KR100670288B1 - 기판 고정용 지그장치, 이를 구비한 누설전류 측정장치,및 누설전류 측정방법 - Google Patents
기판 고정용 지그장치, 이를 구비한 누설전류 측정장치,및 누설전류 측정방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100670288B1 KR100670288B1 KR1020050011019A KR20050011019A KR100670288B1 KR 100670288 B1 KR100670288 B1 KR 100670288B1 KR 1020050011019 A KR1020050011019 A KR 1020050011019A KR 20050011019 A KR20050011019 A KR 20050011019A KR 100670288 B1 KR100670288 B1 KR 100670288B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- leakage current
- unit
- base plate
- measuring
- coupled
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/70—Testing, e.g. accelerated lifetime tests
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/12—Passive devices, e.g. 2 terminal devices
- H01L2924/1204—Optical Diode
- H01L2924/12044—OLED
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
Description
Claims (7)
- 베이스 플레이트;상기 베이스 플레이트의 상부에 위치하고, 가장자리가 지지부재에 의해 상기 베이스 플레이트에 결합되는 커버 플레이트; 및상기 베이스 플레이트와 커버 플레이트의 사이에 위치하고, 상기 베이스 플레이트에 탈착 가능하도록 결합되며, 복수개의 디스플레이 소자가 형성된 글라스 기판이 안착되는 안착 블록;을 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 고정용 지그장치.
- 제 1항에 있어서,상기 베이스 플레이트에는 실린더 유닛이 결합되고, 상기 안착 블록은 상기 실린더 유닛에 탈착 가능하도록 결합되는 것을 특징으로 하는 기판 고정용 지그장치.
- 베이스 플레이트와, 상기 베이스 플레이트의 상부에 위치하고, 가장자리가 지지부재에 의해 상기 베이스 플레이트에 결합되는 커버 플레이트와, 상기 베이스 플레이트와 커버 플레이트의 사이에 위치하고, 상기 베이스 플레이트에 탈착 가능하도록 결합되며, 복수개의 디스플레이 소자가 형성된 글라스 기판이 안착되는 안착 블록을 포함하는 기판 고정용 지그장치;상기 안착 블록에 안착된 글라스 기판의 각 디스플레이 소자의 단자부에 동시에 접속되는 접속유닛;상기 접속유닛에 전기적으로 연결된 것으로, 상기 글라스 기판의 각 디스플레이 소자의 누설전류를 측정하는 측정유닛; 및상기 기판 고정용 지그장치, 접속유닛 및 측정유닛에 전기적으로 연결되어 동작을 제어하고, 측정된 누설전류값을 기준치와 비교하거나, 상기 누설전류값을 표시하는 제어유닛;을 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 누설전류 측정 장치.
- 제 3항에 있어서,상기 베이스 플레이트에는 실린더 유닛이 결합되고, 상기 안착 블록은 상기 실린더 유닛에 탈착 가능하도록 결합되는 것을 특징으로 하는 누설전류 측정 장치.
- 제 3항 또는 제 4항에 있어서,상기 측정유닛은,상기 각 디스플레이 소자를 세츄레이션시키는 적어도 하나의 소스용 제1측정부;상기 각 디스플레이 소자의 누설전류를 측정하는 적어도 하나의 측정용 제2측정부;상기 디스플레이 소자들 중 적어도 일정 수의 디스플레이 소자들과 상기 제1측정부와의 접속을 선택적으로 단속할 수 있는 적어도 하나의 제1스위칭부; 및상기 디스플레이 소자들 중 적어도 일정 수의 디스플레이 소자들과 상기 제2측정부와의 접속을 선택적으로 단속할 수 있는 적어도 하나의 제2스위칭부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 누설전류 측정 장치.
- 삭제
- 삭제
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050011019A KR100670288B1 (ko) | 2005-02-05 | 2005-02-05 | 기판 고정용 지그장치, 이를 구비한 누설전류 측정장치,및 누설전류 측정방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050011019A KR100670288B1 (ko) | 2005-02-05 | 2005-02-05 | 기판 고정용 지그장치, 이를 구비한 누설전류 측정장치,및 누설전류 측정방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20060089554A KR20060089554A (ko) | 2006-08-09 |
KR100670288B1 true KR100670288B1 (ko) | 2007-01-16 |
Family
ID=37177595
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050011019A KR100670288B1 (ko) | 2005-02-05 | 2005-02-05 | 기판 고정용 지그장치, 이를 구비한 누설전류 측정장치,및 누설전류 측정방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100670288B1 (ko) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10243675B2 (en) | 2013-06-18 | 2019-03-26 | Powervoice Co., Ltd. | Mobile device and method for outputting sound wave for control of external device, and external device |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002090408A (ja) | 2000-09-12 | 2002-03-27 | Tdk Corp | マトリクス検査方法及び装置 |
KR20050004434A (ko) * | 2003-07-02 | 2005-01-12 | 주식회사 디이엔티 | 기판 검사장치용 멀티 스테이지 |
-
2005
- 2005-02-05 KR KR1020050011019A patent/KR100670288B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002090408A (ja) | 2000-09-12 | 2002-03-27 | Tdk Corp | マトリクス検査方法及び装置 |
KR20050004434A (ko) * | 2003-07-02 | 2005-01-12 | 주식회사 디이엔티 | 기판 검사장치용 멀티 스테이지 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20060089554A (ko) | 2006-08-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4997117B2 (ja) | 集積回路の検査及びバーンインのためのシステム | |
JP2020502825A (ja) | 発光ダイオード(led)検査装置及び製造方法 | |
JP2020506541A (ja) | 発光ダイオード(led)検査装置及び製造方法 | |
KR100815765B1 (ko) | 발광표시장치 및 그의 제조방법 | |
CN104122495B (zh) | 测试有机发光显示面板的方法、母基板测试装置和方法 | |
US11569274B2 (en) | Array substrate, display device and method of forming array substrate | |
US20130052902A1 (en) | Method of repairing a display panel and apparatus for performing the same | |
KR101084269B1 (ko) | 유기 전계 발광 표시장치 및 이의 동작 방법 | |
KR100670288B1 (ko) | 기판 고정용 지그장치, 이를 구비한 누설전류 측정장치,및 누설전류 측정방법 | |
KR20130093257A (ko) | 유기발광소자 셀들의 검사 방법 및 이를 수행하기 위한 장치 | |
US7667481B2 (en) | Surface electron emission device array and thin film transistor inspection system using the same | |
KR20190079043A (ko) | 정전척 | |
KR20020064626A (ko) | 평판 디스플레이 소자 측정 장치 | |
KR20210032217A (ko) | 정전척 및 이를 이용한 검사장치 | |
JP2008204767A (ja) | 電子デバイス装置の製造方法および電子デバイス装置の製造装置 | |
KR101104436B1 (ko) | 유기발광장치의 누설전류 검사 방법 | |
JPWO2013118215A1 (ja) | El表示装置の製造方法 | |
JP4666247B2 (ja) | 有機elパネルの製造方法 | |
KR20070061974A (ko) | 발광 소자의 불량 검출 장치 및 방법 | |
CN107103866B (zh) | Amoled大板检测装置及其检测方法 | |
KR100620852B1 (ko) | 일렉트로 루미네센스 소자의 검사 장치 | |
KR20170126128A (ko) | 디스플레이 셀 검사 방법 | |
KR20070087845A (ko) | 유기 전계 발광 표시 장치의 제조 방법 | |
KR100592384B1 (ko) | 일렉트로 루미네센스 소자의 검사 장치 및 방법 | |
KR100692050B1 (ko) | 일렉트로 루미네센스 소자의 검사 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
N231 | Notification of change of applicant | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130102 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140102 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141231 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151230 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170102 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180102 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190102 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20191223 Year of fee payment: 14 |