KR100847582B1 - 반도체소자 이송시스템 및 이를 이용하는 반도체소자이송방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (13)
- 몰딩된 반도체소자를 픽업하여 이송시키는 피커부;상기 피커부의 이송경로 상에 위치되며, 상기 몰딩된 반도체소자의 하면을 냉각시키는 냉각부;냉각이 완료된 상기 몰딩된 반도체소자의 이송을 안내하는 이송부;상기 이송부에 안착된 상기 몰딩된 반도체소자를 이송하는 푸싱부;상기 푸싱부에 의해 이송되는 상기 몰딩된 반도체소자의 두께를 측정하는 두께측정부; 및상기 몰딩된 반도체소자의 두께가 기 설정된 값을 초과하는 경우, 상기 몰딩된 반도체소자를 분리배출하는 리젝트부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체소자 이송시스템.
- 제 1항에 있어서,상기 피커부는,상기 몰딩된 반도체소자의 상면을 냉각시키는 보조냉각부;가 더 구비된 것을 특징으로 하는 상기 반도체소자 이송시스템.
- 제 2항에 있어서,상기 리젝트부는,상기 푸싱부에서 상기 몰딩된 반도체소자를 가압할 때 에러가 발생되면 상기 몰딩된 반도체소자를 배출하는 것을 특징으로 하는 상기 반도체소자 이송시스템.
- 제 1항에 있어서,상기 이송부는,상기 몰딩된 반도체소자의 폭 방향 크기에 따라 간격이 조절되는 것을 특징으로 하는 상기 반도체소자 이송시스템.
- 제 1항에 있어서,상기 푸싱부는,상기 몰딩된 반도체소자의 두께가 기 설정된 값을 초과하거나, 상기 몰딩된 반도체소자의 배출 에러가 발생되면 상기 몰딩된 반도체소자를 상기 리젝트부로 위치시키는 것을 특징으로 하는 상기 반도체소자 이송시스템.
- 제 5항에 있어서,상기 푸싱부는,가압시 상호 밀착된 상태로 상기 몰딩된 반도체소자의 일측을 가압하고, 두께 불량, 도는 푸싱에러 발생시 상ㆍ하측 방향으로 각각 벌어지는 제1ㆍ제2가압부재;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 상기 반도체소자 이송시스템.
- 제 1항 내지 제 6항 중 어느 한 항에 있어서,상기 리젝트부는,상기 이송부의 일측에 연결된 상태로 위치되고, 상기 냉각부는 상기 이송부와 이격된 상태로 상기 리젝트부의 타측 방향에 위치되는 것을 특징으로 하는 상기 반도체소자 이송시스템.
- 제 7항에 있어서,상기 피커부는,상기 몰딩된 반도체소자를 상기 수지금형부에서 상기 냉각부로, 상기 냉각부에서 상기 이송부로, 상기 이송부에서 상기 리젝트부로 각각 전달하는 것을 특징으로 하는 상기 반도체소자 이송시스템.
- 수지금형부로부터 몰딩된 반도체소자를 매거진으로 이송하는 반도체소자 이송방법에 있어서,(a) 상기 몰딩된 반도체소자를 피커부가 픽업하여 냉각부에 전달하는 단계;(b) 상기 냉각부에서 상기 몰딩된 반도체소자의 하면을 냉각시키는 단계;(c) 냉각이 완료된 상기 몰딩된 반도체소자를 상기 피커부가 흡착하여 이송부에 위치시키는 단계; 및(d) 상기 이송부에 안착된 상기 몰딩된 반도체소자를 푸싱부가 가압하여 상기 매거진으로 이송하는 단계;를 포함하되,상기 매거진으로 이송되는 동안 그 두께를 측정하고, 기 설정된 값을 초과하는 경우 상기 몰딩된 반도체소자를 리젝트부로 분리배출하는 것을 특징으로 하는 반도체소자 이송방법.
- 제 9항에 있어서,상기 (a)단계는,(a') 상기 피커부가 상기 몰딩된 반도체소자를 픽업할 때 이 피커부에 구비된 보조냉각부에서 상기 몰딩된 반도체소자의 상면으로 저온의 공기를 분사하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 상기 반도체소자 이송방법
- 제 10항에 있어서,상기 (b)단계가 수행될 때, 상기 (a')단계가 동시에 수행되어 상기 몰딩된 반도체소자의 상면과 하면으로 각각 저온의 공기가 분사되는 것을 특징으로 하는 상기 반도체소자 이송방법.
- 제 9항에 있어서,상기 (c)단계는,(c') 상기 몰딩된 반도체소자가 상기 이송부에 안착될 때, 이 몰딩된 반도체소자의 폭 방향 크기에 따라 간격이 조절되는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 상기 반도체소자 이송방법.
- 제 12항에 있어서,상기 (d)단계는,상기 (c')단계가 수행될 때 상기 푸싱부도 동일하게 조절되는 것을 특징으로 하는 상기 반도체소자 이송방법.
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