KR100792728B1 - 번인 테스트용 소팅 핸들러의 트레이 반송장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (4)
- 본체의 상부에 이동 가능하게 설치되는 베이스프레임과;상기 베이스프레임에 회전 가능하게 설치되는 회전축부재와;상기 회전축부재에 설치되어 트레이를 고정 및 해제시키는 홀더유닛과;상기 베이스프레임에 설치되어 상기 회전축부재를 소정 각도로 회전시키는 회동유닛을 포함하여 구성된 번인 테스트용 소팅 핸들러의 트레이 반송장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 홀더유닛은,상기 회전축부재에 고정되게 설치되는 고정블록과;상기 고정블록의 양측에 측방으로 수평 이동가능하게 설치되어 트레이의 양측 변부를 고정시키는 한 쌍의 홀더부재와;상기 고정블록에 설치되어 상기 각 홀더부재를 측방으로 소정 거리씩 왕복 이동시키는 공압실린더를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 번인 테스트용 소팅 핸들러의 트레이 반송장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 회동유닛은, 상기 회전축부재의 일단부와 결합되어 회전축부재를 일방향 또는 양방향으로 회전시키는 모터로 구성된 것을 특징으로 하는 번인 테스트용 소팅 핸들러의 트레이 반송장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 회동유닛은, 상기 회전축부재의 일단부에 결합되며, 공압에 의해 회전축부재를 양방향으로 소정 각도씩 왕복 회동시키는 회전실린더인 것을 특징으로 하는 번인 테스트용 소팅 핸들러의 트레이 반송장치.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060042996A KR100792728B1 (ko) | 2006-05-12 | 2006-05-12 | 번인 테스트용 소팅 핸들러의 트레이 반송장치 |
EP07106159A EP1860448A2 (en) | 2006-05-12 | 2007-04-13 | Handler for sorting packaged chips |
US11/790,039 US7557565B2 (en) | 2006-05-12 | 2007-04-23 | Handler for sorting packaged chips |
CNB2007100973684A CN100541712C (zh) | 2006-05-12 | 2007-05-11 | 用于分类封装芯片的处理机 |
JP2007127198A JP4409585B2 (ja) | 2006-05-12 | 2007-05-11 | Icソーティングハンドラ |
TW096116923A TWI335062B (en) | 2006-05-12 | 2007-05-11 | Handler for sorting packaged chips |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060042996A KR100792728B1 (ko) | 2006-05-12 | 2006-05-12 | 번인 테스트용 소팅 핸들러의 트레이 반송장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070109678A KR20070109678A (ko) | 2007-11-15 |
KR100792728B1 true KR100792728B1 (ko) | 2008-01-11 |
Family
ID=38152591
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060042996A KR100792728B1 (ko) | 2006-05-12 | 2006-05-12 | 번인 테스트용 소팅 핸들러의 트레이 반송장치 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7557565B2 (ko) |
EP (1) | EP1860448A2 (ko) |
JP (1) | JP4409585B2 (ko) |
KR (1) | KR100792728B1 (ko) |
CN (1) | CN100541712C (ko) |
TW (1) | TWI335062B (ko) |
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KR100941673B1 (ko) | 2008-01-22 | 2010-02-12 | (주)테크윙 | 사이드도킹식 테스트핸들러 |
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- 2006-05-12 KR KR1020060042996A patent/KR100792728B1/ko active IP Right Grant
-
2007
- 2007-04-13 EP EP07106159A patent/EP1860448A2/en not_active Withdrawn
- 2007-04-23 US US11/790,039 patent/US7557565B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-05-11 CN CNB2007100973684A patent/CN100541712C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2007-05-11 JP JP2007127198A patent/JP4409585B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-05-11 TW TW096116923A patent/TWI335062B/zh not_active IP Right Cessation
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TWI335062B (en) | 2010-12-21 |
CN100541712C (zh) | 2009-09-16 |
EP1860448A2 (en) | 2007-11-28 |
JP4409585B2 (ja) | 2010-02-03 |
US20070262769A1 (en) | 2007-11-15 |
US7557565B2 (en) | 2009-07-07 |
TW200743173A (en) | 2007-11-16 |
CN101071759A (zh) | 2007-11-14 |
JP2007304101A (ja) | 2007-11-22 |
KR20070109678A (ko) | 2007-11-15 |
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Legal Events
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A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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