KR100934246B1

KR100934246B1 - 광픽업의 틀어짐 검출방법

Info

Publication number: KR100934246B1
Application number: KR1020030024357A
Authority: KR
Inventors: 한철경
Original assignee: 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아
Priority date: 2003-04-17
Filing date: 2003-04-17
Publication date: 2009-12-28
Also published as: KR20040090538A

Abstract

본 발명은 광디스크장치의 제조공정 과정에서 광픽업의 틀어짐을 사전 검출하여 이에 적절히 대응하기 위한 광픽업의 틀어짐 검출방법에 관한 것으로서, 광디스크장치의 제조공정 과정에 있어서, 레이저파워 설정을 위한 적정 전압을 광픽업에 인가하고, 이와 같은 상기 레이저파워 설정과정 중에, 상기 광픽업 내부 포토 다이오드를 구성하는 각 셀의 전압을 측정하여 이로부터 상기 광픽업의 틀어짐 량을 검출함으로써, 광픽업의 틀어짐 검출 및 이에 따른 대응동작이 신속하면서도 효율적으로 이루어지는 매우 유용하고 편리한 발명인 것이다.

광픽업, Skew, 포토 다이오드, 셀, 레이저 파워

Description

광픽업의 틀어짐 검출방법{Method for detecting skew of optical pick-up}

도1은 일반적인 광디스크장치의 레이저파워 설정관련 구성을 도시한 것이고,

도2는 R/F부에 가해지는 기준전압과 광픽업에서 출력되는 레이저파워의 관계를 그래프 형태로 도시한 것이고,

도3∼도5는 광픽업의 틀어짐에 따른 광스폿의 예를 도시한 것이고,

도6은 본 발명에 따른 광픽업의 틀어짐 검출방법이 구현된 광디스크장치의 일 실시예의 구성을 도시한 것이고,

도7은 본 발명에 따른 광픽업의 틀어짐 검출방법에 대한 바람직한 일 실시예의 흐름을 도시한 것이다.

※ 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 광디스크 20 : 툴

30 : D/A 변환기 40 : R/F부

41 : A/D 변환기 50 : 광픽업

60 : 레이저파워 미터

본 발명은, 광디스크장치의 제조공정 과정에서 광픽업의 틀어짐을 사전 검출하여 이에 적절히 대응하기 위한 광픽업의 틀어짐 검출방법에 관한 것이다.

도1은 일반적인 광디스크장치의 레이저파워 설정관련 구성을 도시한 것으로서, 도1의 툴(Tool)(20)은 상기 광디스크장치의 제조공정 과정에서 레이저파워를 설정하기 위한 것이다.

일반적으로, 광디스크(10)에 데이터를 기록하기 위해서는 기록속도, 기록매질의 특성 등에 따라 다양한 크기의 레이저파워가 필요하므로, 상기와 같은 구성을 갖는 임의의 광디스크장치의 제조공정 과정에서 툴(20)에서는 R/F부(40)에 주어지는 기준전압(Reference Voltage)을 D/A 변환기(30)를 통해 조정함으로써 원하는 레이저파워를 설정하게 되는데, 일반적으로 상기 기준전압과 상기 레이저파워 간은 도2에서와 같이 선형적이다.

한편, 상기 툴(20)에서는 레이저파워 미터(Laser Power Meter)(60)를 이용하여 상기 기준전압에 대한 상기 광픽업(50)의 파워량을 측정하고 DAC 값과 레이저파워 간의 관계를 고려하여 원하는 레이저파워를 설정하게 되는데, 이때 상기 광픽업(50)의 파워량은 상기 광픽업(50) 내부 포토 다이오드(PD)의 A,B,C,D 셀(Cell)을 통해 각 단자의 전압으로 피드백(Feedback)된다.

이와 같이 레이저파워가 설정됨으로써 세트 제조공정이 완료된 후에는 상기 설정된 레이저파워를 이용한 실제 기록동작을 수행하되, 기록데이터에 대한 지터특성이 나쁘거나 기록데이터가 억세스되지 않는 등 기록오류 발생시에는 상기 광픽업(50)의 Skew 량을 검출하게 되는데, 이는 같은 기준전압에 대해서도 상기 광픽업(50)의 틀어짐(Skew) 등에 따라 레이저파워가 달라질 수 있기 때문이다.

상기 검출된 상기 광픽업(50)의 Skew 량이 일정 허용범위 내이면 상기 광픽업(50)의 광스폿은 도3과 같이 정상이나, 만약 상기 검출된 Skew 량이 상기 일정 허용범위 내가 아니면 상기 광픽업(50)의 틀어짐이 심하여 도4 및 도5에서와 같이 상기 광픽업(50)의 광스폿이 비정상적이므로, 이 경우에는 상기 설정된 레이저파워로 데이터를 기록할 수 없으므로 세트(Set) 불량으로 판정하고, 이와 같이 불량으로 판정된 세트는 이후 오디오 공정, DTR 공정 등의 많은 공정 단계를 거치게 된다.

그러나, 상기한 종래의 광픽업의 틀어짐 검출방법에 있어서는, 세트 제조공정 완료된 상태에서, 기 레이저파워를 이용하여 실제 기록동작을 수행한 후 광픽업의 틀어짐을 검출하므로, 광픽업의 틀어짐 검출시까지 많은 시간이 소요되고, 또한 광픽업의 틀어짐으로 인해 불량 판정된 세트에 대해서는 많은 공정 단계를 거쳐야 하므로 시간낭비의 비효율적인 문제점이 있었다.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 창작된 것으로서, 광디스크장치의 제조공정 과정에서 이루어지는 레이저파워 설정시에 광픽업의 틀어짐을 신속하게 검출하도록 하는 광픽업의 틀어짐 검출방법을 제공하는 데 그 목적이 있는 것이다.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광픽업의 틀어짐 검출방법은, 광디스크장치의 제조공정 과정에 있어서, 레이저파워 설정을 위한 적정 전압을 광픽업에 인가하는 제 1단계; 및 상기 레이저파워 설정과정 중에, 상기 광픽업 내부 포토 다이오드를 구성하는 각 셀의 전압을 측정하여 이로부터 상기 광픽업의 틀어짐 량을 검출하는 제 2단계를 포함하여 이루어지는 것에 그 특징이 있는 것이다.

이하, 본 발명에 따른 광픽업의 틀어짐 검출방법의 바람직한 실시예에 대해, 첨부된 도면에 의거하여 상세히 설명한다.

도6은 본 발명에 따른 광픽업의 틀어짐 검출방법이 구현된 광디스크장치의 일 실시예의 구성을 도시한 것으로서, R/F부(40)로부터 인가되는 기준전압에 상응하는 레이저파워로 광디스크(10)에 데이터를 기록하는 광픽업(50); 상기 광픽업(50) 내부 포토 다이오드의 A,B,C,D 셀 전압을 디지털 변환하여 출력하는 A/D 변환기(41); 및 상기 R/F부(40)에 주어지는 기준전압을 D/A 변환기(30)를 통해 조정한 후 레이저파워 미터(60)를 통해 상기 기준전압에 대한 상기 광픽업(50)의 파워량을 측정하여 원하는 레이저파워를 설정하며, 또한 상기 A/D 변환기(41)로부터 인가되는 상기 각 셀의 전압으로부터 상기 광픽업(50)의 Skew 량을 검출하는 툴(20)을 포함하여 구성되되, 상기 A/D 변환기(41)는 디지털 신호처리부(DSP)로 대체구성 가능하다.

도7은 본 발명에 따른 광픽업의 틀어짐 검출방법에 대한 바람직한 일 실시예의 흐름을 도시한 것으로서, 이하에서는 도6의 구성을 참조하여 본 발명에 따른 도7의 틀어짐 검출방법에 대해 상세히 설명한다.

우선, 상기와 같은 구성을 갖는 임의의 광디스크장치의 제조공정 과정에서(S10), 상기 툴(20)은 전술한 바와 같이 상기 R/F부(40)에 주어지는 기준전압을 D/A 변환기(30)를 통해 조정하는 한편, 레이저파워 미터(60)를 이용하여 상기 기준전압에 대한 상기 광픽업(50)의 파워량을 측정하여 원하는 레이저파워를 설정하게 되는데(S11), 통상적으로 상기 레이저파워 설정에 소요되는 시간은 약 15초 내외이다.

한편, 상기 광픽업(50)의 파워량은 상기 광픽업(50) 내부 포토 다이오드(PD)의 A,B,C,D 셀(Cell)을 통해 각 단자의 전압으로 피드백되고, 상기 A/D 변환기(41)는 상기 레이저파워 설정과정 중에 상기 각 셀의 전압, 즉 FMD(Front Monitor Diode) 전압을 디지털 변환하여 출력한다(S12).

이에 따라, 상기 툴(20)에서는 상기 각 셀의 전압값을 이용하여 상기 광픽업(50)의 Skew 량을 검출하게 되는데(S13), 상기 Skew 량의 검출은

연산함으로써 이루어지게 된다.

이로부터 상기 광픽업(50)의 Skew 량이 검출되면, 상기 툴(20)에서는 상기 검출된 Skew 량으로부터 광픽업(50)의 불량여부를 판정하게 되는데(S14), 이때 상기 검출된 상기 광픽업(50)의 Skew 량이 일정 허용범위 내( 광픽업의 스펙(Spec)에 따라 관리, 예를 들어 25% )이면 상기 광픽업(50)의 광스폿은 도3과 같이 정상이나, 만약 상기 검출된 Skew 량이 상기 일정 허용범위 내가 아니면 상기 광픽업(50)의 틀어짐이 심하여 도4 및 도5에서와 같이 상기 광픽업(50)의 광스폿이 비정상적인 경우에는 상기 툴(20)은 상기 광픽업(50)을 불량으로 판정하고 이에 적절히 대응할 수 있도록 한다,

한편, 상기의 실시에에서 상기 A/D 변환기(41) 대신 상기 A,B,C,D 각 셀의 TP(Test Point)에 핀(Pin)을 장착하고, 세트의 제조공정 과정중에 별도의 A/D 변환 지그(Jig)를 사용하여 상기 각 핀의 FMD 전압을 모니터링함으로써 상기 광픽업(50)의 Skew 량을 검출할 수도 있다.

이상 전술한 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것으로, 당업자라면 이하 첨부된 특허청구범위에 개시된 본 발명의 기술적 사상과 그 기술적 범위 내에서, 다양한 다른 실시예들을 개량, 변경, 대체 또는 부가 등이 가 능할 것이다.

상기와 같이 이루어지는 본 발명에 따른 광픽업의 틀어짐 검출방법은, 광디스크장치의 제조공정 과정중에 이루어지는 레이저파워 설정시에 광픽업의 틀어짐을 검출함으로써, 광픽업의 틀어짐 검출 및 이에 따른 대응동작이 신속하면서도 효율적으로 이루어지는 매우 유용하고 편리한 발명인 것이다.

Claims

광디스크장치의 제조공정 과정에 있어서,

레이저파워 설정을 위한 적정 전압을 광픽업에 인가하는 제 1단계; 및

상기 레이저파워 설정과정 중에, 상기 광픽업 내부 포토 다이오드를 구성하는 각 셀의 전압을 측정하여 이로부터 상기 광픽업의 틀어짐 량을 검출함과 아울러,

상기 인가되는 전압에 상응하는 상기 광픽업의 출력 파워량을 측정하고, 이로부터 상기 인가되는 전압을 조정하여 레이저파워를 설정하는 제 2단계를 포함하여 이루어지는 광픽업의 틀어짐 검출방법.
삭제
제 1항에 있어서,

상기 제 2단계의 전압 측정은, 상기 각 셀의 테스트 포인트에 장착된 핀의 전압을 측정하는 것임을 특징으로 하는 광픽업의 틀어짐 검출방법.