KR101305082B1 - Apparatus for containing and testing luminous element, and luminous element test handler having the same - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 발광소자 테스트 핸들러에 관한 것이다.The present invention relates to a light emitting device test handler for classifying light emitting devices into classes according to test results.
발광소자(Luminous element)는 전기를 빛으로 변환하는 반도체를 이용한 소자로, 엘이디(LED, Light-emitting Diode), 반도체 레이저(Semiconductor laser) 등을 말하며, 자동차 계기류의 표시소자, 광통신용광원 등 각종 전자기기의 표시용 램프, 숫자표시 장치나 계산기의 카드 판독기, 백라이트 등 각종 분야에서 널리 사용되고 있다. 이러한 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 장치가 발광소자 테스트 핸들러이다. 발광소자 테스트 핸들러에 관한 기술은 대한민국 등록특허 제10-0955698호(2010. 05. 03)에 개시되어 있다.A luminous element is a device using a semiconductor that converts electricity into light, and refers to an LED (Light-emitting Diode), a semiconductor laser (Semiconductor laser), etc. BACKGROUND ART It is widely used in various fields such as display lamps for electronic devices, card readers for digital display and calculators, and backlights. An apparatus for classifying such light emitting devices by grades according to test results is a light emitting device test handler. The light emitting device test handler is disclosed in Korean Patent No. 10-0955698 (2010. 05. 03).
도 1은 종래 기술에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 부분 사시도이다.1 is a partial perspective view of a light emitting device test handler according to the prior art.
도 1을 참고하면, 종래 기술에 따른 발광소자 테스트 핸들러(10)는 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부(11), 테스트될 발광소자가 테스트되는 테스트부(12), 테스트될 발광소자를 상기 공급부(11)에서 상기 테스트부(12)로 이송하는 픽커부(13), 및 테스트된 발광소자를 상기 테스트부(12)에서 분류부(미도시)로 이송하는 이송부(14)를 포함한다. 상기 분류부는 상기 이송부(14)로부터 이송되는 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하여 수납한다.Referring to FIG. 1, the light emitting
상기 테스트부(12)는 발광소자를 수납하기 위한 복수개의 수납부(121)를 포함한다. 상기 픽커부(13)가 상기 공급부(11)에서 테스트될 발광소자를 픽업하여 상기 수납부(121)에 수납시키면, 상기 테스트부(12)는 테스트될 발광소자가 테스트유닛(20)에 위치되도록 상기 수납부(121)들을 회전시킨다. 상기 테스트유닛(20)이 발광소자에 대한 테스트를 완료하면, 상기 테스트부(12)는 테스트된 발광소자가 상기 이송부(14)에 위치되도록 상기 수납부(121)들을 회전시킨다. 상기 수납부(121)는 발광소자가 수납되는 수납홈(122)을 포함한다. 발광소자가 상기 수납홈(122)에 수납되면, 상기 수납부(121)는 발광소자의 측벽들을 지지한다.The
이러한 종래 기술에 따른 발광소자 테스트 핸들러(10)는 다음과 같은 문제가 있다.The light emitting
첫째, 종래 기술에 따른 발광소자 테스트 핸들러(10)는 상기 수납부(121)가 발광소자의 측벽들만을 지지하므로, 상기 테스트부(12)가 상기 수납부(121)들을 회전시키는 과정, 발광소자가 테스트되는 과정 등에서 발생하는 진동, 흔들림 등에 의해 발광소자가 상기 수납부(121)로부터 쉽게 이탈되는 문제가 있다. 따라서, 종래 기술에 따른 발광소자 테스트 핸들러(10)는 발광소자에 대한 손실이 발생하는 문제가 있다.First, in the light emitting
둘째, 상술한 바와 같이 발광소자가 손실되는 것을 방지하기 위해 상기 테스트부(12)가 상기 수납부(121)들을 회전시키는 속도를 줄이는 방안이 있다. 그러나, 상기 테스트부(12)가 상기 수납부(121)들을 회전시키는 속도를 줄이면, 상기 수납부(121)들이 상기 픽커부(13), 상기 테스트유닛(20) 및 상기 이송부(14)로 이동하는데 걸리는 시간이 증가하게 된다. 이에 따라, 종래 기술에 따른 발광소자 테스트 핸들러(10)는 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는데 걸리는 시간이 증가하는 문제가 있다.Second, as described above, in order to prevent the light emitting device from being lost, there is a method of reducing the speed at which the
본 발명은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하고자 안출된 것으로, 진동, 흔들림 등으로 인해 발광소자가 손실되는 것을 방지할 수 있는 발광소자 수납장치, 발광소자 테스트장치, 및 이를 포함하는 발광소자 테스트 핸들러를 제공하기 위한 것이다.The present invention has been made to solve the above-described problems, a light emitting device receiving device, a light emitting device test device, and a light emitting device test handler including the same that can prevent the light emitting device is lost due to vibration, shaking, etc. It is to provide.
본 발명은 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는데 걸리는 시간을 줄일 수 있는 발광소자 수납장치, 발광소자 테스트장치, 및 이를 포함하는 발광소자 테스트 핸들러를 제공하기 위한 것이다.An object of the present invention is to provide a light emitting device accommodating device, a light emitting device test device, and a light emitting device test handler including the same, which can reduce the time taken to classify light emitting devices by grades according to test results.
상술한 바와 같은 과제를 해결하기 위해서, 본 발명은 하기와 같은 구성을 포함할 수 있다.In order to solve the above-described problems, the present invention can include the following configuration.
본 발명에 따른 발광소자 수납장치는 발광소자를 수납하기 위한 수납홈을 포함하고, 상기 수납홈에 수납된 발광소자를 지지하는 수납부재; 및 발광소자가 통과하기 위한 통과공을 포함하고, 상기 수납부재에 이동 가능하게 결합되는 커버부재를 포함할 수 있다. 상기 커버부재는 테스트장치에 설치된 캠부재에 지지되면 상기 통과공이 상기 수납홈의 위에 위치되는 해제위치로 이동하고, 상기 캠부재로부터 이격되면 상기 수납홈에 수납된 발광소자를 지지하는 지지위치로 이동할 수 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided a light emitting device accommodating device including an accommodating groove for accommodating a light emitting device, the accommodating member supporting a light emitting element accommodated in the accommodating groove; And a cover member through which the light emitting device passes, and a cover member movably coupled to the accommodation member. When the cover member is supported by the cam member installed in the test apparatus, the through hole moves to a release position positioned above the accommodating groove, and when the cover member is spaced apart from the cam member, the cover member moves to a support position supporting the light emitting element stored in the accommodating groove. Can be.
본 발명에 따른 발광소자 테스트장치는 발광소자를 수납하기 위한 수납부재; 상기 수납부재가 복수개 결합되는 회전부재; 상기 수납부재에 발광소자가 로딩되는 로딩위치, 상기 수납부재로부터 발광소자가 언로딩되는 언로딩위치, 및 발광소자가 테스트되는 테스트위치에 상기 수납부재들이 순차적으로 위치되도록 상기 회전부재를 회전시키는 구동유닛; 상기 수납부재 각각에 이동 가능하게 결합되는 복수개의 커버부재; 및 상기 커버부재가 상기 수납부재에 수납된 발광소자를 지지하는 지지위치 및 상기 커버부재가 상기 수납부재에 수납된 발광소자에 대한 지지력을 해제시키는 해제위치 간에 상기 커버부재를 이동시키기 위한 이동유닛을 포함할 수 있다.The light emitting device test apparatus according to the present invention includes an accommodating member for accommodating the light emitting device; A rotating member having a plurality of receiving members coupled thereto; A drive for rotating the rotating member so that the housing members are sequentially positioned in a loading position where the light emitting element is loaded into the housing member, an unloading position where the light emitting element is unloaded from the housing member, and a test position where the light emitting element is tested. unit; A plurality of cover members movably coupled to each of the receiving members; And a moving unit for moving the cover member between a support position at which the cover member supports the light emitting element accommodated in the accommodating member and a release position at which the cover member releases the support force for the light emitting element accommodated in the accommodating member. It may include.
본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러는 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부; 상기 공급부로부터 이격되게 설치되고, 발광소자를 테스트하기 위한 테스트유닛이 설치되는 발광소자 테스트장치; 발광소자를 이송하기 위해 상기 공급부와 상기 테스트장치 사이에 위치되게 설치되는 픽커부; 및 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 분류부를 포함할 수 있다.The light emitting device test handler according to the present invention includes a supply unit for supplying a light emitting device to be tested; A light emitting device test apparatus installed spaced apart from the supply unit and provided with a test unit for testing a light emitting device; A picker unit installed to be positioned between the supply unit and the test apparatus to transfer the light emitting device; And a classification unit for classifying the tested light emitting devices by grades according to the test results.
본 발명에 따르면 다음과 같은 효과를 이룰 수 있다.According to the present invention, the following effects can be achieved.
본 발명은 발광소자가 이송되는 과정, 발광소자가 테스트되는 과정 등에서 발생하는 진동, 흔들림 등에 의해 발광소자에 대한 손실이 발생하는 것을 방지함으로써, 안정성을 향상시킬 수 있다.The present invention can improve the stability by preventing the loss of the light emitting device due to vibration, shaking, etc. generated in the process of transferring the light emitting device, the process of the light emitting device is tested.
본 발명은 발광소자를 이동시키는 속도를 증가시키더라도 발광소자에 대한 손실이 발생하는 것을 방지할 수 있으므로, 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는데 걸리는 시간을 단축할 수 있다.The present invention can prevent the loss of the light emitting device even if the speed of moving the light emitting device is increased, so that the time taken to classify the light emitting devices by grades according to the test results can be shortened.
도 1은 종래 기술에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 부분 사시도
도 2는 본 발명에 따른 발광소자 수납장치를 포함하는 테스트 핸들러의 개략적인 블록도
도 3은 본 발명에 따른 발광소자 수납장치의 개략적인 사시도
도 4는 본 발명에 따른 발광소자 수납장치에 있어서 커버부재가 지지위치에 위치된 상태를 나타낸 개략적인 평면도
도 5는 본 발명에 따른 발광소자 수납장치에 있어서 커버부재가 해제위치에 위치된 상태를 나타낸 개략적인 평면도
도 6은 도 4의 Ⅱ-Ⅱ 선을 기준으로 A 부분을 확대하여 나타낸 개략적인 단면도
도 7은 도 5의 Ⅲ-Ⅲ 선을 기준으로 B 부분을 확대하여 나타낸 개략적인 단면도
도 8 및 도 9는 본 발명에 따른 커버부재가 지지위치와 해제위치 간에 이동하는 모습을 도 3의 Ⅰ-Ⅰ 선을 기준으로 나타낸 개략적인 단면도
도 10은 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치의 개략적인 사시도
도 11은 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치의 개략적인 평면도
도 12는 본 발명에 따른 캠부재를 설명하기 위한 개략적인 사시도
도 13은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 개략적인 사시도
도 14는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 개략적인 평면도
도 15는 본 발명에 따른 분류부의 개략적인 사시도1 is a partial perspective view of a light emitting device test handler according to the prior art;
2 is a schematic block diagram of a test handler including a light emitting device accommodating device according to the present invention.
3 is a schematic perspective view of a light emitting device accommodating device according to the present invention;
4 is a schematic plan view showing a state in which a cover member is positioned at a support position in a light emitting device accommodating device according to the present invention;
5 is a schematic plan view showing a state in which a cover member is positioned at a release position in a light emitting device accommodating device according to the present invention;
FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing an enlarged portion A based on the line II-II of FIG. 4.
7 is a schematic cross-sectional view showing an enlarged portion B based on the III-III line of FIG.
8 and 9 is a schematic cross-sectional view showing the state that the cover member is moved between the support position and the release position according to the line I-I of FIG.
10 is a schematic perspective view of a light emitting device test apparatus according to the present invention;
11 is a schematic plan view of a light emitting device test apparatus according to the present invention
12 is a schematic perspective view for explaining the cam member according to the present invention;
13 is a schematic perspective view of a light emitting device test handler according to the present invention;
14 is a schematic plan view of a light emitting device test handler according to the present invention;
15 is a schematic perspective view of a classification part according to the present invention;
이하에서는 본 발명에 따른 발광소자 수납장치의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a preferred embodiment of a light emitting device accommodating device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명에 따른 발광소자 수납장치를 포함하는 테스트 핸들러의 개략적인 블록도, 도 3은 본 발명에 따른 발광소자 수납장치의 개략적인 사시도, 도 4는 본 발명에 따른 발광소자 수납장치에 있어서 커버부재가 지지위치에 위치된 상태를 나타낸 개략적인 평면도, 도 5는 본 발명에 따른 발광소자 수납장치에 있어서 커버부재가 해제위치에 위치된 상태를 나타낸 개략적인 평면도, 도 6은 도 4의 Ⅱ-Ⅱ 선을 기준으로 A 부분을 확대하여 나타낸 개략적인 단면도, 도 7은 도 5의 Ⅲ-Ⅲ 선을 기준으로 B 부분을 확대하여 나타낸 개략적인 단면도, 도 8 및 도 9는 본 발명에 따른 커버부재가 지지위치와 해제위치 간에 이동하는 모습을 도 3의 Ⅰ-Ⅰ 선을 기준으로 나타낸 개략적인 단면도이다.2 is a schematic block diagram of a test handler including a light emitting device accommodating device according to the present invention, FIG. 3 is a schematic perspective view of a light emitting device accommodating device according to the present invention, and FIG. 4 is a light emitting device accommodating device according to the present invention. Figure 5 is a schematic plan view showing a state in which the cover member is located in the support position, Figure 5 is a schematic plan view showing a state in which the cover member is located in the release position in the light emitting device receiving apparatus according to the present invention, Figure 6 FIG. 7 is a schematic cross-sectional view showing an enlarged portion A based on the line II-II, FIG. 7 is a schematic cross-sectional view showing an enlarged portion B along the line III-III of FIG. 5, and FIGS. FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of the cover member moving between the support position and the release position with reference to the line I-I of FIG. 3.
도 2 내지 도 5를 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 발광소자 테스트 핸들러(100, 도 2에 도시됨)에 설치된다. 우선, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)가 설치되는 발광소자 테스트 핸들러(100)에 관해 살펴보면, 다음과 같다.2 to 5, the light emitting device accommodating
상기 발광소자 테스트 핸들러(100)는 공급부(200, 도 2에 도시됨), 픽커부(300, 도 2에 도시됨), 테스트장치(400, 도 2에 도시됨) 및 분류부(500, 도 2에 도시됨)를 포함한다. 테스트될 발광소자(L, 도 4에 도시됨)는 상기 픽커부(300)에 의해 상기 공급부(200)에서 상기 테스트장치(400)로 이송된다. 그 후, 테스트될 발광소자(L)는 상기 테스트장치(400)에 의해 발광소자(L)를 테스트하는 테스트유닛(20) 쪽으로 이동한다. 상기 테스트유닛(20)이 발광소자(L)에 대한 테스트를 완료하면, 테스트된 발광소자(L)는 상기 분류부(500)로 이송된 후에 상기 분류부(500)에 의해 테스트 결과에 따라 등급별로 분류된다.The light emitting
본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 발광소자(L)를 수납하기 위해 상기 테스트장치(400)에 설치된다. 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 발광소자(L)를 수납하기 위한 수납부재(2), 및 상기 수납부재(2)에 이동 가능하게 결합되는 커버부재(3)를 포함한다. 상기 커버부재(3)는 지지위치 및 해제위치 간에 이동한다.The light emitting device
상기 지지위치는 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 커버부재(3)가 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)를 지지하는 위치이다. 상기 커버부재(3)가 상기 지지위치에 위치될 때, 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)는 상면 일부가 상기 커버부재(3)에 접촉됨으로써 상기 커버부재(3)에 지지된다. 이에 따라, 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)는 상기 수납부재(2)로부터 이탈되는 것이 방지된다. As shown in FIG. 4, the support position is a position at which the
상기 해제위치는 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 커버부재(3)가 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)에 대한 지지력을 해제시키는 위치이다. 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치에 위치되면, 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)는 상기 커버부재(3)에 방해됨이 없이 상기 수납부재(2)로부터 언로딩될 수 있다. 또한, 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치에 위치되면, 발광소자(L)는 상기 커버부재(3)에 방해됨이 없이 상기 수납부재(2)에 로딩될 수 있다.As shown in FIG. 5, the release position is a position at which the
따라서, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 다음과 같은 작용효과를 도모할 수 있다.Therefore, the light emitting device
첫째, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 상기 커버부재(3)가 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)를 지지하므로, 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)를 안정적으로 수납할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 상기 테스트장치(400)가 상기 수납부재(2)를 이동시키는 과정, 발광소자(L)가 테스트되는 과정 등에서 발생하는 진동, 흔들림 등에 의해 발광소자(L)가 상기 수납부재(2)로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 발광소자(L)에 대한 손실이 발생하는 것을 방지할 수 있다.First, since the
둘째, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 상기 테스트장치(400)가 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)를 이동시키는 속도를 증가시키더라도, 상기 커버부재(3)가 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)를 지지함으로써 발광소자(L)가 상기 수납부재(2)로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 발광소자(L)를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는데 걸리는 시간을 단축하는데 기여할 수 있다.Second, the
셋째, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치로 이동하면, 발광소자(L)가 상기 커버부재(3)에 방해됨이 없이 상기 수납부재(2)에 로딩될 수 있고, 상기 수납부재(2)로부터 언로딩될 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 발광소자(L)를 상기 수납부재(2)에 안정적으로 수납할 수 있으면서도, 발광소자(L)에 대해 다른 공정이 수행되는데 상기 커버부재(3)가 영향을 미치는 것을 방지할 수 있다.Third, when the
이하에서는 상기 수납부재(2) 및 상기 커버부재(3)에 관해 첨부된 도면을 참조하여 구체적으로 설명한다.Hereinafter, the
도 3 내지 도 5를 참고하면, 상기 수납부재(2)는 발광소자(L, 도 4에 도시됨)를 수납한다. 발광소자는 엘이디(LED, Light-emitting Diode)일 수 있다. 상기 수납부재(2)는 발광소자(L)를 수납하기 위한 수납홈(21, 도 3에 도시됨)을 포함한다. 상기 수납부재(2)는 상기 수납홈(21)에 수납된 발광소자(L)를 지지한다. 상기 수납홈(21)은 발광소자(L)와 대략 일치하는 크기 및 형태를 갖도록 형성된다. 예컨대, 상기 수납홈(21)은 사각판형으로 형성될 수 있다.3 to 5, the
도 3 내지 도 7을 참고하면, 상기 커버부재(3)는 상기 수납부재(2)에 이동 가능하게 결합된다. 상기 커버부재(3)는 상기 수납부재(2)의 위에 위치되게 상기 수납부재(2)에 결합된다. 도시되지 않았지만, 상기 커버부재(3)는 엘엠레일(LM Rail)과 엘엠블록(LM Block)을 매개로 하여 상기 수납부재(2)에 직선으로 이동 가능하게 결합될 수 있다.3 to 7, the
상기 커버부재(3)는 상기 지지위치와 상기 해제위치 간에 이동한다. 도 3, 도 4, 및 도 6은 상기 커버부재(3)가 상기 지지위치에 위치된 상태를 나타낸 것이다. 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 커버부재(3)가 상기 지지위치에 위치되면, 상기 커버부재(3)는 상기 수납홈(21)에 수납된 발광소자(L)를 지지함으로써 발광소자(L)가 상기 수납홈(21)으로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 발광소자(L)에 대한 손실이 발생하는 것을 방지할 수 있고, 발광소자(L)를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는데 걸리는 시간을 단축하는데 기여할 수 있다. 상기 커버부재(3)가 상기 지지위치에 위치될 때, 상기 커버부재(3)는 상기 수납홈(21)에 수납된 발광소자(L)의 상면 일부를 지지한다.The
도 5 및 도 7은 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치에 위치된 상태를 나타낸 것이다. 도 7에 도시된 바와 같이 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치에 위치되면, 상기 커버부재(3)는 상기 수납홈(21)에 수납된 발광소자(L)를 지지하지 않게 된다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 발광소자(L)가 상기 커버부재(3)에 방해됨이 없이 상기 수납부재(2)에 로딩되거나 상기 수납부재(2)로부터 언로딩되도록 구현된다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 발광소자(L)를 상기 수납부재(2)에 안정적으로 수납할 수 있으면서도, 발광소자(L)에 대해 다른 공정이 수행되는데 상기 커버부재(3)가 영향을 미치는 것을 방지할 수 있다.5 and 7 show a state in which the
도 3, 도 5 및 도 7을 참고하면, 상기 커버부재(3)는 발광소자(L)가 통과하기 위한 통과공(31)을 포함한다.3, 5, and 7, the
상기 통과공(31)은 상기 커버부재(3)를 관통하여 형성된다. 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치에 위치되면, 상기 통과공(31)은 상기 수납홈(21)의 위에 위치된다. 이에 따라, 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치에 위치되면, 발광소자(L)는 상기 통과공(31)을 통해 상기 커버부재(3)를 통과하여 상기 수납부재(2)에 로딩될 수 있다. 또한, 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치에 위치되면, 발광소자(L)는 상기 통과공(31)을 통해 상기 커버부재(3)를 통과하여 상기 수납부재(2)로부터 언로딩될 수 있다. 상기 통과공(31)은 발광소자(L)에 비해 큰 크기를 갖도록 형성된다. 상기 통과공(31)은 타원 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 발광소자(L)가 통과할 수 있는 형태이면 사각판형 등 다른 형태로 형성될 수도 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 커버부재(3)가 상기 지지위치에 위치되면, 상기 통과공(31)은 상기 수납홈(21)으로부터 이격된 위치에 위치된다. 이 경우, 상기 통과공(31)은 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L, 도 4에 도시됨)로부터 이격된 위치에 위치된다. 이에 따라, 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L, 도 4에 도시됨)는 상기 커버부재(3)에 지지된다.The through
도 3, 도 4, 및 도 6을 참고하면, 상기 커버부재(3)는 발광소자(L)가 방출하는 광을 통과시키기 위한 관통공(32, 도 3에 도시됨)을 포함한다.3, 4, and 6, the
상기 관통공(32)은 상기 커버부재(3)를 관통하여 형성된다. 상기 커버부재(3)가 상기 지지위치에 위치된 상태에서 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)가 광을 방출하면, 발광소자(L)가 방출한 광은 상기 관통공(32)을 통해 상기 커버부재(3)를 통과하게 된다. 이에 따라, 상기 테스트유닛(20, 도 2에 도시됨)은 상기 관통공(32)을 통해 방출된 광을 이용하여 발광소자(L)가 갖는 성능을 테스트할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 발광소자(L)가 테스트될 때, 상기 커버부재(3)를 이용하여 발광소자(L)를 견고하게 지지할 수 있을 뿐만 아니라, 발광소자(L)가 상기 관통공(32)을 통해 상기 커버부재(3)에 방해됨이 없이 테스트되도록 구현된다.The through
도 6에 도시된 바와 같이, 상기 관통공(32)은 상기 수납부재(2)에서 상기 커버부재(3)를 향하는 방향을 향할수록 크기가 커지도록 형성된다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 발광소자(L)가 방출한 광이 상기 관통공(32)을 통해 상기 커버부재(3)를 통과하는 양을 증가시킬 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 발광소자(L)가 방출한 광이 상기 테스트유닛(20, 도 2에 도시됨)으로 전달되는 양을 증가시킴으로써, 발광소자(L)를 테스트한 결과에 대한 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 상기 커버부재(3)에서 상기 관통공(32)이 형성된 부분은, 발광소자(L)가 갖는 방사각에 대응되는 각도로 경사지게 형성될 수 있다. 예컨대, 발광소자(L)가 160°의 방사각을 갖는 엘이디인 경우, 상기 커버부재(3)에서 상기 관통공(32)이 형성된 부분은, 10°이하의 각도(3a)를 갖도록 경사지게 형성될 수 있다.As shown in FIG. 6, the through
도 3, 도 4, 및 도 6을 참고하면, 상기 관통공(32, 도 3에 도시됨)은 상기 커버부재(3)가 이동하는 방향으로 긴 길이를 갖도록 형성된다. 예컨대, 상기 관통공(32)은 상기 커버부재(3)가 이동하는 방향으로, 상기 커버부재(3)가 이동하는 거리와 대략 일치하거나 더 긴 길이를 갖도록 형성될 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 상기 커버부재(3)가 이동하는 과정에서 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)가 상기 커버부재(3)에 충돌하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 상기 관통공(32)은 상기 커버부재(3)가 상기 지지위치에 위치되면, 상기 커버부재(3)가 발광소자(L)의 상면 일부를 지지할 수 있도록 하는 크기로 형성될 수 있다. 예컨대, 도 6에 도시된 바와 같이 상기 커버부재(3)는 상기 관통공(32)에 의해 발광소자(L)에서 볼록한 부분을 제외한 나머지 부분을 지지할 수 있도록 형성될 수 있다. 발광소자(L)가 엘이디인 경우, 발광소자(L)의 볼록한 부분은 엘이디 칩이 수용된 몰딩부에 해당할 수 있다. 상기 관통공(32)은 타원 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 발광소자(L)가 방출하는 광을 통과시킬 수 있고 상기 커버부재(3)가 상기 지지위치에서 발광소자(L)를 지지할 수 있도록 하는 형태이면 사각판형 등 다른 형태로 형성될 수도 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 관통공(32)은 상기 통과공(31)에 연결되게 형성될 수 있다. 상기 관통공(32)과 상기 통과공(31)은 서로 수직한 방향을 향하도록 형성될 수 있다.3, 4, and 6, the through hole 32 (shown in FIG. 3) is formed to have a long length in the direction in which the
도 2 및 도 6을 참고하면, 상기 커버부재(3)가 상기 지지위치에 위치된 상태에서, 상기 테스트장치(400, 도 2에 도시됨)는 발광소자(L, 도 6에 도시됨)를 테스트한다. 이를 위해, 상기 테스트장치(400)는 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)에 접속되기 위한 접속핀(441, 도 6에 도시됨)을 포함한다. 상기 접속핀(441)은 발광소자(L)의 밑면에 형성된 단자(L1, 도 6에 도시됨)에 접속됨으로써, 발광소자(L)가 테스트되도록 한다. 상기 테스트장치(400)는 상기 접속핀(441)을 통해 발광소자(L)에 전원을 공급하여 발광소자(L)를 발광시킴으로써, 상기 테스트유닛(20, 도 2에 도시됨)이 발광소자(L)를 테스트하도록 한다. 상기 테스트장치(400)는 상기 접속핀(441)을 통해 발광소자(L)에 대한 전기적 특성을 테스트할 수도 있다.2 and 6, in a state in which the
상기 수납부재(2)는 상기 접속핀(441)이 삽입되기 위한 접속공(22, 도 6에 도시됨)을 포함한다. 상기 접속공(22)은 상기 수납부재(2)를 관통하여 형성된다. 상기 접속공(22)은 상기 수납홈(21, 도 6에 도시됨)에 연결되게 형성된다. 이에 따라, 상기 접속핀(441)은 상기 접속공(22)을 통해 상기 수납홈(21)에 수납된 발광소자(L)에 접속될 수 있다. 상기 접속공(22)은 발광소자(L)가 갖는 단자(L1)에 대응되는 위치에 형성될 수 있다. 발광소자(L)가 2개의 단자들(L1, L2)을 갖는 것인 경우, 상기 수납부재(2)는 2개의 접속공들(22, 22')을 포함한다. 상기 접속공들(22, 22')은 발광소자(L)가 갖는 단자들(L1, L2) 각각에 대응되는 위치에 형성된다. 이 경우, 상기 테스트장치(400)는 2개의 접속핀들(441, 441')을 포함한다. 도시되지 않았지만, 상기 수납부재(2)는 4개의 접속공(22)들을 포함할 수도 있고, 상기 테스트장치(400)는 4개의 접속핀(441)들을 포함할 수도 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 상기 발광소자(L)가 갖는 2개의 단자들(L1, L2) 각각에 2개씩의 접속핀(441)들이 접속되도록 함으로써, 발광소자(L)를 테스트한 결과에 대한 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다. The
상기 커버부재(3)는 상기 접속핀(441)이 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)에 접속될 때, 발광소자(L)를 지지한다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 상기 접속핀(441)이 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)에 접속될 때, 발광소자(L)가 상기 수납부재(2)로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 상기 접속핀(441)이 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)에 접속될 때, 상기 커버부재(3)가 발광소자(L)의 이동을 제한함으로써 상기 접속핀(441)이 발광소자(L)가 갖는 단자(L1)에 정확하게 접속된 상태로 유지되도록 한다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 발광소자(L)를 테스트한 결과에 대한 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다.The
도 2 내지 도 5, 도 8 및 도 9를 참고하면, 상기 커버부재(3)는 캠부재(411, 도 9에 도시됨)에 의해 상기 해제위치와 상기 지지위치 간에 이동할 수 있다. 상기 캠부재(411)는 상기 테스트장치(400, 도 2에 도시됨)에 설치된 것이다.2 to 5, 8 and 9, the
도 9에 도시된 바와 같이, 상기 커버부재(3)는 상기 캠부재(411)에 지지되면 상기 해제위치로 이동한다. 이 경우, 상기 커버부재(3)는 상기 통과공(31, 도 5에 도시됨)이 상기 수납홈(21)의 위에 위치되도록 이동한다. 따라서, 발광소자(L, 도 5에 도시됨)는 상기 통과공(31, 도 5에 도시됨)을 통해 상기 커버부재(3)를 통과하여 상기 수납부재(2)에 로딩되거나 상기 수납부재(2)로부터 언로딩될 수 있다. 도 5에 도시된 바와 같이 상기 수납부재(2)에 발광소자(L)가 수납되어 있는 경우, 상기 커버부재(3)는 상기 캠부재(411, 도 9에 도시됨)에 지지됨에 따라 상기 통과공(31)이 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)의 위에 위치되도록 이동할 수 있다.As shown in FIG. 9, the
도 8에 도시된 바와 같이, 상기 커버부재(3)는 상기 캠부재(411, 도 9에 도시됨)로부터 이격되면 상기 지지위치로 이동한다. 이 경우, 상기 커버부재(3)는 상기 통과공(31, 도 4에 도시됨)이 상기 수납홈(21)으로부터 이격되도록 이동한다. 따라서, 상기 커버부재(3)는 상기 수납홈(21)에 수납된 발광소자(L, 도 4에 도시됨)를 지지하게 된다.As shown in FIG. 8, the
도 3, 도 8 및 도 9를 참고하면, 상기 커버부재(3)는 상기 캠부재(411, 도 9에 도시됨)에 접촉되기 위한 접촉부재(33)를 포함한다.3, 8, and 9, the
상기 접촉부재(33)는 상기 커버부재(3)에 회전 가능하게 결합된다. 상기 커버부재(3)는 상기 접촉부재(33)가 상기 캠부재(411)에 지지됨에 따라 상기 해제위치로 이동한다. 상기 커버부재(3)는 상기 접촉부재(33)가 상기 캠부재(411)로부터 이격됨에 따라 상기 지지위치로 이동한다. 이 경우, 상기 접촉부재(33)는 상기 캠부재(411)에 접촉되면 마찰력에 의해 회전될 수 있다. 따라서, 상기 접촉부재(33)는 상기 캠부재(411)에 접촉되면, 회전축(33a, 도 9에 도시됨)을 중심으로 회전함으로써 마찰에 의해 마모 내지 손상되는 정도를 줄일 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치와 상기 지지위치 간에 반복적으로 이동함에 따라 마찰에 의해 마모 내지 손상되는 정도를 줄일 수 있다. 이를 구체적으로 살펴보면, 다음과 같다.The
우선, 상기 테스트장치(400, 도 2에 도시됨)는 발광소자(L)가 상기 수납부재(2)에 로딩되거나 발광소자(L)가 상기 수납부재(2)로부터 언로딩되는 경우, 상기 커버부재(3)가 상기 캠부재(411)에 지지되어 상기 해제위치로 이동하도록 상기 수납부재(2)를 이동시킨다. 이 경우, 상기 접촉부재(33)는 상기 캠부재(411)에 접촉되어 이동하는 과정에서, 상기 캠부재(411)와의 사이에 작용하는 마찰력에 의해 회전축(33a)을 중심으로 회전될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 상기 커버부재(3)가 상기 지지위치에서 상기 해제위치로 이동하는 과정에서, 상기 접촉부재(33)가 상기 캠부재(411)에 접촉되어 회전축(33a)을 중심으로 회전함으로써 마찰에 의해 마모 내지 손상되는 정도를 줄일 수 있다.First, the test apparatus 400 (shown in FIG. 2) includes the cover when the light emitting device L is loaded on the
다음, 상기 테스트장치(400)는 발광소자(L)가 테스트되는 경우, 상기 커버부재(3)가 상기 캠부재(411)로부터 이격되어 상기 지지위치로 이동하도록 상기 수납부재(2)를 이동시킨다. 이 경우, 상기 접촉부재(33)는 상기 캠부재(411)로부터 이격되도록 이동하는 과정에서, 상기 캠부재(411)와의 사이에 작용하는 마찰력에 의해 회전축(33a)을 중심으로 회전될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치에서 상기 지지위치로 이동하는 과정에서, 상기 접촉부재(33)가 상기 캠부재(411)에 접촉되어 회전축(33a)을 중심으로 회전함으로써 마찰에 의해 마모 내지 손상되는 정도를 줄일 수 있다.Next, when the light emitting device L is tested, the
도 3을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 상기 수납부재(2)와 상기 커버부재(3)에 연결된 탄성부재(4)를 더 포함한다.Referring to FIG. 3, the light emitting device
상기 탄성부재(4)는 일측이 상기 수납부재(2)에 결합되고, 타측이 상기 커버부재(3)에 결합된다. 상기 탄성부재(4)는 상기 커버부재(3)가 상기 캠부재(411, 도 9에 도시됨)에 지지되면, 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치로 이동하도록 늘어난다. 상기 탄성부재(4)는 상기 커버부재(3)가 상기 캠부재(411, 도 9에 도시됨)로부터 이격되면, 상기 커버부재(3)가 상기 지지위치로 이동하도록 압축된다. 즉, 상기 탄성부재(4)는 상기 커버부재(3)가 상기 지지위치로 이동하는 방향으로 상기 커버부재(3)에 탄성력을 제공한다. 이에 따라, 상기 커버부재(3)는 상기 캠부재(411, 도 9에 도시됨)로부터 이격되면, 상기 탄성부재(4)가 갖는 복원력에 의해 상기 지지위치로 이동한다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 실린더, 모터 등을 갖는 이동수단(미도시) 없이도 상기 커버부재(3)를 상기 해제위치로 이동시킬 수 있으므로, 제조비용을 줄일 수 있다. 도시되지 않았지만, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 실린더, 모터 등을 갖는 이동수단을 이용하여 상기 커버부재(3)를 상기 해제위치로 이동시킬 수도 있다.One side of the
이하에서는 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings a preferred embodiment of the light emitting device test apparatus according to the present invention will be described in detail.
도 10은 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치의 개략적인 사시도, 도 11은 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치의 개략적인 평면도, 도 12는 본 발명에 따른 캠부재를 설명하기 위한 개략적인 사시도이다.10 is a schematic perspective view of a light emitting device test apparatus according to the present invention, FIG. 11 is a schematic plan view of a light emitting device test apparatus according to the present invention, and FIG. 12 is a schematic perspective view for explaining a cam member according to the present invention.
도 2, 도 10 및 도 11을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(400)는 상기 발광소자 수납장치(1), 상기 발광소자 수납장치(1)가 복수개 결합되는 회전부재(420), 상기 회전부재(420)를 회전시키기 위한 구동유닛(430), 및 상기 커버부재(3, 도 2에 도시됨)를 상기 지지위치와 상기 해제위치 간에 이동시키기 위한 이동유닛(410, 도 2에 도시됨)을 포함한다. 이러한 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(400)는 다음과 같이 동작한다.2, 10, and 11, the light emitting
우선, 상기 구동유닛(430)은 비어 있는 발광소자 수납장치(1)가 로딩위치(LP, 도 11에 도시됨)에 위치되도록 상기 회전부재(420)를 회전시킨다. 상기 로딩위치(LP)는 테스트될 발광소자가 상기 발광소자 수납장치(1)에 로딩되는 공정이 이루어지는 위치이다. 이 경우, 상기 로딩위치(LP)에 위치된 발광소자 수납장치(1)의 커버부재(3)는 상기 이동유닛(410)에 의해 상기 해제위치에 위치된 상태이다.First, the driving
다음, 상기 발광소자 수납장치(1)에 테스트될 발광소자가 로딩되면, 상기 구동유닛(430)은 상기 회전부재(420)를 회전시킨다. 이에 따라, 테스트될 발광소자를 수납한 발광소자 수납장치(1)는 상기 로딩위치(LP)에서 테스트위치(TP, 도 11에 도시됨)로 이동한다. 상기 테스트위치(TP)는 테스트유닛(20, 도 2에 도시됨)이 발광소자를 테스트하는 공정이 이루어지는 위치이다. 이 경우, 테스트될 발광소자를 수납한 발광소자 수납장치(1)는 상기 커버부재(3)가 상기 이동유닛(410)에 의해 상기 지지위치에 위치된 상태로 상기 테스트위치(TP)에 위치된다.Next, when the light emitting device to be tested is loaded in the light emitting device
다음, 상기 테스트유닛(20)이 발광소자에 대한 테스트를 완료하면, 상기 구동유닛(430)은 상기 회전부재(420)를 회전시킨다. 이에 따라, 테스트된 발광소자를 수납한 발광소자 수납장치(1)는 상기 테스트위치(TP)에서 언로딩위치(ULP, 도 11에 도시됨)로 이동한다. 상기 언로딩위치(ULP)는 테스트된 발광소자가 상기 발광소자 수납장치(1)로부터 언로딩되는 공정이 이루어지는 위치이다. 이 경우, 테스트된 발광소자를 수납한 발광소자 수납장치(1)는 상기 커버부재(3)가 상기 이동유닛(410)에 의해 상기 해제위치에 위치된 상태로 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된다. 상기 발광소자 수납장치(1)로부터 언로딩된 발광소자(L)는 상기 분류부(500, 도 2에 도시됨)로 이송된 후에, 상기 분류부(500)에 의해 테스트 결과에 따라 등급별로 분류된다.Next, when the
다음, 발광소자에 대한 언로딩이 완료되면, 상기 구동유닛(430)은 비어 있는 발광소자 수납장치(1)가 다시 상기 로딩위치(LP)에 위치되도록 상기 회전부재(420)를 회전시킨다.Next, when the unloading of the light emitting device is completed, the driving
여기서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(400)는 상기 커버부재(3)가 상기 지지위치에 위치된 상태에서 발광소자(L)에 대한 테스트가 이루어지도록 동작한다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(400)는 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치에 위치된 상태에서 발광소자(L)가 로딩되고 언로딩되도록 동작한다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(400)는 다음과 같은 작용효과를 도모할 수 있다.Here, the light emitting
첫째, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(400)는 상기 테스트위치(TP)에서 상기 커버부재(3)가 상기 수납부재(2, 도 2에 도시됨)에 수납된 발광소자(L)를 지지하므로, 발광소자(L)가 테스트되는 과정 등에서 발생하는 진동, 흔들림 등에 의해 발광소자(L)가 상기 수납부재(2)로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(400)는 발광소자(L)를 테스트하는 과정에서 발광소자(L)에 대한 손실이 발생하는 것을 방지할 수 있다.First, the light emitting
둘째, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(400)는 상기 구동유닛(430)이 상기 회전부재(420)를 회전시키는 속도를 증가시키더라도, 상기 커버부재(3)가 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)를 지지하므로 발광소자(L)가 상기 수납부재(2)로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 발광소자(L)를 상기 로딩위치(LP), 상기 테스트위치(TP) 및 상기 언로딩위치(ULP) 간에 이동시키는 과정에서 발생하는 진동, 흔들림 등에 의해 발광소자(L)에 대한 손실이 발생하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(400)는 상기 구동유닛(430)이 상기 회전부재(420)를 회전시키는 속도를 증가시킬 수 있으므로, 발광소자(L)를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는데 걸리는 시간을 단축하는데 기여할 수 있다.Second, the light emitting
셋째, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(400)는 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치로 이동하면, 발광소자(L)가 상기 커버부재(3)에 방해됨이 없이 상기 수납부재(2)에 로딩될 수 있고 상기 수납부재(2)로부터 언로딩될 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(400)는 발광소자(L)를 상기 수납부재(2)에 안정적으로 수납할 수 있으면서도, 발광소자(L)에 대해 다른 공정이 수행되는데 상기 커버부재(3)가 영향을 미치는 것을 방지할 수 있다.Third, in the light emitting
이하에서는 상기 이동유닛(410), 상기 회전부재(420) 및 상기 구동유닛(430)에 관해 첨부된 도면을 참조하여 구체적으로 설명한다. 상기 발광소자 수납장치(1)는 상술한 바와 같으므로, 구체적인 설명은 생략한다.Hereinafter, the
도 2 내지 도 5, 도 10 및 도 11을 참고하면, 상기 이동유닛(410, 도 2에 도시됨)은 상기 커버부재(3)를 상기 지지위치 및 상기 해제위치 간에 이동시킨다.2 to 5, 10 and 11, the mobile unit 410 (shown in FIG. 2) moves the
상기 이동유닛(410)은 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치(도 5에 도시됨)에 위치된 상태로, 발광소자(L, 도 5에 도시됨)가 상기 로딩위치(LP, 도 11에 도시됨)에 위치되도록 상기 커버부재(3)를 상기 해제위치로 이동시킨다. 상기 이동유닛(410)은 상기 커버부재(3)가 상기 지지위치(도 4에 도시됨)에 위치된 상태로, 발광소자(L)가 상기 테스트위치(TP, 도 11에 도시됨)에 위치되도록 상기 커버부재(3)를 상기 지지위치로 이동시킨다. 상기 이동유닛(410)은 상기 발광소자 수납장치(1)가 상기 로딩위치(LP)에서 상기 테스트위치(TP)로 이동할 때까지, 상기 커버부재(3)가 상기 지지위치에 위치된 상태로 유지시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 이동유닛(410)은 발광소자(L)가 상기 로딩위치(LP)에서 상기 테스트위치(TP)로 이동하는 과정에서 상기 수납부재(2, 도 3에 도시됨)로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있다.The
상기 이동유닛(410)은 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치(도 5에 도시됨)에 위치된 상태로, 발광소자(L)가 상기 언로딩위치(ULP, 도 11에 도시됨)에 위치되도록 상기 커버부재(3)를 상기 해제위치로 이동시킨다. 상기 이동유닛(410)은 상기 발광소자 수납장치(1)가 상기 테스트위치(TP)에서 상기 언로딩위치(ULP)로 이동할 때까지, 상기 커버부재(3)가 상기 지지위치에 위치된 상태로 유지시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 이동유닛(410)은 발광소자(L)가 상기 테스트위치(TP)에서 상기 언로딩위치(ULP)로 이동하는 과정에서 상기 수납부재(2)로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있다.The moving
상기 이동유닛(410)은 상기 발광소자 수납장치(1)가 상기 언로딩위치(ULP)에서 상기 로딩위치(LP)로 이동할 때까지, 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치에 위치된 상태로 유지시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(400)는 상기 로딩위치(LP)에서 상기 커버부재(3)를 다시 해제위치로 이동시켜야 하는 불필요한 작업을 생략할 수 있다. 한편, 상기 수납부재(2)는 상기 언로딩위치(ULP)를 거치면서 비게 되므로, 상기 언로딩위치(ULP)에서 상기 로딩위치(LP)로 이동할 때까지 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치에 위치된 상태로 유지되더라도 발광소자가 손실될 위험이 없다.The
도시되지 않았지만, 상기 이동유닛(410)은 상기 커버부재(3)를 상기 지지위치와 상기 해제위치 간에 이동시키기 위한 이동수단을 포함할 수 있다. 상기 이동수단은 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류(Ball Screw) 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어(Rack Gear)와 피니언기어(Pinion Gear) 등을 이용한 기어방식, 리니어모터(Linear Motor) 방식 등을 이용하여 상기 커버부재(3)를 이동시킬 수 있다.Although not shown, the moving
도 8 내지 도 12를 참고하면, 상기 이동유닛(410, 도 2에 도시됨)은 상기 커버부재(3)를 상기 지지위치와 상기 해제위치 간에 이동시키기 위한 캠부재(411, 도 12에 도시됨)를 포함할 수 있다. 이 경우, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 상기 이동수단(미도시) 없이도 상기 커버부재(3)를 이동시킬 수 있으므로, 상기 이동수단을 이용하는 실시예와 비교할 때 제조비용을 줄일 수 있다.8 to 12, the mobile unit 410 (shown in FIG. 2) is shown in cam member 411 (FIG. 12) for moving the
상기 캠부재(411)는 본체(400a, 도 12에 도시됨)에 결합된다. 상기 캠부재(411)는 상기 회전부재(420, 도 10에 도시됨)가 회전하는 것에 관계없이 소정 위치에 고정되게 상기 본체(400a)에 결합된다. 상기 캠부재(411)는 상기 본체(400a)로부터 돌출되게 상기 본체(400a)에 결합된다. 상기 커버부재(3)는 상기 회전부재(420)에 의해 회전됨에 따라 상기 캠부재(411)에 지지되면, 도 9에 도시된 바와 같이 상기 해제위치로 이동한다. 이 경우, 상기 커버부재(3)는 상기 캠부재(411)가 상기 본체(400a, 도 12에 도시됨)로부터 돌출된 거리만큼 이동할 수 있다. 상기 캠부재(411)는 상기 통과공(31, 도 7에 도시됨)이 상기 수납홈(21, 도 7에 도시됨)의 위에 위치되는 거리만큼 상기 커버부재(3)가 이동하도록 상기 본체(400a)로부터 돌출되게 결합될 수 있다. 상기 커버부재(3)는 상기 회전부재(420, 도 10에 도시됨)에 의해 회전됨에 따라 상기 캠부재(411)로부터 이격되면, 도 8에 도시된 바와 같이 상기 지지위치로 이동한다. 이 경우, 상기 커버부재(3)는 상기 탄성부재(4, 도 3에 도시됨)가 갖는 복원력에 의해 상기 지지위치로 이동할 수 있다.The
도 8 내지 도 12를 참고하면, 상기 캠부재(411, 도 12에 도시됨)는 상기 로딩위치(LP, 도 11에 도시됨)와 상기 언로딩위치(ULP, 도 11에 도시됨)에 위치되게 상기 본체(400a, 도 12에 도시됨)에 결합된다. 이에 따라, 상기 구동유닛(430, 도 10에 도시됨)이 상기 회전부재(420, 도 10에 도시됨)를 회전시키면, 상기 커버부재(3)는 상기 로딩위치(LP)와 상기 언로딩위치(ULP)에서 상기 캠부재(411)에 지지됨으로써 상기 해제위치로 이동할 수 있다. 상기 이동유닛(410, 도 2에 도시됨)은 상기 로딩위치(LP)에서 상기 언로딩위치(ULP)까지 연결되는 하나의 캠부재(411)를 포함한다. 이에 따라, 상기 커버부재(3)는 상기 언로딩위치(ULP)로 진입하는 시점부터 상기 로딩위치(LP)를 벗어나는 시점까지 상기 해제위치에 위치된 상태로 유지될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 이동유닛(410, 도 2에 도시됨)은 상기 로딩위치(LP)와 상기 언로딩위치(ULP)에 각각 위치되는 2개의 캠부재(411)를 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 캠부재(411)들은 서로 소정 거리 이격되게 상기 본체(400a)에 결합될 수 있다. 상기 캠부재(411)는 활꼴(Segment of a circle) 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 커버부재(3)를 상기 해제위치로 이동시킬 수 있는 형태이면 다른 형태로 형성될 수도 있다.8 to 12, the cam member 411 (shown in FIG. 12) is located at the loading position LP (shown in FIG. 11) and the unloading position (ULP, shown in FIG. 11). Is coupled to the
도 10 내지 도 12를 참고하면, 상기 회전부재(420)는 상기 발광소자 수납장치(1)를 지지한다. 상기 회전부재(420)에는 상기 수납부재(2)가 결합될 수 있다. 상기 회전부재(420)는 상기 본체(400a)에 회전 가능하게 결합된다. 상기 회전부재(420)는 상기 본체(400a) 내부에 위치되게 결합될 수 있다. 상기 회전부재(420)는 상기 로딩위치(LP, 도 11에 도시됨), 상기 테스트위치(TP, 도 11에 도시됨), 및 상기 언로딩위치(ULP, 도 11에 도시됨)에 상기 발광소자 수납장치(1)가 순차적으로 위치되도록 상기 구동유닛(430)에 의해 회전된다. 상기 회전부재(420)는 상기 구동유닛(430)에 의해 회전축(430a)을 중심으로 회전될 수 있다.10 to 12, the rotating
상기 회전부재(420)에는 상기 발광소자 수납장치(1)가 복수개 설치된다. 상기 발광소자 수납장치(1)들은 각각 상기 로딩위치(LP), 상기 테스트위치(TP), 및 상기 언로딩위치(ULP)에 동시에 위치되도록 상기 회전부재(420)에 설치된다. 이에 따라, 상기 로딩위치(LP)에서는 상기 발광소자 수납장치(1)에 테스트될 발광소자를 로딩하는 공정이 수행되고, 상기 테스트위치(TP)에서는 상기 발광소자 수납장치(1)에 수납된 발광소자를 테스트하는 공정이 수행되며, 상기 언로딩위치(ULP)에서는 상기 발광소자 수납장치(1)으로부터 테스트된 발광소자를 언로딩하는 공정이 수행된다.The
상기 회전부재(420)에는 상기 발광소자 수납장치(1)들이 회전축(430a)을 중심으로 동일한 각도로 이격되게 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 회전부재(420)가 회전축(430a)을 중심으로 일정 각도로 회전되면, 상기 발광소자 수납장치(1)들은 각각 상기 로딩위치(LP), 상기 테스트위치(TP), 및 상기 언로딩위치(ULP)에 동시에 위치될 수 있다.The light emitting device
상기 회전부재(420)에는 상기 로딩위치(LP), 상기 테스트위치(TP), 및 상기 언로딩위치(ULP)에 동시에 위치되는 발광소자 수납장치(1)들 외에 더 많은 개수의 발광소자 수납장치(1)가 설치될 수도 있다. 이에 따라, 상기 구동유닛(430)이 상기 회전부재(420)를 회전축(430a)을 중심으로 회전시키는 각도를 줄일 수 있고, 상기 발광소자 수납장치(1)들을 다음 위치로 이동시키는데 걸리는 시간을 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(400)는 짧은 시간에 더 많은 발광소자들이 테스트되도록 할 수 있고, 짧은 시간에 더 많은 발광소자들이 등급별로 분류되도록 할 수 있다.The rotating
도 10 내지 도 12를 참고하면, 상기 구동유닛(430)은 상기 회전부재(420)를 회전시킨다. 상기 구동유닛(430)은 상기 회전부재(420)를 상기 회전축(430a)을 중심으로 회전시킬 수 있다. 상기 구동유닛(430)이 상기 회전부재(420)를 상기 회전축(430a)을 중심으로 회전시킴에 따라, 상기 발광소자 수납장치(1)들은 상기 로딩위치(LP, 도 11에 도시됨), 상기 테스트위치(TP, 도 11에 도시됨), 및 상기 언로딩위치(ULP, 도 11에 도시됨)에 순차적으로 위치되면서 순환될 수 있다.10 to 12, the driving
상기 구동유닛(430)은 상기 회전부재(420)를 회전시키기 위한 모터를 포함할 수 있다. 상기 모터는 상기 회전축(430a)에 직접 결합되어 상기 회전부재(420)를 회전시킬 수 있다. 상기 모터와 상기 회전축(430a)이 소정 거리로 이격되게 설치되는 경우, 상기 구동유닛(430)은 상기 회전축(430a)에 결합되는 샤프트, 상기 샤프트와 상기 모터를 연결하는 연결수단을 포함할 수 있다. 상기 연결수단은 풀리, 벨트 등을 포함할 수 있다.The driving
도 2, 도 10 내지 도 12를 참고하면, 상기 테스트유닛(20, 도 2에 도시됨)은 상기 테스트위치(TP, 도 11에 도시됨)에 위치되게 설치된다. 상기 테스트유닛(20)은 상기 본체(400a, 도 12에 도시됨)에 결합될 수 있다. 발광소자는 상기 발광소자 수납장치(1)에 수납된 상태로 상기 테스트위치(TP)에 위치된다. 도시되지 않았지만, 상기 테스트유닛(20)은 상기 테스트위치(TP)에 위치되게 설치되는 측정기구 및 발광소자에 대한 테스트 결과를 분석하는 테스터를 포함할 수 있다.2 and 10 to 12, the test unit 20 (shown in Figure 2) is installed to be located in the test position (TP, shown in Figure 11). The
상기 측정기구는 상기 테스트위치(TP)에 위치된 발광소자가 갖는 광특성을 측정할 수 있다. 상기 측정기구는 상기 테스트위치(TP)에 위치된 발광소자의 위에 위치되도록 상기 본체(400a)에 설치될 수 있다. 상기 측정기구는 휘도, 파장 등을 포함하는 발광소자의 광특성을 측정할 수 있다. 상기 측정기구는 적분구(Integrating Sphere)를 포함할 수 있다. 상기 적분구는 상기 테스트위치(TP)에 위치된 발광소자의 위에 위치되도록 상기 본체(400a)에 설치될 수 있다. 상기 측정기구는 휘도측정용 수광기, 파장측정용 수광기 등과 같이 측정하고자 하는 발광소자의 광특성에 대응되는 여러 종류의 장치를 포함할 수도 있다. 예컨대, 상기 측정기구는 발광소자의 광도, 광속, 조도, 분광분포, 색온도 등을 측정할 수 있는 장치를 포함할 수 있다. 상기 측정기구는 측정한 광특성 정보를 상기 테스터에 제공한다. 상기 측정기구는 무선 통신과 유선 통신 중에서 적어도 하나를 이용하여 상기 광특성 정보를 상기 테스터에 제공할 수 있다.The measuring device may measure an optical characteristic of the light emitting device positioned at the test position TP. The measuring device may be installed in the
상기 테스터는 발광소자에 대한 테스트 결과를 분석하여 성능에 따라 등급을 부여한 후에, 등급 정보를 상기 분류부(500, 도 2에 도시됨)에 제공할 수 있다. 상기 테스터는 상기 등급 정보를 상기 픽커부(300, 도 2에 도시됨)에도 제공할 수 있다. 상기 테스터는 무선 통신과 유선 통신 중에서 적어도 하나를 이용하여 상기 등급 정보를 상기 분류부(500)와 상기 픽커부(300)에 제공할 수 있다.After the tester analyzes the test result of the light emitting device and assigns a grade according to the performance, the tester may provide the grade information to the classification unit 500 (shown in FIG. 2). The tester may also provide the grade information to the picker unit 300 (shown in FIG. 2). The tester may provide the classification information to the
도시되지 않았지만, 상기 본체(400a)에는 복수개의 테스트유닛(20)이 설치될 수도 있다. 상기 테스트유닛(20)들은 각각 개별적으로 발광소자를 테스트할 수 있다. 상기 발광소자 수납장치(1)들은 발광소자가 테스트되는 복수개의 테스트위치(TP)에 동시에 위치될 수 있는 개수로 상기 회전부재(420)에 설치될 수 있다.Although not shown, the
도 6, 도 10 및 도 11을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(400)는 상기 테스트위치(TP, 도 11에 도시됨)에 위치된 발광소자(L, 도 6에 도시됨)에 접속되기 위한 접속유닛(440, 도 10에 도시됨)을 포함할 수 있다.6, 10 and 11, the light emitting
상기 접속유닛(440)은 상기 발광소자 수납장치(1)에 수납된 발광소자(L)에 접속된다. 상기 접속유닛(440)은 발광소자(L)에 접속됨으로써, 발광소자(L)에 대한 전기적 특성을 테스트할 수 있다. 상기 접속유닛(440)은 발광소자(L)를 발광시킬 수도 있다. 상기 측정기구는 발광소자(L)가 방출한 광으로부터 발광소자(L)에 대한 광특성을 측정할 수 있다. 상기 접속유닛(440)은 상기 테스트위치(TP)에 위치된 발광소자(L)의 아래에 위치되게 설치된다.The
상기 접속유닛(440)은 상기 발광소자 수납장치(1)에 수납된 발광소자(L)에 접속되기 위한 접속핀(441, 도 6에 도시됨)을 포함한다. 상기 접속핀(441)은 상기 테스트위치(TP)에 위치된 발광소자(L)의 아래에 위치되게 설치된다. 상기 테스트위치(TP)에 발광소자(L)가 위치되면, 상기 접속유닛(440)은 상기 접속핀(441)을 상승시켜서 발광소자(L)에 접속시킬 수 있다. 이 경우, 상기 접속핀(441)은 상기 접속공(22, 도 6에 도시됨)에 삽입됨으로써 발광소자(L)에 접속된다. 상기 접속유닛(440)은 상기 접속핀(441)이 상기 발광소자 수납장치(1)에 수납된 발광소자(L)에 접속되면, 상기 접속핀(441)을 통해 발광소자(L)에 전기적 신호를 인가함으로써 발광소자(L)에 대한 전기적 특성을 테스트할 수 있다. 상기 접속유닛(440)은 상기 접속핀(441)이 상기 발광소자 수납장치(1)에 수납된 발광소자(L)에 접속되면, 상기 접속핀(441)을 통해 발광소자(L)에 전원을 공급함으로써 발광소자(L)를 발광시킬 수 있다.The
상기 접속유닛(440)은 상기 접속핀(441)을 승강(昇降)시키기 위한 승강수단(442, 도 10에 도시됨)을 포함할 수 있다. 상기 승강수단(442)은 상기 본체(400a)에 결합된다. 상기 승강수단(442)은 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 리니어모터 방식 등을 이용하여 상기 접속핀(441)을 승강시킬 수 있다.The
이하에서는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a preferred embodiment of a light emitting device test handler according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 13은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 개략적인 사시도, 도 14는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 개략적인 평면도, 도 15는 본 발명에 따른 분류부의 개략적인 사시도이다.13 is a schematic perspective view of a light emitting device test handler according to the present invention, FIG. 14 is a schematic plan view of a light emitting device test handler according to the present invention, and FIG. 15 is a schematic perspective view of a classification unit according to the present invention.
도 2, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부(200,도 14에 도시됨), 발광소자를 이송하기 위한 픽커부(300, 도 13에 도시됨), 상기 테스트장치(400), 및 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 분류부(500, 도 2에 도시됨)를 포함한다. 이러한 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 다음과 같이 동작한다.2, 13 to 15, the light emitting
우선, 상기 공급부(200)가 테스트될 발광소자를 상기 픽커부(300)에 공급한다. 다음, 상기 픽커부(300)는 상기 공급부(200)로부터 테스트될 발광소자를 픽업한 후에 상기 테스트장치(400)에 로딩한다. 다음, 상기 테스트장치(400)는 테스트될 발광소자를 상기 테스트유닛(20) 쪽으로 이송한다. 다음, 상기 테스트유닛(20)이 발광소자에 대한 테스트를 완료하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 테스트된 발광소자를 상기 테스트장치(400)로부터 언로딩한 후에 상기 분류부(500)로 이송한다. 다음, 상기 분류부(500)는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류한다.First, the
여기서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 커버부재(3, 도 2에 도시됨)가 상기 지지위치에 위치된 상태에서 발광소자에 대한 테스트가 이루어지도록 동작한다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치에 위치된 상태에서 발광소자가 로딩되고 언로딩되도록 동작한다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 다음과 같은 작용효과를 도모할 수 있다.Here, the light emitting
첫째, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 테스트위치(TP)에서 상기 커버부재(3)가 상기 수납부재(2, 도 2에 도시됨)에 수납된 발광소자를 지지하므로, 발광소자가 테스트되는 과정 등에서 발생하는 진동, 흔들림 등에 의해 발광소자가 상기 수납부재(2)로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 발광소자를 테스트하는 과정에서 발광소자에 대한 손실이 발생하는 것을 방지할 수 있다.First, the light emitting
둘째, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 구동유닛(430)이 상기 회전부재(420)를 회전시키는 속도를 증가시키더라도, 상기 커버부재(3)가 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자를 지지하므로 발광소자가 상기 수납부재(2)로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 수납장치(1)는 발광소자를 상기 로딩위치(LP, 도 14에 도시됨), 상기 테스트위치(TP, 도 14에 도시됨) 및 상기 언로딩위치(ULP, 도 14에 도시됨) 간에 이동시키는 과정에서 발생하는 진동, 흔들림 등에 의해 발광소자에 대한 손실이 발생하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 구동유닛(430)이 상기 회전부재(420)를 회전시키는 속도를 증가시킬 수 있으므로, 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는데 걸리는 시간을 단축할 수 있다.Second, the light emitting
셋째, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 커버부재(3)가 상기 해제위치로 이동하면, 발광소자가 상기 커버부재(3)에 방해됨이 없이 상기 수납부재(2)에 로딩될 수 있고, 상기 수납부재(2)로부터 언로딩될 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 발광소자를 상기 수납부재(2)에 안정적으로 수납할 수 있으면서도, 상기 커버부재(3)에 방해됨이 없이 발광소자를 로딩할 수 있고 발광소자를 언로딩할 수 있다.Third, in the light emitting
이하에서는 상기 공급부(200), 상기 픽커부(300) 및 상기 분류부(500)에 관해 첨부된 도면을 참조하여 구체적으로 설명한다. 상기 발광소자 수납장치(1)를 갖는 발광소자 테스트장치(400)는 상술한 바와 같으므로, 구체적인 설명은 생략한다.Hereinafter, the
도 2, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 상기 공급부(200)는 테스트될 발광소자를 공급한다. 상기 공급부(200)는 테스트될 발광소자를 픽업위치(PP, 도 14에 도시됨)로 이송함으로써, 테스트될 발광소자를 공급한다. 상기 픽업위치(PP)는 상기 픽커부(300)가 상기 공급부(200)로부터 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있는 위치이다. 상기 공급부(200)는 복수개의 발광소자를 저장하기 위한 보울 피더(Bowl Feeder)를 포함할 수 있다. 상기 공급부(200)는 상기 픽업위치(PP)에 복수개의 테스트될 발광소자가 위치되도록 테스트될 발광소자를 공급할 수도 있다.2 and 13 to 15, the
도 2, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 상기 픽커부(300)는 상기 공급부(200)와 상기 테스트장치(400) 사이에 위치되게 설치된다. 상기 픽커부(300)는 테스트될 발광소자를 상기 공급부(200)에서 상기 테스트부(400)로 이송한다. 상기 픽커부(300)는 테스트된 발광소자를 상기 테스트부(400)에서 상기 분류부(500)로 이송한다. 상기 픽커부(300)는 발광소자를 흡착하기 위한 복수개의 픽커(310) 및 상기 픽커(310)들을 이동시키는 이동기구(320)를 포함한다.2 and 13 to 15, the
상기 픽커(310)들은 흡입력을 이용하여 발광소자를 흡착한다. 도시되지 않았지만, 상기 픽커부(300)는 기체 등을 흡입하여 흡입력을 발생시키는 흡입장치를 포함할 수 있다. 상기 흡입장치는 상기 픽커(310)들에 연결된다. 상기 흡입장치는 흡입력을 발생시킴으로써, 상기 픽커(310)에 발광소자를 흡착시킬 수 있다. 상기 흡입장치가 흡입력을 소멸시키면, 발광소자는 상기 픽커(310)로부터 이격될 수 있다. 상기 픽커부(300)는 상기 흡입장치를 복수개 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 픽커부(300)는 상기 픽커(310)들의 개수와 대략 일치하는 개수의 흡입장치를 포함할 수 있다. 상기 픽커부(300)는 하나의 흡입장치를 상기 픽커(310)들에 연결하는 튜브들을 포함할 수도 있다.The
도시되지 않았지만, 상기 픽커부(300)는 기체 등을 분사하여 분사력을 발생시키는 분사장치를 포함할 수도 있다. 상기 분사장치는 상기 픽커(310)들에 연결된다. 상기 분사장치는 분사력을 발생시킴으로써, 상기 픽커(310)로부터 발광소자를 이격시킬 수 있다. 상기 픽커부(300)는 상기 분사장치를 복수개 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 픽커부(300)는 상기 픽커(310)들의 개수와 대략 일치하는 개수의 분사장치를 포함할 수 있다. 상기 픽커부(300)는 하나의 분사장치를 상기 픽커(310)들에 연결하는 튜브들을 포함할 수도 있다.Although not shown, the
상기 이동기구(320)는 상기 픽커(310)들이 상기 공급부(200) 및 상기 테스트장치(400)에 순차적으로 위치되도록 상기 픽커(310)들을 이동시킨다. 즉, 상기 픽커(310)들은 상기 공급부(200) 및 상기 테스트장치(400)에 순차적으로 위치되면서 순환된다. 상기 이동기구(320)는 회전축(320a, 도 14에 도시됨)을 중심으로 상기 픽커(310)들을 회전시킴으로써, 상기 픽커(310)들이 상기 공급부(200) 및 상기 테스트장치(400)에 순차적으로 위치되도록 순환 이동시킬 수 있다.The moving
상기 이동기구(320)는 상기 픽커(310)들을 이동시키기 위한 구동력을 발생시키는 모터(미도시)를 포함할 수 있다. 상기 모터는 상기 회전축(320a)에 직접 결합되어 상기 픽커(310)들을 회전시킬 수 있다. 상기 모터와 상기 회전축(320a)이 소정 거리로 이격되게 설치되는 경우, 상기 이동기구(320)는 상기 회전축(320a)에 결합되는 샤프트, 상기 샤프트와 상기 모터를 연결하는 연결수단을 포함할 수 있다. 상기 연결수단은 풀리, 벨트 등을 포함할 수 있다.The moving
상기 이동기구(320)는 상기 픽커(310)들이 상기 픽업위치(PP, 도 14에 도시됨)에 순차적으로 위치되도록 상기 픽커(310)들을 회전시킨다. 상기 픽업위치(PP)에 위치되는 픽커(310)는, 상기 공급부(200)로부터 테스트될 발광소자를 픽업하는 작업을 수행한다.The moving
상기 이동기구(320)는 상기 픽커(310)들이 상기 로딩위치(LP, 도 14에 도시됨)에 순차적으로 위치되도록 상기 픽커(310)들을 회전시킨다. 상기 로딩위치(LP)에 위치되는 픽커(310)는, 상기 테스트장치(400)에 테스트될 발광소자를 로딩하는 작업을 수행한다. 상기 로딩위치(LP)에 위치되는 픽커(310)는, 상기 픽업위치(PP)를 거친 것이다.The moving
상기 이동기구(320)는 상기 픽커(310)들이 상기 언로딩위치(ULP, 도 14에 도시됨)에 순차적으로 위치되도록 상기 픽커(310)들을 회전시킨다. 상기 언로딩위치(ULP)에 위치되는 픽커(310)는, 상기 테스트장치(400)로부터 테스트된 발광소자를 언로딩하는 작업을 수행한다. 상기 언로딩위치(ULP)에 위치되는 픽커(310)는, 상기 로딩위치(LP)를 거친 것이다.The moving
도 2, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 상기 픽커부(300)는 상기 픽커(310)들이 설치되는 설치부재(330)를 포함한다. 상기 설치부재(330)에는 상기 픽커(310)들이 서로 소정 거리 이격되게 설치된다. 상기 이동기구(320)는 상기 설치부재(330)에 결합된다. 상기 이동기구(320)는 상기 설치부재(330)를 상기 회전축(320a)을 중심으로 회전시킴으로써, 상기 픽커(310)들을 회전시킬 수 있다. 상기 설치부재(330)에는 상기 픽커(310)들이 상기 회전축(320a)을 중심으로 서로 동일한 각도로 이격되게 설치될 수 있다. 상기 설치부재(330)는 원반형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 복수개의 픽커(310)들이 설치될 수 있는 형태이면 사각판형 등 다른 형태로 형성될 수도 있다.2 and 13 to 15, the
도 2, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 상기 픽커부(300)는 상기 픽커(310)들 중에서 일부의 픽커(310)들을 함께 승강시키기 위한 승강유닛(340, 도 13에 도시됨)을 더 포함한다.2 and 13 to 15, the
상기 승강유닛(340)은 상기 픽커(310)들 중에서 상기 픽업위치(PP, 도 14에 도시됨), 상기 로딩위치(LP, 도 14에 도시됨) 및 상기 언로딩위치(ULP, 도 14에 도시됨)에 위치된 픽커(310)들을 함께 승강시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 픽업위치(PP)에 위치된 픽커(310)는 상기 공급부(200)로부터 테스트될 발광소자를 픽업하고, 상기 로딩위치(LP)에 위치된 픽커(310)는 상기 테스트장치(400)에 테스트될 발광소자를 로딩하며, 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된 픽커(310)는 상기 테스트장치(400)로부터 테스트된 발광소자를 언로딩할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 복수개의 승강유닛(340)을 구비하는 것에 비교할 때, 장비를 간결하게 구성할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 승강유닛(340)이 상기 픽커(310)들 전부가 승강되도록 상기 설치부재(330)를 승강시키는 것에 비교할 때, 상기 승강유닛(340)이 승강시켜야 하는 구성요소의 개수를 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 승강유닛(340)에 가해지는 부하를 줄일 수 있다.The
상기 승강유닛(340)은 상기 픽업위치(PP), 상기 로딩위치(LP) 및 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된 픽커(310)들을 함께 누르기 위한 승강부재(341, 도 13에 도시됨), 및 상기 승강부재(341)를 승강시키기 위한 승강기구(342, 도 13에 도시됨)를 포함할 수 있다.The
상기 승강부재(341)는 상기 승강기구(342)에 의해 승강된다. 상기 승강부재(341)는 상기 픽업위치(PP), 상기 로딩위치(LP) 및 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된 픽커(310)들 위에 위치되게 설치된다. 이에 따라, 상기 승강부재(341)는 상기 승강기구(342)에 의해 하강되면, 상기 픽업위치(PP), 상기 로딩위치(LP) 및 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된 픽커(310)들을 함께 누름으로써 해당 픽커(310)들을 하강시킬 수 있다. 상기 승강부재(341)가 상기 승강기구(342)에 의해 상승되면, 상기 픽업위치(PP), 상기 로딩위치(LP) 및 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된 픽커(310)들은 상승된다. The lifting
상기 승강부재(341)는 상기 설치부재(330)가 회전하더라도 회전하지 않도록 설치된다. 이에 따라, 상기 승강부재(341)는 상기 설치부재(330)가 회전함에 따라 상기 픽업위치(PP), 상기 로딩위치(LP) 및 상기 언로딩위치(ULP)에 순차적으로 위치되는 픽커(310)들을 함께 승강시킬 수 있다. 상기 픽커부(300)는 상기 승강부재(341)가 결합되는 고정프레임(350, 도 13에 도시됨)을 포함한다. 상기 고정프레임(350)은 상기 승강부재(341)가 상기 픽업위치(PP), 상기 로딩위치(LP) 및 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된 픽커(310)들 위에 위치되도록 상기 승강부재(341)를 지지한다.The elevating
도 2, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 상기 승강기구(342, 도 13에 도시됨)는 상기 승강부재(341, 도 13에 도시됨)를 승강시킨다. 상기 승강기구(342)는 상기 고정프레임(350, 도 13에 도시됨)에 결합될 수 있다. 상기 승강기구(342)는 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 리니어모터 방식 등을 이용하여 상기 승강부재(341)를 승강시킬 수 있다. 상기 승강부재(341)는 상기 승강기구(342)에 결합된다.2 and 13 to 15, the elevating mechanism 342 (shown in FIG. 13) elevates the elevating member 341 (shown in FIG. 13). The
도 2, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 상기 분류부(500, 도 15에 도시됨)는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류한다. 상기 분류부(500)는 상기 테스트장치(400)로부터 언로딩된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류한다. 상기 분류부(500)는 상기 테스트장치(400)의 아래에 위치되게 설치될 수 있다. 상기 분류부(500)는 상기 픽커부(300)의 아래에 위치되게 설치될 수도 있다.Referring to FIGS. 2 and 13 to 15, the classification unit 500 (shown in FIG. 15) classifies the tested light emitting devices by grades according to test results. The
상기 분류부(500)는 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하기 위해 이동하는 분류기구(510, 도 15에 도시됨) 및 테스트된 발광소자를 수납하기 위한 복수개의 수납기구(520, 도 15에 도시됨)를 포함한다.The
상기 분류기구(510)는 상기 테스트장치(400)로부터 언로딩된 발광소자를 상기 수납기구(520)들 쪽으로 전달한다. 상기 분류기구(510)는 상기 수납기구(520)들 중에서 발광소자가 갖는 등급에 해당하는 수납기구(520)로 테스트된 발광소자가 이송되도록 이동한다. 상기 분류기구(510)는 테스트된 발광소자가 반입되기 위한 반입구 및 테스트된 발광소자가 반출되기 위한 반출구를 포함한다. 상기 분류기구(510)는 상기 반입구 및 상기 반출구 각각에 연통되게 연결되는 이동로(미도시)를 포함할 수 있다. 테스트된 발광소자는 상기 반입구를 통해 상기 분류기구(510) 내부로 진입한 후, 상기 이동로를 통과하여 상기 반출구를 통해 상기 분류기구(510)로부터 반출된다.The
상기 분류기구(510)는 상기 반출구가 향하는 방향이 변경되도록 이동한다. 상기 분류기구(510)는 상기 반출구가 상기 수납기구(520)들 중에서 발광소자가 갖는 등급에 해당하는 수납기구(520) 쪽을 향하도록 이동한다. 테스트된 발광소자는 상기 반출구가 향하는 방향으로 반출됨으로써, 그 등급에 해당하는 수납기구(520)에 수납된다. 이에 따라, 상기 분류부(500)는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류할 수 있다. 상기 분류기구(510)는 X축 방향(도 15에 도시됨) 및 Y축 방향(도 15에 도시됨)으로 직선 이동함으로써, 상기 반출구가 향하는 방향을 변경한다. 도시되지 않았지만, 상기 분류기구(510)는 상기 반입구를 중심으로 피벗(pivot) 이동함으로써, 상기 반출구가 향하는 방향을 변경할 수도 있다. 상기 분류기구(510)는 X축 방향으로 회전 이동하고, Y축 방향으로 직선 이동함으로써, 상기 반출구가 향하는 방향을 변경할 수도 있다. 상기 분류기구(510)는 X축 방향 및 Y축 방향으로 회전 이동함으로써, 상기 반출구가 향하는 방향을 변경할 수도 있다.The
도시되지 않았지만, 상기 분류부(500)는 상기 반출구가 향하는 방향이 변경되도록 상기 제1분류기구(510)를 이동시키는 제1구동수단을 포함할 수 있다. 상기 제1구동수단은 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 리니어모터 방식 등을 이용하여 상기 제1분류기구(510)를 이동시킬 수 있다.Although not shown, the
도 2, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 상기 수납기구(520, 도 15에 도시됨)들은 상기 분류기구(510, 도 15에 도시됨)로부터 이송되는 발광소자를 수납한다. 상기 수납기구(520)들은 상기 분류기구(510)에 의해 등급별로 분류되는 발광소자를 구분하여 수납한다. 상기 수납기구(520)들은 상기 분류기구(510)의 아래에 위치되게 설치된다. 상기 수납기구(520)는 일측이 개방된 원통 형태로 형성된다. 테스트된 발광소자는 상기 분류기구(510)로부터 반출된 후, 상기 수납기구(520)의 개방된 일측을 통해 상기 수납기구(520) 내부에 수납될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 수납기구(520)는 일측이 개방된 직방체 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다.2 and 13 to 15, the accommodating mechanisms 520 (shown in FIG. 15) accommodate the light emitting devices transferred from the sorting mechanism 510 (shown in FIG. 15). The
상기 분류부(500, 도 15에 도시됨)는 테스트된 발광소자를 분류하고자 하는 등급 개수와 대략 일치하거나 테스트된 발광소자를 분류하고자 하는 등급 개수보다 많은 개수의 수납기구(520)를 포함할 수 있다. 상기 수납기구(520)들은 서로 소정 거리 이격되게 설치될 수 있다.The classification unit 500 (shown in FIG. 15) may include a number of
도 15를 참고하면, 상기 분류부(500)는 상기 분류기구(510)와 상기 수납기구(520)들 사이에 위치되게 설치되는 복수개의 연결기구(530)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 15, the
상기 연결기구(530)들은 일측이 상기 분류기구(510) 쪽을 향하고, 타측이 상기 수납기구(520)들 쪽을 향하도록 설치된다. 상기 연결기구(530)는 타측이 상기 수납기구(520)들 각각에 일대일로 대응되도록 설치된다. 상기 연결기구(530)들은 서로 소정 거리 이격되게 설치된다. 상기 분류기구(510)는 상기 반출구가 상기 연결기구(530)들 중에서 어느 하나를 향하도록 이동한다. 테스트된 발광소자는 상기 반출구를 통해 상기 분류기구(510)로부터 반출된 후에, 그 등급에 해당하는 연결기구(530)를 통과하여 상기 수납기구(520)에 수납된다. 상기 분류부(500)는 상기 수납기구(520)들의 개수와 대략 일치하는 개수의 연결기구(530)를 포함할 수 있다.The
상기 연결기구(530)들로 인해 상기 분류기구(510)와 상기 수납기구(520)들은 서로 소정 거리로 이격된 위치에 설치될 수 있다. 상기 연결기구(530)들은 상기 분류기구(510)에서 상기 수납기구(520)가 설치된 방향을 향할수록 서로 간의 간격이 벌어지도록 형성된다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 분류기구(510)가 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하기 위해 이동하는 거리를 줄이면서도, 상기 수납기구(520)들이 서로 충분한 거리로 이격되도록 구현될 수 있다. 상기 연결기구(530)로 호스가 이용될 수 있다. 예컨대, 상기 연결기구(530)로 고무호스, 플라스틱호스, 또는 메탈호스 등이 이용될 수 있다.The
도시되지 않았지만, 상기 분류부(500)는 상기 분류기구(510)와 상기 수납기구(520)를 각각 복수개 포함할 수도 있다. 상기 분류부(500)는 상기 연결기구(530)를 복수개 포함할 수도 있다.Although not shown, the
도 2, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 테스트된 발광소자를 상기 분류부(500, 도 15에 도시됨)로 이송하기 위한 이송부(600, 도 13에 도시됨)를 더 포함한다. 상기 이송부(600)는 상기 테스트장치(400)로부터 이격된 위치에서 상기 픽커부(300)의 아래에 위치되게 설치된다. 상기 이송부(600)는 일측이 상기 픽커부(300)의 아래에 위치되게 설치되고, 타측이 상기 분류부(500)에 연결되게 설치된다.2, 13 to 15, the light emitting
테스트된 발광소자는 상기 픽커부(300)에 의해 상기 테스트장치(400)에서 픽업되어 상기 이송부(600)의 위에 위치되게 이송된 후, 상기 픽커부(300)로부터 이격된다. 이에 따라, 테스트된 발광소자는 상기 이송부(600) 쪽으로 낙하하여 상기 이송부(600) 내부로 삽입된 후에, 상기 분류부(500)로 이동한다. 상기 분류부(500)는 상기 이송부(600)로부터 이송되는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류한다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 다음과 같은 작용효과를 도모할 수 있다.The tested light emitting device is picked up by the
첫째, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 이송부(600)가 상기 테스트장치(400)와 구조적으로 간섭되지 않게 설치되므로, 상기 이송부(600)와 상기 테스트장치(400)에 대한 설치작업의 용이성을 향상시킬 수 있다.First, the light emitting
둘째, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 이송부(600)가 상기 테스트장치(400)에 설치되지 않으므로, 상기 테스트장치(400)에 상기 테스트유닛(20)을 설치하기 위해 부여되는 설치면적을 증대시킬 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 테스트유닛(20)을 상기 테스트장치(400)에 설치하는 작업에 대한 용이성을 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 이송부(600)가 상기 테스트장치(400)에 설치되지 않으므로, 상기 테스트장치(400)에 설치되는 구성요소의 개수를 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 테스트장치(400)에 많은 구성요소가 설치됨에 따라 장비가 복잡하게 구성되는 것을 방지함으로써, 장비를 간결하게 구성할 수 있다.Second, the light emitting
셋째, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 이송부(600)가 상기 픽커부(300)로부터 테스트된 발광소자를 이송받으므로, 상기 이송부(600)가 상기 테스트장치(400)에 위치된 발광소자에 근접하게 위치되도록 설치될 필요가 없다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 테스트장치(400)가 회전함에 따라 진동, 흔들림 등이 발생하더라도, 상기 이송부(600)가 상기 테스트장치(400)에 위치된 발광소자와 충돌하지 않도록 구현된다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 발광소자가 상기 이송부(600)에 충돌함에 따라 발광소자가 손상 내지 손실되는 것을 방지할 수 있다.Third, since the light emitting
넷째, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 테스트장치(400)가 회전함에 따라 진동, 흔들림 등이 발생하더라도, 상기 이송부(600)가 상기 테스트장치(400)와 충돌하지 않도록 구현된다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 이송부(600)와 상기 테스트장치(400)가 충돌함에 따라 상기 이송부(600)와 상기 테스트장치(400)가 파손 내지 손상되는 것을 방지할 수 있다.Fourth, the light emitting
도 2, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 상기 이송부(600, 도 13에 도시됨)는 상기 픽커부(300)의 아래에 위치되게 설치되는 이송본체(610, 도 13에 도시됨) 및 상기 이송본체(610)와 상기 분류부(500)를 연결하는 연결부(620, 도 13에 도시됨)를 포함한다.2, 13 to 15, the transfer unit 600 (shown in FIG. 13) is a transfer main body 610 (shown in FIG. 13) installed below the
상기 이송본체(610)는 상기 픽커부(300)로부터 이송되는 발광소자가 상기 연결부(620)로 이송되도록 전달한다. 상기 이송본체(610)는 상기 픽커(310, 도 13에 도시됨)들이 회전되는 경로의 아래에 위치되게 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 픽커부(300)가 발광소자를 이송하기 위해 상기 픽커(310)들을 회전시키는 과정에서, 상기 픽커(310)들은 상기 이송본체(610)의 위에 순차적으로 위치된다. 따라서, 상기 픽커(310)들은 상기 테스트장치(400, 도 13에 도시됨)로부터 테스트된 발광소자를 픽업한 후에, 상기 이송본체(610)의 위에 순차적으로 위치되도록 회전됨으로써 테스트된 발광소자를 상기 이송본체(610)로 이송할 수 있다.The
이 경우, 상기 이동유닛(320, 도 14에 도시됨)은 상기 픽커(310, 도 14에 도시됨)들이 이격위치(SP, 도 14에 도시됨)에 순차적으로 위치되도록 상기 설치부재(330)를 회전시킨다. 상기 이격위치(SP)에 위치되는 픽커(310)는, 상기 이송본체(610)의 위에 위치된다. 이에 따라, 상기 이격위치(SP)에 위치된 픽커(310)가 테스트된 발광소자를 이격시키면, 테스트된 발광소자는 상기 이송본체(610) 내부에 삽입된다. 그리고, 테스트된 발광소자는 상기 이송본체(610) 및 상기 연결부(620)를 통과하여 상기 분류부(500, 도 15에 도시됨)로 이송됨으로써, 테스트 결과에 따라 등급별로 분류된다. 상기 이격위치(SP)에 위치되는 픽커(310)는, 상기 언로딩위치(ULP)를 거친 것이다. 상기 이동유닛(320)은 상기 이격위치(SP)에 위치된 픽커(310)를 다시 상기 픽업위치(PP)로 이동시킨다.In this case, the moving unit 320 (shown in FIG. 14) is the
상기 이송본체(610)는 상기 테스트부(400)로부터 소정 거리 이격되게 설치된다. 이에 따라, 상기 이송본체(610)는 상기 테스트부(400)에 대해 구조적으로 간섭되지 않게 설치된다. 상기 이송본체(610)는 직방체 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 원통 형태, 원반 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다. 상기 이송부(600)는 상기 이송본체(610)를 지지하기 위한 지지부재(630, 도 13에 도시됨)를 포함한다. 상기 이송본체(610)는 상기 픽커부(300)의 아래에 위치되도록 상기 지지부재(630)에 결합된다.The
도 2, 도 13 내지 도 15를 참고하면, 상기 연결부(620, 도 13에 도시됨)는 일측이 상기 이송본체(610)에 결합된다. 상기 연결부(620)는 타측이 상기 분류기구(510, 도 15에 도시됨)에 결합된다. 이에 따라, 테스트된 발광소자는 상기 픽커부(300)로부터 이격됨에 따라 낙하한 후, 상기 이송본체(610)와 상기 연결부(620)를 통과하여 상기 분류부(500)로 이동한다. 상기 연결부(620)는 발광소자가 이동하는 통로로써 기능할 수 있도록 호스 형태로 형성될 수 있다. 상기 연결부(620)는 상기 분류기구(510)가 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하기 위해 동작하는데 방해되지 않도록 유연성을 갖는 재질로 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 연결부(620)는 고무호스, 플라스틱호스 등일 수 있다.2, 13 to 15, the connection portion (620, shown in Figure 13) is one side is coupled to the
도시되지 않았지만, 상기 이송부(600)는 상기 이송본체(610)와 상기 연결부(620)를 각각 복수개 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 이송본체(610)들은 상기 픽커(310, 도 13에 도시됨)들이 회전되는 경로의 아래에서 서로 소정 거리 이격되게 위치되게 설치될 수 있다. 상기 연결부(620)들은 서로 다른 분류기구(510, 도 15에 도시됨)에 연결되게 설치될 수 있다.Although not shown, the
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiments and the accompanying drawings, and it is common in the art that various substitutions, modifications, and changes can be made without departing from the technical spirit of the present invention. It will be apparent to those who have knowledge.
1 : 발광소자 수납장치 2 : 수납부재 3 : 커버부재 4 : 탄성부재
100 : 발광소자 테스트 핸들러 200 : 공급부 300 : 픽커부
400 : 테스트장치 500 : 분류부 600 : 이송부DESCRIPTION OF
DESCRIPTION OF
400: test apparatus 500: classification part 600: transfer part
Claims (13)
발광소자가 통과하기 위한 통과공을 포함하고, 상기 수납부재에 이동 가능하게 결합되는 커버부재를 포함하고,
상기 커버부재는 테스트장치에 설치된 캠부재에 지지되면 상기 통과공이 상기 수납홈의 위에 위치되는 해제위치로 이동하고, 상기 캠부재로부터 이격되면 상기 수납홈에 수납된 발광소자를 지지하는 지지위치로 이동하는 것을 특징으로 하는 발광소자 수납장치.An accommodating member including an accommodating groove for accommodating the light emitting element and supporting the light emitting element accommodated in the accommodating groove; And
It includes a through hole for the light emitting device to pass through, and comprises a cover member movably coupled to the receiving member,
When the cover member is supported by the cam member installed in the test apparatus, the through hole moves to a release position positioned above the accommodating groove, and when the cover member is spaced apart from the cam member, the cover member moves to a support position supporting the light emitting element accommodated in the accommodating groove. Light emitting device storage device characterized in that.
상기 커버부재는 발광소자가 방출하는 광을 통과시키기 위한 관통공을 포함하되, 상기 관통공은 상기 수납부재에서 상기 커버부재를 향하는 방향을 향할수록 크기가 커지도록 형성되는 것을 특징으로 하는 발광소자 수납장치.The method of claim 1,
The cover member includes a through hole for passing the light emitted by the light emitting device, the through hole is formed so as to increase in size toward the direction from the receiving member toward the cover member Device.
일측이 상기 수납부재에 결합되고, 타측이 상기 커버부재에 결합되는 탄성부재를 포함하고;
상기 탄성부재는 상기 커버부재가 상기 캠부재에 지지되면 상기 커버부재가 상기 해제위치로 이동하도록 늘어나고, 상기 커버부재가 상기 캠부재로부터 이격되면 상기 커버부재가 상기 지지위치로 이동하도록 압축되는 것을 특징으로 하는 발광소자 수납장치.The method of claim 1,
One side is coupled to the receiving member, the other side includes an elastic member coupled to the cover member;
The elastic member is stretched so that the cover member moves to the release position when the cover member is supported by the cam member, and the cover member is compressed to move to the support position when the cover member is spaced apart from the cam member. A light emitting element accommodating device.
상기 커버부재는 상기 캠부재에 접촉되기 위한 접촉부재를 포함하고;
상기 접촉부재는 상기 캠부재에 접촉되어 마찰력에 의해 회전되는 것을 특징으로 하는 발광소자 수납장치.The method of claim 1,
The cover member includes a contact member for contacting the cam member;
The contact member is in contact with the cam member, the light emitting device receiving device, characterized in that rotated by friction.
상기 수납부재는 발광소자를 테스트하기 위한 접속핀이 상기 수납홈에 수납된 발광소자에 접속되도록 상기 접속핀이 삽입되기 위한 접속공을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 수납장치.The method of claim 1,
The accommodating member includes a light emitting element accommodating device, wherein the accommodating pin is connected to the light emitting element accommodated in the accommodating groove, so that the connecting pin is inserted into the accommodating member.
상기 수납부재가 복수개 결합되는 회전부재;
상기 수납부재에 발광소자가 로딩되는 로딩위치, 상기 수납부재로부터 발광소자가 언로딩되는 언로딩위치, 및 발광소자가 테스트되는 테스트위치에 상기 수납부재들이 순차적으로 위치되도록 상기 회전부재를 회전시키는 구동유닛;
상기 수납부재 각각에 이동 가능하게 결합되는 복수개의 커버부재; 및
상기 커버부재가 상기 수납부재에 수납된 발광소자를 지지하는 지지위치 및 상기 커버부재가 상기 수납부재에 수납된 발광소자에 대한 지지력을 해제시키는 해제위치 간에 상기 커버부재를 이동시키기 위한 이동유닛을 포함하는 발광소자 테스트장치.An accommodating member for accommodating the light emitting element;
A rotating member having a plurality of receiving members coupled thereto;
A drive for rotating the rotating member so that the housing members are sequentially positioned in a loading position where the light emitting element is loaded into the housing member, an unloading position where the light emitting element is unloaded from the housing member, and a test position where the light emitting element is tested. unit;
A plurality of cover members movably coupled to each of the receiving members; And
And a moving unit for moving the cover member between a support position at which the cover member supports the light emitting element accommodated in the accommodating member and a release position at which the cover member releases the support force for the light emitting element accommodated in the accommodating member. Light emitting device test apparatus.
상기 회전부재가 회전 가능하게 결합되는 본체를 포함하고,
상기 이동유닛은 상기 로딩위치와 상기 언로딩위치에 위치되게 상기 본체에 결합되는 캠부재를 포함하며,
상기 커버부재는 상기 캠부재에 지지되면 상기 해제위치로 이동하고, 상기 캠부재로부터 이격되면 상기 지지위치로 이동하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트장치.The method according to claim 6,
A main body rotatably coupled to the rotating member,
The mobile unit includes a cam member coupled to the main body to be located at the loading position and the unloading position,
And the cover member moves to the release position when supported by the cam member, and moves to the support position when spaced apart from the cam member.
상기 커버부재는 발광소자가 통과하기 위한 통과공을 포함하고;
상기 이동유닛은 상기 로딩위치와 상기 언로딩위치에서 상기 통과공이 상기 수납부재에 수납된 발광소자의 위에 위치되도록 상기 커버부재를 상기 해제위치로 이동시키는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트장치.The method according to claim 6,
The cover member includes a through hole through which the light emitting device passes;
And the moving unit moves the cover member to the release position such that the through hole is positioned above the light emitting element accommodated in the accommodating member in the loading position and the unloading position.
일측이 상기 수납부재에 결합되고, 타측이 상기 커버부재에 결합되는 복수개의 탄성부재를 포함하고;
상기 이동유닛은 상기 로딩위치와 상기 언로딩위치에서 상기 커버부재를 상기 해제위치로 이동시키기 위한 캠부재를 포함하며;
상기 탄성부재는 상기 커버부재가 상기 캠부재에 지지되면 상기 커버부재가 상기 해제위치로 이동하도록 늘어나고, 상기 커버부재가 상기 캠부재로부터 이격되면 상기 커버부재가 상기 지지위치로 이동하도록 압축되는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트장치.The method according to claim 6,
One side is coupled to the receiving member, the other side includes a plurality of elastic members coupled to the cover member;
The moving unit includes a cam member for moving the cover member to the release position at the loading position and the unloading position;
The elastic member is stretched so that the cover member moves to the release position when the cover member is supported by the cam member, and the cover member is compressed to move to the support position when the cover member is spaced apart from the cam member. Light emitting device test apparatus.
상기 이동유닛은 상기 로딩위치와 상기 언로딩위치에서 상기 커버부재를 상기 해제위치로 이동시키기 위한 캠부재를 포함하고;
상기 커버부재는 발광소자가 방출하는 광을 통과시키기 위한 관통공, 및 상기 캠부재에 접촉되어 마찰력에 의해 회전되는 접촉부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트장치.The method according to claim 6,
The moving unit includes a cam member for moving the cover member to the release position at the loading position and the unloading position;
The cover member includes a through hole for passing the light emitted by the light emitting device, and a light emitting device test apparatus comprising a contact member that is in contact with the cam member is rotated by a frictional force.
상기 테스트위치에서 상기 수납부재에 수납된 발광소자에 접속되기 위한 접속핀을 포함하고,
상기 수납부재는 상기 접속핀이 발광소자에 접속되도록 상기 접속핀이 삽입되기 위한 접속공을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트장치.The method according to claim 6,
A connection pin for connecting to the light emitting element accommodated in the accommodation member at the test position;
The accommodating member includes a light emitting device testing device, characterized in that the connection pin is inserted into the connection pin so that the connection pin is connected to the light emitting device.
상기 공급부로부터 이격되게 설치되고, 발광소자를 테스트하기 위한 테스트유닛이 설치되는 제6항 내지 제11항 중 어느 하나의 발광소자 테스트장치;
발광소자를 이송하기 위해 상기 공급부와 상기 테스트장치 사이에 위치되게 설치되는 픽커부; 및
테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 분류부를 포함하는 발광소자 테스트 핸들러.A supply unit for supplying a light emitting device to be tested;
A light emitting device test apparatus according to any one of claims 6 to 11, spaced apart from the supply unit, and having a test unit for testing a light emitting device;
A picker unit installed to be positioned between the supply unit and the test apparatus to transfer the light emitting device; And
A light emitting device test handler including a classifying unit for classifying the tested light emitting devices by grades according to test results.
상기 테스트장치로부터 이격된 위치에서 상기 픽커부의 아래에 위치되게 설치되는 이송부를 포함하고;
상기 이송부는 상기 픽커부로부터 이격되는 테스트된 발광소자를 상기 분류부로 이송하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.The method of claim 12,
A transfer part installed to be located below the picker part at a position spaced apart from the test apparatus;
The transfer unit transfers the tested light emitting device spaced apart from the picker unit to the classification unit.
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|---|---|---|---|
| KR1020120062635A KR101305082B1 (en) | 2012-06-12 | 2012-06-12 | Apparatus for containing and testing luminous element, and luminous element test handler having the same |
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Citations (2)
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|---|---|---|---|---|
| KR20100069136A (en) * | 2008-12-16 | 2010-06-24 | 미래산업 주식회사 | Luminous element test handler and classify method for luminous element |
| KR20110027225A (en) * | 2009-09-10 | 2011-03-16 | (주)제이티 | Apparatus for inspecting led device |
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