KR20050006034A - 빔 결합을 위한 미세-광학장치를 가진 광 스캐너 - Google Patents

빔 결합을 위한 미세-광학장치를 가진 광 스캐너 Download PDF

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톰슨 라이센싱 소시에떼 아노님
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Abstract

본 발명은 두 광빔(2a, 2b)을 결합하는 미세-광학 요소(8)를 구비하는 광 스캐너에 관한 것이다.
본 발명에 따라, 광스캐너는, 광검출기(9) 상에 두 빔 소스(1)에 의해 방출되는 두 광빔(2a, 2b)을 결합하기 위하여 사용되며 두 부분을 가지는 미세-광학 요소(8)로서, 제 1 부분은 제 1 광빔(2a)에 영향을 끼치고 제 2 부분은 제 2 광빔(2b)에 영향을 끼치는, 미세-광학 요소(8)를 구비한다.

Description

빔 결합을 위한 미세-광학장치를 가진 광 스캐너{OPTICAL SCANNER WITH MICRO-OPTICS FOR BEAM COMBINATION}
본 발명은 두 광빔을 결합하기 위한 미세-광학 요소를 가지는 광 스캐너에 관한 것이며 또한 이러한 광 스캐너를 가지는 광 기록 매체 판독 및/또는 기록 장치에 관한 것이다.
여러 타입의 광 기록 매체에 대해 적합한 광 기록 매체 판독 및/또는 기록 장치는, 종종 상이한 파장을 가지는 광빔들을 방출하는 복수의 빔 소스들을 요구한다. 예를 들면 DVD(Digital versatile disc: 디지털 다기능 디스크) 판독 및/또는 기록 장치가 있는데, 이 장치는 통상적으로 CD(compact disc: 콤팩트 디스크)를 재생할 수 있다. DVD에 대해서는 650㎚ 의 파장이 사용되는 반면에, CD는 780 ㎚ 의 파장으로 판독된다. 예컨대 405 ㎚ 의 파장으로 동작하는 청색-선 디스크(Blu-Ray Disc)와 같은, 더 짧은 파장으로 동작하는 광 드라이브의 개발도 역시, 미래에 복수의 빔 소스들의 사용을 필요로 할 것이다.
많은 장치들은 서로 다른 파장을 생성시키기 위하여 개별적인 레이저 다이오드를 사용한다. 그런데 이러한 장치에 있어서는 많은 부품이 사용되어야만 하는데, 이는 높은 비용 및 높은 조정 경비를 의미한다. 특히 서로 다른 광빔을 결합하기 위하여 요구되는 빔 결합 큐브(beam combination cube) 때문에 높은 경비가 발생된다. 대안적으로 예컨대 WO 01/93254에서 개시하고 있는 광 회절격자(optical gratings)에 기초한 빔 결합기가 있다. 그러나 회절격자는 상당한 파장 종속성을 가지고 있으며, 이는 레이저 다이오드의 파장이 온도 증가에 따라 변동되는 경우에 문제를 일으킬 수 있다. 더욱이 회절격자는 번쩍거리는 격자가 존재하기 때문에 제조하기가 쉽지 않다.
소위 트윈 레이저 다이오드가 개별적인 레이저 다이오드 대신 점점 더 많이 사용되고 있다. 트윈 레이저 다이오드의 경우에, 예컨대 DVD 및 CD를 위한 두 개의 레이저 다이오드는, 하나의 공동 하우징 내에 배열되며, 이는 부품 비용 및 제조에 있어 장점이 있다. 이 경우, 두 개의 광빔을 위한 개별적인 광검출기를 가지는 트윈 광검출기가 종종 사용된다. 근래의 종래 기술에 따르면 이러한 개념은, 예컨대 DVD-ROM의 경우에 발생하는 고속에 대해 대응적으로 빠른 트윈 광검출기는 여전히 존재하지 않기 때문에, 모든 타입의 광 저장 매체에 적용될 수는 없다.
본 발명의 목적은 종래기술과 비교하여 개선된 광 스캐너를 제안하고자 하는 것이다.
도 1은 광 결합을 위한 미세-광학 요소를 구비하는 광 스캐너를 보여주는 개략도.
도 2는 본 발명에 따른 미세-광학 요소의 예시적인 제 1 실시예를 보여주는 개략도.
도 3은 본 발명에 따른 미세-광학 요소의 예시적인 제 2 실시예를 보여주는 개략도.
도 4는 본 발명에 따른 미세-광학 요소의 예시적인 제 3 실시예를 보여주는 개략도.
도 5는 광검출기의 커버 유리내에 통합되어 있는 본 발명에 따른 미세-광학 요소를 보여주는 개략도.
도 6은 광빔의 공간적 위치를 조정하기 위한 광 조정 요소를 보여주는 개략도.
도 7은 광 조정 요소의 작용을 보여주는 개략도.
<도면의 주요부분에 대한 간단한 설명>
1 : 트윈 레이저 다이오드 2a, 2b : 광빔
3 : 콜리메이터 렌즈 4 : 반-미러
5 : 대물렌즈 6 : 광 기록 매체
8,8' : 미세-광학 요소, 이중 프리즘 9 : 광검출기
10 : 커버 유리 11 : 평행면 플레이트
본 발명에 따라 상기 목적은 미세-광학 요소를 가지는 광 스캐너를 통해 성취되며, 상기 미세-광학 요소는 두 개의 부분을 포함하여 하나의 광검출기에 대해 두 개의 빔 소스들에 의해 방출된 두 개의 광빔을 결합하는데 사용되며, 제 1 부분은 제 1 광빔에 영향을 미치고 제 2 부분은 제 2 광빔에 영향을 미친다. 원하는 영향은, 하나의 공통 타겟 포인트를 향해 광빔 중 하나 또는 둘 모두를 편향시키는 것이다. 미세-광학 요소의 두 부분 사이의 거리는 연속하는 광빔이 만날지 여부 및 만나는 위치를 결정한다. 이러한 미세-광학 요소의 사용에 대한 선행조건은 광빔들이 상기 요소의 상류에서 분리되어 있다는 것이다. 이 경우 하나의 단일 렌즈의 사용은, 상기 렌즈의 사용이 없다면 두 개의 광빔이 초점에서 교차하지 않기 때문에, 제외된다. 바람직한 방식에 있어서, 제조가능한 요소를 얻기 위해, 실제로 빔 영향에 기여하는 상기 요소들의 표면 부분만이 고려된다.
바람직한 방식에 있어서, 미세-광학 요소의 두 부분은 제 1 수렴 렌즈의 세그먼트 및 제 2 수렴 렌즈의 세그먼트이다. 두 광빔을 결합하기 위한 미세-광학 렌즈의 기본 개념은, 특정 거리만큼 옆으로 떨어지게 두 렌즈를 가까이 대는 것에 의해 개념적으로 만들어지는 하나의 렌즈에 대한 개념이다. 상기 렌즈의 한 부분은 오직 한 광빔에 대해서만 작용하고, 다른 부분은 다른 광빔에 대해서 작용한다. 첨단부(tip)는 광빔들 사이의 빔없는 영역을 야기한다. 첨단부는 심지어 실제적인 렌즈를 형성하는 단계로 가서도 보존된다. 물론 첨단부는 제거될 수 있으나, 다만 광빔들의 분리에 의해 허용되는 한에서만 제거될 수 있다. 전체적으로, 곡선 형태는 검출기 상의 이미징 품질에 대한 약간의 효과에 의해 변동가능하다. 미세-광학 렌즈의 실시예에 따라, 미세-광학 렌즈의 입사 영역 또는 출사 영역 중 어느 하나가 빔에 영향을 끼치는 영역으로서 설계된다. 대안으로서 두 영역 모두가 빔에 영향을 끼치는 형태로 구현되는 것도 가능하다.
미세-광학 요소는 이중 프리즘인 것이 바람직하다. 이중 프리즘 또는 루프 프리즘(roof prism)은 미세-광학 렌즈에서 렌즈 영역의 곡선 형태에 있어 가장 단순한 형태로서 직선을 사용함으로써 형성된다. 미세-광학 요소의 출사 영역은, 이곳에서 광빔들의 분리가 더 크기 때문에 이중 프리즘으로서 구현되는 것이 바람직하다. 이 경우, 미세-광학 요소의 입사 영역은, 검출기 상의 광빔의 크기를 제어하기 위하여 사용될 수 있는 렌즈 표면으로서 설계될 수 있다. 렌즈 표면은 예컨대 구형 또는 원통형 영역으로서 구성될 수 있다. 원통형은 광검출기 영역 상에 완전히 둥근 빔 단면을 생성하는 것을 가능하게 하며, 이는 대칭적인 S-곡선이라는 결과로 된다. 이것은 서보 전자장치에 있어 중요한 점이다. 이 경우 실린더는, 곡면이 프리즘 각도가 역시 위치하고 있는 평면에 대응하도록 회전되어야만 한다.
다른 예시적인 실시예에 따라, 미세-광학 요소는 원추(cone)이다. 원추는 이중 프리즘이라는 개념을 일반화한 것을 나타낸다. 실제적인 장점은 광검출기에 대하여 조정의 단순함이라는 것에 있는데, 이는 각도 의존성이 회피되기 때문이다. 그러나 원추는 추가적인 비점수차를 발생시킨다. 따라서 미세-광학 요소로서의 적합성은 개별적인 경우에 체크되어야 한다. 원추의 경우에도 마찬가지로, 미세-광학 요소의 출사 영역은 원추 형상으로 형성되는 것이 바람직하다. 입사 영역은 또한 렌즈 표면으로서 형성될 수 있다.
미세-광학 요소는 광검출기에 배열되는 것이 유리하다. 두 광빔 사이의 거리는 이곳에서 가장 크며, 그 결과 미세-광학장치의 최소화 및 조정 정밀도를 이루기 위한 요구조건이 감소된다. 대안으로서, 미세 광학 요소는 빔 소스에 대해 배열된다. 이곳에서는 또한 광빔이 서로에 대해 상대적으로 멀리 분리되어 있고 따라서 이 경우에도 마찬가지로 미세-광학장치의 최소화 및 조정 정밀도를 이루기 위한 요구조건이 덜 엄격하게 된다. 실시예에 따라, 미세-광학 요소는 광빔 내에 추가적인 비점수차를 야기할 수 있다. 광 검출기에 배열하는 것은 이러한 경우에 바람직할 수 있다.
미세-광학 요소는 광검출기에 부착되어 결합되는 것이 바람직하다. 미세-광학 요소는 광 스캐너 내에서 조정되어야만 한다. 그러나 상기 요소는 매우 작고 광검출기 근처에 배열되어 있는데, 광검출기도 역시 조정되어야만 하며, 이것은 상기 요소의 조정을 더욱 어렵게 한다. 그러나 미세-광학 요소는 광검출기의 커버 유리와 직접 접촉하도록 될 수 있다. 이것은 현미경 하에서의 예비조정을 요구하는데, 이 예비조정 중에 미세-광학 요소는 검출기 영역의 분리선을 기초로 배향된다. 그 다음에 미세-광학 요소는, 예컨대 접착 결합 단계인 처리 단계에 의해 커버 유리 상에 고정된다. 광검출기의 조정은 광 스캐너의 제조 중의 정상적인 처리 단계로서 남는다. 미세-광학 요소의 예비조정은, 미세-광학 요소의 변위 및 회전에 대하여 허용오차 범위가 존재하기 때문에, 광검출기의 조정보다 덜 엄격한 정밀도 요구조건을 가진다.
본 발명에 따라, 미세-광학 요소는 광 검출기의 커버 유리의 일체화된 구성부분이다. 이것은, 예컨대 미세-광학 요소와 커버 유리를 플라스틱 사출-성형법에 의해 하나의 유닛으로서 제조함으로써 가능하다. 커버 유리는, 보통 평면 형태로 구현되지만, 이 경우 구조화된다. 이것은, 예비조정 처리 과정이 검출기 하우징을 위한 몰드(mold)로 전환하기 때문에, 매우 우아한 해결책을 구성한다.
빔 소스들은 통합되어 하나의 트윈 레이저 다이오드를 형성하는 것이 유리하다. 이것은 부품 비용 및 제조에 있어 장점들을 수반한다. 한편으로, 레이저 다이오드들의 상대적인 위치 조정 단계가 회피되며, 다른 한편으로 비용-집약적인 빔 결합 큐브를 제거하는 것이 가능하다. 더욱이 광 스캐너의 광 구성부품들 대다수는 두 광빔 모두를 위해 사용될 수 있으므로 전체적으로 더 적은 수의 구성부품들이 요구된다.
본 발명에 따라, 미세-광학 요소는 광빔들 중 오직 하나의 공간적 위치에 영향을 미친다. 미세-광학 요소는 이런 방식으로 더욱 단순하게 구성될 수 있다. 바람직하게, 수차에 관하여 덜 중요한 광빔 만이 편향된다. 더욱이, 두 광빔의 상이한 광 경로 길이도 또한, 존재할 수 있는 광 오프셋을 보상하는데 사용될 수 있다.
검출기에 대한 광빔의 보다 양호한 조정 성능에 있어서, 제 1 광빔 및/또는 제 2 광빔의 공간적 위치에 영향을 끼치는데 사용될 수 있는 광 조정 요소가 사용되는 것이 유리하다. 이러한 광 조정 요소는 예컨대 본질적으로 평행면 플레이트(plane-parallel plate)이다. 알려져 있는 바와 같이, 광빔 내로 경사지게 배치되는 평행면 플레이트는, 빔 오프셋을 발생시킨다. 빔 오프셋은 플레이트의 두께d와, 플레이트의 회전 각도 와 굴절율n에 의존한다. 만약 이러한 평행면플레이트가 검출기의 상류에서 광빔들 중 하나의 빔 경로 내에만 위치하고 있고, 해당 광빔에 수직한 축을 중심으로 회전되면, 즉 각도가 변화된다면, 검출기에 대한 해당 광빔의 위치는 변화한다. 만약 이러한 평행면 플레이트가 두 빔 경로 모두에 배치되어 있으면, 두 광빔의 위치는 따라서 변화될 수 있다. 더욱이, 평행면 플레이트의 굴절율의 파장 의존성은, 두 광빔 사이의 거리를 조정하기 위하여 이용될 수 있다. 이를 위하여, 하나의 공통 플레이트가 두 광빔 모두를 위해 사용될 수 있다. 굴절율이 파장의 함수이므로, 플레이트의 회전은, 두 광빔 사이의 오프셋의 크기가 변화한다는 결과를 가져온다. 따라서 검출기 상의 레이저 스폿들 사이의 거리는 조정가능하게 된다. 조정하는 동안, 이 경우 검출기를 추적하는 것이 필요하다. 광 조정 요소는, 두 광빔 모두를 위해 하나의 검출기가 사용되는 경우의, 소위 단일 검출기에 대해 특히 유리하다. 그러나 상기 광 조정 요소는, 광빔들의 조정을 위하여, 두 검출기가 결합하여 하나의 유닛을 형성하는 경우의, 소위 트윈 검출기의 경우에도 동일하게 사용될 수 있다.
대안으로서, 미세-광학 요소 자체가 또한 조정 요소로서도 이용될 수 있다. 루프 프리즘을 예컨대 루프 에지에 평행한 축을 중심으로 회전시킴으로써, 평행면 플레이트와 유사한 효과가 성취된다.
광 기록 매체 판독 및/또는 기록 장치는 본 발명에 따른 광 스캐너를 구비하는 것이 바람직하다. 이러한 장치는, 비용효과적인 방식으로 서로 다른 타입의 광 기록 매체들을 판독하고 및/또는 상기 매체에 기록하기 위하여 서로 다른 파장을 가지는 광빔들을 사용할 수 있다.
더 잘 이해되도록 하기 위하여, 본 발명은 도면을 참조하여 특정한 예시적인 실시예들을 기초로 아래에서 설명될 것이다. 본 발명은 이러한 특정한 예시적인 실시예들에 제한되는 것이 아니라는 것은 당연하다. 본 발명의 다양한 특징들의 유리한 조합들은 본 발명의 유효한 범위 내에 마찬가지로 포함된다.
광 결합을 위한 미세-광학 요소(8)를 가지는 광 스캐너가 도 1에 개략적으로 도시되어 있다. 트윈 레이저 다이오드(1)는 제 1 광빔(2a) 및 제 2 광빔(2b)을 방출한다. 광빔(2a, 2b)은 광 기록 매체(6) 방향으로 반-미러(half-mirror)(4)를 통해 편향되고 콜리메이터 렌즈(3)를 통해 평행하게 된다. 이동가능한 대물렌즈(5)를 통해, 광빔(2a, 2b)은 광 기록 매체(6) 상에 위치하는 데이터 트랙으로 집속된다. 대물렌즈(5)는 액추에이터(미도시됨)에 의해 광 기록 매체(6) 방향으로 이동될 수 있고, 또한 트랙에 대한 광빔(2a, 2b)의 집속을 정확히 유지시키기 위하여 데이터 트랙에 수직으로 이동될 수 있다. 반사된 광빔(2a, 2b)은, 트랙 내에 저장되어 있는 데이터에 따라 변조되어 있는데, 대물렌즈(5)에 의해 평행하게 되고 콜리메이터 렌즈(3)에 의해 광 검출기(9) 상으로 집속되며, 그 과정에서 반-미러(4)를 통과한다. 광검출기(9)는 분리선들에 의해 분리되어 있는 복수의 광-감지 요소들을 구비한다. 상기 광-감지 요소들의 신호는 한편으로 저장되어 있는 데이터를, 다른 한편으로 액추에이터를 제어하기 위한 초점 에러 신호 및 트랙 에러 신호를 결정하기 위하여 사용된다. 미세-광학 요소(8,8')는 광검출기(9)의 상류에 배치되어 두 광빔(2a, 2b)이 광 검출기(9) 상의 동일 위치에 닿는 것을 보장한다.
도 2의 a)는 본 발명에 따른 미세-광학 요소의 예시적인 제 1 실시예를 보여준다. 도 2의 b)는 광빔(2a, 2b)의 경로를 도시하기 위한 확대도를 보여준다. 도면에서 미세-광학 요소(8)의 기본 개념이 단면으로 보여지고 있다. 한 영역은 정상 렌즈의 영역이고 다른 영역은 두 렌즈의 결합에 대응한다. 도시된 단면 영역은 광빔(2a, 2b)의 소스 포인트도 역시 위치되어 있는 평면에 대응한다. 두 광빔(2a, 2b)은 이 평면 내에서 집중화된다. 광 스캐너의 주어진 거리 조건에 있어서, 미세-광학 요소(8)의 집속 길이에 의해 초점의 위치를 한정하는 것이 가능하다. 공통 광검출기 영역(9) 상에 두 광빔(2a, 2b)을 집중화하는 것은, 이 집속 길이와는 무관하고, 렌즈 부품들을 이동시킴에 의해서만 성취된다. 도시된 예에 있어서, 광검출기(9)의 커버 유리(10)에 의해 광빔(2a, 2b)에 영향을 끼치는 것도 역시 고려되어 있다.
도 3의 a)는 미세-광학 요소(8)의 대안적인 배열을 도시한다. 도 3의 b)는 또한 광빔(2a, 2b)의 경로를 도시하기 위한 확대도를 보여준다. 도시된 예시적인 실시예에서, 입사 영역 및 출사 영역의 역할은 도 2에 도시된 예시적인 실시예와 비교하면 서로 위치가 바뀌어져 있다. 광검출기(9)까지의 남아있는 경로 길이가 여기서는 더 짧기 때문에, 두 렌즈 부품은 서로에 대해 더 많이 분리되어 있어야만 한다.
미세-광학 요소(8)가 커버 유리(10)에 더 가까이 있으면 있을수록, 광빔(2a, 2b)의 분리 폭은 더 커진다. 광빔(2a, 2b)의 어떤 최소 분리 폭이 보장되어야만 하는데, 이는, 심지어 광 기록 매체(6)의 트랙에 대하여 횡으로 대물렌즈(5)에서 편향된 경우조차, 상기에 할당되어 있는 렌즈 영역을 벗어날 수 있는 광빔(2a, 2b)은없기 때문이다. 이러한 배열은, 초점 방향으로의 대물렌즈(5)의 편향의 경우에, 광빔(2a, 2b)의 형태는 반-미러(4)를 통과하는 동안에 본질적으로 상기 반-미러(4)에 의해 야기되는 비점수차에 의해 크게 변화되기 때문에, 더 유리하다. 도면에서, 미세-광학 요소(8)는 광검출기(9)의 커버 유리(10) 상에 붙어있지 않다. 미세-광학 렌즈(8)가 또한 그 첨단부(tip)가 커버 유리(10) 상에 위치되는 정도까지 광검출기(9)의 방향으로 변위될 수 있다는 것은 물론이다. 커버 유리(10) 상에 고정시키기 위해서 측면 지지부가 유리하다. 미세-광학 렌즈(8) 및 지지부는 하나의 단일 단계에서 사출성형될 수 있다.
본 발명에 따라 미세-광학 요소(8')의 예시적인 제 3 실시예가 도 4의 a) 및 b)에서 이중 프리즘 또는 루프 프리즘의 형태로 도시되어 있다. 광검출기(9)의 커버 유리(10) 상에 루프 에지가 접촉하고 있기 때문에 측면 지지부도 또한 이곳에 접촉하고 있는 것이 유리하다. 도면에서, 미세-광학 요소(8')의 입사 영역은, 광검출기(9) 상에서 광빔(2a, 2b)의 크기에 영향을 끼치는데 사용되는 렌즈 표면으로서 설계된다. 렌즈 표면은 예컨대 구형 또는 원통형 영역일 수 있다. 원통형 영역인 경우에, 실린더는, 프리즘 각도가 역시 위치하고 있는 단면에 곡면이 대응하도록 배열되어야 한다. 예비조정을 위하여, 루프 에지는 광검출기(9)의 검출기 절반들 사이의 분리선을 따라 배향된다. 현미경은 루프 에지 주위에 대칭적으로 위치하고 있는 분리선의 두 이미지를 나타낸다. 4개의 사분면을 가지는 광검출기의 사용은, 십자형 형상으로 배열된 두개의 분리선 중 하나에 루프 에지를 배향하는 자유도를 제공한다. 액추에이터의 트랙 편향에 평행하게 놓여있는 분리선은 실제적인 이유로선택된다. 이것은, 트랙을 따라가는 이동의 경우에 광검출기(9) 상의 광빔(2a, 2b)이 루프 에지에 의해 절단되지 않도록 보장한다. 이것은 또한 동시에, 광빔(2a, 2b)의 소스로서의 트윈 레이저 다이오드(1)의 배향 각도를 한정한다. 만약 설치에 기인하여 부정확한 각도가 발생하면, 광검출기(9) 상의 광빔(2a, 2b)은 공간적으로 분리된다. 그러나 광검출기(9)의 조정 동안에, 트윈 레이저 다이오드(1)의 상기 회전은 광검출기(9)의 회전에 의해 보상될 수 있다.
예컨대 DVD 및 CD에 대해 사용되는 서로 다른 파장들은, 이중 프리즘(8')의 설계에는 아무런 영향을 미치지 않는다. 심지어 이중 프리즘(8')의 대칭적인 실시예의 경우에도, 루프 에지는 광검출기(9)의 분리선을 중심으로 배치될 수 있다. 광검출기(9) 상의 광빔(2a, 2b)의 파장-의존적인 분리는 확인될 수 없다. 사용된 두 파장을 위한 이중 프리즘(8)의 상이한 굴절 배율(refractive power)은 짧은 거리의 경우에 무시할 수 있다. 이것은 이중 프리즘(8')의 구성 및 조정 둘 모두를 단순하게 만든다. 만약 분리선 및 루프 에지 사이의 조정에 기인하는 평행 오프셋이 발생하면, 이러한 오프셋은 광검출기(9) 상의 광빔(2a, 2b)의 중첩에 악영향을 끼치지 않는다. 이 사실에서부터, 도 5에 도시된 바와 같이, 이중 프리즘(8')과 광검출기(9)를 합치는 것이 가능해진다. 도시된 예시적인 실시예에서, 이중 프리즘(8')은 이미 광검출기(9)의 커버 유리(10) 내에 포함되어 있다.
존재할 수 있는 초점 오프셋도 역시 광검출기(9) 상의 광빔(2a, 2b)의 중첩에는 적은 영향만을 끼친다. 초점 오프셋은, 특히 열적 부하(thermal loading) 또는 노화(ageing)의 결과로서 발생할 수 있는, 광 스캐너의 전형적인조정오류(misadjustment)이다. 이것은, 광빔(2a, 2b)의 방향으로 복수의 광 구성부품(3,4,5)중 하나 또는 복수의 광 구성부품이 부정확하게 위치되어, 이에 따라 광 기록 매체(6)의 정보 레이어 내의 초점이 더이상 자동으로 광검출기(9) 상의 초점을 야기하지 않게 된다는 것으로 이해된다. 광 기록 매체(6)의 판독 및/또는 기록 장치에서, 초점 오프셋은 서보-전자장치에 의해 전체적으로 보상된다. 심지어 한계-값 초점 오프셋의 경우에 조차, 광검출기(9) 상의 광빔(2a, 2b)의 중첩은 손상되지 않는다. 그러나 빔 중첩은, 이중 프리즘(8')과 광검출기(9) 사이의 거리에 관해서는 상대적으로 민감한 행태를 나타낸다. 만약 이중 프리즘(8')이 단순히 커버 유리(10) 상에 배치되어 있으면, 그 거리는 쉽게 재현가능하고 주변 영향에 대하여 불변이다.
도 6은 광빔(2a, 2b)의 공간적 위치를 조정하기 위한 광 조정 요소(11)를 도시한다. 알려져 있는 바와 같이, 광빔 내에 경사지게 배치된 평행면 플레이트(11)는 빔 오프셋x를 발생시킨다. 이 오프셋은 플레이트의 두께d와, 플레이트의 회전 각도와 다음 공식에 의한 굴절율n에 의존한다.
이 경우, 빔 오프셋은 방출되는 빔(2a, 2b)의 광축에 대하여 표현된다. 트윈 레이저 다이오드(1)의 두 광빔(2a, 2b)은 이제 평행면 플레이트(11)를 횡단한다. 그들 각각의 빔 오프셋의 차 x는 아래와 같다:
이 경우, n1및 n2는 트윈 레이저 다이오드(1)의 두 파장에서 플레이트(11)의 굴절율을 나타낸다. 굴절율들이 서로 비슷하기 때문에, 다음의 식으로 근사될 수 있다:
offset은 플레이트(11)의 하류에서 두 광축의 분리에 대응한다. 회전각도= 0 에 대하여, 나머지 모두는offset이다. 이것은 예컨대 DVD 및 CD를 위한 검출기 영역들 사이의 거리에 대응하여야만 한다. 만약 대응하지 않으면, 검출기 영역들이 정확하게 광빔과 충돌되는 회전 각도를 설정함으로서 x를 이용한 정정을 수행하는 것이 가능하다. 이 경우, 상기 정정은 (n1- n2)에 비례한다. 즉 정정이 더욱 많이 수행할수록 물질은 더욱 분산적이다.
도 7에 도시된 예시적인 실시예를 아래에서 설명한다. 도면은 스캐너의 광 경로를 보여주는데, 여기서 조정 요소는, 축을 중심으로 플레이트(11)를 회전시킴으로써 생성되는 여러 가지 조정 상태 a), b), c)로, 반-미러(4)의 하류에 설치되어 있다. 플레이트(11)는 플라스틱 물질로부터 만들어질 수 있고, 이에 따라 상기플레이트(11)는 그 회전 하우징과 함께 사출성형될 수 있다. (n1- n2) = 0.01 이고 절대 굴절율 값은 항상 1.5 인 물질이 존재한다. 정정의 선형적인 범위는 수학식 3에 따라 약 40ㅀ까지 연장한다. 또한, 정정은 더 평탄해진다. 선형적인 범위에서, 1 ㎜의 주어진 플레이트 두께의 경우에, 기껏해야 3 ㎛ 의 스폿 정정이 이루어진다. 스캐너의 성능을 증가시키기 위하여 이러한 정정을 채용하는 것은 이미 그 가치가 있다. 따라서 플레이트(11)의 회전 범위는 매우 넓게 되도록 설계되어야 한다. 플레이트(11)는 본질적으로 평행면 플레이트인 것이 유리하다. 그러나 상기 플레이트(11)는 또한 완전히 곡면으로 되어, 이에 따라 감도를 증가시킬 수 있다. 조정 동안에, 검출기(9)를 추적하는 것이 필요한데, 이는 도 7에서 완전히 명확해진다. 광 조정 요소(11)의 설정 및 검출기(9)의 중심 맞추기는 따라서 점진적으로 수행되어야 한다.
만약 다른 제조자로가 제조한 레이저 다이오드를 사용하기 위하여 각도를 크게 변경하여야 할 필요가 있다면, 스폿 크기 및 S-곡선의 길이는 플레이트(11)의 비점수차 때문에 증가될 수 있다. 각도= 0 에서, 스폿 크기 및 S-곡선의 길이 값들은 반-미러(4)의 비점수차에 의해서만 주어진다. S-곡선의 행태는 회전의 포지티브 또는 네거티브 의미에 있어서 동일하다. 약간 길어진 S-곡선에 의한 서보 전자장치의 손상은 예상되지 않는다. 만약 레이저 다이오드(1)의 배치(batch)-의존적인 변형이 상대적으로 작은 각도 변화를 이용하여 보상된다면, 이들의 영향은 존재하지 않는다.
상술한 바와 같은 본 발명에 따라 종래기술과 비교하여 개선된 광 스캐너가 제공될 수 있다.

Claims (14)

  1. 두 빔 소스(1)에 의해 방출되는 두 광빔(2a, 2b)을 광검출기(9) 상에서 결합하는 미세-광학 요소(8)를 구비하는 광 스캐너로서, 상기 미세-광학 요소(8, 8')는 두 부분을 가지며, 제 1 부분은 제 1 광빔(2a)에 영향을 끼치고 제 2 부분은 제 2 광빔(2b)에 영향을 끼치는, 광 스캐너.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 미세-광학 요소(8)의 상기 두 부분은 제 1 수렴 렌즈의 세그먼트 및 제 2 수렴 렌즈의 세그먼트인, 광 스캐너.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 미세-광학 요소는 이중 프리즘(8')인, 광 스캐너.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 미세-광학 요소는 원추(cone)인, 광 스캐너.
  5. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 미세-광학 요소(8,8')는 광검출기(9)에 배열되는, 광 스캐너.
  6. 제 5 항에 있어서, 상기 미세-광학 요소(8,8')는 상기 광검출기(9)와 하나의 유닛을 형성하는, 광 스캐너.
  7. 제 5 항에 있어서, 상기 미세-광학 요소(8,8')는 상기 광검출기(9)의 커버 유리(10)와 일체화된 부분인, 광 스캐너.
  8. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 미세-광학 요소(8,8')는 빔 소스들(1)에 배열되는, 광 스캐너.
  9. 제 8 항에 있어서, 상기 빔 소스들(1)은 통합되어 하나의 트윈 레이저 다이오드(1)를 형성하는, 광 스캐너.
  10. 제 1 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 미세-광학 요소(8,8')는 상기 광빔(2a, 2b) 중 하나 만의 공간적 위치에 영향을 끼치는, 광 스캐너.
  11. 제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제 1 및/또는 제 2 광빔(2a, 2b)의 공간적 위치를 조정하기 위한 광 조정 요소(11)가 제공되는, 광 스캐너.
  12. 제 11 항에 있어서, 상기 광 조정 요소(11)는 본질적으로 평행면 플레이트인, 광 스캐너.
  13. 제 11 항에 있어서, 상기 광 조정 요소(11)는 상기 미세-광학 요소(8, 8')인, 광 스캐너.
  14. 광 기록 매체(6)의 판독 및/또는 기록 장치로서, 상기 장치는 제 1 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 기재된 바와 같은 광 스캐너를 구비하는, 광 기록 매체의 판독 및/또는 기록 장치.
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