CN211877351U - 一种光学透镜模组的配光特性检测装备 - Google Patents

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Abstract

本实用新型涉及一种光学透镜模组的配光特性检测装备,包括操作台、摄像部、光学器件、移动部、光线探测器、控制单元,所述光学器件包括第一光学器件、第二光学器件,所述摄像部、第一光学器件、移动部、第二光学器件、光线探测器、控制单元均位于操作台上且依次排列成一条直线,所述移动部与操作台之间设置有滑槽,所述移动部在滑槽上的滑动线路位于所述直线上,所述移动部上方安装有被测透镜模组。本实用新型是一种可以通过光线探测器检测到不同位置的光线形成的图像与摄像设备拍摄的图像比对然后计算配光特性的装备。

Description

一种光学透镜模组的配光特性检测装备
技术领域
本实用新型涉及配光特性检测技术领域,尤其涉及一种光学透镜模组的配光特性检测装备。
背景技术
透镜是用透明物质制成的表面为球面一部分的光学元件,镜头是由几片透镜组成的,有塑胶透镜和玻璃透镜两种,玻璃透镜比塑胶贵。通常摄像头用的镜头构造有:1P、2P、1G1P、1G2P、2G2P、4G等,透镜越多,成本越高。因此一个品质好的摄像头应该是采用玻璃镜头的,其成像效果要比塑胶镜头好,在天文、军事、交通、医学、艺术等领域发挥着重要作用。透镜的配光特性检测装备对于光学透镜来说是必不可少的,常规的检测装备成本高,操作复杂,性价不不是很高。
实用新型内容
鉴于背景技术存在的不足,本实用新型涉及一种光学透镜模组的配光特性检测装备,根据上述问题,设计了一种可以通过光线探测器检测不同位置的光线图像与摄像设备拍摄的图像比对然后计算配光特性的装备。
本实用新型涉及一种光学透镜模组的配光特性检测装备,包括操作台、摄像部、光学器件、移动部、光线探测器、控制单元,所述光学器件包括第一光学器件、第二光学器件,所述摄像部、第一光学器件、移动部、第二光学器件、光线探测器、控制单元均位于操作台上且依次排列成一条直线,所述移动部与操作台之间设置有滑槽,所述移动部在滑槽上的滑动线路位于所述直线上,所述移动部上方安装有被测透镜模组。
通过采用上述方案,能够测量光线的偏振吸收以测量相应的光配向特性,而不会受到待测材料基板类型的局限,提高测试效率及生产效率。
进一步的,所述摄像部包括摄像设备、光线发射源,所述光线发射源发射一条射线穿过第一光学器件、被测透镜模组、第二光学器件,最终被所述光线探测器接收。
通过采用上述方案,可以同时检测光线。
进一步的,所述光线探测器与控制单元电性相连。
通过采用上述方案,可以将接收到的数据发送给控制单元进行计算,得出配光特性。
进一步的,所述光线探测器有多个,所述光线探测器在同一时刻获取检测结果。
通过采用上述方案,其根据由多个检测器在相同的时刻获取到的各个检测结果,进行与多个检测器的相对关系和检测范围的做出相应的处理,计算光源的配光特性。
进一步的,所述被测透镜模组类型为设置有已光固化配向膜的基板,所述第一光学器件、第二光学器件中包含偏光片,以及确定各所述偏光片位于所述基板的朝向或背对所述光线发射源的方向,其中,所述偏光片的光轴相互平行。
通过采用上述方案,通过测量光线的偏振吸收以测量相应的光配向特性。
进一步的,所述设置有已光固化配向膜的基板为成盒后的液晶基板。
通过采用上述方案,所述液晶基板是一种表面极其平整的浮法生产薄玻璃片,以利于测试配光特性。
进一步的,所述控制单元对光线探测器的检测范围所包含的多个测量点中的各个测量点计算配光特性。
通过采用上述方案,通过多个测试结果计算出的配光特性准确性更高。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是本实用新型实施例的结构示意图。
附图标记,1-操作台;11-滑槽;2-摄像部;21-摄像设备;22-光线发射源;3-光学器件;31-第一光学器件;32-第二光学器件;4-移动部; 41-被测透镜模组;5-光线探测器;6-控制单元。
具体实施方式
以下将结合本实用新型的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述和讨论,显然,这里所描述的仅仅是本实用新型的一部分实例,并不是全部的实例,基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型的保护范围。
为了便于对本实用新型实施例的理解,下面将结合附图以具体实施例为例作进一步的解释说明,且各个实施例不构成对本实用新型实施例的限定。
本实用新型的实施例1参照图1所示,包括操作台1,所述操作台上依次设置有摄像部2、第一光学器件31、移动部4、第二光学器件32、光线探测器5、控制单元6,且位于同一水平线。所述移动部 4与操作台1之间设置有滑槽,可以调节移动部4的位置,所述移动部4上设置有被测透镜模组41。所述摄像部2设置有摄像设备21和光线发射源22,所述摄像设备21用于记录,所述光线发射源22可以发送光源穿过第一光学器件31、被测透镜模组41、第二光学器件 32,然后通过光线探测器5接收光源,所述光线探测器5还连接有控制单元6,所述光线探测器5与控制单元6电性相连。
本实用新型的工作原理及步骤如下:
所述摄像设备21记录不同光线发射源22的图像,然后传送给控制单元6,作为校正处理,能够采用各种方法,将第一张图像数据图像数据设定为基准数据,并且使用第二图像数据群的对应的图像数据的信息来校正该基准数据。所述第一图像为摄像设备21记录的图像,所述第二图像为光线探测器5接收到的光源形成的图像。控制单元6 的CPU从第一图像数据群中选择出作为对象的图像数据并设定为基准数据,并且将第二图像数据群中对应的图像数据设定为校正数据。即,从第一图像数据群和第二图像数据群中选择出在同一摄像点拍摄到的一对图像数据。
接着,CPU顺次读出构成校正数据的像素的像素值,并判断该像素值是否达到了上限值。即,CPU判断像素值是否饱和。如果该像素值没有达到上限值,则将对像素值乘以与感光度差相应的系数得到的值设定为基准数据的对应位置的像素的像素值。即,使用校正数据内的没有达到上限值的像素值来更新基准数据的对应位置的像素的像素值。
接着,判断是否读出了作为对象的构成校正数据的全部像素的像素值。如果在作为对象的构成校正数据的像素中存在其像素值没有被读出的像素,则反复进行处理。如果读出了作为对象的构成校正数据的全部像素的像素值,则意味着完成了针对作为对象的一对图像数据的校正处理。在该情况下,CPU判断是否完成了针对获取到的第一图像数据群所包含的全部图像数据的校正处理。如果在获取到的第一图像数据群所包含的图像数据中存在没有完成校正处理的图像数据,则CPU从第一图像数据群中选择出作为对象的图像数据并设定为新的基准数据,并且将第二图像数据群中对应的图像数据设定为校正数据。然后反复进行处理。
如果完成了针对获取到的第一图像数据群所包含的全部图像数据的校正处理,则CPU执行照度计算处理。当输出照度计算处理的处理结果时,结束处理。
在本实施方式的配光特性测量方法中,典型地,通过进行至少包括在适合于亮的部分的摄像条件下获取到的图像数据和在光线探测器5上的图像数据的两次以上的测量,能够获取必要的图像信息,并能够根据这些图像信息稳定地计算出配光特性。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
最后应说明的是:以上所述实施例,仅为本实用新型的具体实施方式,用以说明本实用新型技术方案,而非对其限制,本实用新型的保护范围并不局限于此,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改、变化或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型实施例技术方案的精神和范围,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (7)

1.一种光学透镜模组的配光特性检测装备,其特征在于:包括操作台(1)、摄像部(2)、光学器件(3)、移动部(4)、光线探测器(5)、控制单元(6),所述光学器件包括第一光学器件(31)、第二光学器件(32),所述摄像部(2)、第一光学器件(31)、移动部(4)、第二光学器件(32)、光线探测器(5)、控制单元(6)均位于操作台(1)上且依次排列成一条直线,所述移动部(4)与操作台(1)之间设置有滑槽(11),所述移动部(4)在滑槽(11)上的滑动线路位于所述直线上,所述移动部(4)上方安装有被测透镜模组(41)。
2.根据权利要求1所述的一种光学透镜模组的配光特性检测装备,其特征在于:所述摄像部(2)包括摄像设备(21)、光线发射源(22),所述光线发射源(22)发射一条射线穿过第一光学器件(31)、被测透镜模组(41)、第二光学器件(32),最终被所述光线探测器(5)接收。
3.根据权利要求2所述的一种光学透镜模组的配光特性检测装备,其特征在于:所述光线探测器(5)与控制单元(6)电性相连。
4.根据权利要求3所述的一种光学透镜模组的配光特性检测装备,其特征在于:所述光线探测器(5)有多个,所述光线探测器(5)在同一时刻获取检测结果。
5.根据权利要求2所述的一种光学透镜模组的配光特性检测装备,其特征在于:所述被测透镜模组(41)类型为设置有已光固化配向膜的基板,相应地确定所述第一光学器件(31)、第二光学器件(32)中包含偏光片,以及确定各所述偏光片位于所述基板的朝向或背对所述光线发射源的方向,其中,所述偏光片的光轴相互平行。
6.根据权利要求5所述的一种光学透镜模组的配光特性检测装备,其特征在于:所述设置有已光固化配向膜的基板为成盒后的液晶基板。
7.根据权利要求4或6所述的一种光学透镜模组的配光特性检测装备,其特征在于:所述控制单元(6)对光线探测器(5)的检测范围所包含的多个测量点中的各个测量点计算配光特性。
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