KR100356804B1 - 게이트 출력전압 측정회로 - Google Patents

Abstract

본 발명은 게이트 출력전압 측정회로에 관한 것으로, 교류(AC)/직류(DC)를 내장한 칩의 내부 게이트의 출력 전압을 아날로그 디지털 변환기를 이용하여 디지털 값으로 읽어냄으로써, 테스트의 편리성을 돕고 설계 에러를 줄일 수 있다. 이를 위한 본 발명의 게이트 출력전압 측정회로는 패드에 입력단이 연결된 게이트부와, 다수개의 입력 아날로그 신호중 상기 게이트부의 출력 아날로그 신호를 선택하여 입력하는 아날로그 입력채널 선택부와, 상기 아날로그 입력채널 선택부에서 선택된 상기 출력 아날로그 신호를 입력하여 디지탈 신호로 변환하는 A/D 변환부와, 상기 A/D 변환부의 출력값을 저장하는 A/D 데이타 레지스트부와, 상기 아날로그 입력채널 선택부의 동작을 제어하는 채널선택컨트롤신호 및 상기 A/D 변환부의 동작을 제어하는 신호변환스타트신호를 발생하는 A/D 모드 레지스트부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.

Description

게이트 출력전압 측정회로{CIRCUIT OF MEASUREMENT FOR GATE OUTPUT VOLTAGE}

본 발명은 게이트 출력전압 측정회로에 관한 것으로, 특히 교류(AC)/직류(DC)를 내장한 칩의 내부 게이트의 출력 전압을 아날로그 디지털 변환기를 이용하여 디지털 값으로 읽어냄으로써, 테스트의 편리성을 돕고 설계 에러를 줄인 게이트 출력전압 측정회로에 관한 것이다.

종래의 경우 반도체 칩의 평가(Evaluation)나 불량 분석을 위해 게이트의 출력전압을 측정하고자 할 때 칩내부 여유 공간이나 스크라이브 래인에 테스트용 더미(Dummy) 회로와 패드를 만들어 둠으로써, 필요시 측정 장비를 연결하여 전압 측정이 가능하도록 하였다.

그러나, 종래의 이러한 방법은 패드를 직접 프루빙할수 있는 웨이퍼 상태에서만 가능하였다. 즉, 패키지를 진행한 이후에는 전혀 전압의 측정이 불가능하였다.

따라서, 본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위하여 이루어진 것으로, 본 발명의 목적은 교류(AC)/직류(DC)를 내장한 칩의 내부 게이트의 출력 전압을 아날로그 디지털 변환기를 이용하여 디지털 값으로 읽어냄으로써, 테스트의 편리성을 돕고 설계 에러를 줄인 게이트 출력전압 측정회로를 제공하는데 있다.

도 1은 본 발명에 의한 게이트 출력전압 측정회로의 구성도

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *

10 : 인버터 게이트 11 : 패드

100 : 게이트 출력전압 측정회로 110 : A/D 모드 레지스트부

120 : 아날로그 입력채널 선택부 130 : A/D 변환부

140 : A/D 데이타 레지스트부

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 게이트 출력전압 측정회로는,

패드에 입력단이 연결된 게이트부와,

다수개의 입력 아날로그 신호중 상기 게이트부의 출력 아날로그 신호를 선택하여 입력하는 아날로그 입력채널 선택부와,

상기 아날로그 입력채널 선택부에서 선택된 상기 출력 아날로그 신호를 입력하여 디지탈 신호로 변환하는 A/D 변환부와,

상기 A/D 변환부의 출력값을 저장하는 A/D 데이타 레지스트부와,

상기 아날로그 입력채널 선택부의 동작을 제어하는 채널선택컨트롤신호 및상기 A/D 변환부의 동작을 제어하는 신호변환스타트신호를 발생하는 A/D 모드 레지스트부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.

상기 게이트는 인버터인 것을 특징으로 한다.

상기 게이트는 슈미트트리거인 것을 특징으로 한다.

이하, 본 발명의 실시예에 관하여 첨부도면을 참조하면서 상세히 설명한다.

또, 실시예를 설명하기 위한 모든 도면에서 동일한 기능을 갖는 것은 동일한 부호를 사용하고 그 반복적인 설명은 생략한다.

도 1은 본 발명에 의한 게이트 출력전압 측정회로의 구성도이다.

본 발명의 게이트 출력전압 측정회로는 아날로그(A)/디지탈(D) 모드 레지스트부(110), 아날로그 입력채널 선택부(120), A/D 변환부(130), A/D 데이타 레지스트부(140)로 구성된다.

A/D 모드 레지스트부(110)는 아날로그 입력채널 선택부(120)를 동작시키기 위한 채널선택 컨트롤신호(AC1) 및 A/D 변환부(130)를 동작시키기 위한 신호변환 스타트 신호(AC2)를 발생한다.

아날로그 입력채널 선택부(120)는 A/D 모드 레지스트부(110)에서 출력된 채널선택 컨트롤신호(AC1)에 의해 다수의 입력 아날로그 신호중 하나를 선택한다.

A/D 변환부(130)는 아날로그 입력채널 선택부(120)에서 선택된 입력 아날로그 신호를 입력하여 A/D 모드 레지스트부(110)에서 출력된 신호변환 스타트 신호(AC2)에 의해 디지탈 신호로 변환한다.

A/D 데이타 레지스트부(140)는 A/D 변환부(130)의 출력값을 저장한다.

도 1에 의하면, 패드(11)에 입력단자가 연결된 인버터 게이트부(10)와, 인버터 게이트부(10)의 출력전압을 측정하기 위한 본 발명의 게이트 출력전압 측정회로(100)로 구성되어 있다.

인버터 게이트부(10)는 패드(11)를 통해 입력된 신호가 '하이'일때 노드(Nd1)로 전원전압(Vdd)을 전송하는 PMOS 트랜지스터(MP1)와 '로우'일때 노드(Nd1)의 전압을 접지전압(Vss)으로 방전하는 NMOS 트랜지스터(MN1)으로 구성된다.

본 발명의 게이트 출력전압 측정회로는 출력 전압을 측정하고자 하는 게이트의 입력단은 패키지시에 핀으로 연결되는 패드에 접속하고, 출력단은 본 발명의 아날로그 입력채널 선택부(120)의 입력단으로 연결한다.

먼저, A/D 모드 레지스트부(110)가 아날로그 입력채널 선택부(120)로 채널 선택 컨트롤 신호(AC1)를 발생하면, 이 채널 선택 컨트롤 신호(AC1)에 의해 아날로그 입력채널 선택부(120)는 측정하고자 하는 인버터 게이트부(10)의 출력단(VO)을 선택하게 된다.

그 후, 인버터 게이트부(10)의 입력단에 연결된 패드(패키지 상태에서는 핀)에 전압을 인가하면서 A/D 변환부(130)를 동작(start)시키도록 A/D 모드 레지스터부(110)에 특정값을 라이트(write)하면 A/D 모드 레지스트부(110)는 A/D 변환부(130)로 스타트 신호(AC2)를 출력한다. A/D 변환부(130)는 스타트 신호에 따라 A/D 변환을 수행한 후 그 결과를 A/D 데이타 레지스트부(140)에 저장하게 된다.

따라서, 사용자는 A/D 데이타 레지스트부(140)의 값을 읽어봄으로써 측정하고자 하는 게이트의 입력전압의 변화에 따른 출력 전압값을 디지털로 손쉽게 알수 있게 된다.

본 발명은 도 1에서 인버터를 예로 하였지만, 전압값이 중요시되는 슈미트 트리거등의 회로에 대해서도 입력전압의 변화에 대해 출력전압의 변화를 알아보는데 유용하다.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 게이트 출력전압 측정회로에 의하면, 칩을 구성하고 있는 기존의 핀을 이용하여 칩내 게이트의 출력 전압을 측정할 수 있도록 하였고 더 나아가 칩에 내장된 게이트 출력전압 측정회로를 이용하여 측정하고자 하는 게이트의 출력전압을 디지탈값으로 손쉽게 읽어 볼수 있다. 따라서, 반도체 설계의 가장 큰 이슈라고도 할수 있는 검증과 불량분석이 편리하게 이루어질 수 있다.

이러한 방식은 칩내부의 실질적인 게이트의 특성(입력전압에 따른 출력전압의 변화 등)을 패키지 상태에서도 쉽게 알수 있다는 편리함이 있으며 이것은 인버터 뿐 아니라 슈미트 트리거 등에도 이용되어질수 있다.

또한, 본 발명의 게이트 출력전압 측정회로는 아날로그 입력채널 선택부에서 입력 아날로그 신호를 선택할 수 있으므로, 선택하지 않은 아날로그 신호에 대해서는 아무런 영향을 미치지 않으므로, 측정을 위한 패드의 추가 없이 다른 입력단 패드를 그대로 사용할 수 있다.

아울러 본 발명의 바람직한 실시예들은 예시의 목적을 위해 개시된 것이며, 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가등이 가능할 것이며, 이러한 수정 변경등은 이하의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.

Claims (3)

1. 패드에 입력단이 연결된 게이트부와,

   다수개의 입력 아날로그 신호중 상기 게이트부의 출력 아날로그 신호를 선택하여 입력하는 아날로그 입력채널 선택부와,

   상기 아날로그 입력채널 선택부에서 선택된 상기 출력 아날로그 신호를 입력하여 디지탈 신호로 변환하는 A/D 변환부와,

   상기 A/D 변환부의 출력값을 저장하는 A/D 데이타 레지스트부와,

   상기 아날로그 입력채널 선택부의 동작을 제어하는 채널선택컨트롤신호 및 상기 A/D 변환부의 동작을 제어하는 신호변환스타트신호를 발생하는 A/D 모드 레지스트부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 게이트 출력전압 측정회로.
2. 제 1 항에 있어서,

   상기 게이트는 인버터인 것을 특징으로 하는 게이트 출력전압 측정회로.
3. 제 1 항에 있어서,

   상기 게이트는 슈미트트리거인 것을 특징으로 하는 게이트 출력전압 측정회로.