KR100900162B1

KR100900162B1 - 마이크로폰 테스트시스템의 테스트장치

Info

Publication number: KR100900162B1
Application number: KR1020090002583A
Authority: KR
Inventors: 김조희
Original assignee: 에버테크노 주식회사
Priority date: 2009-01-13
Filing date: 2009-01-13
Publication date: 2009-06-02

Abstract

본 발명은 마이크로폰 테스트시스템의 버퍼부에서 투입되는 부품을 테스트하여 분배기로 배출하기 위한 디지털 마이크로폰 테스트시스템의 테스트장치에 관한 것으로, 본 발명의 디지털 마이크로폰 테스트시스템의 테스트장치는 버퍼부(40)의 하측에 설치되어 버퍼부(40)로부터 배출되는 다수개의 부품(MIC)을 각각 다수개의 이송채널(CH)로 투입받으며, 테스트가 완료된 부품(MIC)을 분배부(70)로 하강시키는 테스트헤드(110)와; 테스트헤드(110)와 연결되어 테스트헤드(110)로 투입된 다수개의 부품(MIC)으로 테스트음을 공급하는 다수개의 테스트음발생부(120)와; 테스트헤드(110)로 투입된 다수개의 부품(MIC)과 전기적으로 연결되도록 접촉되는 테스트프로버(130)와; 테스트프로버(130)에 연결되어 테스트프로버(130)가 테스트헤드(110)로 투입된 다수개의 부품(MIC)과 접촉되어 전기적으로 연결되도록 테스트프로버(130)를 이송시키는 프로브이송기구(140)로 구성됨을 특징으로 한다.

마이크로폰, 테스트, 헤드, 프로버, 프로브, 부품, 채널

Description

마이크로폰 테스트시스템의 테스트장치{Apparatus for testing parts of microphone test system}

본 발명은 마이크로폰 테스트시스템의 테스트장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 마이크로폰 테스트시스템의 버퍼부에서 투입되는 부품을 테스트하여 분배기로 배출하기 위한 디지털 마이크로폰 테스트시스템의 테스트장치에 관한 것이다.

휴대전화와 같은 이동 통신장비는 음을 입력받기 위한 부품으로 마이크로폰(microphone)이 적용된다. 마이크로폰은 다양한 제조과정을 통해 제조되며, 제조가 완료된 마이크로폰은 마이크로폰 테스트장치를 이용하여 정상적으로 동작되는지 여부를 테스트하여 등급별로 분류하게 된다. 이러한 종래의 마이크로폰 테스트장치에 관련된 기술은 한국등록특허 제539049호(등록일: 2005년 12월 20일)에 공개되어 있다.

종래의 마이크로폰 테스트장치를 한국등록특허 제539049호를 참조하여 개략적으로 설명하면 다음과 같다.

한국등록특허 제539049호에 공개된 종래의 마이크로폰 테스트장치는 크게 부품 피더(parts feeder), 로테이터(rotator), 스피커 박스(speaker box), 테스트 지 그(test jig), 분배기(distributor), 소터(sorter) 및 스택커(stacker)로 구성된다.

부품 피더는 진동에 의해 마이크로폰을 공급한다. 로테이터는 마이크로폰을 회전시켜 이동시키며, 스피커 박스는 마이크로폰을 테스트하기 위한 테스트 음을 발생한다. 테스트 지그는 마이크로폰을 테스트하기 위한 다수개의 프로브핀(prove pin)이 설치되며, 분배기는 좌우로 이동 가능하게 설치되어 테스트가 완료된 마이크로폰을 배출한다. 소터는 분배기에서 배출되는 마이크로폰을 테스트 결과에 따라 등급별로 스택커에 분류하며, 스택커는 분배기에 의해 분류되는 마이크로폰을 수납하게 된다.

이러한 종래의 마이크로 폰 테스트장치는 테스트 시 테스트 지그가 수평방향으로 전/후진하여 이동된 뒤 다시 수직방향으로 승/하강하여 로테이터(rotator)에 위치한 부품을 테스트함으로써 테스트 지그의 이동 시간이 길어져 테스트 시간이 증가된다.

종래의 마이크로 폰 테스트장치는 테스트 지그의 이동이 길어짐으로 인한 테스트 시간의 증가로 인해 테스트 작업 시간이 증가되는 문제점이 있다.

본 발명은 테스트 회로와 연결되는 테스트프로버를 테스트헤드로 직선 이송시켜 부품을 테스트함으로써 테스트프로버의 이송시간을 줄여 테스트작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 마이크로폰 테스트시스템의 테스트장치를 제공함에 있다.

본 발명의 마이크로폰 테스트시스템의 테스트장치는 부품공급부, 배출부, 정렬부, 버퍼부, 셔틀부, 분배부, 분류부 및 다수개의 스택커로 이루어지는 마이크로폰 테스트 시스템에 있어서, 버퍼부의 하측에 설치되어 버퍼부로부터 배출되는 다수개의 부품을 각각 다수개의 이송채널로 투입받으며, 테스트가 완료된 부품을 상기 분배부로 하강시키는 테스트헤드(test head)와; 테스트헤드와 연결되어 테스트헤드로 투입된 다수개의 부품으로 테스트음을 공급하는 다수개의 테스트음발생부와; 테스트헤드로 투입된 다수개의 부품과 전기적으로 연결되도록 접촉되는 테스트프로버(test prober)와; 테스트프로버에 연결되어 테스트프로버가 테스트헤드로 투입된 다수개의 부품과 접촉되어 전기적으로 연결되도록 테스트프로버를 이송시키는 프로브(probe)이송기구로 구성됨을 특징으로 한다.

본 발명의 마이크로폰 테스트시스템의 테스트장치는 테스트 회로와 연결되는 테스트프로버를 테스트헤드로 직선 이송시켜 부품을 테스트함으로써 테스트프로버의 이송시간을 줄여 테스트작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 이점을 제공한다.

(실시예)

본 발명의 실시예에 따른 마이크로폰 테스트시스템의 테스트장치를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.

도 1은 본 발명의 마이크로폰 테스트시스템의 사시도이고, 도 2는 도 1에 도 시된 테스트장치의 사시도이며, 도 3은 도 2에 도시된 테스트장치의 요부 측단면도이다.

도 1 내지 도 3에서와 같이 마이크로폰 테스트시스템은 부품공급부(10), 배출부(20), 정렬부(30), 버퍼부(40), 셔틀부(50), 분배부(70), 분류부(80), 다수개의 스택커(90) 및 테스트장치(100)로 이루어진다.

부품공급부(10)는 진동을 이용하여 부품(MIC)을 공급하며, 배출부(20)는 부품공급부(10)에서 공급되는 부품(MIC)을 정렬부(30)로 하강시켜 투입한다. 정렬부(30)는 부품(MIC)에 형성된 전극패턴(1)이나 홀패턴(도시 않음)의 위치가 비정상적으로 투입되는 부품(MIC)을 정렬시켜 하강시킨다. 버퍼부(40)는 셔틀부(50)에서 하강되는 부품(MIC)을 투입받으며, 셔틀부(50)는 정렬부(30)와 버퍼부(40) 사이에 설치되어 정렬부(30)에 정렬된 부품(MIC)을 버퍼부(40)로 하강시킨다. 마이크로폰 테스트시스템에 적용되는 본원발명의 테스트장치(100)는 버퍼부(40)와 분배부(70) 사이에 설치되어 버퍼부(40)에서 하강되는 부품(MIC)을 테스트한 후 분배부(70)로 하강시킨다. 분배부(70)는 테스트된 부품(MIC)을 하나씩 분류부(80)로 하강시키며 분류부(80)는 테스트된 결과에 따라 부품(MIC)을 다수개의 스택커(90)로 분류하게 된다.

부품(MIC)을 테스트하여 분배부(70)로 하강시키는 본 발명의 테스트장치(100)는 테스트헤드(110), 다수개의 테스트음발생부(120), 테스트프로버(130) 및 프로브이송기구(140)로 구성된다.

테스트헤드(110)는 버퍼부(40)의 하측에 설치되어 버퍼부(40)로부터 배출되는 다수개의 부품(MIC)을 각각 다수개의 이송채널(CH)로 투입받으며, 테스트가 완 료된 부품(MIC)을 분배부(70)로 하강시킨다. 다수개의 테스트음발생부(120)는 각각 테스트헤드(110)와 연결되어 테스트헤드(110)로 투입된 다수개의 부품(MIC)으로 테스트음을 공급한다. 테스트프로버(130)는 테스트헤드(110)로 투입된 다수개의 부품(MIC)과 전기적으로 연결되도록 접촉되며, 프로브이송기구(140)는 테스트프로버(130)에 연결되어 테스트프로버(130)가 테스트헤드(110)로 투입된 다수개의 부품(MIC)과 접촉되어 전기적으로 연결되도록 테스트프로버(130)를 이송시킨다.

상기 구성을 갖는 본 발명의 테스트장치(100)를 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.

테스트헤드(110)는 도 2 내지 도 5에서와 같이 헤드보조프레임(111), 헤드베이스프레임(112), 다수개의 헤드커버프레임(113), 다수개의 탄성부(114) 및 다수개의 부품감지부(115)로 구성된다.

헤드보조프레임(111)은 테스트헤드(110)를 전반적으로 지지하며, 양측에 각각 테스트프로버(130)의 이동을 정지시키는 스톱퍼(111a)가 더 구비되어 설치된다.

헤드베이스프레임(112)은 헤드보조프레임(111)에 설치되어 버퍼부(40)에서 투입되는 부품(MIC)을 가이드하는 다수개의 이송채널(CH)이 형성되며, 이송채널(CH)에 각각 다수개의 가이드홀(hole)(112a)이 형성되며, 가이드홀(112a)의 상측에 위치되도록 이송채널(CH)에 각각 다수개의 설치홀(112b)이 형성된다. 다수개의 가이드홀(112a)은 각각 테스트프로버(130)에 구비된 프로브부(134)의 스톱퍼핀(134b)을 가이드하며, 다수개의 설치홀(112b)은 각각 테스트음발생부(120)의 제2테스트음 커넥터(126)가 설치되어 부품(MIC)의 홀패턴(도시 않음)으로 테스트음이 전달되도록 한다.

다수개의 헤드커버프레임(113)은 각각 헤드베이스프레임(112)에 설치되어 다수개의 이송채널(CH)을 따라 하강되는 부품(MIC)이 이탈되지 않도록 가이드하며, 부품(MIC)을 가이드하기 위해 가이드채널홈(GCH)이 형성되며, 가이드채널홈(GCH)은 양측이 각각 테이퍼면(TP)으로 이루어진다. 가이드채널홈(GCH)은 양측을 각각 테이퍼면(TP)으로 형성함으로써, 부품(MIC)에 충격에 의한 손상이 가해지지 않은 상태에서 이송채널(CH)에 부품(MIC)이 정렬되도록 한다.

다수개의 탄성부(114)는 헤드베이스프레임(112)과 헤드커버프레임(113)에 각각 설치되어 헤드커버프레임(113)에 의해 헤드베이스프레임(112)으로 투입된 부품(MIC)을 정렬되도록 한다. 이러한 다수개의 탄성부(114)는 각각 다수개의 탄성중공부재(114a), 다수개의 탄성가이드부재(114b) 및 다수개의 스프링부재(114c)로 이루어진다. 다수개의 탄성중공부재(114a)는 각각 헤드베이스프레임(112)에 설치되며, 다수개의 탄성가이드부재(114b)는 탄성중공부재(114a)에 각각 연결된다. 다수개의 스프링부재(114c)는 탄성가이드부재(114b)에 각각 삽입 설치되며 헤드커버프레임(113)에 연결되어 헤드커버프레임(113)의 가이드채널홈(GCH)에 의해 헤드베이스프레임(112)의 이송채널(CH)에 투입된 부품(MIC)이 정렬되도록 탄성력을 제공한다.

다수개의 부품감지부(115)는 헤드보조프레임(111)에 설치되어 헤드베이스프레임(112)으로 투입되는 부품(MIC)을 감지하며, 각각 센서설치부재(115a)와 다수개의 광센서(115b)로 이루어진다. 센서설치부재(115a)는 헤드보조프레임(111)에 설치 되며, 다수개의 광센서(115b)는 센서설치부재(115a)의 양측에 각각 설치되어 헤드베이스프레임(112)의 다수개의 이송채널(CH)에 부품(MIC)이 있는지 여부를 감지한다.

다수개의 테스트음발생부(120)는 각각 도 1 및 도 6에서와 같이 하우징(121), 스피커(122), 테스트음 전달부재(123), 다수개의 제1테스트음 커넥터(124), 다수개의 테스트음 연결관(125) 및 다수개의 제2테스트음 커넥터(126)로 구성된다.

하우징(121)은 일측에 하우징 커버(121a)가 설치되며, 스피커(122)는 하우징(121)의 내측에 설치되어 테스트음을 발생하며, 테스트음 전달부재(123)는 하우징(121)의 타측에 설치되며 다수개의 관통홀(123a)이 형성된다. 다수개의 제1테스트음 커넥터(124)는 테스트음 전달부재(123)의 관통홀(123a)에 각각 연결되며, 다수개의 테스트음 연결관(125)은 제1테스트음 커넥터(124)에 각각 연결된다. 다수개의 제2테스트음 커넥터(126)는 테스트음 연결관(125)과 테스트헤드(110)에 각각 연결되어 스피커(122)에서 발생된 테스트음이 테스트헤드(110)로 투입된 다수개의 부품(MIC)으로 전달되도록 한다. 이러한 다수개의 제2테스트음 커넥터(126) 중 하나는 부품(MIC)의 전기적인 특성을 판별하는 테스트회로(150)와 연결된다. 즉, 테스트회로(150)는 스피커(122)에서 발생된 테스트음을 수신받고, 이를 기준으로 하여 부품(MIC)으로부터 출력되는 테스트음에 따른 전기신호를 수신받아 부품(MIC)의 특성을 판별하여 분류한다.

테스트프로버(130)는 도 2 내지 도 4 및 도 7에서와 같이 포고핀(pogo pin) 연결부(131), 다수개의 체결부(132), 프로브연결부(133) 및 다수개의 프로브부(134)로 구성된다.

포고핀연결부(131)는 프로브이송기구(140)에 설치되며 테스트회로(150: 도 6에 도시됨)와 연결되며, 포고핀 연결프레임(131a)과 포고핀 커넥터(131b)로 이루어진다. 포고핀 연결프레임(131a)은 포고핀연결부(131)를 전반적으로 지지하며, 다수개의 포고핀 커넥터(131b)는 포고핀 연결프레임(131a)에 설치되며 다수개의 프로브부(134)와 테스트회로(150: 도 6에 도시됨)에 각각 연결된다.

다수개의 체결부(132)는 포고핀연결부(131)에 각각 설치되며, 체결블럭(132a)과 체결블럭(132a)을 이송프레임(142)에 결합시키기 위한 나사부재(132b)로 이루어진다.

프로브연결부(133)는 다수개의 체결부(132)에 설치되며 다수개의 설치홈(MG)이 구비되며, 제1프로브프레임(133a), 제2프로버프레임(133b) 및 보조체결부재(133c)로 이루어진다. 제1프로브프레임(133a)은 포고핀연결부(131)에 설치되며, 제2프로버프레임(133b)은 제1프로브프레임(133a)에 설치되며 다수개의 설치홈(MG)이 형성된다. 다수개의 보조체결부재(133c)는 제1프로브프레임(133a)과 프로브부(134)에 각각 설치된다.

다수개의 프로브부(134)는 프로브연결부(133)에 구비된 설치홈(MG)에 각각 설치되어 테스트헤드(110)로 투입된 다수개의 부품(MIC)과 전기적으로 연결되도록 접촉되며, 각각 프로브블럭(134a), 스톱퍼핀(134b) 및 다수개의 프로브핀(134c)으로 이루어진다. 프로브블럭(134a)은 프로브연결부(133)에 구비된 설치홈(MG)에 설 치되며, 스톱퍼핀(134b)은 프로브블럭(134a)에 연결되어 부품(MIC)이 하강되는 것을 정지시킨다. 즉, 스톱퍼핀(134b)은 부품(MIC)의 테스트 시 부품(MIC)이 하강되는 것을 정지시킨다. 다수개의 프로브핀(134c)은 프로브블럭(134a)에 연결되어 부품(MIC)과 접촉하여 전기적으로 연결된다. 즉, 다수개의 프로브핀(134c)은 부품(MIC)의 전극패턴(1)과 접촉되어 부품(MIC)에서 출력되는 테스트음에 따른 전기신호를 수신받는다.

프로브이송기구(140)는 도 2 내지 도 4에서와 같이 다수개의 리니어 가이드레일(141), 이송프레임(142), 정렬구동부(143) 및 직선이송기구(144)로 구성된다.

다수개의 리니어 가이드레일(141)은 베이스프레임(101)에 설치되며, 이송프레임(142)은 다수개의 리니어 가이드레일(141)에 설치되며 테스트프로버(130)가 설치된다. 정렬구동부(143)는 이송프레임(142)의 양측에 각각 설치되어 테스트헤드(110)의 이송채널(CH)에 위치한 부품(MIC)을 정렬한다. 이러한 정렬구동부(143)는 이송블록(143a)과 공압실린더(143b)로 이루어진다. 이송블록(143a)은 테스트헤드(110)와 접촉되며, 공압실린더(143b)는 이송블록(143a)을 전/후진시켜 테스트헤드(110)의 이송채널(CH)에 위치하는 부품(MIC)을 정렬한다.

직선이송기구(144)는 이송프레임(142)에 연결되어 테스트프로버(130)를 전진시켜 테스트헤드(110)로 투입된 다수개의 부품(MIC)과 접촉되어 전기적으로 연결되도록 이송시키며, 볼스크류 이송기구가 적용된다.

상기 구성을 갖는 본 발명의 마이크로폰 테스트 시스템의 테스트장치의 작용을 설명하면 다음과 같다.

부품공급부(10), 배출부(20), 정렬부(30), 버퍼부(40) 및 셔틀부(50)를 통해 다수개의 부품(MIC)이 하강되어 투입되면 이를 테스트헤드(110)에서 수납받는다. 테스트헤드(110)로 부품(MIC)이 투입되면 프로브이송기구(140)에 의해 테스트프로버(130)가 전진되어 부품(MIC)을 정지시킨다. 즉, 테스트프로버(130)는 프로브부(134)의 스톱퍼핀(134b)이 프로브이송기구(140)에 의해 테스트헤드(110)로 이송되어 하강되는 부품(MIC)을 정지시킨다.

부품(MIC)이 정지되면 테스트프로버(130)는 프로브부(134)의 다수개의 프로브핀(134c)이 부품(MIC)의 전극패턴(1)과 각각 접촉되도록 프로브이송기구(140)에 의해 더욱 전진된다. 테스트프로버(130)가 전진되어 다수개의 프로브핀(134c)이 부품(MIC)의 전극패턴(1)과 각각 접촉되면 다수개의 테스트음발생부(120)는 테스트음을 발생하여 제2테스트음 커넥터(126)를 통해 부품(MIC)의 홀패턴(도시 않음)으로 전달한다.

부품(MIC)의 홀패턴으로 테스트음이 전달되고, 프로브부(134)의 다수개의 프로브핀(134c)이 부품(MIC)의 전극패턴(1)과 각각 접촉되면 부품(MIC)은 홀패턴을 통해 전달된 테스트음에 따른 전기신호를 발생하여 테스트프로버(130)의 프로브부(134)로 출력한다. 프로브부(134)는 수신된 전기신호를 포고핀연결부(131)를 통해 테스트회로(150: 도 6에 도시됨)로 전달되고, 테스트회로(150)는 전달된 전기신호에 따라 부품(MIC)의 등급을 판별한다.

부품(MIC)에서 전기신호가 출력되면 프로브이송기구(140)는 테스트프로버(130)를 후진시켜 프로브부(134)의 스톱퍼핀(134b)에 의한 부품(MIC)의 정지를 해제시킨다. 부품(MIC)의 정지가 해제되면 부품(MIC)은 분배부(70)로 하강된다. 분배부(70)로 하강된 부품(MIC)은 분류부(80)로 하나씩 하강된다. 분류부(80)는 하강된 부품(MIC)을 테스트회로(150)에서 판별된 등급에 따라 다수개의 스택커(90)로 분류하게 된다.

본 발명의 마이크로폰 테스트시스템의 테스트장치는 마이크로폰과 같은 부품을 테스트하는 분야에 적용할 수 있다.

도 1은 본 발명의 마이크로폰 테스트시스템의 사시도,

도 2는 도 1에 도시된 테스트장치의 사시도,

도 3은 도 2에 도시된 테스트장치의 요부 측단면도,

도 4는 도 2에 도시된 테스트장치의 분리조립 사시도,

도 5는 도 4에 도시된 테스트헤드의 분리조립 사시도,

도 6은 도 1에 도시된 테스트음발생부의 분리조립 사시도,

도 7은 도 4에 도시된 테스트프로버의 분리조립 사시도.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *

110: 테스트헤드 111: 헤드보조프레임

112:헤드베이스프레임 113: 헤드커버프레임

114: 탄성부 115: 부품감지부

120: 테스트음발생부 121: 하우징

122: 스피커 123: 테스트음 전달부재

124: 제1테스트음 커넥터 125: 테스트음 연결관

126: 제2테스트음 커넥터 130: 테스트프로버

131: 포고핀연결부 132: 체결부

133: 프로브연결부 134: 프로브부

140: 프로브이송기구 141: 리니어 가이드레일

142: 이송프레임 143: 정렬구동부

144: 직선이송기구

Claims

마이크로폰 테스트 시스템의 버퍼부와 분배부 사이에 설치되는 테스트장치에 있어서,

상기 버퍼부의 하측에 설치되어 버퍼부로부터 배출되는 다수개의 부품을 각각 다수개의 이송채널로 투입받으며, 테스트가 완료된 부품을 상기 분배부로 하강시키는 테스트헤드와;

상기 테스트헤드와 연결되어 테스트헤드로 투입된 다수개의 부품으로 테스트음을 공급하는 다수개의 테스트음발생부와;

상기 테스트헤드로 투입된 다수개의 부품과 전기적으로 연결되도록 접촉되는 테스트프로버와;

상기 테스트프로버에 연결되어 테스트프로버가 정렬구동부로 투입된 다수개의 부품과 접촉되어 전기적으로 연결되도록 테스트프로버를 이송시키는 프로브이송기구로 구성됨을 특징으로 하는 마이크로폰 테스트 시스템의 테스트장치.
제1항에 있어서, 상기 테스트헤드는 헤드보조프레임과;

상기 헤드보조프레임에 설치되어 버퍼부에서 투입되는 부품을 가이드하는 다수개의 이송채널이 형성되는 헤드베이스프레임과;

상기 헤드베이스프레임에 설치되어 다수개의 이송채널을 따라 하강되는 부품이 이탈되지 않도록 가이드하는 다수개의 헤드커버프레임과;

상기 헤드베이스프레임과 상기 헤드커버프레임에 각각 설치되어 상기 테스트프로버와의 접촉 시 충격을 완화시키는 다수개의 탄성부와;

상기 헤드보조프레임에 설치되어 상기 헤드베이스프레임으로 투입되는 부품을 감지하는 다수개의 부품감지부로 구성됨을 특징으로 마이크로폰 테스트 시스템의 테스트장치.
제1항에 있어서, 상기 테스트헤드는 헤드보조프레임과;

상기 헤드보조프레임에 설치되어 버퍼부에서 투입되는 부품을 가이드하는 다수개의 이송채널이 형성되는 헤드베이스프레임과;

상기 헤드베이스프레임에 설치되어 다수개의 이송채널을 따라 하강되는 부품이 이탈되지 않도록 가이드하는 다수개의 헤드커버프레임과;

상기 헤드베이스프레임과 상기 헤드커버프레임에 각각 설치되어 상기 헤드커버프레임에 의해 헤드베이스프레임으로 투입된 부품이 정렬되도록 하는 다수개의 탄성부와;

상기 헤드보조프레임에 설치되어 상기 헤드베이스프레임으로 투입되는 부품을 감지하는 다수개의 부품감지부로 구성되며,

상기 헤드보조프레임은 양측에 각각 테스트프로버의 이동을 정지시키는 스톱퍼가 더 구비되어 설치되고, 상기 헤드베이스프레임은 상기 헤드보조프레임에 설치되어 버퍼부에서 투입되는 부품을 가이드하는 다수개의 이송채널이 형성되고 상기 이송채널에 각각 다수개의 가이드홀이 형성되며 가이드홀의 상측에 위치되도록 이 송채널에 각각 다수개의 설치홀이 형성되며, 상기 다수개의 헤드커버프레임은 각각 상기 헤드베이스프레임에 설치되어 다수개의 이송채널을 따라 하강되는 부품이 이탈되지 않도록 가이드하는 가이드채널홈이 형성되며 상기 가이드채널홈은 양측이 각각 테이퍼면으로 이루어지며, 상기 다수개의 탄성부는 각각 상기 헤드베이스프레임에 각각 설치되는 다수개의 탄성중공부재와, 상기 탄성중공부재에 각각 연결되는 다수개의 탄성가이드부재와, 상기 탄성가이드부재에 각각 삽입 설치되며 상기 헤드커버프레임에 연결되어 상기 헤드커버프레임의 가이드채널홈에 의해 상기 헤드베이스프레임의 이송채널에 투입된 부품이 정렬되도록 탄성력을 제공하는 다수개의 스프링부재로 이루어지며, 상기 다수개의 부품감지부는 각각 상기 헤드보조프레임에 설치되는 센서설치부재와, 상기 센서설치부재의 양측에 각각 설치되어 헤드베이스프레임의 다수개의 이송채널에 부품이 있는지 여부를 감지하는 다수개의 광센서로 이루어짐을 특징으로 하는 마이크로폰 테스트 시스템의 테스트장치.
제1항에 있어서, 상기 다수개의 테스트음발생부는 각각 일측에 하우징 커버가 설치되는 하우징과;

상기 하우징의 내측에 설치되어 테스트음을 발생하는 스피커와;

상기 하우징의 타측에 설치되며 다수개의 관통홀이 형성되는 테스트음 전달부재와;

상기 관통홀에 각각 연결되는 다수개의 제1테스트음 커넥터와;

상기 제1테스트음 커넥터에 각각 연결되는 다수개의 테스트음 연결관과;

상기 테스트음 연결관과 상기 테스트헤드에 각각 연결되어 상기 스피커에서 발생된 테스트음이 테스트헤드로 투입된 다수개의 부품으로 전달되도록 하는 다수개의 제2테스트음 커넥터로 구성됨을 특징으로 하는 마이크로폰 테스트 시스템의 테스트장치.
제4항에 있어서, 상기 다수개의 제2테스트음 커넥터 중 하나는 부품의 전기적인 특성을 판별하는 테스트회로와 연결됨을 특징으로 하는 마이크로폰 테스트 시스템의 테스트장치.
제1항에 있어서, 상기 테스트프로버는 상기 프로브이송기구에 설치되며 테스트회로와 연결되는 포고핀 연결부와;

상기 포고핀 연결부에 각각 설치되는 다수개의 체결부와;

상기 다수개의 체결부에 설치되며 다수개의 설치홈이 구비되는 프로브연결부와;

상기 프로브연결부에 구비된 설치홈에 각각 설치되어 테스트헤드로 투입된 다수개의 부품과 전기적으로 연결되도록 접촉되는 다수개의 프로브부로 구성됨을 특징으로 하는 마이크로폰 테스트 시스템의 테스트장치.
제1항에 있어서, 상기 테스트프로버는 상기 프로브이송기구에 설치되며 테스트회로와 연결되는 포고핀연결부와;

상기 포고핀연결부에 각각 설치되는 다수개의 체결부와;

상기 다수개의 체결부에 설치되며 다수개의 설치홈이 구비되는 프로브연결부와;

상기 프로브연결부에 구비된 설치홈에 각각 설치되어 테스트헤드로 투입된 다수개의 부품과 전기적으로 연결되도록 접촉되는 다수개의 프로브부로 구성되며,

상기 포고핀연결부는 포고핀 연결프레임과, 상기 포고핀 연결프레임에 설치되며 상기 다수개의 프로브부와 테스트회로에 각각 연결되는 다수개의 포고핀 커넥터로 이루어지고, 상기 프로브연결부는 상기 포고핀연결부에 설치되는 제1프로브프레임과, 상기 제1프로브프레임에 설치되며 다수개의 설치홈이 형성되는 제2프로버프레임과, 상기 제1프로브프레임과 상기 프로브부에 각각 설치되는 다수개의 보조체결부재로 이루어지며, 상기 다수개의 프로브부는 각각 상기 프로브연결부에 구비된 설치홈에 설치되어 프로브블럭과, 상기 프로브블럭에 연결되어 부품이 하강되는 것을 정지시키는 스톱퍼핀과, 상기 프로브블럭에 연결되어 부품과 접촉하여 전기적으로 연결되는 다수개의 프로브핀으로 이루어짐을 특징으로 하는 마이크로폰 테스트 시스템의 테스트장치.
제1항에 있어서, 상기 프로브이송기구는 다수개의 리니어 가이드레일과;

상기 다수개의 리니어 가이드레일에 설치되며 상기 테스트프로버가 설치되는 이송프레임과;

상기 이송프레임의 양측에 각각 설치되어 테스트프로버가 정렬구동부와 접촉 시 충격을 감소시키는 정렬구동부와;

상기 이송프레임에 연결되어 상기 테스트프로버가 정렬구동부로 투입된 다수개의 부품과 접촉되어 전기적으로 연결되도록 이송시키는 직선이송기구로 구성됨을 특징으로 하는 마이크로폰 테스트 시스템의 테스트장치.
제1항에 있어서, 상기 프로브이송기구는 다수개의 리니어 가이드레일과;

상기 다수개의 리니어 가이드레일에 설치되며 상기 테스트프로버가 설치되는 이송프레임과;

상기 이송프레임의 양측에 각각 설치되어 테스트헤드의 이송채널에 위치한 부품을 정렬하는 정렬구동부와;

상기 이송프레임에 연결되어 상기 테스트프로버가 정렬구동부로 투입된 다수개의 부품과 접촉되어 전기적으로 연결되도록 이송시키는 직선이송기구로 구성되며,

상기 정렬구동부는 테스트헤드와 접촉되는 이송블록과, 상기 이송블록에 연결되며 이송블록을 전/후진시켜 테스트헤드의 이송채널에 위치하는 부품을 정렬하는 공압실린더로 이루어지며, 상기 직선이송기구는 볼스크류 이송기구가 적용됨을 특징으로 하는 마이크로폰 테스트 시스템의 테스트장치.