KR100670219B1 - 광학 주사장치 - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 제 1 개구수의 방사빔을 갖는 제 1 형태의 광 기록매체와 제 2 개구수의 방사빔을 갖는 다른 제 2 형태의 광 기록매체를 주사하기 위한 광학 장치에 관한 것으로, 하나의 광축을 갖는 방사빔을 공급하는 방사원과, 방사빔을 초점 빔에 수속하여 주사될 기록매체 상에 스폿(spot)을 형성하는 광학계를 포함한다.
광 기록매체에 기억될 수 있는 정보량은, 기록매체의 정보층 위에 그 주사장치에 의해 형성된 방사 스폿(spot)의 크기에 의해 특히 의존한다. 이 스폿의 크기를 감소시킴으로써 정보 밀도 및 이에 따라 기억된 정보량을 증가시킬 수 있다. 이때의 스폿 크기는, 스폿을 형성하는 방사빔의 개구수를 증가시킴으로써 감소시킬 수 있다.
상기와 같은 형태의 광학 장치는 유럽 특허 출원번호 0762398에 공지되어 있다. 이러한 장치의 광학 헤드에 있는 대물 렌즈는 방사원으로부터의 방사빔을 기록매체 상의 스폿에 초점을 맞춘다. 방사원과 대물 렌즈 사이에 위치가 결정된 조정 가능한 조리개는 방사빔의 개구수를 주사될 상기 형태의 기록매체에 적합하게 한다. 이 조리개는 전기적으로 동작되는 액정 셔터(shutter)의 형태이다. 이 셔터는 제 1 형태의 기록매체를 주사할 경우 입사되는 방사빔의 중앙 부분만을 투과시키고 제 2 형태의 기록매체를 주사할 경우 전체 방사빔을 투과시킴에 따라, 기록매체에 입사되는 방사빔의 개구수를 변화시킨다. 이러한 셔터의 단점은, 중앙 부분과 셔터 주위의 환상 부분에 있는 셔터의 광학 특성들이 다르기 때문에 투과 방사빔의 파면 품질에 영향을 미친다는 것이다. 다른 단점은, 이 셔터가 광학 소자로 구성되어 광학 주사장치의 제조 비용을 증가시킨다는 것이다.
본 발명의 목적은, 상기 단점들을 해결하기 위한 주사장치를 제공하는데 있다.
본 발명에 따른 이러한 목적은 서두에서 설명한 것과 같은 주사장치에 의해 달성되고, 이 주사장치는 광학계가 광축 상에 다른 위치에 있는 제 1 고정 스톱(stop)과 제 2 고정 스톱을 포함하고, 그 제 1 및 제 2 고정스톱이 제 1 및 제 2 개구수를 각각 결정하는 것을 특징으로 한다. 이 고정 스톱들은 스톱들에 의해 투과된 파면의 품질에 영향을 미치지 않고, 광 경로의 다른 소자들, 예를 들면 중앙 구경이 렌즈의 표면에 적용된 불투명 코팅의 형태로 용이하게 일체화 될 수 있다. 다른 형태의 기록매체 사이에 변화가 있을 경우, 광학 헤드에 있는 광학 특성들 또는 하나 이상의 소자들의 위치가 변화되어 기록매체 상에 적절한 스폿을 얻을 것이다. 이러한 변화들은, 스폿의 축방향 위치의 변화를 허용하기 위한 대물 렌즈의 축방향 위치의 변화, 광학 헤드에 있는 소자들의 상호 거리의 변화 또는 파장의 변화를 포함한다. 이와 같은 변화들은 제 1 및 제 2 형상 사이의 광학 부품들을 통해 방사빔의 형상을 변화시킨다. 또 제 1 및 제 2 고정스톱이 광학 헤드의 적합한 위치에 배치될 경우, 제 1 고정스톱은 제 1 형상을 가질 때의 방사빔의 지름을 제한하고, 또한 제 2 고정스톱은 제 2 형상을 가질 때의 방사빔의 지름을 제한한다. 광학 헤드가 2개 이상의 방사원과 빔 조합 소자로 구성되어 방사원의 방사빔이 공통 광 경로 상에 발생할 경우, 제 1 및 제 2 고정스톱은 그 공통 경로에 위치한다.
주사장치의 바람직한 실시예에서, 제 2 고정스톱은 초점 빔의 경로에 배치되고 제 2 개구수는 제 1 개구수에 비해 작다. 반직관적으로, 제 2 고정스톱은 보다 작은 개구수로 결정되고 보다 큰 개구수에 영향을 미치지 못한다.
특별한 실시예에서, 광학계는 제 1 및 제 2 광학 부품을 갖는 대물계를 구비하고, 이 제 1 광학 부품은 제 2 광학 부품보다 방사원으로부터 더욱 멀리 떨어져 있다. 이 대물계는 높은 개구수 빔의 초점을 맞추는데 적합하다. 이때의 제 2 고정 스톱은 바람직하게는 제 1 광학 부품 상에 배치된 조리개이다.
본 발명의 목적들, 장점들 및 특징들은, 첨부 도면들에 설명된 것과 같이 본 발명의 다음의 더욱 상세한 설명으로부터 명백해질 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 주사장치를 나타낸 것이다.
도 2는 다른 개구수 NA의 값과 기록매체의 투명층의 두께를 갖는 두 가지의 경우 기록매체에 매우 근접한 렌즈 표면의 방사빔의 반경 r을 기록매체 위의 표면의 높이 h의 함수로 나타낸 것이다.
도 3a 및 3b는 제 1 및 제 2 형태의 기록매체를 주사할 때 방사빔의 광선들을 나타낸 것이다.
도 4a 및 4b는 평면 볼록 렌즈 상의 고정 스톱의 두 가지 실시예를 나타낸 것이다.
도 1은 적어도 2가지 다른 형태의 광 기록매체를 주사하기 위한 장치를 나타낸다. 이 도면은 제 1 형태의 광 기록매체(1)를 나타낸 것이다. 이 기록매체는 정보층(3)이 형성된 일 측면 위에 투명층(2)을 구비한다. 이 투명층과 따로 대향한 정보층의 측면은 보호층(4)에 의해 환경 오염으로부터 보호된다. 이 장치에 대향한 투명층의 측면은 입사면(5)이라 칭한다. 이 투명층(2)은 정보층에 대해 기계적 지지부를 제공함으로써 기록매체용 지지부로서 동작한다. 또한, 이 투명층은 정보층을 보호하기 위한 유일한 기능을 가지면서, 이 기계적 지지부는 정보층의 다른 측면의 층, 예를 들면 보호층(4) 또는 그 이상의 정보층과 그 정보층(3)에 접속된 그 이상의 투명층으로 구성한다. 정보는, 거의 평행하게 배치된 광학적으로 검출 가능한 마크들, 도면에 미 도시된 동심원 또는 나선형의 트랙들의 형태로 기록매체의 정보층(3)에 저장된다. 이 마크들은 임의의 광학적으로 판독 가능한 형태, 예를 들면 피트들, 또는 반사 계수 또는 그들의 주위와는 다른 자화 방향을 갖는 영역의 형태, 또는 이들 형태의 조합일 수도 있다.
이 주사장치는 예를 들면 반도체 레이저, 발산 방사빔(7)을 방출하는 방사원(6)을 구비한다. 빔 스플리터(8), 예를 들면 반투명 판은, 렌즈계를 향한 방사선을 반사한다. 이 렌즈계는 시준 렌즈(9), 대물 렌즈(10) 및 볼록 렌즈(11)를 구비한다. 이때의 시준 렌즈(9)는 발산 방사빔(7)을 시준 빔(12)으로 변화시킨다. 광축(13)을 갖는 대물 렌즈(10)는, 그 시준 방사빔(12)을 그 렌즈(11)에 입사되는 수렴 빔(14)으로 변환한다. 이때, 시준 렌즈(9)와 대물 렌즈(10)를 단일 렌즈로 조합할 수도 있다. 이 평면 볼록 렌즈(11)는 그 입사 빔(14)을 수렴 빔(15)으로 바꾸어서, 정보층(3) 위에 스폿(16)을 맞춘다. 또한, 이 평면 볼록 렌즈(11)는 볼록 면과 평면을 갖는다. 이때의 평면은 투명층(2)과 대향하고 렌즈와 이 투명층 사이에 갭을 형성한다. 또 이 평면은 약간 볼록일 수도 있는데, 광 작용에 거의 영향을 미치지 않을 뿐만 아니라 렌즈 10 및/또는 11이 입사면(5) 위의 공기 베어링 상에 부착된 슬라이더에 삽입될 때 광학 헤드의 보다 나은 공기역학적 작용을 제공한다. 이때 대물 렌즈(10)를 단일 부품으로서 도면에 나타내었지만, 이 대물 렌즈(10)는 더 많은 부품들을 구비할 수도 있고, 또한 투과 또는 반사시에 동작하는 홀로그램, 또는 방사빔을 전송하는 도파관으로부터 나온 방사빔과 결합하기 위한 격자를 구비할 수도 있다. 정보층(3)에 의해 반사된 수렴 빔(15)의 방사는 반사 빔(17)을 형성하여, 전방 방향 수렴 빔(14)의 광 경로로 되돌아간다. 이때의 대물 렌즈(10)와 시준 렌즈(9)는, 그 반사 빔(17)을 수렴하는 반사 빔(18)으로 변환하고, 빔 스플리터(8)는 검출계(19)를 향하는 적어도 반사 빔(18)의 부분을 투과시킴으로써 반사 빔을 전방 방향으로 분리한다. 이 검출계는 방사 빔을 검출하여 이것을 하나 이상의 전기신호들로 변환한다. 이들 신호 중의 하나는 정보층(3)으로부터 판독한 정보를 나타내는 값이다. 다른 신호는, 스폿(16)과 정보층(3) 사이에 축 방향 높이의 차이를 나타내는 초점 오차신호(21)이다. 이 초점 오차신호는, 대물 렌즈(10) 및/또는 평 면 볼록 렌즈(11)의 축 방향 위치를 제어하는 초점 서보 제어기(22)용 입력으로서 사용됨에 따라서, 스폿(16)의 축 방향 위치를 제어하여서 정보층(3)의 평면과 거의 일치한다. 하나 이상의 방사선에 감도를 갖는 검출 소자들과 그 검출소자들의 출력신호를 처리하는 전자회로를 포함한 검출계의 부분은, 초점 오차 검출계로서 언급된 초점 오차를 발생하는데 사용된다. 렌즈계의 위치를 결정하기 위한 초점 서보계는 초점 오차 검출계, 초점 서보 제어기 및 그 렌즈계를 구동하기 위한 액추에이터를 구비한다.
갭, 즉 렌즈(11)의 평면과 기록매체(1)의 입사면(5) 사이의 거리는, 거의 아주 적은 값을 유지해야 한다. 이는, 수동 공기 베어링 구조 반송 렌즈(11)를 사용함으로써 달성될 수 있고 아주 적은 값의 갭을 유지하도록 설계될 수 있다. 또한, 갭의 아주 적은 값으로부터 실제 갭의 편차를 나타내는 광학적 구동 오차 신호를 사용하는 것이 가능하여, 특정 액추에이터는, 그 액추에이터 서보 루프용 입력신호로서 그 오차 신호를 사용함으로써 그 평면 볼록 렌즈가 투명층으로부터 전술한 거리를 유지하도록 한다. 그 렌즈(10)의 액추에이터는, 정보층(3) 위에 스폿(16)을 유지하기 위해 초점 오차 신호(21)에 의해 제어된다.
기록매체 상에 비교적 일정한 두께의 투명층을 갖는 기록매체들에 적합한 다른 바람직한 실시예에서는, 렌즈 10과 11 사이의 거리를 고정하고, 두 렌즈의 조합의 축방향 위치를 초점 오차 신호에 의해 제어한다.
또 다른 실시예에서, 렌즈 10과 11의 축방향 위치는 초점 오차 신호와 기록매체로부터 오는 현재 빔의 구면 수차를 나타낸 신호에 의해 제어된다. 아주 적은 두께의 투명층(2)과 같은 층의 통과로 인한 구면 수차는 대물 렌즈(10) 및/또는 평 면 볼록 렌즈(11)에서 적합한 설계로 바람직하게 보상된다. 아주 적은 값의 두께의 편차에 의해 일어난 구면 수차는 바람직하게 렌즈 10과 11 사이의 거리의 대응 변화에 의해 보상된다. 이때의 거리는 구면 수차를 나타낸 신호에 의해 제어되어, 그 기록매체로부터 오는 방사빔에 배치된 검출기에 의해 결정할 수 있다.
또한, 도 1은 제 2 형태의 기록매체(25)를 나타낸다. 이 기록매체는 제 1 형태의 기록매체(1)의 투명층(2)보다 두꺼운 두께를 갖는 투명층(26)을 구비한다. 기록매체(25)의 정보층(27)은 제 1 형태의 기록매체의 정보층(3)보다 낮은 정보 밀도를 가질 수도 있다. 그 투명층과 따로 대향한 정보층의 측면은 보호층(28)에 의해 환경 오염으로부터 보호된다. 정보층 3에서 정보층 27로 주사가 변화할 때, 대물 렌즈(10)의 위치는 정보층에 더 근접하게 구성되어 스폿(16)을 정보층(27) 상에 위치 결정한다. 투명층(26)의 두께가 다르면 방사빔의 구면 수차를 일으킨다. 대물 렌즈(10)와 평면 볼록 렌즈(11) 사이의 거리가 설계 거리로 변화할 때, 평면 볼록 렌즈는 배율 변화로 인하여 방사빔의 상당한 양의 구면 수차를 일으킨다. 이 거리의 적절한 감소로 투명층(27)의 다른 두께로 인한 구면 수차를 보상한다.
또한, 그 투명층(27)의 두께의 작은 변화로 일어난 구면 수차는 대물 렌즈(10)와 평면 볼록 렌즈(11) 사이의 거리를 변화시켜서 보상할 수도 있다. 검출계(19)에 의해 구면 수차의 측정값은 기록매체로부터 오는 방사빔의 구면 수차를 나타내는 전기 신호를 제공한다. 이 신호를 상기 두 렌즈들 사이의 거리를 제어하는 서보계용 입력으로서 사용할 수 있다. 대물 렌즈의 초점 맞춤 동작 동안, 그 갭은 상기 언급한 방법으로 거의 아주 적은 값으로 유지해야 한다. 투명층의 두께에 의존하는 구면 수차의 제어는 다른 형태의 기록매체들 사이의 개구수를 변화시키는 방법에 관계없이 임의의 광 기록매체용 주사장치에 이용할 수 있다.
도 2는 두 가지 형태의 기록매체용 기록매체에 대향한 평면 볼록 렌즈(11)의 렌즈 표면의 방사빔의 반경을 기록매체의 입사면 위의 평면 볼록 렌즈(11)의 평면의 높이 h의 함수로 나타낸 것이다. 도면에서 파선은 0.1mm 두께의 투명층을 갖는 제 1 형태의 기록매체를 나타내고 0.85의 개구수 NA를 갖는 빔으로 주사된다. 연속선은 0.6mm의 투명층 두께 d를 갖는 제 2 형태의 기록매체를 나타내고 0.60의 개구수를 갖는 빔으로 주사된다. 이 주사장치의 특정한 실시예의 경우, 높이는 0.1mm 두께의 투명층보다 위인 0.1mm이고, 0.6mm 두께를 갖는 투명층의 경우에 그 높이는 0.051mm이다. 평면에서 방사빔의 반경은 0.85 개구수인 경우 0.22mm이고, 0.60의 개구수에 대하여 0.29mm라는 것을 도 2로부터 얻을 수 있다. 따라서, 평면에서의 빔 지름은 NA=0.60인 경우 보다 NA=0.85인 경우가 더 작다.
도 3a는 도 2의 파선에 해당하는 제 1 형태의 기록매체의 경우에 대물 렌즈(10)와 평면 볼록 렌즈(11)를 가로지르는 방사빔(15)의 광선들(30)을 나타낸다. NA=0.85인 경우에, 개구수는 대물 렌즈(10) 근처 또는 위의 고정스톱(33)에 의해 제한된다. 이 고정스톱은, 대물 렌즈(10)용 홀더의 부분을 구성하는 불투명 링으로 정의할 수도 있다. 또한, 이 고정스톱은 대물 렌즈(10)의 두 개의 표면 중 하나에 부착된 투명 개구를 갖는 불투명 코팅에 의해 제한될 수도 있다.
도 3b는 도 2의 연속선에 해당하는 제 2 형태의 기록매체(25)의 경우에 방사빔(15)의 광선들을 나타낸다. NA=0.85인 경우의 고정스톱의 평면에서의 방사빔의 지름과 동일한 평면(31) 위 또는 근처의 고정스톱은 방사빔의 개구수를 제한할 것이다. 이때의 고정스톱은 도면에서 굵은 선(32)으로 나타낸다. 도 3a의 상황과 비교하여, 양 렌즈 10과 11의 위치는, 보다 두꺼운 투명층(26)의 두께로 인해 생성된 구면 수차의 변화에 대해 보정되는 정보층(27) 상에 형성하도록 조정된다.
도 3a 및 도 3b는 투명층의 두께가 변화될 때 평면(31)에서의 방사빔의 지름의 변화를 설명한다. 평면에서의 NA=0.85빔의 지름이 NA=0.60빔의 지름보다 작기 때문에, 고정스톱(32)은 개구수 NA=0.85 방사빔에 영향을 미치지 않을 것이다. 도 3a 및 도 3b는 제 1 형태의 기록매체(1)를 주사할 때 제 1 고정스톱(33)으로 방사빔(15)의 개구수를 제한하고, 제 2 형태의 기록매체(25)를 주사할 때 제 2 고정스톱(32)으로 방사빔(15)의 개구수를 제한하는 것을 나타낸다.
도 4는 평면 볼록 렌즈(11)의 두 가지 실시예를 나타낸다. 도 4a에서, 렌즈는 평면(31) 근처의 스톱으로서 효과적인 원형 개구(36)를 갖는 렌즈 홀더(35)에 고정된다. 도 4b에서 렌즈는 평면(31) 근처의 비교적 큰 개구를 갖는 렌즈 홀더(37)에 고정된다. 투명 개구(39)를 갖는 평면(31)의 불투명 코팅(38)은 스톱으로서 동작한다. 이 개구 36과 39는 비원형 대칭 스폿(16)을 얻기 위해 타원형 형상과 같은 원형 또는 임의의 다른 형상일 수도 있다.
특정 광학 헤드에 대한 2개의 고정스톱의 정확한 위치는, 도 2에 도시된 그래프처럼, 주사될 기록매체의 형태에 따라 조정되는 광학 부품의 위치의 함수로서 빔 반경의 그래프로부터 알 수 있다는 것이 명백하다. 이 그래프는, 광축의 일련의 위치들로 구성되어, 제 1 형태의 기록매체에 대한 빔 반경이 제 2 형태의 기록매체의 빔 반경 보다 큰 위치와 제 2 형태의 기록매체에 대한 빔 반경이 제 1 형태의 기록매체에 대한 빔 반경 보다 큰 위치를 알게 한다.
Claims (4)
- 하나의 광축을 갖는 방사빔을 공급하는 방사원과, 주사되는 기록매체 상에 스폿을 형성하기 위하여 방사빔을 초점 빔으로 수속하는 광학계를 구비하고, 제 1 개구수를 갖는 방사빔으로 제 1 형태의 광 기록매체를 주사하고, 제 2 개구수를 갖는 방사빔으로 다른 제 2 형태의 광 기록매체를 주사하는 광학 주사장치에 있어서,상기 광학계는 광축에 대하여 측면 방향에 고정된 제 1 고정스톱과, 상기 광축 상의 다른 위치에서 상기 광축에 대하여 측면 방향에 고정된 제 2 고정스톱을 갖고, 상기 제 1 과 제 2 고정스톱은 각각 제 1 및 제 2 개구수를 결정하는 것을 특징으로 하는 광학 주사장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 제 2 고정스톱은 초점 빔의 경로에 배치되고, 상기 제 2 개구수는 상기 제 1 개구수보다 작은 것을 특징으로 하는 광학 주사장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 광학계는 제 1 및 제 2 광학 부품을 갖는 대물계를 포함하고, 상기 제 1 광학 부품은 제 2 광학부품보다 방사원으로부터 더욱 멀리 떨어져 있는 것을 특징으로 하는 광학 주사장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 제 2 고정스톱은 상기 제 1 광학 부품상에 배치된 조리개인 것을 특징으로 하는 광학 주사장치.
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