커(31)가 상기 수납위치(3a)에 위치되도록 상기 본체(32)에 복수개가 설치될 수 있다. 상기 픽업위치(2a)에 위치된 N개의 픽커(31)는 상기 안착부(23)에서 N개의 발광소자를 픽업할 수 있고, 상기 수납위치(3a)에 위치된 M개의 픽커(31)는 M개의 발광소자를 상기 테스트부(4)에 수납시킬 수 있다. M은 N의 배수일 수 있다. In the third embodiment, the picker 31 has N pickers positioned at the pick-up position 2a and M (M is an integer greater than N) pickers 31 positioned at the storage position 3a. A plurality of bodies may be installed in the main body 32. The N pickers 31 positioned at the pick-up position 2a may pick up N light emitting elements from the seating portion 23, and the M pickers 31 positioned at the storage position 3a may have M pick-ups. Light emitting devices can be stored in the test unit 4. M may be a multiple of N.

상기 픽커(31)들은 상기 본체(32)에 개별적으로 승하강 가능하게 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31) 및 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)는 함께 승하강될 수도 있고, 개별적으로 승하강될 수도 있다.The pickers 31 may be installed on the main body 32 to be lifted up and down individually. Accordingly, the picker 31 positioned at the pick-up position 2a and the picker 31 positioned at the storage position 3a may be raised and lowered together, or may be raised and lowered individually.

상기 수납위치(3a)에 새로운 소켓(41)들이 위치될 때까지 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들은 승하강되지 않고, 상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31)들만 승하강될 수 있다. 상기 수납위치(3a)에 새로운 소켓(41)들이 위치되면 그 동안 발광소자를 픽업하여 상기 수납위치(3a)로 이동된 픽커(31)들 및 상기 픽 업위치(2a)에 위치되는 픽커(31)들이 동시에 승하강될 수 있다.Pickers 31 positioned at the storage position 3a are not raised or lowered until new sockets 41 are positioned at the storage position 3a. Only pickers 31 positioned at the pickup position 2a are positioned. Can be raised and lowered. When the new sockets 41 are positioned at the storage position 3a, the pickers 31 picked up the light emitting elements and moved to the storage position 3a and the pickers 31 positioned at the pick-up position 2a. ) Can be raised and lowered at the same time.

상기 본체(32)는, 상기 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(4)로 이송할 수 있도록, 상기 제2구동유닛(7)에 의해 이동될 수 있다. 상기 본체(32)는 상기 제2구동유닛(7)에 의해 회전축(32a)을 중심으로 회전될 수 있다.The main body 32 may be moved by the second driving unit 7 so that the picker 31 may transfer the light emitting element to be tested from the supply unit 2 to the test unit 4. . The main body 32 may be rotated about the rotation shaft 32a by the second driving unit 7.

상기 본체(32)에는 복수개의 상기 픽커(31)들이 회전축(32a)을 중심으로 동일한 각도로 이격되어서 설치될 수 있다. 상기 제2구동유닛(7)은 상기 픽커(31)들이 회전축(32a)을 중심으로 이격된 각도와 동일한 각도로 상기 본체(32)를 회전시킬 수 있다. 상기 제2구동유닛(7)이 상기 본체(32)를 회전축(32a)을 중심으로 회전시킴으로써, 상기 픽커(31)들은 상기 픽업위치(2a) 및 상기 수납위치(3a)에 순차적으로 위치되면서 순환될 수 있다.A plurality of the pickers 31 may be spaced apart from each other at the same angle with respect to the rotation shaft 32a. The second driving unit 7 may rotate the main body 32 at an angle equal to the angle at which the pickers 31 are spaced about the rotation axis 32a. As the second driving unit 7 rotates the main body 32 about the rotation shaft 32a, the pickers 31 are circulated while being sequentially positioned at the pickup position 2a and the storage position 3a. Can be.

상기 탄성부재(33)는 상기 픽커(31) 및 상기 본체(32) 사이에 개재된다. 상기 탄성부재(33)는 상기 픽커(31)들이 상기 본체(32)에서 탄성적으로 승하강되도록 한다. 상기 픽커부(3)는 상기 픽커(31)와 동일한 개수의 탄성부재를 포함할 수 있다.The elastic member 33 is interposed between the picker 31 and the body 32. The elastic member 33 allows the pickers 31 to elastically move up and down in the body 32. The picker unit 3 may include the same number of elastic members as the picker 31.

도 2 내지 도 6을 참고하면, 상기 테스트부(4)는 소켓(41) 및 지지부재(42)를 포함한다. 상기 테스트부(4)에는 발광소자를 테스트하는 테스트유닛(43)이 설치 된다.2 to 6, the test unit 4 includes a socket 41 and a support member 42. The test unit 4 is provided with a test unit 43 for testing the light emitting device.

상기 소켓(41)에는 발광소자가 수납될 수 있다. 상기 소켓(41)에 수납되는 발광소자는 흡착장치(미도시)에 의해 상기 소켓(41)에 흡착될 수 있다. 상기 소켓(41)은 상기 지지부재(42)에 복수개가 설치될 수 있다. The socket 41 may accommodate a light emitting device. The light emitting element accommodated in the socket 41 may be adsorbed to the socket 41 by an adsorption device (not shown). A plurality of sockets 41 may be installed in the support member 42.

상기 소켓(41)들은 각각 수납위치(3a), 발광소자가 테스트되는 테스트위치(4a), 및 발광소자가 분류되는 분류위치(5a)에 동시에 위치될 수 있도록 상기 지지부재(42)에 설치될 수 있다. 상기 테스트위치(4a)는 상기 테스트유닛(43)이 발광소자를 테스트할 수 있는 위치로, 상기 테스트유닛(43)이 설치되어 있는 위치일 수 있다. 상기 분류위치(5a)는 상기 소팅부(5)가 발광소자를 분류할 수 있는 위치로, 상기 소팅부(5)가 설치되어 있는 위치일 수 있다.The sockets 41 may be installed at the support member 42 so that they can be simultaneously positioned at the receiving position 3a, the test position 4a at which the light emitting element is tested, and the sorting position 5a at which the light emitting element is sorted. Can be. The test position 4a is a position where the test unit 43 can test the light emitting device, and may be a position where the test unit 43 is installed. The sorting position 5a may be a position at which the sorting unit 5 may classify a light emitting device, and may be a position at which the sorting unit 5 is installed.

이에 따라, 상기 수납위치(3a)에 위치된 소켓(41)에는 상기 픽커(31)에 의해 테스트될 발광소자가 수납되고, 상기 테스트위치(4a)에 위치된 소켓(41)에 수납되어 있는 테스트될 발광소자는 상기 테스트유닛(43)에 의해 테스트되며, 상기 분류위치(5a)에 위치된 소켓(41)에 수납되어 있는 테스트된 발광소자는 상기 소팅부(5)에 의해 등급별로 분류될 수 있다.As a result, a light emitting element to be tested by the picker 31 is accommodated in the socket 41 positioned at the storage position 3a, and a test stored in the socket 41 positioned at the test position 4a. The light emitting device to be tested is tested by the test unit 43, and the tested light emitting device contained in the socket 41 located at the sorting position 5a may be classified by the sorting unit 5 by class. have.

상기 지지부재(42)에는 발광소자를 수납하는 상기 소켓(41)이 복수개 설치된다. 상기 지지부재(42)에는 상기 수납위치(3a) 및 상기 테스트위치(4a)에 각각 적어도 하나의 소켓(41)이 위치되고, 상기 분류위치(5a)에 적어도 두 개의 소켓(41)들이 위치되도록 상기 소켓(41)들이 설치될 수 있다.The support member 42 is provided with a plurality of sockets 41 for storing light emitting elements. At least one socket 41 is positioned at the receiving position 3a and the test position 4a at the support member 42, and at least two sockets 41 are positioned at the sorting position 5a. The sockets 41 may be installed.

상기 지지부재(42)는 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(4a), 및 상기 분 류위치(5a)에 상기 소켓(41)들이 순차적으로 위치되도록 상기 제1구동유닛(6)에 의해 회전될 수 있다.The support member 42 is provided by the first driving unit 6 so that the sockets 41 are sequentially positioned at the receiving position 3a, the test position 4a, and the sorting position 5a. Can be rotated.

상기 지지부재(42)는 상기 제1구동유닛(6)에 의해 회전축(42a)을 중심으로 회전될 수 있다. 상기 지지부재(42)에는 복수개의 상기 소켓(41)들이 회전축(42a)을 중심으로 동일한 각도로 이격되어서 설치될 수 있다. The support member 42 may be rotated about the rotation shaft 42a by the first driving unit 6. The support member 42 may be provided with a plurality of the sockets 41 are spaced apart at the same angle with respect to the rotation axis (42a).

이에 따라, 상기 지지부재(42)가 회전축(42a)을 중심으로 일정 각도로 회전되면, 상기 소켓(41)들은 각각 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(4a), 및 상기 분류위치(5a)에 동시에 위치될 수 있다.Accordingly, when the support member 42 is rotated at a predetermined angle about the rotation shaft 42a, the sockets 41 are respectively the receiving position 3a, the test position 4a, and the sorting position 5a. Can be located at the same time.

상기 지지부재(42)에는 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(4a), 및 상기 분류위치(5a)에 동시에 위치되는 소켓(41)들 외에 더 많은 개수의 소켓(41)이 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1구동유닛(6)이 상기 지지부재(42)를 회전축(42a)을 중심으로 회전시키는 각도를 줄일 수 있고, 상기 소켓(41)들을 다음 위치로 이동시키는데 걸리는 시간을 줄임으로써, 짧은 시간에 더 많은 발광소자들이 테스트되고 등급별로 분류되도록 할 수 있다.The support member 42 may be provided with a larger number of sockets 41 in addition to the sockets 41 simultaneously positioned at the receiving position 3a, the test position 4a, and the sorting position 5a. have. Accordingly, the first driving unit 6 can reduce the angle of rotating the support member 42 about the rotation axis 42a, and by reducing the time taken to move the sockets 41 to the next position. In a short time, more light emitting devices can be tested and sorted by grade.

상기 테스트유닛(43)은 상기 테스트위치(4a)에 위치하는 소켓(41)에 수납되어 있는 발광소자를 테스트한다. 상기 테스트부(4)에는 복수개의 테스트유닛(43)이 설치될 수 있다. 상기 테스트유닛(43)은 발광소자의 테스트 결과 정보를 분석하는 테스터(미도시)에 연결될 수 있다. 상기 테스터는 테스트 결과 정보를 분석하여 발광소자가 가지는 성능에 따라 등급을 부여한 후에, 이 등급 정보를 상기 소팅부(5)로 송신할 수 있다.The test unit 43 tests the light emitting device accommodated in the socket 41 positioned at the test position 4a. The test unit 4 may be provided with a plurality of test units 43. The test unit 43 may be connected to a tester (not shown) for analyzing test result information of the light emitting device. After the tester analyzes the test result information and assigns a grade according to the performance of the light emitting device, the tester may transmit the grade information to the sorting unit 5.

상기 테스트유닛(43)은 접속유닛(431) 및 측정유닛(432)을 포함한다.The test unit 43 includes a connection unit 431 and a measuring unit 432.

상기 접속유닛(431)은 상기 소켓(41)에 수납되어 있는 발광소자에 접속된다. 상기 접속유닛(431)은 발광소자에 접속되어, 발광소자가 가지는 전기적 특성을 테스트할 수 있다. 상기 접속유닛(431)은 발광소자를 발광시킬 수 있고, 이에 따라 상기 측정유닛(432)이 발광소자가 가지는 광특성을 측정할 수 있도록 한다.The connection unit 431 is connected to a light emitting element housed in the socket 41. The connection unit 431 may be connected to a light emitting device to test electrical characteristics of the light emitting device. The connection unit 431 may emit light from the light emitting device, and thus the measuring unit 432 may measure optical characteristics of the light emitting device.

상기 접속유닛(431)은, 도 6에 도시된 바와 같이, 제1접속유닛(431a) 및 제2접속유닛(431b)을 포함할 수 있다. 상기 제1접속유닛(431a) 및 제2접속유닛(431b)은 서로 가까워지거나 멀어지도록 이동될 수 있고, 서로 가까워지게 이동되면 상기 소켓(41)에 수납되어 있는 발광소자에 접속될 수 있다.As illustrated in FIG. 6, the connection unit 431 may include a first connection unit 431a and a second connection unit 431b. The first connection unit 431a and the second connection unit 431b may be moved closer to or farther from each other, and when the first connection unit 431a and the second connection unit 431b are closer to each other, they may be connected to the light emitting device housed in the socket 41.

상기 측정유닛(432)은 상기 소켓(41)에 수납되어 있는 발광소자가 가지는 광특성을 측정할 수 있다. 상기 측정유닛(432)이 광특성 정보를 상기 테스터로 송신하면, 상기 테스터는 광특성 정보를 분석하여 발광소자가 갖춘 성능에 해당하는 등급을 부여한 후에, 이 등급 정보를 상기 소팅부(5)로 송신할 수 있다.The measuring unit 432 may measure the optical characteristics of the light emitting device accommodated in the socket 41. When the measuring unit 432 transmits the optical characteristic information to the tester, the tester analyzes the optical characteristic information and assigns a grade corresponding to the performance of the light emitting device, and then transfers the grade information to the sorting unit 5. I can send it.

도 2 내지 도 8을 참고하면, 상기 소팅부(5)는 상기 소켓(41)에 수납되어 있는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류한다. 상기 소팅부(5)는 상기 테스터로부터 테스트된 발광소자가 가지는 등급에 관한 정보를 수신하여, 이에 맞게 테스트된 발광소자를 분류할 수 있다.2 to 8, the sorting unit 5 classifies the tested light emitting devices stored in the sockets 41 by grade according to test results. The sorting unit 5 may receive information about a grade of the light emitting device tested from the tester, and classify the tested light emitting device accordingly.

상기 소팅부(5)는 수납유닛(51), 분류유닛(52), 및 이송부(53)을 포함할 수 있다.The sorting unit 5 may include a storage unit 51, a sorting unit 52, and a transfer unit 53.

상기 수납유닛(51)은 상기 분류유닛(52)으로부터 이송되는 발광소자들을 등 급별로 수납한다. 상기 수납유닛(51)은 상기 공급부(2), 상기 픽커부(3), 및 상기 테스트부(4)가 설치되는 핸들러본체(W)의 아래에 설치될 수 있다.The accommodating unit 51 accommodates light-emitting elements transferred from the classification unit 52 by class. The storage unit 51 may be installed under the handler body W in which the supply part 2, the picker part 3, and the test part 4 are installed.

상기 수납유닛(51)은 수납부재(511), 연결판(512), 및 연결부재(513)를 포함할 수 있다.The accommodation unit 51 may include an accommodation member 511, a connection plate 512, and a connection member 513.

상기 수납부재(511)는 상기 연결부재(513)로부터 이송되는 발광소자들을 등급별로 수납한다. 상기 수납유닛(51)은 발광소자들을 그 성능에 따라 분류하고자 하는 등급 개수에 상응하는 복수개의 수납부재(511)를 포함할 수 있다.The accommodating member 511 accommodates light emitting devices transferred from the connecting member 513 by grade. The accommodating unit 51 may include a plurality of accommodating members 511 corresponding to the number of grades to classify the light emitting devices according to their performances.

상기 연결판(512)은 테스트된 발광소자들을 그 성능에 따라 분류하고자 하는 등급 개수에 상응하는 복수개의 관통공(512a)을 포함할 수 있다.The connecting plate 512 may include a plurality of through holes 512a corresponding to the number of grades to classify the tested light emitting devices according to their performance.

상기 연결부재(513)는 연결판(512)에 형성되어 있는 관통공(512a)들 및 상기 수납부재(511)들을 각각 연결한다. 상기 연결부재(513)는 일측이 연결판(512)에 형성되어 있는 관통공(512a)과 연통되게 상기 연결판(512)에 결합되고, 타측이 상기 수납부재(511)에 결합된다. 테스트된 발광소자는 상기 연결판(512)에 형성되어 있는 관통공(512a) 및 상기 연결부재(513)의 내측을 지나 상기 수납부재(511)에 수납될 수 있다. 상기 수납유닛(51)은 테스트된 발광소자들을 그 성능에 따라 분류하고자 하는 등급 개수에 상응하는 복수개의 연결부재(513)를 포함할 수 있다.The connecting member 513 connects the through holes 512a and the receiving member 511 formed in the connecting plate 512, respectively. The connection member 513 is coupled to the connection plate 512 so that one side is in communication with the through hole 512a formed in the connection plate 512, and the other side is coupled to the accommodation member 511. The tested light emitting device may be accommodated in the accommodating member 511 through the through hole 512a formed in the connecting plate 512 and the inside of the connecting member 513. The storage unit 51 may include a plurality of connection members 513 corresponding to the number of grades to classify the tested light emitting devices according to their performance.

상기 분류유닛(52)은 테스트된 발광소자가 그 등급에 해당하는 상기 수납부재(511)에 수납되도록 테스트된 발광소자를 상기 수납유닛(51)으로 전달한다. 상기 분류유닛(52)은 상기 이송부(53)으로부터 이송되는 테스트된 발광소자가 그 등급에 해당하는 상기 수납부재(511)에 수납될 수 있도록, 해당 수납부재(511)와 연결된 관통공(512a)으로 테스트된 발광소자를 전달할 수 있다.The classification unit 52 transmits the tested light emitting device to the storage unit 51 so that the tested light emitting device is accommodated in the housing member 511 corresponding to the class. The sorting unit 52 has a through hole 512a connected to the housing member 511 such that the tested light emitting device transferred from the transfer unit 53 can be accommodated in the housing member 511 corresponding to the grade. The tested light emitting device can be delivered.

상기 분류유닛(52)은 상기 핸들러본체(W) 및 상기 수납유닛(51) 사이에 설치될 수 있다. 즉, 상기 분류유닛(52)은 상기 공급부(2), 상기 픽커부(3), 및 상기 테스트부(4)가 설치되는 핸들러본체(W)의 아래에 설치되고, 상기 수납유닛(51) 위에 설치될 수 있다. The sorting unit 52 may be installed between the handler body (W) and the storage unit (51). That is, the sorting unit 52 is installed under the handler body W in which the supply part 2, the picker part 3, and the test part 4 are installed, and on the storage unit 51. Can be installed.

상기 분류유닛(52)은 이동프레임(521), 이동부재(522), 및 결합부재(523)를 포함할 수 있다.The sorting unit 52 may include a moving frame 521, a moving member 522, and a coupling member 523.

상기 이동프레임(521)은 X축방향 또는 Y축방향으로 이동 가능하게 상기 연결판(512)에 설치될 수 있다. 상기 이동프레임(521)은 구동풀리와 종동풀리를 연결하는 벨트, 및 상기 구동풀리를 회전시키는 모터에 의해 각각 이동될 수 있다. 상기 모터가 상기 구동풀리를 회전시키면 상기 벨트가 이동되면서, 상기 벨트에 결합된 상기 이동프레임(512)이 이동될 수 있다. 상기 이동프레임(521)는 리니어모터에 의해 이동될 수도 있다.The moving frame 521 may be installed on the connecting plate 512 to be movable in the X-axis direction or the Y-axis direction. The moving frame 521 may be moved by a belt connecting the driving pulley and the driven pulley, and a motor for rotating the driving pulley. When the motor rotates the drive pulley, the belt is moved, and the moving frame 512 coupled to the belt may be moved. The moving frame 521 may be moved by a linear motor.

상기 이동부재(522)는 상기 이동프레임(521)이 X축방향으로 이동 가능하면, 상기 이동프레임(521)에 Y축방향으로 이동 가능하게 결합된다. 상기 이동부재(522)는 상기 이동프레임(521)이 Y축방향으로 이동 가능하면, 상기 이동프레임(521)에 X축방향으로 이동 가능하게 결합된다. 즉, 상기 이동부재(522)는 상기 이동프레임(521)과의 결합에 의해 X축방향 및 Y축방향으로 이동될 수 있다.When the movable frame 521 is movable in the X-axis direction, the movable member 522 is coupled to the movable frame 521 so as to be movable in the Y-axis direction. When the movable frame 521 is movable in the Y-axis direction, the movable member 522 is coupled to the movable frame 521 so as to be movable in the X-axis direction. That is, the moving member 522 may be moved in the X-axis direction and the Y-axis direction by coupling with the moving frame 521.

상기 이동부재(522)는 구동풀리와 종동풀리를 연결하는 벨트, 및 상기 구동풀리를 회전시키는 모터에 의해 이동될 수 있다. 상기 모터가 상기 구동풀리를 회 전시키면 상기 벨트가 이동되면서, 상기 벨트에 결합된 상기 이동부재(522)가 이동될 수 있다. 상기 이동부재(522)는 리니어모터에 의해 이동될 수도 있다.The moving member 522 may be moved by a belt connecting the driving pulley and the driven pulley, and a motor for rotating the driving pulley. When the motor rotates the drive pulley, the belt may move, and the moving member 522 coupled to the belt may move. The moving member 522 may be moved by a linear motor.

상기 이동부재(522)는 상기 결합부재(523)를 통해 상기 이송부(53)와 결합되고, 상기 연결판(512)에 형성되어 있는 복수개의 관통공(512a) 위에서 X축방향 및 Y축방향으로 이동될 수 있다. 상기 이동부재(522)는, 상기 이송부(53)로부터 이송되는 테스트된 발광소자가 상기 수납유닛(51)으로 이동되기 전에, 테스트된 발광소자의 등급에 상응하는 해당 수납부재(511)에 연결된 관통공(512a) 위로 이동될 수 있다. 테스트된 발광소자는 상기 이송부(53)에서 상기 결합부재(523) 및 상기 이동부재(522)의 내측을 지나, 그 등급에 해당하는 수납부재(511)에 수납된다.The moving member 522 is coupled to the transfer part 53 through the coupling member 523 and is disposed in the X-axis direction and the Y-axis direction on the plurality of through holes 512a formed in the connecting plate 512. Can be moved. The moving member 522 is connected to the corresponding housing member 511 corresponding to the class of the tested light emitting device before the tested light emitting device transferred from the transfer unit 53 is moved to the storage unit 51. May be moved over the ball 512a. The tested light emitting device passes inside the coupling member 523 and the moving member 522 in the transfer part 53 and is accommodated in the receiving member 511 corresponding to the class.

상기 결합부재(523)는 일측이 상기 이송부(53)에 결합되고, 타측이 상기 이동부재(522)에 결합된다. 테스트된 발광소자는 상기 이송부(53)에서 상기 결합부재(523)의 내측 및 상기 이동부재(522)의 내측을 지나, 그 등급에 해당하는 수납부재(511)로 이동될 수 있다. 상기 결합부재(523)는 상기 이동부재(522)가 X축방향 및 Y축방향으로 이동되는데 방해되지 않도록 호스가 이용될 수 있으며, 고무호스, 플라스틱호스, 또는 메탈호스 등이 이용될 수 있다.One side of the coupling member 523 is coupled to the transfer part 53, and the other side of the coupling member 523 is coupled to the moving member 522. The tested light emitting device may be moved from the transfer part 53 to an inner side of the coupling member 523 and an inner side of the moving member 522 to an accommodation member 511 corresponding to the grade. The coupling member 523 may be a hose so that the moving member 522 is not prevented from moving in the X-axis direction and the Y-axis direction, and a rubber hose, a plastic hose, or a metal hose may be used.

상기 이송부(53)는 상기 수납위치(3a)와 상기 테스트위치(4a) 사이에 위치하는 분류위치(5a)에서 상기 테스트부(4)에 설치된다. 상기 이송부(53)는 이송유닛(531) 및 전달부재(532)를 포함할 수 있다.The transfer part 53 is installed in the test part 4 at the sorting position 5a located between the receiving position 3a and the test position 4a. The transfer unit 53 may include a transfer unit 531 and a transfer member 532.

상기 이송유닛(531)은 테스트된 발광소자를 상기 분류유닛(52)으로 이송할 수 있다. 상기 이송유닛(531)은 유체흡입장치 또는 유체분사장치를 포함할 수 있 다. 상기 이송유닛(531)은 공기를 흡입 또는 분사함으로써 상기 소켓(41)에 수납되어 있는 발광소자를 상기 분류유닛(52)으로 이송할 수 있다.The transfer unit 531 may transfer the tested light emitting device to the sorting unit 52. The transfer unit 531 may include a fluid suction device or a fluid injection device. The transfer unit 531 may transfer the light emitting element stored in the socket 41 to the sorting unit 52 by sucking or spraying air.

상기 이송부(53)는 제1등급범위에 속하는 테스트된 발광소자를 상기 분류유닛(52)으로 이송하는 제1이송유닛(531a) 및 제2등급범위에 속하는 테스트된 발광소자를 상기 분류유닛(52)으로 이송하는 제2이송유닛(531b)을 포함할 수 있다.The transfer unit 53 may include the first transfer unit 531a for transferring the tested light emitting device belonging to the first class range to the sorting unit 52 and the sorted unit 52 for the tested light emitting device belonging to the second class range. ) May include a second transfer unit 531b.

상기 제1등급범위 및 제2등급범위는 발광소자들을 그 성능에 따라 분류하고자 하는 전체 등급을 2개의 범위로 구분한 것으로, 상기 제1이송유닛(531a) 및 제2이송유닛(531b)은 전체 등급을 2개의 범위로 구분한 제1등급범위 및 제2등급범위에 해당하는 테스트된 발광소자들을 각각 상기 분류유닛(52)으로 이송할 수 있다.The first grade range and the second grade range are divided into two ranges of overall grades to classify the light emitting devices according to their performance, and the first transfer unit 531a and the second transfer unit 531b The tested light emitting devices corresponding to the first grade range and the second grade range, which are classified into two ranges, may be transferred to the classification unit 52, respectively.

예컨대, 발광소자들을 그 성능에 따라 전체 256개의 등급으로 분류하는 경우, 상기 제1등급범위는 제1등급부터 제128등급까지이고, 상기 제2등급범위는 제129등급부터 제256등급까지일 수 있다. 즉, 상기 제1이송유닛(531a)은 제1등급부터 제128등급 중 어느 하나의 등급에 해당하는 발광소자를 상기 분류유닛(52)으로 이송할 수 있고, 상기 제2이송유닛(531b)은 제129등급부터 제256등급 중 어느 하나의 등급에 해당하는 발광소자를 상기 분류유닛(52)으로 이송할 수 있다.For example, when the light emitting devices are classified into 256 grades according to their performance, the first grade range may be from the first grade to the 128th grade, and the second grade range may be from the 129th grade to the 256th grade. have. That is, the first transfer unit 531a may transfer the light emitting devices corresponding to any one of the first to 128th grades to the classification unit 52, and the second transfer unit 531b may The light emitting device corresponding to any one of grades 129 to 256 may be transferred to the classification unit 52.

이에 따라, 상기 제1이송유닛(531a) 또는 제2이송유닛(531b)으로부터 테스트된 발광소자가 이송되기 전에, 상기 이동부재(522)는 제1등급범위 또는 제2등급범위에 해당하는 수납부재(511)들에 연결된 관통공(512a) 위 근방으로 미리 이동하여 대기할 수 있다.Accordingly, before the light emitting device tested from the first transfer unit 531a or the second transfer unit 531b is transferred, the movable member 522 is a storage member corresponding to the first grade range or the second grade range. In the vicinity of the through-hole (512a) connected to the (511) can be moved in advance.

따라서, 상기 이동부재(522)가 제1등급범위에 속하는 발광소자를 그 등급에 해당하는 관통공(512a)으로 전달되도록 한 후에, 제2등급범위에 속하는 발광소자를 그 등급에 해당하는 관통공(512a)으로 전달되도록 하기 위해 이동되는 거리와 이동하는데 걸리는 시간을 줄일 수 있다. 상기 이동부재(522)가 제2등급범위에 속하는 발광소자를 그 등급에 해당하는 관통공(512a)으로 전달되도록 한 후에, 제1등급범위에 속하는 발광소자를 그 등급에 해당하는 관통공(512a)으로 전달되도록 하기 위해 이동되는 거리와 이동하는데 걸리는 시간을 줄일 수 있다.Therefore, after the moving member 522 transmits the light emitting device belonging to the first class range to the through hole 512a corresponding to the class, the light emitting device belonging to the second class range is the through hole corresponding to the class. The distance traveled and the time it takes to travel to 512a can be reduced. After the movable member 522 transmits the light emitting device belonging to the second class range to the through hole 512a corresponding to the class, the light emitting device belonging to the first class range is the through hole 512a corresponding to the class It can reduce the distance traveled and the time it takes to be transferred.

상기 이송부(53)는 복수개의 제1이송유닛(531a) 및 복수개의 제2이송유닛(531b)을 포함할 수 있다. 상기 제1이송유닛(531a)들 및 상기 제2이송유닛(531b)들은 상기 제1이송유닛(531a) 옆에 상기 제2이송유닛(531b)이 위치되게 상기 테스트부(4)에 설치될 수 있다. 즉, 상기 제1이송유닛(531a)들 및 제2이송유닛(531b)들은 제1이송유닛(531a), 제2이송유닛(531b), 제1이송유닛(531a), 제2이송유닛(531b) 순서로 복수개가 위치될 수 있다.The transfer unit 53 may include a plurality of first transfer units 531a and a plurality of second transfer units 531b. The first transfer unit 531a and the second transfer unit 531b may be installed in the test unit 4 such that the second transfer unit 531b is positioned next to the first transfer unit 531a. have. That is, the first transfer unit 531a and the second transfer unit 531b are the first transfer unit 531a, the second transfer unit 531b, the first transfer unit 531a, and the second transfer unit 531b. A plurality can be positioned in order.

이에 따라, 상기 이송부(53)가 복수개의 제1이송유닛(531a) 및 복수개의 제2이송유닛(531b)을 포함하더라도, 상기 이동부재(522)는 상기 제1이송유닛(531a) 또는 제2이송유닛(531b)으로부터 테스트된 발광소자가 이송되기 전에, 제1등급범위 또는 제2등급범위에 해당하는 수납부재(511)들에 연결된 관통공(512a) 위 근방으로 미리 이동하여 대기할 수 있다.Accordingly, even if the transfer part 53 includes a plurality of first transfer units 531a and a plurality of second transfer units 531b, the moving member 522 may be the first transfer unit 531a or the second transfer unit 531a. Before the light emitting device tested from the transfer unit 531b is transferred, the light emitting device may move in advance to the vicinity of the through hole 512a connected to the receiving members 511 corresponding to the first grade range or the second grade range. .

상기 소팅부(5)는 복수개의 수납유닛(51), 상기 수납유닛(51)들 각각에 테스트된 발광소자를 전달하는 복수개의 분류유닛(52), 및 상기 분류유닛(52)들 각각에 테스트된 발광소자를 이송하는 복수개의 이송부(53)를 포함할 수 있다.The sorting unit 5 tests a plurality of storage units 51, a plurality of sorting units 52 which deliver the tested light emitting elements to each of the storage units 51, and each of the sorting units 52. It may include a plurality of transfer unit 53 for transferring the light emitting device.

즉, 상기 소팅부(5)는 상기 수납유닛(51), 분류유닛(52), 및 제1이송유닛(531a)과 제2이송유닛(531b)을 포함하는 이송부(53)가 하나의 세트를 이루고, 이러한 세트를 복수개 포함할 수 있다.That is, the sorting unit 5 includes one set of the storage unit 51, the sorting unit 52, and a transfer unit 53 including the first transfer unit 531a and the second transfer unit 531b. And a plurality of such sets.

복수개의 수납유닛(51) 각각은 발광소자들을 그 성능에 따라 분류하고자 하는 전체 등급에 대해 테스트된 발광소자들을 등급별로 수납할 수 있다. 복수개의 분류유닛(53) 각각은 상기 수납유닛(51)들 각각에 테스트된 발광소자를 전달할 수 있다. 복수개의 이송부(53) 각각은 상기 분류유닛(52)들 각각에 테스트된 발광소자를 이송할 수 있다. 상기 이송부(53)들은 각각 제1이송유닛(531a) 및 제2이송유닛(531b)을 포함할 수 있고, 상기 제1이송유닛(531a) 옆에 상기 제2이송유닛(531b)이 위치되게 상기 테스트부에 설치될 수 있다.Each of the plurality of accommodating units 51 may store the light emitting devices tested for the entire class for classifying the light emitting devices according to their performance. Each of the plurality of sorting units 53 may deliver the tested light emitting device to each of the storage units 51. Each of the plurality of transfer units 53 may transfer the tested light emitting device to each of the sorting units 52. Each of the transfer units 53 may include a first transfer unit 531a and a second transfer unit 531b, and the second transfer unit 531b may be positioned next to the first transfer unit 531a. It can be installed in the test section.

상기 이송부(53)는 발광소자들을 그 성능에 따라 분류하고자 하는 전체 등급을 복수개의 등급범위로 나누어 해당 등급범위에 속하는 테스트된 발광소자를 상기 분류유닛으로 이송하는 복수개의 이송유닛(531)을 포함할 수 있다.The transfer unit 53 includes a plurality of transfer units 531 for dividing the entire grade to classify the light emitting elements into a plurality of grade ranges and transferring the tested light emitting elements belonging to the corresponding grade ranges to the classification unit. can do.

즉, 발광소자들을 그 성능에 따라 분류하고자 하는 전체 등급을 복수개의 등급범위로 구분하고, 상기 등급범위들을 상기 이송유닛(531)들이 분담하여 상기 분류유닛(52)으로 이송할 수 있다.That is, the light emitting devices may be classified into a plurality of grade ranges to be classified according to their performance, and the grade ranges may be shared by the transfer unit 531 and transferred to the classification unit 52.

예컨대, 발광소자들을 그 성능에 따라 전체 256개의 등급으로 분류하고 4개의 등급범위로 구분하는 경우, 등급범위들은 제1등급부터 64등급까지의 제1등급범위, 제65등급부터 128등급까지의 제2등급범위, 제129등급부터 192등급까지의 제3등급범위, 제193등급부터 256등급까지의 제4등급범위로 구분될 수 있다. 상기 이송유 닛(531)들은 각각 제1등급범위, 제2등급범위, 제3등급범위, 및 제4등급범위에 속하는 발광소자들을 상기 분류유닛(52)으로 이송할 수 있다.For example, when the light emitting devices are classified into a total of 256 grades according to their performance and divided into four grade ranges, the grade ranges are the first grade range from the first grade to the 64 grade, the grades 65 through 128 grade. It may be classified into a second grade range, a third grade range from grade 129 to 192 grades, and a fourth grade range from grades 193 to 256 grades. The transfer units 531 may transfer light emitting devices belonging to a first grade range, a second grade range, a third grade range, and a fourth grade range to the sorting unit 52, respectively.

이에 따라, 상기 이송유닛(531)들로부터 테스트된 발광소자가 이송되기 전에, 상기 이동부재(522)는 해당 등급범위에 속하는 수납부재(511)들에 연결된 관통공(512a) 위 근방으로 미리 이동하여 대기할 수 있다.Accordingly, before the light emitting device tested from the transfer units 531 is transferred, the moving member 522 is moved in advance near the through hole 512a connected to the receiving members 511 belonging to the corresponding grade range. You can wait.

따라서, 상기 이동부재(522)가 등급범위들 중 어느 하나의 등급범위에 속하는 발광소자를 그 등급에 해당하는 관통공(512a)으로 전달되도록 한 후에, 등급범위들 중 다른 하나의 등급범위에 속하는 발광소자를 그 등급에 해당하는 관통공(512a)으로 전달되도록 하기 위해 이동되는 거리와 이동하는데 걸리는 시간을 줄일 수 있다. 발광소자들을 그 성능에 따라 분류하고자 하는 전체 등급을 더 많은 개수의 등급범위로 구분할수록, 짧은 시간에 더 많은 개수의 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다.Therefore, after the movable member 522 is to transmit the light emitting element belonging to any one of the class ranges to the through hole 512a corresponding to the class, it belongs to the other one of the class ranges The distance traveled and the time taken to move the light emitting device to the through hole 512a corresponding to the class can be reduced. As the overall class to classify the light emitting devices according to their performance into a larger number of class ranges, a larger number of light emitting devices can be classified by class in a shorter time.

상기 이송부(53)는 상기 이송유닛(531)들 각각의 옆에 서로 다른 등급범위에 속하는 테스트된 발광소자를 상기 분류유닛(52)으로 이송하는 이송유닛(53)들이 위치되게 상기 테스트부(4)에 설치될 수 있다. The transfer unit 53 is located next to each of the transfer units 531 so that the transfer unit 53 for transferring the tested light emitting devices belonging to different grade ranges to the sorting unit 52 may be located. ) Can be installed.

예컨대, 상술한 바와 같이 발광소자들을 그 성능에 따라 전체 256개의 등급으로 분류하고 4개의 등급범위로 구분하는 경우, 제1등급범위에 속하는 발광소자를 이송하는 이송유닛(531) 옆에 제2등급범위에 속하는 발광소자를 이송하는 이송유닛이 위치되고, 그 옆에 제3등급범위 및 제4등급범위에 속하는 발광소자를 이송하는 이송유닛이 위치될 수 있다.For example, as described above, when the light emitting devices are classified into a total of 256 grades according to their performance and divided into four grade ranges, the second grade is next to the transfer unit 531 which transfers the light emitting elements belonging to the first grade range. A conveying unit for conveying light emitting elements belonging to the range may be located, and a conveying unit for conveying light emitting elements belonging to the third and fourth class ranges may be positioned next to the conveying unit.

이에 따라, 상기 이송부(53)가 복수개의 이송유닛(531)을 포함하더라도, 상기 이동부재(522)는 상기 이송유닛(531)들로부터 테스트된 발광소자가 이송되기 전에, 해당 등급범위에 속하는 수납부재(511)들에 연결된 관통공(512a) 위 근방으로 미리 이동하여 대기할 수 있다.Accordingly, even if the transfer unit 53 includes a plurality of transfer units 531, the moving member 522 may be stored within the corresponding grade range before the light emitting device tested from the transfer units 531 is transferred. It may move in advance near the through hole 512a connected to the members 511 and wait.

상기 소팅부(5)는 복수개의 수납유닛(51), 상기 수납유닛(51)들 각각에 테스트된 발광소자를 전달하는 복수개의 분류유닛(52), 및 상기 분류유닛(52)들 각각에 테스트된 발광소자를 이송하는 복수개의 이송부(53)를 포함할 수 있다. 즉, 상기 소팅부(5)는 상기 수납유닛(51), 분류유닛(52), 및 복수개의 이송유닛(531)을 포함하는 이송부(53)가 하나의 세트를 이루고, 이러한 세트를 복수개 포함할 수 있다.The sorting unit 5 tests a plurality of storage units 51, a plurality of sorting units 52 which deliver the tested light emitting elements to each of the storage units 51, and each of the sorting units 52. It may include a plurality of transfer unit 53 for transferring the light emitting device. That is, the sorting unit 5 may include one or more sets of the transfer unit 53 including the accommodation unit 51, the sorting unit 52, and the plurality of transfer units 531, and include a plurality of such sets. Can be.

복수개의 수납유닛(51) 각각은 발광소자들을 그 성능에 따라 분류하고자 하는 전체 등급에 대해 테스트된 발광소자들을 등급별로 수납할 수 있다. 복수개의 분류유닛(53) 각각은 상기 수납유닛(51)들 각각에 테스트된 발광소자를 전달할 수 있다. 복수개의 이송부(53) 각각은 상기 분류유닛(52)들 각각에 테스트된 발광소자를 이송할 수 있다. 상기 이송부(53)들은 각각 복수개의 이송유닛(531)을 포함할 수 있고, 상기 이송유닛(531)들 각각의 옆에 서로 다른 등급범위에 속하는 테스트된 발광소자를 상기 분류유닛(52)으로 이송하는 이송유닛(53)들이 위치되게 상기 테스트부(4)에 설치될 수 있다. Each of the plurality of accommodating units 51 may store the light emitting devices tested for the entire class for classifying the light emitting devices according to their performance. Each of the plurality of sorting units 53 may deliver the tested light emitting device to each of the storage units 51. Each of the plurality of transfer units 53 may transfer the tested light emitting device to each of the sorting units 52. Each of the transfer units 53 may include a plurality of transfer units 531, and each of the transfer units 531 transfers the tested light emitting devices belonging to different grade ranges to the sorting unit 52 next to each of the transfer units 531. The transfer unit 53 may be installed in the test unit 4 to be located.

상기 전달부재(532)는 상기 이동부재(522)와 상기 이송유닛(531)들을 연결한다. 상기 전달부재(532)는 일측이 상기 결합부재(523)에 결합되고, 타측이 상기 이송유닛(531)에 결합될 수 있다. 테스트된 발광소자들은 상기 이송유닛(531)에서 상 기 전달부재(532) 및 상기 결합부재(523)의 내측을 지나 상기 이동부재(522)로 이동될 수 있다. 상기 전달부재(532)는 하나의 이동부재(522)와 복수개의 이송유닛(531)들을 연결할 수 있다.The transfer member 532 connects the moving member 522 and the transfer unit 531. One side of the transfer member 532 may be coupled to the coupling member 523, and the other side may be coupled to the transfer unit 531. The tested light emitting devices may be moved to the movable member 522 through the transfer member 532 and the coupling member 523 in the transfer unit 531. The transfer member 532 may connect one moving member 522 and a plurality of transfer units 531.

상기 전달부재(532)는 상기 이동부재(522)가 X축방향 및 Y축방향으로 이동되는데 방해되지 않도록 호스가 이용될 수 있으며, 고무호스, 플라스틱호스, 또는 메탈호스 등이 이용될 수 있다.The transfer member 532 may be a hose so that the moving member 522 is not prevented from moving in the X-axis direction and the Y-axis direction, a rubber hose, a plastic hose, or a metal hose may be used.

도 2 내지 도 8을 참고하면, 상기 제1구동유닛(6)은 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(4a), 및 상기 분류위치(5a)에 상기 소켓(41)들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재(42)를 회전시킨다.2 to 8, the first driving unit 6 is configured such that the sockets 41 are sequentially positioned at the receiving position 3a, the test position 4a, and the sorting position 5a. The support member 42 is rotated.

상기 제1구동유닛(6)은 상기 지지부재(42)를 회전축(42a)을 중심으로 회전시킬 수 있다. 상기 제1구동유닛(6)은 상기 지지부재(42)를 일정 각도로 회전시킴으로써, 상기 지지부재(42)에 설치되어 있는 상기 소켓(41)들이 각각 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(4a), 및 상기 분류위치(5a)에 동시에 위치되도록 한다.The first driving unit 6 may rotate the support member 42 about the rotation shaft 42a. The first driving unit 6 rotates the support member 42 at a predetermined angle, so that the sockets 41 installed on the support member 42 are respectively the storage position 3a and the test position ( 4a) and at the same time as the sorting position 5a.

상기 제1구동유닛(6)이 상기 지지부재(42)를 회전축(42a)을 중심으로 회전시킴으로써, 상기 소켓(41)들은 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(4a), 및 상기 분류위치(5a)에 순차적으로 위치되면서 순환될 수 있다.The first drive unit 6 rotates the support member 42 about the rotational axis 42a so that the sockets 41 are accommodated in the receiving position 3a, the test position 4a, and the sorting position. It can be circulated while being sequentially positioned at 5a.

본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치되는 실시예에 따라 다음과 같은 제1구동유닛(6)을 포함할 수 있다.The light emitting device test handler 1 according to the present invention may include the following first driving unit 6 according to the embodiment in which the picker 31 is installed in the main body 32.

상술한 제1실시예에 따라 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치된 경우, 상기 제1구동유닛(6)은 상기 소켓(41)들이 적어도 두 개씩 상기 수납위치(3a)에 순차 적으로 위치되도록 상기 지지부재(42)를 회전시킬 수 있다. 즉, 상기 제1구동유닛(6)은 상기 수납위치(3a)에 적어도 두 개씩 새로운 소켓(41)들을 위치시킬 수 있다. 이에 따라, 발광소자가 흡착되어 있는 적어도 두 개의 픽커(31)가 상기 수납위치(3a)에 위치될 때까지 상기 제2구동유닛(7)이 상기 본체(32)를 회전시키는 동안, 상기 테스트유닛(43)은 발광소자를 테스트할 수 있다.When the picker 31 is installed in the main body 32 according to the first embodiment described above, the first driving unit 6 sequentially stores the sockets 41 at the two storage positions 3a. The support member 42 may be rotated to be positioned as. That is, the first driving unit 6 may position the new sockets 41 at least two at the storage position 3a. Accordingly, the test unit while the second driving unit 7 rotates the main body 32 until at least two pickers 31 on which the light emitting element is adsorbed are positioned at the storage position 3a. Reference numeral 43 can test the light emitting element.

상술한 제2실시예에 따라 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치된 경우, 상기 제1구동유닛(6)은 상기 소켓(41)들이 2N개씩 상기 수납위치(3a)에 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재(42)를 회전시킬 수 있다. 즉, 상기 제1구동유닛(6)은 상기 수납위치(3a)에 2N개씩 새로운 소켓(41)들을 위치시킬 수 있다. 이에 따라, 발광소자가 흡착되어 있는 2N개의 픽커(31)가 상기 수납위치(3a)에 위치될 때까지 상기 제2구동유닛(7)이 상기 본체(32)를 회전시키는 동안, 상기 테스트유닛(43)은 발광소자를 테스트할 수 있다.When the picker 31 is installed in the main body 32 according to the second embodiment described above, the first driving unit 6 is sequentially positioned at the storage position 3a by 2N of the sockets 41. The support member 42 may be rotated to allow the support member 42 to rotate. That is, the first driving unit 6 may position the new sockets 41 by 2N at the storage position 3a. Accordingly, while the second driving unit 7 rotates the main body 32 until the 2N pickers 31 on which the light emitting elements are adsorbed are positioned at the storage position 3a, the test unit ( 43 may test the light emitting device.

상술한 제3실시예에 따라 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치된 경우, 상기 제1구동유닛(6)은 상기 소켓(41)들이 M개씩 상기 수납위치(3a)에 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재(42)를 회전시킬 수 있다. 즉, 상기 제1구동유닛(6)은 상기 수납위치(3a)에 M개씩 새로운 소켓(41)들을 위치시킬 수 있다. 이에 따라, 발광소자가 흡착되어 있는 M개의 픽커(31)가 상기 수납위치(3a)에 위치될 때까지 상기 제2구동유닛(7)이 상기 본체(32)를 회전시키는 동안, 상기 테스트유닛(43)은 발광소자를 테스트할 수 있다.When the picker 31 is installed in the main body 32 according to the above-described third embodiment, the first driving unit 6 sequentially positions the sockets 41 at the storage position 3a by M sockets. The support member 42 may be rotated to allow the support member 42 to rotate. That is, the first driving unit 6 may position the new sockets 41 by M in the storage position 3a. Accordingly, while the second driving unit 7 rotates the main body 32 until the M pickers 31 on which the light emitting elements are adsorbed are positioned at the storage position 3a, the test unit ( 43 may test the light emitting device.

따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트유닛(43) 이 정확한 테스트 결과를 얻을 수 있는 충분한 시간동안 발광소자를 테스트할 수 있도록 함으로써 테스트 신뢰도를 향상시킬 수 있고, 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 테스트하고 등급별로 분류할 수 있다.Therefore, the light emitting device test handler 1 according to the present invention can improve the test reliability by allowing the test unit 43 to test the light emitting device for a sufficient time to obtain an accurate test result, and in a short time More light emitting devices can be tested and sorted by grade.

상기 제1구동유닛(6)은 상기 수납위치(3a) 및 상기 테스트위치(4a)에 각각 적어도 하나의 소켓(41)이 위치되고 상기 분류위치(5a)에 적어도 두 개의 소켓(41)들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재(52)를 회전시킬 수 있다.In the first driving unit 6, at least one socket 41 is positioned at the storage position 3a and the test position 4a, respectively, and at least two sockets 41 are sequentially disposed at the sorting position 5a. The support member 52 may be rotated to be positioned as.

상기 제2구동유닛(7)은 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(4)로 이송할 수 있도록 상기 본체(32)를 이동시킨다. 상기 제2구동유닛(7)은 승하강유닛(미도시) 및 회전유닛(71)을 포함할 수 있다.The second driving unit 7 moves the main body 32 so that the picker 31 can transfer the light emitting element to be tested from the supply unit 2 to the test unit 4. The second driving unit 7 may include a lifting unit (not shown) and a rotation unit 71.

상기 승하강유닛은 상기 본체(32)에 설치되어 있는 픽커(31)들을 개별적으로 승하강시킬 수 있다. 상기 제2구동유닛(7)은 상기 픽커(31)들에 각각 설치되는 복수개의 승하강유닛을 포함할 수 있다. 상기 승하강유닛은 유압실린더 또는 공압실린더를 포함할 수 있다.The elevating unit may individually elevate the pickers 31 installed in the main body 32. The second driving unit 7 may include a plurality of lifting units respectively installed on the pickers 31. The lifting unit may include a hydraulic cylinder or a pneumatic cylinder.

상기 승하강유닛들은, 상기 픽업위치(2a)에 위치된 픽커(31)가 상기 안착부(23)에서 테스트될 발광소자를 흡착하고, 상기 수납위치(3a)에 위치된 픽커(31)가 상기 소켓(41)에 테스트될 발광소자를 수납시킬 수 있도록, 상기 픽커(31)들을 개별적으로 승하강시킬 수 있다.The raising and lowering units, the picker 31 located in the pick-up position (2a) sucks the light emitting element to be tested in the seating portion 23, the picker 31 located in the storage position (3a) is The pickers 31 can be raised and lowered individually to accommodate the light emitting element to be tested in the socket 41.

상기 회전유닛(71)은 상기 픽업위치(2a) 및 상기 수납위치(3a)에 상기 픽커(31)들이 순차적으로 위치되도록 상기 본체(32)를 회전시킨다. 상기 회전유닛(71)은 본체(32)를 회전축(32a)을 중심으로 회전시킬 수 있다. The rotating unit 71 rotates the main body 32 so that the pickers 31 are sequentially positioned at the pick-up position 2a and the storage position 3a. The rotating unit 71 may rotate the main body 32 about the rotating shaft 32a.

상기 회전유닛(71)이 상기 본체(32)를 회전축(32a)을 중심으로 회전시킴으로써, 상기 픽커(31)들은 상기 픽업위치(2a) 및 상기 수납위치(3a)에 순차적으로 위치되면서 순환될 수 있다.As the rotation unit 71 rotates the main body 32 about the rotation shaft 32a, the pickers 31 may be circulated while being sequentially positioned at the pickup position 2a and the storage position 3a. have.

본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치되는 실시예에 따라 다음과 같은 회전유닛(71)을 포함할 수 있다.The light emitting device test handler 1 according to the present invention may include the following rotation unit 71 according to the embodiment in which the picker 31 is installed in the main body 32.

상술한 제1실시예에 따라 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치된 경우, 상기 회전유닛(71)은 상기 픽커(31)들이 하나씩 상기 픽업위치(2a)에 순차적으로 위치되도록 상기 본체(32)를 회전시킬 수 있다. 즉, 상기 회전유닛(71)은 상기 픽업위치(2a)에 하나씩 새로운 픽커(31)를 위치시키고, 발광소자를 픽업한 픽커(31)를 하나씩 상기 수납위치(3a)로 이동시킬 수 있다. 이에 따라, 발광소자가 흡착되어 있는 적어도 두 개의 픽커(31)가 상기 수납위치(3a)에 위치될 때까지 상기 회전유닛(71)이 상기 본체(32)를 회전시키는 동안, 상기 테스트유닛(43)은 발광소자를 테스트할 수 있다.When the picker 31 is installed in the main body 32 according to the first embodiment described above, the rotating unit 71 is configured such that the pickers 31 are sequentially positioned at the pick-up positions 2a one by one. (32) can be rotated. That is, the rotation unit 71 may position the new pickers 31 one by one at the pick-up position 2a, and move the pickers 31, which pick up the light emitting elements, one by one to the storage position 3a. Accordingly, the test unit 43 while the rotation unit 71 rotates the main body 32 until at least two pickers 31 on which the light emitting element is adsorbed are positioned at the storage position 3a. ) Can test the light emitting device.

상술한 제2실시예에 따라 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치된 경우, 상기 회전유닛(71)은 상기 픽커(31)들이 N개씩 상기 픽업위치(2a)에 순차적으로 위치되도록 상기 본체(32)를 회전시킬 수 있다. 즉, 상기 회전유닛(71)은 상기 픽업위치(2a)에 N개씩 새로운 픽커(31)들을 위치시키고, 발광소자를 픽업한 픽커(31)들을 N개씩 상기 수납위치(3a)로 이동시킬 수 있다. 이에 따라, 발광소자가 흡착되어 있는 2N개의 픽커(31)가 상기 수납위치(3a)에 위치될 때까지 상기 회전유닛(71)이 상기 본체(32)를 회전시키는 동안, 상기 테스트유닛(43)은 발광소자를 테스트할 수 있다.When the picker 31 is installed in the main body 32 according to the above-described second embodiment, the rotation unit 71 is configured such that the pickers 31 are sequentially positioned at the pick-up position 2a by N pieces. The main body 32 can be rotated. That is, the rotation unit 71 may position the new pickers 31 by N at the pick-up position 2a and move the pickers 31 picked up by the light-emitting element to the storage position 3a by N units. . Accordingly, the test unit 43 while the rotation unit 71 rotates the main body 32 until the 2N pickers 31 on which the light emitting elements are adsorbed are positioned at the storage position 3a. Silver can test the light emitting device.

상술한 제3실시예에 따라 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치된 경우, 상기 회전유닛(71)은 상기 픽커(31)들이 N개씩 상기 픽업위치(2a)에 순차적으로 위치되도록 상기 본체(32)를 회전시킬 수 있다. 즉, 상기 회전유닛(71)은 상기 픽업위치(2a)에 N개씩 새로운 픽커(31)들을 위치시키고, 발광소자를 픽업한 픽커(31)들을 N개씩 상기 수납위치(3a)로 이동시킬 수 있다. 이에 따라, 발광소자가 흡착되어 있는 M개의 픽커(31)가 상기 수납위치(3a)에 위치될 때까지 상기 회전유닛(71)이 상기 본체(32)를 회전시키는 동안, 상기 테스트유닛(43)은 발광소자를 테스트할 수 있다.When the picker 31 is installed in the main body 32 according to the above-described third embodiment, the rotating unit 71 is arranged such that the pickers 31 are sequentially positioned at the pick-up position 2a by N pieces. The main body 32 can be rotated. That is, the rotation unit 71 may position the new pickers 31 by N at the pick-up position 2a and move the pickers 31 picked up by the light-emitting element to the storage position 3a by N units. . Accordingly, the test unit 43 while the rotation unit 71 rotates the main body 32 until the M pickers 31 on which the light emitting elements are adsorbed are positioned at the storage position 3a. Silver can test the light emitting device.

따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트유닛(43)이 정확한 테스트 결과를 얻을 수 있는 충분한 시간동안 발광소자를 테스트할 수 있도록 함으로써 테스트 신뢰도를 향상시킬 수 있고, 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 테스트하고 등급별로 분류할 수 있다.Therefore, the light emitting device test handler 1 according to the present invention can improve the test reliability by allowing the test unit 43 to test the light emitting device for a sufficient time to obtain an accurate test result, and in a short time More light emitting devices can be tested and sorted by grade.

도 2 내지 도 10을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 보정부(8)를 더 포함할 수 있다.2 to 10, the light emitting device test handler 1 according to the present invention may further include a correction unit 8.

상기 보정부(8)는 테스트될 발광소자가 상기 테스트부(4)에서 테스트될 수 있는 상태로 상기 테스트부(4)에 수납되도록 테스트될 발광소자의 상태를 보정한다.The correction unit 8 corrects the state of the light emitting element to be tested so that the light emitting element to be tested is accommodated in the test unit 4 in a state that can be tested by the test unit 4.

테스트될 발광소자가 상기 테스트부(4)에서 극성에 맞게 접속되어야만 테스트가 이루어질 수 있는 경우, 상기 공급부(2)가 테스트될 발광소자를 극성에 맞는 상태로 공급하려면 테스트될 발광소자가 공급되는 시간이 증가하게 된다.When the test can be performed only when the light emitting device to be tested is connected to the test unit 4 according to the polarity, the time when the light emitting device to be tested is supplied to supply the light emitting device to be tested in the polarity state Will increase.

따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는, 상기 공급부(2)가 테스트될 발광소자를 극성에 맞는 상태로 공급하는지 여부에 관계없이, 상기 보정부(8)가 테스트될 발광소자를 극성에 맞는 상태로 보정할 수 있으므로, 테스트될 발광소자가 공급되는 시간을 줄일 수 있다.Accordingly, the light emitting device test handler 1 according to the present invention may be configured to select the light emitting device to be tested by the correction unit 8 regardless of whether the supply unit 2 supplies the light emitting device to be tested in a state of polarity. Since the state can be corrected to match the polarity, the time for supplying the light emitting device to be tested can be reduced.

극성에 관계없이, 테스트될 발광소자가 상기 테스트부(4)에서 테스트될 수 있는 상태로 상기 픽커(31)에 흡착되어 있지 않은 경우에도, 상기 보정부(8)는 테스트될 발광소자를 상기 테스트부(4)에서 테스트될 수 있는 상태로 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다. 예컨대, 테스트될 발광소자가 상기 픽커(31)의 정위치에 흡착되지 못한 경우 또는 테스트될 발광소자가 상기 픽커(31)에 흡착된 상태에서 회전된 경우 등에, 상기 보정부(8)는 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다.Regardless of the polarity, even when the light emitting element to be tested is not adsorbed to the picker 31 in a state capable of being tested by the test unit 4, the correction unit 8 performs the test of the light emitting element to be tested. The state of the light emitting device to be tested can be corrected in a state that can be tested in the unit 4. For example, when the light emitting element to be tested is not adsorbed at the correct position of the picker 31 or when the light emitting element to be tested is rotated while being adsorbed to the picker 31, the correction unit 8 may be tested. The state of the light emitting device can be corrected.

따라서, 테스트될 발광소자가 상기 테스트부(4)에서 테스트될 수 있는 상태로 상기 테스트부(4)에 정확하게 수납될 수 있으므로, 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킬 수 있다.Therefore, since the light emitting device to be tested can be accurately stored in the test unit 4 in a state that can be tested by the test unit 4, the test reliability of the light emitting device can be improved.

상기 보정부(8)는 상기 픽업위치(2a) 및 상기 수납위치(3a) 사이에 위치하는 보정위치(8a)에 설치될 수 있다. 상기 보정부(8)는 상기 본체(32)가 회전됨에 따라 상기 픽커(31)들이 이동되는 경로의 아래에 설치될 수 있다. 이 경우, 상기 픽커(31)들은 상기 픽업위치(2a), 상기 보정위치(8a) 및 상기 수납위치(3a)에 동시에 위치되도록 상기 본체(32)에 설치될 수 있다.The correction unit 8 may be installed at a correction position 8a located between the pick-up position 2a and the storage position 3a. The correction unit 8 may be installed under a path along which the pickers 31 move as the main body 32 is rotated. In this case, the pickers 31 may be installed in the main body 32 so as to be simultaneously located at the pickup position 2a, the correction position 8a, and the storage position 3a.

상기 보정부(8)는 상기 픽업위치(2a)에 위치된 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 흡착하는 동안, 상기 보정위치(8a)에 위치한 픽커(31)에 흡착된 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다.The correction unit 8 is configured to detect the light emitting element to be tested adsorbed to the picker 31 positioned at the correction position 8a while the picker 31 positioned at the pick-up position 2a adsorbs the light emitting element to be tested. The state can be corrected.

따라서, 테스트될 발광소자의 상태를 보정하기 위해 추가 작업시간이 요구되지 않으므로, 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킴과 동시에 테스트될 발광소자를 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(4)로 이송하는 시간을 줄일 수 있다.Therefore, no additional work time is required to correct the state of the light emitting device to be tested, thereby improving the test reliability of the light emitting device and simultaneously transferring the light emitting device to be tested from the supply unit 2 to the test unit 4. It can reduce the time to do it.

상기 보정부(8)는 보정유닛(81) 및 감지유닛(82)을 포함할 수 있다.The correction unit 8 may include a correction unit 81 and a detection unit 82.

상기 보정유닛(81)에는 테스트될 발광소자가 수납된다. 상기 보정유닛(81)은 테스트될 발광소자의 상태가 보정되도록 이에 테스트될 발광소자가 수납된 상태에서 회전될 수 있다.The correction unit 81 houses a light emitting device to be tested. The correction unit 81 may be rotated in a state where the light emitting element to be tested is stored so that the state of the light emitting element to be tested is corrected.

따라서, 상기 보정유닛(81)은 테스트될 발광소자가 상기 테스트부(4)에서 극성에 맞게 접속될 수 있도록 테스트될 발광소자를 회전시켜 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다. 또한, 상기 보정유닛(81)은 테스트될 발광소자가 상기 픽커(31)에 흡착된 상태에서 회전된 경우 테스트될 발광소자를 회전시켜 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다.Therefore, the correction unit 81 may correct the state of the light emitting device to be tested by rotating the light emitting device to be tested so that the light emitting device to be tested can be connected to the polarity in the test unit 4. In addition, the correction unit 81 may correct the state of the light emitting device to be tested by rotating the light emitting device to be tested when the light emitting device to be tested is rotated while being adsorbed by the picker 31.

상기 보정유닛(81)은 모터(미도시), 모터에 의해 회전되는 구동풀리(811), 상기 보정유닛(81)에 결합된 종동풀리(812), 및 상기 구동풀리(811)와 상기 종동풀리(812)를 연결하는 벨트(813)에 의해 회전될 수 있다. 상기 모터가 상기 구동풀리(811)를 회전시키면, 상기 벨트(813)가 이동되어 상기 종동풀리(812)를 회전시킴으로써, 상기 보정유닛(81)을 회전시킬 수 있다.The correction unit 81 includes a motor (not shown), a drive pulley 811 rotated by a motor, a driven pulley 812 coupled to the correction unit 81, and the drive pulley 811 and the driven pulley. It can be rotated by a belt 813 connecting 812. When the motor rotates the drive pulley 811, the belt 813 is moved to rotate the driven pulley 812, thereby rotating the correction unit 81.

상기 감지유닛(82)은 상기 보정유닛(81) 및 상기 픽업위치(2a) 사이에 설치되고, 상기 픽커(31)에 흡착된 테스트될 발광소자의 상태를 감지한다. 상기 보정유닛(81)은 상기 감지유닛(82)이 획득한 정보를 이용하여 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다. 상기 감지유닛(82)은 상기 픽커(31)에 흡착된 테스트될 발광소자의 상태를 촬영하는 비전카메라를 포함할 수 있다.The detection unit 82 is installed between the correction unit 81 and the pickup position (2a), and detects the state of the light emitting device to be tested adsorbed to the picker 31. The correction unit 81 may correct the state of the light emitting device to be tested by using the information obtained by the detection unit 82. The detection unit 82 may include a vision camera for capturing the state of the light emitting device to be tested adsorbed to the picker 31.

상기 감지유닛(82)은 상기 본체(32)가 회전됨에 따라 상기 픽커(31)들이 이동되는 경로의 아래에 설치될 수 있다. 이 경우, 상기 픽커(31)들은 각각 상기 픽업위치(2a), 상기 감지유닛(82)의 위, 상기 보정유닛(81)의 위, 및 상기 수납위치(3a)에 동시에 위치되도록 상기 본체(32)에 설치될 수 있다.The sensing unit 82 may be installed under a path along which the pickers 31 are moved as the main body 32 is rotated. In this case, the pickers 31 are respectively located at the pickup position 2a, above the sensing unit 82, above the correction unit 81, and at the receiving position 3a at the same time. ) Can be installed.

이에 따라, 상기 픽업위치(2a)에 위치된 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 흡착하고, 상기 수납위치(3a)에 위치된 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 상기 테스트부(4)에 수납시키며, 상기 보정유닛(81)이 그 위에 위치된 픽커(31)에 흡착되어 있는 테스트될 발광소자의 상태가 보정되도록 하는 동안, 상기 감지유닛(82)은 그 위에 위치된 픽커(31)에 흡착되어 있는 테스트될 발광소자의 상태를 감지할 수 있다.Accordingly, the picker 31 positioned at the pick-up position 2a sucks the light emitting element to be tested, and the test unit 4 selects the light emitting element to be tested at the picker 31 positioned at the storage position 3a. And the sensing unit 82 is placed thereon while the correction unit 81 allows the state of the light emitting element to be tested to be adsorbed to the picker 31 positioned thereon to be corrected. The state of the light emitting device to be tested which is adsorbed to the can be detected.

따라서, 테스트될 발광소자의 상태를 감지하기 위해 추가 작업시간이 요구되지 않으므로, 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킴과 동시에 테스트될 발광소자를 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(4)로 이송하는 시간을 줄일 수 있다.Therefore, no additional work time is required to detect the state of the light emitting device to be tested, thereby improving the test reliability of the light emitting device and simultaneously transferring the light emitting device to be tested from the supply unit 2 to the test unit 4. You can reduce the time to do.

여기서, 상기 픽커부(3)는 상기 픽업위치(2a), 상기 감지유닛(82)의 위, 상기 보정유닛(81)의 위, 및 상기 수납위치(3a)에 각각 위치되는 픽커(31)들 외에 더 많은 개수의 픽커(31)를 포함할 수 있다.Here, the picker unit 3 may include pickers 31 positioned at the pick-up position 2a, on the sensing unit 82, on the correction unit 81, and at the storage position 3a, respectively. In addition, a larger number of pickers 31 may be included.

이에 따라, 상기 회전유닛(71)이 상기 본체(32)를 회전축(32a)을 중심으로 회전시키는 각도를 줄일 수 있고, 상기 픽커(31)들을 다음 위치로 이동시키는데 걸리는 시간을 줄임으로써, 짧은 시간에 더 많은 테스트될 발광소자들이 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(4)로 이송되도록 할 수 있다.Accordingly, the rotation unit 71 can reduce the angle of rotating the main body 32 about the rotation axis 32a, and by reducing the time taken to move the pickers 31 to the next position, a short time More light emitting elements to be tested may be transferred from the supply part 2 to the test part 4.

이하에서는 본 발명에 따른 발광소자 분류방법의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a preferred embodiment of a light emitting device classification method according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 11은 본 발명에 따른 발광소자 분류방법의 순서도이다.11 is a flow chart of a light emitting device classification method according to the present invention.

도 2 내지 도 11을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 분류방법은 다음과 같은 구성을 포함한다.2 to 11, the light emitting device classification method according to the present invention includes the following configuration.

우선, 테스트될 발광소자를 공급한다(S1).First, the light emitting device to be tested is supplied (S1).

이러한 단계는, 상기 공급부(2)가 테스트될 발광소자를 픽업위치(2a)로 이송함으로써 이루어질 수 있다. 테스트될 발광소자는 상기 저장부(21)에서 상기 운반부(22)를 거쳐 상기 안착부(23)로 이송될 수 있고, 이에 따라 테스트될 발광소자는 픽업위치(2a)에 위치될 수 있다.This step can be achieved by transferring the light emitting element to be tested by the supply section 2 to the pickup position 2a. The light emitting device to be tested may be transferred from the storage part 21 to the seating part 23 via the carrying part 22, and thus the light emitting device to be tested may be located at the pickup position 2a.

다음, 상기 공급된 테스트될 발광소자를 지지부재(42)에 설치되는 소켓(41)들 중에서 수납위치(3a)에 위치하는 적어도 하나의 소켓(41)으로 이송한다(S2).Next, the supplied light emitting device to be tested is transferred to at least one socket 41 located at the receiving position 3a among the sockets 41 installed in the support member 42 (S2).

이러한 단계는, 상기 픽업위치(2a)에서 테스트된 발광소자를 픽업한 픽커(31)가 상기 회전유닛(71)에 의해 상기 수납위치(3a)로 이동된 후에 상기 수납위치(3a)에 위치하는 적어도 하나의 소켓(41)에 수납시킴으로써 이루어질 수 있다. 상기 수납위치(3a)에는 복수개의 픽커(31) 및 복수개의 소켓(41)이 위치할 수 있 고, 이에 따라 상기 픽커(31)들이 상기 소켓(41)들 각각에 발광소자들을 수납시킬 수 있다.In this step, the picker 31 picking up the light-emitting element tested at the pickup position 2a is moved to the storage position 3a by the rotation unit 71, and then located at the storage position 3a. It may be made by accommodating at least one socket 41. A plurality of pickers 31 and a plurality of sockets 41 may be located at the storage position 3a, and thus the pickers 31 may accommodate light emitting elements in each of the sockets 41. .

다음, 상기 지지부재(42)에 설치되는 소켓(41)들 중에서 테스트위치(4a)에 위치하는 적어도 하나의 소켓(41)에 수납되어 있는 발광소자를 테스트한다(S3).Next, among the sockets 41 installed on the support member 42, the light emitting device accommodated in at least one socket 41 positioned at the test position 4a is tested (S3).

이러한 단계는, 상기 테스트유닛(43)이 상기 테스트위치(4a)에 위치하는 소켓(41)에 수납되어 있는 발광소자를 테스트함으로써 이루어질 수 있다. 상기 테스트부(4)에 복수개의 테스트유닛(41)이 설치되는 경우, 상기 테스트유닛(43)들은 상기 테스트위치(4a)에 위치하는 복수개의 소켓(41)들에 각각 수납되어 있는 발광소자들을 테스트할 수 있다. 상기 테스트유닛(43)들은 발광소자의 테스트 결과 정보를 테스터(미도시)로 송신할 수 있다.This step may be performed by testing the light emitting device in which the test unit 43 is accommodated in the socket 41 located at the test position 4a. When a plurality of test units 41 are installed in the test unit 4, the test units 43 may include light emitting devices respectively accommodated in the plurality of sockets 41 positioned at the test position 4a. You can test it. The test units 43 may transmit test result information of the light emitting device to a tester (not shown).

다음, 상기 지지부재(42)에 설치되는 소켓(41)들 중에서 분류위치(5a)에 위치하는 적어도 두 개의 소켓(41)에 수납되어 있는 테스트된 발광소자들의 테스트 결과에 따른 등급을 확인한다(S4).Next, among the sockets 41 installed on the support member 42, the grade according to the test result of the tested light emitting devices accommodated in at least two sockets 41 positioned at the sorting position 5a is checked. S4).

이러한 단계는, 테스터가 상기 테스트유닛(43)으로부터 수신된 테스트 결과 정보를 분석하여 발광소자가 갖춘 성능에 해당하는 등급을 부여하면, 상기 소팅부(5)가 해당 등급 정보를 테스터로부터 수신함으로써 이루어질 수 있다. 해당 등급정보는 적어도 두 개의 테스트된 발광소자 각각에 대한 등급 정보로, 상기 적어도 두 개의 테스트된 발광소자는 상기 분류위치(5a)에 위치하는 적어도 두 개의 소켓(41)에 각각 수납되어 있는 것이다.This step is performed by the tester analyzing the test result information received from the test unit 43 and assigning a grade corresponding to the performance of the light emitting device, and the sorting unit 5 receives the corresponding grade information from the tester. Can be. The corresponding grade information is grade information for each of at least two tested light emitting elements, and the at least two tested light emitting elements are each housed in at least two sockets 41 located at the classification position 5a.

다음, 전체 등급을 복수개의 등급범위로 나누어 해당 등급범위에 속하는 테 스트된 발광소자를 이송하는 복수개의 이송유닛(531)에서, 상기 이송유닛(531)들 각각에 위치한 테스트된 발광소자들의 등급이 해당 등급범위에 속하는지를 판단한다(S5).Next, in the plurality of transfer units 531 for dividing the entire grade into a plurality of grade ranges and transferring the tested light emitting elements belonging to the corresponding grade ranges, the grades of the tested light emitting elements positioned in each of the transfer units 531 are It is determined whether it belongs to the corresponding grade range (S5).

이러한 단계는, 상기 확인 단계(S4)를 거쳐 확인된 테스트된 발광소자들 각각의 등급 정보와 상기 이송유닛(531)들 각각이 이송하는 테스트된 발광소자의 등급범위를 비교하여, 상기 이송유닛(531)들 각각이 분담하여 이송하는 등급범위에 각 테스트된 발광소자의 등급이 속하는지를 판단함으로써 이루어질 수 있다.This step may be performed by comparing the grade information of each of the tested light emitting elements identified through the checking step (S4) with the grade range of the tested light emitting device to which each of the transfer units 531 is transferred. 531 may be performed by determining whether the class of each tested light emitting device belongs to a class range in which each of them is shared.

예컨대, 발광소자들을 그 성능에 따라 전체 256개의 등급으로 분류하고 2개의 등급범위로 구분하는 경우, 등급범위들은 제1등급부터 128등급까지의 제1등급범위, 제129등급부터 256등급까지의 제2등급범위로 구분될 수 있고, 상기 이송유닛(531)들 각각이 제1등급범위 및 제2등급범위에 속하는 발광소자들을 상기 분류유닛(52)으로 이송할 수 있다. 이러한 경우, 상기 판단 단계(S5)은 상기 이송유닛(531)들 각각에 제1등급범위 및 제2등급범위에 속하는 발광소자들이 위치하였는지를 판단함으로써 이루어질 수 있다.For example, when the light emitting devices are classified into 256 grades according to their performance and divided into two grade ranges, the grade ranges are the first grade range from the first grade to the 128th grade and the grades from the 129th grade to the 256th grade. The light emitting devices belonging to the first class range and the second class range may be transferred to the classifying unit 52, respectively. In this case, the determining step S5 may be performed by determining whether the light emitting devices belonging to the first grade range and the second grade range are located in each of the transfer units 531.

다음, 테스트된 발광소자의 등급이 해당 등급범위에 속하면, 해당 등급범위에 속하는 테스트된 발광소자를 상기 분류유닛(52)으로 이송하고 테스트 결과에 따라 등급별로 분류한다(S6).Next, when the grade of the tested light emitting device belongs to the corresponding grade range, the tested light emitting element belonging to the corresponding grade range is transferred to the classification unit 52 and classified according to the grade according to the test result (S6).

이러한 단계는, 상기 판단 단계(S5)를 거쳐 상기 이송유닛(531)들 중에서 해당 등급범위에 속하는 테스트된 발광소자가 위치된 것으로 판단된 이송유닛(531)들이 상기 분류유닛(52)으로 테스트된 발광소자를 이송함으로써 이루어질 수 있다. 상기 분류유닛(52)으로 이송된 발광소자는 상기 이동부재(522)에 의해 상기 수납유닛(51)에 등급별로 수납될 수 있다.In this step, the transfer unit 531 determined that the test light emitting device belonging to the corresponding grade range among the transfer unit 531 is located by the classification unit 52 through the determination step (S5) It can be made by transferring the light emitting element. The light emitting device transferred to the sorting unit 52 may be stored in the accommodating unit 51 by the moving member 522 according to the grade.

이 경우, 상기 이송유닛(531)들로부터 테스트된 발광소자가 이송되기 전에, 상기 이동부재(522)는 해당 등급범위에 속하는 수납부재(511)들에 연결된 관통공(512a) 위 근방으로 미리 이동하여 대기할 수 있다. 따라서, 상기 이동부재(522)가 등급범위들 중 어느 하나의 등급범위에 속하는 발광소자를 그 등급에 해당하는 관통공(512a)으로 전달되도록 한 후에, 등급범위들 중 다른 하나의 등급범위에 속하는 발광소자를 그 등급에 해당하는 관통공(512a)으로 전달되도록 하기 위해 이동되는 거리와 이동하는데 걸리는 시간을 줄일 수 있다. In this case, before the light emitting device tested from the transfer units 531 is transferred, the movable member 522 is moved in advance near the through hole 512a connected to the receiving members 511 belonging to the corresponding grade range. You can wait. Therefore, after the movable member 522 is to transmit the light emitting element belonging to any one of the class ranges to the through hole 512a corresponding to the class, it belongs to the other one of the class ranges The distance traveled and the time taken to move the light emitting device to the through hole 512a corresponding to the class can be reduced.

다음, 테스트된 발광소자의 등급이 다른 등급범위에 속하면, 다른 등급범위에 속하는 테스트된 발광소자가 다른 이송유닛(531)에 위치되도록 상기 지지부재(42)를 회전시킨 후에 상기 판단 단계(S5)를 수행한다(S7).Next, when the grade of the tested light emitting device belongs to a different class range, the determination step (S5) after rotating the support member 42 so that the tested light emitting device belonging to the different class range is located in another transfer unit 531. (S7).

이러한 단계는, 상기 제1구동유닛(6)이 상기 지지부재(42)를 회전시켜서, 상기 판단 단계(S5)를 거쳐 상기 이송유닛(531)들 중에서 해당 등급범위에 속하지 않는 것으로 판단된 테스트된 발광소자가 다른 이송유닛(531)에 위치되면, 상기 지지부재(42)의 회전을 정지키고 상기 판단 단계(S5)를 다시 수행함으로써 이루어질 수 있다. In this step, the first drive unit 6 is rotated the support member 42, the tested step (S5) is determined to be out of the corresponding grade range of the transfer unit 531 through the tested step (S5) When the light emitting device is located in the other transfer unit 531, it may be achieved by stopping the rotation of the support member 42 and performing the determination step S5 again.

상기 단계들(S5, S6, S7)은 상기 분류위치(5a)에 위치된 모든 테스트된 발광소자가 분류유닛(52)으로 이송될 때까지 반복 수행될 수 있다.The steps S5, S6 and S7 may be repeated until all the tested light emitting elements located at the sorting position 5a are transferred to the sorting unit 52.

본 발명에 따른 발광소자 분류방법은 상술한 바와 같은 단계(S1 내지 S7)들 을 반복적으로 수행함으로써, 발광소자들을 테스트 결과에 따라 등급별로 분류할 수 있다.In the method of classifying light emitting devices according to the present invention, the light emitting devices may be classified by grades according to test results by repeatedly performing the steps S1 to S7 as described above.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiments and the accompanying drawings, and various substitutions, modifications, and alterations are possible within the scope without departing from the technical spirit of the present invention. It will be apparent to those who have knowledge.

도 1은 일반적인 발광소자 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 블럭도1 is a block diagram showing the configuration of a general light emitting device test handler

도 2는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러를 개략적으로 나타낸 사시도Figure 2 is a perspective view schematically showing a light emitting device test handler according to the present invention

도 3은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 공급부, 픽커부, 및 테스트부를 나타낸 사시도3 is a perspective view showing a supply unit, a picker unit, and a test unit in a light emitting device test handler according to the present invention;

도 4는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 픽업위치, 수납위치, 테스트위치, 및 분류위치를 개념적으로 나타낸 평면도4 is a plan view conceptually showing a pickup position, a storage position, a test position, and a classification position in a light emitting device test handler according to the present invention;

도 5는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 테스트부를 나타낸 사시도5 is a perspective view showing a test unit in a light emitting device test handler according to the present invention;

도 6은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 접속유닛을 나타낸 사시도6 is a perspective view showing a connection unit in a light emitting device test handler according to the present invention;

도 7은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 분류유닛 및 수납유닛을 나타낸 사시도7 is a perspective view showing a classification unit and a storage unit in a light emitting device test handler according to the present invention;

도 8은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 분류유닛을 나타낸 사시도8 is a perspective view showing a classification unit in a light emitting device test handler according to the present invention;

도 9는 본 발명에 따른 보정부를 나타낸 사시도9 is a perspective view showing a correction unit according to the present invention

도 10은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 픽업위치, 수납위치, 테스트위치, 분류위치, 및 보정위치를 개념적으로 나타낸 평면도10 is a plan view conceptually showing a pickup position, a storage position, a test position, a classification position, and a correction position in the light emitting device test handler according to the present invention;

도 11은 본 발명에 따른 발광소자 분류방법의 순서도11 is a flow chart of a light emitting device classification method according to the present invention;

Claims

A supply unit for supplying a light emitting device to be tested;

A test unit including a support member having a plurality of sockets for storing the light emitting elements, and a test unit for testing the light emitting elements stored in the socket located at the test position;

A picker unit installed between the supply unit and the test unit and transferring the light emitting element to be tested from the supply unit to a socket located at a storage position;

An accommodating unit including a plurality of accommodating members accommodating the tested light emitting devices by grade, a transfer unit installed in the test unit at a classification position located between the accommodation position and the test position, and the tested light emission transferred from the transfer unit. A sorting unit including a sorting unit configured to transfer the light emitting device, which is tested to be stored in the storage member corresponding to the class, to the storage unit; And

A first driving unit coupled to the support member and rotating the support member;

The transfer unit includes a first transfer unit which transfers the tested light emitting element belonging to the first class range among all classes for classifying the tested light emitting elements to the classification unit, and a second class range which is different from the first class range. And a second transfer unit configured to transfer the tested light emitting device to the sorting unit.

The method of claim 1,

The transfer unit includes a plurality of first transfer units and a plurality of second transfer units,

And the first transfer units and the second transfer units are installed in the test unit such that the second transfer unit is positioned next to the first transfer unit.

The method of claim 1,

The sorting unit may include a plurality of storage units, a plurality of sorting units for delivering the tested light emitting devices to each of the storage units, and a plurality of transfer parts for transporting the tested light emitting devices to each of the sorting units. Light emitting device test handler.

The method of claim 3,

The transfer unit is a light emitting device test handler, characterized in that installed in the test unit so that the second transfer unit is located next to the first transfer unit.

A supply unit for supplying a light emitting device to be tested;

A test unit including a support member provided with a plurality of sockets for storing the light emitting elements, and a test unit for testing the light emitting elements stored in the socket located at the test position;

An accommodating unit including a plurality of accommodating members accommodating the tested light emitting devices according to a test result, a conveying unit installed in the test unit at a sorting position located between the accommodating position and the test position, and conveying from the conveying unit. A sorting unit including a sorting unit configured to transfer the tested light emitting device to the storage unit so that the tested light emitting device is accommodated in the storage member corresponding to the class; And

The transfer unit includes a plurality of transfer units for dividing the entire grade to classify the tested light emitting elements into a plurality of grade ranges and transferring the tested light emitting elements belonging to the corresponding grade ranges to the classification unit. Handler.

The method of claim 5,

And the transfer unit is installed in the test unit such that transfer units for transferring the tested light emitting elements belonging to different grade ranges to the sorting unit are located next to each of the transfer units.

The method of claim 5,

The sorting unit includes a plurality of storage units, a plurality of sorting units for delivering the tested light emitting devices to each of the storage units, and a plurality of transfer units for transporting the tested light emitting devices to each of the sorting units,

The transfer unit is a light emitting device test handler, characterized in that installed in the test unit so that the transfer unit for transferring the tested light emitting device belonging to a different grade range next to each of the transfer units.

6. The method according to claim 1 or 5,

The support member is provided with the sockets such that at least one socket is positioned at the storage position and the test position, and at least two sockets are positioned at the sorting position.

And the first driving unit rotates the support member so that the sockets are sequentially positioned at the storage position, the test position, and the sorting position.

6. The method according to claim 1 or 5,

The picker portion includes a picker capable of absorbing a light emitting element, and a main body in which a plurality of the pickers are installed such that at least one picker is positioned above the supply portion and at least one picker is positioned at the storage position;

And a second driving unit having a rotating unit for rotating the main body so that the pickers are sequentially positioned on the supply unit and the storing position, and a lifting unit for lifting and lowering the pickers individually. Handler.

6. The method according to claim 1 or 5,

The supply unit includes a storage unit in which a plurality of light emitting elements to be tested are stored, a seating unit in which the picker unit can pick up the light emitting elements to be tested, and a seating unit in which the light emitting elements to be tested are seated, and between the storage unit and the seating unit. A carrying portion for transferring the light emitting element to be installed and tested from the storage portion to the seating portion;

The light emitting device test handler is installed in the seating unit, and further comprises a sensing unit for detecting whether the light emitting device to be tested is located in the seating unit.

6. The method according to claim 1 or 5,

When the picker section defines a position at which the light emitting element to be tested at the supply section is picked up as a pickup position, it is installed at a correction position located between the pickup position and the storage position, and the light emitting element to be tested is tested by the test unit. And a correction unit for correcting a state of the light emitting device to be tested to be seated in the socket.

Supplying a light emitting device to be tested;

Transferring the supplied light emitting device to be tested to at least one socket located at an accommodation position among sockets installed in a support member;

Testing a light emitting device accommodated in at least one socket positioned at a test position among sockets installed in the support member;

Checking a rating according to a test result of the tested light emitting devices accommodated in at least two sockets positioned at a sorting position among the sockets installed in the support member;

In the plurality of transfer units for dividing the entire grade to classify the tested light emitting elements into a plurality of grade ranges to transfer the tested light emitting elements belonging to the corresponding grade range to the classification unit, the tested light emitting elements located in each of the transfer units Determining whether the grade falls within the corresponding grade range;

If the grade of the tested light emitting device belongs to the corresponding grade range, transferring the tested light emitting element belonging to the corresponding grade range to the classification unit and classifying the grade according to the test result; And

If the grade of the tested light emitting device belongs to another class range, the light emitting device comprising the step of performing the determination step again after rotating the support member so that the tested light emitting device belonging to the other class range is located in the other transfer unit Classification method.