KR100937624B1 - 비접촉 데이터 캐리어, 질문기, 비접촉 데이터 캐리어시스템, 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법, 및비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득용 프로그램 - Google Patents

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오끼 덴끼 고오교 가부시끼가이샤
가부시키가이샤 오키 커뮤니케이션 시스템즈
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Abstract

[과제]
비접촉 데이터 캐리어에 물리량의 측정 기능을 탑재하더라도, 저렴하고 소형화를 유지할 수 있고, 게다가 측정 가능한 물리량의 융통성을 높일 수 있다.
[해결 수단]
본 발명의 비접촉 데이터 캐리어는, 주위의 물리량에 따라서 피비교 신호를 발생시키는 피비교 신호 발생원이 접속된 측정 포트와, 입력된 피비교 신호를 임계치와 비교하고, 비교 결과를 출력하는 비교 수단과 임계치를 가변 출력하는 가변 임계치 수단과, 질문기와 측정을 위한 통신을 실시하는 비교 제어 수단을 갖는다. 질문기는, 임계치를 변경시킨 상기 비교 수단의 비교를 반복 실행시키고, 비교 결과의 논리가 변화된 임계치의 정보를 입력하여 피비교 신호에 관련된 물리량의 정보를 얻는다.
Figure R1020050040259
비접촉 데이터 캐리어, 질문기

Description

비접촉 데이터 캐리어, 질문기, 비접촉 데이터 캐리어 시스템, 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법, 및 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득용 프로그램{NON-CONTACT DATA CARRIER, INTERROGATOR, NON-CONTACT DATA CARRIER SYSTEM, DATA ACQUIRING METHOD OF NON-CONTACT DATA CARRIER, AND PROGRAM FOR ACQUIRING DATA OF NON-CONTACT DATA CARRIER}
도 1 은, 제 1 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 시스템의 구성을 나타내는 블록도.
도 2 는, 제 1 실시형태의 가변 임계치부의 요부 (要部) 구성을 나타내는 회로도.
도 3 은, 제 1 실시형태의 질문기의 측정 모드에서의 동작을 나타내는 플로우 차트.
도 4 는, 제 1 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어의 제 2 측정 모드에서의 동작을 나타내는 플로우 차트.
도 5 는, 제 2 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 시스템의 구성을 나타내는 블록도.
도 6 은, 제 3 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 시스템의 구성을 나타내는 블록도.
도 7 은, 제 3 실시형태의 브리지 회로의 내부 구성예를 도시하는 회로도.
도 8 은, 제 4 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 시스템의 구성을 나타내는 블록도.
도 9 는, 제 5 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어의 내부 구성을 나타내는 블록도.
도 10 은, 제 6 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어의 내부 구성을 나타내는 블록도.
도 11 은, 제 7 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 시스템의 구성을 나타내는 블록도.
도 12 는, 제 8 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 시스템의 구성을 나타내는 블록도.
도 13 은, 제 9 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 시스템의 구성을 나타내는 블록도.
※ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1 : 비접촉 데이터 캐리어 시스템 2 : 비접촉 데이터 캐리어
3 : 질문기 4 : 상위 장치
5, 5-1, 5-2 : 센서 6 : 측정 모드 온오프 신호 생성기
10 : ID 태그 코어부 11 : 불휘발성 메모리
11T-1, 11T-2 : 임계치 데이터 보정 테이블 12 : 안테나
13, 13-1, 13-2 : 아날로그 비교기 14 : 가변 임계치부
15, 15-1, 15-2 : 측정 포트 16 : 외부 확장 단자
17 : 외부 입출력 단자 (외부 I/O 단자) 20 : 아날로그 스위치
21 : 브리지 회로 22 : 임계치 데이터의 출력 포트
23 : 임계치 (임계치 전압) 의 입력 포트 24 : 전원 공급 제어부
25P, 25N : 전원 외부 공급 포트 26 : 전원 외부 공급 제어부
27 : 동작 코맨드 출력 포트 28 : 측정 모드 온오프 신호 입력 포트
본 발명은 비접촉 데이터 캐리어, 질문기, 비접촉 데이터 캐리어 시스템, 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법, 및 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득용 프로그램에 관한 것으로, 특히 센서 시스템에 적용할 수 있도록 한 것이다.
비접촉 데이터 캐리어 (응답기) 및 질문기로 이루어지는 비접촉 데이터 캐리어 시스템이, 손쉬운 데이터 처리 시스템으로서 여러 가지 용도에 사용된다. 또한, 특허 문헌 1 에 기재된 바와 같이, 비접촉 데이터 캐리어가 온도 센서나 압력 센서 등의 센서를 구비하고, 비접촉 데이터 캐리어 시스템을 측정 시스템에 적용하는 용도도 출현되고 있다.
[특허 문헌 1] 일본 공개특허공보 평 10-289297 호
그러나, 특허 문헌 1 에 기재된 비접촉 데이터 캐리어나 비접촉 데이터 캐리 어 시스템은, 이하와 같은 과제를 갖는 것이었다.
비접촉 데이터 캐리어가 온도 센서나 압력 센서 등의 센서를 구비하기 때문에, 제품 단가가 저렴하고, 소형, 경량이라는 비접촉 데이터 캐리어의 특질을 잃게 될 우려가 있다. 예를 들어, 비접촉 데이터 캐리어로부터 질문기로, 센서가 얻은 아날로그 신호를 디지털 데이터로 변환하여 송신하기 위해서는, 송신을 위해 일정한 정도의 전력이 필요하다. 비접촉 데이터 캐리어에 전지를 형성하지 않는 경우, 이 일정한 전력을 확보하는 것이 곤란하지만, 전지를 형성하면 필요한 전력을 확보할 수 있다. 그러나, 비접촉 데이터 캐리어에 전지를 형성하면 소형, 경량화가 저해된다.
또한, 비접촉 데이터 캐리어가 구비하는 센서의 종류에 의해서 측정 항목 (온도, 압력 등) 이 정해져 있다. 바꿔 말하면, 측정 항목이 복수인 경우에는 각 측정 항목 대응의 비접촉 데이터 캐리어를 별도 독립시켜 형성해야 한다.
그로 인해, 제품 단가가 저렴하고, 소형, 경량인 비접촉 데이터 캐리어의 특질을 유지하면서, 또한, 측정 항목에 대한 융통성을 높게 할 수 있는, 비접촉 데이터 캐리어, 질문기, 비접촉 데이터 캐리어 시스템, 비접촉 데이터 캐리어의 데이터취득 방법, 및 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득용 프로그램이 요구되고 있다.
이러한 문제를 해결하기 위해, 제 1 본 발명은 질문기와 무선 통신에 의해 데이터 송수신을 행하는 비접촉 데이터 캐리어에 있어서, (1) 외부로부터의 피비교 신호가 입력되는 측정 포트와, (2) 상기 측정 포트로부터 입력된 피비교 신호를 임계치와 비교하여, 비교 결과를 출력하는 비교 수단과, (3) 상기 임계치를 출력하는 가변 임계치 수단과, (4) 상기 질문기로부터의 비교 출력 요구에 따라서, 상기 가변 임계치 수단으로부터의 임계치를 제어하여 상기 비교 수단의 비교 결과, 또는 상기 비교 결과에 관계하는 정보를 회신하는 비교 제어 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
제 2 본 발명의 비접촉 데이터 캐리어 시스템은 (1) 질문기와, (2) 상기 질문기와 무선 통신에 의해 데이터 송수신을 행하는 제 1 본 발명의 비접촉 데이터 캐리어와, (3) 상기 비접촉 데이터 캐리어의 적어도 1 개의 측정 포트에 접속된, 주위의 물리량에 따라 피비교 신호를 발생하는 피비교 신호 발생원을 갖는 것을 특징으로 한다.
제 3 본 발명은, 적어도 1 개의 측정 포트에 주위의 물리량에 따라 피비교 신호를 발생하는 피비교 신호 발생원이 접속된 제 1 본 발명의 비접촉 데이터 캐리어를 아래에 두고 있는 질문기로서, 측정 모드에서 임계치를 변경시킨 상기 비접촉 데이터 캐리어의 상기 비교 수단의 비교를 반복 실행시켜, 상기 비교 수단의 비교 결과의 논리가 변화된 임계치의 정보를 상기 비교 제어 수단으로부터 입력하고, 상기 피비교 신호 발생원이 발생된 상기 피비교 신호에 관련된 물리량의 정보를 얻는 것을 특징으로 한다.
제 4 본 발명은, 질문기가 적어도 1 개의 측정 포트에 주위의 물리량에 따라 피비교 신호를 발생하는 피비교 신호 발생원이 접속된 제 1 본 발명의 비접촉 데이터 캐리어를 아래에 두고 있고, 상기 비접촉 데이터 캐리어로부터 상기 피비교 신 호 발생원이 발생된 상기 피비교 신호에 관련된 물리량의 정보를 얻는, 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법으로서, (1) 상기 질문기가, 상기 비접촉 데이터 캐리어에, 임계치를 변경시킨 상기 비교 수단의 비교를 반복 실행시키는 탐색 공정과, (2) 상기 비교 수단의 비교 결과의 논리가 변화된 임계치의 정보를, 상기 질문기 또는 상기 비접촉 데이터 캐리어가 인식하는 변화 임계치 인식 공정과, (3) 상기 질문기가, 논리가 변화된 임계치의 정보에 근거하여 상기 피비교 신호 발생원이 발생된 상기 피비교 신호에 관련된 물리량의 정보를 얻는 물리량 동정 (同定) 공정을 포함하는 것을 특징으로 한다.
제 5 본 발명은, 제 4 본 발명의 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법의 각 공정을 컴퓨터가 실행 가능한 코드로 기술하고 있는 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 프로그램으로서, 질문기에 탑재되는 제 1 프로그램 부분과, 비접촉 데이터 캐리어에 탑재되는 제 2 프로그램 부분으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
발명을 실시하기 위한 최선의 형태
(A) 제 1 실시형태
이하, 본 발명에 따른 비접촉 데이터 캐리어, 질문기, 비접촉 데이터 캐리어시스템, 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득방법 및, 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득용 프로그램의 제 1 실시형태를 도면을 참조하면서 자세히 서술한다.
도 1 은, 제 1 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 시스템의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 1 에 있어서, 제 1 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 시스템 (1) 은 비접 촉 데이터 캐리어 (2), 질문기 (3) 및 상위 장치 (4) 를 가지고, 비접촉 데이터 캐리어 (2) 에는 1 또는 복수 (도 1 은, 2 개의 경우를 나타내고 있다) 의 센서 (5-1, 5-2) 가 적절히 접속 가능한 것이다.
또, 제 1 실시형태의 경우, 비접촉 데이터 캐리어 (2) 가 고정 위치인 것이어도 되고 가반식 (可搬式) 의 것이어도 되며, 질문기 (3) 도 고정 위치인 것이어도 되고 가반식의 것이어도 된다 (후술하는 동작 설명에서는 적어도 일방이 가반식인 것으로서 설명한다). 또한, 질문기 (3) 가 통신할 수 있는 비접촉 데이터 캐리어 (2) 는 1 개만이어도 되고 복수이어도 된다 (후술하는 동작 설명에서는 복수 존재하는 것으로서 설명한다). 비접촉 데이터 캐리어 (2) 와 센서 (5-1, 5-2) 는 일단 접속된 이후, 계속하여 접속되는 접속 형태이어도 되고, 또한, 측정 시에 오퍼레이터에 의해서 접속되는 것이어도 된다.
비접촉 데이터 캐리어 (2) 는 예를 들어, RFID 태그가 해당하고, ID 태그 코어부 (10), 불휘발성 메모리 (11), 안테나 (12), 1 또는 복수 (도 1 은 2 개의 경우를 나타내고 있다) 의 아날로그 비교기 (13-1, 13-2) 및 가변 임계치부 (14) 를 갖고, 또한, 아날로그 비교기 (13-1, 13-2) 와 동수의 측정 포트 (15-1, 15-2) 와 외부 확장 단자 (16) 와, 외부 입출력 단자 (외부 I/O 단자 ; 17) 를 갖는다.
ID 태그 코어부 (10) 는, CPU 나 무선부 등이 해당하는 ID 태그로서의 일반적인 처리를 실행하는 부분이다. ID 태그 코어부 (10) 는, 안테나 (12) 가 포착한 무선 신호를 디지털 신호 (시리얼 신호 ; 질문 신호) 로 원상 회복하여, 그 디지털 신호 (또는, 그 디지털 신호를 시리얼/패럴렐 변환한 데이터) 를 해석하고, 얻어진 질문기 (3) 로부터의 질문에 따른 처리를 실행하여, 응답 신호 (예를 들어, 패럴렐 데이터로 이루어진다) 를 형성하여, 그 응답 신호 (또는, 그 응답 신호를 패럴렐/시리얼 변환한 신호) 를 변조하여 안테나 (12) 로부터 회신시키는 것이다. 질문기 (3) 로부터의 질문 신호로서, 후술하는 바와 같은 측정 모드에서의 신호가 존재하고, 이 때 ID 태그 코어부 (10) 는 측정 모드에서의 동작을 제어하는 것으로 되어 있다 (특허 청구범위에서의「비교 제어 수단」에 ID 태그 코어부 (10) 가 해당한다).
또한, ID 태그 코어부 (10) 는 안테나 (12) 가 포착한 무선 신호로부터, 당해 비접촉 데이터 캐리어 (2) 가 동작할 때에 필요로 되는 전원을 얻는 전원부를 가지고, 각부에 동작 전원으로서 공급하는 것이다 (도 1 에서는 전원 공급선을 생략한다).
불휘발성 메모리 (11) 는 예를 들어, FeRAM 등으로 이루어지고, 당해 비접촉 데이터 캐리어 (2) 에 할당된 ID 등의 데이터나, ID 태그 코어부 (10) 가 실행하는 프로그램을 격납하고 있다. 또, 불휘발성 메모리 (11) 에 후술하는 임계치 데이터가 격납될 수도 있다. 또한, 불휘발성 메모리 (11) 에 격납되어 있는 프로그램으로서, 측정 모드용 프로그램 (11P) 이 존재한다.
안테나 (12) 는 예를 들어, 송수 공용 안테나 (송신, 수신용이 별개라도 된다) 이다. 안테나 (12) 는 예를 들어, 안테나 코일과 ID 태그 코어부 (10) 등을 구성하는 IC 칩의 용량 성분 등으로 소정 주파수에 공진하는 형식의 것으로서, 그 공진에 의해서 당해 비접촉 데이터 캐리어 (2) 가 동작할 때에 필요한 에너지를 효율적으로 취출할 수 있도록 되어 있는 것이다.
각 아날로그 비교기 (13-1, 13-2) 는 각각, 예를 들어 비교기 회로 또는 슈밋 트리거 회로 등으로 이루어지고, 대응하는 측정 포트 (15-1, 15-2) 를 통하여 접속되는 센서 (5-1, 5-2) 의 검출 신호 (검출 전압) 를, 가변 임계치부 (14) 에 의한 임계치 (임계치 전압) 와 비교하여, 센서 검출 신호가 임계치보다 클 때 논리 「1」, 센서 검출 신호가 임계치 이하일 때 논리「0」을 출력하는 것이다.
또, 해당 비접촉 데이터 캐리어 (2) 에 접속할 수 있는 센서 (5-1, 5-2) 의 종류는 문제되지 않는다. 예를 들어, 온도 센서, 도전도 센서, 변형 센서, 압력 센서, 농도 센서, 수분 센서, 저항분 센서 등의 임의의 것이면 된다. 다만, 각 센서 (5-1, 5-2) 는 전압 출력형의 것을 필요로 한다. 또한, 각 센서 (5-1, 5-2) 는 검출 출력의 다이나믹 레인지를 내장하는 증폭기나 감쇄기 (attenuator) 등으로 조정할 수 있는 것이 바람직하다.
가변 임계치부 (14) 는 ID 태그 코어부 (10) 로부터 주어진 임계치 데이터에 따른 임계치 (임계치 전압) 를, 아날로그 비교기 (13-1, 13-2) 에 부여하는 것이다. 가변 임계치부 (14) 는 예를 들어, 임계치 데이터의 래치부 (14A) 와, 도 2 에 상세히 나타내는 바와 같은 직렬 접속된 복수의 저항을 가지고, 분압 전압을 선택하여 임계치 (임계치 전압) 로서 집어내는 임계치 형성부 (14B) 를 갖는 것을 적용할 수 있고, 임계치 형성부 (14B) 에서의 스위치의 온오프가 래치부 (14A) 의 임계치 데이터에 따라서 제어되어, 임계치 데이터에 대응한 임계치 (임계치 전압) 를 출력하는 것이다.
여기서, 래치부 (14A) 에 래치되는 임계치 데이터에서는, 질문기 (3) 로부터 전송된 임계치 데이터의 경우 (제 1 측정 모드의 경우) 도 있으며, 불휘발성 메모리 (11) 에 격납되어 있는 임계치 데이터의 경우 (제 2 측정 모드의 경우) 도 있다.
또, 외부 확장 단자 (16) 는, 가변 임계치부 (14) 에 의해서 설정되어 있는 임계치 (임계치 전압) 를, 외부에서 참조할 수 있도록 출력하기 위한 것이다. 또한, 외부 입출력 단자 (외부 I/O 단자 ; 17) 는 불휘발성 메모리 (11) 에 기억되어 있는 데이터나 프로그램을 외부로부터 유선에 의해 참조할 수 있는 동시에, 외부로부터 유선에 의해서 불휘발성 메모리 (11) 에 새로운 데이터나 프로그램을 써 넣을 수 있도록 하기 위한 것이다.
질문기 (3) 는, 종래와 동일한 하드웨어 구성을 가지고 예를 들어, 유선 또는 무선 회선을 통하여 접속되어 있는 상위 장치 (4) 의 제어하에서, 질문 신호를 변조한 무선 신호를 비접촉 데이터 캐리어 (2) 에 송신하여, 비접촉 데이터 캐리어 (2) 가 회신한 응답을 변조한 무선 신호를 수신하고, 복조 처리하여 응답 신호를 취출하는 것이다. 여기서, 제 1 실시형태의 경우 질문기 (3) 는 동작용 프로그램으로서 후술하는 측정 모드용 프로그램 (3P ; 도 3 참조) 을 가지고, 상위 장치 (4) 가 측정 모드의 동작을 기동 지시하였을 때에는, 질문기 (3) 의 주제어부 (미도시) 는 측정 모드용 프로그램 (3P) 에 따라서, 비접촉 데이터 캐리어 (2) 사이에서 질문 신호 및 응답 신호를 송수신한다. 질문기 (3) 와 비접촉 데이터 캐리어 (2) 와의 사이의 질문 신호 및 응답 신호의 송수신은, 예를 들어, ISO15693 등의 규격에 따르거나 또는 준거하여 실행된다.
상위 장치 (4) 는 예를 들어, PC 가 해당하고 질문기 (3) 를 기동하여, 질문기 (3) 및 비접촉 데이터 캐리어 (2) 사이의 통신을 제어하는 것이다. 상위 장치 (4) 는 비접촉 데이터 캐리어 (2) 에 관련된 측정 데이터를 수집하는 것이다. 또, 상위 장치 (4) 에 대하여, 유선 또는 무선으로 접속하는 더 상위의 장치가 존재하고 있더라도 상관없다.
다음으로, 제 1 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 시스템의 특징 동작인 측정 모드에서의 동작을 설명한다.
질문기 (3) 는 예를 들어, 주기적으로 근방에 비접촉 데이터 캐리어 (2) 가 존재하고 있는지 그렇지 않은지를 확인하기 위한 질문 신호 (의 변조신호) 를 송신하고 있고, 그 질문 신호에 대한 응답 신호 (의 변조신호) 가 회신되어 온 것에 의해, 비접촉 데이터 캐리어 (2) 가 근방에 존재하고 있는 것을 인식하여, 응답 신호에 포함된 ID 를 포함해서 그것을 상위 장치 (4) 에 통지한다.
상위 장치 (4) 는 비접촉 데이터 캐리어 (2) 의 ID 에, 측정 모드의 동작 대상인지 아닌지나, 제 1 측정 모드를 적용할지 제 2 측정 모드를 적용할지, 또는 유효한 측정 포트나, 각 측정 포트에서의 최소 임계치에 대응하는 측정 데이터 (온도 센서를 접속한 측정 포트이면 최소 온도) 나, 각 측정 포트에서의 임계치의 1 단위분에 대응하는 측정 데이터의 변환분 (온도 센서를 접속한 측정 포트이면 온도의 검출 정밀도) 등을 대응 부착한 테이블 정보 (4T) 를 유지하고 있어, 상위 장치 (4) 는 근방에 존재하는 비접촉 데이터 캐리어 (2) 가 측정 모드의 동작 대상인 경 우에는, 제 1 측정 모드를 적용할지 제 2 측정 모드를 적용할지 또는 유효한 측정 포트의 정보를 포함하는 측정 동작의 기동 지령을 질문기 (3) 에 부여한다. 이 때, 질문기 (3) 는 도 3 에 나타내는 측정 모드용 프로그램 (3P) 을 개시한다. 또, 상위 장치 (4) 는 제 1 측정 모드를 적용하는 것을 통지한 경우에는, 테이블 정보 (4T) 의 해당 비접촉 데이터 캐리어 (2) 의 레코드를, 다음번에는 제 2 측정 모드를 적용하도록 갱신시킨다.
또한, 전술한 바와 같은 테이블 정보 (4T) 를 질문기 (3) 에 가지도록 하여, 질문기 (3) 자체가 측정 모드의 동작을 기동하는지 그렇지 않은지 등을 확인하도록 할 수도 있다.
여기서, 제 1 측정 모드란 그 비접촉 데이터 캐리어 (2) 에 대한 처음 (테이블 정보 (4T) 의 클리어에 의해 처음이라고 간주되는 경우를 포함한다) 의 측정 동작의 모드이고, 제 2 측정 모드란 그 비접촉 데이터 캐리어 (2) 에 대한 2 회째 이후의 측정 동작의 모드이다.
질문기 (3) 는 도 3 에 나타내는 측정 모드용 프로그램 (3P) 을 개시하면 우선, 제 1 측정 모드의 동작을 실행할 것인지 제 2 측정 모드의 동작을 실행할 것인지를 판별한다 (단계 100).
제 1 측정 모드이면, 질문기 (3) 는 제 1 측정 모드에 있어서의 초기의 측정 의뢰의 질문 신호를 형성하여 비접촉 데이터 캐리어 (2) 에 송신하고 (단계 101), 그에 대한 비접촉 데이터 캐리어 (2) 로부터의 회신을 기다린다 (단계 102).
여기서의 질문 신호는, 비접촉 데이터 캐리어 (2) 의 ID, 제 1 측정 모드인 것, 최소의 임계 데이터 (또는, 최소의 임계 데이터를 지시하는 코드), 측정 포트의 번호 등을 포함한다. 이러한 질문 신호를 수신한 비접촉 데이터 캐리어 (2) 의 ID 태그 코어부 (10) 에 있어서는, 질문 신호에 포함되는 ID 에 의해 자기로의 질문 신호인 것을 인식하여, 측정 모드가 제 1 측정 모드인 것을 불휘발성 메모리 (11) 에 기억하고, 질문 신호에 포함되는 최소의 임계치 데이터에 따른 임계치를 가변 임계치부 (14) 에 의해서 설정시키고, 질문 신호에 포함되어 있는 측정 포트의 번호에 대응 부착된 아날로그 비교기 (13-1 또는 13-2) 의 비교 결과 (「0」또는「1」) 를 입력한다. 그리고, ID 태그 코어부 (10) 는 그 비교 결과를 포함하는 응답 신호를 형성하여 질문기 (3) 에 회신한다. 또, ID 태그 코어부 (10) 는 비교 결과가「0」인 경우에는 응답 신호의 형성뿐만 아니라, 그 때의 임계치 데이터 보다 소정 단위만큼 작은 임계치 데이터를, 다음번의 제 2 측정 모드에 있어서의 측정 개시시의 임계치 데이터로서 불휘발성 메모리 (11) 에 기억시키는 것도 실시한다.
전술한 바와 같은 응답 신호의 회신을 받은 질문기 (3) 는 비교 결과가「0」인지,「1」인지를 판별한다 (단계 103). 비교 결과가「1」이면 금회의 임계 데이터가 최대의 것이 아닌 것을 확인하고 (단계 104), 금회의 임계치 데이터가 1 단위만큼 크게 지시하는 측정 의뢰의 질문 신호를 형성하여 비접촉 데이터 캐리어 (2) 에 송신하고 (단계 105), 상기 서술한 바와 같이 그에 대한 비접촉 데이터 캐리어 (2) 로부터의 회신을 기다린다 (단계 102).
또, 금회의 질문 신호에 있어서의 임계치 데이터가 최대의 것인 경우에는, 질문기 (3) 는 측정치로서 최대의 임계 데이터 따른 최대 임계치보다 큰 것으로 설정하여 (단계 106), 후술하는 단계 108 로 이행한다.
비접촉 데이터 캐리어 (2) 로부터의 응답 신호 내의 비교 결과가「0」이면, 질문기 (3) 는, 측정치로서 금회와 전회의 질문 신호에 있어서의 임계 데이터에 대응하는 2 개의 임계치의 중간치로 설정한다 (단계 107).
그 후, 미측정된 측정 포트가 남아 있는지 판단하고 (단계 108), 남아 있으면 단계 101 으로 되돌아가, 그 측정 포트에 대해서의 측정을 실행한다 (단계 101∼단계 107).
이상과 같이 하여, 그 비접촉 데이터 캐리어 (2) 에 대한 모든 측정 포트에 대해서의 측정치를 얻으면, 질문기 (3) 는 비접촉 데이터 캐리어 (2) 에 대해서는, 측정 종료를 나타내는 질문 신호를 송신하고 (단계 109), 그 회신을 기다리고 (단계 110), 상위 장치 (4) 에 측정 결과를 송신하고 (단계 111), 일련의 처리를 종료한다. 또, 이 때 상위 장치 (4) 는 테이블 정보 (4T) 를 참조하면서, 임계치 (임계치 전압) 로 표현된 측정 결과를 그 측정 항목 (예를 들어, 온도) 에 따른 표현의 측정 결과 (온도) 로 변환하고, 내부 기억하거나 외부로 송신하기도 한다. 또, 측정 항목 (예를 들어, 온도) 에 따른 표현의 측정 결과 (온도) 로의 변환도 질문기 (3) 가 실시하도록 해도 된다.
상위 장치로부터 지시된 측정 모드가 제 2 측정 모드이면, 질문기 (3) 는 제 2 측정 모드에 있어서의 초기 측정 의뢰의 질문 신호를 형성하여 비접촉 데이터 캐리어 (2) 에 송신하고 (단계 112), 그에 대한 비접촉 데이터 캐리어 (2) 로부터의 회신을 기다린다 (단계 113).
여기서의 질문 신호는 비접촉 데이터 캐리어 (2) 의 ID, 제 2 측정 모드인 것, 측정 포트의 번호 등을 포함하고 있다. 이러한 질문 신호를 수신한 비접촉 데이터 캐리어 (2) (의 ID 태그 코어부 (10)) 는 후술하는 도 4 에 나타내는 바와 같은 제어 처리에 의해, 비교 결과 「1」 로부터 「0」으로 변환하는 경계의 임계치 데이터를 얻고, 그 경계 임계치 데이터를 포함하는 응답 신호를 형성하여 질문기 (3) 에 회신한다.
전술한 바와 같은 응답 신호의 회신을 받은 질문기 (3) 는, 측정치로서 응답 신호에 포함되어 있는 경계 임계치 데이터에 따른 임계치보다 1/2 단위만큼 작은 값으로 설정한다 (단계 114). 또, 경계 임계치 데이터가 최대 임계치 데이터인 경우에는 측정치로서 최대 임계치보다 큰 것을 설정한다.
그 후, 미측정된 측정 포트가 남아 있는지를 판단하여 (단계 115), 남아 있으면 단계 112 로 되돌아가, 그 측정 포트에 대해서 측정을 실행시킨다 (단계 112∼단계 114).
이상과 같이 하여, 제 2 측정 모드에서도 그 비접촉 데이터 캐리어 (2) 에 대해서의 모든 측정 포트에 관한 측정치를 얻으면, 질문기 (3) 는 상기 서술한 단계 109 로 이행하여, 비접촉 데이터 캐리어 (2) 에 대하여 측정 종료를 나타내는 질문 신호를 송신하여, 그 회신을 기다리고 (단계 110), 상위 장치 (4) 에 측정 결과를 송신하고 (단계 111), 일련의 처리를 종료한다.
다음으로, 도 4 를 참조하면서, 제 2 측정 모드의 측정 의뢰의 질문 신호를 수신한 비접촉 데이터 캐리어 (2) (의 ID 태그 코어부 (10)) 의 제어 처리를 설명한다.
ID 태그 코어부 (10) 는, 제 2 측정 모드의 측정 의뢰의 질문 신호를 수신하면, 그 질문 신호에 포함되는 측정 포트의 번호가 규정하는 측정 포트의 측정 개시시용의 임계치 데이터를 불휘발성 메모리 (11) 로부터 취출하여 가변 임계치부 (14) 에 의해서 설정시키고 (단계 200, 201), 그 측정 포트의 번호에 대응 부착된 아날로그 비교기 (13-1 또는 13-2) 의 비교 결과 (「0」또는「1」) 를 입력한다 (단계 202). 그리고, 비교 결과가 「0」인지「1」인지를 판별한다 (단계 203).
비교 결과가「1」이면, ID 태그 코어부 (10) 는 금회의 임계치 데이터가 최대의 것이 아닌 것을 확인하여 (단계 204), 금회보다 임계 데이터를 1 단위만큼 크게 하고 (단계 205), 상기 서술한 단계 201 로 되돌아가, 가변 임계치부 (14) 에 따라서 설정한다.
또, 최대의 임계치 데이터에서도「1」의 비교 결과를 얻은 경우에는, 경계 임계치 데이터로서 최대 임계치 데이터를 설정하고 (단계 206), 후술하는 단계 210 으로 이행한다.
한편, 비교 결과가「0」이면 ID 태그 코어부 (10) 는 적용한 임계치 데이터가 측정 개시시용 임계 데이터인지 그렇지 않은지를 판별하고 (단계 207), 적용한 임계치 데이터가 측정 개시시용의 임계치 데이터이면, 임계치 데이터를 최소 데이터 (또는 측정 개시시용의 임계 데이터보다 소정 단위만큼 작은 데이터) 로 갱신하고 (단계 208), 상기 서술한 단계 201 로 되돌아가 가변 임계치부 (14) 에 의해서 설정한다.
비교 결과로서「0」이 얻어졌을 때의 임계치 데이터가 측정 개시시용의 임계 데이터가 아니면, 금회의 임계치 데이터를 경계 임계치 데이터로 설정한다 (단계 209). 그리고, 경계 임계치 데이터를 포함하는 응답 신호를 형성하여 질문기 (3) 에 회신한다 (단계 210). 그 후, 불휘발성 메모리 (11) 에 기억되어 있는 측정 개시시용의 임계치 데이터를 경계 임계치 데이터보다 소정치 만큼 작은 것으로 갱신하고 (단계 211), 일련의 처리를 종료한다.
상기 제 1 실시형태에 의하면, 이하와 같은 효과를 나타낼 수 있다.
제 1 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어는 ID 태그 코어부 (10) 및 불휘발성 메모리 (11) 만이 1 개의 반도체 집적 회로 중에 형성한 예를 도시하였다 (즉, ID 태그 코어부 (10) 및 불휘발성 메모리 (11) 는 1 칩화 되어 있다).
그러나, 이 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어는 상기 서술한 칩구성으로 한정되는 것이 아니라, 아날로그 비교기 (13) 및 가변 임계치부 (14) 가 1 칩화되고, 이 1 칩화된 아날로그 비교기 (13) 및 가변 임계치부 (14) 와, 상기 서술한 1 칩화된 ID 태그 코어부 (10) 및 불휘발성 메모리 (11) 의 멀티칩 구성이라도 된다.
이러한 구성을 채용함으로써, 측정 기능 대응의 비접촉 데이터 캐리어를 저렴하고, 경량, 소형으로 실현하는 것을 기대할 수 있다.
제 1 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어는, 센서는 외부 부착인 것이므로 비접촉 데이터 캐리어로부터 보면, 센서의 종류는 관계하지 않는다. 즉, 제 1 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어는, 측정 항목에 대해서 범용성이 높은 것이다. 또한, 종래의 측정 기능이 부여된 비접촉 데이터 캐리어의 경우, 센서 그 자체를 탑재하고 있기 때문에, 1 개의 비접촉 데이터 캐리어가 복수의 측정 항목에 대응하 도록 하는 것은 실제로 어려운 면이 있었지만, 제 1 실시형태의 경우 추가 구성이 아날로그 비교기와 그것에 대한 임계치의 설정 구성만이기 때문에, 종래에 비교하여 복수의 측정 항목에 대응시키는 것은 용이하다.
제 1 실시형태의 경우, 임계치를 변화시켜 비교 결과가「0」과「1」의 경계의 임계치를 탐색하고, 그 경계 임계치를 간접적인 측정치로 하도록 하였기 때문에, 측정 신호를 아날로그/디지털 변환하는 것과 같은 구성 요소를 불필요로 할 수 있고, 이 점으로부터도 비접촉 데이터 캐리어의 구성을 저렴하고, 경량, 소형으로 억제할 수 있고, 또한, 비접촉 데이터 캐리어 및 질문기 사이에서 필요한 통신 비트 수도 억제할 수 있다.
또한, 2 회째 이후의 측정 동작에서는 전회의 측정 결과를 이용하여, 비교결과가「0」과「1」의 경계 임계치의 탐색 동작에서의 초기 임계치를 설정하도록 하였기 때문에, 탐색 시간의 단축화를 기대할 수 있다.
(B) 제 2 실시형태
다음으로, 본 발명에 따른 비접촉 데이터 캐리어, 질문기, 비접촉 데이터 캐리어 시스템, 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법, 및 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득용 프로그램의 제 2 실시형태를 도면을 참조하면서 설명한다.
도 5 는 제 2 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 시스템의 구성을 나타내는 블록도이고, 상기 서술한 제 1 실시형태에 따른 도 1 과 동일, 대응 부분에는 동 일, 대응 부호를 부여하여 나타낸다.
제 2 실시형태는 상기 서술한 제 1 실시형태와 비교하면, 비접촉 데이터 캐리어 (2) 의 내부 구성이 다르다. 제 2 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 (2) 는 복수 (도 5 의 것은 2 개의 예) 의 측정 포트 (15-1, 15-2) 의 전부에 공통적으로, 아날로그 비교기 (13) 를 형성함과 함께, 공통되는 아날로그 비교기 (13) 와 복수의 측정 포트 (15-1, 15-2) 의 사이에, 아날로그 스위치 (셀렉터 ; 20) 를 형성한 것이고, 그 밖의 구성은 제 1 실시형태와 동일하다.
아날로그 스위치 (20) 는 각 측정 포트 (15-1, 15-2) 로부터의 센서 검출 신호로부터 1 개의 신호를 선택하여 공통되는 아날로그 비교기 (13) 에 입력시키는 것이고, 어떤 측정 포트 (15-1, 15-2) 로부터의 센서 검출 신호를 선택할지는 ID 태그 코어부 (10) 로부터의 선택 제어 신호에 관련된다.
제 2 실시형태의 경우도 ID 태그 코어부 (10) 는 제 1 실시형태의 경우와 거의 동일한 제어 처리를 실시하지만, 그 시점의 측정 대상의 측정 포트 (센서) 에 대응한 아날로그 비교기로부터 비교 결과를 입력한 것 대신에, 그 시점의 측정 대상의 측정 포트 (센서) 로부터의 센서 검출 신호가 공통되는 아날로그 비교기 (13) 에 입력되도록 아날로그 스위치 (20) 를 제어함과 함께, 그 공통인 아날로그 비교기로부터 비교 결과를 입력한다.
이 제 2 실시형태에 의해서도, 상기 서술한 제 1 실시형태와 동일한 효과를 나타낸다. 측정 포트수가 많은 경우에는 제 2 실시형태인 쪽이 비접촉 데이터 캐리어내 회로의 소형, 간이화를 기대할 수 있다.
(C) 제 3 실시형태
다음으로, 본 발명에 따른 비접촉 데이터 캐리어, 질문기, 비접촉 데이터 캐리어 시스템, 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법, 및 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득용 프로그램의 제 3 실시형태를 도면을 참조하면서 설명한다.
도 6 은 제 3 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 시스템의 구성을 나타내는 블록도이고, 상기 서술한 제 1 실시형태에 따른 도 1 과 동일, 대응 부분에는 동일, 대응 부호를 부여하여 나타낸다.
제 3 실시형태는 상기 서술한 제 1 실시형태와 비교하면, 비접촉 데이터 캐리어 (2) 의 내부 구성이 다르다. 제 3 실시형태는, 상기 서술한 제 1 실시형태와 비교하면 각 아날로그 비교기 (13-1, 13-2) (도 6 에서는 1 개의 아날로그 비교기 13-1 만을 나타내고 있다) 와 대응하는 측정 포트 (15-1) (측정 포트 (15-1) 는 엄밀히 말하면 한 쌍의 포트 (15-1P 및 15-1N) 로 이루어진다; 도 1 이나 도 5 등도 동일), (15-2) 와의 사이에 센서 검출 신호의 다이나믹 레인지를 확대하는 브리지 회로 (21-1, 21-2) 를 형성한 것이고, 그 밖의 구성은 제 1 실시 형태와 동일하다. 또, 제 2 실시형태의 구성에 대하여 브리지 회로를 추가하는 경우라면, 아날로그 스위치 (20) 의 출력 측에 형성하는 것이 바람직하다.
브리지 회로 (21-1) (21-2 도 동일) 는 예를 들어, 도 7 에 나타내는 바와 같이, 측정 포트쌍 (15-1P 및 15-1N) 을 통하여 접속된 센서 (5-1) 를 일변으로 하는 저항의 브리지부 (21A) 와, 그 브리지부 (21A) 의 2 개의 출력 단자 사이의 전압을 취출하는 차분부 (21B) 로 이루어지고, 차분부 (21B) 로부터의 출력 전압이 아날로그 비교기 (13-1) 에 입력되도록 되어있다.
이 제 3 실시형태에 의하면, 상기 서술한 제 1 실시형태와 동일한 효과에 더하여, 센서 검출 신호가 소신호이더라도 고정밀도로 검출할 수 있다고 하는 효과도 나타낸다.
(D) 제 4 실시형태
다음으로, 본 발명에 따른 비접촉 데이터 캐리어, 질문기, 비접촉 데이터 캐리어 시스템, 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법 및 비접촉 데이터 캐리어의 취득용 프로그램의 제 4 실시형태를 도면을 참조하면서 설명한다.
도 8 은 제 4 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 시스템의 구성을 나타내는 블록도이고, 상기 서술한 제 1 실시형태에 따른 도 1 과 동일, 대응 부분에는 동일, 대응 부호를 부여하여 나타낸다. 또, 도 8 에서는 질문기 (3) 및 상위 장치 (4) 의 도시를 생략하고 있다.
제 4 실시형태는, 상기 서술한 제 1 실시형태와 비교하면, 비접촉 데이터 캐리어 (2) 의 내부 구성과, 센서 측의 외부 구성이 상이하다. 제 4 실시형태는 가변 임계치부 (14) 의 일방의 구성 요소인 래치부 (14A) 만을 비접촉 데이터 캐리어 (2) 의 내부에 남기고, 가변 임계치부 (14) 의 타방의 구성 요소인 임계치 형성부 (14B) 를 비접촉 데이터 캐리어 (2) 의 외부에 형성하도록 한 것이다. 즉, 제 4 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 (2) 는 임계치 데이터의 출력 포트 (22) 와 임계치 (임계 전압) 의 입력 포트 (23) 를 구비한다.
또, 비접촉 데이터 캐리어 (2) 의 내부의 래치부 (14A) 로부터 비접촉 데이 터 캐리어 (2) 외부의 임계치 형성부 (14B) 로의 임계 데이터의 전송은, 도 8 에 나타내는 바와 같은 패럴렐 전송으로 한정되지 않고, 시리얼 전송이라도 된다.
또한, 임계치 형성부 (14B) 를 비접촉 데이터 캐리어 (2) 의 외부에 형성하도록 한 것은, 임계치 데이터의 1 비트의 상이에 대응하는 임계 (임계치 전압) 의 변화분 (단위 변화) 을 임의로 설정할 수 있도록 한 것을 의도하고 있다. 예를 들어, 임계치 데이터의 1 비트의 상이를 임계치 (임계치 전압) 의 0.1V 에 대응시키는 것도 가능하고, 또한 0.2V 에 대응시키는 것도 가능하며, 임계치 (임계치 전압) 의 단위 변화를 오퍼레이터가 임의로 설정할 수 있다. 예를 들어, 단위 변화가 0.1V 인 임계치 형성부나 단위 변화가 0.2V 인 임계치 형성부 등, 단위 변화가 다른 복수 종류의 임계치 형성부를 준비해 두고, 어느 하나의 종류의 임계치 형성부 (14B) 를 비접촉 데이터 캐리어 (2) 에 접속시켜 임계치 (임계치 전압) 의 단위 변화를 임의로 설정시키도록 해도 된다. 또, 조정 조작자를 구비하여 그 조정 조작자의 위치에 따라서 임계치 (임계치 전압) 의 단위 변화를 임의로 설정시키는 임계치 형성부 (14B) 를 비접촉 데이터 캐리어 (2) 에 접속시키도록 해도 된다. 예를 들어, 가변형의 임계치 형성부에서는 도 2 에서의 직렬 접속되어 있는 각 저항을 가변 저항으로 치환하고, 조정 조작자의 위치에 따라 모든 가변 저항의 저항치를 변화시키는 것을 들 수 있다.
이 제 4 실시형태에 의하면, 상기 서술한 제 1 실시형태와 동일한 효과에 부가하여, 임계치 (임계치 전압) 의 단계폭을 선택할 수 있다는 효과를 나타낸다.
(E) 제 5 실시형태
다음으로, 본 발명에 따른 비접촉 데이터 캐리어, 질문기, 비접촉 데이터 캐리어 시스템, 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법, 및 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득용 프로그램의 제 5 실시형태를 도면을 참조하면서 설명한다.
도 9 는 제 5 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어의 내부 구성을 나타내는 블록도이고, 상기 서술한 제 1 실시형태에 따른 도 1 과 동일, 대응 부분에는 동일, 대응 부호를 부여하여 나타낸다.
제 5 실시형태는 상기 서술한 제 1 실시형태와 비교하면, 비접촉 데이터 캐리어 (2) 의 내부 구성이 상이하다. 제 5 실시형태의 경우, 불휘발성 메모리 (11) 에는 측정 포트 (15-1, 15-2; 도 9 에서는 일방의 측정 포트 (15-1) 만을 나타낸다) 마다의 임계치 데이터 보정 테이블 (11T-1, 11T-2) 이 격납된다.
임계치 데이터 보정 테이블 (11T-1) (테이블 11T-2 도 동일) 은, 가변 임계치부 (14) 의 임계치를 규정하는 임계치 데이터를 수신했을 때나 내부에서 결정한 경우에 (도 3, 도 4 참조), 그 임계치 데이터에 대응하는 보정 후의 임계치 데이터를 얻을 수 있는 것이고, 이 보정 후의 임계치 데이터가 가변 임계치부 (14) 의 래치부 (14A) 에 래치된다.
일반적으로는, 측정 대상 항목의 상태 (값 ; 예를 들어, 온도) 와 센서의 출력 검출 신호 (예를 들어, 전압치) 와는 선형인 관계는 아니고 비선형이다. 상세히 서술하지 않았지만, 이미 서술한 제 1∼제 4 실시형태는, 센서 (5-1, 5-2) 가 비선형 관계를 선형 관계로 보정하는 기능을 가지고 있거나, 또는 상위 장치 (4) 가, 출력 검출 신호에 대응하는 측정 결과를, 실제의 측정 대상 항목 상태로 보정하는 기능을 구비하고 있는 것을 전제로 하고 있다. 이 제 5 실시형태는, 임계치 데이터를 보정함으로써, 센서 (5-1, 5-2) 의 입출력의 비선형성을 보상하려고 한 것이다.
여기서, 비접촉 데이터 캐리어 (2) 의 측정 포트 (15-1, 15-2) 에 접속되는 센서 (5-1, 5-2) 의 종류는 임의이므로, 불휘발성 메모리 (11) 의 임계치 데이터 보정 테이블 (11T-1, 11T-2) 을 임의로 개서할 수 있는 것으로 해둔다. 개서 (덮어쓰기) 는 예를 들어, 질문기 (3) 로부터의 코맨드열의 송신 등에 의해서 실행하거나, 외부 입출력 단자 (17) 로부터 입력시키는 것으로 실시한다.
이 제 5 실시형태에 의하면, 상기 서술한 제 1 실시형태와 동일한 효과에 부가하여, 비접촉 데이터 캐리어에 접속되어 있는 센서의 비선형성을 보상할 수 있다는 효과를 나타낸다.
(F) 제 6 실시형태
다음으로, 본 발명에 따른 비접촉 데이터 캐리어, 질문기, 비접촉 데이터 캐리어 시스템, 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법, 및 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득용 프로그램의 제 6 실시형태를 도면을 참조하면서 설명한다.
도 10 은 제 6 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어의 내부 구성을 나타내는 블록도이고, 상기 서술한 제 1 실시형태에 따른 도 1 과 동일, 대응 부분에는 동일, 대응 부호를 부여하여 나타낸다.
제 6 실시형태는 비접촉 데이터 캐리어 (2) 가 전원 공급 제어부 (24) 를 갖는 점이 제 1 실시형태와 다르다. 전원 공급 제어부 (24) 는 ID 태그 코어부 (10) 로부터의 공급 제어 신호에 따라, 아날로그 비교기 (13-1, 13-2 ; 도 10 에서는 13-1 만 나타내고 있다) 나 가변 임계치부 (14) 로의 동작 전원의 공급을 제어 (온 또는 오프) 하는 것이다. ID 태그 코어부 (10) 는, 질문기 (3) 로부터의 공급 제어 코맨드를 포함하는 신호의 수신에 따라 전원 공급 제어부 (24) 를 제어하거나, 측정 모드를 규정하는 질문 신호의 수신이나 측정 동작의 종료의 인식 등에 따라 전원 공급 제어부 (24) 를 제어하기도 한다.
즉, 측정 동작 이외의 통상 동작 (비접촉 데이터 캐리어 (2) 로서의 질문기 (3) 와의 일반적인 통신 동작) 에서는, 아날로그 비교기 (13-1, 13-2) 나 가변 임계치부 (14) 등의 측정 동작에만 기능하는 부분으로의 전원 공급을 정지할 수 있 도록 하고 있다.
전지를 탑재하지 않은 비접촉 데이터 캐리어 (2) 의 경우, 동작 에너지를 질문기 (3) 측으로부터 얻고 있지만, 일반적인 통신 동작시에 측정 동작에만 기능하는 부분에 전원이 공급되어, 조금이라도 소비 전력이 생기는 경우에는 소비 전력이 생기지 않는 경우에 비교하여 유효한 교신 거리가 짧아진다. 이것을 방지하기 위해 전원 공급 제어부 (24) 가 형성된다.
제 6 실시형태에 의하면, 상기 서술한 제 1 실시형태와 동일한 효과를 부가하고, 측정 기능 구성을 형성하더라도, 통상 동작시의 소망하는 교신 거리 (예를 들어, 규격이 정해져 있는 교신 거리) 를 확보할 수 있다는 효과를 나타낸다.
(G) 제 7 실시형태
다음으로, 본 발명에 따른 비접촉 데이터 캐리어, 질문기, 비접촉 데이터 캐 리어 시스템, 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법, 및 비접촉 데이터 캐리어의 취득용 프로그램의 제 7 실시형태를 도면을 참조하면서 설명한다.
도 11 은 제 7 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 시스템의 구성을 나타내는 블록도이고, 상기 서술한 제 1 실시형태에 관련된 도 1 과 동일, 대응 부분에는 동일, 대응 부호를 부여하여 나타낸다. 또, 도 11 에서는 질문기 (3) 및 상위 장치 (4) 를 생략하고 있고 또한, 아날로그 비교기도 1 개만 (13) 나타낸다.
제 7 실시형태는 비접촉 데이터 캐리어 (2) 가 한 쌍의 전원 외부 공급 포트 (25P) 및 (25N) 과, 전원 외부 공급 제어부 (26) 를 갖는 점이 제 1 실시형태와 다르다.
한 쌍의 전원 외부 공급 포트 (25P) 및 (25N) 은 전원을 탑재하지 않는 센서 (5) 의 전원 입력 단자 VINP, VINN (VINN 이 그라운드측 단자) 과 접속되는 것이고, 비접촉 데이터 캐리어 (2) 로부터 센서 (5) 로의 전원 공급을 가능하게 하는 것이다. 전원 외부 공급 제어부 (26) 는 ID 태그 코어부 (10) 로부터의 공급 제어 신호에 따라, 센서 (5) 로의 동작 전원의 공급을 제어 (온 또는 오프) 하는 것이다. ID 태그 코어부 (10) 는 질문기 (3) 로부터의 공급 제어 코맨드를 포함하는 신호의 수신에 따라 전원 외부 공급 제어부 (26) 를 제어하거나, 측정 모드를 규정하는 질문 신호의 수신이나 측정 동작의 종료의 인식 등에 따라 전원 외부 공급 제어부 (26) 를 제어하기도 한다.
제 7 실시형태에 의하면, 상기 서술한 제 1 실시형태와 동일한 효과에 부가하여, 센서가 전원을 탑재하지 않는 것이더라도 (예를 들어, 서미스터) 측정 동작 을 실행할 수 있다는 효과나, 통상 동작시의 원하는 교신 거리를 확보할 수 있다는 효과 (제 6 실시형태의 경우와 동일) 를 나타낸다.
(H) 제 8 실시형태
다음으로, 본 발명에 따른 비접촉 데이터 캐리어, 질문기, 비접촉 데이터 캐리어 시스템, 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득방법 및, 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득용 프로그램의 제 8 실시형태를 도면을 참조하면서 설명한다.
도 12 는 제 8 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 시스템의 구성을 나타내는 블록도이고, 상기 서술한 제 1 실시형태에 따른 도 1 과 동일, 대응 부분에는 동일, 대응 부호를 부여하여 나타내고 있다. 또, 도 12 에서는 질문기 (3) 및 상위 장치 (4) 를 생략하고 있고 또한, 아날로그 비교기도 1 개만 (13) 을 나타내고 있다.
제 8 실시형태는 비접촉 데이터 캐리어 (2) 가 동작 코맨드 출력 포트 (27) 를 갖는 점이 제 1 실시형태와 다르다.
동작 코맨드 출력 포트 (27) 는, ID 태그 코어부 (10) 가 출력한 측정 동작의 온 또는 오프를 나타내는 동작 코맨드를, 접속되어 있는 센서 (3) 에 부여하기 위해 형성된 것이다. 이 제 8 실시형태의 경우, 센서 (3) 가 외부로부터의 동작 코맨드에 의해서 동작의 온, 오프가 제어되는 것임을 전제로 하고 있다.
ID 태그 코어부 (10) 는, 질문기 (3) 로부터의 동작 코맨드를 포함하는 신호의 수신에 따라서, 동작 코맨드 출력 포트 (27) 로 동작 코맨드를 출력하거나, 측정 모드를 규정하는 질문 신호의 신호나 측정 동작의 종료 인식 등에 따라서 동작 코맨드 출력 포트 (27) 로 동작 코맨드를 출력하기도 한다.
오퍼레이터는 예를 들어, 센서 (3) 의 측정 타이밍이 있는 경우에는, 상위 장치 (4) 로부터 그 타이밍에 맞추어 동작 코맨드를 출력시키거나, 또한 센서 (3) 의 전원을 온 상태로 한 후, 소정 시간의 경과를 가지고 상위 장치 (4) 로부터 온 동작 코맨드를 출력시키거나, 센서 (3) 의 측정 동작 상태를 임의로 제어한다. 또한, 센서 (3) 의 전원 온오프 신호를 비접촉 데이터 캐리어 (2) 의 ID 태그 코어부 (10) 에 입력시키는 입력 포트를 형성하고, 센서 (3) 의 전원 온의 검지에 근거하여, ID 태그 코어부 (10) 가 동작 코맨드 출력 포트 (27) 로 온 동작 코맨드를 출력하도록 해도 된다.
제 8 실시형태에 의하면, 상기 서술한 제 1 실시형태와 동일한 효과에 부가하여, 센서의 동작 상태를 비접촉 데이터 캐리어를 통하여 질문기나 상위 장치가 제어할 수 있다는 효과를 나타낸다.
(I) 제 9 실시형태
다음으로, 본 발명에 따른 비접촉 데이터 캐리어, 질문기, 비접촉 데이터 캐리어 시스템, 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법, 및 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득용 프로그램의 제 9 실시형태를 도면을 참조하면서 설명한다.
도 13 은 제 9 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어 시스템의 구성을 나타내는 블록도이고, 상기 서술한 제 1 실시형태에 따른 도 1 과 동일, 대응 부분에는 동일, 대응 부호를 부여하여 나타낸다. 또, 도 12 에서는 질문기 (3) 및 상위 장치 (4) 를 생략하고 있고, 또한, 아날로그 비교기도 1 개 (13) 만을 나타내고 있 다.
제 9 실시형태는, 비접촉 데이터 캐리어 (2) 가, 측정 모드 온오프 신호 생성기 (6) 와 접속되는 측정 모드 온오프 신호 입력 포트 (28) 를 갖는 점이 제 1 실시형태와 다르다.
측정 모드 온오프 신호 생성기 (6) 는 예를 들어, 토글 스위치의 위치에 따라서 논리 「0」(측정 모드의 오프를 나타낸다) 이나 논리「1」(측정 모드의 온을 나타낸다) 을 취하는 측정 모드 온오프 신호를 생성하는 것이고, 이 측정 모드 온오프 신호가 측정 모드 온오프 신호 입력 포트 (28) 를 통하여 ID 태그 코어부 (10) 에 부여되도록 이루어진다.
ID 태그 코어부 (10) 는 측정 모드 온오프 신호가 논리「1」인 경우에는, 질문기 (3) 로부터 측정 모드의 동작이 지시되면 측정 모드의 동작을 실행시키고, 측정 모드 온오프 신호가 논리「0」인 경우에는, 질문기 (3) 로부터 측정 모드의 동작이 지시되더라도 그것을 무시하여 측정 모드의 동작을 실행시키지 않는다.
또, 측정 모드 온오프 신호 입력 포트 (28) 로부터 ID 태그 코어부 (10) 로의 경로 상에 타이머를 형성하여, 측정 모드 온오프 신호 입력 포트 (28) 로의 측정 모드 온오프 신호가 일단 「1」로 변화된 경우에는, 측정 모드 온오프 신호 입력 포트 (28) 로의 측정 모드 온오프 신호가 「0」으로 되돌아가더라도, ID 태그 코어부 (10) 에서는, 소정 시간은「1」인 측정 모드 온오프 신호를 입력시키도록 해도 된다.
또한, 측정 모드 온오프 신호 생성기 (6) 와 센서 (5) 가 개별 독립된 것이 아니어도 된다. 예를 들어, 센서 (5) 가 측정 모드 온오프 신호 생성기 (6) 를 내장하고, 자기가 소정 상태 (예를 들어, 측정 가능 상태) 일 때에만, 「1」의 측정 모드 온오프 신호를 생성하도록 해도 된다.
제 9 실시형태에 의하면, 상기 서술한 제 1 실시형태와 동일한 효과를 더하고, 질문기로부터의 요구에 기초한 비접촉 데이터 캐리어의 측정 동작의 실행 여부를 비접촉 데이터 캐리어의 외부로부터 지시할 수 있다는 효과를 나타낸다.
(J) 다른 실시형태
상기 각 실시형태의 설명에 있어서도, 여러 가지 변형 실시형태에 언급하였지만, 추가로 이하에 예시하는 바와 같은 변형 실시형태를 들 수 있다.
상기 서술한 각 실시형태의 기술 사상은 모순이 생성되지 않는 한, 다른 실시형태의 기술 사상과 조합하면 되는 것은 물론이다. 또한, 측정 포트가 복수인 경우에는 측정 포트에 의해 적용하는 기술 사상을 바꾸도록 해도 된다.
상기 각 실시형태에서는, 측정치를 탐색하는 기간에서는 임계치를 변화시키는 것을 나타냈지만, 임계치를 고정화하고, 센서 검출 신호의 직류 레벨을 임계치 데이터에 맞추어 시프트 시키고 아날로그 비교기에 입력시키도록 해도 된다. 즉, 아날로그 비교기에 입력되는 2 개의 입력 중 어느 하나를 임계치 데이터에 맞추어 시프트 시키는지는 관계하지 않는다. 또한, 특허 청구의 범위의 표현은 임계치측을 변화시키는 경우만을 포함하도록 읽을 수 있지만, 센서 검출 신호의 직류 레벨을 시프트 시키는 경우도 포함하는 것으로 한다.
상기 각 실시형태에서는, 초기의 측정 동작만 최소치의 임계치로부터 임계치 를 서서히 변화 (증가) 시켜셔, 비교 결과의 논리가 변화하는 2 개의 임계치를 탐색하는 제 1 측정 모드로 동작시키는 경우를 나타내지만, 모든 측정 동작을 제 1 측정 모드로 동작시키도록 해도 된다. 제 1 측정 모드에서의 임계치 변화는 최대치의 임계치로부터 서서히 작아지는 경우라도 된다.
또, 비교 결과의 논리가 변화하는 임계치의 탐색 방법은, 상기 서술한 제 1 측정 모드 방법에 한정되지 않는다. 예를 들어, 이른바 2 분 탐색법 등을 적용할 수 있다. 즉, 임계치의 총수를 N 으로 하였을 때, 처음으로 작은 쪽부터 세어 N/2 번째의 임계치를 설정하여 비교 결과를 입력하고, 그 논리가 「0」이면 작은 쪽부터 세어 N/4 번째의 임계치를 설정하여 비교 결과를 입력하고, 한편, 처음의 비교결과의 논리가「1」이면 작은 쪽부터 세어 3N/4 번째의 임계치를 설정하여 비교 결과를 입력하고, 이하 동일하게 하여 전회의 비교 결과의 논리에 따라 탐색 범위를 절반씩 좁혀 나가, 비교 결과의 논리가 변화하는 2 개의 임계치를 찾아 낸다.
상기 각 실시형태에 있어서는, 제 1 측정 모드에서 임계치 데이터를 변경시키는 실행 주체가 질문기인 것을 나타내었지만, 비접촉 데이터 캐리어나 상위 장치가 제 1 측정 모드에서 임계치 데이터를 변경시키는 실행 주체라도 된다. 동일하게, 상기 각 실시형태에 있어서는 제 2 측정 모드에서 임계치 데이터를 변경시키는 실행주체가 비접촉 데이터 캐리어인 것을 나타내었지만, 질문기나 상위 장치가 제 2 측정 모드에서 임계치 데이터를 변경시키는 실행 주체라도 된다.
상기 각 실시형태에 있어서는, 측정 모드에서는 비접촉 데이터 캐리어로부터 질문기로 비교 결과를 회신하거나, 또는 논리가「1」로 변화된 임계치 데이터를 회신하는 것을 나타내었지만, 측정 결과를 나타내는 다른 파라미터를 회신하도록 해도 된다. 예를 들어, 로우패스 필터와 같은 서서히 충전 전압이 변화하는 가변 임계치부를 사용하여, 충전 개시 시점으로부터 센서 검출 신호가 임계치를 초과하게 된 시점까지의 시간을 ID 태그 코어부 내의 타이머로 계시하고, 그 계시 시간 (이 계시 시간은 비교 결과가 변화된 임계치의 정보에 대응하는 것이다) 을 측정치를 나타내는 파라미터로서, 질문기로 회신하도록 해도 된다.
상기 각 실시형태에 있어서는, 질문기로부터 비접촉 데이터 캐리어로 임계치 데이터 그 자체를 부여하는 것을 나타내었지만, 임계치 데이터를 규정하는 임계치 코드를 부여하고, 비접촉 데이터 캐리어가 불휘발성 메모리의 코드/데이터 변환 테이블에 따라서 임계치 데이터로 변환하는 것이라도 된다. 이 경우에 있어서는, 측정 결과를 나타내는 파라미터로서, 임계치 데이터가 아니라 임계치 코드를, 비접촉 데이터 캐리어로부터 질문기로 회신하도록 하면 된다.
또한, 질문기 및 비접촉 데이터 캐리어 사이의 정보 전송 방식은, 전자 결합 방식이나 마이크로파 방식 등의 어느 하나라도 된다. 비접촉 데이터 캐리어가 전지 탑재형이라도 되고, 이 경우에는 전자 유도 방식이나 광통신 방식 등을 적용할 수 있다.
상기 각 실시형태에서는, 임계치와의 대소를 비교 결과로서 출력하는 아날로그 비교기의 경우를 나타내었지만, 센서 검출 신호가 + 임계치∼- 임계치의 범위 안이거나 밖이거나를 판정하는 윈도우 컴퍼레이터를 적용하도록 해도 된다. 또 한, 디지털 출력의 센서를 고려하여 디지털 비교기를 적용해도 된다. 예를 들어, 이 경우에도 디지털 비교기는 센서 출력 데이터와 임계치 데이터가 일치하는지 그렇지 않은지의 비교 결과를 출력하는 것이면 된다. 이러한 디지털 비교기는 예를 들어, 각 비트마다 형성된 익스클루시브 오어 (exclusive or) 소자, 모든 익스클루시브 오어 소자의 출력이 입력되는 오어 소자로 구성될 수 있다.
또한, 상기 각 실시형태에 있어서는, 1 개의 측정 항목에 대해서는 1 개의 아날로그 비교기로 비교 결과를 얻을 수 있는 것을 나타내었지만, 1 개의 측정 항목에 대해서 복수개의 아날로그 비교기로 비교 결과를 얻도록 해도 된다. 예를 들어, 1 개의 측정 항목용으로 2 개의 아날로그 비교기를 형성하고, 각각에 다른 임계치 (예를 들어, A 와, A+1 단위분) 를 설정하여 비교시키고, 2 개의 비교 결과를 동시에 얻어 질문기에 송신하도록 해도 된다.
각 실시형태의 비접촉 데이터 캐리어에 탑재하는 반도체칩의 수나, 각 반도체칩에 어떠한 구성 요소를 형성시키는지는 임의일 수도 있다.
상기 각 실시형태에 있어서는, 질문기가 1 개의 비접촉 데이터 캐리어로부터 측정 동작에 따른 응답 신호를 얻는 경우를 나타내었지만, 1 개의 질문기가 복수의 비접촉 데이터 캐리어를 아래에 두는 경우에는 예를 들어, 이하의 처리 1∼처리 4 에 의해 각 비접촉 데이터 캐리어로부터 측정 정보를 입력하도록 하면, 효율적으로 측정 정보를 입력할 수 있다.
처리 1: 질문기는 모든 비접촉 데이터 캐리어에 대하여, 방송 기능에 의해 측정 모드를 지시한다.
처리 2: 질문기는 모든 비접촉 데이터 캐리어에 대하여, 방송 기능에 의해 임계치 데이터를 부여함과 함께, 임계치 데이터를 서서히 크게 한다.
처리 3: 비접촉 데이터 캐리어는 측정 모드가 지시된 후에는 임계치 데이터가 주어질 때마다, 아날로그 비교기의 비교 결과를 확인하고, 비교 결과가 변화하였을 때의 임계치 데이터를 내부의 불휘발성 메모리에 기억시킨다. 비교 결과가 변화하였을 때의 임계치 데이터를 내부의 불휘발성 메모리에 기억시킨 경우에는, 비접촉 데이터 캐리어는 그 이후, 임계치 데이터가 주어지더라도 비교 동작을 실행하지 않는다.
처리 4: 질문기는 최대의 임계치 데이터를 송출한 후에는 각 비접촉 데이터 캐리어를 개별로 지정하여 (예를 들어, 폴링 방식에 의한), 그 비접촉 데이터 캐리어의 불휘발성 메모리에 기억되는, 비교 결과가 변화했을 때의 임계치 데이터를 입력한다.
질문기와 상위 장치의 기능 분리는 상기 각 실시형태의 것에 한정되지 않는다. 또, 특허 청구의 범위에서는 비접촉 데이터 캐리어에 대한 상위측의 장치를 모아 질문기로 부르고 있다.
또한, 고정 데이터의 유지면 등에 대해서의, 비접촉 데이터 캐리어와 질문기의 기능 분리는, 상기 각 실시형태의 것에 한정되지 않는다. 예를 들어, 임계치 데이터 보정 테이블을 질문기가 구비하고, 질문기가 임계치 데이터의 보정 처리를 실행하도록 해도 된다.
본 발명에 의하면, 비접촉 데이터 캐리어의 구성을 고가, 복잡화 하지 않고, 동일 비접촉 데이터 캐리어가 다양한 물리량의 동정에 사용할 수 있게 된다.

Claims (32)

  1. 질문기와 무선 통신에 의해 데이터 송수신을 행하는 비접촉 데이터 캐리어에 있어서,
    외부로부터의 피비교 (被比較) 신호가 입력되는 측정 포트;
    상기 측정 포트로부터 입력된 피비교 신호를 임계치와 비교하여, 비교 결과를 출력하는 비교 수단;
    상기 임계치를 출력하는 가변 임계치 수단; 및
    상기 질문기로부터의 임계치의 변경값의 지시를 포함하는 비교 출력 요구에 따라서, 상기 가변 임계치 수단으로부터의 임계치를 제어하고, 상기 비교 수단의 비교 결과 또는 상기 비교 결과에 기초한 정보를 상기 질문기로 회신하는 비교 제어 수단을 구비하고,
    상기 질문기는, 상기 비교 출력 요구의 송출시마다, 임계치의 변경값을 상기 비접촉 데이터 캐리어에 지시하는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어.
  2. 청구항 2은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 1 항에 있어서,
    상기 측정 포트와 상기 측정 포트에 대응하는 상기 비교 수단으로 이루어지는 대응조가 복수조 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어.
  3. 청구항 3은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 1 항에 있어서,
    상기 측정 포트로서 복수를 구비함과 함께, 어느 하나의 상기 측정 포트로부터의 피비교 신호를 공통되는 상기 비교 수단에 입력시키는 신호 선택 수단을 구비 하는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어.
  4. 청구항 4은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 측정 포트로부터 상기 비교 수단으로의 경로 상에, 상기 피비교 신호의 다이나믹 레인지를 확대하는 브리지 회로 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어.
  5. 청구항 5은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 가변 임계치 수단의 구성이 2분되어, 일방의 구성 부분이 외부 부착 요소로 되어 있는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어.
  6. 청구항 6은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    주위의 물리량에 따라서 상기 피비교 신호를 발생하는 피비교 신호 발생원의 비선형성 정보를 기억하는 비선형성 보상 정보 기억 수단을 구비하고,
    상기 비교 제어 수단은, 상기 비선형성 보상 정보 기록 수단의 기억 정보에 따라서, 상기 가변 임계치 수단에 출력 임계치를 지시하는 정보를 변경하는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어.
  7. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    적어도 상기 비교 수단과 상기 가변 임계치 수단으로의 동작 전원의 공급을 온오프 제어하는 전원 제어 수단을 갖는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어.
  8. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 질문기로부터의 무선 에너지로부터 얻은 전원을 외부로 공급할 수 있는 전원 외부 공급 포트를 갖는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 전원 외부 공급 포트로의 전원 공급을 온오프 제어하는 전원 외부 공급 제어 수단을 갖는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어.
  10. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    주위의 물리량에 따라서 상기 피비교 신호를 발생하는 외부의 피비교 신호 발생원에 대하여, 동작의 온오프를 지시하는 코맨드를 부여하는 동작 코맨드 출력 포트를 갖는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어.
  11. 청구항 11은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 질문기로부터의 비교 출력 요구를 허용할지 무시할지를 지시하는, 외부로부터의 비교 출력 요구 온오프 신호를 입력하여 상기 비교 제어 수단에 부여하는 입력 포트를 갖는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어.
  12. 청구항 12은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    구성 요소로 되어 있는 복수의 상기 수단 중, 적어도 1 개의 수단은 반도체 칩상에 형성된 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어.
  13. 청구항 13은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    구성 요소로 되어 있는 복수의 상기 수단의 전부 또는 일부를, 복수의 반도체 칩상에 분산하여 형성한 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어.
  14. 질문기;
    상기 질문기와 무선 통신에 의해 데이터 송수신을 행하는 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 기재된 비접촉 데이터 캐리어; 및
    상기 비접촉 데이터 캐리어의 적어도 1 개의 측정 포트에 접속된, 주위의 물리량에 따라서 피비교 신호를 발생하는 피비교 신호 발생원을 갖는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어 시스템.
  15. 청구항 15은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 14 항에 있어서,
    상기 질문기는, 측정 모드로, 임계치를 변경시킨 상기 비교 수단의 비교를 반복 실행시켜서, 상기 비교 수단의 비교 결과의 논리값이 변화되는 때의 임계치의 정보를 상기 비교 제어 수단으로부터 입력받고, 상기 피비교 신호 발생원으로부터 발생된 상기 피비교 신호에 관련된 물리량의 정보를 얻는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어 시스템.
  16. 청구항 16은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 15 항에 있어서,
    상기 질문기는 임계치의 변경치를 상기 임계치의 변경시마다 상기 비접촉 데이터 캐리어에 지시하는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어 시스템.
  17. 청구항 17은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 15 항에 있어서,
    상기 질문기는 임계치를 변경하는 것을 상기 비접촉 데이터 캐리어에 지시하고, 상기 비접촉 데이터 캐리어의 상기 비교 제어 수단이 임계치의 변경을 실행하는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어 시스템.
  18. 청구항 18은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 14 항에 있어서,
    1 개의 상기 질문기가 복수의 상기 비접촉 데이터 캐리어와 통신할 수 있는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어 시스템.
  19. 청구항 19은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 18 항에 있어서,
    상기 질문기는 동보 (同報) 통신에 의해 상기 각 비접촉 데이터 캐리어에, 임계치를 변경시킨 상기 비교 수단의 비교를 반복 실행시켜, 상기 비교 수단의 비교 결과의 논리값이 변화되는 때의 임계치의 정보를 기억시켜 두고,
    그 후, 개별 통신에 의해 상기 각 비접촉 캐리어로부터 비교 결과의 논리값이 변화되는 때의 임계치의 정보를 입력하여, 상기 피비교 신호 발생원으로부터 발생된 상기 피비교 신호에 관련된 물리량의 정보를 얻는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어 시스템.
  20. 적어도 1 개의 측정 포트에 주위의 물리량에 따라서 피비교 신호를 발생하는 피비교 신호 발생원이 접속된 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 기재된 비접촉 데이터 캐리어를 제어하는 질문기로서,
    측정 모드로, 임계치를 변경시킨 상기 비접촉 데이터 캐리어의 상기 비교 수단의 비교를 반복 실행시켜, 상기 비교 수단의 비교 결과의 논리값이 변화되는 때의 임계치의 정보를 상기 비교 제어 수단으로부터 입력받고, 상기 피비교 신호 발생원으로부터 발생된 상기 피비교 신호에 관련된 물리량의 정보를 얻는 것을 특징으로 하는 질문기.
  21. 청구항 21은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 20 항에 있어서,
    임계치의 변경치를 상기 임계치의 변경시마다 상기 비접촉 데이터 캐리어에 지시하는 것을 특징으로 하는 질문기.
  22. 청구항 22은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 20 항에 있어서,
    임계치를 변경하는 것을 상기 비접촉 데이터 캐리어에 지시하고, 상기 비접촉 데이터 캐리어의 상기 비교 제어 수단에 임계치의 변경을 실행시키는 것을 특징으로 하는 질문기.
  23. 청구항 23은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 21 항에 있어서,
    임계치의 변경의 초기치가 전회의 측정 모드시에 상기 비교 수단의 비교 결과의 논리값이 변화되는 때의 임계치에 근거하여 정해지는 것을 특징으로 하는 질문기.
  24. 청구항 24은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 20 항에 있어서,
    복수의 상기 비접촉 데이터 캐리어를 제어하는 것을 특징으로 하는 질문기.
  25. 청구항 25은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 24 항에 있어서,
    동보 통신에 의해 상기 각 비접촉 데이터 캐리어에 임계치를 변경시킨 상기 비교 수단의 비교를 반복 실행시켜서, 상기 비교 수단의 비교 결과의 논리값이 변화되는 때의 임계치의 정보를 기억시키고,
    그 후의 개별 통신에 의해, 상기 각 비접촉 데이터 캐리어로부터 비교 결과의 논리값이 변화되는 때의 임계치의 정보를 입력하여, 상기 피비교 신호 발생원으로부터 발생된 상기 피비교 신호에 관련된 물리량의 정보를 얻는 것을 특징으로 하는 질문기.
  26. 질문기가, 적어도 1 개의 측정 포트에 주위의 물리량에 따라서 피비교 신호를 발생하는 피비교 신호 발생원이 접속된 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 기재된 비접촉 데이터 캐리어를 제어하고, 상기 비접촉 데이터 캐리어로부터 상기 피비교 신호 발생원으로부터 발생된 상기 피비교 신호에 관련된 물리량의 정보를 얻는, 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법으로서,
    상기 질문기가, 상기 비접촉 데이터 캐리어에 임계치를 변경시킨 상기 비교 수단의 비교를 반복 실행시키는 탐색 공정;
    상기 비교 수단의 비교 결과의 논리값이 변화되는 때의 임계치의 정보를, 상기 질문기 또는 상기 비접촉 데이터 캐리어가 인식하는 변화 임계치 인식 공정; 및
    상기 질문기가, 상기 논리값이 변화되는 때의 임계치의 정보에 근거하여, 상기 피비교 신호 발생원으로부터 발생된 상기 피비교 신호에 관련된 물리량의 정보를 얻는 물리량 동정 (同定) 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법.
  27. 청구항 27은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 26 항에 있어서,
    상기 탐색 공정에서 상기 질문기가 상기 비접촉 데이터 캐리어에, 임계치의 변경치를 상기 임계치의 변경시마다 지시하는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법.
  28. 청구항 28은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 26 항에 있어서,
    상기 탐색 공정에서 상기 질문기는 임계치를 변경하는 것을 상기 비접촉 데이터 캐리어에 지시하고, 상기 비접촉 데이터 캐리어의 상기 비교 제어 수단이 임계치의 변경을 실행하는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법.
  29. 청구항 29은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 27 항에 있어서,
    상기 탐색 공정은 임계치의 변경의 초기치를 전회의 탐색 공정시에 상기 비교 수단의 비교 결과의 논리값이 변화되는 때의 임계치에 근거하여 결정하는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법.
  30. 청구항 30은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 26 항에 있어서,
    상기 질문기가 복수의 상기 비접촉 데이터 캐리어로부터 상기 피비교 신호에 관련된 물리량의 정보를 얻는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법.
  31. 청구항 31은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.
    제 30 항에 있어서,
    상기 탐색 공정은 상기 질문기로부터 상기 비접촉 데이터 캐리어로의 동보 통신에 의해, 상기 각 비접촉 데이터 캐리어에 대해서 병행하여 실행되고,
    상기 변화 임계치 인식 공정은, 상기 각 비접촉 데이터 캐리어가 실행하고, 상기 비교 수단의 비교 결과의 논리값이 변화되는 때의 임계치의 정보를 내부 기억시키고,
    상기 물리량 동정 공정은 상기 질문기가 개별 통신에 의해 상기 각 비접촉 데이터 캐리어로부터 비교 결과의 논리값이 변화되는 때의 임계치의 정보를 입력받아, 상기 각 비접촉 데이터 캐리어에 대해 반복 실행하는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법.
  32. 제 26 항에 기재된 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 방법의 각 공정을 컴퓨터가 실행 가능한 코드로 기술하는 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 프로그램을 기록한 컴퓨터로 판독 가능한 기록매체로서,
    질문기에 탑재되는 제 1 프로그램 부분과 비접촉 데이터 캐리어에 탑재되는 제 2 프로그램 부분으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 비접촉 데이터 캐리어의 데이터 취득 프로그램을 기록한 컴퓨터로 판독 가능한 기록매체.
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