KR0150990B1 - The device of checking panel in a crt - Google Patents

The device of checking panel in a crt

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KR0150990B1
KR0150990B1 KR1019940018271A KR19940018271A KR0150990B1 KR 0150990 B1 KR0150990 B1 KR 0150990B1 KR 1019940018271 A KR1019940018271 A KR 1019940018271A KR 19940018271 A KR19940018271 A KR 19940018271A KR 0150990 B1 KR0150990 B1 KR 0150990B1
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
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Abstract

본 발명은 음극선관 패널의 결함을 검사하는 장치에 관하여 개시한 것이다.The present invention discloses an apparatus for inspecting a defect of a cathode ray tube panel.

본 발명에 의한 음극선관 패널 결함 검사장치는 검사 대상 패널에 광을 조사하여 투과시키는 광원을 쌍직관식 조명장치로 구비하고, 이 조명장치에 광집속 수단을 구비하여 패널의 곡률면에 대해서도 투과되는 광량이 일정하게 조사되도록 함으로써 음극선관 패널 결함 검사의 성능 및 효율을 향상시킬 수 있도록 한 것이다.Cathode ray tube panel defect inspection apparatus according to the present invention is provided with a bi-linear illumination device having a light source for irradiating the light to the panel to be inspected and transmitted, the light device is provided with a light focusing means is also transmitted to the curvature surface of the panel By constantly irradiating the amount of light to improve the performance and efficiency of the cathode ray tube panel defect inspection.

Description

음극선관 패널 검사장치Cathode Ray Tube Panel Inspection System

제1도는 일반적인 음극선관의 개략적 구성도.1 is a schematic configuration diagram of a typical cathode ray tube.

제2도는 제조과정 중에 발생되는 음극선과 패널의 결함류에 대한 예시도.2 is an illustration of the defects of the cathode ray and the panel generated during the manufacturing process.

제3도 (a)는 음극선관 패널의 광투과형 검사방식을 도시한 개략도.Figure 3 (a) is a schematic diagram showing a light transmission type inspection method of the cathode ray tube panel.

(b)는 (a)의 검사방식에 의해서 얻어지는 전기적 신호의 상태도.(b) is a state diagram of the electrical signal obtained by the inspection method of (a).

제4도 (a)는 음극선관 패널의 광반사형 검사방식을 도시한 개략도.Figure 4 (a) is a schematic diagram showing a light reflection type inspection method of the cathode ray tube panel.

(b)는 (a)의 검사방식에 의해서 얻어지는 전기적 신호의 상태도.(b) is a state diagram of the electrical signal obtained by the inspection method of (a).

제5도는 패널 결함 인식에 바람직한 전기적 신호의 상태도.5 is a state diagram of an electrical signal desirable for panel defect recognition.

제6도는 종래 음극선과 패널 결함 검사장치의 주요부를 도시한 개략적 사시도.Figure 6 is a schematic perspective view showing the main part of the conventional cathode ray and panel defect inspection apparatus.

제7도는 본 발명에 따른 음극선관 패널 결함 검사장치의 주요부를 도시한 개략적 사시도.Figure 7 is a schematic perspective view showing the main part of the cathode ray tube panel defect inspection apparatus according to the present invention.

제8도는 제7도에서 광원인 쌍직관 조명기구를 발췌 도시한 개략적 사시도.FIG. 8 is a schematic perspective view of a bi-linear luminaire which is a light source in FIG.

제9도는 제8도에 도시된 쌍직관 조명기구의 Ⅰ-Ⅰ선 단면도.FIG. 9 is a sectional view taken along the line I-I of the twin-pipe luminaire shown in FIG.

제10도는 제8도에 도시된 쌍직관 조명기구의 Ⅱ-Ⅱ선 단면도.FIG. 10 is a sectional view taken along the line II-II of the twin-pipe luminaire shown in FIG.

제11도는 본 발명 장치의 패널에 대한 광조사 상태의 개략적 단면도.11 is a schematic cross-sectional view of a light irradiation state for the panel of the device of the present invention.

제12도는 본 발명 장치에 의해 패널 결함이 인식되는 전기적 신호의 상태도.12 is a state diagram of an electrical signal in which a panel defect is recognized by the apparatus of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

10 : 음극선관 11 : 패널10 cathode ray tube 11 panel

12 : 새도우마스크 13 : 네크부12: shadow mask 13: neck part

14 : 전자총 15 : 편향요오크14 electron gun 15 deflection yoke

31 : 투과용 형광램프 32 : 흑색벽31 Transmission fluorescent lamp 32 Black wall

34, 35 : 회전가이드 36 : 발광램프34, 35: rotation guide 36: light emitting lamp

50a, 50b : 벨트컨베이어 50 : 틈새공간50a, 50b: Belt conveyor 50: Clearance space

51 : 센서 52 : 광원51 sensor 52 light source

53 : 카메라 54 : 지지프레임53: camera 54: support frame

55 : 스텝핑모터 80 : 광원55: stepping motor 80: light source

81 : 직관램프 84 : 커버81: intuitive lamp 84: cover

85 : 공간부 86 : 렌즈85: space 86: lens

본 발명은 음극선관의 패널 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 광원으로부터 조사되는 조명을 이용하여 패널에 개재된 각종 결함류와 단순 부착된 오물이나 이물질 등을 인식하여 패널에 실질적으로 개재된 결합 유무를 검사하기 위한 음극선관의 패널 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a panel inspection apparatus of a cathode ray tube, and more particularly, to recognize various defects interposed on the panel by using illumination emitted from a light source, and to simply recognize dirt or foreign matter attached to the panel, and to substantially interlock the panel. It relates to a panel inspection apparatus of a cathode ray tube for inspecting the presence or absence.

일반적으로, 컴퓨터용 모니터나 텔레비전 등의 디스플레이장치로 사용되는 음극선관(10)은 제1도에 도시된 바와 같이 패널(11)의 내면에 형광막이 형성되고, 전자빔 관통공이 마련된 새도우마스크의 조립체(12)가 형광막과 나란하게 설치되어 있는 동시에 네크부(13)에는 전자총(14)과 편향요오크(15)를 포함하여 구성된다.In general, as shown in FIG. 1, the cathode ray tube 10 used as a display device such as a computer monitor or a television has a fluorescent film formed on an inner surface of the panel 11, and an assembly of a shadow mask provided with an electron beam through hole ( 12 is provided in parallel with the fluorescent film, and the neck portion 13 includes an electron gun 14 and a deflection yoke 15.

상기 구성의 음극선관(10)은 네크부(13)에 마련된 전자총(14)을 통해 전자빔을 방출시키고, 방출된 전자빔은 편향요오크(15)에 의해 형광막의 주사위치에 따라 선택적으로 편향된 후, 새도우마스크의 전자빔 통과공을 통과하여 형광막에 랜딩됨으로써 화상을 형성하게 된다.The cathode ray tube 10 of the above configuration emits an electron beam through the electron gun 14 provided in the neck portion 13, and the emitted electron beam is selectively deflected by the deflection yoke 15 according to the dice of the fluorescent film, An image is formed by passing through the electron beam through hole of the shadow mask and landing on the fluorescent film.

음극선관의 스크린에 양질의 화상을 형성하기 위해서는 패널의 내면에 형성된 형광막 패턴의 일치상태, 전자빔의 편향상태 및 새도우마스크 조립체의 결합상태 등과 같은 여러가지 많은 조건들을 충족시켜야만 가능하게 된다.In order to form a good image on the screen of the cathode ray tube, many conditions such as the coincidence state of the fluorescent film pattern formed on the inner surface of the panel, the deflection state of the electron beam, and the bonding state of the shadow mask assembly may be satisfied.

한편, 상기한 음극선관의 패널(11)은 통상 글래스(glass)를 용해시켜 제2도에 도시된 바와 같이 일정한 형태로 성형한 후, 연마와 세척 및 건조 등과 같은 일련의 과정을 거쳐서 제조하게 되는데, 실제 제조과정에 있어서 글래스의 용해상태 등의 불량으로 인하여 제2도(a)에 예시되어 있는 바와 같이 음극선관 패널의 글래스 용해과정에서 공기유입으로 인하여 발생되는 기포(blister; 1)나 이물질 유입 등으로 인하여 발생되는 석출물(stone; 2) 및 옹이(glass knot; 3) 등과 같은 내재적 결함이 개재되거나, 제2도 (b)에 예시된 바와 같이 성형 및 연마과정 등에서의 불량으로 인하여 긁힘(scratch; 4), 곰보자국(pit; 5), 휠 마크(wheel mark; 6)등과 같은 표면적인 결함이 발생하는 경우를 완전하게 배제할 수가 없다.On the other hand, the panel 11 of the cathode ray tube is manufactured by dissolving a glass (molded glass) in a predetermined shape as shown in Figure 2, and then through a series of processes such as polishing, washing and drying. In the actual manufacturing process, as shown in FIG. 2 (a) due to defects in the state of dissolution of glass, blister (1) or foreign matter inflow caused by air inflow during the glass melting process of the cathode ray tube panel Scratches due to inherent defects such as stones (2) and glass knots (3) generated due to the like, or defects in forming and polishing processes as illustrated in FIG. 4) cases of surface defects such as pits 5, wheel marks 6, etc. cannot be completely excluded.

이와 같이 음극선관의 패널에 상기한 결함들이 개재되면, 앞서 기술하였던 양질의 화상 형성을 위해 충족되어야 할 여러 조건들의 상태가 아무리 양호하다 하더라도, 상기 결함들이 화면상에 반점 등으로 나타나 화상을 왜곡시키는 현상을 발생케하여 음극선관의 화상형성에 심각한 불량으로 작용하는 문제점을 유발하게 된다.As described above, when the above defects are interposed on the panel of the cathode ray tube, the defects may appear as spots on the screen to distort the image, no matter how good the conditions of the various conditions to be met for the high quality image formation described above. This phenomenon causes a problem that acts as a serious defect in the image formation of the cathode ray tube.

상기와 같은 문제점을 방지하기 위하여 통상 음극선관의 제조현장에서는 패널의 제조가 완료된 상태에서 패널의 결함유무를 검사하는 과정을 필수적으로 거치게 된다.In order to prevent the above problems, in general, the manufacturing site of the cathode ray tube is essentially required to inspect the presence or absence of defects in the panel in the state of manufacturing the panel.

이와 같은 패널의 결함유무 검사는, 광원을 이용하여 유리나 액정표시판 등과 같은 투명부재에 광을 조사하게 되면 결함물이 개재된 부위에서 광 산란이 발생하는 원리를 이용하여 양부의 상태를 판정하는 것으로서, 제3도 및 제4도에 예시된 바와 같은 광투과에 의한 검사와 광반사에 의한 검사방식이 있다.The defect inspection of such a panel is to determine the state of both parts by using the principle that light scattering occurs at a site where a defect is interposed when light is irradiated to a transparent member such as glass or a liquid crystal panel using a light source. There are inspection methods by light transmission and inspection by light reflection as illustrated in FIGS. 3 and 4.

즉, 제3a도에 예시된 광투과에 의한 검사는 투과용 형광램프(31)를 불투명한 흑색벽(32)상에 설치하고, 그 전면에 검사하고자 하는 패널(11)을 회전가이드(34)를 이용해 회전가능하도록 설치하여 형광램프(31)로부터 조사된 빛이 결점부위에서 난반사되는 상태를 제3b도에 예시된 바와 같이 화소(pixel)에 대한 전압 프로필과 같은 출력 신호를 통하여 패널(11)의 결함유무를 검사하는 것이다.That is, in the inspection by the light transmission illustrated in FIG. 3A, the fluorescent lamp 31 for transmission is installed on the opaque black wall 32, and the panel 11 to be inspected on the front surface thereof is rotated by the guide 34. Installed in such a way that the light irradiated from the fluorescent lamp 31 is diffusely reflected at the defect site, as shown in FIG. 3B, through an output signal such as a voltage profile for the pixel. Is to check for defects.

그리고, 제4도 (a)에 예시된 광반사에 의한 검사는 회전가이드(35)에 의해 회전운동 가능하게 설치된 패널(11)의 외표면에 발광램프(36)를 이용하여 광을 조사하고 반사되어 오는 광량을 감지함으로써 제4b도에 예시된 바와 같이 화소(pixel)에 대한 전압 프로필의 출력 신호를 통하여 패널(11)의 결함유무를 검사하는 것이다.In addition, the inspection by the light reflection illustrated in FIG. 4 (a) is performed by using the light emitting lamp 36 to irradiate and reflect light to the outer surface of the panel 11 installed to be rotatable by the rotation guide 35. By detecting the amount of light coming in, the defect of the panel 11 is inspected through the output signal of the voltage profile for the pixel as illustrated in FIG. 4B.

상기한 패널의 결함유무 검사는 종래에는 육안 관찰을 통해 실행하였으나, 이 육안 검사는 작업자의 숙련도 등의 차이에 따라 검사결과의 정밀성과 신뢰성 및 생산성에 한계를 가질 수 밖에 없었으므로, 이후 카메라가 장착된 검사장치를 이용하여 검사의 정밀성과 신뢰성 및 생산성 향상을 도모하였다.The defect inspection of the panel was conventionally performed by visual observation, but this visual inspection had a limitation on the precision, reliability, and productivity of the inspection result according to the difference in the skill of the operator, etc. The inspection equipment used to improve the precision, reliability and productivity of the inspection.

제6도는 카메라가 장착된 종래의 음극선관 패널 결함 검사장치의 주요부를 개략적으로 도시한 것으로서, 이 장치는 도시된 바와 같이 검사 대상 패널(11)을 일방향으로 이송시키는 제1벨트컨베이어(50a)를 구비하고 있는 동시에 이와 소정 간격의 틈새공간(50c)이 형성되도록 서로 맞닿아 있는 제2벨트컨베이어(50b)를 구비하고 있다. 그리고, 상기 틈새공간(50c)의 하부에는 그 길이방향과 나란하도록 설치된 광원(52)이 마련되어 있으며, 그 상부에는 고체촬상소자(CCD; Charge-Coupled Device)가 내장된 카메라(53)가 지지프레임(54)에 의해 지지되어 있다.FIG. 6 schematically shows a main part of a conventional cathode ray tube panel defect inspection apparatus equipped with a camera, which is configured to carry a first belt conveyor 50a for conveying the inspection subject panel 11 in one direction as shown in FIG. And a second belt conveyor 50b which is in contact with each other such that a gap space 50c of a predetermined interval is formed. In addition, a light source 52 installed in parallel with the longitudinal direction is provided under the gap space 50c, and a camera 53 in which a charge-coupled device (CCD) is embedded is supported thereon. It is supported by 54.

한편, 상기 광원(52)은 직관식 조명등(52a)과 이로부터 방사상으로 출사되는 광을 일정한 방향으로 모을 수 있도록 내부에 반사면이 마련되고 일측에 개구부(52c)가 마련된 덮개(52b)를 구비하고 있다. 또한, 상기 제1벨트컨베이어(50a)의 끝단부에는 패널(11)의 통과 여부를 감지하는 감지센서(51)가 마련되어 있고, 상기 제1벨트컨베이어(50a)와 제2벨트컨베이어(50b)의 일측면 사이에는 스텝핑 모터(55)가 설치되어 있어서, 이 스텝핑 모터(55)가 상기 제1벨트컨베이어(50a)와 제2벨트컨베이어(50b)를 동시 구동함으로써 부하의 변동에 따른 등속성이 확보된다.On the other hand, the light source 52 is provided with a cover 52b provided with a reflecting surface therein and an opening 52c on one side to collect the linear illuminating lamp 52a and light emitted radially therefrom in a predetermined direction. Doing. In addition, a sensing sensor 51 for detecting whether the panel 11 passes through is provided at an end of the first belt conveyor 50a, and the first belt conveyor 50a and the second belt conveyor 50b are provided. A stepping motor 55 is installed between one side surface, and the stepping motor 55 simultaneously drives the first belt conveyor 50a and the second belt conveyor 50b, thereby ensuring uniformity in response to the load variation. do.

이와 같이 종래의 음극선관 패널 결함 검사장치는 검사 대상 패널(11)을 제1벨트컨베이어(50a)을 통하여 제2벨트컨베이어(50b)측으로 이송시키게 된다. 패널(11)이 이송되면서 제1벨트컨베이어(50a)의 끝단부에 설치된 센서(51)에 의해 감지되고, 상기 제1벨트컨베이어(50a)와 제2벨트컨베이어(50b) 사이에 형성된 틈새공간(50c)을 지날 때, 상기 광원(52)은 패널(11)을 향해 광을 조사하게 된다. 이때, 패널(11)의 상부에 위치한 상기 카메라(53)가 패널(11)을 투과한 광량을 인식하여 제3b도와 제4b도에서와 같이 변환된 전기적 신호에 의해 패널(11)에 결함유무를 검사하게 된다.As described above, the conventional cathode ray tube panel defect inspection apparatus transfers the inspection target panel 11 to the second belt conveyor 50b through the first belt conveyor 50a. As the panel 11 is transported, it is detected by the sensor 51 installed at the end of the first belt conveyor 50a, and the clearance space formed between the first belt conveyor 50a and the second belt conveyor 50b ( As it passes 50c, the light source 52 irradiates light toward the panel 11. At this time, the camera 53 positioned on the top of the panel 11 recognizes the amount of light transmitted through the panel 11 to detect defects on the panel 11 by the converted electrical signals as shown in FIGS. 3b and 4b. Will be examined.

그러나, 상기한 종래의 패널 결함 검사장치에 있어서, 검사 대상 패널은 일정 곡률면을 가지고 있으므로, 이 곡률면에 대하여 카메라와 조명을 일치시키기 어렵고, 또한 패널은 그 내면이 거칠게 형성되어 있어서 광 산란이 일부 발생하게 되어 카메라에 입력된 신호가 노이즈의 형태를 보이게 되므로 검사 성능이 저하되는 문제점이 있었다.However, in the conventional panel defect inspection apparatus described above, since the inspection target panel has a constant curvature surface, it is difficult to match the illumination with the camera with respect to this curvature surface, and the panel has a rough inner surface, so that light scattering In some cases, since the signal input to the camera shows the shape of noise, there was a problem that the inspection performance is reduced.

따라서, 본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 감안하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 검사 대상 패널에 광을 조사하여 투과시키는 광원을 쌍직관식으로 형성하고, 여기에 광집속수단을 설치하여 패널의 곡률면에 대해서도 투과되는 광량이 일정하게 대응하여 조사되도록 함으로써, 제5도에 도시된 바와 같은 패널 결함 인식에 바람직한 형태의 전기적 신호를 유도하여 패널 결함 검사의 성능 및 효율을 향상시킬 수 있도록 한 음극선관 패널의 결함 검사장치를 제공하는 것이다.Accordingly, the present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to form a light source that bisects a light source through which light is irradiated and transmitted to a panel to be inspected, and a light converging means is provided thereon The amount of light transmitted through the curvature surface of the device is uniformly irradiated, thereby inducing an electrical signal of a form suitable for panel defect recognition as shown in FIG. 5 to improve the performance and efficiency of panel defect inspection. It is to provide a defect inspection apparatus of the cathode ray tube panel.

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 음극선관 패널의 결함 검사장치는,The defect inspection apparatus of the cathode ray tube panel of the present invention for achieving the above object,

음극선관 패널을 향하여 광을 조사하는 광원과, 상기 패널을 투과한 광량 정보를 입력받아 전기적 신호를 변환시켜주기 위한 광전변환수단을 포함하는 음극선관 패널 검사장치에 있어서,A cathode ray tube panel inspection apparatus comprising a light source for irradiating light toward a cathode ray tube panel and photoelectric conversion means for converting an electrical signal by receiving light quantity information transmitted through the panel,

상기 광원은,The light source is

서로 나란하게 마련된 한 쌍의 직관과;A pair of intuitions arranged next to each other;

상기 직관에 각각 수용되는 램프와;Lamps each received in the straight pipe;

상기 램프로부터 출사된 광의 경로를 일방향으로 집속하여 통과시키도록 상기 직관의 일측에 구비되어 공간통로를 형성하는 커버와; 상기 공간통로의 끝단에 위치하도록 상기 커버에 설치되는 광집속수단과;을 포함하는 것을 특징으로 한다.A cover provided at one side of the straight pipe to focus and pass the path of the light emitted from the lamp in one direction to form a space passage; And a light concentrating means installed on the cover to be positioned at an end of the space passage.

상기 본 발명에 의한 음극선관 패널 검사장치에 있어서, 상기 광집속수단은 상기 패널의 곡률면과 대응되는 곡률면을 가지도록 원통형으로 형성된 광학렌즈인 것이 바람직하다. 이러한 구성적 특징에 따르면, 패널의 곡률면에 대응하여 광원으로부터 조사되는 광량이 일정한 상태로 조사될 수 있다. 그리고, 상기 직관과 커버의 내부에는 광반사물질이 도포된 것이 바람직하다.In the cathode ray tube panel inspection apparatus according to the present invention, the light converging means is preferably an optical lens formed in a cylindrical shape to have a curvature surface corresponding to the curvature surface of the panel. According to this structural feature, the amount of light irradiated from the light source corresponding to the curvature surface of the panel can be irradiated in a constant state. In addition, it is preferable that a light reflecting material is coated inside the straight pipe and the cover.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명 음극선관 패널 결함 검사장치에 대한 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention cathode ray tube panel defect inspection apparatus will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

먼저, 본 발명장치를 설명하기 위한 도면 중, 제7도는 본 발명에 따른 음극선관 패널 결함 검사장치의 주요부를 도시한 개략적 사시도이며, 제8도는 제7도에서 광원인 쌍직관 조명기구를 발췌 도시한 개략적 사시도이다. 그리고, 제9도는 제8도에 도시된 쌍직관 조명기구의 Ⅰ-Ⅰ선 단면도이고, 제10도는 제8도에 도시된 쌍직관 조명기구의 Ⅱ-Ⅱ선 단면도이다. 또한, 제11도는 본 발명장치의 패널에 대한 광조사 상태의 개략적 단면도이고, 제12도는 본 발명 장치에 의해 패널 결함이 인식되는 전기적 신호의 상태도이다.First, in the drawings for explaining the present invention, Figure 7 is a schematic perspective view showing the main portion of the cathode ray tube panel defect inspection apparatus according to the present invention, Figure 8 is an excerpt of the bi-linear luminaire which is a light source in Figure 7 One schematic perspective view. 9 is a sectional view taken along the line I-I of the twin linear luminaire shown in FIG. 8, and FIG. 10 is a sectional view taken along the line II-II of the bi-linear lighting fixture shown in FIG. 11 is a schematic sectional view of the light irradiation state with respect to the panel of the apparatus of the present invention, and FIG. 12 is a state diagram of an electrical signal in which a panel defect is recognized by the apparatus of the present invention.

상기 도면들을 참조하면, 본 발명에 의한 음극선과 패널 결함 검사장치는 검사 대상 패널(11)을 일방향으로 이송시키는 제1벨트컨베이어(50a)를 구비하고 있는 동시에 이와 소정 간격의 틈새공간(50c)이 형성되도록 서로 맞닿아 있는 제2벨트컨베이어(50b)를 구비하고 있다. 그리고, 상기 틈새공간(50c)의 하부에는 그 길이 방향과 나란하도록 설치된 광원(80)이 마련되어 있으며, 그 상부에는 고체촬상소자(CCD; Charge-Coupled Device)가 내장된 카메라(53)가 지지프레임(54)에 의해 지지되어 있다.Referring to the drawings, the cathode ray and panel defect inspection apparatus according to the present invention is provided with a first belt conveyor (50a) for transporting the panel to be inspected in one direction, and at the same time there is a gap space (50c) of a predetermined interval The second belt conveyor 50b which abuts each other is provided so that it may be formed. In addition, a light source 80 provided in parallel with the longitudinal direction is provided under the gap space 50c, and a camera 53 in which a charge-coupled device (CCD) is built is supported thereon. It is supported by 54.

그리고, 상기 제1벨트컨베이어(50a)의 끝단부에는 패널(11)의 통과 여부를 감지하는 감지센서(51)가 마련되어 있고, 상기 제1벨트컨베이어(50a)와 제2벨트컨베이어(50b)의 일측면 사이에는 제1벨트컨베이어(50a)와 제2벨트컨베이어(50b)가 부하의 변동에 따라 등속성을 가지며 구동되도록 제어하는 스텝핑 모터(55)가 설치되어 있다.In addition, a sensing sensor 51 for detecting whether the panel 11 passes through is provided at an end of the first belt conveyor 50a, and the first belt conveyor 50a and the second belt conveyor 50b are provided. Between the one side is provided with a stepping motor 55 for controlling the first belt conveyor (50a) and the second belt conveyor (50b) to be driven with the same properties as the load changes.

한편, 상기 광원(80)은 본 발명장치를 특징짓는 구성요소로서 나란하게 설치된 두개의 직관에 램프(81)가 마련되고, 이 램프(81)로부터 출사되는 광의 광로를 일방향으로 모으기 위하여 상기 직관의 내부에 반사물질이 도포되어 있는 동시에 광이 통과되는 소정 공간부(85)가 형성된 커버(84)를 구비하고 있다.On the other hand, the light source 80 is provided with a lamp 81 in two straight pipes installed side by side as a component to characterize the device of the present invention, in order to collect the optical path of the light emitted from the lamp 81 in one direction A cover 84 having a predetermined space portion 85 through which light is applied while reflecting material is applied therein is provided.

또한, 상기 커버(84)에 형성된 공간부(85)의 끝단에는 패널(11)의 곡률면에 대하여 상기 광원(80)으로부터 조사되어 투과되는 광량이 일정하게 되도록 광을 집속하기 위한 원통형 렌즈(86)가 구비되어 있는 구조로 되어 있다.In addition, at the end of the space portion 85 formed in the cover 84, a cylindrical lens 86 for condensing light so that the amount of light transmitted and transmitted from the light source 80 with respect to the curvature surface of the panel 11 is constant. ) Is provided.

이와 같이 구성된 본 발명의 패널 결함 검사장치는 검사 대상 패널(11)을 제1벨트컨베이어(50a)를 통하여 제2벨트컨베이어(50b)측으로 이송시키게 된다. 패널(11)이 이송되면서 제1벨트컨베이어(50a)의 끝단부에 설치된 감지센서(51)에 의해 이송상태가 감지되고, 상기 제1벨트컨베이어(50a)와 제2벨트컨베이어(50b) 사이에 형성된 틈새공간(50c)을 지날 때, 상기 광원(80)이 패널(11)을 향해 광을 조사하게 된다. 이때, 패널(11)의 상부에 위치한 CCD 카메라(53)가 패널(11)을 투과한 광량을 인식하고 제12도에 도시된 바와 같이 변환된 전기적 신호에 의해 패널(11)의 결함유무를 검사하게 된다.The panel defect inspection apparatus of the present invention configured as described above transfers the inspection target panel 11 to the second belt conveyor 50b side through the first belt conveyor 50a. As the panel 11 is conveyed, the conveying state is detected by a sensor 51 installed at the end of the first belt conveyor 50a, and between the first belt conveyor 50a and the second belt conveyor 50b. When passing through the formed gap space 50c, the light source 80 irradiates light toward the panel 11. At this time, the CCD camera 53 located above the panel 11 recognizes the amount of light transmitted through the panel 11 and inspects the defect of the panel 11 by the converted electrical signal as shown in FIG. Done.

여기서, 제3b도에 도시된 전기적 신호의 상태는 검사 대상의 불량여부를 판정하는데 있어서 인식폭 A는 크게 출력되나, B는 적게 출력되고, 제4b도에 도시된 전기적 신호의 상태는 인식폭 B는 크게 출력되나, A는 적게 출력되므로 패널의 검사 대상이 되는 결함상태와 먼지나 이물질 또는 미세한 상태의 결함 등의 구별이 어려웠다.Here, in the state of the electrical signal shown in FIG. 3b, the recognition range A is largely output in determining whether the inspection object is defective, but B is less. In the state of the electrical signal shown in FIG. 4b, the recognition width B is shown. The output is large, but the output A is low, so it is difficult to distinguish between defects that are the inspection targets of the panel and dust, foreign matters, or microscopic defects.

반면에, 본 발명 장치는 제11도에 도시된 바와 같은 광조사 상태를 통하여 광의 증폭과 직진성이 배가되어 패널 결함부에 반사 및 굴절되는 광량이 많게 되며, 그에 따른 전기적 신호의 상태는 제12도에 도시된 바와 같이 인식폭 A와 B 모두가 크게 출력되게 된다. 이것은 제5도에 도시된 패널 결함 인식에 바람직한 전기적 신호의 상태와 일치하는 것으로서, 패널의 검사 대상이 되는 결함상태를 보다 정밀하고 효율적으로 구분하여 검사할 수 있게 된다.On the other hand, the apparatus of the present invention doubles the amplification and linearity of the light through the light irradiation state as shown in FIG. 11, thereby increasing the amount of light reflected and refracted by the panel defects. As shown in FIG. 2, both of the recognition widths A and B are largely output. This coincides with the state of the electrical signal desirable for the panel defect recognition shown in FIG. 5, and it is possible to distinguish and inspect the defect state to be inspected by the panel more precisely and efficiently.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 음극선관 패널 결함 검사장치는 검사 대상 패널에 광을 조사하여 투과시키는 광원을 쌍직관식 조명장치로 구비하고, 이 조명장치에 광집속 수단을 구비하여 패널의 곡률면에 대해서도 투과되는 광량이 일정하게 조사되도록 함으로써 음극선관 패널 결함 검사의 성능 및 효율을 향상시킬 수 있는 효과를 얻을 수 있다.As described above, the cathode ray tube panel defect inspection apparatus according to the present invention is provided with a bi-linear illumination device that includes a light source for irradiating and transmitting light to a panel to be inspected, and the illumination device includes a light focusing means for By making the amount of light transmitted through the curvature surface constant, the effect of improving the performance and efficiency of the cathode ray tube panel defect inspection can be obtained.

Claims (3)

음극선관 패널을 향하여 광을 조사하는 광원과, 상기 패널을 투과한 광량 정보를 입력받아 전기적 신호를 변환시켜주기 위한 광전변환수단을 포함하는 음극선관 패널 검사장치에 있어서, 상기 광원은, 서로 나란하게 마련된 한 쌍의 직관과; 상기 직관에 각각 수용되는 램프(81)와; 상기 램프로부터 출사된 광의 경로를 일방향으로 집속하여 통과시키도록 상기 직관의 일측에 구비되어 공간통로(85)를 형성하는 커버(84)와; 상기 공간통로의 끝단에 위치하도록 상기 커버에 설치되는 광집속수단;을 포함하는 것을 특징으로 하는 음극선관 패널 검사장치.In a cathode ray tube panel inspection apparatus comprising a light source for irradiating light toward a cathode ray tube panel and photoelectric conversion means for converting an electrical signal by receiving light quantity information transmitted through the panel, the light sources are parallel to each other. A pair of intuition provided; Lamps 81 respectively received in the straight pipes; A cover 84 provided on one side of the straight pipe to focus and pass a path of light emitted from the lamp in one direction to form a space passage 85; And a light focusing means installed on the cover to be located at the end of the space passage. 제1항에 있어서, 상기 광집속수단은 상기 패널의 곡률면과 대응되는 곡률면을 가지도록 원통형으로 형성된 광학렌즈(86)인 것을 특징으로 하는 음극선관 패널의 결함 검사장치.The defect inspection apparatus according to claim 1, wherein the light converging means is an optical lens (86) formed in a cylindrical shape to have a curvature surface corresponding to the curvature surface of the panel. 제1항에 있어서, 상기 직관과 커버의 내부에는 광반사물질이 도포된 것을 특징으로 하는 음극선관 패널의 결함 검사장치.The defect inspection apparatus of claim 1, wherein a light reflecting material is coated inside the straight pipe and the cover.
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