KR100554690B1 - 고전압 전원공급기의 시험장치 및 그 시험방법 - Google Patents

고전압 전원공급기의 시험장치 및 그 시험방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 고전압 전원공급기의 시험장치 및 그 시험방법에 관한 것으로, 다수개의 채널을 통해 PWM 신호를 출력하는 PWM 발생부와, 이 PWM 발생부에서 인가하는 각 채널별 PWM 신호에 의해 피시험장치로 부터 출력되는 전압, 전류를 감소시켜 디지털 신호로 변환하는 다채널의 고전압 측정부, 저전압 측정부 및 저전류 측정부를 형성하여 시험자가 입력하는 시험조건에 따라 각 채널별 PWM 듀티를 자동으로 증감시킴으로써 각 채널별로 PWM 신호를 발생 및 측정하기 위한 고가의 시험장치가 불필요하므로 구입비용이 절감되며, 단일한 시험장치를 통해 피시험장치의 안정성 및 동작상태의 이상유무를 측정함으로써 보다 편리하고, 정확하게 시험할 수 있으며, 시험조건에 따라 각 채널별로 측정되는 고전압, 저전류, 저전압 등과 같은 측정데이터가 디지털로 변환되어 저장부에 저장되고, 이 저장부에 저장되어 있는 각종 측정데이터가 통신부를 통해 전송됨으로써 측정 데이터의 입력오류에 의한 오차를 감소시키고, 상기 PC에 내장되어 있는 프로그램으로 측정데이터를 분석, 저장함으로써 보다 편리하게 보고서를 작성할 수 있다
시험장치, 전원공급기, 고전압, 저전압, 저전류,

Description

고전압 전원공급기의 시험장치 및 그 시험방법{Test system and method of a power supply}
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 고전압 전원공급기의 시험장치를 도시한 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 고전압 전원공급기의 시험방법을 도시한 순서도이다.
도 3 내지 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따라 측정된 데이터가 디스플레이되는 PC 화면도이다.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*
1 : 고전압 전원공급기 2 : PC
10 : 시험장치 11 : 키선택부
12 : 직류전원공급부 13 : PWM 발생부
14 : PWM 출력부 15 : 입력부
16 : 측정부 17 : 저장부
18 : 제어부 19 : 표시부
20 : 통신부
본 발명은 펄스폭 변조 방식(Pulse Width Modulation, 이하 'PWM'이라함)의 고전압 전원공급기를 개발, 시험하기 위한 시험장치 및 그 시험방법에 관한 것으로, 보다 더 상세하게는 다수개의 채널을 통해 PWM 신호를 출력하는 PWM 발생부와, 이 PWM 발생부에서 인가하는 각 채널별 PWM 신호에 의해 고전압 전원공급기로 부터 출력되는 전압, 전류를 감소시켜 디지털 신호로 변환하는 다채널의 고전압 측정부, 저전압 측정부 및 저전류 측정부를 형성하여 시험자가 입력하는 시험조건에 따라 각 채널별 PWM 듀티를 자동으로 증감시키고, 그 측정된 데이터를 PC로 전송하기 위한 고전압 전원공급기의 시험장치 및 그 시험방법에 관한 것이다.
일반적으로 사무기기용 고전압 전원공급기는 피복사체를 대전시키거나 소거시키는 드럼에 고전압을 공급하는 것으로, 최근에는 레이져 빔 프린터, 복사기, 팩시밀리 등에 펄스폭 변조 방식의 고전압 전원공급기를 사용하고 있다.
종래에는 상기 펄스폭 변조 방식의 고전압 전원공급기를 개발, 시험하기 위해 함수발생기, 디지털 멀티메타, 직류전원공급기, 고전압 분압용 프로브 등의 시험장치를 상기 고전압 전원공급기에 각각 연결한 다음, 상기 시험장치에 PWM 듀티, 주파수 등과 같은 시험조건들을 수동으로 입력하여 측정데이터를 수집하고, 상기 측정된 데이터를 분석하여 수기로 보고서를 작성하였다.
따라서, 고전압 전원공급기에 각각 다른 채널의 PWM 신호를 입력하여 측정하 기 위해서는 다수개의 함수발생기, 디지털 멀티메타 등을 설치 및 운영 해야하므로 시험장치의 구매비용이 증가하며, 시험시간이 지연된다는 문제점이 있다.
또한, 시험자는 시험장치를 통해 수집된 측정데이터를 수작업으로 PC 또는 전자계산기에 입력하여 시험결과를 분석하고, 분석된 시험결과에 따라 수기로 보고서를 작성하므로 보고서 작성이 용이하지 않으며, 상기 측정데이터의 입력오류로 인해 오차가 발생할 수 있다는 문제점이 있다.
본 발명은 전술한 바와 같은 문제점을 감안하여 안출한 것으로, 그 목적은 다수개의 채널을 통해 PWM 신호를 출력하는 PWM 발생부와, 이 PWM 발생부에서 인가하는 각 채널별 PWM 신호에 의해 고전압 전원공급기로 부터 출력되는 전압, 전류를 감소시켜 디지털 신호로 변환하는 다채널의 고전압 측정부, 저전압 측정부 및 저전류 측정부를 형성하여 시험자가 입력하는 시험조건에 따라 각 채널별 PWM 듀티를 자동으로 증감시킴으로써 보다 효율적으로 고전압 발생기를 개발, 시험하기 위한 것이다.
또 다른 목적은 외부에 연결되어 있는 PC로 측정된 데이터를 전송하여 상기 PC에 내장되어 있는 프로그램에 따라 시험결과를 실시간으로 표시하고, 이 시험결과에 따라 보고서를 작성함으로써 측정 데이터의 입력오류에 의한 오차를 감소시키고, 보다 편리하게 보고서를 작성 할 수 있도록 하기 위한 것이다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 구성은 다음과 같이 이루어져 있다.
펄스폭 변환 방식의 고전압 전원공급기를 개발, 시험하기 위한 시험장치에 있어서,
시험자가 수동으로 PWM 주파수, PWM 듀티 시작값과 종료값, 듀티 변화폭, 듀티 유지시간, 출력방식, 동작방식 등과 같은 각종 시험조건을 입력하는 키선택부와;
외부에서 공급되는 상용전원을 시험장치 및 피시험장치에 필요한 각종 직류전원으로 정류하는 정류부와, 상기 정류부에서 정류된 직류전원을 24V 또는 5V의 고정전압으로 출력하는 한 쌍의 전원단자를 형성한 직류전원공급부와;
다수개의 채널을 형성하여 상기 키선택부에서 입력되는 시험조건에 따라 각 채널별로 PWM 신호를 생성하는 PWM 발생부와;
다수개의 PWM 출력단자로 형성되어 있으며, 상기 PWM 발생부의 각 채널에 대응되게 연결되어 각 채널별 PWM 신호를 외부로 출력하는 PWM 출력부와;
다수개의 입력단자로 형성되어 고전압을 입력하는 고전압 입력부와, 다수개의 입력단자로 형성되어 저전압을 입력하는 저전압 입력부와, 다수개의 입력단자로 형성되어 저전류를 입력하는 저전류 입력부로 형성되어 피시험장치에서 출력하는 다채널의 전압, 전류 등을 입력하는 입력부와;
상기 고전압 입력부와 연결되는 고전압 측정부와, 상기 저전압 입력부와 연결되는 저전압 측정부와, 상기 저전류 입력부와 연결되는 저전류 측정부로 형성되 어 상기 입력부를 통해 입력되는 각종 전압 및 전류를 설정되어 있는 일정비율로 감소시키고, 감소된 이 전압 및 전류를 디지털 신호로 변환하여 출력하는 측정부와;
상기 키선택부에서 입력되는 각종 시험조건과 상기 측정부에서 인가되는 전압, 전류 등의 측정 데이터 및 시험장치의 운영에 필요한 각종 데이터를 저장하는 저장부와;
상기 키선택부에서 인가되는 선택신호를 비교/분석하여 시험조건을 검출하고, 상기 시험조건에 따라 PWM 신호를 출력하며, 이 PWM 신호에 의해 피시험장치로 부터 발생하는 전압 또는 전류 신호를 디지털 데이터로 변환하여 저장하기 위한 전반적인 동작을 제어하는 제어부와;
상기 제어부의 동작상태 및 시험자가 입력하는 각종 시험조건을 표시하는 표시부와,
외부 PC와 연결되어 각종 시험 데이터를 입출력하는 통신부로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 구성은 다음과 같이 이루어져 있다.
선택신호를 분석하여 각 채널별로 설정되어 있는 PWM 주파수, PWM 듀티 시작값과 종료값, 듀티 변화폭, 듀티 유지시간, 출력방식, 동작방식 등과 같은 시험조건들을 검출하는 제 1단계와;
상기 제 1단계에서 시험조건들이 검출되면 각 채널별로 동일한 PWM 주파수 와, 각 채널별 시작 PWM 듀티값을 검출된 출력방식에 따라 티티엘 또는 오픈 콜렉터 방식으로 출력하는 제 2단계와;
상기 제 2단계에서 인가되는 PWM 신호에 의해 발생하는 피시험장치의 전압 또는 전류를 일정비율로 감소시켜 디지털 신호로 변환하는 제 3단계와;
상기 제 3단계에서 변환된 디지털 신호를 저장하는 제 4단계와;
상기 제 4단계에서 디지털 신호가 저장되면 설정되어 있는 PWM 듀티 유지시간이 경과되었는지를 판단하는 제 5단계와;
상기 제 5단계에서 PWM 듀티 유지시간이 경과되면 동작방식이 자동 또는 수동으로 설정되어 있는지를 판단하고, PWM 듀티 유지시간이 경과되지 않으면 각 채널별 동일한 주파수와, 각 채널별 시작 PWM 듀티값을 설정되어 있는 유지시간동안 동일하게 출력하는 제 6단계와;
상기 제 6단계에서 동작방식이 자동으로 설정되어 있으면 설정되어 있는 PWM 듀티 변화폭 만큼 PWM 듀티값을 증감시키고, 동작방식이 수동으로 설정되어 있으면 시험자가 듀티 변화폭을 수동으로 입력하기까지 대기하는 제 7단계와;
상기 제 7단계에서 증감된 PWM 듀티값을 PWM 듀티 종료값과 비교하여 상기 두 듀티값이 동일한지를 판단하는 제 8단계와;
상기 제 8단계에서 PWM 듀티 종료값과 증감된 PWM 듀티값이 동일하면 모든 절차를 종료하고, PWM 듀티 종료값과 증감된 PWM 듀티값이 동일하지 않으면 각 채널별 동일한 주파수와, 각 채널별 증감된 PWM 듀티값을 출력방식에 따라 출력하는 제 9단계로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참고로 하여 본 발명의 바람직한 일 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 고전압 전원공급기의 시험장치를 도시한 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 고전압 전원공급기의 시험방법을 도시한 순서도이다.
도 3 내지 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따라 측정된 데이터가 디스플레이되는 PC 화면도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 고전압 전원공급기의 시험 장치(10)는 시험자가 펄스폭 변조 방식의 고전압 전원공급기(이하 '피시험장치'라고함)를 시험하기 위한 각종 조건을 입력하는 키선택부(11)와, 외부 상용전원을 직류전원으로 정류하는 직류전원공급부(12)와, 다수개의 채널을 형성하여 각 채널별로 PWM 신호를 생성하는 PWM 발생부(13)와, 상기 PWM 발생부(13)와 연결되어 각 채널별로 PWM 신호를 외부로 출력하는 PWM 출력부(14)와, 상기 PWM 출력부(14)에서 인가되는 다채널의 PWM 신호에 의해 출력되는 피시험장치(1)의 채널별 전압 또는 전류를 입력하는 입력부(15)와, 상기 입력부(15)와 연결되어 입력되는 전압, 전류를 감소시켜 디지털 신호로 변환하는 측정부(16)와, 피시험장치를 시험하기 위한 각종 데이터가 저장되는 저장부(17)와, 피시험장치를 시험하기 위한 각종 제어신호를 출력하는 제어부(18)와, 상기 제어부(18)의 동작상태 및 시험자가 입력하는 각종 시험조건을 표시하는 표시부(19)와, 외부 PC와 연결되어 각종 시험 데이터를 입출력하는 통신부(20)로 이루어져 있다.
상기 키선택부(11)는 외부에서 인가되는 상용전원을 온/오프 하기 위한 전원 스위치(11a)와, 각 채널의 동작방식을 선택하기 위한 동작모드 선택 스위치(11b)와, 각 채널의 출력방식을 설정하기 위한 설정모드 선택 스위치(11c)와, PWM 주파수, PWM 듀티 시작값과 종료값, 듀티 변화폭, 듀티 유지시간 등을 입력하기 위한 설정값 입력 스위치(11d)로 이루어져 시험자가 다수개의 스위치를 조합하여 시험조건을 입력하면 그에 해당하는 선택신호를 출력한다.
예를들면, 상기 PWM 주파수는 1KHz에서 30KHz까지의 범위내에서 임의로 설정할 수 있으며, PWM 듀티 시작값과 종료값는 0~100% 범위내에서 임의로 설정할 수 있으며, 변화폭은 0.2~50% 범위내에서 설정할 수 있으며, 듀티 유지시간은 0.5~99.9초 범위내에서 설정할 수 있다.
또한, 각채널의 출력방식은 직류 5V 이내의 신호로 별도 전원이 필요없는 티티엘 방식(TTL) 또는 직류 5V ~ 24V 범위 이내의 신호가 필요가 경우 외부에서 필요한 전원을 공급하는 오픈 콜렉터 방식(Open Collector) 중 어느하나를 선택하여 설정 할 수 있으며, 각채널 동작방식은 자동 또는 수동 중 어느하나를 선택하여 설정할 수 있다.
상기 직류전원공급부(12)는 외부에서 공급되는 상용전원을 시험장치 및 피시험장치에 필요한 각종 직류전원으로 정류하는 정류부(12a)와, 상기 정류부(12a)에서 정류된 직류전원을 24V 고정전압으로 출력하는 제 1전원단자(12b)와, 5V의 고정전압으로 출력하는 제 2전원단자(12c)로 이루어져 있다.
상기 PWM 발생부(13)는 다수개의 채널이 형성되어 있으며, 상기 키선택부(11)에서 입력되는 시험조건에 따라 각 채널별로 PWM 신호를 생성하여 출력한다.
예를들면, 상기 다수개의 채널은 적어도 7개 이상의 채널을 생성하는 것이 바람직하며, 시험조건에 따라 채널을 7개 이하 또는 7개 이상으로 생성할 수 있다.
상기 PWM 출력부(14)는 다수개의 PWM 출력단자로 형성되어 있으며, 상기 PWM 발생부(13)의 각 채널에 대응되게 연결되어 각 채널별 PWM 신호를 외부로 출력한다.
상기 입력부(15)는 다수개의 입력단자를 형성하여 피시험장치(1)에서 출력하는 고전압을 입력받는 고전압 입력부(15a)와, 다수개의 입력단자를 형성하여 피시험장치(1)에서 출력하는 저전압을 입력받는 저전압 입력부(15b)와, 다수개의 입력단자를 형성하여 피시험장치(1)에서 출력하는 저전류를 입력받는 저전류 입력부(15b)로 이루어져 피시험장치(1)에서 출력하는 다채널의 전압, 전류 등을 입력한다.
예를들면, 상기 고전압 입력부(15a)는 적어도 7개 이상의 입력단자를 형성하는 것이 바람직하며, 상기 저전압 입력부(15b)와 저전류 입력부(15c)는 적어도 2개 이상의 입력단자를 형성하는 것이 바람직하다.
상기 측정부(16)는 상기 입력부(15)의 고전압 입력부(15a)와 연결되는 고전압 측정부(16a)와, 상기 입력부(15)의 저전압 입력부(15b)와 연결되는 저전압 측정부(16b)와, 상기 입력부(15)의 저전류 입력부(15c)와 연결되는 저전류 측정부(16c) 로 이루어져 상기 입력부(15)를 통해 입력되는 각종 전압 및 전류를 설정되어 있는 일정비율로 감소시키고, 감소된 이 전압 및 전류를 디지털 신호를 변환하여 그에 해당하는 전기적 신호를 출력한다.
예를들면, 상기 고전압은 약 1/1000, 저전압은 약 1/10 비율로 감소시키는 것이 바람직하며, 상기 고전압 측정부(16a)는 적어도 7개 이상의 채널을 형성하는 것이 바람직하며, 상기 전압 측정부(16b)와, 저전류 측정부(16c)는 2개 이상의 채널을 형성하는 것이 바람직하다.
상기 저장부(17)는 상기 키선택부(11)에서 입력되는 각종 시험조건과 상기 측정부(16)에서 인가되는 피시험장치의 전압, 전류 등의 측정 데이터 및 시험장치의 운영에 필요한 각종 데이터를 저장한다.
상기 제어부(18)는 상기 키선택부(11)에서 인가되는 선택신호를 비교/분석하여 시험자가 입력한 시험조건에 따라 피시험장치를 시험하기 위한 제어신호를 출력한다.
상기 표시부(19)는 상기 키선택부(11)에서 입력되는 각종 시험조건과, 상기 저장부(17)에 저장되어 있는 각종 시험 데이터 및 상기 제어부(18)의 동작상태를 외부로 표시한다.
상기 통신부(20)는 각종 데이터를 편집할 수 있는 외부 PC(2)와 연결되어 상기 저장부(17)에 저장되어 있는 각종 데이터를 상기 외부 PC(2)로 전송한다.
상기와 같이 이루어지는 본 발명의 고전압 전원공급기용 시험 장치의 시험방법을 도 2와 같이 설명하면 다음과 같다.
먼저, 시험자는 피시험장치(1)를 시험장치(10)에 연결하고, 상기 시험장치(10)의 키선택부(11)를 통해 각종 시험조건들을 입력하면, 상기 키선택부(11)는 그에 해당하는 선택신호를 제어부(18)에 출력한다.
상기 제어부(18)는 키선택부(11)에서 인가되는 선택신호를 비교/분석하여 각 채널별로 설정되어 있는 PWM 주파수, PWM 듀티 시작값과 종료값, 듀티 변화폭, 듀티 유지시간, 출력방식, 동작방식 등과 같은 시험조건들을 검출한다(스텝 10).
상기에서 시험조건들이 검출되면 제어부(18)는 PWM 신호를 출력하기 위한 제어신호를 PWM 발생부(13)에 출력하고, 상기 PWM 발생부(13)는 각 채널별로 동일한 PWM 주파수와, 각 채널별 시작 PWM 듀티값을 생성하여 상기에서 검출된 출력방식에 따라 티티엘 또는 오픈 콜렉터 신호 중 어느 하나의 신호로 피시험장치(1)에 출력한다(스텝 11).
이때, 상기 피시험장치(1)는 입력되는 PWM 신호에 따라 고전압, 저전압, 저전류를 발생시키며, 이 고전압, 저전압, 저전류는 시험장치(10)의 입력부(15)를 통해 각 채널별로 측정부(16)에 입력되고, 상기 측정부(16)는 인가되는 고전압, 저전압, 저전류를 일정비율로 감소시켜 디지털 데이터로 변환하여 그에 해당하느 전기적 신호를 제어부(18)로 전송한다(스텝 12).
예를들면, 상기 피시험장치(1)에서 출력하는 고전압은 시험장치(10)의 고전압 입력부(15a)에 형성되어 있는 다수개의 입력단자를 통해 각 채널별로 고전압 측정부(16a)에 입력되며, 저전압은 시험장치(10)의 저전압 입력부(15b)에 형성되어 있는 다수개의 입력단자를 통해 각 채널별로 저전압 측정부(16b)에 입력되며, 저전 류는 시험장치(10)의 저전류 입력부(15c)에 형성되어 있는 다수개의 입력단자를 통해 각 채널별로 저전류 측정부(16c)에 입력된다.
상기 제어부(18)는 측정부(16a)에서 인가되는 전기적 신호에 따라 고전압, 저전압 및 저전류 데이터를 저장부(17)에 저장한다(스텝 13).
이후, 제어부(18)는 상기 스텝 10에서 검출된 PWM 듀티 유지 시간이 경과되었는지를 판단한다(스텝 14).
상기에서 PWM 듀티 유지시간이 경과되면 제어부(18)는 상기 스텝 10에서 검출된 동작방식이 자동 또는 수동으로 설정되어 있는지를 판단한다(스텝 15).
상기에서 동작방식이 자동으로 설정되어 있으면 제어부(18)는 상기 스텝 10에서 검출되는 PWM 듀티 변화폭에 따라 PWM 듀티값을 증감시킨다(스텝 16).
이때, 제어부(18)는 상기에서 증감된 PWM 듀티값과 상기 스텝 10에서 검출된 PWM 듀티 종료값을 비교하여 이 두 듀티값이 동일한지를 판단한다(스텝 17).
상기에서 PWM 듀티 종료값과 증감된 PWM 듀티값이 동일하면 제어부(18)는 외부에 연결되어 있는 PC(2)에서 데이터 요청 신호가 존재하는지를 판단한다(스텝 18).
상기에서 데이터 요청 신호가 존재하면, 상기 제어부(18)는 상기 저장부(17)에 저장되어 있는 각종 데이터를 통신부(20)를 통해 상기 PC(2)로 전송한다(스텝 19).
이때, 상기 PC(2)는 내부에 저장되어 있는 응용 프로그램에 따라 입력되는 데이터를 편집하여 도 3 내지 도 4와 같이 모니터를 통해 시험결과를 디스플레이한 다.
그러나, 상기 스텝 14에서 PWM 듀티 유지시간이 경과되지 않으면 각 채널별 동일한 주파수와, 각 채널별 시작 PWM 듀티값을 PWM 듀티 유지시간 동안 동일하게 출력하고, 상기 스텝 15에서 동작방식이 수동으로 설정되어 있으면 시험자가 듀티 변화폭을 수동으로 입력하기까지 대기한다(스텝 20).
또한, 상기 스텝 17에서 PWM 듀티 종료값과 증감된 PWM 듀티값이 동일하지 않으면 각 채널별 동일한 주파수와, 각 채널별 증감된 PWM 듀티값을 출력방식에 따라 출력한다(스텝 21)
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 다수개의 채널을 통해 PWM 신호를 출력하는 PWM 발생부와, 이 PWM 발생부에서 인가하는 각 채널별 PWM 신호에 의해 피시험장치로 부터 출력되는 전압, 전류를 감소시켜 디지털 신호로 변환하는 다채널의 고전압 측정부, 저전압 측정부 및 저전류 측정부를 형성하여 시험자가 입력하는 시험조건에 따라 각 채널별 PWM 듀티를 자동으로 증감시킴으로써 각 채널별로 PWM 신호를 발생 및 측정하기 위한 고가의 시험장치가 불필요하므로 구입비용이 절감되며, 단일한 시험장치를 통해 피시험장치의 안정성 및 동작상태의 이상유무를 측정함으로써 보다 편리하고, 정확하게 시험할 수 있다.
또한, 시험조건에 따라 각 채널별로 측정되는 고전압, 저전류, 저전압 등과 같은 측정데이터가 디지털로 변환되어 저장부에 저장되고, 이 저장부에 저장되어 있는 각종 측정데이터가 통신부를 통해 전송됨으로써 측정 데이터의 입력오류에 의 한 오차를 감소시키고, 상기 PC에 내장되어 있는 프로그램으로 측정데이터를 분석, 저장함으로써 보다 편리하게 보고서를 작성할 수 있다.

Claims (2)

  1. 펄스폭 변조 방식의 고전압 전원공급기를 개발, 시험하기 위한 시험장치에 있어서,
    시험자가 수동으로 PWM 주파수, PWM 듀티 시작값과 종료값, 듀티 변화폭, 듀티 유지시간, 출력방식, 동작방식 등과 같은 각종 시험조건을 입력하는 키선택부(11)와;
    외부에서 공급되는 상용전원을 시험장치 및 피시험장치에 필요한 각종 직류전원으로 정류하는 정류부(12)와, 상기 정류부(12)에서 정류된 직류전원을 24V 또는 5V의 고정전압으로 출력하는 한 쌍의 전원단자(12b, 12c)를 형성한 직류전원공급부(12)와;
    다수개의 채널을 형성하여 상기 키선택부(11)에서 입력되는 시험조건에 따라 각 채널별로 PWM 신호를 생성하는 PWM 발생부(13)와;
    다수개의 PWM 출력단자로 형성되어 있으며, 상기 PWM 발생부(13)의 각 채널에 대응되게 연결되어 각 채널별 PWM 신호를 외부로 출력하는 PWM 출력부(14)와;
    다수개의 입력단자로 형성되어 고전압을 입력하는 고전압 입력부(15a)와, 다수개의 입력단자로 형성되어 저전압을 입력하는 저전압 입력부(15b)와, 다수개의 입력단자로 형성되어 저전류를 입력하는 저전류 입력부(15c)로 형성되어 피시험장치(1)에서 출력하는 다채널의 전압, 전류 등을 입력하는 입력부(15)와;
    상기 고전압 입력부(15a)와 연결되는 고전압 측정부(16a)와, 상기 저전압 입 력부(15b)와 연결되는 저전압 측정부(16b)와, 상기 저전류 입력부(15c)와 연결되는 저전류 측정부(16c)로 형성되어 상기 입력부(15)를 통해 입력되는 각종 전압 및 전류를 설정되어 있는 일정비율로 감소시키고, 감소된 이 전압 및 전류를 디지털 신호를 변환하여 출력하는 측정부(16)와;
    상기 키선택부(11)에서 입력되는 각종 시험조건과 상기 측정부(16)에서 인가되는 전압, 전류 등의 측정 데이터 및 시험장치의 운영에 필요한 각종 데이터를 저장하는 저장부(17)와;
    상기 키선택부(11)에서 인가되는 선택신호를 비교/분석하여 시험조건을 검출하고, 상기 시험조건에 따라 PWM 신호를 출력하며, 이 PWM 신호에 의해 피시험장치로 부터 발생하는 전압 또는 전류 신호를 디지털 데이터로 변환하여 저장하기 위한 전반적인 동작을 제어하는 제어부(18)와;
    상기 제어부(18)의 동작상태 및 시험자가 입력하는 각종 시험조건을 표시하는 표시부(19)와;
    외부 PC(2)와 연결되어 각종 시험 데이터를 입출력하는 통신부(20)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 고전압 전원공급기의 시험장치.
  2. 선택신호를 분석하여 각 채널별로 설정되어 있는 PWM 주파수, PWM 듀티 시작값과 종료값, 듀티 변화폭, 듀티 유지시간, 출력방식, 동작방식 등과 같은 시험조건들을 검출하는 제 1단계와;
    상기 제 1단계에서 시험조건들이 검출되면 각 채널별로 동일한 PWM 주파수 와, 각 채널별 시작 PWM 듀티값을 검출된 출력방식에 따라 출력하는 제 2단계와;
    상기 제 2단계에서 인가되는 PWM 신호에 의해 발생하는 피시험장치의 전압 또는 전류를 일정비율로 감소시켜 디지털 신호로 변환하는 제 3단계와;
    상기 제 3단계에서 변환된 디지털 신호를 저장하는 제 4단계와;
    상기 제 4단계에서 디지털 신호가 저장되면 설정되어 있는 PWM 듀티 유지시간이 경과되었는지를 판단하는 제 5단계와;
    상기 제 5단계에서 PWM 듀티 유지시간이 경과되면 동작방식이 자동 또는 수동으로 설정되어 있는지를 판단하고, PWM 듀티 유지시간이 경과되지 않으면 각 채널별 동일한 주파수와, 각 채널별 시작 PWM 듀티값을 설정되어 있는 유지시간동안 동일하게 출력하는 제 6단계와;
    상기 제 6단계에서 동작방식이 자동으로 설정되어 있으면 설정되어 있는 PWM 듀티 변화폭 만큼 PWM 듀티값을 증감시키고, 동작방식이 수동으로 설정되어 있으면 시험자가 듀티 변화폭을 수동으로 입력하기까지 대기하는 제 7단계와;
    상기 제 7단계에서 증감된 PWM 듀티값을 PWM 듀티 종료값과 비교하여 상기 두 듀티값이 동일한지를 판단하는 제 8단계와;
    상기 제 8단계에서 PWM 듀티 종료값과 증감된 PWM 듀티값이 동일하면 모든 절차를 종료하고, PWM 듀티 종료값과 증감된 PWM 듀티값이 동일하지 않으면 각 채널별 동일한 주파수와, 각 채널별 증감된 PWM 듀티값을 출력방식에 따라 출력하는 제 9단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 고전압 전원공급기의 시험방법.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103389424A (zh) * 2013-07-24 2013-11-13 西安交通大学 非线性电阻片的加速老化试验装置及其老化特性测试方法
CN103777097A (zh) * 2014-01-21 2014-05-07 国家电网公司 一种低压用户侧分布式电源并网全过程通用检测平台及方法

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100433551B1 (ko) * 2002-05-27 2004-05-31 삼성전자주식회사 고압 전원 장치
KR100728866B1 (ko) * 2004-07-09 2007-06-19 한국철도기술연구원 저압 전류측정장치를 이용한 철도차량 대전류 측정 시스템
KR100708480B1 (ko) * 2005-10-20 2007-04-18 삼성전자주식회사 고압전원장치 및 그 고압전원 제어방법
KR100904528B1 (ko) * 2008-07-09 2009-06-25 주식회사 대양일렉콤 디씨 400킬로볼트급 내전압 시험장치
CN103034760A (zh) * 2012-12-11 2013-04-10 上海市电力公司 一种超高压直流输电系统实时数字仿真模型
CN104375032A (zh) * 2014-11-10 2015-02-25 大连理工大学 智能绝缘子老化试验系统
KR102497229B1 (ko) * 2020-10-20 2023-02-06 주식회사 완성 Oled 소자 수명 예측 시스템 및 방법

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5761961A (en) * 1980-09-30 1982-04-14 Fujitsu Ltd Automatic testing device of power supply
JPS6483160A (en) * 1987-09-25 1989-03-28 Canon Kk Measuring apparatus of characteristic of power supply device
JPH0688839A (ja) * 1992-09-08 1994-03-29 Sony Tektronix Corp 電源電流測定装置
JPH0772197A (ja) * 1993-09-02 1995-03-17 Fuji Electric Co Ltd 直流電源装置の性能診断用モニタ装置
JPH11166953A (ja) * 1997-12-04 1999-06-22 Meidensha Corp パルス電源の試験装置
JP2001339873A (ja) * 2000-05-25 2001-12-07 Shin Kobe Electric Mach Co Ltd 無停電電源装置用マイコン基板の検査方式

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5761961A (en) * 1980-09-30 1982-04-14 Fujitsu Ltd Automatic testing device of power supply
JPS6483160A (en) * 1987-09-25 1989-03-28 Canon Kk Measuring apparatus of characteristic of power supply device
JPH0688839A (ja) * 1992-09-08 1994-03-29 Sony Tektronix Corp 電源電流測定装置
JPH0772197A (ja) * 1993-09-02 1995-03-17 Fuji Electric Co Ltd 直流電源装置の性能診断用モニタ装置
JPH11166953A (ja) * 1997-12-04 1999-06-22 Meidensha Corp パルス電源の試験装置
JP2001339873A (ja) * 2000-05-25 2001-12-07 Shin Kobe Electric Mach Co Ltd 無停電電源装置用マイコン基板の検査方式

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103389424A (zh) * 2013-07-24 2013-11-13 西安交通大学 非线性电阻片的加速老化试验装置及其老化特性测试方法
CN103389424B (zh) * 2013-07-24 2016-03-30 西安交通大学 非线性电阻片的加速老化试验装置及其老化特性测试方法
CN103777097A (zh) * 2014-01-21 2014-05-07 国家电网公司 一种低压用户侧分布式电源并网全过程通用检测平台及方法

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