KR100479501B1 - 엘씨디구동용인쇄회로기판의테스트시스템 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템에 관한 것으로, 본 발명에서는 PCB를 PCB 패드 및 TCP를 통해 LCD 패널과 직접 연결하고, 이러한 연결부위를 소정의 가압 헤드 툴을 통해 누른 후, 소정의 검사패턴 신호가 PCB를 경유하여 LCD 패널에 디스플레이되도록 함으로써, 첫째, 프로우브 핀들의 사용에 따른 보수조치의 어려움, 테스트 비용의 증가 등의 문제점을 적절히 해결할 수 있으며, 둘째, 작업자가 내린 PCB의 양·불량 판정의 신뢰성을 현저히 향상시킬 수 있다.

Description

엘씨디 구동용 인쇄회로기판의 테스트 시스템
본 발명은 LCD 구동용 인쇄회로기판(PCB: Printed Circuit Board; 이하, PCB라 칭함)의 테스트 시스템에 관한 것으로, 좀더 상세하게는 단일 구조의 가압 헤드부를 통해 PCB 및 TCP 간의 단순 접촉을 유도하고, 이를 통해, 신속·정확한 PCB 테스트를 달성함으로써, 다수개의 프로우브 핀들의 사용으로 인해 발생되는 보수조치 문제, 테스트 지그 구비 문제 등을 적절히 해결할 수 있도록 하는 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템에 관한 것이다.
최근 현대사회가 정보 사회화로 변화됨에 따라 정보표시장치의 하나인 LCD 장치의 중요성이 점차 증가하고 있다.
지금까지 가장 널리 사용되고 있는 CRT(Cathode ray tube) 장치가 성능이나 가격적인 측면에서 많은 장점을 갖고 있지만 소형화 또는 휴대성의 측면에서 단점을 갖고 있다.
이러한 반면에, LCD 장치는 소형화, 경량화, 저전력 소비화 등의 장점을 갖고 있어 CRT 장치의 단점을 극복할 수 있는 대체수단으로써 점차 주목받아 왔고 현재까지도 LCD의 성능향상에 많은 노력이 투입되고 있는 중이다.
이러한, LCD 장치는 통상, 평판형의 LCD 패널을 통해 소정의 화상 정보를 외부로 디스플레이하는 바, 이때 LCD 패널은 PCB라 불리는 보드형의 회로유닛을 통해 소정의 제어신호를 입력받음으로써, 사용자가 원하는 소정의 화상 정보를 외부로 적절히 디스플레이하고 있다.
이러한 역할을 수행하는 PCB는 전체 LCD 장치의 구동에 있어서, 그 역할이 매우 지대한 바, 이에 따라, 통상의 제조라인에서는 상술한 PCB를 제조 완료할 때마다 소정의 테스트 과정, 예컨대, 전기적인 테스트 과정을 수행함으로써, 그 기능을 철저히 검증하고 있다.
도 1은 이러한 기능을 수행하는 종래의 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템을 개략적으로 도시한 예시도이다.
도시된 바와 같이, 본체(1)상에는 테스트를 수행받기 위한 PCB(2)가 로딩되어 소정의 전기적인 검사패턴 신호를 출력하는 VGA 카드(11)와 연결된다..
이때, PCB(2)상에는 소정 크기, 예컨대, 0.7mm - 1.0mm 크기를 갖는 테스트 포인트(9)들이 다수개 형성되는 바, 이러한 테스트 포인트(9)들은 전기적인 전도성이 양호한 금속 재질로 이루어진다.
한편, PCB(2)의 상부에는 테스트 지그(6)에 의해 고정된 다수개의 프로우브 핀(8)들이 배치되는 바, 이러한 프로우브 핀(8)들은 LCD 패널(3)로부터 연장된 TCP(Tape Carrier Package:4))와 신호 케이블(7)을 통해 연결되며, 그 결과, 프로우브 핀(8)들과 LCD 패널(3) 사이에는 소정의 전기적인 통전로가 확보된다.
이러한 구성을 갖는 종래의 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템에 있어서, 먼저, VGA 카드(11)로부터 상술한 PCB(2)로 소정의 검사패턴 신호가 출력되면, 이에 맞추어 프로우브 핀(8)들은 PCB(2)상에 형성된 테스트 포인트(9)들과 접촉된다.
이때, 검사패턴 신호는 테스트 포인트(9)들 및 프로우브 핀(8)들을 거친 후, 상술한 신호 케이블(7)을 경유하여 TCP(4)로 입력된다.
계속해서, TCP(4)로 입력된 검사패턴 신호는 드라이브 IC(5)를 거쳐, LCD 패널(3)로 입력되고, 이에 따라, LCD 패널(3)에는 검사패턴 신호가 적절히 디스플레이된다.
이 후, 작업자는 LCD 패널(3)에 디스플레이되는 PCB(2) 관련 검사패턴 신호를 참고하여, PCB(2)의 품질을 검증한 후, 양품으로 판정된 PCB(2)를 TCP 패드(10)를 통해 TCP(4)와 연결하여 LCD 패널(3)과 모듈링하고, 이를 양호한 제품으로 완성하여, 제조 완료된 제품을 고객에게 적절히 출하한다.
그러나, 이러한 역할을 수행하는 종래의 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템에는 몇 가지 중대한 문제점이 있다.
첫째, 상술한 바와 같이, 종래의 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템에서는 다수개의 프로우브 핀들을 통해 PCB의 성능이 검지되고 있는 바, 만약, 이러한 다수개의 프로우브 핀들 중에서 몇 개의 프로우브 핀들에서 부분적인 고장이 발생되는 경우, 작업자가 이를 신속히 찾아내어 적절한 보수조치를 취하기가 매우 어려운 문제점이 있다.
둘째, 상술한 바와 같이, 종래의 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템에서 PCB는 프로우브 핀들 및 신호 케이블들을 통해 LCD 패널과 간접 연결되어 그 성능이 검지되고 있는 바, 이러한 경우, LCD 패널이 TCP 및 PCB 패드를 통해 PCB와 직접 연결되는 실 구동환경과 상술한 PCB의 테스트 구동환경 간에는 소정의 유의차가 발생됨으로써, 작업자가 내린 PCB의 양·불량 판정의 신뢰성이 급격히 떨어지는 심각한 문제점이 있다.
셋째, 상술한 바와 같이, 프로우브 핀들을 사용하기 위해서는 이를 고정하는 테스트 지그가 별도로 구비되어야 함으로써, 전체적인 테스트 비용이 현저히 증가하는 심각한 문제점이 있다.
따라서, 본 발명의 목적은 프로우브 핀들의 사용에 따른 보수조치의 어려움, 테스트 비용의 증가 등의 문제점이 해결하기 위한 LCD 구동용 인쇄회로기판의 테스트 시스템을 제공하는데 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 일실시예에 따른 LCD 구동용 인쇄회로기판의 테스트 시스템은 TCP, 가압 헤드부 및 압력 공급부를 포함한다. 상기 TCP는 LCD 구동을 위해 구동 신호를 제공하는 PCB상의 소정 부위에 접촉되어, 상기 PCB로 부터 입력되는 소정의 검사패턴 신호를 LCD 패널로 전달한다. 상기 가압 헤드부는 상기 TCP와 상기 PCB간의 접촉부위 상부에 설치되고, 상기 TCP와 상기 PCB간의 접촉력이 향상될 수 있도록 상기 접촉부위를 소정의 압력으로 눌러준다. 상기 압력 공급부는 상기 가압 헤드부와 연결되어, 소정의 압력을 공급한다.
바람직하게, 상기 접촉부위는 상기 PCB상의 PCB 패드 형성부위인 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 가압 헤드부는 상기 압력 공급부와 연결되어 상기 압력 공급부로부터 공급되는 압력을 상기 접촉부위로 1차 전달하는 제 1 헤드부와; 상기 제 1 헤드부의 일측 단부로 연장되어, 상기 제 1 헤드부로부터 전달되는 상기 압력을 상기 접촉부위로 2차 전달하는 제 2 헤드부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 제 1 헤드부는 금속재질로 형성되는 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 금속은 스테인레스인 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 금속은 알루미늄 합금인 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 제 2 헤드부는 절연 재질인 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 제 2 헤드부는 고무인 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 제 2 헤드부는 스폰지인 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 압력은 4Kg/cm2 - 5Kg/cm2인 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 압력은 4.5Kg/cm2인 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 압력 공급부는 에어 실린더인 것을 특징으로 한다.
이러한 LCD 구동용 인쇄회로기판의 테스트 시스템에 의하면, PCB를 PCB 패드 및 TCP를 통해 LCD 패널과 직접 연결하고, 이러한 연결부위를 소정의 가압 헤드 틀을 통해 누른 후, 소정의 검사패턴 신호가 PCB를 경유하여 LCD 패널에 디스플레이 되도록 함으로써, 프로우브 핀들을 사용하지 않고도 적절한 PCB 테스트가 이루어지도록 하고, 그 결과, 프로우브 핀들의 사용에 따른 보수조치의 어려움, 테스트 비용의 증가 등의 문제점을 적절히 해결할 수 있다.
또한, PCB가 PCB 패드 및 TCP를 통해 LCD 패널과 직접 연결된 구동환경에서 테스트되도록 하고, 이를 통해, PCB의 실 구동환경 및 PCB의 테스트 구동환경 간의 불일치를 적절히 제거함으로써, 작업자가 내린 PCB의 양·불량 판정의 신뢰성을 현저히 향상시킬 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템을 좀더 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명에 따른 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템을 개략적으로 도시한 예시도이다.
도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템은 PCB(2)상의 일정부위에 접촉되어 PCB(2)로 입력되는 검사패턴 신호를 LCD 패널(3)로 전달하는 TCP(4)와, TCP(4) 및 PCB(2)의 접촉부위(A) 상부에 설치된 후 TCP(4) 및 PCB(2)간의 접촉력이 향상될 수 있도록 상술한 접촉부위(A)를 일정한 압력으로 눌러주는 가압 헤드부(20)와, 이러한 가압 헤드부(20)와 연결되어, 일정 크기의 압력을 공급하는 압력 공급부(21)를 포함한다.
이때, 본 발명의 특징에 따르면, 상술한 TCP(4) 및 PCB(2)는 PCB(2)상에 형성된 PCB 패드(10)상에서 접촉된다. 통상, PCB 패드(10)는 PCB(2)상에 형성된 모든 회로패턴과 연결되는 바, 이에 따라, PCB(2)로 입력되는 검사패턴 신호는 전량 TCP(4)를 거쳐 LCD 패널(3)로 입력된다.
또한, 본 발명의 특징에 따르면, 상술한 가압 헤드부(20)는 압력 공급부(21)와 연결되어 압력 공급부(21)로부터 공급되는 압력을 접촉부위(A)로 1차 전달하는 제 1 헤드부(20a)와, 제 1 헤드부(20a)의 저부로 연장되어, 제 1 헤드부(20a)로부터 전달되는 압력을 접촉부위(A)로 2차 전달하는 제 2 헤드부(20b)를 포함한다.
이때, 바람직하게, 제 1 헤드부(20a)는 금속 재질로 형성된다. 이에 따라, 상술한 압력 공급부(21)로부터 일정 크기의 압력이 가해지더라도, 제 1 헤드부(20a)는 손상을 입지 않고 본래의 형상을 적절히 유지할 수 있다. 이러한 금속으로는 스테인레스 또는 알루미늄 합금 등이 사용될 수 있다. 통상, 스테인레스 또는 알루미늄 합금은 적은 중량을 갖으면서도 어느 정도의 경도를 유지할 수 있는 금속으로 알려진 바, 이에 따라, 제 1 헤드부(20a)는 상술한 접촉부위(A)를 과도하게 누르지 않으면서도, 상술한 압력 공급부(21)의 압력에 의해 변형되지 않는다.
한편, 제 2 헤드부(20b)는 절연 재질로 형성된다.
상술한 바와 같이, 제 1 헤드부(20a)는 금속 재질로 형성되는 바, 이에 따라, 상술한 PCB(2)에 흐르는 전기적인 신호가 TCP(4)를 통해 제 1 헤드부(20a)로 전달될 수 있는 문제가 야기될 수도 있다. 그러나, 상술한 바와 같이, 제 1 헤드부(20a)의 저부에는 절연 재질로 이루어진 본 발명의 제 2 헤드부(20b)가 연장·형성되는 바, 이에 따라, PCB(2)에 흐르는 전기적인 신호가 제 1 헤드부(20a)로 통전되는 문제점은 적절히 방지된다.
이때, 상술한 제 2 헤드부(20b)를 이루는 절연 재질의 물질로는 바람직하게, 고무 또는 스폰지 등이 사용될 수 있다. 통상, 고무 또는 스폰지는 양호한 연성을 유지하는 물질로 알려진 바, 이에 따라, 본 발명의 제 2 헤드부(20b)는 적절한 절연 효과를 달성하면서도, 자신과 직접 맞닿는 TCP(4)에 손상을 입히지 않는다.
한편, 본 발명의 특징에 따르면, 상술한 압력 공급부(21)는 압력 조절이 용이한 공압 실린더로 형성된다. 그 결과, 이에 의해 압력을 공급받는 가압 헤드부(20)는 적절한 압력을 유지하며 상술한 PCB(2) 및 TCP(4) 간의 접촉부위(A)를 누를 수 있다.
이하, 본 발명의 작용을 상세히 설명한다.
먼저, 본체(1)상에는 검사를 받기 위한 PCB(2)가 로딩된 후, VGA 카드(11)와 연결된다.
이어서, LCD 패널(3)에서 연장된 TCP(4)는 PCB(2)의 PCB 패드(10) 상부에 위치된 후, PCB 패드(10)의 인접부로 적절히 얼라인된다.
계속해서, 상술한 압력 공급부(21)는 실린더 축(21a)을 통해 가압 헤드부(20)로 압력을 공급하여 가압 헤드부(20)를 구동하고, 그 결과, 가압 헤드부(20)는 PCB 패드(10) 상부에 위치한 TCP(4)를 누르게 된다. 이에 따라, TCP(4)는 상술한 접촉부위(A)에서 PCB 패드(10)와 견고히 접촉됨으로써, PCB(2) 및 LCD 패널(3) 사이에 적절한 통전로를 마련한다.
이때, 본 발명의 특징에 따르면, 상술한 가압 헤드부(20)가 접촉부위(A)를 누르는 압력은 4Kg/cm2 -5Kg/cm2, 좀더 바람직하게, 4.5Kg/cm2이다. 이에 따라, TCP(4) 및 PCB 패드(10)는 견고한 접촉력을 유지하면서도 과도한 접촉에 의한 테스트 오류의 문제점을 미연에 피할 수 있다.
계속해서, 상술한 VGA 카드(11)로부터 PCB(2)로 입력된 검사패턴 신호는 PCB(2)상에 형성된 회로패턴들을 거쳐 PCB 패드(10)로 입력된 후, 이와 접촉된 TCP(4)로 전량 출력된다.
이 후, TCP(4)로 입력된 검사패턴 신호는 드라이브 IC(5)를 거쳐, LCD 패널(3)로 입력되고, 이에 따라, LCD 패널(3)에는 검사패턴 신호가 적절히 디스플레이된다.
이 후, 작업자는 LCD 패널(3)에 디스플레이되는 PCB(2) 관련 검사패턴 신호를 참고하여, PCB(2)의 품질을 검증하고, 이를 양호한 제품으로 완성함으로써, 제조완료된 제품을 고객에게 적절히 출하할 수 있다.
이와 같이, 본 발명에서는 다수개의 프로우브 핀들을 사용하여 PCB의 품질을 검증하던 종래와 달리, 단일 구조의 가압 헤드부를 통해 PCB 및 TCP 간의 단순 접촉을 유도하고, 이를 통해, 신속·정확한 PCB 테스트를 달성함으로써, 다수개의 프로우브 핀들의 사용으로 인해 발생되던 종래의 보수조치 문제, 테스트 지그 구비 문제 등을 적절히 해결할 수 있다.
또한, 본 발명에서는 PCB가 PCB 패드 및 TCP를 통해 LCD 패널과 직접 연결된 구동환경에서 테스트되도록 하고, 이에 따라, PCB의 실 구동환경 및 PCB의 테스트 구동환경 간의 불일치를 적절히 제거함으로써, 작업자가 내린 PCB의 양·불량 판정의 신뢰성을 현저히 향상시킬 수 있다.
이러한 본 발명은 생산라인에서 제조되어지는 전 품종의 PCB에서 두루 유용한 효과를 나타낸다.
그리고, 본 발명의 특정한 실시예가 설명 및 도시되었지만 본 발명이 당업자에 의해 다양하게 변형되어 실시될 가능성이 있는 것은 자명한 일이다.
이와 같은 변형된 실시예들은 본 발명의 기술적 사상이나 관점으로부터 개별적으로 이해되어져서는 안되며 이와 같은 변형된 실시예들은 본 발명의 첨부된 특허청구의 범위안에 속하다 해야 할 것이다.
이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템에서는 PCB를 PCB 패드 및 TCP를 통해 LCD 패널과 직접 연결하고, 이러한 연결부위를 소정의 가압 헤드 툴을 통해 누른 후, 소정의 검사패턴 신호가 PCB를 경유하여 LCD 패널에 디스플레이되도록 함으로써, 첫째, 프로우브 핀들의 사용에 따른 보수조치의 어려움, 테스트 비용의 증가 등의 문제점을 적절히 해결할 수 있으며, 둘째, 작업자가 내린 PCB의 양·불량 판정의 신뢰성을 현저히 향상시킬 수 있다.
도 1은 종래의 하는 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템의 형상을 개략적으로 도시한 예시도.
도 2는 본 발명에 따른 하는 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템의 형상을 개략적으로 도시한 예시도.

Claims (7)

  1. LCD 구동을 위해 구동 신호를 제공하는 PCB상의 소정 부위에 접촉되어, 상기 PCB로부터 입력되는 소정의 검사패턴 신호를 LCD 패널로 전달하는 TCP;
    상기 TCP와 상기 PCB간의 접촉부위 상부에 설치되고, 상기 TCP와 상기 PCB간의 접촉력이 향상될 수 있도록 상기 접촉부위를 소정의 압력으로 눌러주는 가압 헤드부; 및
    상기 가압 헤드부와 연결되어, 소정의 압력을 공급하는 압력 공급부를 포함하는 것을 특징으로 하는 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 접촉부위는 상기 PCB상의 PCB 패드 형성부위인 것을 특징으로 하는 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 가압 헤드부는 상기 압력 공급부와 연결되어 상기 압력 공급부로부터 공급되는 압력을 상기 접촉부위로 1차 전달하는 제 1 헤드부와;
    상기 제 1 헤드부의 일측 단부로 연장되어, 상기 제 1 헤드부로부터 전달되는 상기 압력을 상기 접촉부위로 2차 전달하는 제 2 헤드부를 포함하는 것을 특징으로 하는 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 제 1 헤드부는 금속재질로 형성되는 것을 특징으로 하는 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템.
  5. 제 3 항에 있어서, 상기 제 2 헤드부는 절연 재질인 것을 특징으로 하는 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템.
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 압력은 4Kg/cm2 - 5Kg/cm2인 것을 특징으로 하는 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템.
  7. 제 1 항에 있어서, 상기 압력 공급부는 에어 실린더인 것을 특징으로 하는 LCD 구동용 PCB의 테스트 시스템.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01112179A (ja) * 1987-08-26 1989-04-28 Yokogawa Hewlett Packard Ltd 回路板検査装置および方法
JPH0429345A (ja) * 1990-05-24 1992-01-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd フラットディスプレイの検査方法
JPH06167526A (ja) * 1992-11-27 1994-06-14 Japan Synthetic Rubber Co Ltd 回路配線板の検査装置
KR950009601U (ko) * 1993-09-28 1995-04-21 액정표시소자의 구동회로 기판 검사장치
JPH07270817A (ja) * 1994-04-01 1995-10-20 Enplas Corp 液晶パネル検査用コンタクト装置
JPH0894717A (ja) * 1994-09-26 1996-04-12 Suzuki Motor Corp 実装済プリント配線板の検査用固定装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01112179A (ja) * 1987-08-26 1989-04-28 Yokogawa Hewlett Packard Ltd 回路板検査装置および方法
JPH0429345A (ja) * 1990-05-24 1992-01-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd フラットディスプレイの検査方法
JPH06167526A (ja) * 1992-11-27 1994-06-14 Japan Synthetic Rubber Co Ltd 回路配線板の検査装置
KR950009601U (ko) * 1993-09-28 1995-04-21 액정표시소자의 구동회로 기판 검사장치
JPH07270817A (ja) * 1994-04-01 1995-10-20 Enplas Corp 液晶パネル検査用コンタクト装置
JPH0894717A (ja) * 1994-09-26 1996-04-12 Suzuki Motor Corp 実装済プリント配線板の検査用固定装置

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