KR100650771B1 - 반도체 패키지 - Google Patents
반도체 패키지 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100650771B1 KR100650771B1 KR1020050119671A KR20050119671A KR100650771B1 KR 100650771 B1 KR100650771 B1 KR 100650771B1 KR 1020050119671 A KR1020050119671 A KR 1020050119671A KR 20050119671 A KR20050119671 A KR 20050119671A KR 100650771 B1 KR100650771 B1 KR 100650771B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- chip
- semiconductor package
- substrate
- wire
- molding layer
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
- H01L23/31—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
- H01L23/29—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the material, e.g. carbon
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15311—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
개시된 반도체 패키지는, 기판과, 상기 기판 상에 실장된 칩과, 상기 기판과 상기 칩 사이를 전기적으로 연결하는 와이어 및 상기 칩과 상기 와이어를 외부로부터 보호하기 위한 몰딩층을 포함하며, 상기 몰딩층은 결합재를 강화섬유에 함침시킨 다수의 프리프레그 시트로 이루어짐으로써, 외부의 압력 등에 의한 파손을 줄여 제품의 불량률을 현저히 줄일 수 있는 효과를 제공한다.
Description
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 패키지를 나타낸 단면도,
도 2는 도 1의 몰딩층을 형성하는 프리프레그 시트의 적층 모습을 나타낸 분해 사시도.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
10... 반도체 패키지 11... 기판
12... 칩 13... 와이어
14... 몰딩층 15... 프리프레그 시트
본 발명은 반도체 패키지에 관한 것으로서, 특히 칩 및 와이어를 외부로부터 보호하기 위한 몰딩층에 관한 것이다.
반도체 패키지는 웨이퍼 공정에 의해 만들어진 개개의 칩을 실제 전자 부품으로써 사용할 수 있도록 전기적 연결을 해주고, 외부의 충격으로부터 보호되도록 밀봉 포장한 것을 말하며, 최근 고용량, 고집적, 초소형화된 반도체 제품에 대한 요구에 부응하기 위해 다양한 반도체 패키지들이 개발되고 있다.
이러한 반도체 패키지는 기판 상에 칩이 실장되고, 기판과 칩 사이를 와이어에 의하여 전기적으로 연결을 하며, 칩과 와이어를 외부로부터 보호하기 위하여 EMC에 의하여 밀봉한다.
여기서, EMC는 열경화성 수지로써, 용융 상태로 성형 가공하여 칩과 와이어를 밀봉한다.
그런데, 이와 같은 EMC를 이용한 성형 과정은 용융 상태의 EMC를 금형 안에 주입하는 필링(filling)과 성형 후 경화(PMC;Post Mold Curing) 과정으로 이루어져 시간이 오래 소요되며, 장비 당 공정 수행 능력이 떨어져 생산성이 떨어지는 문제점이 있다.
본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 밀봉 부재를 변경하여 생산성을 향상시킬 수 있도록 개선된 반도체 패키지를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 반도체 패키지는, 기판과, 상기 기판 상에 실장된 칩과, 상기 기판과 상기 칩 사이를 전기적으로 연결하는 와이어 및 상기 칩과 상기 와이어를 외부로부터 보호하기 위한 밀봉층을 포함하며, 상기 밀봉층은 결합재를 강화섬유에 함침시킨 다수의 프리프레그 시트로 이루어진 것이 바람직하다.
여기서, 상기 다수의 프리프레그 시트 각각은 표면에 형성된 결이 서로 직교 하도록 적층된 것이 바람직하다.
또한, 상기 다수의 프리프레그 시트는 고온 및 고압 상태에서 성형되어 상기 칩 및 상기 와이어를 몰딩하는 것이 바람직하다.
이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 패키지를 나타낸 단면도이고, 도 2는 도 1의 몰딩층을 이루는 프리프레그 시트의 적층상태를 나타낸 분해 사시도이다.
도면을 참조하면, 반도체 패키지(10)는 기판(11)과, 이 기판(11) 상에 실장된 칩(12)과, 기판(11)과 칩(12) 사이를 전기적으로 연결하는 와이어(13) 및 칩(12)과 와이어(13)를 외부로부터 보호하기 위한 몰딩층(14)을 포함한다.
이 몰딩층(14)은 다수의 프리프레그 시트(prepreg sheet;15)가 적층되어, 질소 가스로 충전된 밀폐 용기 내에서 고온 및 고압 상태로 성형 가공되어 이루어진다.
프리프레그 시트(15)는 에폭시 수지나 폴리에스테르 수지 등의 첨가 중합형 열경화성 수지로 이루어진 결합재를 탄소 섬유나 유리 섬유, 아라미드 섬유 등의 강화 섬유에 미리 함침시킨 시트로 강도, 강성도, 내식성, 피로 수명, 내마모성, 내충격성, 경량화 등의 특성을 가지고 있다.
한편, 다수로 적층된 프리프레그 시트(15)는 외부 압력에 의하여 손상되는 것을 방지하기 위하여, 프리프레그 시트(15) 각각의 표면에 형성된 결이 서로 직교 하도록 적층된다.
즉, 프리프레그 시트(15) 각각의 표면에 형성된 결이 서로 직교하도록 적층시켜, 외부에서 가해지는 횡압력이나 종압력 등 외부 압력의 가해지는 방향에 무관하게 내구성을 갖도록 하기 위함이다.
이와 같은 구조의 반도체 패키지(10)는 칩(12)과 와이어(13)를 외부로부터 보호하기 위한 몰딩층(14)을 섬유 강화 플라스틱인 프리프레그 시트(15)를 다수개 적층하여 형성함으로써, 외부의 압력 등에 의한 파손을 줄여 제품의 불량률을 현저히 줄일 수 있게 된다.
상술한 바와 같이 본 발명의 반도체 패키지에 의하면, 칩과 와이어를 외부로부터 보호하기 위한 몰딩층을 섬유 강화 플라스틱인 프리프레그 시트로 형성함으로써, 외부의 압력 등에 의한 파손을 줄여 제품의 불량률을 현저히 줄일 수 있는 효과를 제공한다.
본 발명은 상기에 설명되고 도면에 예시된 것에 의해 한정되는 것은 아니며, 다음에 기재되는 청구의 범위 내에서 더 많은 변형 및 변용예가 가능한 것임은 물론이다.
Claims (3)
- 기판과, 상기 기판 상에 실장된 칩과, 상기 기판과 상기 칩 사이를 전기적으로 연결하는 와이어 및 상기 칩과 상기 와이어를 외부로부터 보호하기 위한 몰딩층을 포함한 반도체 패키지에 있어서,상기 몰딩층은 결합재를 강화섬유에 함침시킨 다수의 프리프레그 시트로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 패키지.
- 제1항에 있어서,상기 다수의 프리프레그 시트 각각은 표면에 형성된 결이 서로 직교하도록 적층된 것을 특징으로 하는 반도체 패키지.
- 제1항에 있어서,상기 다수의 프리프레그 시트는 고온 및 고압 상태에서 성형되어 상기 칩 및 상기 와이어를 몰딩하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050119671A KR100650771B1 (ko) | 2005-12-08 | 2005-12-08 | 반도체 패키지 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050119671A KR100650771B1 (ko) | 2005-12-08 | 2005-12-08 | 반도체 패키지 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100650771B1 true KR100650771B1 (ko) | 2006-11-27 |
Family
ID=37713924
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050119671A KR100650771B1 (ko) | 2005-12-08 | 2005-12-08 | 반도체 패키지 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100650771B1 (ko) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000012343A (ja) * | 1998-06-17 | 2000-01-14 | Hitachi Ltd | 樹脂モールドコイル及びその製造方法 |
JP2001119148A (ja) * | 1999-10-14 | 2001-04-27 | Sony Corp | Icチップ内蔵多層基板及びその製造方法 |
JP2005246574A (ja) * | 2004-03-05 | 2005-09-15 | Matsushita Electric Works Ltd | 研磨用キャリア基材及びその製造方法 |
-
2005
- 2005-12-08 KR KR1020050119671A patent/KR100650771B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000012343A (ja) * | 1998-06-17 | 2000-01-14 | Hitachi Ltd | 樹脂モールドコイル及びその製造方法 |
JP2001119148A (ja) * | 1999-10-14 | 2001-04-27 | Sony Corp | Icチップ内蔵多層基板及びその製造方法 |
JP2005246574A (ja) * | 2004-03-05 | 2005-09-15 | Matsushita Electric Works Ltd | 研磨用キャリア基材及びその製造方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN104584209B (zh) | 薄型衬底PoP结构 | |
KR100310523B1 (ko) | 반도체 장치 및 반도체 장치용 리드 프레임 | |
US7210635B2 (en) | System and method for encapsulation and protection of components | |
CN100589245C (zh) | 一种多芯片封装结构的封装方法 | |
US8710683B2 (en) | Method of forming wafer level mold using glass fiber and wafer structure formed by the same | |
US9443779B2 (en) | Semiconductor device | |
US20220157678A1 (en) | Integrated circuit packages with cavities and methods of manufacturing the same | |
JP5217039B2 (ja) | 電子部品の樹脂封止方法およびそれを用いて製造された電子部品封止成形品 | |
KR100650771B1 (ko) | 반도체 패키지 | |
US7390551B2 (en) | System and method for encapsulation and protection of components | |
JP2014053586A (ja) | 半導体チップパッケージ及びその製造方法 | |
US20080265432A1 (en) | Multi-chip package and method of manufacturing the multi-chip package | |
US6781066B2 (en) | Packaged microelectronic component assemblies | |
JP4184333B2 (ja) | ゆがみ防止パッケージおよびその製造方法 | |
CN112384025B (zh) | 一种电子器件的防护装置及其封装方法 | |
JP5547132B2 (ja) | 半導体装置、その製造方法及び製造装置 | |
KR102041625B1 (ko) | 반도체 패키지 및 이의 제조방법 | |
KR102057204B1 (ko) | 지문인식센서 칩용 보강필름, 이의 제조방법 및 이를 포함하는 지문인식센서 모듈 | |
CN105321909A (zh) | 电子装置及封装电子装置的方法 | |
CN100382287C (zh) | 一种半导体的封装结构 | |
CN107958845B (zh) | 一种长线列探测器的塑封方法 | |
KR101364020B1 (ko) | 반도체 패키지 및 그 제조 방법 | |
US20220396016A1 (en) | Stack molding machine | |
JPH06350231A (ja) | 電子部品構成物内蔵インモールド品 | |
JP2024515155A (ja) | 半導体デバイス用の半導体パワーモジュールおよび半導体パワーモジュールを製造する方法ならびに半導体デバイス |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20101025 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |