KR100655638B1 - Light source and light intensity monitor for the same - Google Patents

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KR100655638B1 KR1020040051423A KR20040051423A KR100655638B1 KR 100655638 B1 KR100655638 B1 KR 100655638B1 KR 1020040051423 A KR1020040051423 A KR 1020040051423A KR 20040051423 A KR20040051423 A KR 20040051423A KR 100655638 B1 KR100655638 B1 KR 100655638B1
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Abstract

램프 광량에 기인하는 조사광량 변화가 있어도, 광량분포 패턴의 변화에 기인하는 조사광량 변화가 있어도, 이것을 정확하게 검출하고, 조사광량을 일정하게 유지할 수 있게 하는 것을 과제로 하고 있다. Even if there is a change in the amount of irradiation light due to the amount of lamp light or there is a change in the amount of irradiation light due to the change in the light quantity distribution pattern, it is a problem to make it possible to detect this accurately and to keep the amount of irradiation light constant.

램프(4)의 광을 반사경(5)으로 집광하여 광출사구(6)로부터 출사시키고, 직접적 또는 간접적으로 피조사물에 대해 조사할 때에, 피조사물에 조사되는 광의 조사광량을 검출하는 광량 모니터(M)와, 그 검출광량에 따라 조사광량을 피드백 제어하는 광량 콘트롤러(7)를 구비한 광원 장치(1)에 있어서, 광량 모니터(M)가, 반사경(5)으로 집광된 광을 광출사구(6)에 인도하는 광로가 되는 도광 로드(8)와, 그 도광 로드(8)의 둘레면(8a)으로부터의 누광량을 조사광량으로서 검출하는 광센서(9)를 구비했다. Light quantity monitor which collects the light of the lamp 4 with the reflecting mirror 5, it exits from the light exit opening 6, and detects the irradiation light quantity of the light irradiated to an irradiated object when it irradiates to an irradiated object directly or indirectly ( In the light source device 1 provided with M) and the light amount controller 7 which feedback-controls the amount of irradiation light according to the detected light amount, the light amount monitor M is configured to emit light condensed by the reflector 5 to the light exit port. The light guide rod 8 used as the optical path leading to (6), and the optical sensor 9 which detects the light leakage amount from the circumferential surface 8a of this light guide rod 8 as irradiation light quantity were provided.

램프, 반사경, 광출사구, 광량 콘트롤러, 도광 로드, 광센서, 조광 필터, 광확산면, 차광재, 애퍼처. Lamps, reflectors, light exit ports, light controllers, light guide rods, light sensors, light filters, light diffusers, light shields, apertures.

Description

광원 장치와 그것에 사용하는 광량 모니터{LIGHT SOURCE AND LIGHT INTENSITY MONITOR FOR THE SAME}LIGHT SOURCE AND LIGHT INTENSITY MONITOR FOR THE SAME}

도 1은 본 발명에 관계되는 광원 장치를 도시하는 설명도, 1 is an explanatory diagram showing a light source device according to the present invention;

도 2는 조광 필터를 도시하는 설명도, 2 is an explanatory diagram showing a dimming filter;

도 3은 광량 모니터를 도시하는 설명도, 3 is an explanatory diagram showing a light quantity monitor;

도 4는 광량 모니터를 도시하는 설명도, 4 is an explanatory diagram showing a light quantity monitor;

도 5는 광량 모니터를 도시하는 설명도, 5 is an explanatory diagram showing a light quantity monitor;

도 6은 광량 모니터를 도시하는 설명도, 6 is an explanatory diagram showing a light quantity monitor;

도 7은 광량 모니터를 도시하는 설명도, 7 is an explanatory diagram showing a light quantity monitor;

도 8은 광량 모니터를 도시하는 설명도, 8 is an explanatory diagram showing a light quantity monitor;

도 9는 프로스트 처리에 의한 광손실과 검출광량 및 조사광량의 관계를 나타내는 그래프, 9 is a graph showing the relationship between the light loss and the detected light amount and the irradiated light amount by frost processing;

도 10은 조사광량과 검출광량의 관계를 나타내는 그래프, 10 is a graph showing the relationship between the amount of irradiation light and the amount of detection light;

도 11은 종래 장치를 나타내는 설명도이다. It is explanatory drawing which shows the conventional apparatus.

(부호의설명)(Description of the sign)

1 광원 장치 4 램프1 Light source unit 4 Lamp

5 반사경 6 광출사구 5 Reflector 6 Light exit                 

M (M1∼M6) 광량 모니터 7 광량 콘트롤러M (M 1 to M 6 ) Light Monitor 7 Light Controller

8 도광 로드 8a 둘레면8 light guide rod 8a perimeter

9 광센서 9a 광검출면9 Optical sensor 9a photodetection surface

10 조광 필터 12a, 16a 광확산면10 Dimming Filter 12a, 16a Light Diffusion Surface

13, 15 차광 파이프(차광재) 14, 17 광확산 공간13, 15 Shading Pipe (Shading) 14, 17 Light Diffusion Space

16 환상 오목홈 18 애퍼처16 annular recess 18 aperture

본 발명은, 광량 콘트롤러를 구비한 광원 장치에 관한 것으로서, 특히, CCD 카메라 등을 사용한 화상처리 검사장치 등과 같이 검사 대상물에 조사되는 광량을 일정하게 유지할 필요가 있는 검사장치의 광원에 사용하기에 적합한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light source device having a light amount controller, and is particularly suitable for use in a light source of an inspection apparatus that needs to maintain a constant amount of light irradiated to an inspection object, such as an image processing inspection apparatus using a CCD camera or the like. will be.

예를 들면 평판 디스플레이 제조공정에서는, 종래로부터, 검사 대상물이 되는 유리판이나 도료도포면에 광을 조사하고, 이것을 CCD 카메라 등으로 관찰하여 흠집이나 도장 불량 등의 결함을 검지하는 화상처리 검사장치가 사용되고 있다. For example, in the flat panel display manufacturing process, the image processing inspection apparatus which conventionally irradiates light to the glass plate or coating surface which becomes an inspection object, observes this with a CCD camera, etc., and detects defects, such as a flaw and coating defect, are used. .

그 때, 광원 장치에 요구되는 조건으로서, 검사 대상물(피조사물)에의 광량은 적어도 검사 시간중에는 변화되지 않는 것, 또, 사용하는 카메라의 수광감도성능 레벨에 따라 필요한 광량의 광을 조사할 수 있는 것 등을 들 수 있다. In this case, as a condition required for the light source device, the amount of light to the inspection object (irradiation object) does not change at least during the inspection time, and the light of the required amount of light can be irradiated according to the light receiving sensitivity performance level of the camera to be used. And the like.

화상처리 검사용의 광원 장치의 광원으로서는, 할로겐램프, LED 등의 고체 광소자, 수은램프 및 메탈 할라이드 램프 등 방전등이 사용되고 있고, 그 중에서도, 수은램프나 메탈 할라이드 램프 등의 방전등은, 개시 시간이 느리지만 고광량을 얻을 수 있으므로, 이 종류의 광원으로서 최적이다. As a light source of the light source device for the image processing inspection, a discharge lamp such as a solid state optical device such as a halogen lamp, an LED, a mercury lamp, and a metal halide lamp is used, and among these, a discharge lamp such as a mercury lamp or a metal halide lamp has a start time. Although it is slow, a high light quantity can be obtained, and it is optimal as this kind of light source.

그렇지만, 이들 방전등은 1000∼2000시간 점등시키면 검사 대상물에의 조사광량이 점차로 감쇠해 가기 때문에, 사용할 때에는, 카메라측의 밝기가 변하지 않도록 그때마다 광량조정이 필요하게 된다. However, when these discharge lamps are turned on for 1000 to 2000 hours, the amount of irradiation light to the inspection object is gradually attenuated. Therefore, the light amount adjustment is necessary every time so that the brightness of the camera side does not change during use.

그 때문에 종래는, 도 11에 도시하는 바와 같이, 램프(31)로부터 조사되어서 적외선 컷오프 필터(37)를 투과한 광의 광량 분포를 균일화 하여 번들 파이버(32)에 인도하는 믹싱 로드(33)의 광출사단(33out)에 검출용 광파이버(34)의 일단을 접속하고, 이 검출용 광파이버(34)의 타단에 접속한 수광소자(35)로 검출된 광량에 기초하여 구동회로(36)로부터 출력되는 램프(31)의 공급 전력을 컨트롤하고 있다. Therefore, conventionally, as shown in FIG. 11, the light of the mixing rod 33 which uniformly distributes the light quantity distribution of the light irradiated from the lamp 31 and transmitted through the infrared cutoff filter 37 to the bundle fiber 32 is shown. One end of the detection optical fiber 34 is connected to the output end 33out, and is output from the driving circuit 36 based on the amount of light detected by the light receiving element 35 connected to the other end of the detection optical fiber 34. The power supply of the lamp 31 is controlled.

(특허문헌 1) 일본 특개 2001-307523(Patent Document 1) Japanese Patent Laid-Open No. 2001-307523

그런데, 발명자의 실험에 의하면, 믹싱 로드(33)의 광출사단(33out)으로부터 출사되는 광의 광량을 검출한 경우, 램프 자체(31)의 발광량의 변화를 정밀도 좋게 검출할 수 있지만, 실제로 라인에 사용해 보면, 검사 대상물에의 조사광량이 변화해 있음에도 불구하고, 이 조사광량 변화를 검출할 수 없는 경우가 있는 것이 밝혀졌다. By the way, according to the experiment of the inventors, when the amount of light emitted from the light exiting end 33out of the mixing rod 33 is detected, it is possible to accurately detect the change in the amount of emitted light of the lamp itself 31, When it was used, it turned out that this irradiation light quantity change may not be detected, although the irradiation light quantity to an inspection object changes.

또한 원인을 추구한 바, 검사 대상물에의 조사광량이 경시적으로 감쇠해 가는 원인은, 램프(31) 자체의 발광량의 변화보다도, 오히려 전극의 변화에 따라 방전 장소가 변화되거나, 발광점이 제 1 초점으로부터 벗어나 버리는 등, 램프의 광 량분포 패턴의 변화에 의한 영향쪽이 강한 것이 밝혀졌다. Further, in pursuit of the cause, the cause of the attenuation of the amount of light emitted to the inspection object with time decreases, rather than a change in the amount of emitted light of the lamp 31 itself, rather than a change in the amount of light emitted by the change of the electrode, It turned out that the influence by the change of the light-distribution pattern of a lamp is strong, for example, moving away from a focus.

즉, 램프(31)의 발광량에는 거의 변화가 없어도, 광량분포 패턴이 변화되면, 번들 파이버 등을 통하여 검사 대상물에 조사되는 조사광량에 변화를 일으키는 것이다. That is, even if there is almost no change in the light emission amount of the lamp 31, if the light quantity distribution pattern is changed, the amount of irradiation light irradiated to the inspection object through the bundle fiber or the like is changed.

그리고 믹싱 로드(33)의 광출사단(33out)으로부터 광을 도출시켜서 그 광량을 검출하는 경우, 발광점이 제 1 초점으로부터 벗어나는 등 하여 조사광량이 변화해도, 램프(31) 자체의 발광량에 변화가 없으면 이것을 검출할 수 없고, 결국, 검사 대상물에의 조사광량을 일정하게 유지할 수 없다는 치명적인 결함을 일으켰다. When the light is extracted from the light output end 33out of the mixing rod 33 and the amount of light is detected, even if the amount of irradiation light changes, for example, the light emitting point is out of the first focus, the amount of light emitted by the lamp 31 itself changes. If not, this could not be detected, and eventually a fatal defect occurred that the amount of irradiation light to the inspection object could not be kept constant.

이것은, 램프(31)로부터 조사된 강한 광의 일부가, 광출사단부(33out)의 검출용 광파이버(34)를 접속하는 부분에도 직접 조사되어버리는 것이 원인으로 생각된다. This is considered to be because a part of the strong light irradiated from the lamp 31 is directly irradiated to the part which connects the optical fiber 34 for a detection of the light output end part 33out.

현재, 이 장치에서는, 램프(31)에 의해 광량분포 패턴이 달라도, 번들 파이버(32)에 입사되는 광량과, 검출용 광파이버의 광량과의 비가 변화되지 않는다는 특성을 가지고 있기 때문에, 광량분포 패턴의 변화에 기인하는 조사광량의 변화를 검출하는 것은 도저히 불가능했다. At present, the apparatus has a characteristic that the ratio between the amount of light incident on the bundle fiber 32 and the amount of light of the optical fiber for detection is not changed even if the light amount distribution pattern is different by the lamp 31. It was hardly possible to detect a change in the amount of irradiation light due to the change.

그래서 본 발명은, 램프 광량변화에 기인하는 조사광량 변화가 있어도, 광량분포 패턴의 변화에 기인하는 조사광량 변화가 있어도, 이것을 정확하게 검출하고, 조사광량을 일정하게 유지할 수 있게 하는 것을 과제로 하고 있다. Therefore, an object of the present invention is to accurately detect this and to keep the amount of irradiation light constant even if there is a change in irradiation light amount due to a change in the lamp light quantity or a change in irradiation light amount due to a change in the light quantity distribution pattern. .

이 과제를 해결하기 위해서, 본 발명은, 램프의 광을 반사경으로 집광하여 광출사구로부터 출사시켜, 직접적 또는 간접적으로 피조사물에 대하여 조사할 때에, 피조사물에 조사되는 광의 조사광량을 검출하는 광량 모니터와, 그 검출광량에 따라 조사광량을 피드백 제어하는 광량 콘트롤러를 구비한 광원 장치에 있어서, 상기 광량 모니터가, 반사경으로 집광된 광을 광출사구에 인도하는 광로가 되는 도광 로드와, 그 도광 로드의 둘레면으로부터의 누광량을 상기 조사광량으로서 검출하는 광센서를 구비 것을 특징으로 한다. In order to solve this problem, the present invention provides a light amount for detecting the amount of light irradiated onto an irradiated object when the light of the lamp is collected by a reflector and emitted from the light exit port, and irradiated directly or indirectly onto the irradiated object. A light source device including a monitor and a light amount controller for feedback-controlling the amount of irradiation light according to the detected light amount, wherein the light amount monitor is a light guide rod serving as an optical path for guiding light collected by a reflector to a light exit port; And an optical sensor for detecting the amount of light leakage from the circumferential surface of the rod as the amount of irradiation light.

(발명을 실시하기 위한 최량의 형태)(The best form to carry out invention)

본 예에서는, 램프 자체의 발광량 변화에 기인하는 조사광량 변화는 물론, 광량분포 패턴의 변화에 기인하는 조사광량 변화가 있어도, 이것을 정확하게 검출하여, 조사광량을 일정하게 유지한다는 과제를 극히 간단한 구성으로 실현했다. In this example, even if there is a change in the irradiation light amount due to the change in the light emission amount of the lamp itself as well as a change in the irradiation light amount due to the change in the light quantity distribution pattern, the problem of accurately detecting this and keeping the irradiation light amount constant is extremely simple. Realized.

도 1은 본 발명에 관계되는 광원 장치를 도시하는 설명도, 도 2는 조광 필터를 도시하는 설명도, 도 3∼도 8은 광량 모니터를 도시하는 설명도, 도 9는 프로스트 처리에 의한 광손실과 검출광량 및 조사광량의 관계를 도시하는 그래프, 도 10은 조사광량과 검출광량의 관계를 도시하는 그래프이다. 1 is an explanatory diagram showing a light source device according to the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram showing a dimming filter, 3 to 8 are explanatory diagrams showing a light quantity monitor, and FIG. 9 is an optical loss due to frost processing. And a graph showing the relationship between the detected light amount and the irradiated light amount, and FIG. 10 is a graph showing the relationship between the irradiated light amount and the detected light amount.

도 1에 도시하는 광원 장치(1)는, 예를 들면 검사 대상물(피조사물)의 표면을 촬상하여 화상처리에 의해 제품검사를 행할 때에, 번들 파이버(2)를 통하여 검사 대상물에 조명광을 조사하기 위해서 사용된다. The light source device 1 shown in FIG. 1 irradiates illumination light to an inspection object through the bundle fiber 2, for example, when imaging the surface of an inspection object (irradiation object) and performing product inspection by image processing. Used for

이 광원 장치(1)는, 케이싱(3)내에 배치된 메탈 할라이드 램프(4)로부터 조사된 광을 타원 반사경(5)으로 집광하고, 적외선 컷오프 필터(20)를 투과시키고, 광출사구(6)로부터 출사시키고, 광출사구(6)에 접속된 번들 파이버(2)를 통하여 검사 대상물에 조사하게 되어 있다. The light source device 1 condenses the light emitted from the metal halide lamp 4 disposed in the casing 3 with an ellipsoidal reflector 5, passes through the infrared cutoff filter 20, and emits the light exit port 6 2) is irradiated to the inspection object through the bundle fiber 2 connected to the light exit port 6.

또, 케이싱(3)내에는, 검사 대상물에 조사되는 광의 조사광량을 검출하는 광량 모니터(M)와, 그 검출광량에 따라 조사광량을 피드백 제어하는 광량 콘트롤러(7)가 설치되어 있는 것 이외에, 램프(4)의 점등 회로(21), 냉각팬(22)이 배치되어 있다. In addition, in the casing 3, a light amount monitor M for detecting the amount of irradiation light of the light irradiated to the inspection object and a light amount controller 7 for feedback control of the amount of irradiation light according to the detected light amount are provided. The lighting circuit 21 and the cooling fan 22 of the lamp 4 are arranged.

광량 모니터(M)는, 반사경(5)으로 집광된 광을 광출사구(6)에 인도하는 광로가 되는 도광 로드(8)와, 그 도광 로드(8)의 둘레면(8a)으로부터의 누광량을 조사광량으로서 검출하는 실리콘 포토셀 등의 광전변환형의 광센서(9)를 구비하고 있다. The light quantity monitor M includes a light guide rod 8 serving as an optical path for guiding the light collected by the reflector 5 to the light exit port 6, and a leak from the peripheral surface 8a of the light guide rod 8. The photoelectric conversion type optical sensor 9, such as a silicon photocell, which detects light quantity as an irradiation light quantity, is provided.

도광 로드(8)는 투광성의 글래스체로 형성되고, 본 예에서는, 직경 12.4mm, 길이 40mm의 원기둥 로드로 구성하고, 광입사단면(8in)의 중심에 반사경(5)의 제 2 초점이 위치하도록 부착되어 있다. The light guide rod 8 is formed of a transparent glass body, and in this example, is made of a cylindrical rod having a diameter of 12.4 mm and a length of 40 mm, so that the second focal point of the reflector 5 is located at the center of the light incident cross section 8 in. Attached.

광량 콘트롤러(7)은, 그 입력측에 광량 모니터(M)의 광센서(9)가 접속되는 동시에, 출력측에 조광 필터(10)를 소정 각도 회전시키는 스텝모터(11)를 구비하고 있다. The light quantity controller 7 is provided with the step motor 11 which connects the optical sensor 9 of the light quantity monitor M to the input side, and rotates the dimming filter 10 by the predetermined angle on the output side.

이 조광 필터(10)는, 통로율이 서서히 변화되는 다수의 슬릿이 원주상에 배열 형성되고(도 2 참조), 회전에 따라 그 회전 방향에 맞게 투과 광량이 점증/점감하게 되어 있다. In the dimming filter 10, a plurality of slits in which the passage ratio gradually changes are arranged on the circumference (see Fig. 2), and the amount of transmitted light increases and decreases in accordance with the rotational direction with rotation.                     

도 3∼도 8은, 본 발명에 관계되는 광량 모니터(M1∼M6)의 예를 도시한다. 3 to 8 show examples of the light amount monitors M 1 to M 6 according to the present invention.

도 3(a)에 도시하는 광량 모니터(M1)는, 도광 로드(8)의 둘레면(8a)에 광센서(9)의 광검출면(9a)을 닿게하고 있다. The light amount monitor M 1 shown in FIG. 3A makes the light detection surface 9a of the optical sensor 9 touch the circumferential surface 8a of the light guide rod 8.

이것에 의해, 도광 로드(8)내를 투과하는 광이, 도 3(b)에 도시하는 바와 같이, 그 도광 로드(8)내의 결함(C)에 부딪히거나, 도광 로드(8)내를 전반사하면서 진행하는 광이 둘레면(8a)상의 흠집에 부딪히거나 하여 난반사하면, 그 일부가 광센서(9)측으로 누출되므로, 광센서(9)에서는 그 누광량이 검출된다. Thereby, the light which permeate | transmits in the light guide rod 8 hits the defect C in the light guide rod 8, or shows the inside of the light guide rod 8, as shown to FIG. 3 (b). If light propagating while totally reflecting the surface is scratched on the circumferential surface 8a or diffusely reflected, part of the light leaks to the optical sensor 9 side, and thus the amount of light leakage is detected by the optical sensor 9.

도 4(a)에 도시하는 광량 모니터(M2)는, 광센서(9)를 장착하는 장착 구멍(12)을 관벽(13a)에 관통 형성한 차광 파이프(차광재)(13)가 도광 로드(8)에 외장되고, 광센서(9)에 의해 검출하는 누광을 외부에 도출하는 부분을 제외하고, 도광 로드(8)의 둘레면(8a)이 차광재로 덮어져 있다. In the light quantity monitor M 2 shown in FIG. 4A, a light shielding pipe (light shielding material) 13 in which a mounting hole 12 for mounting the optical sensor 9 is formed through the pipe wall 13a is provided with a light guide rod. The peripheral surface 8a of the light guide rod 8 is covered with a light shielding material, except for a part that is externally mounted on (8) and guides out light leakage detected by the optical sensor 9 to the outside.

이것에 의하면, 광센서(9)로 누광량이 검출되는 것은 광량 모니터(M1)와 동일하지만, 도 4(b)에 도시하는 바와 같이 둘레면(8a)이, 도광 로드(8)밖의 밝기의 변화나, 케이싱(3)내로 새어 들어오는 외광의 영향을 받지 않는다. According to the configuration, the optical sensor brightness (9) to the other press is that the amount of light detected light quantity monitor (M 1) with the same, a peripheral surface (8a) as shown in Fig. 4 (b) is, the light guide rod 8 It is not affected by the change of or external light leaking into the casing 3.

또, 장착 구멍(12)의 내면이 광확산면(12a)으로 형성되고, 광센서(9)의 광검출면(9a)을 도광 로드(8)의 둘레면(8a)에 대향하여 장착했을 때에, 광검출면(9a)과 도광 로드(8)의 둘레면(8a)과의 간극(예를 들면 8mm 정도)이 광확산면(12a)으로 둘러싸인 광확산 공간(14)으로 되어 있다. Moreover, when the inner surface of the mounting hole 12 is formed with the light-diffusion surface 12a, when the light detection surface 9a of the optical sensor 9 is mounted facing the circumferential surface 8a of the light guide rod 8, The light diffusion space 14 surrounded by the light diffusion surface 12a has a gap (for example, about 8 mm) between the light detection surface 9a and the circumferential surface 8a of the light guide rod 8.

이것에 의해, 장착 구멍(12)으로부터의 누광이 광확산 공간(14)에서 산란되 어 평균화되므로, 보다 검출 정밀도가 높아진다고 생각된다. As a result, light leakage from the mounting hole 12 is scattered and averaged in the light diffusion space 14, which is considered to increase detection accuracy.

도 5(a)에 도시하는 광량 모니터(M3)는, 도광 로드(8)에 외장되는 차광 파이프(15)의 내주면에, 그 둘레 방향을 따라 형성된 환상 오목홈(16)의 내면을 광확산면(16a)으로 하는 환상의 광확산 공간(17)이 형성되고, 광센서(9)가 도광 로드(8)의 둘레면에 대향하여 소정의 간극(예를 들면 8mm 정도)을 가지고 광확산 공간(17)에 부착되어 있다. In the light quantity monitor M 3 shown in FIG. An annular light diffusion space 17 serving as the surface 16a is formed, and the optical sensor 9 faces the circumferential surface of the light guide rod 8 with a predetermined gap (for example, about 8 mm). It is attached to (17).

이것에 의하면, 도 5(b)에 도시하는 바와 같이, 도광 로드(8)의 둘레면(8a)의 전체 둘레에 걸쳐 광확산 공간(17)이 형성되어 있고, 광센서(9)에 대향하는 부분뿐만 아니라, 도광 로드(8)의 전체 둘레로부터의 누광이 광확산 공간(17)내로 확산되어서, 그 전체의 누광량을 광센서로 검출할 수 있으므로, 검출 정밀도가 향상된다. According to this, as shown in FIG.5 (b), the light-diffusion space 17 is formed over the perimeter of the circumferential surface 8a of the light guide rod 8, and opposes the optical sensor 9 Light leakage from the entire circumference of the light guide rod 8 as well as the portion is diffused into the light diffusion space 17, so that the amount of light leakage of the entire light can be detected by the optical sensor, so that the detection accuracy is improved.

도 6(a)에 도시하는 광량 모니터(M4)는, 상기 광량 모니터(M3)의 도광 로드(8)의 광입사단면(8in)에, 도광 로드(8)의 구경보다 작은 직경의 투광부(18a)가 형성된 애퍼처(18)가 장착되고, 이것에 의해 도광 로드(8)의 광입사측 단면 둘레 가장자리부(8b)가 덮어져 있다. The light quantity monitor M 4 shown in FIG. 6 (a) is projected to a light incidence end surface 8 in of the light guide rod 8 of the light quantity monitor M 3 smaller than the diameter of the light guide rod 8. The aperture 18 in which the light part 18a was formed is attached, and the light incident side end surface peripheral edge part 8b of the light guide rod 8 is covered by this.

이것에 의하면, 도 6(b)에 도시하는 바와 같이, 도광 로드(8)의 단면 둘레 가장자리부(8b)에 큰 결함이나 흠집이 발생해 있어도, 그 결함이나 흠집을 투과하는 광을 차단할 수 있으므로, 검출 정밀도에 악영향을 미치지 않아, 결과로서 검출 정밀도가 향상된다. According to this, even if a large defect or a flaw generate | occur | produces in the circumferential edge part 8b of the light guide rod 8, as shown to FIG. 6 (b), the light which permeate | transmits the defect or a flaw can be interrupted | blocked. This does not adversely affect the detection accuracy, and as a result, the detection accuracy is improved.                     

도 7(a)에 도시하는 광량 모니터(M5)는, 상기 광량 모니터(M3)의 도광 로드(8)의 광출사단면(8out)에, 조사광량이 현저하게 저하되지 않을 정도로, 도광 로드(8)를 투과하는 광의 일부를 도광 로드(8)내에 되돌리는 프로스트 처리를 시행하여 이루어진다. FIG light quantity monitor (M 5) shown in 7 (a) is, on the light exit cross section (8out) of the light guide rod 8 of the light quantity monitor (M 3), so the irradiation light amount is not significantly reduced, the light guide rod Frost processing is performed to return a part of the light passing through (8) into the light guide rod (8).

이것에 의하면, 도 7(b)에 도시하는 바와 같이 도광 로드(8)를 투과하는 광의 일부가 도광 로드(8)내로 되돌려져, 귀환광이 도광 로드(8)의 내부결함이나 흠집으로 난반사를 일으키고, 그 일부가 누광이 되므로, 누광량이 커져, 보다 검출 정밀도가 향상된다. According to this, as shown in FIG.7 (b), a part of the light which permeate | transmits the light guide rod 8 is returned to the light guide rod 8, and a return light carries out the diffuse reflection by the internal defect or the flaw of the light guide rod 8 And part of the light leakage occurs, the light leakage amount increases, and the detection accuracy is further improved.

프로스트 처리는, 광출사단면(8out)을 거칠게 함으로써 형성되지만, 프로스트 처리함으로써 광출사단면(8out)을 통과하는 광은 난반사되어서 광량 로스를 생기게 하지만, 그 만큼, 검출광량이 향상된다. Although the frost process is formed by roughening the light exit cross section 8out, the light passing through the light exit cross section 8out is diffusely reflected to produce a light amount loss by the frost process, but the amount of detection light is improved by that amount.

도 9는 프로스트 처리에 의한 광손실에 대한 검출광량 및 조사광량의 변화를 나타내는 그래프이며, 횡축이 프로스트 처리를 시행했을 때의 도광 로드의 투과광의 광손실, 종축 좌측의 스케일이 조사광량, 종축 우측의 스케일이 검출광량이며, 모두 프로스트 처리를 행하지 않았을 경우(광손실 0)를 100%로 했을 때의 광량을 나타내고 있다. Fig. 9 is a graph showing the change in the amount of detection light and the amount of irradiation light with respect to the light loss by frost processing, wherein the horizontal axis is the light loss of the transmitted light of the light guide rod when the frost processing is performed, and the scale on the left side of the vertical axis is the amount of irradiation light and the right side of the vertical axis The scale of is the amount of detected light, and the amount of light when the frost process is not all performed (light loss 0) is 100% is shown.

이것에 의하면, 프로스트 처리에 의해 표면이 거칠게 되어서 광손실이 커질 수록, 검출광량이 상승하여 검출 정밀도는 향상하지만, 번들 파이버(2)로부터의 조사광량은 저하된다. According to this, as the surface becomes rough by the frosting process and the light loss increases, the amount of detection light increases and detection accuracy is improved, but the amount of irradiation light from the bundled fiber 2 is lowered.                     

따라서 예를 들면 조사광량을 90% 이상 확보하고, 검출광량을 200% 이상 확보하고자 하면, 프로스트 처리에 의한 광손실은 4.5∼5.5% 정도로 억제할 필요가 있다. Therefore, for example, if it is desired to secure 90% or more of the irradiation light amount and 200% or more of the detection light amount, it is necessary to suppress the light loss due to the frost treatment to about 4.5 to 5.5%.

더욱이, 도 8(a)에 도시하는 광량 모니터(M6)는, 상기 광량 모니터(M5)의 도광 로드(8)의 광입사단면(8in)에, 광량 모니터(M4)로 사용한 애퍼처(18)를 장착하여 이루어진다. Further, the light amount monitor (M 6) as shown in 8 (a) has, to the light input end face (8in) of the light guide rod 8 of the light quantity monitor (M 5), baby with a light quantity monitor (M 4) aperture 18 is made by mounting.

이것에 의하면, 도 8(b)에 도시하는 바와 같이 애퍼처(18)에 의해 외란이 제거되고, 더욱이, 프로스트 처리에 의해 누광량이 커져, 보다 검출 정밀도가 향상된다. According to this, as shown in FIG.8 (b), the disturbance is removed by the aperture 18, Furthermore, the amount of light leakage is large by frosting process, and detection accuracy improves more.

도 10은 이와 같이 형성된 각 광량 모니터(M1∼M6)를 사용하여, 번들 파이버(2)로부터 조사된 조사광량과, 광량 모니터(M1∼M6)의 검출광량을 나타내는 그래프이다. Figure 10 is a graph showing a detected light quantity of the irradiation light amount and a light intensity monitor (M 1 ~M 6) emitted from each of the light amount by using the monitor (M 1 ~M 6), the fiber bundle (2) thus formed.

조사광량의 변화는, 크게 나누어, 램프(4)의 광량변화에 기인하는 경우와, 번들 파이버(2)에 입사되는 광량분포의 변화에 기인하는 경우가 있다. The change in the amount of irradiation light is largely divided into a case due to a change in the amount of light of the lamp 4 or a change in the amount of light distribution incident on the bundled fiber 2.

그래서, 램프(4)로부터 도광 로드(8)에 입사되는 광량을 변화시켰을 때의 조사광량에 대하는 광량 모니터(M1∼M6)의 검출광량을 측정하는 동시에, 반사경(5)의 제 2 초점의 위치를 도광 로드(8)의 중심으로부터 비키어 놓음으로써 광량분포를 변화시켰을 때의 조사광량에 대한 검출광량을 측정했다. Therefore, the amount of light detected by the light amount monitors M 1 to M 6 is measured against the amount of light emitted when the amount of light incident on the light guide rod 8 from the lamp 4 is changed, and at the same time, the second focus of the reflector 5 By detecting the position of the light guide rod 8 from the center of the light guide rod 8, the amount of detected light with respect to the amount of light emitted when the light amount distribution was changed was measured.

그래프의 횡축은 조사광량, 세로축은 검출광량을 나타내고, 조사광량은 램프(4)를 정격 전압으로 점등시켰을 때에, 번들 파이버(2)의 광출사단에 배치한 광센서에 의해 검출된 광량을 100으로 하여 정규화한 값, 검출광량은 조사광량 100일 때의 광량 모니터(M1∼M6)에 의해 검출된 광량을 100으로 하여 정규화한 값이다. In the graph, the horizontal axis represents the irradiation light quantity and the vertical axis represents the detection light quantity, and the irradiation light quantity represents the amount of light detected by the optical sensor disposed at the light output end of the bundle fiber 2 when the lamp 4 is turned on at the rated voltage. The detected value and the amount of detected light are normalized by setting the amount of light detected by the light amount monitors M 1 to M 6 at the time of irradiation light amount 100 as 100.

파선(L0)은, 조광 필터(10)를 회전시켜서 도광 로드(8)에의 입사광량을 변화시켰을 때의 조사광량에 대한 광량 모니터(M1∼M6)의 검출광량을 나타내고 있다. The broken line L 0 indicates the amount of light detected by the light amount monitors M 1 to M 6 with respect to the amount of light emitted when the light control filter 10 is rotated to change the amount of incident light to the light guide rod 8.

이 경우에는, 어느 광량 모니터(M1∼M6)도 측정 결과는 일치하고, 검출광량은 조사광량에 정확하게 추종하고 있다. In this case, the measurement results of any of the light amount monitors M 1 to M 6 coincide with each other, and the detected light amount accurately follows the irradiation light amount.

또, 실선 L1∼L6은, 반사경(5)의 제 2 초점의 위치를 도광 로드(8)의 중심으로부터 비키어 놓음으로써 변화되는 조사광량 변화에 대한 광량 모니터(M1∼M6)의 검출광량 변화를 나타낸다. Further, the solid line of L 1 ~L 6 is a reflector 5, the light quantity monitor for the irradiation light amount change is changed by placing it shifted from the position of the focus from the center of the light guide rod (8) (M 1 ~M 6 ) of The change in the detected light amount is shown.

이 경우, 도광 로드(8)의 광입사단면(8in)에 애퍼처(18)를 장착하고, 광출사단면(8out)에 프로스트 처리를 시행한 광량 모니터(M6)의 검출광량이 조사광량에 정확하게 추종하고 있다(실선 L6 참조). In this case, the amount of detected light of the light quantity monitor M 6 having the aperture 18 mounted on the light incidence end surface 8in of the light guide rod 8 and subjected to a frost treatment on the light output end face 8out is applied to the irradiation light amount. Followed correctly (see solid line L 6 ).

따라서, 광량 모니터(M6)는 조사광량의 변화가 램프(4)의 광량변화에 기인하는 경우도, 광량분포 변화에 기인하는 경우도 누광량을 조사광량으로서 검출하는 것이 가능하게 된다. Therefore, the light quantity monitor M 6 can detect the light leakage amount as the irradiation light amount even when the change in the irradiation light amount is due to the change in the light quantity of the lamp 4 or the change in the light amount distribution.

또, 그 이외의 광량 모니터(M1∼M5)는, 전범위에 걸쳐 검출광량이 조사광량에 정확하게 추종하는 것은 아니지만, 조사광량 100% 근방의 범위에서는, 광량 모니터(M6)와 같이 검출광량이 조사광량에 정확하게 추종하고 있다(실선 L1∼L5 참조). In addition, other light quantity monitors M 1 to M 5 do not accurately track the amount of detected light over the entire range, but are detected like the light amount monitor M 6 in the range of 100% of the emitted light amount. The amount of light accurately follows the amount of irradiation light (see solid lines L 1 to L 5 ).

즉, 광센서(9)로 검출되는 누광량은, 번들 파이버(2)로부터 조사되는 조사광량과 대응하고 있으므로, 조사광량 변화가 램프(4)의 광량변화에 기인하는 경우도, 광량분포 변화에 기인하는 경우도, 누광량을 조사광량으로서 검출하는 것이 가능하게 된다. That is, since the light leakage amount detected by the optical sensor 9 corresponds to the irradiation light quantity irradiated from the bundle fiber 2, even when the change in the irradiation light quantity is due to the light quantity change of the lamp 4, Even when it originates, it becomes possible to detect the light leakage amount as an irradiation light amount.

이상이 본 발명의 1구성예이며, 다음에 그 작용에 대하여 설명한다. The above is one structural example of this invention, and the effect | action is demonstrated next.

1500∼2000 시간 점등후의 조사광량은, 초기 광량과 비교하여 40% 정도의 감광이 예상되므로, 당초부터 조광 필터(10)로 램프(4)의 광량을 60% 정도의 광량으로 떨어뜨려 둔다. Since the amount of irradiated light after lighting for 1500 to 2000 hours is expected to be about 40% as compared with the initial amount of light, the dimming filter 10 initially reduces the light amount of the lamp 4 to about 60%.

이 상태에서 광량 모니터(M)(M1∼M6)의 광센서(9)로 검출된 검출광량(Q0)을 100%로 하여 광량 콘트롤러(7)에 기억해 두고, 검출광량(Q)이 변화되었을 때에 당초 기억한 검출광량(Q0)과 동일하게 되도록 조광 필터(10)를 회전시킨다. In this state, the detected light quantity Q 0 detected by the light sensor 9 of the light quantity monitor M (M 1 to M 6 ) is set to 100% and stored in the light quantity controller 7 so that the detected light quantity Q is when a change is detected to be the same as the initial storage amount of light (Q 0) which rotates the light control filter 10.

검출광량(Q)은 경시적으로 저하되는 경향에 있으므로, 예를 들면 검출광량(Q)가 1% 저하했을 때에, 조광 필터(10)를 그 슬릿(10a)이 커지는 방향으로 회전시켜서, 검출광량(Q)=100 (%)이 되도록 광량조정을 행한다. Since the detection light quantity Q tends to decrease with time, for example, when the detection light quantity Q falls 1%, the dimming filter 10 is rotated in the direction in which the slit 10a becomes large, and the detection light quantity The amount of light is adjusted so that (Q) = 100 (%).

이 경우에, 검출광량(Q)은 항상 100(%)에 유지되어 있고, 검출광량(Q)이 1% 변화될 때마다 광량조정되므로, 검출광량(Q)은 항상 100(%) 근방에서 변화되고, 따라서 어느 광량 모니터(M1∼M6)를 사용하는 경우도, 조사광량 변화를 정확하게 검출할 수 있다. In this case, the detection light quantity Q is always kept at 100%, and since the light quantity is adjusted every time the detection light quantity Q changes by 1%, the detection light quantity Q always changes in the vicinity of 100%. Accordingly, even when any of the light amount monitors M 1 to M 6 is used, the change in the irradiation light amount can be detected accurately.

게다가, 그 원인이 램프(4)의 광량변화에 기인하는 것이더라도, 광량분포의 변화에 기인하는 것이더라도, 그 원인에 관계 없이 조사광량을 정확하게 검출할 수 있다. In addition, even if the cause is due to the change in the light quantity of the lamp 4 or the change in the light quantity distribution, the irradiated light amount can be detected accurately regardless of the cause.

이렇게 하여, 검출광량에 따라 서서히 조광 필터(10)에 의해 도광 로드(8)에의 입사광량을 증대시킴으로써, 1500∼2000시간 점등후라도, 당초 조사광량과 대략 동일한 광량으로 조사할 수 있다. In this way, the incident light to the light guide rod 8 is gradually increased by the dimming filter 10 in accordance with the detected light amount, so that light can be irradiated at approximately the same light amount as the original irradiation light even after 1500 to 2000 hours of lighting.

또한 상기한 설명에서는, 광량 콘트롤러(7)로서 도광 로드(8)에의 입사광량을 가변 제어하는 조광 필터(10)를 사용했는데, 본 발명은 이에 한정되지 않고, 램프 광량을 가변제어하는 조광회로라도 좋다. In addition, in the above description, as the light amount controller 7, the dimming filter 10 which variably controls the amount of incident light to the light guiding rod 8 is used, but the present invention is not limited thereto, and the light control circuit variably controls the amount of lamp light. good.

또, 본 발명은, 가시광선을 조사하는 램프(4)를 사용하는 경우에 한하지 않고, 자외선 램프, 적외선 램프를 광원으로 하는 광조사장치에도 적용할 수 있다. The present invention is not limited to the case of using the lamp 4 for irradiating visible light, but can also be applied to a light irradiation apparatus using an ultraviolet lamp or an infrared lamp as a light source.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 관계되는 광원 장치에 의하면, 램프 광량의 변화에 기인하는 조사광량 변화도, 광량분포의 변화에 기인하는 조사광량 변화도 마찬가지로 검출할 수 있으므로, 그 검출광량에 기초하여 조사광량을 일정하게 유지하도록 컨트롤 할 수 있다는 대단히 우수한 효과를 달성한다. As described above, according to the light source device according to the present invention, since the change in the irradiation light amount due to the change in the lamp light amount and the change in the irradiation light amount due to the change in the light amount distribution can be detected in the same manner, A very good effect can be achieved that can be controlled to keep the irradiation light constant.

도광 로드에는 무수한 내부결함이 있을 뿐만아니라, 그 외측 표면에도 잔 흠집이 있으므로, 반사경으로 집광된 광이 도광 로드에 입사되면, 내부결함이나 흠집으로 난반사를 일으켜, 그 광의 일부가 둘레면으로부터 누출된다.  Since the light guide rod has numerous internal defects and also scratches on the outer surface of the light guide rod, when light collected by a reflector enters the light guide rod, it causes diffuse reflection with internal defects or scratches, and part of the light leaks from the circumferential surface. .

그리고 발명자의 실험에 의하면, 이 도광 로드의 둘레면에 광센서를 설치하여 도광 로드로부터의 누광량과, 도광 로드의 광출사구에 접속한 번들 파이버 선단으로부터 피조사물에의 조사광량을 검출한 바, 램프 자체의 발광량 변화에 기인하는 조사광량 변화는 물론, 광량분포 패턴의 변화에 기인하는 조사광량 변화가 있어도, 이것을 정확하게 검출할 수 있었다. According to the inventor's experiment, an optical sensor was installed on the circumferential surface of the light guide rod to detect an amount of light leakage from the light guide rod and the amount of irradiation light to the irradiated object from the tip of the bundle fiber connected to the light exit port of the light guide rod. Even if there was a change in the irradiation light amount due to the change in the light emission amount of the lamp itself as well as a change in the irradiation light amount due to the change in the light quantity distribution pattern, this could be accurately detected.

즉, 원인은 불명하더라도, 피조사물에 조사되는 광의 조사광량을 확실하게 검출할 수 있다. That is, even if the cause is unknown, the amount of irradiation light of the light irradiated onto the irradiated object can be detected reliably.

따라서 검출광량이 변화되었을 때에, 램프로부터 도광 로드에 입사되는 광량을 조정하면, 광량을 일정하게 유지할 수 있다. Therefore, if the amount of light incident on the light guide rod from the lamp is adjusted when the amount of detected light changes, the amount of light can be kept constant.

이 경우에, 광량조정은, 제 2 항에 기재된 바와 같이, 조광 필터에 의해 도광 로드에의 입사광량을 가변제어하면 된다. In this case, as described in claim 2, the light amount adjustment may be performed by variably controlling the amount of incident light to the light guide rod by the dimming filter.

또, 청구항 4와 같이, 광량 모니터의 도광 로드의 둘레면이, 광센서로 검출하는 누광을 외부로 도출하는 부분을 제외하고 차광재로 덮어져 있으면, 외부로부터 입사되는 광의 영향을 받지 않아 정확하게 광량을 검출할 수 있다. In addition, as shown in claim 4, if the circumferential surface of the light guide rod of the light quantity monitor is covered with the light shielding material except for a portion which leads out leakage of light detected by the optical sensor to the outside, the light quantity is not affected by the light incident from the outside. Can be detected.

또, 청구항 5와 같이, 광센서의 광검출면을 도광 로드의 둘레면에 대향하여 배치하고, 도광 로드의 둘레면과 광검출면과의 간극에 광확산면으로 둘러싸여진 광확산 공간을 형성하면, 그 광확산 공간내에 누출된 광이 평균화되므로, 보다 정확 하게 검출할 수 있다. In addition, as shown in claim 5, when the light detecting surface of the optical sensor is disposed opposite to the circumferential surface of the light guide rod, and a light diffusion space surrounded by the light diffusion surface is formed in the gap between the circumferential surface of the light guide rod and the light detecting surface. Since light leaked in the light diffusion space is averaged, it can be detected more accurately.

또한, 청구항 6과 같이, 도광 로드에 외장되는 차광 파이프의 내주면에 형성한 환상 오목홈으로 이루어지는 광확산 공간을 형성하고, 그 광확산 공간에 광센서를 부착하면, 도광 로드의 전체 둘레로부터의 누광이 광확산 공간내에서 확산되어서, 그 전체의 누광량을 광센서로 검출할 수 있으므로, 검출 정밀도가 향상된다. In addition, as shown in claim 6, when a light diffusion space made of annular concave grooves formed on an inner circumferential surface of a light shielding pipe that is external to the light guide rod is formed, and an optical sensor is attached to the light diffusion space, light leakage from the entire circumference of the light guide rod is obtained. Since the light is diffused in the light diffusion space and the light leakage amount of the whole can be detected by the optical sensor, the detection accuracy is improved.

도광 로드의 단면 둘레 가장자리부에는 큰 결함이나 흠집이 생기기 쉽고, 그러한 결함이나 흠집이 있으면 검출 정밀도에 영향을 끼치기 때문에, 청구항 7과 같이, 도광 로드의 구경보다 작은 직경의 투광부가 형성된 애퍼처를 도광 로드의 광입사측 단면에 부착하고, 그 단면 둘레 가장자리부를 덮도록 하면, 그 결함이나 흠집을 투과하는 광을 차단할 수 있어, 결과로서 검출 정밀도가 향상된다. Since large defects or scratches are likely to occur in the peripheral edge of the light guide rod, and the presence of such defects or scratches affects the detection accuracy, the aperture formed with a light-transmitting portion having a diameter smaller than the diameter of the light guide rod is guided as in claim 7. If it adheres to the light incidence side end surface of a rod and it covers the edge part of the cross section, the light which permeate | transmits the defect and a damage | wound can be interrupted | blocked, and a detection accuracy improves as a result.

또한 청구항 8과 같이, 도광 로드의 광출사단면에 조사광량에 영향을 끼치지 않을 정도로 프로스트 처리를 시행해 두면, 도광 로드를 투과하는 광의 일부가 도광 로드내에 되돌려져, 귀환광이 도광 로드의 내부결함이나 흠집으로 난반사를 일으켜, 그 일부가 누광이 되므로, 누광의 광량이 커져 검출 정밀도가 향상된다. In addition, as described in claim 8, when the frost treatment is applied to the light output cross section of the light guide rod so as not to affect the amount of irradiation light, a part of the light passing through the light guide rod is returned to the light guide rod, and the return light is an internal defect of the light guide rod. Since light reflection causes scratches and a part of light leakage occurs, the amount of light leakage increases and detection accuracy is improved.

(산업상의 이용가능성)(Industrial availability)

본 발명은, 검사 대상물(피조사물)에의 광량은 적어도 검사 시간중은 변화되지 않는 것, 또, 사용하는 카메라의 수광감도 성능 레벨에 따라 필요한 광량의 광을 조사할 수 있는 것이 요청되는 화상처리 검사장치 등의 광원 장치 등에 용도로 적용할 수 있다.According to the present invention, the amount of light to be inspected (irradiated object) does not change at least during the inspection time, and the image processing inspection is requested to be able to irradiate light of the required amount of light according to the light receiving sensitivity performance level of the camera to be used. It can be applied to a light source device such as a device.

Claims (8)

램프의 광을 반사경으로 집광하여 광출사구로부터 출사시키고, 직접적 또는 간접적으로 피조사물에 대하여 조사할 때에, 피조사물에 조사되는 광의 조사광량을 검출하는 광량 모니터와, 그 검출광량에 따라 조사광량을 피드백 제어하는 광량 콘트롤러를 구비한 광원 장치에 있어서, A light amount monitor for detecting the amount of light emitted from the light to be irradiated onto the irradiated object when the light of the lamp is condensed with a reflector and emitted from the light exit port, and irradiated directly or indirectly to the irradiated object, and the amount of irradiated light according to the detected light quantity A light source device having a light amount controller for controlling feedback, 상기 광량 모니터가, 반사경으로 집광된 광을 광출사구에 인도하는 광로가 되는 도광 로드와, 그 도광 로드의 둘레면으로부터의 누광량을 상기 조사광량으로서 검출하는 광센서를 구비한 것을 특징으로 하는 광원 장치. The light quantity monitor includes a light guide rod serving as an optical path for guiding light collected by a reflector to a light exit port, and an optical sensor for detecting an amount of light leakage from a circumferential surface of the light guide rod as the irradiation light quantity. Light source device. 제 1 항에 있어서, 상기 광량 콘트롤러가 도광 로드에의 입사광량을 가변 제어하는 조광 필터를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 광원 장치. The light source device according to claim 1, wherein the light amount controller includes a dimming filter for variably controlling the amount of incident light to the light guide rod. 광원으로부터 출사되어 피조사물에 조사되는 광의 조사광량을 검출하는 광량 모니터로서, 광원으로부터 출사된 광을 인도하는 광로가 되는 도광 로드와, 그 도광 로드의 둘레면으로부터의 누광량을 상기 조사광량으로서 검출하는 광센서를 구비한 것을 특징으로 하는 광량 모니터. A light amount monitor for detecting the amount of light emitted from a light source and irradiated to the irradiated object, the light guide rod serving as an optical path for guiding light emitted from the light source, and the amount of light leakage from the circumferential surface of the light guide rod as the irradiation light amount. Light quantity monitor comprising a light sensor to. 제 3 항에 있어서, 상기 도광 로드의 둘레면은, 광센서로 검출하는 누광을 외부로 이끌어 내는 부분을 제외하고, 차광재로 덮어져서 이루어지는 것을 특징으로 하는 광량 모니터. The light quantity monitor according to claim 3, wherein the circumferential surface of the light guide rod is covered with a light shielding material, except for a portion which leads light leakage detected by an optical sensor to the outside. 제 3 항에 있어서, 상기 광센서의 광검출면이 도광 로드의 둘레면에 대향하여 배치되는 동시에, 광검출면과 도광 로드 둘레면과의 간극에 광확산면으로 둘러싸인 광확산 공간이 형성되어 이루어지는 것을 특징으로 하는 광량 모니터. 4. The light diffusion surface of claim 3, wherein the light detection surface of the optical sensor is disposed opposite to the circumferential surface of the light guide rod, and a light diffusion space surrounded by the light diffusion surface is formed in a gap between the light detection surface and the circumference of the light guide rod. Light quantity monitor characterized in that. 제 3 항에 있어서, 상기 도광 로드에 외장되는 차광 파이프의 내주면에, 그 둘레방향을 따라 형성된 환상 오목홈의 내면을 광확산면으로 하는 광확산 공간이 형성되고, 상기 광센서가 상기 도광 로드의 둘레면에 대향하여 이 광확산 공간에 부착되어 이루어지는 것을 특징으로 하는 광량 모니터. 4. The light diffusion space according to claim 3, wherein a light diffusion space is formed on an inner circumferential surface of the light shielding pipe which is external to the light guide rod, the light diffusing surface having an inner surface of an annular concave groove formed along the circumferential direction thereof as a light diffusion surface. The light quantity monitor which is attached to this light-diffusion space opposing a circumferential surface. 제 3 항에 있어서, 상기 도광 로드의 구경보다 작은 직경의 투광부가 형성된 애퍼처에 의해, 도광 로드의 광입사측 단면 둘레 가장자리부가 덮어져서 이루어지는 것을 특징으로 하는 광량 모니터. 4. The light quantity monitor according to claim 3, wherein the light incident-side end surface circumferential edge portion of the light guide rod is covered by an aperture formed with a light transmitting portion having a diameter smaller than the diameter of the light guide rod. 제 3 항에 있어서, 상기 도광 로드의 광출사단면에, 도광 로드를 투과하는 광의 일부를 도광 로드내로 되돌리는 프로스트 처리가 시행되어 이루어지는 것을 특징으로 하는 광량 모니터. The light quantity monitor according to claim 3, wherein a frosting process of returning a part of the light passing through the light guiding rod into the light guiding rod is applied to the light exit section of the light guiding rod.
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