KR100786515B1

KR100786515B1 - 원장단위 검사가 가능한 유기전계발광 표시장치 및모기판과 그 검사방법

Info

Publication number: KR100786515B1
Application number: KR1020060067390A
Authority: KR
Inventors: 정진태
Original assignee: 삼성에스디아이 주식회사
Priority date: 2006-07-19
Filing date: 2006-07-19
Publication date: 2007-12-17

Abstract

본 발명은 모기판 상에서 원장단위의 검사를 수행하고, 원장검사시 발생할 수 있는 신호지연으로 인한 오작동을 방지할 수 있도록 한 원장단위 검사가 가능한 유기전계발광 표시장치의 모기판에 관한 것이다.

본 발명의 유기전계발광 표시장치의 모기판은 다수의 유기전계발광 표시장치들을 포함하며, 동일한 열에 위치된 상기 유기전계발광 표시장치들에 제1 방향으로 형성된 제1 배선그룹과, 동일한 행에 위치된 상기 유기전계발광 표시장치들에 제2 방향으로 형성된 제2 배선그룹과, 상기 유기전계발광 표시장치들 각각에 형성되며 상기 제1 또는 제2 배선그룹에 포함된 소정의 배선으로부터 전원 및 신호를 공급받아 주사신호를 생성하는 주사 구동부와, 상기 제1 또는 제2 배선그룹에 포함된 소정의 배선과 상기 주사 구동부 사이에 접속된 적어도 하나의 버퍼를 포함한다.

이에 의하여, 모기판 상에 형성된 다수의 유기전계발광 표시장치들에 대한 원장단위의 검사를 수행하고, 원장단위의 검사시 버퍼를 적용하여 배선을 경유하며 지연된 신호들을 보상함으로써 유기전계발광 표시장치가 오작동하는 것을 방지할 수 있다. 이로 인하여, 검사의 신뢰성 및 효율성을 높일 수 있다.

Description

원장단위 검사가 가능한 유기전계발광 표시장치 및 모기판과 그 검사방법{Organic Light Emitting Display Device and Mother Substrate for Performing Sheet Unit Test and Testing Method Using the Same}

도 1은 스크라이빙이 완료된 일반적인 유기전계발광 표시장치를 나타내는 도면이다.

도 2는 본 발명의 제1 실시예에 의한 유기전계발광 표시장치의 모기판을 나타내는 도면이다.

도 3은 도 2에 도시된 주사 구동부의 일례를 나타내는 도면이다.

도 4a 내지 도 4b는 도 3에 도시된 쉬프트 레지스터의 일례를 나타내는 도면이다.

도 5는 도 3에 도시된 쉬프트 레지스터부의 구동방법을 나타내는 파형도이다.

도 6은 도 3에 도시된 쉬프트 레지스터부로 지연된 클럭신호가 입력되는 것을 나타내는 파형도이다.

도 7은 도 3에 도시된 쉬프트 레지스터부로 지연된 클럭신호가 입력될 때 쉬프트 레지스터에서 출력되는 비정상 샘플링 펄스들의 일례를 나타내는 파형도이다.

도 8은 도 2에 도시된 데이터 분배부의 구동방법을 나타내는 파형도이다.

도 9는 도 8에 도시된 클럭신호들이 지연되었을 때, 데이터신호의 공급에 문제가 발생된 것을 나타내는 파형도이다.

도 10은 본 발명의 제2 실시예에 의한 유기전계발광 표시장치의 모기판을 나타내는 도면이다.

도 11은 본 발명의 제3 실시예에 의한 유기전계발광 표시장치의 모기판을 나타내는 도면이다.

도 12는 본 발명의 제4 실시예에 의한 유기전계발광 표시장치의 모기판을 나타내는 도면이다.

도 13은 도 12에 도시된 유기전계발광 표시장치 및 배선그룹들을 나타내는 도면이다.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

200: 유기전계발광 표시장치의 모기판 210: 유기전계발광 표시장치

220: 주사 구동부 230: 검사부

240: 데이터 분배부 250: 화소부

260: 제1 배선그룹 270: 제2 배선그룹

본 발명은 원장단위 검사가 가능한 유기전계발광 표시장치 및 모기판과 그 검사방법에 관한 것으로, 특히 개개의 유기전계발광 표시장치들을 스크라이빙 하지 않은 상태로 모기판 상에서 원장단위의 검사를 수행하고, 원장검사시 발생할 수 있는 신호지연으로 인한 오작동을 방지할 수 있도록 한 원장단위 검사가 가능한 유기전계발광 표시장치 및 모기판과 그 검사방법에 관한 것이다.

일반적으로, 다수의 유기전계발광 표시장치(Organic Light Emitting Display Device)들은 하나의 모기판(mother substrate) 상에 형성된 후 스크라이빙(scribing) 되어 개개의 유기전계발광 표시장치들로 분리된다. 이러한 유기전계발광 표시장치들에 대한 검사는 스크라이빙이 완료된 유기전계발광 표시장치들 각각에서 따로 수행된다.

도 1을 참조하면, 일반적인 유기전계발광 표시장치(110)는 주사 구동부(120), 데이터 구동부(130), 데이터 분배부(140) 및 화소부(150)를 구비한다.

주사 구동부(120)는 주사신호를 생성한다. 주사 구동부(120)에서 생성된 주사신호는 주사선들(S1 내지 Sn)로 순차적으로 공급된다.

데이터 구동부(130)는 데이터 신호를 생성한다. 데이터 구동부(130)에서 생성된 데이터 신호는 출력선들(O1 내지 Om)로 공급된다.

데이터 분배부(140)는 데이터 구동부(130) 각각의 출력선들(O1 내지 Om)로부터 공급되는 데이터 신호를 적어도 두 개의 데이터선(D)으로 공급한다. 이와 같은 데이터 분배부(140)는 데이터 구동부(130)의 채널 수를 감소시켜, 고해상도의 표시장치에서 유용하게 사용된다.

화소부(150)는 유기 발광 다이오드(Organic Light Emittint Diode)를 구비한 복수의 화소(미도시)로 이루어져 있다. 이와 같은 화소부(150)는 외부로부터 공급되는 제1 및 제2 전원(ELVDD, ELVSS)과, 주사 구동부(120)로부터 공급된 주사신호 및 데이터 분배부(140)로부터 공급된 데이터 신호에 대응하여 소정의 영상을 표시한다.

이와 같은 유기전계발광 표시장치(110)에 대한 검사는 개개의 유기전계발광 표시장치(110)를 검사하는 검사 장비에서 수행된다. 하지만, 유기전계발광 표시장치(110)를 구성하는 회로 배선이 변경되거나 유기전계발광 표시장치(110)의 크기가 변경되는 경우, 검사 장비를 변경해야 하거나 검사를 위해 요구되는 지그(jig)가 변경되어야 하는 문제점이 발생한다. 또한, 각각의 유기전계발광 표시장치(110)들을 따로 검사해야 하기 때문에 검사 시간이 길어지고 비용이 상승하는 등 검사의 효율성도 떨어진다. 따라서, 스크라이빙 이전에 모기판 상에서 원장 단위(Sheet Unit)로 다수의 유기전계발광 표시장치(110)들에 대한 검사를 수행할 필요가 있다.

한편, 원장 단위의 검사를 수행할 때, 다수의 유기전계발광 표시장치(110)들로 검사를 위한 신호들을 공급하는 과정에서 신호지연이 발생할 수 있다. 이와 같이 신호지연이 발생되면, 지연된 신호를 공급받은 유기전계발광 표시장치(110)가 오작동하여 검사가 제대로 수행되지 않을 수 있다. 이로 인하여, 검사의 신뢰성 및 효율성이 저하될 수 있다. 따라서, 원장 단위로 검사를 수행할 때, 신호지연을 개선할 필요가 있다.

따라서, 본 발명의 목적은 모기판에 형성된 다수의 유기전계발광 표시장치들에 대한 원장단위 검사가 가능한 유기전계발광 표시장치 및 모기판과 그 검사방법을 제공하는 것이다.

본 발명의 다른 목적은 모기판 상에 형성된 각각의 유기전계발광 표시장치로 검사를 위한 신호들을 공급할 때, 신호지연을 개선시킬 수 있도록 한 원장단위 검사가 가능한 유기전계발광 표시장치 및 모기판과 그 검사방법을 제공하는 것이다.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 제1 측면은 다수의 유기전계발광 표시장치들을 포함하는 모기판에 있어서, 동일한 열에 위치된 상기 유기전계발광 표시장치들에 제1 방향으로 형성된 제1 배선그룹과, 동일한 행에 위치된 상기 유기전계발광 표시장치들에 제2 방향으로 형성된 제2 배선그룹과, 상기 유기전계발광 표시장치들 각각에 형성되며, 상기 제1 또는 제2 배선그룹에 포함된 소정의 배선으로부터 전원 및 신호를 공급받아 주사신호를 생성하는 주사 구동부과, 상기 제1 또는 제2 배선그룹에 포함된 소정의 배선과 상기 주사 구동부 사이에 접속된 적어도 하나의 버퍼를 포함하는 유기전계발광 표시장치의 모기판을 제공한다.

바람직하게, 상기 주사 구동부는 상기 제1 또는 제2 배선그룹에 포함된 소정의 배선으로부터 상기 버퍼를 경유하여 적어도 하나의 주사제어신호를 공급받는 것을 특징으로 한다. 상기 주사제어신호는 적어도 하나의 쉬프트 클럭신호, 스타트 펄스 또는 주사클럭신호를 포함한다. 상기 버퍼는 상기 모기판이 스크라이빙될 때 자신과 접속된 상기 주사 구동부와 전기적으로 격리되도록 상기 유기전계발광 표시장치의 스크라이빙 라인 외곽에 위치된다. 상기 유기전계발광 표시장치들 각각에 형성되며, 상기 제1 또는 제2 배선그룹에 포함된 소정의 배선으로부터 적어도 두 개의 선택신호를 공급받는 데이터 분배부와, 상기 선택신호를 공급하는 소정의 배선과 상기 데이터 분배부 사이에 접속된 적어도 하나의 버퍼와, 상기 제1 또는 제2 배선그룹으로부터 공급되는 검사제어신호에 대응하여 상기 제1 또는 제2 배선그룹으로부터 공급되는 검사신호를 상기 데이터 분배부로 공급하는 검사부를 더 포함한다. 상기 데이터 분배부는 상기 제1 또는 제2 배선그룹에 포함된 소정의 배선으로부터 상기 버퍼를 경유하여 적어도 두 개의 선택신호를 공급받는 것을 특징으로 한다. 상기 선택신호는 적색 클럭신호, 녹색 클럭신호 및 청색 클럭신호 중 적어도 하나를 포함한다.

본 발명의 제2 측면은 유기발광 다이오드를 구비한 다수의 화소가 포함된 화소부와, 상기 화소부로 주사신호를 공급하기 위한 주사 구동부와, 외곽영역에 위치되며 제1 방향으로 형성된 제1 배선그룹 및 제2 방향으로 형성된 제2 배선그룹과, 상기 제1 또는 제2 배선그룹과 접속된 적어도 하나의 버퍼를 포함한 유기전계발광 표시장치를 제공한다.

바람직하게, 상기 화소부에 형성된 데이터선들과 접속되는 다수의 트랜지스터를 포함하는 트랜지스터 그룹과, 상기 트랜지스터 그룹과 상기 화소부 사이에 접속된 데이터 분배부를 더 포함한다. 상기 트랜지스터 그룹에 구비된 트랜지스터들은 외부로부터 공급되는 제어신호에 대응하여 턴-오프 상태를 유지한다.

본 발명의 제3 측면은 다수의 유기전계발광 표시장치들이 형성된 모기판 상에서 적어도 하나의 상기 유기전계발광 표시장치에 대한 이상 유무를 검사하는 유기전계발광 표시장치의 검사방법에 있어서, 제1 방향으로 형성된 제1 배선그룹 또는 제2 방향으로 형성된 제2 배선그룹으로부터 적어도 하나의 버퍼를 경유하여 상기 적어도 하나의 유기전계발광 표시장치로 주사제어신호를 공급하는 단계와, 상기 주사제어신호에 대응하여 주사신호를 생성하는 단계와, 상기 제1 또는 제2 배선그룹으로부터 적어도 하나의 버퍼를 경유하여 선택신호를 공급하는 단계와, 상기 선택신호에 대응하여 상기 유기전계발광 표시장치에 형성된 화소부로 검사신호를 공급하는 단계와, 상기 주사신호 및 검사신호에 대응하여 소정의 검사를 위한 영상을 표시하는 단계를 포함하는 유기전계발광 표시장치의 원장단위 검사방법을 제공한다.

바람직하게, 상기 주사제어신호는 적어도 하나의 쉬프트 클럭신호, 스타트 펄스 또는 주사클럭신호를 포함한다. 상기 선택신호는 적색 클럭신호, 녹색 클럭신호 및 청색 클럭신호 중 적어도 하나를 포함한다. 상기 검사신호는 점등 검사신호 또는 누설전류 검사신호이다.

이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있는 바람직한 실시 예가 첨부된 도 2 내지 도 13을 참조하여 자세히 설명하면 다음과 같다.

도 2를 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 의한 유기전계발광 표시장치의 모기판(200)은 매트릭스 형태로 배열된 다수의 유기전계발광 표시장치(210)들과, 유기전계발광 표시장치(210)들의 외곽영역에 형성된 제1 및 제2 배선그룹(260, 270)을 포함한다.

각각의 유기전계발광 표시장치(210)들은 주사 구동부(220), 검사부(230), 데이터 분배부(240) 및 화소부(250)를 포함한다.

주사 구동부(220)는 제2 배선그룹(270)에 포함된 제11 배선(271), 제13 배선(273) 및 제14 배선(274)으로부터 각각 주사제어신호, 제3 전원(VDD) 및 제4 전원(VSS)을 공급받는다. 이와 같은 주사 구동부(220)는 주사제어신호, 제3 전원(VDD) 및 제4 전원(VSS)에 대응하여 주사신호를 생성한다. 주사 구동부(220)에서 생성된 주사신호는 화소부(250)로 공급된다.

검사부(230)는 제1 배선그룹(260)에 포함된 제1 배선(261)과 데이터 분배부(240) 사이에 접속된 다수의 트랜지스터(M1 내지 Mn)를 구비한다. 여기서, 트랜 지스터들(M1 내지 Mn) 각각의 게이트 전극은 제1 배선그룹(260)에 포함된 제3 배선(263)과 공통으로 접속된다. 이와 같은 검사부(230)는 제3 배선(263)으로부터 공급되는 검사제어신호에 대응하여, 제1 배선(261)으로부터 공급되는 검사신호를 데이터 분배부(240)로 공급한다. 여기서, 검사신호는 유기전계발광 표시장치(210)의 불량유무를 판단하기 위한 신호들로, 예를 들면 화소부(250)에 포함된 화소들의 점등 검사신호 및 누설전류 검사신호 등이 될 수 있다.

한편, 검사부(230)는 모기판(200) 상에서 수행되는 원장단위의 검사가 완료되고 각각의 유기전계발광 표시장치(210)들이 스크라이빙 된 이후에는 턴-오프 상태를 유지하도록 설정된다. 즉, 검사부(230)는 원장단위의 검사가 완료되면, 유기전계발광 표시장치(210)의 구동에 영향을 주지 않도록 턴-오프 상태를 유지하는 트랜지스터 그룹으로 남게 된다. 이를 위해, 스크라이빙 이후, 검사부(230)에 구비된 트랜지스터들(M1 내지 Mn)은 턴-오프 상태를 유지하도록 제어하는 제어신호를 공급받을 수 있다.

데이터 분배부(240)는 제2 배선그룹(270)에 포함된 제12 배선(272)으로부터 적어도 두 개의 선택신호를 공급받는다. 여기서, 도 2에서는 제12 배선(272)을 하나의 배선으로 도시하였지만, 실제로 제12 배선(272)은 선택신호의 수에 대응하여 적어도 두 개로 다양하게 설정될 수 있다. 예를 들어, 데이터 분배부(240)는 제12 배선(272)으로부터 적색, 녹색 및 청색 클럭신호(CLR, CLG, CLB)를 공급받을 수 있고, 이 경우 제12 배선(272)은 세 개의 배선으로 형성된다. 이와 같은 데이터 분배부(240)는 원장단위 검사시, 검사부(230) 각각의 출력선으로부터 공급되는 검사신 호를 선택신호에 대응하여 적어도 두 개의 데이터선으로 공급한다. 한편, 각각의 유기전계발광 표시장치(210)들이 스크라이빙 된 이후, 데이터 분배부(240)는 외부로부터 공급되는 적어도 두 개의 선택신호에 대응하여 도시되지 않은 데이터 구동부 각각의 출력선으로 공급되는 데이터 신호를 적어도 두 개의 데이터선으로 공급한다.

화소부(250)는 유기 발광 다이오드를 구비한 복수의 화소(미도시)로 이루어져 있다. 이와 같은 화소부(250)는 제1 배선그룹(260)에 포함된 제2 배선(262) 및 제4 배선(264)으로부터 각각 제2 전원(ELVSS) 및 초기화전원(Vinit)을 공급받고, 제2 배선그룹(270)에 포함된 제15 배선(275)으로부터 제1 전원(ELVDD)을 공급받는다. 또한, 화소부(250)는 주사 구동부(220)로부터 주사신호를 공급받고, 데이터 분배부(240)로부터 검사신호(혹은, 데이터신호)를 공급받는다. 제1 및 제2 전원(ELVDD, ELVSS), 초기화전원(Vinit), 주사신호 및 검사신호(혹은, 데이터신호)를 공급받은 화소부(250)는 이에 대응하여 소정의 영상을 표시한다.

한편, 도시되지는 않았지만, 각각의 유기전계발광 표시장치(210)는 데이터 구동부를 더 포함할 수 있다. 여기서, 데이터 구동부는 각각의 유기전계발광 표시장치(210)가 모기판(200)으로부터 스크라이빙 된 이후, 외부로부터 공급되는 데이터에 대응하여 데이터 신호를 생성하고, 이를 데이터 분배부(240)로 공급한다. 일례로, 데이터 구동부는 검사부(230)와 중첩되도록 실장될 수 있다.

제1 배선그룹(260)은 수직방향(제1 방향)으로 형성되며, 모기판(200) 상의 동일한 열에 위치한 유기전계발광 표시장치(210)들에 공통으로 형성된다. 이와 같 은 제1 배선그룹(260)은 동일한 열에 위치한 유기전계발광 표시장치(210)들에 공통으로 접속되며, 검사신호를 공급받는 제1 배선(261), 제2 전원(ELVSS)을 공급받는 제2 배선(262), 검사제어신호를 공급받는 제3 배선(263) 및 초기화전원(Vinit)을 공급받는 제4 배선(264)을 포함한다.

제1 배선(261)은 원장단위 검사시에 공급되는 검사신호를 자신과 접속된 유기전계발광 표시장치(210)들에 형성된 검사부(230)로 공급한다.

제2 배선(262)은 원장단위 검사시에 공급되는 제2 전원(ELVSS)을 자신과 접속된 유기전계발광 표시장치(210)들에 형성된 화소부(250)로 공급한다.

제3 배선(263)은 원장단위 검사시에 공급되는 검사제어신호를 자신과 접속된 유기전계발광 표시장치(210)들에 형성된 검사부(230)로 공급한다.

제4 배선(264)은 원장단위 검사시에 공급되는 초기화전원(Vinit)을 자신과 접속된 유기전계발광 표시장치(210)들에 형성된 화소부(250)로 공급한다.

제2 배선그룹(270)은 수평방향(제2 방향)으로 형성되며, 모기판(200) 상의 동일한 행에 위치한 유기전계발광 표시장치(210)들에 공통으로 형성된다. 이와 같은 제2 배선그룹(270)은 동일한 행에 위치한 유기전계발광 표시장치(210)들에 공통으로 접속되며, 주사제어신호를 공급받는 제11 배선(271), 적어도 두 개의 선택신호를 공급받는 제12 배선(272), 제3 전원(VDD)을 공급받는 제13 배선(273), 제4 전원(VSS)을 공급받는 제14 배선(274), 제1 전원(ELVDD)을 공급받는 제15 배선(275)을 포함한다.

제11 배선(271)은 원장단위 검사시에 공급되는 주사제어신호를 자신과 접속 된 유기전계발광 표시장치(210)들에 형성된 주사 구동부(220)로 공급한다. 주사제어신호에는 주사 구동부(220)의 쉬프트 클럭신호, 스타트 펄스, 주사 클럭신호 등이 포함될 수 있다. 실제로, 주사 구동부(220)로 공급되는 주사제어신호의 수는 주사 구동부(220)의 회로구성에 의하여 다양하게 설정된다. 따라서, 도 2에서 제11 배선(271)은 하나의 배선으로 도시되었지만, 실제로 제11 배선(271)의 수는 적어도 하나로 다양하게 설정될 수 있다.

제12 배선(272)은 원장단위 검사시에 공급되는 적어도 두 개의 선택신호를 자신과 접속된 유기전계발광 표시장치(210)들에 형성된 데이터 분배부(240)로 공급한다. 여기서, 선택신호의 수는 화소부(250)에 포함되는 부화소들의 수에 따라 다양하게 설정될 수 있다. 따라서, 도 2에서 제12 배선(272)은 하나의 배선으로 도시되었지만, 실제로 제12 배선(272)의 수는 선택신호의 수에 따라 다양하게 설정될 수 있다.

제13 배선(273)은 원장단위 검사시에 공급되는 제3 전원(VDD)을 자신과 접속된 유기전계발광 표시장치(210)들에 형성된 주사 구동부(220)로 공급한다.

제14 배선(274)은 원장단위 검사시에 공급되는 제4 전원(VSS)을 자신과 접속된 유기전계발광 표시장치(210)들에 형성된 주사 구동부(220)로 공급한다.

제15 배선(275)은 원장단위 검사시에 공급되는 제1 전원(ELVDD)을 자신과 접속된 유기전계발광 표시장치(210)들에 형성된 화소부(250)로 공급한다.

이와 같은 모기판(200) 상에 형성된 각각의 유기전계발광 표시장치(210)들은 원장단위의 검사가 완료되면, 개개의 유기전계발광 표시장치(210)들로 스크라이빙 된다. 여기서, 스크라이빙 라인(280)은 제1 배선그룹(260) 및 제2 배선그룹(270)과 주사 구동부(220), 검사부(230), 데이터 분배부(240) 및 화소부(250)가 스크라이빙 이후 전기적으로 격리되도록 위치된다. 즉, 제1 배선그룹(260) 및 제2 배선그룹(270)과 주사 구동부(220), 검사부(230), 데이터 구동부(240) 및 화소부(250)의 전기적 접속점은 유기전계발광 표시장치(210)의 스크라이빙 라인 외곽에 위치된다. 이로 인하여, 외부로부터 제1 배선그룹(260) 및 제2 배선그룹(270)으로 유입되는 정전기와 같은 노이즈는 주사 구동부(220), 검사부(230), 데이터 분배부(240) 및 화소부(250)로 공급되지 않는다.

전술한 제1 실시예에 의한 유기전계발광 표시장치의 모기판(200)은 제1 및 제2 배선그룹(260, 270)을 구비함으로써, 모기판(200) 상에 형성된 각각의 유기전계발광 표시장치(210)들을 스크라이빙 하지 않은 상태로 다수의 유기전계발광 표시장치(210)들에 대한 원장단위의 검사를 수행할 수 있게 된다. 이를 좀 더 구체적으로 설명하면, 제1 및 제2 배선그룹(260, 270)으로 원장단위 검사를 위한 전원들 및 신호들을 공급함으로써, 제1 및 제2 배선그룹(260, 270)과 접속된 각각의 유기전계발광 표시장치(210)들에서 검사가 수행되게 된다. 이에 의하여, 검사시간을 줄이고, 비용을 감축하는 등 검사의 효율성을 높일 수 있다. 더불어, 유기전계발광 표시장치(210)를 구성하는 회로배선이 변경되거나, 유기전계발광 표시장치(210)의 크기가 변경되더라도 제1 및 제2 배선그룹(260, 270)의 회로배선과 모기판(200)의 크기가 변경되지 않으면 검사장비나 지그를 변경하지 않고도 검사를 수행할 수 있다.

또한, 본 실시예에 의하면, 적어도 하나의 특정 유기전계발광 표시장치(210) 와 접속된 제1 및 제2 배선그룹(260, 270)으로만 전원들 및 신호들을 공급함으로써, 모기판(200)에 형성된 유기전계발광 표시장치(210)들 중 특정 유기전계발광 표시장치(210)에서만 검사를 수행하는 것도 가능하다. 예를 들어, 제1 배선그룹(260)에 포함된 제2 배선(262)과 제2 배선그룹(270)에 포함된 제15 배선(275)으로 공급되는 제1 및 제2 전원(ELVDD, ELVSS)의 공급여부를 제어하여 특정 유기전계발광 표시장치(210)에서만 검사를 수행할 수 있다.

단, 전술한 제1 실시예에 의한 유기전계발광 표시장치의 모기판(200) 상에 형성된 유기전계발광 표시장치(210)들로 검사를 위한 신호들을 공급할 때, 신호들이 배선을 경유하면서 신호지연이 발생하여 특정 유기전계발광 표시장치(210)가 오작동을 일으킬 수 있다. 특히, 제11 배선(271)으로 공급되는 주사제어신호 또는 제12 배선(272)으로 공급되는 선택신호에 지연이 발생하게 되면, 지연이 발생된 주사제어신호 또는 선택신호를 공급받은 유기전계발광 표시장치(210)는 오작동하게 된다. 여기서, 제1 및 제2 배선그룹(260, 270)으로 전원들 및/또는 신호들을 공급할 때에는 일반적으로 배선들의 양 단부에서 전원들 및/또는 신호들을 공급하므로, 주로 모기판(200)의 중앙부에 위치된 유기전계발광 표시장치(210)에서 전술한 오작동의 문제가 발생할 수 있다. 이와 같이 모기판(200) 상에 형성된 다수의 유기전계발광 표시장치(210)들에 대한 원장단위의 검사를 수행할 때 신호지연이 발생하는 경우, 일부 유기전계발광 표시장치(210)가 오작동을 일으켜 검사의 신뢰성 및 효율성이 저하될 수 있다. 이에 대한 상세한 설명은 후술하기로 하며, 본 발명은 제2 내지 제4 실시예를 제공하여 이에 대한 해결방안을 제공하였다.

도 3은 도 2에 도시된 주사 구동부의 일례를 나타내는 도면이다. 그리고, 도 4a 내지 도 4b는 도 3에 도시된 쉬프트 레지스터의 일례를 나타내는 도면이다.

도 3 내지 도 4b를 참조하면, 도 2에 도시된 주사 구동부(220)는 쉬프트 레지스터부(221)와, 쉬프트 레지스터부(221)의 출력단에 접속된 신호생성부(222)를 포함한다.

쉬프트 레지스터부(221)는 제1 내지 제n 쉬프트 레지스터(SR1 내지 SRn)를 구비한다. 각각의 쉬프트 레지스터(SR1 내지 SRn)는 제11 배선(271)으로부터 공급되는 주사제어신호에 포함된 스타트 펄스(SP)(혹은, 전단의 샘플링 펄스(SAn-1))와 제1 및 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLK, SFTCLKB)를 이용하여 스타트 펄스(SP)(혹은, 전단의 샘플링 펄스(SAn-1))를 순차적으로 쉬프트시키면서 샘플링 펄스(SAn)를 생성한다. 일례로, 홀수 번째 쉬프트 레지스터(SR1, SR3, ..., SRn-1)는 제1 쉬프트 클럭신호(SFTCLK)의 상승에지에서 구동하고, 짝수 번째 쉬프트 레지스터(SR2, SR4, ..., SRn)는 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLKB)의 상승에지에서 구동하면서 순차적으로 샘플링 펄스(SAn)를 생성할 수 있다.

이를 좀 더 구체적으로 설명하면, 홀수 번째 쉬프트 레지스터(SR1, SR3, ..., SRn-1)는 도 4a에 도시된 바와 같이 제3 전원(VDD)과 제4 전원(VSS) 사이에 접속되는 다수의 트랜지스터들(T1 내지 T10)을 구비한다.

제1 내지 제4 트랜지스터(T1 내지 T4)는 제3 전원(VDD)과 제4 전원(VSS) 사이에 직렬로 접속된다. 여기서, 제1 및 제4 트랜지스터(T1, T4)의 게이트 전극은 전단의 샘플링 펄스(SAn-1)(혹은, 스타트 펄스(SP))를 공급받고, 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 전극은 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLKB)를 공급받으며, 제3 트랜지스터(T3)의 게이트 전극은 제1 쉬프트 클럭신호(SFTCLK)를 공급받는다.

제5 내지 제8 트랜지스터(T5 내지 T8)는 제3 전원(VDD)과 제4 전원(VSS) 사이에 직렬로 접속된다. 여기서, 제5 및 제8 트랜지스터(T5, T8)의 게이트 전극은 제9 및 제10 트랜지스터(T9, T10) 사이에 접속된다. 그리고, 제6 트랜지스터(T6)의 게이트 전극은 제1 쉬프트 클럭신호(SFTCLK)를 공급받고, 제7 트랜지스터(T7)의 게이트 전극은 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLKB)를 공급받는다.

제9 및 제10 트랜지스터(T9, T10)는 서로 상반된 타입의 트랜지스터로 설정되며, 제3 전원(VDD)과 제4 전원(VSS) 사이에 직렬로 접속되어 인버터로 동작한다. 이와 같은 제9 및 제10 트랜지스터(T9, T10)의 게이트 전극은 제2, 제3, 제6, 제7 트랜지스터(T2, T3, T6, T7)의 일전극과 공통으로 접속된다.

여기서, 제1, 제2, 제5, 제6 및 제9 트랜지스터(T1, T2, T5, T6, T9)는 피(P)-타입 트랜지스터로 설정되고, 제3, 제4, 제7, 제8 및 제10 트랜지스터(T3, T4, T7, T8, T10)는 엔(N)-타입 트랜지스터로 설정된다.

이와 같은 홀수 번째 쉬프트 레지스터(SR1, SR3, ..., SRn-1)에 전단의 샘플링 펄스(SAn-1)(혹은, 스타트 펄스(SP))와, 하이레벨의 제1 쉬프트 클럭신호(SFTCLK) 및 로우 레벨의 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLKB)가 입력되면, 쉬프트 레지스터(SR)는 자신에게 공급되는 전단의 샘플링 펄스(SAn-1)(혹은, 스타트 펄스(SP))와 동일한 레벨의 샘플링 펄스(SAn)를 출력한다. 예를 들어, 전단의 샘플링 펄스(SAn-1)(혹은, 스타트 펄스(SP))가 하이레벨의 신호인 경우 쉬프트 레지스터(SR)는 하이레벨의 샘플링 펄스(SAn)를 출력하고, 전단의 샘플링 펄스(SAn-1)(혹은, 스타트 펄스(SP))가 로우레벨의 신호인 경우 쉬프트 레지스터(SR)는 로우레벨의 샘플링 펄스(SAn)를 출력한다.

그리고, 홀수 번째 쉬프트 레지스터(SR1, SR3, ..., SRn-1)에 로우레벨의 제1 쉬프트 클럭신호(SFTCLK) 및 하이레벨의 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLKB)가 입력되면, 쉬프트 레지스터(SR)는 자신에게 공급되는 전단의 샘플링 펄스(SAn-1)(혹은, 스타트 펄스(SP))와 무관하게 샘플링 펄스(SAn)의 레벨을 유지하며 일정한 레벨의 샘플링 펄스(SAn)를 출력한다.

즉, 도 4a에 도시된 홀수 번째 쉬프트 레지스터(SR1, SR3, ..., SRn-1)는 제1 쉬프트 클럭신호(SFTCLK)의 상승에지에서 구동한다.

한편, 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLKB)의 상승에지에서 구동하는 짝수 번째 쉬프트 레지스터(SR2, SR4, ..., SRn)는 도 4b에 도시된 바와 같이 구성된다. 여기서, 도 4b에 도시된 짝수 번째 쉬프트 레지스터(SR2, SR4, ..., SRn)는 제1 쉬프트 클럭신호(SFTCLK) 및 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLKB)의 입력단자가 서로 뒤바뀐 것을 제외하고는 도 4a에 도시된 홀수번째 쉬프트 레지스터(SR1, SR3, ..., SRn-1)와 동일하므로 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.

신호생성부(222)는 제1 내지 제n 신호생성로직을 구비한다. 각각의 신호생성로직은 쉬프트 레지스터부(221)로부터 샘플링 펄스(SAn) 및 전단의 샘플링 펄스(SAn-1)를 공급받고, 제11 배선(271)로부터 공급되는 주사제어신호에 포함된 주 사 클럭신호(SCLK)를 공급받는다. 이와 같은 신호생성부(222)는 샘플링 펄스들(SAn-1, SAn) 및 주사클럭신호(SCLK)를 이용하여 주사신호(SS)를 생성한다. 신호생성부(222)에서 생성된 주사신호(SS)는 화소부(250)로 입력되어 화소부(250)를 제어한다. 한편, 신호생성부(220)는 주사신호 외에 발광 제어신호를 더 생성하여 화소부(250)로 공급할 수도 있다.

도 5는 도 3에 도시된 쉬프트 레지스터부의 구동방법을 나타내는 파형도이다. 그리고, 도 6은 도 3에 도시된 쉬프트 레지스터부로 지연된 클럭신호가 입력되는 것을 나타내는 파형도이고, 도 7은 도 3에 도시된 쉬프트 레지스터부로 지연된 클럭신호가 입력될 때 쉬프트 레지스터부에서 출력되는 비정상 샘플링 펄스들의 일례를 나타내는 파형도이다.

도 5 내지 도 7을 참조하면, 우선, 제11 배선(271)으로부터 쉬프트 레지스터부(221)로 스타트 펄스(SP)와 제1 및 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLK, SFTCLKB)가 공급된다. 여기서, 스타트 펄스(SP)는 제1 쉬프트 레지스터(SR)로 입력된다. 그러면, 스타트 펄스(SP)와 제1 및 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLK, SFTCLKB)를 공급받은 제1 쉬프트 레지스터(SR1)는 제1 클럭신호(SFTCLK)의 상승에지에서 구동되어 제1 샘플링 펄스(SA1)를 생성한다. 제1 샘플링 펄스(SA1)는 제1 신호생성로직 및 제2 쉬프트 레지스터(SR2)로 입력된다.

제1 샘플링 펄스(SA1)와 제1 및 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLK, SFTCLKB)를 공급받은 제2 쉬프트 레지스터(SR2)는 제2 클럭신호(SFTCLK)의 상승에지에서 구동되 어 제2 샘플링 펄스(SA2)를 생성한다. 제2 샘플링 펄스(SA2)는 제2 신호생성로직 및 제3 쉬프트 레지스터(SR3)로 입력된다.

제2 샘플링 펄스(SA2)와 제1 및 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLK, SFTCLKB)를 공급받은 제3 쉬프트 레지스터(SR3)는 제1 클럭신호(SFTCLK)의 상승에지에서 구동되어 제3 샘플링 펄스(SA3)를 생성한다. 제3 샘플링 펄스(SA3)는 제3 신호생성로직 및 제4 쉬프트 레지스터(SR3)로 입력된다.

쉬프트 레지스터부(221)는 전술한 방법을 반복하면서 순차적으로 제1 내지 제n 샘플링 펄스(SA1 내지 SAn)를 생성한다.

단, 쉬프트 레지스터부(221)로 소정의 기울기로 지연된 제1 및 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLK, SFTCLKB)가 입력되면, 쉬프트 레지스터부(221)는 오작동을 일으키게 된다. 예를 들어, 쉬프트 레지스터부(221)는 도 6의 A에 도시된 바와 같이, 소정 기울기로 지연된 제1 및 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLK, SFTCLKB)를 공급받으면 오작동하여 도 7에 도시된 바와 같은 비정상적인 샘플링 펄스들(SA)들을 출력할 수 있다.

이를 제1 쉬프트 클럭신호(SFTCLK)의 상승에지에서 구동하는 제1 쉬프트 레지스터(SR1)의 경우를 가정하여 좀 더 상세히 설명하면, 제1 쉬프트 레지스터(SR1)는 제1 쉬프트 클럭신호(SFTCLK)가 하이레벨을 유지하는 구간에서 스타트 펄스(SP)와 동일한 레벨의 샘플링 펄스를 생성하고, 제1 쉬프트 클럭신호(SFTCLK)가 하강하기 시작하는 t1 시점에서부터는 스타트 펄스(SP)와 무관하게 샘플링 펄스의 레벨을 일정하게 유지해야한다. 하지만, 도 6의 A에 도시된 바와 같이 지연된 제1 및 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLK, SFTCLKB)를 공급받으면, t1 시점 이후로도 제1 쉬프트 클럭신호(SFTCLK)가 로우레벨로 인식되기 시작하는 t2 시점까지 제1 쉬프트 레지스터(SR1)는 제1 쉬프트 클럭신호(SFTCLK)를 하이레벨로 인식하여 비정상적으로 구동하면서 샘플링 펄스(SA)를 생성한다.

제11 배선(271)으로부터 공급되는 스타트 펄스(SP)의 경우에는 제1 및 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLK, SFTCLKB)와 유사하게 지연되어 공급될 수 있지만, 제1 내지 제n 샘플링 펄스(SA1 내지 SAn)는 제1 또는 제2 배선그룹(260, 270)을 경유하지 않으므로 지연이 거의 발생하지 않는다. 따라서, 샘플링 펄스(SA)는 지연되지 않는 상태에서 제1 및 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLK, SFTCLKB)가 지연되어 입력되기 때문에 쉬프트 레지스터부(221)는 오작동을 일으키면서 비정상적인 샘플링 펄스(SA)를 생성한다. 예를 들어, 제1 쉬프트 클럭신호(SFTCLK)가 로우레벨로 인식되어야하는 t1 시점에서부터 t2 시점까지 제1 쉬프트 클럭신호(SFTCLK)는 하이레벨로 인식되어 자신에게 입력되는 전단의 샘플링 펄스(SA)를 하이레벨로 인식하고, 이에 대응하여 하이레벨의 샘플링 펄스(SA)를 출력할 수 있다.

이로 인하여, 쉬프트 레지스터부(221)에서는 도 7에 도시된 바와 같은 비정상적인 샘플링 펄스들(SA1 내지 SA3)이 출력되고, 이를 입력받은 신호생성부(222) 역시 비정상적인 주사신호(SS)들을 생성한다. 즉, 주사 구동부(220)는 전체적으로 오작동하게 되고, 이에 의해 주사 구동부(220)의 소비전력이 급격히 증가됨은 물론, 오작동하는 주사 구동부(220)가 포함된 유기전계발광 표시장치(210)가 비정상적으로 동작한다. 이와 같이, 모기판(200) 상에서 원장단위의 검사를 수행할 때 발 생되는 신호지연으로 인하여 일부 유기전계발광 표시장치(210)가 오작동하게 되면, 검사의 신뢰성 및 효율성이 저하될 수 있다.

한편, 원장검사시 신호지연으로 인한 유기전계발광 표시장치(210)의 오작동은 주사구동부(220)로 입력되는 제1 및 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLK, SFTCLKB)의 지연이 발생되는 경우 뿐만 아니라, 데이터 분배부(240)로 입력되는 선택신호에 지연이 발생하는 경우에도 발생할 수 있다. 이하에서는, 도 8 및 도 9를 참조하여 이를 더 상세히 설명하기로 한다. 편의상, 선택신호는 적색, 녹색 및 청색 클럭신호인 경우를 가정하기로 한다.

도 8 및 도 9를 참조하면, 데이터 분배부(240)는 제12 배선(272)을 통해 순차적으로 공급되는 적색, 녹색 및 청색 클럭신호(CLR, CLG, CLB)에 대응하여 검사부(230)로부터 공급되는 적색, 녹색 및 청색 검사신호(혹은, 데이터신호)(R, G, B)를 순차적으로 화소부(250)로 공급한다. 그러면, 화소부(250)는 로우레벨의 주사신호(SS)가 공급되는 동안 자신에게 공급되는 적색, 녹색 또는 청색 검사신호(혹은, 데이터신호)(R, G, B)에 대응하는 영상을 표시한다. 이때, 적색, 녹색 및 청색 클럭신호(CLR, CLG, CLB)는 서로 오버랩되지 않도록 공급되어 화소부(250)가 적색, 녹색 및 청색 검사신호(혹은, 데이터신호)(R, G, B) 중 어느 하나의 신호를 공급받아 이에 대응하는 영상을 표시하도록 해야한다.

하지만, 모기판(200) 상에서 원장단위로 검사를 수행하는 경우, 적색, 녹색 및 청색 클럭신호(CLR, CLG, CLB)는 제12 배선(272)을 경유하면서 도 9에 도시된 바와 같이 지연될 수 있다. 이와 같이 지연이 발생되는 경우, 적색, 녹색 및 청색 클럭신호(CLR, CLG, CLB)가 부분적으로 오버랩될 수 있다. 예를 들어, 적색 및 녹색 클럭신호(CLR, CLG)와, 녹색 및 청색 클럭신호(CLG, CLB)가 각각 오버랩될 수 있다. 이에 의해, 화소부(250)로 입력되는 적색 및 녹색 검사신호(R, G)와, 녹색 및 청색 검사신호(G, B)가 각각 충돌하여 화소부(250)에서 비정상적인 영상이 표시될 수 있다.

전술한 바와 같이, 주사구동부(220)로 입력되는 주사제어신호와, 데이터 분배부(240)로 입력되는 선택신호에 지연이 발생되는 경우, 정상적인 검사가 수행될 수 없다. 따라서, 원장단위의 검사시, 각각의 유기전계발광 표시장치(210)로 입력되는 주사제어신호 및 선택신호의 지연을 개선할 필요가 있다. 이를 위해, 본 발명에서는 제11 배선(271) 및 제12 배선(272)과 각각의 유기전계발광 표시장치(210)들 사이에 접속되는 버퍼를 적용하여 주사제어신호 및 선택신호의 지연을 개선하는 것을 제안하였다. 버퍼의 위치는 다양하게 설정될 수 있으며, 이하에서는 도 10 내지 도 13을 참조하여, 본 발명의 제2 내지 제4 실시예를 구체적으로 설명하기로 한다.

도 10은 본 발명의 제2 실시예에 의한 유기전계발광 표시장치의 모기판을 나타내는 도면이다. 도 10을 상술할 때, 편의상 도 2에 도시된 제1 실시예와 동일한 부분에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.

도 10을 참조하면, 제1 및 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLK, SFTCLKB) 등의 주사 제어신호를 공급받는 제11 배선(271)과 주사구동부(220) 사이에는 적어도 하나의 버퍼(BU)가 접속된다. 또한, 적색, 녹색, 및 청색 클럭신호(CLR, CLG, CLB) 등의 선택신호를 공급받는 제12 배선(272)과 데이터 분배부(240) 사이에도 적어도 하나의 버퍼(BU)가 접속된다. 여기서, 버퍼들(BU)은 도시되지 않은 데이터 구동부 등을 포함한 집적회로와 주사구동부(220) 및 데이터 분배부(240) 사이에 각각 위치되도록 스크라이빙 라인(280) 안쪽에 위치된다.

이와 같은 버퍼들(BU)은 제11 배선(271) 및 제12 배선(272)을 경유하면서 지연된 주사제어신호 및 선택신호들의 지연을 보상하여 주사구동부(220) 및 데이터 분배부(240)로 공급한다.

즉, 본 발명에서는 모기판(200) 상에 형성된 적어도 하나의 유기전계발광 표시장치(210)에 대한 검사를 수행함에 있어서, 주사제어신호 및 선택신호들의 지연을 보상하기 위하여 제1 배선그룹(260) 또는 제2 배선그룹(270)으로 공급되는 주사제어신호 및 선택신호들이 적어도 하나의 버퍼(BU)를 경유하여 유기전계발광 표시장치(210)로 공급되도록 한다.

이에 의하여, 모기판(200) 상에서 원장단위의 검사를 수행할 때 각각의 유기전계발광 표시장치(210)들로 지연이 보상된 주사제어신호 및 선택신호들이 공급된다. 그러면, 주사제어신호 및 선택신호에 대응하여 화소부(250)에 주사신호 및 검사신호가 공급되고, 이에 대응하여 화소부(250)에서는 소정의 검사를 위한 영상이 표시된다.

전술한 바와 같이 본 발명의 제2 실시예에 의하면, 버퍼들(BU)에 의해 주사 제어신호 및 선택신호들의 지연이 보상됨으로써 각각의 유기전계발광 표시장치(210)들이 오작동하는 것을 방지된다. 또한, 본 실시예에서와 같이 스크라이빙 라인(280) 안쪽에 위치된 버퍼들(BU)은 제11 배선(271) 및 제12 배선(272)의 저항성 혹은 용량성 부하에 영향을 미치지 않는다.

도 11은 본 발명의 제3 실시예에 의한 유기전계발광 표시장치의 모기판을 나타내는 도면이다. 도 11을 상술할 때, 편의상 도 2에 도시된 제1 실시예와 동일한 부분에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.

도 11을 참조하면, 제1 및 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLK, SFTCLKB) 등의 주사제어신호를 공급받는 제11 배선(271)과, 적색, 녹색, 및 청색 클럭신호(CLR, CLG, CLB) 등의 선택신호를 공급받는 제12 배선(272)들의 사이사이에는 적어도 하나의 버퍼(BU)가 접속된다.

이와 같은 버퍼들(BU)은 제11 배선(271) 및 제12 배선(272)을 경유하면서 지연된 주사제어신호 및 선택신호들의 지연을 단계적으로 보상한다. 따라서, 주사구동부(220) 및 데이터 분배부(240)로 공급되는 주사제어신호 및 선택신호들의 지연이 개선되어, 모기판(200) 상에서 원장단위의 검사를 수행할 때 각각의 유기전계발광 표시장치(210)들이 오작동하는 것을 방지한다. 또한, 본 실시예에서와 같이 스크라이빙 라인(280)의 외곽에 버퍼들(BU)을 위치시키면, 각각의 유기전계발광 표시장치(210)들이 스크라이빙된 이후 버퍼들(BU)이 유기전계발광 표시장치(210)들의 동작에 영향을 미치는 것을 방지할 수 있다.

도 12는 본 발명의 제4 실시예에 의한 유기전계발광 표시장치의 모기판을 나타내는 도면이다. 그리고, 도 13은 도 12에 도시된 유기전계발광 표시장치 및 배선그룹들을 나타내는 도면이다. 편의상, 도 12 내지 도 13에서는 도 2에 도시된 제1 실시예와 동일한 부분에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.

도 12 내지 도 13을 참조하면, 제1 및 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLK, SFTCLKB) 등의 주사제어신호를 공급받는 제11 배선(271)과 주사구동부(220) 사이에는 적어도 하나의 버퍼(BU)가 접속된다. 또한, 적색, 녹색, 및 청색 클럭신호(CLR, CLG, CLB) 등의 선택신호를 공급받는 제12 배선(272)과 데이터 분배부(240) 사이에도 적어도 하나의 버퍼(BU)가 접속된다. 여기서, 버퍼들(BU)은 자신과 접속된 주사구동부(220) 및 데이터 분배부(240)를 포함한 유기전계발광 표시장치(210)의 스크라이빙 라인(280) 바깥 쪽에 위치된다. 즉, 버퍼들(BU)은 스크라이빙 이후 주사구동부(220) 및 데이터 분배부(240)와 격리되도록 위치된다.

이와 같은 버퍼들(BU)은 제11 배선(271) 및 제12 배선(272)을 경유하면서 지연된 주사제어신호 및 선택신호들의 지연을 보상하여 주사구동부(220) 및 데이터 분배부(240)로 공급함으로써, 모기판(200) 상에서 원장단위의 검사를 수행할 때 각각의 유기전계발광 표시장치(210)들이 오작동하는 것을 방지한다. 또한, 본 실시예에서와 같이 스크라이빙 라인(280) 바깥 쪽에 위치된 버퍼들(BU)은 각각의 유기전계발광 표시장치(210)들이 스크라이빙된 이후 버퍼들(BU)이 유기전계발광 표시장치(210)들의 동작에 영향을 미치지 않는다. 또한, 버퍼들(BU)의 동작 불량이 발생 하여도 자신과 접속된 유기전계발광 표시장치(210)를 제외한 인접 유기전계발광 표시장치(210)의 동작에 영향을 미치지 않는다.

한편, 도 12에서는 제11 배선(271) 및 제12 배선(272)을 각각 하나로 도시하였지만, 실제로는 주사제어신호 및 선택신호의 수에 따라 제11 배선(271) 및 제12 배선(272)의 수는 다양하게 설정될 수 있다. 예를 들어, 제11 배선(271)으로 공급되는 주사제어신호에 제1 및 제2 쉬프트 클럭신호(SFTCLK, SFTCLKB), 주사 클럭신호(SCLK) 및 스타트 펄스(SP)가 포함되는 경우, 제11 배선(271)은 도 13에 도시된 바와 같이 네 개의 배선으로 설정될 수 있다. 이때, 각각의 제11 배선들(271)과 주사구동부(220) 사이에는 적어도 하나의 버퍼(BU)가 접속되어 원장단위 검사시 발생할 수 있는 주사제어신호의 지연을 보상한다.

또한, 제12 배선(272)으로 공급되는 선택신호에 적색, 녹색 및 청색 클럭신호(CLR, CLG, CLB)가 포함되는 경우, 제12 배선(272)은 세 개의 배선으로 설정되고, 각각의 제12 배선들(272)과 데이터 분배부(240) 사이에는 적어도 하나의 버퍼(BU)가 접속되어 선택신호들의 지연을 보상한다.

본 발명의 기술 사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 변형예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.

상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 의한 원장단위 검사가 가능한 유기전계발광 표시장치 및 모기판과 그 검사방법에 따르면, 제1 및 제2 배선그룹을 구비함으로써, 모기판 상에 형성된 다수의 유기전계발광 표시장치들에 대한 원장단위의 검사를 수행할 수 있게 된다. 이에 의하여, 검사시간을 줄이고, 비용을 감축하는 등 검사의 효율성을 높일 수 있다.

또한, 원장단위의 검사시, 버퍼를 적용하여 배선을 경유하며 지연된 신호들을 보상함으로써, 유기전계발광 표시장치가 오작동하는 것을 방지할 수 있다. 이로 인하여, 검사의 신뢰성 및 효율성을 높일 수 있다.

Claims

다수의 유기전계발광 표시장치들을 포함하는 모기판에 있어서,

동일한 열에 위치된 상기 유기전계발광 표시장치들에 제1 방향으로 형성된 제1 배선그룹;

동일한 행에 위치된 상기 유기전계발광 표시장치들에 제2 방향으로 형성된 제2 배선그룹;

상기 유기전계발광 표시장치들 각각에 형성되며, 상기 제1 또는 제2 배선그룹에 포함된 소정의 배선으로부터 전원 및 신호를 공급받아 주사신호를 생성하는 주사 구동부; 및

상기 제1 또는 제2 배선그룹에 포함된 소정의 배선과 상기 주사 구동부 사이에 접속된 적어도 하나의 버퍼를 포함하는 유기전계발광 표시장치의 모기판.
제1 항에 있어서,

상기 주사 구동부는 상기 제1 또는 제2 배선그룹에 포함된 소정의 배선으로부터 상기 버퍼를 경유하여 적어도 하나의 주사제어신호를 공급받는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치의 모기판.
제2 항에 있어서,

상기 주사제어신호는 쉬프트 클럭신호, 스타트 펄스 및 주사클럭신호 중 적어도 하나를 포함한 유기전계발광 표시장치의 모기판.
제1 항에 있어서,

상기 버퍼는 상기 모기판이 스크라이빙될 때 자신과 접속된 상기 주사 구동부와 전기적으로 격리되도록 상기 유기전계발광 표시장치의 스크라이빙 라인 외곽에 위치되는 유기전계발광 표시장치의 모기판.
제1 항에 있어서,

상기 유기전계발광 표시장치들 각각에 형성되며, 상기 제1 또는 제2 배선그룹에 포함된 소정의 배선으로부터 적어도 두 개의 선택신호를 공급받는 데이터 분배부;

상기 선택신호를 공급하는 소정의 배선과 상기 데이터 분배부 사이에 접속된 적어도 하나의 버퍼; 및

상기 제1 또는 제2 배선그룹으로부터 공급되는 검사제어신호에 대응하여 상기 제1 또는 제2 배선그룹으로부터 공급되는 검사신호를 상기 데이터 분배부로 공급하는 검사부를 더 포함하는 유기전계발광 표시장치의 모기판.
제5 항에 있어서,

상기 데이터 분배부는 상기 제1 또는 제2 배선그룹에 포함된 소정의 배선으로부터 상기 버퍼를 경유하여 적어도 두 개의 선택신호를 공급받는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치의 모기판.
제6 항에 있어서,

상기 선택신호는 적색 클럭신호, 녹색 클럭신호 및 청색 클럭신호 중 적어도 하나를 포함한 유기전계발광 표시장치의 모기판.
유기발광 다이오드를 구비한 다수의 화소가 포함된 화소부;

상기 화소부로 주사신호를 공급하기 위한 주사 구동부;

외곽영역에 위치되며, 제1 방향으로 형성된 제1 배선그룹 및 제2 방향으로 형성된 제2 배선그룹; 및

상기 제1 또는 제2 배선그룹과 접속된 적어도 하나의 버퍼를 포함한 유기전계발광 표시장치.
제8 항에 있어서,

상기 화소부에 형성된 데이터선들과 접속되는 다수의 트랜지스터를 포함하는 트랜지스터 그룹; 및

상기 트랜지스터 그룹과 상기 화소부 사이에 접속된 데이터 분배부를 더 포함한 유기전계발광 표시장치.
제9 항에 있어서,

상기 트랜지스터 그룹에 구비된 트랜지스터들은 외부로부터 공급되는 제어신호에 대응하여 턴-오프 상태를 유지하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광 표시장치.
다수의 유기전계발광 표시장치들이 형성된 모기판 상에서 적어도 하나의 상기 유기전계발광 표시장치에 대한 이상 유무를 검사하는 유기전계발광 표시장치의 검사방법에 있어서,

제1 방향으로 형성된 제1 배선그룹 또는 제2 방향으로 형성된 제2 배선그룹으로부터 적어도 하나의 버퍼를 경유하여 상기 적어도 하나의 유기전계발광 표시장치로 주사제어신호를 공급하는 단계;

상기 주사제어신호에 대응하여 주사신호를 생성하는 단계;

상기 제1 또는 제2 배선그룹으로부터 적어도 하나의 버퍼를 경유하여 선택신호를 공급하는 단계;

상기 선택신호에 대응하여 상기 유기전계발광 표시장치에 형성된 화소부로 검사신호를 공급하는 단계; 및

상기 주사신호 및 검사신호에 대응하여 소정의 검사를 위한 영상을 표시하는 단계를 포함하는 유기전계발광 표시장치의 원장단위 검사방법.
제11 항에 있어서,

상기 주사제어신호는 쉬프트 클럭신호, 스타트 펄스 및 주사클럭신호 중 적어도 하나를 포함하는 유기전계발광 표시장치의 원장단위 검사방법.
제11 항에 있어서,

상기 선택신호는 적색 클럭신호, 녹색 클럭신호 및 청색 클럭신호 중 적어도 하나를 포함하는 유기전계발광 표시장치의 원장단위 검사방법.
제11 항에 있어서,

상기 검사신호는 점등 검사신호 또는 누설전류 검사신호인 유기전계발광 표시장치의 원장단위 검사방법.