KR100619448B1 - Vacuum processing apparatus - Google Patents

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KR100619448B1 KR1020050062054A KR20050062054A KR100619448B1 KR 100619448 B1 KR100619448 B1 KR 100619448B1 KR 1020050062054 A KR1020050062054 A KR 1020050062054A KR 20050062054 A KR20050062054 A KR 20050062054A KR 100619448 B1 KR100619448 B1 KR 100619448B1
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타츠히로 타구치
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Abstract

[과제] 진공처리장치의 기판 이송공정의 단순화를 꾀한다.[PROBLEMS] To simplify the substrate transfer process of the vacuum processing apparatus.

[해결수단] 진공처리장치(10)는 로드/언로드 챔버(11), 진공예비가열챔버(12) 및 처리챔버(13)를 구비한다. 진공예비가열챔버(12)에는, 순이송장치(22), 역이송장치(32) 및 기판(W)을 가열하는 히터(H)가 마련되어 있다. 히터(H)는 순이송장치(22) 측에 1개 마련되어 있다. 순이송장치(21, 22)는 순방향으로 기판(W)을 이송하고, 역이송장치(31, 32)는 처리완료된 기판(W)을 역방향으로 이송한다. 로드/언로드 챔버(11)는 대기 개방과 진공 밀폐를 변환할 수 있는 챔버이고, 로드/언로드 챔버(11)로부터 기판(W)을 투입하고, 이송동작(x2 ~ x5)을 경유하여 기판(W)을 회수한다.Solution The vacuum processing apparatus 10 includes a load / unload chamber 11, a vacuum preheating chamber 12, and a processing chamber 13. The vacuum preheating chamber 12 is provided with a heater H for heating the forward feeder 22, the reverse feeder 32, and the substrate W. One heater H is provided in the forward feeder 22 side. The forward transfer apparatuses 21 and 22 transfer the substrate W in the forward direction, and the reverse transfer apparatuses 31 and 32 transfer the processed substrate W in the reverse direction. The load / unload chamber 11 is a chamber capable of switching between atmospheric opening and vacuum sealing, and injects the substrate W from the load / unload chamber 11 and passes the substrate W via the transfer operations x2 to x5. ).

진공처리장치, 이송장치, 기판, 로드/언로드 챔버, 진공예비가열챔버 Vacuum Processing Equipment, Transfer Equipment, Substrate, Load / Unload Chamber, Vacuum Preheating Chamber

Description

진공처리장치{VACUUM PROCESSING APPARATUS}Vacuum Processing Equipment {VACUUM PROCESSING APPARATUS}

도 1은 본 발명의 실시형태에 관계된 진공처리장치의 구성을 모식적으로 보여주는 전체구성도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is an overall block diagram which shows typically the structure of the vacuum processing apparatus which concerns on embodiment of this invention.

도 2는 본 발명의 실시형태에 관계된 진공처리장치의 이송장치를 모식적으로 보여주는 사시도이다.2 is a perspective view schematically showing a transfer device of a vacuum processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 실시형태에 관계된 진공처리장치를 이용한 기판 이송의 타이밍 차트이다.3 is a timing chart of substrate transfer using a vacuum processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

(도면 부호의 간략한 설명)(Short description of drawing code)

10: 진공처리장치, 11: 로드/언로드 챔버,10: vacuum processing unit, 11: load / unload chamber,

12: 진공예비가열챔버, 13: 처리챔버,12: vacuum preheating chamber, 13: treatment chamber,

14: 유지부, 21, 22: 순이송장치,14: holding unit, 21, 22: the net feeder,

22a, 32a: 승강기구, 31, 32: 역이송장치,22a, 32a: lifting mechanism, 31, 32: reverse feeder,

100: 외부 스테이션, G1~G3: 게이트,100: external station, G1-G3: gate,

H: 히터, W, W1~W6: 기판(피처리물),H: heater, W, W1 to W6: substrate (object to be processed),

x1~x6: 이송동작(동작), y, y1, y2: 승강동작x1 to x6: feed motion (movement), y, y1, y2: lift motion

본 발명은 진공분위기 중에서 박막 형성, 에칭, 열처리 등을 행하는 진공처리장치에 관한 것이다.The present invention relates to a vacuum processing apparatus for performing thin film formation, etching, heat treatment and the like in a vacuum atmosphere.

1 대의 장치로 다른 복수의 진공처리를 차례로 행하는 경우, 진공 중에서 피처리물을 처리챔버로부터 다음의 처리챔버로 반송하는 장치로서, 진공예비가열챔버와 처리챔버를 구비하고, 진공예비가열챔버에 복수의 기판반송수단을 마련한 로드락식 진공장치가 알려져 있다. 이 장치는 진공예비가열챔버에 마련된 2개의 반송라인 각각이 처리챔버와의 사이에서 기판의 수수(授受)를 행하도록 구성되어 있다(예컨대, 특허문헌1 참조).In the case where a plurality of different vacuum treatments are sequentially performed by one apparatus, an apparatus for conveying a workpiece from a processing chamber to a next processing chamber in a vacuum, comprising a vacuum preheating chamber and a processing chamber, and a plurality of vacuum preheating chambers. BACKGROUND ART A load lock type vacuum apparatus provided with a substrate transfer means is known. This apparatus is comprised so that each of the two conveyance lines provided in the vacuum preheating chamber may receive a board | substrate between a process chamber (for example, refer patent document 1).

[특허문헌1] 일본국 특허공개공보 2001-239144호(제2항, 도 1, 2)[Patent Document 1] Japanese Patent Laid-Open No. 2001-239144 (claim 2, Figs. 1 and 2)

특허문헌 1의 로드락식 진공장치에서는, 두 개의 반송라인 모두 처리챔버로의 기판 반송과 처리챔버로부터의 기판 반입을 행하므로, 반송라인의 반송동작이 복잡한 문제가 있다.In the load lock type vacuum apparatus of patent document 1, since both conveyance lines carry a board | substrate to a process chamber and carry in a board | substrate from a process chamber, there exists a problem of conveyance operation of a conveyance line.

청구항 1의 진공처리장치는, 서로 연결되어, 피처리물을 연속적으로 진공처리하는 2 이상의 제1 ~ 제n 처리챔버와, 제1 ~ 제(n-1) 처리챔버 각각에 마련되고, 후단의 처리챔버로 상기 피처리물을 각각 이송하는 순(順)이송수단과, 제1 ~ 제(n-1) 처리챔버 각각에 상기 순이송수단과는 별도로 마련되고, 최후에 진공처리를 행하는 제n 처리챔버로부터 제(n-1) ~ 제1 처리챔버 각각을 순차 경유하여 처리완료 된 피처리물을 역이송하는 역(逆)이송수단과, 제n 처리챔버로 피처리물을 순이송할 때와 제n 처리챔버로부터 처리완료된 피처리물을 역이송할 때, 제(n-1) 처리챔버의 순이송수단과 역이송수단을 이송가능 위치로 각각 이동시키는 구동수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.The vacuum processing apparatus of claim 1 is connected to each other and is provided in each of two or more first to n-th processing chambers for continuously vacuuming a target object, and first to n-th processing chambers, respectively. An n-th transfer means for transferring the to-be-processed object to the treatment chamber, respectively, and a first to n-th treatment chamber separately from the net transfer means, and finally the n-th treatment for performing vacuum treatment. Reverse transfer means for reversely transferring the processed object through the (n-1) to the first processing chambers sequentially from the processing chamber, and when the object is to be forwarded to the nth processing chamber And driving means for respectively moving the forward conveying means and the reverse conveying means of the (n-1) th processing chamber to the transferable position when the processed object is back conveyed from the nth processing chamber. .

청구항 2의 진공처리장치는, 청구항 1의 진공처리장치에 있어서, 순이송수단에 의해 피처리물을 이송함과 아울러, 역이송수단에 의해 최후에 진공처리를 행하는 제n 처리챔버로부터 처리완료된 피처리물을 회수하는 것을 특징으로 한다.In the vacuum processing apparatus of claim 1, in the vacuum processing apparatus of claim 1, the processed blood is transferred from the nth processing chamber which transfers the object to be processed by the forward conveying means and finally performs the vacuum treatment by the reverse conveying means. It is characterized by recovering a processed material.

청구항 3의 진공처리장치는, 청구항 1 또는 2의 진공처리장치에 있어서, 제1 ~ 제n 처리챔버 중 최초로 진공처리를 행하는 제1 처리챔버로 피처리물을 이송하고, 제1 ~ 제n 처리챔버 중 최후에 진공처리를 행하는 제n 처리챔버로부터 처리완료된 피처리물을 회수하고, 대기 개방과 진공 밀폐를 변환할 수 있는 수도(受渡)챔버를 더 구비하는 것을 특징으로 한다.The vacuum processing apparatus of claim 3, wherein the vacuum processing apparatus of claim 1 or 2 transfers an object to be processed into a first processing chamber in which vacuum processing is performed first among the first to nth processing chambers, and the first to nth processing. And a water chamber capable of recovering the processed object from the n-th processing chamber which is subjected to the last vacuum treatment in the chamber and converting the air opening and the vacuum sealing.

본 발명의 진공처리장치에는, 순이송수단과 역이송수단을 전용으로 구비하고 있으므로, 기판 이송공정의 단순화를 꾀하는 것이 가능하다.Since the vacuum processing apparatus of this invention is equipped with the forward conveying means and the reverse conveying means exclusively, it is possible to simplify the board | substrate conveyance process.

이하, 본 발명의 실시형태에 의한 진공처리장치를 도 1~3을 참조하여 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the vacuum processing apparatus by embodiment of this invention is demonstrated with reference to FIGS.

도 1은, 본 발명의 실시형태에 의한 진공처리장치의 구성을 모식적으로 보여주는 전체구성도이다. 진공처리장치(10)는, 로드/언로드 챔버(11), 진공예비가열챔버(12), 처리챔버(13), 순이송장치(21, 22) 및 역이송장치(31, 32)를 구비한다. 로드/언로드 챔버(11)는 대기 개방과 진공 밀폐를 변환가능하게 구성되어, 처리전 기 판(W)의 진공예비가열챔버(12)로의 이송과 처리완료된 기판(W)의 회수를 행한다. 진공예비가열챔버(12)와 처리챔버(13)는 진공처리장치(10)가 가동중일때는 항상 내부가 진공으로 유지된다. 로드/언로드 챔버(11)는 배기계(11a)와 리크(leak)계(11b)에 접속되어 있고, 진공예비가열챔버(12), 처리챔버(13)는 각각 배기계(12a, 13a)에 접속되어 있다. 외부 스테이션(100)은 진공처리장치(10)와는 다른 몸체로 구성되어, 처리전 기판(W)을 보관하여 진공처리장치(10)로 공급함과 아울러, 처리완료된 기판(W)을 회수하기 위한 챔버이며, 내부는 항상 대기압으로 되어 있다.1 is an overall configuration diagram schematically showing the configuration of a vacuum processing apparatus according to an embodiment of the present invention. The vacuum processing apparatus 10 includes a load / unload chamber 11, a vacuum preheating chamber 12, a processing chamber 13, forward transfer apparatuses 21 and 22, and reverse transfer apparatuses 31 and 32. . The load / unload chamber 11 is configured to switch between open air and vacuum seal, so as to transfer the substrate W to the vacuum preheating chamber 12 and recover the processed substrate W before processing. The vacuum preheating chamber 12 and the processing chamber 13 are always kept in a vacuum when the vacuum processing apparatus 10 is in operation. The load / unload chamber 11 is connected to the exhaust system 11a and the leak system 11b, and the vacuum preheating chamber 12 and the processing chamber 13 are connected to the exhaust systems 12a and 13a, respectively. have. The outer station 100 is configured with a different body from the vacuum processing apparatus 10 to store the substrate W before processing and to supply it to the vacuum processing apparatus 10, as well as a chamber for recovering the processed substrate W. The inside is always at atmospheric pressure.

로드/언로드 챔버(11)에는 외부 스테이션(100) 측에 면하여 게이트(G1)가 마련되고, 로드/언로드 챔버(11)와 진공예비가열챔버(12)의 경계에는 게이트(G2)가 마련되고, 진공예비가열챔버(12)와 처리챔버(13)의 경계에는 게이트(G3)가 마련되어 있다. 게이트(G1)는 기판(W)의 장치 외부로의 반출입시만 로드/언로드 챔버(11)를 개방하고, 통상은 밀폐되어 있다. 게이트(G2, G3)는 기판(W) 처리시에는 각각 챔버내를 밀폐하고, 기판(W)의 반출입시에는 각각 챔버내를 개방한다. 화살표(x1, x6)는 게이트(G1)를 기판(W)이 통과하는 동작, 화살표(x2, x5)는 게이트(G2)를 기판(W)이 통과하는 동작, 화살표(x3, x4)는 게이트(G3)를 기판(W)이 통과하는 동작을 나타낸다. 또한, 화살표(y)는 진공예비가열챔버(12) 내에서의 기판(W)의 승강동작을 나타낸다. 기판(W)은 진공예비가열챔버(12)에서 가열되어, 처리챔버(13)에서 RF 플라즈마에 의한 소정의 처리, 예컨대 성막, 에칭, 스퍼터링이 실시되는 피처리물이다.The load / unload chamber 11 is provided with a gate G1 facing the outer station 100 side, and the gate G2 is provided at the boundary between the load / unload chamber 11 and the vacuum preheating chamber 12. The gate G3 is provided at the boundary between the vacuum preheating chamber 12 and the processing chamber 13. The gate G1 opens and closes the load / unload chamber 11 only when the substrate W is brought in and out of the apparatus, and is normally sealed. The gates G2 and G3 respectively seal the inside of the chamber when the substrate W is processed, and open the inside of the chamber when the substrate W is taken in and out. Arrows x1 and x6 indicate an operation in which the substrate W passes through the gate G1, arrows x2 and x5 indicate an operation in which the substrate W passes through the gate G2 and arrows x3 and x4 indicate a gate. The operation | movement which the board | substrate W passes through G3 is shown. Further, the arrow y indicates the lifting operation of the substrate W in the vacuum preheating chamber 12. The substrate W is a to-be-processed object which is heated in the vacuum preheating chamber 12 and subjected to a predetermined process such as film formation, etching, and sputtering by the RF plasma in the processing chamber 13.

로드/언로드 챔버(11) 내에는 순이송장치(21) 및 역이송장치(31)가 마련되어 있다. 순이송장치(21)는 동작(x1)에 의해 로드/언로드 챔버(11)로 이송된 기판(W)을 진공예비가열챔버(12)로 이송하고(동작 x2), 역이송장치(31)는 진공예비가열챔버(12)로부터 처리완료된 기판(W)을 반입한다(동작 x5).In the load / unload chamber 11, a forward feeder 21 and a reverse feeder 31 are provided. The forward feeder 21 transfers the substrate W transferred to the load / unload chamber 11 by the operation (x1) to the vacuum preheating chamber 12 (operation x2), and the reverse feeder 31 The processed substrate W is loaded from the vacuum preheating chamber 12 (operation x5).

진공예비가열챔버(12) 내에는, 순이송장치(22)와, 역이송장치(32)와, 기판(W)을 예비가열하기 위한 히터(H)가 마련되어 있다. 히터(H)는 순이송장치(22) 측에 1개 마련되어 있다. 순이송장치(22)는 승강기구(22a)에 의해 화살표(y) 방향으로 이동가능하고, 역이송장치(32)는 승강기구(32a)에 의해 화살표(y) 방향으로 이동가능하다. 순이송장치(22)는, 도시한 바와 같이, 순이송장치(21)와 동일 높이 위치(예비가열 중의 위치이기도 하다)를 정위치로 하고, 예비가열이 종료하면, 승강기구(22a)에 의해 하강하여 기판(W)을 처리챔버(13)로 이송한다(동작 x3). 역이송장치(32)는 역이송장치(31)와 동일 높이 위치를 정위치로 하고, 플라즈마 처리가 종료하면, 승강기구(32a)에 의해 상승하여 처리챔버(13)로부터 진공예비가열챔버(12)로 처리완료된 기판(W)을 반입한다(동작 x4).In the vacuum preheating chamber 12, the forward transfer apparatus 22, the reverse transfer apparatus 32, and the heater H for preheating the board | substrate W are provided. One heater H is provided in the forward feeder 22 side. The forward feeder 22 is movable in the direction of arrow y by the lifting mechanism 22a, and the reverse feeder 32 is movable in the direction of arrow y by the lifting mechanism 32a. As shown in the drawing, the forward feeder 22 has the same height position as the forward feeder 21 (which is also the position during the preliminary heating), and when the preheating ends, the lifting mechanism 22a It lowers and transfers the board | substrate W to the process chamber 13 (operation x3). The reverse feeder 32 has the same height position as the reverse feeder 31, and when the plasma processing is completed, the reverse feeder 32 is lifted by the elevating mechanism 32a to raise the vacuum preheating chamber 12 from the processing chamber 13. ), The processed substrate W is loaded (operation x4).

즉, 순이송장치(21, 22)에 의해, 처리전의 기판(W)을 진공예비가열챔버(12), 처리챔버(13)로 순차 이송하고, 역이송장치(31, 32)에 의해 처리완료된 기판(W)을 처리챔버(13)로부터 진공예비가열챔버(12)를 거쳐 로드/언로드 챔버(11)로 역이송하는 것이 가능하다.That is, by the forward transfer apparatuses 21 and 22, the substrate W before the process is sequentially transferred to the vacuum preheating chamber 12 and the processing chamber 13, and processed by the reverse transfer apparatuses 31 and 32. It is possible to back transfer the substrate W from the processing chamber 13 to the load / unload chamber 11 via the vacuum preheating chamber 12.

처리챔버(13) 내에는, 기판(W)의 플라즈마 처리를 하기 위한 RF 전극(P)과, 기판(W)을 유지하는 유지부(14)가 마련되어 있다. 본 실시 형태에서는, 유지부(14)는 순이송장치(22), 역이송장치(32)와 기판(W)을 수도(受渡) 할 때에 승강하지 않 고 고정되어 있지만, 순이송장치(22)와 역이송장치(32)를 고정하고, 유지부(14)를 승강시키어 기판(W)을 수도(受渡) 하도록 구성하여도 좋다.In the processing chamber 13, an RF electrode P for performing plasma processing on the substrate W and a holding unit 14 for holding the substrate W are provided. In the present embodiment, the holding unit 14 is fixed without raising and lowering when the forward feeder 22, the reverse feeder 32, and the substrate W are moved, but the forward feeder 22 is fixed. The reverse transfer device 32 may be fixed, and the holding unit 14 may be lifted to raise and lower the substrate W. FIG.

또한, 진공처리장치(10)에는, 외부 스테이션(100)으로부터 로드/언로드 챔버(11)로 기판(W)을 반입(동작 x1)하는 반입장치와, 로드/언로드 챔버(11)로부터 외부 스테이션(100)으로 기판(W)을 반출(동작 x6)하는 반출장치도 마련되어 있지만, 도시를 생략한다. 이러한 장치에 의해, 진공처리장치(10)로의 기판(W)의 투입과 진공처리장치(10)로부터 기판(W)의 회수가 가능하다. 또한, 기판(W) 하나의 이송뿐만 아니라, 기판(W)을 트레이에 놓은 채 일체로 이송하는 경우에는, 외부 스테이션(100)에서 기판(W)을 회수함과 아울러, 회수한 트레이를 외부 스테이션(100)의 투입 측(도에서 상측)으로 주회(周回) 시키면 좋다.In addition, the vacuum processing apparatus 10 includes a loading apparatus for carrying in (operation x1) the substrate W from the external station 100 to the load / unload chamber 11, and an external station (from the load / unload chamber 11). Although the carrying out apparatus which carries out (operation x6) the board | substrate W to 100 is also provided, illustration is abbreviate | omitted. By this apparatus, it is possible to insert the substrate W into the vacuum processing apparatus 10 and to recover the substrate W from the vacuum processing apparatus 10. In addition, when transferring not only one substrate W but also the substrate W while being placed integrally with the tray, the substrate W is recovered from the external station 100 and the collected tray is transferred to the external station. It is good to turn to the input side (up side in a figure) of (100).

다음, 순이송장치(22)와 역이송장치(32)에 대해 설명한다. 도 2는 본 실시 형태에 의한 진공처리장치의 순이송장치(22)와 역이송장치(32)의 구성을 모식적으로 보여주는 사시도이다. 순이송장치(22)와 역이송장치(32)는 각각 승강가능한 상자(23, 33) 내에 설치되고, 상자(23, 33)는 각각 승강기구(22a, 32a)에 의해 진공예비가열챔버(12) 내에서 승강한다.Next, the forward feeder 22 and the reverse feeder 32 will be described. 2 is a perspective view schematically showing the configuration of the forward feeder 22 and the reverse feeder 32 of the vacuum processing apparatus according to the present embodiment. The forward feeder 22 and the reverse feeder 32 are respectively installed in the liftable boxes 23 and 33, and the boxes 23 and 33 are respectively provided by the vacuum preheating chamber 12 by the lifting mechanisms 22a and 32a. ) Get on and off.

순이송장치(22)는 복수의 반송부재(반송 롤러, 22b)를 갖는다. 반송부재(22b)는 예비가열중에는 기판(W)을 놓아두고, 기판 이송시에는 축회전으로 회전하여 동작(x3)에 따라 기판(W)을 처리챔버(13)로 이송하는 회전부재(회전 롤러)이다. 또한, 상자(23)에는 기판(W)을 통과시키기 위한 개구인 반입구(23a), 반출구(23b)가 마련되어 있다.The forward conveyance apparatus 22 has a some conveyance member (conveyance roller, 22b). The conveying member 22b leaves the substrate W during the preheating, and rotates the shaft axially during the substrate transfer, thereby rotating the substrate W to the processing chamber 13 according to the operation (x3) (rotary roller). )to be. In addition, the box 23 is provided with a carry-in port 23a and a carry-out port 23b which are openings for allowing the board | substrate W to pass.

역이송장치(32)도 동일하게, 복수의 반송부재(반송 롤러, 32b)를 갖는다. 반송부재(32b)는 축회전으로 회전하여 동작(x4)에 따라 처리챔버(13)에서 플라즈마 처리를 종료한 기판(W)을 진공예비가열챔버(12) 내로 이송하는 회전부재(회전 롤러)이다. 이때의 반송부재(32b)의 회전 방향은 반송부재(22b)의 회전 방향과 반대이다. 또한, 상자(33)에는, 기판(W)을 통과시키기 위한 개구인 반입구(33a), 반출구(33b)가 마련되어 있다.The reverse feeder 32 also has a plurality of conveying members (conveying rollers 32b). The conveying member 32b is a rotating member (rotary roller) which rotates in the axial rotation and transfers the substrate W, which has finished plasma processing in the processing chamber 13, into the vacuum preheating chamber 12 in accordance with the operation (x4). . The rotation direction of the conveyance member 32b at this time is opposite to the rotation direction of the conveyance member 22b. In addition, the box 33 is provided with a carry-in port 33a and a carry-out port 33b which are openings for allowing the substrate W to pass therethrough.

유지부(14)는 축회전으로 회전할 수 있는 반송부재(반송 롤러, 14a)를 가지며, 반송부재(14a)는 순이송장치(22)에 의한 진공예비가열챔버(12)로부터 처리챔버(13)로의 기판 이송을 보조함과 아울러, 역이송장치(32)에 의한 처리챔버(13)로부터 진공예비가열챔버(12)로의 기판 이송을 보조하는 회전부재(회전 롤러)이다. 당연히, 순이송과 역이송에서는 반송부재(14a)의 회전 방향은 반대로 된다.The holding part 14 has a conveying member (conveying roller 14a) which can rotate by axial rotation, and the conveying member 14a is a process chamber 13 from the vacuum preheating chamber 12 by the forward conveying apparatus 22. A rotating member (rotary roller) which assists substrate transfer to the vacuum transfer chamber and assists substrate transfer from the processing chamber 13 by the reverse transfer apparatus 32 to the vacuum preheating chamber 12. Naturally, in the forward and reverse feed, the rotation direction of the conveying member 14a is reversed.

도 2에 나타낸 상태는, 순이송장치(22)의 반송부재(22b)가 유지부(14)의 반송부재(14a)와 대응하는 높이 위치, 바람직하게는 양자가 동일 평면상에 있고, 예비가열을 종료한 기판(W)을 처리챔버(13)로 이송할 수 있는 상태이다. 이와 같이, 기판(W)을 동일 평면상에서 이송하므로, 기판(W)을 유지부(14)로 옮길 때의 낙하 등을 방지할 수 있다. 반대로, 역이송장치(32)에 의해 기판(W)을 처리챔버(13)로부터 진공예비가열챔버(12) 내로 이송하는 경우는, 승강기구(22a)에 의해 순이송장치(22)를 상승시킴과 아울러, 승강기구(32a)에 의해 역이송장치(32)도 상승시키어, 역이송장치(32)의 반송부재(32b)가 유지부(14)의 반송부재(14a)와 대응하는 높이 위치, 바람직하게는 양자가 동일 평면상으로 되도록 위치결정한다. 이것에 의해, 처리완료된 기판(W)을 수평면상에서 이송하는 것이 가능하다. 또한, 순이송장치(22)와 역이송장치(32)를 승강가능한 1개의 상자에 설치하고, 승강기구도 1개로 하는 구성에서도, 상술한 바와 같은 기판(W)의 순이송과 역이송이 가능하다.In the state shown in FIG. 2, the conveyance member 22b of the forward conveyance apparatus 22 is the height position corresponding to the conveyance member 14a of the holding part 14, Preferably both are on the same plane, and preheating It is a state which can transfer the board | substrate W which finished this to the process chamber 13. Thus, since the board | substrate W is conveyed on the same plane, the fall etc. at the time of moving the board | substrate W to the holding | maintenance part 14 can be prevented. On the contrary, when the substrate W is transferred from the processing chamber 13 into the vacuum preheating chamber 12 by the reverse transfer device 32, the net transfer device 22 is raised by the lifting mechanism 22a. In addition, the back conveying device 32 is also raised by the elevating mechanism 32a, so that the conveying member 32b of the reverse conveying device 32 corresponds to the conveying member 14a of the holding unit 14, Preferably they are positioned so that they are coplanar. Thereby, the processed board | substrate W can be conveyed on a horizontal plane. In addition, even when the forward feeder 22 and the reverse feeder 32 are provided in one lifting box, and the lifting mechanism is also one, the forward and backward transfer of the substrate W as described above is possible. .

이와 같이, 이송 동작(x3)은 순방향이고, 동작(x4)은 역방향이며, 각각 전용으로 이송장치가 마련되어 있으므로, 반송부재(22b, 32b)의 회전방향은 각각 소정의 일방향만이다. 따라서, 기판(W)의 이송 컨트롤은 단순화될 수 있다. 또한, 도시된 바와 같이, 순이송장치(22)를 상단에, 역이송장치(32)를 하단에 배치하고, 히터(H)를 최상단에 배치하고 있으므로, 히터(H)에 의한 가열의 영향이 역이송장치(32)에 미치지도 않는다. 즉, 동작(x4)의 역이송과정에 있는 기판(W)은 가열의 영향을 받지 않고 회수된다. 또한, 순이송장치(22)와 역이송장치(32)의 배치는 상하 2단에 한정되지 않고, 수평 방향으로 2열로도 좋다. 수평방향으로 2열 배치하는 경우는, 히터(H)를 순이송장치(22) 측에 배치한다.In this way, the conveyance operation x3 is the forward direction, the operation x4 is the reverse direction, and since the conveying apparatus is provided exclusively for each, the rotational directions of the conveying members 22b and 32b are each only one predetermined direction. Therefore, the transfer control of the substrate W can be simplified. In addition, since the forward feeder 22 is disposed at the upper end, the reverse feeder 32 is disposed at the lower end, and the heater H is disposed at the uppermost end, as shown in FIG. It does not reach the backfeed 32. That is, the substrate W in the reverse transfer process of the operation x4 is recovered without being affected by the heating. In addition, the arrangement | positioning of the forward conveyance apparatus 22 and the reverse conveyance apparatus 32 is not limited to upper and lower stages, but may be two rows in a horizontal direction. When arranging two rows in a horizontal direction, the heater H is arrange | positioned at the forward feeder 22 side.

다음, 도 3을 참조하면서, 기판(W)의 이송동작에 대해 설명한다. 도 3은 진공처리장치(10)를 사용한 기판 이송의 타이밍 차트이고, 도 3 (a) ~ (d)는 소정 시간이 경과한 때의 장치 내부의 상태를 나타낸다. 또한, 도면이 번잡해지는 것을 피하기 위하여, 도 3에서는 기판(W)과 그 움직임을 주체로 도시함과 아울러, 구성부품의 부호는 도 3 (a)에만 붙인다. 또한, 기판(W)에는 처리된 순번에 W1, W2, W3 ···와 같이 부호를 붙인다.Next, the transfer operation of the substrate W will be described with reference to FIG. 3. 3 is a timing chart of substrate transfer using the vacuum processing apparatus 10, and FIGS. 3A to 3D show the state inside the apparatus when a predetermined time has elapsed. In addition, in order to avoid the complicated figure, the board | substrate W and its movement are mainly shown in FIG. 3, and the code | symbol of a component is attached only to FIG. 3 (a). In addition, the board | substrate W is attached | subjected with code | symbol like W1, W2, W3 ... in the order which it processed.

도 3 (a)를 참조하면, 동작(x1~x3)은 도에서 오른쪽으로 진행하는 이송동작(순이송) 이고, 동작(x4~x6)은 도에서 왼쪽으로 진행하는 이송동작(역이송) 이다. 동작(x1)에서는 로드/언로드 챔버(11)를 대기압으로 압력조절한 후에 게이트(G1)를 열어 기판(W)을 반입하고, 게이트(G1)를 닫아 로드/언로드 챔버(11)를 진공 배기한다. 동작(x6)에서도 동일하게, 로드/언로드 챔버(11)를 대기압으로 압력조절한 후에 게이트(G1)를 열어 기판(W)을 반출하고, 게이트(G1)를 닫아 로드/언로드 챔버(11)를 진공 배기한다. 동작(x2, x3, x4, x5)에서는, 로드/언로드 챔버(11), 진공예비가열챔버(12) 및 처리챔버(13)의 각 챔버가 거의 동등한 진공압하에 있어, 압력조절을 하지않고 게이트 개폐가 행해진다.Referring to FIG. 3 (a), the operations (x1 to x3) are the transfer operations (forward transfer) proceeding to the right in the figure, and the operations (x4 to x6) are the transfer operations (reverse feed) proceeding to the left in the figure. . In operation (x1), after regulating the load / unload chamber 11 to atmospheric pressure, the gate G1 is opened to bring in the substrate W, and the gate G1 is closed to evacuate the load / unload chamber 11. . In the same manner as in operation (x6), after the load / unload chamber 11 is pressure-controlled to atmospheric pressure, the gate G1 is opened to take out the substrate W, and the gate G1 is closed to close the load / unload chamber 11. Vacuum exhaust. In operations (x2, x3, x4, x5), each chamber of the load / unload chamber 11, vacuum preheating chamber 12, and processing chamber 13 is under substantially equal vacuum pressure, so that the gate is not controlled without pressure regulation. Opening and closing is performed.

본 실시 형태에서는, 간단을 위해서, 진공예비가열챔버(12)가 최초로 진공처리를 행하는 처리챔버에 상당하고, 처리챔버(13)가 최후에 진공처리를 행하는 처리챔버에 상당하고, 진공예비가열챔버(12)에서의 예비가열시간과 처리챔버(13)에서의 처리시간이 동일한 것으로 한다. 이러한 1 사이클의 시간을 T로 한다.In the present embodiment, for the sake of simplicity, the vacuum preliminary heating chamber 12 corresponds to the processing chamber for performing the first vacuum treatment, and the processing chamber 13 corresponds to the processing chamber for performing the vacuum treatment last. It is assumed that the preheating time in (12) and the processing time in the processing chamber 13 are the same. The time of one such cycle is set to T.

도 3 (a)는 다음과 같은 시계열로 이송한 후의 상태를 보여준다. 즉, 첫 번째 기판(W1)을 동작(x2)에 의해 로드/언로드 챔버(11)로부터 진공예비가열챔버(12)로 이송한다. 그 이송후에 로드/언로드 챔버(11)를 대기 개방하여, 두 번째의 기판(W2)을 동작(x1)에 의해 외부 스테이션(100)으로부터 로드/언로드 챔버(11)로 이송한다. 세 번째 기판(W3)을 외부 스테이션(100)에 대기시킨다. 도 3 (a)의 상태를 초기상태 t=0으로 한다.Figure 3 (a) shows the state after the transfer in the following time series. That is, the first substrate W1 is transferred from the load / unload chamber 11 to the vacuum preheating chamber 12 by operation x2. After the transfer, the load / unload chamber 11 is opened to the atmosphere to transfer the second substrate W2 from the external station 100 to the load / unload chamber 11 by operation x1. The third substrate W3 is queued to the external station 100. The state of FIG. 3A is made into the initial state t = 0.

도 3 (b)는 1 사이클의 시간(T)이 경과하고, t=T 일때의 진공처리장치(10)의 상태를 보여준다. 이 1 사이클의 시간 중에, 대기 개방되었던 로드/언로드 챔버(11)의 진공 배기가 완료되어 있다. 순이송장치(22)를 정위치로부터 y2 방향으로 하강시키어, 처리챔버(13)의 유지부(14)와 동일 높이로 한 후에, 예비가열처리가 끝난 기판(W1)을 동작(x3)에 의해 처리챔버(13)로 이송한다. 순이송장치(22)를 정위치로 되돌리고, 기판(W2)을 동작(x2)에 의해 로드/언로드 챔버(11)로부터 진공예비가열챔버(12)로 이송하고, 기판(W3)을 동작(x1)에 의해 외부 스테이션(100)으로부터 로드/언로드 챔버(11)로 이송하고, 네 번째의 기판(W4)을 외부 스테이션(100)에 대기시킨다.3B shows the state of the vacuum processing apparatus 10 when the time T of one cycle has elapsed and t = T. During this one cycle of time, vacuum evacuation of the load / unload chamber 11 which has been opened to the atmosphere is completed. After the forward feeder 22 is lowered from the home position in the y2 direction to the same height as the holding part 14 of the processing chamber 13, the preheated substrate W1 is finished by operation (x3). Transfer to process chamber 13. The forward feeder 22 is returned to the home position, the substrate W2 is transferred from the load / unload chamber 11 to the vacuum preheating chamber 12 by operation (x2), and the substrate W3 is operated (x1). ) Is transferred from the external station 100 to the load / unload chamber 11, and the fourth substrate W4 is waited at the external station 100.

도 3 (c)는 또 1 사이클의 시간이 경과하고, t=2T 일때의 진공처리장치(10)의 상태를 보여준다. 역이송장치(32)를 정위치로부터 y1 방향으로 상승시키고, 처리챔버(13)의 유지부(14)와 동일 높이로 한 후에, 플라즈마 처리가 끝난 기판(W1)을 동작(x4)에 의해 진공예비가열챔버(12)로 이송한다. 도 3 (b)에서 설명한 순서와 동일하게, 기판(W2, W3)을 1챔버씩 오른쪽으로 이송하고, 기판(W4)을 동작(x1)에 의해 외부 스테이션(100)으로부터 로드/언로드 챔버(11)로 이송하고, 다섯 번째 기판(W5)를 외부 스테이션(100)에 대기시킨다.FIG. 3 (c) also shows the state of the vacuum processing apparatus 10 when one cycle of time has passed and t = 2T. After the reverse feeder 32 is raised from the home position in the y1 direction and the same height as that of the holding part 14 of the processing chamber 13, the plasma-processed substrate W1 is vacuumed by operation (x4). Transfer to the preheating chamber (12). In the same manner as in the procedure described with reference to FIG. 3B, the substrates W2 and W3 are transferred to the right by one chamber, and the substrate W4 is moved from the external station 100 by the operation x1 to the load / unload chamber 11. ), And the fifth substrate W5 is queued to the outer station 100.

도 3 (d)는 또 1 사이클의 시간이 경과하고, t=3T 일때의 진공처리장치(10)의 상태를 보여준다. 역이송장치(32)를 정위치로 되돌리고, 기판(W1)을 동작(x5)에 의해 진공예비가열챔버(12)로부터 로드/언로드 챔버(11)로 이송한다. 역이송장치(32)를 y1 방향으로 상승시키고, 처리챔버(13)의 스테이지와 동일 높이로 한 후에, 플라즈마 처리가 끝난 기판(W2)을 동작(x4)에 의해 진공예비가열챔버(12)로 이송한다. 도 3 (b)에서 설명한 순서와 동일하게, 기판(W3, W4)을 1챔버씩 오른쪽으로 이송하고, 기판(W5)을 동작(x1)에 의해 외부 스테이션(100)으로부터 로드/언로드 챔 버(11)로 이송하고, 여섯 번째 기판(W6)을 외부 스테이션(100)에 대기시킨다.Fig. 3 (d) also shows the state of the vacuum processing apparatus 10 when one cycle has elapsed and t = 3T. The reverse feeder 32 is returned to the home position, and the substrate W1 is transferred from the vacuum preheating chamber 12 to the load / unload chamber 11 by the operation x5. After the reverse transfer device 32 is raised in the y1 direction and the same height as the stage of the processing chamber 13, the plasma-treated substrate W2 is moved to the vacuum preheating chamber 12 by operation x4. Transfer. In the same manner as in the procedure described with reference to FIG. 3B, the substrates W3 and W4 are transferred to the right by one chamber, and the substrate W5 is loaded / unloaded from the external station 100 by the operation x1. 11), the sixth substrate W6 is placed in the external station 100.

이하, 상기 공정의 되풀이에 의해, 복수의 기판(W)을 연속적으로 처리하여 회수하는 것이 가능하다. 본 실시 형태의 진공처리장치는 순방향의 이송을 행하는 순이송장치(21, 22)와 역방향 이송을 행하는 역이송장치(31, 32)를 각각 전용으로 마련하고 있으므로, 단순한 이송조작(알고리즘)으로 기판(W)의 이송과 회수를 행하는 것이 가능하고, 더욱이 기판(W)의 이송과 회수를 동일 타이밍에서 행하는 것도 가능하다. 따라서, 도 3의 타이밍 차트에 보인 바와 같이, 로드/언로드 챔버(11), 진공예비가열챔버(12) 및 처리챔버(13)에는 항상 기판(W)이 존재하고 있어, 빈 시간이 생기지 않는다. 또한, 히터(H)는 역방향의 이송을 행하는 역이송장치(32)에는 마련될 필요가 없어, 순방향의 이송을 행하는 순이송장치(22)에만 마련되므로, 설비비용을 저감하는 것이 가능하다.Hereinafter, by repeating the said process, it is possible to process and collect | recover a some board | substrate W continuously. Since the vacuum processing apparatus of the present embodiment has dedicated forward transfer apparatuses 21 and 22 for forward transfer and reverse transfer apparatuses 31 and 32 for reverse transfer, respectively, the substrate is processed by a simple transfer operation (algorithm). It is possible to transfer and retrieve (W), and furthermore, it is possible to carry out transfer and recovery of the substrate W at the same timing. Therefore, as shown in the timing chart of FIG. 3, the substrate W is always present in the load / unload chamber 11, the vacuum preheating chamber 12, and the processing chamber 13, and no empty time occurs. In addition, since the heater H does not need to be provided in the reverse conveyance apparatus 32 which carries out the reverse direction, but is provided only in the forward conveyance apparatus 22 which carries out the forward direction, it is possible to reduce installation cost.

또한, 로드/언로드 챔버(11)는 기판(W)의 반출입을 위해 대기 개방과 진공 배기를 각 사이클 타임에서 1회씩 행하지만, 이 동작은 기판(W)의 처리 중에 행해지므로, 처리의 빈 시간은 전혀 생기지 않는다. 따라서, 복수 종류의 진공처리를 1대의 진공처리장치에서 행하는 경우에 택트 타임(tact time)을 단축하는 것이 가능하다.In addition, the load / unload chamber 11 performs atmospheric opening and vacuum evacuation once at each cycle time for carrying in and out of the substrate W. However, this operation is performed during the processing of the substrate W. Does not occur at all. Therefore, when performing a plurality of types of vacuum processing in one vacuum processing apparatus, it is possible to shorten the tact time.

본 실시 형태의 진공처리장치(10)는 로드/언로드 챔버(11), 진공예비가열챔버(12), 처리챔버(13)의 3챔버 구성이고, 로드/언로드 챔버(11)가 처리전의 기판(W)을 진공예비가열챔버(12)로 이송하는 로드 챔버와 처리완료된 기판(W)을 처리챔버(13)로부터 회수하는 언로드 챔버를 겸하고 있으므로, 진공처리장치(10) 전체로 서 소형화를 달성할 수 있다.The vacuum processing apparatus 10 according to the present embodiment has a three-chamber configuration of a load / unload chamber 11, a vacuum preheating chamber 12, and a processing chamber 13, and the load / unload chamber 11 is a substrate before processing ( It serves as a load chamber for transferring W) to the vacuum preheating chamber 12 and an unload chamber for recovering the processed substrate W from the processing chamber 13, so that the entire vacuum processing apparatus 10 can be miniaturized. Can be.

본 발명은, 그 특징을 손상시키지 않는 한, 이상 설명한 실시 형태에 한정되지 않는다. 예컨대, 로드/언로드 챔버(11)를 생략하고, 진공예비가열챔버(12)와 처리챔버(13)의 2챔버 구성에서도, 본 발명이 적용될 수 있어, 더한층 소형화를 꾀할 수 있다. 이 경우는, 진공예비가열챔버(12)를 대기 개방과 진공 배기가 가능하도록 하고, 외부(예컨대, 외부 스테이션)로부터 직접 진공예비가열챔버(12)에 대한 기판(W)의 반출입을 행한다. 또한, 최후에 진공처리를 행하는 처리챔버(13)의 전단에 2개 이상의 처리챔버를 연결하고, 3종류 이상의 처리를 연속적으로 행하는 진공처리장치에도 본 발명이 적용될 수 있다. 또한, 본 실시 형태에서는, 진공예비가열챔버(12)와 플라즈마 처리를 행하는 처리챔버(13)의 조합을 예로 설명하였지만, 그외 진공처리의 조합에도 본 발명이 적용될 수 있다.This invention is not limited to embodiment described above, unless the feature is impaired. For example, the load / unload chamber 11 is omitted, and the present invention can be applied even in the two-chamber configuration of the vacuum preheating chamber 12 and the processing chamber 13, so that further miniaturization can be achieved. In this case, the vacuum preheating chamber 12 can be opened to the atmosphere and evacuated, and the substrate W can be carried in and out of the vacuum preheating chamber 12 directly from the outside (for example, an external station). Further, the present invention can also be applied to a vacuum processing apparatus in which two or more processing chambers are connected to the front end of the processing chamber 13 which performs the vacuum processing last, and three or more types of processing are continuously performed. In addition, in this embodiment, although the combination of the vacuum preheating chamber 12 and the processing chamber 13 which performs a plasma process was demonstrated as an example, this invention can also be applied to the other combination of vacuum processes.

본 발명의 진공처리장치에는, 순이송수단과 역이송수단을 전용으로 구비하고 있으므로, 기판 이송공정의 단순화를 꾀하는 것이 가능하다.Since the vacuum processing apparatus of this invention is equipped with the forward conveying means and the reverse conveying means exclusively, it is possible to simplify the board | substrate conveyance process.

Claims (3)

서로 연결되어, 피처리물을 연속적으로 진공처리하는 2 이상의 제1 ~ 제n 처리챔버와,Two or more first to n-th processing chambers connected to each other to continuously vacuum the workpiece; 상기 제1 ~ 제(n-1) 처리챔버 각각에 마련되고, 후단의 처리챔버로 상기 피처리물을 각각 이송하는 순이송수단과,A net feed means provided in each of the first to (n-1) th processing chambers and configured to transfer the to-be-processed object to a subsequent processing chamber; 상기 제1 ~ 제(n-1) 처리챔버 각각에 상기 순이송수단과는 별도로 마련되고, 최후에 진공처리를 행하는 제n 처리챔버로부터 제(n-1) ~ 제1 처리챔버 각각을 순차 경유하여 처리완료된 피처리물을 역이송하는 역이송수단과,Each of the first to (n-1) th processing chambers is provided separately from the net transfer means, and sequentially passes through the (n-1) to first to the first processing chambers from the nth processing chamber which performs the vacuum treatment. A reverse conveyance means for back conveying the processed object by processing; 상기 제n 처리챔버로 상기 피처리물을 순이송할 때와 상기 제n 처리챔버로부터 상기 처리완료된 피처리물을 역이송할 때, 상기 제(n-1) 처리챔버의 상기 순이송수단과 상기 역이송수단을 이송가능 위치로 각각 이동시키는 구동수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 진공처리장치.The net transfer means of the (n-1) th processing chamber when forwarding the object to be processed into the nth processing chamber and back conveying the processed object from the nth processing chamber; And a driving means for moving the back conveying means to the transferable position, respectively. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 순이송수단에 의해 상기 피처리물을 이송함과 아울러, 상기 역이송수단에 의해 상기 최후에 진공처리를 행하는 제n 처리챔버로부터 상기 처리완료된 피처리물을 회수하는 것을 특징으로 하는 진공처리장치.The vacuum processing apparatus characterized by transferring the to-be-processed object by said forward conveying means, and recovering the said processed to-be-processed object from the nth process chamber which performs the last vacuum process by the said reverse conveyance means. . 청구항 1 또는 2에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 제1 ~ 제n 처리챔버 중 최초로 진공처리를 행하는 상기 제1 처리챔버로 상기 피처리물을 이송하고, 상기 제1 ~ 제n 처리챔버 중 최후에 진공처리를 행하는 상기 제n 처리챔버로부터 상기 처리완료된 피처리물을 회수하고, 대기 개방과 진공 밀폐를 변환할 수 있는 수도(受渡)챔버를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 진공처리장치.From the said nth processing chamber which transfers the said to-be-processed object to the said 1st processing chamber which performs a vacuum process for the first time among the said 1st-nth processing chamber, and performs a vacuum process last among the said 1st-nth processing chamber, And a water chamber capable of recovering the processed object and converting the air opening and the vacuum seal.
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