KR100341614B1 - 용융 금속 탕면 측정 레벨계를 사용하는 연속주조장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 용융 금속의 연속 주조를 위한 연속 주조 장치에 관한 것이다. 더욱 상세하게는, 본 발명은 용융 금속이 연속 주조될 때 주형 내의 용융 금속의 탕면 레벨을 제어하는 방법 및 장치를 제공한다. 본 발명에 따른 연속 주조 장치는 다음을 포함한다: 용융 금속이 주입되고 응고되는 주형과; 주형 내의 용융 금속 탕면 레벨을 검출하는 와전류식 용융 금속 탕면 레벨 센서. 주형을 둘러싸도록 배치된 전자기 코일을 가지고, 또한 전자기 코일로부터 펄스 자장을 발생하는 전원을 가지는 연속 주조 장치에 있어서, 전원으로부터 자장에 대응하는 펄스 트리거 신호를 추출하는 기구 및 용융 금속 레벨 센서에 의하여 용융 금속의 탕면을 검출하는 시간을 제어하기 위한 기구가 제공된다.

Description

용융 금속 탕면 측정 레벨계를 사용하는 연속주조장치{CONTINOUS CASTING APPARATUS USING A MOLTEN METAL LEVEL GUAGE}

일반적으로, 용융 금속이 연속적으로 주조될 때, 파우더는 주형 내에 주입된 용융 금속의 풀(pool)의 상면 상에 공급된다. 주형 벽 및 응고 셀 사이에서 야기되는 상대적 운동에 의하여, 용융 파우더는 수직으로 진동하는 주형 벽 및 기설정율로 인발되는 금속의 응고 셀 사이로 유입된다. 메니스커스 및 응고 셀의 단부는 용융 금속이 주형 벽 및 응고 셀 사이로 유입될 때 발생되는 동압에 의하여 변형된다. 상기 변형은 주형에 주어진 진동 주기로 반복된다. 그러므로, 진동 마크로 불리는 주기적 주름이 주조편의 표면상에 형성된다. 주름의 깊이가 깊을 때, 상기 주조편의 표면상에는 결함이 야기될 것이다. 강의 종류에 따라, 특정 원소만이 진동 마크의 하부에 편석(segregate)되고, 다수의 기포가 발생되고, 또한 금속 내부에 개재물(inclusion)이 증가되는데, 이는 제품의 항복점을 저하시킨다.

한편, 빌레트(billet) 또는 소단면을 가지는 주조 블룸(bloom)이 연속적으로주조될 때, 전술한 파우더를 대신하여 유채유(rape seed oil)가 사용된다. 상기 유채유는 메니스커스 상에서 연소되고, 흑연이 되어, 응고 셀이 주형 벽에 소착(seizing)되는 것을 방지한다. 그러나, 주조 블룸의 표면에 규칙적으로 명료한 진동 마크를 형성하는 것은 어렵다. 그러므로, 연속 주조 작업 및 주조 블룸의 품질의 안정성은 파우더가 사용된 방법에 비하여 좋지 못하다.

초기 응고를 제어하는 방법과 관련하여, 일본 공개 특허 공보 52-32824호가 다음과 같은 기술을 개시하고 있다. 연속 주조 방법에 있어서, 용융 금속이 윤활제와 함께 주기적으로 진동하는 수-냉각 주형에 주입되고, 연속적으로 하향 인발되는데, 여기에는 주형의 주위에 전자기 코일이 설치되고, 상기 전자기 코일에는 교류가 연속적으로 공급되어, 교류 자기장이 형성된다. 교류 자기장에 의하여 발생된 전자기력은 주형에 주입된 용융 금속의 메니스커스에 제공된다. 그러므로, 상기 메니스커스는 전자기력의 작용에 의하여 만곡되어, 주조편의 표면 상태량은 개선된다. 또한, 일본 공개 특허 공보 64-83348은 다음과 같은 기술을 개시하고 있다. 전자기력이 전자기 코일에 의하여 주형의 용융 금속에 제공될 때, 교류 자기장은 펄스와 같이 주어진다. 전술한 바에 기인하여, 상기 파우더 주조 방법에서 전자기력은 단속적으로 용융 금속에 제공되어, 주조편의 표면 상태량은 더욱 개선될 수 있다. 또한, PCT 국제 공개 공보의 일본 국내 재공개 공보에서는 다음과 같은 연속 주조 방법을 개시하고 있다. 전자기력을 제공하기 위하여, 교류의 진폭은 주형에 주어진 진동 주파수의 진폭과 동일한 방식으로 변화된다. 주형의 주파수(fm) 및 교류 자기장의 주파수(fp)가 0.69≤ln(fp/fm)≤9.9를 (여기서 ln은 상수) 만족하도록설정될 때, 메니스커스는 안정적으로 발생하고, 주조편의 표면 상태량은 더욱 안정된다.

용융 금속의 레벨을 검출하는 방법과 관련하여, 다양한 방법이 개발되고 또한 실행되고 있다. 용융 금속의 레벨을 검출하는 방법에 대한 예로서 다음과 같은 것들이 있다: 부재(float)가 사용되는 종래의 방법, 광학적 방법(광전 변환), 초음파 또는 방사선이 사용되는 방법, 침적 전극(dipped electrode)식 방법, 열전대가 사용되는 방법, 전자기 유도 시스템을 사용하는 방법. 또한, 일본 공개 특허 공보 3-122526, 3-138536, 4-187355 및 4-238661에 개시된 바와 같은 방법이 개발되어, 와전류의 변화에 의하여 야기되는 수신 코일의 임피던스 변화가 위상의 변화로 측정된다. 일본 공개 특허 공보 4-238661호는 다음과 같은 방법을 개시하는데, 상기 방법에서는 용융 금속의 탕면 레벨의 변화 범위가 다수의 검출기에 의하여 다수의 영역으로 분할 측정되고, 상기 검출기가 변경될 때, 용융 금속 레벨은 연속적으로 측정될 수 있다.

본 발명은 용융 금속이 연속적으로 주조될 때, 주형에 주입되는 용융 금속 탕면의 레벨을 측정하는 방법에 관한 것이다. 또한, 본 발명은 상기 방법을 사용하는 연속 주조장치에 관한 것이다.

도 1은 본 발명에 따른 연속 주조용 용융 금속 탕면 레벨계의 개요도이다.

도 2는 파형을 보여주는데, (a)는 전자기 발행장치의 전자기 코일의 전류 파형을 보여주고, (b)는 마스킹의 파형을 보여준다.

도 3(a)는 주파수 및 전류의 관계를 보여주는 도면이다.

도 3(b)는 전류의 on/off의 피치(To) 및 주조편의 표면 거칠기와의 관계를 보여주는 도면이다.

도 4는 본 발명에 따른 연속 주조법을 실행하는 조작 순서를 보여주는 플로우 차트이다.

도 5는 본 발명을 이해하기 위하여, 용융 금속을 주조하기 위한 연속 주조 장치의 용융 금속 탕면 레벨 제어 장치의 전 설비를 보여주는 도면이다.

도 6은 본 발명의 실시예에 사용되는 주형 슬라이드 장치의 배치를 보여주는 블럭도인데, 여기서 주형 MD의 종단면을 보여준다.

도 7은 도 6에 도시된 전원 회로의 배치를 보여주는 블럭도이다.

도 8은 도 7에 도시된 전원 회로로의 입력 Us, Vs, Ws의 시계열의 변화를 보여주고, 또한 전기 출력 제어 신호 Su, Sv, Sw의 시계열의 변화를 보여주는 타임 차트이다.

도 9는 본 발명의 실시예에 사용되는 또 다른 주형 슬라이드 장치의 전원 회로의 배치를 보여주는 블럭도이다.

도 10은 도 9에 도시된 전원 회로로의 입력 Us, Vs, Ws의 시계열 변화를 보여주고, 또한 출력 전압 U, V, W의 시계열의 변화를 보여주는 타임 차트이다.

그러나, 전술한 종래 기술이 전자기 유도 가열 장치가 설치된 연속 주조 장치에 실질적으로 적용될 때, 주형 내의 용융 금속 탕면 레벨을 정확히 검출하는 것은 불가능하다. 용융 금속 탕면 레벨의 검출 정확도가 악화될 때, 용융 금속 탕면 레벨을 제어하는 것은 어렵게 된다. 그러므로, 용융 금속의 메니스커스를 안정적으로 형성하는 것이 어렵게 된다. 결과적으로, 주조편의 탕면 상태량은 악화된다.

한편, 연속 주조 장치에 사용되는 용융 금속 탕면 검출 수단으로서, 와류식용융 금속 탕면 레벨계가 때때로 사용되는데, 상기 레벨계에는 교류 자기장에 의하여 발생된 전자기 유도 현상이 전술한 바와 같이 적용된다. 상기 와류식 용융 금속 탕면 레벨계 외에, 주형 내에 매설된 열전대가 사용되는 방법 및 γ선을 이용하는 투과식 센서가 사용되는 방법이 제공될 수 있다. 그러나, 정확도 및 응답 상태량 측정을 개선하고자 하는 경우에는, 와류식 센서가 가장 우수한 센서이다. 그러므로, 와류식 센서는 연속 주조 공정에 널리 사용된다. 그러나, 전자기 코일이 연속 주조 장치에 사용되는 한은, 전자기 코일에 의하여 발생된 교류 자기장이 와전류식 용융 금속 탕면 레벨 센서 상에 노이즈로서 작용한다. 그러므로, 용융 금속 레벨을 정확하게 검출하는 것은 불가능하고, 또한 측정 정확도는 악화되는 심각한 문제점을 가진다. 상기 문제점은 특히 다음과 같이 기술된다. 예를 들면, 와류식 센서가 1000가우스 이상의 강도 및 200Hz 주파수를 가진 연속 전자기 유도 주조의 자기장에서 사용될 때, 신호 출력 전압은 포화되고, 자기장은 on된다. 그러므로, 포화 상태에서는 용융 금속 탕면 레벨을 측정하는 것은 불가능하고, 이는 용융 금속 탕면 레벨 측정에 있어 심각한 문제점이 된다.

전술한 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명은 다음과 같은 점에 착안하였다. 주조편의 탕면 상태량이 펄스 자기장을 발생함으로써 개선된 연속 주조 장치에 있어서, 고강도 노이즈는 펄스가 주어진 기간(자기장은 on)동안 와전류식 용융 금속 탕면 레벨 센서 상에 작용하나, 그러나, 노이즈는 펄스가 중단된 기간(자기장은 off)동안에는 와전류식 용융 금속 탕면 레벨 센서 상에 거의 작용하지 아니한다. 전술한 바에 착안하여, 본 발명은 다음과 같이 수행된다. 자기장이 on되는 기간 및자기장이 off되는 기간은 주기적으로 반복되고, 와전류식 용융 금속 탕면 레벨계 또는 주형 내장식 레벨계의 신호 처리 장치에 입력된다. 상기 신호 처리 장치에 있어서, 용융 금속 탕면 레벨은 자기장이 off되는 기간에서만 검출되고, 자기장이 on되는 기간에서는 검출되지 않는다. 전술한 바에 기인하여, 전자기 코일에 의하여 발생된 자기장의 노이즈에 영향을 받지 않고 용융 금속의 탕면을 안정적이면서도 정확하게 검출하는 것이 가능해진다. 본 발명의 요지는 다음과 같이 기술될 것이다.

(1) 용융 금속의 연속 주조 장치에 있어서;

주형을 둘러싸도록 주형 내부의 용융 금속 주위에 배치되는 전자기 코일과;

상기 전자기 코일에 주기적으로 단상 교류의 실효치가 큰 경우와 단상 교류의 실효치가 작은 경우를 주는 전원 장치와;

용융 금속의 탕면을 검출하는 센서 시스템과;

상기 전원 장치에 의하여 주기적으로 발생된 단상 전류의 실효치가 큰 경우에 상기 센서 시스템에 정보를 전송하고, 상기 전원 장치에 의하여 주기적으로 발생하는 단상 전원의 실효치가 낮은 경우에 상기 센서 시스템에 정보를 주는 매체로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 용융 금속의 연속 주조 장치.

(2) 제 1항에 있어서, 상기 센서 시스템에 의하여 발생된 용융 금속 탕면 레벨치가 전송을 실행하는 상기 매체의 정보에 의하여 결정되는 것을 특징으로 하는, 용융 금속의 연속 주조 장치.

(3) 제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 센서 시스템에 의하여 발생된 용융금속 탕면 레벨치가 단상 교류가 낮을 때에 한하여 전송을 실행하는 상기 매체의 정보로서 출력되는 것을 특징으로 하는, 용융 금속의 연속 주조 장치.

(4) 제 1항 내지 제 3항 중 어느 한 항에 있어서, 전송을 실행하는 상기 매체는 전기 신호선인 것을 특징으로 하는, 용융 금속의 연속 주조 장치.

(5) 제 1항 내지 제 4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 센서 시스템은

일차 신호 발생장치와;

상기 일차 신호의 전류로부터 전자장을 발생하는 일차 센서 코일과;

이차 센서 코일이 상기 전자장을 통과할 때 이차 전압을 발생하는 이차 센서 코일과;

상기 이차 센서 코일에 의하여 발생된 상기 이차 전압의 신호를 처리하는 이차 신호 처리장치로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 용융 금속의 연속 주조 장치.

(6) 제 1항 내지 제 5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 일차 신호 처리장치의 출력이 전송을 실행하는 상기 매체의 정보에 따라 on 및 off되는 것을 특징으로 하는, 용융 금속의 연속 주조 장치.

(7) 제 1항 내지 제 5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 이차 신호 처리장치의 출력은 on 및 off되는 것을 특징으로 하는, 용융 금속의 연속 주조 장치.

(8) 제 1항 내지 제 7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 전원 장치의 출력은 전자기 코일의 단상 교류의 강도가 낮을 때 0인 것을 특징으로 하는, 용융 금속의 연속 주조 장치.

(9) 제 1항 내지 제 8항 중 어느 한 항에 있어서, To이 전자기 코일의 단상교류 강도가 높고 낮은 경우의 일 주기인 경우에 일 주기 To이 30≤To≤300(m·sec)이고, 단상 교류의 주기 f가 60≤f≤400(Hz)인 것을 특징으로 하는, 용융 금속의 연속 주조 장치.

이하, 본 발명의 첨부 개요도에 기초하여 본 발명을 설명한다.

도 1은 본 발명에 따른 연속 주조용 용융 금속 탕면 레벨계의 개요도를 보여주는 장치도이다. 도 1에서, 주형(1)의 용융 금속(2) 탕면(3)에 대응하는 위치에서 주형(1)의 외부 주위에 전자기 발생장치(4)가 설치된다. 주형(1)의 용융 금속(2)은 상기 전자기 발생장치(4)에 의하여 발생된 교류에 의하여 교반되고, 즉, 용융 금속(2)의 대류가 야기된다. 용융 금속(2) 탕면(3)의 바로 위에는, 용융 금속 탕면 레벨을 측정하기 위하여, 용융 금속 탕면 레벨 센서(5)가 설치된다. 일반적으로, 와전류(eddy current)식 레벨계 또는 주형 내장식 레벨계가 용융 금속 탕면 레벨 센서(5)에 사용된다. 상기 용융 금속 탕면 레벨 센서(5)는 일차 코일(7) 및 이차 코일(8)로 이루어지는데, 상기 코일은 상기 용융 금속 탕면과 평행하고, 전도성 강자성 물질(6)이 상기 일차 코일(7) 및 이차 코일(8)의 사이에 위치된다. 전술한 상태에서 상기 용융 금속 탕면 레벨 센서(5)에 의하여 상기 용융 금속 탕면 레벨이 측정될 때, 다음과 같은 문제가 야기될 수 있다. 전자기 코일이 사용되는 한은, 상기 전자기 발생장치(4) 내부의 전자기 코일에 의하여 발생된 교류 자장이 상기 용융 금속 탕면 레벨 센서(5)에 노이즈를 발생시키며 작용한다. 따라서, 용융 금속의탕면 레벨을 정확히 검출하는 것은 불가능하고, 또한 측정 정확도가 악화된다.

전술한 노이즈를 제거하고 상기 용융 금속 탕면을 안정적으로 측정하기 위하여, 본 발명자는 다음과 같은 대응책을 사용하였다. 도 2에 도시된 바와 같이, 전원에 의하여 발생된 전류는 전자기 코일을 통하여 ON 및 OFF 사이를 주기적으로 변환하는 파형을 가진다. ON 상태에서는 교류 자장이 전자기 코일에 의하여 발생되고, OFF 상태에서는 어떠한 교류 자장도 발생하지 않는다. 본 발명자는 전술한 현상에 착안하였다. 따라서, 상기 전자기 발생장치(4)는 ON 및 OFF 패턴에서 조작되도록 결정되었다. 상기 전자기 발생장치(4)의 ON 및 OFF 패턴에 의하여 수행되는 조작에 따라, ON/OFF는 (b)에 도시된 바와 같이 상호 평행한 상태로 수행되고, 즉, 상기 전자기 발생장치(4)의 ON 패턴의 경우에는, 마스킹(masking)이 행해지고, 상기 전자기 발생장치(4)의 OFF 패턴의 경우에서만이, 상기 용융 금속 탕면 레벨 센서(5)에 의하여 발생된 신호가 상기 용융 금속 탕면 레벨을 측정하도록 처리된다. 즉, 전류가 주기적으로 상기 전자기 발생장치(4)의 전자기 코일에 제공된다. 상기 전류가 제공될 때, 바람직하게는 상기 전자기 코일의 전류가 on될 때, 회전 자계의 방향은 정상 및 역전 사이에서 변화된다. 전류가 off 되는 임의의 수의 주기가 제공된다. 그 다음, 전류의 주기적 공급이 반복된다. OFF 시간의 주기동안만, 상기 용융 금속 탕면 레벨이 와전류식 레벨 게이지 또는 주형 내장식 레벨 게이지에 의하여 측정되고 출력된다. 상기와 같은 방식으로, 상기 용융 금속 탕면 레벨이 항상 정확히 측정될 수 있다. 측정에 필요한 처리는 이하에서 상세히 설명한다.

일차 신호는 일차 신호 발생장치(9)로부터 상기 용융 금속 레벨 센서(5)의일차 코일로 송신된다. 상기 일차 신호는 단속적으로 또는 연속적으로 송신될 수 있다. 상기 일차 신호는 전도성 강자성 물질(6)에 의하여 증폭되고, 상기 이차 코일(8)로 전송되고, 이차 신호는 방출된다. 상기 이차 신호는 신호 처리 기구(10)로 송신되고 처리된다. 상기 이차 신호 처리 기구(10)는 다음을 포함한다: 상기 신호를 증폭하기 위한 증폭기 필터(10); 파고치 검출 및 위상 검출을 행하기 위한 검출기; RMS(12); 증폭기(13). 상기 이차 신호 처리 기구(10)는 신호를 처리한다. 또한, 상기 이차 신호 처리 기구(10)는 마스킹 신호에 따라 신호를 처리한다. 한편, 전자기 코일에 제공되는 전류의 주파수를 제어하기 위한 제어부(15)로부터 ON 영역 또는 OFF 영역의 명령이 정현파 외에 사다리꼴파를 따라 송신된다. 본 발명에서는, 제어부(15)가 다음과 같은 방식으로 제어를 반복적으로 행하는 것이 바람직한데, 상기 방식에서는 전자기 코일의 전류가 1 에서 5 주기로 on되고, 그리고 상기 전류가 on될 때, 임의의 수의 OFF 시간이 제공되고, 그리고 나서, 전자기 코일의 전류가 1 에서 5 주기로 on된다. 상기 경우에, 상기 전류가 off 될 때에만, 제어는 시작될 수 있다. 상기 전자기 코일의 전류가 off 될 때, 다음과 같은 상태에서 조작이 행해지고, 상기 상태에서는 전류의 저 강도치가 on되어, 전자기 코일 및 와전류식 레벨 게이지 또는 주형 내장식 레벨 게이지 사이의 어떠한 상호 작용도 야기될 수 없다. 전술한 바에 기인하여, 노이즈의 강도치가 추가적으로 감소될 때, 상기 용융 금속 탕면 레벨을 측정하는 것이 가능해진다. 상기 제어부(15)의 명령이 추가적으로 상기 일차 신호 발생장치(9) 및 RMS(12)로 송신되고, 상기 용융 금속 탕면 레벨을 측정하기 위한 정보 처리는 상기 전류가 off 될 때 수행된다.

특히, 본 발명에서는, 주파수(f) 및 전류를 공급하는 ON/OFF 피치가 60≤f≤400(Hz) 및 30≤To≤300(msec)의 수식을 만족시킬 때, 상기 전류가 on되는 것이 바람직하다. 도 3(a)에 도시된 바와 같이, 본 발명에서는, 주파수가 상기 주파수 및 전류 사이의 관계에 따라 대략 200Hz일 때, 노이즈의 강도치가 최소가 된다. 주조편의 표면 거칠기(Rmax) 및 전류를 공급하는 ON/OFF 피치 사이의 관계가 주파수 200Hz에서 체크될 때, 도 3(b)에 도시된 바와 같이, 전류를 공급하는 피치(To)가 200msec일 때는, 주조편의 표면 거칠기는 상당히 개선된다. 따라서, 주조편의 표면 거칠기의 개선 측면에서 보면, 전류를 공급하는 ON/OFF 피치(To)가 30에서 300msec 범위에서 유지될 때, 전류가 흐르는 것이 바람직하다. 덧붙여 말하면, To이 30msec 이하 또는 300msec 이상인 경우에는, 상기 용융 금속 탕면 레벨 게이지가 변화를 뒤따르는 것이 불가능하다. 따라서, ON/OFF 피치의 설정은 전술한 바와 같이 결정되는 것이 바람직하다.

또한, 본 발명에서는, 다양한 코일 및 마스킹 디바이스가 와류 레벨계 또는 주형 내장 레벨계의 이차 코일 측 상에 추가될 때, 전자기 코일에 의하여 발생된 교류 자장에 의하여 영향을 받지 않고 정확히 용융 금속 탕면 레벨을 검출하는 것이 가능하다.

도 4는 연속 주조의 매우 정확한 조작 순서를 보여주는 플로우차트인데, 상기 조작에서는 어떠한 노이즈도 교류 자장에 발생되지 않는다.

본 발명에 따른 용융 금속 탕면을 제어하는 방법에서는, 주형 진동 장치로부터 진동 트리거(trigger) 신호를 발생시키기 위하여, 주형 진동용 모터의 회전 변위가 검출되고, 상기 회전 변위가 상기 진동 트리거 신호가 on 되는 상태에 있는지가 결정된다. 상기 회전 변위가 진동 트리거 신호가 on 되는 상태에 있을 때, 상기 진동 트리거 신호가 on 된다. 상기 회전 변위가 진동 트리거 신호가 on 되는 상태에 있지 않을 때는, 상기 진동 트리거 신호는 off 된다. 상기 진동 트리거 신호가 off 될 때, 전원 장치가 전류 공급을 중단한다. 상기 진동 트리거 신호가 on 될 때, 펄스 전류의 검출은 절대치 검출 회로의 검출 전류 신호 상에 행해지고, 그리고 펄스 트리거 신호는 연산 장치에서 발생된다. 다음으로, 펄스 트리거 신호가 on 또는 off 되는지 여부가 결정된다. 펄스 트리거 신호가 on 상태에 있을 때, 샘플링이 레벨 신호 상에 행해진다. 한편, 상기 펄스 트리거 신호가 off 상태에 있을 때, 마지막에 측정되는 상기 샘플링치가 홀드 되고 샘플링은 행해지지 않는다. 전술한 바와 같이 얻어지는 용융 금속 탕면 레벨의 샘플링 및 홀딩 신호는 로우 패스 필터 처리 및 리니어라이저 처리를 겪게되고, 그리고 나서, 후속 용융 금속 탕면 레벨 제어 시스템으로 전송된다. 상기와 같은 방식으로, 용융 금속 탕면 레벨 제어는 수행된다.

다음으로, 도 5와 관련하여, 본 발명의 연속 주조 용융 금속을 위한 연속 주조 장치의 용융 금속 레벨 제어 장치의 전체 구성을 상세히 설명한다.

도 5에서는, 용융 금속(2)은 주조 노즐(18)로부터 연속 주조용 주형(1)으로 주입된다. 주형(1)에는, 상기 주형(1)을 수직으로 진동시키기 위한 진동 장치(19)가 설치된다. 주형(1)을 둘러싸는 전자기 코일(4)도 설치된다. 펄스상의 교류가 상기 전자기 코일(4) 내를 흐를 때, 용융 금속에는 전자기력이 주어지고 안정한 메니스커스(meniscus)가 형성된다. 한편, 용융 금속 직상부에 와전류식의 용융 금속 레벨 센서의 헤드부(5)가 설치된다. 주형 내의 용융 금속 탕면의 레벨은 상기 헤드부(5)에 의하여 항상 측정된다.

본 발명에 따른 용융 금속 탕면 레벨 제어 장치에서는, 진동 트리거 신호가 상기 주형 진동 장치(19)에 의하여 발생된다. 그러므로, 회전 엔코더(encoder)(20)가 상기 주형 진동 장치(19)의 모터 축(미도시)에 부착되어 있고, 모터(미도시)의 회전 변위가 회전 엔코더(20)에 의하여 검출된다. 그리고 나서, 진동트리거 신호(22)가 비교 연산에 근거하여 회전 엔코더(20)에 연결된 연산 장치(21)에 의하여 발생되는데, 상기 연산 장치에서는 트리거 신호가 출력되어야 하는 회전 변위의 기존 데이터와 추출된 회전 변위의 실제 데이터가 비교된다. 상기 진동 트리거 신호(22)는 전자기 코일(4)의 조작을 시작하는 전원 장치(23)로 전송된다. 그리고 나서, 상기 진동 트리거 신호에 따라, 상기 전원 장치(23)의 전원(24)은 여자 코일에 펄스상의 교류 흐름을 만들고, 이에 의하여 펄스 자장은 발생될 수 있다.

전류 센서(26)가 전원(24) 및 전자기 코일(4)의 사이의 케이블(25)에 설치된다. 전류 신호는 상기 전류 센서(26)에 의하여 검출된다. 상기와 같이 검출된 전류 신호는 절대치 검출 회로(28)에서 절대치 검출을 겪게 되는데, 상기 회로(28)는 펄스 트리거 신호 추출 기구(27) 내에 배치된다. 또한, 펄스 자장이 off 될 때 샘플링이 행해지도록 펄스 트리거 신호(30)가 연산 장치(29)에 의하여 발생되고, 상기와 같이 발생된 펄스 자장은 용융 탕면 레벨 센서 신호 처리 기구(31)로 전송된다. 상기 용융 탕면 레벨 센서 신호처리 기구(31)는 다음을 포함한다: 고주파 증폭기및 필터(32), 샘플링 및 홀딩 회로(33), 로우 패스 필터(34) 및 리니어라이저(35). 상기 장치는 펄스 트리거 신호(30)에 따라 신호를 샘플링 또는 홀딩 한다. 전술한 바에 기인하여, 와전류식 용융 금속 탕면 레벨 센서 헤드부(5)에 의하여 검출되는 용융 금속 탕면 레벨 신호의 시간 신호는 제거되는데, 상기 시간 신호는 전자기 코일(4)에 의하여 발생된 노이즈를 포함한다. 상기와 같은 방식으로 노이즈가 제거된 용융 금속 탕면 레벨 신호는 로우 패스 필터(34) 및 리니어라이저(35)의 처리를 겪게 되고, 이에 따라 정확한 용융 금속 탕면 레벨 신호가 용융 금속 탕면 레벨 제어 시스템(36)으로 전송될 수 있다. 상기와 같은 방식으로, 용융 금속 탕면 레벨은 매우 정확히 제어될 수 있다.

다음으로, 본 발명에 따른 장치에서 실행되는 주형 활동(滑動) 조작에 대해 설명한다. 주형을 활동시키는 목적은 주기적인 핀치력(pinching force)을 줌으로써 파우더가 균일하게 주형에 주입되고 그리고 진동 마크의 발생이 억제되거나 정지되게 하는데 있다.

도 6은 연속 주조 주형 MD의 종단면도인데, 상기 MD에는 본 발명에 따른 일 실시예가 설치되어 있다. 주형 MD는 두 개의 장변(長邊)(46)을 가지는데, 상기 장변은 상호 대향하고 있고, 또한 두 개의 단변(47)을 가지는데, 상기 단변은 상기 두 개의 장변 사이에 위치된다. 용융 금속은 본 도면에는 도시된 바 없는 주입 노즐을 통하여 상부로부터 하부로 주형 MD에 주입된다. 주형의 용융 강 MM 상의 메니스커스(meniscus)(상표면)는 파우더 PW로 덮인다. 주형 MD는 냉수에 의하여 냉각되는데, 상기 냉수는 물 상자 및 주형 내부에 설치되는 수로로 흐른다. 그러므로, 주형 MD에 주입되는 용융 강 MM은 주형 MD의 표면과 접촉하는 표면으로부터 점차 고화되고, 주조 슬래브 SB는 연속적으로 인발(drawn out)된다. 그러나, 용융 강 MM이 연속적으로 주입되기 때문에, 주형은 언제나 용융 강 MM으로 충만하게 된다.

상기 주형 MD의 주위로, 여섯 개의 전기 코일(37 - 42)이 감겨져 있는데, 상기 코일은 수직 축(z)을 둘러싸는 방식으로 z 방향으로 분포되어 있다. 전원이 상기 전기 코일(37 - 42)에 공급될 때, 각 코일을 흐르는 전류에 대응하는 핀치력(응집력)이 각 코일의 수직 방향(z)의 레벨에 위치하는 용융 금속에 작용한다. 따라서, x 및 y 방향의 용융 금속 MM의 분포는 z축 방향으로 수축된다. 용융 금속 MM의 분포가 전술한 바와 같이 수축되기 때문에, 메니스커스가 부풀어오른다. 따라서, 핀치력이 작용하는 (z 방향) 레벨의 외측면 상의 용융 금속 MM 응고 셀 및 주형 내면 사이에서 극간이 발생되고 확장된다. 결과적으로, 파우더가 간극에 진입한다.

상기 실시예에서, 3-상 전원 회로에 의하여, 전기 코일(37 - 42)에는 3-상 신호 발생장치(48)에 의하여 주어지는 신호 Us, Vs, Ws와 동기화(synchronize) 되는 3-상 펄스 전압 U, V, W가 인가된다. 신호 Us, Vs, Ws 사이에는 120°의 지연이 야기된다.

상기의 3-상 펄스 신호 발생장치(48)는 교류 전압 반 주기(위상각 0 에서 179°)의 각 위상각을 나타내는 데이터를 수용한다. 상기 3-상 신호 발생장치(48)는 다음을 포함한다: 사인파의 반파 발생용 ROM; 위상 카운터; 신호 Us, Vs, Ws 출력용 세 개의 래치(latch); 출력용 래치를 위한 데이터를 아날로그 전압으로 변환하는 D/A 컨버터; 위상각 카운터의 클럭 펄스 카운트치에 따라 3상의 반파 전압 데이터 Us, Vs, Ws를 판독하고 그리고 위상 출력용 세 개의 래치에 래치하기 위한 판독 제어 회로.

상기 위상 카운터는 다음과 같은 방식으로 조작되는 순환 카운터인데, 상기 방식에서는 핀치 제어기(49)에 의하여 주어지는 클럭 펄스가 0부터 시작되고, 상기 카운트치가 360이 될 때 상기 카운트치가 초기화되고 그리고 나서 카운트 조작은 그 시점에서 다시 시작된다.

상기 판독 제어 회로는 다음과 같이 조작된다. 클럭 펄스가 발생되고 상기 클럭 펄스의 발생에 응답하여 위상각 카운터가 1 카운트 업을 완료할 때, 상기 위상각 카운터의 카운트치는 체크된다. 상기 카운트치가 0 에서 179의 범위에 있을 때, 상기 카운트치(위상각)에 대응하는 전압 데이터가 ROM으로부터 판독되고, Us, Vs 및 Ws에 대한 세 개의 출력 래치의 제 1상 Us로 래치 된다. 상기 카운트치가 180이 될 때, 당해 래치는 지워지고, 카운트치가 181에서 360에 있을 때, 상기 지움 상태는 유지되고, 즉, 0의 출력치가 유지된다. 다음으로, 카운트치로부터 120이 공제될 때 얻어지는 값이 체크된다(카운트치로부터 120을 공제할 때 얻어지는 값이 음수인 경우, 360이 상기 값에 더해진다). 상기 값이 0에서 179의 범위에 있을 때, 공제된 값에 대응하는 전압 데이터가 ROM으로부터 판독되고 래치 되어 상기 데이터는 출력 래치의 제 2상 Vs로 향해질 수 있다. 공제 값이 180일 때, 상기 래치는 지워지고, 상기의 지움 상태는 181에서 360의 범위에서 유지된다. 그리고 나서, 상기 카운트치로부터 240이 공제될 때 얻어지는 값이 체크된다(상기 카운트치로부터 240을 공제함으로써 얻어지는 값이 음수인 경우, 360이 상기 값에 더해진다). 상기 값이 0에서 179의 범위에 있을 때, 공제된 값에 대응하는 전압 데이터는 ROM으로부터 판독되고 래치 되어 상기 전압 데이터는 출력 래치의 제 3상 Ws로 향해질 수 있다. 공제 값이 180일 때, 상기 래치는 지워지고, 상기와 같은 지움 상태는 181에서 360의 범위에서 유지된다.

상기 래치 데이터는 D/A 컨버터에 의하여 아날로그 전압, 즉, 도 8에 도시된 아날로그 신호 Us, Vs 및 Ws로 변환되고, 3-상 전원 회로(43) 상에 인가된다.

아날로그 신호 Us, Vs 및 Ws는 오직 3-상 교류 신호의 각 위상 전압의 정반파(positive half wave)이다. 상기 3-상 교류의 주파수는 클록 펄스 주파수의 1/360이고, 즉, 상기 3-상 교류 주파수가 클록 펄스의 주파수에 의하여 결정된다. 핀치 제어기(49)가 구동 주파수에 응답하여 클록 펄스를 발생할 때, 상기 클록 펄스는 3-상 신호 발생장치(48)에 제공되는데, 상기 구동 주파수는 제어 패널(50)을 통하여 오퍼레이터에 의하여 입력된다. 상기 경우에, (클록 펄스 주파수)=(오퍼레이터에 의하여 지정된 구동 주파수)×360이다.

도 7은 3-상 전원 회로(43)의 구성도를 나타낸다. AC로부터 DC로의 정류용 사이리스터 브리지(thyristor bridge)(51)가 3-상 교류 전원에 접속된다. 사이리스터 브리지(51)의 출력, 즉, 사이리스터 브리지의 맥류는 인덕터(54) 및 컨덴서(55)에 의하여 평활화된다. 상기와 같이 평활화된 DC 전압은 3-상 펄스용 파워 트랜지스터 스위칭 회로(56)에 인가된다. 상기 파워 트랜지스터 스위칭 회로(56)로부터 출력되는 3-상 펄스의 U-상 전압(펄스)이 도 6에 도시된 전기 코일 37, 38 상에 인가되고, V-상 전압은 전기 코일 38, 41 상에 인가되고, W-상 전압은 전기 코일 39,42 상에 인가된다.

코일 전압 명령 VcdA는 핀치 제어기(49)로부터 위상각 α 산출기(53)로 주어진다. 상기 위상각 α 산출기(53)는 연속성 위상각 α(사이리스터 트리거 위상각)를 연산한다. 상기 연속성 위상각을 나타내는 신호는 게이트 드라이버(52)에 제공된다. 상기 게이트 드라이버(52)는 각 위상의 0을 지나는 포인트에서 위상-카운트를 개시하고, 각 위상의 사이리스터는 전기 연속성을 달성하기 위하여 위상각 α에서 트리거 된다. 전술한 바에 기인하여, 명령 VcdA가 보여주는 DC 전압은 스위칭 회로(56) 상에 인가된다.

한편, 3-상 신호 발생장치(48)에 의하여 주어지는 위상 전압 Us, Vs 및 Ws는 비교기(58)에 제공된다. 임계치 전압(아날로그 전압)은 D/A 컨버터에 의하여 비교기(58)에 제공된다. D/A 컨버터는 상기 임계치 데이터를 아날로그 전압으로 변환한다.

U-위상 신호 Us가 상기 임계 전압보다 작지 않을 때는, 상기 비교기(58)는 고 레벨 H(트랜지스터는 on) 신호를 U-상(U-상 출력용 트랜지스터로)으로 출력하고, U-상 신호가 임계값보다 작을 때는, 상기 비교기(58)는 저 레벨 L(트랜지스터는 off) 신호를 U-상(U-상 출력용 트랜지스터로)으로 출력한다. V-상 신호 Vs 및 W-상 신호 Ws에 대해서도, 동일한 조작이 실행된다. 상기 실시예에 있어서, 2 이상의 3-상 스위칭 트랜지스터가 동시에 on 되는 것을 방지하기 위하여, AND 게이트 Au, Av, Aw가 설치된다. 신호 Us, Vs 및 Ws의 고 레벨 H에서 중복이 야기되는 경우에는, 사인파 Us, Vs 및 Ws가 펄스 신호 Su, Sv 및 Sw로 형성되고 게이트드라이버(57)에 제동되어, 시간적으로 전에 H가 되었던 신호가 L로 변환되고 난 다음, 시간적으로 후에 H가 되는 신호는 H가 될 수 있다.

상기와 같이 형성된 3-상 펄스 신호 Su, Sv 및 Sw에 따라, 상기 게이트 드라이버(57)는 신호가 H인 경우에만 대응 스위칭 트랜지스터(56)를 on 한다. 전술한 바에 기인하여, 3-상 펄스 전압의 U-상 펄스 전압은 전원 회로(43)의 전원 접속 터미널 U로 출력된다. 동일한 V-상 펄스 전압이 전원 접속 터미널 V로 출력되고, 그리고 동일한 W-상 펄스 전압이 전원 접속 터미널 W로 출력된다. 3상 펄스 전압의 레벨은 코일 전압 명령 VdcA에 의하여 결정된다.

또한, 상기 게이트 드라이버(57)는 핀치 제어기(49)에 의하여 주어진 전원 출력의 ON/OFF 신호에 따라 전압을 출력하는데, 즉, 신호가 ON을 가리킬 때는 전압이 전술한 바와 같이 출력된다. 그러나, 신호가 OFF를 가리킬 때는, 전압이 출력되지 않는다.

도 6을 다시 참조한다. 핀치 제어기(49)는 조작 패널(50)에 접속되어 있는데, 상기 조작 패널은 오퍼레이터가 데이터를 입력할 때 사용되고, 또한, 데이터가 오퍼레이터로 출력될 때 사용된다. 상기 핀치 제어기(49)는 주로 CPU로 구성된 컴퓨터 시스템이다. 주파수가 (구동 주파수)×360인 클록 펄스는 오퍼레이터에 의하여 조작 패널(50) 상에 입력되는데, 상기 클록 펄스는 3-상 신호 발생장치(48)로 보내진다. 전원 출력 ON/OFF 신호, 코일 전압 명령 VdcA 및 임계치 데이터는 3-상 전원 회로(43)에 보내진다.

핀치 제어기(49)는 통신선을 통하여 주조 관리용 컴퓨터(호스트 컴퓨터)에접속된다. 상기 핀치 제어기(49)는 상기 호스트 컴퓨터로부터 진동 동기 펄스를 수신하고, 핀칭이 구동되는 경우에, 핀칭 구동 여부를 보여주는 데이터를 상기 호스트 컴퓨터 및 조작 패널(50)로 출력하고, 또한, 핀칭 구동 상태를 보여주는 데이터를 호스트 컴퓨터로 출력한다.

또한, 도시된 바는 없는 진동 장치는 주형 MD에 부착된다. 상기 호스트 컴퓨터는 상기 진동 장치에 명령을 하여 상기 주형이 진동될 수 있고 진동 동기 신호가 진동 장치에 의하여 핀칭 제어기(49)에 보내진다. 상기 진동 동기 신호는 펄스 신호이고, 상기 신호의 레벨은 주형 MD가 상방 구동을 개시할 때부터 주형 MD가 저위(원위치)로 다시 복귀할 때까지의 기간동안 고 레벨 H이다. H의 일 펄스는 주형 MD가 z 방향으로 왕복동하는 기간을 나타낸다. H 펄스 사이의 L은 진동 휴지 기간을 나타내는데, 상기 기간 동안은 주형이 상방 및 하방으로 이동되지 않는다.

전원이 on 될 때, 핀치 제어기(49)는 내부 레지스터, 카운터, 타이머 및 입·출력 포트를 대기 상태로 설정하고, 제어 패널(50) 상에 'ready' 사인을 표시하고, 호스트 컴퓨터에 'ready'를 알리고, 데이터의 입력 또는 제어 명령의 도달을 기다린다. 데이터가 입력될 때, 상기 데이터는 데이터의 타입에 따라 레지스터에 내장된다. 그리고 나서, 상기 핀치 제어기(49)는 개시 명령을 기다린다.

핀치 구동 개시 명령이 상기 오퍼레이터 또는 호스트 컴퓨터에 의하여 제공될 때, 상기 핀치 제어기(49)는 구동 상태 데이터를 보내는데, 상기 데이터는 제어 패널(50) 또는 호스트 컴퓨터로부터 3-상 신호 발생장치(48)로 입력되고, 클록 펄스를 출력하고, 상기 3-상 전원 회로(43)가 전원의 출력을 on 하도록 지시한다. 상기 명령에 응답하여, 상기 3-상 전원 회로(43)는 상기 3-상 펄스 전압을 전기 코일(37 - 42) 상에 인가한다. 전술한 바에 기인하여, 상기 전기 코일(37 - 42)은 주형의 용융 금속 MM에 핀치력을 준다. 핀치 구동의 개시 후에, 상기 핀치 제어기(49)는 진동 동기 펄스와 동기화된다. 상기 진동 동기 펄스가 L로부터 H로 전환될 때, 전원 회로(43)의 게이트 드라이버(52)에 주어진 ON/OFF 신호는 OFF 명령의 레벨로 전환된다. 상기 진동 동기 펄스가 H로부터 L로 전환될 때, 상기 ON/OFF 신호는 ON 명령의 레벨로 전환된다.

도 8은 3-상 전원 회로(11)의 입력 신호 Us, Vs 및 Ws(3-상 신호 발생장치(48)의 출력 신호)의 시계열 변화를 보여주고, 또한, 게이트 드라이버(57)의 입력 신호 Su, Sv 및 Sw의 시계열 변화를 보여준다. 또한, 신호 Su가 H일 때, 컨덴서(55) 전압(출력 전압 U)은 전기 코일 37, 40에 인가된다. 신호 Sv가 H일 때, 컨덴서(55) 전압(출력 전압 V)은 전기 코일 38, 41에 인가된다. 신호 Sw가 H일 때, 컨덴서(55) 전압(출력 전압 W)은 전기 코일 39, 42에 인가된다. 상기 실시예에 있어서, 3-상 펄스 전압의 위상 U, V 및 W의 펄스 전압은 상기 순서에 따라 전기 코일(37 - 39) 상에 인가된다. 그러므로, 핀치력은 용융 금속 MM의 깊이 방향인 -z 방향으로 반복적으로 이동된다. 상기 핀치 구동은 주형 MD가 도 8의 해치 영역에 도시된 바와 같이 진동(수직 방향 z로 한 번의 왕복 운동; 진동 동기 신호는 H)할 때 종료된다.

따라서, 상기 실시예에 있어서, 주형 MD가 z 방향의 일 왕복동 진동을 할 때, 주형 MD는 용융 금속 및 용융 금속 표면상의 응고 셀에 대하여 수직 방향으로일 왕복 운동을 한다. 그러므로, 응고 셀을 포함하는 주형 및 용융 금속은 상호 분리된다. 그리고 나서 바로, 용융 금속에는 핀치력이 주어지고 -z 방향으로 이동된다. 전술한 바에 기인하여, 용융 금속 MM은 하향 진동을 한다. 주형 MD의 단부의 진동에 의하여, 주형 및 용융 금속 사이에 포획된 파우더와 또한 메니스커스 및 주형 내면의 접선 상에 위치하는 파우더는 주형의 내면 및 용융 금속 사이의 경계로 인입되고, 상기 주형은 하향 구동된다. 용융 금속 MM의 진동에 의하여, 주형 내면 및 용융 금속 사이의 경계 상에 위치하는 파우더는 다소 균일하게 -z 방향으로 분산될 수 있는데, 즉, 파우더 분산을 균일하게 하는 효과가 제공될 수 있다.

또 다른 실시예의 구성의 개요는 도 6에 도시된 실시예와 동일하다. 다만, 전술한 실시예와 다른 점이 있다면 그것은 3-상 전원 회로(43)가 도 9에서 도시된 바와 같이 형성된다는 점이다. 상기 실시예에 있어서, 도 9에 도시된 3-상 전원 회로(43)에서는 전술한 실시예에서 제공된 바 있는 AND 게이트 Au, Av 및 Aw가 제공되지 않고, 톱니파 발생장치(59)가 D/A 컨버터(59)를 대신하여 사용된다. 상기 톱니파 발생장치(59)는 비교기(58)에 톱니파 전압을 제공한다. 3-상 반파 신호 Us, Vs 및 Ws가 톱니파 전압에 비하여 작지 않을 때, 비교기(58)는 3kHz의 U, V 및 W의 위상으로 향하는 고 레벨 H의 PWM 펄스를 발생하고, 3-상 반파 신호 Us, Vs, Ws가 톱니파 전압에 비하여 작을 때는, 비교기(58)가 3kHz의 U, V, W의 위상으로 향하는 저 레벨 L의 PWM 펄스를 발생한다. 상기와 같이 발생된 PWM 펄스는 게이트 드라이버(57)에 보내진다. 첫 번째 실시예와 동일한 방식으로, ON/OFF 신호가 ON을 지시하는 레벨에 있을 때는, U상으로 향하는 PWM 펄스가 H일 때 게이트 드라이버(57)는스위칭 트랜지스터 회로(56)의 위상 U로 향하는 트랜지스터를 on하고, U상으로 향하는 PWM 펄스가 L일 때 게이트 드라이버(57)는 스위칭 트랜지스터 회로(56)의 위상 U로 향하는 트랜지스터를 off한다. V 및 W에 대하여도, 동일한 조작이 실행된다.

그러나, (영역 H의 시간)/(3kHz의 일 주기)인 PWM 펄스의 H 듀티 비(duty ratio)가 3-상 반파 전압 Us, Vs, Ws의 레벨에 비례하기 때문에, 사인파는 실질적으로 전기 코일 상에 인가된 전압 U, V, W의 평균치에 의하여 그려진다. 즉, 상기 평균치는 실질적으로 사인파이다.

도 10은 (도 9에 도시된) 3-상 전원 회로(43)의 입력 신호 Us, Vs, Ws(3-상 신호 발생장치(48)의 출력 신호)의 시계열의 변화를 보여주고, 또한, 전기 코일(37 - 42) 상에 인가된 전압 U, V, W(평균치)의 시계열의 변화를 보여준다.

상기 실시예에 있어서, 3-상 교류 반파 전압은 전기 코일(37 - 42) 상에 인가된다. 그러므로, 핀치력은 전술한 실시예에 비하여 -z 방향으로 좀 더 원활히 이동될 수 있다. 즉, 용융 금속의 진동이 전술한 실시예에 있어서는 계단형으로 행해짐에 반하여, 상기 실시예에 있어서는 용융 금속의 진동이 연속적으로 행해진다.

전술한 바와 같이, 본 발명에 있어서는, 교류가 전자기 코일 내에 흐를 때, 상기 교류의 ON/OFF 피치가 제어되고, 즉, 바람직하게는, 교류가 on될 때, 회전이 정상 및 역전으로 행해지고, 임의의 수의 OFF 주기가 제공된다. 전술한 바에 기인하여, 안정적인 표면 상태량을 얻을 수 있고, 전기 장치의 단가가 낮은 연속 주조 장치를제공할 수 있게 된다.

상기 핀치력이 하향 이동될 때, 파우더가 균일하게 분산될 뿐만 아니라, 파우더의 인입이 촉진되고, 용융 금속 및 주조편의 추가적인 하향 이동이 촉진된다. 그러므로, 본 발명은 주조율이 증가하거나 또는 파우더가 주입되는 연속 주조 조작에 적합하다. 한편, 핀치력이 상향 이동되는 실시예에서는, 상향 이동하는 핀치력이 파우더의 분산을 균일하게 할뿐만 아니라, 파우더 주입 및 용융 금속 및 주조편의 하향 이동을 억제한다. 따라서, 핀치력이 하향 이동하는 실시예는 주조율이 감소되거나 또는 파우더의 주입이 억제될 때 적합하다.

Claims (9)

1. 용융 금속의 연속 주조 장치에 있어서;

   주형을 둘러싸도록 주형 내부의 용융 금속 주위에 배치되는 전자기 코일과;

   상기 전자기 코일에 주기적으로 단상 교류의 실효치가 큰 경우와 단상 교류의 실효치가 작은 경우를 주는 전원 장치와;

   용융 금속의 탕면을 검출하는 센서 시스템과;

   상기 전원 장치에 의하여 주기적으로 발생된 단상 전류의 실효치가 큰 경우에 상기 센서 시스템에 정보를 전송하고, 상기 전원 장치에 의하여 주기적으로 발생하는 단상 전원의 실효치가 낮은 경우에 상기 센서 시스템에 정보를 주는 매체로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 용융 금속의 연속 주조 장치.
2. 제 1항에 있어서, 상기 센서 시스템에 의하여 발생된 용융 금속 탕면 레벨치가 전송을 실행하는 상기 매체의 정보에 의하여 결정되는 것을 특징으로 하는, 용융 금속의 연속 주조 장치.
3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 센서 시스템에 의하여 발생된 용융 금속 탕면 레벨치가 단상 교류가 낮을 때에 한하여 전송을 실행하는 상기 매체의 정보로서 출력되는 것을 특징으로 하는, 용융 금속의 연속 주조 장치.
4. 제 3 항에 있어서,

   전송을 실행하는 상기 매체는 전기 신호선인 것을 특징으로 하는 용융 금속의 연속 주조 장치.
5. 제 4 항에 있어서,

   상기 센서 시스템은

   일차 신호 발생장치와,

   상기 일차 신호의 전류로부터 전자장을 발생하는 일차 센서 코일과,

   이차 센서 코일이 상기 전자장을 통과할 때 이차 전압을 발생하는 이차 센서 코일과,

   상기 이차 센서 코일에 의하여 발생된 상기 이차 전압의 신호를 처리하는 이차 신호 처리장치로 이루어지는 것을 특징으로 하는 용융 금속의 연속 주조 장치.
6. 제 5 항에 있어서,

   상기 일차 신호 처리장치의 출력이 전송을 실행하는 상기 매체의 정보에 따라 온(on) 및 오프(off)되는 것을 특징으로 하는 용융 금속의 연속 주조 장치.
7. 제 5 항에 있어서,

   상기 이차 신호 처리장치의 출력은 온(on) 및 오프(off)되는 것을 특징으로 하는 용융 금속의 연속 주조 장치.
8. 제 7 항에 있어서,

   상기 전원 장치의 출력은 전자기 코일의 단상 교류의 강도가 낮을 때 0인 것을 특징으로 하는 용융 금속의 연속 주조 장치.
9. 제 8 항에 있어서,

   To이 전자기 코일의 단상 교류 강도가 높고 낮은 경우의 일 주기인 경우에 일 주기 To이 30≤To≤300(m·sec)이고, 단상 교류의 주기 f가 60≤f≤400(Hz)인 것을 특징으로 하는 용융 금속의 연속 주조 장치.