KR100482952B1 - 반사형 액정표시소자용 광특성 측정장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 반사형 액정표시소자용 광특성 측정장치에 관한 것으로, 본 발명에서는 반사형 액정표시소자의 광특성 테스트를 일정 크기의 하우징 내에서 진행시킨다. 이때, 하우징 내부에는 하우징의 개구와 연통된 반구 형상의 내부 하우징이 배치되는데, 이러한 내부 하우징의 후면에는 외부광원과 연결되는 광섬유브렌치들이 배치된다. 여기서, 광섬유브렌치들은 내부 하우징의 내부면으로 노출되어 외부 광원에서 출력되는 빛을 내부 하우징의 내부로 출사시키는 역할을 수행한다. 이 경우, 내부 하우징의 내부면은 광섬유브렌치들로부터 출사되는 빛에 의해 고르게 밝아짐으로써, 어느 방향에서건 균일한 광밀도를 유지할 수 있고, 이에 따라, 반사형 액정표시장치의 광특성 테스트는 그 신뢰성이 현저히 향상된다.

Description

반사형 액정표시소자용 광특성 측정장치

본 발명은 반사형 액정표시소자용 광특성 측정장치에 관한 것으로, 좀더 상세하게는 광밀도 환경을 균일하게 하여 전체적인 광특성 테스트의 신뢰성을 현저히 향상시킬 수 있도록 하는 반사형 액정표시소자용 광특성 측정장치에 관한 것이다.

최근 현대사회가 정보사회화 되어감에 따라 정보표시장치의 하나인 액정표시소자는 그 중요성이 점차 증가되는 추세에 있으며, 특히, 그것이 갖고 있는 소형화, 경량화, 저전력소비화 등의 장점 때문에, 액정표시소자는 CRT(Cathode Ray Tube)의 단점을 극복할 수 있는 대체수단으로써 점차 그 사용 영역이 확대되는 추세에 있다.

통상, 이러한 액정표시소자는 광원의 종류에 따라서 투과형 액정표시소자와 반사형 액정표시소자로 분류된다.

이때, 투과형 액정표시소자란 백라이트를 광원으로 이용하여 백라이트에서 발산되는 빛을 고투과율의 투명전극(ITO:Indium Tin Oxide; 이하, "ITO"라 칭함)을 통해 투과시켜 LCD 패널에 화상정보를 디스플레이하는 방식의 액정표시소자를 말한다. 또한, 반사형 액정표시소자란 ITO 대신에 알루미늄과 같은 반사율이 높은 금속을 공통전극으로 사용하여 외부로부터 입사되는 빛, 예컨대, 자연광을 반사시키고, 이와 같이 반사된 빛을 통해 백라이트 없이, LCD 패널에 화상정보를 디스플레이할 수 있는 방식의 액정표시소자를 말한다.

상술한 반사형 액정표시소자는 백라이트를 사용하지 않기 때문에, 투과형 액정표시소자에 비해 가볍고, 얇으며, 소비전력이 낮다는 많은 장점이 있어 노트북 컴퓨터, 휴대용 텔레비젼 등에 그 응용이 점차 확대되고 있는 추세에 있다.

최근 미세가공 기술의 발전과 더불어 상술한 반사형 액정표시소자의 기능 또한 점차 발전하는 추세에 있다.

이와 같이, 반사형 액정표시소자의 기능이 발전될수록 반사형 액정표시소자에는 다양한 불량이 야기될 소지가 점차 증가하고 있으며, 이에 따라, 최종 완성된 반사형 액정표시소자의 특성, 예컨대, 광학적인 특성을 정확히 테스트하는 과정은 그것의 우수한 품질을 확보하는데 있어서 없어서는 않될 매우 중요한 요소로 자리잡고 있다. 이에 맞추어 다양한 반사형 액정표시소자용 특성 테스트 장치들이 개발되어 실 공정에 널리 사용되고 있다.

그러나, 이러한 종래의 반사형 액정표시소자에는 몇 가지 중대한 문제점이 있다.

상술한 바와 같이, 반사형 액정표시장치는 백라이트 등의 내부 광원을 사용하지 않기 때문에, 소비전력이 낮아지는 장점이 있는 반면에, Al 반사판의 표면이 균일하기 때문에 반사되는 자연광이 서로 상쇄되는 결과가 초래됨으로써, 반사되는 광의 휘도가 투과형 액정표시장치에 비해 10배 이상 낮아지는 단점이 있다. 이러한 단점은 어두운 장소일수록 더욱 두드러진다. 이 경우, 디스플레이되는 이미지는 매우 어두워지게 되고, 결국, 전체적인 화상품질은 현저히 저하된다.

종래의 경우, 이러한 문제점을 해결하기 위하여, 제품이 출하되기 이전에 상술한 바와 같이, 반사형 액정표시소자의 광학적인 특성을 미리 테스트함으로써, 불량이 야기될 소지를 줄이고 있다.

이와 같이, 반사형 액정표시소자의 광학적인 특성을 정확히 테스트하기 위해서는 주변의 광밀도를 균일하게 해주는 것이 매우 중요하다. 이는 상술한 바와 같이, 반사형 액정표시장치가 백라이트 등의 내부 광원을 사용하지 않고 주변광을 이용하여 화상을 디스플레이하기 때문이다.

그런데, 종래의 경우, 반사형 액정표시소자를 테스트하면서, 이러한 주변광에 대한 배려가 전혀 이루어지지 못하고 있는 실정이며, 이와 같이, 주변광이 제어되지 못한 상황에서 이루어지는 테스트는 그 신뢰성이 현저히 결여될 수밖에 없다.

또한, 신뢰성이 결여된 테스트를 수행받은 반사형 액정표시소자는 비록 광특성 테스트에서 합격 판정을 받았을지라도 그 기능에 다양한 불량이 상존할 가능성이 다분하다.

이와 같이, 불량이 상존하는 액정표시소자가 예컨대, 노트북 PC 등의 전자기기에 채용되는 경우, 이를 채용하는 제품의 기능은 현저히 저하될 수밖에 없다.

따라서, 본 발명의 목적은 반사형 액정표시소자의 광학적인 특성을 테스트할 때, 주변의 광밀도를 균일하게 유지시켜 주는데 있다.

본 발명의 다른 목적은 반사형 액정표시소자의 광학적인 테스트의 신뢰성을 향상시키는데 있다.

본 발명의 또 다른 목적은 액정표시소자의 불량을 정확히 선별하는데 있다.

본 발명의 또 다른 목적은 액정표시소자를 채용한 제품의 기능을 향상시키는데 있다.

본 발명의 또 다른 목적들은 다음의 상세한 설명과 첨부된 도면으로부터 보다 명확해질 것이다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명에서는 반사형 액정표시소자의 광특성 테스트를 일정 크기의 하우징 내에서 진행시킨다. 이때, 하우징 내부에는 하우징의 개구와 연통된 반구 형상의 내부 하우징이 배치되는데, 이러한 내부 하우징의 후면에는 외부광원과 연결되는 광섬유브렌치들이 배치된다.

여기서, 광섬유브렌치들은 내부 하우징의 내부면으로 노출되어 외부광원에서 출력되는 빛을 내부 하우징의 내부로 출사시키는 역할을 수행한다. 이 경우, 내부 하우징의 내부면은 광섬유브렌치들로부터 출사되는 빛에 의해 고르게 밝아짐으로써, 어느 방향에서건 균일한 광밀도를 유지할 수 있다.

이러한 상태에서, 작업자는 하우징의 외벽에 테스트가 요구되는 반사형 액정표시소자를 고정시킨 후 개구를 통해 그것의 일정부를 노출시킴으로써, 내부 하우징의 내부면 중앙에 배치된 광 디텍트를 통한 광특성 테스트가 진행되도록 한다. 이때, 상술한 바와 같이, 내부 하우징의 내부면은 광섬유브렌치들에 의해 균일한 광밀도 환경을 이루고 있기 때문에, 해당 반사형 액정표시소자는 보다 신뢰성 높은 광특성 테스트를 수행받을 수 있다.

이에 따라, 본 발명에서는 반사형 액정표시소자의 광특성 불량이 정확하고 신속하게 선별된다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 반사형 액정표시소자용 광특성 측정장치를 좀더 상세히 설명하면 다음과 같다.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 반사형 액정표시소자용 광특성 측정장치(10)에서, 개구(13)가 형성된 외부 하우징(11)의 내부에는 전면의 일부가 개구(13)와 접촉된 구조의 내부 하우징(12)이 배치된다. 이때, 내부 하우징(12)은 반구 형상을 이룬다.

여기서, 내부 하우징(12)의 내부는 빈 공간 상태를 이룸과 아울러 외부 하우징(11)에 형성된 개구(13)와의 접촉에 의해 자신의 내부를 외부와 연통시킨다.

한편, 내부 하우징(12)의 후면에는 광원(15)과 전기적으로 연결된 다수개의 광섬유브렌치들(14)이 배치된다. 이때, 광섬유브렌치들(14)은 자신의 단부를 내부 하우징(12)의 내부면으로 노출시키는 구조를 이루어 광원(15)에서 출력되는 빛을 내부 하우징(12)의 내부로 출사시키는 역할을 수행한다. 이 경우, 내부 하우징(12)의 내부면은 광섬유브렌치들(14)로부터 출사되는 빛에 의해 고르게 밝아짐으로써, 어느 방향에서건 균일한 광밀도를 유지할 수 있다.

다른 한편, 상술한 개구(13)와 대응되는 내부 하우징(12)의 후면 내벽에는 액정표시소자(1)로부터 출력되는 빛을 디텍팅하는 광 디텍터(17)가 배치된다. 이러한 광 디텍터(17)는 데이터 콘트롤러(16)와 전기적으로 연결되어 그것의 제어를 받는다.

이러한 구성을 갖는 본 발명에서, 반사형 액정표시소자(1)의 광특성 테스트가 본격적으로 진행되는 경우, 내부 하우징(12)의 내부면은 광섬유브렌치들(14)에 의해 균일한 광밀도 환경을 이룸으로써, 해당 반사형 액정표시소자(1)가 보다 신뢰성 높은 광특성 테스트를 수행받을 수 있도록 유도한다.

상술한 바와 같이, 반사형 액정표시소자(1)는 백라이트 등의 내부 광원을 사용하지 않고 주변광을 이용하여 화상을 디스플레이하기 때문에, 이의 광학적인 특성을 정확히 테스트하기 위해서는 주변의 광밀도를 균일하게 해주는 것이 매우 중요하다.

그런데, 종래의 경우, 상술한 바와 같이, 반사형 액정표시소자의 광특성 테스트가 진행될 때, 주변광에 대한 배려가 전혀 이루어지지 못하였기 때문에, 전체적인 광특성 테스트의 신뢰성이 현저히 결여되는 문제점이 야기되었다.

그러나, 본 발명의 경우, 상술한 바와 같이, 내부 하우징(12)의 내부면은 광섬유브렌치들(14)로부터 출사되는 빛에 의해 고르게 밝아짐으로써, 어느 방향에서건 균일한 광밀도를 유지할 수 있고, 이에 따라, 반사형 액정표시소자(1)의 광특성테스트를 진행시키는 경우, 테스트의 전체적인 신뢰성은 현저히 향상될 수 있다.

이때, 본 발명의 구현에 의하여 합격판정을 받은 반사형 액정표시소자(1)는 불량 없는 우수한 품질을 보장받을 수 있으며, 이러한 우량의 반사형 액정표시소자가 예컨대, 노트북 PC 등의 전자기기에 채용되는 경우, 이를 채용하는 제품의 기능 또한 현저히 향상된다.

이러한 구성의 본 발명에 있어서, 먼저, 작업자는 외부 하우징(11)의 외벽에 테스트가 요구되는 반사형 액정표시소자(1)를 고정시킨 후 개구(13)를 통해 그것의 일정부를 내부 하우징(12)의 내부로 노출시킨다.

이어서, 작업자는 광원(15)을 온시켜, 광섬유브렌치들(14)을 발광시킴으로써, 내부하우징(12)의 내부면이 고르게 밝아지도록 한다.

이때, 개구(13)를 통해 노출된 반사형 액정표시소자(1)의 일정부는 내부 하우징(12)으로부터 출력되는 빛을 입사받은 후 이를 다시 내부 하우징(12)의 내부면으로 반사한다.

이 경우, 내부 하우징(12)의 개구(13) 반대쪽에 형성된 광 디텍터(17)는 반사형 액정표시소자(1)로부터 반사되는 빛의 양을 디텍팅한 후 그 값을 자신과 연결된 데이터 콘트롤러(16)로 입력한다.

계속해서, 데이터 콘트롤러(16)는 광 디텍터(17)로부터 입력되는 디텍팅양을 화상 데이터로 변경시켜 이를 모니터(도시안됨)에 신속하게 디스플레이시킨다.

이때, 작업자는 모니터에 디스플레이되는 화상 데이터를 관측하여 해당 반사형 액정표시소자(1)의 광특성을 정확히 평가한다. 여기서, 만약, 해당 반사형 액정표시소자(1)가 불량으로 판정나는 경우, 작업자는 이를 복구할 수 있는 별도의 조치를 신속하게 취한다.

이후, 본 발명의 광특성 측정장치(10)는 광특성 측정이 요구되는 반사형 액정표시소자(1)가 로딩될 때 마다 상술한 과정을 지속적으로 반복함으로써, 최종 출하되는 제품의 품질을 일정수준 이상으로 유지시킨다.

이와 같이, 본 발명에서는 반사형 액정표시소자의 광특성 측정이 이루어질 때, 하우징의 광밀도 환경을 균일하게 유지시킴으로써, 최종 완성되는 제품의 품질을 양호하게 확보할 수 있다.

이러한 본 발명은 생산라인에서 제조되는 전 기종의 반사형 액정표시소자에서 전반적으로 유용한 효과를 나타낸다.

그리고, 본 발명의 특정한 실시예가 설명되고 도시되었지만 본 발명이 당업자에 의해 다양하게 변형되어 실시될 가능성이 있는 것은 자명한 일이다.

이와 같은 변형된 실시예들은 본 발명의 기술적사상이나 관점으로부터 개별적으로 이해되어서는 안되며 이와 같은 변형된 실시예들은 본 발명의 첨부된 특허청구의 범위안에 속하다 해야 할 것이다.

이상에서 상세히 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 반사형 액정표시소자용 광특성 측정장치에서는 반사형 액정표시소자의 광특성 테스트를 일정 크기의 하우징 내에서 진행시킨다. 이때, 하우징 내부에는 하우징의 개구와 연통된 반구 형상의 내부 하우징이 배치되는데, 이러한 내부 하우징의 후면에는 외부광원과 연결되는 광섬유브렌치들이 배치된다. 여기서, 광섬유브렌치들은 내부 하우징의 내부면으로 노출되어 외부광원에서 출력되는 빛을 내부 하우징의 내부로 출사시키는 역할을 수행한다. 이 경우, 내부 하우징의 내부면은 광섬유브렌치들로부터 출사되는 빛에 의해 고르게 밝아짐으로써, 어느 방향에서건 균일한 광밀도를 유지할 수 있고, 이에 따라, 반사형 액정표시장치의 광특성 테스트는 그 신뢰성이 현저히 향상된다.

도 1은 본 발명에 따른 반사형 액정표시소자용 광특성 측정장치를 도시한 예시도.

Claims (1)

1. 개구가 형성된 외부 하우징과;

   상기 외부 하우징내에 배치되며, 내부면이 빈 상태로 전면의 일부가 상기 개구와 접촉되고, 상기 개구를 통해 외부와 연통되는 반구형상의 내부 하우징과;

   상기 내부 하우징의 후면과 연결되며, 단부가 상기 내부 하우징의 내부면으로 노출되고, 소정의 광원과 전기적으로 연결된 다수개의 광섬유브렌치들과;

   상기 개구와 대응되도록 상기 내부 하우징의 내부면에 부착된 광 디텍터와;

   상기 광 디텍터를 제어하는 데이터 콘트롤러를 포함하는 것을 특징으로 하는 반사형 액정표시소자용 광특성 측정장치.