KR101011714B1 - Test Tray - Google Patents

Test Tray Download PDF

Info

Publication number
KR101011714B1
KR101011714B1 KR1020080117723A KR20080117723A KR101011714B1 KR 101011714 B1 KR101011714 B1 KR 101011714B1 KR 1020080117723 A KR1020080117723 A KR 1020080117723A KR 20080117723 A KR20080117723 A KR 20080117723A KR 101011714 B1 KR101011714 B1 KR 101011714B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pallet
connector
backlight
inspected object
panel
Prior art date
Application number
KR1020080117723A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20100059080A (en
Inventor
송한옥
김성욱
Original Assignee
삼성전기주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전기주식회사 filed Critical 삼성전기주식회사
Priority to KR1020080117723A priority Critical patent/KR101011714B1/en
Priority to CN2009101801665A priority patent/CN101738505B/en
Publication of KR20100059080A publication Critical patent/KR20100059080A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101011714B1 publication Critical patent/KR101011714B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2884—Testing of integrated circuits [IC] using dedicated test connectors, test elements or test circuits on the IC under test
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2825—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2863—Contacting devices, e.g. sockets, burn-in boards or mounting fixtures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2865—Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/2872—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
    • G01R31/2879—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to electrical aspects, e.g. to voltage or current supply or stimuli or to electrical loads

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

테스트 트레이가 개시된다. 피검사물에 전기적 연결을 제공하는 장치로서, 피검사물이 안착되는 안착부가 형성되는 팔레트부와, 피검사물과 전기적으로 연결되는 복수의 커넥터부와, 커넥터부와 전기적으로 연결되는 단자부를 포함하는 테스트 트레이는, 피검사물의 전기적 연결관계를 일괄적으로 처리하여, 피검사물의 전기적 특성을 검사하는데 있어서, 그 작업의 효율성을 향상시킬 수 있다.The test tray is started. An apparatus for providing an electrical connection to an object to be inspected, comprising: a pallet portion on which a seating portion on which an inspected object is placed; a plurality of connector portions electrically connected to the inspected object; and a terminal portion electrically connected to the connector portion. It is possible to improve the efficiency of the work in collectively processing the electrical connection relationship of the inspected object and inspecting the electrical characteristics of the inspected object.

Tray, pallet, socket, connector, IP board Tray, pallet, socket, connector, IP board

Description

테스트 트레이{Test Tray}Test Tray {Test Tray}

본 발명은 테스트 트레이에 관한 것이다.The present invention relates to a test tray.

컴퓨터의 모니터, 텔레비전과 같은 디스플레이 장치에는 전원공급장치가 사용되고 있다. 전원공급장치는 인쇄회로기판 상에 다양한 전자소자들이 실장되고, 그 전기적 특성을 시험하기 위한 테스트를 거친 뒤, 고온에서의 동작특성을 알아보기 위한 번인(burn in)테스트 등을 거쳐 생산된다. A power supply is used for a display device such as a computer monitor or a television. The power supply device is manufactured by mounting various electronic elements on a printed circuit board, testing it for testing its electrical characteristics, and burning it in order to check its operating characteristics at high temperatures.

전원공급장치는 외부로부터 전원을 공급받는 부분, 디스플레이 패널과 연결되는 부분, 백라이트와 연결되는 부분 등과 같이 테스트 장비와 많은 전기적 연결을 형성하여야만 그 전기적 특성에 대한 테스트가 가능하다. The power supply can be tested for its electrical characteristics by forming many electrical connections with the test equipment, such as an externally powered portion, a portion connected to the display panel, and a portion connected to the backlight.

이 때, 각 테스트 공정마다 작업자가 일일이 그 전기적 연결을 위해 커넥터 등을 전원공급장치에 탈착 해야 하기 때문에, 많은 인력이 소요되고 그 작업의 효율성이 저하되는 문제가 있었다. 또한, 작업자가 전원공급장치를 계속적으로 조작하는 과정에서, 전원공급장치가 손상되어 불량을 유발할 수 있는 소지가 있었다. At this time, since the operator has to attach and detach the connector and the like to the power supply unit one by one for each test process, a lot of manpower is required and the efficiency of the work is lowered. Further, in the process of the operator continuously operating the power supply device, there is a possibility that the power supply device may be damaged and cause a failure.

본 발명은, 복수의 전선이 형성되는 피검사물의 전기적 테스트에 있어서, 그 전선의 연결을 일괄적으로 할 수 있는 테스트 트레이를 제공하는 것이다.The present invention provides a test tray capable of collectively connecting electric wires in an electrical test of an inspected object on which a plurality of electric wires are formed.

본 발명의 일 측면에 따르면, 피검사물에 전기적 연결을 제공하는 장치로서, 피검사물이 안착되는 안착부가 형성되는 팔레트부와, 피검사물과 전기적으로 연결되는 커넥터부와, 복수의 커넥터부와 전기적으로 연결되는 단자부를 포함하는 테스트 트레이가 제공된다.According to an aspect of the present invention, there is provided an apparatus for providing an electrical connection to an inspected object, comprising: a pallet portion on which a seating portion on which an inspected object is seated; a connector portion electrically connected to the inspected object; There is provided a test tray including a terminal portion to be connected.

여기서, 단자부는 팔레트부의 일측에 형성될 수 있다. 그리고, 안착부에는 복수 개의 고정홀이 형성되며, 테스트 트레이는 피검사물이 안착부에 고정되도록 고정홀에 삽입되는 스톱퍼를 더 포함할 수 있다. 또한, 테스트 트레이는 피검사물의 전선이 팔레트부에 고정되도록 팔레트부에 인접하여 결합되는 스냅핏(snap fit) 또는 벨크로 테이프(velcro tape)를 더 포함할 수 있다. Here, the terminal portion may be formed on one side of the pallet portion. The test tray may further include a stopper inserted into the fixing hole so that the test object is fixed to the seating portion. Further, the test tray may further include a snap fit or a velcro tape which is adjacent to the pallet portion so that the electric wire of the inspected object is fixed to the pallet portion.

한편, 테스트 트레이는 피검사물이 안착되도록 팔레트부에 탈착 가능하게 결합되는 서브 팔레트부를 더 포함할 수 있으며, 서브 팔레트부에는 복수 개의 고정홀에 형성되며 피검사물이 서브 팔레트부에 고정되도록 고정홀에 삽입되는 스톱퍼를 더 포함할 수 있다. The test tray may further include a sub-pallet portion detachably coupled to the pallet portion so that the inspected object is placed thereon. The sub-pallet portion is formed in a plurality of fixing holes, and the test object is fixed to the sub- And may further include a stopper inserted therein.

이 때, 피검사물의 전선이 서브 팔레트부에 고정되도록 서브 팔레트부에 결 합되는 벨크로 테이프를 더 포함할 수 있다. 그리고, 팔레트부가 안착되는 프레임과, 프레임의 일측에 단자부가 삽입되는 소켓부를 포함하는 소켓 팔레트부를 더 포함할 수 있다. At this time, it is possible to further include a Velcro tape which is joined to the sub-pallet part so that the electric wire of the inspected object is fixed to the sub-pallet part. The apparatus may further include a socket pallet portion including a frame on which the pallet portion is seated and a socket portion into which the terminal portion is inserted on one side of the frame.

또한, 피검사물은 외부전원을 공급받는 외부전원부와, 디스플레이 패널에 전원을 공급하는 패널전원부와, 디스플레이 패널의 피드백 신호를 수신하는 패널신호수신부와, 디스플레이 백라이트에 전원을 공급하는 백라이트전원부 및 디스플레이 백라이트의 피드백 신호를 수신하는 백라이트신호수신부를 포함하는 디스플레이 전원 공급장치이며, 커넥터부는 외부전원부와 탈착 가능하게 결합되는 외부전원커넥터와, 패널전원부와 탈착 가능하게 결합되는 패널전원커넥터와, 패널신호수신부와 탈착 가능하게 결합되는 패널신호커넥터와, 백라이트전원부와 탈착 가능하게 결합되는 백라이트전원커넥터 및 백라이트신호수신부와 탈착 가능하게 결합되는 백라이트신호커넥터를 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다. In addition, the object to be inspected may include an external power source for receiving external power, a panel power source for supplying power to the display panel, a panel signal receiver for receiving a feedback signal of the display panel, a backlight power source for supplying power to the display backlight, And a backlight signal receiving unit for receiving a feedback signal of the backlight signal. The connector unit includes an external power source connector detachably coupled to the external power source unit, a panel power source connector detachably coupled to the panel power source unit, A backlight power connector detachably coupled to the backlight power source, and a backlight signal connector detachably coupled to the backlight signal receiving unit.

여기서, 패널전원커넥터, 패널신호커넥터, 백라이트전원커넥터, 백라이트신호커넥터, 단자부는 팔레트부의 일측에 형성되는 인쇄회로기판 상에 형성되는 것을 특징으로 할 수 있다.Here, the panel power connector, the panel signal connector, the backlight power connector, the backlight signal connector, and the terminal portion may be formed on a printed circuit board formed on one side of the pallet portion.

상술한 바와 같이 본 발명의 실시예에 따르면, 복수의 전선을 구비하는 피검사물의 전기적 연결관계를 일괄적으로 처리하여, 피검사물의 전기적 특성을 검사하는데 있어서, 그 작업의 효율성을 향상시킬 수 있다.As described above, according to the embodiment of the present invention, in checking the electrical characteristics of the inspected object by collectively processing the electrical connection relationships of the inspected objects having a plurality of electric wires, the efficiency of the work can be improved .

본 발명의 특징, 이점이 이하의 도면과 발명의 상세한 설명으로부터 명확해질 것이다.Features and advantages of the present invention will become apparent from the following drawings and detailed description of the present invention.

이하, 본 발명에 따른 테스트 트레이의 실시예를 첨부도면을 참조하여 상세히 설명하기로 하며, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어, 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 도면번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT Hereinafter, embodiments of a test tray according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Referring to the accompanying drawings, the same or corresponding components are denoted by the same reference numerals, Is omitted.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 트레이(1000)를 나타낸 사시도이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 트레이(1000)는, 피검사물에 전기적 연결을 제공하는 장치로서, 피검사물이 안착되는 안착부(110)가 형성되는 팔레트부(100)와, 피검사물과 전기적으로 연결되는 복수의 커넥터부(140)와, 복수의 커넥터부(140)와 전기적으로 연결되는 단자부(132)를 포함함으로써, 피검사물의 전기적 연결관계를 일괄적으로 처리하여, 피검사물의 전기적 특성을 검사하는데 있어서, 그 작업의 효율성을 향상시킬 수 있다.1 is a perspective view showing a test tray 1000 according to an embodiment of the present invention. 1, a test tray 1000 according to an exemplary embodiment of the present invention provides an electrical connection to an inspected object. The test tray 1000 includes a pallet portion (not shown) having a seating portion 110 on which an inspected object is placed 100, a plurality of connector portions 140 electrically connected to the inspected object, and a terminal portion 132 electrically connected to the plurality of connector portions 140, so that the electrical connection relationships of the inspected objects can be collectively So that the efficiency of the work can be improved in checking the electrical characteristics of the inspected object.

테스트 트레이(1000)는 피검사물을 안착되어 운반되는 운반체로서의 역할뿐만 아니라, 피검사물의 전기적 테스트를 위해 피검사물과 전기적 연결을 형성함으로써 피검사물에 전기적 연결을 제공할 수 있는 장치일 수 있다. 본 실시예에서 피검사물은 후술할 디스플레이 전원공급장치(50)일 수 있다. The test tray 1000 may be a device capable of providing an electrical connection to the inspected object by forming an electrical connection with the inspected object for an electrical test of the inspected object, as well as a role as a carrier to which the inspected object is carried. In this embodiment, the inspected object may be a display power supply device 50 to be described later.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 트레이(1000)를 나타낸 평면도이다. 도 1 내지 도 2에 도시된 바와 같이, 팔레트부(100)에는 디스플레이 전원공급 장치(50)가 안착될 수 있는 안착부(110)가 형성될 수 있다. 안착부(110)는 팔레트부(100)의 일면에 평평한 평면을 이루도록 형성된 부분으로 디스플레이 전원공급장치(50)가 안착되어 지지될 수 있다. 2 is a plan view showing a test tray 1000 according to an embodiment of the present invention. As shown in FIGS. 1 and 2, the pallet part 100 may have a seating part 110 on which the display power supply device 50 can be mounted. The seating part 110 may be supported by a display power supply device 50 mounted on a part of the pallet part 100 which is formed to have a flat plane.

안착부(110)에는 복수 개의 고정홀(112)이 형성될 수 있다. 고정홀(112)은 안착부(110)에 가로세로 일정한 간격을 이루며 격자형태로 형성될 수 있다. 스톱퍼(120)는 디스플레이 전원공급장치(50)의 가장자리를 구속할 수 있도록 고정홀(112)에 삽입될 수 있다.A plurality of fixing holes 112 may be formed in the seating part 110. The fixing holes 112 may be formed in a grid shape at regular intervals in the seating part 110. The stopper 120 may be inserted into the fixing hole 112 so as to restrain the edge of the display power supply 50.

삽입홀(114)은 안착부(110)의 중앙에 팔레트부(100)를 관통하여 형성될 수 있으며, 후술할 서브 팔레트부(100)를 팔레트부(100)에 고정시킬 수 있다. The insertion hole 114 may be formed through the pallet part 100 at the center of the seating part 110 and may fix the sub-pallet part 100 to be described later to the pallet part 100.

디스플레이 전원공급장치(50)와 테스트 트레이(1000)는 전선을 이용하여 전기적 연결을 형성할 수 있으며, 이러한 전선을 정리할 수 있도록 안착부(110)에 인접하여 스냅핏(snap fit, 116)과 밸크로 테이프(valcro tape, 118)가 결합될 수 있다. 전선은 스냅핏(116)에 삽입되거나 밸크로 테이프(118)에 감겨져서 팔레트부(100)에 고정될 수 있다. The display power supply unit 50 and the test tray 1000 can form an electrical connection using electric wires and are provided adjacent to the seating unit 110 so as to arrange the electric wires, A valcro tape 118 can be coupled. The electric wire may be inserted into the snap fit 116 or wrapped around the bolt tape 118 to be fixed to the pallet part 100.

한편, 팔레트부(100)는 탄소를 포함하는 재질로 이루어져, 테스트 트레이(1000)를 이용하여 디스플레이 전원공급장치(50)의 테스트가 이루어지는 과정에서 발생할 수 있는 정전기로부터 디스플레이 전원공급장치(50)를 보호할 수 있다. The pallet part 100 is made of a material containing carbon and is used to remove the display power supply device 50 from the static electricity that may be generated during the test of the display power supply device 50 using the test tray 1000 Can be protected.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 트레이(1000)에 디스플레이 전원공급장치(50)가 안착된 모습을 나타낸 평면도이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 커넥터부(140)는 디스플레이 전원공급장치(50)와 전기적으로 연결될 수 있다. 3 is a plan view showing a display power supply device 50 mounted on a test tray 1000 according to an embodiment of the present invention. 3, the connector unit 140 may be electrically connected to the display power supply unit 50. As shown in FIG.

디스플레이 전원공급장치(50)는, 외부전원부(58)와, 패널전원부와, 패널신호수신부와, 백라이트전원부(52) 및 백라이트신호수신부(54)를 포함할 수 있다. 여기서 패널전원부과 패널신호수신부는 하나의 커넥터 형태를 가지는 패널전원-신호수신부(56)로 형성될 수 있다.The display power supply unit 50 may include an external power supply unit 58, a panel power supply unit, a panel signal receiving unit, a backlight power supply unit 52, and a backlight signal receiving unit 54. Here, the panel power source and the panel signal receiving unit may be formed as a panel power source-signal receiving unit 56 having one connector type.

외부전원부(58)는 디스플레이 전원공급장치(50)가 장착되는 디스플레이 장치에 메인 전원을 공급받는 부분일 수 있다. 외부전원부(58)에는 통상의 사용전압인 110V, 220V의 교류전류가 공급될 수 있다. The external power supply unit 58 may be a part that receives main power from a display device on which the display power supply unit 50 is mounted. The external power supply unit 58 may be supplied with alternating currents of 110V and 220V, which are normal operating voltages.

패널전원부는 디스플레이 패널에 직류형태의 구동전압을 제공할 수 있으며, 패널신호수신부는 예를 들어 LCD패널과 같은 디스플레이 패널의 동작에 따른 피드백 신호를 수신하는 부분일 수 있다. The panel power supply unit may provide a driving voltage of a direct current type to the display panel, and the panel signal receiving unit may be a part that receives a feedback signal according to the operation of the display panel such as an LCD panel.

백라이트전원부(52)는 디스플레이 백라이트에 교류형태의 구동전압을 공급할 수 있으며, 백라이트신호수신부(54)는 디스플레이 백라이트의 동작에 따른 피드백 신호를 수신할 수 있는 부분일 수 있다. The backlight power supply unit 52 may supply a driving voltage of the AC type to the display backlight and the backlight signal receiving unit 54 may be a part capable of receiving the feedback signal according to the operation of the display backlight.

커넥터부(140)는 상술한 디스플레이 전원공급장치(50)에 전기적 연결이 필요한 부분에 각각 연결될 수 있도록, 외부전원커넥터(139), 패널전원커넥터와, 패널신호커넥터와, 백라이트전원커넥터(136) 및 백라이트신호커넥터(138)를 포함할 수 있다. 여기서, 패널전원커넥터와 패널신호커넥터는 패널전원-신호수신부(56)와 같이 하나의 패널전원-신호수신커넥터(134)로 형성될 수 있다. The connector unit 140 includes an external power connector 139, a panel power connector, a panel signal connector, a backlight power connector 136, and the like, so that the connector 140 can be connected to the display power supply unit 50, And a backlight signal connector 138. Here, the panel power source connector and the panel signal connector may be formed as one panel power source-signal receiving connector 134, such as the panel power source-signal receiving unit 56.

커넥터부(140)의 개수와 형태는 피검사물의 전기적 연결이 필요한 부분에 상응하여 다양한 형태와 개수로 변경될 수 있음은 물론이다. It is needless to say that the number and the shape of the connector 140 can be changed into various forms and numbers in accordance with the portion to be electrically connected to the inspected object.

외부전원커넥터(139)는 외부전원부를 통해 디스플레이 전원공급장치(50)에 메인 전원을 공급할 수 있다. 외부전원커넥터(139)는 통상의 사용전압을 가지는 교류전류를 디스플레이 전원공급장치(50)에 제공할 수 있다. 외부전원커넥터(139)는 소켓과 같은 형태로 구현되어 외부전원부(58)과 연결되는 전선의 탈착이 용이하게 할 수 있다.The external power supply connector 139 can supply the main power to the display power supply 50 through the external power supply. The external power supply connector 139 can provide the display power supply 50 with an alternating current having a normal use voltage. The external power supply connector 139 is implemented in the form of a socket so that the external power supply unit 58 can be easily connected and disconnected.

패널전원-신호수신커넥터(134)는 패널전원-신호수신부와 연결되는 전선(57)과 연결이 용이하도록 소켓의 형태로 인쇄회로기판(130) 상에 구현될 수 있다. The panel power source-signal receiving connector 134 may be implemented on the printed circuit board 130 in the form of a socket so as to facilitate connection with an electric wire 57 connected to the panel power source-signal receiving unit.

백라이트전원커넥터(136)는 백라이트전원부와 탈착 가능하게 결합될 수 있으며, 백라이트신호커넥터(138) 또한 백라이트신호수신부와 탈착 가능하게 결합될 수 있다. 백라이트전원커넥터(136)와 백라이트신호커넥터(138)는 복수 개의 핀 형태로 인쇄회로기판(130) 상에 형성될 수 있다. The backlight power connector 136 may be detachably coupled to the backlight power source, and the backlight signal connector 138 may also be detachably coupled to the backlight signal receiver. The backlight power connector 136 and the backlight signal connector 138 may be formed on the printed circuit board 130 in the form of a plurality of pins.

단자부(132)는 인쇄회로기판(130) 상에 형성되는 회로패턴에 의해 커넥터부(140)와 전기적으로 연결될 수 있다. 단자부(132)는 팔레트부(100)의 일측에 결합되는 인쇄회로기판(130) 상에 형성되어, 테스트 트레이(1000)의 외부의 각종 테스트 장치와 전기적 연결을 형성할 수 있다.  The terminal portion 132 may be electrically connected to the connector portion 140 by a circuit pattern formed on the printed circuit board 130. The terminal portion 132 may be formed on a printed circuit board 130 coupled to one side of the pallet portion 100 to form an electrical connection with various test devices outside the test tray 1000.

단자부(132)는 인쇄회로기판(130) 상에 일렬로 배치되어 형성될 수 있다. 따라서, 단자부(132)는 테스트 트레이(1000)가 각종 테스트 장비와 전기적 연결을 용이하게 형성할 수 있도록 한다. The terminal portions 132 may be arranged in a line on the printed circuit board 130. Accordingly, the terminal portion 132 allows the test tray 1000 to easily form an electrical connection with various test equipment.

작업자는 테스트 트레이(1000)의 단자부(132)를 테스트 장비의 소켓형태로 형성되는 부분에 삽입하는 동작만으로 피검사물과 테스트 장비 간의 전기적 연결을 형성할 수 있다. The operator can form an electrical connection between the test object and the test equipment by only inserting the terminal portion 132 of the test tray 1000 into the socket portion of the test equipment.

단자부(132)는 구리(Cu)와 베릴륨(Be)의 합금으로 이루어질 수 있으며, 그 두께는 0.1mm이상으로 형성될 수 있다. 따라서, 단자부(132)는 각종 테스트 장비와 전기적 연결을 형성하는 과정에서 발생할 수 있는 마모에 대해 저항력을 가질 수 있다. The terminal portion 132 may be made of an alloy of copper (Cu) and beryllium (Be), and may have a thickness of 0.1 mm or more. Accordingly, the terminal portion 132 may have resistance to abrasion that may occur in the process of forming an electrical connection with various test equipment.

결국, 작업자는 디스플레이 전원공급장를 테스트 트레이(1000)의 안착부(110)에 안착시키고, 커넥터부(140)를 이용하여 디스플레이 전원공급장치(50)와 전기적 연결을 일괄적으로 형성한 후에, 테스트 트레이(1000)의 단자부(132)를 각종 테스트 장비의 연결부에 삽입하는 동작을 통해 간단하게 디스플레이 전원공급장치(50)와 테스트 장비 간에 전기적 연결을 용이하게 형성할 수 있다. As a result, the operator places the display power supply field in the seating portion 110 of the test tray 1000, collectively forms the electrical connection with the display power supply device 50 using the connector portion 140, The electrical connection between the display power supply device 50 and the test equipment can be easily established through the operation of inserting the terminal portion 132 of the tray 1000 into the connection portion of various test equipment.

도 4는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 테스트 트레이(2000)를 나타낸 분해 사시도이다. 도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 테스트 트레이(2000)는, 디스플레이 전원공급장치(60)가 안착될 수 있도록 팔레트부(100)에 탈착 가능하게 결합되는 서브 팔레트부(200)를 더 포함함으로써, 팔레트부(100)의 안착부(110) 보다 큰 사이즈의 디스플레이 전원공급장치(60)에 대응하여, 이러한 디스플레이 전원공급장치(60)를 안착시킬 수 있으며, 그 에 전기적 연결의 제공할 수 있다.4 is an exploded perspective view showing a test tray 2000 according to another embodiment of the present invention. 4, a test tray 2000 according to another embodiment of the present invention includes a sub-pallet part 210 detachably coupled to the pallet part 100 so that the display power supply device 60 can be seated, It is possible to seat such a display power supply device 60 corresponding to the display power supply device 60 of a size larger than the seating part 110 of the pallet part 100 by including the display power supply device 200, Electrical connection can be provided.

본 실시예의 테스트 트레이(2000)는 상술한 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 트레이(1000)와 서브 팔레트부(200)를 제외하고 동일한 구성을 가질 수 있다. 이에 대한 설명은 상술한 본 발명의 일 실시예에 대한 설명으로 갈음한다. The test tray 2000 of the present embodiment may have the same configuration except for the test tray 1000 and the sub-pallet portion 200 according to the above-described embodiment of the present invention. The description of the present invention is to be replaced with the description of one embodiment of the present invention described above.

도 5는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 서브 팔레트부(200)를 나타낸 사시도이고, 도 6은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 서브 팔레트부(200)를 나타낸 평면도이다. 도 5, 6에 도시된 바와 같이, 서브 팔레트부(200)는 팔레트부(100)에 탈착 가능하게 결합되어 대형 디스플레이 전원공급장치(60)가 테스트 트레이(2000)에 안착될 수 있는 안착면을 추가적으로 제공할 수 있다. FIG. 5 is a perspective view illustrating a sub-pallet unit 200 according to another embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a plan view illustrating a sub-pallet unit 200 according to another embodiment of the present invention. 5 and 6, the sub-pallet part 200 is detachably coupled to the pallet part 100 so that the large display power supply unit 60 can be seated on the test tray 2000 And can be additionally provided.

서브 팔레트부(200)의 중앙 부근에는 삽입홀(230)이 형성될 수 있으며, 이 삽입홀(230)이 팔레트부(100)의 삽입홀(114)과 일치하도록 배치하고, 여기에 나사(231)와 같은 결합구 삽입하여 고정할 수 있다. 따라서, 서브 팔레트부(200)는 팔레트부(100)에 탈착 가능하게 결합될 수 있다. An insertion hole 230 may be formed in the vicinity of the center of the sub pallet 200 and the insertion hole 230 may be aligned with the insertion hole 114 of the pallet 100, ) Can be inserted and fixed by inserting a coupling hole. Accordingly, the sub-pallet unit 200 can be detachably coupled to the pallet unit 100. [

한편, 서브 팔레트부(200)의 가장자리에는 디스플레이 전원공급장치(60)와 커넥터부(140)을 연결하는 전선이 삽입되어 고정될 수 있는 홀딩홀(211)이 형성될 수 있다.A holding hole 211 may be formed at an edge of the sub-pallet 200 to receive and fix the wire connecting the display power supply unit 60 and the connector unit 140.

도 7은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 테스트 트레이(2000)에 디스플레이 전원공급장치(60)가 안착된 모습을 나타낸 평면도이다. 도 7에 도시된 바와 같이, 서브 팔레트부(200)의 가장자리에는 복수 개의 고정홀(212)이 형성될 수 있다. 7 is a plan view showing a display power supply unit 60 mounted on a test tray 2000 according to another embodiment of the present invention. As shown in FIG. 7, a plurality of fixing holes 212 may be formed at the edges of the sub-pallet portion 200.

고정홀(212)에는 스톱퍼(220)가 삽입되어, 디스플레이 전원공급장치(60)의 가장자리를 구속함으로써, 디스플레이 전원공급장치(60)가 서브 팔레트부(200)에 고정되도록 할 수 있다. The display power supply unit 60 may be fixed to the sub-pallet unit 200 by fixing the edge of the display power supply unit 60 by inserting the stopper 220 into the fixing hole 212.

서브 팔레트부(200)의 양측에는 밸크로 테이프(218)가 결합되어, 디스플레이 전원공급장치(60)에 전기적 연결을 위한 전선을 고정할 수 있다. A ballast tape 218 is coupled to both sides of the sub-pallet 200 to fix the electric wire to the display power supply unit 60 for electrical connection.

도 8은 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 테스트 트레이(3000)를 나타낸 사시도이고, 도 9는 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 소켓 팔레트부(300)를 나타낸 분해 사시도이다. 도 8, 9에 도시된 바와 같이, 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 테스트 트레이(3000)는 팔레트부(100)가 안착되는 프레임(305)과, 프레임(305)의 일측에 단자부(132)가 삽입되는 소켓부(310)를 포함하는 소켓 팔레트부(300)를 더 포함함으로써, 번인(burn in)테스트를 위해 디스플레이 전원공급장치(60)에 전기적 연결을 제공할 수 있다. FIG. 8 is a perspective view showing a test tray 3000 according to another embodiment of the present invention, and FIG. 9 is an exploded perspective view showing a socket pallet part 300 according to another embodiment of the present invention. 8 and 9, the test tray 3000 according to another embodiment of the present invention includes a frame 305 on which the pallet part 100 is mounted, a terminal part 132 on one side of the frame 305, The socket pallet portion 300 including the socket portion 310 into which the display power supply 60 is inserted can be provided to provide an electrical connection to the display power supply 60 for a burn in test.

본 실시예의 테스트 트레이(3000)는 상술한 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 테스트 트레이(2000)와 소켓 팔레트부(300)를 제외하고 동일한 구성을 가질 수 있다. 이에 대한 설명은 상술한 본 발명의 다른 일 실시예에 대한 설명으로 갈음한다. The test tray 3000 of the present embodiment may have the same configuration except for the test tray 2000 and the socket pallet portion 300 according to another embodiment of the present invention described above. The description of the present invention is to be replaced with a description of another embodiment of the present invention described above.

번인 테스트는 고온의 환경에서 디스플레이 전원공급장치(60)를 저항(load)과 연결하여 동작시킴으로써, 열 스트레스와 전기적 스트레스 하에서 디스플레이 전원공급장치(60)에 발생할 수 있는 불량을 검출하는 것을 말한다. The burn-in test refers to detecting defects that may occur in the display power supply unit 60 under thermal stress and electrical stress by operating the display power supply unit 60 in conjunction with a load in a high-temperature environment.

도 9에 도시된 바와 같이, 소켓 팔레트부(300)는 프레임(305)과 소켓부(310)를 포함할 수 있다. 9, the socket pallet portion 300 may include a frame 305 and a socket portion 310. [

프레임(305)은 팔레트부(100)가 안착될 수 있으며, 팔레트부(100)와 번인 테스트를 위한 번인 장치(10) 간에 전기적 연결을 제공할 수 있다. 프레임(305)은 중앙 부근이 관통된 형태를 가질 수 있으며, 프레임(305)의 일측에는 소켓부(310)가 형성될 수 있다. The frame 305 can seat the pallet part 100 and provide an electrical connection between the pallet part 100 and the burn-in device 10 for the burn-in test. The frame 305 may have a shape that penetrates the center portion and the socket portion 310 may be formed on one side of the frame 305.

도 10은 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 소켓 팔레트부(300)의 소켓부(310)를 나타낸 단면도이다. 도 9 내지 도 10에 도시된 바와 같이, 소켓부(310)는 소켓상부지지체(316), 소켓인쇄회로기판(314) 및 소켓하부지지체(312)를 포함함으로써, 팔레트부(100)의 단자부(132)가 삽입되어 전기적 연결을 형성할 수 있다. 10 is a sectional view showing a socket portion 310 of a socket pallet portion 300 according to another embodiment of the present invention. 9 to 10, the socket portion 310 includes the socket upper support 316, the socket printed circuit board 314, and the socket lower support 312 so that the terminal portion (not shown) of the pallet portion 100 132 may be inserted to form an electrical connection.

소켓하부지지체(312)는 팔레트부(100)가 소켓부(310)에 삽입되면, 팔레트부(100)의 하측을 지지할 수 있다. 소켓인쇄회로기판(314)에는 단자부(132)와 접촉하여 전기적 연결을 형성하는 전극이 형성될 수 있다. The socket lower support 312 can support the lower side of the pallet part 100 when the pallet part 100 is inserted into the socket part 310. The socket printed circuit board 314 may be provided with an electrode which contacts the terminal portion 132 to form an electrical connection.

전극(315)은 단자부(132)의 배치에 상응하여 소켓인쇄회로기판(314)의 일면에 복수 개가 나란히 배치될 수 있다. 소켓인쇄회로기판(314)에는 전극(315)과 전기적으로 연결되는 회로패턴이 형성될 수 있다. A plurality of the electrodes 315 may be arranged side by side on the socket printed circuit board 314 corresponding to the arrangement of the terminal portions 132. [ A circuit pattern electrically connected to the electrode 315 may be formed on the socket printed circuit board 314.

그리고, 소켓인쇄회로기판(314)은 외부연결커넥터(320)와 전기적으로 연결되어, 소켓 팔레트(300)의 외부와 디스플레이 전원공급장치(60) 간에 전기적 연결을 제공할 수 있다. 외부연결커넥터(320)는 소켓 팔레트(300)의 일측에 소켓의 형태로 형성될 수 있으며, 전기적 연결을 위해 그 내부에 복수의 핀이 형성될 수 있다.The socket printed circuit board 314 may be electrically connected to the external connection connector 320 to provide an electrical connection between the exterior of the socket pallet 300 and the display power supply 60. The external connection connector 320 may be formed in the form of a socket on one side of the socket pallet 300, and a plurality of pins may be formed therein for electrical connection.

도 11은 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 테스트 트레이(3000)가 번인 장치(10)에 삽입된 모습을 나타낸 정면도이다. 도 11에 도시된 바와 같이, 디스플레이 전원공급장치(60)가 장착된 복수의 테스트 트레이(3000)가 번인 장치(10) 내에 삽입되고, 외부연결커넥터(320)를 통해 번인 장치(10)와 전기적으로 연결됨으로써, 고온의 동작 환경 하에서 디스플레이 전원공급장치(60)의 동작 특성을 테스트할 수 있다. 11 is a front view showing a test tray 3000 according to another embodiment of the present invention inserted into the burn-in apparatus 10. 11, a plurality of test trays 3000 equipped with a display power supply device 60 are inserted into the burn-in device 10 and electrically connected to the burn-in device 10 through the external connection connector 320 The operating characteristics of the display power supply device 60 can be tested under a high temperature operating environment.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the appended claims. It will be understood that the invention may be varied and varied without departing from the scope of the invention.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 트레이를 나타낸 사시도.1 is a perspective view of a test tray according to an embodiment of the present invention;

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 트레이를 나타낸 평면도.2 is a plan view of a test tray according to an embodiment of the present invention;

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 트레이에 디스플레이 전원공급장치가 안착된 모습을 나타낸 평면도.3 is a plan view showing a display power supply unit mounted on a test tray according to an embodiment of the present invention;

도 4는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 테스트 트레이를 나타낸 분해 사시도.4 is an exploded perspective view showing a test tray according to another embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 서브 팔레트부를 나타낸 사시도.5 is a perspective view illustrating a sub-pallet unit according to another embodiment of the present invention.

도 6은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 서브 팔레트부를 나타낸 평면도.6 is a plan view of a sub-pallet according to another embodiment of the present invention.

도 7은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 테스트 트레이에 디스플레이 전원공급장치가 안착된 모습을 나타낸 평면도.7 is a plan view showing a display power supply device mounted on a test tray according to another embodiment of the present invention;

도 8은 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 테스트 트레이를 나타낸 사시도.8 is a perspective view showing a test tray according to another embodiment of the present invention;

도 9는 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 소켓 팔레트부를 나타낸 분해 사시도.9 is an exploded perspective view of a socket pallet according to another embodiment of the present invention.

도 10은 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 소켓 팔레트부의 소켓부를 나타낸 단면도.10 is a sectional view showing a socket portion of a socket pallet portion according to another embodiment of the present invention.

도 11은 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 테스트 트레이가 번인 장치에 삽입된 모습을 나타낸 정면도.11 is a front view showing a test tray inserted into a burn-in apparatus according to another embodiment of the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>Description of the Related Art

100: 팔레트부 200: 서브 팔레트부100: pallet part 200: sub pallet part

300: 소켓 팔레트부 1000, 2000, 3000: 테스트 트레이300: Socket pallet part 1000, 2000, 3000: Test tray

Claims (10)

피검사물에 전기적 연결을 제공하는 장치로서,An apparatus for providing an electrical connection to an inspected object, 상기 피검사물이 안착되는 안착부가 형성되는 팔레트부와;A pallet part on which a seating part on which the inspected object is placed is formed; 상기 피검사물과 전기적으로 연결되는 커넥터부와;A connector unit electrically connected to the inspected object; 상기 커넥터부와 전기적으로 연결되는 단자부를 포함하며,And a terminal portion electrically connected to the connector portion, 상기 안착부에는 복수 개의 고정홀이 형성되며,A plurality of fixing holes are formed in the seating portion, 상기 피검사물이 상기 안착부에 고정되도록 상기 고정홀에 삽입되는 스톱퍼를 포함하는 테스트 트레이.And a stopper inserted into the fixing hole so that the inspected object is fixed to the seating portion. 제1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 단자부는 상기 팔레트부의 일측에 형성되는 것을 특징으로 하는 테스트 트레이.Wherein the terminal portion is formed on one side of the pallet portion. 삭제delete 제1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 피검사물의 전선이 상기 팔레트부에 고정되도록 상기 팔레트부에 인접하여 결합되는 스냅핏(snap fit) 또는 벨크로 테이프(velcro tape)를 더 포함하는 테스트 트레이.Further comprising a snap fit or velcro tape coupled adjacent to the pallet portion such that the wire of the inspected object is secured to the pallet portion. 제1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 피검사물이 안착되도록 상기 팔레트부에 탈착 가능하게 결합되는 서브 팔레트부를 더 포함하는 테스트 트레이.And a sub-palette part detachably coupled to the pallet part so that the inspected object is seated. 제5항에 있어서,6. The method of claim 5, 상기 서브 팔레트부에는 복수 개의 고정홀에 형성되며,The sub-pallet portion is formed with a plurality of fixing holes, 상기 피검사물이 상기 서브 팔레트부에 고정되도록 상기 고정홀에 삽입되는 스톱퍼를 더 포함하는 테스트 트레이.Further comprising a stopper inserted in the fixing hole so that the inspected object is fixed to the sub-pallet portion. 제5항에 있어서,6. The method of claim 5, 상기 피검사물의 전선이 상기 서브 팔레트부에 고정되도록 상기 서브 팔레트부에 결합되는 벨크로 테이프를 더 포함하는 테스트 트레이.Further comprising a Velcro tape coupled to the sub-pallet section such that a wire of the inspected object is fixed to the sub-pallet section. 제2항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 팔레트부가 안착되는 프레임과, 상기 프레임의 일측에 상기 단자부가 삽입되는 소켓부를 포함하는 소켓 팔레트부를 더 포함하는 테스트 트레이.Further comprising a socket pallet part including a frame on which the pallet part is seated and a socket part on which the terminal part is inserted at one side of the frame. 제1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 피검사물은 The inspected object 외부전원을 공급받는 외부전원부와,An external power supply unit supplied with external power, 디스플레이 패널에 전원을 공급하는 패널전원부와,A panel power supply unit for supplying power to the display panel, 상기 디스플레이 패널의 피드백 신호를 수신하는 패널신호수신부와,A panel signal receiver for receiving a feedback signal of the display panel, 디스플레이 백라이트에 전원을 공급하는 백라이트전원부, 및A backlight power supply for supplying power to the display backlight, and 상기 디스플레이 백라이트의 피드백 신호를 수신하는 백라이트신호수신부를 포함하는 디스플레이 전원공급장치이며,And a backlight signal receiving unit for receiving a feedback signal of the display backlight, 상기 커넥터부는The connector 상기 외부전원부와 탈착 가능하게 결합되는 외부전원커넥터와,An external power source connector detachably coupled to the external power source unit, 상기 패널전원부와 탈착 가능하게 결합되는 패널전원커넥터와,A panel power connector detachably coupled to the panel power unit, 상기 패널신호수신부와 탈착 가능하게 결합되는 패널신호커넥터와,A panel signal connector detachably coupled to the panel signal receiving unit, 상기 백라이트전원부와 탈착 가능하게 결합되는 백라이트전원커넥터, 및A backlight power source connector detachably coupled to the backlight power source, 상기 백라이트신호수신부와 탈착 가능하게 결합되는 백라이트신호커넥터를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 트레이.And a backlight signal connector detachably coupled to the backlight signal receiving unit. 제9항에 있어서,10. The method of claim 9, 상기 패널전원커넥터, 상기 패널신호커넥터, 상기 백라이트전원커넥터, 상기 백라이트신호커넥터, 상기 단자부는 상기 팔레트부의 일측에 형성되는 인쇄회로기판 상에 형성되는 것을 특징으로 하는 테스트 트레이.Wherein the panel power connector, the panel signal connector, the backlight power connector, the backlight signal connector, and the terminal portion are formed on a printed circuit board formed on one side of the pallet portion.
KR1020080117723A 2008-11-25 2008-11-25 Test Tray KR101011714B1 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080117723A KR101011714B1 (en) 2008-11-25 2008-11-25 Test Tray
CN2009101801665A CN101738505B (en) 2008-11-25 2009-11-11 Test pallet

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080117723A KR101011714B1 (en) 2008-11-25 2008-11-25 Test Tray

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20100059080A KR20100059080A (en) 2010-06-04
KR101011714B1 true KR101011714B1 (en) 2011-01-28

Family

ID=42360429

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080117723A KR101011714B1 (en) 2008-11-25 2008-11-25 Test Tray

Country Status (2)

Country Link
KR (1) KR101011714B1 (en)
CN (1) CN101738505B (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170004095A (en) * 2015-07-01 2017-01-11 주식회사 딜라이브 A mounting apparatus for testing a electronic device

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101706982B1 (en) * 2012-08-16 2017-02-16 (주)테크윙 Insert for test handler
CN109471280A (en) * 2018-12-25 2019-03-15 中航华东光电有限公司 Universal backlight tooling and production method

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19980027504A (en) * 1996-10-16 1998-07-15 김영환 Driving circuit check device of heat resistance test system for liquid crystal display device
KR20060117649A (en) * 2005-05-13 2006-11-17 강성일 Test jig of liquid crystal module

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2641630Y (en) * 2003-06-20 2004-09-15 顺德市顺达电脑厂有限公司 Mother board clamping tool
US7646596B2 (en) * 2005-04-26 2010-01-12 Innovative Polymers Pte. Ltd. Test carriers for storage devices
CN101114040A (en) * 2006-07-27 2008-01-30 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Bracket tray positioning platform
KR100845979B1 (en) * 2006-11-28 2008-07-11 미래산업 주식회사 Test tray transfer of handler

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19980027504A (en) * 1996-10-16 1998-07-15 김영환 Driving circuit check device of heat resistance test system for liquid crystal display device
KR20060117649A (en) * 2005-05-13 2006-11-17 강성일 Test jig of liquid crystal module

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170004095A (en) * 2015-07-01 2017-01-11 주식회사 딜라이브 A mounting apparatus for testing a electronic device
KR101718446B1 (en) * 2015-07-01 2017-03-21 주식회사 딜라이브 Test apparatus comprising a mounting device

Also Published As

Publication number Publication date
CN101738505A (en) 2010-06-16
KR20100059080A (en) 2010-06-04
CN101738505B (en) 2012-11-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103703381B (en) The probe card of power device
KR101011714B1 (en) Test Tray
KR101095902B1 (en) Socket for kelvin testing
JP5215072B2 (en) Circuit board inspection apparatus and circuit board inspection method
JP5463879B2 (en) Board inspection equipment
KR20100027097A (en) Right angle connection system for ate interface
TWI749690B (en) Semiconductor component burn-in test module and its burn- in test equipment
KR102171386B1 (en) Relay Wiring Auto Test Device
US20050265009A1 (en) Detecting short circuits and detecting component misplacement
CN112540197A (en) Server power supply test fixture
KR20180056335A (en) Probe Card Electrical Characteristic Measuring Device
KR101183167B1 (en) Socket for kelvin testing
TW200716994A (en) Circuit board inspecting apparatus and circuit board inspecting method
JP5966688B2 (en) Wiring structure and board inspection device
JPH10260220A (en) Board for testing ic module
KR200474847Y1 (en) Connector inspection device
KR102474867B1 (en) Apparatus for testing soldering of PCB connector
KR101009619B1 (en) Multi-layered Pre-burning Board Structure Having Power Towers
CN218866020U (en) Display module electricity endurance experiment installation device
CN114078718A (en) Semiconductor element burn-in test module and burn-in test device thereof
CN213275680U (en) Test jig for circuit board test tool
CN219997124U (en) Clamping fixture
CN220752283U (en) Power module testboard
JP5867013B2 (en) Substrate inspection jig alignment method
KR20000000023A (en) Apparatus for testing the pattern of PCB and method thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20131224

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141231

Year of fee payment: 5

LAPS Lapse due to unpaid annual fee