KR100397080B1 - 평면디스플레이검사시스템 - Google Patents

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다니엘 에이치. 스코트
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포톤 다이나믹스, 인코포레이티드
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Abstract

평면 패널 디스플레이를 테스팅하는 개선된 테스팅 시스템 및 방법이 아래에 기술된다. 디스플레이는 디스플레이 양단에 밝기 균일성 검출용 고해상도 카메라 아래에 배치된다. 알리아싱으로 인한 검출된 이메지에서 에러는 카메라에 상대적으로 디스플레이된 이메지를 점차적으로 이동하고 다양히 위동된 위치에서 디스플레이된 이메지를 검출함으로서 본 발명에서 피하게 된다. 정확한 결과 디스플레이는 최대 신호를 발생하는 검출기 화소를 확인함으로 재구성될 수 있다. 단일 이메지는 검출된 최대 화소 신호만을 사용하여 재구성될 것이다. 재구성된 이메지는 알리아싱으로 자유로울 것이다. 재구성된 이메지는 전기적으로 분석될 것이고 디스플레이 패널을 형성하는 화소에서 어떤 아노밀리스는 정확하게 검출될 것이다. 디스플레이 양단에 고르지 않는 밝기로 인한 아노알리스는 디스플레이에서 아노알리스를 제거하고 각각 디스플레이 화소용 디스플레이 드라이브 신호를 영구히 보상하기 위한 특정 디스플레이 패널용 메모리 칩을 프로그램함으로서 수정될 수 있다. 뷰잉각과 색도를 위한 다른 테스트도 또한 실행될 수 있다.

Description

평판 디스플레이 검사 시스템
본 발명은 "평판 화면 검사 시스템"의 명칭으로 1992. 3. 16.에 출원된 USSN 제 07/852,458호의 일부 계속 출원이다.
본 발명은 테스트 시스템에 관한 것이고, 특히 액정 디스플레이(LCD)와 같은 평판 디스플레이를 테스트하기 위한 테스트 시스템에 관한 것이다.
이 테스트 시스템은 LCD와 같은 평판 디스플레이 시스템에서 결함(예를 들면 결점 화소)을 검출하기 위하여 현재 사용되고 있고 일반적으로 디스플레이에 이미지를 발생하는 수단을 이용하여 상기 결과 이미지의 에러를 검출하는 것이다. LCD 테스트기의 한 형태는 아키야마 소유의 미국 특허 제 4,899,105호에 기술되어 있다. 상기 테스트는 상기 언급한 특허 제 4,899,105호에서 사람의 눈으로 디스플레이된 결과 이미지를 통상적으로 계산한다. 디스플레이된 이미지의 분석이 컴퓨터를 사용하여 수행할 수 있도록 사람의 눈 대신에 카메라가 사용될 수 있다는 것은 명백한 것이다. 카메라 검출기 화소 어레이에 포커스되는 평판 디스플레이의 디스플레이 화소가 전형적으로 검출기 화소에 디스플레이 화소의 일대일로 정확하게 상응하지 않기 때문에, 모아레 패턴(또는 간섭 패턴)이 카메라의 출력에 나타날 것이고, 카메라에 의해 검출된 디스플레이된 이미지를 왜곡한다. 이것을 알리아싱(aliasing)이라 한다. 검출된 이미지에서의 알리아싱으로부터 발생된 왜곡된 범위는 평판 디스플레이의 마스크 화소 결함일 수 있다.
테스트 시스템은 디스플레이에서 결함 화소를 테스트하는 것 외에 디스플레이를 통해 화소의 밝기 균일성을 검출하는데도 유용할 수 있다. 그러한 민감한 테스트는 공지된 평판 디스플레이 테스트기를 사용하여 정확하게 수행될 수 없다.
통상적인 평판 디스플레이 테스트기에 의해 검사된 측정은 뷰잉 각 테스트를 포함하는데, 검출기(예를 들면 카메라 또는 작동자 눈)가 디스플레이의 x-y 평면에서 평행하게 이동할 수 있고, 하나 또는 그 이상의 디스플레이 화소의 밝기 또는 어둠 레벨이 측정된다. 이 테스트 방법은 검출된 이미지가 분석되는 동안에 디스플레이 표면 전체를 검출기가 물리적으로 이동하기에는 상대적으로 많은 시간을 요구한다.
선행 기술의 디스플레이 테스트기에서 색도 테스트와 같은 부정확한 테스팅 방법이 있다. 따라서, 평판 디스플레이의 좀더 높은 해상력을 위해, 좀더 정확하게좀더 빠르게 디스플레이 패널의 파라미트를 측정할 수 있는 그러한 디스플레이용 개선된 테스팅 시스템이 필요하다.
평판 디스플레이 테스팅용 개선된 테스팅 시스템 및 방법이 아래에 기술된다.
본 테스트 시스템에서, 작동자는 첫째로 전하 주입 결함(CID) 타입 카메라와 같은 통상적인 높은 해상력 카메라 아래에 검사될 평판 디스플레이를 삽입한다. 카메라에서 검출기 화소의 각각이 디스플레이에서 관련된 화소와 이상적으로 배열되지 않기 때문에, 검출된 이미지를 왜곡시키는 알리아싱이 발생하고 모아레 패턴(또는 간섭 패턴)이 생길 것이다.
본 발명에서 광학 카메라에 상대적으로 디스플레이된 이미지를 점차적으로 이동시키고 다양하게 이동된 위치에서 디스플레이된 이미지를 검출함으로서 알리아싱으로 생긴 에러는 피할 수 있다.
정확한 결과 디스플레이는 각 이동된 위치를 위하여 단일 디스플레이 화소 이미지에 의해 완전히 중첩된 카메라 검출기 화소를 최초로 확인하는 소프트웨어를 사용하여 재구성될 수 있다. 이것은 최대 신호를 발생하는 검출기 화소를 확인함으로서 이루어질 수 있다. 단일 이미지는 검출된 최대 화소 신호만을 사용하여 재구성될 수 있다. 상기 재구성된 이미지는 알리아싱 효과로부터 벗어날 것이다.
재구성된 이미지는 소프트웨어 프로그램을 사용하여 전기적으로 분석될 수 있고, 디스플레이 패널을 형성하는 화소에서 어떤 아노말리스(anomalies)가 정확하게 검출될 수 있다.
디스플레이 양단의 일정하지 않는 밝기 때문에 생긴 아노말리스가 디스플레이 화소가 디스플레이에서 아노말리스를 제거하기 위하여 드라이브 신호를 영구히 보상하는 특정 디스플레이 패널용 메모리 칩을 프로그램함으로서 수정될 수 있다. 그래서 디스플레이 패널은 일정하게 높은 수행 레벨을 이룩할 수 있게 수정될 수 있다.
선택적인 실시예에서 디스플레이된 이미지가 디스플레이 화소의 주기적인 어레이에 의해 형성되는 디스플레이된 이미지를 전기적으로 검출하는 방법을 제공한다. 본 방법은 디스플레이된 화면을 뷰잉하기 위하여 공간적 주기적인 검출 수단을 위치시키는 단계를 포함한다. 상기 검출 수단은 디스플레이 화소의 제 2공간적 주기적 어레이에 의해 형성된 디스플레이된 이미지가 포커스되는 검출기 요소의 제 1 공간적 주기적 어레이와 광 조사의 강도에 상응하는 신호를 발생하는 검출 성분의 각각을 포함한다. 본 방법은 검출기 소자가 디스플레이된 이미지에 상대적으로 제 1 위치에 있을 때 상기 검출기 소자에 의해 발생되는 제 1 신호를 검출하는 단계를 포함하고, 상기 제 1 신호는 제 1 모아레 패턴을 나타낸다. 제 2 위치에 검출기 소자의 라인에 상대적인 축을 따라서 디스플레이된 이미지를 이동하는 단계가 또한 포함된다. 본 방법은 검출기 소자가 디스플레이된 이미지에 상대적으로 제 2 위치에 있을 때 검출기 소자에 의해 발생된 제 2 신호를 검출하는 단계를 포함하고, 제 2 신호는 제 2 모아레 패턴을 나타낼 수 있다. 검출기 소자에 디스플레이된 이미지를 입력함으로서 형성된 제 1 모아레 패턴과 제 2 모아레 패턴 효과를 줄이기 위해 디스플레이 패널의 각각 선택된 포인트에서 검출기 소자에 의해 발생된 제 1 신호및 제 2 신호의 강도 레벨을 평균하는 추가 단계가 사용된다.
상기 실시예에서 본 발명은 디스플레이 화소의 제 1 라인에 직교하는 디스플레이 화소의 제 2 라인을 따라서 검출기 소자에 상대적으로 디스플레이된 이미지를 이동하는 부가적인 단계를 더 포함한다.
디스플레이 화소의 상대적인 강도 레벨을 결정하는 모아레 패턴의 효과가 예정된 레벨에 줄어들 때까지 각 이동 단계후에 검출기 소자에 의해 발생된 신호를 검출하고 평균하는 단계가 또한 포함된다.
디스플레이의 LCD 및 어떤 다른 타입에서, 디스플레이 화소에 인가된 구동 전압이 화소의 뷰잉각에 영향을 끼친다. 그러므로, 어떤 화소의 뷰잉각은 화소의 뷰잉각을 최적화하기 위하여 구동 전압을 보상하기 위하여 디스플레이용 메모리 칩을 프로그램함으로서 본 테스트 시스템을 사용하여 수정할 수 있다.
바람직한 실시예에서, 어떤 필요한 수정을 결정하기 위한 디스플레이의 뷰잉 각을 검출하기 위하여, 평판 디스플레이에 단일 화소가 검출기 화소 어레이가 디스플레이 화소 위의 방향에 광학적으로 위치한 검출용 카메라에 의해 에너지가 인가되고 검출된다. 뷰잉각 대 밝기의 극성 플로트(plot)가 카메라가 정지될 동안에 카메라 화소 어레이 양단에 에너지가 인가된 화소의 검출된 강도로부터 발생된다. 뷰잉각 테스트는 디스플레이의 다양한 부분용 뷰잉각를 선택하기 위한 디스플레이 주변 다수의 대표적인 화소를 위해 바람직하게 이루어진다. 적당한 화소 그룹이 디스플레이 전체 뷰잉각을 최적화하기 위해 화소와 관련된 수정 요소를 가질 수 있다.
디스플레이의 칼라 품질(색도)을 분석하기 위하여, 제 1차 칼라(적색, 녹색청색) 화소가 동시에 하나의 칼라로 에너지가 인가된다. 다수의 조화된 칼라 필터(3자극 필터로 언급)가 각각 제 1차 칼라 화소 그룹용 카메라와 디스플레이 사이에 연속적으로 놓여진다. 각각 화소 칼라(적색, 녹색, 청색)용 3자극값(CIE 표색계를 사용하여)이 발생하고, 각각 디스플레이된 칼라의 품질이 CIE 표준을 사용하여 결정된다.
바람직한 실시예에서, 특별한 테스트기/디스플레이 인터페이스 접속기가 테스트기에 의해 테스트 전극과 평판 디스플레이 주변부 주위에 다수의 정밀하게 피치된 전극 사이에 단순하고 믿을 수 있는 접촉을 할 수 있도록 사용된다.
바람직한 실시예의 상세한 설명
제 1도는 다양하고 새로운 특성이 삽입된 평판 디스플레이 시스템(10)을 나타낸다. LCD와 같이 테스트될 평판 디스플레이(11)가 움직일 수 있는 테이블(12)에 위치되고, 고정된 프레임(14)(제 10도에 더 상세히 도시됨)이 디스플레이 패널(11)의 정위치에 안전하게 놓이도록 내려진다. 전형적으로 x-y 스테이지인 움직일 수 있는 테이블(12)이 전하 주입 장치(CID) 카메라와 같은 카메라(15) 아래에 디스플레이 패널(11)을 쉽게 배치되게 한다. 도시된 바와 같이 테이블(12)은 x-y 스테이지에 의해 x-y 평면에 바람직하게 움직일 수 있고 디스플레이의 정확한 배치를 위한 z평면이다.
x-y 스테이지는 x-방향 및/또는 y-방향에 디스플레이 패널을 움직일 수 있는 어떤 적절한 베이스 유니트일 수 있다. 상기 스테이지는 약 1.0mm/sec에서 20mm/sec의 고속에서 x-방향 또는 y-방향에 연속적인 이동을 포함하고, 약0.5mm/sec에서 1.0mm/sec의 저속 및 약 0.5mm/sec에서 1.0mm/sec의 저속보다 적은 속도를 포함한다. 바람직하게, x-y 스테이지는 x-방향 또는 y-방향에 선택된 차원에서 증가한다. 증가된 차원은 x-방향 디스플레이 패널에 약 400㎛에서 약 5㎛까지 또는 y-방향 디스플레이 패널에 약 400㎛에서 약 5㎛까지 변한다. x-y 스테이지는 x-방향과 y-방향 양쪽에 약 ±5㎛의 정확성(또는 트래킹 오차)을 또한 필요하다. 물론, x-방향과 y-방향에서 정확한 증가 차원은 특정 응용에 좌우된다.
가요성 리본 타입 와이어(16)는 테스트 시스템(10)에서 화소 구동 회로로부터 고정된 프레임(14)의 전도체까지 구동 신호를 공급한다. 고정된 프레임(14) 위의 전도체와 디스플레이 패널(11) 위의 전극 사이의 접촉이 고정된 프레임(14)의 닫힘에 의해 바람직하게 자동적으로 만들어지고, 제 10도 및 제 11도에 참조로 더 상세히 설명된다.
고해상도 카메라(15)는 특히 카메라(15)의 노출을 피하기 위해 테스트 시스템(10)의 상부 몸체(18)내에 삽입된다. 카메라는 바람직하게 1.5K×1.0K 화소를 갖는 인터라인(interline) 전송 CCD이다. 부가적인 카메라는 요구된 해상도 및 뷰잉각을 얻기 위하여 카메라(15)와 함께 사용될 수 있다. 카메라(15), 렌즈(20), 미러(21)는 디스플레이 패널(11)이 테이블(12) 위에 적절히 위치되고 카메라(15) 아래에서 움직일 때 상기 카메라가 디스플레이 패널(11)에서 완전한 이미지가 발생되도록 정렬된다.
카메라(15), 렌즈(20), 미러(21)가 카메라(15)의 z방향에 높이 및 뷰(view)의 필드를 조정하기 위해 움직일 수 있는 지지 구조체(22)에 부착된다. 지지 구조체(22)는 만약 특정 응용에 요구된다면 x-y방향과 같은 수평 방향에 이동할 수 있다. 지지 구조체의 특징은 전술한 x-y 스테이지와 유사하다.
칼라 디스플레이 테스트용 필터 휠(24) 위에 적색, 녹색, 청색 3자극 필터를 포함하는 다수의 선택 가능한 칼라 필터(23)가 렌즈(20) 및 카메라(15) 구경 사이에 위치에서 자동적으로 회전된다. 이 필터(23)는 제 4도 내지 제 7도에서 더 상세히 설명될 것이다.
테스트 시스템(10)은 디스플레이 패널(11)의 뷰잉각 테스트를 실행하기 위하여 CID 카메라, 전하 결합 장치(CCD) 타입 카메라 등을 사용하는 제 2 카메라(25)를 포함한다. 그러한 테스트는 제 8도 및 제 9도에 대하여 상세히 설명된다. 카메라(25)는 디스플레이 패널(11)의 선택된 부분의 위에 카메라(25)를 위치시키기 위하여 x-y로 움직일 수 있는 지지 구조체(26)에 부착된다.
컴퓨터(도시되지 않았음) 및 키보드(27)는 작동자가 키보드(27)를 통하여 디스플레이 패널의 다양한 특성을 확인하고 또는 실행될 특정 테스트를 선택하기 위하여 테스트 시스템(10)에 삽입된다. 컴퓨터는 이미지 데이터를 처리하거나 또는 테스트로부터 데스터 데이터를 콤파일하기 위해 부가적으로 사용된다. 컴퓨터 모니터(28)는 테스트 파라미터 또는 테스트 시스템(10)의 작동 상태를 디스플레이할 수 있다.
테스트(10)의 하부 몸체(30)에 삽입된 라이트 소스(도시되지 않았음)는 디스플레이 패널(11)의 어떤 요구된 백라이팅을 제공하기 위해 사용된다. 그러한 라이트 소스의 예는 트리밴드인 저온 음극 형광 램프이다. 테스트 시스템(10)의 가능한실행의 개략도가 제 2도에 나타나 있다.
제 2도에서 고해상도 CID 카메라(15)의 뷰 필드가 디스플레이 패널(11)의 전체 영역을 커버한다. 카메라(15)와 함께 부가적인 카메라가 만약 큰 디스플레이 패널이 테스트되거나 또는 만약 좀더 높은 해상도가 필요하다면 사용될 수 있다. 라인(32)에 카메라(15)의 출력은 이미지 처리 컴퓨터(34)에 인가될 수 있고, 디스플레이 이미지를 계산하기 위해 카메라(15) 신호를 적절히 처리할 수 있다. 이미지 처리 컴퓨터(34)는 컴퓨터(36)에 의해 제어되고, 모니터와 키보드(38)를 사용하는 작동자와 인터페이스된다.
디스플레이의 어떤 타입으로 공지된 바와 같이, 디스플레이 패널 화소의 밝기는 뷰잉 각도에 의해 민감하게 영향을 받을 수 있다. 카메라 렌즈(20)에 대하여 디스플레이 패널의 다른 뷰잉각에 인하여 디스플레이 밝기 레벨에서 차이를 제거하기 위하여, 제 2도의 라인(32)에 화소 카메라 검출기에 의해 출력된 신호는 디스플레이 패널 화소의 검출된 밝기 레벨에서 뷰잉각의 어떤 효과를 제거하기 위하여 디지탈 기술에 의해 보상될 수 있다.
디스플레이 패널의 특정 타입을 위한 테스트 프로그램은 컴퓨터(36)에 프로그램되고 신호를 디스플레이 패널 드라이브(40)에 인가하는 테스트처리를 자동적으로 제어한다. 전도체(41)(제 1도에 가요성 리본(16)에 도시된 바와 같이)는 제 1도에 나타난 고정된 커버(14) 및 궁극적으로 디스플레이 패널(11)위의 전극에 드라이브 출력 신호를 제공한다.
각각 디스플레이 패널용 테스트의 결과는 테스트 데이터 파일(42)에 기록된다. 이것은 어떤 트랜드에서 결함 또는 비균일성이 제조 과정에서 검출되고 수정될 수 있게 한다.
테이블(12)에 놓여진 라이트 블로킹 타입 LCD 디스플레이 패널을 위해, 백 사이드 라이트 소스(44)가 사용된다. 디스플레이 화소 차체가 인을 방출하는 디스플레이는 백라이트를 요구하지 않는다.
테이블(12)에 놓여진 디스플레이 패널(11)은 랩탑 컴퓨터에 연결되기 이전의 완성된 패널이거나 또는 완전히 제조되지 않는 패널일 수 있다. 이것은 디스플레이 제조자가 만약 디스플레이 패널이 사양서에 들어가지 않는다면 추가 제조 비용이 줄일 수 있고 디스플레이 패널에서 어떤 결함을 수정할 수 있다. 그러한 완성되지 않는 디스플레이의 테스팅은 디스플레이 패널의 제조에서 여러 가지 점에서 사양서를 확실하게 한다.
첫 번째 테스트로서 자동 테스트 시스템(10)은 디스플레이 화소 밝기 균일성 테스트를 실행하게 프로그램될 수 있고, 밝기 불균일성을 수정하기 위한 화소 구동 전압의 각각을 위한 필요한 조정을 계산할 수 있다. 상기 테스트는 첫째로 디스플레이 패널의 화소의 각각의 상대적 밝기를 결정할 수 있다. 그러한 테스트를 위하여, 테스트 시스템(10)은 화소에 에너지를 인가하고 검출될 이미지를 디스플레이하고 디스플레이 패널 위의 전극에 전압을 인가해야 한다. 그러나, 쉽게 이용 가능한 전자 카메라로 정확하게 검사될 고해상도 디스플레이를 위해 알리아싱의 이미지 왜곡 효과를 제거할 필요가 있는데, 알리아싱은 디스플레이 화소가 각각의 디스플레이 패널의 화소로 균일하게 배열되지 않는 검출기 화소를 갖는 카메라 검출기 어레이로 이미지될 때 발생된다.
알리아싱은 카메라 어레이에 의해 발생하는 이미지 전압 신호의 주기적인 변조인 모아레 패턴(간섭 패턴)으로 나타날 수 있는 잘 알려진 현상이다. 모아레 현상은 디스플레이 화소가 카메라 검출 화소에 정확하게 일대일 상응하게 맵핑되지 않기 때문에 생긴다. 만약 상기 맵핑이 정확히 일대일 상응하지 않다면, 어떤 디스플레이 화소와 관련된 광자는 카메라 어레이의 감지되지 않는 부분으로 떨어질 것이고, 역으로, 디스플레이 화소 사이에 "스트리트 및 얼레이스"가 카메라 어레이의 감지되는 영역에 이미지화될 것이다. 제 3도에 나타난 바와 같이 이것의 결과는 디스플레이 화소의 상대적 밝기 레벨을 왜곡하는 모아레 패턴에서 야기되는 최적의 화소 관계보다 못하다.
테스트 시스템(10)은 알리아싱으로 인하여 검출된 이미지에 어떤 불정확성을 제거하기 위하여 특정 다중 프레임 이미지 변환 기술을 이용한다.
제 3도는 더 작고 조밀하게 배치된 카메라 검출기 화소(52)로서 일대일 상응하게 맵핑되지 않는 포커스된 패널 화소(50)으로부터 생길 수 있는 모아레 패턴의 표본을 나타낸다.
제 3도에 나타난 바와 같이 화소(54)와 같은 어떤 카메라 검출기 화소(52)는 단일 디스플레이 패널 화소 이미지(56)에 의해 완전히 중첩된다. 결과적으로, 단일 화소 카메라 검출기 화소(56)를 완전히 중첩하는 이들 디스플레이 패널 화소(56)는 이미지가 부분적으로 2개의 인접 카메라 검출기 화소(52) 사이에 떨어지는 화소 (58)와 같은 디스플레이 패널 화소보다 밝은 카메라 검출기 화소에 의해 검출될 수있을 것이다. 만약 단지 단일 디스플레이 이미지가 계산된다면 제 3도의 모아레 패턴으로 인하여 어떤 디스플레이 패널 화소의 밝기는 다른 디스플레이 패널 화소보다 밝은 것으로 불정확하게 검출될 것이다.
디스플레이 패널의 밝기 균일성을 검출용 테스트 시스템(10)에 의해 사용된 특별한 실시예에서, 상기 디스플레이 화소의 첫 번째 검사는 제 3도에 도시된 배열과 같은 디스플레이 패널 이미지 및 상기 카메라 화소 어레이의 제 1 배열에 연결된다. 상기 제 1 배열용 카메라 검출기 화소(52)의 각각에 의해 발생된 신호의 밝기 레벨(예를 들면 강도)이 신호의 밝게 레벨을 올려 주는 특정 디스플레이 화소로 교차 참조이고 그러면 컴퓨터(36)(제2도)내의 메모리로 맵핑된다. 적절한 맵핑 기술은 당업자에게 공지될 것이다.
디스플레이 패널의 밝기 균일성을 검출하는 제 2 단계는 디스플레이 패널 또는 광학 카메라의 물리적 이동에 의해서 혹은 반사 미러(21)의 각을 변화함으로서 카메라 검출기 화소(52)에 상대적으로 서서히 이동한다. 상기 이동 후에 디스플레이 패널의 다른 이미지가 검출되고 메모리로 맵핑된다. 모아레 패턴은 제 3도에 나타난 것보다 약간 다를 것이다.
디스플레이 패널 이미지는 카메라 검출기 화소에 상대적으로 다시 이동된다. 이 과정은 어떤 검출 스테이지 중에 디스플레이 화소의 이미지내에 완전히 배치된 카메라 검출기 화소에 의해 검출될 때까지 반복된다. 디스플레이 화소 이미지내에 완전히 배치된(예를 들면 디스플레이 화소 이미지에 의해 완전히 중첩된) 카메라 검출기 화소는 디스플레이 화소의 정확한 상대적 밝기 레벨을 검출할 것이다.
제 3도에서, 카메라 검출기 화소에 대해 디스플레이 패널 이미지의 요구된 이동수는 왼쪽 또는 오른쪽으로 4개의 작은 증감 이동과 제 3도에서 모아레 패턴이 반복되기 전에 위쪽 또는 아래쪽으로 4개의 작은 증감 이동을 포함할 수 있을 것이다. 더 바람직한 실시예에서, 카메라는 거리 x1에서 제 1x방향, 거리 x2에서 제 2x방향, 거리 y1에서 제 1y 방향, 거리 y1에서 제 1y 방향 디스플레이 패널상의 제로 포인트에 상대적으로 배치된다. 거리 x2에서 제 (-x)방향 또는 2x1과 같고, 그리고 거리 y2는 거리 제 (-y) 방향 또는 2y1과 같다. 요구된 이동의 수와 이동의 크기는 디스플레이 화소의 각각이 디스플레이 화소의 투영된 이미지에 완전히 배치된 카메라 검출기 화소에 의해 검출되게 할 필요가 있을 것이다. 그러면 단일 맵은 전체 디스플레이와 관련된 최대 강도 신호만으로 만들어진다. 이 정보는 전체 디스플레이를 분석하기 위해 사용된다.
상기 언급된 방법은 특정 실시예로 생각된다. 선택적인 실시예에서 모든 이동 증가후에 각각 디스플레이 화소와 관련된 최대 강도 비를 결정하고 단일 맵으로 최대 강도 비를 맵핑하는 제 1 단계는 디스플레이 화소 이미지와 상응하는 어떤 부분을 수신하는 카메라 검출기 밝기 레벨 출력 신호, 모든 이동 증가를 단순히 평균하는 것이다.
증가 이동을 통하여 각 디스플레이 화소용 상기 평균 강도 레벨은 각 디스플레이 화소가 정확히 상대적인 강도 레벨은 각 디스플레이 화소가 정확히 상대적인 강도 레벨과 관련되도록 맵핑될 것이다.
선택적인 바람직한 실시예에서, 본 발명은 모아레 간섭 패턴의 주기적인 변조를 평균하기 위해 몇몇 이미지의 사용을 이용한다. 본 방법은 주기적인 변조를 포함하는 디스플레이 패널 제 1 이미지로부터 포착 단계를 포함한다. 제 1 이미지는 CCD 타입 카메라 등에 의해 포착되어 표준 맵핑 기술을 통하여 메모리에 바람직하게 저장된다.
디스플레이 패널에 상대적으로 CCD 카메라를 배치하는 단계가 수행된다. 상기 디스플레이 패널이 CCD 카메라 어레이에 상대적으로 x-방향 및 y-방향에 배치된다. 선택적으로, CCD 카메라는 패널에 상대적으로 x-방향 및/또는 y-방향에 배치된다. 선택적으로, CCD 카메라 및 패널이 CCD 카메라와 패널 사이의 상대적 공간 배치를 만들기 위하여 x 및 /또는 y 방향에 배치된다. CCD 카메라와 패널 사이의 상대적 배치는 x-방향에 배치가 발생할 때 x-방향에 패널 디스플레이 화소 주기의 약 1/2이다. 선택적으로 CCD 카메라와 디스플레이 패널 사이의 상대적 공간적인 변위는 y 방향에 변위가 발생될 때 y 방향에 패널 디스플레이 화소 주기의 1/2이다. CCD 카메라와 디스플레이 패널 사이의 상대적 공간적인 변위는 x 또는 y 방향에 패널 디스플레이 화소 주기의 1/2이다.
바람직한 실시예는 패널의 제 2 이미지를 포착하는(또는 습득) 단계를 포함하고, 표준 맵핑 기술을 이용하여 제 2 이미지를 메모리에 저장한다. 제 2 이미지가 제 1 이미지와 동일한 주기로 동일 주기 변조를 포함한다. 제 2 이미지의 주기 변조의 변위는 변위 단계를 이용하여 제 1 이미지에 상대적으로 x방향 또는 y방향중 하나에 주기의 1/2에 의해 변위될 것이다. 물론, 주기 변조의 변위는 제 1 이미지 습득 단계에 디스플레이 화소의 상대적인 위치에 다른 디스플레이 화소에 위치될 수 없다.
차례로 제 1 및 제 2 이미지를 부가하는 단계는 표준 이미지 처리기술을 사용하여 수행된다. 주기 패널은 서로 효율적으로 상쇄되고 패널에서 "리얼" 변조가 저장된다. 이미지의 어떤 수는 아래의 기준을 충족시키는 한 서로 부가될 수 있다. 바람직하게도, 이미지의 수는 적어도 2개, 더 바람직하게도 이미지의 수는 2개 및 더 많거나, 더 바람직하게도 이미지의 수는 4개 및 더 많다. 더 바람직하게도 이미지의 수는 4개 및 더 많다. 더 바람직한 실시예에서, 카메라는 거리 x1에서 제 1x 방향, 거리 x2에서 제 2x 방향, 거리 y1에서 제 1y 방향, 거리 y2에서 제 2y 방향에서 디스플레이 패널에서 제로 포인트에 상대적으로 변위된다. 거리 x2는 거리(-x) 또는 2x1과 같고, 거리 y2는 거리(-y) 또는 2y1과 같다. 얻어진 각각 이미지는 x 방향 또는 y 방향 또는 x 방향 및 y 방향에서 1/2 패널 화소 주기의 상대적 변위를 가진 매칭 이미지(또는 보상 이미지)이어야 한다. 선택적으로 카메라는 x 방향전에 y 방향 또는 2개의 결합에서 변위될 수 있다.
선택적인 특정 실시예에서, 본 발명은 필터링에 의해 디스플레이 패널 이미지 신호로부터 주기 변조를 줄어들거나 심지어 제거하는 방법을 제공한다. 본 방법은 디스플레이 패널 이미지 신호로부터 공간적인 필터에 의해 변조된 신호의 필터링 단계를 포함한다. 변조된 신호 주기는 디스플레이 패널 화소 주기 및 공간 영역에 CCD 화소의 주기로부터 결정된다. 이미지 처리기(및 컴퓨터)는 공간적 필터가 주기 변조를 제거하기 위하여 설계된 폭의 필터를 가진 CCD 신호를 회전함으로서 디스플레이 패널 이미지 신호를 수행하게 한다. 선택적으로 공간적인 영역에서 주파수 영역까지 CCD 신호는 퓨리에 변환 같은 기술을 사용한다. 모아레 타입 패턴의 주파수는 CCD 화소 및 FPD 화소의 주기로부터 계산될 수 있다. 밴드 패스 필터링과 같은 기술은 모아레 방해 패턴을 포함하는 선택된 주파수를 제거하기 위해 사용될 수 있다.
디스플레이 화소의 각각에 대한 정확한 상대적인 강도는 상기 언급한 기술의 어느 것을 사용하여 메모리로 맵되고, 바람직한 다음 단계는 디스플레이 패널 양단에 밝기 균일성을 분석하는 것이고, 그러면 어떤 밝기 불균일성을 수정하기 위한 단계로 들어간다. 하나의 실시예에서, 이것은 최소 디스플레이 화소 밝기 단계를 검출함으로서 수행되고, 다른 디스플레이 화소 밝기의 수정을 위한 베이스라인으로서 최소 밝기를 사용한다. 보상 요소는 디스플레이 화소 드라이빙 전압의 각각을 위해 계산된다.
이 보상 요소는 제 2도의 컴퓨터(36)에 배치된 조사표에 부가된다. 상기 조사표에서 이 요소들은 제 2도의 보상 제어 회로(64)를 통하여 디스플레이 드라이브에 인가될 수 있고 최소 밝기 화소의 요소와 매치하기 위하여 감쇄될 필요가 있는 밝기 레벨을 가진 이 화소들을 위하여 보다 낮은 드라이브 전압에 인가될 수 있다. 디스플레이된 이미지는 상기 언급된 동일 처리를 사용하여 다시 검출되고, 밝기 레벨은 어떤 불균일성을 결정하기 위하여 다시 측정된다. 밝기 균일성을 수행하기 위하여 상기 처리는 요구된 밝기 불균일성이 확립될 때까지 되풀이될 수 있다.
다른 기술들이 최소 밝기 레벨을 매치하기 위한 모든 화소의 밝기 레벨을 낮추기 위하여 관련된 상기 언급한 방법을 대신할 수 있다는 것을 당업자는 이해할수 있을 것이다. 하나의 선택적인 기술을 평균 디스플레이 화소 밝기 레벨을 결정할 수 있을 것이고, 그러면 이 평균 밝기 레벨을 매치하기 위하여 각각 디스플레이 화소 밝기 레벨을 상승 또는 하강할 수 있다. 베이스 라인과 같은 평균 밝기 레벨을 사용한 선택적인 기술은 만약 화소 결정(예를 들면 제조 밝기 단계를 가진 하나 또는 더 이상 화소)이 있다면 바람직할 것이다.
상기 언급한 반복적인 처리에 선택적인 기술로서, 디스플레이 양단에 밝기 균일성 측정 동안에 상기 디스플레이에서 선택된 화소용 디스플레이 화소 드라이브 전압 계속적인 증가를 대신하기에 바람직할 수 있다. 밝기 균일성 측정의 선택적인 처리는 카메라 검출기 화소에 상대적으로 디스플레이 이미지의 이동된 위치에 유도될 수 있을 것이다. 각 이미지 이동에 조정될 수 있는 디스플레이에서 선택된 화소는 제 3으로 나타난 모아레 패턴의 효과를 피하기 위하여 단일 카메라 검출기 화소를 완전히 중첩하는 이미지를 갖는 것으로 될 수 있다. 모든 이미지 이동후, 모든 디스플레이 화소들은 소정의 동일 밝기 레벨을 가져야 한다.
만약 디스플레이 화소가 빛을 분산 또는 만약 디스플레이 화소 자체가 빛을 방출하는지에 따라서 화소 어둠 레벨이 화소 밝기 레벨을 위해 대치될 수 있다.
디스플레이 화소의 각각에 대한 마지막 보상 요소는 조사 테이블에 저장되고, 이 보상 요소들은 특정 디스플레이 패널 테스트를 위해 에롬(errom)칩(66)(제 2도)에 다운 로드될 수 있다. 상기 에롬(errom)(66)은 테스트 시스템(10)에 연결된 형태일 수 있고 디스플레이 패널 양단에 일정한 밝기를 이룩하기 위해 디스플레이 드라이브 신호의 보상을 영구히 제어하기 위하여 특정 디스플레이 패널용 시스템에장착된다.
LCD 패널과 같은 디스플레이 패널의 어떤 타입에 대해 에너지를 인가되는 화소 전압은 화소 소자의 어떤 각이 밝게(또는 어둡게) 보이게 하는 효과를 나타내게 한다. 그래서, 디스플레이 패널위의 이미지가 밝기 보이는 각은 세트하기 위하여 각각의 화소에 대해 에너지가 인가된 전압을 조정하는 화소 구동 전압을 보상하기 위한 상기 기술을 사용함으로 가능하다. 의도된 뷰이어는 항공기 조종실과 같은 특정 응용에 디스플레이 패널을 직접 직면하지 않는 것이 바람직하다.
상기 밝기 균일성 테스트는 디스플레이 화소가 베이스라인 레벨에서 밝기 레벨을 세트하기 보다는 가장 큰 균일 콘트라스트 비(밝기 대 어둠비)를 갖도록 사용된다. 디스플레이 패널 양단에 일정 콘트라스트 비를 이룩하기 위해, 화소의 최대 밝기 뿐만 아니라 화소의 최대 어두움도 측정되어야 하고 보상 요소가 밝기 균일성과 어두움 균일성을 위해 발생되어야 한다.
모든 이미지 처리 및 다른 분석은 디지탈 기술을 사용하여 실행될 수 있고, 퓨리에 전환은 신호를 특성화하기 위하여 사용될 수 있다.
디스플레이 패널에서 화소 결함과 다른 결함(예를 들면 단락 또는 오픈 전도체)이 한계치 값 아래의 화소 밝기 레벨을 검출함으로서 쉽게 검출될 수 있다. 그러한 결함은 테스트 시스템(10)과 고정된 결함에 의해 확인될 수 있고, 디스플레이 패널이 이산될 수 있다. 그러한 고정된 결함을 인에이블하기 위해, 화소 소자와 전도체가 노출된 제조 스테이지 중에 디스플레이 패널을 테스트하기 위해 재추천된다.
테스트 시스템(10)은 어떤 결함있는 디스플레이 부분에 테스트 시스템(10)에 의해 자동적으로 지적하는 특정 카메라 및/또는 줌 렌즈를 포함할 수 있고, 결함있는 부분의 수정에 도움이 되게 사진을 찍을 수 있다. 디스플레이 패널에 결함이 수정 방법은 본 양수인에 의해 양도된 공동 계류-중인 미국 출원번호 제 07/716,592호에 기술되어 있다.
제 1도에 컬러 디스플레이, 컬러 필터(23)가 밝기 레벨 적색, 녹색, 청색 디스플레이 패널 화소의 색도을 검출하기 위해 사용되고 제 4도에 나타난 바와 같이 각각 에너지를 인가한 할 수 있는 적색(R), 녹색(G), 청색(B) 화소를 갖는 칼라 디스플레이 패널 양단에 밝기 균일성을 검출하기 위하여, 단일 화소 칼라는 동시에 에너지가 인가된다. 예를 들면, 제 4도에서, 단지 적색 화소(70)는 디스플레이 패널(72)에 최초로 에너지가 인가될 것이다.
제 1도에서 필터 휠(24)은 제 5도에 더 상세히 나타난다. 제 4도에서 적색 화소(70)의 밝기(색도가 아니고)를 검출할 때, 필터 휠(24)은 좁은 밴드 패스 적색 필터(74)가 카메라 렌즈(20)와 카메라(15) 구경 사이에 놓여지기 위하여 위치된다. 디스플레이 양단 이미지는 알리아싱 효과를 피하기 위하여 상기 언급된 증가 이동 기술을 사용하여 검출된다. 칼라 디스플레이에서, 카메라 검출기 화소 어레이에 이미지된 디스플레이 화소가 단일 검출기 화소보다 더 작게 발생할 것이고, 각 칼라 디스플레이 화소의 신호 대 잡음(S/N)비는 상대적으로 작을 것이다.
동일 시간에 알리아싱 효과를 피하는 동안에 S/N 비를 증가하기 위하여, 카메라 검출기 화소에 의해 출력된 평균 강도 값이 증가된 이동의 소정된 수 후에 잡힌다(이것은 이전에 언급된 바와 같이, 단일 이동용 최소 화소 강도로 맵핑하기 위한 콘트라스트이다). 이 평균값은 메모리로 맵핑될 것이고, 칼라 디스플레이에 적색 화소의 상대적인 밝기를 정확히 반사될 것이다.
어떤 비균일성 밝기는 제 2도와 함께 이전에 언급된 방법을 사용하여 수정될 수 있고 화소 결함은 나타날 것이다.
다음 단계에서, 모든 녹색 화소는 에너지가 인가되고 상기 디스플레이된 이미지는 제 5도에 나타난 좁은 밴드패스 필터에 의해 제거된다. 밝기 레벨 검출 처리는 적색 화소에 대하여 상기 언급한 것과 이상적인 방법으로 반복된다.
상기 처리는 제 5도에 청색 화소가 청색 필터(78)에 의해 제거되도록 반복된다. 그래서, 칼라 디스플레이에서 적색, 녹색 및 청색 화소의 밝기 레벨은 알리아싱의 효과없이 정확히 측정될 수 있고, 만약 필요하면 테스트 시스템(10)을 사용하여 수정될 수 있다.
단일 색도 디스플레이에서, 제 5도의 필터 휠(24)은 개구부(80)가 렌즈(20)와 카메라(15) 구경 사이에 있도록 세트될 수 있다.
제 2 필터 휠은 고 밝기 디스플레이 패널로부터 밝기를 감쇄하기 위해 중간 밀도 필터(예를 들면 그레이의 그림자)를 제공하기 위하여 필터 휠(24) 정면에 배치될 수 있다.
칼라 디스플레이 패널의 색도를 테스트하기 위하여 3자극 필터(82,84,86,88)는 4개의 제 1차 3자극 커브 x(λ)(90,92), y(λ)(94), 및 z(λ)(제 6도에 나타난 바와 같이)의 각각에 대해 CIE 표색계 3자극 스펙트럼 응답을 매치하기 위하여 카메라(15)의 스펙트럼 응답을 변형하기 위해 사용되었다. 제 6도에 나타난 3자극 스펙트럼 응답은 다양한 빛의 파장에 사람 눈의 민감성을 고려한다. 제 6도에 나타난 CIE 표색계 및 스펙트럼 3자극 커브가 1982 캐나다 윌레이, 제 3장 위제커의 제목 "칼라 과학 : 개념과 방법, 양자화데이타와 공식" 책에 제공된다.
테스트 시스템(10)에 의해 실행되는 색도 테스트는 칼라 디스플레이 패널에서 적색, 녹색, 청색 화소에 의해 방출되는 적색, 녹색 및 청색의 품질 또는 순도를 결정한다. 제 6도에 도시된 3자극 스펙트럼 응답(90,92,94,96)을 이룩하기 위해 어떤 디스플레이된 칼라는 검출된 3자극 값에 의해 결정될 수 있다. 제 6도의 3자극 스펙트럼 응답을 인가하는 예로서 단지 적색 화소가 에너지를 인가될 때, 어떤 칼라 디스플레이 패널 이미지의 칼라 품질을 결정하기 위하여, 카메라(15)의 출력이 x(λ) 필터(82)를 사용할 때 0.5의 3자극값에 상응하고, y(λ) 필터(86)를 사용할 때 0.2의 3자극값과 상응하고 x(λ) 필터(84) 및 z(λ) 필터(88)를 사용할 때 제로값에 상응할 수 있다.
3자극 값이 얻어지면, 좌표(x,y,z)는 제 7도의 x-y CIE 색도 도에 이 값을 그리기 위해 계산된다. x,y, 및 z의 값은 다음과 같이 계산된다.
상기 언급한 3자극 값을 사용하여, X는 약 0.71로 계산되고, Y는 약 0.82로 계산되고 Z는 0으로 계산된다.
이 색도 좌표는 테스트중인 칼라 디스플레이 패널에서 하나 또 더 이상의 화소에 의해 디스플레이된 적색 칼라 이미지는 실제로 순수 적색을 나타내도록 제 7도에 X-Y CIE 색도 도에 포인트(97)로서 그려진다.
당업자의 하나가 상기 3자극 값에 제공된 정보 배경을 알 수 있을 것이다. 부가적으로 상세한 것은 위스제키에 의해 상기 언급한 책에서 알 수 있다.
실재 응용에서, 파장의 범위는 칼라 디스플레이 패널 화소에 의해 방출될 수 있을 것이고, 그러한 범위는 제 7도의 블록도에 그려질 때 작은 원 또는 타원형로서 그려진다. 상기 원 또는 타원형의 위치 및 크기는 디스플레이된 화소 영상의 품질을 결정할 것이다. 3자극 값의 결정 및 제 7도의 블록도에 좌표를 그려짐이 사람의 계산과 손으로 그려질지라도 이 값의 결정과 그들의 특징을 테스트 시스템(10)의 소프트웨어에 의해 수행된다. 만약 바란다면 제 7도에 나타난 플로트는 단일 화소 또는 전체 디스플레이 패널용 테스트 시스템(10)에 의해 실제로 그려진다. 그렇지 않으면, 칼라 디스플레이의 단순한 레이팅(rating)은 테스트 시스템(10)에 의해 제공된다.
테스트 상태인 디스플레이에서 적색 화소에 의해 방출된 적색의 순수성을 결정하기 위해 사용된 상기 언급된 처리는 칼라 디스플레이 패널에서 녹색 화소 및 청색 화소용으로 실행되고, 유사한 분석이 칼라 디스플레이 패널의 녹색 및 청색 디스플레이 품질을 결정하기 위해 수행된다.
칼라 디스플레이 패널에서 각각의 개인의 화소의 칼라 출력의 품질이 컴퓨터(36)의 메모리에 맵핑될 수 있다(제 2도). 맵핑된 데이터는 칼라 디스플레이 패널에서 화소의 각각의 품질을 결정하기 위해 칼라용 제조자 사양서와 비교될 수 있다. 그러한 칼라 품질의 결정이 각 화소용 또는 디스플레이의 선택된 부분용 또는 전체 디스플레용이 될 수 있다.
바람직한 실시예에서, 3자극 필터(82,84,86,88)는 흡수 타입이고 필터물질은 광학적으로 품질이 우수한 유리이다. 필터는 광학 제조 기술 오차를 사용하여 제조된다. 제 6도에 나타난 표준 이론 3자극 스펙트럼 응답에 정확히 매치를 이룩하기 위해, 4개의 3자극 필터(82,84,86,88)의 각각은 다른 두께 및 스펙트럼 통과를 갖는 몇몇 다른 필터 유리의 층단이다. 비정상 입사에서 필터를 통하여 광선이 통과하기 위해, 흡수 필터의 통과는 광학 통로 길이의 증가를 인하여 변할 것이다. 그러나, 색도 좌표가 칼라 좌표의 정상기능이기 때문에, 모델링을 통하여 만약 전송에서 변화 퍼센트가 색도 좌표에 에러가 없을 각각 필터(및 그것은 광선이 동일각에서 각 필터에 입사하기 때문에 그럴 것이다)에 대해 동일하다.
이것은 넓은 영역의 이미지에 광학 시스템이 큰 입사각을 빛에서 가져야 하기 때문에 중요하다. 이 기술을 사용하여, 70,000㎟까지 및 초과하여 넓은 면적의 색도 측정을 수행하는 색도계를 이룩한다.
광학 시스템에서 오차는 카메라(15)의 정면의 가까운 곳에 필터를 놓음으로서 최소화한다. 오차의 최소화는 광학 시스템의 해상도를 증가할 것이다. 특히 LCD 패널용으로 테스트 시스템(10)에 의해 수행되는 다른 테스트는 뷰잉각 특성 테스트이다. 잘 알려진 바와 같이, LCD 패널에 디스플레이된 이미지용 효율적인 뷰잉각이 상대적으로 제한되고 LCD 패널의 유용성에 영향을 끼칠수 있다.
디스플레이 패널의 뷰잉각을 검출하기 위한 통상적인 전기적 방법은 이미지의 밝기 레벨이 최대 밝기의 어떤 퍼센트에 떨어지는 것을 검출하기 위한 디스플레이 패널에 상대적으로 검출기(사람 눈일 수 있는)의 각을 움직이는 것이다. 제 8도는 제 1도의 자동 테스트 시스템(10)에 수행되는 개선된 뷰잉각 특성 방법을 나타낸다.
제 8도에서 단일 화소(100)는 디스플레이 패널(102)에 에너지가 인가된다. 제 1도에서 카메라(25) 위의 렌즈(104)는 화소(100)에서 카메라 화소 어레이(108)로 방출되는 모든 빛이 포커스되기 위해 사용된다.
바람직하게도, 렌즈(104)는 화소(100)의 이미지가 카메라 화소 어레이(108)에 가까이 배치될 수 있도록 뒤를 맞대고 위치한 1개의 무한대 교정된 현미경 대물렌즈를 포함한다. 만약 패널(102)이 반사형 LCD라면, 렌즈(104)는 반사되는 효율적인 어두움을 포커스하기 위해 사용되고 라이트 소스는 LCD 위 또 LCD 아래에 부착될 것이다. 필드 스톱(110)은 화소(100)의 뷰잉각을 측정하기 위하여 효율적인 각이 뷰의 필드를 제한하기 위하여 사용된다.
화소 이미지는 카메라 화소 어레이(108)에 포커스되고 어레이(108)내의 각각 화소는 화소 이미지의 검출된 밝기에 상응하는 신호를 출력한다. 화소 어레이(108)화소(100)에 상대적으로 고정되는 동안에, 실제적으로 전체 화소 어레이(108) 영역은 단일 디스플레이 화소(100)의 뷰잉각 대 밝기 레벨을 직접 맵핑하기 위해 사용된다. 요구되는 간섭 패턴은 상기 방법을 사용하여 발생되지 않는다. 어레이(108)의 중앙 부분에 위치한 최대 밝기 레벨은 어레이(108)에서 밝기 레벨이 예를 들면 최대 밝기의 50%으로 떨어지는 것을 결정하기 위하여 어레이(108) 주위에 검출된 다른 밝기 레벨에 비교될 수 있다. 제 2도에서 컴퓨터(36)와 같이 컴퓨터는 이미징 처리기(34)와 결합하여 제 9도에 나타난 바와 같이 밝기 레벨 대 만일 화소(100)용 뷰잉각의 극성 플로트를 효과적으로 발생한다. 극성 플로트는 테스트 데이터 파일(42)에 저장될 것이고 밝기 레벨 대 뷰잉각을 시각적으로 조사하기 위하여 하나를 인에이블하기 위해 프린트된다.
선택적으로, 뷰잉각을 위한 소정된 기준은 컴퓨터에 의해 내부적으로 발생된 극성 플로트를 비교할 수 있고, 뷰잉각은 작동자에게 단순히 통과/실패로 알 수 있게 한다.
바람직하게도, 제 8도에 디스플레이 패널(102) 주위에 다수의 각각 화소(100)가 디스플레이 패널(102)을 통하여 선택된 영역을 위한 대표적인 뷰잉각을 얻기 위하여 측정된다. 이것은 전체 디스플레이 패널(102)의 뷰잉각에 가까워지고 전체 디스플레이의 극성 플로트를 발생하기 위하여 사용될 수 있다.
다른 렌즈 및 카메라 장치는 제 1도 및 제 8도의 구성을 대신하여 사용될 수 있고, 제 1도 및 제 8도의 구성은 렌즈(104)의 필요성을 제거하거나 또는 굴절 광학보다 반사 광학을 사용하도록 카메라 어레이(108)를 화소(100)에 충분히 가까이 놓여진다. 다른 광학 장치는 당업자에게 명백할 것이다.
부가적으로, 바람직한 실시예에서, 테스트 시스템(10)은 전기적 접촉이 테스트 중에 디스플레이 패널의 전극속에 실제로 빠르고 압축될 수 있는 새로운 디스플레이 패널 연결기(120)에 편입된다. 디스플레이 패널의 주변부 주위에 아주 정밀하게 피치된 얇은 금속-박막 접촉을 테스트 시스템의 전극에 빠르고 실질적으로 접속하는 것은 과거에는 매우 어려웠다.
제 10도는 전기적인 신호를 LCD어레이를 형성하는 다양한 화소 소자에 결합하는 LCD 어레이 주변부에 배열된 정밀하게 피치된 금속 박막 전극(124)을 갖는 LCD 어레이(122)를 나타낸다. 원(126)내의 LCD(122)내의 LCD(122)의 에지 부분의 확대부를 금속 박막 전극(124)에 더 상세히 나타낸 것이다.
일반적으로, LCD 어레이(122)에서 화소는 관련된 전극(124)에 끝나는 어레이(122)에 특정 로우(row) 라인 및 칼럼(dolumn) 라인에 에너지를 인가함으로서 에너지가 인가된다. 전형적으로, LCD에서 전극(124)는 유리위에 형성되고, 그러한 전극(124)은 일인치의 1/10,000의 피치(주변 전극 중앙 사이의 거리)를 가질 수 있다. 통상적인 테스트 시스템에서 테스트 시스템 접속기를 갖는 LCD 전극(124)의 배열은 정상적으로 손으로 이루어질 것이다. 제 1도에서 테스트 시스템(10)에 디스플레이 패널(122)을 빠르고 실질적으로 전기적으로 결합하기 위하여, 접속기(120)는 고정된 프레임(14)(제 1도에 도시된)의 바닥 표면에 제공된다. 연결기(120)의 한 형태는 원(130)내의 제 10도에 상세히 도시된 가요성 테이프(132)는 원(126)내에 도시된 얇은 박막 전극(124)의 그룹에 상응하는 금속 트레이스(134)를 갖고 있다. 그러한 가요성 테이프(132)는 통상적인 금속 증착 및 광 식각 그래픽 에칭 처리를 사용하여 테이프위에 형성된 트레이스(134)를 갖는 캡톤과 같은 폴리머 테이프로 형성될 수 있다. 트레이스(traces)(134)는 LCD 패널(122)용 디스플레이 드라이브(40)(제 2도)에 이르는 가용성 타이어(138)에 연결된다.
접속기(120)에 트레이스(134)는 테스트될 특정 디스플레이 패널(122)용으로 구성되는 전극(134) 패턴에 상응한다.
한 실시예에서 LCD 패널(122)은 블록(140)에 대향하여 위치되고, 또는 다른 참조 위치가 LCD 패널(122)의 위치와 전극(124)의 위치가 정해질 수 있도록 테스트 시스템(10)의 테이블(12)에 형성된다. 접속기(120)는 블록(140)에 설치되거나 자동적 또는 수동적으로 블록(140)에 위치된다. 가용성 회로 트레이스(134)는 LCD 패널(122) 위의 전극(124)의 하나로 배열되도록, 적절한 압력을 확인하는 테이프(132)의 탄성은 전극(124)에 각각에 인가될 것이다.
부가적으로 만약 트레이스(132)에 대한 블록(140)의 배열이 전극(124)에 대해 연결기(120)의 정확한 배열을 위한 신뢰할만하고 재생가능하다고 생각되지 않는다면, 제 11도에 도시된 테이블(12)은 가용성 테이프(132) 위에 각각 트레이스(134) 및 LCD 패널(122)위의 제 1 전극(124)의 오버랩핑을 감지하는 광검출기(144)를 포함할 수 있다.
광 방출 다이오드(146)는 투명 LCD 패널(122) 아래의 테이블(12)에 위치한다. 가요성 테이프(132)는 광검출기(144)에 의해 감지된 빛의 량이 트레이스(134) 및 전극(124)이 오버랩될 때 최대가 되도록 투명 또는 반투명으로 만들어진다. 광검출기(144)의 전도성은 광검출기(144)로부터 최대 출력신호를 얻기 위하여 접속(120)에 대하여 LCD 패널(122)을 이동하기 위해 제 10도에서 자동적으로 이동블록(140)에 사용될 수 있다. 다른 실시예에서, 광검출기(144) 및 LED(146)의 위치가 바뀐다.
따라서, 알리아싱 및 모아레 패턴으로 인한 문제를 제거하고 밝기 균일성, 칼라 품질, 평면-패널 디스플레용 뷰잉각을 정확하게 검출하고 수정하는 평면-패널 디스플레이용 개선된 자동 테스트 시스템이 상기 언급되었다.
그것은 당업자가 어떤 확인된 결함 화소를 자동적으로 수정하기 위해 "활성 메트릭스 LCD 패널을 자동적으로 검사하고 수거하는 방법 및 장치"의 제목으로 계류 중인 미국 특허 출원 제 07/716,592호로 언급된 디스플레이 패널 수정 시스템의 어떤 형태와 테스트 시스템(10)과 결합되는 것은 명백할 것이다. 그래서, 자동 테스팅과 수정 시스템은 상기 기술에서 실행된다.
본 발명의 바람직한 실시예가 도시된 언급되는 중에, 당업자에게 변화 및 변조가 경계 측면에 본 발명으로부터 분리되지 않고 만들어질 수 있고, 그러므로 청구된 청구범위는 그들 범위내에 포함되고, 모든 변화 및 변형이 본 발명의 정신과 범위내에 있는 것으로 한다.
제 1도는 본 발명에 따른 평판 디스플레이 테스트 시스템의 하나의 실시예의 투시도;
제 2도는 테스트 시스템에 삽입된 카메라 구성 및 처리 장비 개략도;
제 3도는 디스플레이 이미지가 검출기 화소 어레이를 삽입하는 카메라에 의해 검출될 때 모아레 패턴의 전형적인 결과를 나타낸다;
제 4도는 칼라 디스플레이 패널에서 적색, 녹색, 청색 화소의 화소 그룹을 나타내고, 각각 화소 그룹내의 하나의 칼라 화소는 밝기 레벨 및 칼라 디스플레이 패널의 색도 테스트 중에 동시에 에너지가 인가된다;
제 5도는 밝기 레벨 및 칼라 디스플레이 패널의 색도를 검출하기 위한 테스트 시스템에 삽입된 칼라 필터 힐을 나타낸다;
제 6도는 색도를 검출용으로 사용된 CIE 특별 3자극값 대 파장의 그래프이다;
제 7도는 결과 칼라를 나타내기 위하여 3자극값을 플로트하기 위해 사용된 CIE 색도 도;
제 8도는 뷰잉각 특징 테스트를 실행하기 위한 구성의 개략도;
제 9도는 뷰잉 각 특징 테스트에 발생될 수 있는 극성 플로트이다;
제 10도는 디스플레이 패널을 테스트 시스템에 인터페이싱하기 위하여 제 1도의 테스트 시스템에 고정된 프레임에 부착된 개선된 디스플레이 패널 접속기의 투시도이다;
제 11도는 디스플레이 패널 및 접속기의 확대된 에지 부분이고, 고정된 프레임이 닫혔을 때 디스플레이 패널위의 전극에 접속기를 배열하기 위한 배열 회로를 나타낸 것이다;
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
36 : 컴퓨터 38 : 키보드 및 모니트
42 : 테스트 데이터 파일 44 : 라이트 소스

Claims (36)

  1. 디스플레이 화소의 주기적인 어레이에 의해 형성된 디스플레이된 이미지를 전기적으로 검출하는 방법에 있어서,
    상기 디스플레이된 이미지를 뷰잉하는 공간적 주기적 검출 수단을 배치하는 단계를 포함하는데, 상기 검출 수단은 디스플레이 화소의 제 2 공간적 주기적 어레이에 의해 형성된 상기 디스플레이된 이미지가 포커스된 검출기 소자의 제 1 공간적 주기적 어레이를 갖고, 상기 검출기 소자의 각각은 조사되는 빛의 강도에 상응하는 신호를 발생하며,
    상기 검출기 소자가 상기 디스플레이된 이미지에 대해 제 1 위치에 있을 때, 상기 검출기 소자에 의해 발생되며 제 1 모아레 패턴을 나타내는 제 1 신호를 검출하는 단계;
    상기 검출기 소자의 라인에 대해 축을 따라서 상기 디스플레이된 이미지를 제 2 위치에 이동하는 단계;
    상기 검출기 소자가 상기 디스플레이된 이미지에 대해 제 2 위치에 있을 때, 상기 검출기 소자에 의해 발생되며 제 2 모아레 패턴을 나타내는 제 2 신호를 검출하는 단계; 및
    상기 검출기 소자에 조사되는 상기 디스플레이된 이미지에 의해 형성되는 상기 제 1 모아레 패턴 및 상기 제 2 모아레 패턴의 효과를 줄이기 위하여 상기 디스플레이 화소의 각각의 표본 포인트에서 상기 검출기 소자에 의해 발생된 상기 제 1신호 및 상기 제 2 신호 강도 레벨을 평균하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이된 이미지를 전기적으로 검출하는 방법.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 디스플레이된 이미지는 상기 디스플레이된 이미지와 상기 검출기 소자 사이에 배치된 반사기를 회전시킴으로써 상기 검출기 소자에 대해 이동되는 것을 특징으로 하는 디스플레이된 이미지를 전기적으로 검출하는 방법.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 디스플레이 화소의 상기 제 1 라인에 직교하는 상기 디스플레이 화소의 제 2 라인에 따라서 상기 검출기 소자에 대해 상기 디스플레이된 이미지를 부가적으로 이동시키는 단계; 및
    상기 각각의 이동 단계 이후, 상기 디스플레이 화소의 상대적 강도 레벨을 결정하는 상기 모아레 패턴의 효과가 예정된 레벨까지 줄어들 때까지, 상기 검출기 소자에 의해 발생된 신호를 검출하고 평균하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이된 이미지를 전기적으로 검출하는 방법.
  4. 제 2항에 있어서,
    상기 이동은 점증적으로 실행하는 것을 특징으로 하는 디스플레이된 이미지를 전기적으로 검출하는 방법.
  5. 제 2항에 있어서,
    상기 이동 단계는 상기 제 1 라인을 따라서 디스플레이 화소의 1/2를 이동시키는 것을 특징으로 디스플레이된 이미지를 전기적으로 검출하는 방법.
  6. 제 2항에 있어서,
    상기 부가적인 이동 단계는 상기 제 2 라인을 따라서 디스플레이 화소의 1/2를 이동시키는 것을 특징으로 하는 디스플레이된 이미지를 전기적으로 검출하는 방법.
  7. 제 2항에 있어서,
    상기 제 1 라인은 x-방향인 것을 특징으로 하는 디스플레이된 이미지를 전기적으로 검출하는 방법.
  8. 제 2항에 있어서,
    상기 제 1 라인은 y-방향인 것을 특징으로 하는 디스플레이된 이미지를 전기적으로 검출하는 방법.
  9. 디스플레이 패널에 디스플레이 화소의 제 1 공간적 주기적 어레이의 선택적인 에너지 인가에 의해 발생된 디스플레이된 이미지를 검출하는 테스트 시스템에있어서,
    상기 디스플레이된 이미지를 뷰잉하기 위하여 배치된 검출 수단을 포함하는데, 상기 검출 수단은 상기 검출기 소자에 조사되는 상기 디스플레이된 이미지로부터 빛의 강도를 검출하기 위한 검출기 소자의 제 2 공간적 주기적 어레이를 가지며;
    상기 디스플레이 화소의 상기 제 1 라인을 따라서 제 2 위치에 제 1 위치로부터 상기 검출기 소자의 제 1 라인에 대한 축을 따라서 상기 이미지를 이동하기 위한 수단을 포함하는데, 제 1 신호는 제 1 모아레 패턴을 나타내고 제 2 신호는 제 2 모아레 패턴을 나타내며; 및
    제 3 신호를 만들기 위하여 상기 디스플레이된 화소의 상기 어레이를 통하여 선택된 포인트에 상기 제 1 신호 및 상기 제 2 신호의 평균을 만들기 위하여, 상기 제 1 위치에서 상기 제 2 위치까지 상기 검출기 소자에 상대적으로 상기 이미지 각각의 이동용 상기 검출기 소자에 의해 발생되는 이미지 신호를 처리하기 위한 상기 검출기 수단에 연결된 수단을 포함하는데, 상기 제 3 신호는 상기 제 1 위치 및 상기 제 2 위치의 분리가 제 3 신호에서 제 3 모아레 패턴을 제거하는 최대 강도 레벨을 갖는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  10. 제 9항에 있어서,
    상기 이동 수단은 상기 디스플레이 이미지와 상기 검출기 소자사이에 놓여진 반사기를 회전시키기 위한 회전 수단을 포함하는데, 상기 회전 수단은 상기 검출기소자에 대해 상기 디스플레이된 이미지를 이동시키는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  11. 제 9항에 있어서,
    상기 디스플레이 화소의 상기 제 1 라인에 직교하는 상기 디스플레이 화소의 제 2 라인을 따라서 상기 검출기 소자에 대해 상기 디스플레이된 이미지를 부가적으로 이동하는 수단과; 및
    상기 각각의 이동 단계 이후, 상기 디스플레이 화소의 대해 강도 레벨을 결정하는 상기 모아레 패턴의 효과가 예정된 레벨까지 줄어들 때까지, 상기 검출기 소자에 의해 발생된 신호를 검출하고 평균하는 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  12. 제 10항에 있어서,
    상기 이동 수단은 점증적인 이동 수단인 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  13. 제 10항에 있어서,
    상기 이동 수단은 상기 제 1 라인을 따라서 디스플레이 화소의 1/2를 이동시키는 이동 수단인 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  14. 제 10항에 있어서,
    상기 부가적인 이동 수단은 상기 제 2 라인을 따라서 디스플레이 화소의 1/2를 부가적으로 이동시키는 수단인 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  15. 제 10항에 있어서,
    상기 제 1 라인은 x-방향인 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  16. 제 10항에 있어서,
    상기 제 1 라인은 y-방향인 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  17. 제 10항에 있어서,
    상기 검출수단은 CCD 카메라인 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  18. 디스플레이 화소의 주기적인 어레이에 의해 형성된 디스플레이된 이미지를 전기적으로 검출하는 방법에 있어서,
    상기 디스플레이된 이미지를 뷰잉하기 위한 CCD 카메라를 포함하는 공간적 주기적 검출 수단을 위치시키는 단계를 포함하는데, 상기 검출 수단은 디스플레이 화소의 제 2 공간적-주기적 어레이에 의해 형성된 상기 디스플레이된 이미지가 포커스되는 카메라 화소를 갖는 검출기 소자의 제 1 공간적-주기적 어레이를 포함하며, 상기 검출기 소자의 각각은 조사되는 빛의 강도에 상응하는 신호를 발생하며;
    상기 검출기 소자가 상기 디스플레이된 이미지에 상대적으로 제 1 위치에 있을 때, 상기 검출기 소자에 의해 발생되며 제 1 모아레 패턴을 나타내는 제 1 신호를 검출하는 단계;
    상기 검출기 소자의 제 1 라인에 대한 축을 따라서 디스플레이 화소의 1/2의 상기 디스플레이된 이미지를 제 2 위치에 이동하는 단계;
    상기 검출기 소자가 상기 디스플레이된 이미지에 상대적으로 상기 제 2 위치에 있을 때, 상기 검출기 소자에 의해 발생되며 제 2 모아레 패턴을 나타내는 제 2 신호를 검출하는 단계; 및
    상기 검출기 소자에 조사되는 상기 디스플레이된 이미지에 형성된 상기 제 1 모아레 패턴 및 상기 제 2 모아레 패턴의 효과를 줄이기 위해 상기 디스플레이 화소의 각 표본 포인트에 상기 검출기 소자에 의해 발생된 상기 제 1 신호 및 상기 제 2 신호 강도 레벨을 평균하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  19. 제 18항에 있어서,
    상기 디스플레이 화소의 상기 제 1 라인에 직교하는 상기 디스플레이 화소의 제 2 라인을 따라서 상기 디스플레이 화소의 1/2를 상기 검출기 소자에 대해 상기 디스플레이된 이미지를 부가적으로 이동시키는 단계; 및
    상기 각각의 이동 단계 이후, 상기 디스플레이 화소의 상대적 강도 레벨을 결정하는 상기 모아레 패턴의 효과가 요구된 레벨로 줄어들 때까지, 상기 검출기 소자에 의해 발생되는 신호를 검출하고 및 평균하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  20. 제 19항에 있어서,
    상기 디스플레이 화소의 상기 제 1 라인은 x-방향인 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  21. 디스플레이 패널의 뷰잉각 범위를 전기적으로 검출하는 방법에 있어서,
    상기 디스플레이 패널에서 단일 에너지가 인가된 디스플레이 화소의 이미지에 대하여 거의 중앙에 있는 검출 수단에 검출기 소자의 어레이를 위치시키는 단계;
    상기 다수의 검출기 소자에 의해 발생된 신호의 강도 레벨을 검출하는 단계; 및
    상기 신호 강도 레벨로부터 상기 디스플레이 패널의 하나 이상의 뷰잉각에서 상기 디스플레이 화소의 강도 레벨을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 뷰잉각 범위를 전기적으로 검출하는 방법.
  22. 제 21항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널의 뷰잉각에 대한 강도 레벨의 근사치를 결정하기 위해, 상기 디스플레이 패널에 디스플레이 화소의 대표적인 수를 배치하고, 에너지를 인가하고, 검출하고, 결정하는 과정을 반복하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 뷰잉각 범위를 전기적으로 검출하는 방법.
  23. 제 22항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널의 뷰잉각 대 강도 레벨의 극성 플로트를 작성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 뷰잉각 범위를 전기적으로 검출하는 방법.
  24. 제 21항에 있어서,
    상기 디스플레이 화소의 뷰잉각 대 강도 레벨의 극성 플로트를 작성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 뷰잉각 범위를 전기적으로 검출하는 방법.
  25. 디스플레이의 뷰잉각의 범위를 검출하는 테스트 시스템에 있어서,
    상기 디스플레이 패널에서 제 1 단일 디스플레이 패널의 이미지에 대하여 근사적으로 중심에 배치된 검출 수단에 검출기 소자의 어레이와,
    상기 다수의 검출기 소자에 의해 발생된 신호의 강도 레벨을 검출하기 위하여 상기 검출 수단에 연결된 수단과; 및
    상기 신호의 강도 레벨로부터 상기 디스플레이 화소의 하나 이상의 뷰잉각에서 상기 디스플레이 화소의 강도 레벨을 검출하고, 결정하기 위해 상기 수단에 연결된 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  26. 제 25항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널의 뷰잉각에 대한 강도 레벨의 더 정확한 근사치를 결정하기 위해, 하나 이상의 뷰잉각에서 상기 제 2 단일 디스플레이 화소의 강도 레벨을 얻도록 제 2 단일 디스플레이 화소의 이미지에 대하여 거의 중심에 있는 검출기 소자의 어레이를 위치하기 위한 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  27. 제 26항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널의 뷰잉각 대 강도 레벨의 극성 플로트를 작성하는 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  28. 제 25항에 있어서,
    상기 디스플레이 화소의 뷰잉각 대 강도 레벨의 극성 플로트를 작성하는 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 데스트 시스템.
  29. 디스플레이 패널에 전극을 전기적으로 접촉하는 접속기에 있어서,
    탄력성 있는 지지 구조체와;
    디스플레이 패널상의 전극의 패턴에 상응하는 패턴으로 상기 지지 구조체에 위에 형성된 전도체와, 및
    상기 전도체를 상기 디스플레이 패널위의 상기 전극과 접촉하게 하는 수단을포함하는 것을 특징으로 하는 접속기.
  30. 제 29항에 있어서,
    상기 전도체를 상기 디스플레이 패널위의 상기 전극으로 자동적으로 정렬시키기 위한 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 접속기.
  31. 제 30항에 있어서,
    자동적으로 배열하기 위한 상기 수단은 상기 전도체의 선택된 하나가 상기 디스플레이 패널상의 각각 전극과 정렬될 때, 상기 광검출기에 의해 수신된 빛이 최대 밝기가 될 수 있도록 상기 탄력성 있는 지지 구조체와 상기 디스플레이 패널을 갖는 광 검출기와 대향하는 광소스를 포함하는 것을 특징으로 하는 접속기.
  32. 제 29항에 있어서,
    상기 전도체를 상기 전극과 접촉하게 하는 상기 수단은 상기 탄력성있는 상기 지지 구조체에 부착된 고정된 프레임을 포함하는데, 상기 프레임은 상기 디스플레이 패널위의 상기 전극에 대해 상기 전도체를 가압하기 위하여 상기 디스플레이 패널에 내려지는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  33. 칼라 디스플레이 패널의 색도를 검출하는 방법에 있어서,
    첫 번째 3자극 값을 얻기 위하여 첫 번째 3자극 스펙트럼 응답을 매칭하는검출용 카메라의 스펙트럼 응답을 변형하도록 제 1 필터를 통하여 칼라 디스플레이 패널 이미지를 필터링하는 단계;
    두 번째 3자극 값을 얻기 위하여 두 번째 3자극 스펙트럼 응답을 매칭하기 위하여 상기 카메라의 상기 스펙트럼 응답을 변경하도록 제 2 필터를 통하여 상기 칼라 디스플레이 이미지를 필터링하는 단계;
    세 번째 3자극 값을 얻기 위하여 세 번째 3자극 스펙트럼 응답을 매칭하는 상기 카메라의 상기 스펙트럼 응답을 변경하도록 제 3 필터를 통하여 상기 칼라 디스플레이 이미지를 필터링하는 단계; 및
    상기 첫 번째, 두 번째, 그리고 세 번째 3 자극값을 사용하여 상기 칼라 디스플레이 패널 이미지의 색도를 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  34. 제 33항에 있어서,
    네 번째 3 자극값을 얻기 위하여 네 번째 3자극 스펙트럼 응답을 매칭하도록 상기 카메라의 상기 스펙트럼 응답을 변형하기 위하여 제 4 필터를 통하여 상기 칼라 디스플레이 이미지를 필터링하는 단계; 및
    상기 첫 번째, 두 번째, 세 번째, 그리고 네 번째 3 자극값을 사용하며 상기 칼라 디스플레이 패널 이미지의 색도를 계산하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  35. 제 34항에 있어서,
    상기 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 필터는 상기 카메라와 상기 칼라 디스플레이 패널사이에 필터 휠위에 있는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  36. 제 34항에 있어서,
    각각의 상기 필터링 단계 동안에 상기 칼라 디스플레이 패널위의 하나의 칼라의 화소에 에너지를 인가하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
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