KR100672863B1 - 엘시디 모듈화면검사방법 - Google Patents
엘시디 모듈화면검사방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100672863B1 KR100672863B1 KR1020030042917A KR20030042917A KR100672863B1 KR 100672863 B1 KR100672863 B1 KR 100672863B1 KR 1020030042917 A KR1020030042917 A KR 1020030042917A KR 20030042917 A KR20030042917 A KR 20030042917A KR 100672863 B1 KR100672863 B1 KR 100672863B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- lcd
- lcd module
- defect detection
- screen
- defects
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 45
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 4
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 abstract description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 abstract 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000007619 statistical method Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/60—Control of cameras or camera modules
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/80—Camera processing pipelines; Components thereof
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/10—Scanning
- G01N2201/102—Video camera
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2203/00—Function characteristic
- G02F2203/69—Arrangements or methods for testing or calibrating a device
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
본 발명은 서브픽셀(SUB-PIXEL)과 같은 수십 마이크론 크기를 판단하는 마이크로(MICRO)결함검출기능과 화면 일정 면적을 갖는 얼룩과 같은 매크로(MACRO)결함검출기능을 동시 만족하며, 종래의 문제들을 모두 해결하기 위한 엘시디 모듈화면검사방법을 제공한다. 엘시디 모듈이라하면, 엘시디 요소부품인 티에프티판, 칼라필터판이 조립되고 액정이 주입된 셀(CELL) 기판과 상기 셀기판 상하에 편광판 배치 그리고 광원 역할을 하는 백라이트유니트(BLU)의 배치가 완료된 상태를 말한다. 통상적으로 엘시디 생산업체는 엘시디 모듈상태에서 제품 출하를 하고 출하전 전수 화면검사를 실시한다. 지금까지 엘시디모듈 화면검사는 작업자 육안에 의존하고 있으나 점차 대형화 및 고해상도화로 인해 생산업체에 어려움이 가중되고 있는 실정이다. 따라서 자동 화면검사 장치의 필요성이 대두되고 있으나 여러가지 기술적 문제로 답보 상태를 해결하기 위한 것이다.
Description
도 1은 본고안 엘시디 모듈 화면 자동 검사 시스템의 개략블럭도이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호 설명>
10: 무빙테이블유니트
11: LCD파레트
21: 라인 영상촬영소자카메라
11: LCD파레트
21: 라인 영상촬영소자카메라
22: 에어리아 영상촬영소자카메라
23: 경사각 라인 영상촬영소자카메라
25: 센싱 시스템
26: 자동정렬장치
31: 매크로 영상처리제어부
32: 마이크로 영상처리제어부
33: 경사각 라인영상처리제어부
40: 주제어부
41: 자동정렬장치 및 센싱시스템 제어부
42: 터치패널
50: 전원제어부
60: 클라이언트
61: 키보드
62: 모니터
70: 인터넷
71: 허브
23: 경사각 라인 영상촬영소자카메라
25: 센싱 시스템
26: 자동정렬장치
31: 매크로 영상처리제어부
32: 마이크로 영상처리제어부
33: 경사각 라인영상처리제어부
40: 주제어부
41: 자동정렬장치 및 센싱시스템 제어부
42: 터치패널
50: 전원제어부
60: 클라이언트
61: 키보드
62: 모니터
70: 인터넷
71: 허브
본 발명은 엘시디 모듈화면검사방법에 관한 것으로, 서브픽셀(SUB-PIXEL)과 같은 수십 마이크론 크기를 판단하는 마이크로(MICRO)결함검출기능과 화면 일정 면적을 갖는 얼룩과 같은 매크로(MACRO)결함검출기능을 동시 만족하며, 종래의 문제들을 모두 해결하기 위한 엘시디 모듈화면검사방법에 관한 것이다.
엘시디 모듈은, 엘시디 요소부품인 티에프티판, 칼라필터판이 조립되고 액정이 주입된 셀(CELL) 기판과 그 셀기판 상하에 편광판이 배치된 후, 광원 역할을 하는 백라이트유니트(BLU)의 배치가 완료된 상태를 말하는 것으로, 통상적으로 엘시디 생산업체는 엘시디 모듈상태에서 제품을 출하하고 출하전 전수 화면검사를 실시한다. 지금까지 엘시디모듈 화면검사는 작업자 육안에 의존하고 있으나 점차 대형화 및 고해상도화로 인해 생산업체에 어려움이 가중되고 있는 실정이다.
종래의 자동화면검사 기술은 이미지 프로세싱의 한 적용기술로써 세가지 주요 기술로 이루어진다. 첫째 영상의 획득, 둘째 획득된 영상의 해석, 셋째 해석된 내용을 적절히 사용자에게 제공하는 유저 인터페이스 기술로 이루어진다. 그런데 디스플레이 화면검사는 결점의 다양성 및 결점 주변 환경에 의존하는 시각적 판단 방법이 요구됨으로 숙련된 작업자가 요구되고 따라서 화면 환경에 대한 작업자 판단을 돕기 위해 여러가지 신호 패턴을 인가하면서 화면 결점을 찾고 있다.
따라서 종래기술은 상기 작업자가 화면 결점을 검출하는 방법과 동일하게 자동화 한다는 개념에서 영상 획득을 실시하고 있다.
그런데 적어도 두가지 이상의 신호 패턴을 인가하면서 영상을 획득하기 위해서는 정해진 면적에 해당하는 영상을 동시에 획득할 필요가 있으며 이를 위해서는 에어리아(AREA) 영상획득소자(CCD)카메라가 요구된다. 일예로 한국 공개특허공보 특1996-42836호(1996.12.21)에 개시된 바와 같이 에어리아 카메라를 이용하여 결함검출하는 것을 들 수 있다.
따라서 종래기술은 상기 에어리아 영상획득소자카메라를 사용하여 영상을 획득하게 되는데 이로 인해 다양한 디스플레이 화면 결점 검출을 위한 기능 즉 서브픽셀(SUB-PIXEL)과 같은 수십 마이크론 크기를 판단하는 마이크로(MICRO)결함검출기능과 화면 일정 면적을 갖는 얼룩과 같은 매크로(MACRO)결함검출기능을 동시 만족해야하는 기술적 난제가 있어 부적절한 영상 획득이 불가피하며 이로 인해 상기 획득된 영상을 해석 할 때 지나친 확률통계적 방법을 적용함으로써 실제 제품의 결함 상태를 충분히 반영하지 못하는 문제가 있다.
따라서, 본 발명은 서브픽셀(SUB-PIXEL)과 같은 수십 마이크론 크기를 판단하는 마이크로(MICRO)결함검출기능과 화면 일정 면적을 갖는 얼룩과 같은 매크로(MACRO)결함검출기능을 동시 만족하며, 전술한 문제들을 모두 해결하기 위한 엘시디 모듈화면검사방법을 제공하는 데에 그 목적이 있다.
이러한 목적을 달성하기 위해 본 발명의 일실시예에 따른 엘시디 모듈화면검사방법은, 에어리아 영상촬영소자카메라 및 라인 영상촬영소자카메라를 포함하여 결함을 검출하기 위한 엘시디 모듈화면검사방법에 있어서, 서브픽셀 결함과 같은 미소한 결함을 검출하기 위한 마이크로 결함검출검사와 일정 면적에 형성되는 얼룩과 같은 결함을 검출하기 위한 매크로 결함검출검사를 분리하여 수행하며, 상기 매크로 결함검출검사는 에어리아 영상촬영소자카메라에 의해 수행하고, 상기 마이크로 결함검출검사는 라인 영상촬영소자카메라에 의해 수행하되, 단일 영상 신호 패턴을 활용하여 수행하는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
전술한 종래기술의 한계점을 극복하기 위해서는 전술한 서브픽셀 결함과 같은 미소한 결함을 검출 할 수 있는 마이크로 결함검출기능과 일정 면적을 형성하는 얼룩과 같은 결함을 검출할 수 있는 매크로 결함검출기능이 분리되어져 한다. 본 발명은 상기 개념을 토대로 수십차례의 실험을 실시했다. 화면 결점을 영상 차원에서 접근해 보면 결점은 결점 주변부와의 휘도차로 나타나며 이에 따라 충분한 해상도를 구비한 영상촬영소자카메라의 경우 일부러 작업자 육안 검사 방법처럼 다양한 신호 패턴을 인가하면서 영상획득을 할 필요성이 없다는 결과를 얻었다.
따라서, 본 발명기술은 상기 실험 결과를 근거(단일 신호 패턴 사용으로 결점 검출 가능)로 마이크로 결함검출기능과 매크로 결함검출기능을 분리 적용하였으며, 도 1에 구체적인 일예로 도시된 바와 같이, 마이크로 결함을 검출하기 위해서는 엘시디모듈이 LCD파레트(11)상에 화살표 L방향으로 로딩된 후, 무빙테이블유니트(10)에 의해 화살표 M방향으로 이송되는 중에 영상을 획득하도록 라인(LINE) 영상촬영소자카메라(21)와 마이크로 영상처리제어부(32)가 설치되며, 매크로 결함을 검출하기 위해, 도 1에서는 무빙테이블유니트(10)에 의해 이송된 후, 화살표 U 방향으로의 언로딩직전 정지된 상태에서 종래와 같이 영상을 획득하도록 에어리아 영상촬영소자카메라(22)와 매크로 영상처리제어부(31)가 설치된다. 위와 같이 매크로검출과 마이크로검출을 위하여 각각 에어리아 영상촬영소자카메라(22)와 라인 영상촬영소자카메라(21)에 의해 분리되어 영상을 획득하여 처리되는 것을 제외하고는 한국 공개특허공보 특1996-42836호, 일본공개특허공보 평12-275594호, 일본공개특허공보 평05-240805호(1993.09.21) 등의 종래의 화면검사장치 내지 표면검사장치의 구성요소들과 동일유사한 종래의 제어장치와 제어방법으로 영상의 획득,처리되므로, 그 구체적 설명은 생략된다.
이때 통상적으로 LCD파레트(11)를 통해 엘시디모듈에 인가되는 단일 신호 패턴은 8비트 그레이 스케일 레벨 기준으로 중간 레벨인 약 127 그레이 레벨의 신호를 사용했다. 또한 라인 영상촬영소자카메라 사용이 가능해짐으로써 도 1에 도시된 바와 같이 경사각 라인 영상촬영소자카메라(23) 및 경사각 라인영상처리제어부(33)에 의해 도시한 바와 같이 화면의 경사각 방향에서의 영상획득도 가능하여 보다 효과적인 검출을 할 수가 있다. 그리고 상술한 카메라들에게 균일한 영상 품위를 제공하기 위해 도 1에 도시한 바와 같이 엘시디 모듈 화면 수평화를 제공하고, 자동정렬을 위한 종래의 공지된 센싱 시스템(25), 자동정렬장치(26) 및 그 제어를 위한 자동정렬장치 및 센싱시스템 제어부(41)를 구비하는 것이 바람직하며, 또한, 도 1에서 미설명부호 "40"은 주제어부이며, "42"는 터치패널이고, "50"는 EDID보드를 구비한 전원제어부이며, "60"은 클라이언트이고, "61"은 키보드이며, "62"는 모니터이고, "70"은 인터넷이며, "71"은 허브로서 종래의 공지된 것들이므로, 그 구체적 구성과 작동에 대해서는 생략된다.
이상에서 설명한 본 발명의 실시예들에 따른 엘시디 모듈화면검사방법의 구성과 작용에 의하면, 종래기술의 한계점을 극복할 수 있었으며, 그 일예로 서브픽셀 결함과 같은 미소한 결함을 검출 할 수 있음과 동시에 일정 면적을 형성하는 얼룩과 같은 결함을 검출할 수 있는 등의 효과가 있다.
Claims (5)
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 에어리아 영상촬영소자카메라 및 라인 영상촬영소자카메라에 의해 촬상하여 결함을 검출하기 위한 엘시디 모듈화면검사방법에 있어서,상기 결함중 서브픽셀 결함과 같은 미소한 마이크로결함을 검출하기 위한 마이크로 결함검출검사와 일정 면적에 형성되는 얼룩과 같은 매크로결함을 검출하기 위한 매크로 결함검출검사를 분리하여 수행하며, 상기 매크로 결함검출검사는 에어리아 영상촬영소자카메라에 의해 수행하고, 상기 마이크로 결함검출검사는 라인 영상촬영소자카메라에 의해 수행하되, 단일 영상 신호 패턴을 활용하여 수행하는 것을 특징으로 하는 엘시디 모듈 화면검사방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020030042917A KR100672863B1 (ko) | 2003-06-28 | 2003-06-28 | 엘시디 모듈화면검사방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020030042917A KR100672863B1 (ko) | 2003-06-28 | 2003-06-28 | 엘시디 모듈화면검사방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20050001915A KR20050001915A (ko) | 2005-01-07 |
KR100672863B1 true KR100672863B1 (ko) | 2007-01-22 |
Family
ID=37217503
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020030042917A KR100672863B1 (ko) | 2003-06-28 | 2003-06-28 | 엘시디 모듈화면검사방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100672863B1 (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100803043B1 (ko) * | 2006-10-10 | 2008-02-18 | 주식회사 매크론 | 디스플레이 장치의 결함검사 장치 및 방법 |
KR100826097B1 (ko) * | 2007-01-10 | 2008-04-29 | 주식회사 이라이콤 | 액정표시장치의 백라이트유닛 검사장치 |
-
2003
- 2003-06-28 KR KR1020030042917A patent/KR100672863B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20050001915A (ko) | 2005-01-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR0150689B1 (ko) | 평면형 표시패널 검사장치 | |
KR101068364B1 (ko) | 액정표시장치 검사장비 및 그 검사방법 | |
JP2008045959A (ja) | 液晶表示パネルの検査装置及び検査方法 | |
JP2006242821A (ja) | 光学パネルの撮像方法、光学パネルの検査方法、光学パネルの撮像装置、光学パネルの検査装置 | |
JP3378795B2 (ja) | 表示装置の検査装置および検査方法 | |
KR100672863B1 (ko) | 엘시디 모듈화면검사방법 | |
KR101367078B1 (ko) | 액정 표시장치의 얼룩 검사 방법 | |
KR100769691B1 (ko) | 탭 검사장치 및 이를 이용한 탭 검사방법 | |
KR20070006480A (ko) | 실 라인 검사 장치 및 이를 이용한 실 라인 검사 방법 | |
KR100257742B1 (ko) | 액정 표시기의 결함 검출장치 및 방법 | |
JP2007212690A (ja) | 液晶パネルの検査装置及びその検査方法 | |
KR101034923B1 (ko) | 오토 프로브 검사장비 및 이를 이용한 검사방법 | |
JP2003177371A (ja) | 液晶表示装置の検査装置及びその検査方法 | |
KR100760827B1 (ko) | Lcd 탑샤시용 탭 검사장치 및 검사방법 | |
JP2006201523A (ja) | 液晶表示パネルの検査方法および検査装置 | |
KR102063680B1 (ko) | 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법 | |
JP2010008188A (ja) | 表示パネルの検査装置、検査方法及びこれを用いた表示パネルの製造方法 | |
JP2938126B2 (ja) | カラーフィルタの表面検査装置 | |
JPH08178797A (ja) | フラットパネルディスプレイの表示欠陥抽出方法及びそのための装置 | |
KR20080060027A (ko) | 액정 표시장치용 검사 장치 | |
KR101073330B1 (ko) | 액정 패널의 오토 프로브 검사 장치 및 검사 방법 | |
JPH08220014A (ja) | Lcdパネル検査装置及びこの装置を用いたlcdパネル検査方法 | |
WO2012115004A1 (ja) | 液晶パネルの検査装置および検査方法 | |
KR20030060243A (ko) | 평판 디스플레이 자동 검사장치 | |
JPH10318880A (ja) | 液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置用検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
N231 | Notification of change of applicant | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E90F | Notification of reason for final refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121231 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131230 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |