KR100804759B1 - 멤스 가속도 센서 제조 방법 및 그 센서 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (3)
- 유리 기판(70a,70b)에 특정 패턴으로 다수의 요홈(70c)을 형성하는 제1 과정(S10)과;상기 다수의 요홈(70c)이 형성된 유리 기판(70a,70b)의 상면에 씨드(seed) 층(70d)을 형성하는 제2 과정(S20);상기 씨드 층(70d)의 각 요홈(70c) 부분을 제외한 나머지 부분에 도금용 몰드 패턴(70e)을 형성하는 제3 과정(S30);상기 씨드 층(70d)의 각 요홈(70c)에 도전층(71a,71b)을 도금하는 제4 과정(S40);상기 도전층(71a,71b)이 형성된 유리 기판(70a,70b)의 상면과 하면을 CMP(Chemical Mechanical Polishing) 처리로 제거하여 상기 유리 기판(70a,70b)의 상면과 하면을 관통하는 도전층(71a,71b)을 형성한 다음, 상기 도전층(71a,71b)의 상부를 일부 식각하는 제5 과정(S50,S55);상기 제5 과정을 거쳐 제조된 유리 기판(70a,70b) 중 상부 기판(70a)의 하부에 도전층(71a)과 연결되도록 특정 패턴의 상부 전극(72a)을 접착하는 제6 과정(S60);상기 제5 과정을 거쳐 제조된 유리 기판(70a,70b) 중 하부 기판(70b)의 상부에 도전층(71b)과 연결되도록 특정 패턴의 하부 전극(72b)을 접착하는 제7 과정(S70);외력의 가속도에 비례하여 진동하는 질량체(mass;61)가 스프링 역할을 하는 캔틸레버(cantilever;62)의 선단에 형성되도록 미리 제조된 반도체 중앙 기판(60)을 전기적으로 접지시킨 상태에서 상기 상부 전극(72a)이 접착된 상부 기판(70a)을 -극성으로 대전시켜 상기 중앙 기판(60)의 상부에 접착하는 제8 과정(S80);중앙 기판(60)에 접착된 상부 기판(70a)의 상부에 접지층(70f)을 형성하는 제9 과정(S90);접지층(70f)을 전기적으로 접지시킨 상태에서 상기 하부 전극(72b)이 접착된 하부 기판(70b)을 -극성으로 대전시켜 상기 중앙 기판(60)의 하부에 접착하는 제10 과정(S100); 및접지층(70f)을 CMP(Chemical Mechanical Polishing) 처리로 제거하고, 중앙 기판(60)에 접착된 상부 기판(70a)의 도전층(71a) 상부와 하부 기판(70b)의 도전층(71b) 하부에 각각 외부 단자가 연결되는 상부 외부 단자 패드(73a)와 하부 외부 단자 패드(73b)를 접착하는 제11 과정(S110);으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 멤스 가속도 센서 제조 방법.
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---|---|---|---|---|
JPH1068742A (ja) | 1996-08-27 | 1998-03-10 | Akebono Brake Ind Co Ltd | 加速度スイッチおよび加速度スイッチの製造方法ならびに加速度スイッチを用いた加速度センサー |
KR20040010746A (ko) * | 2001-06-18 | 2004-01-31 | 허니웰 인터내셔널 인코포레이티드 | 소형의 고 커패시턴스 판독 실리콘 베이스의 미세 가공된전자기계적 센서 가속도 측정장치 |
JP2005197266A (ja) | 2002-11-27 | 2005-07-21 | Samsung Electro Mech Co Ltd | Soiウェーハを用いたmemsデバイス、その製造及び接地方法 |
KR20050109551A (ko) * | 2003-03-10 | 2005-11-21 | 허니웰 인터내셔널 인코포레이티드 | 글래스-실리콘 mems 공정에서의 매립형 전자 피드스루시스템 및 방법 |
JP2006162584A (ja) | 2004-12-03 | 2006-06-22 | Samsung Electro Mech Co Ltd | 音叉型振動式memsジャイロスコープ |
-
2006
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1068742A (ja) | 1996-08-27 | 1998-03-10 | Akebono Brake Ind Co Ltd | 加速度スイッチおよび加速度スイッチの製造方法ならびに加速度スイッチを用いた加速度センサー |
KR20040010746A (ko) * | 2001-06-18 | 2004-01-31 | 허니웰 인터내셔널 인코포레이티드 | 소형의 고 커패시턴스 판독 실리콘 베이스의 미세 가공된전자기계적 센서 가속도 측정장치 |
JP2005197266A (ja) | 2002-11-27 | 2005-07-21 | Samsung Electro Mech Co Ltd | Soiウェーハを用いたmemsデバイス、その製造及び接地方法 |
KR20050109551A (ko) * | 2003-03-10 | 2005-11-21 | 허니웰 인터내셔널 인코포레이티드 | 글래스-실리콘 mems 공정에서의 매립형 전자 피드스루시스템 및 방법 |
JP2006162584A (ja) | 2004-12-03 | 2006-06-22 | Samsung Electro Mech Co Ltd | 音叉型振動式memsジャイロスコープ |
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