KR101015588B1 - Apparatus for molding an electronic device - Google Patents

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Abstract

기판과 상기 기판 상에 실장된 반도체 칩들을 포함하는 전자 부품을 용융된 수지로 몰딩하기 위한 장치에서, 두 개의 금형들은 제1 방향으로 배열되며, 로드는 전자 부품들을 몰딩하기 위한 수지 분말을 적재한 트레이들 및 상기 전자 부품들을 상기 금형들로 로딩하기 위하여 상기 금형들 사이에 배치된다. 픽업 유닛은 상기 로더로 상기 전자 부품들을 이송하기 위하여 상기 제1 방향에 대하여 수직하는 제2 방향으로 상기 로더의 일측에 배치된다. 수지 공급부는 상기 로더로 상기 수지 분말이 적재된 트레이들을 이송하기 위하여 상기 픽업 유닛에 대향하는 상기 로더의 타측에 배치된다.

Figure R1020080074557

In an apparatus for molding an electronic component comprising a substrate and semiconductor chips mounted on the substrate with molten resin, two molds are arranged in a first direction, and the rod is loaded with resin powder for molding the electronic components. It is disposed between the molds for loading trays and the electronic components into the molds. A pickup unit is disposed on one side of the loader in a second direction perpendicular to the first direction to transfer the electronic components to the loader. The resin supply unit is disposed on the other side of the loader opposite to the pickup unit to transfer the trays loaded with the resin powder to the loader.

Figure R1020080074557

Description

전자 부품 몰딩 장치{Apparatus for molding an electronic device}Apparatus for molding an electronic device

본 발명은 전자 부품 몰딩 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 기판 상에 실장된 반도체 칩들을 수지로 몰딩하는 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an electronic component molding apparatus. More particularly, the present invention relates to an apparatus for molding semiconductor chips mounted on a substrate with a resin.

반도체 장치와 같은 전자 부품의 몰딩 공정은 에폭시 수지와 같은 성형재를 이용하여 기판 상에 실장된 반도체 칩들을 패키징하기 위하여 수행될 수 있다. 상기 몰딩 공정은 상기 전자 부품의 몰딩 공간을 제공하는 금형을 갖는 몰딩 장치에 의해 수행될 수 있다.A molding process of an electronic component such as a semiconductor device may be performed to package semiconductor chips mounted on a substrate using a molding material such as an epoxy resin. The molding process may be performed by a molding apparatus having a mold for providing a molding space of the electronic component.

상기와 같은 몰딩 장치의 일 예는 대한민국 특허 제776630호에 개시되어 있다. 상기 대한민국 특허 제776630호에 의하면, 일반적인 몰딩 장치는 일렬로 배열된 다수의 금형들과, 상기 금형들의 배열 방향과 평행한 방향으로 이동 가능하게 구비되는 로더를 포함할 수 있다. 상기 로더는 상기 금형들로 전자 부품들 및 상기 전자 부품들을 몰딩하기 위한 수지 분말이 적재된 트레이들을 이송할 수 있다.An example of such a molding apparatus is disclosed in Korean Patent No. 776630. According to the Republic of Korea Patent No. 776630, a general molding apparatus may include a plurality of molds arranged in a line, and a loader provided to be movable in a direction parallel to the array direction of the molds. The loader may transfer electronic components and trays loaded with resin powder for molding the electronic components to the molds.

또한, 상기 전자 부품들이 수납된 제1 매거진들과 몰딩된 전자 부품들이 수납되는 제2 매거진들은 상기 금형들의 배열 방향으로 상기 금형들의 양측에 각각 배치될 수 있다. 상기 제1 매거진들과 인접하게는 제1 매거진 엘리베이터가 배치될 수 있으며, 상기 제1 매거진 엘리베이터와 상기 로더 사이에는 상기 전자 부품들을 이송하기 위한 제1 픽업 유닛이 배치될 수 있다. 또한, 상기 제2 매거진들과 인접하게는 제2 매거진 엘리베이터가 배치될 수 있으며, 상기 제2 매거진 엘리베이터와 상기 로더 사이에는 상기 몰딩된 전자 부품들을 이송하기 위한 제2 픽업 유닛이 배치될 수 있다.In addition, the first magazines in which the electronic components are accommodated and the second magazines in which the molded electronic components are accommodated may be disposed at both sides of the molds in the arrangement direction of the molds. A first magazine elevator may be disposed adjacent to the first magazines, and a first pickup unit for transferring the electronic components may be disposed between the first magazine elevator and the loader. In addition, a second magazine elevator may be disposed adjacent to the second magazines, and a second pickup unit may be disposed between the second magazine elevator and the loader to transfer the molded electronic components.

상기와 같은 일반적인 몰딩 장치를 사용하는 경우, 상기 제1 매거진으로부터 제2 매거진까지 상기 전자 부품이 이동하는 거리가 상대적으로 길기 때문에 상기 몰딩 공정을 수행하는데 소요되는 시간이 증가될 수 있다. 또한, 상기 제1 매거진들과 제2 매거진들이 상기 금형들의 양측에 배치되므로 상기 몰딩 장치의 크기가 증가될 수 있다.In the case of using the general molding apparatus as described above, the time required to perform the molding process may be increased because the distance that the electronic component moves from the first magazine to the second magazine is relatively long. In addition, since the first magazines and the second magazines are disposed on both sides of the molds, the size of the molding apparatus may be increased.

상술한 바와 같은 문제점들을 해결하기 위한 본 발명의 목적은 감소된 크기를 갖고 전자 부품에 대한 몰딩 공정에 소요되는 시간을 감소시킬 수 있는 전자 부품 몰딩 장치를 제공하는데 있다.An object of the present invention for solving the above problems is to provide an electronic component molding apparatus having a reduced size and can reduce the time required for the molding process for the electronic component.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 전자 부품 몰딩 장치는, 제1 방향으로 배열되며 전자 부품들을 몰딩하기 위한 두 개의 금형들과, 상기 금형들 사이에 배치되며 상기 전자 부품들을 몰딩하기 위한 수지 분말이 적재된 트레이들 및 상기 전자 부품들을 상기 금형들로 로딩하기 위한 로더와, 상기 제1 방향에 대하여 수직하는 제2 방향으로 상기 로더의 일측에 배치되고 상기 로더로 상기 전자 부품들을 이송하는 픽업 유닛과, 상기 픽업 유닛에 대향하는 상기 로더의 타측에 배치되고 상기 로더로 상기 수지 분말이 적재된 트레이들을 이송하는 수지 공급부를 포함할 수 있다.An electronic component molding apparatus according to an aspect of the present invention for achieving the above object is, two molds arranged in a first direction and for molding the electronic components, disposed between the molds and molding the electronic components. A tray for loading the electronic components into the molds and trays on which resin powder is loaded, and disposed on one side of the loader in a second direction perpendicular to the first direction and transferring the electronic components to the loader. And a resin supply unit arranged at the other side of the loader opposite to the pickup unit and transferring trays on which the resin powder is loaded to the loader.

본 발명의 실시예들에 따르면, 각각의 금형은 상형과 하형을 포함할 수 있다. 상기 상형은 상부 서포트 및 상기 상부 서포트의 하부면 상에 배치되며 상기 전자 부품들 중 하나가 로딩되는 하부면을 갖는 상부 다이를 포함할 수 있다. 상기 하형은 하부 서포트, 상기 상부 다이와 마주하도록 상기 하부 서포트 상에 배치되며 상기 전자 부품들 중 하나를 몰딩하기 위한 캐버티의 저면으로서 기능하는 상부면을 갖는 하부 다이 및 상기 하부 다이를 감싸도록 배치되며 상기 캐버티를 한정 하는 내측면들을 갖는 캐버티 부재를 포함할 수 있다. 또한, 상기 하형은 상기 상형의 아래에서 수직 방향으로 이동 가능하게 배치될 수 있다.According to embodiments of the present invention, each mold may include an upper mold and a lower mold. The upper die may include an upper die having an upper support and a lower surface disposed on the lower surface of the upper support and loaded with one of the electronic components. The lower mold is disposed to enclose the lower die and the lower die having an upper surface disposed on the lower support so as to face the upper die and serving as a bottom of a cavity for molding one of the electronic components. It may include a cavity member having inner surfaces defining the cavity. In addition, the lower mold may be disposed to be movable in the vertical direction below the upper mold.

본 발명의 실시예들에 따르면, 각각의 금형은, 상기 상형과 하형 사이로 이형 필름을 공급하기 위한 필름 공급부와, 상기 공급된 이형 필름을 클램핑하기 위하여 상기 이형 필름 상부에 배치되며 수직 방향으로 이동 가능한 상부 클램프와, 상기 공급된 이형 필름을 클램핑하기 위하여 상기 이형 필름 아래에 배치되며 수직 방향으로 이동 가능한 하부 클램프와, 상기 상부 클램프와 하부 클램프에 의해 상기 이형 필름이 클램핑되고 상기 클램핑된 이형 필름이 상기 캐버티 부재의 상부면 상에 밀착되도록 상기 상부 클램프를 수직 방향으로 이동시키는 구동부를 더 포함할 수 있다.According to the embodiments of the present invention, each mold may include a film supply unit for supplying a release film between the upper mold and the lower mold, and a vertically movable upper portion of the release film for clamping the supplied release film. An upper clamp, a lower clamp disposed below the release film and vertically movable to clamp the supplied release film, the release film being clamped by the upper clamp and the lower clamp, and the clamped release film being The apparatus may further include a driving unit for moving the upper clamp in a vertical direction to closely contact the upper surface of the cavity member.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 하형에는 상기 이형 필름을 상기 캐버티의 저면 및 내측면들에 피복하기 위하여 상기 캐버티 부재의 상부면에 밀착된 이형 필름에 의해 한정된 캐버티를 진공 배기하는 진공홀들이 형성될 수 있다.According to embodiments of the present invention, the lower mold vacuum-vents the cavity defined by the release film in close contact with the upper surface of the cavity member to cover the release film on the bottom and inner surfaces of the cavity. Vacuum holes may be formed.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 하형은 상기 캐버티 부재를 감싸도록 배치되는 하부 튜브를 더 포함할 수 있으며, 상기 상형은 상기 상부 다이를 감싸도록 배치되는 상부 다이를 더 포함할 수 있다. 여기서, 상기 상부 클램프는 상기 하부 튜브 내측에 배치될 수 있다.According to embodiments of the present invention, the lower mold may further include a lower tube disposed to surround the cavity member, and the upper mold may further include an upper die disposed to surround the upper die. Here, the upper clamp may be disposed inside the lower tube.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 수지 공급부는 상기 로더 아래에 배치되어 상기 트레이들에 상기 수지 분말을 공급하기 위한 수지 공급 유닛과, 상기 수지 공급 유닛으로부터 상기 로더로 상기 수지 분말이 적재된 트레이들을 이송하기 위 한 로딩 엘리베이터를 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the resin supply unit is disposed below the loader to supply the resin powder to the trays, and a tray on which the resin powder is loaded from the resin supply unit to the loader. It may include a loading elevator for transporting them.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 전자 부품 몰딩 장치는 상기 수지 공급 유닛의 아래에 배치되어 상기 수지 분말을 상기 금형들에 공급한 후 빈 트레이들에 잔류하는 수지 분말을 제거하기 위한 트레이 클리너와, 상기 빈 트레이들을 상기 로더로부터 상기 트레이 클리너로 그리고 상기 트레이 클리너로부터 상기 수지 공급 유닛으로 이송하기 위한 언로딩 엘리베이터를 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present disclosure, the electronic component molding apparatus may include a tray cleaner disposed under the resin supply unit to supply the resin powder to the molds and to remove the resin powder remaining in the empty trays. And an unloading elevator for transferring the empty trays from the loader to the tray cleaner and from the tray cleaner to the resin supply unit.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 전자 부품 몰딩 장치는 상기 전자 부품들을 수납하기 위한 제1 매거진과 상기 금형들에 의해 몰딩된 전자 부품들을 수납하기 위한 제2 매거진을 수직 방향으로 이동시키기 위한 매거진 엘리베이터와, 상기 매거진 엘리베이터에 인접하게 배치되고, 상기 제1 매거진으로부터 제공되는 하나의 전자 부품과 상기 금형들 중 하나에 의해 몰딩된 하나의 전자 부품을 지지하는 레일 유닛을 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the electronic component molding apparatus includes a magazine for moving the first magazine for accommodating the electronic components and a second magazine for accommodating the electronic components molded by the molds in a vertical direction. The electronic device may further include an elevator and a rail unit disposed adjacent to the magazine elevator and supporting one electronic component provided from the first magazine and one electronic component molded by one of the molds.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 픽업 유닛은 상기 제2 방향으로 이동 가능하게 배치되는 이송 플레이트와, 상기 이송 플레이트의 하부면 상에 배치되며 상기 레일 유닛에 의해 지지된 전자 부품을 픽업하고 상기 픽업된 전자 부품을 상기 로더로 이송하기 위한 제1 피커를 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the pickup unit picks up a transfer plate movably disposed in the second direction, an electronic component disposed on a lower surface of the transfer plate and supported by the rail unit, and And a first picker for transferring the picked up electronic component to the loader.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 픽업 유닛은 상기 이송 플레이트의 하부면 상에 배치되고 상기 로더로부터 상기 몰딩된 전자 부품을 상기 레일 유닛으로 이송하기 위한 제2 피커를 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the pickup unit may further include a second picker disposed on the bottom surface of the transfer plate and for transferring the molded electronic component from the loader to the rail unit.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 전자 부품 몰딩 장치는 상기 레일 유닛 에 인접하게 배치되며 상기 전자 부품이 상기 제1 피커에 의해 이송되는 동안 상기 전자 부품의 반도체 칩들의 두께를 측정하기 위한 두께 측정부를 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the electronic component molding apparatus is disposed adjacent to the rail unit and the thickness measurement for measuring the thickness of the semiconductor chips of the electronic component while the electronic component is transported by the first picker It may further include wealth.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 두께 측정부는 리본빔을 상기 전자 부품 상에 조사할 수 있으며, 상기 전자 부품으로부터 반사된 광을 검출할 수 있다. 또한, 상기 두께 측정부는 상기 검출된 광을 분석하여 상기 반도체 칩들의 두께를 측정할 수 있다.According to embodiments of the present disclosure, the thickness measuring unit may irradiate a ribbon beam onto the electronic component and detect light reflected from the electronic component. The thickness measuring unit may measure the thickness of the semiconductor chips by analyzing the detected light.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 레일 유닛은 상기 제1 방향으로 이동 가능하게 배치되는 레일 플레이트와, 상기 레일 플레이트 상에 배치되어 상기 전자 부품을 지지하며 상기 제2 방향으로 안내하기 위한 인-레일들(in-rails)과, 상기 레일 플레이트 상에 배치되어 상기 몰딩된 전자 부품을 지지하며 상기 제2 방향으로 안내하기 위한 아웃-레일들(out-rails)을 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the rail unit may include: a rail plate movably disposed in the first direction; It may include in-rails and out-rails disposed on the rail plate to support the molded electronic component and to guide in the second direction.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 레일 유닛은 상기 레일 플레이트에 의해 상기 제1 방향으로 이동된 상기 몰딩된 전자 부품의 두께를 측정하기 위한 센서를 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present disclosure, the rail unit may further include a sensor for measuring a thickness of the molded electronic component moved in the first direction by the rail plate.

상술한 바와 같은 본 발명의 실시예들에 따르면, 전자 부품 몰딩 장치는 두 개의 금형들과 상기 금형들 사이에 배치되는 로더를 포함할 수 있다. 또한, 전자 부품을 이송하기 위한 픽업 유닛과 수지 분말이 적재된 트레이를 제공하기 위한 수지 공급부가 상기 로더와 인접하게 배치될 수 있다. 결과적으로, 상기 금형들, 상 기 수지 공급부 및 상기 픽업 유닛이 상기 로더를 중심으로 배치될 수 있으므로, 상기 전자 부품 및 상기 트레이의 이송 거리가 단축될 수 있다. 따라서, 상기 전자 부품의 몰딩 공정에 소요되는 시간이 단축될 수 있으며, 상기 전자 부품 몰딩 장치의 크기를 감소시킬 수 있다.According to the embodiments of the present invention as described above, the electronic component molding apparatus may include two molds and a loader disposed between the molds. In addition, a resin supply unit for providing a pickup unit for transferring electronic components and a tray on which resin powder is loaded may be disposed adjacent to the loader. As a result, since the molds, the resin supply unit, and the pickup unit may be arranged around the loader, the transfer distance of the electronic component and the tray may be shortened. Therefore, the time required for the molding process of the electronic component can be shortened, and the size of the electronic component molding apparatus can be reduced.

이하, 본 발명은 본 발명의 실시예들을 보여주는 첨부 도면들을 참조하여 더욱 상세하게 설명된다. 그러나, 본 발명은 하기에서 설명되는 실시예들에 한정된 바와 같이 구성되어야만 하는 것은 아니며 이와 다른 여러 가지 형태로 구체화될 수 있을 것이다. 하기의 실시예들은 본 발명이 온전히 완성될 수 있도록 하기 위하여 제공된다기보다는 본 발명의 기술 분야에서 숙련된 당업자들에게 본 발명의 범위를 충분히 전달하기 위하여 제공된다.The invention is now described in more detail with reference to the accompanying drawings showing embodiments of the invention. However, the present invention should not be construed as limited to the embodiments described below, but may be embodied in various other forms. The following examples are provided to fully convey the scope of the invention to those skilled in the art, rather than to allow the invention to be fully completed.

하나의 요소가 다른 하나의 요소 또는 층 상에 배치되는 또는 연결되는 것으로서 설명되는 경우 상기 요소는 상기 다른 하나의 요소 상에 직접적으로 배치되거나 연결될 수도 있으며, 다른 요소들 또는 층들이 이들 사이에 게재될 수도 있다. 이와 다르게, 하나의 요소가 다른 하나의 요소 상에 직접적으로 배치되거나 연결되는 것으로서 설명되는 경우, 그들 사이에는 또 다른 요소가 있을 수 없다. 유사한 요소들에 대하여는 전체적으로 유사한 참조 부호들이 사용될 것이며 또한, "및/또는"이란 용어는 관련된 항목들 중 어느 하나 또는 그 이상의 조합을 포함한다.When an element is described as being disposed or connected on another element or layer, the element may be placed or connected directly on the other element, and other elements or layers may be placed therebetween. It may be. Alternatively, where one element is described as being directly disposed or connected on another element, there may be no other element between them. Similar reference numerals will be used throughout for similar elements, and the term “and / or” includes any one or more combinations of related items.

다양한 요소들, 조성들, 영역들, 층들 및/또는 부분들과 같은 다양한 항목들을 설명하기 위하여 제1, 제2, 제3 등의 용어들이 사용될 수 있으나, 상기 항목들 은 이들 용어들에 의하여 한정되지는 않을 것이다. 이들 용어들은 단지 다른 요소로부터 하나의 요소를 구별하기 위하여 사용되는 것이다. 따라서, 하기에서 설명되는 제1 요소, 조성, 영역, 층 또는 부분은 본 발명의 범위를 벗어나지 않으면서 제2 요소, 조성, 영역, 층 또는 부분으로 표현될 수 있을 것이다.Terms such as first, second, third, etc. may be used to describe various items such as various elements, compositions, regions, layers and / or portions, but the terms are defined by these terms. It won't work. These terms are only used to distinguish one element from another. Accordingly, the first element, composition, region, layer or portion described below may be represented by the second element, composition, region, layer or portion without departing from the scope of the invention.

공간적으로 상대적인 용어들, 예를 들면, "하부" 또는 "바닥" 그리고 "상부" 또는 "맨위" 등의 용어들은 도면들에 설명된 바와 같이 다른 요소들에 대하여 한 요소의 관계를 설명하기 위하여 사용될 수 있다. 상대적 용어들은 도면에 도시된 방위에 더하여 장치의 다른 방위들을 포함할 수 있다. 예를 들면, 도면들 중 하나에서 장치가 방향이 바뀐다면, 다른 요소들의 하부 쪽에 있는 것으로 설명된 요소들이 상기 다른 요소들의 상부 쪽에 있는 것으로 맞추어질 것이다. 따라서, "하부"라는 전형적인 용어는 도면의 특정 방위에 대하여 "하부" 및 "상부" 방위 모두를 포함할 수 있다. 이와 유사하게, 도면들 중 하나에서 장치가 방향이 바뀐다면, 다른 요소들의 "아래" 또는 "밑"으로서 설명된 요소들은 상기 다른 요소들의 "위"로 맞추어질 것이다. 따라서, "아래" 또는 "밑"이란 전형적인 용어는 "아래"와 "위"의 방위 모두를 포함할 수 있다.Spatially relative terms such as "bottom" or "bottom" and "top" or "top" may be used to describe the relationship of one element to other elements as described in the figures. Can be. Relative terms may include other orientations of the device in addition to the orientation shown in the figures. For example, if the device is reversed in one of the figures, the elements described as being on the lower side of the other elements will be tailored to being on the upper side of the other elements. Thus, the typical term "bottom" may include both "bottom" and "top" orientations for a particular orientation in the figures. Similarly, if the device is reversed in one of the figures, the elements described as "below" or "below" of the other elements will be fitted "above" of the other elements. Thus, a typical term "below" or "below" may encompass both orientations of "below" and "above."

하기에서 사용된 전문 용어는 단지 특정 실시예들을 설명하기 위한 목적으로 사용되는 것이며, 본 발명을 한정하기 위한 것은 아니다. 하기에서 사용된 바와 같이, 단수의 형태로 표시되는 것은 특별히 명확하게 지시되지 않는 이상 복수의 형태도 포함한다. 또한, "포함한다" 및/또는 "포함하는"이란 용어가 사용되는 경우, 이는 언급된 형태들, 영역들, 완전체들, 단계들, 작용들, 요소들 및/또는 성분들의 존재를 특징짓는 것이며, 다른 하나 이상의 형태들, 영역들, 완전체들, 단계들, 작용들, 요소들, 성분들 및/또는 이들 그룹들의 추가를 배제하는 것은 아니다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. As used below, what is shown in the singular also includes the plural unless specifically indicated otherwise. In addition, where the terms “comprises” and / or “comprising” are used, they are characterized by the presence of the forms, regions, integrals, steps, actions, elements and / or components mentioned. It is not intended to exclude the addition of one or more other forms, regions, integrals, steps, actions, elements, components, and / or groups.

달리 한정되지 않는 이상, 기술 및 과학 용어들을 포함하는 모든 용어들은 본 발명의 기술 분야에서 통상적인 지식을 갖는 당업자에게 이해될 수 있는 동일한 의미를 갖는다. 통상적인 사전들에서 한정되는 것들과 같은 상기 용어들은 관련 기술과 본 발명의 설명의 문맥에서 그들의 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석될 것이며, 명확히 한정되지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 외형적인 직감으로 해석되지는 않을 것이다.Unless defined otherwise, all terms including technical and scientific terms have the same meaning as would be understood by one of ordinary skill in the art having ordinary skill in the art. Such terms, such as those defined in conventional dictionaries, will be construed as having meanings consistent with their meanings in the context of the related art and description of the invention, and ideally or excessively intuitional unless otherwise specified. It will not be interpreted.

본 발명의 실시예들은 본 발명의 이상적인 실시예들의 개략적인 도해들인 단면 도해들을 참조하여 설명된다. 이에 따라, 상기 도해들의 형상들로부터의 변화들, 예를 들면, 제조 방법들 및/또는 허용 오차들의 변화들은 예상될 수 있는 것들이다. 따라서, 본 발명의 실시예들은 도해로서 설명된 영역들의 특정 형상들에 한정된 바대로 설명되어지는 것은 아니라 형상들에서의 편차들을 포함하는 것이다. 예를 들면, 평평한 것으로서 설명된 영역은 일반적으로 거칠기 및/또는 비선형적인 형태들을 가질 수 있다. 또한, 도해로서 설명된 뾰족한 모서리들은 둥글게 될 수도 있다. 따라서, 도면들에 설명된 영역들은 전적으로 개략적인 것이며 이들의 형상들은 영역의 정확한 형상을 설명하기 위한 것이 아니며 또한 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것도 아니다.Embodiments of the invention are described with reference to cross-sectional illustrations that are schematic illustrations of ideal embodiments of the invention. Accordingly, changes from the shapes of the illustrations, such as changes in manufacturing methods and / or tolerances, are those that can be expected. Accordingly, embodiments of the present invention are not to be described as limited to the particular shapes of the areas described as the illustrations but to include deviations in the shapes. For example, a region described as flat may generally have roughness and / or nonlinear shapes. Also, the sharp edges described as illustrations may be rounded. Accordingly, the regions described in the figures are entirely schematic and their shapes are not intended to describe the precise shape of the regions nor are they intended to limit the scope of the invention.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 부품 몰딩 장치를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.1 is a schematic diagram illustrating an electronic component molding apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 부품 몰딩 장치(100)는 기판(12) 및 상기 기판(12) 상에 실장된 다수의 반도체 칩들(14)을 포함하는 전자 부품(10; 도 2 참조)을 수지를 이용하여 일괄적으로 패키징하기 위하여 사용될 수 있다. 상기 기판(12)은 PCB 기판일 수 있으며 상기 반도체 칩들(14)은 와이어 본딩 공정 또는 솔더 리플로우 공정을 통해 상기 기판(12) 상에 실장될 수 있다.Referring to FIG. 1, an electronic component molding apparatus 100 according to an exemplary embodiment may include a substrate 12 and a plurality of semiconductor chips 14 mounted on the substrate 12. (See FIG. 2) may be used to package the resins in a batch. The substrate 12 may be a PCB substrate and the semiconductor chips 14 may be mounted on the substrate 12 through a wire bonding process or a solder reflow process.

상기 몰딩 장치(100)는 서로 마주하여 배치되는 두 개의 금형들(102)을 포함할 수 있다. 예를 들면, 상기 몰딩 장치(100)의 양측에는 두 개의 금형들(102)이 서로 마주하여 배치될 수 있다. 상기 금형들(102)은 수지를 이용하여, 예를 들면, 에폭시 몰딩 컴파운드를 이용하여 상기 전자 부품들(10)을 몰딩하기 위하여 사용될 수 있다.The molding apparatus 100 may include two molds 102 disposed to face each other. For example, two molds 102 may be disposed to face each other on both sides of the molding apparatus 100. The molds 102 may be used to mold the electronic components 10 using a resin, for example using an epoxy molding compound.

상기 금형들(102) 사이에는 상기 금형들(102)로 상기 전자 부품들(10)을 이송하기 위한 로더(152; loader)가 배치될 수 있다. 상기 로더(152)는 상기 금형들(102)이 배열된 제1 방향으로 이동 가능하게 배치될 수 있다. 예를 들면, 상기 로더(152)는 상기 제1 방향, 예를 들면, X축 방향으로 연장하는 레일을 따라 이동할 수 있으며 상기 금형들(102) 내부에 상기 전자 부품들(10)과 상기 전자 부품들(10)을 패키징하기 위한 수지 분말(60; 도 5 참조)이 적재된 트레이들(50a, 50b; 도 5 참조)을 로딩할 수 있다.A loader 152 for transferring the electronic components 10 to the molds 102 may be disposed between the molds 102. The loader 152 may be disposed to be movable in a first direction in which the molds 102 are arranged. For example, the loader 152 may move along a rail extending in the first direction, for example, the X-axis direction, and the electronic components 10 and the electronic components inside the molds 102. The trays 50a and 50b (see FIG. 5) loaded with the resin powder 60 (see FIG. 5) for packaging the fields 10 may be loaded.

상기 제1 방향과 수직하는 제2 방향, 예를 들면, Y축 방향으로는 상기 전자 부품들(10)을 이송하기 위한 픽업 유닛(168)과 상기 트레이들(50a, 50b) 내부에 상기 수지 분말(60)을 공급하기 위한 수지 공급부(140)가 배치될 수 있다. 예를 들 면, 상기 픽업 유닛(168)은 상기 로더(152)의 일측에 배치될 수 있으며, 상기 수지 공급부(140)는 상기 픽업 유닛(168)과 대향하는 상기 로더(152)의 타측에 배치될 수 있다. 상기 픽업 유닛(168)은 상기 Y축 방향으로 연장하는 레일을 따라 이동 가능하게 배치될 수 있다.The resin powder in the pickup unit 168 and the trays 50a and 50b in a second direction perpendicular to the first direction, for example, in the Y-axis direction, for transporting the electronic components 10. The resin supply unit 140 for supplying the 60 may be disposed. For example, the pickup unit 168 may be disposed on one side of the loader 152, and the resin supply unit 140 may be disposed on the other side of the loader 152 facing the pickup unit 168. Can be. The pickup unit 168 may be disposed to be movable along a rail extending in the Y-axis direction.

특히, 상기 픽업 유닛(168)은 상기 로더(152)보다 높게 배치될 수 있으며, 상기 수지 공급부(140)는 상기 로더(152)보다 낮게 배치될 수 있다. 상기 로더(152)의 상부에는 상기 전자 부품들(10)을 지지하기 위한 서포트 부재(156; 도 5 참조)가 배치될 수 있으며, 상기 로더(152)의 하부에는 상기 트레이들(50a, 50b)을 파지하기 위한 홀더(158)가 배치될 수 있다.In particular, the pickup unit 168 may be disposed higher than the loader 152, and the resin supply unit 140 may be disposed lower than the loader 152. A support member 156 (see FIG. 5) for supporting the electronic components 10 may be disposed on the loader 152, and the trays 50a and 50b may be disposed below the loader 152. Holder 158 for holding the can be disposed.

도 2 및 도 3은 도 1에 도시된 금형들을 설명하기 위한 개략적인 구성도들이며, 도 4는 도 1에 도시된 금형을 설명하기 위한 개략적인 측면도이다.2 and 3 are schematic configuration diagrams for explaining the molds shown in FIG. 1, and FIG. 4 is a schematic side view for explaining the molds shown in FIG. 1.

도 2 내지 도 4를 참조하면, 각각의 금형들(102)은 상형(104)과 하형(112)을 포함할 수 있으며, 상기 하형(112)은 수직 방향으로 이동 가능하게 배치될 수 있다.2 to 4, each of the molds 102 may include an upper mold 104 and a lower mold 112, and the lower mold 112 may be disposed to be movable in the vertical direction.

상기 상형(104)은 상부 서포트(106)와 상부 다이(108) 및 상부 튜브(110)를 포함할 수 있다. 상기 상부 다이(108)는 상기 상부 서포트(106)의 하부면 상에 배치될 수 있으며, 상기 상부 튜브(110)는 상기 상부 다이(108)를 감싸도록 상기 상부 서포트(106)의 하부면 상에 배치될 수 있다. 또한, 상기 상부 다이(108)는 상기 전자 부품(10)이 로딩되는 하부면을 가질 수 있다.The upper die 104 may include an upper support 106, an upper die 108, and an upper tube 110. The upper die 108 may be disposed on the lower surface of the upper support 106, and the upper tube 110 may be disposed on the lower surface of the upper support 106 to surround the upper die 108. Can be arranged. In addition, the upper die 108 may have a lower surface on which the electronic component 10 is loaded.

도시되지는 않았으나, 상기 상형(104)은 상기 상부 다이(108)의 하부면 상에 상기 전자 부품(10)을 흡착하여 고정시키기 위한 진공홀들 및/또는 상기 전자 부품(10)을 파지하기 위한 홀더를 가질 수 있다.Although not shown, the upper die 104 may be configured to hold vacuum holes and / or grip the electronic component 10 on the lower surface of the upper die 108 to attract and fix the electronic component 10. It may have a holder.

상기 하형(112)은 하부 서포트(114), 하부 다이(116), 캐버티 부재(118) 및 하부 튜브(120)를 포함할 수 있다. 상기 하부 다이(116)는 상기 하부 서포트(114) 상에 배치될 수 있으며, 상기 캐버티 부재(118)는 상기 하부 다이(116)를 감싸도록 상기 하부 서포트(114) 상에 배치될 수 있다. 예를 들면, 상기 캐버티 부재(118)는 상기 하부 서포트(114) 상에 배치된 탄성 부재(122)에 의해 탄성적으로 지지될 수 있다. 또한, 상기 하부 튜브(120)는 상기 상부 튜브(110)와 대응하도록 상기 하부 서포트(114) 상에 배치될 수 있다.The lower mold 112 may include a lower support 114, a lower die 116, a cavity member 118, and a lower tube 120. The lower die 116 may be disposed on the lower support 114, and the cavity member 118 may be disposed on the lower support 114 to surround the lower die 116. For example, the cavity member 118 may be elastically supported by the elastic member 122 disposed on the lower support 114. In addition, the lower tube 120 may be disposed on the lower support 114 to correspond to the upper tube 110.

특히, 상기 하부 다이(116)는 상기 전자 부품(10)을 수지, 예를 들면, 에폭시 수지로 몰딩하기 위한 캐버티(20)의 저면으로서 기능하는 상부면을 가질 수 있다. 상기 캐버티 부재(118)는 상기 하부 다이(116)를 감싸도록 배치되는 링 형태를 가질 수 있다. 특히, 상기 캐버티 부재(118)는 상기 하부 다이(116)로부터 상방으로 돌출되도록 배치될 수 있으며, 상기 캐버티(20)를 한정하는 내측면들을 가질 수 있다.In particular, the lower die 116 may have an upper surface that functions as a bottom surface of the cavity 20 for molding the electronic component 10 into a resin, for example an epoxy resin. The cavity member 118 may have a ring shape disposed to surround the lower die 116. In particular, the cavity member 118 may be disposed to protrude upward from the lower die 116, and may have inner surfaces defining the cavity 20.

상기 상형(104)과 하형(112) 사이에는 이형 필름(30)이 배치될 수 있다. 상기 이형 필름(30)은 상기 금형(100)에 인접하게 배치되는 필름 공급부에 의해 상기 상형(104)과 하형(112) 사이로 공급될 수 있다. 상기 필름 공급부는 도 3에 도시된 바와 같이 상기 금형(102)의 양측에 배치되는 공급 롤러(124)와 권취 롤러(126)를 포함할 수 있다.The release film 30 may be disposed between the upper mold 104 and the lower mold 112. The release film 30 may be supplied between the upper mold 104 and the lower mold 112 by a film supply unit disposed adjacent to the mold 100. As shown in FIG. 3, the film supply part may include a supply roller 124 and a winding roller 126 disposed on both sides of the mold 102.

상기 하부 다이(116)는 상기 이형 필름(30)을 흡인하여 상기 캐버티(20)의 저면 및 측면들을 피복하기 위한 진공홀들(미도시)을 가질 수 있다.The lower die 116 may have vacuum holes (not shown) for sucking the release film 30 to cover the bottom and side surfaces of the cavity 20.

상기 금형들(102) 각각은 상기 이형 필름(30)을 클램핑하기 위한 상부 클램프(128)와 하부 클램프(130)를 포함할 수 있다. 상기 상부 클램프(128)는 링 형상을 가질 수 있으며, 상기 하부 서포트(114)를 통해 수직 방향으로 연장하는 구동축(132)과 연결될 수 있다. 또한, 상기 하부 서포트(114)의 하부에는 상기 상부 클램프(128)를 수직 방향으로 구동하기 위한 클램프 구동부(134)가 배치될 수 있다.Each of the molds 102 may include an upper clamp 128 and a lower clamp 130 for clamping the release film 30. The upper clamp 128 may have a ring shape and may be connected to a driving shaft 132 extending in the vertical direction through the lower support 114. In addition, a clamp driver 134 for driving the upper clamp 128 in the vertical direction may be disposed below the lower support 114.

상기 하부 클램프(130)는 상기 상부 클램프(128) 아래에 배치될 수 있으며, 상기 하부 서포트(114) 상에서 탄성적으로 지지될 수 있다. 예를 들면, 상기 하부 서포트(114)와 하부 클램프(130) 사이에는 탄성 부재(136)가 배치될 수 있으며, 이에 따라 상기 하부 클램프(130)는 수직 방향으로 이동할 수 있다.The lower clamp 130 may be disposed below the upper clamp 128, and may be elastically supported on the lower support 114. For example, an elastic member 136 may be disposed between the lower support 114 and the lower clamp 130, whereby the lower clamp 130 may move in the vertical direction.

상기 이형 필름(30)은 상기 공급 롤러(124)에 의해 상기 상부 클램프(128)와 하부 클램프(130) 사이로 공급될 수 있다. 즉, 도시된 바와 같이, 상기 상부 클램프(128)와 하부 클램프(130)는 상기 캐버티 부재(118)의 외측에 배치될 수 있으며, 상기 클램프 구동부(134)와 상기 탄성 부재(136)에 의해 수직 방향으로 이동할 수 있다.The release film 30 may be supplied between the upper clamp 128 and the lower clamp 130 by the supply roller 124. That is, as shown, the upper clamp 128 and the lower clamp 130 may be disposed outside the cavity member 118, by the clamp driver 134 and the elastic member 136 Can move in the vertical direction.

상기 이형 필름(30)은 상기 상부 클램프(128)의 하방 이동에 의해 상기 상부 클램프(128)와 하부 클램프(130) 사이에서 클램핑될 수 있으며, 상기 상부 클램프(128)의 하방 이동에 의해 상기 캐버티 부재(118)의 상부면 상에 밀착될 수 있다. 이에 따라 상기 캐버티(20)의 내부 공간은 상기 이형 필름(30)에 의해 밀폐될 수 있으며, 상기 하부 다이(116)의 진공홀들을 통해 제공되는 진공압에 의해 상기 밀폐된 캐버티(20)가 진공 배기될 수 있다. 결과적으로, 상기 이형 필름(30)이 상기 캐버티(20)의 저면 및 내측면들 상에 피복될 수 있다.The release film 30 may be clamped between the upper clamp 128 and the lower clamp 130 by the downward movement of the upper clamp 128, the lower clamp 130 by the downward movement of the upper clamp 128 It may be in close contact with the top surface of the butt member 118. Accordingly, the interior space of the cavity 20 may be sealed by the release film 30, and the sealed cavity 20 is provided by a vacuum pressure provided through the vacuum holes of the lower die 116. Can be evacuated. As a result, the release film 30 may be coated on the bottom and inner surfaces of the cavity 20.

상기 수지 분말은 상기 이형 필름(30)으로 피복된 캐버티(20)의 내부로 공급될 수 있으며, 상기 하형(112)에 연결된 히터(미도시)에 의해 용융될 수 있다. 상기 전자 부품(10)은 상기 하형(112)의 상승에 의해 상기 용융된 수지(40)에 침지될 수 있으며, 이어서 상기 용융된 수지(40)가 경화됨에 따라 상기 전자 부품(10)이 패키징될 수 있다.The resin powder may be supplied into the cavity 20 coated with the release film 30 and may be melted by a heater (not shown) connected to the lower mold 112. The electronic component 10 may be immersed in the molten resin 40 by raising the lower mold 112, and then the electronic component 10 may be packaged as the molten resin 40 is cured. Can be.

또한, 상기 하형(112)의 상승에 의해 상기 하부 튜브(120)가 상기 상부 튜브(110)에 밀착될 수 있다. 여기서, 상기 상부 튜브(110)와 하부 튜브(120) 사이에는 밀봉 부재(138)가 개재될 수 있다. 결과적으로, 상기 상부 서포트(106), 상부 튜브(110), 밀봉 부재(138), 하부 튜브(120) 및 하부 서포트(114)에 의해 밀폐된 공간이 형성될 수 있으며, 상기 밀폐 공간 내부의 압력은 상기 전자 부품(10)의 몰딩 공정이 수행되는 동안 대기압보다 낮게 유지될 수 있다.In addition, the lower tube 120 may be in close contact with the upper tube 110 by the rising of the lower mold 112. Here, a sealing member 138 may be interposed between the upper tube 110 and the lower tube 120. As a result, a space enclosed by the upper support 106, the upper tube 110, the sealing member 138, the lower tube 120, and the lower support 114 may be formed, and the pressure inside the sealed space may be formed. May be maintained lower than atmospheric pressure during the molding process of the electronic component 10.

도 5는 도 1에 도시된 수지 공급부를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.FIG. 5 is a schematic configuration diagram illustrating the resin supply unit shown in FIG. 1.

도 5를 참조하면, 상기 수지 공급부(140)는 상기 로더(152)에 인접하여 배치될 수 있으며, 트레이(50a, 50b)에 상기 수지 분말(60)을 공급하기 위한 수지 공급 유닛(142)을 포함할 수 있다. 상기 수지 공급 유닛(142)에 의해 상기 수지 분말(60)이 공급된 트레이(50a)는 로딩 엘리베이터(144)에 의해 상기 로더(152)로 공급될 수 있다. 또한, 상기 수지 분말(60)을 상기 하형(112)의 캐버티(20) 내부로 공급한 후, 빈 트레이(50b)는 상기 로더(152)에 의해 언로딩 엘리베이터(146)로 이동될 수 있다.Referring to FIG. 5, the resin supply unit 140 may be disposed adjacent to the loader 152, and may supply a resin supply unit 142 for supplying the resin powder 60 to trays 50a and 50b. It may include. The tray 50a supplied with the resin powder 60 by the resin supply unit 142 may be supplied to the loader 152 by the loading elevator 144. In addition, after supplying the resin powder 60 into the cavity 20 of the lower mold 112, the empty tray 50b may be moved to the unloading elevator 146 by the loader 152. .

상기 로딩 및 언로딩 엘리베이터들(144, 146)은 상기 로더(152)와 인접하게 배치되며 수직 방향으로 서로 평행하게 배치될 수 있다.The loading and unloading elevators 144 and 146 may be disposed adjacent to the loader 152 and arranged parallel to each other in a vertical direction.

상기 수지 공급 유닛(142)의 아래에는 상기 수지 분말(60)이 적재된 트레이(50a) 또는 상기 빈 트레이(50b)를 수평 방향으로 이동시키기 위한 트레이 핸들러(148)가 배치될 수 있다. 예를 들면, 상기 트레이 핸들러(148)는 상기 수지 분말(60)이 상기 빈 트레이(50b) 내부에 균일하게 공급되도록 상기 X축 방향 및 Y축 방향으로 빈 트레이(50b)를 이동시킬 수 있다. 또한, 상기 수지 분말(60)이 공급된 트레이(50a)를 상기 로딩 엘리베이터(144)가 상승시킬 수 있도록 상기 로딩 엘리베이터(144)에 인접한 위치로 이동시킬 수 있다.Below the resin supply unit 142, a tray handler 148 for moving the tray 50a on which the resin powder 60 is loaded or the empty tray 50b in the horizontal direction may be disposed. For example, the tray handler 148 may move the empty tray 50b in the X-axis direction and the Y-axis direction so that the resin powder 60 is uniformly supplied into the empty tray 50b. In addition, the tray 50a supplied with the resin powder 60 may be moved to a position adjacent to the loading elevator 144 so that the loading elevator 144 may raise it.

상기 트레이 핸들러(148)의 아래에는 상기 빈 트레이(50b) 상에 잔류하는 수지 분말을 제거하기 위한 트레이 클리너(150)가 배치될 수 있다. 상기 언로딩 엘리베이터(146)는 상기 빈 트레이(50b)를 상기 트레이 클리너(150)로 이동시킬 수 있으며, 또한 상기 빈 트레이(150b)의 클리닝을 수행한 후 상기 빈 트레이(50b)에 수지 분말(60)을 공급하기 위하여 상기 빈 트레이(50b)를 상기 트레이 핸들러(148)로 이동시킬 수 있다.A tray cleaner 150 may be disposed under the tray handler 148 to remove the resin powder remaining on the empty tray 50b. The unloading elevator 146 may move the empty tray 50b to the tray cleaner 150, and further, after cleaning the empty tray 150b, a resin powder ( The empty tray 50b may be moved to the tray handler 148 to supply 60.

상기 트레이 클리너(150)는 상기 빈 트레이(50b)의 내부 및 상기 빈 트레이(50b)의 상부 표면들 상에 잔류하는 수지 분말을 제거하기 위한 상부 클리너와 상기 빈 트레이(50b)의 하부 표면들 상에 잔류하는 수지 분말을 제거하기 위한 하 부 클리너를 포함할 수 있다. 상기 상부 및 하부 클리너들은 수평 방향으로 이동 가능하게 구성될 수 있으며, 진공을 이용하여 상기 수지 분말을 제거할 수 있다.The tray cleaner 150 is disposed on the upper cleaner and the lower surfaces of the empty tray 50b to remove the resin powder remaining inside the empty tray 50b and on the upper surfaces of the empty tray 50b. It may include a lower cleaner for removing the resin powder remaining in the. The upper and lower cleaners may be configured to be movable in a horizontal direction, and the resin powder may be removed using a vacuum.

상기 로더(152)는 상기 금형들(102) 사이에서 X축 방향으로 연장하는 레일(154)을 따라 이동 가능하게 구성될 수 있다. 특히, 상기 로더(152)는 상기 전자 부품(10)과 상기 트레이(50a)를 각 금형(102)의 상형(104)과 하형(112) 사이로 이동시킬 수 있다.The loader 152 may be configured to be movable along a rail 154 extending in the X-axis direction between the molds 102. In particular, the loader 152 may move the electronic component 10 and the tray 50a between the upper mold 104 and the lower mold 112 of each mold 102.

상기 로더(152)의 상부에는 상기 전자 부품(10)을 지지하기 위한 서포트 부재(156)가 배치될 수 있으며, 상기 로더(152)의 하부에는 상기 트레이(50a, 50b)를 파지하기 위한 홀더(158)가 구비될 수 있다. 또한, 상세히 도시되지는 않았으나, 상기 서포트 부재(156)는 상기 전자 부품(10)을 상기 상형(104)의 하부면 상에 로딩하기 위하여 수직 방향으로 이동하도록 구성될 수 있다.A support member 156 for supporting the electronic component 10 may be disposed at an upper portion of the loader 152, and a holder for holding the trays 50a and 50b may be disposed at a lower portion of the loader 152. 158 may be provided. In addition, although not shown in detail, the support member 156 may be configured to move in the vertical direction to load the electronic component 10 on the lower surface of the upper mold 104.

상세히 도시되지는 않았으나, 상기 트레이(50a, 50b)는 상기 수지 분말(60)을 적재하기 위한 내부 공간을 가질 수 있으며, 또한 상기 내부 공간을 닫는 하부 도어를 가질 수 있다. 상기 하부 도어는 수평 방향으로 슬라이딩 가능하도록 배치될 수 있으며, 상기 수지 분말(60)을 상기 하형(112)의 캐버티(20) 내부로 공급하기 위하여 개방될 수 있다.Although not shown in detail, the trays 50a and 50b may have an inner space for loading the resin powder 60 and may have a lower door that closes the inner space. The lower door may be arranged to be slidable in a horizontal direction, and may be opened to supply the resin powder 60 into the cavity 20 of the lower mold 112.

다시 도 1을 참조하면, 상기 몰딩 장치(100)는 다수의 전자 부품들(10)을 수납하기 위한 매거진들을 지지하는 매거진 유닛(160)과 상기 매거진들을 수직 방향으로 이동시키기 위한 매거진 엘리베이터(162)를 더 포함할 수 있다.Referring back to FIG. 1, the molding apparatus 100 includes a magazine unit 160 supporting magazines for accommodating a plurality of electronic components 10 and a magazine elevator 162 for moving the magazines in a vertical direction. It may further include.

도 6은 도 1에 도시된 매거진 유닛과 매거진 엘리베이터를 설명하기 위한 개 략적인 정면도이다.FIG. 6 is a schematic front view for explaining the magazine unit and the magazine elevator shown in FIG. 1.

도 6을 참조하면, 상기 매거진 유닛(160)은 몰딩 공정 이전의 전자 부품들(10)이 수납된 다수의 제1 매거진들(70)이 지지되는 제1 스테이지(164)와 몰딩 공정 이후의 전자 부품들(80)이 수납된 다수의 제2 매거진들(90)이 지지되는 제2 스테이지(166)를 포함할 수 있다. 상기 제2 스테이지(166)는 상기 제1 스테이지(164) 상부에 배치될 수 있다.Referring to FIG. 6, the magazine unit 160 includes the first stage 164 on which the plurality of first magazines 70 in which the electronic components 10 are stored before the molding process and the electrons after the molding process are supported. The second stage 166 may include a plurality of second magazines 90 in which the parts 80 are accommodated. The second stage 166 may be disposed above the first stage 164.

상기 매거진 엘리베이터(162)는 상기 매거진 유닛(160)에 인접하도록 배치될 수 있으며, 도 6에 도시된 바와 같이, 제1 매거진(70)과 제2 매거진(90)을 수직 방향으로 이동시키도록 구성될 수 있다.The magazine elevator 162 may be disposed to be adjacent to the magazine unit 160, as shown in FIG. 6, configured to move the first magazine 70 and the second magazine 90 in a vertical direction. Can be.

상기 제1 매거진(70)에 수납된 전자 부품들(10)은 상기 매거진 엘리베이터(162)와 상기 픽업 유닛(168) 사이에 배치된 레일 유닛(182) 상으로 이동될 수 있다.The electronic components 10 accommodated in the first magazine 70 may be moved on the rail unit 182 disposed between the magazine elevator 162 and the pickup unit 168.

도 7은 도 1에 도시된 픽업 유닛과 레일 유닛을 설명하기 위한 개략적인 정면도이며, 도 8은 도 1에 도시된 픽업 유닛과 레일 유닛을 설명하기 위한 개략적인 측면도이다.FIG. 7 is a schematic front view illustrating the pickup unit and the rail unit illustrated in FIG. 1, and FIG. 8 is a schematic side view illustrating the pickup unit and the rail unit illustrated in FIG. 1.

도 7 및 도 8을 참조하면, 상기 픽업 유닛(168)은 상기 Y축 방향으로 연장하는 레일들(170)을 따라 이동 가능하게 구성될 수 있다. 특히, 상기 제1 매거진(70)으로부터 제공된 전자 부품(10)을 픽업하여 상기 로더(152)로 이송하기 위한 제1 피커(172)와 상기 로더(152)로부터 몰딩된 전자 부품(80)을 픽업하여 상기 제2 매거진(90)으로 이송하기 위한 제2 피커(174)를 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 7 and 8, the pickup unit 168 may be configured to be movable along rails 170 extending in the Y-axis direction. In particular, the first picker 172 for picking up the electronic component 10 provided from the first magazine 70 and transporting it to the loader 152 and the molded electronic component 80 from the loader 152 are picked up. It may include a second picker 174 to transfer to the second magazine (90).

상기 제1 피커(172)와 제2 피커(174)는 상기 레일들(170)을 따라 이동 가능하게 배치된 이송 플레이트(176)의 하부면 상에 장착될 수 있다. 상기 제1 피커(172)는 상기 전자 부품(10)을 픽업하기 위한 다수의 진공홀들을 갖는 진공 블록(178)을 포함할 수 있으며, 상기 제2 피커(174)는 몰딩된 전자 부품(80)을 픽업하기 위한 다수의 진공 노즐들(180)을 포함할 수 있다. 또한, 상기 제1 및 제2 피커들(172, 174)은 상기 몰딩 이전의 전자 부품(10) 및 상기 몰딩된 전자 부품(80)에 대하여 각각 픽업 앤드 플레이싱(pick-up and placing) 동작을 수행하기 위하여 수직 방향으로 이동 가능하도록 구성될 수 있다.The first picker 172 and the second picker 174 may be mounted on a lower surface of the transfer plate 176 that is movably disposed along the rails 170. The first picker 172 may include a vacuum block 178 having a plurality of vacuum holes for picking up the electronic component 10, and the second picker 174 may be molded electronic component 80. It may include a plurality of vacuum nozzles 180 for picking up. In addition, the first and second pickers 172 and 174 perform pick-up and placing operations on the electronic component 10 and the molded electronic component 80 before the molding, respectively. It may be configured to be movable in the vertical direction to perform.

상기 레일 유닛(182)은 상기 매거진 엘리베이터(162)에 인접하여 배치될 수 있으며, 상기 제1 매거진(70)으로부터 제공된 전자 부품(10)을 지지하며 상기 Y축 방향으로 안내하기 위한 인-레일들(184, in-rails)과, 상기 몰딩된 전자 부품(80)을 지지하며 상기 Y축 방향으로 안내하기 위한 아웃-레일들(186, out-rails)을 포함할 수 있다.The rail unit 182 may be disposed adjacent to the magazine elevator 162 and may support in-rails for supporting the electronic component 10 provided from the first magazine 70 and guiding in the Y-axis direction. 184, and out-rails 186 for supporting the molded electronic component 80 and guiding in the Y-axis direction.

상기 인-레일들(184)과 아웃-레일들(186)은 레일 플레이트(188) 상에 배치될 수 있으며, 상기 레일 플레이트(188)는 레일 스테이지(190) 상에서 도시된 바와 같이 X축 방향으로 이동 가능하게 배치될 수 있다. 또한, 상기 레일 스테이지(190) 상에는 몰딩된 전자 부품(80)의 두께를 측정하기 위한 센서(192)가 배치될 수 있다. 특히, 상기 제2 피커(174)에 의해 상기 아웃-레일들(186) 상에 놓여진 몰딩된 전자 부품(80)은 상기 레일 플레이트(188)에 의해 상기 X축 방향으로 이동할 수 있으며, 이에 따라 상기 센서(192)의 상하측 부재들(192a, 192b) 사이에 배치될 수 있다. 이어서, 상기 센서(192)의 상하측 부재들(192a, 192b)의 수직 방향 이동에 의해 상기 몰딩된 전자 부품(80)의 두께가 측정될 수 있다.The in-rails 184 and the out-rails 186 may be disposed on the rail plate 188, which is in the X-axis direction as shown on the rail stage 190. It may be arranged to be movable. In addition, a sensor 192 for measuring the thickness of the molded electronic component 80 may be disposed on the rail stage 190. In particular, the molded electronic component 80 placed on the out-rails 186 by the second picker 174 can move in the X-axis direction by the rail plate 188, thereby The upper and lower members 192a and 192b of the sensor 192 may be disposed. Subsequently, the thickness of the molded electronic component 80 may be measured by vertical movement of the upper and lower members 192a and 192b of the sensor 192.

또한, 상기 레일 플레이트(188)는 상기 매거진 엘리베이터(162)와 대응하도록 상기 X축 방향으로 이동할 수 있다. 예를 들면, 상기 제1 매거진(70)으로부터 전자 부품(10)을 이송하는 경우 상기 레일 플레이트(188)는 상기 인-레일들(184)이 상기 제1 매거진(70)과 대응하도록 상기 X축 방향으로 이동할 수 있으며, 상기 제2 매거진(90)에 상기 몰딩된 전자 부품(80)을 수납하는 경우 상기 레일 플레이트(188)는 상기 아웃-레일들(186)이 상기 제2 매거진(90)과 대응하도록 상기 X축 방향으로 이동할 수 있다.In addition, the rail plate 188 may move in the X-axis direction to correspond to the magazine elevator 162. For example, when the electronic component 10 is transferred from the first magazine 70, the rail plate 188 may include the X-axis such that the in-rails 184 correspond to the first magazine 70. Direction, and when the molded electronic component 80 is accommodated in the second magazine 90, the rail plate 188 may be configured such that the out-rails 186 are connected to the second magazine 90. It may move in the X-axis direction so as to correspond.

한편, 도시되지는 않았으나, 상기 매거진 엘리베이터(162)는 상기 제1 매거진(70)으로부터 상기 인-레일들(184)을 향하여 상기 전자 부품들(10)을 밀어주기 위한 푸셔(pusher)를 가질 수 있다.Although not shown, the magazine elevator 162 may have a pusher for pushing the electronic components 10 from the first magazine 70 toward the in-rails 184. have.

상기 이송 플레이트(176)에는 상기 매거진 엘리베이터(162)의 푸셔에 의해 상기 제1 매거진(70)으로부터 돌출된 전자 부품(10)을 파지하기 위한 그립퍼(194, gripper)가 장착될 수 있다. 상기 그립퍼(194)는 상부 그립핑 부재(194a)와 하부 그립핑 부재(194b)를 포함할 수 있으며, 상기 상부 그립핑 부재(194a)는 수직 방향으로 이동 가능하도록 구성될 수 있다. 상기 제1 매거진(70)으로부터 돌출된 전자 부품(10)은 상기 상부 그립핑 부재(194a)와 하부 그립핑 부재(194b) 사이에서 파지될 수 있으며, 상기 이송 플레이트(176)가 상기 Y축 방향으로, 즉 상기 로더(152)를 향하여 이동함으로써 상기 인-레일들(184) 상에 로딩될 수 있다.The transfer plate 176 may be equipped with a gripper 194 for holding the electronic component 10 protruding from the first magazine 70 by the pusher of the magazine elevator 162. The gripper 194 may include an upper gripping member 194a and a lower gripping member 194b, and the upper gripping member 194a may be configured to be movable in the vertical direction. The electronic component 10 protruding from the first magazine 70 may be gripped between the upper gripping member 194a and the lower gripping member 194b, and the transfer plate 176 may be in the Y-axis direction. In other words, it may be loaded onto the in-rails 184 by moving toward the loader 152.

또한, 상기 그립퍼(194)는 상기 아웃-레일들(186) 상에 로딩된 상기 몰딩된 전자 부품(80)을 상기 제2 매거진(90)에 수납하기 위하여 상기 몰딩된 전자 부품(80)을 미는 푸셔로서 기능할 수도 있다.Further, the gripper 194 pushes the molded electronic component 80 to receive the molded electronic component 80 loaded on the out-rails 186 in the second magazine 90. It can also function as a pusher.

상기 레일 유닛(182)은 베이스 플레이트(196) 상에 배치될 수 있다. 상기 베이스 플레이트(196) 상에는 상기 전자 부품(10)이 상기 제1 피커(172)에 의해 상기 로더(152)로 이송되는 동안 상기 전자 부품(10)의 반도체 칩들(14)의 두께를 측정하기 위한 두께 측정부(198)가 배치될 수 있다. 상기 두께 측정부(198)는 상기 전자 부품(10) 상으로 일정한 폭을 갖는 리본빔을 조사할 수 있으며, 상기 전자 부품(10)으로부터 반사된 광을 검출할 수 있다. 또한, 상기 두께 측정부(198)는 상기 검출된 광을 분석함으로써 상기 반도체 칩들(14)의 두께를 측정할 수 있다.The rail unit 182 may be disposed on the base plate 196. The thickness of the semiconductor chips 14 of the electronic component 10 is measured on the base plate 196 while the electronic component 10 is transferred to the loader 152 by the first picker 172. The thickness measuring unit 198 may be disposed. The thickness measuring unit 198 may irradiate a ribbon beam having a predetermined width onto the electronic component 10, and detect light reflected from the electronic component 10. In addition, the thickness measuring unit 198 may measure the thicknesses of the semiconductor chips 14 by analyzing the detected light.

상기와는 다르게, 상기 두께 측정부(198)는 상기 검출된 광으로부터 상기 전자 부품(10)의 이미지를 획득할 수 있으며, 상기 이미지를 분석하여 상기 반도체 칩들(14)의 두께를 측정할 수도 있다.Unlike the above, the thickness measuring unit 198 may obtain an image of the electronic component 10 from the detected light, and may measure the thickness of the semiconductor chips 14 by analyzing the image. .

또한, 상세히 도시되지는 않았으나, 상기 두께 측정부(198)는 상기 X축 방향으로 이동 가능하도록 구성될 수 있다. 이는 상기 리본빔의 폭이 상기 반도체 칩들(14)의 폭보다 작은 경우 상기 리본빔을 이용하여 반도체 칩들(14)을 반복해서 스캐닝하기 위함이다.In addition, although not shown in detail, the thickness measuring unit 198 may be configured to be movable in the X-axis direction. This is to repeatedly scan the semiconductor chips 14 using the ribbon beam when the width of the ribbon beam is smaller than the width of the semiconductor chips 14.

상기 두께 측정부(198)에 의해 측정된 반도체 칩들(14)의 두께는 상기 수지 공급 유닛(140)으로 전송될 수 있으며, 상기 수지 공급 유닛(140)은 상기 반도체 칩들(14)의 두께에 따라 상기 빈 트레이(50b)로 공급되는 수지 분말(60)의 양을 조 절할 수 있다.The thicknesses of the semiconductor chips 14 measured by the thickness measuring unit 198 may be transmitted to the resin supply unit 140, and the resin supply unit 140 may depend on the thicknesses of the semiconductor chips 14. The amount of the resin powder 60 supplied to the empty tray 50b may be adjusted.

다시 도 1을 참조하면, 상기 인-레일들(184) 상의 전자 부품(10)은 상기 픽업 유닛(168)의 제1 피커(172)에 의해 이송될 수 있으며, 이어서 상기 로더(152)에 의해 상기 금형들(102) 중 하나로 공급될 수 있다. 즉, 상기 전자 부품(10)은 상기 로더의 서포트 부재(156)에 의해 지지될 수 있으며, 상기 로더(152)의 X축 방향 이동에 의해 상기 금형들(102) 중 하나로 공급될 수 있다.Referring again to FIG. 1, the electronic component 10 on the in-rails 184 may be transported by the first picker 172 of the pickup unit 168, followed by the loader 152. It may be supplied to one of the molds (102). That is, the electronic component 10 may be supported by the support member 156 of the loader, and may be supplied to one of the molds 102 by the X-axis movement of the loader 152.

또한, 상기 금형(102)에 의해 몰딩 공정이 수행된 후 상기 몰딩된 전자 부품(80)은 상기 로더(152)에 의해 상기 금형(102)으로부터 언로딩될 수 있으며, 상기 픽업 유닛(168)의 제2 피커(174)에 의해 상기 아웃-레일들(186) 상으로 이송될 수 있다. 상기 아웃-레일들(186) 상의 상기 몰딩된 전자 부품(80)은 상기 센서(192)에 의해 두께가 측정될 수 있으며, 이어서 상기 그립퍼(194)에 의해 상기 제2 매거진(90)에 수납될 수 있다.In addition, after the molding process is performed by the mold 102, the molded electronic component 80 may be unloaded from the mold 102 by the loader 152. It may be transported onto the out-rails 186 by a second picker 174. The molded electronic component 80 on the out-rails 186 may be measured by the sensor 192 and then be accommodated in the second magazine 90 by the gripper 194. Can be.

한편, 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 전자 부품(10, 80)은 상기 몰딩 공정을 위해 이송되는 동안 길이 방향, 즉 상기 Y축 방향으로 배치될 수 있다. 즉, 상기 몰딩 공정을 위해 상기 전자 부품(10, 80)을 이송하는 동안 상기 전자 부품(10, 80)을 회전시킬 필요가 없다.Meanwhile, as shown in FIG. 1, the electronic components 10 and 80 may be disposed in the longitudinal direction, that is, the Y-axis direction while being transported for the molding process. That is, it is not necessary to rotate the electronic components 10 and 80 while transferring the electronic components 10 and 80 for the molding process.

상술한 바와 같은 본 발명의 실시예들에 따르면, 전자 부품 몰딩 장치는 두 개의 금형들과 상기 금형들 사이에 배치되는 로더를 포함할 수 있다. 또한, 전자 부품을 이송하기 위한 픽업 유닛과 수지 분말이 적재된 트레이를 제공하기 위한 수 지 공급부가 상기 로더와 인접하게 배치될 수 있다. 결과적으로, 상기 금형들, 상기 수지 공급부 및 상기 픽업 유닛이 상기 로더를 중심으로 배치될 수 있으므로, 상기 전자 부품 및 상기 트레이의 이송 거리가 단축될 수 있다. 따라서, 상기 전자 부품의 몰딩 공정에 소요되는 시간이 단축될 수 있으며, 상기 전자 부품 몰딩 장치의 크기를 감소시킬 수 있다.According to the embodiments of the present invention as described above, the electronic component molding apparatus may include two molds and a loader disposed between the molds. In addition, a resin supply unit for providing a pickup unit for transferring electronic components and a tray on which resin powder is loaded may be disposed adjacent to the loader. As a result, since the molds, the resin supply part, and the pickup unit can be arranged around the loader, the transfer distance of the electronic component and the tray can be shortened. Therefore, the time required for the molding process of the electronic component can be shortened, and the size of the electronic component molding apparatus can be reduced.

추가적으로, 상기 전자 부품을 회전시킬 필요가 없으므로 상기 전자 부품의 회전에 필요한 유닛을 제거할 수 있으며, 상기 전자 부품의 로딩과 언로딩이 하나의 픽업 유닛에 의해 수행될 수 있으므로 상기 전자 부품 몰딩 장치의 제조 비용이 절감될 수 있다.In addition, since there is no need to rotate the electronic component, the unit necessary for the rotation of the electronic component can be removed, and since the loading and unloading of the electronic component can be performed by one pick-up unit, Manufacturing costs can be reduced.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the present invention as defined by the following claims It can be understood that

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 부품 몰딩 장치를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.1 is a schematic diagram illustrating an electronic component molding apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 2 및 도 3은 도 1에 도시된 금형들을 설명하기 위한 개략적인 구성도들이다.2 and 3 are schematic configuration diagrams for describing the molds shown in FIG. 1.

도 4는 도 1에 도시된 금형을 설명하기 위한 개략적인 측면도이다.FIG. 4 is a schematic side view for describing the mold illustrated in FIG. 1.

도 5는 도 1에 도시된 수지 공급부를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.FIG. 5 is a schematic configuration diagram illustrating the resin supply unit shown in FIG. 1.

도 6은 도 1에 도시된 매거진 유닛과 매거진 엘리베이터를 설명하기 위한 개략적인 정면도이다.FIG. 6 is a schematic front view for explaining the magazine unit and the magazine elevator shown in FIG. 1.

도 7은 도 1에 도시된 픽업 유닛과 레일 유닛을 설명하기 위한 개략적인 정면도이다.FIG. 7 is a schematic front view for describing the pickup unit and the rail unit illustrated in FIG. 1.

도 8은 도 1에 도시된 픽업 유닛과 레일 유닛을 설명하기 위한 개략적인 측면도이다.FIG. 8 is a schematic side view for describing the pickup unit and the rail unit illustrated in FIG. 1.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

10, 80 : 전자 부품 20 : 캐버티10, 80: electronic component 20: cavity

30 : 이형 필름 40 : 용융 수지30: release film 40: molten resin

50a, 50b : 트레이 60 : 수지 분말50a, 50b: Tray 60: Resin Powder

100 : 전자 부품 몰딩 장치 102 : 금형100: electronic component molding apparatus 102: mold

104 : 상형 108 : 상부 다이104: upper die 108: upper die

112 : 하형 116 : 하부 다이112: lower die 116: lower die

118 : 캐버티 부재 128 : 상부 클램프118: cavity member 128: upper clamp

130 : 하부 클램프 140 : 수지 공급부130: lower clamp 140: resin supply

142 : 수지 공급 유닛 144 : 로딩 엘리베이터142: resin supply unit 144: loading elevator

146 : 언로딩 엘리베이터 148 : 트레이 핸들러146: unloading elevator 148: tray handler

150 : 트레이 클리너 152 : 로더150: tray cleaner 152: loader

160 : 매거진 유닛 162 : 매거진 엘리베이터160: magazine unit 162: magazine elevator

168 : 픽업 유닛 172, 174 : 제1, 제2 피커168: pickup unit 172, 174: first, second picker

184 : 레일 유닛 184, 186 : 인, 아웃 레일184: Rail unit 184, 186: In and out rail

194 : 그립퍼 198 : 두께 측정부194: gripper 198: thickness measuring unit

Claims (14)

제1 방향으로 배열되며 전자 부품들을 몰딩하기 위한 두 개의 금형들;Two molds arranged in a first direction and for molding the electronic components; 상기 금형들 사이에 배치되며 상기 전자 부품들을 몰딩하기 위한 수지 분말이 적재된 트레이들 및 상기 전자 부품들을 상기 금형들로 로딩하기 위한 로더;Trays disposed between the molds and loaded with resin powder for molding the electronic components, and a loader for loading the electronic components into the molds; 상기 제1 방향에 대하여 수직하는 제2 방향으로 상기 로더의 일측에 배치되고 상기 로더로 상기 전자 부품들을 이송하는 픽업 유닛; 및A pickup unit disposed at one side of the loader in a second direction perpendicular to the first direction and transferring the electronic components to the loader; And 상기 픽업 유닛에 대향하는 상기 로더의 타측에 배치되고 상기 로더로 상기 수지 분말이 적재된 트레이들을 이송하는 수지 공급부를 포함하는 전자 부품 몰딩 장치.And a resin supply unit disposed on the other side of the loader opposite to the pickup unit and transferring the trays on which the resin powder is loaded to the loader. 제1항에 있어서, 각각의 금형은,The method of claim 1, wherein each mold, 상부 서포트 및 상기 상부 서포트의 하부면 상에 배치되며 상기 전자 부품들 중 하나가 로딩되는 하부면을 갖는 상부 다이를 포함하는 상형; 및An upper die comprising an upper die and an upper die disposed on a lower surface of the upper support and having a lower surface on which one of the electronic components is loaded; And 하부 서포트, 상기 상부 다이와 마주하도록 상기 하부 서포트 상에 배치되며 상기 전자 부품들 중 하나를 몰딩하기 위한 캐버티의 저면으로서 기능하는 상부면을 갖는 하부 다이 및 상기 하부 다이를 감싸도록 배치되며 상기 캐버티를 한정하는 내측면들을 갖는 캐버티 부재를 포함하며, 상기 상형의 아래에서 수직 방향으로 이동 가능하게 배치되는 하형을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 부품 몰딩 장치.A lower die, a lower die having an upper surface disposed on the lower support so as to face the upper die and serving as a bottom of a cavity for molding one of the electronic components, and arranged to enclose the lower die An electronic component molding apparatus comprising a cavity member having inner surfaces defining an upper surface thereof, the lower mold being movably disposed in a vertical direction below the upper mold. 제2항에 있어서, 각각의 금형은,The method of claim 2, wherein each mold, 상기 상형과 하형 사이로 이형 필름을 공급하기 위한 필름 공급부;A film supply unit for supplying a release film between the upper mold and the lower mold; 상기 공급된 이형 필름을 클램핑하기 위하여 상기 이형 필름 상부에 배치되며 수직 방향으로 이동 가능한 상부 클램프;An upper clamp disposed above the release film and movable in a vertical direction to clamp the supplied release film; 상기 공급된 이형 필름을 클램핑하기 위하여 상기 이형 필름 아래에 배치되며 수직 방향으로 이동 가능한 하부 클램프; 및A lower clamp disposed below the release film and movable in a vertical direction to clamp the supplied release film; And 상기 상부 클램프와 하부 클램프에 의해 상기 이형 필름이 클램핑되고 상기 클램핑된 이형 필름이 상기 캐버티 부재의 상부면 상에 밀착되도록 상기 상부 클램프를 수직 방향으로 이동시키는 구동부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 부품 몰딩 장치.And a driving unit for moving the upper clamp in a vertical direction such that the release film is clamped by the upper clamp and the lower clamp and the clamped release film is in close contact with the upper surface of the cavity member. Component molding device. 제3항에 있어서, 상기 이형 필름을 상기 캐버티의 저면 및 내측면들에 피복하기 위하여 상기 캐버티 부재의 상부면에 밀착된 이형 필름에 의해 한정된 캐버티를 진공 배기하는 진공홀들이 상기 하형에 형성된 것을 특징으로 하는 전자 부품 몰딩 장치.According to claim 3, Vacuum holes for evacuating the cavity defined by the release film in close contact with the upper surface of the cavity member in order to cover the release film on the bottom and the inner surface of the cavity is in the lower mold Electronic component molding apparatus, characterized in that formed. 제3항에 있어서, 상기 하형은 상기 캐버티 부재를 감싸도록 배치되는 하부 튜브를 더 포함하고, 상기 상형은 상기 상부 다이를 감싸도록 배치되는 상부 다이를 더 포함하며, 상기 상부 클램프는 상기 하부 튜브 내측에 배치되는 것을 특징으 로 하는 전자 부품 몰딩 장치.4. The lower mold of claim 3, wherein the lower mold further comprises a lower tube disposed to enclose the cavity member, the upper mold further comprises an upper die disposed to enclose the upper die, and the upper clamp further comprises the lower tube. Electronic component molding apparatus, characterized in that disposed on the inside. 제1항에 있어서, 상기 수지 공급부는,The method of claim 1, wherein the resin supply unit, 상기 로더 아래에 배치되어 상기 트레이들에 상기 수지 분말을 공급하기 위한 수지 공급 유닛; 및A resin supply unit disposed below the loader for supplying the resin powder to the trays; And 상기 수지 공급 유닛으로부터 상기 로더로 상기 수지 분말이 적재된 트레이들을 이송하기 위한 로딩 엘리베이터를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 부품 몰딩 장치.And a loading elevator for transferring the trays in which the resin powder is loaded from the resin supply unit to the loader. 제6항에 있어서, 상기 수지 공급 유닛의 아래에 배치되어 상기 수지 분말을 상기 금형들에 공급한 후 빈 트레이들에 잔류하는 수지 분말을 제거하기 위한 트레이 클리너; 및The apparatus of claim 6, further comprising: a tray cleaner disposed under the resin supply unit to remove resin powder remaining in empty trays after the resin powder is supplied to the molds; And 상기 빈 트레이들을 상기 로더로부터 상기 트레이 클리너로 그리고 상기 트레이 클리너로부터 상기 수지 공급 유닛으로 이송하기 위한 언로딩 엘리베이터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 부품 몰딩 장치.And an unloading elevator for transferring said empty trays from said loader to said tray cleaner and from said tray cleaner to said resin supply unit. 제1항에 있어서, 상기 전자 부품들을 수납하기 위한 제1 매거진과 상기 금형들에 의해 몰딩된 전자 부품들을 수납하기 위한 제2 매거진을 수직 방향으로 이동시키기 위한 매거진 엘리베이터; 및2. The apparatus of claim 1, further comprising: a magazine elevator for moving in a vertical direction a first magazine for accommodating the electronic components and a second magazine for accommodating the electronic components molded by the molds; And 상기 제1 매거진으로부터 제공되는 하나의 전자 부품과 상기 금형들 중 하나에 의해 몰딩된 하나의 전자 부품을 지지하는 레일 유닛을 더 포함하는 전자 부품 몰딩 장치.And a rail unit supporting one electronic component provided from the first magazine and one electronic component molded by one of the molds. 제8항에 있어서, 상기 픽업 유닛은,The method of claim 8, wherein the pickup unit, 상기 제2 방향으로 이동 가능하게 배치되는 이송 플레이트; 및A transfer plate movably disposed in the second direction; And 상기 이송 플레이트의 하부면 상에 배치되며 상기 레일 유닛에 의해 지지된 전자 부품을 픽업하고 상기 픽업된 전자 부품을 상기 로더로 이송하기 위한 제1 피커를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 부품 몰딩 장치.And a first picker disposed on a lower surface of the transfer plate and configured to pick up the electronic component supported by the rail unit and transfer the picked up electronic component to the loader. 제9항에 있어서, 상기 픽업 유닛은,The method of claim 9, wherein the pickup unit, 상기 이송 플레이트의 하부면 상에 배치되고 상기 로더로부터 상기 몰딩된 전자 부품을 상기 레일 유닛으로 이송하기 위한 제2 피커를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 부품 몰딩 장치.And a second picker disposed on the bottom surface of the transfer plate and configured to transfer the molded electronic component from the loader to the rail unit. 제9항에 있어서, 상기 전자 부품이 상기 제1 피커에 의해 이송되는 동안 상기 전자 부품의 반도체 칩들의 두께를 측정하기 위한 두께 측정부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 부품 몰딩 장치.The electronic component molding apparatus of claim 9, further comprising a thickness measuring unit configured to measure thicknesses of semiconductor chips of the electronic component while the electronic component is transferred by the first picker. 제11항에 있어서, 상기 두께 측정부는 리본빔을 상기 전자 부품 상에 조사하며, 상기 전자 부품으로부터 반사된 광을 검출하고, 상기 검출된 광을 분석하여 상 기 반도체 칩들의 두께를 측정하는 것을 특징으로 하는 전자 부품 몰딩 장치.The semiconductor device of claim 11, wherein the thickness measuring unit irradiates a ribbon beam onto the electronic component, detects light reflected from the electronic component, and analyzes the detected light to measure thicknesses of the semiconductor chips. Electronic component molding apparatus. 제8항에 있어서, 상기 레일 유닛은,The method of claim 8, wherein the rail unit, 상기 제1 방향으로 이동 가능하게 배치되는 레일 플레이트;A rail plate disposed to be movable in the first direction; 상기 레일 플레이트 상에 배치되어 상기 전자 부품을 지지하며 상기 제2 방향으로 안내하기 위한 인-레일들(in-rails); 및In-rails disposed on the rail plate for supporting the electronic component and guiding in the second direction; And 상기 레일 플레이트 상에 배치되어 상기 몰딩된 전자 부품을 지지하며 상기 제2 방향으로 안내하기 위한 아웃-레일들(out-rails)을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 부품 몰딩 장치.And out-rails disposed on the rail plate to support and guide the molded electronic component in the second direction. 제13항에 있어서, 상기 레일 유닛은,The method of claim 13, wherein the rail unit, 상기 레일 플레이트에 의해 상기 제1 방향으로 이동된 상기 몰딩된 전자 부품의 두께를 측정하기 위한 센서를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 부품 몰딩 장치.And a sensor for measuring a thickness of the molded electronic component moved in the first direction by the rail plate.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20010027996A (en) * 1999-09-17 2001-04-06 윤종용 Resin molder for semiconductor chip package
KR20020022428A (en) * 2000-09-20 2002-03-27 정규환 An auto molding device of lead-frame
JP2003152005A (en) 2001-11-19 2003-05-23 Towa Corp Resin sealing molding device of semiconductor element
JP2008137390A (en) 2008-01-10 2008-06-19 Apic Yamada Corp Resin molding process and resin molding apparatus

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010027996A (en) * 1999-09-17 2001-04-06 윤종용 Resin molder for semiconductor chip package
KR20020022428A (en) * 2000-09-20 2002-03-27 정규환 An auto molding device of lead-frame
JP2003152005A (en) 2001-11-19 2003-05-23 Towa Corp Resin sealing molding device of semiconductor element
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