KR100478630B1 - 기록 헤드용 래핑 센서 - Google Patents

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KR100478630B1
KR100478630B1 KR10-2002-7015886A KR20027015886A KR100478630B1 KR 100478630 B1 KR100478630 B1 KR 100478630B1 KR 20027015886 A KR20027015886 A KR 20027015886A KR 100478630 B1 KR100478630 B1 KR 100478630B1
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시게이트 테크놀로지 엘엘씨
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Abstract

본 명세서에는 원하는 스트라이프 높이를 갖는 제 1 자기저항 판독 소자를 포함하는 판독/기록 헤드를 형성하기 위하여 래핑 프로세스를 제어하는 방법 및 장치가 개시되어 있다. 제 2 자기저항 판독 소자를 판독/기록 헤드에 결합시킴으로써 개선된 래핑 가이드가 이루어질 수 있다. (디스크 드라이브의 동작동안 데이터를 판독하는데 사용되는) 제 1 자기저항 판독 소자와 동일한 판독/기록 헤드상에 위치함으로써, 제 2 소자는 제 1 소자와 인접하여 위치하게 되고, 그 결과 제 1 및 제 2 소자의 상부 에지들 사이에 정렬 및 관계에 있어 공차가 감소된다. 따라서, 제 2 자기저항 판독 소자는 제 1 소자의 프록시로서 보다 신뢰성 있는 역할을 수행한다. 선택적으로, 제 2 자기저항 소자는 제 1 자기저항 소자와 동일한 자기 감도를 가지기 위하여, 제 2 자기저항 소자는 제 1 자기저항 소자와 동일한 크기로 형성될 수 있다. 래핑동안, 제 2 자기저항 소자의 자기 감도는 모니터링되고, 이는 제 1 자기저항 판독 소자의 자기 감도 측정의 대용으로 사용된다.

Description

기록 헤드용 래핑 센서 {IMPROVED LAPPING SENSOR FOR RECORDING HEADS}
본 발명은 하드 디스크 드라이브에 관한 것으로, 보다 상세히는 원하는 스트라이프 높이를 가진 주 자기저항 판독 소자(primary magnetoresistive read element: 제 1 자기저항 판독 소자)를 포함하는 판독/기록 헤드를 형성하기 위하여 래핑 프로세서를 제어하기 위한 방법 및 장치에 관한 것이다.
디스크 드라이브용 저장 매체는 국부화된 자기장을 유지할 수 있는 평평한 원형 디스크이다. 디스크상에 저장된 데이터는 이러한 국부 자기장을 통한 물리적 표시에 의해 검출된다. 데이터는 트랙으로 공지된 동심의 원형 경로들의 디스크상에 저장된다.
국부 자기장은 자기 감지 헤드에 가까이 위치할 때 상기 자기 감지 헤드에 의해 검출된다. 동작동안, 디스크는 연속적으로 회전하며, 이는 각각의 회전 동안, 디스크의 중심으로부터 소정 반경 고정된 헤드는 소정의 트랙을 따르는 모든 국부 자기장과 만난다는 것을 의미한다.
디스크 표면상의 국부 자기장을 판독 및 기록할 수 있는 판독/기록 헤드(100)가 도 1에 도시되어 있다. 도 1에 도시된 판독/기록 헤드(100)는 AlTiC(알루미늄, 티타늄, 및 탄소) 웨이퍼 물질로 이루어진 몸체(102)로 구성된다. 자기저항 판독 소자 및 기록 소자가 104로 도시된 바와 같이 몸체(102)에 결합된다. 자기저항 판독 소자(104)의 저항은 자기장에 노출될 때 변화한다. 일반적으로, 자기저항 판독 소자(104) 주위의 자기장이 클수록 그 저항값은 더 커진다. 따라서, 자기저항 판독 소자(104)는 판독 소자(104) 아래의 국부 자기장을 배향시키고 소자(104)의 저항 변화를 검출함으로써 디스크 표면상에 저장된 국부 자기장을 검출할 수 있다.
판독 소자(104)의 저항 변화를 검출하기 위하여, 자기저항 판독 소자(104)를 통해 일정한 전류가 흐르게 하고, 소자(104)에 대한 전압을 관찰한다. 인접 자기장의 영향으로 인하여 소자(104)의 저항이 증가함에 따라서, 소자(104)에 대한 전압도 비례하여 증가한다. 따라서, 저항의 변화는 판독 소자(104)에 대한 상응하는 전압 상승으로서 관찰된다. 국부 자기장을 검출하는데 사용되는 일정 전류는 자기저항 소자(104)의 대향하는 단부들과 전기적으로 접촉되는 도전체(106, 108)를 통해서 전달된다. 도전체(106, 108)는 한 쌍의 와이어 접합부(110, 112)에 연결되어 있으며, 상기 와이어 접합부는 헤드(100)의 길이를 따라 연장되어 검출 회로(미도시)와 결합되는 한 쌍의 가늘고 긴 도전체(114, 116)에 도전체(106, 108)를 연결한다. 판독/기록 헤드(100)은 또한 도전체(118, 120)를 포함하는데, 전류는 이를 통과하여 흘러 디스크 표면상에 자기장을 기록한다. 도전체(118, 120)는 또한 한 쌍의 와이어 접합부(122, 124)에 연결되어 있으며, 상기 와이어 접합부는 헤드(100)의 길이를 따라 연장되어 기록 회로(미도시)와 결합되는 한 쌍의 가늘고 긴 도전체(126, 128)에 도전체(118, 120)를 연결한다.
도 2는 자기저항 판독 소자(104)의 확대도이다. 도 2에서 알 수 있는 바와 같이, 자기저항 판독 소자(104)의 하부 에지(200)는 슬라이더(slider)의 에어 베어링 표면으로 연장된다. 에어 베어링 표면은 판독/기록 헤드(100)가 회전하는 디스크 상부에 위치할 때 플로팅(floating)되는 공기의 "쿠션"을 형성하도록 작용한다.
자기저항 판독 소자(104)의 상부 에지는 참조부호 204로 표기되어 있다. 자기저항 판독 소자(104)의 상부 에지(204)와 하부 에지(200) 사이의 거리는 "스트라이프 높이(stripe height)"로 불린다. 자기저항 판독 소자(104)의 스트라이프 높이는 자기장에 대한 자기저항 소자의 감도(sensitivity)를 결정하기 때문에 중요한 변수이다. 일반적으로, 스트라이프 높이가 낮을수록 자기저항 소자의 감도는 높으며, 스트라이프 높이가 높을수록 자기저항 소자의 감도는 낮다.
도 3에 도시된 바와 같이, 프로세싱전에 자기저항 판독 소자(104)는 100,000Å 크기의 스트라이프 높이를 가진다. 도전체(106, 108)는 대략적으로 동일한 높이를 가진다. 제조과정에서, 자기저항 헤드는 "래핑(lapping)"되며, 이에 의해서 자기저항 판독 소자(104)의 스트라이프 높이는 제품 요구조건에 따라 도 2에 도시된 바와 같이 500Å(통상적으로 ±10%의 공차를 가진다) 크기로 감소된다. "래핑"이라는 용어는 문자 그대로, 원하는 스트라이프 높이를 얻을 때까지, 자기저항 판독 소자(104) 및 이와 관련된 도전체(106, 108)가 연마 슬러리(abrasive slurry)에 의해 연마되는 연마 프로세스(grinding process)를 의미한다. 래핑 프로세스의 목적은 적합한 자기 감도를 형성할 때까지 자기저항 판독 소자의 스트라이프 높이를 감소시키는 것이다.
이상적으로, 래핑동안 자기저항 판독 소자의 감도를 직접 테스트하여 적합한 감도가 얻어질 때 래핑을 중단하는 것이 가능하다. 그러나, 불행하게도 판독 소자의 저항을 직접 테스트하기 위해서 자기저항 판독 소자에 전기 신호를 인가하면, 자기저항 판독 소자와 연마 슬러리 사이에 정전 방전(electrostatic discharge)이 일어날 가능성이 높아진다. 이러한 정전 방전은 판독 소자에 악영향을 미치기 때문에, 이러한 방전의 가능성은 감소시키는 것이 바람직하다.
당해 기술분야에서는 공지된 바와 같이, 래핑동안 제 2 자기저항 소자의 저항값이 모니터링될 수 있으며 자기저항 판독 소자의 스트라이프 높이를 직접 측정하기 위해 프록시(proxy)로서 사용될 수 있다. 제 2 자기저항 소자의 저항이 소정의 레벨에 도달할 때, 제 1 자기저항 소자의 스트라이프 높이가 적절한 범위내에 있다는 것을 가정하고 래핑이 중단될 수 있다. 프록시-측정 수단(measurement-by-proxy scheme)을 사용하기 위하여는 제 1 및 제 2 소자의 감도 사이에 공지의 관계가 존재하도록 제 1 및 제 2 소자가 배치되어야 한다.
도 4는 2개의 판독/기록 헤드(402, 404)와 래핑 가이드(406)를 포함하는 다이싱 및 래핑되지 않은 웨이퍼(400)를 도시한다. 판독/기록 헤드(402)는 제 1 자기저항 소자(408)를 포함하고, 래핑 가이드(406)는 제 1 자기저항 소자(408)와 공지된 저항 관계를 가지는 제 2 자기저항 소자(410)를 포함한다. 래핑동안, 제 2 자기저항 소자(410)의 저항값은 모니터링된다. 제 2 저항 소자(410)의 저항값이 소정의 레벨에 도달할 때, 제 1 자기저항 소자(408)의 스트라이프 높이가 적절한 범위내에 있다는 것을 가정하고 래핑이 중단된다. 제 2 저항 소자의 저항이 제 1 자기저항 소자(408)의 스트라이프 높이와 공지된 관계를 가지기 위해서는, 제 1 및 제 2 소자의 상부 에지들이 정렬되어야 한다. 따라서, 래핑동안 제 1 소자 및 제 2 소자의 스트라이프 높이는 동등해야 하며, 제 2 소자의 저항값은 제 1 소자의 스트라이프 높이에 대한 적절한 프록시로서 작용한다. 그러나, 종래기술에 따른 이러한 방법도 문제점을 가진다. 제 1 및 제 2 소자(408, 410) 사이의 거리는 (약 500 미크론 정도로) 비교적 크다. 이러한 큰 거리로 인하여, 제 1 및 제 2 소자(408, 410)의 상부 에지들의 정렬은 필수적으로 큰 공차(tolerance)를 가진다. 이러한 큰 공차는 제 1 소자(408)의 스트라이프 높이를 나타내는 제 2 저항 소자(410)의 정확성을 낮추기 때문에 바람직하지 못하다. 따라서, 제 2 저항 소자(410)는 제 1 자기저항 소자(408)를 위한 신뢰할 수 없는 프록시이다. 그러므로, 소자가 자기저항 방전으로부터 손상될 위험을 가지지 않으면서 제 1 자기저항 소자의 스트라이프 높이를 정확하게 측정하고 제어할 수 있는 수단이 요구된다.
도 1은 종래기술의 판독/기록 헤드를 도시한 것이다.
도 2는 래핑후 자기저항 판독 소자의 확대도이다.
도 3은 래핑전 자기저항 판독 소자의 확대도이다.
도 4는 2개의 판독/기록 헤드와 래핑 가이드를 포함하는, 분리 및 래핑되지 않은 웨이퍼를 도시한 것이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 래핑되지 않은 판독/기록 헤드를 도시한 것이다.
도 6은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 래핑되지 않은 판독/기록 헤드를 도시한 것이다.
도 7은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 래핑되지 않은 판독/기록 헤드를 도시한 것이다.
도 8은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 래핑되지 않은 판독/기록 헤드를 도시한 것이다.
도 9는 도 5 내지 도 8에 도시된 일시예에 사용되는 래핑 프로세스를 제어하는 방법을 도시한 것이다.
본 발명에 따른 방법 및 장치는 전술한 문제점 및 다른 문제점들을 해결한다. 상기 방법은 래핑될 판독/기록 헤드상에 위치하는 제 1 자기저항 판독 소자(주 자기저항 판독 소자)를 접지하는 단계를 포함한다. 그 다음, 판독/기록 헤드상에 위치하는 제 2 자기저항 판독 소자(부 자기저항 판독 소자)에 테스트 신호가 인가된다. 그리고, 제 1 및 제 2 자기저항 소자의 래핑이 시작된다. 이러한 래핑은 테스트 신호가 원하는 특성을 나타낼 때까지 계속된다.
본 발명의 다른 실시예는, (판독/기록 헤드가 배치되는 디스크 드라이브의 동작 동안 데이터를 판독하기 위해 사용되는) 제 1 자기저항 판독 소자를 구비하는 판독/기록 헤드를 포함한다. 판독/기록 헤드는, 또한 제 1 자기저항 판독 소자에 비례하는 크기를 가지며 상기 제 1 자기저항 판독 소자에 인접하여 위치하는, 제 2 자기저항 판독 소자를 포함한다.
이하에서는, 본 발명의 특성을 나타내는 다양한 특징 및 장점을 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
제 2 자기저항 소자를 판독/기록 헤드에 결합시킴으로써 개선된 래핑 가이드가 얻어진다. 제 2 자기저항 소자가 디스크 드라이브의 동작동안 데이터를 판독하는데 사용되는 제 1 자기저항 소자와 동일한 판독/기록 헤드상에 위치하기 때문에, 제 2 소자는 제 1 소자에 매우 근접하게 위치되고, 그 결과 제 1 및 제 2 소자의 상부 에지들의 정렬 또는 관계에 있어 공차들이 더 작아진다. 따라서, 제 2 자기저항 소자는 제 1 자기저항 소자의 프록시로서 더 신뢰성있는 역할을 한다. 선택적으로, 제 2 자기저항 소자는 제 1 자기저항 소자와 동일한 크기를 가지도록 형성되어, 제 2 자기저항 소자가 제 1 자기저항 소자와 동일한 자기 감도를 가질 수 있다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 래핑되지 않은 판독/기록 헤드(500)를 도시한 것이다. 도 5에 도시된 바와 같이, 판독/기록 헤드(500)는 제 1 자기저항 판독 소자(502) 및 제 2 자기저항 소자(504)를 가진다. 제 1 자기저항 판독 소자(502)는 2개의 도전체들(506, 508) 사이에 삽입된다. 제 2 자기저항 소자(504)도 마찬가지로 2개의 도전체들(508, 510) 사이에 삽입된다. 제 1 자기저항 판독 소자(502) 및 제 2 자기저항 소자(504)는 1개의 도전체(508)를 공유한다. 제 1 자기저항 판독 소자(502) 및 제 2 자기저항 소자(504)는 동일선상으로 정렬되는 상부 에지들을 가진다. 대안적인 실시예에서, 각 상부 에지들은 서로 임의의 다른 공지된 관계를 가질 수 있다. 제 3 도전체 쌍(510, 512)은 서로 직접 접촉되며, 도전체들 중 하나(510)는 제 2 자기저항 소자(504)와 공유된다.
래핑동안, 도전체(508), 제 2 자기저항 판독 소자(504), 및 도전체(510)를 통해서 테스트 신호가 흐를 수 있다. 도전체(508) 및 도전체(510) 사이의 최종 전압은 만약 동일한 동작이 제 1 자기저항 판독 소자(502)에 수행되는 경우 검출될 수 있는 전압을 나타낸다. 만약 제 2 자기저항 소자(504)가 제 1 자기저항 소자(502)와 동일하게 형성되고, 도전체(510)가 도전체(506)와 동일하게 형성된다면, 상기 전압은 동일할 것이다. 이렇게 검출된 전압은 도전체들(508, 510)의 저항, 제 2 자기저항 소자(504)의 저항, 및 도전체들(508, 510)과 제 2 자기저항 소자(504) 사이의 접합부들에서 발생되는 저항을 나타낸다. 도전체들(508, 510) 사이의 전압이 제 1 자기저항 판독 소자(502)가 적절한 스트라이프 높이로 래핑되는 것을 나타내는 소정 임계치에 도달할 때 래핑은 중단될 수 있다.
도전체들(510, 512)을 통해 전류가 흐를 수 있다. 이 때, 도전체들(510, 512) 사이의 최종 전압은 이들의 총 저항을 나타낸다. 만약 도전체들(510, 512)이 제 1 자기저항 판독 소자(502)를 둘러싸는 도전체들(506, 508)과 동일하게 형성되면, 발생되는 전압은 이러한 도전체들(506, 508)의 저항을 나타낸다. 따라서, 도전체 저항의 효과를 상쇄하기 위하여, 도전체들(508, 510) 사이의 전압으로부터 도전체들(506, 508) 사이의 전압이 감산될 수 있다. 이렇게 함으로써, (도전체들(508, 510)의 저항이 부가되지 않고) 자기저항 소자(504) 자체의 저항은 래핑의 중단을 결정하는 요소가 될 수 있다. 전술한 차이가 제 1 자기저항 판독 소자(502)가 적절한 스트라이프 높이로 래핑되는 것을 나타내는 소정 임계치에 도달할 때 래핑은 중단될 수 있다.
도 6은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 래핑되지 않은 판독/기록 헤드를 도시한 것이다. 제 1 자기저항 판독 소자(600)는 2개의 도전체들(602, 604) 사이에 삽입되어 있으며, 이러한 도전체들은 도전체 저항의 원인이 되는 제 2 자기저항 소자(606) 또는 도전체 쌍(608, 610)과 공유되지 않는다. 제 1 자기저항 판독 소자(600)를 분리(isolating)시킴으로써 자체 커패시턴트는 감소되고, 따라서 대역폭도 개선된다.
도 7은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 래핑되지 않은 판독/기록 헤드를 도시한 것이다. 제 1 자기저항 판독 소자(700)는 2개의 도전체들(702, 704) 사이에 삽입되어 있으며, 이러한 도전체들은 도전체 저항의 원인이 되는 제 2 자기저항 소자(706) 또는 도전체 쌍(708, 710)과는 공유되지 않는다. 상기 실시예에서, 제 2 소자(706)는 도전체(708, 710)와 분리된다. 제 1 자기저항 판독 소자(700) 및 제 2 자기저항 소자(706)를 분리시키는 이점은 각 도전체-소자-도전체 회로의 기하학적 형상이 동일하게 형성될 수 있다는 것이다.
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예를 도시한다. 도 8에서, 제 1 자기저항 판독 소자(800), 제 2 자기저항 소자(802), 및 각 도전체들은 2개의 자기 실드(804, 806) 사이에 위치한다. 자기 실드(806)는 그 뒤쪽에 놓이는 자기 소자들(800, 802)을 도시하기 위하여 점선으로 표시하였다. 실드(804,806)는 표유(stray) 자기장들의 영향으로부터 자기저항 소자들(800, 802)을 보호한다. 제 1 자기저항 판독 소자(800) 및 제 2 자기저항 소자(802)를 모두 자기 실드(804)상에 배치시킴으로써, 각 상부 에지들의 정렬은 더욱 정확해진다. 이러한 개선된 정확성은 제 1 및 제 2 소자가 동일한 평평한 표면상에 배치될 수 있게 하며, 포토리소그래피에 대한 균일한 광학적 배치를 제공한다. 비록 도 8에서는 실드(804, 806)가 도 7에 도시된 본 발명의 실시예와 연계하여 사용되는 것을 도시하였지만, 실드(804, 806)는 마찬가지로 도 5 및 도 6에 도시된 실시예들과 연계하여 사용될 수 있다.
도 5 내지 도 8에 도시된 본 발명의 실시예는 도 9에서 기술된 방법과 연계하여 사용될 수 있다. 도 9를 참조하여 설명된 상기 방법은 자동 테스트 시스템에 의해 수행될 수 있다. 도 9를 참조하여 설명된 기능은 실험 장비(디지털멀티미터 또는 오실로스코프와 같은)의 회로에 내장될 수 있으며, 또한 이러한 실험 장비를 제어하는 컴퓨터상에 있는 소프트웨어에 내장될 수도 있다.
도 5 내지 도 8에 도시된 실시예들과 함께 사용되는 방법의 일반 구조는 도 9에 도시되어 있다. 도 9에서 알 수 있는 바와 같이, 상기 방법은 오퍼레이션(900)으로 시작되며, 상기 오퍼레이션에서 제 1 자기저항 판독 소자를 둘러싸는 도전체들이 접지되어, 래핑동안 제 1 자기저항 판독 소자 및 슬러리 사이의 정전 방전이 발생하는 것을 최소화한다. 그 다음, 테스트 오퍼레이션(902)에서, 제 2 자기저항 소자에 테스트 신호가 인가되고, 오퍼레이션(904)에서 래핑이 시작된다. 판단 오퍼레이션(906)에서, 테스트 신호가 적절한 스트라이프 높이가 달성되었다는 것을 나타내는 하나 이상의 원하는 특성을 나타내는지를 결정한다. 만약 테스트 신호가 하나 이상의 원하는 특성을 나타내지 않으면, 테스트 오퍼레이션(902)으로 되돌아가고, 다시 래핑 및 테스트가 계속된다. 그렇지 않을 경우, 오퍼레이션(908)에서 래핑이 중단된다. 테스트 오퍼레이션(902) 및 판단 오퍼레이션(906)은 하기와 같이 다양한 단계들로 구현될 수 있다.
일실시예에서, 테스트 오퍼레이션(902)은 제 2 자기저항 판독 소자에 공지 전압의 신호를 인가하는 단계를 포함한다. 래핑이 진행됨에 따라서, (스트라이프 높이가 감소되어, 전류가 흐를 수 있는 단면적이 작아지기 때문에) 제 1 자기저항 소자 및 제 2 자기저항 소자의 저항이 증가하고, 그 결과 전류가 점차 감소된다. 따라서, 상기 실시예에서, 판단 오퍼레이션(906)은 테스트 신호가 원하는 전류 레벨까지 감소되는지를 결정하는 단계를 포함한다.
유사하게, 또다른 실시예에서, 테스트 오퍼레이션(902)은 제 2 자기저항 판독 소자에 공지 전류의 신호를 인가하는 단계를 포함한다. 마찬가지로, 래핑이 진행됨에 따라서, 제 1 자기저항 소자 및 제 2 자기저항 소자의 저항이 증가하고, 그 결과 제 2 자기저항 소자에 대한 전압이 점차 증가한다. 따라서, 상기 실시예에서, 판단 오퍼레이션(906)은 테스트 신호가 원하는 전압 레벨에 도달하는지를 결정하는 단계를 포함한다.
또다른 실시예에서, 테스트 오퍼레이션(902)은 제 2 자기저항 판독 소자를 동적(dynamic) 자기장에 노출시키고 상기 소자에 공지 전류의 신호를 인가하는 단계를 포함한다. 상기 실시예에서, 제 2 자기저항 판독 소자의 저항은 소자가 노출된 자기장 및 현재 감소된 스트라이프 높이의 함수이다. 따라서, 판단 오퍼레이션(906)은 테스트 신호가 제곱평균제곱근(root-mean-square; RMS)값으로 측정되는 원하는 전압 레벨에 도달하는지를 결정하는 단계를 포함한다. 대안으로서, 테스트 오퍼레이션(902)은 제 2 자기저항 판독 소자를 동적 자기장에 노출시키고 상기 소자에 공지 전압의 신호를 인가하는 단계를 포함할 수 있다. 따라서, 이 경우 판단 오퍼레이션(906)은 테스트 신호가 제곱평균제곱근(RMS)값으로 측정되는 원하는 전류 레벨에 도달하는지를 결정하는 단계를 포함한다.
또다른 실시예에서, 테스트 오퍼레이션(902)은 제 2 자기저항 판독 소자를 동적 자기장에 노출시키는 단계 및 제 2 자기저항 판독 소자에 직류 전류(DC) 신호를 인가하는 단계를 포함한다. 상기 실시예에서, 판단 오퍼레이션(906)은 테스트 신호가 DC 오프셋이 없는 전압 프로파일(시간-대-전압 관계)을 가지는지를 결정하는 단계를 포함한다. 대안적으로, 판단 오퍼레이션(906)은 테스트 신호가 DC 오프셋이 없는 전류 프로파일(시간-대-전류 관계)을 가지는지를 결정하는 단계를 포함할 수도 있다.
또다른 실시예에서, 테스트 오퍼레이션(902)은 제 2 자기저항 판독 소자에 공지 전압의 신호를 인가하는 단계를 포함한다. 상기 실시예에서, 판단 오퍼레이션(906)은 테스트 신호가 소정의 전류 레벨 아래로 떨어지는지를 결정함으로써 열적 애스패러티(thermal asperity)를 감지하는 단계를 포함한다. 대안적으로, 테스트 오퍼레이션(902)은 제 2 자기저항 판독 소자에 공지 전류의 신호를 인가하는 단계를 포함한다. 따라서, 상기 판단 오퍼레이션(906)은 테스트 신호가 소정의 임계 전압 이상으로 상승하는지를 결정함으로써 열적 애스패러티를 감지하는 단계를 포함한다.
또다른 실시예에서, 테스트 오퍼레이션(902)은 도전체 저항의 효과를 상쇄하기 위해 사용되는 도전체 쌍에 전류를 인가하는 단계 및 제 2 자기저항 소자에 공지 전류의 신호를 인가하는 단계를 포함한다. 상기 실시예에서, 판단 오퍼레이션(906)은 제 2 자기저항 판독 소자에 대한 전압 및 도전체 쌍에 대한 전압의 차이가 임계 전압을 초과하는지를 결정하는 단계를 포함한다.
본 발명은 전술한 목적 및 장점을 얻을 수 있다. 지금까지 설명한 바람직한 실시예들은 본 발명의 목적들을 위해 기술되었지만, 첨부된 특허청구범위에 정의된 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양한 변형 및 수정이 가능하다는 것을 당업자는 알 것이다.

Claims (20)

  1. 디스크 드라이브에 사용되는 판독/기록 헤드로서,
    제 1 자기저항 판독 소자; 및
    상기 제 1 자기저항 판독 소자에 비례하여 크기가 형성되며, 상기 제 1 자기저항 판독 소자에 인접하여 위치하는 제 2 자기저항 판독 소자
    를 포함하며, 상기 제 1 및 제 2 자기저항 판독 소자는 동일한 판독/기록 헤드에 있고, 상기 제 2 자기저항 판독 소자는 래핑시 프록시로서 사용되는, 판독/기록 헤드.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 2 자기저항 판독 소자는 상기 제 1 자기저항 판독 소자와 동일한 크기를 갖는 것을 특징으로 하는 판독/기록 헤드.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 자기저항 판독 소자는 각각 상부 에지를 가지며, 상기 제 1 및 제 2 자기저항 판독 소자의 상부 에지들은 동일선상에 있는 것을 특징으로 하는 판독/기록 헤드.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 자기저항 판독 소자는 제 1 도전체 쌍 사이에 삽입되며, 상기 제 2 자기저항 판독 소자는 제 2 도전체 쌍 사이에 삽입되고, 상기 제 1 및 제 2 도전체 쌍은 대략적으로 동일한 임피던스들을 갖도록 크기가 형성되는 것을 특징으로 하는 판독/기록 헤드.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 제 1 도전체 쌍은 제 1 도전체 및 제 2 도전체를 포함하고, 상기 제 2 도전체 쌍은 상기 제 2 도전체 및 제 3 도전체를 포함하는 것을 특징으로 하는 판독/기록 헤드.
  6. 제 4 항에 있어서,
    제 3 도전체 쌍을 더 포함하고, 상기 제 3 도전체 쌍은 서로 전기적으로 접촉되며 상기 제 1 및 제 2 도전체 쌍과 대략적으로 동일한 임피던스들을 갖도록 크기가 형성되는 것을 특징으로 하는 판독/기록 헤드.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 제 1 도전체 쌍은 제 1 도전체 및 제 2 도전체를 포함하고, 상기 제 3 도전체 쌍은 상기 제 2 도전체 및 제 3 도전체를 포함하는 것을 특징으로 하는 판독/기록 헤드.
  8. 제 1 항에 있어서,
    제 1 자기 실드; 및
    제 2 자기 실드를 더 포함하고,
    상기 제 1 및 제 2 자기저항 판독 소자는 상기 제 1 및 제 2 자기 실드 사이에 배향되는 것을 특징으로 하는 판독/기록 헤드.
  9. 제 1 항에 있어서,
    자기저항 실드를 더 포함하고,
    상기 제 1 및 제 2 자기저항 판독 소자는 상기 자기저항 실드상에 배치되는 것을 특징으로 하는 판독/기록 헤드.
  10. 원하는 스트라이프 높이를 갖는 제 1 자기저항 판독 소자를 포함하는 판독/기록 헤드의 형성을 위해 적절한 양의 래핑을 결정하는 방법으로서,
    (ⅰ) 제 1 자기저항 판독 소자를 접지하는 단계;
    (ⅱ) 상기 판독/기록 헤드의 제 1 자기저항 판독 소자에 인접하여 위치하는 제 2 자기저항 판독 소자에 테스트 신호를 인가하는 단계;
    (ⅲ) 상기 제 1 및 제 2 자기저항 판독 소자를 래핑하는 단계; 및
    (ⅳ) 상기 테스트 신호의 인가에 의해 상기 제 2 자기저항 판독 소자로부터 결정되는 전기적 특성이 원하는 전기적 특성을 나타낼 때까지, 상기 제 1 및 제 2 자기저항 판독 소자를 계속하여 래핑하는 단계
    를 포함하는 판독/기록 헤드의 형성을 위한 래핑 결정 방법.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 단계 (ⅱ)는 상기 제 2 자기저항 판독 소자에 공지 전압의 신호를 인가하는 단계를 포함하고,
    상기 단계 (ⅳ)는 상기 테스트 신호가 원하는 전류 레벨로 감소될 때까지 상기 제 1 및 제 2 자기저항 판독 소자를 계속하여 래핑하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 판독/기록 헤드의 형성을 위한 래핑 결정 방법.
  12. 제 10 항에 있어서,
    상기 단계 (ⅱ)는 상기 제 2 자기저항 판독 소자에 공지 전류의 신호를 인가하는 단계를 포함하고,
    상기 단계 (ⅳ)는 상기 테스트 신호가 원하는 전압 레벨에 도달할 때까지 상기 제 1 및 제 2 자기저항 판독 소자를 계속하여 래핑하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 판독/기록 헤드의 형성을 위한 래핑 결정 방법.
  13. 제 10 항에 있어서,
    상기 제 2 자기저항 판독 소자를 동적 자기장에 노출시키는 단계를 더 포함하고,
    상기 단계 (ⅱ)는 상기 제 2 자기저항 판독 소자에 공지 전류의 신호를 인가하는 단계를 포함하고,
    상기 단계 (ⅳ)는 상기 테스트 신호가 원하는 전압 레벨에 도달할 때까지 상기 제 1 및 제 2 자기저항 판독 소자를 계속하여 래핑하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 판독/기록 헤드의 형성을 위한 래핑 결정 방법.
  14. 제 10 항에 있어서,
    상기 제 2 자기저항 판독 소자를 동적 자기장에 노출시키는 단계를 더 포함하고,
    상기 단계 (ⅱ)는 상기 제 2 자기저항 판독 소자에 공지 전압의 신호를 인가하는 단계를 포함하고,
    상기 단계 (ⅳ)는 상기 테스트 신호가 원하는 전류 레벨로 감소될 때까지 상기 제 1 및 제 2 자기저항 판독 소자를 계속하여 래핑하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 판독/기록 헤드의 형성을 위한 래핑 결정 방법.
  15. 제 10 항에 있어서,
    상기 제 2 자기저항 판독 소자를 동적 자기장에 노출시키는 단계를 더 포함하고,
    상기 단계 (ⅳ)는 상기 테스트 신호가 직류 오프셋이 없는 전압 프로파일을 나타낼 때까지 상기 제 1 및 제 2 자기저항 판독 소자를 계속하여 래핑하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 판독/기록 헤드의 형성을 위한 래핑 결정 방법.
  16. 제 10항에 있어서,
    상기 제 2 자기저항 판독 소자를 동적 자기장에 노출시키는 단계를 더 포함하고,
    상기 단계 (ⅳ)는 상기 테스트 신호가 직류 오프셋이 없는 전류 프로파일을 나타낼 때까지 상기 제 1 및 제 2 자기저항 판독 소자를 계속하여 래핑하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 판독/기록 헤드의 형성을 위한 래핑 결정 방법.
  17. 제 10 항에 있어서,
    상기 단계 (ⅱ)는 상기 제 2 자기저항 판독 소자에 일정 전압의 신호를 인가하는 단계를 포함하고,
    상기 단계 (ⅳ)는 임계 전류 레벨 아래로 떨어지는 상기 테스트 신호를 검출함으로써 열적 애스패러티(thermal asperity)가 감지될 때까지 상기 제 1 및 제 2 자기저항 판독 소자를 계속하여 래핑하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 판독/기록 헤드의 형성을 위한 래핑 결정 방법.
  18. 제 10 항에 있어서,
    상기 단계 (ⅱ)는 상기 제 2 자기저항 판독 소자에 일정 전류의 신호를 인가하는 단계를 포함하고,
    상기 단계 (ⅳ)는 임계 전압 레벨 위로 상승하는 상기 테스트 신호를 검출함으로써 열적 애스패러티가 감지될 때까지 상기 제 1 및 제 2 자기저항 판독 소자를 계속하여 래핑하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 판독/기록 헤드의 형성을 위한 래핑 결정 방법.
  19. 제 10 항에 있어서,
    그 사이에 상기 제 1 자기저항 판독 소자가 삽입되는 제 2 도전체 쌍과 동일한 임피던스를 가지는 제 1 도전체 쌍에 전류를 인가하여, 상기 제 1 도전체 쌍에 대해 전압을 발생시키는 단계를 더 포함하고,
    상기 단계 (ⅱ)는 상기 제 2 자기저항 판독 소자에 공지 전류의 신호를 인가하여, 상기 제 2 자기저항 판독 소자에 대해 전압을 발생시키는 단계를 포함하며,
    상기 단계 (ⅳ)는 상기 제 2 자기저항 판독 소자에 대한 전압 및 상기 제 1 도전체 쌍에 대한 전압의 차이가 원하는 레벨을 초과할 때까지 상기 제 1 및 제 2 자기저항 판독 소자를 계속하여 래핑하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 판독/기록 헤드의 형성을 위한 래핑 결정 방법.
  20. 디스크 드라이브에 사용되는 판독/기록 헤드로서,
    전기적 특성들을 갖는 제 1 자기저항 판독 소자; 및
    상기 제 1 자기저항 판독 소자의 전기적 특성들을 프록시에 의해 결정하기 위한 수단 - 상기 프록시는 동일한 판독/기록 헤드에서 상기 제 1 자기저항 판독 소자와 인접하여 위치하는 제 2 자기저항 판독 소자임 -
    을 포함하는 판독/기록 헤드.
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