KR20200042989A - 스캔 구동 장치 및 이를 포함하는 표시 장치 - Google Patents

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Abstract

표시 장치는 스캔 라인들, 데이터 라인들, 스캔 라인들 및 데이터 라인들에 연결되는 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널, 온-전압 및 오프-전압을 생성하는 전압 생성부, 온-전압, 오프-전압 및 수직 개시 신호에 기초하여 스캔 개시 신호를 생성하는 스캔 제어부 및 스캔 개시 신호에 기초하여 스캔 신호를 생성하고, 스캔 신호를 스캔 라인들로 공급하는 스캔 구동부를 포함한다. 스캔 제어부는 과전류 검출 구간 동안 스캔 개시 신호의 전압 레벨을 검출하고, 스캔 개시 신호의 전압 레벨에 기초하여 셧다운 신호를 출력한다.

Description

스캔 구동 장치 및 이를 포함하는 표시 장치 {SCAN DRIVING DEVICE AND DISPLAY DEVICE HAVING THE SAME}
본 발명은 스캔 구동 장치 및 표시 장치에 관한 것이다.
최근, 음극선관(Cathode Ray Tube)의 단점인 무게와 부피를 줄일 수 있는 각종 평판 디스플레이 장치들이 개발되고 있다. 평판 디스플레이 장치로는 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display; LCD), 전계 방출 표시 장치(Field Emission Display; FED), 플라즈마 표시 패널(Plasma Display Panel; PDP) 및 유기 발광 표시 장치(Organic Light Emitting Display; OLED) 등이 있다.
표시 장치는 영상을 표시하는 표시 패널 및 이를 구동하기 위한 구동부를 포함한다. 예를 들어, 유기 발광 표시 장치는 스캔 라인들 및 상기 스캔 라인들과 교차하는 데이터 라인들에 의해 복수의 화소들이 형성된 유기 발광 표시 패널, 상기 스캔 라인들에 스캔 신호를 출력하는 스캔 구동 회로 및 데이터 라인들에 데이터 신호를 출력하는 데이터 구동 회로를 포함한다.
최근, 표시 장치가 소형화, 고해상도화 되면서 구동 신호를 공급하는 라인들 간의 쇼트(short)로 인해 화면 이상 등의 불량이 발생하는 문제점이 있다.
본 발명의 일 목적은 표시 품질을 향상시키는 스캔 구동 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 표시 품질을 향상시키는 표시 장치를 제공하는 것이다.
그러나, 본 발명이 목적은 상술한 목적으로 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 하이 서브 픽셀 및 로우 서브 픽셀을 포함하는 복수의 제1서브 픽셀들을 포함하는 표시 패널, 상기 제1 서브 픽셀의 위치에 따라 상기 하이 서브 픽셀 및 상기 로우 서브 픽셀에 적용되는 하이 감마 곡선 및 로우 감마 곡선의 분할 비율을 변경하고, 상기 하이 감마 곡선에 상응하는 하이 감마 데이터 및 상기 로우 감마 곡선에 상응하는 로우 감마 데이터를 생성하는 감마 생성부 및 상기 하이 감마 데이터 및 상기 로우 감마 데이터를 하이 데이터 전압 및 로우 데이터 전압으로 변환하는 데이터 구동부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 하이 서브 픽셀 및 상기 로우 서브 픽셀은 제1 방향 및 상기 제1 방향과 수직하는 제2 방향으로 교번하여 형성될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 감마 생성부는 상기 표시 패널을 복수의 영역들로 분할하고, 상기 영역들 각각에 형성된 상기 하이 서브 픽셀 및 상기 로우 서브 픽셀에 상기 분할 비율이 상이한 상기 하이 감마 곡선 및 상기 로우 감마 곡선을 적용할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 감마 생성부는 상기 표시 패널의 중앙부에 형성되는 상기 하이 서브 픽셀 및 상기 로우 서브 픽셀에 적용되는 상기 하이 감마 곡선 및 상기 로우 감마 곡선의 상기 분할 비율은 상기 표시 패널의 외곽부에 형성되는 상기 하이 서브 픽셀 및 상기 로우 서브 픽셀에 적용되는 상기 하이 감마 곡선 및 상기 로우 감마 곡선의 상기 분할 비율보다 낮게 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 감마 생성부는 상기 제1 서브 픽셀의 위치에 따라 상기 하이 감마 곡선 및 상기 로우 감마 곡선의 상기 분할 비율을 점진적으로 변경시킬 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널은 하이 영역 및 로우 영역을 포함하는 제2 서브 픽셀을 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 서브 픽셀은 상기 표시 패널의 제1 영역에 형성되고, 상기 제2 서브 픽셀은 상기 표시 패널의 제2 영역에 형성될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 서브 픽셀은 상기 표시 패널의 중앙부에 형성되고, 상기 제2 서브 픽셀은 상기 표시 패널의 외곽부에 형성될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 감마 생성부는 상기 분할 비율이 0인 상기 하이 감마 곡선 및 상기 로우 감마 곡선에 기초하여 상기 하이 감마 데이터 및 상기 로우 감마 데이터를 생성하고, 상기 데이터 구동부는 상기 하이 감마 데이터 및 상기 로우 감마 데이터에 기초하여 동일한 전압 레벨을 갖는 상기 하이 데이터 전압 및 상기 로우 데이터 전압을 생성하며, 상기 하이 데이터 전압 및 상기 로우 데이터 전압 중 하나를 상기 제2 서브 픽셀에 제공할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 감마 생성부는 상기 제1 서브 픽셀의 위치에 상응하는 상기 분할 비율을 저장하는 분할 비율 룩업 테이블 및 상기 분할 비율에 상응하는 상기 하이 감마 곡선 및 상기 로우 감마 곡선을 저장하는 감마 곡선 룩업 테이블을 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 감마 생성부는 상기 하이 감마 곡선에 기초한 계조별 하이 감마 데이터를 저장하는 하이 감마 룩업 테이블 및 상기 로우 감마 곡선에 기초한 계조별 로우 감마 데이터를 저장하는 로우 감마 룩업 테이블을 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 감마 생성부는 HSV 색공간에서 영상 데이터를 변환하고, 기 설정된 분석 조건에 따라 검출되는 HSV 데이터를 포함하는 영역의 상기 분할 비율을 제어하는 색상 분할 제어 신호를 출력하는 색상 검출부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 감마 생성부는 상기 색상 분할 제어 신호에 기초하여 상기 하이 감마 곡선 및 상기 로우 감마 곡선의 상기 분할 비율을 조절할 수 있다.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 하이 서브 픽셀 및 로우 서브 픽셀을 포함하는 서브 픽셀을 포함하는 표시 패널, 매 프레임마다 영상 데이터를 수신하고, 상기 영상 데이터의 휘도량에 기초하여 상기 하이 서브 픽셀 및 상기 로우 서브 픽셀에 적용되는 하이 감마 곡선 및 로우 감마 곡선의 분할 비율을 변경하고, 상기 하이 감마 곡선에 상응하는 하이 감마 데이터 및 상기 로우 감마 곡선에 상응하는 로우 감마 데이터를 생성하는 감마 생성부 및 상기 하이 감마 데이터 및 상기 로우 감마 데이터를 하이 데이터 전압 및 로우 데이터 전압으로 변환하는 데이터 구동부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 감마 생성부는 상기 영상 데이터의 휘도량이 증가수록 상기 하이 감마 곡선 및 상기 로우 감마 곡선의 상기 분할 비율을 증가시킬 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 감마 생성부는 상기 영상 데이터의 색상에 따라 가중치를 부여할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 감마 생성부는 히스토그램(histogram) 분석을 통해 상기 영상 데이터의 상기 휘도량을 분석할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 감마 생성부는 상기 영상 데이터의 휘도량을 검출하는 휘도량 검출부, 상기 영상 데이터의 상기 휘도량에 상응하는 상기 분할 비율을 저장하는 분할 비율 룩업 테이블 및 상기 분할 비율에 상응하는 상기 하이 감마 곡선 및 상기 로우 감마 곡선을 저장하는 감마 곡선 룩업 테이블을 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 감마 생성부는 상기 하이 감마 곡선에 기초한 계조별 하이 감마 데이터를 저장하는 하이 감마 룩업 테이블 및 상기 로우 감마 곡선에 기초한 계조별 로우 감마 데이터를 저장하는 로우 감마 룩업 테이블을 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, HSV 색공간에서 상기 영상 데이터를 변환하고, 기 설정된 분석 조건에 따라 검출되는 HSV 데이터를 포함하는 영역의 상기 분할 비율을 제어하는 색상 분할 제어 신호를 출력하는 색상 검출부를 더 포함하고, 상기 감마 생성부는 상기 색상 분할 제어 신호에 기초하여 상기 하이 감마 곡선 및 상기 로우 감마 곡선의 상기 분할 비율을 조절할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 과전류 검출 구간 도안 스캔 개시 신호의 전압 레벨을 검출하고, 스캔 개시 신호의 전압 레벨에 기초하여 셧다운 신호를 출력함으로써, 배선 간 쇼트(short)로 인해 발생하는 불량을 개선할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함되는 스캔 제어부의 동작의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 도 1의 표시 장치에 포함되는 스캔 제어부의 동작의 다른 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 도 1의 표시 장치에 포함되는 스캔 구동부를 나타내는 블록도이다.
도 5는 도 1의 표시 장치에 포함되는 스캔 제어부의 일 예를 나타내는 회로도이다.
도 6a 및 도 6b는 도 5의 스캔 제어부의 동작을 설명하기 위한 회로도들이다.
도 7a 및 도 7b는 도 1의 표시 장치에 포함되는 스캔 제어부의 동작을 설명하기 위한 타이밍도들이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다. 도 2는 도 1의 표시 장치에 포함되는 스캔 제어부의 동작의 일 예를 설명하기 위한 도면이다. 도 3은 도 1의 표시 장치에 포함되는 스캔 제어부의 동작의 다른 예를 설명하기 위한 도면이다. 도 4는 도 1의 표시 장치에 포함되는 스캔 구동부를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치(100)는 표시 패널(110), 스캔 구동 장치(200), 데이터 구동부(160) 및 타이밍 제어부(130)를 포함할 수 있다. 상기 스캔 구동 장치(170)는 전압 생성부(120), 스캔 제어부(140) 및 스캔 구동부(150)를 포함할 수 있다.
표시 패널(110)은 데이터 라인(DL)들, 스캔 라인(SL)들 및 복수의 화소(PX)들을 포함할 수 있다. 스캔 라인(SL)들은 제1 방향(D1)으로 연장하고, 제1 방향(D1)에 수직한 제2 방향(D2)으로 배열될 수 있다. 데이터 라인(DL)들은 제2 방향(D2)으로 연장하고, 제1 방향(D1)으로 배열될 수 있다. 제1 방향(D1)은 표시 패널(110)의 장변과 평행할 수 있고, 제2 방향(D2)은 표시 패널(110)의 단변과 평행할 수 있다. 각각의 화소(PX)들은 데이터 라인(DL)들과 스캔 라인(SL)들이 교차되는 영역에 형성될 수 있다. 일 실시예에서, 각각의 화소(PX)들은 스캔 라인(SL) 및 데이터 라인(DL)에 전기적으로 연결된 박막 트랜지스터, 박막 트랜지스터에 연결된 저장 캐패시터, 상기 저장 캐패시터에 연결된 구동 트랜지스터 및 구동 트랜지스터에 연결된 유기 발광 다이오드를 포함할 수 있다. 따라서, 상기 표시 패널(110)은 유기 발광 표시 패널(110)일 수 있고, 상기 표시 장치(100)는 유기 발광 표시 장치(100)일 수 있다. 다른 실시예에서, 각각의 화소(PX)들은 스캔 라인(SL) 및 데이터 라인(DL)에 전기적으로 연결된 박막 트랜지스터, 박막 트랜지스터에 연결된 액정 캐패시터 및 저장 캐패시터를 포함할 수 있다. 따라서, 상기 표시 패널(110)은 액정 표시 패널(110)일 수 있고, 상기 표시 장치(100)는 액정 표시 장치(100)일 수 있다.
전압 생성부(120)는 외부로부터 직류 전원(VDD)을 공급받아 표시 패널(110)을 동작시키는데 필요한 복수 개의 전압들을 생성할 수 있다. 전압 생성부(120)는 스캔 제어부(140)에 공급되는 온-전압(Von) 및 오프-전압(Voff), 및 데이터 구동부(160)에 공급되는 데이터 구동 전압(DVD)을 생성할 수 있다. 전압 생성부(120)는 온-전압(Von) 및 오프-전압(Voff)을 생성하여 스캔 구동부(150)에 공급할 수 있다. 온-전압(Von) 및 오프-전압(Voff)은 스캔 라인(SL)에 인가되는 스캔 신호(SS)를 생성하기 위한 구동 전압일 수 있다. 전압 생성부(120)는 데이터 구동 전압(DVD)을 생성하여 데이터 구동부(160)에 공급할 수 있다. 예를 들어, 전압 생성부(120)는 아날로그 전원 전압, 디지털 전원 전압 등을 생성하여 데이터 구동부(160)에 공급할 수 있다. 아날로그 전원 전압 및 디지털 전원 전압은 데이터 라인(DL)에 인가되는 데이터 신호(DS)를 생성하기 위한 구동 전압일 수 있다. 또한, 전압 생성부(120)는 표시 패널(110)에 공급되는 패널 구동 전압을 더 생성할 수 있다. 예를 들어, 상기 표시 패널(110)이 액정 표시 패널(110)인 경우, 전압 생성부(120)는 공통 전압, 스토리지 전압 등을 포함하는 패널 구동 전압을 생성할 수 있다. 공통 전압은 화소(PX)에 포함되는 액정 캐패시터에 인가되는 구동 전압이고, 스토리지 전압은 화소(PX)에 포함되는 저장 캐패시터에 인가되는 구동 전압일 수 있다.
타이밍 제어부(130)는 외부 장치로부터 제1 영상 데이터(IMG1) 및 제어 신호(CON)를 수신할 수 있다. 타이밍 제어부(130)는 외부 장치에서 공급되는 제1 영상 데이터(IMG1)를 제2 영상 데이터(IMG2)로 변환할 수 있다. 타이밍 제어부(130)는 제1 영상 데이터(IMG1)의 화질을 보정하는 알고리즘을 적용하여 제1 영상 데이터(IMG1)를 제2 영상 데이터(IMG2)로 변환하고, 제2 영상 데이터(IMG2)를 데이터 구동부(160)에 공급할 수 있다. 타이밍 제어부(130)는 제어 신호에 기초하여 제2 영상 데이터(IMG2)의 구동 타이밍을 제어하는 스캔 제어 신호 및 데이터 제어 신호(CTLD)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 스캔 제어 신호는 수직 개시 신호(STV) 및 적어도 하나 이상의 클럭 제어 신호(CPV)를 포함하고, 데이터 제어 신호(CTLD)는 수평 개시 신호 및 데이터 클럭 신호를 포함할 수 있다. 타이밍 제어부(130)는 수직 개시 신호(STV) 및 클럭 제어 신호(CPV)를 스캔 제어부(140)에 공급하고, 데이터 제어 신호(CTLD)를 데이터 구동부(160)에 공급할 수 있다.
스캔 제어부(140)는 온-전압(Von), 오프-전압(Voff) 및 수직 개시 신호(STV)에 기초하여 스캔 개시 신호(STVP)를 생성할 수 있다. 스캔 제어부(140)는 전압 생성부(120)로부터 온-전압(Von) 및 오프-전압(Voff)을 수신하고, 타이밍 제어부(130)로부터 수직 개시 신호(STV)를 수신할 수 있다. 스캔 제어부(140)는 타이밍 제어부(130)에서 제공된 수직 개시 신호(STV)에 응답하여 온-전압(Von) 및 오프-전압(Voff)을 이용하여 스캔 개시 신호(STVP)를 생성할 수 있다. 도 2를 참조하면, 수직 개시 신호(STV)는 제1 전압 레벨(LV1)과 제2 전압 레벨(LV2) 사이를 스윙하는 신호일 수 있다. 스캔 제어부(140)는 온-전압(Von) 및 오프-전압(Voff)을 이용하여 수직 개시 신호(STV)를 스캔 개시 신호(STVP)로 변환할 수 있다. 다만, 스캔 제어부(140)에서 스캔 개시 신호(STVP)를 출력하는 배선과 오프-전압(Voff)을 공급하는 배선들이 쇼트(short)되는 경우, 스캔 개시 신호(STVP)의 전압 레벨이 감소하는 문제점이 있다. 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치(100)는 과전류 검출 구간 동안 스캔 개시 신호(STVP)의 전압 레벨을 검출하고, 스캔 개시 신호(STVP)의 전압 레벨에 기초하여 셧다운 신호를 출력함으로써, 배선 간 쇼트로 인해 발생하는 화면 이상 등의 불량을 개선할 수 있다.
스캔 제어부(140)는 온-트랜지스터, 오프-트랜지스터, 검출 트랜지스터, 스위치 회로, 비교기 및 보호 회로를 포함할 수 있다. 표시 장치(100)의 정상 구동 시 수직 개시 신호(STV)에 응답하여 온-트랜지스터 및 오프-트랜지스터가 교번하여 턴온될 수 있다. 일 실시예에서, 온-트랜지스터는 P형 (P-channel Metal Oxide Semiconductor; PMOS) 트랜지스터이고, 오프-트랜지스터는 N형(N-channel Metal Oxide Semiconductor; NMOS) 트랜지스터일 수 있다. 다른 실시예에서, 온-트랜지스터는 N형 트랜지스터이고, 오프 트랜지스터는 P형 트랜지스터일 수 있다. 스캔 제어부(140)는 온-트랜지스터가 턴온되는 동안 온-전압(Von)의 전압 레벨을 갖는 스캔 개시 신호(STVP)를 생성하고, 오프-트랜지스터가 턴온되는 동안 오프-전압(Voff)의 전압 레벨을 갖는 스캔 개시 신호(STVP)를 생성할 수 있다. 표시 장치(100)의 정상 구동 동안 온-트랜지스터 및 오프-트랜지스터가 교번하여 턴온될 수 있다. 표시 장치(100)의 과전류 검출 구간 동안 검출 트랜지스터 및 오프-트랜지스터가 교번하여 턴온될 수 있다. 검출 트랜지스터는 온-트랜지스터와 동일한 타입의 트랜지스터일 수 있다. 검출 트랜지스터의 드레인-소스 저항은 온-트랜지스터의 드레인-소스 저항보다 클 수 있다. 과전류 검출 구간에서 스캔 개시 신호(STVP)를 출력하는 배선과 오프-전압(Voff)을 공급하는 배선 간의 쇼트가 발생하는 경우, 상기 쇼트로 인한 쇼트 저항이 발생할 수 있다. 온-전압(Von)은 검출 트랜지스터와 쇼트 저항에 의해 분압되어 온-전압(Von)의 전압 레벨보다 낮은 전압 레벨로 출력될 수 있다. 일 실시예에서, 과전류 검출 구간은 표시 장치(100)가 턴온되는 파워-온(power-on) 구간일 수 있다. 다른 실시예에서, 과전류 검출 구간은 하나의 프레임 내의 수직 블랭크(blank) 구간일 수 있다. 스캔 개시 신호(STVP)를 공급하는 배선과 오프-전압(Voff)을 공급하는 배선 간의 쇼트가 발생하지 않는 경우, 스캔 제어부(140)는 과전류 검출 구간에서 온-전압(Von)의 전압 레벨(LVon) 및 오프-전압(Voff)의 전압 레벨(LVoff)을 갖는 스캔 개시 신호(STVP)를 생성할 수 있다. 스캔 개시 신호(STVP)를 공급하는 배선과 오프-전압(Voff)을 공급하는 배선 간의 쇼트가 발생하는 경우, 스캔 제어부(140)는 과전류 검출 구간에서 온-전압(Von)의 전압 레벨(LVon)보다 낮은 전압 레벨 및 오프-전압(Voff)의 전압 레벨(LVoff)을 갖는 스캔 개시 신호(STVP)를 생성할 수 있다. 비교기는 과전류 검출 구간에서 스캔 개시 신호(STVP)를 수신하고, 기 설정된 전압 레벨을 갖는 기준 전압과 스캔 개시 신호(STVP)의 전압 레벨을 비교하여 비교 신호를 출력할 수 있다. 일 실시예에서, 스캔 제어부(140)는 비교기의 입력 단자 중 하나에 입력되는 기준 전압의 전압 레벨을 제어하는 기준 전압 제어부를 더 포함할 수 있다. 보호 회로는 비교기에서 출력되는 수직 개시 신호(STV)의 하강 시점(즉, 스캔 개시 신호(STVP)의 하강 시점)에서 비교 신호를 검출할 수 있다. 보호 회로는 스캔 개시 신호(STVP)의 전압 레벨이 기준 전압의 전압 레벨보다 낮은 경우, 셧다운(shut down) 신호를 출력할 수 있다. 예를 들어, 보호 회로는 셧다운 신호를 스캔 제어부(140) 또는 전압 생성부(120)로 공급할 수 있다.
또한, 스캔 제어부(140)는 온-전압(Von), 오프-전압(Voff) 및 클럭 제어 신호(CPV)에 기초하여 클럭 신호(CKV) 및 클럭바 신호(CKVB)를 생성할 수 있다. 스캔 제어부(140)는 전압 생성부(120)로부터 온-전압(Von) 및 오프-전압(Voff)을 수신하고, 타이밍 제어부(130)로부터 클럭 제어 신호(CPV)를 수신할 수 있다. 도 3을 참조하면, 클럭 제어 신호(CPV)는 제1 전압 레벨(LV1)과 제2 전압 레벨(LV2) 사이를 스윙하는 신호일 수 있다. 스캔 제어부(140)는 온-전압(Von) 및 오프-전압(Voff)을 이용하여 클럭 제어 신호(CPV)를 클럭 신호(CKV) 및 클럭바 신호(CKVB)로 생성할 수 있다. 클럭 신호(CKV) 및 클럭바 신호(CKVB)는 반대의 위상을 가질 수 있다.
스캔 구동부(150)는 스캔 개시 신호(STVP)에 기초하여 스캔 신호(SS)를 생성하고, 상기 스캔 신호(SS)를 스캔 라인(SL)들로 공급할 수 있다. 도 4를 참조하면, 스캔 구동부(150)는 복수의 스테이지들(151, 142, 153, 154)을 포함할 수 있다. 각각의 스테이지(151, 142, 153, 154)는 스캔 제어부(140)로부터 스캔 개시 신호(STVP), 클럭 신호(CKV) 및 클럭바 신호(CKVB)를 공급받을 수 있다. 각각의 스테이지들(151, 142, 153, 154)은 표시 패널(110)에 형성된 스캔 라인(SL)들의 일단부와 연결될 수 있다. 제1 스테이지(151)는 스캔 개시 신호(STVP) 및 클럭 신호(CKV)에 응답하여 제1 스캔 라인(SL)에 공급되는 제1 스캔 신호(SS1)를 생성할 수 있다. 제2 스테이지(152)는 제1 스테이지(151)에서 공급되는 제1 캐리 신호(CR1) 및 클럭바 신호(CKVB)에 응답하여 제2 스캔 라인(SL)에 공급되는 제2 스캔 신호(SS2)를 생성할 수 있다. 제3 스테이지(153)는 제2 스테이지(152)에서 공급되는 제2 캐리 신호(CR2) 및 클럭 신호(CKV)에 응답하여 제3 스캔 라인(SL)에 공급되는 제3 스캔 신호(SS3)를 생성할 수 있다. 제n 스테이지(154)는 제(n-1) 스테이지에서 공급되는 (n-1) 캐리 신호 및 클럭바 신호(CKVB)에 응답하여 제n 스캔 라인(SL)에 공급되는 제n 스캔 신호(SSn)를 생성할 수 있다. 스캔 구동부(150)의 스테이지들은 이와 같은 방법으로 스캔 라인(SL)들에 순차적으로 스캔 신호(SS)들을 공급할 수 있다.
데이터 구동부(160)는 데이터 라인(DL)을 통해 데이터 신호(DS)를 화소(PX)들에 공급할 수 있다. 데이터 구동부(160)는 타이밍 제어부(130)에서 공급되는 데이터 제어 신호(CTLD) 및 제2 영상 데이터(IMG2)에 기초하여 데이터 신호(DS)들을 생성할 수 있다. 데이터 제어 신호(CTLD)는 수평 개시 신호 및 데이터 클럭 신호를 포함할 수 있다. 데이터 구동부(160)는 타이밍 제어부(130)로부터 공급되는 수평 개시 신호 및 데이터 클럭 신호에 응답하여 제2 영상 데이터(IMG2)에 상응하는 데이터 신호(DS)를 표시 패널(110)의 데이터 라인(DL)들로 출력할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치(100)는 과전류 검출 구간 동안 스캔 개시 신호(STVP)의 전압 레벨을 검출하고, 스캔 개시 신호(STVP)의 전압 레벨에 기초하여 셧다운 신호를 출력함으로써, 스캔 개시 신호(STVP)를 출력하는 배선과 오프-전압(Voff)을 공급하는 배선 간 쇼트로 인해 발생하는 불량을 개선할 수 있다.
도 5는 도1의 표시 장치에 포함되는 스캔 제어부의 일 예를 나타내는 회로도이다.
도 5를 참조하면, 스캔 제어부(200)는 NOT 게이트(205), 온-트랜지스터(210), 오프-트랜지스터(220), 검출 트랜지스터(230), 스위치 회로(240), 비교기(250) 및 보호 회로(260)를 포함할 수 있다. 도 5의 온-트랜지스터(210) 및 검출 트랜지스터(230)는 P형 트랜지스터들이고, 오프-트랜지스터(220)는 N형 트랜지스터일 수 있다. 온-트랜지스터(210) 및 검출 트랜지스터(230)는 P형 트랜지스터들이고, 오프-트랜지스터(220)는 N형 트랜지스터인 경우, 스캔 제어부(200)는 NOT 게이트(205)를 포함하여 수직 개시 신호(STV)를 반전시킬 수 있다. 도 5에는 P형 트랜지스터인 온-트랜지스터(210) 및 검출 트랜지스터(230), 및 N형 트랜지스터인 오프-트랜지스터(220)를 포함하는 스캔 제어부(200)를 도시하였으나, 스캔 제어부(200)는 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 스캔 제어부(200)는 N형 트랜지스터인 온-트랜지스터(210) 및 검출 트랜지스터(230), 및 P형 트랜지스터인 오프-트랜지스터(220)를 포함할 수 있다.
NOT 게이트(205)는 수직 개시 신호(STV)가 인가되는 입력 단자 및 제2 노드(N2)와 연결되는 출력 단자를 포함할 수 있다. NOT 게이트(205)는 입력 단자를 통해 입력되는 수직 개시 신호(STV)를 반전시킬 수 있다. 예를 들어, NOT 게이트(205)는 제1 전압 레벨(예를 들어, 하이 레벨)을 갖는 수직 개시 신호(STV)를 제2 전압 레벨(예를 들어, 로우 레벨)을 갖는 신호로 변경할 수 있다. NOT 게이트(205)는 반전된 수직 개시 신호(STV)를 제2 노드(N2)에 공급할 수 있다.
스위치 회로(240)는 온-전압(Von)이 인가되는 온-전압 공급 배선(Von_L)과 온-트랜지스터(210) 또는 검출 트랜지스터(230)를 선택적으로 연결할 수 있다. 스위치 회로(240)는 표시 장치의 구동 구간 동안 온-전압 공급 배선(Von_L)과 온-트랜지스터(210)를 연결하고, 과전류 검출 구간 동안 온-전압 공급 배선(Von_L)과 검출 트랜지스터(230)를 연결할 수 있다. 즉, 표시 장치의 구동 구간 동안 스위치 회로(240)를 통해 온-트랜지스터(210)에 온-전압(Von)이 공급되고, 과전류 검출 구간 동안 스위치 회로(240)를 통해 검출 트랜지스터(230)에 온-전압(Von)이 공급될 수 있다.
온-트랜지스터(210)는 수직 개시 신호(STV)가 인가되는 게이트 전극, 스위치 회로(240)에 연결되는 제1 전극 및 제1 노드(N1)에 연결되는 제2 전극을 포함할 수 있다. 온-트랜지스터(210)의 게이트 전극(즉, 제2 노드(N2))에는 NOT 게이트(205)를 통해 반전된 수직 개시 신호(STV)가 공급될 수 있다. 온-트랜지스터(210)의 제1 전극은 스위치 회로(240)를 통해 온-전압 공급 배선(Von_L)과 연결될 수 있다. 표시 장치의 정상 구동 구간 동안 온-트랜지스터(210)의 제1 전극이 스위치 회로(240)를 통해 온-전압 공급 배선(Von_L)과 연결되어 온-전압(Von)을 수신할 수 있다.
오프-트랜지스터(220)는 수직 개시 신호(STV)가 인가되는 게이트 전극, 오프-전압(Voff)이 인가되는 제1 전극 및 제1 노드(N1)에 연결되는 제2 전극을 포함할 수 있다. 오프-트랜지스터(220)의 게이트 전극(즉, 제2 노드(N2))에는 NOT 게이트(205)를 통해 반전된 수직 개시 신호(STV)가 공급될 수 있다. 오프-트랜지스터(220)가 턴온되는 경우, 제1 전극의 오프-전압이 제1 노드(N1)로 공급될 수 있다.
검출 트랜지스터(230)는 수직 개시 신호(STV)가 인가되는 게이트 전극, 스위치 회로(240)에 연결되는 제1 전극 및 제1 노드(N1)에 연결되는 제2 전극을 포함할 수 있다. 검출 트랜지스터(230)의 게이트 전극(즉, 제2 노드(N2))에는 NOT 게이트(205)를 통해 반전된 수직 개시 신호(STV)가 공급될 수 있다. 검출 트랜지스터(230)의 제1 전극은 스위치 회로(240)를 통해 온-전압 공급 배선(Von_L)과 연결될 수 있다. 과전류 검출 구간 동안 검출 트랜지스터(230)의 제1 전극이 스위치 회로(240)를 통해 온-전압 공급 배선(Von_L)과 연결되어 온-전압(Von)을 수신할 수 있다. 검출 트랜지스터(230)의 드레인(drain)-소스(source) 저항은 온-트랜지스터(210)의 드레인-소스 저항보다 클 수 있다. 검출 트랜지스터(230)의 드레인-소스 저항이 크므로, 과전류 검출 시 분압 저항으로 동작할 수 있다.
비교기(250)는 제1 노드(N1)의 전압이 입력되는 제1 입력 단자(IN1), 기 설정된 기준 전압(Vref)이 입력되는 제2 입력 단자(IN2) 및 제1 노드(N1)의 전압과 기준 전압(Vref)을 비교하여 비교 신호를 출력하는 출력 단자(OUT)를 포함할 수 있다. 이 때, 제1 노드(N1)의 전압은 스캔 개시 신호(STVP)일 수 있다. 비교기(250)는 제1 입력 단자(IN1)에 입력되는 스캔 개시 신호(STVP)의 전압 레벨과 제2 입력 단자(IN2)에 입력되는 기준 전압(Vref)의 전압 레벨을 비교할 수 있다. 스캔 제어부(200)는 기준 전압(Vref)의 전압 레벨을 제어하는 기준 전압(Vref) 제어부를 더 포함할 수 있다. 기준 전압(Vref) 제어부는 표시 장치의 특성에 따라 기준 전압(Vref)의 전압 레벨을 제어할 수 있다.
보호 회로(260)는 비교 신호에 기초하여 셧다운 신호(SD)를 출력할 수 있다. 보호 회로(260)는 수직 개시 신호(STV)의 하강 시점(즉, 스캔 개시 신호(STVP)의 하강 시점)에서 비교 신호를 검출할 수 있다. 보호 회로(260)는 스캔 개시 신호(STVP)의 전압 레벨이 기준 전압(Vref)의 전압 레벨보다 낮은 경우, 셧다운 신호(SD)를 출력할 수 있다. 예를 들어, 보호 회로(260)는 셧다운 신호(SD)를 스캔 제어부(200) 또는 전압 생성부로 공급할 수 있다.
도 6a 및 도 6b는 도 5의 스캔 제어부의 동작을 설명하기 위한 회로도들이다.
도 6a를 참조하면, 표시 장치의 구동 동작 시 스위치 회로(240)는 온-전압 공급 배선(Von_L)과 온-트랜지스터(210)의 제1 전극을 연결할 수 있다. 제1 전압 레벨(예를 들어, 하이 레벨)을 갖는 수직 개시 신호(STV)가 공급되는 경우, NOT 게이트(205)에 의해 수직 개시 신호(STV)가 반전되어 제2 노드(N2)에 제2 전압 레벨(예를 들어, 로우 레벨)을 갖는 전압이 인가될 수 있다. 제2 전압 레벨에 응답하여 온-트랜지스터(210)가 턴온되고, 오프-트랜지스터(220)가 턴오프될 수 있다. 온-트랜지스터(210)가 턴온되는 동안 스캔 개시 신호(STVP)는 온-전압(Von)의 전압 레벨로 상승할 수 있다. 제2 전압 레벨을 갖는 수직 개시 신호(STV)가 공급되는 경우, NOT 게이트(205)에 의해 수직 개시 신호(STV)가 반전되어 제2 노드(N2)에 제1 전압 레벨을 갖는 전압이 인가될 수 있다. 제1 전압 레벨에 응답하여 온-트랜지스터(210)가 턴오프되고, 오프-트랜지스터(220)가 턴온될 수 있다. 오프-트랜지스터(220)가 턴온되는 동안 스캔 개시 신호(STVP)가 오프-전압(Voff)의 전압 레벨로 하강할 수 있다. 표시 장치의 구동 시 수직 개시 신호(STV)에 기초하여 온-트랜지스터(210)와 오프-트랜지스터(220)가 교번하여 턴온될 수 있다.
도 6b를 참조하면, 표시 장치의 과전류 검출 시 스위치 회로(240)는 온-전압 공급 배선(Von_L)과 검출 트랜지스터(230)의 제1 전극을 연결할 수 있다. 제1 전압 레벨(예를 들어, 하이 레벨)을 갖는 수직 개시 신호(STV)가 공급되는 경우, NOT 게이트(205)에 의해 수직 개시 신호(STV)가 반전되어 제2 노드(N2)에 제2 전압 레벨을 갖는 전압이 인가될 수 있다. 제2 전압 레벨에 응답하여 검출 트랜지스터(210)가 턴온되고, 오프-트랜지스터(220)가 턴오프될 수 있다. 스캔 개시 신호(STVP)를 출력하는 배선과 오프-전압(Voff)이 입력되는 배선 간에 쇼트가 발생하지 않는 경우, 검출 트랜지스터(230)가 턴온되는 동안 스캔 개시 신호(STVP)는 온-전압(Von)의 전압 레벨로 상승할 수 있다. 스캔 개시 신호(STVP)를 출력하는 배선과 오프-전압(Voff)이 입력되는 배선 간에 쇼트가 발생하는 경우, 스캔 개시 신호(STVP)를 출력하는 배선과 오프-전압이 입력되는 배선 간으로 인해 쇼트 저항(Rsh)이 발생하고, 온-전압(Von)은 드레인-소스 저항이 큰 검출 트랜지스터(230)와 상기 쇼트 저항(Rsh)에 의해 분압될 수 있다. 따라서, 스캔 개시 신호(STVP)의 전압(즉, 제1 노드(N1)의 전압)이 온-전압(Von)의 전압 레벨까지 상승하지 못할 수 있다. 비교기(250)는 스캔 개시 신호(STVP)의 전압 레벨과 기 설정된 기준 전압(Vref)의 전압 레벨을 비교하고, 비교 신호를 출력할 수 있다. 보호 회로(260)는 과전류 검출 구간 동안 스캔 개시 신호(STVP)의 하강 시점(즉, 수직 개시 신호(STV)의 하강 시점)마다 스캔 개시 신호(STVP)의 전압 레벨과 기준 전압(Vref)의 전압 레벨을 비교하는 비교 신호를 수신하고, 상기 비교 신호에 기초하여 배선 간 쇼트 발생 여부를 판단할 수 있다. 제2 전압 레벨을 갖는 수직 개시 신호(STV)가 공급되는 경우, NOT 게이트(205)에 의해 상기 수직 개시 신호(STV)가 반전되어 제2 노드(N2)에 제1 전압 레벨을 갖는 전압이 인가될 수 있다. 제1 전압 레벨에 응답하여 검출 트랜지스터(230)가 턴오프되고, 오프-트랜지스터(220)가 턴온될 수 있다. 과전류 검출 시 수직 개시 신호(STV)에 기초하여 검출 트랜지스터(230)와 오프-트랜지스터(220)가 교번하여 턴온될 수 있다.
도 7a 및 도 7b는 도1 의 표시 장치에 포함되는 스캔 제어부의 동작을 설명하기 위한 타이밍도들이다.
도 7a를 참조하면, 스캔 제어부는 표시 장치가 턴온되는 파워-온(power-on) 구간(POWER-ON PERIOD) 동안 스캔 개시 신호(STVP)를 검출할 수 있다. 파워-온 구간(POWER-ON PERIOD) 및 구동 구간(DRIVING PERIOD) 동안 타이밍 제어부는 스캔 제어부에 수직 개시 신호(STV)를 공급할 수 있다. 타이밍 제어부는 과전류 검출 구간 동안 정상 구동 구간보다 넓은 폭(width)을 갖는 수직 개시 신호(STV)를 생성할 수 있다. 스캔 제어부는 상기 수직 개시 신호(STV)에 기초하여 스캔 개시 신호(STVP)를 생성할 수 있다. 따라서, 스캔 개시 신호(STVP)의 이상 여부가 용이하게 검출될 수 있다.
스캔 제어부는 표시 장치가 턴온되는 파워-온(power-on) 구간 동안 스캔 제어부의 과전류를 검출할 수 있다. 도 7a에 도시된 바와 같이, 스캔 개시 신호(STVP)를 출력하는 배선과 오프-전압을 공급하는 배선 간 쇼트가 발생하지 않는 경우(NORMAL), 온-전압의 전압 레벨(LVon) 및 오프-전압의 전압 레벨(LVoff)을 갖는 스캔 개시 신호(STVP)가 생성될 수 있다. 스캔 개시 신호(STVP)를 출력하는 배선과 오프-전압을 공급하는 배선 간 쇼트가 발생하는 경우(ABNORMAL), 온-전압의 전압 레벨(LVon)보다 낮은 전압 레벨 및 오프-전압의 전압 레벨(LVoff)을 갖는 스캔 개시 신호(STVP)가 생성될 수 있다. 스캔 제어부는 과전류 검출 구간 동안 스캔 개시 신호(STVP)의 전압 레벨을 검출하여 셧다운 신호를 출력할 수 있다.
도 7b를 참조하면, 스캔 제어부는 하나의 프레임 내 수직 블랭크 구간(VBP) 동안 스캔 개시 신호(STVP)를 검출할 수 있다. 타이밍 제어부는 수직 개시 신호(STV)를 생성할 수 있다. 수직 개시 신호(STV)는 하나의 프레임 내 수직 액티브 구간(VAP) 동안 활성화되는 수직 개시 펄스(PV) 및 하나의 프레임 내 수직 블랭크 구간(VBP) 동안 활성화되는 검출 펄스(PD)를 포함할 수 있다. 검출 펄스(PD)는 스캔 개시 신호(STVP)의 전압 레벨을 검출하기 위한 신호일 수 있다. 타이밍 제어부는 검출 펄스(PD)의 폭을 수직 개시 펄스(PV)보다 넓게 생성함으로써, 스캔 개시 신호(STVP)의 이상 여부가 용이하게 검출되도록 할 수 있다.
수직 액티브 구간(VAP) 동안 스캔 제어부의 스위치 회로는 온-전압 공급 배선과 온-트랜지스터를 연결하고, 수직 블랭크 구간(VBP) 동안 스캔 제어부의 스위치 회로는 온-전압 공급 배선과 검출 트랜지스터를 연결할 수 있다. 스캔 제어부는 수직 액티브 구간(VAP) 동안 수직 개시 펄스(PV)에 기초하여 스캔 개시 신호(STVP)를 생성할 수 있다. 스캔 제어부는 수직 블랭크 구간(VAP) 동안 검출 펄스(PD)에 기초하여 스캔 개시 신호(STVP)의 전압을 검출할 수 있다. 도 7b에 도시된 바와 같이, 스캔 개시 신호(STVP)를 출력하는 배선과 오프-전압을 공급하는 배선 간 쇼트가 발생하지 않는 경우(NORMAL), 스캔 제어부는 동일한 전압 레벨을 갖는 스캔 개시 펄스(PSV) 및 스캔 검출 펄스(PSD)를 포함하는 스캔 개시 신호(STVP)를 생성할 수 있다. 스캔 개시 신호(STVP)의 스캔 개시 펄스(PSV) 및 스캔 검출 펄스(PSD)는 온-전압의 전압 레벨(LVon) 및 오프-전압의 전압 레벨(LVoff)을 가질 수 있다. 스캔 개시 신호(STVP)를 출력하는 배선과 오프-전압을 공급하는 배선 간 쇼트가 발생하는 경우(ABNORMAL), 스캔 제어부는 상이한 전압 레벨을 갖는 스캔 개시 펄스(PSV) 및 스캔 검출 펄스(PSD)를 포함하는 스캔 개시 신호(STVP)를 생성할 수 있다. 스캔 개시 펄스(PSV)는 온-전압의 전압 레벨(LVon) 및 오프-전압의 전압 레벨(LVoff)을 갖고, 스캔 개시 신호(STVP)의 스캔 검출 펄스(PSD)의 전압 레벨은 스캔 개시 펄스(PSV)의 전압 레벨보다 낮을 수 있다. 스캔 제어부는 수직 블랭크 구간(VBP) 동안 검출되는 스캔 개시 신호(STVP)(즉, 스캔 검출 펄스(PSD))의 전압 레벨을 검출하여 셧다운 신호를 출력할 수 있다.
본 발명은 표시 장치를 구비한 모든 전자 기기에 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 텔레비전, 컴퓨터 모니터, 노트북, 디지털 카메라, 휴대폰, 스마트폰, 스마트패드, 타블렛 PC, 피디에이(PDA), 피엠피(PMP), MP3 플레이어, 네비게이션, 비디오폰, 헤드 마운트 디스플레이(Head Mount Display; HMD) 장치 등에 적용될 수 있다.
이상에서는 본 발명의 예시적인 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100: 표시 장치 110: 표시 패널
120: 전압 생성부 130: 타이밍 제어부
140: 스캔 제어부 150: 스캔 구동부
160: 데이터 구동부 170: 스캔 구동 장치

Claims (20)

  1. 스캔 라인들, 데이터 라인들, 상기 스캔 라인들 및 상기 데이터 라인들에 연결되는 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널;
    온-전압 및 오프-전압을 생성하는 전압 생성부;
    상기 온-전압, 상기 오프-전압 및 수직 개시 신호에 기초하여 스캔 개시 신호를 생성하는 스캔 제어부; 및
    상기 스캔 개시 신호에 기초하여 스캔 신호를 생성하고, 상기 스캔 신호를 상기 스캔 라인들로 공급하는 스캔 구동부를 포함하고,
    상기 스캔 제어부는 과전류 검출 구간 동안 상기 스캔 개시 신호의 전압 레벨을 검출하고, 상기 스캔 개시 신호의 전압 레벨에 기초하여 셧다운 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 스캔 제어부는
    상기 수직 개시 신호가 인가되는 게이트 전극, 스위치 회로에 연결되는 제1 전극 및 제1 노드에 연결되는 제2 전극을 포함하는 온-트랜지스터;
    상기 수직 개시 신호가 인가되는 게이트 전극, 상기 오프-전압이 인가되는 제1 전극 및 상기 제1 노드에 연결되는 제2 전극을 포함하는 오프-트랜지스터;
    상기 수직 개시 신호가 인가되는 게이트 전극, 상기 스위치 회로에 연결되는 제1 전극 및 상기 제1 노드에 연결되는 제2 전극을 포함하는 검출 트랜지스터;
    상기 온-전압이 인가되는 온-전압 공급 배선과 상기 온-트랜지스터 또는 상기 검출 트랜지스터를 선택적으로 연결하는 상기 스위치 회로;
    상기 제1 노드의 전압이 입력되는 제1 입력 단자, 기 설정된 기준 전압이 입력되는 제2 입력 단자 및 상기 제1 노드의 전압과 상기 기준 전압을 비교하여 비교 신호를 출력하는 출력 단자를 포함하는 비교기; 및
    상기 비교 신호에 기초하여 상기 셧다운 신호를 출력하는 보호 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  3. 제2 항에 있어서, 상기 검출 트랜지스터의 드레인-소스 저항은 상기 온-트랜지스터의 드레인-소스 저항보다 큰 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  4. 제2 항에 있어서, 상기 스위치 회로는 상기 과전류 검출 구간에서 상기 온-전압 공급 배선과 상기 검출 트랜지스터를 연결시키고, 상기 표시 패널의 구동 시 상기 온-전압 공급 배선과 상기 온-트랜지스터를 연결시키는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  5. 제2 항에 있어서, 상기 스캔 제어부는
    상기 기준 전압의 전압 레벨을 제어하는 기준 전압 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  6. 제2 항에 있어서, 상기 온-트랜지스터 및 상기 검출 트랜지스터는 P형 트랜지스터들이고, 상기 오프-트랜지스터는 N형 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  7. 제6 항에 있어서, 상기 스캔 제어부는
    상기 온-트랜지스터의 상기 게이트 전극, 상기 오프-트랜지스터의 상기 게이트 전극 및 상기 검출 트랜지스터의 상기 게이트 전극과 연결되어 상기 수직 개시 신호를 반전시키는 NOT 게이트를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  8. 제2 항에 있어서, 상기 온-트랜지스터 및 상기 검출 트랜지스터는 N형 트랜지스터들이고, 상기 오프-트랜지스터는 P형 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  9. 제2 항에 있어서, 상기 보호 회로는 상기 수직 개시 신호의 하강 시점에서 상기 비교 신호를 검출하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  10. 제1 항에 있어서, 상기 과전류 검출 구간은 상기 표시 장치의 파워-온(power-on) 구간인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  11. 제1 항에 있어서, 상기 과전류 검출 구간은 하나의 프레임 내 수직 블랭크 구간인 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  12. 제1 항에 있어서, 상기 스캔 제어부는 클럭 제어 신호에 기초하여 클럭 신호 및 클럭바 신호를 생성하고, 상기 클럭 신호 및 상기 클럭바 신호를 상기 스캔 구동부에 제공하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  13. 온-전압 및 오프-전압을 생성하는 전압 생성부;
    상기 온-전압, 상기 오프-전압 및 수직 개시 신호에 기초하여 스캔 개시 신호를 생성하는 스캔 제어부; 및
    상기 스캔 개시 신호에 기초하여 스캔 신호를 생성하는 스캔 구동부를 포함하고, 상기 스캔 제어부는 과전류 검출 구간 동안 상기 스캔 개시 신호의 전압 레벨을 검출하고, 상기 스캔 개시 신호의 전압 레벨에 기초하여 셧다운 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 스캔 구동 장치.
  14. 제13 항에 있어서, 상기 스캔 제어부는
    상기 수직 개시 신호가 인가되는 게이트 전극, 스위치 회로에 연결되는 제1 전극 및 제1 노드에 연결되는 제2 전극을 포함하는 온-트랜지스터;
    상기 수직 개시 신호가 인가되는 게이트 전극, 상기 오프-전압이 인가되는 제1 전극 및 상기 제1 노드에 연결되는 제2 전극을 포함하는 오프-트랜지스터;
    상기 수직 개시 신호가 인가되는 게이트 전극, 상기 스위치 회로에 연결되는 제1 전극 및 상기 제1 노드에 연결되는 제2 전극을 포함하는 검출 트랜지스터;
    상기 온-전압이 인가되는 온-전압 공급 배선과 상기 온-트랜지스터 또는 상기 검출 트랜지스터를 선택적으로 연결하는 상기 스위치 회로;
    상기 제1 노드의 전압이 입력되는 제1 입력 단자, 기 설정된 기준 전압이 입력되는 제2 입력 단자 및 상기 제1 노드의 전압과 상기 기준 전압을 비교하여 비교 신호를 출력하는 출력 단자를 포함하는 비교기; 및
    상기 비교 신호에 기초하여 상기 셧다운 신호를 출력하는 보호 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 스캔 구동 장치.
  15. 제14 항에 있어서, 상기 검출 트랜지스터의 드레인-소스 저항은 상기 온-트랜지스터의 드레인-소스 저항보다 큰 것을 특징으로 하는 스캔 구동 장치.
  16. 제14 항에 있어서, 상기 스위치 회로는 상기 과전류 검출 구간에서 상기 온-전압 공급 배선과 상기 검출 트랜지스터를 연결시키는 것을 특징으로 하는 스캔 구동 장치.
  17. 제14 항에 있어서, 상기 스캔 제어부는
    상기 기준 전압의 전압 레벨을 제어하는 기준 전압 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 스캔 구동 장치.
  18. 제14 항에 있어서, 상기 온-트랜지스터 및 상기 검출 트랜지스터는 P형 트랜지스터들이고, 상기 오프-트랜지스터는 N형 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 스캔 구동 장치.
  19. 제14 항에 있어서, 상기 스캔 제어부는
    상기 온-트랜지스터의 상기 게이트 전극, 상기 오프-트랜지스터의 상기 게이트 전극 및 상기 검출 트랜지스터의 상기 게이트 전극과 연결되어 상기 수직 개시 신호를 반전시키는 NOT 게이트를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 스캔 구동 장치.
  20. 제14 항에 있어서, 상기 온-트랜지스터 및 상기 검출 트랜지스터는 N형 트랜지스터들이고, 상기 오프-트랜지스터는 P형 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 스캔 구동 장치.
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