KR20170126128A - 디스플레이 셀 검사 방법 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 42
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 14
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 abstract description 6
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 14
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 12
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 7
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- -1 regions Substances 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
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- H01L51/56—
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- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
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- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
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- Computer Hardware Design (AREA)
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Abstract
디스플레이 셀의 광학적 특성을 검사하기 위한 디스플레이 셀 검사 방법이 개시된다. 디스플레이 셀 검사 방법은 먼저, 기판에 형성된 디스플레이 셀에 기 설정된 점등 신호를 인가해 디스플레이 셀을 점등시킨다. 기 설정된 점등 신호에 대응하는 디스플레이 셀의 색좌표를 1차 측정한다. 1차 측정된 디스플레이 셀의 색좌표 값이 기 설정된 허용 범위를 벗어나는 경우 점등 신호를 기 설정된 신호 범위 내에서 변화시키면서 디스플레이 셀의 색좌표를 재측정한다. 재측정한 상기 디스플레이 셀의 색좌표 값이 상기 허용 범위 내에 포함되는 경우 그에 대응하는 상기 점등 신호의 변화된 값에 기초하여 상기 기 설정된 점등 신호를 보정한다. 이와 같이, 디스플레이 셀 검사 방법은 디스플레이 셀의 점등 편차를 보정하여 디스플레이 셀을 검사하므로, 디스플레이 셀의 하드웨어적 특성을 고려하여 분광 검사를 실시할 수 있고, 디스플레이 셀의 화질 불량을 정확하게 검출할 수 있으며, 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
Description
본 발명의 실시예들은 디스플레이 셀 검사 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 유기발광소자(Organic Light Emitting Device : OLED) 셀들과 같이 기판 상에 형성된 디스플레이 셀들에 대해 광학적 특성을 검사하는 디스플레이 셀 검사 방법에 관한 것이다.
평판 디스플레이 장치 중 하나인 OLED 장치는 시야각이 넓고 콘트라스트가 우수하며 응답 속도가 빨라 최근 휴대형 디스플레이 장치, 스마트 폰, 태블릿 PC 등에 널리 사용되고 있다. 또한, OLED 장치는 대형화를 통한 차세대 디스플레이 장치로도 주목받고 있다. 특히, OLED 장치는 무기발광 디스플레이 장치에 비하여 휘도, 구동 전압, 응답 속도 등의 특성이 우수하고 다색화가 가능하다는 장점이 있다.
이러한 OLED 장치의 제조 과정은 다음과 같다. 먼저, 기판 상에 다양한 박막을 형성하는 증착 공정과 이를 패터닝하는 식각 공정 등을 통하여 TFT(Thin Film Transistor) 층을 형성한 후 TFT 층이 형성된 기판 상에 하부 전극과 유기막층(예를 들면, 정공수송층, 발광층, 전자수송층) 및 상부 전극으로 이루어진 유기발광층을 형성한다. 이어, 유기발광층이 형성된 기판을 봉지기판을 이용하여 봉지한 후 절단 공정을 통해 각각의 OLED 셀들을 개별화함으로써 OLED 장치를 완성된다.
한편, 봉지 공정이 완료된 후 기판 상에 형성된 OLED 셀들에 대한 검사 공정이 수행될 수 있다. 검사 공정은 OLED 셀들에 검사 신호를 인가하여 TFT 층의 기능 검사, 보정 회로 검사, 화질 검사, 분광 검사, 이미지 검사 등이 이루어질 수 있다.
OLED 셀들의 분광 검사는 분광기를 이용하여 OLED 셀들의 화질을 검사하는 것으로서, 점등 신호를 OLED 셀들에 인가한 후에 분광기가 OLED 셀들 각각의 색좌표를 측정한다. 분광 검사는 측정된 OLED 셀의 색좌표 값이 기 설정된 범위 안의 값인지 비교하여 OLED 셀의 양불을 판단한다.
그러나 이러한 분광 검사는 모든 OLED 셀들에 동일한 점등 신호를 인가하므로, OLED 셀들의 하드웨어적 특정을 고려하지 않는다. 따라서, 측정된 OLED 셀의 색좌표 값이 OLED 셀의 하드웨어적 특성으로 인하여 기 설정된 범위 안에 포함되지 않는 경우 실질적으로 화질 불량이 아니더라도 이를 파악할 수 없어 해당 OLED 셀이 불량으로 판정되는 문제점이 있다.
또한, 분광 검사는 OLED 셀의 중심 지점의 색좌표만 측정하므로, 중심 영역과 외곽 영역 간의 편차가 큰 대면적 OLED 셀의 경우 외곽 영역의 화질 불량을 검출할 수 없다. 이로 인해 분광 검사의 신뢰성이 저하된다.
본 발명의 실시예들은 디스플레이 셀들의 점등 편차를 보정하여 광학적 특성을 검사할 수 있는 디스플레이 셀 검사 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 디스플레이 셀 검사 방법은, 기판에 형성된 디스플레이 셀에 기 설정된 점등 신호를 인가해 상기 디스플레이 셀을 점등시키는 단계, 상기 기 설정된 점등 신호에 대응하는 상기 디스플레이 셀의 색좌표를 1차 측정하는 단계, 상기 1차 측정된 상기 디스플레이 셀의 색좌표 값이 기 설정된 허용 범위를 벗어나는 경우 상기 점등 신호를 기 설정된 신호 범위 내에서 변화시키면서 상기 디스플레이 셀의 색좌표를 재측정하는 단계, 및 상기 재측정한 상기 디스플레이 셀의 색좌표 값이 상기 허용 범위 내에 포함되는 경우 그에 대응하는 상기 점등 신호의 변화된 값에 기초하여 상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 디스플레이 셀은 상기 기판 상에 복수로 형성될 수 있다. 더불어, 상기 기 설정된 점등 신호를 인가하여 상기 디스플레이 셀을 점등시키는 단계는, 상기 복수의 디스플레이 셀 중에서 적어도 어느 하나를 기준 디스플레이 셀로 설정하는 단계, 및 상기 기 설정된 점등 신호를 인가하여 상기 기준 디스플레이 셀을 점등시키는 단계를 포함할 수 있다. 여기서, 상기 디스플레이 셀의 색좌표를 1차 측정하는 단계와 상기 디스플레이 셀의 색좌표를 재측정하는 단계 및 상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계는 상기 기준 디스플레이 셀을 대상으로 하여 실시할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 디스플레이 셀 검사 방법은 상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계 이후에, 상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계에서 보정된 점등 신호를 상기 디스플레이 셀들 중 상기 기준 디스플레이 셀을 제외한 나머지 디스플레이 셀들에 인가하여 상기 디스플레이 셀들의 색좌표를 측정하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 디스플레이 셀들은 상기 기판 상에 어레이 형태로 형성되며, 상기 디스플레이 셀들 중 첫 번째 디스플레이 셀이 상기 기준 디스플레이 셀로 설정될 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 디스플레이 셀 검사 방법은 상기 디스플레이 셀에 상기 기 설정된 점등 신호를 인가하는 단계 이전에, 상기 디스플레이 셀에서 상기 색좌표를 검사하기 위한 복수의 측정 포인트를 설정하되 상기 복수의 측정 포인트는 상기 디스플레이 셀의 중심 지점을 포함하도록 설정되는 단계를 더 포함할 수 있다. 여기서, 상기 디스플레이 셀의 색좌표를 1차 측정하는 단계와 상기 디스플레이 셀의 색좌표를 재측정하는 단계는 상기 디스플레이 셀의 중심 지점의 색좌표를 측정할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 디스플레이 셀 검사 방법은 상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계 이후에, 상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계에서 보정된 점등 신호를 상기 디스플레이 셀에 인가하여 상기 측정 포인트들 중 상기 디스플레이 셀의 중심 지점을 제외한 나머지 측정 포인트들의 색좌표를 측정하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상술한 바와 같은 본 발명의 실시예들에 따르면, 디스플레이 셀 검사 방법은1차 측정된 디스플레이 셀의 색좌표 값이 기 설정된 허용 범위를 벗어난 경우 상기 점등 신호를 변화시키면서 색좌표를 재측정한다. 이에 따라, 디스플레이 셀의 점등 편차를 보정할 수 있으므로, 디스플레이 셀의 하드웨어적 특성을 고려하여 분광 검사를 실시할 수 있고, 디스플레이 셀의 화질 불량을 정확하게 검출할 수 있으며, 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 셀 검사 방법을 설명하기 위한 개략적인 순서도이다.
도 2는 도 1에 도시된 디스플레이 셀 검사 방법을 수행하는 분광 검사 장치를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 셀 검사 방법을 설명하기 위한 개략적인 순서도이다.
도 4는 도 2에 도시된 분광 검사 장치에서 도 3에 도시된 디스플레이 셀 검사 방법을 수행하는 공정 과정을 개략적으로 나타낸 구성도이다.
도 2는 도 1에 도시된 디스플레이 셀 검사 방법을 수행하는 분광 검사 장치를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 셀 검사 방법을 설명하기 위한 개략적인 순서도이다.
도 4는 도 2에 도시된 분광 검사 장치에서 도 3에 도시된 디스플레이 셀 검사 방법을 수행하는 공정 과정을 개략적으로 나타낸 구성도이다.
이하, 본 발명의 실시예들은 첨부 도면들을 참조하여 상세하게 설명된다. 그러나, 본 발명은 하기에서 설명되는 실시예들에 한정된 바와 같이 구성되어야만 하는 것은 아니며 이와 다른 여러 가지 형태로 구체화될 수 있을 것이다. 하기의 실시예들은 본 발명이 온전히 완성될 수 있도록 하기 위하여 제공된다기보다는 본 발명의 기술 분야에서 숙련된 당업자들에게 본 발명의 범위를 충분히 전달하기 위하여 제공된다.
본 발명의 실시예들에서 하나의 요소가 다른 하나의 요소 상에 배치되는 또는 연결되는 것으로 설명되는 경우 상기 요소는 상기 다른 하나의 요소 상에 직접 배치되거나 연결될 수도 있으며, 다른 요소들이 이들 사이에 개재될 수도 있다. 이와 다르게, 하나의 요소가 다른 하나의 요소 상에 직접 배치되거나 연결되는 것으로 설명되는 경우 그들 사이에는 또 다른 요소가 있을 수 없다. 다양한 요소들, 조성들, 영역들, 층들 및/또는 부분들과 같은 다양한 항목들을 설명하기 위하여 제1, 제2, 제3 등의 용어들이 사용될 수 있으나, 상기 항목들은 이들 용어들에 의하여 한정되지는 않을 것이다.
본 발명의 실시예들에서 사용된 전문 용어는 단지 특정 실시예들을 설명하기 위한 목적으로 사용되는 것이며, 본 발명을 한정하기 위한 것은 아니다. 또한, 달리 한정되지 않는 이상, 기술 및 과학 용어들을 포함하는 모든 용어들은 본 발명의 기술 분야에서 통상적인 지식을 갖는 당업자에게 이해될 수 있는 동일한 의미를 갖는다. 통상적인 사전들에서 한정되는 것들과 같은 상기 용어들은 관련 기술과 본 발명의 설명의 문맥에서 그들의 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석될 것이며, 명확히 한정되지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 외형적인 직감으로 해석되지는 않을 것이다.
본 발명의 실시예들은 본 발명의 이상적인 실시예들의 개략적인 도해들을 참조하여 설명된다. 이에 따라, 상기 도해들의 형상들로부터의 변화들, 예를 들면, 제조 방법들 및/또는 허용 오차들의 변화는 충분히 예상될 수 있는 것들이다. 따라서, 본 발명의 실시예들은 도해로서 설명된 영역들의 특정 형상들에 한정된 바대로 설명되어지는 것은 아니라 형상들에서의 편차를 포함하는 것이며, 도면들에 설명된 요소들은 전적으로 개략적인 것이며 이들의 형상은 요소들의 정확한 형상을 설명하기 위한 것이 아니며 또한 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것도 아니다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 셀 검사 방법을 설명하기 위한 개략적인 순서도이고, 도 2는 도 1에 도시된 디스플레이 셀 검사 방법을 수행하는 분광 검사 장치를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 셀 검사 방법은, 먼저, 분광 검사 장치(100)는 기판(10) 상에 형성된 복수의 디스플레이 셀(12) 중 어느 하나에 기 설정된 점등 신호를 인가하여 해당 디스플레이 셀을 점등시킨다(단계 S110). 여기서, 상기 디스플레이 셀들(12)은 OLED 셀들일 수 있으며, 상기 기판(10) 상에 어레이 형태로 배치될 수 있다.
상기 디스플레이 셀을 점등시키는 단계(110)를 구체적으로 살펴보면 다음과 같다. 먼저, 상기 분광 검사 장치(100)의 점등 편차 보정부(130)는 상기 디스플레이 셀들(12) 중 어느 하나를 기준 디스플레이 셀로 설정한다(단계 S112). 본 발명의 일례로, 상기 기준 디스플레 셀은 상기 디스플레이 셀들 중 첫번째 디스플레이 셀이 설정될 수 있다.
이어, 상기 분광 검사 장치(100)의 신호 생성부(110)가 상기 기 설정된 점등 신호를 상기 기준 디스플레이 셀에 인가하여 상기 기준 디스플레이 셀을 점등시킨다(단계 S114).
한편, 단계 S110에 이어, 상기 기준 디스플레이 셀이 점등되면, 상기 분광 검사 장치(100)의 분광기(120)가 상기 기준 디스플레이 셀의 색좌표를 1차 측정한다(단계 S120). 여기서, 상기 분광기(120)는 상기 기준 디스플레이 셀의 중심 지점의 색좌표를 측정할 수 있다.
상기 1차 측정된 상기 기준 디스플레이 셀의 색좌표 값이 기 설정된 허용 범위를 벗어나는 경우, 상기 분광 검사 장치(100)는 상기 점등 신호를 기 설정된 신호 범위 내에서 변화시키면서 상기 기준 디스플레이 셀의 색좌표를 재측정한다(단계 S130). 구체적으로, 상기 점등 편차 보정부(130)는 상기 분광기(120)로부터 상기 1차 측정된 상기 기준 디스플레이 셀의 색좌표 값을 수신하고, 수신된 색좌표 값이 상기 기 설정된 허용 범위를 벗어나는지 비교한다. 비교 결과, 상기 수신된 색좌표 값이 상기 기 설정된 허용 범위를 벗어난 경우 상기 점등 편차 보정부(130)는 상기 신호 생성부(110)를 제어하여 상기 점등 신호를 기 설정된 신호 범위 내에서 변화시키면서 상기 기준 디스플레이 셀에 인가하고, 상기 분광기(120)는 상기 점등 신호의 변화되는 값에 대응하여 상기 기준 디스플레이 셀의 색좌표를 재측정한다.
이어, 상기 점등 편차 보정부(130)는 상기 재측정한 상기 기준 디플레이 셀의 색좌표 값이 상기 허용 범위 내에 포함되는 경우 그에 대응하는 상기 점등 신호의 변화된 값에 기초하여 상기 기 설정된 점등 신호를 보정한다(단계 S140).
이어, 상기 분광 검사 장치(100)는 상기 보정된 점등 신호를 상기 디스플레이 셀들(12) 중 상기 기준 디스플레이 셀을 제외한 나머지 디스플레이 셀들에 인가하여 상기 나머지 디스플레이 셀들을 검사한다(단계 S150). 즉, 상기 점등 편차 보정부(130)는 보정된 점등 신호 값을 상기 신호 생성부(110)에 전송하고, 상기 신호 생성부(110)는 상기 점등 신호를 보정된 값으로 변경하여 상기 나머지 디스플레이 셀들에 인가한다.
이와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 셀 검사 방법은 1차 측정된 디스플레이 셀(12)의 색좌표 값이 기 설정된 허용 범위를 벗어난 경우 상기 점등 신호를 변화시키면서 색좌표를 재측정함으로써, 상기 디스플레이 셀(12)의 점등 편차를 보정하고 상기 디스플레이 셀(12)의 하드웨어적 특성을 고려하여 분광 검사를 실시할 수 있다. 이에 따라, 디스플레이 셀(12)의 화질 불량을 정확하게 검출할 수 있으므로, 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
또한, 상기 디스플레이 셀 검사 방법은 상기 디스플레이 셀들(12) 중 어느 하나를 상기 기준 디스플레이 셀로 선택하여 상기 기준 디스플레이 셀을 대상으로 전등 편차 보정을 수행한 후에 나머지 셀들에 대한 분광 검사를 실시한다. 이에 따라, 상기 디스플레이 셀들의 분광 검사를 보다 신속하고 정확하게 할 수 있다.
이하, 상기 분광 검사 장치(100)가 대면적 디스플레이 셀에 대한 분광 검사를 하는 과정에 대해 구체적으로 설명한다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 셀 검사 방법을 설명하기 위한 개략적인 순서도이고, 도 4는 도 2에 도시된 분광 검사 장치에서 도 3에 도시된 디스플레이 셀 검사 방법을 수행하는 공정 과정을 개략적으로 나타낸 구성도이다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 셀 검사 방법은 도 4에 도시된 것처럼 도 1에 도시된 디스플레이 셀 검사 방법이 적용되는 디스플레이 셀보다 큰 대면적의 디스플레이 셀(22)에 적용될 수 있다.
구체적으로, 상기 디스플레이 셀 검사 방법은 먼저, 상기 점등 편차 보정부(130)는 기판(20) 상에 형성된 상기 디스플레이 셀(22)에서 색좌표를 검사하기 위한 복수의 측정 포인트를 설정한다(단계 S210). 여기서, 상기 복수의 측정 포인트는 상기 디스플레이 셀(22)의 중심 지점을 포함하며, 상기 디스플레이 셀(22)의 중심 지점을 기준으로 좌우 및/또는 상하에 위치하는 임의의 지점들이 상기 측정 포인트로 설정될 수 있다.
이어, 상기 신호 생성부(110)가 상기 기 설정된 점등 신호를 상기 디스플레이 셀(22)에 인가하여 상기 디스플레이 셀(22)을 점등시킨다(단계 S220).
이어, 상기 분광기(120)가 상기 디스플레이 셀(22)의 중심 지점의 색좌표를 1차 측정한다(단계 S230).
상기 1차 측정된 상기 디스플레이 셀(22)의 색좌표 값이 기 설정된 허용 범위를 벗어나는 경우, 상기 분광 검사 장치(100)는 상기 점등 신호를 기 설정된 신호 범위 내에서 변화시키면서 상기 디스플레이 셀(22)의 중심 지점의 색좌표를 재측정한다(단계 S240). 구체적으로, 상기 점등 편차 보정부(130)는 상기 분광기(120)로부터 상기 1차 측정된 색좌표 값을 수신하고, 수신된 색좌표 값이 상기 기 설정된 허용 범위를 벗어나는지 비교한다. 비교 결과, 상기 수신된 색좌표 값이 상기 기 설정된 허용 범위를 벗어난 경우 상기 점등 편차 보정부(130)는 상기 신호 생성부(110)를 제어하여 상기 점등 신호를 기 설정된 신호 범위 내에서 변화시키면서 상기 디스플레이 셀(22)에 인가하고, 상기 분광기(120)는 상기 점등 신호의 변화되는 값에 대응하여 상기 디스플레이 셀(22)의 중심 지점의 색좌표를 재측정한다.
이어, 상기 점등 편차 보정부(130)는 상기 재측정한 상기 디플레이 셀(22)의 색좌표 값이 상기 허용 범위 내에 포함되는 경우 그에 대응하는 상기 점등 신호의 변화된 값에 기초하여 상기 기 설정된 점등 신호를 보정한다(단계 S250).
이어, 상기 분광 검사 장치(100)는 상기 보정된 점등 신호를 상기 디스플레이 셀(22)에 인가하여 상기 디스플레이 셀(22)의 측정 포인트들 중 상기 디스플레이 셀(22)의 중심 지점을 제외한 나머지 측정 포인트들 검사한다(단계 S260). 구체적으로, 상기 점등 편차 보정부(130)는 보정된 점등 신호 값을 상기 신호 생성부(110)에 전송하고, 상기 신호 생성부(110)는 상기 점등 신호를 보정된 값으로 변경하여 상기 디스플레이 셀(22)에 인가한다. 이어, 상기 분광기(120)가 상기 디스플레이 셀(22)의 중심 지점을 제외한 나머지 측청 포인트들에 대해 색좌표를 측정한다.
이와 같이, 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 셀 검사 방법은 대면적 디스플레이 셀(22)의 중심 지점의 색좌표 값을 이용하여 점등 편차를 보정함으로써, 상기 디스플레이 셀(22)의 하드웨어적 특성을 고려하여 분광 검사를 실시할 수 있다. 특히, 상기 디스플레이 셀 검사 방법은 상기 디스플레이 셀(22)의 색좌표 측정 포인트를 복수로 설정하여 측정하고, 보정된 점등 신호를 인가하여 상기 중심 지점 이외의 측정 포인트들에 대한 색좌표를 측정한다. 이에 따라, 대면적 디스플레이 셀(22)에 대한 검사 신뢰도를 향상시키고, 검사 시간을 단축시킬 수 있다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100 : 분광 검사 장치
110 : 신호 생성부
120 : 분광기 130 : 점등 편차 보정부
120 : 분광기 130 : 점등 편차 보정부
Claims (6)
- 기판에 형성된 디스플레이 셀에 기 설정된 점등 신호를 인가해 상기 디스플레이 셀을 점등시키는 단계;
상기 기 설정된 점등 신호에 대응하는 상기 디스플레이 셀의 색좌표를 1차 측정하는 단계;
상기 1차 측정된 상기 디스플레이 셀의 색좌표 값이 기 설정된 허용 범위를 벗어나는 경우 상기 점등 신호를 기 설정된 신호 범위 내에서 변화시키면서 상기 디스플레이 셀의 색좌표를 재측정하는 단계; 및
상기 재측정한 상기 디스플레이 셀의 색좌표 값이 상기 허용 범위 내에 포함되는 경우 그에 대응하는 상기 점등 신호의 변화된 값에 기초하여 상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 셀 검사 방법. - 제1항에 있어서,
상기 디스플레이 셀은 상기 기판 상에 복수로 형성되며,
상기 기 설정된 점등 신호를 인가하여 상기 디스플레이 셀을 점등시키는 단계는,
상기 복수의 디스플레이 셀 중에서 적어도 어느 하나를 기준 디스플레이 셀로 설정하는 단계; 및
상기 기 설정된 점등 신호를 인가하여 상기 기준 디스플레이 셀을 점등시키는 단계를 포함하고,
상기 디스플레이 셀의 색좌표를 1차 측정하는 단계와 상기 디스플레이 셀의 색좌표를 재측정하는 단계 및 상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계는 상기 기준 디스플레이 셀을 대상으로 하여 실시하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 셀 검사 방법. - 제2항에 있어서,
상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계 이후에,
상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계에서 보정된 점등 신호를 상기 디스플레이 셀들 중 상기 기준 디스플레이 셀을 제외한 나머지 디스플레이 셀들에 인가하여 상기 디스플레이 셀들의 색좌표를 측정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 셀 검사 방법. - 제2항에 있어서,
상기 디스플레이 셀들은 상기 기판 상에 어레이 형태로 형성되며,
상기 디스플레이 셀들 중 첫 번째 디스플레이 셀이 상기 기준 디스플레이 셀로 설정되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 셀 검사 방법. - 제1항에 있어서,
상기 디스플레이 셀에 상기 기 설정된 점등 신호를 인가하는 단계 이전에,
상기 디스플레이 셀에서 상기 색좌표를 검사하기 위한 복수의 측정 포인트를 설정하되 상기 복수의 측정 포인트는 상기 디스플레이 셀의 중심 지점을 포함하도록 설정되는 단계를 더 포함하고,
상기 디스플레이 셀의 색좌표를 1차 측정하는 단계와 상기 디스플레이 셀의 색좌표를 재측정하는 단계는 상기 디스플레이 셀의 중심 지점의 색좌표를 측정하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 셀 검사 방법. - 제5항에 있어서,
상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계 이후에,
상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계에서 보정된 점등 신호를 상기 디스플레이 셀에 인가하여 상기 측정 포인트들 중 상기 디스플레이 셀의 중심 지점을 제외한 나머지 측정 포인트들의 색좌표를 측정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 셀 검사 방법.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| KR1020160056126A KR102225630B1 (ko) | 2016-05-09 | 2016-05-09 | 디스플레이 셀 검사 방법 |
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| KR1020160056126A KR102225630B1 (ko) | 2016-05-09 | 2016-05-09 | 디스플레이 셀 검사 방법 |
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|---|---|
| KR20170126128A true KR20170126128A (ko) | 2017-11-17 |
| KR102225630B1 KR102225630B1 (ko) | 2021-03-12 |
Family
ID=60808222
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| KR1020160056126A KR102225630B1 (ko) | 2016-05-09 | 2016-05-09 | 디스플레이 셀 검사 방법 |
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| KR (1) | KR102225630B1 (ko) |
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|---|---|---|---|---|
| KR102045940B1 (ko) | 2019-05-21 | 2019-11-18 | (주)케이테크놀로지 | 평판 디스플레이 액정 셀의 에지 검사방법 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20080042494A (ko) * | 2006-11-10 | 2008-05-15 | 삼성전자주식회사 | 영상투사장치 및 그 제어방법 |
| KR101449603B1 (ko) | 2013-01-16 | 2014-10-13 | 전광섭 | 조명 검사 장치 |
| KR20150144395A (ko) * | 2014-06-16 | 2015-12-28 | 세메스 주식회사 | 디스플레이 셀들의 검사 방법 |
-
2016
- 2016-05-09 KR KR1020160056126A patent/KR102225630B1/ko active IP Right Grant
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| PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20160509 |
|
| PG1501 | Laying open of application | ||
| A201 | Request for examination | ||
| PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20191014 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20160509 Comment text: Patent Application |
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|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
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|
| PR0701 | Registration of establishment |
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