KR100583889B1 - Scribing device for fragile material substrate - Google Patents

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Abstract

취성재료기판의 스크라이브 예정라인을 따르는 방향으로 복수의 강도분포의 피크를 갖도록 복수의 레이저 스폿을 형성하고, 복수의 레이저 스폿 사이의 간격 및 레이저 스폿의 강도분포의 피크 간격을 스크라이브 라인을 형성하는 취성재료기판의 종류에 따라 설정한다.A plurality of laser spots are formed to have a plurality of intensity distribution peaks in a direction along a predetermined scribe line of the brittle material substrate, and brittleness is formed to form a scribe line between the intervals between the plurality of laser spots and the peak intervals of the intensity distribution of the laser spots. Set according to the type of material substrate.

Description

취성재료기판의 스크라이브 장치{SCRIBING DEVICE FOR FRAGILE MATERIAL SUBSTRATE} SCRIBING DEVICE FOR FRAGILE MATERIAL SUBSTRATE}             

본 발명은, 플랫 패널 디스플레이(이하 FPD(flat panel display)라고 표기한다)에 사용되는 글래스 기판(glass 基板), 반도체 웨이퍼(半導體 wafer) 등의 취성재료기판(脆性材料基板)을 절단할 때에 사용되는 스크라이브 장치(scribe 裝置)에 관한 것이다.The present invention is used when cutting brittle material substrates such as glass substrates and semiconductor wafers used in flat panel displays (hereinafter referred to as flat panel displays). It relates to a scribe device (scribe 裝置).

한 쌍의 글래스 기판을 접합시킨 FPD는, 각각이 큰 치수의 한 쌍의 머더 글래스 기판(mother glass 基板)을 서로 접합시킨 후에 소정의 크기가 되도록 절단되어 제조된다. 머더 글래스 기판을 절단할 때에는, 머더 글래스 기판에 미리 커터(cutter)에 의하여 스크라이브 라인(scribe line)이 형성된다. 커터에 의하여 스크라이브 라인을 형성할 때 또는 스크라이브 라인을 형성한 후에 글래스 기판을 절단할 때에 미세한 글래스 가루 및 글래스 컬릿(glass cullet)이 발생하여 여러 가지의 불량을 일으키는 경우가 있었다.The FPD in which a pair of glass substrates are bonded is cut and manufactured to a predetermined size after bonding a pair of mother glass substrates each having a large dimension to each other. When cutting the mother glass substrate, a scribe line is formed on the mother glass substrate by a cutter in advance. When forming a scribe line by a cutter or when cutting a glass substrate after forming a scribe line, fine glass powder and glass cullets generate | occur | produced various defects.

커터를 이용하여 스크라이브 하여 절단할 때의 미세한 글래스 가루 및 글래스 컬릿의 발생을 피하기 위하여, 최근에는 스크라이브 라인을 형성하기 위하여 레이저 빔(laser beam)을 사용하는 방법이 실용화되어 있다. 레이저 빔을 사용하여 글래스 기판에 스크라이브 라인을 형성하는 방법에서는, 도5에 나타나 있는 바와 같이 글래스 기판50에 대하여 레이저 발진장치(laser 發振裝置)61로부터 레이저 빔이 조사(照射)된다. 레이저 발진장치61로부터 조사되는 레이저 빔은, 글래스 기판50 상에 형성되는 스크라이브 예정라인(scribe 豫定 line)을 따르는 길이가 긴 타원 형상의 레이저 스폿(laser spot)LS를 글래스 기판50 상에 형성시킨다. 글래스 기판50과 레이저 발진장치61로부터 조사되는 레이저 빔은 레이저 스폿의 길이방향을 따라 상대적으로 이동된다.In order to avoid the generation of fine glass powder and glass cullet when scribing and cutting using a cutter, a method of using a laser beam has recently been put into practice to form scribe lines. In the method of forming a scribe line on the glass substrate using the laser beam, the laser beam is irradiated from the laser oscillator 61 onto the glass substrate 50 as shown in FIG. The laser beam irradiated from the laser oscillation device 61 forms an elongated elliptical laser spot LS on the glass substrate 50 along a scribe predetermined line formed on the glass substrate 50. . The laser beam irradiated from the glass substrate 50 and the laser oscillation device 61 is relatively moved along the longitudinal direction of the laser spot.

글래스 기판50은, 레이저 빔에 의하여 글래스 기판50이 용융(溶融)되는 온도, 즉 글래스 기판의 연화점(軟化點)보다 낮은 온도로 가열된다. 이에 따라 레이저 스폿LS가 조사된 글래스 기판50의 표면은 용융되지 않고 가열된다.The glass substrate 50 is heated to a temperature lower than the temperature at which the glass substrate 50 is melted by the laser beam, that is, the softening point of the glass substrate. As a result, the surface of the glass substrate 50 irradiated with the laser spot LS is heated without melting.

또한 글래스 기판50의 표면에 있어서의 레이저 빔의 조사영역의 근방에는, 스크라이브 라인이 형성되도록 냉각수 등의 냉각매체(冷却媒體)가 냉각노즐(冷却 nozzle)62로부터 분사되도록 되어 있다. 레이저 빔이 조사되는 글래스 기판의 표면에는, 레이저 빔에 의한 가열에 의하여 압축응력(壓縮應力)이 발생한 후에 냉각매체가 분사(噴射)됨으로써 인장응력(引張應力)이 발생한다. 이와 같이 압축응력이 발생한 영역에 근접하여 인장응력이 발생하 기 때문에 양쪽 영역 사이에 각각의 응력에 의거하는 응력구배(應力勾配 : stress gradient)가 발생하여 글래스 기판50에는, 글래스 기판50의 끝 부분에 미리 형성된 컷 라인(cut line)으로부터 스크라이브 예정라인을 따라 글래스의 두께 방향의 수직크랙(垂直 crack)BC가 진전되어 스크라이브 라인이 형성된다.In the vicinity of the laser beam irradiation area on the surface of the glass substrate 50, a cooling medium such as cooling water is injected from the cooling nozzle 62 so that a scribe line is formed. On the surface of the glass substrate to which the laser beam is irradiated, after the compressive stress is generated by the heating by the laser beam, the cooling medium is injected to generate tensile stress. As the tensile stress is generated close to the region where the compressive stress is generated in this way, a stress gradient based on the respective stresses is generated between the regions, so that the glass substrate 50 is formed at the end of the glass substrate 50. A vertical crack BC in the thickness direction of the glass is advanced from the cut line formed in advance along the scribe line to form a scribe line.

이렇게 하여 글래스 기판50의 표면에 형성되는 수직크랙은 미세하여 보통 육안(肉眼)으로는 볼 수 없기 때문에 블라인드 크랙(blind crack)BC라고 불리어지고 있다.In this way, the vertical cracks formed on the surface of the glass substrate 50 are called microscopic cracks because they are not normally visible to the naked eye.

도6은 레이저 스크라이브 장치에 의하여 스크라이브 되는 글래스 기판50 상의 빔의 조사 상태를 나타내는 모식적인 사시도이고, 도7은 그 글래스 기판50 상의 물리적인 변화상태를 모식적으로 나타내는 평면도이다.FIG. 6 is a schematic perspective view showing an irradiation state of a beam on a glass substrate 50 scribed by a laser scribe device, and FIG. 7 is a plan view schematically showing a physical change state on the glass substrate 50.

레이저 발진장치61로부터 발진된 레이저 빔LB은 글래스 기판50의 표면에 타원 형상의 레이저 스폿LS를 형성한다. 레이저 스폿LS는, 예를 들면 장경(長徑)b가 30.0mm, 단경(短涇)a가 1.0mm의 타원형상으로 되어 있고, 형성되는 스크라이브 라인의 방향과 장축(長軸)이 일치하도록 조사된다.The laser beam LB oscillated from the laser oscillation device 61 forms an elliptic laser spot LS on the surface of the glass substrate 50. For example, the laser spot LS has an elliptical shape having a long diameter b of 30.0 mm and a short diameter a of 1.0 mm, and is irradiated so that the direction of the scribe line to be formed coincides with the long axis. do.

이 경우에 글래스 기판50에 형성되는 레이저 스폿LS는, 외주(外周) 가장자리부의 빔 강도(beam 强度)가 중앙부의 빔 강도보다 커지도록 되어 있다. 따라서 스크라이브 예정라인 상에 위치하는 장축 방향의 각 끝 부분에 있어서 빔 강도가 각각 최대가 되고, 각 끝 부분 사이에 있는 레이저 스폿LS의 중앙 부분의 빔 강도는 각 끝 부분에 있어서의 빔 강도보다 작아지 도록 되어 있다.In this case, the laser spot LS formed on the glass substrate 50 is such that the beam intensity of the outer circumferential edge is larger than the beam intensity of the central portion. Therefore, the beam intensity is maximized at each end portion in the long axis direction located on the scribe line, and the beam intensity at the center portion of the laser spot LS between the end portions is smaller than the beam intensity at each end portion. It is supposed to be built.

글래스 기판50은 레이저 스폿LS의 장축 방향을 따라 상대적으로 이동하도록 되어 있고, 따라서 글래스 기판50은, 스크라이브 예정라인을 따라 레이저 스폿LS의 일방(一方)의 끝 부분에 있어서의 큰 빔 강도에 따라 가열된 후에 레이저 스폿LS의 중앙부의 작은 빔 강도에 따라 가열되고 또한 그 후에 큰 빔 강도에 따라 가열된다. 그리고 그 후에 레이저 스폿LS의 끝 부분이 조사되는 영역에 대하여, 예를 들면 레이저 스폿LS의 장축 방향으로 2.5mm의 간격L을 두고 스크라이브 예정라인 상의 냉각 포인트(冷却 point)CP에 냉각노즐62로부터 냉각수가 분사된다.The glass substrate 50 is relatively moved along the major axis direction of the laser spot LS. Therefore, the glass substrate 50 is heated according to a large beam intensity at one end of the laser spot LS along the scribe scheduled line. After it is heated in accordance with the small beam intensity of the central portion of the laser spot LS and thereafter also in accordance with the large beam intensity. Then, the cooling water from the cooling nozzle 62 to the cooling point CP on the scheduled scribe line at a spacing L of 2.5 mm in the long axis direction of the laser spot LS, for example, in the area irradiated with the end of the laser spot LS. Is sprayed.

이에 따라 레이저 스폿LS와 냉각 포인트CP 사이의 영역에 온도구배(溫度勾配 : temperature gradient)가 발생하여 냉각 포인트CP에 대하여 레이저 스폿LS와는 반대측의 영역에 큰 인장응력이 발생한다. 그리고 이 인장응력을 이용하여 글래스 기판50의 끝 부분에 휠 커터(wheel cutter)35에 의하여 형성되는 컷 라인으로부터 블라인드 크랙BC가 스크라이브 예정라인을 따라 진전된다.As a result, a temperature gradient occurs in the region between the laser spot LS and the cooling point CP, and a large tensile stress is generated in the region opposite to the laser spot LS with respect to the cooling point CP. By using the tensile stress, the blind crack BC is advanced along the scribe schedule line from the cut line formed by the wheel cutter 35 at the end portion of the glass substrate 50.

글래스 기판50은 타원 형상의 레이저 스폿LS에 의하여 가열된다. 이 경우에 글래스 기판50은 레이저 스폿LS의 일방의 끝 부분에 있어서의 큰 빔 강도에 의하여 그 표면으로부터 열이 수직방향을 따라 내부로 전달되지만, 레이저 빔이 글래스 기판50에 대하여 상대적으로 이동함으로써 레이저 스폿LS의 끝 부분에 의하여 가열된 부분은, 레이저 스폿LS의 중앙부에 있어서의 작은 빔 강도에 따라 가열된 후에 다시 레이저 스폿LS의 끝 부분에 있어서의 큰 빔 강도에 따라 가열된다.The glass substrate 50 is heated by an elliptic laser spot LS. In this case, the glass substrate 50 transfers heat from the surface to the inside in the vertical direction due to the large beam intensity at one end of the laser spot LS, but the laser beam moves relative to the glass substrate 50 so that the laser The portion heated by the end of the spot LS is heated according to the small beam intensity at the center of the laser spot LS and then again according to the large beam intensity at the end of the laser spot LS.

이와 같이 글래스 기판50의 표면에 있어서는, 최초에 큰 빔 강도에 따라 가열된 부분은, 그 후에 작은 빔 강도에 따라 가열되고 있는 사이에 그 열이 글래스 기판의 내부로 확실하게 전도(傳導)된다. 또한 글래스 기판50의 표면이 큰 빔 강도에 따라 계속하여 가열되는 것이 방지되어 글래스 기판50 표면의 용융이 방지된다. 그 후에 다시 큰 빔 강도에 따라 글래스 기판50이 가열되어 글래스 기판50의 내부를 확실하게 가열하도록 하면 글래스 기판50의 표면 및 내부에 압축응력이 발생한다.Thus, on the surface of the glass substrate 50, the part heated initially according to a large beam intensity is reliably conducted in the inside of a glass substrate, while being heated by the small beam intensity after that. In addition, the surface of the glass substrate 50 is prevented from being continuously heated in accordance with a large beam intensity, thereby preventing melting of the surface of the glass substrate 50. After that, when the glass substrate 50 is heated again according to a large beam intensity to ensure that the inside of the glass substrate 50 is reliably heated, the compressive stress is generated on the surface and the inside of the glass substrate 50.

그리고 이러한 시간이 경과한 후에 압축응력이 발생한 영역 근방의 냉각 포인트CP에 냉각수가 분사됨으로써 인장응력이 발생한다. 레이저 스폿LS에 의한 가열영역에 압축응력이 발생하고 냉각수에 의한 냉각 포인트CP에 인장응력이 발생하면, 레이저 스폿LS와 냉각 포인트CP 사이의 열확산영역(熱擴散領域)HD에 발생하고 있는 압축응력에 의하여 냉각 포인트CP에 대하여 레이저 스폿과는 반대측의 영역에 큰 인장응력이 발생한다. 그리고 이 인장응력을 이용하여 글래스 기판50의 끝 부분에 휠 커터35에 의하여 형성된 컷 라인으로부터 블라인드 크랙BC가 스크라이브 예정라인을 따라 진전된다.After this time elapses, the cooling water is injected into the cooling point CP near the region where the compressive stress is generated, thereby causing the tensile stress. When compressive stress occurs in the heating zone by the laser spot LS and tensile stress occurs in the cooling point CP by the coolant, the compressive stress generated in the thermal diffusion region HD between the laser spot LS and the cooling point CP As a result, a large tensile stress is generated in the region opposite to the laser spot with respect to the cooling point CP. Using this tensile stress, the blind crack BC is advanced along the scribe schedule line from the cut line formed by the wheel cutter 35 at the end of the glass substrate 50.

또한 레이저 빔의 글래스 기판50에 대한 상대적인 이동속도를 저속으로 함으로써 블라인드 크랙BC(수직크랙)는 글래스 기판50의 두께 방향으로 확산(擴散)되어 글래스 기판50을 관통한 상태에서 스크라이브 예정라인을 따라 진전된다(이와 같이 스크라이브 하는 것은 보통 글래스 기판50을 풀 보디 커트(full body cut)하는 것이라고 불리어진다).In addition, by slowing the movement speed of the laser beam relative to the glass substrate 50, the blind crack BC (vertical crack) is diffused in the thickness direction of the glass substrate 50 and progresses along the scheduled scribe line while penetrating the glass substrate 50. (Scribing like this is usually called full body cut of the glass substrate 50).

상기의 종래의 예에 관한 설명에 있어서는, 글래스 기판50의 끝 부분에 휠 커터35에 의하여 형성된 컷 라인으로부터 블라인드 크랙BC가 진전되는 예를 설명하였지만, 휠 커터35에 의하여 형성되는 컷 라인은 반드시 글래스 기판50의 끝 부분이 아니더라도 좋다.In the above description of the conventional example, the blind crack BC is advanced from the cut line formed by the wheel cutter 35 at the end of the glass substrate 50. However, the cut line formed by the wheel cutter 35 is always glass. It may not be the end of the substrate 50.

또한 블라인드 크랙BC의 형성에는 글래스 기판50에 가는 홈을 반드시 형성할 필요는 없다.In addition, it is not necessary to form the groove which goes to the glass substrate 50 in formation of blind crack BC.

스크라이브 라인으로서의 블라인드 크랙BC가 글래스 기판50에 형성되면, 글래스 기판50은 다음의 절단공정으로 공급되어 도6의 화살표로 나타나 있는 방향인 블라인드 크랙BC의 폭(幅) 방향으로 휨 모멘트(bending moment)가 작용하도록 글래스 기판에 힘이 가해진다. 이에 따라 글래스 기판50은 블라인드 크랙BC의 라인인 스크라이브 라인을 따라 절단된다.When the blind crack BC as a scribe line is formed on the glass substrate 50, the glass substrate 50 is supplied to the next cutting process to give a bending moment in the width direction of the blind crack BC, which is the direction indicated by the arrow in FIG. Force is applied to the glass substrate so that it acts. Accordingly, the glass substrate 50 is cut along the scribe line, which is the line of the blind crack BC.

이러한 스크라이브 장치에서는, 글래스 기판50의 재질, 두께 등의 조건이 변경되면 레이저 빔에 의한 가열조건도 변경할 필요가 있다. 레이저 발진장치는, 발진된 레이저 빔이 글래스 기판50 상에 있어서 소정의 타원 형상의 레이저 스폿LS가 되도록 렌즈 등의 광학장치의 배치, 초점(焦點) 등이 미리 설정되어 있어 레이저 빔에 의한 가열조건을 변경하는 경우에는 글래스 기판50 표면 상에 형성되는 레이저 스폿LS의 형상도 변경시킬 필요가 있다. 그러나 레이저 스폿LS의 형상을 변경하기 위해서는, 광학장치의 렌즈 등의 교환, 초점의 조정 또한 레이저 발진기로부터 발진되는 레이저 모드의 조정도 필요하게 되는 등 그 조정이 용이하지 않다는 문제가 있다.In such a scribing apparatus, when conditions such as material and thickness of the glass substrate 50 are changed, it is necessary to also change the heating conditions by the laser beam. In the laser oscillation apparatus, the arrangement, the focus, and the like of an optical device such as a lens are set in advance so that the oscillated laser beam becomes a laser spot LS of a predetermined ellipse shape on the glass substrate 50, and the heating conditions by the laser beam are preset. In order to change the shape, the shape of the laser spot LS formed on the surface of the glass substrate 50 needs to be changed. However, in order to change the shape of the laser spot LS, there is a problem that the adjustment is not easy, such as replacement of the lens of the optical device, adjustment of the focus, and adjustment of the laser mode oscillated from the laser oscillator.

본 발명은 이러한 문제를 해결하기 위한 것으로서, 그 목적은 글래스 기판 등의 취성재료기판에 스크라이브 라인을 형성할 때에 취성재료기판의 재질, 두께 등의 조건이 변경되는 경우에도 그 취성재료기판의 조건에 용이하게 대응할 수 있는 취성재료기판의 스크라이브 장치를 제공하는 것에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem, and its object is to meet the conditions of the brittle material substrate even when the conditions such as the material and thickness of the brittle material substrate are changed when the scribe line is formed on the brittle material substrate such as the glass substrate. It is an object of the present invention to provide a scribing apparatus for a brittle material substrate that can be easily coped.

본 발명의 취성재료기판(脆性材料基板)의 스크라이브 장치(scribe 裝置)는, 취성재료기판의 표면에 있어서의 스크라이브 라인(scribe line)의 형성이 예정되는 영역을 따라 그 취성재료기판의 연화점(軟化點)보다 낮은 온도의 조사 스폿(照射 spot)이 형성되도록 레이저 빔(laser beam)을 연속 또는 고속으로 단속적(斷續的)으로 조사하면서, 그 레이저 스폿의 근방 영역을 연속하여 냉각함으로써 스크라이브 예정라인(scribe 豫定 line)을 따라 수직크랙(垂直 crack)이 형성되는 취성재료기판의 스크라이브 장치로서, 동일한 파장(波長) 또는 파장이 다른 레이저 빔을 발생시키는 복수의 레이저 발진기(laser 發振器)로부터 발진되는 레이저 빔이, 취성재료기판에 복수의 조사 스폿이 형성되도록 레이저 빔의 주사속도(走査速度)나 주사경로(走査經 路)를 고속으로 조정한 상태에서 취성재료기판에 조사되는 것을 특징으로 한다.The scribe device of the brittle material substrate of the present invention has a softening point of the brittle material substrate along an area where a scribe line is to be formed on the surface of the brittle material substrate. 예정 A scribe scheduled line by continuously cooling the laser beam near the laser spot while irradiating the laser beam continuously or at high speed so as to form an irradiation spot having a lower temperature than A scribing apparatus for a brittle material substrate in which vertical cracks are formed along a scribe setting line, comprising a plurality of laser oscillators generating laser beams having the same wavelength or different wavelengths. The laser beam to be oscillated has a scanning speed of the laser beam so that a plurality of irradiation spots are formed on the brittle material substrate. It is characterized by being irradiated to the brittle material substrate in a state in which the scanning path is adjusted at high speed.

그리고 상기 복수의 레이저 스폿이 복수의 강도분포(强度分布)의 피크(peak)를 갖는 것을 특징으로 한다.And the plurality of laser spots have peaks of a plurality of intensity distributions.

또한 상기 복수의 레이저 스폿의 강도분포가 비가우스 모드(非 gauss mode)인 것을 특징으로 한다.In addition, the intensity distribution of the plurality of laser spots is characterized in that the non-gauss mode (non-gauss mode).

또한 본 발명의 취성재료기판의 스크라이브 장치는, 취성재료기판의 표면에 있어서의 스크라이브 라인의 형성이 예정되는 영역을 따라 그 취성재료기판의 연화점보다 낮은 온도의 조사 스폿이 형성되도록 레이저 빔을 연속 또는 고속으로 단속적으로 조사하면서, 그 레이저 스폿의 근방 영역을 연속하여 냉각함으로써 스크라이브 예정라인을 따라 수직크랙이 형성되는 취성재료기판의 스크라이브 장치로서,In addition, the scribing apparatus for the brittle material substrate of the present invention continuously or continuously irradiates a laser beam such that an irradiation spot having a temperature lower than the softening point of the brittle material substrate is formed along a region where a scribe line is to be formed on the surface of the brittle material substrate. A scribing apparatus for a brittle material substrate in which vertical cracks are formed along a scribe scheduled line by continuously cooling the area near the laser spot while irradiating at high speed intermittently,

복수의 레이저 발진기로부터 각각 발진되는 레이저 빔이, 복수의 강도분포의 피크가 얻어지도록 합성되어 취성재료기판에 조사되는 것을 특징으로 한다.A laser beam oscillated from a plurality of laser oscillators, respectively, is synthesized to obtain peaks of a plurality of intensity distributions and is irradiated to a brittle material substrate.

상기 레이저 발진기로부터 발진되는 레이저 빔의 강도분포가 가우스 모드(gauss mode)인 것을 특징으로 한다.The intensity distribution of the laser beam oscillated from the laser oscillator is characterized in that the Gaussian mode (gauss mode).

그리고 상기 레이저 발진기로부터 발진되는 레이저 빔의 강도분포가 비가우스 모드인 것을 특징으로 한다.The intensity distribution of the laser beam oscillated from the laser oscillator is characterized in that the non-Gaussian mode.

또한 본 발명의 취성재료기판의 스크라이브 장치는, 취성재료기판의 표면에 있어서의 스크라이브 라인의 형성이 예정되는 영역을 따라 그 취성재료기판의 연화점보다 낮은 온도의 조사 스폿이 형성되도록 레이저 빔을 연속 또는 고속으로 단속적으로 조사하면서, 그 레이저 스폿의 근방 영역을 연속하여 냉각함으로써 스크라이브 예정라인을 따라 수직크랙이 형성되는 취성재료기판의 스크라이브 장치로서, 1개의 레이저 발진기로부터 발진되는 레이저 빔으로부터 복수의 강도분포의 피크가 얻어지도록 일단 분할된 후에 합성되어 취성재료기판에 조사되는 것을 특징으로 한다.In addition, the scribing apparatus for the brittle material substrate of the present invention continuously or continuously irradiates a laser beam such that an irradiation spot having a temperature lower than the softening point of the brittle material substrate is formed along a region where a scribe line is formed on the surface of the brittle material substrate. A scribing apparatus for a brittle material substrate in which vertical cracks are formed along a scribe scheduled line by continuously cooling an area near the laser spot while irradiating at high speed intermittently, wherein a plurality of intensity distributions are generated from a laser beam oscillated from one laser oscillator. It is characterized in that it is divided once to obtain a peak of and synthesized and irradiated to the brittle material substrate.

상기 레이저 발진기로부터 발진되는 레이저 빔의 강도분포가 가우스 모드인 것을 특징으로 한다.The intensity distribution of the laser beam oscillated from the laser oscillator is characterized in that the Gaussian mode.

그리고 상기 레이저 발진기로부터 발진되는 레이저 빔의 강도분포가 비가우스 모드인 것을 특징으로 한다.The intensity distribution of the laser beam oscillated from the laser oscillator is characterized in that the non-Gaussian mode.

도1은 본 발명에 있어서의 취성재료기판의 스크라이브 장치의 실시예의 일례를 나타내는 정면도이다.1 is a front view showing an example of an embodiment of a scribing apparatus for a brittle material substrate in the present invention.

도2는 본 발명에 있어서의 스크라이브 장치에 사용되는 레이저 발진장치 및 광학장치의 일례를 나타내는 개략적인 구성도이다.2 is a schematic configuration diagram showing an example of a laser oscillation apparatus and an optical apparatus used in the scribing apparatus according to the present invention.

도3(a)는 본 발명의 스크라이브 장치에 사용되는 레이저 발진장치 및 광학장치의 다른 예를 나타내는 개략적인 구성도이고, 도3(b) 및 (c)는 각각 그 장치로부터 글래스 기판으로 조사되는 레이저 스폿의 강도분포(强度 分布)를 나타내는 모식도이다.Fig. 3 (a) is a schematic block diagram showing another example of the laser oscillation apparatus and the optical apparatus used in the scribing apparatus of the present invention, and Figs. 3 (b) and (c) are respectively irradiated to the glass substrate from the apparatus. It is a schematic diagram which shows the intensity distribution of a laser spot.

도4(a)는 본 발명의 스크라이브 장치에 사용되는 레이저 발진장치 및 광학장치의 또 다른 예를 나타내는 개략적인 구성도이고, 도4(b) 및 (c)는 각각 그 장치로부터 글래스 기판으로 조사되는 레이저 스폿의 강도분포를 나타내는 모식도이다.Fig. 4 (a) is a schematic block diagram showing another example of the laser oscillation apparatus and the optical apparatus used in the scribing apparatus of the present invention, and Figs. 4 (b) and (c) are irradiated from the apparatus to the glass substrate, respectively. It is a schematic diagram which shows the intensity distribution of the laser spot.

도5는 레이저 빔을 사용한 스크라이브 장치의 동작을 설명하기 위한 개략도이다.5 is a schematic view for explaining the operation of the scribing apparatus using the laser beam.

도6은 레이저 스크라이브 장치에 의한 스크라이브 라인 형성작업 중의 글래스 기판의 상태를 모식적으로 나타내는 사시도이다.6 is a perspective view schematically showing a state of a glass substrate during a scribe line forming operation by a laser scribe device.

도7은 그 글래스 기판의 상태를 모식적으로 나타내는 평면도이다.7 is a plan view schematically showing a state of the glass substrate.

도8(a)는 도3(a) 및 도4(b)에 나타나 있는 본 발명의 스크라이브 장치에 사용되는 레이저 발진장치 및 광학장치에 의하여 글래스 기판에 형성되는 복수의 레이저 스폿을 나타내는 모식도이고, 도8(b)는 레이저 스폿의 확대도 및 강도분포도이다.8A is a schematic diagram showing a plurality of laser spots formed on a glass substrate by a laser oscillation apparatus and an optical apparatus used in the scribing apparatus of the present invention shown in FIGS. 3A and 4B, Fig. 8B is an enlarged view of the laser spot and the intensity distribution diagram.

이하, 본 발명의 실시예를 도면에 의거하여 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the Example of this invention is described based on drawing.

도1은 본 발명에 있어서의 취성재료기판(脆性材料基板)의 스크라이브 장치(scribe 裝置)의 실시예를 나타내는 개략적인 구성도이다. 이 스크라이브 장치는, 예를 들면 FPD에 사용되는 글래스 기판(glass 基板)을 절단할 때에 글래스 기판50에 스크라이브 라인(scribe line)을 형성하기 위하여 사용되고, 도1에 나타나 있는 바와 같이 수평한 설치대(設置臺)11 상에 소정의 수평방향(Y방향)을 따라 왕복 이동하는 슬라이드 테이블(slide table)12를 구비하고 있다.1 is a schematic configuration diagram showing an embodiment of a scribe device for a brittle material substrate according to the present invention. This scribing apparatus is used to form a scribe line on the glass substrate 50, for example, when cutting a glass substrate used for FPD, and a horizontal mounting table as shown in FIG. (Iii) A slide table 12 which reciprocates along a predetermined horizontal direction (Y direction) is provided on the frame 11).

슬라이드 테이블12는, 수평한 상태에서 각 가이드 레일(guide rail)14, 15를 따라 슬라이드 가능하도록 설치대11의 상면에 Y방향을 따라 평행하게 배치되는 한 쌍의 가이드 레일14, 15에 지지되어 있다. 양쪽 가이드 레일14, 15의 중간부에는, 각 가이드 레일14, 15와 평행하게 볼 나사(ball screw)13이 모터(도면에는 나타내지 않는다)에 의하여 회전하도록 설치되어 있다. 볼 나사13은 정회전(正回轉) 및 역회전(逆回轉)할 수 있도록 되어 있고, 이 볼 나사13에 볼 너트(ball nut)16이 나사결합하는 상태로 설치되어 있다. 볼 너트16은, 회전하지 않도록 하기 위하여 슬라이드 테이블12에 일체적(一體的)으로 설치되어 있고, 볼 나사13의 정회전 및 역회전에 의하여 볼 나사13을 따라 양쪽 방향으로 슬라이드 한다. 이에 따라 볼 너트16과 일체적으로 부착된 슬라이드 테이블12가 각 가이드 레일14, 15를 따라 Y방향으로 슬라이드 한다.The slide table 12 is supported by a pair of guide rails 14 and 15 arranged in parallel in the Y direction on the upper surface of the mounting table 11 so as to be able to slide along each guide rail 14 and 15 in a horizontal state. In the middle part of both guide rails 14 and 15, the ball screw 13 is installed in parallel with each guide rail 14 and 15 so that it may rotate with a motor (not shown). The ball screw 13 is capable of forward rotation and reverse rotation, and a ball nut 16 is screwed into the ball screw 13. The ball nut 16 is integrally provided on the slide table 12 so as not to rotate, and slides in both directions along the ball screw 13 by forward and reverse rotation of the ball screw 13. As a result, the slide table 12 integrally attached to the ball nut 16 slides along the guide rails 14 and 15 in the Y direction.

슬라이드 테이블12 상에는 대좌(臺座)19가 수평한 상태로 배치되어 있다. 대좌19는 슬라이드 테이블12 상에 평행하게 배치되는 한 쌍의 가이드 레일21에 슬라이드 가능하게 지지되어 있다. 각 가이드 레일21은 슬라이드 테이블12의 슬라이드 방향인 Y방향과 직교하는 X방향을 따라 배치되어 있 다. 또한 각 가이드 레일21 사이의 중앙부에는, 각 가이드 레일21과 평행하게 볼 나사22가 배치되어 있고, 볼 나사22가 모터23에 의하여 정회전 및 역회전하도록 되어 있다.On the slide table 12, the pedestal 19 is arranged in a horizontal state. The pedestal 19 is slidably supported by a pair of guide rails 21 arranged in parallel on the slide table 12. Each guide rail 21 is arranged along the X direction orthogonal to the Y direction, which is the slide direction of the slide table 12. In addition, a ball screw 22 is arranged in the center between each guide rail 21 in parallel with each guide rail 21, and the ball screw 22 is rotated forward and reverse by the motor 23.

볼 나사22에는 볼 너트24가 나사결합하는 상태로 설치되어 있다. 볼 너트24는, 회전하지 않도록 하기 위하여 대좌19에 일체적으로 설치되어 있고, 볼 나사22의 정회전 및 역회전에 의하여 볼 나사22를 따라 양쪽 방향으로 이동한다. 이에 따라 대좌19가 각 가이드 레일21을 따라 X방향으로 슬라이드 한다.The ball screw 22 is provided with the ball nut 24 screwed on. The ball nut 24 is integrally installed on the pedestal 19 so as not to rotate, and moves in both directions along the ball screw 22 by the forward and reverse rotation of the ball screw 22. Accordingly, the pedestal 19 slides in the X direction along each guide rail 21.

대좌19 상에는 회전기구(rotation mechanism)25가 설치되어 있고, 이 회전기구25 상에 절단 대상인 글래스 기판50이 재치(載置)되는 회전 테이블(rotation table)26이 수평한 상태로 설치되어 있다. 회전기구25는, 수직방향을 따르는 중심축(中心軸)을 중심으로 하여 회전 테이블26을 회전시키도록 되어 있다. 회전 테이블26 상에는, 글래스 기판50이 예를 들면 흡인 척(suction chuck)에 의하여 고정된다.A rotation mechanism 25 is provided on the pedestal 19, and a rotation table 26 on which the glass substrate 50 to be cut is placed is provided on the rotation mechanism 25 in a horizontal state. The rotating mechanism 25 rotates the rotary table 26 about the center axis | shaft along a vertical direction. On the turntable 26, the glass substrate 50 is fixed by, for example, a suction chuck.

회전 테이블26의 상방에는, 회전 테이블26과는 적당한 간격을 두고 지지대(支持臺)31이 배치되어 있다. 이 지지대31은 수직상태로 배치되는 광학 홀더(optical holder)33의 하단부에 수평한 상태로 지지되어 있다. 광학 홀더33의 상단부는 설치대11 상에 설치되는 부착대32의 하면에 부착되어 있다. 부착대32 상에는, 레이저 빔(laser beam)을 발진하는 레이저 발진기(laser oscillator)34가 설치되어 있다. Above the turntable 26, the support base 31 is arrange | positioned with the appropriate space | interval with the turntable 26. FIG. The support 31 is supported in a horizontal state at the lower end of the optical holder 33 which is arranged in a vertical state. The upper end of the optical holder 33 is attached to the lower surface of the mounting table 32 provided on the mounting table 11. On the mounting table 32, a laser oscillator 34 for oscillating a laser beam is provided.                 

레이저 발진장치34는 레이저 발진기로부터 조사(照射)되는 레이저 빔을 광학 홀더33 내에 지지되는 광학장치로 조사한다.The laser oscillation device 34 irradiates a laser beam irradiated from the laser oscillator with an optical device supported in the optical holder 33.

광학 홀더33의 하단부에 부착된 지지대31에는, 글래스 기판50의 끝면부에 컷 라인(cut line)을 형성하는 휠 커터(wheel cutter)35가 설치되어 있다. 이 휠 커터35는, 글래스 기판50으로 조사되는 레이저 빔의 길이방향의 끝 부분에 대하여 적당한 간격을 두고 또한 레이저 빔의 길이방향을 따르는 선(線) 모양을 따라 배치되어 있고, 팁 홀더(tip holder)36에 의하여 승강(昇降)시킬 수 있도록 지지되어 있다.The support 31 attached to the lower end of the optical holder 33 is provided with a wheel cutter 35 for forming a cut line at the end face of the glass substrate 50. The wheel cutter 35 is disposed along a line shape along the longitudinal direction of the laser beam at an appropriate interval with respect to the longitudinal end of the laser beam irradiated onto the glass substrate 50, and a tip holder. It is supported so that it can be raised and lowered by 36).

또한 지지대31에는, 광학 홀더33에 근접하여 냉각노즐(cooling nozzle)37이 설치되어 있다. 이 냉각노즐37로부터는 냉각수, He가스, N2가스, CO2가스 등의 냉각매체가 글래스 기판50으로 분사(噴射)되도록 되어 있다. 냉각노즐37에서 분사되는 냉각매체(冷却媒體)는 광학 홀더33으로부터 글래스 기판50으로 조사되는 레이저 스폿(laser spot)의 길이방향의 끝 부분에 근접하는 위치에 분사된다.In addition, the support 31 is provided with a cooling nozzle 37 in proximity to the optical holder 33. From this cooling nozzle 37, cooling media such as cooling water, He gas, N 2 gas, and CO 2 gas are blown onto the glass substrate 50. The cooling medium injected from the cooling nozzle 37 is injected at a position close to the longitudinal end of the laser spot irradiated from the optical holder 33 to the glass substrate 50.

또한 부착대32에는, 글래스 기판50에 미리 각인(刻印)된 얼라인먼트 마크(alignment mark)를 촬영하는 한 쌍의 CCD카메라38, 39가 설치되어 있고, 각 CCD카메라38, 39에 의하여 촬영된 화상(畵像)을 표시하는 모니터(monitor)28, 29가 부착대32 상에 각각 설치되어 있다.The mounting table 32 is provided with a pair of CCD cameras 38 and 39 for photographing alignment marks imprinted on the glass substrate 50 in advance. Monitors 28 and 29, which display i), are provided on the mounting table 32, respectively.

도2는 레이저 발진장치34 및 광학 홀더33 내에 설치되는 광학장치의 개략적인 구성도이다. 레이저 발진장치34는, 1개의 레이저 빔을 발진하는 레이저 발진기34a를 구비하고 있고, 이 레이저 발진기34a로부터 발진되는 레이저 빔이 X축 갈바노미러(X軸 galvanomirror)34b, Y축 갈바노미러34c 및 광학 홀더33 내에 배치된 f-θ렌즈33a를 통하여 글래스 기판50에 조사되도록 되어 있다.2 is a schematic configuration diagram of an optical device installed in the laser oscillation device 34 and the optical holder 33. The laser oscillator 34 includes a laser oscillator 34a for oscillating one laser beam, and the laser beam oscillated from the laser oscillator 34a is X-axis galvanomirror 34b, Y-axis galvanometer mirror 34c, and The glass substrate 50 is irradiated through the f-θ lens 33a disposed in the optical holder 33.

X축 갈바노미러34b는 고속으로 회전하고 있고, 레이저 발진기34a로부터 조사되는 레이저 빔을 고속으로 주사(走査)하여 Y축 갈바노미러34c를 향하여 반사시키고 있다. 또한 Y축 갈바노미러34c도 마찬가지로 고속으로 회전하고 있고, X축 갈바노미러34c로부터 조사되는 레이저 빔을 고속으로 주사하여 글래스 기판50을 향하여 반사시키고 있다. 그리고 Y축 갈바노미러34c에서 반사된 레이저 빔이 f-θ렌즈33a를 통하여 글래스 기판50 상으로 조사된다.The X-axis galvanometer mirror 34b rotates at high speed, and scans the laser beam radiated from the laser oscillator 34a at high speed and reflects it toward the Y-axis galvanometer mirror 34c. Similarly, the Y-axis galvano mirror 34c rotates at high speed, and the laser beam irradiated from the X-axis galvano mirror 34c is scanned at high speed and reflected toward the glass substrate 50. The laser beam reflected by the Y-axis galvano mirror 34c is irradiated onto the glass substrate 50 through the f-? Lens 33a.

f-θ렌즈33a를 통하여 글래스 기판50 상으로 조사되는 레이저 빔은, X축 갈바노미러34b 및 Y축 갈바노미러34c의 각각의 회전속도에 의거하여 장축(長軸)이 Y축 방향을 따르는 타원 형상의 레이저 스폿LS1과 장축이 X축 방향을 따르는 타원 형상의 레이저 스폿LS2를 각각 형성한다.The laser beam irradiated onto the glass substrate 50 through the f-θ lens 33a has a long axis along the Y-axis direction based on the respective rotation speeds of the X-axis galvano mirror 34b and the Y-axis galvano mirror 34c. The elliptical laser spot LS1 and the major axis form the elliptical laser spot LS2 along the X-axis direction, respectively.

상기의 Y축 갈바노미러34c에서 반사된 레이저 빔에 사용되는 렌즈는 f-θ렌즈에 한하지 않는다.The lens used for the laser beam reflected by the Y-axis galvano mirror 34c is not limited to the f-θ lens.

각 레이저 빔LS1과 LS2의 간격은, X축 갈바노미러34b 및 Y축 갈바노미러34c의 각각의 회전속도를 조정함으로써 변경된다. 그리고 장축이 X축 방향을 따르는 타원 형상LS2에 근접한 위치에 냉각노즐37로부터 냉각수가 분사된다.The interval between the laser beams LS1 and LS2 is changed by adjusting the respective rotation speeds of the X-axis galvano mirror 34b and the Y-axis galvano mirror 34c. Cooling water is injected from the cooling nozzle 37 at a position where the long axis is close to the elliptical shape LS2 along the X axis direction.

이러한 스크라이브 장치에 의하여 글래스 기판50을 스크라이브 하는 경우에는, 우선, 소정의 크기로 절단되는 글래스 기판50이 스크라이브 장치의 회전 테이블26 상에 재치되어 흡인수단(吸引手段)에 의하여 고정된다. 그리고 CCD카메라38, 39에 의하여 글래스 기판50에 형성된 얼라인먼트 마크가 촬영된다. 촬영된 얼라인먼트 마크는 모니터28, 29로 표시되고, 그 표시에 의거하여 글래스 기판50이 소정의 위치에 위치결정된다.When scribing the glass substrate 50 by such a scribing apparatus, first, the glass substrate 50 cut | disconnected to predetermined size is mounted on the rotating table 26 of a scribing apparatus, and is fixed by a suction means. And the alignment mark formed in the glass substrate 50 by CCD cameras 38 and 39 is image | photographed. The photographed alignment marks are displayed on the monitors 28 and 29, and the glass substrate 50 is positioned at a predetermined position based on the display.

광학 홀더33의 하단에 위치하는 지지대31에 대하여 위치결정된 글래스 기판50에 레이저에 의한 스크라이브가 실시된다. 글래스 기판50을 스크라이브 할 때에는, 광학 홀더33으로부터 글래스 기판50의 표면으로 조사되는 각 레이저 스폿LS1 및 LS2이 글래스 기판50의 스크라이브 예정라인(scribe 豫定 line) 상에 형성된다. 회전 테이블26의 위치결정은, 슬라이드 테이블12의 슬라이드, 대좌19의 슬라이드 및 회전기구25에 의한 회전 테이블26의 회전에 의하여 이루어진다.A laser is scribed to the glass substrate 50 positioned relative to the support 31 positioned at the lower end of the optical holder 33. When scribing the glass substrate 50, each laser spot LS1 and LS2 irradiated from the optical holder 33 to the surface of the glass substrate 50 is formed on the scribe setting line of the glass substrate 50. As shown in FIG. Positioning of the turntable 26 is performed by the slide of the slide table 12, the slide of the base 19, and the rotation of the turntable 26 by the rotating mechanism 25. As shown in FIG.

회전 테이블26이 지지대31에 대하여 위치결정되면, 회전 테이블26이 X방향을 따라 슬라이드 되어 글래스 기판50의 끝 부분이 휠 커터35에 대향(對向)하게 된다. 그리고 휠 커터35가 하강되어 글래스 기판50의 끝 부분에 스크라이브 예정라인을 따라 컷 라인이 형성된다.When the rotary table 26 is positioned relative to the support 31, the rotary table 26 slides along the X direction so that the end portion of the glass substrate 50 faces the wheel cutter 35. The wheel cutter 35 is lowered to form a cut line along the scribe line on the end of the glass substrate 50.

그 후에 회전 테이블26이 스크라이브 예정라인을 따라 X방향으로 슬라이드 되면서 레이저 발진장치34로부터 레이저 빔이 발진됨과 동시에 냉각노즐37로부터 냉각매체, 예를 들면 냉각수가 압축에어(壓縮 air)와 함께 분사 된다.Thereafter, the rotary table 26 slides in the X direction along the scribe scheduled line, and the laser beam is oscillated from the laser oscillation device 34, and at the same time, a cooling medium, for example, cooling water, is injected from the cooling nozzle 37 together with the compressed air.

레이저 발진장치34로부터 발진되는 레이저 빔에 의하여 글래스 기판50 상에는, 글래스 기판50의 주사방향을 따라, 장축이 Y축 방향을 따라 길이가 긴 타원 형상의 레이저 스폿LS1과 장축이 X축 방향을 따라 길이가 긴 타원 형상의 레이저 스폿LS2가 미리 설정된 소정의 거리만큼 떨어져서 형성된다. 그리고 그 레이저 스폿LS2에 대하여 글래스 기판50의 이동방향과는 반대측에 소정의 간격을 두는 영역에 냉각수가 분사된다. 이에 따라 글래스 기판50에 블라인드 크랙(blind crack)이 스크라이브 라인으로서 형성된다.Along the scanning direction of the glass substrate 50 formed on the glass substrate 50 by a laser beam oscillated from the laser oscillation unit 34, the major axes of the laser spot LS1 of the long oval shape in the Y-axis direction and the major axis along the X-axis direction length The long elliptic laser spot LS2 is formed at a predetermined distance apart. Cooling water is then injected into the laser spot LS2 at a predetermined interval on the side opposite to the moving direction of the glass substrate 50. As a result, blind cracks are formed in the glass substrate 50 as scribe lines.

스크라이브 라인으로서의 블라인드 크랙이 글래스 기판50에 형성되면, 글래스 기판50은 다음의 절단공정으로 공급되어 스크라이브 라인의 폭(幅) 방향으로 휨 모멘트(bending moment)가 작용하도록 글래스 기판에 힘이 가하여진다. 이에 따라 글래스 기판50은 스크라이브 라인을 따라 절단된다.When a blind crack as a scribe line is formed on the glass substrate 50, the glass substrate 50 is supplied to the next cutting process so that a force is applied to the glass substrate so that a bending moment acts in the width direction of the scribe line. As a result, the glass substrate 50 is cut along the scribe line.

스크라이브 장치에 의하여 스크라이브 라인이 형성되는 글래스 기판50의 종류가 변경되면, 레이저 발진장치34에 있어서의 X축 갈바노미러34b 및 Y축 갈바노미러34c의 회전속도가 각각 조정되어 레이저 빔에 의하여 글래스 기판50의 표면에 형성되는 레이저 스폿LS1과 LS2의 간격이 조정된다.When the type of the glass substrate 50 on which the scribe line is formed by the scribing device is changed, the rotation speeds of the X-axis galvano mirror 34b and Y-axis galvano mirror 34c in the laser oscillation device 34 are adjusted, respectively, and the glass is controlled by the laser beam. The distance between the laser spots LS1 and LS2 formed on the surface of the substrate 50 is adjusted.

또한 X축 갈바노미러34b와 Y축 갈바노미러34c에 의하여 레이저 빔의 주사패턴(走査 pattern)을 변화시킴으로써 레이저 스폿LS1과 LS2의 각각의 장축(長軸) 방향을 따르는 강도분포(强度分布)에 복수의 피크(peak)를 갖게 할 수 있다. In addition, the intensity distribution along the long axis directions of the laser spots LS1 and LS2 is changed by changing the scanning pattern of the laser beam by the X-axis galvano mirror 34b and the Y-axis galvano mirror 34c. It is possible to have a plurality of peaks.                 

이들로부터 레이저 스폿LS1과 LS2의 간격 및 각각의 강도분포의 상태가 글래스 기판50의 재질 등의 종류에 적당한 상태로 되어 레이저 빔이 글래스 기판50에 조사되기 때문에, 글래스 기판50은 그 내부에 걸쳐 블라인드 크랙이 깊게 형성되기 위하여 필요로 되는 상태까지 확실하게 가열된다.From these, the distance between the laser spots LS1 and LS2 and the state of the respective intensity distributions become suitable for the kind of material of the glass substrate 50 and the like, so that the laser beam is irradiated onto the glass substrate 50, so that the glass substrate 50 is blind over the inside thereof. The crack is reliably heated to the state that is necessary for the crack to be deeply formed.

또한 X축 갈바노미러34b와 Y축 갈바노미러34c에 의하여 레이저 빔의 주사패턴을 변화시킴으로써 복수의 레이저 스폿LS2를 직렬(直列)로 소정의 간격으로 형성하고, 형성된 복수의 레이저 스폿의 강도분포의 상태를 여러 가지로 설정할 수 있다.Further, by varying the scanning pattern of the laser beam by the X-axis galvano mirror 34b and the Y-axis galvano mirror 34c, a plurality of laser spots LS2 are formed in series at predetermined intervals, and the intensity distribution of the formed plurality of laser spots is distributed. You can set various states of.

바람직하게는, 복수의 레이저 스폿LS2에 형성되는 복수의 강도분포의 피크를 일직선 상으로 형성함으로써 글래스 기판50에 재질 등의 종류에 따라 더 적응한 상태로 할 수 있어 블라인드 크랙을 깊게 형성하기 위한 조건설정이 용이하게 된다.Preferably, the peaks of the plurality of intensity distributions formed in the plurality of laser spots LS2 are formed in a straight line so that the glass substrate 50 can be more adapted to the type of material or the like, thereby forming a blind crack deeper. Setting becomes easy.

상기한 바와 같이 레이저 빔의 주사속도(走査速度)나 주사경로(走査經路)를 고속으로 조정함으로써 복수의 레이저 스폿이 형성된다. 이들 복수의 레이저 스폿은 마치 멀티모드(multi mode)의 레이저 스폿과 같이 글래스 기판50에 형성된다.As described above, a plurality of laser spots are formed by adjusting the scanning speed and the scanning path of the laser beam at high speed. These plurality of laser spots are formed on the glass substrate 50 as if they were multi-mode laser spots.

글래스 기판50이 두꺼운 경우 또는 열전도율(熱傳導率)이 낮은 경우에는, 레이저 스폿LS1과 LS2의 간격은 작게 설정되고 또한 LS2가 복수일 때에는 LS2 상호간의 간격은 작게 설정되고 또한 장축이 X축을 따르는 레이저 스폿의 강도분포의 피크 간격도 작게 설정된다. 반대로 글래스 기판50이 얇은 경우 또는 열전도율이 높은 경우에는, 레이저 스폿LS1과 LS2의 간격은 크게 설정되고 또한 LS2가 복수일 때에는 LS2 상호간의 간격은 크게 설정되고 또한 장축이 X축을 따르는 복수의 레이저 스폿의 강도분포의 피크 간격도 크게 설정된다.When the glass substrate 50 is thick or when the thermal conductivity is low, the distance between the laser spots LS1 and LS2 is set small, and when there are a plurality of LS2s, the distance between the LS2s is set small, and the long- axis laser spot along the X axis. The peak interval of the intensity distribution is also set small. On the contrary, when the glass substrate 50 is thin or the thermal conductivity is high, the distance between the laser spots LS1 and LS2 is set to be large, and when the LS2 is plural, the distance between the LS2 is set to be large and the long axis of the plurality of laser spots along the X axis is set. The peak interval of the intensity distribution is also set large.

이와 같이 스크라이브 되는 글래스 기판50의 재질 등의 조건이 변경된 경우에도 글래스 기판으로 조사되는 레이저 빔을 그 글래스 기판50에 적당한 상태로 용이하게 변경할 수 있기 때문에 각종 조건의 글래스 기판에 대하여 용이하게 대응할 수 있다.In this way, even when conditions such as the material of the scribed glass substrate 50 are changed, the laser beam irradiated onto the glass substrate can be easily changed to a state suitable for the glass substrate 50, so that the glass substrate with various conditions can be easily coped with. .

레이저 스폿LS1은 스폿 전체가 균일한 강도분포가 되도록 형성된다. 또는 레이저 스폿LS1은 스크라이브 예정라인을 사이에 두고 2개의 강도분포의 피크를 가지도록 장축이 Y축을 따라 형성하는 것이 바람직하다.The laser spot LS1 is formed so that the whole spot becomes a uniform intensity distribution. Alternatively, the laser spot LS1 preferably has a long axis along the Y axis so as to have two intensity distribution peaks across the scribe line.

이에 따라 스크라이브 예정라인에는, 이 라인의 양측으로부터 압축(壓縮)의 응력(應力)이 가해져서 레이저 스폿LS1에 의하여 글래스 기판50 상의 스크라이브 예정라인으로 가열할 때에 블라인드 크랙과는 다른 이상한 균열(龜裂)이 글래스 기판50의 끝 부분 등으로부터 발생하는 것을 방지할 수 있다.As a result, a squeezed stress is applied to the scribe scheduled line from both sides of the line, and abnormal cracks different from the blind cracks when heated to the scribe scheduled line on the glass substrate 50 by the laser spot LS1 are applied. ) Can be prevented from occurring at the end of the glass substrate 50 or the like.

상기의 설명에 있어서는 도2에 나타나 있는 바와 같은 레이저 발진장치34a와 광학장치를 구비하고, 레이저 발진장치34a로부터 1개의 레이저 빔을 발진하는 레이저 발진장치34와 광학 홀더33을 구비하는 스크라이브 장치의 경우에 대하여 설명하였지만, 복수의 레이저 발진장치와 이에 대응하는 복수의 광학 홀더를 구비하고, 복수의 광학 홀더에 도2에 나타나 있는 바와 같은 광학장치가 설치되어 있는 스크라이브 장치이더라도 좋다.In the above description, in the case of the scribing apparatus including the laser oscillation device 34a and the optical device as shown in FIG. 2, and the laser oscillation device 34 and the optical holder 33 for oscillating one laser beam from the laser oscillation device 34a. As described above, the scribing apparatus may include a plurality of laser oscillation apparatuses and a plurality of optical holders corresponding thereto, and the optical apparatus as shown in FIG. 2 is provided in the plurality of optical holders.

이와 같이 복수의 레이저 발진장치와 복수의 광학 홀더를 구비함으로써 복수의 다른 파장(波長)을 갖는 레이저 빔을 글래스 기판50 상에 조사할 수 있다. 보통, 재료에는 빛을 흡수하는데 최적(最適)의 빛의 파장영역이 있고, 이 파장영역에 가까운 레이저 빔을 재료에 조사하면 재료의 내부까지 짧은 시간에 가열된다. 따라서 취성재료기판의 빛의 흡수파장에 가까운 레이저 빔을 조사함으로써 블라인드 크랙이 형성되기 쉬워진다.Thus, by providing a some laser oscillation apparatus and a some optical holder, the laser beam which has a some different wavelength can be irradiated on the glass substrate 50. FIG. Usually, the material has a wavelength range of light that is optimal for absorbing light, and when a laser beam near the wavelength range is irradiated onto the material, it is heated to the inside of the material in a short time. Therefore, blind cracks are easily formed by irradiating a laser beam close to the absorption wavelength of light of the brittle material substrate.

다양한 취성재료기판의 절단에 최적의 블라인드 크랙의 라인을 형성하기 위해서는 취성재료기판에 형성되는 복수의 레이저 스폿의 간격, 복수의 레이저 스폿의 강도분포 또한 복수의 레이저 스폿을 형성하는 레이저 빔의 파장이 최적으로 조정되는 것이 필요하다. 이 때문에 복수의 레이저 발진장치와 복수의 광학 홀더를 구비하는 스크라이브 장치가 사용된다.In order to form a line of blind cracks optimal for cutting various brittle material substrates, the spacing of the plurality of laser spots formed on the brittle material substrate, the intensity distribution of the plurality of laser spots, and the wavelength of the laser beam forming the plurality of laser spots It needs to be optimally adjusted. For this reason, the scribing apparatus provided with the some laser oscillation apparatus and the some optical holder is used.

또한 레이저 스폿LS1과 복수의 레이저 스폿LS2는 그 강도분포가 비가우스 모드(非 gauss mode)이더라도 좋다.In addition, the intensity distribution of the laser spot LS1 and the plurality of laser spots LS2 may be in a non-gauss mode.

도3은 레이저 발진장치34 및 광학장치의 다른 예를 나타내는 개략적인 구성도이다. 레이저 발진장치34는 제1레이저 발진기34a 및 제2레이저 발진기34g를 구비하고 있다. 제1 및 제2의 각 레이저 발진기34a 및 34g는 각각 가우스 모드(gauss mode)의 강도분포를 구비하는 레이저 빔을 서로 평행 하게 되도록 수평방향을 따라 조사한다.3 is a schematic configuration diagram showing another example of the laser oscillation device 34 and the optical device. The laser oscillation device 34 includes a first laser oscillator 34a and a second laser oscillator 34g. Each of the first and second laser oscillators 34a and 34g irradiates the laser beams having intensity distributions in a Gaussian mode along the horizontal direction so as to be parallel to each other.

제1레이저 발진기34a로부터 발진된 레이저 빔은, 이동 스테이지(移動 stage)33d에 부착된 제1반사미러(第一反射 mirror)33c에 의하여 글래스 기판50을 향하여 수직으로 반사된다. 제1반사미러33c는 이동 스테이지33d에 의하여 제1레이저 발진기34a에 대하여 접근 및 이간(離間)하는 방향으로 이동하도록 되어 있다. 이동 스테이지33d는, 스테핑 모터(stepping motor)에 의하여 이동되고, 이에 따라 제1레이저 발진기34a에 대한 제1반사미러33c의 위치가 미세하게 조정된다.The laser beam oscillated from the first laser oscillator 34a is vertically reflected toward the glass substrate 50 by the first reflecting mirror 33c attached to the moving stage 33d. The first reflecting mirror 33c is configured to move in a direction approaching and separating from the first laser oscillator 34a by the moving stage 33d. The movement stage 33d is moved by a stepping motor, whereby the position of the first reflection mirror 33c relative to the first laser oscillator 34a is finely adjusted.

또한 제2레이저 발진기34g로부터 조사된 레이저 빔은, 제1반사미러33c의 하방의 이동 스테이지33d'에 고정된 제1반원미러(第一半圓 mirror)33f로 조사된다. 이 제1반원미러33f는, 그 상방에 배치된 제1반사미러33c에서 반사된 레이저 빔을 투과(透過)시키고 또한 제2레이저 발진기34g로부터 조사된 레이저 빔을 하방을 향하여 반사한다.Moreover, the laser beam irradiated from the 2nd laser oscillator 34g is irradiated with the 1st semi-circle mirror 33f fixed to the movement stage 33d 'below the 1st reflection mirror 33c. The first semi-circular mirror 33f transmits the laser beam reflected by the first reflection mirror 33c disposed above and reflects the laser beam emitted from the second laser oscillator 34g downward.

제1반원미러33f로 조사되는 제1 및 제2의 각 레이저 발진기로부터 각각 발진된 레이저 빔은, 위상(位相)이 어긋난 상태가 되어 제1반원미러33f에 있어서, 한 쌍의 강도분포의 피크를 갖는 레이저 빔에 합성된다. 이 경우에 각 강도분포의 피크 간격은, 제1반사미러33c와 제1반원미러33f의 위치를 이동 스테이지33d와 33d'에 의하여 조정함으로써 수시로 변화시켜 새롭게 설정할 수 있다.The laser beams oscillated from each of the first and second laser oscillators irradiated with the first semicircular mirror 33f are in a phase shifted state, and the peaks of the pair of intensity distributions in the first semicircular mirror 33f are separated. To a laser beam. In this case, the peak spacing of each intensity distribution can be changed and set at any time by adjusting the positions of the first reflection mirror 33c and the first semicircular mirror 33f by the moving stages 33d and 33d '.

이렇게 하여 제1반원미러33f에 의하여 한 쌍의 강도분포의 피크를 갖도록 합성된 레이저 빔은 f-θ렌즈33a를 통하여 글래스 기판50으로 조사된다.In this way, the laser beam synthesized by the first semicircular mirror 33f to have the peak of the pair of intensity distributions is irradiated onto the glass substrate 50 through the f-? Lens 33a.

한편 제1반원미러33f에 의하여 합성된 레이저 빔에 사용되는 렌즈는 f-θ렌즈에 한정되지 않는다.On the other hand, the lens used for the laser beam synthesized by the first semi-circular mirror 33f is not limited to the f-θ lens.

제1반원미러33f에 의하여 합성된 레이저 빔은, 그 강도분포의 피크가 글래스 기판50의 이동방향인 X축 방향을 따르는 상태가 되도록 글래스 기판50으로 조사된다.The laser beam synthesized by the first semi-circular mirror 33f is irradiated onto the glass substrate 50 so that the peak of the intensity distribution is in the state along the X axis direction which is the moving direction of the glass substrate 50.

이러한 레이저 발진장치 및 광학장치를 구비하는 스크라이브 장치도 X축 방향을 따라 이동되는 글래스 기판50에 대하여 X축 방향을 따라 한 쌍의 강도분포의 피크를 갖는 레이저 빔이 조사되어 글래스 기판50의 표면이 가열된다. 그리고 레이저 빔의 조사에 의하여 가열된 부분에 근접한 글래스 기판50의 표면에 냉각매체가 분사됨으로써 글래스 기판에 스크라이브 라인으로서의 블라인드 크랙이 형성된다.The scribing device including the laser oscillation device and the optical device is also irradiated with a laser beam having a peak of a pair of intensity distributions along the X axis direction with respect to the glass substrate 50 moving along the X axis direction. Heated. The cooling medium is sprayed onto the surface of the glass substrate 50 close to the heated portion by the irradiation of the laser beam, thereby forming a blind crack as a scribe line on the glass substrate.

이 경우에 스크라이브 장치에 의하여 블라인드 크랙이 형성되는 글래스 기판50의 재질이나 두께 등이 변경되면, 제1반사미러33c에 의한 제1반원미러33f에 대한 레이저 빔의 반사위치가 이동 스테이지33d 및/또는 33d'에 의하여 조정되고, 레이저 빔에 의하여 글래스 기판50의 표면에 형성되는 레이저 스폿의 강도분포의 피크 간격이 조정된다. 이에 따라 글래스 기판50의 재질 등에 적당한 상태가 된다. 이와 같이 글래스 기판50의 이동방향을 따라 한 쌍의 강도분포의 피크를 갖는 레이저 스폿이 글래스 기판50에 형 성되면, 글래스 기판50의 내부에 걸쳐 블라인드 크랙을 형성하기 위하여 필요로 되는 상태까지 효과적으로 가열된다.In this case, if the material or thickness of the glass substrate 50 on which the blind crack is formed by the scribing device is changed, the reflection position of the laser beam with respect to the first semi-circular mirror 33f by the first reflection mirror 33c is shifted to the stage 33d and / or 33d ', the peak spacing of the intensity distribution of the laser spot formed on the surface of the glass substrate 50 by the laser beam is adjusted. As a result, the glass substrate 50 is in a suitable state. Thus, when a laser spot having a pair of intensity distribution peaks along the moving direction of the glass substrate 50 is formed on the glass substrate 50, it is effectively heated up to the state required to form a blind crack over the inside of the glass substrate 50. do.

따라서 도3에 나타나 있는 광학장치를 구비하는 스크라이브 장치에서도 스크라이브 되는 글래스 기판50의 재질 등의 조건이 변경되는 경우에도 글래스 기판에 조사되는 레이저 빔의 각종 물리적 파라미터(parameter)를 그 글래스 기판50에 적당한 상태로 용이하게 변경할 수 있어 각종 조건이 변동하는 경우의 글래스 기판에 대해서도 용이하게 대응할 수 있다.Therefore, even in the scribing apparatus having the optical apparatus shown in Fig. 3, even if conditions such as the material of the scribing glass substrate 50 are changed, various physical parameters of the laser beam irradiated to the glass substrate are suitable for the glass substrate 50. It can be easily changed to a state, and can easily respond also to the glass substrate in the case where various conditions change.

도3(b)는 레이저 발진기34a, 34g로부터 발진되는 레이저 빔의 강도분포가 가우스 모드일 때에 글래스 기판50에 대하여 한 쌍의 강도분포의 피크를 갖는 레이저 스폿이 얻어지는 모양을 나타내는 모식도이다.Fig. 3B is a schematic diagram showing the manner in which a laser spot having a pair of intensity distribution peaks with respect to the glass substrate 50 is obtained when the intensity distribution of the laser beams oscillated from the laser oscillators 34a and 34g is Gaussian mode.

한편 피크 사이의 거리는 이동 스테이지33d, 33d'를 조정함으로써 변화시키는 것이 가능하고, 필요한 경우에는 2개의 피크 배열순서를 변경시키는 것도 가능하다.On the other hand, the distance between the peaks can be changed by adjusting the moving stages 33d and 33d ', and if necessary, the order of the two peaks can be changed.

또한 도3(a)의 제1반사미러33c를 고속으로 여러 번 피치(pitch) 이송하여 이동시킴으로써, 도8에 나타나 있는 바와 같은 복수의 레이저 스폿을 글래스 기판50 상에 형성시킬 수 있다. 이 때에 형성되는 레이저 스폿 사이의 간격은 제1반사미러33c가 피치 이송되는 이동량이 된다. 이 이동량을 변경함으로써 스크라이브 되는 글래스 기판50의 재질 등의 조건이 변경되는 경우에도 글래스 기판으로 조사되는 복수의 레이저 빔의 간격을 그 글래스 기판50에 적당한 상태로 용이하게 변경할 수 있어 각종 조건의 글래스 기 판에 대하여 용이하게 대응할 수 있다.Further, by moving the first reflecting mirror 33c of FIG. 3A at a high pitch several times at high speed, a plurality of laser spots as shown in FIG. 8 can be formed on the glass substrate 50. The distance between the laser spots formed at this time is the movement amount at which the first reflection mirror 33c is pitch-feeded. Even if the conditions such as the material of the glass substrate 50 to be scribed are changed by changing the amount of movement, the intervals of the plurality of laser beams irradiated onto the glass substrate can be easily changed to a state suitable for the glass substrate 50. It can respond easily to a board | plate.

레이저 발진기34a와 34g로부터 발진되는 레이저 빔의 강도분포가 가우스 모드로 되어 있으면, 글래스 기판50 상에 형성되는 레이저 스폿의 외주(外周) 부분은 글래스 기판50의 가열에 바로 관여하지 않아 글래스 기판50의 가열효율이 저하될 우려가 있다. 이 때문에, 도3(c)에 나타나 있는 바와 같이 레이저 발진기34a와 34g로부터 발진되는 레이저 빔의 강도분포는 비가우스 모드로 되어 있는 것이 바람직하다.When the intensity distribution of the laser beam oscillated from the laser oscillators 34a and 34g is in the Gaussian mode, the outer circumferential portion of the laser spot formed on the glass substrate 50 does not directly participate in heating of the glass substrate 50, There is a fear that the heating efficiency is lowered. For this reason, as shown in Fig. 3C, the intensity distribution of the laser beam oscillated from the laser oscillators 34a and 34g is preferably in the non-Gaussian mode.

또한 복수의 레이저 발진기와 그에 대응하는 반원미러와 반원미러를 이동시키는 수단을 도3에 나타나 있는 구성에 추가하여 33a의 렌즈를 통하여 복수의 레이저 빔을 글래스 기판50으로 조사하고, 글래스 기판50에 형성된 레이저 스폿이 글래스 기판50의 이동방향을 따라 복수의 강도분포의 피크가 얻어지는 구성으로 하는 것이 바람직하다.Further, in addition to the configuration shown in Fig. 3, a plurality of laser oscillators and corresponding semi-circular mirrors and means for moving the semi-circular mirrors are irradiated to the glass substrate 50 through the lens of 33a, and formed on the glass substrate 50. It is preferable that the laser spot is configured such that peaks of a plurality of intensity distributions are obtained along the moving direction of the glass substrate 50.

또한 복수의 레이저 발진기는 다른 파장의 레이저 빔을 발진하는 것이더라도 좋다.The plurality of laser oscillators may oscillate laser beams of different wavelengths.

도4는 레이저 발진장치34 및 광학장치의 다른 예를 나타내는 개략적인 구성도이다. 이 경우에 레이저 발진장치34에는 제1레이저 발진기34a만이 설치되어 있고, 이 레이저 발진기34a로부터 발진되는 레이저 빔이 이동 스테이지33b'에 고정적으로 배치되는 제2하프미러(the second half mirror)33b로 조사되도록 되어 있다. 제2하프미러33b는 레이저 발진기34a로부터 발진되는 레이저 빔을 제1반사미러33c를 향하여 투과시키는 빔과 하방을 향하여 반사 되는 빔으로 분할한다.4 is a schematic configuration diagram showing another example of the laser oscillation device 34 and the optical device. In this case, only the first laser oscillator 34a is provided in the laser oscillator 34, and the laser beam oscillated from the laser oscillator 34a is irradiated with the second half mirror 33b fixedly disposed at the moving stage 33b '. It is supposed to be. The second half mirror 33b divides the laser beam oscillated from the laser oscillator 34a into a beam which is transmitted toward the first reflection mirror 33c and a beam which is reflected downward.

제2하프미러33b에 의하여 하방으로 반사되는 레이저 빔은, 제2하프미러33b의 하방에 배치되는 제2반사미러33e에 의하여 제1반원미러33f로 조사되도록 되어 있다.The laser beam reflected downward by the second half mirror 33b is irradiated to the first semi-circular mirror 33f by the second reflection mirror 33e disposed below the second half mirror 33b.

그 이외의 구성은, 도3에 나타나 있는 레이저 발진장치 및 광학장치의 구성과 마찬가지로 되어 있다.Other configurations are similar to those of the laser oscillation apparatus and the optical apparatus shown in FIG.

이러한 구성의 경우에는 제2하프미러33b에 의하여 분할된 레이저 빔이, 제1반원미러33f에 의하여 합성되어 f-θ렌즈33a를 통하여 글래스 기판50으로 조사되어 글래스 기판50의 표면에 한 쌍의 강도분포의 피크를 갖는 레이저 스폿이 형성된다. 레이저 스폿에 있어서의 한 쌍의 강도분포의 피크 간격은, 도3의 경우와 마찬가지로 제1반사미러33c에 의한 제1반원미러에 대한 레이저 빔의 반사위치를 이동 스테이지33d, 33d'와 33b'의 이동에 의하여 조정함으로써 적당하게 설정할 수 있다. 따라서 스크라이브 되는 글래스 기판50의 재질 등의 조건이 변경되는 경우에도 글래스 기판50으로 조사되는 레이저 빔의 강도분포와 상호간의 간격을 그 글래스 기판50에 적당한 상태로 용이하게 변경할 수 있어 각종 조건의 글래스 기판에 대하여 용이하게 대응할 수 있다.In this configuration, the laser beam split by the second half mirror 33b is synthesized by the first semi-circular mirror 33f and irradiated onto the glass substrate 50 through the f-θ lens 33a to provide a pair of intensities on the surface of the glass substrate 50. Laser spots with peaks in the distribution are formed. The peak spacing of the pair of intensity distributions in the laser spot is similar to the case of Fig. 3, and the reflection position of the laser beam with respect to the first semi-circular mirror by the first reflection mirror 33c is determined by the movement stages 33d, 33d 'and 33b'. It can set suitably by adjusting by movement. Therefore, even if the conditions of the material of the scribing glass substrate 50 are changed, the intensity distribution and the distance between the laser beams irradiated onto the glass substrate 50 can be easily changed to a suitable state for the glass substrate 50. It can be easily responded to.

도4(b)는 레이저 발진기34a로부터 발진되는 레이저 모드(laser mode)의 강도분포가 가우스 모드일 때에 글래스 기판50에 대하여 한 쌍의 열 에너지 피크(熱 energy peak)의 레이저 스폿이 얻어지는 모양을 나타내는 모식도이 다.Fig. 4 (b) shows how a pair of thermal energy peaks of laser spots are obtained with respect to the glass substrate 50 when the intensity distribution of the laser mode oscillated from the laser oscillator 34a is in the Gaussian mode. Schematic diagram.

한편 피크 사이의 거리는 이동 스테이지33d, 33d'와 33b'를 조정함으로써 변화시키는 것이 가능하고, 필요한 경우에는 2개의 피크 배열순서를 변경시키는 것도 가능하다.On the other hand, the distance between the peaks can be changed by adjusting the moving stages 33d, 33d 'and 33b', and if necessary, the order of the two peaks can be changed.

또한 도4(a)의 제1반사미러33c를 고속으로 여러 번 피치 이송을 하여 이동시킴으로써, 도8에 나타나 있는 바와 같은 복수의 레이저 스폿을 글래스 기판50 상에 형성시킬 수 있다. 이 때에 형성되는 레이저 스폿 사이의 간격은 제1반사미러33c가 피치 이송되는 이동량이 된다. 이 이동량을 변경함으로써 스크라이브 되는 글래스 기판50의 재질 등의 조건이 변경되는 경우에도 글래스 기판으로 조사되는 복수의 레이저 빔의 간격을 그 글래스 기판50에 적당한 상태로 용이하게 변경할 수 있어 각종 조건의 글래스 기판에 대하여 용이하게 대응할 수 있다.Further, by moving the first reflecting mirror 33c of FIG. 4A at a high speed several times, a plurality of laser spots as shown in FIG. 8 can be formed on the glass substrate 50. The distance between the laser spots formed at this time is the movement amount at which the first reflection mirror 33c is pitch-feeded. Even if the conditions such as the material of the glass substrate 50 to be scribed are changed by changing the amount of movement, the intervals of the plurality of laser beams irradiated onto the glass substrate can be easily changed to a state suitable for the glass substrate 50. It can be easily responded to.

또 이와 같이 1개의 레이저 발진기34a로부터 발진되는 레이저 빔을 분할한 후에 합성하는 경우에는, 레이저 발진기34a로부터 발진되는 레이저 빔의 강도분포가 가우스 모드로 되어 있으면 글래스 기판50 상에 형성되는 레이저 스폿의 외주 부분은, 글래스 기판50의 스크라이브에 있어서 조사 후에 가열에 바로 관여하지 않아 글래스 기판50의 가열효율이 저하될 우려가 있다. 이 때문에, 도4(c)에 나타나 있는 바와 같이 레이저 발진기34a로부터 발진되는 레이저 빔의 강도분포는 비가우스 모드로 되어 있는 것이 바람직하다.
In this case, when the laser beam oscillated from one laser oscillator 34a is divided and synthesized, when the intensity distribution of the laser beam oscillated from the laser oscillator 34a is in the Gaussian mode, the outer circumference of the laser spot formed on the glass substrate 50 is obtained. In the scribe of the glass substrate 50, a part does not immediately participate in heating after irradiation, and there exists a possibility that the heating efficiency of the glass substrate 50 may fall. For this reason, as shown in Fig. 4C, the intensity distribution of the laser beam oscillated from the laser oscillator 34a is preferably in the non-Gaussian mode.

본 발명은 취성재료기판의 스크라이브 장치의 기술분야에 있어서, 블라인드 크랙이 형성되는 글래스 기판 등의 취성재료기판의 종류나 두께 등이 변경되더라도 용이하게 대응할 수 있어 각종 취성재료기판에 대하여 확실하게 깊은 블라인드 크랙을 형성할 수 있다.According to the present invention, in the technical field of the scribing apparatus for a brittle material substrate, even if the type or thickness of the brittle material substrate such as the glass substrate on which the blind crack is formed is changed, the blind can be reliably deep with respect to various brittle material substrates. Cracks may form.

Claims (16)

취성재료기판(脆性材料基板)의 표면에 있어서의 스크라이브 라인(scribe line)의 형성이 예정되는 영역을 따라 그 취성재료기판의 연화점(軟化點)보다 낮은 온도의 조사 스폿(照射 spot)이 형성되도록 레이저 빔(laser beam)을 연속 또는 고속으로 단속적(斷續的)으로 조사(照射)하면서, 그 레이저 스폿(laser spot)의 근방 영역을 연속하여 냉각함으로써 스크라이브 예정라인(scribe 豫定 line)을 따라 수직크랙(垂直 crack)이 형성되는 취성재료기판의 스크라이브 장치(scribe 裝置)에 있어서,In order to form an irradiation spot at a temperature lower than the softening point of the brittle material substrate along a region where a scribe line is to be formed on the surface of the brittle material substrate. Along the scribe setting line by continuously cooling the laser beam near the laser spot while irradiating the laser beam continuously or at high speed intermittently. In a scribe device for a brittle material substrate in which a vertical crack is formed, 1개의 레이저 발진기(laser 發振器)와,One laser oscillator, 그 레이저 발진기로부터 발진된 레이저 빔이 조사되고, 조사되는 레이저 빔에 의하여 그 취성재료기판에 복수의 레이저 스폿을 형성하고 또한 조사되는 레이저 빔의 주사속도(走査速度) 및 주사경로(走査經路)를 조정하여 복수의 레이저 스폿 각각이 복수의 강도분포(强度分布)의 피크(peak)를 갖도록 구성되는 광학수단(光學手段)을 구비하고,The laser beam oscillated from the laser oscillator is irradiated, and a plurality of laser spots are formed on the brittle material substrate by the irradiated laser beam, and the scanning speed and the scanning path of the irradiated laser beam Is provided with optical means configured such that each of the plurality of laser spots has a peak of a plurality of intensity distributions, 미리 설정된 그 복수의 레이저 스폿의 간격에 적당한 취성재료기판의 두께보다 그 취성재료기판의 두께가 두꺼운 경우 및 미리 설정된 그 복수의 레이저 스폿의 간격에 적당한 취성재료기판의 열전도율(熱傳導率)보다 그 취성재료기판의 열전도율이 낮은 경우 중에서 적어도 어느 하나의 경우, 그 광학수단에 의하여 그 스크라이브 예정라인을 따라 형성되는 그 복수의 레이저 스폿의 간격이 미리 설정된 그 복수의 레이저 스폿의 간격보다 작게 조정되고 또한 그 복수의 레이저 스폿의 강도분포의 피크 간격이 미리 설정된 그 복수의 레이저 스폿의 강도분포의 피크 간격보다 작게 설정되고,The thickness of the brittle material substrate is thicker than the thickness of the brittle material substrate suitable for the spacing of the plurality of laser spots set in advance, and the brittleness is greater than the thermal conductivity of the brittle material substrate suitable for the spacing of the plurality of laser spots set in advance. In at least one of the cases where the thermal conductivity of the material substrate is low, the spacing of the plurality of laser spots formed along the scribe line by the optical means is adjusted to be smaller than the preset spacing of the plurality of laser spots. The peak spacing of the intensity distributions of the plurality of laser spots is set smaller than the peak spacing of the intensity distributions of the plurality of laser spots preset. 미리 설정된 그 복수의 레이저 스폿의 간격에 적당한 취성재료기판의 두께보다 그 취성재료기판의 두께가 얇은 경우 및 미리 설정된 그 복수의 레이저 스폿의 간격에 적당한 취성재료기판의 열전도율보다 그 취성재료기판의 열전도율이 높은 경우 중에서 적어도 어느 하나의 경우, 그 광학수단에 의하여 그 스크라이브 예정라인을 따라 형성되는 그 복수의 레이저 스폿의 간격이 그 복수의 레이저 스폿의 간격보다 크게 설정되고 또한 그 복수의 레이저 스폿의 강도분포의 피크 간격이 미리 설정된 그 복수의 레이저 스폿의 강도분포의 피크 간격보다 크게 설정되는 것을 특징으로 하는 취성재료기판의 스크라이브 장치.The thermal conductivity of the brittle material substrate when the thickness of the brittle material substrate is thinner than the thickness of the brittle material substrate suitable for the spacing of the plurality of laser spots preset, and the thermal conductivity of the brittle material substrate suitable for the spacing of the plurality of laser spots preset. In at least one of these cases, the spacing of the plurality of laser spots formed along the scribe line by the optical means is set larger than the spacing of the plurality of laser spots and the intensity of the plurality of laser spots. A scribing apparatus for a brittle material substrate, characterized in that the peak spacing of the distribution is set larger than the peak spacing of the intensity distribution of the plurality of laser spots set in advance. 삭제delete 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 복수의 레이저 스폿의 강도분포가 비가우스 모드(非 gauss mode)인 것을 특징으로 하는 취성재료기판의 스크라이브 장치.And a intensity distribution of the plurality of laser spots in a non-gauss mode. 취성재료기판의 표면에 있어서의 스크라이브 라인의 형성이 예정되는 영역을 따라 그 취성재료기판의 연화점보다 낮은 온도의 조사 스폿이 형성되도록 레이저 빔을 연속 또는 고속으로 단속적으로 조사하면서, 그 레이저 스폿의 근방 영역을 연속하여 냉각함으로써 스크라이브 예정라인을 따라 수직크랙이 형성되는 취성재료기판의 스크라이브 장치에 있어서,In the vicinity of the laser spot while irradiating the laser beam continuously or at high speed intermittently so that an irradiation spot at a temperature lower than the softening point of the brittle material substrate is formed along the region where the scribe line is to be formed on the surface of the brittle material substrate. A scribing apparatus for a brittle material substrate in which vertical cracks are formed along a scribe line by cooling the region continuously, 복수의 레이저 발진기와,A plurality of laser oscillators, 그 복수의 레이저 발진기로부터 각각 발진되는 제1레이저 빔 및 제2레이저 빔과,A first laser beam and a second laser beam oscillated from the plurality of laser oscillators, respectively; 그 제1레이저 빔을 반사하는 반사미러(反射 mirror)와,A reflecting mirror reflecting the first laser beam, 그 제1레이저 빔과 그 제2레이저 빔을 합성하는 반원미러(半圓 mirror)와,A semi-circular mirror combining the first laser beam and the second laser beam, 그 반사미러의 위치를 그 레이저 발진기에 대하여 접근 및 이간(離間)하는 방향으로 변화시켜 설정하는 이동 스테이지(移動 stage)A moving stage for changing and setting the position of the reflecting mirror in a direction approaching and separating from the laser oscillator. 를 구비하고,And 그 합성된 복수의 레이저 빔은 그 이동 스테이지에 의하여 그 취성재료기판의 내부에 걸쳐 그 수직크랙이 깊게 형성되는 상태까지 그 취성재료기판을 가열하도록 그 취성재료기판에 형성되는 레이저 스폿의 각 강도분포의 각각의 피크 간격을 그 취성재료기판의 조건에 따라 변화시켜 설정되는 것을 특징으로 하는 취성재료기판의 스크라이브 장치.The synthesized plurality of laser beams each intensity distribution of the laser spot formed on the brittle material substrate to heat the brittle material substrate to the state where the vertical crack is deeply formed over the inside of the brittle material substrate by the moving stage. A scribe apparatus for a brittle material substrate, characterized in that the peak spacing is set by varying the peak spacing according to the conditions of the brittle material substrate. 취성재료기판의 표면에 있어서의 스크라이브 라인의 형성이 예정되는 영역을 따라 그 취성재료기판의 연화점보다 낮은 온도의 조사 스폿이 형성되도록 레이저 빔을 연속 또는 고속으로 단속적으로 조사하면서, 그 레이저 스폿의 근방 영역을 연속하여 냉각함으로써 스크라이브 예정라인을 따라 수직크랙이 형성되는 취성재료기판의 스크라이브 장치에 있어서,In the vicinity of the laser spot while irradiating the laser beam continuously or at high speed intermittently so that an irradiation spot at a temperature lower than the softening point of the brittle material substrate is formed along the region where the scribe line is to be formed on the surface of the brittle material substrate. A scribing apparatus for a brittle material substrate in which vertical cracks are formed along a scribe line by cooling the region continuously, 복수의 레이저 발진기와,A plurality of laser oscillators, 그 레이저 발진기로부터 발진되는 레이저 빔을 반사하는 반사미러와,A reflection mirror reflecting the laser beam oscillated from the laser oscillator, 그 반사미러의 위치를 그 레이저 발진기에 대하여 접근 및 이간하는 방향으로 변화시켜 설정하는 이동 스테이지A moving stage for changing and setting the position of the reflecting mirror in the direction of approach and separation from the laser oscillator. 를 구비하고,And 그 이동 스테이지에 의하여 그 반사미러의 위치를 고속으로 피치(pitch) 이송하여 이동시키고,By the movement stage, the position of the reflecting mirror is moved at a high pitch by moving, 그 취성재료기판의 조건에 따라 그 반사미러의 피치 이송 이동량이 변경됨으로써 그 복수의 레이저 스폿의 간격이 변경되고, 그 취성재료기판은 그 레이저 빔에 의하여 그 취성재료기판의 내부에 걸쳐 그 수직크랙이 깊게 형성되는 상태까지 그 취성재료기판을 가열하는 것을 특징으로 하는 취성재료기판의 스크라이브 장치.According to the condition of the brittle material substrate, the pitch transfer movement amount of the reflecting mirror is changed to change the spacing of the plurality of laser spots, and the brittle material substrate has its vertical crack over the inside of the brittle material substrate by the laser beam. A scribing apparatus for a brittle material substrate, characterized in that the brittle material substrate is heated to such a deeply formed state. 삭제delete 삭제delete 취성재료기판의 표면에 있어서의 스크라이브 라인의 형성이 예정되는 영역을 따라 그 취성재료기판의 연화점보다 낮은 온도의 조사 스폿이 형성되도록 레이저 빔을 연속 또는 고속으로 단속적으로 조사하면서, 그 레이저 스폿의 근방 영역을 연속하여 냉각함으로써 스크라이브 예정라인을 따라 수직크랙이 형성되는 취성재료기판의 스크라이브 장치에 있어서,In the vicinity of the laser spot while irradiating the laser beam continuously or at high speed intermittently so that an irradiation spot at a temperature lower than the softening point of the brittle material substrate is formed along the region where the scribe line is to be formed on the surface of the brittle material substrate. A scribing apparatus for a brittle material substrate in which vertical cracks are formed along a scribe line by cooling the region continuously, 1개의 레이저 발진기와,With one laser oscillator, 그 레이저 발진기로부터 발진되는 레이저 빔과,A laser beam oscillated from the laser oscillator, 그 레이저 빔을 제1레이저 빔과 제2레이저 빔으로 분할하는 하프미러(half mirror)와,A half mirror for dividing the laser beam into a first laser beam and a second laser beam, 그 제1레이저 빔을 반사하는 반사미러(反射 mirror)와,A reflecting mirror reflecting the first laser beam, 그 제1레이저 빔과 그 제2레이저 빔을 합성하는 반원미러(半圓 mirror)와,A semi-circular mirror combining the first laser beam and the second laser beam, 그 하프미러의 위치를 그 레이저 발진기에 대하여 접근 및 이간하는 방향으로 변화시켜 설정하는 제1이동 스테이지와,A first moving stage for changing and setting the position of the half mirror in a direction approaching and separating from the laser oscillator; 그 반사미러의 위치를 그 레이저 발진기에 대하여 접근 및 이간하는 방향으로 변화시켜 설정하는 제2이동 스테이지와,A second moving stage for changing and setting the position of the reflecting mirror in a direction approaching and separating from the laser oscillator; 그 반원미러의 위치를 그 레이저 발진기에 대하여 접근 및 이간하는 방향으로 변화시켜 설정하는 제3이동 스테이지Third moving stage for changing and setting the position of the semi-circular mirror in the direction of approach and separation from the laser oscillator 를 구비하고,And 그 제1레이저 빔과 그 제2레이저 빔이 합성되어 그 취성재료기판에 한 쌍의 강도분포의 피크를 구비하는 레이저 스폿이 형성되고, 그 취성재료기판의 조건에 따라 그 한 쌍의 강도분포의 피크 간격은 그 제1∼제3의 이동 스테이지의 위치를 조정함으로써 변경되고, 그 취성재료기판은 그 레이저 빔에 의하여 그 취성재료기판의 내부에 걸쳐 그 수직크랙이 깊게 형성되는 상태까지 가열되는 것을 특징으로 하는 취성재료기판의 스크라이브 장치.The first laser beam and the second laser beam are combined to form a laser spot having a peak of a pair of intensity distributions on the brittle material substrate, and the pair of intensity distributions according to the conditions of the brittle material substrate. The peak spacing is changed by adjusting the positions of the first to third moving stages, and the brittle material substrate is heated by the laser beam to a state where the vertical crack is deeply formed over the inside of the brittle material substrate. A scribe device for a brittle material substrate, characterized in that. 제4항, 제5항, 제8항 중 어느 하나의 항에 있어서,The method according to any one of claims 4, 5 and 8, 상기 레이저 발진기로부터 발진되는 레이저 빔의 강도분포가 가우스 모드인 것을 특징으로 하는 취성재료기판의 스크라이브 장치.And an intensity distribution of the laser beam oscillated from the laser oscillator is a Gaussian mode. 제4항, 제5항, 제8항 중 어느 하나의 항에 있어서,The method according to any one of claims 4, 5 and 8, 상기 레이저 발진기로부터 발진되는 레이저 빔의 강도분포가 비가우스 모드인 것을 특징으로 하는 취성재료기판의 스크라이브 장치.And an intensity distribution of the laser beam oscillated from the laser oscillator is a non-Gaussian mode. 취성재료기판의 표면에 있어서의 스크라이브 라인의 형성이 예정되는 영역을 따라 그 취성재료기판의 연화점보다 낮은 온도의 조사 스폿이 형성되도록 레이저 빔을 연속 또는 고속으로 단속적으로 조사하면서, 그 레이저 스폿의 근방 영역을 연속하여 냉각함으로써 스크라이브 예정라인을 따라 수직크랙이 형성되는 취성재료기판의 스크라이브 방법에 있어서,In the vicinity of the laser spot while irradiating the laser beam continuously or at high speed intermittently so that an irradiation spot at a temperature lower than the softening point of the brittle material substrate is formed along the region where the scribe line is to be formed on the surface of the brittle material substrate. In the scribing method of a brittle material substrate in which vertical cracks are formed along a scribe line by cooling the region continuously, 미리 설정된 그 복수의 레이저 스폿의 간격에 적당한 취성재료기판의 두께보다 그 취성재료기판의 두께가 두꺼운 경우 및 미리 설정된 그 복수의 레이저 스폿의 간격에 적당한 취성재료기판의 열전도율(熱傳導率)보다 그 취성재료기판의 열전도율이 낮은 경우 중에서 적어도 어느 하나의 경우, 그 광학수단에 의하여 그 스크라이브 예정라인을 따라 형성되는 그 복수의 레이저 스폿의 간격이 미리 설정된 그 복수의 레이저 스폿의 간격보다 작게 조정되고 또한 그 복수의 레이저 스폿의 강도분포의 피크 간격이 미리 설정된 그 복수의 레이저 스폿의 강도분포의 피크 간격보다 작게 설정되고,The thickness of the brittle material substrate is thicker than the thickness of the brittle material substrate suitable for the spacing of the plurality of laser spots set in advance, and the brittleness is greater than the thermal conductivity of the brittle material substrate suitable for the spacing of the plurality of laser spots set in advance. In at least one of the cases where the thermal conductivity of the material substrate is low, the spacing of the plurality of laser spots formed along the scribe line by the optical means is adjusted to be smaller than the preset spacing of the plurality of laser spots. The peak spacing of the intensity distributions of the plurality of laser spots is set smaller than the peak spacing of the intensity distributions of the plurality of laser spots preset. 미리 설정된 그 복수의 레이저 스폿의 간격에 적당한 취성재료기판의 두께보다 그 취성재료기판의 두께가 얇은 경우 및 미리 설정된 그 복수의 레이저 스폿의 간격에 적당한 취성재료기판의 열전도율보다 그 취성재료기판의 열전도율이 높은 경우 중에서 적어도 어느 하나의 경우, 그 광학수단에 의하여 그 스크라이브 예정라인을 따라 형성되는 그 복수의 레이저 스폿의 간격이 그 복수의 레이저 스폿의 간격보다 크게 설정되고 또한 그 복수의 레이저 스폿의 강도분포의 피크 간격이 미리 설정된 그 복수의 레이저 스폿의 강도분포의 피크 간격보다 크게 설정되도록,The thermal conductivity of the brittle material substrate when the thickness of the brittle material substrate is thinner than the thickness of the brittle material substrate suitable for the spacing of the plurality of laser spots set in advance, and the thermal conductivity of the brittle material substrate suitable for the spacing of the plurality of laser spots preset. In at least one of these cases, the spacing of the plurality of laser spots formed along the scribe line by the optical means is set larger than the spacing of the plurality of laser spots and the intensity of the plurality of laser spots. So that the peak spacing of the distribution is set to be larger than the peak spacing of the intensity distributions of the plurality of laser spots preset. 그 광학수단에 의하여 주사속도 및 주사경로가 조정된 레이저 빔이 그 취성재료기판에 조사됨으로써 복수의 레이저 스폿의 간격 및 복수의 레이저 스폿의 강도분포의 피크 간격이 조정되는 것을 특징으로 하는 취성재료기판의 스크라이브 방법.The laser beam whose scanning speed and the scanning path are adjusted by the optical means is irradiated to the brittle material substrate to adjust the spacing of the plurality of laser spots and the peak spacing of the intensity distribution of the plurality of laser spots. Scribe method. 취성재료기판의 표면에 있어서의 스크라이브 라인의 형성이 예정되는 영역을 따라 그 취성재료기판의 연화점보다 낮은 온도의 조사 스폿이 형성되도록 레이저 빔을 연속 또는 고속으로 단속적으로 조사하면서, 그 레이저 스폿의 근방 영역을 연속하여 냉각함으로써 스크라이브 예정라인을 따라 수직크랙이 형성되는 취성재료기판의 스크라이브 방법에 있어서,In the vicinity of the laser spot while irradiating the laser beam continuously or at high speed intermittently so that an irradiation spot at a temperature lower than the softening point of the brittle material substrate is formed along the region where the scribe line is to be formed on the surface of the brittle material substrate. In the scribing method of a brittle material substrate in which vertical cracks are formed along a scribe line by cooling the region continuously, 복수의 레이저 발진기로부터 각각 발진되는 레이저 빔이 반사미러 및 반원미러를 이용하여 합성되어 그 취성재료기판의 표면에 레이저 스폿이 형성되고, 그 취성재료기판의 조건에 따라 그 반사미러의 위치를 그 레이저 발진기에 대하여 접근 및 이간하는 방향으로 변화시켜 레이저 스폿의 복수의 강도분포의 피크 간격을 변화시킴으로써 그 취성재료기판의 내부에 걸쳐 그 수직크랙이 깊게 형성되는 상태까지 그 취성재료기판을 가열하는 것을 특징으로 하는 취성재료기판의 스크라이브 방법.The laser beams oscillated from the plurality of laser oscillators are synthesized using a reflection mirror and a semicircle mirror to form a laser spot on the surface of the brittle material substrate, and the position of the reflection mirror is determined according to the conditions of the brittle material substrate. By varying the peak spacing of the plurality of intensity distributions of the laser spot by changing in the direction of approach and separation from the oscillator, the brittle material substrate is heated to a state where the vertical crack is deeply formed over the inside of the brittle material substrate. A method of scribing a brittle material substrate. 취성재료기판의 표면에 있어서의 스크라이브 라인의 형성이 예정되는 영역을 따라 그 취성재료기판의 연화점보다 낮은 온도의 조사 스폿이 형성되도록 레이저 빔을 연속 또는 고속으로 단속적으로 조사하면서, 그 레이저 스폿의 근방 영역을 연속하여 냉각함으로써 스크라이브 예정라인을 따라 수직크랙이 형성되는 취성재료기판의 스크라이브 방법에 있어서,In the vicinity of the laser spot while irradiating the laser beam continuously or at high speed intermittently so that an irradiation spot at a temperature lower than the softening point of the brittle material substrate is formed along the region where the scribe line is to be formed on the surface of the brittle material substrate. In the scribing method of a brittle material substrate in which vertical cracks are formed along a scribe line by cooling the region continuously, 복수의 레이저 발진기로부터 발진되는 레이저 빔을 반사하는 복수의 반사미러의 위치를 그 레이저 발진기에 대하여 접근 및 이간하는 방향으로 고속으로 피치 이송하여 이동시킴으로써 그 취성재료기판의 표면에 복수의 레이저 스폿이 형성되고, 그 취성재료기판의 조건에 따라 그 반사미러의 피치 이송 이동량을 변경하여 그 복수의 레이저 스폿의 간격을 변경함으로써 그 레이저 빔은 그 취성재료기판의 내부에 걸쳐 그 수직크랙이 깊게 형성되는 상태까지 그 취성재료기판을 가열하는 것을 특징으로 하는 취성재료기판의 스크라이브 방법.A plurality of laser spots are formed on the surface of the brittle material substrate by moving the positions of the plurality of reflection mirrors reflecting the laser beams oscillated from the plurality of laser oscillators at high speed in the direction of approach and separation from the laser oscillator. By changing the pitch transfer movement amount of the reflecting mirror according to the condition of the brittle material substrate and changing the spacing of the plurality of laser spots, the laser beam has a state where the vertical crack is deeply formed inside the brittle material substrate. A method of scribing a brittle material substrate, characterized in that for heating the brittle material substrate. 취성재료기판의 표면에 있어서의 스크라이브 라인의 형성이 예정되는 영역을 따라 그 취성재료기판의 연화점보다 낮은 온도의 조사 스폿이 형성되도록 레이저 빔을 연속 또는 고속으로 단속적으로 조사하면서, 그 레이저 스폿의 근방 영역을 연속하여 냉각함으로써 스크라이브 예정라인을 따라 수직크랙이 형성되는 취성재료기판의 스크라이브 방법에 있어서,In the vicinity of the laser spot while irradiating the laser beam continuously or at high speed intermittently so that an irradiation spot at a temperature lower than the softening point of the brittle material substrate is formed along the region where the scribe line is to be formed on the surface of the brittle material substrate. In the scribing method of a brittle material substrate in which vertical cracks are formed along a scribe line by cooling the region continuously, 1개의 레이저 발진기로부터 발진되는 레이저 빔을 제1레이저 빔과 제2레이저 빔으로 분할하는 하프미러와, 그 제1레이저 빔을 반사하는 반사미러와, 그 제1레이저 빔과 그 제2레이저 빔을 합성하는 반원미러를 이용하여 합성함으로써 그 취성재료기판의 표면에 레이저 스폿이 형성되고, 그 취성재료기판의 조건에 따라 그 하프미러, 그 반사미러 및 그 반원미러의 위치를 그 레이저 발진기에 대하여 접근 및 이간하는 방향으로 변화시켜 레이저 스폿의 복수의 강도분포의 피크 간격을 변화시킴으로써 그 취성재료기판의 내부에 걸쳐 그 수직크랙이 깊게 형성되는 상태까지 그 취성재료기판을 가열하는 것을 특징으로 하는 취성재료기판의 스크라이브 방법.A half mirror for dividing a laser beam oscillated from one laser oscillator into a first laser beam and a second laser beam, a reflecting mirror reflecting the first laser beam, the first laser beam and the second laser beam By using a semicircular mirror to be synthesized, a laser spot is formed on the surface of the brittle material substrate, and the position of the half mirror, the reflective mirror and the semicircular mirror is approached to the laser oscillator according to the conditions of the brittle material substrate. And changing the peak spacing of the plurality of intensity distributions of the laser spot by changing in the separation direction, thereby heating the brittle material substrate to a state where the vertical crack is deeply formed throughout the brittle material substrate. Method of scribing substrates. 제12항 내지 제14항 중 어느 하나의 항에 있어서,The method according to any one of claims 12 to 14, 상기 레이저 발진기로부터 발진되는 레이저 빔의 강도분포가 가우스 모드(gauss mode)인 것을 특징으로 하는 취성재료기판의 스크라이브 방법.And an intensity distribution of the laser beam oscillated from the laser oscillator is a Gaussian mode. 제12항 내지 제14항 중 어느 하나의 항에 있어서,The method according to any one of claims 12 to 14, 상기 레이저 발진기로부터 발진되는 레이저 빔의 강도분포가 비가우스 모드(非 gauss mode)인 것을 특징으로 하는 취성재료기판의 스크라이브 방법.And an intensity distribution of the laser beam oscillated from the laser oscillator is in a non-gauss mode.
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