KR100555468B1 - 센서 판넬을 위한 좌표 신호검출장치 및 방법 - Google Patents

센서 판넬을 위한 좌표 신호검출장치 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR100555468B1
KR100555468B1 KR1019990008763A KR19990008763A KR100555468B1 KR 100555468 B1 KR100555468 B1 KR 100555468B1 KR 1019990008763 A KR1019990008763 A KR 1019990008763A KR 19990008763 A KR19990008763 A KR 19990008763A KR 100555468 B1 KR100555468 B1 KR 100555468B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
sensor panel
coordinate signal
touch
touch currents
average value
Prior art date
Application number
KR1019990008763A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20000060450A (ko
Inventor
안병권
김도윤
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1019990008763A priority Critical patent/KR100555468B1/ko
Publication of KR20000060450A publication Critical patent/KR20000060450A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100555468B1 publication Critical patent/KR100555468B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/04166—Details of scanning methods, e.g. sampling time, grouping of sub areas or time sharing with display driving
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Position Input By Displaying (AREA)

Abstract

정전 용량 방식의 디지타이져에서, 센서 판넬 자체 및 그 주변 환경에 의한 정전 용량의 변화에 구애되지 않고, 센서 판넬상에 접촉된 위치 좌표가 제대로 검출될 수 있도록 안정된 좌표 신호를 발생할 수 있는 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 장치 및 방법이 개시된다. 센서 판넬로부터/로 유출/유입되는 소정수개의 터치 전류들을 이용하여 좌표 신호를 검출하는 이 장치는, 판넬 구동 신호에 응답하여 터치 전류들의 평균값을 계산하고, 계산된 평균값을 출력하는 평균값 계산부 및 평균값과 터치 전류들 각각의 차를 계산하고, 계산된 결과들을 상대적 터치 전류들로서 출력하는 전류 상대값 계산부로 구성되고, 상대적 터치 전류들 각각은, 센서 판넬상의 터치된 지점의 좌표를 감지하기 위한 좌표 신호로서 하나씩 이용되는 것을 특징으로 한다.

Description

센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 장치 및 방법{Apparats and method for detecting coordinate signal for sensor panel}
도 1은 본 발명에 의한 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 장치의 개략적인 블럭도이다.
도 2는 도 1에 도시된 장치에서 수행되는 본 발명에 의한 좌표 신호 검출 방법을 설명하기 위한 플로우차트이다.
도 3 (a) ∼ (c)들은 도 1에 도시된 장치의 동작을 설명하기 위한 파형도들이다.
도 4는 도 1에 도시된 장치의 본 발명의 바람직한 일실시예의 회로도이다.
도 5는 센서 판넬의 일례를 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 도 5에 도시된 장치로/로부터 인가되거나/출력되는 신호들의 예시적인 파형도들을 나타낸다.
본 발명은 정전 용량 방식의 디지타이져(digitizer)에 관한 것으로서, 특히, 디지타이져에 외장되는 센서 판넬(sensor pannel)로부터/로 나오고/들어가는 터치(touch) 전류를 이용하여 좌표 신호를 검출하는 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 장치 및 방법에 관한 것이다.
일반적으로 디지타이져는 두가지 모드 즉, 특수 펜(STYLUS)을 사용하는 펜 모드와 손을 사용하는 핑거 터치 모드에서 동작한다. 이에 대한 자세한 설명은 본 출원인에 의해 출원된 국제 특허 출원중인 PCT/KR96/00089에 개시되어 있다.
또한, 핑거 터치 모드에서, 센서 패널의 전류를 검출하는 종래의 장치(이하, 종래의 장치)가 "펜 디지타이져 시스템의 센서 패널 전류 검출 회로"라는 제목으로 출원된 국내 특허 출원 번호 P96-16257에 개시되어 있다.
종래의 장치를 살펴보면, 센서 판넬상에 손가락의 접촉이 있을 때 센서 패널에 유입되는 터치 전류를 검출하기 위해 연산 증폭기와 전류 미러를 사용하고 있으며, 검출된 전류를 전류/전압 변환기를 사용하여 안정된 전압으로 변환하고, 변환된 전압을 사용하여 센서 패널상의 어느 한 점에 해당하는 위치 좌표를 검출한다.
전술한 종래의 장치는, 사용자마다 각기 다른 손가락의 정전 용량 차이, 센서 판넬상의 접촉 위치 및 센서 판넬과 접지간에 형성되는 정전 용량 차이에 기인하여, 센서 판넬로부터/로 디지타이져로 유출/유입되는 터치 전류의 량 즉, 레벨이 주 신호 처리부에서 처리할 수 있는 동작 범위를 초과할 수 있다. 따라서, 터치 전류의 레벨이 동작 범위를 초과할 경우, 센서 판넬의 좌표(또는 위치)를 식별할 수 있도록 하는 좌표 신호가 왜곡될 수 있는 문제점을 발생한다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 정전 용량 방식의 디지타이져에서, 센서 판넬 자체 및 그 주변의 정전 용량의 변화에 구애되지 않고, 센서 판넬상에 접촉된 좌표가 제대로 검출될 수 있도록 안정된 좌표 신호를 발생할 수 있는 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 장치를 제공하는 데 있다.
본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는, 상기 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 장치에서 수행되는 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 방법을 제공하는 데 있다.
상기 과제를 이루기 위해, 센서 판넬로부터/로 유출/유입되는 소정수개의 터치 전류들을 이용하여 좌표 신호를 검출하는 본 발명에 의한 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 장치는, 판넬 구동 신호에 응답하여 상기 터치 전류들의 평균값을 계산하고, 계산된 평균값을 출력하는 평균값 계산부 및 상기 평균값과 상기 터치 전류들 각각의 차를 계산하고, 계산된 결과들을 상대적 터치 전류들로서 출력하는 전류 상대값 계산부로 구성되고, 상기 상대적 터치 전류들 각각은, 상기 센서 판넬상의 터치된 지점의 좌표를 감지하기 위한 상기 좌표 신호로서 하나씩 이용되는 것이 바람직하다.
상기 다른 과제를 이루기 위해, 센서 판넬로부터/로 유출/유입되는 소정수개의 터치 전류들을 이용하여 좌표 신호를 검출하는 본 발명에 의한 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 방법은, 판넬 구동 신호가 인가되었는가를 계속적으로 판단하는 단계와, 상기 판넬 구동 신호가 인가되었으면, 상기 터치 전류들의 평균값을 계산하는 단계, 상기 평균값과 상기 터치 전류들 각각의 차를 계산하여 상대적 터치 전 류들을 구하는 단계와, 상기 상대적 터치 전류들을 하나씩 소정의 순서대로 선택하는 단계 및 선택된 상기 상대적 터치 전류를 전압으로 변환하여 상기 좌표 신호를 구하는 단계로 이루어지고, 상기 좌표 신호는 상기 센서 판넬상의 터치된 지점의 좌표를 감지하기 위해 사용되는 것이 바람직하다.
이하, 본 발명에 의한 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 장치의 구성 및 동작과 그 검출 방법을 첨부한 도면들을 참조하여 다음과 같이 설명한다.
도 1은 본 발명에 의한 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 장치의 개략적인 블럭도로서, 평균값 계산부(10), 전류 상대값 계산부(12), 스위칭부(14) 및 전류/전압 변환부(16)로 구성된다.
도 2는 도 1에 도시된 장치에서 수행되는 본 발명에 의한 좌표 신호 검출 방법을 설명하기 위한 플로우차트로서, 판넬 구동 신호(DRV)의 인가되었을 때 터치 전류들을 평준화(normalize)하여 좌표 신호를 구하는 단계(제20 ∼ 제28 단계)로 이루어진다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 평균값 계산부(10)는 외부로부터 판넬 구동 신호(DRV)가 인가되었는가를 계속적으로 판단한다(제20 단계). 만일, 판넬 구동 신호(DRV)가 인가되었으면, 센서 판넬(미도시)로부터 유출되거나 센서 판넬로 유입되는 소정수(i+j)개의 터치 전류들(U1 ∼ Ui 및 L1 ∼ Li)의 평균값을 계산하고, 계산된 평균값을 전류 상대값 계산부(12)로 출력한다(제22 단계). 여기서, 센서 판넬을 손으로 터치하면 후술되는 바와 같이 저항으로 도포된 센서 판넬 내부의 임피던스가 변하고 변화된 임피던스에 상응하여 터치 전류들(U1 ∼ Ui 및 L1 ∼ Li)이 도 1에 도시된 장치로 유입되거나 도 1에 도시된 장치로부터 유출된다. 여기서, 터치 전류들(U1 ∼ Ui 및 L1 ∼ Li)의 레벨은 전술한 바와 같이 센서 판넬 그 자체 및 주변의 정전 용량의 크기에 따라 상당히 높아질 수 있다.
제22 단계후에, 전류 상대값 계산부(12)는 평균값과 터치 전류들(U1 ∼ Ui 및 L1 ∼ Li) 각각의 차를 계산하고, 계산된 차들을 상대적 터치 전류들로서 스위칭부(14)로 출력한다(제24 단계).
제24 단계후에, 스위칭부(14)는 전류 상대값 계산부(12)로부터 출력되는 상대적 터치 전류들을 외부에서 인가되는 제어신호들(C1 ∼ Ci+j)에 응답하여 하나씩 전류/전압 변환부(16)로 출력한다(제26 단계). 이 때, 상대적 터치 전류들은 전류/전압 변환부(16)로 어떠한 순서로도 출력될 수 있지만, 제어 신호들에 응답하여서는 하나씩만 출력되어야 한다.
제26 단계후에, 전류/전압 변환부(16)는 스위칭부(14)로부터 출력되는 상대적 터치 전류를 안정된 전압으로 변환하고, 변환된 전압을 센서 판넬(미도시)상의 터치된 지점의 좌표를 인식하기 위해 사용되는 좌표 신호로서 출력단자 OUT를 통해 출력한다(제28 단계). 즉, 좌표 신호의 레벨에 따라서 터치 판넬상의 터치된 지점인 센서 판넬상의 한점에 해당하는 위치가 분석된다.
도 3 (a) ∼ (c)들은 도 1에 도시된 장치의 동작을 설명하기 위한 파형도들로서, 도 3 (a)는 주 신호 처리 영역(40)에 속하는 레벨을 갖는 즉, 정상적인 터치 전류들의 파형도를 나타내고, 도 3 (b)는 주 신호 처리 영역(40)을 벗어나는 레벨을 갖는 즉, 비정상적인 터치 전류들의 파형도를 나타내고, 도 3 (c)는 터치 전류들을 정규화하여 획득한 좌표 신호의 파형도를 각각 나타낸다.
만일, i와 j가 각각 '2'라 가정하면, 도 3 (a)에 도시된 바와 같이 터치 전류(U1 ∼ U2 또는 L1 ∼ L2)가 정상적으로 발생되면 터치 판넬 상에 터치된 지점을 검출하기 위한 좌표 신호가 왜곡되지 않는다. 이 때, 도 3 (a), (b) 및 (c)들에 도시된 바와 같이, 제어 신호들(C1, C2, C3 및 C4)에 응답하여 터치 전류들(U1, U2, L1 및 L2)(42, 44, 46 및 48)이 하나씩 전류/전압 변환부(16)로 인가됨을 알 수 있다. 그러나, 도 3 (b)에 도시된 바와 같이, 종래의 문제점에서 언급된 바와 같이 용량의 변화에 의해 터치 전류가 비정상적으로 발생되면 좌표 신호가 왜곡될 수 있다. 그러므로, 이를 해소하기 위해, 도 1에 도시된 본 발명에 의한 장치는 도 3 (b)에 도시된 터치 전류들을 도 3 (c)에 도시된 바와 같이 주 신호 처리 영역(40)의 평균값(50) 이내로 정규화하여 좌표 신호를 구한다. 따라서, 본 발명에 의한 장치는 외부의 정전 용량의 변화에 무관하게 좌표 신호의 레벨이 주 신호 처리 영역로 제한될 수 있도록 한다.
이하, 소정수가 '4'(i=j=2)라고 가정하고, 즉 센서 판넬의 각 모서리로부터 터치 전류들이 발생된다고 가정하여 전술한 본 발명에 의한 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 장치의 본 발명에 의한 바람직한 일실시예의 구성 및 동작을 첨부한 도면들을 참조하여 다음과 같이 살펴본다.
도 4는 도 1에 도시된 장치의 본 발명의 바람직한 일실시예의 회로도로서, 평균값 계산부(60)를 구성하는 전류 가산부(62)와 제1 및 제2 제산부들(64 및 66), 전류 상대값 계산부(68), 스위칭부(70) 및 전류/전압 변환부(72)로 구성된다.
도 5는 센서 판넬의 일례를 설명하기 위한 도면으로서, 저항 성분으로 도포된 센서 판넬(80) 및 센서 판넬(80)과 도 4에 도시된 장치를 연결하는 저항들(R1, R2, R3 및 R4)로 구성된다.
도 6은 도 5에 도시된 장치로 인가되는 터치 전류(UR1, UL1, LL1 또는 LR1) 및 제어신호들(C1, C2, C3 및 C4)과 그 장치로부터 출력되는 좌표 신호(VOUT)의 예시적인 파형도를 각각 나타낸다. 여기서, 터치 전류들 UR1 및 UL1은 전술한 U1 및 U2에 각각 해당하고, LL1 및 LR1은 전술한 L1 및 L2에 각각 해당한다.
도 4에 도시된 평균값 계산부(60), 전류 상대값 계산부(68), 스위칭부(70) 및 전류/전압 변환부(72)는 도 1에 도시된 평균값 계산부(10), 전류 상대값 계산부(12), 스위칭부(14) 및 전류/전압 변환부(16)와 각각 동일한 기능을 수행한다.
먼저, 도 4에 도시된 평균값 계산부(60)의 전류 가산부(62)는 도 5에 도시된 상부 좌측 단자(UL1), 상부 우측 단자(UR1), 하부 좌측 단자(LL1) 및 하부 우측 단자(LR1)를 통해 센서 판넬로 유출되는 터치 전류들을 가산한다. 여기서, 가산된 결과가 제1 총 전류(in,sum)라고 하자. 이와 비슷하게, 전류 가산부(62)는 도 5에 도 시된 상부 좌측 단자(UL1), 상부 우측 단자(UR1), 하부 좌측 단자(LL1) 및 하부 우측 단자(LR1)를 통해 센서 판넬로부터 유입되는 터치 전류들을 가산한다. 여기서, 가산된 결과는 제2 총 전류(ip,sum)라고 하자. 이를 위해, 전류 가산부(62)는 네개의 연산 증폭기들(80, 82, 84 및 86), NMOS 트랜지스터들(MN1 ∼ MN16) 및 PMOS 트랜지스터들(MP1 ∼ MP16)로 구성된다. 각 연산 증폭기(80, 82, 84 또는 86)는 양의 입력단자(+)로 판넬 구동 신호(DRV)를 입력하고 음의 입력단자(-)는 상부 좌측 단자(UL1), 상부 우측 단자(UR1), 하부 좌측 단자(LL1) 및 하부 우측 단자(LR 1)들중 해당하는 단자와 연결된다. 여기서, 트랜지스터들(MP1 ∼ MP4 및 MN1 ∼ MN4), 트랜지스터들(MP5 ∼ MP8 및 MN5 ∼ MN8), 트랜지스터들(MP9 ∼ MP12 및 MN9 ∼ MN12) 및 트랜지스터들(MP13 ∼ MP16 및 MN13 ∼ MN16)의 구조와 동작은 서로 비슷하기 때문에, 트랜지스터들(MP1 ∼ MP4 및 MN1 ∼ MN4)의 구조와 동작만의 셜명으로 다른 트랜지스터들에 대한 구조 및 동작들에 대한 설명을 갈음한다.
트랜지스터들(MP1, MP2 및 MP3) 및 트랜지스터들(MN2, MN3 및 MN4) 각각은 전류 미러를 형성하며, 센서 판넬(80)상에 손가락의 접촉이 없다면 판넬로부터 유입되는 전류의 변화가 없으므로, 트랜지스터들(MN1과 MP4) 각각의 소스 및 게이트에 동일한 전압이 인가되어 트랜지스터들(MN1과 MP4)은 턴 오프된다. 그러나, 센서 판넬(80)상에 손가락의 접촉이 있다면, 단자(UR1)을 통해 판넬로 도 6에 도시된 터치 전류(UR1)를 유출한다. 이 때, 트랜지스터(MP2)의 드레인(ip1)은 트랜지스터(MN32)의 드레인에 연결되고, 트랜지스터(MN3)의 드레인(in1)은 트랜지 스터(MP24)의 드레인에 각각 연결됨을 알 수 있다.
한편, 제1 제산부(64)는 전류 가산부(62)에서 가산된 제1 총 전류(in,sum)를 소정수 4로 제산하고, 제산된 결과(IAVG,in,sum/4)를 전류 상대값 계산부(68)로 출력한다. 이를 위해, 제1 제산부(64)는 전류 미러를 형성하는 PMOS 트랜지스터들(MP17 및 MP18) 및 NMOS 트랜지스터들(MN17 ∼ MN21)로 구성된다. 여기서, 트랜지스터(MP17)의 외형비는 트랜지스터(MP18)의 외형비보다 소정수 '4'배만큼 크도록 설계되어야 한다. 이와 비슷하게, 제2 제산부(66)는 전류 가산부(62)에서 가산된 제2 총 전류(ip,sum)를 소정수 4로 제산하고, 제산된 결과(IAVG,ip,sum/4)를 전류 상대값 계산부(68)로 출력한다. 이를 위해, 제2 제산부(66)는 전류 미러를 형성하는 PMOS 트랜지스터들(MP19 ∼ MP23) 및 NMOS 트랜지스터들(MN22 및 MN23)로 구성된다. 여기서, 트랜지스터(MN22)의 외형비는 트랜지스터(MN23)의 외형비보다 소정수 '4'배만큼 크도록 설계되어야 한다.
한편, 도 4에 도시된 상대값 계산부(68)는 단자들(in1, in2, in3, in4, ip1, ip2, ip3 및 ip4)을 통해 입력된 터치 전류들 각각으로부터 평균값 계산부(60)에서 계산된 평균값을 감산하고, 감산된 결과들을 상대적인 터치 전류들로서 스위칭부(70)의 해당하는 전송 게이트들(T1, T2, T3, T4, T5, T6, T7 및 T8)로 전송한다.
스위칭부(70)의 전송 게이트들(T1 및 T5)은 제1 제어 신호(C1)에 응답하여 해당하는 상대적인 터치 전류를 전류/전압 변환부(72)로 전송하고, 전송 게이트들(T2 및 T6)은 제2 제어 신호(C2)에 응답하여 해당하는 상대적인 터치 전류를 전류/전압 변환부(72)로 전송하고, 전송 게이트들(T3 및 T7)은 제3 제어 신호(C3)에 응답하여 해당하는 상대적인 터치 전류를 전류/전압 변환부(72)로 전송하고, 전송 게이트들(T4 및 T8)은 제4 제어 신호(C4)에 응답하여 해당하는 상대적인 터치 전류를 전류/전압 변환부(72)로 전송한다. 이 때, 제1 ∼ 제4 제어 신호들(C1 ∼ C4)은 8개의 상대적인 터치 전류들중 해당하는 두개의 상대적인 터치 전류들만을 소정 순서에 따라 전류/전압 변환부(72)로 출력한다. 즉, 전술한 바와 같이 두개의 상대적인 터치 전류들만이 전류/전압 발생부(72)로 출력될 수 있도록 제1 ∼ 제4 제어 신호들(C1 ∼ C4)은 도 6에 도시된 바와 같이 발생될 수 있다.
한편, 전류/전압 변환부(72)는 커패시터(C), 저항(R5) 및 연산 증폭기(88)로 구성되며, 전송 게이트들로부터 출력되는 두개의 상대적인 터치 전류들의 합에 상응하는 레벨을 갖는 안정적인 전압을 도 6에 도시된 좌표 신호(VOUT)로서 출력한다. 여기서, 좌표 신호(VOUT)는 센서 판넬상에 터치된 지점을 검출하기 위해 사용된다.
도 4에 도시된 본 발명에 의한 일실시예의 장치는 센서 판넬이 사각형 모양이고, 센서 판넬의 각 모서리로부터/로 터치 전류가 유출되거나/유입된다고 가정하였다. 그러나, 도 1에 도시된 장치는 센서 판넬의 모양 및 터치 전류의 수에 무관하게 좌표 신호를 검출하기 위해 적용될 수 있다. 즉, 터치 전류의 수만큼 도 4에 도시된 회로가 확장될 수도 있다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 장치 및 방법은 센서 패널과 접지간의 정전 용량에 의한 터치 전류의 변화분이나 사람마다 차이가 있는 손가락에 의한 정전 용량에 의한 터치 전류의 변화분등에 의해 좌표 신호의 레벨이 주 신호 처리 영역(40)을 벗어나는 것을 방지하기 때문에, 외부에서 정전 용량을 가변시킬 수 있는 상황이 발생하여도 언제나 주 신호 처리 영역(40)내의 범위에 속하는 레벨을 갖는 좌표 신호를 검출하여 안정적으로 터치된 지점의 좌표가 인식될 수 있도록 하는 효과가 있다.

Claims (3)

  1. 센서 판넬로부터/로 유출/유입되는 소정수개의 터치 전류들을 이용하여 좌표 신호를 검출하는 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 장치에 있어서,
    판넬 구동 신호에 응답하여 상기 터치 전류들의 평균값을 계산하고, 계산된 평균값을 출력하는 평균값 계산부; 및
    상기 평균값과 상기 터치 전류들 각각의 차를 계산하고, 계산된 결과들을 상대적 터치 전류들로서 출력하는 전류 상대값 계산부를 구비하고,
    상기 상대적 터치 전류들 각각은, 상기 센서 판넬상의 터치된 지점의 좌표를 감지하기 위한 상기 좌표 신호로서 하나씩 이용되는 것을 특징으로 하는 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 장치.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 장치는
    상기 상대적 터치 전류들을 외부에서 인가되는 제어신호들에 응답하여 하나씩 출력하는 스위칭부; 및
    상기 스위칭부로부터 출력되는 상대적 터치 전류를 전압으로 변환하고, 변환된 전압을 상기 좌표 신호로서 출력하는 전류/전압 변환부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 장치.
  3. 센서 판넬로부터/로 유출/유입되는 소정수개의 터치 전류들을 이용하여 좌표 신호를 검출하는 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 방법에 있어서,
    판넬 구동 신호가 인가되었는가를 계속적으로 판단하는 단계;
    상기 판넬 구동 신호가 인가되었으면, 상기 터치 전류들의 평균값을 계산하는 단계;
    상기 평균값과 상기 터치 전류들 각각의 차를 계산하여 상대적 터치 전류들을 구하는 단계;
    상기 상대적 터치 전류들을 하나씩 소정의 순서대로 선택하는 단계; 및
    선택된 상기 상대적 터치 전류를 전압으로 변환하여 상기 좌표 신호를 구하는 단계를 구비하고,
    상기 좌표 신호는 상기 센서 판넬상의 터치된 지점의 좌표를 감지하기 위해 사용되는 것을 특징으로 하는 센서 판넬을 위한 좌표 신호 검출 방법.
KR1019990008763A 1999-03-16 1999-03-16 센서 판넬을 위한 좌표 신호검출장치 및 방법 KR100555468B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990008763A KR100555468B1 (ko) 1999-03-16 1999-03-16 센서 판넬을 위한 좌표 신호검출장치 및 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990008763A KR100555468B1 (ko) 1999-03-16 1999-03-16 센서 판넬을 위한 좌표 신호검출장치 및 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20000060450A KR20000060450A (ko) 2000-10-16
KR100555468B1 true KR100555468B1 (ko) 2006-03-03

Family

ID=19576670

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019990008763A KR100555468B1 (ko) 1999-03-16 1999-03-16 센서 판넬을 위한 좌표 신호검출장치 및 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100555468B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6485618B2 (ja) * 2013-11-11 2019-03-20 Ｔｉａｎｍａ Ｊａｐａｎ株式会社 圧電シートならびにそれを用いたタッチパネルならびにそれらを用いた入出力装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57201967A (en) * 1981-06-05 1982-12-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd Coordinate input equipment
JPS58134330A (ja) * 1982-02-05 1983-08-10 Nippon Signal Co Ltd:The 位置検出装置
JPH04171523A (ja) * 1990-11-06 1992-06-18 Toupure Kk タッチパネルの入力位置判定装置
KR940018729A (ko) * 1993-01-29 1994-08-18 지오프레이 디. 그린 용량성 위치 센서
KR19980702634A (ko) * 1995-06-12 1998-08-05 윤종용 디지타이저 컨트롤러

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57201967A (en) * 1981-06-05 1982-12-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd Coordinate input equipment
JPS58134330A (ja) * 1982-02-05 1983-08-10 Nippon Signal Co Ltd:The 位置検出装置
JPH04171523A (ja) * 1990-11-06 1992-06-18 Toupure Kk タッチパネルの入力位置判定装置
KR940018729A (ko) * 1993-01-29 1994-08-18 지오프레이 디. 그린 용량성 위치 센서
KR19980702634A (ko) * 1995-06-12 1998-08-05 윤종용 디지타이저 컨트롤러

Also Published As

Publication number Publication date
KR20000060450A (ko) 2000-10-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4850835B2 (ja) 線形静電容量測定およびタッチレス・スイッチ
US5657012A (en) Finger operable control device
KR101202745B1 (ko) 터치감지회로
KR101292733B1 (ko) 멀티 터치 패널용 정전용량 감지회로
JP2020086743A (ja) タッチ検出回路、入力装置、電子機器
KR20060008984A (ko) 전기장 물체 감지 시스템, 전자 제품용 제어 회로 및 출력제공 방법
US10803277B2 (en) Fingerprint sensing circuit and fingerprint sensing apparatus
JPH09107246A (ja) 微小電流検出回路およびこれを利用した座標入力装置
JP7294896B2 (ja) タッチ検出回路、入力装置、電子機器
JP5797908B2 (ja) タッチパネルの制御回路およびそれを用いたタッチパネル入力装置、電子機器
KR100555468B1 (ko) 센서 판넬을 위한 좌표 신호검출장치 및 방법
US7265337B2 (en) Sensing apparatus
EP0478614B1 (en) Finger operable control devices
TWI680399B (zh) 觸控電路
JP2006285518A (ja) 接触位置座標検出方法および装置
KR20110080254A (ko) 터치센서의 커패시턴스 측정회로 및 커패시턴스 측정 방법
JP2017021597A (ja) 容量測定回路、それを用いた入力装置、電子機器
JP7354432B2 (ja) 静電容量検出装置及び入力装置
KR100403680B1 (ko) 터치형 마우스
JP4505812B2 (ja) 接近センサー装置
JP2008198063A (ja) 座標位置検出装置
KR100272169B1 (ko) 센서 패널의 위치 좌표 신호 검출회로
TW202030585A (zh) 觸控裝置及其驅動方法
KR100323196B1 (ko) 모스 전계효과 트랜지스터를 이용한 정밀전파정류기
US20240086013A1 (en) Touch-sensitive apparatus and method

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20100216

Year of fee payment: 5

LAPS Lapse due to unpaid annual fee