JPH09257639A - 液晶パネルの欠陥画素検査方法及びその装置 - Google Patents
液晶パネルの欠陥画素検査方法及びその装置Info
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- JPH09257639A JPH09257639A JP6294396A JP6294396A JPH09257639A JP H09257639 A JPH09257639 A JP H09257639A JP 6294396 A JP6294396 A JP 6294396A JP 6294396 A JP6294396 A JP 6294396A JP H09257639 A JPH09257639 A JP H09257639A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光源の光量に影響されず、再現性よく正確な
判定結果を得る。 【解決手段】 パネル背面に光源を有する液晶パネルの
欠陥画素の検査方法において、注目画素の周囲に疑似欠
陥画素を配置する第１ステップと、表示信号電圧を調節
して前記疑似欠陥画素の輝度を前記注目画素の輝度に合
わせる第２ステップと、前記第２ステップで両画素の輝
度が一致したときの前記表示信号電圧の値を読み取る第
３ステップと、該読み取った値で前記液晶パネルの透過
率−液晶電圧特性を参照し前記疑似欠陥画素の透過率を
求める第４ステップと、を備える。
判定結果を得る。 【解決手段】 パネル背面に光源を有する液晶パネルの
欠陥画素の検査方法において、注目画素の周囲に疑似欠
陥画素を配置する第１ステップと、表示信号電圧を調節
して前記疑似欠陥画素の輝度を前記注目画素の輝度に合
わせる第２ステップと、前記第２ステップで両画素の輝
度が一致したときの前記表示信号電圧の値を読み取る第
３ステップと、該読み取った値で前記液晶パネルの透過
率−液晶電圧特性を参照し前記疑似欠陥画素の透過率を
求める第４ステップと、を備える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、パネル背面に光源
を有する液晶パネルの欠陥画素の検査方法及びその装置
に関し、詳しくは、パネル背面からの光の透過率を定量
的かつ人為的に測定し、その測定値から欠陥画素を判定
する検査方法及びその装置に関する。
を有する液晶パネルの欠陥画素の検査方法及びその装置
に関し、詳しくは、パネル背面からの光の透過率を定量
的かつ人為的に測定し、その測定値から欠陥画素を判定
する検査方法及びその装置に関する。
【０００２】
【背景説明】マトリクス状に配列した各画素の液晶の配
向を表示信号電圧に応じて変化させ（すなわち透過率を
変化させ）ることにより、パネル背面から前面への透過
光量を加減して多階調表示を実現する液晶パネルは、薄
型軽量、低消費電力といった特長から、各種ＯＡ機器や
産業機器若しくは民生機器などの表示装置をはじめ、プ
ロジェクタなどの光学的投影装置の表示デバイスなどに
多用されているが、昨今の高画質化ニーズの高まりに伴
い、ＶＧＡからＳＶＧＡ、さらにはそれ以上の高解像度
パネルへと要求がシフトしつつあり、欠陥画素に対する
対策が従前にも増して求められるようになってきた。
向を表示信号電圧に応じて変化させ（すなわち透過率を
変化させ）ることにより、パネル背面から前面への透過
光量を加減して多階調表示を実現する液晶パネルは、薄
型軽量、低消費電力といった特長から、各種ＯＡ機器や
産業機器若しくは民生機器などの表示装置をはじめ、プ
ロジェクタなどの光学的投影装置の表示デバイスなどに
多用されているが、昨今の高画質化ニーズの高まりに伴
い、ＶＧＡからＳＶＧＡ、さらにはそれ以上の高解像度
パネルへと要求がシフトしつつあり、欠陥画素に対する
対策が従前にも増して求められるようになってきた。
【０００３】液晶パネルの欠陥画素とは、厳密に言え
ば、例えば、コントラスト１００相当の黒レベルの表示
信号電圧を与えたときに、バックライトの光をほとんど
透さない（実際には１％程度の透過率）画素以外の画素
のことを言う。この例の場合には、黒画面上に点在する
輝点として視認される。しかしながら、こうした理想的
な基準では、全ての輝点を欠陥画素とするため、実際上
はそれほど画質に影響を与えない画素も欠陥画素と判定
してしまい、歩留まりの点で過度な判定を否めない。
ば、例えば、コントラスト１００相当の黒レベルの表示
信号電圧を与えたときに、バックライトの光をほとんど
透さない（実際には１％程度の透過率）画素以外の画素
のことを言う。この例の場合には、黒画面上に点在する
輝点として視認される。しかしながら、こうした理想的
な基準では、全ての輝点を欠陥画素とするため、実際上
はそれほど画質に影響を与えない画素も欠陥画素と判定
してしまい、歩留まりの点で過度な判定を否めない。
【０００４】そこで、あらかじめ基準の透過率（以下、
単に「基準透過率」と言う）を定めておき、この基準透
過率を満足しない画素だけを欠陥画素と判定するという
実用上充分な手法が採用されている。なお、基準透過率
は、液晶パネルの製造会社によって自主的に設定される
こともあれば、ユーザサイドから提示されることもあ
る。高解像度パネルの場合には基準透過率を低めに設定
し（０ないし１％程度に設定すればすべての輝点を欠陥
画素とする）、そうでないパネルの場合には高めに設定
する。
単に「基準透過率」と言う）を定めておき、この基準透
過率を満足しない画素だけを欠陥画素と判定するという
実用上充分な手法が採用されている。なお、基準透過率
は、液晶パネルの製造会社によって自主的に設定される
こともあれば、ユーザサイドから提示されることもあ
る。高解像度パネルの場合には基準透過率を低めに設定
し（０ないし１％程度に設定すればすべての輝点を欠陥
画素とする）、そうでないパネルの場合には高めに設定
する。
【０００５】
【従来の技術】図７は、従来の液晶パネルの欠陥画素検
査方法及びその装置の概念図である。この図において、
１は液晶パネル、２は測定者であり、液晶パネル１の前
面と測定者２の間には光量減衰手段３が設けられてお
り、さらに、液晶パネル１の背面には光源４が設けられ
ている。なお、光源４は、液晶パネル１と一体化された
バックライト、または、検査用に特設された平面発光灯
である。
査方法及びその装置の概念図である。この図において、
１は液晶パネル、２は測定者であり、液晶パネル１の前
面と測定者２の間には光量減衰手段３が設けられてお
り、さらに、液晶パネル１の背面には光源４が設けられ
ている。なお、光源４は、液晶パネル１と一体化された
バックライト、または、検査用に特設された平面発光灯
である。
【０００６】ここに、光量減衰手段３は、液晶パネル１
の透過光を一定の割合で減衰させるためのもので、一般
には、ＮＤフィルタやＯＤフィルタなどが用いられる。
例えば、ＮＤフィルタの場合の光量減衰能力（透過率）
は、いわゆるＮＤ値で知ることができる。次式にＮＤ
値を当てはめるだけでよい。例えば、ＮＤ値を「２０」
とすると、次式より、その透過率は５％になる。
の透過光を一定の割合で減衰させるためのもので、一般
には、ＮＤフィルタやＯＤフィルタなどが用いられる。
例えば、ＮＤフィルタの場合の光量減衰能力（透過率）
は、いわゆるＮＤ値で知ることができる。次式にＮＤ
値を当てはめるだけでよい。例えば、ＮＤ値を「２０」
とすると、次式より、その透過率は５％になる。
【０００７】 透過率＝（１／ＮＤ値）×１００（％） ……… なお、ＯＤフィルタの場合には、上式に代えて次式
を使用する。式中のＯＤ値がＮＤ値に相当する変数で
ある。 透過率＝１０-OD×１００（％） ……… 従来技術における検査の実際は、概ね次のとおりであ
る。まず、光源４の光量や判定基準の透過率（以下、単
に「基準透過率」と言う）及び測定者２の視覚感度（輝
点として認識し得る光量）などから光量減衰手段３の適
正な減衰量（ＮＤフィルタであればＮＤ値）を決定し、
次いで、液晶パネル１にコントラスト１００相当の全面
黒レベルを表示する表示信号電圧を与えた状態で、その
液晶パネル１の表面を光量減衰手段３を介して観察す
る。輝点が見えれば、その輝点の位置に欠陥画素が存在
する。欠陥画素をカウントし、規定数以上あればその液
晶パネル１を不良品とする。
を使用する。式中のＯＤ値がＮＤ値に相当する変数で
ある。 透過率＝１０-OD×１００（％） ……… 従来技術における検査の実際は、概ね次のとおりであ
る。まず、光源４の光量や判定基準の透過率（以下、単
に「基準透過率」と言う）及び測定者２の視覚感度（輝
点として認識し得る光量）などから光量減衰手段３の適
正な減衰量（ＮＤフィルタであればＮＤ値）を決定し、
次いで、液晶パネル１にコントラスト１００相当の全面
黒レベルを表示する表示信号電圧を与えた状態で、その
液晶パネル１の表面を光量減衰手段３を介して観察す
る。輝点が見えれば、その輝点の位置に欠陥画素が存在
する。欠陥画素をカウントし、規定数以上あればその液
晶パネル１を不良品とする。
【０００８】今、説明の都合上、以下の便宜値を仮定す
る。 光源４の光量………………３０００ｃｄ／ｍ2 測定者２の視覚感度………１００ｃｄ／ｍ2 ＮＤ値………………………２０（透過率換算で５％） この条件で液晶パネル１の透過光量が、例えば１８００
ｃｄ／ｍ2（６０％の透過率相当）であれば、光量減衰
手段３の透過光量は、そのうちの５％、すなわち、 １８００ｃｄ／ｍ2×０．０５＝９０ｃｄ／ｍ2 ……… となり、この値（９０ｃｄ／ｍ2）は測定者２の視覚感
度よりも充分に低いから、測定者２は輝点を認めず、欠
陥画素も判定されない。
る。 光源４の光量………………３０００ｃｄ／ｍ2 測定者２の視覚感度………１００ｃｄ／ｍ2 ＮＤ値………………………２０（透過率換算で５％） この条件で液晶パネル１の透過光量が、例えば１８００
ｃｄ／ｍ2（６０％の透過率相当）であれば、光量減衰
手段３の透過光量は、そのうちの５％、すなわち、 １８００ｃｄ／ｍ2×０．０５＝９０ｃｄ／ｍ2 ……… となり、この値（９０ｃｄ／ｍ2）は測定者２の視覚感
度よりも充分に低いから、測定者２は輝点を認めず、欠
陥画素も判定されない。
【０００９】一方、液晶パネル１の透過光量が上記より
も多い、例えば、２４００ｃｄ／ｍ 2（８０％の透過率
相当）の場合には、光量減衰手段３の透過光量は、 ２４００ｃｄ／ｍ2×０．０５＝１２０ｃｄ／ｍ2 ……… となって測定者２の視覚感度を充分に上回るから、測定
者２は輝点を認め、その輝点位置に対応する液晶パネル
１上の欠陥画素を判定する。
も多い、例えば、２４００ｃｄ／ｍ 2（８０％の透過率
相当）の場合には、光量減衰手段３の透過光量は、 ２４００ｃｄ／ｍ2×０．０５＝１２０ｃｄ／ｍ2 ……… となって測定者２の視覚感度を充分に上回るから、測定
者２は輝点を認め、その輝点位置に対応する液晶パネル
１上の欠陥画素を判定する。
【００１０】したがって、上記便宜値を用いた従来技術
においては、明らかに６０％以下の透過率を有する画素
を正常と判定でき、また、８０％以上の透過率を有する
画素を欠陥と判定できるので、この場合の「基準透過
率」は、少なくとも６０％と８０％の間に位置すること
になる。基準透過率を高くしたければ、光量減衰手段３
の減衰量を大きくすればよく、あるいは、基準透過率を
下げたければ、光量減衰手段３の減衰量を小さくすれば
よい。
においては、明らかに６０％以下の透過率を有する画素
を正常と判定でき、また、８０％以上の透過率を有する
画素を欠陥と判定できるので、この場合の「基準透過
率」は、少なくとも６０％と８０％の間に位置すること
になる。基準透過率を高くしたければ、光量減衰手段３
の減衰量を大きくすればよく、あるいは、基準透過率を
下げたければ、光量減衰手段３の減衰量を小さくすれば
よい。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、かかる
従来技術にあっては、上記便宜値で示した三つの条件、
すなわち、光源４の光量、測定者２の視覚感度、及び、
ＮＤ値（光量減衰手段３の減衰量）の一つ（特に、測定
者２の視覚感度や光源４の光量）でも変動すると、その
変動の影響で正確な判定結果が得られないという問題点
があった。
従来技術にあっては、上記便宜値で示した三つの条件、
すなわち、光源４の光量、測定者２の視覚感度、及び、
ＮＤ値（光量減衰手段３の減衰量）の一つ（特に、測定
者２の視覚感度や光源４の光量）でも変動すると、その
変動の影響で正確な判定結果が得られないという問題点
があった。
【００１２】このことについて、具体的に説明する。ま
ず、上記三つの条件のうち本質的に変動がないもの（光
量減衰手段３の減衰量）を除外すると、残りは、光源４
の光量と測定者２の視覚感度になる。後者の視覚感度
は、個人差や外光（図７参照）の影響を考慮すると変動
は当然である。光源４についても、製造バラツキによる
光量差や経年変化に伴う光量低下、または、バックライ
トの場合には液晶パネル１への組み付け方式（直下式や
エッジ式）による光量差のため、変動が避けられない。
光源４の光量変動はケースにもよるが３０％から最大９
０％にも及ぶことがある。
ず、上記三つの条件のうち本質的に変動がないもの（光
量減衰手段３の減衰量）を除外すると、残りは、光源４
の光量と測定者２の視覚感度になる。後者の視覚感度
は、個人差や外光（図７参照）の影響を考慮すると変動
は当然である。光源４についても、製造バラツキによる
光量差や経年変化に伴う光量低下、または、バックライ
トの場合には液晶パネル１への組み付け方式（直下式や
エッジ式）による光量差のため、変動が避けられない。
光源４の光量変動はケースにもよるが３０％から最大９
０％にも及ぶことがある。
【００１３】今、上記三つの条件のうち光源４の光量が
「３０００ｃｄ／ｍ2」から「２０００ｃｄ／ｍ2」へと
低下した場合を想定する。なお、残りの条件は上記便宜
値と同じと仮定する。この場合、液晶パネル１の注目画
素の透過率を、例えば「８０％」とすると、この液晶パ
ネル１の当該画素の透過光量は、 ２０００ｃｄ／ｍ2×０．８＝１６００ｃｄ／ｍ2 ……… となり、さらに、光量減衰手段３の透過光量は、 １６００ｃｄ／ｍ2×０．０５＝８０ｃｄ／ｍ2 ……… となる。この値（８０ｃｄ／ｍ2）は、測定者２の視覚
感度よりも充分に低く輝点を認めないため、欠陥画素を
判定しないが、この判定結果は上述の判定（光源４の光
量を３０００ｃｄ／ｍ2とした場合の判定；前式参
照）と逆であり、再現性のない不正確な結果であるか
ら、早急に解決すべき技術課題が存在する。
「３０００ｃｄ／ｍ2」から「２０００ｃｄ／ｍ2」へと
低下した場合を想定する。なお、残りの条件は上記便宜
値と同じと仮定する。この場合、液晶パネル１の注目画
素の透過率を、例えば「８０％」とすると、この液晶パ
ネル１の当該画素の透過光量は、 ２０００ｃｄ／ｍ2×０．８＝１６００ｃｄ／ｍ2 ……… となり、さらに、光量減衰手段３の透過光量は、 １６００ｃｄ／ｍ2×０．０５＝８０ｃｄ／ｍ2 ……… となる。この値（８０ｃｄ／ｍ2）は、測定者２の視覚
感度よりも充分に低く輝点を認めないため、欠陥画素を
判定しないが、この判定結果は上述の判定（光源４の光
量を３０００ｃｄ／ｍ2とした場合の判定；前式参
照）と逆であり、再現性のない不正確な結果であるか
ら、早急に解決すべき技術課題が存在する。
【００１４】そこで、本発明は、光源の光量に影響され
ず、再現性よく正確な判定結果を得ることを目的とす
る。
ず、再現性よく正確な判定結果を得ることを目的とす
る。
【００１５】
【課題を解決するための手段】本発明に係る液晶パネル
の欠陥検査方法は、パネル背面に光源を有する液晶パネ
ルの欠陥画素の検査方法において、注目画素の周囲に疑
似欠陥画素を配置する第１ステップと、表示信号電圧を
調節して前記疑似欠陥画素の輝度を前記注目画素の輝度
に合わせる第２ステップと、前記第２ステップで両画素
の輝度が一致したときの前記表示信号電圧の値を読み取
る第３ステップと、該読み取った値で前記液晶パネルの
透過率−液晶電圧特性を参照し前記疑似欠陥画素の透過
率を求める第４ステップと、を備えたことを特徴とす
る。
の欠陥検査方法は、パネル背面に光源を有する液晶パネ
ルの欠陥画素の検査方法において、注目画素の周囲に疑
似欠陥画素を配置する第１ステップと、表示信号電圧を
調節して前記疑似欠陥画素の輝度を前記注目画素の輝度
に合わせる第２ステップと、前記第２ステップで両画素
の輝度が一致したときの前記表示信号電圧の値を読み取
る第３ステップと、該読み取った値で前記液晶パネルの
透過率−液晶電圧特性を参照し前記疑似欠陥画素の透過
率を求める第４ステップと、を備えたことを特徴とす
る。
【００１６】また、本発明に係る液晶パネルの欠陥画素
の検査装置は、パネル背面に光源を有する液晶パネル
と、前記液晶パネルの注目画素の周囲に疑似欠陥画素を
配置する手段と、前記疑似欠陥画素の輝度を外部から調
節する手段と、前記疑似欠陥画素の輝度調節量を液晶電
圧または該電圧に比例する物理量に変換して表示しまた
は外部に出力する手段と、とを備えたことを特徴とす
る。
の検査装置は、パネル背面に光源を有する液晶パネル
と、前記液晶パネルの注目画素の周囲に疑似欠陥画素を
配置する手段と、前記疑似欠陥画素の輝度を外部から調
節する手段と、前記疑似欠陥画素の輝度調節量を液晶電
圧または該電圧に比例する物理量に変換して表示しまた
は外部に出力する手段と、とを備えたことを特徴とす
る。
【００１７】本発明では、液晶パネルの注目画素（判定
対象の画素）の周囲に疑似欠陥画素を配置してその疑似
欠陥画素の輝度を注目画素の輝度に合わせ込むと共に、
そのときの疑似欠陥画素の表示信号電圧の大きさを読み
取り、当該液晶パネルの透過率−液晶電圧特性と照合す
るだけで、バックライトや視覚感度等の変動に左右され
ない正確で再現性のよい判定結果が得られる。
対象の画素）の周囲に疑似欠陥画素を配置してその疑似
欠陥画素の輝度を注目画素の輝度に合わせ込むと共に、
そのときの疑似欠陥画素の表示信号電圧の大きさを読み
取り、当該液晶パネルの透過率−液晶電圧特性と照合す
るだけで、バックライトや視覚感度等の変動に左右され
ない正確で再現性のよい判定結果が得られる。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面に基
づいて説明する。図１〜図６は本発明に係る液晶パネル
の欠陥画素検査方法及びその装置の一実施例を示す図で
ある。図１は、本実施例の検査方法の概略フロー図であ
る。この図において、まず、ステップＳ１で、液晶パネ
ル上の特異な光り方をしている注目画素（仮の欠陥画素
と言う）の近くに、参照用の画素（疑似欠陥画素と言
う）を配置する。なお、仮の欠陥画素が真の欠陥画素に
なるか否かは後述の判定結果に依存する。また、疑似欠
陥画素の配置には、例えば、任意座標に任意階調のドッ
トを自在に発生できるアプリケーションソフト（例え
ば、ビットマップ系のグラフィックソフトなど）を組み
込んだパソコンを使用できる。マウスやキーボードを操
作する簡単な作図感覚で仮の欠陥画素の近くに疑似欠陥
画素を容易に配置できる。因みに、図２は疑似欠陥画素
の配置例を示す図であり、この例では、特に限定しない
が、仮の欠陥画素１０の上下左右にそれぞれ疑似欠陥画
素１１〜１４を配置している。
づいて説明する。図１〜図６は本発明に係る液晶パネル
の欠陥画素検査方法及びその装置の一実施例を示す図で
ある。図１は、本実施例の検査方法の概略フロー図であ
る。この図において、まず、ステップＳ１で、液晶パネ
ル上の特異な光り方をしている注目画素（仮の欠陥画素
と言う）の近くに、参照用の画素（疑似欠陥画素と言
う）を配置する。なお、仮の欠陥画素が真の欠陥画素に
なるか否かは後述の判定結果に依存する。また、疑似欠
陥画素の配置には、例えば、任意座標に任意階調のドッ
トを自在に発生できるアプリケーションソフト（例え
ば、ビットマップ系のグラフィックソフトなど）を組み
込んだパソコンを使用できる。マウスやキーボードを操
作する簡単な作図感覚で仮の欠陥画素の近くに疑似欠陥
画素を容易に配置できる。因みに、図２は疑似欠陥画素
の配置例を示す図であり、この例では、特に限定しない
が、仮の欠陥画素１０の上下左右にそれぞれ疑似欠陥画
素１１〜１４を配置している。
【００１９】次に、ステップＳ２で、疑似欠陥画素の輝
度を変えて仮の欠陥画素の輝度に合わせ込むが、上記ソ
フトを使用すれば、これも容易である。液晶パネル上の
両画素の輝度が同一に見えるようにドットの階調を加減
すればよいからである。次に、ステップＳ３で、輝度を
合わせ込んだ後の疑似欠陥画素の表示信号電圧を読み取
る。この読み取りは、例えば、液晶パネルのデータ電圧
に対して直接的に行えれば望ましいが、これに限らな
い。要は、疑似欠陥画素の表示信号電圧に相関する物理
量であればよく、例えば、上記グラフィックソフトにお
ける階調コードであってもよい。
度を変えて仮の欠陥画素の輝度に合わせ込むが、上記ソ
フトを使用すれば、これも容易である。液晶パネル上の
両画素の輝度が同一に見えるようにドットの階調を加減
すればよいからである。次に、ステップＳ３で、輝度を
合わせ込んだ後の疑似欠陥画素の表示信号電圧を読み取
る。この読み取りは、例えば、液晶パネルのデータ電圧
に対して直接的に行えれば望ましいが、これに限らな
い。要は、疑似欠陥画素の表示信号電圧に相関する物理
量であればよく、例えば、上記グラフィックソフトにお
ける階調コードであってもよい。
【００２０】このようにして、疑似欠陥画素の表示信号
電圧（または表示階調電圧に相関する物理量）を読み取
ると、次に、ステップＳ４で、所定の特性表に基づいて
疑似欠陥画素の透過率を特定する。図３は、その特性表
を示す図である。この図において、縦軸は透過率、横軸
は表示信号電圧（または表示階調電圧に相関する物理
量）であり、いわゆる「透過率−液晶電圧特性」を示し
ている。この特性表は検査対象の液晶パネルごとに作成
してもよいが、同一品種の液晶パネルの特性はそれほど
変わらないため、品種ごとに共通化するのが経済的であ
る。
電圧（または表示階調電圧に相関する物理量）を読み取
ると、次に、ステップＳ４で、所定の特性表に基づいて
疑似欠陥画素の透過率を特定する。図３は、その特性表
を示す図である。この図において、縦軸は透過率、横軸
は表示信号電圧（または表示階調電圧に相関する物理
量）であり、いわゆる「透過率−液晶電圧特性」を示し
ている。この特性表は検査対象の液晶パネルごとに作成
してもよいが、同一品種の液晶パネルの特性はそれほど
変わらないため、品種ごとに共通化するのが経済的であ
る。
【００２１】この特性表は、表示電圧を０Ｖに近づける
と透過率が上がり、表示電圧を大きくすると透過率が下
がる、いわゆるノーマリィホワイト・タイプである。実
際の表示には、特性線がほぼ直線的に変化する範囲
（Ａ）を利用する。なお、ノーマリーホワイトの逆のタ
イプ（ノーマリーブラック）であっても構わない。要
は、検査対象の液晶パネルに適用できると共に、表示電
圧からその画素の透過率を特定できればよい。
と透過率が上がり、表示電圧を大きくすると透過率が下
がる、いわゆるノーマリィホワイト・タイプである。実
際の表示には、特性線がほぼ直線的に変化する範囲
（Ａ）を利用する。なお、ノーマリーホワイトの逆のタ
イプ（ノーマリーブラック）であっても構わない。要
は、検査対象の液晶パネルに適用できると共に、表示電
圧からその画素の透過率を特定できればよい。
【００２２】今、表示電圧を図中のＶ１とすると、その
垂線と特性線との交点Ｐ１を真横に辿った８０％が当該
表示電圧Ｖ１に対応する透過率になり、または、Ｖ１よ
りも若干高いＶ２とすると５０％の透過率となる。ノー
マリーブラック・タイプではこの関係が逆になる（Ｖ１
→透過率小、Ｖ２→透過率大）。図３の特性表から得ら
れた透過率は、疑似欠陥画素の透過率である。しかし、
疑似欠陥画素の輝度は仮の欠陥画素の輝度と同じである
から、両者の透過率は同一と考えて差し支えない。
垂線と特性線との交点Ｐ１を真横に辿った８０％が当該
表示電圧Ｖ１に対応する透過率になり、または、Ｖ１よ
りも若干高いＶ２とすると５０％の透過率となる。ノー
マリーブラック・タイプではこの関係が逆になる（Ｖ１
→透過率小、Ｖ２→透過率大）。図３の特性表から得ら
れた透過率は、疑似欠陥画素の透過率である。しかし、
疑似欠陥画素の輝度は仮の欠陥画素の輝度と同じである
から、両者の透過率は同一と考えて差し支えない。
【００２３】したがって、図３の特性表から得られた透
過率は、結局、仮の欠陥画素の透過率でもあるから、図
１のステップＳ５で、基準透過率と比較し、図３の特性
表から得られた透過率が基準透過率を上回れば、その仮
の欠陥画素を真の欠陥画素と判定する。そして、ステッ
プＳ６で欠陥画素計数用のカウンタの値ＣＴを＋１し、
ステップＳ７で欠陥画素の基準数ＣＴｒとＣＴとを比較
してＣＴｒ＞ＣＴとなった場合に、当該液晶パネルを不
良品と判定する。または、ＣＴｒ＞ＣＴとならない場合
には、ステップＳ８で他の仮の欠陥画素の有無を判定
し、あればステップＳ１以降を繰返し、なければ当該液
晶パネルの良品を判定する。
過率は、結局、仮の欠陥画素の透過率でもあるから、図
１のステップＳ５で、基準透過率と比較し、図３の特性
表から得られた透過率が基準透過率を上回れば、その仮
の欠陥画素を真の欠陥画素と判定する。そして、ステッ
プＳ６で欠陥画素計数用のカウンタの値ＣＴを＋１し、
ステップＳ７で欠陥画素の基準数ＣＴｒとＣＴとを比較
してＣＴｒ＞ＣＴとなった場合に、当該液晶パネルを不
良品と判定する。または、ＣＴｒ＞ＣＴとならない場合
には、ステップＳ８で他の仮の欠陥画素の有無を判定
し、あればステップＳ１以降を繰返し、なければ当該液
晶パネルの良品を判定する。
【００２４】このように、本実施例の検査方法によれ
ば、疑似欠陥画素の輝度を仮の欠陥画素の輝度に合わせ
込み、その疑似欠陥画素の表示信号電圧の値を読み取
り、当該液晶パネルの透過率−表示電圧特性と照合する
という手続きを踏むだけで、仮の欠陥画素の透過率を知
ることができる。仮の欠陥画素の透過率は、実際には疑
似欠陥画素の透過率であるが、仮の欠陥画素と疑似欠陥
画素の輝度を一致させているため、両者の透過率は実質
的に同一であり、きわめて正確で再現性のよい欠陥画素
の判定結果を得ることができる。
ば、疑似欠陥画素の輝度を仮の欠陥画素の輝度に合わせ
込み、その疑似欠陥画素の表示信号電圧の値を読み取
り、当該液晶パネルの透過率−表示電圧特性と照合する
という手続きを踏むだけで、仮の欠陥画素の透過率を知
ることができる。仮の欠陥画素の透過率は、実際には疑
似欠陥画素の透過率であるが、仮の欠陥画素と疑似欠陥
画素の輝度を一致させているため、両者の透過率は実質
的に同一であり、きわめて正確で再現性のよい欠陥画素
の判定結果を得ることができる。
【００２５】さらに、本実施例においては、バックライ
トの光量は任意である。光ってさえいればよい。すなわ
ち、仮の欠陥画素と疑似欠陥画素の輝度を合わせ込むの
に必要な明るさがあればよい。以上の実施例は、表示装
置に用いる液晶パネルを例にしたが、これに限らない。
例えば、プロジェクタの表示デバイスに用いる液晶パネ
ルにも好適である。この種の液晶パネルの光源はきわめ
て高照度（数百万ルクスにも及ぶ）のため、従来技術
は、測定者に視力障害を与えるおそれのある点で使用不
可能であったが、本実施例では、例えば、スクリーンに
投影したままでも欠陥画素を検査できるから、そのよう
な心配はない。
トの光量は任意である。光ってさえいればよい。すなわ
ち、仮の欠陥画素と疑似欠陥画素の輝度を合わせ込むの
に必要な明るさがあればよい。以上の実施例は、表示装
置に用いる液晶パネルを例にしたが、これに限らない。
例えば、プロジェクタの表示デバイスに用いる液晶パネ
ルにも好適である。この種の液晶パネルの光源はきわめ
て高照度（数百万ルクスにも及ぶ）のため、従来技術
は、測定者に視力障害を与えるおそれのある点で使用不
可能であったが、本実施例では、例えば、スクリーンに
投影したままでも欠陥画素を検査できるから、そのよう
な心配はない。
【００２６】図４は、上記検査方法に適用できるシステ
ム構成図である。この図において、２０は、例えば、上
述のグラフィックソフトを組み込んだパソコンであり、
このパソコン２０で作成された画像信号は、モニタ２１
上に表示されると共に、信号変換器２２に入力される。
信号変換器２２は、入力画像信号を検査対象の液晶パネ
ル２３の解像度に応じた垂直／水平周波数に変換して出
力すると共に、液晶パネル２３に必要な垂直／水平同期
信号や画素クロック等を発生する。
ム構成図である。この図において、２０は、例えば、上
述のグラフィックソフトを組み込んだパソコンであり、
このパソコン２０で作成された画像信号は、モニタ２１
上に表示されると共に、信号変換器２２に入力される。
信号変換器２２は、入力画像信号を検査対象の液晶パネ
ル２３の解像度に応じた垂直／水平周波数に変換して出
力すると共に、液晶パネル２３に必要な垂直／水平同期
信号や画素クロック等を発生する。
【００２７】この図において、モニタ２１上には便宜的
に示す４個のドット２１ａ〜２１ｄが表示されており、
これらのドット２１ａ〜２１ｄは、液晶パネル２３のパ
ネル２４上の４つの疑似欠陥画素２４ａ〜２４ｄに対応
している。すなわち、パソコン２０の、例えば、マウス
２０ａを操作してモニタ２１上のドット２１ａ〜２１ｄ
を動かすと、それに追随してパネル２４上の疑似欠陥画
素２４ａ〜２４ｄも移動するようになっており、仮の欠
陥画素２４ｅの近くに疑似欠陥画素２４ａ〜２４ｄを容
易に配置できる。
に示す４個のドット２１ａ〜２１ｄが表示されており、
これらのドット２１ａ〜２１ｄは、液晶パネル２３のパ
ネル２４上の４つの疑似欠陥画素２４ａ〜２４ｄに対応
している。すなわち、パソコン２０の、例えば、マウス
２０ａを操作してモニタ２１上のドット２１ａ〜２１ｄ
を動かすと、それに追随してパネル２４上の疑似欠陥画
素２４ａ〜２４ｄも移動するようになっており、仮の欠
陥画素２４ｅの近くに疑似欠陥画素２４ａ〜２４ｄを容
易に配置できる。
【００２８】なお、図５に示すように、仮の欠陥画素２
４ｅがパネルの隅（図では左上隅）に位置する場合は、
その下と右に二つの疑似欠陥画素２４ｂ、２４ｃを配置
すればよい。また、疑似欠陥画素の配置の仕方は、上記
例に限定されない。例えば、図６（ａ）に示すように、
仮の欠陥画素２５を中心にしてその斜め方向に四つの疑
似欠陥画素２６〜２９を配置してもよい。こうすると、
パネル内の線欠陥３０にも対応できる。または、図６
（ｂ）に示すように、仮の欠陥画素３１の周囲を多数の
疑似欠陥画素３２で取り囲んでもよいし、図６（ｃ）に
示すように、仮の欠陥画素３３を含む所定領域内の全て
の画素（但し、仮の欠陥画素を除く）を疑似欠陥画素３
４としてもよい。図６（ｂ）及び図６（ｃ）の例は、疑
似欠陥画素の数が多いため、輝度比較を行いやすいとい
うメリットが得られる。
４ｅがパネルの隅（図では左上隅）に位置する場合は、
その下と右に二つの疑似欠陥画素２４ｂ、２４ｃを配置
すればよい。また、疑似欠陥画素の配置の仕方は、上記
例に限定されない。例えば、図６（ａ）に示すように、
仮の欠陥画素２５を中心にしてその斜め方向に四つの疑
似欠陥画素２６〜２９を配置してもよい。こうすると、
パネル内の線欠陥３０にも対応できる。または、図６
（ｂ）に示すように、仮の欠陥画素３１の周囲を多数の
疑似欠陥画素３２で取り囲んでもよいし、図６（ｃ）に
示すように、仮の欠陥画素３３を含む所定領域内の全て
の画素（但し、仮の欠陥画素を除く）を疑似欠陥画素３
４としてもよい。図６（ｂ）及び図６（ｃ）の例は、疑
似欠陥画素の数が多いため、輝度比較を行いやすいとい
うメリットが得られる。
【００２９】
【発明の効果】本発明によれば、液晶パネルの注目画素
（判定対象の画素）の周囲に疑似欠陥画素を配置してそ
の疑似欠陥画素の輝度を注目画素の輝度に合わせ込むと
共に、そのときの疑似欠陥画素の表示信号電圧の大きさ
を読み取り、当該液晶パネルの透過率−液晶電圧特性と
照合するだけで、バックライトや視覚感度等の変動に左
右されない正確で再現性のよい判定結果を得ることがで
き、特に高画質な液晶パネルに適用して好ましい欠陥画
素検査方法及びその装置を提供できる。
（判定対象の画素）の周囲に疑似欠陥画素を配置してそ
の疑似欠陥画素の輝度を注目画素の輝度に合わせ込むと
共に、そのときの疑似欠陥画素の表示信号電圧の大きさ
を読み取り、当該液晶パネルの透過率−液晶電圧特性と
照合するだけで、バックライトや視覚感度等の変動に左
右されない正確で再現性のよい判定結果を得ることがで
き、特に高画質な液晶パネルに適用して好ましい欠陥画
素検査方法及びその装置を提供できる。
【図１】一実施例のフロー図である。
【図２】一実施例の疑似欠陥画素の配置図である。
【図３】一実施例の透過率−液晶電圧特性図である。
【図４】一実施例の構成図である。
【図５】疑似欠陥画素の他の配置図である。
【図６】疑似欠陥画素のさらに他の配置図である。
【図７】従来技術の概念図である。
Ｓ１：第１ステップ Ｓ２：第２ステップ Ｓ３：第３ステップ Ｓ４：第４ステップ ４：光源 ２３：液晶パネル １０：仮の欠陥画素（注目画素） １１〜１４：疑似欠陥画素
Claims (2)
- 【請求項１】パネル背面に光源を有する液晶パネルの欠
陥画素の検査方法において、 注目画素の周囲に疑似欠陥画素を配置する第１ステップ
と、 表示信号電圧を調節して前記疑似欠陥画素の輝度を前記
注目画素の輝度に合わせる第２ステップと、 前記第２ステップで両画素の輝度が一致したときの前記
表示信号電圧の値を読み取る第３ステップと、 該読み取った値で前記液晶パネルの透過率−液晶電圧特
性を参照し前記疑似欠陥画素の透過率を求める第４ステ
ップと、を備えたことを特徴とする液晶パネルの欠陥画
素の検査方法。 - 【請求項２】パネル背面に光源を有する液晶パネルと、 前記液晶パネルの注目画素の周囲に疑似欠陥画素を配置
する手段と、 前記疑似欠陥画素の輝度を外部から調節する手段と、 前記疑似欠陥画素の輝度調節量を液晶電圧または該電圧
に比例する物理量に変換して表示しまたは外部に出力す
る手段と、とを備えたことを特徴とする液晶パネルの欠
陥画素の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6294396A JPH09257639A (ja) | 1996-03-19 | 1996-03-19 | 液晶パネルの欠陥画素検査方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6294396A JPH09257639A (ja) | 1996-03-19 | 1996-03-19 | 液晶パネルの欠陥画素検査方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09257639A true JPH09257639A (ja) | 1997-10-03 |
Family
ID=13214901
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6294396A Pending JPH09257639A (ja) | 1996-03-19 | 1996-03-19 | 液晶パネルの欠陥画素検査方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09257639A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1424673A1 (en) * | 2002-11-29 | 2004-06-02 | Barco N.V. | Method and device for avoiding image misinterpretation due to defective pixels in a matrix display |
| WO2004088621A1 (de) | 2003-03-29 | 2004-10-14 | Grundig Multimedia B.V. | Verfahren und schaltungsanordnung zur simulation von bei matrixadressierten displays auftretenden pixel- und subpixeldefekten |
| JP2008009208A (ja) * | 2006-06-30 | 2008-01-17 | Casio Comput Co Ltd | ディスプレイ検査装置 |
| US8368417B2 (en) | 2008-08-27 | 2013-02-05 | Beijing Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Method and device for detecting bright dot or dark dot in liquid crystal display |
| KR20140070822A (ko) * | 2012-11-27 | 2014-06-11 | 엘지디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치의 검사 시스템 및 검사 방법 |
-
1996
- 1996-03-19 JP JP6294396A patent/JPH09257639A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1424673A1 (en) * | 2002-11-29 | 2004-06-02 | Barco N.V. | Method and device for avoiding image misinterpretation due to defective pixels in a matrix display |
| WO2004088621A1 (de) | 2003-03-29 | 2004-10-14 | Grundig Multimedia B.V. | Verfahren und schaltungsanordnung zur simulation von bei matrixadressierten displays auftretenden pixel- und subpixeldefekten |
| EP1636777A1 (de) * | 2003-03-29 | 2006-03-22 | Grundig Multimedia B.V. | Verfahren und schaltungsanordnung zur simulation von bei matrixadressierten displays auftretenden pixel- und subpixeldefekten |
| JP2008009208A (ja) * | 2006-06-30 | 2008-01-17 | Casio Comput Co Ltd | ディスプレイ検査装置 |
| US8368417B2 (en) | 2008-08-27 | 2013-02-05 | Beijing Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Method and device for detecting bright dot or dark dot in liquid crystal display |
| KR20140070822A (ko) * | 2012-11-27 | 2014-06-11 | 엘지디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치의 검사 시스템 및 검사 방법 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20040715 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20040803 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
| A521 | Written amendment |
Effective date: 20040930 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20041102 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |