KR100355908B1

KR100355908B1 - 액정표시모듈 에이징 시험 시스템 및 그 시험 방법

Info

Publication number: KR100355908B1
Application number: KR1020000071192A
Authority: KR
Inventors: 박재규
Original assignee: (주)동아엘텍
Priority date: 2000-11-28
Filing date: 2000-11-28
Publication date: 2002-10-11
Also published as: KR20010016254A

Abstract

본 발명은 소정 환경에서 소정 시간동안 LCD모듈을 시험하는 LCD모듈 에이징(aging) 시험 시스템 및 시험 방법에 관한 것이다. 이러한 본 발명의 시스템은, 에이징 시험을 위한 시험조건과 운용조건을 설정할 수 있고, 전체 동작을 제어하기 위한 시스템 셋업 제어기와, 제어신호에 따라 시험을 위한 전원을 제공하는 전원공급장치를 포함하여 단위 에이징 시험시스템으로 LCD모듈을 시험할 수 있도록 된 에이징 시험 시스템에 있어서, 단위 에이징 시험 시스템이, 시스템 셋업 제어기로부터 시험관련 데이터를 전달받아 다수개의 구동보드로 전달하고, 구동보드로부터 전달받은 감시전류전압을 제한치와 비교하여 상태정보를 상기 시스템 제어기로 제공하는 하나의 제어보드; 제어보드로부터 시험관련 데이터를 전달받아 내부 패턴 시험시 내부패턴신호를 발생하고, 설정된 타이밍으로 LCD모듈측에 전원 공급하는 적어도 하나 이상의 구동보드; 버퍼보드; 및 인버터를 포함한다. 따라서 본 발명에 따르면, 단위 에이징 시험 시스템을 필요에 따라 확장하여 한꺼번에 많은 LCD모듈을 에이징 시험할 수 있으며, 운영자가 조작패널에서 터치 스크린을 이용하여 각종 상태를 쉽게 모니터링할 수 있어 편리하다.

Description

액정표시모듈 에이징 시험 시스템 및 그 시험 방법 { Apparatus for and method of testing LCD modules on aging }

본 발명은 액정표시(LCD:Liquid Crystal Display) 모듈 시험장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 소정 환경에서 소정 시간동안 LCD모듈을 시험하는 LCD모듈 에이징(aging) 시험 시스템 및 시험 방법에 관한 것이다.

일반적으로, LCD모듈은 기판과 기판 사이에 액정이 주입된 패널과, 패널을 구동시키기 위한 구동부, 백라이트(backlight) 등을 포함하는 디스플레이 소자로서, 노트북 PC와 TV, 모니터 등에 널리 사용된다.

이러한 LCD모듈은 정밀한 반도체 기술을 바탕으로 제작되며, 무수히 많은 소자들을 포함하고 있는 고정밀 시스템이기 때문에 제조과정에서 정밀한 시험을 필요로한다. 특히, 소자들의 신뢰성을 향상시키기 위하여 에이징(aging) 시험을 필요로 하는데, 이와 같은 에이징 시험을 위해서는 LCD모듈을 구동하여 시험하기 위한에이징 시험 시스템이 필요하다. 통상, LCD모듈을 시험하기 위해서는 LCD를 동작시키기 위한 전원(Vdd1/Vdd2, data level, B/L 등)과 픽셀들을 구동하기 위한 구동신호(Vsync, Hsync, CLK, RGB 데이터 등)를 필요로 하는데, LCD 에이징 시험 시스템은 이러한 신호들을 제공해야 한다.

그런데 종래의 에이징 시험 시스템은 LCD 모듈마다 요구되는 특성을 만족시키기 위하여 시험 초기에 Vdd 전압/전류, B/L 전압/전류 등을 일일이 수동으로 조절해야 하기 때문에 시험에 시간이 많이 소요되는 문제점이 있다. 더욱이, 다양한 LCD모듈을 동시에 시험하기 위해서는 넓은 범위에서 파라메터 값들을 가변할 수 있어야 하고, 충분한 용량의 전원을 필요로 하나 종래에는 이러한 요건을 만족시키지 못하였다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 시험대상이 되는 LCD모듈에 따라 다양한 파라메터를 자동으로 설정하여 에이징 시험할 수 있는 LCD모듈 에이징 시험 시스템 및 시험 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.

도 1은 본 발명에 따른 에이징 시스템의 개략 구성을 도시한 도면,

도 2는 본 발명에 따른 에이징 시스템의 세부 구성 블럭도,

도 3은 도 2에 도시된 제어보드의 세부 구성도,

도 4는 도 2에 도시된 구동보드의 세부 구성도,

도 5는 본 발명에 따른 에이징 시스템의 동작 흐름도,

도 6은 본 발명에 따른 운영 화면의 예,

도 7은 본 발명에 따른 패스워드 입력화면의 예,

도 8은 본 발명에 따른 모듈 등록 화면의 예,

도 9는 본 발명에 따른 패턴 등록 화면의 예,

도 10은 본 발명에 따른 패턴 편집 화면의 예,

도 11은 본 발명에 따른 NG정보 표시화면의 예,

도 12는 본 발명에 따른 전류 모니터 화면의 예이다.

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

102: 시스템 셋업 제어기 202-1~202-8: 전원공급장치

210-1~210-8: 에이징 그룹 211: LCD 에이징 제어보드

212-1~212-8: LCD 에이징 구동보드 213-1~213-8: 버퍼보드

214-1~214-8: 인버터 220-1~220-8: LCD모듈

301: 통신부 302: 제어부

303: 롬 304: 구동보드 접속부

305: 전원분배부 306: 전류전압 검출부

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 시스템은, 에이징 시험을 위한 시험조건과 운용조건을 설정할 수 있고, 전체 동작을 제어하기 위한 시스템 셋업 제어기와, 제어신호에 따라 시험을 위한 전원을 제공하는 전원공급장치를 포함하여 단위 에이징 시험시스템으로 LCD모듈을 시험할 수 있도록 된 에이징 시험 시스템에 있어서,

상기 단위 에이징 시험 시스템이, 상기 시스템 셋업 제어기로부터 시험관련 데이터를 전달받아 다수개의 구동보드로 전달하고, 구동보드로부터 전달받은 감시전류전압을 제한치와 비교하여 상태정보를 상기 시스템 제어기로 제공하는 하나의 제어보드; 상기 제어보드로부터 시험관련 데이터를 전달받아 내부 패턴 시험시 내부패턴신호를 발생하고, 설정된 타이밍으로 LCD모듈측에 전원 공급하는 적어도 하나 이상의 구동보드; 상기 구동보드로부터 구동신호를 전달받아 시험모듈에 적합한 구동신호를 제공하는 버퍼보드; 및 전원을 입력받아 LCD모듈의 백라이트를 위해 필요한 전원을 공급하는 인버터를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한 상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 방법은 다수의 LCD모듈을 에이징 시험하기 위한 방법에 있어서, 전원이 온되면 운용 화면을 표시하는 단계; 상기 운영 화면에서 메인티넌스 메뉴를 선택하여 시험패턴을 설정하거나 모듈을 등록하는 단계; 각 에이징 그룹별로 시험대상 LCD모듈의 타입 및 에이징 조건을 지정하거나 동일모듈로 시험할 경우에는 한꺼번에 시험대상 LCD모듈 타입 및 에이징 조건을 지정하여 설정하는 단계; 에이징 시험이 시작되면, 설정된 조건으로 각 LCD모듈을 시험하고, 운용자의 조작에 따라 소정 화면을 제공하는 단계; 및 설정된 에이징 시간이 만료되면 에이징 시험을 종료하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 자세히 설명하기로 한다.

도 1은 본 발명에 따른 에이징 시험 시스템의 구성을 도시한 도면으로서, 대형 에이징 시험 시스템은 n개의 단위 에이징 시험 시스템(110-1~110-n)과, 각 단위에이징 시험 시스템을 수동 제어하기 위한 n개의 원격제어장치(120-1~120-n:RCB), n개의 에이징 시험 시스템을 집중관리하기 위한 시스템 셋업 제어기(102)로 구성된다. 시스템 셋업 제어기(102)는 에이징 시험 시스템을 운영 및 관리하기 위한 프로그램을 탑재한 컴퓨터로서, 호스트 컴퓨터와 연결될 수 있다. 본 발명의 실시예에서 단위 에이징 시험 시스템은 64개의 LCD모듈을 한꺼번에 시험할 수 있도록 되어 있다.

도 2는 본 발명에 따른 단위 에이징 시스템의 세부 구성 블럭도로서, 본 발명의 실시예에서 단위 에이징 시험 시스템은 8개의 그룹(혹은 블록:210-1~210-8)으로 구분되고, 각 그룹(혹은 블록)은 8개의 채널로 구분되어 그룹(블록)당 8개의 LCD모듈을 시험할 수 있도록 되어 있다. 따라서 하나의 단위 에이징 시스템으로 64개의 LCD모듈을 시험할 수 있고, 이러한 단위 에이징 시험 시스템을 도 1 과 같이 다수 개 연결하여 많은 LCD모듈을 에이징 시험할 수 있다. 이러한 단위 에이징 시험 시스템에서는 각 그룹별로 별도의 전원공급장치(202-1~202-8)를 장착하여 LCD모듈에서 요구되는 다양한 전압을 제공할 수 있다.

도 2를 참조하면, 시스템 셋업 제어기(102)는 8개의 그룹(210-1~210-8)을 통합 제어하고, 각 그룹은 하나의 LCD 에이징 제어보드(이하, 간단히 제어보드라 한다; 211)와 8개의 LCD 에이징 구동보드(이하, 간단히 구동보드라 한다; 212-1~212-8), 8개의 버퍼보드(213-1~213-8), 8개의 인버터(214-1~214-8)로 이루어지며, 각 그룹에 전원을 공급하기 위해 전원공급장치(202-1~202-8)가 하나씩 연결되어 있다.

LCD 에이징 제어보드(211)는 도 3에 도시된 바와 같이, 시스템 셋업 제어기와 통신하기 위한 통신부(301)와 제어부(302), 구동보드 접속부(304), 전원 분배부(305), 전류전압 검출부(306)로 이루어져 8개의 구동보드(212-1~212-8)에 구동신호와 전원을 분배한다.

도 3을 참조하면, 통신부(301)는 시스템 셋업 제어기와 통신을 인터페이스하고, 전압전류 검출부(306)를 통해 검출된 데이터를 시스템 셋업 제어기(102)로 전달한다. 제어부(302)는 내부 롬(303)의 데이터를 참조하여 시스템 셋업 제어기(102)로부터 전달받은 신호를 구동보드 접속부(304)를 통해 각 구동보드로 전달함과 아울러 전원분배부(305)를 제어하여 LCD모듈에 인가되는 전원을 시스템 셋업 제어기의 설정값으로 조절한다. 전원분배부(305)는 전원공급장치(202-1)로부터 전달받은 전원을 LCD모듈로 분배하고, 구동보드 접속부(304)는 제어보드(211)를 구동보드(212-1~212-8)와 접속한다.

LCD 에이징 구동보드(212-1~212-8)는 도 4에 도시된 바와 같이, 제어보드 접속부(401), 패턴발생부(402), 버퍼보드 접속부(403), 제어로직(404), 스위칭부(405)를 포함하여 내부 패턴을 발생하여 구동신호를 제공하고, 설정된 타이밍에 LCD모듈로 전원을 인가한다.

도 4를 참조하면, 제어보드 접속부(401)는 제어보드와 접속하여 시스템 셋업 제어기(102)로부터 전달받은 데이터를 패턴발생부(402)로 전달하고, 패턴발생부(402)는 시스템 셋업 제어기의 설정값에 따라 소정 구동패턴을 발생한다. 버퍼보드 접속부(403)는 패턴 발생부(402)의 구동패턴신호를 버퍼보드로 전달하고, 제어로직(404)은 시스템 셋업시 설정된 타이밍에 따라 LCD 모듈에 인가되는 전원의 타이밍을 제어하기 위한 신호를 스위칭부(405)로 전달하며, 스위칭부(405)는 제어로직(404)의 제어에 따라 LCD모듈에 전원을 인가한다.

다시 도 2를 참조하면, 버퍼보드(213-1~213-8)는 구동보드(212-1~212-8)로부터 구동 패턴과 전원을 입력받아 LCD모듈이 요구하는 신호규격의 구동신호로 변환하여 제공한다. 본 발명의 실시예에서 제공하는 신호규격은 TTL구동신호, LVDS구동신호, TMDS구동신호 등으로서 LCD모듈에 따라 정해진다. 그리고 인버터(214-1~214-8)는 LCD모듈의 백라이트를 위한 전원을 발생하여 제공한다.

나머지 각 그룹들(210-2~210-8)도 제 1 그룹과 동일한 구성으로 이루어지며, 8개의 그룹에 의해 64개의 LCD모듈(LCM1~LCM64)을 한꺼번에 에이징 시험할 수 있다. 본 발명에 따른 에이징 시험 순서는 메인티넌스 모드(Maintenance mode)에서 디스플레이하고자 하는 패턴을 편집하여 등록하고, 시험할 LCD모듈 타입을 지정 등록한 후, 운영 모드(Operator mode)에서 64모듈 전체에 동일한 LCD모듈을 시험하거나 그룹별로 다른 타입의 LCD모듈을 시험할 것인지를 결정하여 에이징 시험을 시작한다. 이 때, 에이징 시험 도중에 온도, 전류 모니터, NG상태 서브 메뉴를 선택하여 해당 스크린에서 시험 결과 및 진행상황을 감시할 수 있다.

이어서, 상기와 같이 구성되는 본 발명의 에이징 시험 시스템의 동작을 도 5를 참조하여 자세히 설명한다.

에이징 시험 시스템에 전원이 온되면 시스템 셋업 제어기의 화면에 도 6에 도시된 바와 같은 운영 화면(Operator screen)이 나타난다(S1).

도 6을 참조하면, 운영 화면의 우측에 서브메뉴 항목(Aging Start, Aging Stop, Time reset, NG Status, Maintenance, Current monitor, Close) 버튼이 디스플레이되고, 이 항목 버튼을 선택하여 원하는 기능을 수행할 수 있다. 그리고 전체 메뉴는 크게 메인티넌스 메뉴와 오퍼레이터 메뉴로 구분할 수 있는데, 메인티넌스 메뉴에서는 엔지니어 영역으로 디스플레이하고자 하는 패턴 편집, 등록 및 신규 모델 LCM등록, 그리고 구동보드 시그널 체크 등을 수행할 수 있고, 오퍼레이터 메뉴에서는 에이징 온도 설정, 엘시디 에이징 시험 시작/정지 및 전류 모니터, 에이징중 NG발생 채널 확인 등을 처리할 수 있다. 이 때 시스템 셋업 제어기는 에이징 시험 시스템을 제어하는 패널 PC로서, 터치 스크린 기능을 가지고 있어 운용자가 손가락 또는 펜 끝으로 손쉽게 작동할 수 있다.

운영자 화면(Operator Screen)의 서브 메뉴에서 메인티넌스(Maintenance) 메뉴를 선택하면, 도 7에 도시된 바와 같은 패스워드(password)와 스크린(Pattern Registration, Module Registration, Data signal Check)을 선택하기 위한 화면이 나타나고, 이 화면에서 패스워드와 스크린을 입력한 후 '확인(confirm)' 버튼을 클릭하면 해당 스크린으로 이동한다(S2,S3). 즉, 메인티넌스 모드 스크린은 엔지니어가 사용하는 화면으로서 신규모델이 출시되면 등록하고, 디스플레이 패턴을 편집하며, 패턴그룹으로 등록하는데 사용한다. 그리고 구동보드의 데이터 신호 이상 유무를 체크할 수도 있다. 메인티넌스 모드 스크린에는 패턴 등록 스크린(Pattern Registration)과 모듈 등록 스크린(Module Registration), 신호 체크 스크린(Data signal Check) 등이 있다.

모듈 등록 스크린을 선택하면, 도 8에 도시된 바와 같은 모듈 등록 스크린이 나타나는데, 모듈 등록 스크린은 에이징할 신규 모듈이 출시되면 LCM의 스펙을 엔지니어가 사전에 등록하는 기능을 제공하는 화면이다. 등록내용은 LCD 픽셀, VDD1/VDD2, 시그널전압, 도트 클럭, 수평/수직 데이터, 패턴 인터발 타임 및 시험할 패턴 그룹 등을 입력한다. 이렇게 등록된 LCM은 운영자가 운영 스크린의 시험 모델 창에서 자유롭게 불러다 사용할 수 있다(S4).

패턴 등록 스크린을 선택하면, 도 9에 도시된 바와 같이 패턴 등록 스크린이 열린다. 패턴 등록 스크린은 에이징 시험용 패턴들을 생성하여 등록하는 기능의 스트린으로서, 복수개의 에이징 시험용 패턴 그룹을 등록할 수 있다. 패턴등록 스크린에서 패턴 편집 항목을 선택하면 패턴 편집 스크린은 도 10에 도시된 바와 같은 패턴 편집 화면이 나타나 에이징 시험을 위해 필요한 패턴을 생성할 수 있게 한다. 패턴 편집 화면에서 생성된 패턴은 이름이 부여된 후 패턴 이름 윈도우에 등록된다(S5,S6).

신호 체크 스크린을 선택하면, 자체 진단 절차에 따라 구동보드의 데이터신호를 검사할 수 있다(S7).

이어서, 메인티넌스 메뉴에 대한 설정이 완료되면, 다시 운영스크린(Operator screen)에서 운영 환경을 설정한다. 즉, 운영 스크린에서 시험할 LCD모듈이 전체 그룹에서 동일한 것인지 혹은 그룹(블록)마다 다른 것인지를 판단하여, 그룹(블록)별로 다른 모듈을 시험할 경우에는 각 그룹(블록)별로 시험할 LCD모듈 타입 및 에이징 조건을 설정하고, 동일한 모듈로 시험할 경우에는 제1 그룹(블록)에서만 모듈 및 에이징 조건을 지정하면 전체가 동일하게 설정된다(S8~S10).

이와 같이 설정이 완료된 후에 운영 스크린에서 '에이징 시작(Aging start)' 버튼을 클릭하여 에이징 시험을 시작한다(S11).

에이징 시험중인 각 시험상태는 운영 화면의 블록1 내지 블록 8에서 디스플레이 된다. 각 블록은 8개의 채널로 이루어지고, 각 채널별 에이징 시험 상태는 칼러로 표시된다. 녹색은 정상 에이징 채널을 나타내고, 적색은 LCM 에이징 시험중 로우 혹은 하이 리밋(Low Limit or High Limit)이 발생한 채널을 나타낸다. 그리고 운영자가 설정한 온도와 현재 온도 및 현재 시간도 나타난다.

에이징 시험중에 운영 화면(operator screen)에서 'NG상태(NGtatus)' 메뉴를 선택하면, 도 11에 도시된 바와 같이 NG(No Good) 상태 스크린이 디스플레이된다. NG 상태 스크린은 에이징 운용중 각 채널별로 문제가 발생할 경우 사유와 발생시간을 구동보드로부터 받아 운용자에게 제공하는 화면이다. 문제발생 사유는 하한 및 상한 제한치를 벗어난 경우이다(S12).

그리고 에이징 시험중에 운영 화면에서 '전류 모니터(Current monitor)' 메뉴를 선택하면 도 11에 도시된 바와 같이 전류 모니터 스크린(current monitor screen)이 디스플레이된다. 전류 모니터 스크린은 에이징 시스템 운용중 각 채널의 VDD1/VDD2의 소비 전류 측정 결과를 모니터하는 스크린이다(S13).

그리고 운영 스크린이나 메인티넌스 메뉴를 선택하여 운영조건을 변경할 수 있다. 특히, 운영 스크린에서 '자동/수동(Auto/Manu)' 버튼을 클릭하여 수동으로 처리한 후 원격제어장치(RCB)로 시험조건을 다양하게 변경하면서 정밀하게 검사할 수 있다(S14,S15).

이어 설정된 에이징 시험시간이 만료되었는지를 판단하여 끝나지 않았으면 계속 에이징 시험을 진행하면서 운용자의 조작에 따라 해당 스크린을 디스플레이하고, 만료시간이 되면 에이징 시험을 종료한다(S16).

이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명에 따른 에이징 시험 시스템은 다양한 LCD모듈의 요구조건을 충족시키면서 설정값에 따라 자동으로 에이징 시험을 수행할 수 있다. 특히, 단위 에이징 시험 시스템을 필요에 따라 확장하여 한꺼번에 많은 LCD모듈을 에이징 시험할 수 있으며, 운영자가 조작패널에서 터치 스크린을 이용하여 각종 상태를 쉽게 모니터링할 수 있어 편리하다. 그리고 그룹(블록)별로 에이징 조건을 달리 설정할 수 있으므로 다양한 종류의 LCD모듈을 한꺼번에 에이징 시험할 수 있다.

Claims

에이징 시험을 위한 시험조건과 운용조건을 설정할 수 있고, 전체 동작을 제어하기 위한 시스템 셋업 제어기와, 제어신호에 따라 시험을 위한 전원을 제공하는 전원공급장치를 포함하여 단위 에이징 시험시스템으로 LCD모듈을 시험할 수 있도록 된 에이징 시험 시스템에 있어서,

상기 단위 에이징 시험 시스템이,

상기 시스템 셋업 제어기로부터 시험관련 데이터를 전달받아 다수개의 구동보드로 전달하고, 구동보드로부터 전달받은 감시전류전압을 제한치와 비교하여 상태정보를 상기 시스템 제어기로 제공하는 하나의 제어보드;

상기 제어보드로부터 시험관련 데이터를 전달받아 내부 패턴 시험시 내부패턴신호를 발생하고, 설정된 타이밍으로 LCD모듈측에 전원 공급하는 적어도 하나 이상의 구동보드;

상기 구동보드로부터 구동신호를 전달받아 시험모듈에 적합한 구동신호를 제공하는 버퍼보드; 및

전원을 입력받아 LCD모듈의 백라이트를 위해 필요한 전원을 공급하는 인버터를 포함하는 것을 특징으로 하는 에이징 시험 시스템.
제1항에 있어서, 상기 제어보드는

상기 시스템 셋업 제어기와 통신을 인터페이스하기 위한 통신부와, 상기 전원공급장치로부터 전달받은 전원을 LCD모듈로 분배하는 전원분배부, 제어보드를 구동보드와 접속하기 위한 구동보드 접속부, 내부 롬의 데이터를 참조하여 상기 통신부로부터 전달받은 신호를 상기 구동보드 접속부로 전달하며, 상기 전원 분배부를 제어하여 LCD모듈에 인가되는 전원을 시스템 셋업 제어기의 설정값으로 조절하는 제어부로 이루어지는 것을 특징으로 하는 에이징 시험 시스템.
제1항에 있어서, 상기 구동보드는

상기 제어보드와 접속하기 위한 제어보드 접속부와, 상기 제어보드 접속부로부터 전달받은 설정값에 따라 소정 구동패턴을 발생하는 패턴발생부, 상기 패턴발생부로부터 구동패턴을 입력받아 상기 버퍼보드에 전달하기 위한 버퍼보드 접속부, 상기 제어보드 접속부로부터 전달받은 제어 데이터에 따라 전원 온/오프 타이밍 제어신호를 제공하는 제어로직, 상기 제어로직의 제어신호에 따라 LCD모듈에 인가되는 전원을 온/오프하는 스위칭부로 이루어지는 것을 특징으로 하는 에이징 시험 시스템.
제1항에 있어서, 상기 버퍼보드는

상기 구동보드로부터 입력받은 구동패턴을 TTL구동신호, LVDS구동신호, TMDS구동신호 중 어느 한 신호규격으로 변환하여 LCD모듈로 제공하는 것을 특징으로 하는 에이징 시험 시스템.
다수의 LCD모듈을 에이징 시험하기 위한 에이징 시험방법에 있어서,

전원이 온되면 운용 화면을 표시하는 단계;

상기 운영 화면에서 메인티넌스 메뉴를 선택하여 시험패턴을 설정하거나 모듈을 등록하는 단계;

각 에이징 그룹별로 시험대상 LCD모듈의 타입 및 에이징 조건을 지정하거나 동일모듈로 시험할 경우에는 한꺼번에 시험대상 LCD모듈 타입 및 에이징 조건을 지정하여 설정하는 단계;

에이징 시험이 시작되면, 설정된 조건으로 각 LCD모듈을 시험하고, 운용자의 조작에 따라 소정 화면을 제공하는 단계; 및

설정된 에이징 시간이 만료되면 에이징 시험을 종료하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 에이징 시험 방법.
제5항에 있어서, 상기 소정 화면을 제공하는 단계는,

운용자가 에이징 시험중에 NG상태를 선택하면 시험중 발생된 불량 정보를 제공하고, 전류 모니터링을 선택하면 각 모듈의 전류값을 표시하는 것을 특징으로 하는 에이징 시험방법.