KR100543908B1 - 저전력과 고주파에 유리한 데이터 입력 제어부를 구비하는동기식 반도체 메모리 장치 - Google Patents
저전력과 고주파에 유리한 데이터 입력 제어부를 구비하는동기식 반도체 메모리 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100543908B1 KR100543908B1 KR1020030034730A KR20030034730A KR100543908B1 KR 100543908 B1 KR100543908 B1 KR 100543908B1 KR 1020030034730 A KR1020030034730 A KR 1020030034730A KR 20030034730 A KR20030034730 A KR 20030034730A KR 100543908 B1 KR100543908 B1 KR 100543908B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- data
- signal
- data input
- output
- input
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1078—Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
- G11C7/1087—Data input latches
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/1042—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port using interleaving techniques, i.e. read-write of one part of the memory while preparing another part
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1078—Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1078—Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
- G11C7/1093—Input synchronization
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2207/00—Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C2207/10—Aspects relating to interfaces of memory device to external buses
- G11C2207/107—Serial-parallel conversion of data or prefetch
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
Description
sosez0_wt | sosez1_wt | stb_ev0_en | stb_od0_en | stb_ev1_en | stb_od1_en |
0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 |
1 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 |
0 | 1 | 0 | 0 | 1 | 0 |
1 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 |
Claims (14)
- 라이트명령어에 대응하여 입력되는 데이터를 클럭신호에 동기되어 입력받는 메모리 장치에 있어서,하나의 데이터입력핀을 통하여 연속적으로 입력되는 다수의 데이터를 프리패치하는 데이터수만큼 병렬로 정렬하여 다수의 얼라인데이터로 출력하는 데이터 얼라인부;데이터 입력 스트로브신호에 응답하여, 상기 다수의 얼라인데이터를 짝수데이터 또는 홀수데이터로 선택하여 메모리 코어영역으로 출력하는 글로벌 입출력 라인드라이버;상기 클럭신호를 버퍼링하여, 상기 클럭신호에 동기된 상기 데이터 입력 스트로브신호를 출력하는 데이터 입력 스트로브신호 발생부; 및상기 라이트명령어에 대응하는 동작이 일어나는 구간에만 상기 데이터 입력 스트로브신호가 출력될 수 있도록 상기 데이터입력 스트로브신호 발생부를 제어하는 데이터 입력 스트로브 제어신호를 출력하는 데이터입력 스트로브신호 제어부를 구비하는 동기식 메모리 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 데이터 입력 스트로브신호 발생부는,상기 라이트명령어에 대응하여 입력되는 어드레스중에서 상기 라이트명령어에 의해 입력되는 데이터의 수에 대응하는 하위 어드레스 신호를 디코딩하여 출력하는 어드레스 디코더부; 및상기 어드레스 디코더부에서 디코딩된 결과에 응답하여 상기 클럭신호를 버퍼링하여 상기 데이터 입력 스트로브신호로 출력하되, 상기 데이터 입력 스트로브 제어부에서 출력되는 데이터 입력 스트로브 제어신호에 의해 인에이블되는 데이터 입력 스트로브신호 출력부를 구비하는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치.
- 제 2 항에 있어서,상기 프리패치되는 데이터의 수는 4비트이고, 상기 데이터 입력 스트로브신호 발생부는 상기 글로벌 입출력 라인드라이브가 정렬된 4개의 얼라인데이터를 각각 제1 및 제2 짝수데이터와 제1 및 제2 홀수데이터로 선택하여 출력할 수 있도록, 상기 클럭신호를 버퍼링하여 제1 및 제2 짝수데이터 입력 스트로브신호와 제1 및 제2 홀수데이터 입력 스트로브신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 어드레스 디코더부는상기 라이트명령어에 대응하여 입력되는 어드레스중에서 하위 두비트의 어드레스 신호인 제1 및 제2 어드레스 신호를 각각 입력받는 제1 및 제2 인버터;상기 제1 및 제2 인버터의 출력신호를 입력받아 제1 디코딩신호를 출력하는 제1 논리곱 로직게이트;상기 제1 어드레스신호와 제2 인버터의 출력신호를 입력받아 제2 디코딩신호를 출력하는 제2 논리곱 로직게이트;상기 제1 인버터의 출력신호와 상기 제2 어드레스신호를 입력받아 제3 디코딩신호를 출력하는 제3 논리곱 로직게이트; 및상기 제1 및 제2 어드레스신호를 입력받아 제4 디코딩신호를 출력하는 제4 논리곱 로직게이트를 구비하는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 데이터 입력 스트로브신호 출력부는상기 클럭신호와 상기 제1 디코더신호와 상기 데이터 입력 스트로브 제어신호를 입력받아 상기 제1 짝수데이터 입력 스트로브신호를 출력하는 제4 논리곱 로직게이트;상기 클럭신호와 상기 제2 디코더신호와 상기 데이터 입력 스트로브 제어신호를 입력받아 상기 제1 홀수데이터 입력 스트로브신호를 출력하는 제5 논리곱 로직게이트;상기 클럭신호와 상기 제3 디코더신호와 상기 데이터 입력 스트로브 제어신호를 입력받아 상기 제2 짝수데이터 입력 스트로브신호를 출력하는 제6 논리곱 로직게이트; 및상기 클럭신호와 상기 제4 디코더신호와 상기 데이터 입력 스트로브 제어신호를 입력받아 상기 제2 홀수데이터 입력 스트로브신호를 출력하는 제7 논리곱 로직게이트를 구비하는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치
- 제 1 항에 있어서,상기 데이터 얼라인부에서 출력되는 상기 얼라인데이터를 인터리브 모드 또는 시퀀스 모드에 따라 재정렬하여 상기 글로벌 입출력 라인드라이버로 출력하는 데이터 입력 멀티플렉서를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치.
- 제 6 항에 있어서,상기 데이터 입력 스트로브신호 발생부는상기 라이트명령어에 대응하는 데이터 입력모드가 상기 인터리브 모드 또는 상기 시퀀스 모드에 따라 정해지는 데이터 입력모드 제어신호를 입력받아, 상기 데이터 입력 멀티플렉서가 상기 라이트명령어에 대응하는 데이터 입력모드로 재정렬될 수 있도록 상기 데이터 입력 멀티플렉서 제어신호를 출력하는 데이터 입력 멀티 플렉서 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 데이터 입력 멀티플렉서 제어부는상기 인터리브 모드인 경우 로우레벨을, 상기 시퀀스 모드에서는 하이레벨을 유지하게 되는 상기 데이터 입력모드 제어신호를 반전시키는 인버터;상기 인버터의 출력과 상기 라이트명령어에 대응하여 입력되는 어드레스중에서 최하위 비트의 어드레스 신호호를 입력받아 상기 데이터 입력 멀티플렉서 제어신호를 출력하는 논리곱 로직게이트를 구비하는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 데이터 입력 멀티플렉서는상기 데이터얼라인부에 의해 정렬되는 제1 내지 제4 얼라인데이터를 입력받으며, 상기 데이터 입력 멀티플렉서 제어신호에 응답하여 턴온되어 상기 제1 얼라인데이터를 상기 글로벌 입출력 라인드라이버로 전달하는 제1 및 제2 전송게이트;상기 데이터 입력 멀티플렉서 제어신호에 응답하여 선택적으로 턴온되어 상기 제2 얼라인데이터 또는 상기 제4 얼라인데이터를 상기 글로벌 입출력 라인드라 이버로 각각 전달하는 제3 및 제4 전송게이트;상기 데이터 입력 멀티플렉서 제어신호에 응답하여 턴온되어 상기 제3 얼라인데이터를 상기 글로벌 입출력 라인드라이버로 전달하는 제5 및 제6 전송게이트; 및상기 데이터 입력 멀티플렉서 제어신호에 응답하여 선택적으로 턴온되어 상기 제4 얼라인데이터 또는 상기 제2 얼라인데이터를 상기 글로벌 입출력 라인드라이버로 각각 전달하기 위한 제7 및 제8 전송게이트를 구비하며,상기 제3 전송게이트와 상기 제7 전송게이트, 상기 제4 전송게이트와 상기 제8 전송게이트는 서로 배타적으로 턴온되는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 글로벌 입출력 라인드라이버는,각각 제1 내지 제4 제어신호 입력단을 구비하고, 상기 제1 및 제2 짝수데이터 입력 스트로브신호와 상기 제1 및 제2 홀수데이터 입력 스트로브신호를 상기 제1 내지 제4 제어신호 입력단을 통하여 입력받되, 각각 서로 다르게 배열된 순서대로 입력받아, 상기 얼라인된 4비트의 데이터를 서로 배타적으로 하나씩 선택하여 상기 제1 짝수데이터, 제2 짝수데이터, 제1 홀수데이터, 제2 홀수데이터로 각각 출력하는 제1 및 제2 짝수데이터용 글로벌 입출력 라인드라이버와, 제1 및 제2 홀수 데이터용 글로벌 입출력 라인드라이버를 구비하는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 데이터 입력 스트로브신호 제어부는상기 라이트명령어에 대응하는 동작이 이루어지는 구간을 감지하여 데이터 입력 인에이블신호를 활성화시키는 데이터 입력 인에이블 감지부; 및상기 데이터 입력 인에이블신호가 활성화된 구간동안 상기 클럭신호를 N주기(N은 2보다 큰 자연수)로 분주한 상기 데이터 입력 스트로브 제어신호를 생성하는 데이터 입력 스트로브 제어신호 생성부를 구비하는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치.
- 제 11 항에 있어서,상기 데이터 입력 스트로브 제어신호 생성부는상기 데이터 입력 인에이블신호가 활성화된 구간동안 상기 클럭신호를 2분주하여 상기 데이터 입력 스트로브 제어신호로 출력하는 분주기를 구비하는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치.
- 제 11 항에 있어서,상기 데이터 입력 스트로브 제어신호 생성부는상기 데이터 입력 인에이블신호가 활성화되는 구간동안 상기 클럭신호가 버퍼링되어 출력되도록 하는 제1 로직조합수단;상기 제1 로직조합수단에서 출력되는 신호의 제1 레벨에서 제어신호를 입력받아 버퍼링하여 출력하고, 상기 제1 로직조합수단에서 출력되는 신호의 제2 레벨에서 상기 입력된 제어신호를 래치하는 제1 래치수단;상기 제1 래치수단에 래치된 제어신호를 상기 제1 로직조합수단에서 출력되는 신호의 제2 레벨에서 입력받아 반전시켜 상기 제어신호로 출력하고, 상기 제1 로직조합수단에서 출력되는 신호의 제1 레벨에서 상기 제어신호를 다시 래치하는 제2 래치수단;상기 제어신호와 상기 데이터 입력 인에이블신호를 조합하여 상기 데이터 입력 스트로브 제어신호로 출력하는 제2 로직조합 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치.
- 제 11 항에 있어서,상기 데이터 입력 인에이블 감지부는상기 라이트명령어에 대응하는 모든 데이터가 입력되는 구간만큼 활성화되는 데이터 입력 구간신호를 생성하여 출력하는 데이터입력 구간신호 생성부;안정적인 전원공급을 감지하기 위한 파워업신호 및 라이트 모드시에 활성화되는 라이트 인에이블 신호에 활성화되어, 상기 데이터 입력 구간신호를 상기 클럭신호의 소정 주기동안 지연시켜 출력하는 제1 데이터 입력 인에이블 감지부; 및상기 라이트 인에이블 신호에 활성화되며, 상기 라이트명령어에 대응하는 마지막 데이터가 입력되는 상기 클럭신호의 타이밍에 상기 지연된 데이터 입력 구간신호를 동기시켜 상기 데이터 입력 인에이블신호로 출력하는 제2 데이터 입력 인에이블 감지부를 구비하는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020030034730A KR100543908B1 (ko) | 2003-05-30 | 2003-05-30 | 저전력과 고주파에 유리한 데이터 입력 제어부를 구비하는동기식 반도체 메모리 장치 |
US10/732,043 US6987704B2 (en) | 2003-05-30 | 2003-12-10 | Synchronous semiconductor memory device with input-data controller advantageous to low power and high frequency |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020030034730A KR100543908B1 (ko) | 2003-05-30 | 2003-05-30 | 저전력과 고주파에 유리한 데이터 입력 제어부를 구비하는동기식 반도체 메모리 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20040102899A KR20040102899A (ko) | 2004-12-08 |
KR100543908B1 true KR100543908B1 (ko) | 2006-01-23 |
Family
ID=33448307
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020030034730A KR100543908B1 (ko) | 2003-05-30 | 2003-05-30 | 저전력과 고주파에 유리한 데이터 입력 제어부를 구비하는동기식 반도체 메모리 장치 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6987704B2 (ko) |
KR (1) | KR100543908B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100784905B1 (ko) | 2006-05-04 | 2007-12-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리의 데이터 입력 장치 및 방법 |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100612952B1 (ko) * | 2004-04-30 | 2006-08-14 | 주식회사 하이닉스반도체 | 전력소모를 줄인 동기식 반도체메모리소자 |
US7123496B2 (en) * | 2004-05-10 | 2006-10-17 | Intel Corporation | L0 cache alignment circuit |
US20060171233A1 (en) * | 2005-01-18 | 2006-08-03 | Khaled Fekih-Romdhane | Near pad ordering logic |
US7450466B2 (en) * | 2005-09-29 | 2008-11-11 | Hynix Semiconductor Inc. | Data input device of semiconductor memory device |
KR100772716B1 (ko) | 2006-08-31 | 2007-11-02 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 및 그 구동방법 |
KR100792431B1 (ko) * | 2006-08-31 | 2008-01-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
KR100800160B1 (ko) * | 2006-09-07 | 2008-02-01 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 데이터 출력 회로 |
KR100857427B1 (ko) * | 2006-11-13 | 2008-09-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 입력 버퍼 회로 |
KR100851995B1 (ko) * | 2007-02-12 | 2008-08-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | 수신기 회로 |
KR100930401B1 (ko) * | 2007-10-09 | 2009-12-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
KR100883140B1 (ko) * | 2007-11-02 | 2009-02-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | 데이터 출력 제어회로, 반도체 메모리 장치 및 그의 동작방법 |
KR100956772B1 (ko) * | 2007-12-21 | 2010-05-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 링잉 방지 장치 |
KR100933257B1 (ko) | 2007-12-28 | 2009-12-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
KR100935728B1 (ko) * | 2007-12-28 | 2010-01-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 스트로브 신호 제어 회로 |
US8824223B2 (en) * | 2008-02-05 | 2014-09-02 | SK Hynix Inc. | Semiconductor memory apparatus with clock and data strobe phase detection |
US8867285B2 (en) * | 2008-11-13 | 2014-10-21 | Hynix Semiconductor Inc. | Semiconductor apparatus and data write circuit of semiconductor apparatus for preventing transmission error |
KR101003119B1 (ko) * | 2008-11-18 | 2010-12-21 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 집적회로의 데이터 라이트 장치 |
KR101009336B1 (ko) * | 2008-12-31 | 2011-01-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 및 그 구동 방법 |
KR101027681B1 (ko) * | 2009-06-09 | 2011-04-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 데이터 정렬 회로 |
KR101062776B1 (ko) * | 2010-01-29 | 2011-09-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
KR20110088947A (ko) * | 2010-01-29 | 2011-08-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리의 데이터 출력 회로 |
KR20120087571A (ko) * | 2011-01-28 | 2012-08-07 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 데이터 정렬회로 |
KR20130091034A (ko) | 2012-02-07 | 2013-08-16 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 이를 포함하는 반도체 집적 회로 |
US9183902B2 (en) | 2013-08-28 | 2015-11-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Input data alignment circuit and semiconductor device including the same |
KR20160075058A (ko) * | 2014-12-19 | 2016-06-29 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 그의 동작 방법 |
KR102666132B1 (ko) * | 2016-12-21 | 2024-05-14 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치의 데이터 정렬 회로, 반도체 메모리 장치 및 반도체 메모리 장치의 데이터 정렬 방법 |
KR20180127755A (ko) * | 2017-05-22 | 2018-11-30 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 데이터 정렬 회로 및 이를 포함하는 반도체 장치 |
US10579548B2 (en) * | 2018-03-29 | 2020-03-03 | Western Digital Technologies, Inc. | Adaptive interleaving of data transfer requests |
KR20220085271A (ko) * | 2020-12-15 | 2022-06-22 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 파이프 래치 회로, 그의 동작 방법, 및 이를 포함한 반도체 메모리 장치 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100306966B1 (ko) | 1998-08-04 | 2001-11-30 | 윤종용 | 동기형버스트반도체메모리장치 |
JP3416083B2 (ja) * | 1999-08-31 | 2003-06-16 | 株式会社日立製作所 | 半導体装置 |
KR100419012B1 (ko) | 2001-07-19 | 2004-02-14 | 삼성전자주식회사 | 4비트 프리페치 기능을 가진 동기형 반도체 메모리 장치및 이 장치의 데이터 처리 방법 |
-
2003
- 2003-05-30 KR KR1020030034730A patent/KR100543908B1/ko active IP Right Grant
- 2003-12-10 US US10/732,043 patent/US6987704B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100784905B1 (ko) | 2006-05-04 | 2007-12-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리의 데이터 입력 장치 및 방법 |
US7840830B2 (en) | 2006-05-04 | 2010-11-23 | Hynix Semiconductor Inc. | Semiconductor integrated circuit having data input apparatus and method of inputting data using the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20040240302A1 (en) | 2004-12-02 |
US6987704B2 (en) | 2006-01-17 |
KR20040102899A (ko) | 2004-12-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100543908B1 (ko) | 저전력과 고주파에 유리한 데이터 입력 제어부를 구비하는동기식 반도체 메모리 장치 | |
US10354704B2 (en) | Semiconductor memory device and memory system | |
US6396768B2 (en) | Synchronous semiconductor memory device allowing easy and fast test | |
US7801696B2 (en) | Semiconductor memory device with ability to adjust impedance of data output driver | |
US7701800B2 (en) | Multi-port memory device with serial input/output interface | |
KR100533965B1 (ko) | Dqs 신호의 리플현상으로 인하여 오동작을 방지할 수있는 동기식 메모리 장치 | |
US7872940B2 (en) | Semiconductor memory device and method for testing the same | |
US6529993B1 (en) | Data and data strobe circuits and operating protocol for double data rate memories | |
KR101286666B1 (ko) | 반도체 메모리 장치, 테스트 회로 및 테스트 방법 | |
KR20100128638A (ko) | 모드레지스터리드 제어회로 및 이를 이용한 반도체 메모리 장치 | |
KR20050022163A (ko) | 데이터 출력드라이버의 임피던스를 조정할 수 있는 반도체메모리 장치 | |
US20200185025A1 (en) | Semiconductor devices and semiconductor systems including the same | |
KR20160004091A (ko) | 반도체 메모리 및 그의 테스트 방법 | |
US8036050B2 (en) | Circuit for transmitting and receiving data and control method thereof | |
KR100902123B1 (ko) | 어드레스 트레이닝 모드 동작을 하는 반도체 메모리장치. | |
KR20190048398A (ko) | 반도체 메모리 장치 및 이를 포함하는 반도체 시스템 | |
US7835218B2 (en) | Semiconductor integrated circuit including bank selection control block | |
US10983728B2 (en) | Semiconductor devices | |
KR100484259B1 (ko) | 데이터 얼라인 마진이 향상된 동기식 메모리 장치 | |
KR20040093892A (ko) | 데이터 얼라인 마진이 향상된 동기식 메모리 장치 | |
US20240135985A1 (en) | Semiconductor memory device capable of synchronizing clock signals in cs geardown mode | |
US20230326504A1 (en) | Semiconductor devices capable of performing write training without read training, and memory system including the same | |
KR100780622B1 (ko) | 반도체메모리소자의 데이터 입력장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121224 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131223 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141218 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151221 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161125 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171220 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181219 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20191224 Year of fee payment: 15 |