KR0174940B1 - 에이엠에이 프로젝터 검사방법 - Google Patents

에이엠에이 프로젝터 검사방법 Download PDF

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KR0174940B1 KR1019950038517A KR19950038517A KR0174940B1 KR 0174940 B1 KR0174940 B1 KR 0174940B1 KR 1019950038517 A KR1019950038517 A KR 1019950038517A KR 19950038517 A KR19950038517 A KR 19950038517A KR 0174940 B1 KR0174940 B1 KR 0174940B1
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Abstract

본 발명은 에이엠에이(AMA) 프로젝터 검사방법에 관한 것으로, 스크린을 통한 AMA 프로젝터로부터의 광량이 광량검출부를 통해 라인별 광량이 스위칭부로 제공되고, 제어부로부터의 스위칭 제어신호에 의거하여 각 픽셀에 대한 광량이 비교부로 제공되며, 비교부를 통해 설정된 픽셀에 대한 기준광량과 비교되어 설정된 소정치에 미달되는 불량픽셀들이 메모리에 저장된다. 그 다음, 모든 픽셀에 대한 광량검출이 완료되면 메모리에 저장된 불량픽셀들이 디스플레이부를 통해 디스플레이되므로써, AMA 프로젝터의 불량픽셀들이 디스플레이부를 통해 디스플레이되므로 작업자가 AMA 프로젝터의 제조공정시에 그 불량여부를 쉽게 검사할 수 있도록 한 것이다.

Description

에이엠에이(AMA) 프로젝터 검사방법
제1도는 본 발명에 따른 에이엠에이(AMA) 프로젝터 검사방법을 수행하기 위한 하드웨어의 개략적인 블럭구성도.
제2도는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 에이엠에이(AMA) 프로젝터를 검사하는 동작과정을 도시한 프로우챠트.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
110 : 광량검출부 120 : 스위칭부
130 : 비교부 140 : 제어부
150 : 메모리 160 : 디스플레이부
본 발명은 에이엠에이(ACTUATED MIRROR ARRAY ; 이하 AMA 라 약칭함) 프로젝터 검사방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 제조공정시에 불량 AMA 프로젝터를 검출할 수 있도록 한 에이엠에이(AMA) 프로젝터 검사방법에 관한 것이다.
화상표시장치는 그 표시방법에 따라 직시형 화상표시장치와 투사형 화상표시장치로 구분된다.
여기에서, 직시형 화상표시장치의 대표적인 장치로서는 음극선관 (CATHODE RAY TUBE ; 이하 'CRT' 라 약침함) 등이 있고, 투사형 화상표시장치는 액정표시장치(LIQUID CRYSTAL DISPLAY ; 이하 'LCD' 라 약칭함)등이 있다.
여기에서, CRT는 화상의 가변성, 고속성 및 세밀성에서 우수하지만 그 구조상의 이유로 표시면의 면적에 비해 그 폭이 깊기 때문에 소형화 및 경량화에 애로점이 있고, 저전압 및 저전력화에 한계가 있는 등의 단점이 있다. 그리고, LCD 는 박형화 및 경량화가 가능하지만, 이러한 LCD 는 편광판에 의한 광손실이 크고 LCD 를 구동하기 위한 박막트랜지스터가 화소마다 형성되어 있어 개구율(광의 투과면적)을 높이는데 한계가 있으므로 광의 효율이 매우 낮은 단점이 있다.
한편, AMA 를 이용한 투사형 화상표시장치에 대한 연구가 지속적으로 개발중에 있으며, 본 발명은 실질적으로 이러한 AMA 를 이용한 투사형 화상표시장치에 관한 것이다.
여기에서, AMA 를 이용한 투사형 화상표시장치는 1차원 AMA 를 이용한 투사형 화상표시장치와 2차원 AMA 를 이용한 투사형 화상표시장치로 구분되는데, 1차원 AMA 를 이용한 투사형 화상표시장치는 거울면들이 M ×1 어레이로 배열된 주사거울을 통해 M×1개의 광속들을 선주사시키고, 2차원 AMA 를 이용한 투사형 화상표시장치는 M×N개의 광속들을 투사시켜 M×N 화소로 구성된 프로젝터를 통해 영상을 디스플레이한다.
한편, 이러한 AMA 를 이용한 투사형 표시장치에 이용되는 프로젝터, 즉 투사기는 M×N개, 예를 들면 640×480개의 화소 어레이로 이루어져 있기 때문에, 제조공정시에 작업자가 프로젝터의 불량여부를 일일히 검사하기가 거의 불가능하며, 이로인해 제조공정시간이 지연되고, 프로젝터의 불량률이 높아지는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 감안하여 안출한 것으로, AMA 프로젝터로부터 투사되는 광량을 검출하므로써 프로젝터의 불량여부를 판정할 수 있는 에이엠에이(AMA) 프로젝터 검사방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 소정형상을 갖는 광을 소정의 각도로 반사하여 적색, 녹색, 청색의 색광으로 분리하고, 분리된 각 색광에 대해 단위화소별로 광로를 조절한 다음 스크린으로 투사하는 AMA 프로젝터의 이상유무를 검사하는 방법에 있어서, 상기 스크린을 통한 상기 AMA 프로젝터의 광량을 검출하여 각 픽셀에 대한 광량으로 스위칭한 다음, 메모리로부터 제어부를 통해 제공되는 설정된 픽셀에 대한 기준광량과 비교하는 제1단계와, 상기 제1단계에서의 비교결과 상기 픽셀에 대한 광량과 상기 기준광량과의 차이가 설정된 소정치에 미달되는 불량픽셀들을 상기 메모리에 저장하는 제2단계와, 상기 AMA 프로젝터의 모든 픽셀에 대한 광량이 검출되었는가를 체크하여 모두 검출되지 않았으면 상기 각 단계를 반복수행하고, 상기 AMA 프로젝터의 모든 픽셀에 대한 광량이 검출되었으면 상기 메모리에 저장되어 있는 불량픽셀들을 디스플레이부로 디스플레이하는 제3단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 에이엠에이(AMA) 프로젝터 검사방법을 제공한다.
본 발명은 상기 및 기타 목적과 여러가지 장점은 이 기술분야의 숙련된 사람들에 의해 첨부된 도면을 참조하여 하기에 기술되는 본 발명의 바람직한 실시예로부터 더욱 명확하게 될 것이다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명한다.
제1도는 본 발명에 따른 에이엠에이(AMA) 프로젝터 검사방법을 수행하기 위한 하드웨어의 개략적인 블럭구성도로서, 광량검출부(110), 스위칭부(120), 비교부(130), 제어부(140), 메모리(150) 및 디스플레이부(160)로 구성된다.
동도면에 있어서, 광량검출부(110)는 AMA 프로젝터로부터 투사되는 광량을 검출하여 스위칭부(120)로 제공하는데, 이때 광량검출부(110)는 AMA 프로젝터의 각 픽셀로부터 투사되는 광량을 라인별로 검출하여 스위칭부(120)로 제공한다.
그리고, 스위칭부(120)는 제어부(140)로부터의 스위칭 제어신호에 의거하여 광량검출부(110)로부터 제공되는 라인별 광량을 각 픽셀에 대한 광량으로 스위칭하여 비교부(130)로 제공하고, 비교부(130)는 스위칭부(120)를 통해 제공되는 각 픽셀에 대한 광량과 메모리(150)로부터 제어부(140)를 통해 제공되는 픽셀에 대한 기준광량을 비교한 다음 그 비교결과를 제어부(140)로 제공한다.
또한, 제어부(140)는 광량검출부(110)로부터 제공되는 라인별 광량을 각 픽셀에 대한 광량으로 비교부(130)로 제공하기 위한 스위칭 제어신호를 스위칭부(120)로 제공하고, 비교부(130)로부터 제공되는 각 픽셀에 대한 광량의 비교결과를 체크하여 설정된 소정치에 미달되는 불량픽셀들을 메모리(150)에 저장하기 위한 제어신호를 발생하며, AMA 프로젝터의 모든 픽셀에 대한 광량비교가 완료되면, 메모리(150)에 저장된 불량픽셀들을 디스플레이하기 위한 제어신호를 발생한다.
제1도에 있어서, 메모리(150)는 픽셀에 대한 기준광량 및 설정된 소정치를 저장하며, 제어부(140)로부터의 저장을 위한 제어신호에 의거하여 비교부(130)로부터 제공되는 불량픽셀들을 저장하고, 디스플레이부(160)는 제어부(140)로부터의 디스플레이를 위한 제어신호에 의거하여 메모리(150)에 저장되어 있는 불량픽셀들을 디스플레이한다.
상기한 바와 같은 구성부재로 이루어진 본 발명에 따른 에이엠에이(AMA) 프로젝터 검사방법의 동작과정에 대하여 제1도와 제2도를 참조하여 보다 상세하게 설명하기로 한다.
먼저, 메모리(150) 내에는 하나의 픽셀에 대해 설정된 기준광량과 설정된 소정치가 저장되어 있다.
다음에, AMA 프로젝터로부터의 광량이 도시 생략된 스크린을 통해 투사되면, 광량검출부(110)를 통해 AMA 프로젝터의 각 픽셀에 대한 광량이 검출되는데, 이때 라인별 광량이 검출되어 스위칭부(120)로 제공된다(단계 210).
그리고, 광량검출부(110)로부터 제공되는 라인별 광량이 제어부(120)로부터의 스위칭 제어신호에 의거하여 스위칭부(120)를 통해 각 픽셀에 대한 광량으로 스위칭된 다음(단계 220), 비교부(130)로 제공된다.
그리고, 스위칭부(120)로부터의 픽셀에 대한 광량과 메모리(150)로부터 제어부(140)를 통해 제공되는 설정된 픽셀에 대한 기준광량이 비교부(130)에서 비교되어(단계 225), 그 차이가 제어부(140)로 제공된다.
그 다음, 제어부(140)를 통해 비교부(130)로부터 제공되는 스위칭부(120)를 통한 픽셀에 대한 광량이 메모리(150)로부터 제어부(140)를 통해 제공되는 기준광량 보다 크면 상기 단계(220)로 되돌아가 각 단계(225, 230)를 반복수행하고, 스위칭부(120)를 통한 픽셀에 대한 광량과 메모리(150)로부터 제어부(140)를 통해 제공되는 기준광량과의 차이가 설정된 소정치에 미달되는 불량픽셀들이 제어부(140)로 제공되어 제어부(140)로부터의 저장을 위한 제어신호에 의거하여 불량픽셀들이 메모리(150)에 저장된다(단계 230, 240).
다음에, 제어부(140)는 AMA 프로젝터의 모든 픽셀에 대한 광량이 모두 검출되었는가를 체크하여(단계 250), AMA 프로젝터의 모든 픽셀에 대한 광량이 모두 검출되지 않았으면, 상기 단계(210)로 되돌아가 상기 각 단계(210, 220, 225, 230, 240, 250)를 반복수행하고, AMA 프로젝터의 모든 픽셀에 대한 광량이 모두 검출되었으면 메모리(150)에 저장되어 있는 불량픽셀들을 디스플레이하기 위한 제어신호를 디스플레이부(160)로 발생한다.
따라서, 제어부(140)로부터의 디스플레이를 위한 제어신호에 의거하여 메모리(150)에 저장되어 있는 불량픽셀들이 디스플레이부(160)를 통해 디스플레이되고(단계 260), 작업자는 디스플레이부(160)를 통해 디스플레이되는 불량픽셀들을 확인하므로써, AMA 프로젝터의 불량여부를 검사할 수 있다.
상술한 바와 같이, 스크린을 통한 AMA 프로젝터로부터의 광량이 광량검출부(110)를 통해 라인별 광량이 스위칭부(120)로 제공되고, 제어부(140)로부터의 스위칭 제어신호에 의거하여 각 픽셀에 대한 광량이 비교부(130)로 제공되며, 비교부(130)를 통해 설정된 픽셀에 대한 기준광량과 비교되어 설정된 소정치에 미달되는 불량픽셀들이 메모리(150)에 저장된다. 그 다음, 모든 픽셀에 대한 광량검출이 완료되면 메모리(150)에 저장된 불량픽셀들이 디스플레이부(160)를 통해 디스플레이된다.
한편, 본 발명의 실시예에서는 스크린을 통해 투사되는 AMA 프로젝터로부터의 광량을 라인별로 검출하는 것에 관하여 주로 기술하였으나, 이 기술분야의 숙련자는 포토센서(PHOTO SENSOR)를 AMA 프로젝터의 각 픽셀에 대해 각각 대응하여 장착하므로써, 각 픽셀에 대한 광량을 각각 검출하여도 동일한 동작과정을 수행할 수 있다는 것도 쉽게 알 수 있을 것이다.
따라서, 본 발명을 이용하면, AMA 프로젝터의 불량픽셀들이 디스플레이부(160)를 통해 디스플레이되므로 작업자가 AMA 프로젝터의 제조공정시에 그 불량여부를 쉽게 검사할 수 있는 효과가 있다.

Claims (1)

  1. 소정형상을 갖는 광을 소정의 각도로 반사하여 적색, 녹색, 청색의 색광으로 분리하고, 분리된 각 색광에 대해 단위화소별로 광로를 조절한 다음 스크린으로 투사하는 AMA 프로젝터의 이상유무를 검사하는 방법에 있어서, 상기 스크린을 통한 상기 AMA 프로젝터의 광량을 검출하여 각 픽셀에 대한 광량으로 스위칭한 다음, 메모리(150)로부터 제어부(140)를 통해 제공되는 설정된 픽셀에 대한 기준광량과 비교하는 제1단계; 상기 제1단계에서의 비교결과 상기 픽셀에 대한 광량과 상기 기준광량과의 차이가 설정된 소정치에 미달되는 불량픽셀들을 상기 메모리(150)에 저장하는 제2단계; 상기 AMA 프로젝터의 모든 픽셀에 대한 광량이 검출되었는가를 체크하여 모두 검출되지 않았으면 상기 각 단계를 반복수행하고, 상기 AMA 프로젝터의 모든 픽셀에 대한 광량이 검출되었으면 상기 메모리(150)에 저장되어 있는 불량픽셀들을 디스플레이부(160)로 디스플레이하는 제3단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 에이엠에이(AMA) 프로젝터 검사방법.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20180096918A (ko) 2017-02-22 2018-08-30 최하연 필기와 과학실험 기능이 가능한 다기능 자석필기구 및 이의 제작 방법
KR20200056555A (ko) 2018-11-15 2020-05-25 심상헌 디지털 프로젝터 검사기 및 이를 이용한 검사방법

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